Caracterizacin de escorias de fundicin de cobre

Avance III
Objetivos (1/2 min)
Presupuesto actualizado (1 min)
Experimento (13 min )
Insumos (4 min)
Concentrado (1/2 min)
Tubos de slice (1 min )
CaO (1 min ) (YO)
Las actuales tendencias del tratamiento de cobre se enfocan en desarrollar
procesos continuos y escorias fluidas capaces de disolver y atrapar menor
cantidad de cobre. Dentro de ella estn las escorias de tipo olivina, que se
encuentran en el sistema trifsico CaO-FeO-SiO2. Estas presentan una menor
viscosidad con respecto a las escorias de tipo fayaltica; y, tienen la propiedad
de atrapar qumicamente algunos contaminantes como As, Sn; siendo posible
estabilizarlos reduciendo as la contaminacin. (1)
La adicin de xido de calcio disminuye la viscosidad de la escoria debido a
que este es un oxido bsico, que rompe la red que posee un oxido acido como
la SiO2, la cual corresponde a un tetraedro, constituido por cuatro tomos de
oxgeno rodeando a un tomo de silicio. (2)
En base a lo anterior, se desea realizar una comparacin con respecto al efecto
que produce una composicin de CaO baja y alta, en trminos de los
comnmente utilizados. As, se tienen las concentraciones de CaO que a
continuacin se presentan:
Tabla 1: Concentracin de CaO

Condici
n
A
B

%
CaO
5
20

A partir de esto, es necesario conocer el diagrama de fases del sistema CaOFeO-SiO2 que se presenta en la Figura 1, ya con l se puede asegurar la
presencia de la fase deseada (olivino) a la temperatura de trabajo que se
presenta posteriormente. La composicin en la que se encuentra la zona de
estabilidad de la olivina puede variar entre 0-38% de CaO, 26-41% de SiO2 y
28-75% de FeO en sus combinaciones adecuadas.

Figura 1: Diagrama ternario para el sistema CaOFeO-SiO2

Gases (1/2 min)

Condiciones de operacin (4 min)
Presin de oxigeno (1 min)

Temperatura (1 min)
A partir del diagrama del sistema CaO-FeO-SiO 2 y de las concentraciones de
CaO mencionadas, se puede establecer la temperatura de operacin a la cual
se conseguir la fase olivino deseada. Como se puede ver en la Figura 2 la fase
olivino se forma a temperaturas cercanas a 1100 [C], por lo que se trabajara
con la temperatura mxima del horno, que corresponde a 1200 [C], con el fin
de asegurar que la fase deseada se encuentre liquida.

Figura 2: Fase olivino deseada

Enfriamiento (1 min)

Desarrollo experimental (1 min )

A continuacin, se detalla el procedimiento a realizar en el laboratorio: (3)
1. Agregar 7,5 [g] de concentrado calcinado de cobre al crisol.
2. Agregar la masa de CaO segn la condicin experimental que se est
realizando:

Tabla 2: Masa de CaO aadida

%Ca
O
5
20

Masa CaO
[g]
0,3750
1,5000 [g]

3. Ajustar presin de oxgeno.

4. Fundir la muestra durante 30 min aproximadamente hasta obtener la
separacin de fases entre el eje y la escoria.
5. Enfriar la muestra segn corresponda.
6. Extraer la muestra.
7. Preparar la muestra para anlisis.
El resumen del trabajo en laboratorio se muestra a continuacin:
Tabla 3: Condiciones experimentales

Parmetros constantes
Masa de
7,5
concentrado [g]
Temperatura [C]
1200
Presin O2 [atm]
10^-8
Parmetros variables
Experimento
%
Enfriamient
CaO
o
1
5
Temple
2
5
Normalizad
o
3
5
Recocido
4
5
Temple
5
20
Temple
6
20
Normalizad
o
7
20
Recocido
8
20
Temple
Es importante mencionar que, para la preparacin de las muestras a analizar,
se repetirn dos experimentos, que corresponden al nmero 4 y 8.
Anlisis posteriores (4 min)
Dentro de los anlisis que se desarrollaran en este estudio se encuentran:
Anlisis qumico (1 min)

Anlisis por difraccin de rayos X (2 min)

El fenmeno de difraccin ocurre cuando una onda se encuentra con una serie
de obstculos separados regularmente, que dispersan la onda y estn
separados por distancias comparables en magnitud a la longitud de onda. La
difraccin es tambin la consecuencia de relaciones entre fases especficas,
establecidos entre dos o ms ondas dispersadas por los obstculos. (4)
La difraccin y los rayos difractados estn compuestos de un gran nmero de
ondas dispersas que se refuerzan mutuamente. Entre ondas dispersadas
existen otras relaciones de fases que no conducen al reforzamiento mutuo, o
que interfieren destructivamente. Tambin existen relaciones de fase
intermedias entre estos dos extremos, lo que resulta en un reforzamiento
parcial. (4)

Figura 3: Difraccin de rayos X por los planos atmicos (A-A` y B-B`). (4)

Los rayos X son una forma de radiacin electromagntica con elevada energa
y corta longitud de onda, del orden de los espacios interatmicos de los
slidos. Cuando un haz de rayos X incide en un material slido, parte de este
haz se dispersa en todas las direcciones a causa de los electrones asociados a
los tomos o iones que encuentra en el trayecto. La condicin necesaria para la
difraccin de rayos X est dada por la ley de Bragg: (4)

n=2 d hkl sen

Esto significa que la magnitud de distancia entre dos planos de tomos
contiguos y paralelos, dhkl, debe ser un numero entero, n, de longitud de onda.
En donde n es el orden de difraccin, y es el ngulo de incidencia. Si no se
cumple la ley de Bragg, la interferencia es de naturaleza no constructiva y el
campo del haz difractado es de muy baja intensidad. En estructuras cristalinas,

el valor dhkl es funcin de los ndices de Miller (h, k y l); y los parmetros de red
o longitud de la arista de la celdilla unidad (a). Para estructuras cristalinas est
dado por: (4)

d hkl=

a
h +k 2 +l2
2

La ley de Bragg no es una condicin suficiente para la difraccin en cristales

reales, ya que solo especifica las condiciones para que la difraccin ocurra en
celdillas de unidad con tomos solo en los vrtices. Los tomos situados en
otras posiciones, actan como centros extras de dispersin que, a ciertos
ngulos de incidencia, pueden producir dispersiones desfasadas. El resultado
es la ausencia de algunos haces difractados que deberan estar presentes
segn la ecuacin anterior. Para que tenga lugar la difraccin, en la estructura
cristalina BCC, h+k+l debe ser un numero par; en la estructura FCC, h, k y l
deben ser todos impares o pares. (4)
(CON RESPECTO A LAS ESTRUCTURAS CRISTALINAS DE LA MAGNETIT, FAYELITA,
TRIDIMITA, SILICE Y BLABLA)
A continuacin, se presenta la estructura cristalina de las fases que
posiblemente se observaran:
Fase
Magenti
ta
Olivino
Silice
Tridimita
Tridimita:

Sistema
Cristalino
Cubico, FCC
Romboedrico
Tetragonal
Si en HC

La tcnica de difraccin ms comn utiliza una muestra pulverizada o

policristalina consistente en muchas partculas diminutas y orientadas al azar.
(4)
En la siguiente figura, se esquematiza el difractmetro, que corresponde a un
aparato utilizado para determinar los ngulos en que ocurre la difraccin en las
muestras pulverizadas. (4)

Figura 4: Esquema de un difractmetro de rayos X: T=fuente de rayos X, S=muestra,

C=detector, O=eje de giro de la muestra y del detector. (4)

En este se coloca una muestra S, en forma de lmina plana, de modo que gire
alrededor de un eje O, perpendicular al plano del papel. Se genera un haz
monocromtico de rayos X en el punto T y se detectan las intensidades de los
haces difractados con el contador C, el cual se instala en un lugar en el que
pueda girar en torno al eje O, y la posicin angular, en funcin de 2, se
determina mediante una escala graduada. Una rotacin de la muestra
representa un giro 2 del contador, lo que asegura el mantenimiento de los
ngulos incidente y difractado. Adems, en el trayecto del haz se incorporan
calibradores para delimitarlo y focalizarlo. (4)
El resultado de este tipo de anlisis corresponde a un espectro de difraccin
como el que se muestra en la Figura 5,en donde los picos de alta intensidad
aparecen cuando algn conjunto de planos cristalogrficos cumple la condicin
de difraccin de Bragg. Estos picos de la figura corresponden a ndices de
planos. (4)

Figura 5: Espectro de difraccin del plomo pulverizado. (4)

Una de las principales aplicaciones de la difractometra de rayos X es la

determinacin de estructuras cristalinas. El tamao y la geometra de la celda
unitaria se deducen de las posiciones angulares de los picos de difraccin, y la
disposicin de los tomos en la celda se deduce de la intensidad relativa de
estos picos. Otras aplicaciones de rayos X incluyen el anlisis qumico
cualitativo y cuantitativo, la determinacin del tamao de grano y las tensiones
residuales. (4)
Anlisis microscopio electrnico (1 min)

Referencias
1. Bugueo, Juan Jos Cabrera. EFECTO DE LA TEMPERATURA Y LA
CONCENTRACIN DE XIDO DE COBRE (I) SOBRE LA VISCOSIDAD DE ESCORIAS
TIPO OLIVINA Y ALMINO OLIVINA. Santiago de Chile : s.n., 2008.
2. Rojas, Alejandro Cuadros. Reduccin de las perdidas de cobre en las
escorias del proceso Isamelt de la fundicin de ILO de SPCC. 2010.
3. Henao, Profesor Hector. Laboratorio de Pirometalurgia, Experiencia n3:
Fusin de concentrado de cobre.
4. Callister, William D. Introduccin a la Ciencia e Ingenieria de los
Materiales.
5. Santander, Prof. Nelson H. Pirometalurgia del cobre. 1979.
6. Valencia, Nubia del Carmen Cardona. Contribucin al anlisis
fisicoquimico de las perdidas de cobre en escorias". Concepcin : s.n., 2011.
7. Arce, Rodolfo Alejandro Berros. Desarrollo de un programa codigo
abierto para la fusin de concentrado en el Convertidor Teniente. 2010.