7.

1 Frente de Onda Al analizar la onda electromagntica en el captulo 5 se lleg a la conclusin de que la onda en el vaco transportaba una energa dada por el vector de Poynting, definido como el producto vectorial de los vectores E y H:

S S = EH .
El mdulo del vector de Poynting representa la energa electromagntica que atraviesa la unidad de rea transversal a la direccin de propagacin en la unidad de tiempo. Este flujo de energa tambin se conoce como la intensidad de la radiacin:

I=

At

Como los valores de E y H no son independientes (en el vaco H = (o/o)1/2E), en el cap. 5 se lleg a la conclusin de que la intensidad de la luz era proporcional al cuadrado de la amplitud del campo elctrico 1 . Analticamente, I E2 Este resultado ser utilizado en las secciones siguientes. Existen una serie de fenmenos que no pueden ser explicados utilizando solamente el concepto de rayo luminoso. Por ejemplo, la luz no siempre viaja en lnea recta. En la figura se muestra una foto de un agujero en forma de ojo de cerradura, iluminado por el lado contrario. En vez de obtenerse una separacin ntida entre luz y sombra, se observa perfectamente la formacin de zonas alternas de mayor y menor iluminacin a distancias definidas del borde. En la parte inferior tambin se nota como la luz rebasa ligeramente el borde del agujero, como si se curvara en su trayectoria. Este efecto no es causado por la cmara fotogrfica, pues puede ser observado a simple vista en condiciones adecuadas. Para explicar adecuadamente este tipo de fenmenos es necesario introducir algunos conceptos como el de frente de onda. Se llama frente de onda a la superficie imaginaria formada por todos los puntos de la onda monocromtica donde, en un instante dado, el vector intensidad de campo elctrico tiene la misma fase = (kx - t). Si consideramos una fuente puntual de radiacin, los frentes de onda tendrn la forma de circunferencia concntricas con centro en la fuente (ver figura). Segn la expresin = (kx - t), donde k y son constantes, para un instante dado to y si la fase = constante, la distancia xo a la fuente ser la misma para todos los puntos, lo que proporciona una circunferencia.
frente de onda plano

ww w.

Fi s

ic

aA .

co

vp = = /k xo

Ms especificamente, de la intensidad de campo.

En la figura tambin se observa que cuando el frente de onda se encuentra alejado de la fuente prcticamente se convierte en un frente de onda plano. 7.2 Principio de Huyghens - Fresnel Dentro del modelo ondulatorio de la propagacin de la luz, el principio de Huyghens Fresnel es, a su vez, un modelo que permite analizar muchos fenmenos ondulatorios en forma muy sencilla. El principio dice lo siguiente: Durante la propagacin de la luz, cada punto de un frente de onda se comporta como un emisor de ondas esfricas secundarias. El nuevo frente de onda creado en un instante t posterior pasa por la superficie tangente a las ondas secundarias. t t + t

El principio se ilustra en el grfico siguiente. El nuevo frente de onda se forma a partir de la curva tangente construida a partir de las ondas secundarias, que tienen su centro en un frente de onda determinado. La importancia del principio radica en que, utilizando esta construccin geomtrica simple, es posible analizar lo que sucede cuando la luz pasa por un orificio o incide sobre un borde y deja de propagarse en lnea recta. De los muchos ejemplos posibles, analizaremos uno de los experimentos clsicos relacionados al modelo ondulatorio: el experimento de Young.

onda secundaria

nuevo frente de onda

Si se iluminan dos rendijas muy unidas y pequeas con una fuente de luz monocromtica, es posible observar en una pantalla, colocada a una distancia adecuada, un conjunto de franjas donde la luz presenta mximos y mnimos alternos de intensidad. Si se hace un grfico de las intensidades de las franjas en la pantalla en funcin de la posicin, se obtiene una dependencia similar a la de la figura siguiente. En la figura la separacin entre franjas est muy exagerada; usualmente el espesor de las franjas no es mayor de una fraccin de mm. El fenmeno mediante el cual aparecen las franjas alternas de luz y sombra se conoce como interferencia de la luz, y puede ser analizado a partir del principio de Huyghens, el concepto de coherencia y el modelo ondulatorio de la luz.
mximo

ww

w.

Fi s

ic

aA

7.3 Experimento de Young

.c
I

om

mnimo

Dos fuentes luminosas son coherentes cuando la diferencia de fase de la radiacin por ellas emitida se mantiene constante al transcurrir el tiempo. En el experimento que estamos analizando, las rendijas se comportan como fuentes coherentes, porque su radiacin est originada por el mismo frente de onda (o por diferentes frentes que

mantienen constante su diferencia de fase). Si las fuentes no son coherentes el fenmeno no se observa, porque al cambiar continuamente la diferencia de fases lo que se obtiene es una iluminacin promedio en toda la pantalla.

En la figura adjunta, el valor l = l2 l1 se llama diferencia de camino. En un punto cualquiera P habr luz o habr sombra en dependencia de los valores de l2 y l1, que a su vez definen la diferencia de fase entre la radiacin proveniente de las dos rendijas. Considere la suma de las amplitudes de las ondas provenientes de las dos rendijas en P: E = E1 + E2 E1 = Eo1sen(kl1 - t) E2 = Eo2sen(kl2 - t) Recordando que la intensidad es proporcional al cuadrado de la amplitud del campo elctrico ( I E2), si los vectores E1 y E2 son tales que su direccin y sentido coincide en la pantalla y se suman (), habr un mximo de intensidad, mientras que si los vectores estn en sentido contrario y se restan(), habr un mnimo. En una posicin intermedia, la intensidad ser tomar un valor intermedio. Este anlisis cualitativo se puede hacer tambin cuantitativamente, de forma mucho ms rigurosa.

l1 P

l2

En el punto P:

k = 2/ es la misma, al igual que la frecuencia = 2. Adems, si las rendijas son iguales, Eo1 Eo2 Eo, por tanto, la expresin anterior se reduce a: E = Eo {sen(kl1-t) + sen(kl2-t)} Haciendo uso de la igualdad trigonomtrica senA + senB = 2sen (A+B) cos (A-B) y agrupando trminos se llega a: E = 2Eocos {k (l1 - l2)} sen{k (l1+l2) - t} Llamando Eo = 2Eocos {k (l1 - l2)} y l = (l1 + l2) se obtiene finalmente E = Eosen(kl - t) Este resultado significa que, al punto P sigue llegando una onda electromagntica con la misma k y la misma . Lo que vara es la amplitud, pues la nueva amplitud Eo depende de la diferencia de caminos l = l1 l2 . Es decir: Eo = 2Eocos kl La amplitud de la onda ser mxima (y habr un mximo de intensidad en el punto P) si el coseno toma su valor mximo de 1 1; es decir, si: kl = 0, , 2, 3, 4, 5, ...

ww

w.

E = Eo1sen(kl1 - t) + Eo2sen(kl2-t)

Fi s

ic

Condicin de Mximo y Mnimo. Anlisis Cuantitativo.

aA

.c

om

 kl = m

(m = 0, 1, 2, 3 ... entero)

Sustituyendo k = 2/ y simplificando se llega a la condicin de mximo de interferencia: l = m

m = -3/2 m = -1/2

m = +1/2 m = +3/2

m = -2

m = -1

m=0

m=1

m=2

=0

La amplitud ser mnima (y habr un mnimo de intensidad en el punto P) cuando cos kl = 0. Esto se cumple cuando kl = /2, 3/2, 5/2, 7/2, ...

Sustituyendo y simplificando se llega a la condicin de mnimo de interferencia:

Posicin Angular de los Mximos en la Pantalla De la figura se ve que , por ser ngulos agudos cuyos lados son prcticamente perpendiculares (no son exactamente perpendiculares por construccin, pero la aproximacin es excelente). Entonces, suponiendo exacta la aproximacin: l . sen = d Sustituyendo en la expresin anterior las correspondientes condiciones de mximo y mnimo de interferencia, l = m y l = (m + ), con = se obtiene dsen = m dsen = (m + ) (m = 0, 1, 2, 3, etc.) Usualmente las franjas de interferencia se observan solamente para ngulos muy pequeos; en este caso se puede hacer la aproximacin sen , siempre y cuando se exprese en radianes.. Distancia entre Mximos en la Pantalla
l = l1 l2

ww

w.

Fi s

ic
l = (m + )

aA

.c

om

kl = (2m+1)/2

(m = 0, 1, 2, 3 ... entero)

d l2 l1 O P

mx. mn.

Sea L la distancia desde las rendijas hasta la pantalla. Entonces, x tan = L Considerando ngulos pequeos, tan sen . Por tanto, sustituyendo la condicin de mximo de orden m: m x = d L m L xm = L d d El mximo de orden (m+1) estar en la posicin x (m + 1)L x m +1 = d y la distancia entre dos mximos sucesivos vendr dada por x = xm+1 xm L x = d Note que la separacin de las franjas depende inversamente de la distancia entre las rendijas. Para ver las franjas bien separadas, la distancia entre rendijas debe ser pequea. Si aumenta la distancia de la pantalla a las rendijas, o si aumenta la longitud de onda, tambin las franjas se vern ms separadas. La separacin es mayor para el rojo, y menor para el violeta. Es posible realizar el experimento de Young con luz blanca, pero en este caso se obtiene una superposicin de franjas coloreadas, ya que cada longitud de onda proporciona una posicin de mximo diferente. Tambin se puede obtener la forma analtica de la distribucin de intensidad en los mximos de interferencia. Se demuestra que, tomando el mximo de interferencia cuando = 0, la distribucin de intensidades en uno de los picos de interferencia tiene la forma d sen) . I = 4Io cos2( 7.4 Coherencia y Lser Un lser (del ingls laser; Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation) es un dispositivo luminoso concebido de forma tal que la luz emitida por todos los puntos del foco emisor es coherente. Esta particularidad hace que la luz lser sea extremadamente intensa, muy direccional y con una gran pureza de color (monocromaticidad). La figura representa esquemticamente la diferencia entre la radiacin de una fuente de luz convencional y una fuente lser. En el lser todos los puntos del foco emiten radiacin en fase, lo que no ocurre as en una fuente de luz convencional, donde cada punto rada de forma independiente a los dems. Existen lseres que trabajan en frecuencias que van desde el infrarrojo hasta los rayos x, y segn la sustancia que emplean para generar la luz, los lseres suelen denominarse de estado slido, de gas, de semiconductores y lquidos. La frecuencia de la radiacin emitida depende de la naturaleza de los tomos de la sustancia en cuestin. Los lseres logran emitir luz coherente estimulando los tomos de determinadas sustancias. Esos tomos son capaces de "almacenar" la luz proveniente de una fuente externa por un tiempo muy breve y emitirla posteriormente en forma coherente.

ww

w.

Fi s

ic

aA

.c

om

haz

Primeramente, los tomos en cuestin son llevados a un estado excitado por la fuente externa; posteriormente esos tomos son estimulados para que emitan la energa almacenada en forma de pulsos de radiacin o fotones. Los fotones "chocan" a su vez con otros tomos excitados y liberan nuevos fotones. Dos espejos paralelos hacen que los fotones se desplacen continuamente hacia atrs y hacia delante dentro del material (ver figura), desencadenando nuevas emisiones estimuladas y amplificando la luz coherente. Al mismo tiempo, la luz se "filtra" por uno de los espejos, que es slo parcialmente reflectante, y puede entonces ser utilizada con fines prcticos. La figura muestra el esquema de un lser de rub. El rub sinttico usado en este tipo de lseres se obtiene a altas temperaturas, a partir de una mezcla de xidos de aluminio y cromo; los iones de Cr3+ son capaces de excitarse con la fuente de xenn y emitir luz roja de gran intensidad. Los posibles usos del lser son casi ilimitados; por ejemplo: Industria. En la industria se utilizan como fuente de calor muy localizada. Utilizando lentes es posible enfocar sobre un punto muy pequeo un haz de lser potente, con lo que se logra una enorme densidad de energa. Los haces enfocados pueden calentar, fundir o vaporizar materiales de forma precisa. Por ejemplo, los lseres se usan para taladrar diamantes, modelar mquinas herramientas, recortar componentes microelectrnicos, cortar patrones de modas y sintetizar nuevos materiales. Construcciones. Tambin se utilizan lseres para alinear las estructuras en la construccin de carreteras y edificios. Geologa y Meteorologa. Los lseres se emplean para detectar los movimientos de la corteza terrestre y para efectuar medidas geodsicas; tambin son los detectores ms eficaces de ciertos tipos de contaminacin atmosfrica. Astronoma. El lser se ha empleado para determinar con precisin la distancia entre la Tierra y la Luna. La luz de un lser puede viajar largas distancias por el espacio exterior con una pequea reduccin de la intensidad de la seal. Comunicaciones. A causa de su alta frecuencia, la luz lser puede transportar, por ejemplo, 1 000 veces ms canales de televisin de lo que transportan las microondas, por lo que el lser resulta ideal para las comunicaciones espaciales va satlite. Se han desarrollado fibras pticas de baja prdida que transmiten luz lser para la comunicacin terrestre, en sistemas telefnicos y redes de computadoras. Medicina. Utilizando haces intensos y estrechos de luz lser es posible cortar y cauterizar ciertos tejidos en una fraccin de segundo, sin daar al tejido sano circundante. El lser se ha empleado para "soldar" la retina, perforar el crneo, reparar lesiones y cauterizar vasos sanguneos. Tambin se han desarrollado tcnicas lser para realizar pruebas de laboratorio en muestras biolgicas pequeas.

- Los lseres han hecho que se pueda determinar la velocidad de la luz con una precisin sin precedentes. - Tambin permiten inducir reacciones qumicas de forma selectiva y detectar la existencia de trazas muy pequeas de impurezas en una muestra. - El potente y breve pulso producido por un lser tambin hace posibles fotografas de alta velocidad con un tiempo de exposicin de algunas billonsimas de segundo. - Finalmente, los sistemas de guiado por lser para misiles, aviones y satlites son muy comunes en la tecnologa militar. 7.5 Interferencia en Lminas Delgadas En la figura se observa una pelcula de jabn formada en un aro. Las franjas coloreadas que se observan son causadas por un fenmeno de interferencia conocido como interferencia en lminas delgadas. Tambin es posible ver este tipo de interferencia en el pavimento, cuando despus de la lluvia se forma una capa muy fina de grasa o aceite sobre el agua. El fenmeno tambin se presenta en la membrana de algunas clulas cuando son observadas al microscopio. Es posible analizar las condiciones en que se presenta el fenmeno, si recordamos que, en el seno de un material la longitud de onda disminuye, y que

ww

w.

Fi s

ic

aA

.c

om

n = /n . Por otra parte, cuando la luz se refleja proveniente de un medio de menor ndice en otro de mayor ndice, tiene lugar un cambio de fase de 180o en la onda reflejada; es decir: E = Eo sen(kx - t) onda incidente E = Eo sen(kx - t + ) onda reflejada Sin embargo, esto no ocurre cuando la luz se refleja de un medio de mayor ndice en otro de menor ndice, o cuando se refracta o atraviesa el medio. En lo que sigue, para simplificar lo ms posible el anlisis, se considerar solamente la posibilidad de incidencia normal ( 0). En la figura, considere las dos ondas que salen de un mismo punto e interfieren en P. Entonces, E1 = Eosen(kl1 - t) E2 = Eosen(kl2 - t + ) Al obtener la amplitud resultante en P, E = E1 + E2 , se obtienen expresiones similares a las del experimento de Young: E = Eosen(klo - t + /2) Ahora la amplitud de la onda resultante Eo tiene la forma: kl Eo = 2Eo cos 2 2
fuente extensa observador 2

1
aire (n =1) aceite (1.45) agua (1.33)

P
d

Fi s
w.

Condicin de mximo: cos = 1; = 0, , 2, ... m = m 2 2 l = (m + )

kl

Dentro de la aproximacin 0, l = 2d. Por otra parte, como el medio es el aceite, = /n. Por tanto, sustituyendo se llega a: 2dn = (m+ ) m = 0, 1, 2, ...

La condicin de mnimo se obtiene de forma similar: Condicin de mnimo: 2dn = m , (m = 0, 1, 2, ...)

Supongamos ahora una franja de aceite de espesor variable flotando en el agua. Si la longitud de onda de la radiacin incidente es la misma, como el espesor d vara, habr regiones donde se cumple la condicin de mximo y regiones donde se cumple la condicin de mnimo. Por tanto, aparecen franjas alternas de luz y sombra. Si en vez de luz monocromtica se utiliza luz blanca, diferentes valores de d proporcionarn mximos para las diferentes presentes, y la superficie se ver coloreada. Esto es justamente lo que sucede en las pompas de jabn, donde el espesor variable de la pelcula jabonosa hace que aparezcan mximos para diferentes al ser iluminada con la luz natural.

ww

ic

aA

.c

om

El fenmeno se observa bien slo en lminas muy delgadas, de espesor del orden de 1 m o menor, equivalente a unas pocas longitudes de onda. Si el espesor de la lmina es grande, la diferencia de recorrido de los rayos vara prcticamente de punto a punto, y lo que ve el observador es un promedio de iluminacin de todas las . Note que la ecuacin deducida anteriormente es vlida solamente si n2 > n3 y menor que n1. En el caso que n3 fuera mayor que n2 tambin habra cambio de fase de en la interfase. La condicin de mnimo sera ahora la de mximo, etc.

7.6 Difraccin En el experimento de la figura, un orificio pequeo de dimetro a es iluminado con luz monocromtica. Si el dimetro del orificio es suficientemente pequeo, se comprueba que en vez de observarse una sombra ntida de los bordes, se observan zonas alternas de luz y sombra ms all de la sombra del borde del orificio. Si se hace un grfico de la intensidad de la luz en funcin de la distancia al centro por la horizontal, se obtiene un grfico como el de la figura de la izquierda.

L Si en vez de una abertura circular se utiliza una rendija, se obtiene un patrn de franjas de difraccin. En la figura de la derecha se muestra un patrn de difraccin obtenido con luz monocromtica en las rendijas de una cuchilla de afeitar.

El fenmeno de difraccin de la luz puede explicarse satisfactoriamente sobre la base del modelo ondulatorio y el principio de Huyghens. Suponiendo un orificio esfrico y considerando el principio de Huyghens, cada punto del orificio se comporta como un nuevo emisor de ondas esfricas. Las ondas as formadas son coherentes y pueden interferir en un punto P fuera de la regin de sombra, dando origen a mximos y mnimos de iluminacin.

ww

w.

Fi s

ic

aA

.c

om

mximo principal

mximo secundario

El tratamiento matemtico del problema difiere bastante cuando la pantalla y la fuente estn cerca del orificio y cuando estn lejos. En el primer caso nos encontramos en presencia de la difraccin de Fresnel, que no ser objeto de anlisis en este curso. Cuando la fuente y la pantalla estn lo suficientemente lejanas del orificio como para considerar que los frentes de onda son planos, nos encontramos en la difraccin de Fraunhofer. Es posible establecer en el laboratorio las condiciones de Fraunhofer utilizando lentes. Una fuente situada en el foco de una lente proporciona rayos paralelos y frentes de onda planos. de la misma forma, la imagen de los rayos paralelos puede ser enfocada en una pantalla utilizando otra lente. Los patrones de difraccin de Fraunhofer se pueden ver directamente, pues el cristalino del ojo funciona como lente convergente y el cristalino como pantalla.

Las lentes no aaden diferencias de fase adicional a las ondas que las atraviesan por diferentes puntos. Es cierto que, en una lente convergente, el rayo de luz que pasa por el centro recorre una distancia mayor que el que pasa por el borde de la lente, pero lo hace con velocidad v = c/n < c. As, el rayo que pasa por el centro recorre una distancia mayor, pero a menor velocidad, mientras que el que pasa por el borde recorre slo una distancia pequea a menor velocidad, y el resto a mayor velocidad. El resultado neto es que ambos efectos se compensan y no se introduce diferencia adicional.

7.7 Condicin de Mnimo de Difraccin (Fraunhofer) En la figura, la abertura tiene un ancho a, y los puntos que dan origen a los rayos 1 y 2 estn separados una distancia a/2. Habr un mnimo en el punto P si los rayos 1 y 2 interfieren en forma destructiva. Note que si los rayos 1 y 2 interfieren, entonces los rayos paralelos provenientes de los puntos inmediatamente debajo de los considerados tambin interferirn destructivamente. P 1 onda plana l 2

para la condicin que debe cumplir el primer mnimo. Para calcular la condicin del 2do mnimo, procedamos a dividir la abertura en 4 partes iguales y considerar la interferencia de los 4 rayos que salen de los extremos de las divisiones. Por un razonamiento similar al del caso anterior se obtiene l = (a/4) sen y esta diferencia es la misma para todos los rayos. Sustituyendo la condicin de mnimo, l = (m + ) se obtiene que el segundo mnimo debe cumplir la condicin a sen = 2 . A partir de estos dos resultados es posible generalizar la condicin de mnimo de difraccin:

ww

w.

El razonamiento se extiende rpidamente a todos los puntos de la abertura, considerando que interaccionan por parejas. La condicin de mnimo es la misma que en el caso del experimento de Young; l = (m + ). El primer mnimo ocurre para m = 0. De la figura se ve inmediatamente que l sen a2 Sustituyendo y simplificando se llega a: a sen =

Fi s

ic

aA

a sen = m

.c

om

m = 1, 2, 3, ... n

Note que m = 0 no aparece, ya que correspondera al mximo central ( = 0).

No existe una forma sencilla de deducir la posicin de los mximos secundarios. Hay un mximo aproximadamente a la mitad de la distancia angular entre dos mnimos, pero no exactamente. Consideremos la posicin angular del 1er mnimo dentro de la aproximacin de ngulos pequeos, donde sen . Sustituyendo en la expresin anterior con m = 1: /a Significa que el primer mnimo aparece ms separado del centro mientras ms se reduce el tamao de la rendija (el mximo central se ensancha). El fenmeno se observa mejor para las longitudes de onda larga (naranja y rojo). 7.8 La Difraccin en el Experimento de Young En la figura adjunta se observa, en la parte superior, el patrn de difraccin de una de las rendijas en un experimento de Young. En la parte inferior aparece el patrn de interferencia producido por las dos rendijas. Las franjas de interferencia no pueden aparecer en las regiones donde la difraccin no permite la llegada de la luz. Se dice entonces que el patrn de interferencia est modulado por el patrn de difraccin.

Las redes se construyen de diferentes formas (por ej., rayando vidrio con mquinas muy precisas o por mtodos fotogrficos de reduccin de una imagen a rayas). Si es la longitud de la red y N el nmero de ranuras, la distancia entre ranura vendr dada por
d= N

el inverso de esta distancia (1/d) es la constante de la red (nmero de ranuras por cm). Cuando se hace incidir luz monocromtica sobre una red de difraccin, se obtiene un patrn de interferencia similar al del experimento de Young, pero mucho ms intenso. La condicin de mximo de interferencia es la misma que en el experimento de Young: dsen = m donde m = 0, 1, 2, etc.

En realidad, esta es la expresin de los mximos principales porque tambin aparecen pequeos mximos secundarios de muy poca intensidad, y que no sern tomados en cuenta en el anlisis posterior. Propiedades de las Redes Los mximos principales cumplen la condicin dsen = m, donde d es la distancia entre ranuras.

ww

w.

Fi s

ic

Una red de difraccin es un sistema ptico similar al del experimento de Young, pero con miles de rendijas por cm.

aA

.c

om

7.9 Redes de Difraccin

La distancia entre mximos tambin es similar a la del experimento de Young; x = L/d. Mientras mayor sea el nmero N de franjas iluminadas, ms intensos y estrechos sern los mximos sin que su posicin angular vare.

m = -1

m=0

m=1

m = -1

m=0

m=1

N=2

N=5

Cuando N es del orden de miles de rendijas por cm, se obtienen lneas muy estrechas, con un ensanchamiento mnimo.

m = -2 m = -1

m=0

m=1

m=2

m = 1 sen = m/d. Para cada se obtiene un ngulo diferente. Significa que la luz se dispersa en sus componentes espectrales. Cada longitud de onda aparece separada en la pantalla. Lo mismo sucede cuando m = 2, m = 3, etc.

m = -2

ww

w.

Fi s

m = 0 sen = 0 para cualquier . Por tanto, en el punto central de la red todas las se renen nuevamente, y aparece un mximo de luz blanca.

m = -1

ic

aA

m=0

.c

Cuando la red se ilumina con luz blanca en vez de con luz monocromtica, cada longitud de onda proporciona un mximo en un ngulo ligeramente diferente, de acuerdo a lo que expresa la condicin de mximo dsen = m. Analicemos brevemente la ecuacin:

om

m=1

m=2

Junto a los prismas, las redes de difraccin son muy utilizadas en los espectrgrafos para obtener los espectros de fuentes luminosas. Usualmente tienen un poder de dispersin mayor que los prismas y permiten analizar un intervalo mayor de longitudes de onda. 7.10 Poder Separador y Dispersin de la Red Poder Separador En el espectro de 1er orden de la seccin 7.8, considere los mximos correspondientes a dos longitudes de onda muy cercanas, 1 y 2. Si los dos mximos se encuentran muy unidos, no es posible distinguir o separar una longitud de onda de la otra. Se acostumbra considerar que las lneas estn separadas cuando cumplen el criterio de Rayleigh. 1 2

/d

El criterio de Rayleigh establece que las lneas correspondientes a dos diferentes pueden considerarse resueltas o separadas a partir de que el mximo de una de ellas coincida con el 1er mnimo de difraccin de la otra. El poder separador de la red se define por la expresin R= donde = (1+2). Es posible demostrar que, para ngulos pequeos, el poder separador de la red depende del nmero de rendijas iluminadas por la expresin R = Nm, donde m es el orden del espectro. Dispersin Otro parmetro caracterstico de la red es su dispersin, definida como D = d/d. Se deja al lector la tarea de demostrar, derivando en la condicin de mximo, que la dispersin de la red resulta ser igual a m D= d cos Esta expresin indica que las lneas estarn ms separadas mientras menor sea la separacin d entre rendijas y tambin mientras mayor sea el ngulo de dispersin . 7.11 Difraccin de Rayos X En 1912 el alemn Max Von Laue encontr que al hacer incidir una haz de radiacin de rayos X no monocromtico sobre un cristal de sal comn (NaCl) apareca un patrn de difraccin caracterstico, que poda ser recogido en una placa fotogrfica. Este experimento permiti verificar dos cosas muy importantes, desconocidas hasta el momento:

Un cristal es un arreglo ordenado de tomos o molculas, que se repite peridicamente en el espacio. La celda elemental del cristal es la mnima unidad mediante la cual el cristal se pude construir por repeticin tridimensional. En el NaCl la celda elemental es cbica, de longitud a = 5.62 , y contiene iones alternos de Cl- y Na+ (cristal inico). La unin de los tomos que se encuentran en un mismo plano forma los llamados planos cristalinos. Cada cristal posee mltiples familias de planos cristalinos, con diferentes distancias interplanares. La difraccin de la radiacin en los cristales slo tiene lugar cuando el tamao de longitud de onda es del orden de las distancias interplanares del cristal ( a). Esta longitud de onda, del orden de unos pocos ngstrom, corresponde a la regin de los rayos X. Es posible encontrar las direcciones de los rayos difractados en el experimento de Laue de una forma muy sencilla; considerando que cada familia de planos se comporta como un conjunto de espejos semiplateados. En la realidad, cada tomo se comporta como un emisor de ondas secundarias, a causa de la oscilacin de los electrones excitados por la radiacin incidente. Las ondas secundarias interferirn, dando mximos de difraccin en determinadas direcciones.

ww

w.

La naturaleza ondulatoria de los rayos X, que haban sido descubiertos por Rentgen en 1895 sin que se lograra determinar de qu estaban compuestos. La estructura peridica de los cristales, lo que hoy da se conoce como estructura cristalina de las sustancias slidas.

Fi s

ic

aA

.c

om

La condicin de mximo, que presentamos sin demostracin, es

2dsen = m donde d es la correspondiente distancia interplanar y el ngulo formado por el plano y la radiacin incidente (ver figura adjunta). Esta expresin se conoce como Ley de Bragg. En el experimento de Laue, realizado con radiacin no monocromtica, se observa un haz difractado siempre que , y d sean tales que se cumpla la ley de Bragg.

Absorcin de los rayos X Los rayos X de longitud de onda larga, mucho mayor que las distancias interplanares, no se difractan al incidir sobre la sustancia, pero tienen la propiedad de atravesar en mayor o menor grado los cuerpos opacos a la luz visible. De aqu que el uso ms extendido de los rayos X haya sido como herramienta de diagnstico mdico. La absorcin de los rayos X ser mayor all donde la sustancia sea ms densa (huesos) mientras que la radiacin que incide sobre los tejidos blandos pasa con mucha mayor facilidad. Utilizando una placa fotogrfica es posible obtener fotografas (radiografas) donde se observa perfectamente el contraste entre los huesos sombreados y los tejidos blandos. Como en el negativo fotogrfico se invierte la coloracin, los huesos se ven blancos y los tejidos blandos ms oscuros. Para obtener rayos X se utilizan tubos al vaco donde los electrones emitidos por un ctodo son frenados bruscamente en un nodo. El frenaje brusco de los electrones produce la emisin de rayos X y calor. Regulando la velocidad de los electrones, la naturaleza del ctodo y utilizando filtros es posible obtener radiaciones de diferentes longitudes de onda.

En noviembre de 1895, Wilhelm Conrad Roentgen (1845 - 1923) trabajaba en su laboratorio de la universidad de Wrzburg, en Alemania, estudiando los efectos de pasar una corriente elctrica a travs de un gas a presiones muy bajas. Al llevar a cabo sus observaciones, not que su dispositivo ocasionaba la fluorescencia de sales de platino cianuro de bario que se encontraban sobre su mesa de trabajo.
Despus de realizar una serie de experimentos cuidadosos, lleg a la conclusin de que haba descubierto un nuevo tipo de radiacin, a la que llam rayos X. Al investigar la capacidad de pene-

tracin de estos nuevos rayos, Roentgen puso una placa fotogrfica debajo de la mano de su mujer y registr as la primera placa de rayos X de la historia. En la figura adjunta se muestra esta primera foto, donde se ve claramente el anillo de boda de la Sra. Roentgen en el dedo anular. Roentgen fue galardonado en 1901 con el premio Nbel de fsica.
7.12 Polarizacin de la Luz La luz ordinaria es no polarizada, tanto si es natural como artificial. Significa esto que si, colocados de frente a la fuente de luz, furamos capaces de medir el vector intensidad de campo elctrico a lo largo

ww

w.

Fi s

ic

aA

.c

om

de una direccin determinada, obtendramos algo similar a lo representado en la figura: cualquiera que sea la direccin del espacio que se escoja para medir

E , se obtendra el mismo valor.

Dicho de otra forma, la componente del vector intensidad de campo tiene el mismo valor en todas las direcciones. Por el contrario, si se logra obtener luz donde el vector intensidad de campo vibre siempre en una sola direccin, decimos que la luz est polarizada en un plano.
plano de vibracin plano de polarizacin

luz no polarizada

luz polarizada en un plano

Existen diferentes formas de obtener luz polarizada. A continuacin se describen algunas de ellas.

Fi s

Polarizacin por Reflexin

ic

aA

.c

om

Tambin es posible la existencia de la luz parcialmente polarizada, en la que el vector intensidad de campo tiene un valor mayor en determinada direccin, pero no se anula totalmente en la direccin perpendicular.

Cuando la luz se refleja o se refracta en cualquier superficie, se polariza en mayor o menor grado. El grado de polarizacin depende del ngulo de incidencia. Se ha encontrado que existe un cierto ngulo de incidencia B donde tanto la luz reflejada como la refractada salen totalmente polarizadas. Ese ngulo se denomina ngulo de Brewster. Es posible demostrar que en ngulo de Brewster viene dado por la expresin

ww

w.

n1 B

n2

tan B =
B

n2 n1

donde n1 es el ndice de refraccin del medio de donde proviene la luz. Tambin se demuestra que cuando el ngulo de incidencia es igual al ngulo de Brewster, para el rayo refractado se cumple que B + 2 = 90o.
B

Lminas Polaroides Los cristales de sulfato de iodo-quinina poseen anisotropa cristalina. Significa que sus propiedades pticas son diferentes en dependencia de la direccin de propagacin relativa a sus ejes cristalogrficos. Estos cristales absorben la luz selectivamente, en dependencia de la direccin del vector intensidad de campo E respecto a esos ejes. El fenmeno se conoce como dicrosmo. Las lminas polaroides se construyen de algn tipo de plstico
eje ptico

transparente, con la adicin de microcristales de sulfato de iodo-quinina. Los cristales se someten a un proceso de orientacin por estiramiento, de manera tal que todos quedan orientados en la misma direccin. As, al atravesar una lmina polaroide, la luz es absorbida con mayor intensidad a lo largo de determinadas direcciones, y la fraccin que logra atravesar la lmina queda polarizada en un plano. La direccin de la lmina a la cual el vector E sale paralelo se denomina eje ptico de la lmina. Birrefringencia Muchos slidos cristalinos poseen diferentes propiedades fsicas a lo largo de diferentes direcciones. En el esquema de un slido cristalino representado en la figura, no es lo mismo moverse a lo largo de la direccin (1) que a lo largo de (2). Las distancias entre planos atmicos y tomos iguales no son las mismas, ni tampoco lo es la interaccin de los tomos vecinos. Esta anisotropa da lugar a que, en algunos cristales y en determinadas condiciones, un solo rayo incidente de lugar a dos rayos refractados. El fenmeno se conoce como doble refraccin birrefringencia. Cuando hay birrefringencia, a partir de un rayo incidente ri aparecen dos rayos refractados: el rayo ordinario y el rayo extraordinario. (1) (2)

El rayo ordinario (ro) cumple la ley de Snell. El rayo extraordinario (re) no cumple la ley de Snell (ni siquiera est en el mismo plano que los otros dos). Ambos rayos estn polarizados en direcciones perpendiculares y tienen diferente velocidad de propagacin. Significa que no ne. En general, el ndice de refraccin extraordinario ne depende de la direccin. El valor de ne que difiere ms de no es el ndice principal de refraccin del rayo extraordinario. Algunos cristales necesitan de tres ndices de refraccin para describir su comportamiento.

aA

.c

om

n1 n2

ww

w.

Fi s

ic

ro re

En la tabla siguiente aparecen los ndices de refraccin ordinario y extraordinario principal de algunas sustancias. Sustancia Hielo Cuarzo Calcita (CaCO3) no 1.309 1.544 1.658 ne 1.313 1.543 1.486

Prisma de Nicol El prisma de Nicol es un dispositivo que se utiliza para obtener luz polarizada, basado en el fenmeno de la birrefringencia. Se construye pegando dos prismas de calcita transparente monocristalina con resina del abeto balsmico del Cnada (blsamo del Canad) que posee un alto ndice de refraccin (n = 1.55). El eje ptico del cristal es aquel que, cuando la luz viaja en esa direccin, no se polariza.
68
o

re
48
o

eje ptico

resina

ro

7.13 Ley de Malus Considere un dispositivo polarizador analizador como el que se muestra en la figura, construido con dos nicoles o con lminas polaroides. Eo E Eo

Io = kEo2

I = kE2

vista frontal

Interesa calcular la relacin entre las intensidades antes y despus de pasar el analizador. Para ello se considera que la lmina polaroide slo deja pasar la componente de Eo que se encuentra a lo largo del eje ptico. Por tanto, de la figura se ve que E = Eocos I = kE2 = kEo2cos2 y sustituyendo Io = kEo2 se llega finalmente a la ley de Malus: I = Iocos2 Los sistemas polarizadores analizadores se utilizan en instrumentos tales como polarmetros y sacarmetros, analizados en las secciones siguientes.

ww

w.

7.14 Luz Circularmente Polarizada

Fi s

ic

aA

.c

om

En determinadas condiciones es posible obtener un rayo de luz donde el vector E describa una circunferencia al transcurrir el tiempo. Esto se logra haciendo pasar luz polarizada por un cristal birrefringente, con el eje ptico orientado adecuadamente y de un espesor tal que el rayo ordinario y el extraordinario, que tienen diferentes velocidades de propagacin, salgan perpendiculares entre s y con una diferencia de fase de /2.

45

/4

eje ptico

luz circularmente polarizada

Para demostrar que la composicin de estos dos rayos proporciona un vector que describe una circunferencia, analicemos cules son las componentes de un vector que rota con velocidad angular constante alrededor de un eje fijo, como se muestra en la figura. Se considera que = (kr - t), donde r es la distancia a lo largo de la direccin de propagacin, constante en un punto determinado. Entonces, Ex = Eo sen(kr - t) Ey = Eo cos(kr - t) De acuerdo a las relaciones trigonomtricas notables, cos. Por tanto, Ex = Eo sen(kr - t) Ey = Eo sen(kr - t + /2) sen( + /2) = Eo Ey Ex

Pero estas dos ecuaciones representan a dos ondas polarizadas en un

plano que se propagan en direccin perpendicular al plano del papel, con igual amplitud, perpendiculares entre s, y con diferencia de fase de /2, como se haba sealado anteriormente. Es posible considerar la luz polarizada en un plano como formada por la superposicin de dos ondas circularmente polarizadas que giran en sentido contrario, con la misma velocidad angular e igual amplitud (ver figura). Esta representacin es til para explicar determinados fenmenos, como se ver a continuacin. 7.15 Actividad ptica Existen sustancias que tienen la propiedad de hacer rotar el plano de polarizacin cuando la luz las atraviesa. Se denominan sustancias pticamente activas, y pueden ser tanto lquidas como slidas. En el caso de los slidos se destaca el cuarzo, mientras que en los lquidos pueden mencionarse el alcohol amlico, las disoluciones de cido tartrico, de glucosa, sacarosa y levulosa. Las sustancias pticamente activas tambin pueden ser dextrgiras o levgiras, en dependencia de si el plano de polarizacin rota a la derecha o a la izquierda cuando el observador se encuentra de frente a la fuente de luz. En la prctica se encuentra que el ngulo de giro es proporcional a la longitud l de sustancia atravesada por la luz. Es decir; en los slidos: = l mientras que en los lquidos, lC = 100 donde C es la concentracin, usualmente expresada en gramos por 100 ml. El coeficiente se denomina rotacin especfica de la sustancia en cuestin y depende, en general, de la longitud de onda y de la temperatura. Por esta razn, los valores que aparecen tabulados en los manuales usualmente vienen reportados para la luz de sodio de 589 nm, una lmpara de uso muy extendido en el trabajo de laboratorio.

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vaso polarimtrico

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aA

.c

om

ww

w.

ocular

20 cm polarizador El instrumento que se utiliza para medir el ngulo rotado en disoluciones es el polarmetro, cuyo esquema se muestra a continuacin. El instrumento posee escalas en el ocular que permiten determinar el angulo rotado. Se opera haciendo girar el analizador hasta la posicin de mxima penumbra antes y despus de colocar el vaso polarimtrico con la disolucin a analizar. Un sacarmetro es un tipo especial de polarmetro diseado especialmente para determinar concentraciones de sacarosa. La actividad ptica en las disoluciones depende del arreglo espacial de los tomos en las molculas de la sustancia disuelta. Estas molculas, que no tienen centros o planos de simetra, poseen una simetra particular que hace que la luz circularmente polarizada con diferentes sentidos de rotacin atraviese la sustancia con diferente velocidad (molculas enantiomorfas). El considerar la luz polarizada en un plano como formada por dos haces de luz circularmente polarizada, rotando en sentidos contrarios, permite dar una explicacin simple a la rotacin del plano de polarizacin. En la figura, la componente circularmente polarizada rotando a la derecha se mueve ms rpido que la componente izquierda. Como resultado, el vector resultante se mueve hacia la derecha.
plano de polarizacin

analizador

rotacin del plano