NORMA CHILENA OFICIAL NCh 44.0#2007 TITUTO NACIONAL DE NORMALIZACION INN-CHILE Procedimientos de muestreo para inspeccién por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspeccién lote por lote Sampling procedures for inspection by attributes - Sampling schemes indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection Primera edicién : 2007 CORRESPONDENCIA CON NORMA INTERNACIONAL 180 2859.1:1999 (E} Sampling procedures for inspection by attributes - Part 1: Sampling schemes indexed by acceptance quality fimit (AQL for lot-by-lot inspection, MOD Deseriptores: muestreo, inspeccién por atributos, planes de muestreo, requisitos, AQL CIN 03.120.30 COPYRIGHT © 2007: INSTITUTO NACIONAL DE NORMALIZACION - NN + Pronibia reproduecion y venta * Deveciany : Matias Causa NY 64, 6 Piso, Santiago, Che Miembro do. 180 fletomational Organization for Standardization] © COPANT (Comisién Panamericana de Norms TeenleashSSOCSSCOCESSOOSHVSTOOHOC OE GESCSIVO SSCSSCSSSSSIVGSTSSEISI HSI BYat 42 6.1 58.2 5.3 6.1 62 7 72 73 Contenido Preambulo Introducci6n ‘Alcance y campo de aplicacién Referencias normativas Terminologia, definiciones y simbolos Expresién de no conformidad General Clasificaci6n de no conformidades Nivel limite de calidad a jptable (AQL) Uso y aplicacién Especificacién det AQL AQLs preferidos Presentacién del producto para muestreo Formacién de lotes Presentacién de los lotes Aceptacién y no aceptacién Aceptabilidad de lotes Disposicisn de lotes no acepados ltemes no conformes NCh44, Pagina 10 10 10 10 10 WW u " " 12 12 12 12 12