ASME SEC V - ARTCULO 16 Fuga de Campo Magntico (MFL) EXAMEN

T-1610 ALCANCE Este artculo describe la fuga de flujo magntico (MFL) examen de las necesidades de equipo mtodo aplicable para la realizacin de exmenes MFL con y sin recubrimiento en superficie de materiales ferromagnticos. MFL es utilizado en el examen del tubo y la tubera de encontrar sin soldar zonas de juntas longitudinales de soldadura. Tambin se utiliza como un mtodo de construccin de examen para evaluar la condicin de materiales de lmina, tales como pisos de los tanques de almacenamiento y tuberas para las formas de corrosin u otros de la degradacin. Otras imperfecciones que se pueden detectar son las grietas, costuras, incompleta fusin, penetracin incompleta, abolladuras, vueltas, e inclusiones no metlicas, etc Cuando este artculo se especifica mediante un cdigo de referencia Seccin, el mtodo de MFL se describe en este artculo ser utilizado junto con el artculo 1, Requisitos generales. T-1620 GENERAL T-1621 Personal de los requisitos de calificacin El usuario de este artculo ser responsable de documentar formacin, cualificacin y certificacin del personal realizar el examen de MFL. El personal que realice los ensayos, tales como ultrasonido (UT), los exmenes, ser calificado de acuerdo con la referencia Seccin del Cdigo. T-1622 Equipo de los requisitos de calificacin La operacin del equipo se demostrar con xito completar las pruebas de verificacin de la unidad y la funcin describe de la siguiente manera. T-1622.1 Muestras de referencia. Todos los exmenes MFL tendrn una seccin de la placa de referencia o tubera para garantizar que el equipo est realizando de acuerdo con el fabricante especificaciones antes de su uso. La muestra de referencia para la placa estar compuesta por un plato que se hace de un material del mismo espesor nominal, la forma del producto, y la composicin como el componente que se examinar. La muestra de la placa tendr muescas u otras discontinuidades a mquina en la parte inferior de la placa, como se muestra en la figura. T-1622.1.1 El modelo de referencia para la tubera o tuberas consistir en una tubera o tubo que se hace de un material de la misma nominal de la tubera o el tubo de tamao, forma del producto, y la composicin como el componente que se examinar. La muestra de la tubera o el tubo tendr discontinuidades muesca a mquina en la superficie interior y exterior, como se muestra en la figura. T-1622.1.2 Las profundidades y anchos de las discontinuidades artificiales deben ser similares a las dimensiones y caractersticas fsicas de las discontinuidades que se detectaron. Si los revestimientos no magnticos o cubiertas temporales estarn presentes durante el examen, la muestra de referencia se recubiertos o revestidos con los revestimientos no magnticos o cubiertas representante de el espesor mximo que se encuentran durante el examen. T-1622.2 Sistema de verificacin de cheques y de funciones. El procedimiento de verificacin del fabricante se llevar a cabo inicialmente para garantizar que el sistema est funcionando como se dise. El control de funcionamiento se efectuar mediante el escaneo de la placa de referencia en el rango de velocidades de escaneado a ser utilizado durante el examen. Equipo de configuracin debern estar documentado. T-1622.3 Confirmacin de rendimiento. Una funcin de verificacin se llevar a cabo al principio y al final de cada material de examen, cada 8 horas, o cuando no ha funcionado correctamente y ha sido reparado. Si se determina que el equipo no funciona correctamente, los ajustes necesarios se se hizo y todas las reas examinadas desde la ltima actuacin de verificacin deben ser revisadas. T-1623 Requisitos de procedimiento escrito T-1623.1 Requisitos. El examen MFL ser de acuerdo con un procedimiento escrito que como mnimo, contendr los requisitos enumerados en La tabla T-1623. La fase escrita establecer un nico valor, o rango de valores, para cada necesidad. El procedimiento se ocupar, como mnimo, de la identificacin de las imperfecciones, los materiales de referencia utilizados para establecer equipos, ubicacin y cartografa de las imperfecciones, y la extensin de la cobertura. El procedimiento se dirigir al campo la fuerza de los imanes, el funcionamiento de los sensores, y el funcionamiento de la unidad de procesamiento de seales. Otros mtodos de examen que se utilizar para complementar la MFL examen se identificar en el procedimiento.

puede incorporar a ayudar a caracterizacin de discontinuidades.

la

deteccin

T-1640 REQUISITOS

(A) La superficie se limpiar de toda escala sueltas y residuo que pudiera interferir con el examen y el movimiento del escner. La superficie debe ser lo suficientemente plana para minimizar los cambios excesivos en el despegue y la vibracin. Otras tcnicas se requiere para manejar las variables superiores a las especificadas en el procedimiento.

(B) La limpieza puede realizarse utilizando alta presin con chorro de agua o chorro de arena. Si el material est recubierto y el recubrimiento no se quita, se demostr que el equipo MFL puede detectar las imperfecciones especificado a travs del espesor mximo de la hoja de temporal o recubrimiento.

T-1623.2 Procedimiento de Calificacin. Cuando el procedimiento calificacin se especifica, un cambio de un requisito en la tabla T-1623 identificado como una variable esencial se requieren recalificacin de la fase escrita por la demostracin.

(C) Si una hoja temporal o recubrimiento se aplica entre el escner y la placa para proporcionar una superficie lisa, por ejemplo, en una superficie muy picada, se demostrar que el equipo puede encontrar las imperfecciones especificado a travs del espesor mximo de la temporal lmina o revestimiento.

T-1650 CALIBRACIN El equipo de MFL se recalibrado cada ao y cada vez que el equipo est expuesto a daos importantes despus de las reparaciones requeridas. Si el equipo no ha estado en uso durante 1 ao o ms, la calibracin se realiza antes del primer uso.

Un cambio en un requisito identificados como no esenciales variable no requieren recalificacin del procedimiento escrito. Todos los cambios de esencial o no esencial variables de los especificados en el procedimiento escrito implicar la revisin de, o una adicin a la escrita procedimiento.

T-1660 EXAMEN (A) reas que se examinarn sern escaneadas de conformidad con un procedimiento escrito. Cada paso de la unidad de deteccin se superponen, de conformidad con el procedimiento escrito.

T-1630 EQUIPO

El equipo estar formado por imanes, sensor o sensores matriz, y los circuitos electrnicos asociados. Un indicador de referencia, como una escala gobernada o matriz lineal de sistema de iluminacin, diodos emisores de luz, se debe utilizar para proporcionar un medio para identificar la posicin aproximada laterales de las indicaciones.

El equipo puede ser diseado para la exploracin manual o puede ser impulsado por motor. Software se

(B) La unidad debe ser escaneada manualmente o por un motordriven del sistema. Otros mtodos de examen se puede utilizar para proporcionar cobertura en reas no accesibles a los exmenes de longitud extranjeras, de conformidad con el procedimiento escrito. Tpica ejemplos de zonas de difcil acceso en los tanques de almacenamiento estn de vuelta soldaduras y soldaduras esquina adyacente al depsito u otras obstrucciones, tales como columnas de techo y sumideros.

(C) Las imperfecciones detectadas con MFL superior a la seal de aceptacin estndar sern confirmados por ensayo (s) complementario o ser rechazado. El ensayo suplementario se llevar a cabo de conformidad con el escrito procedimiento. (D) En caso de deteccin de imperfecciones lineal es necesario, adicionales de exploracin se llevar a cabo en una direccin aproximadamente perpendicular a la direccin inicial de exploracin.

T-1670 EVALUACIN Todas las indicaciones sern evaluadas de acuerdo con la referencia a la seccin del cdigo.

T-1680 DOCUMENTACIN Un informe del examen deber contener la siguiente informacin: (a) La especificacin de la placa de material, espesor nominal de pared, dimetro de la tubera, segn sea el caso. La descripcin, tales como dibujo o croquis, la documentacin reas examinadas, y / o zonas de difcil acceso. La identificacin del procedimiento empleado para el examen. El sistema de sensibilidad de deteccin (tamao mnimo de imperfecciones detectables). Ubicacin, profundidad y tipo de todas las imperfecciones que cumplen o exceden los criterios de presentacin de informes. El examen de identidad personal y, cuando sea necesario haciendo referencia a la seccin del cdigo, el nivel de calificacin. El nmero de modelo y de serie del equipo utilizado para el examen, incluido el equipo suplementario Fecha y hora del examen. La fecha y hora de los controles de verificacin del desempeo, y Los mtodos complementarios utilizados y la referencia a asociados informes.

(b)

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(h) (i)

(j)