A difratometria de raios X corresponde a uma das principais tcnicas de caracterizao microestrutural de materiais cristalinos, encontrando aplicaes em diversos campos do conhecimento, mais particularmente na engenharia e cincias de materiais, engenharias metalrgica, qumica e de minas, alm de geocincias, dentre outros. Os raios X ao atingirem um material podem ser espalhados elasticamente, sem perda de energia pelos eltrons de um tomo (disperso ou espalhamento coerente). O fton de raios X aps a coliso com o eltron muda sua trajetria, mantendo, porm, a mesma fase e energia do fton incidente. Sob o ponto de vista da fsica ondulatria, pode-se dizer que a onda eletromagntica instantaneamente absorvida pelo eltron e reemitida; cada eltron atua, portanto, como centro de emisso de raios X. Se os tomos que geram este espalhamento estiverem arranjados de maneira sistemtica, como em uma estrutura cristalina (Figura 1), apresentando entre eles distncias prximas ao do comprimento de onda da radiao incidente, pode-se verificar que as relaes de fase entre os espalhamentos tornam-se peridicas e que efeitos de difrao dos raios X podem ser observados em vrios ngulos.
Figura 1 Estrutura cristalina do NaCl mostrando arranjo regular dos ons Na +1 e Cl -1 . direita cristais de NaCl, cuja morfologia externa est relacionada ao arranjo da estrutura cristalina
PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 2 Considerando-se dois ou mais planos de uma estrutura cristalina, as condies para que ocorra a difrao de raios X (interferncia construtiva ou numa mesma fase) vo depender da diferena de caminho percorrida pelos raios X e o comprimento de onda da radiao incidente. Esta condio expressa pela lei de Bragg, ou seja n ! =2 d sen" (Figura 2), onde ! corresponde ao comprimento de onda da radiao incidente, n a um nmero inteiro (ordem de difrao), d distncia interplanar para o conjunto de planos hkl (ndice de Miller) da estrutura cristalina e " ao ngulo de incidncia dos raios X (medido entre o feixe incidente e os planos cristalinos).
Equao da Lei de Bragg n ! = 2 d sen" (1) Figura 2 Difrao de raios X e a equao de Bragg
A intensidade difratada, dentre outros fatores, dependente do nmero de eltrons no tomo; adicionalmente, os tomos so distribudos no espao, de tal forma que os vrios planos de uma estrutura cristalina possuem diferentes densidades de tomos ou eltrons, fazendo com que as intensidades difratadas sejam, por conseqncia, distintas para os diversos planos cristalinos.
2 EQUIPAMENTOS DE DIFRAO DE RAIOS X
Como a equao de Bragg refere-se radiaes monocromticas, inicialmente sero abordadas as fontes de raios X empregadas e os dispositivos adotados para tornar esta radiao monocromtica. Na seqncia, sero enfocados os mtodos e aplicaes da difrao de raios voltados aos estudos de materiais policristalinos, tambm chamados de mtodos de difrao de p (powder diffraction). Dispositivos dedicados a estudos de estrutura cristalinas a partir de monocristais no sero mencionados neste texto.
PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 3 2.1 Fontes de raios X e filtros
O esquema geral de um tudo de raios X apresentado na Figura 3. Vrios materiais distintos podem ser empregados como nodo, sendo Cu, Cr, Fe e Mo os mais usuais (Tabela1); da mesma forma, distintas geometrias construtivas podem ser empregadas acarretando em feixes de raios X com diferentes formas e intensidades por unidade de rea (Tabela 2).
Figura 3 Tubo de raios X
Tabela 1 Caractersticas dos nodos mais comuns nodo Nmero K# Energia crtica de Voltagem tima atmico (angstrm) excitao (keV) (kV) Cr 24 2,291 5,99 40 Fe 26 1,937 7,11 40 Cu 29 1,542 8,98 45 Mo 42 0,710 20,00 80
Tabela 2 Caractersticas dos diferentes tubos de raios X Tipo de tubo Dimenses rea focal Dimenses virtuais (take off 6) do foco (mm) (mm 2 ) Foco ponto (mm) Foco linha (mm) Foco fino longo 0,4 x 12 4,8 0,4 x 12 0,04 x 12 Foco fino 0,4 x 8 3,2 0,4 x 8 0,04 x 8 Foco normal 1,0 x 10 10,0 1,0 x 10 0,10 x 10 Foco largo 2,0 x12 24,0 2,0 x12 0,20 x12
A seleo do tipo de nodo est relacionada principalmente com a natureza do material a ser analisado, buscando-se sempre a conjugao nodo / amostra que apresente o menor coeficiente de absoro de massa, alm da relao resoluo X intensidade dos picos do difratograma. J a seleo do tipo de tubo e do foco a ser empregado (linha ou ponto) est relacionado aplicao a ser efetuada. PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 4 O espectro de radiao gerado a partir do tubo de raios X no monocromtico, apresentando tanto a radiao caracterstica do material empregado como nodo (K#, K$, etc), como tambm do espectro contnuo (ver Figura 4).
Figura 4 Espectros de raios X contnuo e caracterstico para o molibdnio a 35kV. No quadro direita detalhado o espectro referente linha K#, mostrando as linhas K# 1 e K# 2
Visto a necessidade de se empregar uma radiao monocromtica, h que se remover a radiao referente a linha K$ e tambm parte do espectro contnuo emitido pelo tubo. Duas alternativas podem ser consideradas para tanto; a primeira considera a utilizao de filtros, cujas bandas de absoro de radiao permitam a passagem da radiao referente a linha K# e a remoo (absoro) da linha K$, como o exemplo de filtro de Ni sobre a emisso de nodo de Cu, ilustrado na Figura 5. Uma segunda alternativa, a mais freqentemente usada, consiste na utilizao de um filtro monocromador, situado na passagem dos raios X entre a amostra e o dedector ou entre o tubo e amostra, o qual, atravs do principio da difrao de Bragg, permite exclusivamente a passagem da radiao com o comprimento de onda de interesse (K#). A utilizao de filtro monocromador aps a amostra apresenta ainda a vantagem adicional de remover radiaes oriundas de espalhamentos no coerentes, resultantes da interao dos raios X com a amostra (raios X contnuo e caracterstico dos elementos presentes na amostra, correspondentes a radiao de fundo, background, sem interesse analtico). PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 5
Figura 5 esquerda, espectro de emisso de raios X do Cu mostrando as linhas K# e K$ e a banda de absoro do Ni (azul). A direita tem-se o espectro obtido com o emprego do filtro de Ni ! remoo da linha K$.
2.2 Mtodo do p 2.2.1 Cmara Debye-Scherrer
A cmara de Debye-Scherrer, Figura 6, compreende um dispositivo cilndrico no qual amostra em p acondicionada em um capilar posicionado bem no centro da cmara sobre o qual focalizado um fino feixe de raios X. Cones de difrao de raios X so ento gerados a partir da amostra, sendo que parcela destes sensibiliza um filme fotogrfico posicionado na parede interna da cmara, possibilitando a coleta de raios X desde praticamente 0 at 180 em termos de 2". Figura 6 Cmara de p ou de Debye Scherrer PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 6 Esta tcnica, introduzida na segunda metade da dcada de 1910, foi bastante empregada at os anos 80. Sua utilizao hoje bastante restrita, estando limitada a situaes em que critica a disponibilidade de amostra (<100mg) e estudos de amostras monocristalinas.
2.2.2 Difratmetro de Raios X
Os difratmetros de raios X disponveis no mercado so dominados pela geometria parafocal Bragg-Brentano; seu arranjo geomtrico bsico pode constituir-se de um gonimetro horizontal ("-2") ou vertical ("-2" ou "-"). Outras configuraes, mais sofisticadas e especficas para estudos na rea de cincias de materiais e de monocristais, podem ser tambm encontradas. Para a geometria "-2" (Figura 7), o gonimetro, acoplado aos acessrios de recepo do feixe difratado, move-se (H) com velocidade angular (2"/passo) sobre o eixo P e rotaciona a amostra (P) com metade desta velocidade angular ("/passo). O raio do crculo do gonimetro fixo, apresentando iguais distncias do tubo gerador de raios X amostra e da amostra fenda de recepo D (LP = PD). O plano do crculo focal contm os raios incidente e difratado, isto , a fonte, a amostra e a fenda de recepo. L fonte de raios X G - fendas soller B fenda divergente C - amostra D fenda receptora E fendas soller F fenda de espalhamento T detector de RX Figura 7 Geometria Bragg-Brentano de um difratmetro de raios X, mostrando as diferentes fendas utilizadas A partir da fonte, os raios X atravessam a fenda Soller ou colimadores paralelos (G), a fenda de divergncia (B) e irradiam a superfcie da amostra (C). Os raios difratados em determinado ngulo 2" convergem para a fenda de recepo (D). Antes ou depois da fenda de recepo pode ser colocado um segundo conjunto de colimadores (E) e uma fenda de espalhamento (F). Um PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 7 monocromador do feixe difratado pode ser colocado aps a fenda de recepo, na posio da fenda de espalhamento. Fotografia e o esquema do difratmetro Philips, modelo PW1880, so apresentados na Figura 8, a seguir, e um difratograma de amostra de talco na Figura 9. Figura 8 Difratmetro de p, Philips, modelo PW1880 (instalado no LCT-EPUSP)
Figura 9 - Difratograma de uma amostra de talco (em vermelho); picos difratados so assinalados em cor azul
3 APLICAES DA DIFRAO DE RAIOS X
3.1 Identificao de fases cristalinas
A principal aplicao da difrao de raios X refere-se identificao de compostos cristalinos, sejam eles inorgnicos ou orgnicos. PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 8 Os planos de difrao e suas respectivas distncias interplanares, bem como as densidades de tomos (eltrons) ao longo de cada plano cristalino, so caractersticas especficas e nicas de cada substncia cristalina, da mesma forma que o padro difratomtrico por ela gerado (equivalente a uma impresso digital). Um banco de dados contendo informaes cristalogrficas bsicas e algumas propriedades fsicas de compostos cristalinos mantido e continuamente atualizada pelo ICDD, International Center for Diffraction Data, com sede nos EUA. Atualmente so disponveis informaes referentes a mais de 70.000 compostos cristalinos, sendo que as mais importantes, para fins de identificao de um composto cristalino, so as distncias interplanares e as intensidades difratadas normalizadas (relativas a 100%) para os vrios planos (hkl) que difratam construtivamente os raios X. Um exemplo de uma ficha do banco de dados do ICDD referente ao talco apresentada na Figura 10. Figura 10 Ficha com dados de estrutura cristalina e picos difratados do talco, banco de dados do ICDD, International Center for Diffraction Data, PDF-2, file 13-0558
Vrias estratgias de identificao podem ser empregadas, sendo que a dificuldade de identificao aumenta progressivamente com a elevao do nmero de fases cristalinas presentes na amostra. Os procedimentos ou estratgias de identificao manual mais comuns referem-se a busca por compostos presumivelmente presentes em uma amostra e o mtodo de Hanawalt, este ltimo aplicado para situaes nas quais se desconhecem os compostos cristalinos presentes; para ambos os procedimentos devem ser consultados os livros Powder Diffraction File, Alphabetical Indexes ou Hanawalt Search Manual, ou ainda o banco de dados PDF-2 em CD- ROM (todos disponveis para consulta na Biblioteca do PMI). Estas duas estratgias so apresentadas esquematicamente na Figura 11.
PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 9 INCIO VERIFICA PADRO DO COMPOSTO CONFERE? SUBTRAI O PADRO PICOS RESTANTES? RESULTADO FINAL No Sim No Sim
Figura 11 - Estratgias de identificao de fases por natureza de composto e pelo mtodo de Hanawalt INCIO SELECIONE O PRXIMO PICO MAIS INTENSO NO UTILIZADO DEMAIS PICOS CONFEREM? SUBTRAI O PADRO PICOS RESTANTES? RESULTADO FINAL No No Sim ORDENAR OS PICOS POR INTENSIDADE; SELECIONAR O PRIMEIRO EXISTEM PICOS NO UTILIZADOS? SELECIONE OUTRA LINHA DENTRE AS MAIS INTENSAS No Sim
A partir da dcada de 90, com auxlio de microcomputadores, sistemas automticos de busca por mtodos booleanos e lgica Fuzzy passaram a ser largamente empregados no auxlio identificao de fases cristalinas por difrao de raios X. Nestes procedimentos, os trs a dez picos mais intensos de cada fase presente no banco de dados so comparados com o difratograma da amostra, atribuindo-se crditos e penalidades para cada pico difratado no que se refere a sua presena/ausncia, intensidade difratada e deslocamento da distncia interplanar. Ao final do processo de busca e comparao, os valores dos resultados so expressos em ordem decrescente de pontuao, seguindo-se a avaliao final por parte do usurio.
3.2 Quantificao de fases
Como citado anteriormente, a intensidade da difrao dependente da densidade de eltrons em um dado plano cristalino. Alm deste fator, outras variveis devem tambm ser consideradas, conforme expresso na equao 2, a seguir.
MTODO HANAWALT POR COMPOSTO PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 10 I (hkl)J = K e p (hkl) (1/V J 2 ) &F (hkl)J & 2 LP (hkl)
f J / ' (2) onde, I (hkl)J intensidade integrada; K e constante para um equipamento particular; P (hkl) fator de multiplicidade; V J volume da cela unitria; F (hkl)J fator estrutura; LP (hkl) fator Lorentz-polarizao; f J frao volumtrica da fase J na amostra; ' coeficiente de absoro linear da amostra. O fator estrutura (F) considera a eficincia do espalhamento pelos eltrons de um tomo e os efeitos da temperatura sobre a posio dos tomos na estrutura cristalina. O fator de multiplicidade, P, refere-se proporo relativa de planos que contribuem para um pico difratado. O fator Lorentz-Polarizao, LP, refere-se a um fator geomtrico que diminui as intensidades integradas dos picos difratados em ngulos intermedirios (na faixa de 2" entre 40 e 60(), quando comparados com os valores de ngulos menores e maiores, uma vez que a quantidade de polarizao depende do ngulo atravs do qual a radiao espalhada. J o fenmeno de absoro linear est relacionado espessura da amostra, ao coeficiente de absoro de massa, aos elementos qumicos presentes e ao comprimento de onda da radiao utilizada. A absoro, no entanto, limita a profundidade de penetrao do feixe na amostra, variando de acordo com a natureza do material, o que afeta distintamente as intensidades difratadas de fases diferentes ver Figura 12 (misturas binrias de quartzo com polimorfo de SiO 2 e dois outros compostos com distintos coeficientes de absoro de massa).
Figura 12 Efeitos de distintos coeficientes de absoro de massa sobre intensidades difratadas de quartzo em misturas binrias (quartzo e cristobalita tm a mesma composio, polimorfos de SiO 2 ) PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 11 Os mtodos de anlise quantitativa por difrao de raios X desenvolveram-se propriamente com a utilizao do difratmetro com contador Geiger e da sistematizao proposta por Alexander e Klug, em 1948. A relao dos principais mtodos que consideram os efeitos da absoro sobre as intensidades e utilizam, em geral, as intensidades integradas de um pico difratado apresentada a seguir. ) mtodo do padro interno (Alexander e Klug, 1948, apud Klug e Alexander, 1974); ) mtodo da adio (Lennox, 1957, apud Snyder e Bish, 1989); ) mtodo do padro externo, com sobreposio de picos (Copeland e Bragg, 1958, apud Klug e Alexander, 1974); ) mtodo de matrix-flushing (padro interno - RIR) (Chung, 1974a, 1974b, 1975); ) mtodo da adio-difrao (Klug e Alexander, 1974; Smith et al., 1979b, apud Snyder e Bish, 1989); ) outros, como o mtodo da diluio (Clark e Preston, 1974), mtodo de clculo direto (Hooton e Giorgetta, 1977), mtodo de anlise quantitativa sem padro (Zevin, 1977, apud Pawloski, 1985), mtodo da razo de intensidade e mtodo do padro externo (Goehner, 1982, apud Pawloski, 1985). A quase totalidade destes mtodos utiliza comparaes com amostras de referncia. Por razes diversas, estes padres no so disponveis comercialmente, devendo ser preparados caso a caso. Adicionalmente, outros fatores, como orientao preferencial, microabsoro e granulao da amostra, dentre outros, propiciam substanciais dificuldades adicionais para se obter resultados quantitativos dentro de intervalos de preciso e exatido aceitveis, fazendo com que as tcnicas de anlises quantitativas por difrao de raios X no sejam amplamente utilizadas. Exemplos referentes a quantificao de quartzo a partir do mtodo de adio (amostra de talco) e do mtodo do padro interno (amostra de quartzo e fluorita) so apresentados nas Figuras 13 e 14, respectivamente. PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 12 Figura 13 - Adies de quartzo para avaliao do contedo na amostra inicial pelo mtodo de adio Figura 14 - Curva de calibrao para anlise de quartzo usando fluorita como padro interno (Klug e Alexander, 1974) Mais recentemente, com a utilizao de computadores mais potentes e a anlise de todo o padro do difratograma, utilizando as intensidades individuais de cada passo (step), foi desenvolvida uma metodologia que permite o refinamento de estruturas cristalinas complexas, o mtodo de Rietveld (1967, 1969). Com base nesta metodologia, foi desenvolvido um procedimento de anlise quantitativa, com reconhecida preciso, que considera todo o difratograma, gerando um difratograma calculado a partir das informaes das estruturas cristalinas das fases presentes e as suas propores relativas (ajuste entre os difratogramas real e o calculado com a minimizao do resduo atravs de mnimos quadrados), Figura 15.
Figura 15 Anlise quantitativa pelo mtodo de Rietveld. Difratogramas gerado pela amostra e o calculado; o resduo apresentado na poro inferior PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 13 3.3 Determinao de parmetros de cela unitria
Considerando-se que o padro do difratograma de um material cristalino funo da sua estrutura cristalina, possvel se determinar os parmetros do seu retculo (a, b, c e #, $ e + da cela unitria) desde que se disponha de informaes referentes aos sistema cristalino, grupo espacial, ndices de Miller (hkl) e respectivas distncias interplanares dos picos difratados. Este procedimento pode ser efetuado tanto por mtodos manuais para cristais de elevada simetria (sistemas cbico, hexagonal e tetragonal), como mais facilmente a partir de diversos programas de computador, que permitem um rpido processamento para cristais de qualquer sistema cristalino, independentemente de sua complexidade.
3.4 Dispositivos com controle de temperatura
Inmeros processos de manufatura empregam temperaturas elevadas, nas quais os constituintes primrios da amostra sofrem mudanas de fase em razo do aquecimento. Dentre estes destacam-se os processos metalrgicos, cermicos e alguns de natureza qumica. Um acessrio de alta temperatura para difratometria de raios X permite o aquecimento controlado da amostra e, eventualmente, o controle simultneo da atmosfera a que ela esta submetida, paralelamente coleta do difratograma. Vrios difratogramas podem ser coletados a diferentes temperaturas e/ou condies de presso parciais de gases, visando estudar o equilbrio do sistema e as mudanas de fases envolvidas. A Figura 16 mostra um dispositivo de alta temperatura (de 20 a 1400C) acoplado a difratmetro Philips, XPert MPD. PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 14
Figura 16 - Acessrio para a difrao de raios X em alta temperatura (ambiente a 1400C) semelhana do dispositivo de alta temperatura, acessrios especficos para temperaturas negativas podem tambm ser empregados.
3.5 Orientao de cristalitos - Textura
A orientao preferencial de cristalitos em materiais slidos policristalinos de vital importncia para vrios materiais industriais. Materiais extrudados e ps prensados, dentre outros, so materiais que tipicamente apresentam orientao preferencial; alguns materiais cermicos e semicondutores tem suas propriedades relacionadas a uma dada direo cristalogrfica, sendo de extrema importncia o controle da orientao preferencial nos processos de fabricao e controle de qualidade. Uma das formas mais comuns para se avaliar a orientao preferencial consiste na determinao da figura de polo referente a uma dada direo cristalogrfica, ou seja, as medidas de intensidade de uma linha particular de difrao plotadas em funo da orientao tridimensional da amostra. Para esta determinao utiliza-se um acessrio especfico, Figura 17, que permite a rotao da amostra em todas as direes ( Phi - rotao e Psi - inclinao), paralelamente s medidas de intensidade difratada para uma condio fixa de " e 2"; os resultados so apresentados atravs de uma projeo estereogrfica (2D), denominada figura de polo (Figura 17).
tubo RX detetor bomba de vcuo alta temperatura PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 15
Figura 17 - Acessrio para determinao de orientao preferencial textura e figura de polo obtida para plano 311 (hkl) do cobre
3.6 Tamanho de cristalitos
Partculas de dimenses inferiores a 1m podem apresentar intensidades difratadas em valores de 2" pouco superiores e inferiores ao valor do ngulo de Bragg devido ao efeito de alargamento de picos face ao tamanho de partculas. Tal fato deve-se ao menor nmero de planos que difratam os raios X, em funo das pequenas dimenses dos cristalitos, permitindo a difrao para valores de comprimento de onda um pouco superiores e inferiores ao valor de !. O tamanho mdio de cristalito, ,, dado pela equao 3, a seguir, onde K, o fator de forma, uma constante, usualmente com valor de 0,9, ! o comprimento de onda, B a largura observada da linha difratada a meia altura do pico (FWHM) e b a largura do pico a meia altura para uma amostra padro (sem alargamento de picos face s dimenses das partculas, dimenses acima de 1m), sendo que B e b devem ser expressos em radianos.
(3)
3.7 Tenso Residual
amostra , = K ! ( B - b ) cos" PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 16 Tenso em um material pode causar dois efeitos distintos sobre o difratograma. Se a tenso corresponder a um esforo uniforme, compressivo ou distensivo, tambm chamado de macrotenso (macrostress), as distncias da cela unitria dos cristais vo, respectivamente, diminuir ou aumentar, ocasionando um deslocamento na posio dos picos difratados, conforme exposto na Figura 18. O desacoplamento da geometria "-2" passando para "-", seguido da varredura para duas ou mais linhas de difrao possibilita a determinao da macrotenso presente em uma amostra slida. Esforos no uniformes esto relacionados a foras de distenso e compresso simultneas, as quais resultam em alargamento dos picos difratados em sua posio original (sem deslocamento, ver Figura 18). Este fenmeno, chamado de microtenso em cristalitos (microstress), pode estar relacionado a diferentes causas: deslocamentos (o mais freqente), vacncias, defeitos, planos de cisalhamento, expanses e contraes trmicas, etc. O alargamento de picos relacionado a microtenso pode ser observado tanto para amostras slidas como em ps pulverizados, sendo que nestes ltimos este fenmeno idntico ao do alargamento de picos face diminuio do tamanho de partculas (dimenses inferiores a 1m), sendo praticamente impossvel a distino entre estes.
Figura 18 - Efeitos de esforos uniformes (compressivo e distensivo) e no uniformes sobre a estrutura cristalina d d d d < d > esforo compressivo uniforme esforo distensivo uniforme sem esforo esforo no uniforme MACROTENSO MICROTENSO PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 17 REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS Bish, D. L.; Reynolds, R. C. Sample preparation for X-ray diffraction. In: Modern Powder Diffaction. Mineralogical Society of America, Washington, D.C., 1989, Cap.4, p.73-97. (Reviews in Mineralogy, V.20). Cullity, B. D. Elements of X-ray diffraction. 2.ed. Addison-Wesley Publishing Company, INC., 1978. 555p. Jenkins, R. JCPDS - International Centre for Diffraction Data - Sample Preparation Methods in X-Ray Powder Diffraction. Powder Diffraction, 1986, Vol.1, N o 2, p.51-63. Klug, H. P. & Alexander, L.E. X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials. 2.ed. John Wiley & Sons, 1974, 996p.
EXERCCIOS 1. Assinalar verdadeiro ou falso a) a difrao de raios X est relacionada ao espalhamento elstico dos raios X incidentes sobre uma amostra, fenmeno pelo qual tem-se a mudana na direo dos raios X sem perda de energia ou mudana de fase
b) para que ocorra a difrao dos raios X o comprimento de onda da radiao incidente deve ser pelo menos 1000 vezes menor que o da distncia entre os planos da estrutura cristalina considerada
c) a lei de Bragg representada pela equao ou seja n ! =2 d sen", onde ! corresponde ao comprimento de onda da radiao incidente, n a um nmero inteiro, d distncia interplanar e " ao ngulo de incidncia dos raios X
d) a intensidade de difrao de raios X totalmente independente do nmero de eltrons dos tomos em um dado plano cristalino
e) raios X policromticos so mais indicados que os monocromticos para estudos de materiais cristalinos por difrao de raios X
f) a seleo do nodo do tubo de raios X que condiciona o comprimento de onda da radiao X a ser utilizada
g) a cmara Debye-Scherrer permite a coleta dos raios X difratados a partir de diminutas quantidades de amostras (<0,5g).
h) os resultados de difrao de raios X obtidos atravs da cmara Debye-Scherrer so diretamente expressos em papel, sendo apresentados atravs de um sistema XY
i) a orientao de cristalitos em materiais policristalinos pode ser realizada atravs da rotao da amostras em todos as direes (Phi e Psi), mantendo-se fixos os valores de " e 2"
PMI-2201 DIFRAO DE RAIOS X Por Prof. Dr. Henrique Kahn 18 j) difratmetros de raios X so dominados pela geometria parafocal Bragg-Brentano com gonimetro horizontal ("-2") ou vertical ("-2" ou "-")
k) planos de difrao e suas respectivas distncias interplanares e densidades de tomos (eltrons) so caractersticas especficas e nicas de cada substncia cristalina, equivalentes a uma impresso digital
l) a dificuldade na interpretao de um difratograma (identificao das fases) independe do nmero de fases presentes na amostra
m) o mtodo de Rietveld considera a intensidade de um nico pico difratado para a anlise quantitativa por difrao de raios X
n) o coeficiente de absoro de massa, tambm chamado de efeito matriz, negligencivel para fins de quantificao de fases por difrao de raios X
o) o tamanho de cristalitos pode ser medido para cristais com dimenses entre 2 e 20m p) a determinao de tamanho de cristalitos refere-se a uma medida direta, ou seja, sem a necessidade de comparao com padro ou calibrao instrumental
q) o mtodo de Rietveld ser empregado tanto para o refinamento de estruturas cristalinas como para se efetuar anlises quantitativas por difrao de raios X
r) a medida de tamanho de cristalitos s possvel devido a existncia de um alargamento de pico difratado quando se tem uma pequena quantidade de planos cristalinos difratando os raios X
s) esforos uniformes sobe a estrutura cristalina ocasionam deslocamento das distncias interplanares o qual evidenciado pelo alargamento dos picos no difratograma
t) microtenso ou esforos no uniformes esto relacionados a deslocamentos, vacncias, defeitos cristalinos, planos de cisalhamento e contraes e expanses trmicas.
u) para a determinao de tenso residual faz-se necessrio o desacoplamento da geometria "-2"
2. Correlacionar: (1) identificao de fases (4) tamanho de cristalitos (2) anlises quantitativas (5) macrotenso (3) resoluo ou refinamento de estrutura (6) microtenso cristalina (7) alta temperatura
( ) mtodo de Rietveld ( ) banco de dados ICDD ( ) auxlio no estudo de diagramas de fases ( ) deslocamento de picos difratados ( ) mtodo de Hanawalt ( ) figura de polo ( ) alargamento de picos difratados ( ) projeo estereogrfica ( ) ajuste entre difratograma coletado e difratograma calculado ( ) deslocamentos, vacncias, defeitos na estrutura cristalina