Indexacin del NaCl

Marvyn Inga Caqui Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniera E-mail marvyn_16@hotmail.com

Resumen
En la siguiente prctica haremos la indexacin del NaCl, hallaremos los ndices de Miller y a partir de esta identificaremos el tipo de estructura cristalina que posee, hallamos sus distancias interplanares y adems damos Informacin sobre el factor de estructura y su celda unitaria, mostramos algunas proyecciones de la celda.

I. Introduccin
Mucho del entendimiento que tenemos de los arreglos atmicos y moleculares en los slidos han sido resultado de investigaciones mediante rayos-X. En la mayora de los slidos, las grandes fuerzas de atraccin o cohesin que existen entre las partculas que lo componen, hacen que stas se distribuyan regular y simtricamente en el espacio. Estos slidos reciben el nombre de slidos cristalinos. Se aprovecha la difraccin de rayos-X que se produce cuando ste incide sobre la materia. El fenmeno consiste en que parte de la radiacin X incidente se desva de su direccin original por interaccin con el material irradiado, el anlisis posterior de estas desviaciones nos dar informacin de la estructura de la muestra en estudio.

(1)

W. L. Bragg visualiz la difraccin de rayos-X en trmino de reflexiones provenientes de los planos de un cristal, dando como resultado la simple relacin (conocida como la Ley de Bragg): (2) Para que una familia de planos cristalogrficos difracte, la diferencia del camino recorrido por ondas dispersadas sea un mltiplo entero de la longitud de onda: (3)

II. Fundamento Terico

A. Formulacin de Bragg Los rayos-X son un tipo de radiacin electromagntica que tiene una alta energa y longitudes de onda muy cortas, las longitudes de onda son del orden de espacios atmicos de los slidos. Cuando un haz de rayos-X incide sobre un material slido, una porcin de este rayo se dispersar en todas las direcciones por los electrones asociados a cada tomo o in que est dentro del camino del haz. Consideremos ahora las condiciones necesarias para la difraccin de rayos-X por un arreglo peridico de tomos. Si se tienen dos planos de tomos A-A y B-B, como se muestra en la FIG.N1, que poseen los mismos ndices de Miller h, k y l, y estn separados por la distancia interplanar . Asumiendo que un haz de rayos-X de longitud de onda , paralelo, monocromtico y coherente (en fase) incide en estos dos planos con un ngulo , dos rayos de este haz (1 y 2), son dispersados por los tomos P y Q. Ocurrir una interferencia constructiva entre los rayos dispersados (1 y 2) a un ngulo de los planos, si la diferencia de la longitud del camino recorrido entre 1-P-1 y 2-Q-2 (p.ej., SQ +QT ) es igual a un nmero n, de longitudes de onda. Esta es la condicin de difraccin:

Cuando esta condicin no se cumple, se obtiene interferencia destructiva.

FIG.N1. Reflexin de Bragg.

La difraccin de rayos-X de cristales cbicos est condicionada de la siguiente manera: Cbica P: Todos los planos difractan. Cbica F: Los ndices hkl son todos pares o impares. Cbica I.- La suma de los ndices hkl ser un nmero par.
(4)

B. Formulacin de Laue. No supone reflexiones especulares en los planos de la red. Suponemos que el cristal est compuesto por un conjunto de objetos microscpicos idnticos (iones o tomos) colocados en los sitios R de la red de Bravais, cada uno puede re-irradiar la radiacin incidente en todas las direcciones. Observaremos picos agudos de difraccin solo en las direcciones y a las longitudes de onda donde toda la radiacin dispersada desde todos los puntos de la red interfiere constructivamente.

Consideremos ahora un arreglo de fuentes de dispersin en los sitios de la red de Bravais. Como los sitios estn separados por los vectores de red R, la condicin para que todos los rayos dispersos interfieran constructivamente es que la ecuacin superior sea vlida simultneamente para todos los valores de d que son vectores de la red de Bravais, es decir: ( ) (8) Que es lo mismo que:
( )

(9)

La Condicin de von Laue dice que ocurrir interferencia constructiva si el cambio de vector de onda K=kk es un vector de la red recproca. C. Planos de Bragg Como la diferencia es un vector de la red recproca y dado que tienen la misma magnitud se cumple que: La componente del vector de onda incidente en la direccin del vector de la red recproca K debe tener la mitad de la magnitud de K. Por lo tanto un vector de onda k satisface la condicin de difraccin de von Laue si y solo si la punta del vector cae sobre el plano que es la biseccin perpendicular de una lnea que une el origen en el espacio k con un punto de la red recproca K. Estos planos en el espacio k se llaman planos de Bragg. El plano de Bragg en el espacio k asociado con un pico de difraccin particular en la formulacin de von Laue es paralelo a la familia de planos de la red directa responsables por los picos en la formulacin de Bragg.

FIG.N2. Arreglo de fuentes de dispersin en los sitios de

la red de Bravais.

Para encontrar la condicin de interferencia constructiva consideremos dos fuentes de dispersin separadas por el vector de desplazamiento d. Observaremos un rayo disperso en la direccin n con vector de onda si la diferencia de camino ptico entre los rayos dispersos por las dos fuentes es un nmero entero de longitudes de onda. La diferencia de camino es: (5)

La condicin de interferencia constructiva es: : (7) (6)

Multiplicando cada lado por ( )

FIG.N3. La dispersin vista como una reflexin de Bragg,

con un ngulo de Bragg desde una familia de planos.

FIG.N3. Planos de Bragg.

D. Equivalencia de las formulaciones de Bragg y de von Laue.

La equivalencia de estos dos criterios para la interferencia constructiva de rayos X por un cristal tiene una conexin directa con la relacin entre los vectores de la red recproca y las familias de planos de la red directa. Como k y k tienen la misma magnitud entonces forman el mismo ngulo con el plano perpendicular a K y por lo tanto la dispersin puede ser vista como una reflexin de Bragg con un ngulo de Bragg desde una familia de planos de la red directa perpendiculares al vector de la red recproca K. Como K es un vector de la red recproca, entonces su mdulo es igual a: (9)

E. Indices de Miller Para poder identificar unvocamente un sistema de planos cristalogrficos se les asigna un juego de tres nmeros que reciben el nombre de ndices de Miller. Los ndices de un sistema de planos se indican genricamente con las letras (h k l). Los ndices de Miller son nmeros enteros, que pueden ser negativos o positivos, y son primos entre s. El signo negativo de un ndice de Miller es colocado sobre dicho nmero. Para obtener los ndices de Miller se realiza lo siguiente: Hallamos las intersecciones del plano con los ejes cristalogrficos. Para poder determinarlas se utiliza como unidad de medida la magnitud del parmetro de red sobre cada eje, luego obtenemos los recprocos de las intersecciones. Finalmente calculamos los enteros primos entre s que cumplan con las mismas relaciones.
F. Indexacin de redes cbicas Para la indexacin de redes cbicas se relacionan los valores de los senos de los ngulos obtenidos en la difraccin. De la ley de Bragg nos queda que la relacin de senos est en funcin de las distancias interplanares d que a su vez nos dejara la relacin en funcin de los ndices de Miller respectivos para cada distancia interplanar. G. Anlisis de Fourier de la base Cuando se cumple la condicin de difraccin la amplitud de la onda difractada est determinada por (N celdas):

(10) Por lo tanto, un pico de difraccin de Laue correspondiente a un cambio en el vector de onda dado por un vector de la red recproca K corresponde a una reflexin de Bragg desde la familia de planos de la red directa perpendiculares a K. El orden n de la reflexin de Bragg es el mdulo de K dividido por la longitud del vector de la red recproca ms corto paralelo a K.

Definimos el factor de estructura Como la integral sobre la celda unitaria con en un vrtice. La densidad electrnica dentro de la celda se puede escribir como:

Donde los son las posiciones de los tomos en la celda. Entonces resulta:

Donde:

Definimos el factor de forma atmico:

TABLA N1 Valores que se deben cumplir para identificar

si una red es cbica simple, FCC, BCC o diamante, as como tambin los ndices de Miller permitidos.

es una propiedad atmica. El factor de estructura queda entonces.

TABLA N2. ngulo de Bragg 27.38 31.71 45.42 53.91 56.37 66.09 13.69 15.86 22.71 26.96 28.19 33.05 0.24 0.28 0.40 0.47 0.49 0.58 0.24 0.27 0.39 0.45 0.47 0.55

La intensidad de la difraccin es proporcional a | | y es independiente de la eleccin de la celda unidad, ejemplo . para dos elecciones de celdas y bases.

III. Clculos y resultados.

De los datos proporcionados en clase, obtenemos la grfica de la difraccin de rayos X (FIG.N4):

TABLA N3. Distancias interplanares

1 2 3 4 5 6 0.24 0.27 0.39 0.45 0.47 0.55 3.25 5.64 5.98 6.79 8.15 8.47

Ahora hallamos los ndices de Miller (hkl) a partir de la TABLA N3, para eso usamos la ecuacin:

Los resultados se muestran en la TABLA N4.

TABLA N4. Indices de Miller

FIG.N4. Difraccin de rayos X para el NaCl.

Ahora obtenemos los ngulos doble de Bragg ( ) con la ayuda del programa ORIGIN y los presentamos en la TABLA N2.

1.00 1.15 1.63 1.92 2.00 2.30

3 4 8 11 12 16

111 200 220 311 222 400

Con esto ahora podemos indexar la FIG.N4 del patrn de difraccin del NaCl.

FIG.N5. Hallando los ngulos doble de Bragg (

Usando la ecuacin (10) y sabiendo que , podemos hallar las distancias reticulares interplanares (ver TABLA N3):
FIG.N6. Indexacin del NaCl

Hallamos el factor de estructura de la halita, para esto usamos la TABLA N4 y la ecuacin:

Para obtener las proyecciones de la estructura cristalina, vamos a hacer una correspondencia numrica de los tomos, lo cual nos permitir identificarlos (ver FIG.N8). (100)

Considerando el factor atmico del Cl y Na; se tendr entonces:

para el

De esto se concluye que:

La celda unitaria de la halita (NaCl) se muestra a continuacin (FIG.N7).

(110)

(111)

FIG.N7. Celda unitaria de la halita (NaCl)

IV. Bibliografa.
[1]. Federico Williams. Determinacin de la estructura cristalina de slidos: Difraccin de rayos X. 2008. [2]. http://webmineral.com/data/Halite.shtml

FIG.N8. Correspondencia numrica de cada tomo de la

estructura cristalina.