NTC Iso2859 0

NORMA TCNICA COLOMBIANA
NTC-ISO 2859-0
1998-10-28
PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO PARA INSPECCIN POR ATRIBUTOS. PARTE 0. INTRODUCCIN A LA SERIE NTC-ISO 2859. SISTEMA DE MUESTREO POR ATRIBUTOS
E:
SAMPLING PROCEDURES FOR INSPECTION BY ATTRIBUTES. PART 0. INTRODUCTION TO THE ISO 2859 ATRIBUTE SAMPLING SYSTEM
CORRESPONDENCIA:
esta norma es una adopcin equivalente (EQV) de la ISO 2859-0: 95 anlisis estadstico; control de calidad; inspeccin por atributos.
DESCRIPTORES:
I.C.S.: 03.120.30
Editada por el Instituto Colombiano de Normas Tcnicas y Certificacin (ICONTEC) Apartado 14237 Bogot, D.C. Tel. 6078888 Fax 2221435
Prohibida su reproduccin
Primera actualizacin
PRLOGO
El Instituto Colombiano de Normas Tcnicas y Certificacin, ICONTEC, es el organismo Nacional de normalizacin, segn el Decreto 2269 de 1993. ICONTEC es una entidad de carcter privado, sin nimo de lucro, cuya Misin es fundamental para brindar soporte y desarrollo al productor y proteccin al consumidor. Colabora con el sector gubernamental y apoya al sector privado del pas, para lograr ventajas competitivas en los mercados interno y externo. La representacin de todos los sectores involucrados en el proceso de Normalizacin Tcnica est garantizada por los Comits Tcnicos y el perodo de Consulta Pblica, este ltimo caracterizado por la participacin del pblico en general. La NTC-ISO 2859-0 (Primera actualizacin) fue ratificada por el Consejo Directivo de 1998-10-28. Esta norma est sujeta a ser actualizada permanentemente con el objeto de que responda en todo momento a las necesidades y exigencias actuales. A continuacin se relacionan las empresas que colaboraron en el estudio de esta norma a travs de su participacin en Consulta Pblica y que pertenece al Comit Tcnico 000004 "Aplicacin de mtodos estadsticos". ASISTENCIA TCNICA PARA LA CALIDAD Y LA PRODUCTIVIDAD COMPAA NACIONAL DE VIDRIOS INDUSTRIA COLOMBIANA DE LLANTAS PVC GERFOR PROQUINAL SUPERINTENDENCIA DE INDUSTRIA Y COMERCIO INTERQUIM COLTAVIRA EMPRESAS PBLICAS DE MEDELLN INCOLBESTOS INGEOMINAS PETROQUMICA COLOMBIANA SIKA ANDINA SIDERRGICA DE MEDELLN PLASTILENE
ICONTEC cuenta con un Centro de Informacin que pone a disposicin de los interesados normas internacionales, regionales y nacionales. DIRECCIN DE NORMALIZACIN
NTC-ISO 2859-0 (Primera actualizacin)
PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO PARA INSPECCIN POR ATRIBUTOS. PARTE 0. INTRODUCCIN A LA SERIE NTC-ISO 2859. SISTEMA DE MUESTREO POR ATRIBUTOS
0.
INTRODUCCIN
Esta introduccin general a la inspeccin por muestreo describe los modelos de muestreo por atributos indicados en la NTC-ISO 2859 Parte 1, 2 y 3 e ISO 8422. Se contempla la inspeccin mediante el muestreo por atributos, as como los procedimientos esenciales de aplicacin y la forma como se disearon los modelos que se van a utilizar. Para una amplia comprensin de los conceptos y de sus aplicaciones, es til tener en la mano los siguientes documentos: NTC-ISO 2859-1, NTC-ISO 2859-2, NTC 2859-3, ISO 8422, ISO/TR 8550. Las normas anteriores aplican los conceptos de este documento a aspectos ms concretos de las normas correspondientes. Es importante recalcar que la NTC-ISO 2859-1 proporciona modelos de muestreo basados en el NAC, Nivel aceptable de calidad. La medida de la calidad puede expresarse bien como el porcentaje de no conformidades o bien como el nmero de no conformidades por cada cien tems. La NTC-ISO 2859-1 se desarroll fundamentalmente para la inspeccin de una serie continua de lotes todos provenientes de una misma fuente, ya que con esta situacin con dicha norma es posible lograr una proteccin adecuada (del mximo porcentaje promedio de tems no conformes del proceso) mediante el uso de reglas de cambio, es decir, para el cambio de una inspeccin normal a una inspeccin estricta. Para llevar a cabo dicha modificacin se deber encontrar un determinado nmero (lmite) de lotes no conformes en una serie corta de lotes sucesivos. La NTC-ISO 2859-2 establece planes de muestreo para lotes aislados o individuales, que, en muchos casos, son idnticos a los que se presentan en la NTC-ISO 2859-1. Todas las tablas correspondientes a los planes de muestreo de la NTC-ISO 2859-2 incluyen informacin que tiene en cuenta el nivel de calidad requerido para asegurar una probabilidad elevada de aceptabilidad de los lotes. Se recomienda que en el caso de lotes aislados o individuales, se emplee la NTC-ISO 2859-2 en lugar de la NTC-ISO 2859-1. La NTC-ISO 2859-3 establece procedimientos de muestreo intermitente, adecuados para el caso en el que la calidad del proceso es marcadamente superior al NAC, en un perodo definido de produccin o verificacin. Cuando el nivel de calidad es as de excelente, en algunas ocasiones, es ms econmico el empleo de la NTC-ISO 2859-3 que el uso del procedimiento
de muestreo reducido de la NTC-ISO 2859-1. La NTC 2859-1 y la NTC-ISO 2859-3 se aplican a una serie continua de lotes de un mismo proceso. La norma ISO 8422 presenta un mtodo destinado a establecer planes de muestreo secuencial con un poder de diferenciacin esencialmente equivalente al de los planes particulares de NTC-ISO 2859-1 y NTC-ISO 2859-2. La NTC-ISO 3951, "procedimiento de muestreo y grficos de inspeccin por variables para porcentaje de no conformidades, proporciona un sistema complementario de planes de muestreo por variables, tambin dependiente del NAC, as como la ISO 8422, planes de muestreo secuencial para inspeccin por variables del porcentaje de tems no conformes (conociendo la desviacin estndar).
SECCIN 1: GENERALIDADES
1.1
OBJETO
En esta parte de la norma se explican los trminos empleados, se describen los diferentes modelos y planes, se dan consejos prcticos sobre la inspeccin por muestreo y se analizan algunos aspectos tericos. La Seccin 2 presenta informacin de carcter general sobre los mtodos de inspeccin por muestreo para aceptacin, haciendo referencia especial a los procedimientos de muestreo y a las tablas de inspeccin por atributos que se dan en las NTC-ISO 2859-1, NTC-ISO 2859-2, NTC-ISO 2859-3 y la ISO 8422. La Seccin 3 amplia los conceptos presentados en la introduccin al muestreo de aceptacin de la Seccin 2 y amplia el texto de introduccin y las instrucciones contenidas en la NTC-ISO 2859-1 presentado comentarios y ejemplos detallados que ayudan en la utilizacin del mtodo de inspeccin del sistema de muestreo en la NTC-ISO 2859-1. 1.2 NORMAS QUE DEBEN CONSULTARSE
Las siguientes normas contienen disposiciones que, mediante la referencia dentro de este texto, constituyen disposiciones de esta norma. En el momento de la publicacin eran vlidas las ediciones indicadas. Todas las normas estn sujetas a actualizacin; los participantes, mediante acuerdos basados en esta norma, deben investigar la posibilidad de aplicar la ltima versin de las normas mencionadas a continuacin. NTC-ISO 2859-1:1994, Procedimiento de muestreo para inspeccin por atributo. Parte 1. Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (NAC) para inspeccin lote por lote (ISO 2859-1: 1989). NTC-ISO 2859-2:1994, Procedimiento por muestreo para inspeccin por atributo. Parte 2. Planes de muestreo determinados por la calidad lmite (CL) para la inspeccin de un lote aislado (ISO 2859-2: 1985). NTC-ISO 2859-3:1994, Procedimiento de muestreo para inspeccin por atributo. Parte 2. Procedimientos de muestreo para lotes salteados. (ISO 2859-3: 1991)

Otras normas
ISO 8422:1991, Sequential Sampling Plans for Inspection by Attributes. ISO/TR 8550:1984, Guide for the Selection of an Acceptance Sampling System, Scheme or Plan for Inspection Discrete Items in Lots.
1.3
DEFINICIONES
Para los propsitos de esta norma, se aplican las definiciones establecidas en las NTC-ISO 2859-1 y NTC-ISO 2859-3.
SECCIN 2: INTRODUCCIN GENERAL AL MUESTREO DE ACEPTACIN
2.1
PROPSITO DE LA INSPECCIN POR MUESTREO
El propsito fundamental de la inspeccin por muestreo de aceptacin es la de verificar que el productor entrega una calidad igual o superior a la establecida de comn acuerdo, de modo que el consumidor reciba una calidad aceptable. El productor puede emplear estos procedimientos de muestreo para asegurar que el nivel de calidad ser aceptable para el consumidor. En todos estos procedimientos se ha de tener presente que los recursos econmicos son limitados. El costo del artculo lo reflejar tanto el costo de la inspeccin como el costo de produccin. Se recomienda realizar un verdadero esfuerzo para asegurar que el sistema est diseado de tal manera que la calidad es responsabilidad exclusiva del productor. La inspeccin puede desviar la responsabilidad de la calidad del productor al inspector; esto puede suceder cuando se piense que el inspector se encuentra en ese puesto slo con el propsito de escoger los tems, de manera que, dentro de ciertos lmites, lo que suceda durante la produccin ser detectado en la inspeccin. Esta manera de pensar es totalmente errnea y puede resultar en un trabajo duro y costoso y conducira a un bajo nivel de calidad tanto para el consumidor como para el productor. El inspector no tiene ninguna forma de aadir calidad en un producto si el propio productor no lo ha hecho. 2.2 MUESTREO DE ACEPTACIN
La inspeccin por muestreo de aceptacin tiene el mrito de otorgar la responsabilidad por la calidad, a quien realmente debe tenerlo, es decir, el productor. En estas condiciones el inspector ya no se considera como la persona encargada de separar los tems de los que no lo son. El productor debe velar porque la calidad de su producto sea la indicada; de otra forma, habran muchos problemas y sobrecostos con lotes inaceptables. La inspeccin por muestreo puede, y debe conducir, a un menor trabajo de inspeccin, un costo inferior y un nivel de calidad aceptable para el consumidor. Los modelos de inspeccin por muestreo de los esquemas de las Partes 1, 2 y 3 de las NTC-ISO 2859 e ISO 8422, contemplan la cuantificacin de los riesgos de aceptacin de un producto no satisfactorio (conocido como el riesgo del consumidor) y de los riesgos de no aceptacin de un producto satisfactorio (riesgo del productor), y para la seleccin de un plan que permita tener un riesgo no mayor que el aceptable. 3
Adems de los planes de muestreo de las normas, basados en la teora matemtica de la probabilidad, existen algunos otros mtodos, como son:
a)
Muestreo basado en la experiencia que se tiene con el producto, el proceso, el productor y el consumidor; (vase el numeral 2.2.1) Muestreo ad hoc, por ejemplo, el que se lleva a cabo en la inspeccin de un porcentaje fijo, o en procesos de verificacin aleatoria ocasional; (vase el numeral 2.2.2) Inspeccin al 100 %; (vase el numeral 2.2.3) Otras prcticas de muestreo; (vase el numeral 2.2.4).
b)
c) d)
2.2.1
Muestreo estadstico
El muestreo basado con la experiencia con el producto, el proceso, el productor y el consumidor, se puede evaluar estadsticamente. Un ejemplo es el procedimiento expuesto en la NTC-ISO 2859-1, que emplea un conjunto de reglas de cambio. Cuando la calidad es muy buena, es posible llegar a una inspeccin reducida. De esta manera, se ofrece un procedimiento en donde, si se emplean muestras ms pequeas, el riesgo del productor se reduce, pero el riesgo del consumidor aumenta. Si la experiencia que se tiene es buena, esto se justifica, en particular cuando el promedio de un proceso ha arrojado un valor consistente mejor que al NAC especificado. Cuando el promedio de un proceso en al menos 10 lotes ha sido mucho menor que el valor del NAC, algunos consumidores optan por procedimientos para lotes intermitentes. Vase la NTC-ISO 2859-3. Esto puede ser an ms econmico que la inspeccin reducida de la NTC-ISO 2958-1. En algunos casos, en particular en procesos de rutina o cuando se tiene el caso de tems que no tienen un carcter crtico, algunos confan en la inspeccin de pequeas muestras del producto y, siempre y cuando se presenten cero tems no conformes, aceptan el lote. Por ejemplo, para el caso de una muestra de tamao 8, esto es equivalente a un plan de muestreo simple de un lote pequeo con un NAC de 1,5 % con inspeccin normal, o de 0,65 % con inspeccin reducida. Vanse las Tablas IIA y IIC de la NTC-ISO 2859-1. Por otra parte, de acuerdo con la NTC-ISO 2859-1, cuando se han rechazado dos lotes de cinco, la inspeccin normal se interrumpe y se lleva a cabo la inspeccin estricta. Una vez comenzada la inspeccin estricta, no se puede regresar a la inspeccin normal hasta que se hayan aceptados cinco lotes sucesivos. Este requisito es intencionalmente severo, ya que se ha encontrado evidencia de una calidad inaceptable. El productor, pierde el derecho al beneficio de la duda. Si, cinco lotes consecutivos no son aceptados, la inspeccin por muestreo debe interrumpirse en espera de que el productor tomen las medidas necesarias para mejorar la calidad y de que stas se hagan efectivas. (Vase el numeral 2.11).

2.2.2 Muestreo ad hoc
El muestreo ad hoc no se recomienda, ya que implica riesgos no calculados que pueden llegar a ser injustificadamente altos; adems, no proporciona una base lgica de aceptacin o no aceptacin de un producto. 2.2.3 Inspeccin al 100 %
La inspeccin al 100 % puede convertirse en una tarea abrumadora, a menos que se ejecute con un equipo automtico de inspeccin. Adems, no siempre es un mtodo exitoso, en particular cuando un gran nmero de tems tienen una o ms caractersticas que difieren muy poco dimensionalmente en apariencia o en desempeo (es decir, que sus magnitudes se encuentren cercanos o concentrados sobre los valores lmites de tolerancia, de configuracin o de desempeo). Bajo estas condiciones la seleccin por medio de mtodos automticos o manuales probablemente clasificaran algunos tems conformes como no conformes o viceversa. Adicionalmente, la inspeccin al 100 % con mtodos manuales, visuales o automticos, puede no ser satisfactoria. Algunas veces puede degenerar en una inspeccin superficial al 100 %, cuando de hecho no se dispone de suficiente personal, tiempo o recursos econmicos. Por ltimo, la inspeccin al 100 % no es factible si el mtodo implica un procedimiento destructivo. Sin embargo, es necesario entender que la inspeccin al 100 % puede constituir un elemento esencial de los procesos de inspeccin tanto del consumidor como del productor. Existen situaciones en las cuales es imposible evitarlo, como por ejemplo, cuando se trata de inspeccionar no conformidades crticas, lo cual se har evidente a partir del estudio de esta norma. Algunos tipos de no conformidades son tan importantes que se deben examinar todos los tems siempre y cuando los ensayos no sean destructivos. Cuando los ensayos son destructivos, es necesario asumir algn riesgo. (Vase el numeral 2.15). 2.2.4 Otras prcticas de muestreo
A pesar de que existen diferentes sistemas de muestreo, se considerarn en esta norma solamente aquellos contemplados por las normas NTC-ISO. Esto no quiere decir que los dems carezcan de importancia, sino solamente que el propsito de esta norma es el de servir de apoyo para el uso de la NTC-ISO 2859: Partes 1, 2 3 o de la norma ISO 8422. En muchos casos, los consumidores no llevan a cabo muestreos regulares sino que confan en su experiencia y en la evidencia sustentada de que el productor mantiene un control estadstico de su proceso de produccin y es franco en su evaluacin de lo que est despachando. Si en una situacin particular, se dispone de informacin relacionada con los costos reales de la no aceptacin errnea de tems conformes o la aceptacin de los no conformes, y si por experiencia se conoce cuan frecuente se presentan lotes de una calidad determinada, sta puede ser una de las ocasiones en las cuales el compromiso no es deseable. Es posible calcular un esquema ms eficiente sobre la base de la informacin econmica disponible. 2.3 SELECCIN ENTRE ATRIBUTOS E INSPECCIN POR VARIABLES
El mtodo de inspeccin por atributos consiste en examinar un tem o una caracterstica y clasificarla como "conforme" o "no conforme". La decisin con relacin al lote, se toma contando el nmero de tems no conformes o de no conformidades hallados en una muestra aleatoria.
En el mtodo de variables comienza con la seleccin de una muestra de un nmero de tems, y midiendo dimensiones o caractersticas, de tal manera que se tiene la informacin, del valor mismo de la dimensin y no solamente si una dimensin esta dentro de ciertos lmites. La decisin de la aceptacin del lote se hace con base en el clculo del promedio y de la variabilidad de las mediciones, de acuerdo con los procedimientos de la norma NTC-ISO 3951 o la ISO 8423. El mtodo de inspeccin por variables tiene la ventaja, bajo ciertos supuestos, de requerir una tamao de muestra menor al que se necesita en el mtodo de los atributos para obtener un mismo grado de proteccin contra decisiones incorrectas. Tambin proporciona una mayor informacin en cuanto a si la calidad se ve afectada de manera adversa por la media del proceso, la variabilidad del proceso o ambas. El mtodo de inspeccin por atributos tiene la ventaja de que es ms slido (no se encuentra sujeto a supuestos relacionados con la forma de su curva de distribucin) y su empleo es ms sencillo. Por estas razones se pueden justificar los tamaos mayores de muestra as como los costos ms elevados asociados con los mtodos de muestreo por atributos. Tambin es conveniente anotar que el empleo del calibrador pasa no pasa es ms rpido y exige menos habilidades que llevar a cabo una medicin. Ambos mtodos tienen sus ventajas y sus aplicaciones tpicas. Si bien en las siguientes clusulas se hace referencia a las normas NTC-ISO 3951 e ISO 8423 stas incluyen guas para su uso. 2.4 2.4.1 INSPECCIN DEL LOTE Lote
Para los propsitos de las NTC-ISO 2859, NTC-ISO 3951, ISO 8422 e ISO 8423, los tems se presentan a la inspeccin en grupos, en lugar de una a una. Cada grupo de tems se denomina lote. Cada lote, en tanto sea factible, estar compuesto por tems de producto fabricados esencialmente bajo las mismas condiciones durante un perodo de tiempo determinado. Esto es de gran importancia si se adopta el concepto de nivel aceptable de calidad y hay una serie de lotes que han de ser entregados. Si se mezclan dos o ms fuentes de suministro, la presencia de un gran nmero de tems no conformes de una de las fuentes puede dar lugar a una aceptacin del producto de todas las fuentes. De otro lado, un producto de calidad marginal de una fuente puede resultar enmascarado por un producto de excelente calidad producido por otra fuente. De cada lote se toma una muestra; y es inspeccionada por atributos, se clasifica el lote correspondiente como aceptable o no aceptable, con base en el nmero de tems no conformes o en el nmero de no conformidades encontrados en la muestra; cada lote sucesivo, se trata como una unidad ms o menos independientes (aunque las reglas para la inspeccin pueden variar de acuerdo con los resultados obtenidos en lotes anteriores). Para los lotes individuales suministrados aisladamente, (vase el numeral 2.5.2)

2.4.2 Tamao del lote
La autoridad responsable (vase el numeral 3.10 de la NTC-ISO 2859-1 tiene la facultad de especificar cul ha de ser el tamao del lote; sin embargo es lgico que, mientras sea posible, ste debe consultarse con el productor, de tal manera que se pueda escoger una cantidad que sea conveniente para las partes. En efecto, la especificacin del tamao del lote (as como la de otros parmetros del plan de muestreo) no se debe llevar a cabo desconociendo el proceso de produccin. No es esencial establecer una cantidad inmodificable; algunas veces puede permitirse alguna variacin, aunque siempre es aconsejable especificar los lmites mximo y mnimo del tamao del lote. Desde el punto de vista de la inspeccin por muestreo, hay una ventaja en los lotes grandes, ya que a partir de un lote grande es posible tomar una muestra grande, logrando de esta manera, una mejor discriminacin entre los lotes buenos y los malos. En el caso de lotes grandes para un mismo NAC, el tamao requerido de la muestra es una proporcin menor del lote comparado con la proporcin requerida para los lotes pequeos. Sin embargo, esta poltica de "lotes grandes" no debe exagerarse. Si la conformacin de un gran lote implica la reunin de lotes pequeos que podran permanecer separados, entonces un gran lote es ventajoso solamente si los lotes pequeos son de una calidad similar. En caso de que exista la probabilidad de una diferencia sustancial entre los diferentes niveles de calidad de los lotes pequeos, sera mucho mejor mantenerlos separados. Por esta razn, los lotes deben estar constituidos por tems producidas esencialmente de acuerdo a las mismas condiciones. En el numeral 2.4 se dan ejemplos de conformacin de lotes. En la norma ISO/TR 8550 se brinda informacin ms amplia sobre la relacin del tamao del lote con respecto al tamao de la muestra. 2.5 2.5.1 INSPECCIN DE LOTES, CONSECUTIVOS O AISLADOS Inspeccin lote por lote
Esta es una inspeccin de un producto presentado en una serie de lotes. Si se presenta al proceso de aceptacin una serie de lotes en forma consecutiva, a medida que se van produciendo, se puede disponer de los resultados de la inspeccin de los primeros lotes antes de la produccin de los ltimos, por lo que es posible que la inspeccin realizada influya positivamente en la calidad de la produccin posterior. Los lotes deben someterse a inspeccin en el mismo orden en el que se van fabricando y su inspeccin debe llevarse a cabo rpidamente. La informacin obtenida de un lote puede indicar que el proceso se est deteriorando. La informacin obtenida de una secuencia de lotes puede emplearse para determinar una modificacin de la inspeccin, lo cual implicar el empleo de procedimientos de muestreo ms estrictos en caso de que se deteriore el proceso. Es importante, ya que, a la larga, brinda al consumidor la mejor proteccin contra una calidad mala. Si la calidad contina siendo mala, entonces, bajo prcticas ms estrictas, se devolvern ms lotes para que el proveedor le practique inspeccin 100 %. El muestreo, ms estricto, eleva el riesgo del productor de que un lote bueno sea considerado como inaceptable. La identificacin del deterioro probable de la calidad del producto es una seal destinada a poner en marcha acciones correctivas. Si la calidad es mucho mejor a la acordada inicialmente, el consumidor puede, previo permiso de la autoridad competente, adoptar un muestreo reducido o un muestreo salteado.
Las NTC-ISO 2859-1, NTC-ISO 2859-2, NTC-ISO 3951, ISO 8422 e ISO 8423 se disearon fundamentalmente para emplearse en una secuencia de lotes. 2.5.2 Inspeccin de lotes aislados
Algunas veces la inspeccin puede realizarse en un lote aislado, unos pocos lotes aislados, o bien sobre lotes que han estado almacenados una vez terminado el proceso de produccin. Bajo estas condiciones, no hay suficiente oportunidad para aplicar las reglas de cambio y as influir sobre la calidad a ser ofrecida. Si se ha de despachar un lote nico, es til saber si es uno de muchos lotes similares enviados a otros consumidores y compuestos de material perteneciente a un proceso controlado, o si es un lote mixto compuesto de tems de procesos diferentes y de diferentes perodos de tiempo. (Vase tambin las normas NTC-ISO 2859-2 e ISO/TR 8550). Si bien las NTC-ISO 2859-1 y NTC-ISO 2859-3 exigen la determinacin previa de los valores de NAC y del nivel de inspeccin. La norma NTC-ISO 2859-2 requiere la determinacin de la Calidad Lmite (CL). Para poder brindar una proteccin apropiada tanto al consumidor como al productor al realizar un muestreo a los lotes segn el procedimiento de calidad lmite, es necesario disponer de la informacin relativa a la proveniencia del lote: si es de una serie continua de lotes aceptables, o si, por el contrario, es un lote mixto, constituido por productos fabricados en diferentes lneas de produccin, o en fechas diferentes, o en ambas. Las Tablas de la NTC-ISO 2859-2 son diseadas principalmente para emplearse con lotes aislados. 2.6 2.6.1 NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE Descripcin
El nivel aceptable de calidad (NAC), se emplea como instrumento "indexador" en las tablas de las NTC-ISO 2859-1, NTC-ISO 3951 y en algunas de la norma ISO 8422 e ISO 8423. Cuando se utilizan estos planes de muestreo "indexados", por NAC, los lotes para inspeccin, tomados de un proceso cuya calidad es igual o mayor a la del NAC, sern aceptados la mayora de las veces. Cuando se considera una serie continua de lotes, el NAC es un nivel de calidad que, para los propsitos de la inspeccin por muestreo, es el lmite de los valores satisfactorios del promedio de un proceso. El NAC es el lmite seleccionado entre lo que se considerada aceptable como el promedio del proceso y lo que no lo es. Como tal, no describe un plan de muestreo, sino que establece cmo debera ser la produccin, y es una cantidad til en la definicin de un proceso tolerable. El hecho de que se fije un NAC no implica que sera totalmente deseable o aceptable que un porcentaje de tems no conformes llegue hasta el valor especificado. Siempre es mejor no tener tems no conformes; entre ms se reduzca el porcentaje no conformes por debajo del NAC, tanto mejor. Esta reduccin aumenta la probabilidad de aceptacin de cada lote.

2.6.2 Determinacin del NAC
Al determinar del NAC, debe recordarse que representa una indicacin de la calidad requerida en el proceso de produccin. Al productor se le pide lotes con una calidad promedio mejor al NAC. Por un lado, esta calidad ha de ser fcilmente alcanzable, mientras que por otro, debe tener un valor razonable desde el punto de vista del consumidor. Con frecuencia esto implica un compromiso entre la calidad que el consumidor desea y la que podra pagar; ya que mientras ms exigentes sean las especificaciones, tanto ms difcil ser para el productor satisfacerlas, y mucho ms costosa ser la inspeccin para asegurar que se cumplan. Un proceso diseado y controlado debidamente podra fabricar productos con un porcentaje de tems no conformes inferior al indicado por el NAC. Cuando sea factible mejorar el promedio de un proceso, el costo de produccin y el costo de la inspeccin sern menores para esta calidad superior. La consideracin primaria debe ser el conjunto de requisitos definidos por el consumidor; sin embargo, es necesario asegurarse de que el consumidor es consciente y no est exigiendo caractersticas mucho ms rigurosas de las que realmente se necesitan. Es importante considerar la forma en la que se ha de utilizar el tem y las consecuencias en caso de que llegue a fallar. Si los tems se encuentran disponibles en gran nmero y su falla slo representa una dificultad durante el ensamblaje, de manera que el tem no conforme puede ser reemplazado por otro, se puede tolerar un NAC poco exigente. Si por otra parte, una falla en el tem hace que falle el funcionamiento de una pieza costosa e importante de un equipo, en un momento y lugar en donde no se puede llevar a cabo el reemplazo del tem no conforme, se puede establecer un NAC mucho ms estricto. En el numeral 3.9 y en la norma ISO/TR 8550 se presenta una informacin ms amplia, y criterios de seleccin del NAC. 2.7 PROMEDIO DEL PROCESO
Es la calidad media presentada por una serie de lotes, excluyendo los lotes que se presentan nuevamente a inspeccin. Es particularmente importante darse cuenta de que al contrario del NAC, de la CLMS (vase el numeral 2.12) o el de la CL (vase el numeral 2.8), el promedio del proceso no se pueda calcular, o seleccionar, ni es una propiedad de un plan particular de muestreo, sino que se relaciona con lo que realmente se est produciendo, independientemente de qu tipo de inspeccin se est llevando a cabo. En general, la estimacin del promedio del proceso no es esencial para un esquema de muestreo. No obstante, el concepto es importante por s mismo, pues tanto el inspector como el productor no slo se interesan en las decisiones tomadas con respecto a cada lote sino tambin en la calidad de la produccin a largo plazo de la calidad de la produccin. Por esta razn, es conveniente mantener un registro del valor estimado del promedio del proceso alcanzado, ya que constituye una forma til de medir la calidad, as como una fuente valiosa de informacin para aquellos que tienen que decidir los planes de muestreo deberan adoptarse cuando, se diseen o fabriquen productos similares en el futuro.
Cuando se llevan a cabo muestreos dobles o mltiples, se deben tener en cuenta algunas reglas especiales; solamente se deben emplear los resultados de la primera muestra, en el clculo del promedio del proceso. Ocasionalmente se hacen recomendaciones en el sentido de excluir los resultados anormales. Esto constituye una prctica peligrosa que debera usarse, con mucha moderacin en caso de que se use. El nico caso en que esta prctica se puede aplicar sin peligro, es aqul en el cual se conoce que los resultados anormales se deben a una causa especfica que se sabe que ya ha sido eliminada. An en este caso, es necesario proporcionar ambos resultados con o sin los resultados, anormales para indicar que stas anormalidades fueron registradas. Se debera estimar promedios separados para el proceso en caso de tener caractersticas mltiples o diferentes clases de NAC. 2.8 CALIDAD LMITE (CL)
La calidad lmite es un elemento indexador empleado en la NTC-ISO 2859-2. Cuando se considera un lote en forma aislada, la calidad lmite (CL) es el nivel de calidad en porcentaje de piezas no conformes (o de no conformidades por cada 100 tems) que, para propsitos de inspeccin mediante muestreo, tiene una baja probabilidad de aceptacin. Esta baja probabilidad se denomina "riesgo del consumidor". Una calidad lmite es en realidad, la especificacin de una calidad que no se desea. Para que los lotes sean aceptados con regularidad, la fraccin de tems no conformes debe ser mucho ms pequea que la CL (usualmente menor de 1/4 de la CL). La NTC-ISO 2859-2 establece procedimientos para la aplicacin de los planes de muestreo en base al CL. Estos planes de muestreo y las tablas correspondientes son, en su mayor parte, consistentes con los planes de muestreo empleados en la NTC-ISO 2859-1. Los planes basados en la calidad lmite se emplean principalmente para lotes aislados. Los procedimientos presentados en la NTC-ISO 2859-1 son los ms apropiados cuando el producto se encuentra en proceso de fabricacin y se estn produciendo una serie de lotes. 2.9 INSPECCIN NORMAL Y ESTRICTA
Se recordar que un NAC corresponde a la frontera de separacin entre lo bueno y lo malo en una escala de calidades, al inspeccionar una secuencia de lotes. Cuando se ha especificado un NAC para un determinado producto, lo ideal sera tener un sistema, por el cual todos los lotes con una calidad mejor que el NAC seran aceptados y todos los lotes con una calidad peor que el NAC no lo seran. Este sistema ideal no se logra con ningn plan de muestreo. Para satisfacer las exigencias tanto del productor como del consumidor, se debe llegar a un acuerdo; el mecanismo adoptado en las NTC-ISO 2859-1 e ISO 8422 es complementar la inspeccin normal con la inspeccin estricta, es decir, dos planes de muestreo se especifican para una situacin, junto con las reglas que determinan cundo se cambia del uno al otro. La inspeccin normal est diseada para proteger al productor contra la no aceptacin de una alta proporcin de lotes cuando la calidad es mejor que el NAC. El realidad, el productor se beneficia de la incertidumbre debido a la variabilidad en el muestreo.
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Sin embargo, el consumidor tambin necesita ser protegido, y esto se obtiene al no favorecer al productor ciega e invariablemente, sino solamente en tanto que se muestre digno de ello. Si en un momento dado, los resultados del muestreo indican que el promedio del proceso es probablemente peor que el NAC, el productor pierde su derecho al beneficio de la duda (es decir, su derecho a una inspeccin normal), y se implanta una inspeccin estricta para proteger al consumidor. En los numerales 3.11 y 3.12 se presentan ejemplos y detalles adicionales. 2.10 INSPECCIN REDUCIDA
A veces se tiene evidencia de que la calidad del producto es consistentemente mejor que el NAC. Cuando esto ocurre y es razonable suponer que se seguir produciendo a este buen nivel de calidad, la inspeccin por muestreo deja de cumplir su funcin de separar los lotes malos de los buenos. No obstante, no puede dejar la inspeccin totalmente de lado, ya que se necesita advertir si la calidad de la produccin desmejora. En estas circunstancias, se puede obtener un ahorro considerable utilizando los planes de muestreo por inspeccin reducida, establecidos en la NTC-ISO 2859-1 o los planes de muestreo para lotes intermitentes indicados en la NTC-ISO 2859-3. Las reglas especiales que determinan el empleo de estos planes, en caso de que as lo permita la autoridad competente, se presentan en la Seccin 3 de esta norma, en la NTC-ISO 2859-1 y NTC-ISO 2859-3. En el numeral 3.15 se har un anlisis ms amplio y se darn ejemplos. 2.11 REGLAS DE CAMBIO
En el numeral 2.9 se presentaron los conceptos de inspeccin normal, e inspeccin estricta, as como sus propsitos. En este numeral se sealan las reglas de cambio por la que se toma la decisin de cambiar de una inspeccin normal a inspeccin estricta o de volver a inspeccin normal al usar la NTC-ISO 2859-1. Si se conociera el valor preciso de la calidad ofrecida por el productor, esto servira para calificar el lote y no hara falta una inspeccin de aceptacin. Ya que la calidad real nunca se conoce, lo mejor que se puede hacer es utilizar los datos de los cuales se dispone, es decir, los propios resultados de la inspeccin por muestreo. Puesto que una inspeccin normal est concebida para aceptar casi todos los lotes presentados, con la condicin de que su calidad sea al menos tan buena como el NAC, sera lgico pensar que si una gran proporcin de lotes no es aceptado, la calidad no puede ser tan buena como la del NAC. Ahora bien, qu proporcin de no aceptacin es lo suficientemente elevada para llegar a esta conviccin?. Es preciso disponer de una regla que produzca una reaccin relativamente rpida cuando la calidad sea inferior al NAC, y que al mismo tiempo tenga una baja probabilidad de exigir, por error una inspeccin estricta, cuando la calidad es superior a la del NAC. La regla es implementar la inspeccin estricta para los lotes siguientes, cuando dos de cinco (o menos), lotes sucesivos han sido rechazados en la primera inspeccin. Esto significa que, los lotes que no fueron aceptados en su primera inspeccin y sometidos a una nueva inspeccin despus de su rectificacin, estos lotes presentados de nuevo no se tienen en cuenta para la aplicacin de esta regla.
11
Una vez implantada la inspeccin estricta se mantiene vigente hasta que se hayan aceptado cinco lotes sucesivos bajo este tipo de inspeccin; a partir de este momento, se retoma la inspeccin normal. Este requisito es bastante severo, ya que es ms difcil que un lote sea aceptado bajo inspeccin estricta que bajo inspeccin normal; sin embargo, una vez que se comprueba que se produce una calidad inferior al NAC, no se puede restituir al productor su derecho al beneficio de la duda hasta tener la seguridad de que la calidad se ha mejorado. Existe otra garanta para el cliente. Consiste en una regla mediante la cual la inspeccin de aceptacin debe interrumpirse, en espera de que se tomen las medidas necesarias para mejorar la calidad, si el nmero acumulado de lotes rechazados en una secuencia de lotes consecutivos durante la primera inspeccin rigurosa se eleva a cinco. Este constituye un principio importante: si la calidad es mala, deben tomarse medidas correctivas y el inspector debe estar autorizado para rehusar la inspeccin de los lotes siguientes, hasta que tenga la evidencia de que se han tomado las medidas necesarias. En el numeral 2.19 se presentan detalles adicionales y ejemplos. 2.12 CALIDAD MEDIA DE SALIDA (CMS) Y SU LMITE (LCMS)
Al igual que con el concepto de NAC, los conceptos de calidad media de salida (CMS) y de su lmite (LCMS) slo son significativos cuando una larga secuencia de lotes se presenta a un sistema definido de inspeccin por muestreo; por ejemplo, de acuerdo con lo establecido en la NTC-ISO 2859-1. Cuando el nmero de tems no conformes en la muestra es igual o menor al nmero de aceptacin, el lote ser aceptado. Si al contrario, el nmero de tems no conformes es igual o mayor al nmero de rechazo, el lote no ser aceptado. Cuando el proceso de produccin funciona a un promedio cercano a un NAC especificado, la mayora de los lotes sern aceptados. Si la calidad del proceso es constante y los lotes que no son aceptados son descartados (en lugar de ser devueltos para su rectificacin), el muestreo no tendr ningn efecto sobre la calidad. En algunos casos, particularmente cuando la transferencia se realiza entre departamentos antes que entre compaas, la consecuencia de que un lote no pase la inspeccin por muestreo es que se somete a una inspeccin al 100 %, con el consiguiente rechazo de las tems no conformes (y su posible reemplazo con tems conformes). Esto es lo que se denomina inspeccin rectificadora. Cuando se presentan lotes a una inspeccin rectificadora se puede, aceptar el lote sin ninguna inspeccin posterior o, bien, en caso de que la muestra indique no aceptacin, se inspeccionan todos los tems en el lote y las tems no conformes se descartan o se reemplazan con tems conformes. En el primer caso la calidad de salida es, para efectos prcticos, la misma calidad ofrecida por el productor. En el segundo caso, todos los tems conformes satisfacen las especificaciones. An cuando la calidad ofrecida por el productor sea constante y tenga un valor de p (fraccin no conforme), la calidad de salida variar de lote a lote, tomando bien sea el valor de p o el valor de 0, dependiendo de si el lote es aceptado con base en el resultado de la muestra o de si es sometido a un proceso de inspeccin rectificadora. Sin embargo, es posible visualizar la media de la calidad de salida de un proceso prolongado con la calidad de entrada constante en p. Esta media de calidad de salida no ser superior al valor de p y podra, ser mucho menor cuando una gran proporcin de lotes es inspeccionada completamente. El trmino calidad media de salida se puede interpretar como el porcentaje promedio de tems no conformes en una gran cantidad de lotes, de un proceso que continuamente surte un producto de calidad p. Cada lote se examina y se evala mediante el mismo plan de muestreo que tiene una probabilidad Pa de aceptacin del lote. Todos los tems no conformes, seran (tericamente) eliminados de aquellos lotes que no con aceptados por el plan de muestreo. El resultado, en 12
promedio, es que despus de la inspeccin, 100 (1-Pa) % de lotes contienen 100 % de tems conformes y 100 Pa % de los lotes, que fueron aceptados en la inspeccin por muestreo, contienen 100p % de tems no conformes (menos unas pocas que se han retirado durante el proceso de muestreo). La calidad media de salida, en porcentaje de tems no conformes, ser de aproximadamente 100 (Pa x p) % La aproximacin es buena si el tamao del lote (N) es mayor o igual a 10 veces el tamao de la muestra (n). La realizacin de este clculo para diferentes valores de p, cada uno de los cuales tiene una probabilidad diferente de aceptacin, genera la curva de calidad media de salida representada en la Figura 1. Se puede ver en la Figura, que la calidad de salida puede ser buena ya sea porque la calidad inicial es buena, o porque el lote fue completamente inspeccionado. Tambin se puede ver que hay un valor (p) intermedio de la calidad de entrada para lo cual la calidad media de salida alcanza un valor mximo. Este valor mximo recibe el nombre de lmite de calidad media de salida (LCMS). No constituye un lmite de calidad de salida de ningn lote en particular ni tampoco un lmite de la calidad de salida real promediada sobre una corta secuencia de lotes. Sin embargo, en una secuencia larga de lotes, la calidad de salida real promediada sobre esa secuencia no ser significativamente diferente a esta LCMS. Si la calidad antes de entrada (p) ha variado, la calidad real puede entonces ser significativamente mejor al LCMS. Por lo tanto, es una buena prctica calcular la calidad media real directamente, en lugar de considerar el LCMS como el lmite superior. 2.13 TEM; UNIDAD DE PRODUCTO
Al emplear la inspeccin por atributos, es necesario calcular los valores de cantidades tales como el tamao del lote, tamao de la muestra, nmero de tems no conformes etc. Esta enumeracin se hace en trminos de unidades de producto. El trmino tem se ha adoptado por parte de la ISO para representar la unidad de producto, para evitar confusiones con unidades como centmetros, gramos, etc. Usualmente, el tem ser un artculo determinado (del tipo que est sometido a inspeccin), en cuyo caso, si se desea, se puede emplear la palabra artculo en lugar de tem.
EJEMPLO 1.
Antes de despachar un lote de 250 tubos de arcilla vitrificada de longitud nominal de 3 m y un dimetro nominal de 150 mm, se toma una muestra aleatoria de ocho tubos; se someten a ensayos de resistencia al aplastamiento, resistencia al momento flector e impermeabilidad. El lote se despacha siempre y cuando haya por lo menos siete tubos que cumplan con las tolerancias establecidas de cada una de las tres caractersticas. En este caso, el tem es cada uno de los tubos.
Nota 2. La razn para introducir el trmino tem es que aveces se desea inspeccionar por muestreo a un producto que no consiste de artculos individuales, o para el cual la entidad bsica siendo inspeccionada consta de varios artculos.
13
n Ac
= =
tamao de muestra nmero de aceptacin
Figura 1. CMS y su lmite LCMS
EJEMPLO 2.
Una mezcla (10 000 kg) de arena-cemento es empacada en sacos de 10 kg. El lote ha de ser inspeccionado para determinar si cumple con una especificacin que define el tamao mximo de los granos de arena y del cemento, la proporcin de arena-cemento, y el peso de cada saco. El NAC ha sido establecido previamente. La especificacin establece como conformes aquellos sacos donde menos de un x % de los granos de arena exceden un tamao 'a' y menos de un y % de los granos de cemento exceden un tamao 'b', etc. El lote contiene 1 000 unidades (sacos). El empleo de un nivel de inspeccin S4 y de un NAC de 2,5 % determina el tamao apropiado de la muestra (20 sacos) y del nmero de aceptacin (1). Vanse las Tablas I y X-F-2 de la NTC-ISO 2859-1: 1989. El tem es un saco de 10 kg. Este material a granel es granular y no podra tratarse como un nmero determinado de tems individuales.
EJEMPLO 3.
Una pieza de un equipo electrnico contiene en su circuito dos transistores similares, para que funcione correctamente es importante que las caractersticas elctricas de estos dos 14
transistores concuerden estrechamente. El tem a ser inspeccionado se definir, como un par concordante de transistores. As 500 pares de transistores, un total de 1 000 transistores, constituirn 500 tems, El tamao de lote tambin es de 500. Si el tamao necesario de la muestra fuera, por ejemplo de 50, esto significara 50 pares, es decir, un lote de 100 transistores. Evidentemente, en esta situacin sera necesario definir los pares antes de tomar la muestra y conservar intactos estos pares hasta el momento de su utilizacin. En el caso de transistores electrnicos que constan de dos estructuras similares contenidas en un mismo empaque o sobre una base comn, el artculo completo constituir un tem, an si fuese necesario ensayar cada transistor individualmente.
EJEMPLO 4.
50 000 piezas, que consisten de 25 000 recipientes y 25 000 tapas, fabricados de manera que forman parejas perfectamente acopladas, se producen y se despachan diariamente a una planta de ensamblaje. El proceso de fabricacin y uso es tal que no se separan las dos partes y se han ensamblado por parejas. El aspecto ms importante que se debe verificar es si encajan correctamente. El tem que se va a someter al proceso de inspeccin es el par, identificado como el conjunto de recipiente y tapa.
2.14
NO CONFORMIDAD E TEMS NO CONFORMES
2.14.1 Falta de conformidad Para los propsitos de las normas NTC-ISO 2859 e ISO 8422, cualquier falta de conformidad con una caracterstica establecida, dimensin, atributo o requisito funcional establecido, es una no conformidad. Un tem no conforme puede tener uno o ms no conformidades. Por ejemplo, supngase que un bolgrafo no escribe. Esto constituye una no conformidad; el bolgrafo es no conforme. El mismo bolgrafo podra tener algunas otras fallas con respecto a las especificaciones, por ejemplo con respecto a su color, dimensiones, etc. A pesar de que presente varias no conformidades, sera contado como un solo un tem no conforme. La calificacin no conformidad no implica necesariamente que el producto no pueda ser utilizado para el uso previsto. Por ejemplo, un ladrillo puede tener una de sus dimensiones fuera de la tolerancia prevista, pero an no conforme, puede sin embargo utilizarse en la construccin. La distincin entre tem no conforme y no conformidad no tiene importancia si el tem no tiene ms que una sola no conformidad, pero es esencial cuando varios no conformidades, se presentan. La calidad de un producto puede expresarse bien sea como porcentaje de tems no conformes o como nmero de no conformidades por cada cien tems, pero usualmente estos dos conceptos no se pueden intercambiar. Se disponen de planes de muestreo tanto para el porcentaje de tems no conformes como para el nmero de no conformidades por cada cien tems.
15

EJEMPLO 5.
En un proceso de conteo de agujeros en una lmina de aluminio, el nmero de agujeros por metro cuadrado puede ser un dato de inters. En este caso se contaran todos los agujeros por cada metro cuadrado (tem) y la calidad se expresara en agujeros por cada 100 m2.
EJEMPLO 6.
En un lote de 500 tems de producto, 480 son aceptables, 15 tienen una no conformidad cada una, 4 tienen dos no conformidades, y 1 presenta tres no conformidades. El porcentaje de no conformes se calcula mediante la frmula:
No. de items no conformes x 100 No. total de items = (20/500) x 100 = 4
Es decir, este lote tiene el 4 % de tems no conformes. El nmero de no conformidades por cada 100 tems se calcula mediante la siguiente frmula:
No. de no conformidades x 100 No. total de items =(26/500) x 100 = 5,2
Es decir, este lote tiene 5,2 defectos por cada 100 tems. La decisin de emplear un porcentaje de tems no conformes o nmero de no conformidades por cada 100 tems, se har considerando cada caso en particular. Lo importante es que la eleccin sea acordada y especificada antes de la inspeccin y no dejar esta toma de decisin hasta que la muestra haya sido inspeccionada. Los factores que se deben tener en cuenta al decidir el empleo del porcentaje de tems no conformes o el del nmero de no conformidades por cada cien tems son los siguientes:
a)
La inspeccin con base en el porcentaje de tems no conformes supone que si un tem tiene uno o ms no conformidades, el tem se considera no conforme y no es aceptable. 16
Tambin supone que son limitadas y conocidas las formas en las cuales un tem puede resultar no conforme; por ejemplo, solamente hay 5 formas en las cuales un tem puede considerarse no conforme (vase tambin el punto b)). Bajo las condiciones de inspeccin para porcentaje de tems no conformes, se debe llevar un registro de todas las no conformidades encontrados en cada uno de los tems no conformes, de tal modo que se pueda tomar una accin correctiva para cada tipo de defecto. A pesar de esto, no es necesario realizar ninguna diferenciacin en el conteo. Un tem con una no conformidad o un tem con varias es considerado como un tem no conforme. b) La inspeccin del nmero de defectos por cada 100 tems cuenta cada una de las no conformidades encontradas. Tres no conformidades encontrados en un tem se cuentan como tres, y se le da el mismo peso como tres tems con una no conformidad cada una. Se presenta un caso especial cuando una no conformidad puede aparecer en los tems un nmero desconocido y casi ilimitado de veces; por ejemplo, las imperfecciones superficiales o agujeros pueden presentarse en cualquier nmero y no se sabe cuantas veces no se presentan; de manera que el valor del porcentaje de tems no conformes con relacin a esta caracterstica carece de significado. En tales casos, es mejor determinar el nmero de no conformidades por cada cien tems. (Vase el ejemplo 5).
Nota 3. El porcentaje de tems no conformes implica una distribucin binomial. Para no conformidades por cada 100 tems es apropiado usar la distribucin de Poisson. Vase el numeral 2.19 para informacin sobre las curvas caractersticas de operacin de los planes de muestreo.
c)
Dos propiedades sern mutuamente dependientes si las no conformidades en un tem se originan, total o parcialmente, por la misma causa, o si una propiedad afecta la otra. Es necesario un conocimiento detallado del proceso de produccin para decidir si las propiedades son independientes. En trminos matemticos, si dos caractersticas, digamos la longitud y el dimetro, son independientes, esto significa que si se toman todos las tems producidas y se forman con ellas dos grupos, de acuerdo a si la longitud es conforme o no, se encontrar que el porcentaje de tems no conformes por dimetro es prcticamente el mismo en ambos grupos; si a su vez, se forman dos grupos de acuerdo a si todos los dimetros son conformes o no, se encontrar que el porcentaje de tems no conformes por longitud es prcticamente el mismo en ambos grupos. Se puede demostrar matemticamente que ambos procedimientos son equivalentes. Si dos no conformidades no son independientes, se dice que son correlacionados o dependientes y la presencia de ambas no conformidades en un mismo tem debe contarse como una sola conformidad, no como dos. Ocasionalmente la correlacin entre dos no conformidades relacionadas es baja. En estas condiciones, los dos no conformidades pueden considerarse independientes. Se evita esta dificultad si se opta por la alternativa del porcentaje de tems no conformes.
d)
Si el porcentaje de no conformidades en el lote es inferior al 2,5 %, entonces las distribuciones de probabilidad de los tems no conformes y de las no conformidades sern prcticamente idnticas. En el intervalo entre 2,5 % y 10 % se harn patentes algunas diferencias; el plan para no conformidades por cada 17
100 tems ser ms severo que el plan equivalente por porcentaje de tems no conformes. e) En un puesto de inspeccin, siendo admisible, puede ser una mejor prctica y ms sencillo usar uno solo de los mtodos en lugar de estar cambiando frecuentemente de uno a otro; por ejemplo, tems no conformes en lugar del mtodo de no conformidades por cada cien tems. La alternativa de no conformidades por cada cien tems es preferible desde el punto de vista del registro de datos, ya que permitir disponer de un historial completo con miras al mejoramiento de la calidad, de esta manera los registros incluirn informacin sobre todos las no conformidades, mientras que si se adopta la alternativa de porcentaje de tems no conformes, pueden que se omitan algunas no conformidades de los registros.
f)
2.14.2 Nomenclatura La discusin en lo que resta de esta parte de la norma se llevar a cabo en trminos de inspeccin de tems no conformes. Cuando sea apropiado, se podr leer en trminos de inspeccin de no conformidades, reemplazando las expresiones "tems no conformes" por "no conformes" y "porcentaje de tems no conformes" por "no conformidades por cada cien tems". 2.14.3 Clasificacin de las no conformidades En lo que antecede se ha supuesto que si un tem es no conforme por diferentes causas, se le concede la misma importancia a todas estas no conformidades. As es posible limitarse al conteo de los tems no conformes para clasificar el lote. Por ejemplo, si hay que comprobar tres dimensiones (a, b, c) en la muestra, y tres artculos son no conformes en la dimensin a solamente, tres en la b, uno en la c y uno en a y b a la vez, se tendr un total de ocho tems no conformes, que es el nmero que hay que comparar con los nmeros de aceptacin y de rechazo. Este procedimiento de sumar tems no conformes de diferentes tipos es razonable solamente si los defectos tienen importancia igual o similar. Cuando esto no es el caso, es necesario clasificar todos los defectos posibles en grupos, de tal forma que, las no conformidades en los diferentes grupos tengan diferentes rdenes de importancia pero de modo que todas las no conformidades dentro de un mismo grupo tengan aproximadamente el mismo orden de importancia. Los diferentes grupos emplearn valores diferentes para los NAC. Para muchos propsitos son suficientes dos grupos, a saber: no conformidades principales de clase A, que son los de mayor importancia y no conformidades de importancia secundaria. Algunas veces es necesario introducir otras clases o subclases dentro de ellas. El grupo ms importante contiene las no conformidades crticas que hacen que el artculo sea peligroso, potencialmente peligroso, o que afecte en forma adversa su caractersticas de funcionamiento. Las no conformidades crticas constituyen un caso especial y sern tratados con ms detalle en el numeral 2.15. Por el momento, la discusin se restringe a los grupos correspondientes a las no conformidades mayores y menores. Estos grupos hacen referencia a la importancia relativa de los diferentes no conformidades dentro de un producto determinado y, puesto que los productos mismos varan en importancia, no hay un criterio absoluto de clasificacin. Por lo tanto, no existe un valor particular de CA que corresponda normalmente a un grupo determinado. Es importante que la clasificacin de las no conformidades se haga correctamente. Es evidente que se ha de tener cuidado de no "subclasificar" (por ejemplo, clasificar como una no 18
conformidad de clase B una caracterstica que se debera clasificar en la clase A), ya que esto conducira a la aceptacin de un nmero mayor de no conformidades de esta caracterstica en el plan de los que realmente son necesarios. Sin embargo, es tambin es muy importante no "sobreclasificar" una no conformidad. Cuando se adopta un sistema de clasificacin de no conformidades, es necesario fijar valores diferentes de NAC a cada una de las clases, para asegurar que las no conformidades ms importantes, correspondientes a la clase A, se controlan de una manera ms severa que las no conformidades de la clase B. Si un artculo tiene varias no conformidades y stas corresponden a grupos diferentes, se clasificar el artculo como un tem no conforme del grupo ms severo. (Si, sin embargo, la inspeccin se lleva a cabo en trminos de nmero de no conformes en lugar de tems no conformes, cada no conformidad en la muestra se cuenta en el grupo correspondiente). En el numeral 3.3 se presenta informacin adicional y ejemplos de clasificacin. 2.15 NO CONFORMIDADES CRTICAS
Las no conformidades crticas son, por definicin, aquellas que representan peligro y/o que afectan adversamente las condiciones de funcionamiento o seguridad. Estas no conformidades crticas constituyen una categora especial. Para estas no conformidades, es imposible elegir un valor del porcentaje de tems no conformes y afirmar: "...este porcentaje de tems no conformes es aceptable". Al utilizar una inspeccin no destructiva, generalmente se establece que las caractersticas crticas se deben inspeccionar empleando una muestra de tamao igual a la del lote y un nmero de aceptacin de 0. Esto es, una inspeccin al 100 %; sin embargo, debe sealarse que no se trata de una inspeccin al 100 % tradicional. No se trata aqu de clasificar un artculo como bueno o malo, sino que se pretende verificar que no hay ningn artculo no conforme. Si se encuentra un artculo con no conformidades crticas, no se va a colocar simplemente en otra caja y continuar con la inspeccin; sino que el lote entero no ser aceptado (aunque su no aceptacin no signifique necesariamente que deba destruirse el lote. Vase el numeral 2.17). Siempre que sea posible, tambin se detendr el proceso de produccin, para realizar una investigacin con la intencin de descubrir de que manera se produjo la no conformidad y establecer mtodos que impidan la recurrencia de dichas no conformidades crticas en el futuro. La razn de este procedimiento es tratar de impedir que se produzcan tems con no conformidades serias, en contraposicin con la nocin de que no importa que se produzcan algunas, ya que, el inspector las sacar. An el mejor inspector puede dejar pasar una no conformidad, as que la nica manera de tener la seguridad de que no llegue ninguna no conformidad crtica a manos del consumidor es evitando su produccin. Si se considera que una no conformidad crtica en particular no justifica este procedimiento, habr que considerar seriamente su reclasificacin como no conformidad mayor y no crtica. Las no conformidades crticas deben ser realmente importantes; de ah que ningn esfuerzo para evitarlas puede considerarse demasiado grande. Cuando la nica inspeccin posible relacionada con las no conformidades crticas es de naturaleza destructiva, es ms importante buscar la forma de evitar esto. En un caso como este, una muestra igual del 100 % est fuera de discusin y se hace necesario determinar qu tamao de muestra se debe extraer. Esto se puede lograr empleando una frmula simple que relacione:
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a)
el nmero de no conformidades/tems no conformes para los que quisiramos tener la certeza de encontrar, al menos uno en la muestra, en el caso que estuvieran presentes. el tamao del lote; el tamao de muestra; y el riesgo que estamos dispuestos a aceptar de no conseguir ningn tem no conforme en la muestra.
b) c) d)
Se obtiene el tamao de muestra (n) de la siguiente frmula y luego se redondea al entero superior ms cercano1). El lote se acepta si no se encuentra ningn tem no conforme en la muestra.
n = (N-d/2) (1-1/(d+1))
(2.1)
Donde: n N d = = = es el tamao de la muestra es el tamao de lote es la probabilidad especfica del riesgo de no encontrar al menos un tem no conforme en la muestra. es el nmero mximo de no conformidades crticas especificado para el lote
si p es la proporcin mxima permitida de tems no conformes en el lote, entonces: d = Np, redondeado al entero inferior ms cercano2)
EJEMPLO 7. Se tiene un lote de 3 454 tems. Se especifica una probabilidad de 0,001, y un porcentaje mximo de tems no conformes de 0,2 % entonces:
p Np = = 0,2/100 = 0,002 y 3 454 x 0,002 = 6,908
redondeando al entero inferior ms cercano, se tiene que d = 6

1)
Esta aproximacin es exacta para la mayora de los propsitos prcticos en el muestreo de aceptacin. Raras ocasiones dar como resultado una unidad mayor de lo necesario. Ya que las no conformidades son crticas, solamente se deben considerar valores pequeos del porcentaje no conformidades
2)
20

as:
(N-d/2)(1-1/(d+1)) = (3 454-3) (1-0,0011/7) = 3 451 x 0,0627 24 = 2 164,61
redondeando al entero superior ms cercano, se tiene que n = 2 165 El plan de muestreo es el siguiente:
Tamao de la muestra Nmero de aceptacin Nmero de rechazo
n Ac Re
= = =
2 165 0 tems no conformes. 1 tem no conforme
EJEMPLO 8.
Para que quede un determinado nmero de tems, L, despachables despus de destruir n tems en el ensayo, (presumiendo que no se consiguen tems no conformes en la muestra); el tamao de lote, N, a ser inspeccionado (considerando el valor del riesgo preestablecido y el nmero mximo de tems no conformes permitido en el lote original), se calcula por la frmula al entero ms alto:
N = (L-d/2)/1/(d+1) + d/2 (2.2)
Supngase L = 1 500 tems fuesen requeridos despus del ensayo, siendo establecido = 0,001 y d = 6 (como en el ejemplo 7), el tamao del lote que se somete a la inspeccin sera:
(1 500 -6/2) /0,0011/7 + 6/2 = 1 497/0,372 76 + 3 = 4 018,99
redondeando al entero superior, se tiene que N = 4 109 El tamao de muestra es:

n = N-L = 4 019 - 1 500 = 2 519
El valor de n es el mismo que el calculado con la frmula (2.1) con un tamao de lote de 4 019. Si los clculos iniciales conducen a valores inaceptables del tamao del lote o del tamao de la muestra, entonces el riesgo y/o el nmero permitido de tems no conformes crticos en el lote, deben ser reevaluados para establecer nuevos criterios.
21
Se puede emplear un plan alternativo para la inspeccin de no conformidades crticas, cuando la caracterstica que se va a inspeccionar es de una magnitud medible y no simplemente un atributo. Este plan consiste en ensayar las muestras con un margen de seguridad. Si la carga de rotura mnima admisible para un cierto componente es de 2 000 kg, sera posible establecer un lmite es de 2 500 kg y clasificarlo como una no conformidad mayor, en vez de establecer un lmite de 2 000 kg. El valor lmite por establecer y la determinacin del plan de muestreo dependen del conocimiento previo que se tenga de la variabilidad observada en la resistencia del componente en cuestin. Cuando es factible el empleo de este mtodo, se obtienen resultados mucho ms satisfactorios en todos los aspectos, que la inspeccin al 100 % Existe, en este caso, la posibilidad de muestreo por variables (NTC-ISO 3951), que permite un ensayo de sobretensin y generar informacin sobre el promedio y la variabilidad de las caractersticas.
2.16
INSPECCIN TRUNCADA
A medida que se va avanzando en la inspeccin de los tems en la muestra, la accin que se va a emprender llega a ser cada vez ms y ms evidente; una vez que se han verificado todos los tems de la muestra, se puede tomar una decisin de acuerdo con el criterio del plan de muestreo empleado. Es posible que esta decisin se pueda predecir con certeza en una etapa anterior a la finalizacin del ensayo, bien sea porque ya hay suficientes tems buenos que obligan que se acepte el lote, cualquiera que sea el resultado de la inspeccin de los dems tems, o bien que ya hay suficientes tems no conformes que obligan a su no aceptacin. Por ejemplo, si el tamao de la muestra es de 80 y el nmero de aceptacin es 10, entonces la presencia de 11 tems no conformes en los primeros 20 tems ensayados conducir forzosamente al rechazo del lote, aun cuando los tems restantes sean todos buenos. Si la inspeccin se detiene tan pronto como se pueda predecir una decisin final con toda certeza, se dice que la inspeccin es truncada. Ntese que la inspeccin no se puede detener antes de que se tenga certeza de la decisin final, sin invalidar las caractersticas operativas del plan. Existe una disminucin evidente en los costos de inspeccin, derivados de una inspeccin truncada. Sin embargo, hay desventajas menos obvias que se derivan de esta prctica. Dos de los propsitos de la inspeccin por muestreo de una secuencia de lotes son: obtener informacin acerca de las no conformidades encontrados en el producto y estimar la calidad promedio de un proceso para esa secuencia de lotes. Al completar la inspeccin de cada muestra (inspeccin no truncada), la proporcin de las tems no conformes en todas las muestras es una estimacin no sesgada de la calidad promedio de un proceso. Si la inspeccin es truncada, este simple procedimiento ya no dar la estimacin no sesgada de la calidad del proceso ya que no se puede ignorar que el tamao de muestra utilizada en la inspeccin truncada no es el mismo que el propuesto para la inspeccin completa. La prdida de informacin relacionada con los tems que no se sometieron al ensayo es otra de las desventajas asociadas con el truncamiento. Una tercera desventajas podra ser el esfuerzo administrativo adicional necesario para disponer de los resultados individuales del ensayo en forma secuencial, para poder llevar a cabo el truncamiento. Los planes de muestreo dobles, mltiples y secuenciales pueden emplearse con el propsito de disminuir el nmero de las tems sometidas a ensayo. El ahorro promedio en los costos de los ensayos puede ser del orden de 3/8, 1/2 5/8 del costo del muestreo simple. Con la inspeccin truncada no se pueden lograr estos ahorros en el caso de una, ya que el ahorro principal de la inspeccin truncada se presenta cuando el lote no es aceptado. No hay, por tanto, justificacin para preferir la inspeccin truncada al hacer inspeccin por muestreo simple, en lugar de un plan de muestreo doble o mltiples que emplea un tamao de muestra fijo ms pequeo en la primera etapa en el procedimiento de decisin. Con el muestreo doble o mltiple, el promedio del proceso se puede estimar con base en el porcentaje de tems no conformes en la primera muestra de 22
cada lote o por medio del porcentaje promedio general en un determinado nmero de primeras muestras. En caso de que se emplee el plan de muestreo doble o mltiples, es una prctica comn el muestreo truncado a partir de la segunda muestra o posteriores muestras, ya que estos datos no se utilizan en la estimacin de promedio de un proceso. 2.17 DISPOSICIN DE LOTES NO ACEPTABLES
Cuando un lote no satisface los criterios de aceptacin del muestreo, no es aceptado, y el cliente puede elegir entre varias opciones, que dependen de los acuerdos comerciales. El lote puede requerir una inspeccin al 100 %, ser sometido a un reprocesamiento o ser descartado. En caso de que el lote se enve al productor para ser reprocesado o para que se le d otra disposicin final, es esencial que sea identificado como un lote reincidente al regresarlo al consumidor. Es importante observar que cuando un lote se presenta a inspeccin de aceptacin por muestreo un nmero suficiente de veces, eventualmente ser aceptado an cuando su probabilidad de aceptacin en cada oportunidad sea pequea. Un productor que procede as, lesiona sus propios intereses; ya que si el lote en cuestin se ofrece reiteradamente como un nuevo lote, puede dar la impresin de que se estn entregando varios lotes defectuosos en sucesin. Esto puede conducir a que el consumidor cambie el plan de muestreo por otro ms estricto, seguido de una suspensin de la inspeccin, en espera de que se mejore la calidad. La no aceptacin de un lote no significa necesariamente que ste se deba descartar. De acuerdo con las circunstancias de cada caso en particular, podra ser destruido, o que se realice con l una inspeccin al 100 % con separacin o sustitucin de las tems no conformes encontradas, que se acepte a un precio reducido, o para otro propsito, uso o aplicacin. Si se permite una inspeccin al 100 % con reproceso, rectificacin o reemplazo de las tems no conformes, el lote eventualmente ser sometido nuevamente a inspeccin. Es necesario que el inspector sepa que se trata de un lote enviado nuevamente para inspeccin, de forma que pueda dedicar una atencin especial a las caractersticas que provocaron su no aceptacin inicial. Los resultados de la inspeccin sobre lotes que han sido sometidos de nuevo a inspeccin, se archivarn separados de los obtenidos sobre lotes sometidos a inspeccin por primera vez, de tal forma que no se presente confusin en los clculos para determinar la calidad de la produccin obtenida. Estos resultados no deberan ser incluidos al determinar si se ha de cambiar el tipo de inspeccin (normal, estricto o reducido). La decisin de inspeccionar todas las clases de caractersticas del producto de un lote enviado nuevamente para inspeccin, o solamente aquellas que causaron la no aceptacin, es esencialmente una cuestin de orden administrativo, que depende de las condiciones de cada caso en particular. En el caso en el que se lleven a cabo reprocesamiento del lote, se deben considerar los posibles efectos adversos que dicha accin puede tener sobre las otras caractersticas. 2.18 MUESTREO SIMPLE
Un plan de muestreo simple se describe mediante tres nmeros: el tamao de la muestra, el nmero de aceptacin y el nmero de rechazo. El plan se lleva a cabo tomando del lote, aleatoriamente, (vase el numeral 2.25) el nmero de tems requeridas de producto para 23
conformar el tamao de la muestra. Estos tems de producto extrados del lote se denominan "tems de muestra" y, en conjunto, se conocen como "la muestra". La muestra se inspecciona y se cuenta el nmero de tems no conformes descubiertos. Si dicho nmero es inferior o igual al nmero de aceptacin, se aprueba todo el lote. Solamente no se aceptarn aquellos tems de la muestra que se encontraron no conformes. Si, por otra parte, el nmero de tems no conformes es igual o superior al nmero de rechazo, el lote entero no se acepta. En el caso de la inspeccin reducida, el nmero de rechazo puede ser superior en ms de una unidad con respecto al nmero de aceptacin. En este caso, puede suceder que el nmero de tems no conformes sea superior al nmero de aceptacin pero menor al nmero de rechazo. En estas condiciones, se acepta el lote pero se regresa al empleo de la inspeccin normal para los siguientes lotes.
EJEMPLO 9.
Se inspeccionan tornillos para determinar si tienen ranura. Si no tiene ranura se considerar como un tornillo no conforme. Se emplea el plan de muestreo simple ISO NTC-ISO 2859-1 y se acuerda especificar un NAC de 0,65 % y usar una inspeccin normal, nivel II. El tamao del lote es de 3 000 tems, lo cual impone la letra cdigo K. De la Tabla II-A de la NTC-ISO 2859-1 se ve que:
Tamao de la muestra: Nmero de aceptacin: Nmero de rechazos:
n Ac Re
= = =
125 tems. 2 tems no conformes. 3 tems no conformes.
Se extrae en forma aleatoria una muestra de 125 tornillos y se inspecciona. Se encuentra un tornillo sin ranura, pero siendo que 1 es menor que el nmero de aceptacin, (Ac = 2), se acepta el lote aun cuando el tornillo no se acepte. Un plan de muestreo simple como ste es fcil de ejecutar. Para llevarlo a cabo en forma satisfactoria, la muestra se debe seleccionar de manera aleatoria, lo cual implica que cada tem del lote tenga la misma probabilidad de ser escogido para integrar la muestra. Es difcil cumplir esta condicin de aleatoriedad cuando los tems son grandes, van colocados en empaques individuales, o vienen en grandes cantidades dentro de un contenedor. En todos los casos, es importante que el mtodo de la seleccin de la muestra se encuentre especificado y no se deje a eleccin del inspector. 2.19 CURVAS CARACTERSTICAS DE OPERACIN (Curvas CO)
Cada plan de muestreo tiene una curva caracterstica de operacin (curva CO) que muestra claramente sus propiedades. La Figura 2 presenta la curva caracterstica de operacin para el plan de muestreo simple:
Tamao de la muestra: Nmero de aceptacin: Nmero de rechazo: 24
n Ac Re
= = =
200 tems 7 tems no conformes. 8 tems no conformes.
En la Figura 2 se presenta la curva caracterstica de operacin. La escala horizontal establece el nivel de calidad del proceso de produccin. La escala vertical indica el porcentaje correspondiente de lotes que, en promedio, sern aceptados en el proceso, en caso de que se aplique este plan de muestreo. En la prctica, no se conoce el nivel de calidad de un lote sometido a inspeccin. Si as fuera, se podran juzgar directamente los lotes sin necesidad de la inspeccin. La curva caracterstica de operacin muestra lo que el plan de muestreo har en circunstancias particulares. De una manera ms precisa, la curva caracterstica de operacin muestra la probabilidad de aceptacin de lotes con valores asumidos del nivel de calidad, es decir, el porcentaje de tems no conformes. Si en el ejemplo de la Figura 2, se someten a inspeccin lotes que no contengan ningn tem no conforme, la tasa de aceptacin ser del 100 %, es decir, no se encontrarn tems no conformes y el nmero de aceptacin de 7, no podr ser excedido. S el nivel de calidad es del 2,3 % de tems no conformes, la curva caracterstica de operacin indica que la tasa de aceptacin ser del 90 %; es decir, nueve de cada 10 lotes se aceptarn y 1 de cada 10 no ser aceptado.
n = 200 Ac = 7 Re = 8
Figura 2. Curva caracterstica de operacin para un muestreo simple con un tamao de muestra de 200 y un nmero de aceptacin de 7
25
La NTC-ISO 2859-1 presenta las curvas caractersticas de operacin de la inspeccin por muestreo para el porcentaje de tems no conformes y para el nmero de no conformidades por cada cien tems. Estas curvas caractersticas de operacin (curvas CO) muestran la probabilidad promedio de aceptacin de los lotes en la ordenada, en funcin de la fraccin de tems no conformes (calidad del proceso) en la abscisa. En el caso del porcentaje de tems no conformes, estas curvas se han calculado en base en la distribucin binomial para tamaos de muestra de hasta 80 tems. Para tamaos de muestra mayor de 80, dicha distribucin se reemplaza por la aproximacin de Poisson a la distribucin binomial. La distribucin de Poisson es apropiada cuando se trata del nmero de no conformidades por cada 100 tems y se ha empleado para calcular las curvas caractersticas de operacin de estos planes. La distribucin de Poisson se basa en el supuesto de que las no conformidades se presenten independientemente con una expectativa matemtica constante. Este supuesto es vlido en muchos casos. Cualquier divergencia substancial con relacin a este supuesto da distribuciones con una varianza superior a la de la distribucin de Poisson. En estos casos, la proteccin del consumidor es algo superior a la indicada por las curvas caractersticas de operacin. En la NTC-ISO 2859-1, los planes de muestreo simple, doble y mltiples han sido escogidos de manera que sus curvas caractersticas de operacin sean aproximadamente iguales a aquellos de los planes de muestreo simple para el mismo NAC y letra de cdigo del tamao de muestra. Es esencialmente comprender las implicaciones de las curvas caractersticas de operacin al seleccionar el nivel de inspeccin y fijar lmites para los tamaos de los lotes. La comparacin de las curvas caractersticas de operacin es lo que permite cotejar diferentes planes de muestreo simple. Obsrvese que las dos escalas de la Figura 2 se relacionan con propiedades generales del plan de muestreo. La escala horizontal indica el promedio de un proceso, no la calidad de un lote determinado, y la escala vertical indica el porcentaje esperado de aceptacin de una larga serie lotes, no el porcentaje que se aceptar para una serie determinada de lotes. Una curva caracterstica de operacin definida de esta forma es apropiada para los esquemas de muestreo lote a lote de la NTC-ISO 2859-1, o para los esquemas de muestreo intermitente de la NTC-ISO 2859-3. En el caso de un lote determinado, dicha caracterstica de operacin mostrar la forma aproximada, como la probabilidad de aceptacin del lote, depende de la calidad del mismo. La NTC-ISO 2859-2 presenta caractersticas de operacin que sern de inters para los fabricantes interesados en sus posibilidades de xito a largo plazo, as como tambin los valores exactos de probabilidad de aceptacin de planes de lotes aislados. En el numeral 3.19 se encuentran comentarios relacionados con las curvas caractersticas de operacin y el uso de la Tabla X de la NTC-ISO 2859-1. 2.20 MUESTREO DOBLE
El muestreo doble es un procedimiento en el cual se toma una primera muestra, ms pequea que la necesaria para un muestreo simple. Si la calidad de esta muestra es suficientemente buena, se aceptar o, si es suficientemente mala, el lote no ser aceptado. Solo si la calidad de la muestra es intermedia, se tomar y se inspeccionar una segunda muestra antes de decidir si el lote se acepta o no. Un ejemplo de planes de muestreo simples y dobles equivalentes se presenta a continuacin:
26

EJEMPLO 10.
Con un tamao de lote es de 5 000 tems y un NAC para el producto de 0,65 %, la aceptacin del lote se basar en una inspeccin simple con un nivel II de inspeccin general. La Tabla I de la NTC-ISO 2859-1 establece que la letra clave correspondiente al tamao de la muestra es la L. Un plan de muestreo simple, teniendo en cuenta lo establecido en la Tabla II-A de la NTC-ISO 2859-1, requiere una muestra de 200 tems con:
Nmero de aceptacin: Nmero de rechazo:
Ac Re
= =
3 tems no conformes. 4 tems no conformes.
El plan de muestreo doble equivalente se obtiene a partir de la Tabla III-A y es el siguiente:
Tamao de la primera muestra: Nmero de aceptacin: Nmero de rechazo: Tamao de la segunda muestra: Tamao acumulado de la muestra: Nmero de aceptacin: Nmero de rechazo:
n1 Ac Re n2 n Ac Re
= = = = = = =
125 tems 1 tem no conforme. 4 tems no conformes. 125 tems 250 tems. 4 tems no conformes 5 tems no conformes.
Lo anterior significa que si se encuentran 0 1 tems no conformes en la primera muestra de 125 tems, se aceptar el lote sin que haya necesidad de realizar una segunda inspeccin; si se encuentran 4 ms tems no conformes, el lote se rechazar sin que haya necesidad de realizar una segunda inspeccin. Si, en cambio, se encuentran 2 3 tems no conformes en la primera muestra de 125 elementos, se debe tomar una segunda muestra de 125 elementos y la decisin depender del nmero total de tems no conformes acumulados en las dos muestras; el lote se aceptar si se encuentran 4 menos tems no conformes y se rechazar si se encuentran 5 ms. Los tamaos de la primera y segunda muestra son iguales en todos los planes de muestreo doble en las Tablas de la NTC-ISO 2958-1 (vase el numeral 3.16).
27
Tabla 1. Plan de muestreo mltiple para letra clave L y NAC de 0,65 % Tamao de la Tamao acumulativo Nmero de muestra de la muestra aceptacin 1era 50 50 # 2da 50 100 0 3era 50 150 1 4ta 50 200 2 5ta 50 250 3 6ta 50 300 4 7ma 50 350 6 Nota. El smbolo # indica que en este tamao de muestra no se permite la aceptacin Muestra Nmero de rechazos 3 3 4 5 6 6 7
2.21
MUESTREO MLTIPLE
Todos los planes de muestreo mltiple de la NTC-ISO 2859-1 usan hasta 7 muestras. La decisin de aceptar o no se toma, normalmente, antes de llegar a la sptima muestra. Con relacin al mismo lote empleado en el numeral 1.21, el plan de muestreo para la letra clave L y un NAC de 0,65 % se encuentra en la Tabla IV A de la NTC-ISO 2859-1y es el que se muestra en la Tabla 1. Las reglas para el muestreo mltiple son una extensin obvia de las empleadas en el muestreo doble, de modo que no se explicarn aqu en detalle. La nica diferencia es que se encuentra algunas veces el smbolo # en lugar de un nmero de aceptacin. Este smbolo indica que no se permite la aceptacin en esta etapa, de modo que slo son factibles dos posibilidades: la no aceptacin o la continuacin de la inspeccin con una muestra nueva. Todos los planes de muestreo mltiple de la NTC-ISO 2859-1 tienen todos los 7 tamaos, de muestras iguales, como en esta ilustracin (vase el numeral 3.16). 2.22 MUESTREO SECUENCIAL
En el muestreo secuencial, los tems van conformando la muestra de una manera aleatoria y se inspeccionan uno despus de otro. Se va registrando un conteo acumulativo tanto del nmero de items sometidos a inspeccin como del nmero de tems no conformes. Los criterios de decisin establecen la aceptacin o no aceptacin del lote tan pronto como haya suficiente evidencia en uno o en otro sentido. Tambin se establece un criterio de truncamiento, para evitar la posibilidad de ampliacin de la muestra de una manera indefinida, sin que se tome una decisin. El proceso de muestreo se detiene en un tamao de muestra especfico y en este punto se emplean los criterios de decisin. La norma ISO 8422 establece los procedimientos para calcular los planes de muestreo secuencial por atributos. Estos planes pueden seleccionarse de tal modo que tengan los mismo riesgos para el productor y el consumidor que los encontrados en los planes de la NTC-ISO 2859-1. La realizacin de un plan de muestreo secuencial puede ilustrarse grficamente mediante el siguiente ejemplo.
28

EJEMPLO 11.
La Figura 3 ilustra un plan de muestreo secuencial, que corresponde a los planes de muestreo simple y doble descritos en el numeral 2.20 y al plan de muestreo mltiple indicado en el numeral 2.21. En este ejemplo, el nmero total de tems inspeccionados se trunca en 300. La decisin de aceptar el lote depende de si se encuentran cinco o menos tems no conformes. En caso de que se encuentren seis o ms tems no conforme no se acepta el lote. En la grfica del ejemplo, los tems No. 30 y 100 fueron no conformes. Se ingres a la zona de aceptacin despus de que se inspeccion el tem nmero 198 por lo que se encontr aceptable.
Figura 3. Operacin de un plan de muestreo, secuencial truncado de la norma ISO 8422 correspondiente a un NAC de 0,65 %, tamao de muestra letra cdigo L
2.23
MUESTREO INTERMITENTE
Es posible iniciar un proceso de inspeccin intermitente cuando se recibe una serie de lotes de un producto cuya calidad ha demostrado, con regularidad, ser considerablemente mejor que el NAC, siempre y cuando se cumplan con determinados criterios. El procedimiento intermitente descrito en la NTC-ISO 2859-3 determina de una manera sistemtica los criterios por lo cual un producto califica para ser sometido a un muestreo intermitente. Una vez que el producto se ha calificado de acuerdo con algn criterio especfico, se realiza un muestreo a una fraccin (por ejemplo 1/2, 1/3, 1/4 1/5) de los lotes. Slo se pueden admitir las fracciones ms pequeas cuando el producto presenta un nivel de calidad marcadamente mejor al NCA. No se puede considerar una frecuencia de muestreo de 1/5 al 29
iniciar este tipo de muestreo. Cada lote se escoge al azar para someterse a un muestreo, o bien para ser aceptado sin muestreo. Si se determina, mediante la inspeccin por muestreo, que la calidad se ha deteriorado, se vuelve a tomar muestras de cada lote hasta que el producto vuelve a calificar para un muestreo intermitente. En este tipo de muestreo se mantienen las ventajas del muestreo aleatorio y los riesgos calculables. La magnitud del proceso de inspeccin y el costo del muestreo intermitente es, algunas veces, inferior al muestreo reducido de la NTC-ISO 2859-1. Se conserva la aleatoriedad real del proceso para la seleccin de la muestra. 2.24 COMPARACIN DEL MUESTREO SIMPLE, DOBLE, MLTIPLE Y SECUENCIAL
2.24.1 Planes equivalentes Si el nmero de aceptacin en el plan de muestreo simple es mayor que cero, entonces es posible encontrar un plan de muestreo doble, mltiple o secuencial, con una curva caracterstica de operacin cercana a la del plan de muestreo simple. Por esta razn, con excepcin de aquellos planes simples con nmeros de aceptacin de cero, no existe fundamento para escoger entre muestreos simple, doble, mltiple o secuencial, con base en la curva caracterstica de operacin. Tampoco hay razn para preferir uno a otro en todas las situaciones posibles. El balance entre las ventajas y las desventajas algunas veces favorece a un procedimiento de muestreo, algunas veces favorece a otro. Las caractersticas que se deben tener en cuenta son las siguientes: a) Simplicidad El muestreo simple es el ms fcil de describir y de llevar a cabo, mientras que el muestreo doble demanda un mayor administracin para tramitar la segunda muestra en los casos en que sea necesario. Obviamente la complejidad aumenta en los casos de muestreo mltiple y secuencial. Algunas veces la sencillez es la consideracin fundamental en la seleccin del plan de muestreo. Habr otras ocasiones en las cuales el aliciente psicolgico de poder tomar una segunda muestra en los casos aparentemente marginales, favorecer la eleccin de un plan de muestreo doble. b) Variabilidad en la magnitud del muestreo. En el muestreo simple, el tamao de la muestra es fijo y ya se conoce de antemano el esfuerzo que se requiere durante la inspeccin para llegar a una decisin. Para los dems tipos de muestreo; el nmero de tems que se van a ensayar vara de acuerdo con los resultados de las muestras iniciales. Es posible calcular el promedio del tamao muestra y el costo promedio de inspeccin para cualquier calidad de entrada dada. Esta magnitud vara con la calidad, siendo mnima tanto para valores muy buenos como para valores muy malos. Adems de la incertidumbre asociada con la calidad de entrada desconocida, est la incertidumbre causada por la variacin de la magnitud de la muestra con respecto al tamao promedio, aun cuando la calidad inicial se conozca. Esta incertidumbre puede originar inconvenientes en el momento de definir los recursos para la inspeccin requerida. En caso de no haber recursos suficientes, el resultado se demora. En caso contrario, habr una subutilizacin de los recursos. En algunas situaciones la carga variable de la inspeccin se considerar a menudo como un 30
pequeo inconveniente comparado con la reduccin significativa en el costo promedio total de la inspeccin. c) Facilidad en la toma de la muestra. Algunas veces es muy sencillo tomar una segunda muestra; la toma de dos muestras no es ms complicada que el de una sola muestra de tamao acumulado. Sin embargo, en otros casos, la toma de muestras constituye la mayor tarea de la inspeccin, hacindose muy complicada la extraccin de una segunda muestra una vez que ha sido extrada la primera. En este caso, el muestreo simple es normalmente el mejor plan. Hay, de seguro, la posibilidad alterna de sacar una muestra del tamao mximo que podra ser necesario, y entonces inspeccionar de acuerdo al plan previamente escogido: doble, mltiple o secuencial. Esto puede dar un ahorro insignificante comparado con el plan sencillo, debido a problemas en la devolucin de tems no inspeccionados. d) Duracin del ensayo. Si se trata de ensayos de larga duracin y es posible ensayar simultneamente todos los tems, ser preferible utilizar el muestreo simple. Con cualquiera de los otros tipos de muestreo se corre el riesgo de que los resultados de la primera muestra no permitan llegar a ninguna decisin y sea necesario tomar una segunda muestra o ms, con lo cual se duplicara la duracin del ensayo. Este es otro caso donde el muestreo simple es usualmente el mejor, siempre que la totalidad del tamao de muestra pueda ser ensayada de inmediato. Sin embargo si uno o dos tems pueden ser ensayados a la vez, el tipo de muestreo ms adecuado sera el mltiple (o el secuencial).
EJEMPLO 12. Se almacena un determinado nmero de latas de conserva de carne, durante 3 semanas, en unas condiciones atmosfricas establecidas, para someterlas a un ensayo de conservacin. Para obtener una curva caracterstica de la operacin deseable, se podra elegir una muestra simple de 80, un plan doble con muestra de 50 latas cada una, o un plan mltiple de 7 etapas con muestras de 20 latas cada una. Si se utiliza muestreo simple, se tendr la respuesta a las 3 semanas de comenzar el ensayo; con el muestreo doble el resultado se podra tener en 3 semanas, pero tambin podra requerir 6 semanas; con el muestreo mltiple, se podra tener que esperar aproximadamente de 5 meses para obtener una respuesta, en el peor de los casos. En estas condiciones, probablemente se escoger el muestreo simple.
EJEMPLO 13. Se va a realizar a una inspeccin destructiva. Todos los tems del lote se presentan al laboratorio de ensayo y el dispositivo empleado no puede aplicarse ms que a un solo tem a la vez. Como la destruccin del tem es el principal costo del ensayo, es deseable destruir el mnimo posible de tems consistentes, con la curva caracterstica deseada. 31
Puesto que los tems de la muestra deben ensayarse uno a uno, es probable que, en este caso, el empleo de un muestreo secuencial ahorre tiempo y reduzca el nmero promedio del tamao de la muestra lo que valdra la pena considerar. e) No conformidades mltiples. En cuanto ms complejos son los productos desde el punto de vista del nmero de no conformidades posibles y nmero de clases de no conformidades, ms se requieren los muestreos doble y mltiple. Cuando se deben inspeccionar todas las caractersticas del producto en la primera muestra, algunas sobre la segunda y eventualmente otras pocas sobre la tercera, es difcil el empleo ptimo del personal y el equipo de inspeccin. En general, se puede decir que una inspeccin complicada favorece un plan de muestreo simple, mientras que donde la inspeccin no es complicada un plan ms elaborado de muestreo puede dar beneficios. En la Figura 4 se presenta la curva caracterstica de operacin para el plan de muestreo simple para un tamao de muestra de 200, un nmero de aceptacin de 3, un nmero de rechazo de 4 y los planes equivalentes dobles y mltiples analizados en los numerales 2.20 y 2.21. La coincidencia no es exacta, pero es suficientemente buena para la mayora de los propsitos prcticos. El plan secuencial equivalente es coincidente con la curva caracterstica de operacin del plan de muestreo simple, pero no se presenta para evitar un amontonamiento excesivo. Las curvas caractersticas de operacin de los planes de muestreo simple y secuencial son virtualmente indistinguibles uno del otro.
Figura 4. Comparacin entre las curvas caractersticas de operacin para los muestreos simple, doble, mltiple y secuencial. (Letra clave L, NAC 0,65 %)
32
Figura 5. Comparacin de los tamaos medios de muestra para los muestreos simple, doble, mltiple y secuencial (para los planes de aceptacin de la Figura 4)
2.24.2 Tamao promedio de la muestra En los numerales del 2.18 al 2.22, se han descrito los planes de muestreo simple, doble, mltiple y secuencial. Para efectos de comparacin es til considerar el tamao promedio de la muestra que, a la larga, sera necesaria para realizar el muestreo con diferentes promedios de calidad del producto. Esto conduce a una curva de tamao promedio de una muestra representativa de la eficiencia relativa de los diferentes sistemas de muestreo. Estas curvas indican el nmero promedio de tems que se van a inspeccionar antes de llegar a una decisin de aceptacin o rechazo. La Figura 5 presenta los tamaos promedio de la muestra para un conjunto de planes equivalentes de muestreo simple, doble, mltiple y secuencial, establecidos en la Tabla 2 y caracterizados en la Figura 4. El nmero promedio de tems a ser ensayado es ms grande al usar muestreo simple. La mayor reduccin en el tamao de muestra, en el muestreo doble, mltiple o secuencial, se presenta cuando los lotes son de muy buena o de muy mala calidad. El ahorro promedio en la inspeccin, en caso de calidad buena o mala, puede ser substancial; pero el nmero real de tems que se van a inspeccionar de un lote en particular, cuando se hace uso de los planes de muestreos dobles, mltiples o secuenciales, puede exceder al del plan de muestreo simple correspondiente. Esto es muy probable cuando la calidad tiene un valor intermedio, por ejemplo de 2 3 veces el valor del NAC. Por estas razones, el muestreo simple puede ser aconsejable en algunos casos; por ejemplo, cuando la duracin del ensayo es largo y todos los tems se pueden someter al ensayo en el mismo momento. Por otra parte, cuando los ensayos slo se pueden realizar uno a la vez, o son de naturaleza destructiva, el muestreo doble, mltiple o secuencial puede ofrecer una ventaja sustancial (vanse los ejemplos 10 y 11). 33
Tabla 2. Planes de muestreo equivalentes para la letra clave l y un NAC de 0,65 Tipos de planes de muestreo Simple Doble Mltiple Tamao de muestra Muestra Primera muestra 1era. y 2da muestra combinada Primera muestra Tamao de muestra acumulada n = 200 n = 125 n = 250 n = 50 n = 100 n = 150 n = 200 n = 250 n = 300 n = 350 Ac 3 1 4 # 0 1 2 3 4 6 Re 4 4 5 3 3 4 5 6 6 7
Secuencia Vase el numeral 2.22 Nota. El smbolo # significa que no es permitido aceptar con este tamao de muestra
En el caso de los planes doble y mltiple, existe un lmite superior para el nmero de tems que se van a someter a inspeccin. En el caso de los planes secuenciales generalmente no existen tales lmites, a menos que se establezcan reglas de muestreo truncado que impongan restricciones al nmero potencial de tems por inspeccionar. Las normas ISO 8422 e ISO 8423 establecen lmites para el tamao de la muestra. El muestreo doble, mltiple y secuencial, ofrece la oportunidad de realizar ahorros significativos en el tamao de muestra, aunque requiere un mayor control administrativo. Cuando se dispone de aparatos para uso semiautomtico, el muestreo secuencial automatizado da la oportunidad de aumentar la eficiencia y el ahorro, en particular cuando se trata de ensayos de carcter destructivo. Las curvas de tamao promedio de la muestra para los planes doble y mltiples se dan en la NTC-ISO 2859-1. Para los planes secuenciales por atributos, los tamaos promedios de la muestra se encuentran en la norma ISO 8422. Para los planes secuenciales por variables con desviacin estndar de proceso conocidos correspondientes a los planes de muestreo simple en la NTC-ISO 3951, los tamaos promedios son dados en la norma ISO 8423. La NTC-ISO 3951 no contiene planes de muestreo doble, mltiple o secuencial. 2.25 TOMA DE MUESTRAS
En el muestreo de aceptacin, se juzga el lote con base en la calidad de la muestra. Por esta razn, la muestra debe ser representativa del lote; se requiere entonces una muestra tomada al azar, no una muestra sesgada. Cuando se toma una muestra aleatoria de manera intuitiva, a menudo se presentan resultados sesgados. Por ejemplo, las personas que extraen tems de una caja suponen que los extraen al azar, pero generalmente los toman del centro, con lo que los ngulos no quedan adecuadamente representados. Cuando se les hace la observacin de que extraen muy pocos tems de los ngulos, entonces eligen muchos de ellos de los ngulos. La nocin de azar consiste en dar a cada combinacin una oportunidad igual de ser elegida y esto resulta un tanto difcil de alcanzar, por lo que sin duda, vale la pena tomarse el trabajo adicional que representa la utilizacin de los nmeros aleatorios, cada vez que ello sea posible.
34
La seleccin de una muestra aleatoria puede llevarse a cabo mediante el empleo de la Tabla 3 (vanse las pginas siguientes) o cualquier otra tabla aprobada de nmeros aleatorios, con la condicin de que los tems pueden ser ordenados o se enumerados. EJEMPLO 14. Una muestra de 8 tems se ha de extraer de un lote que contiene 5 000. Los tems del lote se etiquetan del 1 al 5 000 y, comenzando por la parte superior de la primera columna de la Tabla 3, los tems que se van a extraer para constituir la muestra son los correspondientes a los nmeros 110, 4148, 2403, 1828, 2267, 2985, 4313 y 4691 (No se tienen en cuenta los nmeros 5327, 5373, 9244 etc, ya que no estn en el tamao del lote). Al utilizar la tabla de nmeros aleatorios, hay que tener en cuenta lo siguiente: a) No es correcto comenzar siempre en la parte superior de la primera columna. Para cada muestra, el mejor procedimiento es comenzar en un punto elegido al azar y recorrer la tabla bien sea hacia arriba, hacia abajo o a travs de las filas; No es necesario leer los nmeros completos de cuatro cifras. Si el tamao del lote fuera igual o menor a 1 000, sera suficiente leer las tres primeras cifras, es decir, 11, 532, 537, etc. A veces, dos cifras son suficientes, otras veces es necesario disponer de ms de cuatro cifras. Es posible combinar tantas cifras como se deseen.
b)
Debe reconocerse, no obstante, que no siempre resulta fcil el empleo de los nmeros aleatorios. Si el lote comprende una gran caja de pequeos tems, es materialmente imposible asignar un nmero a cada uno de ellos. En estas condiciones, es muy probable que lo nico que pueda hacerse sea un muestreo realizado al azar de manera intuitiva; sin embargo, si se puede mejorar la intuicin mediante el conocimiento de lo que sera deseable hacer, lo que ayudara a producir mejores resultados. El hecho de saber que debe darse la misma oportunidad a cada combinacin posible, hace comprender clara e inmediatamente que es preciso sacar los tems de la caja de tal manera que todos estn al alcance de la mano antes de tomar la muestra y tambin que no deben tenerse en cuenta cualidades aparentes. No se deben elegir los tems deliberadamente segn parezcan buenos o malos. Adems del muestreo aleatorio simple, existe otra alternativa posible, incluso recomendable, cuando se considere apropiado, que se puede aplicar utilizando o no los nmeros aleatorios. Este mtodo alternativo se conoce bajo el nombre de muestreo estratificado o representativo. Su empleo est justificado cada vez que un lote puede dividirse en sublotes, de acuerdo con algn criterio lgico. Hay que subrayar que este criterio debe ser estrictamente lgico; una divisin en sublotes, hecha al azar, no sirve de nada. La muestra se obtiene tomando de cada sublote una submuestra cuyo tamao sea proporcional al tamao del sublote. Las submuestras deben tomarse obligatoriamente al azar dentro de cada sublote (empleando, si es posible, los nmeros aleatorios) y finalmente estas submuestras se renen para constituir la muestra completa antes de la inspeccin.
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Tabla 3. Nmeros aleatorios para muestreos

0110 5327 5373 9244 4148 2403 1828 7249 7116 6659 2267 9460 2985 4313 6930 8910 8439 4691 1034 7472 2950 1312 8734 2907 1294 0430 5632 7960 5138 8615 4968 9228 9657 9270 8206 1562 1568 5697 3186 3275 7931 5956 1866 2673 7824 2251 7661 6651 2917 5970 9140 3946 8259 9452 3948 4351 1956 9634 9731 8200 0362 9813 3541 0666 5368 3585 1052 6787 1157 4581 7419 7297 4921 0737 4883 5819 0752 0067 6660 7292 8420 3232 9617 5743 3008 7953 4342 9273 0656 7697 1949 2912 7901 7071 5427 0864 8813 6718 4989 3582 2804 6289 4956 8324 5399 8240 1646 4263 2195 4135 5242 8325 6445 2179 4520 5655 5883 4107 5888 3837 6874 3848 6201 8496 2536 7017 8287 7837 7759 1010 5016 5804 1033 8129 7396 0607 5173 8609 3248 1415 1739 2698 4279 4948 0957 0373 5810 1088 9207 2346 8046 6117 8185 8062 8687 3554 1370 4345 3265 6116 0261 6031 7981 1031 7727 1904 9283 5073 0213 8961 1128 4767 5057 7509 2351 4512 8178 9890 9633 9987 1391 8004 0469 8655 0240 6254 3322 8442 0341 5573 3437 5721 4715 8100 6076 7808 2612 2972 4484 8356 7142 0060 0135 9817 3568 3568 9096 0567 9542 3019 7990 1102 8796 7804 2536 0681 1053 8503 2430 7931 5108 5386 9228 9304 5860 8081 8552 4490 0924 2993 8711 0773 3564 4769 0524 0132 0026 1780 9308 9661 6157 1703 9741 7842 2914 1256 3237 0673 0916 0780 6277 2827 8640 9853 4046 4701 0738 1272 2808 6223 8886 2825 9480 8075 4166 6310 5667 6875 7397 6351 7643 7361 9938 7112 0344 9198 2264 1619 1094 5116 4118 7886 3799 2900 3384 3860 7513 1961 9853 0016 2128 2321 2674 8208 0336 1144 2829 8440 9129 4899 6210 6546 7410 7479 4558 7494 8015 5302 1720 7323 0375 4899 2409 8187 7653 0568 0572 7525 7204 1727 7335 2079 5104 5528 2595 9786 0658 6766 5103 7876 3881 0146 2784 6421 6518 6630 1743 7221 5129 4090 6026 8880 7148 3256 3466 4152 3133 3154 6517 7204 8627 2738 6335 9559 0705 6036 0513 3352 4832 0965 7577 1599 9456 6575 0448 3718 0611 8894 6893 9793 5303 3197 6662 2390 4880 7388 2336 6148 1371 7215 9840 2400 3815 2788 4268 2865 1299 5630 3956 2384 2268 3268 8392 3217 0631 8262 4833 6962 0889 1042 3209 8760 0831 4264 5075 7735 6969 7389 2553 8105 8422 1199 7725 0065 2560 3537 0100 7426 7017 2142 2703 8904 1617 7736 5167 0704 4912 0370 2874 9715 5843 6957 3611 4858 5988 9750 1340 8036 4717 7698 5247 7420 2497 8331 5249 4998 7826 0199 0137 8795 6845 6604 2774 6919 4440 4082 0949 9976 7425 4394 5230 0909 0183 2170 4795 8858 5190 0212 7038 0816 8793 4332 2323 0475 5370 0138 4268 8322 5400 3906 0751 8968 8362 5335 9096 9397 6470 4029 7594 4588 2987 2121 8018 7256 7289 3315 1897 2604 9055 2435
Contina...
36

Tabla 3.(Final)
1564 6022 8418 5948 6945 0370 6702 3740 3833 8683 6794 5054 1733 6609 3970 9504 0668 4364 8875 4521 5066 9138 0975 1049 0682 0263 2733 1441 5014 3745 8384 9944 3045 5939 4294 3787 4764 0292 7876 3490 3670 3665 3792 2618 8972 7305 1794 3179 2930 8418
8048 9676 9906 1652 3629 1165 6457 4721 3356 7947 1732 1532 6560 6263 7716 2769 9636 0606 3041 3391 1454 5003 1836 9925 1343 4909 3398 2684 5616 5956 8727 8361 2466 5741 1777 2516 2339 9574 1662 3071 8960 2367 0557 2204 8829 8852 4551 1304 3828 9627
6359 5768 0019 2545 7351 8035 2270 3002 9025 4719 4809 9498 9758 9160 8807 0534 6001 4355 7183 6695 9642 8633 7629 3408 7454 9832 7630 1116 1721 5512 5567 7050 6640 7210 5386 2661 4541 0285 2627 2967 6477 8144 8489 9433 0962 1688 1262 7767 7172 7948
8802 3388 0550 3981 3502 4415 8611 8020 5749 9403 9473 7702 8586 0600 6123 0758 9372 2395 2261 5986 8675 2670 5136 3029 9600 0627 3824 0758 8772 8577 5881 8783 6804 0872 7182 6711 5415 4230 0940 4922 3671 9663 8446 2527 5597 3571 4845 4769 3188 6243
2860 9918 4223 2102 1760 9812 8479 0182 4780 7863 5893 0544 3263 4304 3748 9824 8746 2070 7210 2416 8767 7575 7824 7244 8598 1155 0734 5411 4605 4178 3721 3815 1704 3279 7238 9240 6314 2283 7836 3658 9318 0990 8082 5744 9834 3393 4039 7373 7487 1176
3546 8897 5586 3523 0550 4312 1419 4451 6042 0701 1154 0087 2532 2784 1036 9536 1579 8915 6072 7979 0582 4021 3916 1766 9953 4007 7736 3365 0388 0031 1898 9768 8665 3177 8408 5994 7979 5232 3741 4333 1317 6155 1122 9330 5857 2990 7760 5195 2191 9393
3117 1119 4842 7419 8874 3524 0835 9389 3829 9245 0067 9602 6668 1089 0516 7825 6102 8461 7128 8106 0410 0391 0542 1013 5773 0446 8465 4489 1399 3090 3758 3247 2539 6021 7674 3068 3634 8830 3217 6452 6355 4520 1181 0721 9800 9488 1565 5013 1225 2252
7357 9441 8786 2359 4599 1382 1866 1730 8458 5960 0899 6259 2888 7321 0607 2985 7990 9820 0825 7759 5515 0118 2614 0221 6482 6988 0849 6241 5993 2296 7236 1706 2320 2045 1719 5524 5320 5662 8824 9149 4982 0294 8142 8866 7375 8883 4745 6894 7770 0377
9945 8934 0855 0381 7809 4732 1307 3394 1339 9257 1184 3807 1404 5618 2710 3824 4526 6811 8281 6379 2697 9493 6567 8492 4439 4699 0459 6413 7459 0124 6860 9355 9831 0163 9068 0932 5400 6404 7393 4420 6815 7504 7119 3695 9209 2476 1178 5734 3999 9798
5739 8555 5650 8457 9474 2303 4211 7094 6948 2588 8630 7276 3887 6172 3700 3449 3429 5873 6815 2101 1575 2291 3015 3801 6708 1740 8733 3615 4445 5896 1740 3510 9442 3706 9921 5520 6714 2514 7306 6091 0814 0223 3200 1081 0630 9136 8370 5852 0006 8648
37

EJEMPLO 15.
Debe tomarse una muestra de 125 tems de un lote que se ha dividido en dos cajas; cada una de ellas contiene la mitad del lote, y se ha decidido que cada caja constituir un sublote. Se toma de una de las cajas una muestra de 62 tems y de la otra una muestra de 63, combinndose estas dos muestras para formar la muestra de 125 (la caja que suministre la unidad suplementaria debe elegirse preferentemente al azar). Si en lugar de que cada caja contenga la mitad del lote, una de ellas contiene dos tercios y la otra un tercio, sera necesario tomar 83 de la primera caja y 42 de la segunda, puesto que stos son los nmeros enteros ms prximos a los dos tercios y un tercio respectivamente, de 125. Cuando se practica un muestreo doble o un muestreo mltiple, puede resultar prctico, en algunas ocasiones, la toma de la primera muestra al azar y su inspeccin; a continuacin, la toma de la segunda muestra si fuera necesario, y as, sucesivamente. En este caso, las tcnicas de muestreo al azar son las mismas descritas anteriormente, sin dificultades adicionales. Sin embargo, resulta a veces ms prctico tomar inmediatamente la muestra mxima que sea necesaria y dividirla en una primera muestra, una segunda muestra, etc., antes de la inspeccin. En este caso, es extremadamente importante que, adems de que la toma de la muestra mxima del lote se realice al azar, tambin se tomen al azar la primera muestra, la segunda, etc, de la muestra mxima. Lo anterior es particularmente importante cuando se prctica un muestreo estratificado; por ejemplo, sera totalmente incorrecto permitir que todo el conjunto de la primera muestra provenga de un sublote y todo el conjunto de la segunda muestra de otro sublote. El muestreo con una aleatoriedad real da una oportunidad igual para que cada tem del lote se incluya en la muestra, lo cual est implcito en la aplicacin de todos los planes.
2.26
PLANES, ESQUEMAS Y SISTEMAS MUESTREO
Un plan de muestreo es un conjunto reglas por medio de las cuales se inspecciona un lote y se decide su aceptacin o su no aceptacin. Un esquema de muestreo es una combinacin de planes de muestreo y procedimientos con reglas de cambios (normal, estricto o reducido) Un sistema de muestreo es un conjunto de esquemas de muestreo, cada uno con sus propias reglas de modificacin junto con criterios para seleccin de esquemas apropiados. Las normas: NTC-ISO 2859-1, NTC-ISO 2859-2, NTC-ISO 2859-3 e ISO 8422, presentan diferentes sistemas de muestreo. Contienen muchos esquemas de muestreo y describen las condiciones (NCA, tamao del lote, nivel de inspeccin etc.) en las cuales la utilizacin de estos esquemas de muestreo es apropiada. Un esquema de un plan de muestreo simple es el siguiente:
38

Tamao de la muestrean: Nmero de aceptacin: Nmero de rechazo:

n Ac Re = = = 125 tems. 5 tems tems. 6 tems no conformes.
Un ejemplo de un esquema de muestreo simple es la combinacin de una inspeccin norma, estricta y reducida con las reglas de cambio dadas en NTC-ISO 2859-1.
Normal Tamao de muestra Nmero de aceptacin Nmero de rechazo n = 125 Ac = 5 Re = 6 Estricta n = 125 Ac = 3 Re = 4 Reducida n = 50 Ac = 2 Re=5
2.27
CARACTERSTICAS DE HIPERGEOMTRICA)
LAS
DISTRIBUCIONES
(BINOMIAL,
POISSON
Las curvas caractersticas de operacin empleadas cuando se realiza la inspeccin del porcentaje de tems no conformes en una serie de lotes, se calculan empleando la distribucin binomial. Se supone que el proceso se lleva a cabo en condiciones en las cuales la calidad promedio es 100 p % . El proceso esta operando de manera aleatoria mientras se mantiene esta calidad promedio. Los lotes tendrn entonces un porcentaje promedio de tems no conformes de 100 p, ordenados de acuerdo con la distribucin binomial. Cuando se realiza el muestreo de una serie continua de lotes, para el nmero de no conformidades por cada cien tems, a menudo no se tiene un lmite superior natural al nmero de tales no conformidades. En el caso de que se utilice el nmero de no conformidades por cada cien tems como criterio bsico de aceptacin, la distribucin de Poisson es la representacin vlida y se emplea como base para el clculo de la probabilidad de aceptacin de cada lote. El planteamiento anterior se aplica a las partes 1 y 3 de la NTC-ISO 2859 y a la ISO 8422. Cuando se realiza el muestreo sobre un lote aislado, el mtodo apropiado de clculo de probabilidad de aceptacin es la distribucin hipergeomtrica. En caso de que la muestra sea una pequea proporcin del lote, la distribucin binomial constituye una buena aproximacin de la hipergeomtrica. Cuando el porcentaje de tems no conformes es pequeo y el tamao de la muestra es grande, la distribucin de Poisson es una buena aproximacin a la binomial.
Nota 4. Para un anlisis completo de este tema, se remite al lector a los textos sobre mtodos estadsticos y muestreo.
En el desarrollo de las publicaciones anteriores de tablas de muestreo no se emple la distribucin hipergeomtrica, debido a la gran extensin de los clculos necesarios. Actualmente se emplea la distribucin hipergeomtrica en aquellos casos en los cuales se considera apropiada.
39
SECCIN 3: EL SISTEMA DE LA NTC-ISO 2859-1
3.1
DESCRIPCIN DE LA NTC-ISO 2859-1
La NTC-ISO 2859-1 tiene un texto de introduccin que presenta las instrucciones para el uso de las tablas, sin embargo dicho texto es bastante corto y contiene slo la informacin mnima esencial. El propsito de esta parte de la NTC-ISO 2859 es ampliar estas instrucciones y, mediante comentarios detallados y un cierto nmero de ejemplos, aclarar el mtodo de inspeccin por muestreo, desarrollado por el sistema de muestreo de la NTC-ISO 2859. Los nmeros en esta seccin que se encuentran entre corchetes se refieren a los numerales correspondientes de la NTC-ISO 2859-1: 1989 La NTC-ISO 2859-1 est diseada para la inspeccin lote a lote por atributos [vase el numeral 3.13]. El sistema es particularmente pertinente para el caso de una inspeccin "externa" de una secuencia de lotes. La inspeccin interna, o el caso de lotes ocasionalmente aislados, se puede cubrir con la NTC-ISO 2859-2 que considera la norma como un conjunto de planes de muestreo ms que un programa de muestreo. Las Tablas de la NTC-ISO 2859-1 se designan mediante nmeros romanos, con subdivisiones indicadas mediante letras maysculas, por ejemplo: Tabla I, Tabla II-A, Tabla II-B, etc. En esta parte de la ISO 2859 las tablas se designan mediante nmeros arbigos, por ejemplo Tabla 1, Tabla 2, Tabla 3, etc., y se har referencia a las tablas sin especificar cada vez cul es la apropiada, ya que esto ser evidente a partir de los nmeros de las tablas. El principal propsito del sistema de la NTC-ISO 2859-1 es la aceptacin de los productos, con un nivel de calidad igual o mejor al del NAC (vase el numeral 3.6). Sin embargo, la eleccin de un determinado NAC no implica que el productor tiene el derecho de suministrar, intencionalmente alguna cantidad de productos no conformes. Por esta razn, una manera de estimar el NAC es considerarlo como un tem indexador de los riesgos que el consumidor est dispuesto a aceptar con el propsito de obtener un beneficio econmico de la inspeccin mediante muestreo. Si, a pesar de esto, el riesgo del muestreo es inaceptable, o si no se dispone de un plan apropiado, se debe realizar una inspeccin al 100 % Una vez que se lleve a cabo la inspeccin mediante muestreo y que el productor est produciendo con una calidad peor al NAC, un plan de muestreo apropiado har evidente, mediante la no aceptacin de una fraccin excesiva de lotes, la necesidad de tomar determinaciones inaplazables sobre el mejoramiento de la calidad. En consecuencia, una vez la produccin se encuentre bajo control a un nivel adecuado, se puede esperar que se presente un nivel de calidad superior al del NAC. Tambin se debe comprender que con frecuencia resulta difcil y costoso garantizar que una mquina, un proceso o una lnea de produccin elaboren productos exentos de no conformidades. En la prctica generalmente se acepta un cierto porcentaje de tems no conformes, lo cual no significa que necesariamente se vayan a encontrar en el producto final. Algunos sern identificados en etapas posteriores de la inspeccin y otros no se podrn ensamblar o no cumplirn con las caractersticas de funcionamiento exigidas en los ensayos. El lmite aceptable del porcentaje de tems no conformes a menudo estar determinado por consideraciones econmicas, ya que el consumidor debe elegir entre un tem razonablemente bueno que est dentro de sus posibilidades de adquisicin, o un tem mucho mejor que se encuentra ms all de sus posibilidades. Con frecuencia se encuentra que un mejor control del proceso puede producir un porcentaje mucho menor de tems no conformes; en estas condiciones, una calidad mejorada puede costar menos. 40
Se puede considerar que la NTC-ISO 2859-1 est compuesta por tres partes, a saber: el texto, las tablas principales (vase la Tabla I a la Tabla IV), las tablas suplementarias (vase la Tabla V a la Tabla IX), y las tablas adicionales (vase la Tabla X-A a la Tabla X-S). El texto define los trminos empleados y presenta las reglas para la inspeccin mediante muestreo. En las tablas adicionales, las pginas de la derecha repiten informacin ya presentada en las tablas principales. En la prctica ha resultado til disponer de esta informacin en dos formas diferentes, pues algunas veces una de las presentaciones es ms apropiada que la otra. El esquema se basa en el uso del concepto de NAC, y los planes se indexan por el NAC y por el tamao de la muestra. Sin embargo, el tamao mismo de la muestra no se emplea directamente como tem indexador, sino que se codifica en la forma de "letra cdigo del tamao de la muestra" (vase el numeral 3.18, en el cual se presentan las razones para esto). Tambin se presentan [11.1.2, 11.1.3] los planes de muestreo doble, y mltiple los cuales son equivalentes a los planes de muestreo simple por tener curvas caractersticas de operacin (Curvas CO) comparables. Las tablas se presentan tanto para inspeccin normal, estricta y para inspeccin reducida [vase el numeral 9], junto con las reglas de cambio de uno a otro sistema de inspeccin. [vase el numeral 9.3]. 3.2 PREPARACIN DE UNA ESPECIFICACIN PARA SU APLICACIN CONJUNTA CON LA NTC-ISO 2859-1
Si de desea someter un producto al mtodo de la NTC-ISO 2859-1 de inspeccin por muestreo, se debe llevar a cabo en forma adecuada la especificacin para un producto o servicio. Los requisitos de tal especificacin pueden resumirse de la siguiente forma:
a)
Cada uno de los requisitos de inspeccin o de ensayo relativos al producto en cuestin, debe expresarse en forma de atributos; si la caracterstica que se va a inspeccionar es medible, es preciso decidir si se prefiere aplicar en su lugar un mtodo por variables. Para cada uno de estos requisitos deben indicarse claramente los siguientes factores:
b)
1) 2) 3)
El tem de producto Una clasificacin de sus caractersticas, cuando sea pertinente Si cada no conformidad debe considerarse separadamente con relacin al NAC, o si deben agruparse (y cmo debe hacerse). El NAC requerido para cada caracterstica o grupo de caractersticas.
4)
41

5) 6)
El nivel de inspeccin necesario para cada no conformidad Si debe aplicarse inicialmente una inspeccin normal o una inspeccin estricta. Cualquier limitacin impuesta a los tamaos de los lotes. Si se permite realizar una inspeccin reducida. Qu se debe hacer si la inspeccin se interrumpe. Designacin de la autoridad responsable.
7) 8) 9) 10)
Adicionalmente, puede especificarse el tipo de plan de muestreo (simple, doble, etc.) si se desea, aunque no es obligatorio. Si la produccin se realiza en lotes aislados, puede resultar preferible fijar el valor de la calidad lmite en lugar del valor del NAC, para su empleo con la NTC-ISO 2859-2. 3.3 CLASIFICACIN DE NO CONFORMIDADES Y TEMS NO CONFORMES
En el caso que el muestreo de aceptacin considere la evaluacin de ms de una caracterstica de calidad, la NTC-ISO 2859-1 presenta un mtodo mediante el cual la importancia de cada tipo de no conformidad se hace corresponder con la influencia ejercida por cada uno de ellos, sobre la decisin de aceptacin [vanse los numerales 5.2 y 7.3]. Las no conformidades se clasifican generalmente de acuerdo con su gravedad, en la siguiente forma:
Clase A
Aquellas no conformidades consideradas de mayor trascendencia para el producto o servicio. A esta clase de no conformidades se debe asignar un valor pequeo de NAC. Aquellas no conformidades consideradas de menor trascendencia; por esta razn, a esta clase de no conformidades se debe asignar un valor superior de NAC que a los de la clase A, pero inferior al de la clase C y as sucesivamente.
Clase B
El nmero de clases y la asignacin de una no conformidad en una clase particular, debe adecuarse los requerimientos de calidad de la situacin especfica. Existen varias formas de determinar los valores de NAC de las diferentes clases. Posiblemente la manera ms simple es agrupar todas las no conformidades en dos clases, A y B, y designar un NAC particular para cada clase, como en el ejemplo siguiente:
Clase A B
NAC 0,40 % de tems no conformes 1,50 % de tems no conformes
42
Se tendrn entonces dos planes de muestreo distintos, correspondientes a estos dos valores de NAC. Si un lote satisface cada uno de estos dos planes, ser aceptado; si falla en cualquiera de los dos, no deber ser aceptado. Otras alternativas posibles, son:
a)
Establecer ms de dos clases, pero tomando la decisin para cada caso en particular, por ejemplo:
Clase A B C
NAC 0,65 % no conformes 1,50 % no conformes 4,00 % no conformes
b)
Atribuir un NAC distinto para cada caracterstica, posiblemente con un NAC adicional para todas las caractersticas tomadas en conjunto o para todas las caractersticas de una misma clase. Por ejemplo, un NAC de 1,0 para cada uno de los tres tipos de no conformidades y un NAC de 1,5 para la sumatoria de las 3 no conformidades. Este mtodo puede ser muy valioso cuando el artculo es complejo y presenta un gran nmero de caractersticas independientes unas de otras. [vase el numeral 3.3]. Considerar en forma separada la clase A pero a continuacin, agregar todos las no conformidades, para considerar las clases A y B como un conjunto. Se podra, por ejemplo, dar al NAC los valores siguientes:
c)
Clase A A+B
NAC 1,0 % no conformes 4,0 % no conformes
En esta parte de la NTC-ISO 2859 se considerar nicamente el mtodo ms sencillo. Aunque sin duda alguna los dems mtodos tienen su aplicacin en determinados casos, es importante darse cuenta que la aplicacin de un plan complicado puede acarrear un trabajo considerable para el personal de control. En la mayor parte de los casos, es preferible el mximo de simplicidad.
EJEMPLO 16. En un producto se deben verificar cinco dimensiones sobre cada artculo. Considerando los efectos de las tems no conformes de cada tipo, se ha decidido que las no conformidades relativas a las dimensiones 1 y 2 deben incluirse dentro de la clase A, mientras que los relativos a las dems dimensiones deben incluirse dentro de la clase B.
43
Consideremos que los valores de NAC se han elegido de la siguiente manera:
Clase A B
NAC 0,65 % de tems no conformes 2,50 % de tems no conformes
Supngase que para ambas el nivel de inspeccin es III y que se ha decidido aplicar un muestreo simple y una inspeccin normal con lotes de tamao 900. La letra clave del tamao de la muestra es la K. Los planes de muestreo son los siguientes:
Clase A B
Tamao de la muestra 125 125
Nmero de aceptacin (tems no conformes) 2 7
Nmero de rechazo (tems no conformes) 3 8
Este modelo (el mismo tamao de muestra para cada clase pero con nmeros de aceptacin diferentes) es tpico y facilita la realizacin del muestreo, puesto que se puede utilizar la misma muestra fsica en cada clase (con la condicin de que la inspeccin no es destructiva para mas de uno de los tipos de no conformidades). Una muestra de 125 tems tomada de un lote determinado, puede dar los resultados siguientes:
1 tem no conformes en la dimensin 1 nicamente. 1 tem no conforme en las dimensiones 2 y 4. 2 tems no conformes en la dimensin 3 nicamente. 3 tems no conformes en las dimensiones 3 y 4.
Hay dos tems con defectos de clase A, y 5 con no conformidades de clase B. Por consiguiente, el lote puede ser aceptado.
EJEMPLO 17.
Un producto debe inspeccionarse en las siguientes condiciones: tamao del lote 500, nivel de inspeccin II, inspeccin normal, muestreo simple. Los valores del NAC son los siguientes:
44
Clase A B
NAC 0,065 % no conformes 0,25 % no conformes
Los planes de muestreo deben ser:
Clase A B
Tamao de la muestra 200 50
Nmero de aceptacin (tems no conformes) 0 0
Nmero de rechazo (tems no conformes) 1 1
En estas condiciones, sera necesario examinar una muestra de 150 para todos los tipos de no conformidades y a continuacin una muestra de 150 nicamente para las no conformidades de clase A. Puesto que de todas maneras se necesita de una muestra de 200, el inspector puede decidir tambin inspeccionar una muestras de este tamao para clases. De esta manera, tambin se resuelve cualquier inquietud sicolgica, al tener que ignorar no conformidades de clase B en los 150 tems examinados para la clase A. Puede proceder as siempre y cuando la autoridad responsable lo autorice [vase el numeral 3.10]. Sirvindose de la letra clave L, el plan para los defectos de la clase B sera:
Tamao de la muestra: Nmero de aceptacin: Nmero de rechazo:
n Ac Re
= = =
200 1 2
Cuando las no conformidades se han clasificado con valores de NAC distintos para las diversas clases, el cambio de una inspeccin a otra (por ejemplo, entre normal y estricta) se efecta independientemente para cada clase o grupo de clases para el cual un NAC se ha especificado, segn las aceptaciones o no aceptaciones para cada clase o grupo en particular.
EJEMPLO 18.
Las condiciones son: tamao del lote: 275, nivel de inspeccin III, muestreo simple (letra clave H). El NAC para las no conformidades de clase A es 1,5 % de tems no conformes, el NAC para las no conformidades de clase B es de 4 % de tems no conformes. La Tabla 4 presenta los resultados hipotticos y la manera en la cual se hace el cambio de un tipo de inspeccin a otro.
45
Tabla 4. Muestreo sobre 20 lotes tomados en el curso de una inspeccin hipottica. nivel de inspeccin III (vase el ejemplo 18) Nmero del lote Tamao del lote Tamao de la muestra Clase A (NAC = 1,5 % de tems no conformes) Re UnidaMedidas futuras Acepdes no tabiconforlidad mes 3 2 A Continuar inspecc.normal 3 1 A Continuar inspecc.normal 3 3 N Continuar inspecc.normal 3 2 A Continuar inspecc.normal 3 4 N Pasar a inspecc.estricta 2 2 2 2 2 2 2 3 3 3 2 3 1 1 0 0 1 1 1 0 N N A A A A A A A A A A A A A Continuar inspecc.estricta Continuar inspecc.estricta Continuar inspecc.estricta Continuar inspecc.estricta Continuar inspecc.estricta Continuar inspecc.estricta Pasar a inspecc.normal Continuar inspecc.normal Continuar inspecc.normal Continuar inspecc.normal Continuar inspecc.normal Continuar inspecc.normal Continuar inspecc.normal Continuar inspecc.normal Continuar inspecc.normal Clase B (NAC = 4,0 % de tems no conformes) Re UnidaMedidas futuras Acepdes no tabiconforlidad mes 6 3 A Continuar inspecc.normal 6 4 A Continuar inspecc.normal 6 3 A Continuar inspecc.normal 6 3 A Continuar inspecc.normal 6 5 A Continuar inspecc.normal 6 6 6 4 4 4 4 4 4 4 4 6 6 6 6 4 8 6 5 3 5 2 2 1 0 2 2 1 4 3 A N N N A N A A A A A A A A A Continuar inspecc.normal Continuar inspecc.normal Pasar inspecc.estricta Continuar inspecc.estricta Continuar inspecc.estricta Continuar inspecc.estricta Continuar inspecc.estricta Continuar inspecc.estricta Continuar inspecc.estricta Continuar inspecc.estricta Pasar inspecc.normal Continuar inspecc.normal Continuar inspecc.normal Continuar inspecc.normal Continuar inspecc.normal Resultado global
Ac
Ac
36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 A = aceptable
275 275 275 275 275 275 275 275 275 275 275 275 275 275 275 275 275 275 275 275
50 50 50 50 50 50 50 50 50 50 50 50 50 50 50 50 50 50 50 50
2 2 2 2 2 1 1 1 1 1 1 1 2 2 2 2 2 2 2 2
5 5 5 5 5 5 5 5 3 3 3 3 3 3 3 3 5 5 5 5
A A N A N N N N N A N A A A A A A A A A
3 1 3 1 3 0 3 2 3 2 N = no aceptable
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NORMA TCNICA COLOMBIANA NTC-ISO 2859-0 (Primera actualizacin)

Nota 5. Estos cambios frecuentes de un tipo de inspeccin a otro, son tiles a ttulo de ejemplo, aunque son muy improbables en la prctica.
3.4
LOTES
El concepto de inspeccin de lotes se introdujo en el numeral 2.4, en donde, con relacin al tamao del lote (vase el numeral 2.4.2), se recomienda el empleo de lotes grandes siempre y cuando todos sus tems hayan sido elaborados esencialmente bajo las mismas condiciones. En los casos en que exista la posibilidad de que tengan diferentes valores de calidades, no deben combinarse lotes pequeos para formar un lote de inspeccin grande. La formacin de los lotes se presentar ms adelante en este numeral, junto con varios ejemplos:
EJEMPLO 19.
Un productor fabrica tems que se van a inspeccionar en las siguientes condiciones: NAC: 2,5 % de tems no conformes, nivel de inspeccin II, inspeccin normal, muestreo simple. Hay dos mquinas, designadas como A y B. Cada mquina produce 900 tems por hora; se ha decidido que la produccin de una mquina durante una hora constituir un lote. Las tablas, para las condiciones expresadas y tamao de lote de 900, proporciona el plan de muestreo siguiente, bajo la letra clave J:
n Ac Re
= = =
80 tems 5 tems no conformes 6 tems no conformes
Su curva caracterstica de operacin puede encontrarse en la Tabla X-J (NAC = 2,5). Podra ser ventajosa la formacin de los lotes a partir de la produccin de las dos mquinas durante una hora, aumentando el tamao del lote de 900 tems a 1 800 tems. Si se procede de esta manera, las tablas indicaran, bajo la letra clave K, el siguiente plan de muestreo:
n Ac Re
= = =
125 tems 7 tems no conformes. 8 tems no conformes.
La nueva curva caracterstica se encuentra en la Tabla X-K (NAC = 2,5). El que resulte ventajoso, depende de que las mquinas A y B produzcan o no la misma calidad. A ttulo de demostracin, se consideraran en seguida los tres casos posibles:
47

Caso 1. Las mquinas A y B producen la misma calidad, correspondiente al 2,3 % de tems no conformes. Esta calidad es superior al NAC y por lo tanto, se desea que la gran mayora de los lotes sean aceptados mediante el procedimiento de muestreo. Si el tamao del lote es de 900 y el de la muestra de 80, la curva caracterstica de operacin muestra que el plan de muestreo aceptar casi el 99 % de los lotes, no aceptar un nmero de lotes por encima del 1 % . El nmero de artculos inspeccionados ser de 160 por hora . Si el tamao del lote es de 1 800 y el de la muestra de 125, la curva caracterstica de operacin muestra que se aceptar un nmero de lotes por encima del 99 % y se rechazara un nmero de lotes por debajo del 1 %. El nmero de artculos inspeccionados ser de 125 por hora. Por consiguiente, resulta ms apropiado un lote de mayor tamao. Todos los lotes tanto los aceptados como los no aceptados, tienen el mismo nivel de tems no conformes de 2,3 % Caso 2. Las mquinas A y B producen la misma calidad, del 10 % de tems no conformes. Esta calidad es peor que el valor del NAC, de modo que es deseable que la mayora de los lotes no sean aceptados. Si el tamao del lote es de 900 y el de la muestra es de 80, la curva caracterstica de operacin indica que los lotes tendran una probabilidad de slo un 20 % de ser aceptados,. El nmero de artculos inspeccionados ser de 160 por hora. Si el tamao del lote es de 1 800 y el de la muestra de 125, la curva caracterstica de operacin indica que los lotes tendran slo un 8 % de probabilidades de ser aceptados. El nmero de artculos inspeccionados ser de 125 por hora. Nuevamente, resulta ms apropiado un lote de tamao mayor, ya que todos los lotes tienen el mismo valor de 10 % de tems no conformes. Caso 3. La mquina A genera una calidad del 2,3 % de tems no conformes, mientras que la mquina B produce una calidad del 10 % de tems no conformes. Si el tamao del lote es de 900 y el de la muestra es de 80, la curva caracterstica de operacin indica que cerca de un 99 % de los lotes de la mquina A sern aceptados, en tanto que un 1% no lo sern. Con relacin a los lotes producidos por la mquina B, slo un 20 % sern aceptados, mientras que un 80 % no lo sern. Por lo tanto, para el conjunto:
99 % + 20 % 2
de los lotes sern aceptados, es decir, cerca del 60 % de los lotes no sern aceptados, es decir, cerca del 40 %
1 % + 80 % 2
Los lotes aceptados tendrn un porcentaje promedio de tems no conformes de:

99 20 2,3 % + x 10% 99 + 20 99 + 20 de tems no conformes,
48

es decir 3,6 % de tems no conformes si se inspeccionan 160 tems por hora. Si el tamao del lote es de 1 800 tems y el tamao de la muestra de 125 tems, la calidad de los lotes ser: 0,5 (2,3 % + 10 % de tems no conformes), es decir, 6,15 % de tems no conformes. La curva caracterstica de operacin indica que el 50 % de los lotes sern aceptados, en tanto que el otro 50 % ser rechazado, si se inspeccionan 125 artculos por hora. El lote de mayor tamao conlleva un menor trabajo en la inspeccin, como sucede en los casos 1 y 2; sin embargo, este menor trabajo tiene su precio. En lugar de aceptar 60 % de los lotes con una calidad promedio de 3,6 % de tems no conformes, se aceptan 50 % de los lotes con un 6,15 % de tems no conformes. Naturalmente que en cualquier caso, una proporcin de aceptacin tan baja es suficiente para alertar con tiempo al productor y al inspector sobre el hecho de que la fabricacin no se ajusta a la calidad requerida y que se ha de tomar medidas para su mejoramiento. Si la produccin de las dos mquinas se ha separado, ser fcil descubrir donde se encuentra la dificultad; pero si las dos producciones estn mezcladas, no resultara obvio que slo una las mquinas es la responsable. En este ejemplo se ha exagerado, en que las calidades de las dos mquinas (2,3 % y 10 % de tems no conformes, respectivamente) son muy diferentes. Si las calidades fueran ms prximas, el hecho de combinar los lotes no conducira a resultados tan variados, aunque el principio sera el mismo. En la prctica, un lote contiene a menudo tems que provienen de distintos orgenes. Estos orgenes pueden producir niveles diferentes de calidad y, por otra parte, es posible que el aporte de cada uno no corresponda a partes iguales del nmero total del tems del lote. Como ejemplos pueden citarse las partes de un molde de mltiples cavidades, las partes de un torno automtico de broca mltiple, o las partes de varias lneas de fabricacin similares. Esta produccin puede estar organizada de tal manera que no resulta fcil la identificacin de las distintas fuentes, sin el uso de medidas especiales, y costosas; adems, puede ser necesario incluir la produccin de todas estas fuentes con el fin de constituir lotes del tamao solicitado. Puede preguntarse ahora, si para un plan de muestreo, la curva caracterstica es vlida para lotes que incluyen tems de diferentes orgenes, que pueden haber sido producidos a diferentes niveles de calidad y por lo tanto no son estrictamente homogneos. La respuesta es que no se afecta en manera alguna la validez de la curva caracterstica, aunque puede conducir a la no aceptacin de producto bueno (puesto que est mezclado con productos malos) o a la aceptacin de un producto malo (puesto que est mezclado con productos buenos), mientras que el producto bueno habra podido ser aceptado y el malo no aceptado si se hubieran mantenido separados. No obstante, si una o varias fuentes tienen un nivel de calidad notablemente peor al de los otros, el efecto se har sentir rpidamente sobre el porcentaje de aceptacin del conjunto y habr que procederse a una investigacin. Esta indicar el origen de los productos no conformes y, si no se puede corregir, debera aislarse y proceder a una inspeccin por separado.
49

3.5 SIGNIFICADO DEL NIVEL DE INSPECCIN
El nivel de inspeccin establece una relacin entre el tamao del lote y el tamao de la muestra La configuracin de las tablas es tal que, cuando el tamao del lote es grande, la muestra es, en general, mayor que cuando el lote es pequeo. No obstante, el incremento no es directamente proporcional: para un lote muy grande, la muestra es proporcionalmente menor que para un lote pequeo. En la Tabla I de la NTC-ISO 2859-1 se encuentran tres niveles de inspeccin generales, numerados I, II y III y cuatro niveles especiales de inspeccin numerados S-1, S-2, S-3 y S-4. Los niveles para usos generales son los ms comnmente utilizados, y se designa el uso del nivel II, a menos que se haya especificado uno de los otros niveles. (vase el numeral 10.1). Con el nivel I se usara menos de la mitad del tamao de la muestra que con el nivel II, mientras que con el nivel III se usara alrededor de una vez y media el tamao de la muestra dada por el nivel II.
EJEMPLO 20.
Para un tamao de lote de 600 tems, los tamaos de las muestras correspondientes a los distintos niveles de inspeccin, son los siguientes:
Nivel de inspeccin I II III
Letra clave G J K
Tamao de la muestra (Muestreo simple) 32 80 125
No obstante, hay que recordar que para algunos NAC, las flechas situadas en las tablas sealan tamaos de muestra diferentes de stos. Una tabla completa de tamaos de muestra proporcionales a los tamaos de los lotes, requerira que se tuvieran en cuenta tambin los NAC, debido a las flechas. Incluso para un valor dado, la relacin no es regular puesto que nicamente son utilizables algunos valores del tamao de la muestra, mientras que todos los tamaos de lote son posibles. Semejante tabla solo servira para confundir, en lugar de aclarar. Sin embargo, la Tabla 5 resume esta situacin. Los niveles especiales de inspeccin estn concebidos para las situaciones en las que el tamao de la muestra debe ser pequeo. No deben especificarse antes de haber examinado cuidadosamente sus consecuencias, evaluando los riesgos asociados al muestreo, mediante el estudio de la curva caracterstica. La NTC-ISO 2859-1 determina que "Cuando se establezca uno de los niveles de inspeccin S-1 a S-4, debe tenerse mucho cuidado en evitar el empleo de valores de NAC contradictorios con estos niveles de inspeccin " [vase el numeral 10.1]. Esto significa que el objetivo principal de los niveles especiales de inspeccin es el de mantener muestras pequeas cuando sea verdaderamente necesario. Por ejemplo, en la columna S-1, las letras clave no van ms all de la D, lo cual equivale a una muestra simple de 8; pero no servira de nada especificar 50

S-1 con la esperanza de mantener el tamao de la muestra de 8 o menos, si el NAC fuera 0,10 para el cual, el tamao mnimo de muestra es de 125.
Tabla 5. Relacin entre el tamao de la muestra y el tamao del lote en los tres niveles de inspeccin para usos generales Nivel I Nivel II Nivel III Tamao de la muestra expresada como porcentaje del tamao del lote (muestreo simple Tamao del lote Tamao del lote Tamao del lote inspeccin normal) No ms de 50 % Por lo menos 4 Por lo menos 4 Por lo menos 10 No ms de 30 % Por lo menos 7 Por lo menos 27 Por lo menos 167 No ms de 20 % Por lo menos 10 Por lo menos 160 Por lo menos 625 No ms de 10 % Por lo menos 50 Por lo menos 1 250 Por lo menos 2 000 No ms de 5 % Por lo menos 640 Por lo menos 4 000 Por lo menos 6 300 No ms de 1 % Por lo menos 2 500 Por lo menos 50 000 Por lo menos 80 000 Nota. Esta tabla debe considerarse nicamente a manera de indicacin. Los valores del tamao del lote que figuran son tales, que todos los tamaos mayores cumplen con la condicin requerida. En la mayor parte de los casos, algunos tamaos de lote ms pequeos tambin cumplen; pero en todos los casos un tamao de lote inferior en una unidad a los citados no cumplir con sta.
La informacin sobre la calidad de fabricacin obtenida mediante el examen de las muestras, depende del tamao absoluto de las muestras y no del porcentaje del lote que se examina. Por ello, es necesario preguntarse: Por qu depende el tamao de la muestra del tamao del lote? Por tres razones:
a)
Cuanto mayor es lo que hay en juego, ms importante resulta tomar una buena decisin. El empleo correcto de las tablas conduce al resultado siguiente: partiendo de un buen proceso, la probabilidad de aceptacin de los lotes, crece a medida que el tamao del lote aumenta, mientras que, inversamente, para los lotes que provienen de un mal proceso, crece la probabilidad de rechazo. Cuando se tiene un lote de gran tamao, se podra tomar una muestra que sera costosa si se tratara de un lote pequeo; por ejemplo: resulta fcil de justificar econmicamente una muestra de tamao 80 tomada de un lote de 1 000, mientras que sera relativamente oneroso tomar una muestra de 80 de un lote de 100. Una correcta eleccin al azar (vase el numeral 2.25) es ms difcil de asegurar si la muestra es una proporcin demasiado pequea del lote.
b)
c)
3.6
DETERMINACIN DE UN NIVEL DE INSPECCIN
Cuando se utiliza la NTC-ISO 2859-1 en las condiciones para las cuales ha sido concebida, es decir, para una gran serie de lotes, es necesario, antes de utilizar las tablas, fijar el NAC y el nivel de inspeccin. Frecuentemente ser necesario fijar estos datos antes de empezar la fabricacin.
51

Una vez fijado el NAC, considerado como la calidad exigida en el promedio de un proceso (vase el numeral 2.7), se debera establecer el nivel de inspeccin [vase el numeral 10.1], teniendo en cuenta la calidad que debera tener una gran probabilidad de no ser aceptada, si un lote ocasional con dicha calidad fuese presentado a inspeccin. Es posible, buscar un nivel de inspeccin que d la curva caracterstica exigida para este propsito cuando el tamao del lote se sita entre los lmites habitualmente esperados. En el caso que tanto el NAC y la calidad lmite (CL) son especificados, es posible encontrar una curva caracterstica a partir de las tablas (Tablas X) que satisfaga las dos condiciones y obtener as la letra clave del tamao de muestra apropiado. Entonces se puede encontrar el nivel de inspeccin (Tabla I) que da esta letra clave para un determinado intervalo de tamaos de lote que contenga el tamao que se espera producir.
EJEMPLO 21. Se ha fijado un NAC de 1,5 % de tems no conformes y se desea tener al menos un 80 % de probabilidad de no aceptar un lote que contenga 6 % de tems no conformes, si tal lote se presentara en el transcurso de una inspeccin normal. Examinando las curvas caractersticas de las tablas adicionales, se encuentra que ninguna de las letras clave A a J, satisface esta condicin para un NAC de 1,5, pero la letra clave K la satisface casi con exactitud. En efecto, la probabilidad de no aceptacin del lote con 6 % de tems no conformes es ligeramente inferior al 80 %, pero es suficientemente prxima para la mayora de propsitos prcticos. Las letras clave L - P, satisfacen ampliamente esta condicin. Supngase que el tamao de lote de 1 000 tems. Se puede especificar el nivel de inspeccin III, puesto que dar la letra clave K para un tamao de lote de 1 000. Si en una etapa posterior se aumenta el tamao del lote, el nivel de inspeccin fijado puede conducir a tomar letras clave siguientes a la K. Esto se considera satisfactorio, ya que se hace buen uso del tamao aumentado del lote al reducir los riesgos de aceptar lotes malos o de no aceptar lotes buenos. Desde este punto de vista, es intil establecer un lmite superior para el tamao del lote (aunque probablemente ser necesario fijar este lmite por otras razones). Por el contrario, ser preciso tener un lmite inferior para estar seguros de no utilizar letras claves, anteriores a la K. Para un nivel de inspeccin III, el lmite inferior del tamao del lote no debe ser inferior a 501, para asegurar el uso de la letra K.
EJEMPLO 22. El NAC se fija en el 0,40 % de tems no conformes. Para lotes de 10 000, quiere tener al menos 95 % de probabilidades de no aceptacin cuando se presenten lotes que tengan el 1 % de tems no conformes durante una inspeccin normal. Observando las curvas caractersticas para un NAC del 0,40 %, se encuentra que incluso la letra clave R no puede satisfacer la condicin exigida. Ser necesario entonces preguntarse si esta condicin es verdaderamente esencial. Si se decide que verdaderamente lo es, la nica forma ser reforzar la severidad del NAC. Si se lleva al 0,25 % de tems no conformes, se encuentra que la letra clave R cumple bien la condicin exigida.
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Como ningn nivel de inspeccin de la Tabla I da la letra clave R para un lote de 10 000, es necesario especificar la letra R como tal, en lugar de especificar un nivel de inspeccin. Hay que observar que los niveles de inspeccin dados no son los nicos niveles posibles; a veces es preciso fijar un nivel especial para responder a algn caso determinado. Atribuir una letra clave constante, cualquiera que sea el tamao del lote, puede ser un caso particular de tal nivel " especial", si, por ejemplo fuera necesario fijar una curva caracterstica bien definida, como en el ejemplo 21. Al comienzo de la produccin o cuando los registros sobre la produccin anterior no estn disponibles, puede ser preferible aplicar una inspeccin al 100 % durante cierto tiempo, para determinar la capacidad del proceso para cumplir con la calidad deseada. Alternativamente, si se va a utilizar un procedimiento de muestreo, puede ser conveniente la eleccin del nivel ms alto de inspeccin, (prctico o econmico), para la primera serie fabricada. A continuacin se puede ir cambiando a un nivel ms bajo si el promedio de un proceso registrado indica que a este nuevo nivel de inspeccin el riesgo del consumidor es aceptable. Debe notarse que la eleccin de un nivel de inspeccin ms bajo incrementa el riesgo del consumidor en el CL en mayor medida que lo que aumenta el riesgo del producto de que no la sea aceptada un lote con una calidad igual o mejor que el NAC. Otro caso de empleo de varios niveles de inspeccin se produce cuando las mismas tablas se aplican al mismo producto por dos organismos de inspeccin distintos, tales como un contratista, un subcontratista o una empresa industrial y un organismo gubernamental de inspeccin. Los dos organismos deben adoptar el mismo NAC aplicados a las mismas caractersticas, pero el consumidor puede solicitar al inspector del productor que aplique un nivel de inspeccin ms elevado que el que se va a aplicar en el ensayo de recepcin. Existen otros mtodos de muestreo aplicables a este tipo de situacin, pero quedan fuera del objeto de esta parte de la norma. Tambin puede ser necesario utilizar un nivel de inspeccin bajo por razones de orden econmico o por la naturaleza eventualmente destructiva de los ensayos. En este caso, el inspector debe verificar, la totalidad de cada muestra (evitando las inspecciones interrumpidas) y estimar peridicamente la calidad media de la produccin. Si se registra esta media en forma de un grfico de control (vase por ejemplo la norma ISO 8258), ste mostrar claramente si se cumplen las condiciones de calidad. Aunque no se puede tomar acciones sobre la produccin pasada, la informacin permitir tomar medidas que aporten mejoras para el futuro. Una objecin a un nivel de inspeccin bajo es que la calidad lmite (CL), a un riesgo del consumidor del 10 % por ejemplo, es alto comparado con el NAC. No obstante, si se examinan los registros relativos a una serie continua de lotes, puede observarse que el tamao de la muestra que se habra tomado para un plan de un nivel de inspeccin ms alto y, posiblemente, de una letra clave ms alta, en el cual el riesgo del consumidor para esta CL es ms aceptable. Si entonces se comparan los resultados acumulados con este nuevo plan, podrn revisarse las decisiones de aceptacin o no aceptacin tomadas bajo plan original.
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EJEMPLO 23.
Un organismo exterior de inspeccin se ocupa del examen de la produccin de dos productores A y B. Se propone aplicar una inspeccin por muestreo utilizando un NAC del 1 % de tems no conformes, en lugar del examen actual que se realiza al 100 % El productor A produce lotes de 4 000 tems, con un promedio de un proceso de 0,8 % de tems no conformes. Se encuentran ocasionalmente lotes que contienen hasta el 4 % de tems no conformes. Con el fin de tener una gua para la eleccin del nivel de inspeccin, se estudian las curvas caractersticas para los niveles de inspeccin general I, II y III (vase la Figura 6). Se juzga necesario un aseguramiento superior al dado por el plan de nivel II (n = 200, Ac = 5, Re = 6), de no aceptar lotes que contengan un 4 % de tems no conformes. En consecuencia, se elige el nivel III y se emplea el plan n = 315, Ac = 7, Re = 8. Para la calidad de 4 % de tems no conformes, la probabilidad de aceptacin es de 19 %, usando el nivel II, y con el plan del nivel III baja a 7 % El productor B produce lotes de tamao similar (alrededor de 3 500 tems) pero tiene un mejor nivel de calidad. El promedio de un proceso real vara entre 0,4 % y 1,7 % de tems no conformes. En la Figura 6, se aprecia que hay una diferencia prctica muy pequea entre las curvas caractersticas correspondientes a las letras clave J, L y M dadas en la Tabla I para los niveles de inspeccin I, II y III respectivamente, para una calidad de 1,7 % de tems no conformes. Por consiguiente, se especifica el nivel de inspeccin I, consiguiendo as una economa importante en el nmero de tems inspeccionados por muestreo. Se podra considerar la posibilidad de recompensar al productor por la reduccin de los costos de la inspeccin.
3.7
VALORES DE NAC PREFERIDOS
Las tablas de la NTC-ISO 2859 proporcionan 26 valores de NAC escalonados desde 0,010 (es decir 1 tem no conforme por cada 10 000 tems del producto) hasta 1 000 (es decir 1 000 no conformidades por cada 100 tems de producto o un promedio de 10 no conformidades por tem). Estos 26 valores se eligen de tal manera que cada uno de ellos es aproximadamente una vez y media el precedente (la relacin media es en realidad la raz quinta de 10, o sea, 1,585). Las tablas pueden utilizarse para inspeccionar un determinado producto cuando el NAC especificado corresponde a uno de los NAC preferidos. Sin embargo, si un NAC especificado no figura entre los NAC preferidos, las tablas no se pueden aplicar (vase el numeral 4.6). En este caso, debe dirigirse a la persona, quin especific el NAC, para evaluar, si uno de los NAC preferidos podra ser aceptable. En caso contrario, se tendr que fijar un plan de muestreo en funcin del NAC exigido (vase el numeral 3.8). Los valores muy altos de NAC, de 100 en adelante, se emplean muy poco en la prctica, ya que implican que un producto con no conformidades en cada tem puede ser considerado satisfactorio. Est claro que este caso solo puede presentarse cuando las no conformidades especificadas son menores y la unidad de producto es relativamente compleja, tal como un vehculo completo.
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Figura 6. Comparacin de las curvas OC, para determinar el nivel de inspeccin (NAC de 1 % de tems no conformes, inspeccin normal)
EJEMPLO 24.
Para inspeccionar un tejido que servir posteriormente para confeccionar ropa, la unidad de producto podra ser una gran superficie del tejido. Para inspeccionar los tems no conformes secundarios del tiraje, podra muy bien aceptarse un promedio de 4 no conformidades por metro cuadrado, en cuyo caso se podra especificar un NAC de 400 no conformidades por cada 100 metros cuadrados.
3.8
VALORES DE NAC NO PREFERIDOS
Por facilidad administrativa, se aconseja utilizar NAC preferidos siempre que sea posible. No obstante, el modelo de la NTC-ISO 2859-1 permite disear fcilmente planes de muestreo coherentes con el procedimiento de dicha norma para otros valores de NAC. La Tabla 6 muestra los valores de NAC y los tamao de la muestra correspondiente a planes dobles y mltiples expresados en trminos de n, el tamao de muestra para muestreo sencillo.
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Tabla 6. Sumario de los planes de muestreo de la NTC-ISO 2859-1 para la inspeccin normal y estricta Tipo de plan de muestreo Tamao de la muestra Tamao acumulado de la muestra 12,5/n Ac Re 0 1 * * 50/n Ac Re 1 2 0 2 1 2 2 # 2 # 2 0 3 0 3 1 3 1 3 2 80/n 80/n Ac Re 2 3 0 3 3 4 2 # 3 0 3 0 4 1 4 2 5 3 5 4 125/n 125/n Ac Re 3 4 1 4 4 5 3 # 3 0 4 1 5 2 6 3 6 4 7 6 200/n 200/n Ac Re 5 6 2 5 6 5 4 # 5 1 6 2 7 3 8 5 9 7 10 9 315/n NAC (inspeccin normal)
Simple Doble
Mltiple
n 0,63 n 0,63n 0,25n 0,25n 0,25n 0,25n 0,25n 0,25n 0,25n
n 0,63n 1,26n 0,25n 0,50n 0,75n n 1,25n 1,50n 1,75n
20/n * Usar muestreo simple
315/n 500/n Ac Re Ac Re Ac Re 7 8 8 9 10 11 3 7 3 7 5 9 8 9 11 12 12 13 5 0 4 0 4 0 8 3 7 2 6 1 10 6 9 4 8 3 13 11 8 10 6 5 12 11 15 11 9 7 10 12 12 14 14 17 13 14 14 15 18 19 500/n NAC (inspeccin estricta)
Ac 12 6 15 0 3 7 10 14 18 21 Re 13 10 16 6 9 12 15 17 20 22 800/n Ac 14 7 18 1 4 8 12 17 21 25
800/n Re 15 11 19 7 10 13 17 20 23 26 -
Ac Re 18 19 9 14 23 24 8 1 12 6 17 11 22 16 25 22 29 27 33 32 1 250/n
Ac 21 11 26 2 7 13 19 25 31 37
1 259/n Re 22 16 27 9 14 19 25 29 33 38 -
56

EJEMPLO 25.
Se especifica un NAC de 2 % de tems no conformes; se requiere tener un conjunto de planes para muestreo sencillo e inspeccin normal y estricta. La columna para un nmero de aceptacin de 0 da un valor de NAC de 12,5/n = 2 para inspeccin normal. Fijando 12,5/n = 2 (es decir, un 2 % de tems no conformes) se obtiene n = 6,25, lo que redondeado al entero ms cercano da 6. De igual manera, la columna para un nmero de aceptacin de 1 da un NAC de 50/n. Fijando 50/n = 2, se obtiene n = 25. Las otras columnas se pueden utilizar de igual manera para obtener los siguientes planes:
Tamao de muestra 6 25 40 63 100 158 250 400 625
Ac 0 1 2 3 5 7 10 14 21
Re 1 2 3 4 6 8 11 15 22
Para efectuar una inspeccin estricta la escala inferior que da los NAC en lugar de la superior. Se encontrar entonces que:
Tamao de muestra 10 40 63 100 158 250 400 625
Ac 0 1 2 3 5 8 12 18
Re 1 2 3 4 6 9 13 19
EJEMPLO 26. Se necesitan planes dobles y mltiples correspondientes a un plan sencillo con tamao de muestra de 100, Ac = 5, Re = 6 como el del ejemplo 25, Buscando en la columna para Ac = 5 y usando n = 100, hallamos: Plan doble:
Tamao de la muestra 63 63 Tamao acumulado de la muestra 63 126 Ac 2 6 Re 5 7
y, plan mltiple: 57
Tamao de la muestra 25 25 25 25 25 25 25
Tamao acumulado de la muestra 25 50 75 100 125 150 175
Ac # 1 2 3 5 7 9
Re 4 5 6 7 8 9 10
Sin embargo, este procedimiento no proporciona informacin suplementaria como, por ejemplo los nmeros lmites para una inspeccin reducida. Por consiguiente, la utilizacin de los NAC preferidos como punto de partida debe convertirse en una prctica regular. 3.9 DETERMINACIN DEL NAC
En el numeral 2.6 se introduce el concepto del NAC, los puntos de vista del consumidor y del productor, en relacin con los requisitos de cada uno, y el efecto que del empleo del elemento y la consecuencia que tendr una falla en el establecimiento del NAC. Tambin es necesario considerar el nmero de componentes que entrarn en la fabricacin de un equipo. Si, por ejemplo, se decide que no debe haber ms de 10 % de tems no conformes, teniendo en cuenta que cada equipo tiene tres componentes de igual importancia, cada uno de los tres componentes podr tener un NAC el 3,5 si posee diez componentes, estos no deben tener un NAC mayor de 1 % En la frmula que sigue, si k es el nmero de componentes que contiene el conjunto, X es el NAC de este conjunto, y x es el NAC de cada componente, la ley de multiplicacin de las probabilidades establece que:
X 100
=1
100 x 100
No obstante, el valor de X no tiene en cuenta los conjuntos no conformes que podran ser producidos por un procedimiento impropio de montaje. En este caso, el productor, probablemente, desear elegir un NAC, para cada componente y calcular los resultados que pueden esperarse del equipo completo, mientras que el consumidor desear especificar un NAC para el equipo completo y calcular cul debe ser la calidad de los componentes. En general, este segundo mtodo es probablemente el ms razonable ya que lo que importa son las caractersticas de funcionamiento del equipo completo, sin embargo este mtodo es el ms costoso puesto que conduce casi siempre a adoptar NAC ms severos. Por otra parte, hay que aceptar que una buena calidad para un tem complejo es inevitablemente ms onerosa que una calidad similar para un tem ms simple. Un examen del nivel de calidad producido y tolerado en el pasado, a menudo puede responder al interrogante relativo al nivel de calidad que se puede prever razonablemente segn el precio que est dispuesto a pagar el consumidor y aplicando los mtodos de produccin proyectados. Cuando se trata de un tem nuevo del que no hay antecedentes en producciones anteriores, es posible conseguir informes sobre otros tems similares. Los clculos promedios de un proceso 58
pasado pueden servir de ayuda. El hecho de referirnos a la calidad obtenida en el pasado no implica que los niveles de calidad anteriores son sagrados, o siguiera que sean lo suficientemente buenos. El costo de produccin de un tem no conforme es prcticamente igual al de un tem conforme, por lo que una reduccin en el porcentaje de tems no conformes resulta en una reduccin en el costo de produccin. Esto es solo uno de los factores a tomar en cuenta al fijar un NAC razonable. El mero hecho de fijar un NAC no es suficiente para asegurar al consumidor de que no sern aceptados lotes con una calidad peor que el NAC. En primer lugar, el NAC expresa un promedio. Algunos lotes pueden tener un porcentaje de tems no conformes ligeramente peor que el NAC, es probable que algunos lotes sean aceptados antes de que se justifique un cambio a una inspeccin estricta, an despus de cambiar a una inspeccin estricta, es probable que alguno que otro lote de una calidad peor que el NAC sea aceptado. No obstante, puede esperarse que el consumidor obtenga un producto con una calidad promedio mejor a la correspondiente al NAC, ya que el muestreo contiene un estimulo econmico, debido a que el productor no puede tener ms que una pequea porcin de lotes no aceptados, por lo que se tomarn las medidas necesarias para mejorar su produccin si sobrepasa esta porcin. Pudiera pensarse que esto no es muy satisfactorio, desde el punto de vista del consumidor, siendo que depende de lo que probablemente ocurrir y no de lo que seguramente ocurrir. Pero, en la prctica, la mayor parte de los fabricantes procuran vigilar que el promedio de un proceso no sea peor a la caracterizada por el NAC, aunque slo sea para no tener dificultades por no aceptaciones demasiadas frecuentes de sus lotes. De todas formas, la proteccin del consumidor depende tanto de la parte inferior de la curva caracterstica, como de su parte superior que tiene ms que ver con el NAC; la parte inferior se puede ajustar examinando la calidad lmite (CL) de cada plan considerado. No es necesario comenzar siempre por la eleccin del NAC y encontrar el resto en funcin de ste. Tambin es posible, cuando las condiciones lo exijan, entrar a las tablas procediendo a la inversa; es decir, eligiendo un plan con otro criterio y determinar a continuacin el NAC especificado, para llegar al resultado deseado. En este caso, el NAC resulta un ndice cmodo que permite la utilizacin de tablas normalizadas y tambin representa una ayuda considerable para resolver una pregunta que, a menudo, se hace el productor. A qu nivel de calidad es preciso producir para que la mayor parte de los lotes sean aceptados ? Si se adopta este mtodo a la inversa, se puede comenzar por elegir un punto situado en la parte baja de la curva, donde se estima especialmente importante limitar la probabilidad de aceptacin de un lote de una calidad muy pobre, o con algn criterio de orden econmico. Con respecto al criterio econmico, se ha sugerido que simplemente se estime el punto de equilibrio; es decir, aquella calidad de lote donde el mal causado por la aceptacin de los tems no conformes en un lote es exactamente igual al costo causado al no aceptar dicho lote. Si se puede estimar la calidad de este punto de equilibrio sera conveniente escoger un plan donde la calidad diera una expectativa del 50 % de lotes aceptados. No es que una probabilidad de aceptacin con esta calidad sea particularmente deseable (por definicin, al decir que el lote est en el punto de equilibrio, es indiferente si el plan lo acepta o no), sino que da la seguridad de que hay una probabilidad mayor al 50 % de aceptar lotes de una calidad mejor que esta calidad de equilibrio y una probabilidad mayor al 50 % de no aceptar lotes de una calidad peor que sta. Finalmente, teniendo todos estos factores en consideracin, es deseable escoger uno de los valores del NAC que se han presentado en las tablas, ya que de otro modo, las tablas no tendran aplicacin y tendra que disearse un plan especial. 59
En la norma ISO/TR 8550 se presenta informacin adicional a este respecto. 3.10 OBTENCIN DE UN PLAN DE MUESTREO A PARTIR DE LAS TABLAS DE LA NTCISO 2859-1
Antes de establecer un plan de muestreo a partir de las tablas, es necesario conocer cinco cosas, como lo siguiente:
a) b)
El nivel de calidad aceptable NAC (vase el numeral 2.6). El nivel de inspeccin (vase el numeral 3.5). En general, se fijan a) y b) para un producto dado al comienzo de un contrato y permanecen constantes durante toda la duracin del mismo. Si se utilizara inspeccin normal, estricta o reducida. Con relacin a este punto, la decisin se toma estudiando los resultados de las muestras de los ltimos lotes, segn se explica ms adelante (vanse los numerales 3.11 a 3.14). Por el momento se supondr que se utiliza la inspeccin normal. Si se utilizar un muestreo sencillo, doble o mltiple. Por el momento se supondr que se trata de un muestreo sencillo. El tamao del lote.
c)
d)
e)
EJEMPLO 27.
Supongamos que el NAC es 1,0, el nivel de inspeccin es II, y el tamao del lote es de 2 500. El primer aspecto que se debe determinar es la letra clave del tamao de la muestra (designada habitualmente como letra clave). Para un tamao de lote de 2 500 y para un nivel de inspeccin II, la Tabla I indica que la letra clave es K. En la tabla general apropiada (Tabla II-A) se encuentra que, para un muestreo sencillo, el tamao de la muestra es 125. Para una inspeccin normal, los NAC Figuran en la parte superior de la tabla y, bajo el valor 1,0, se encuentran los valores de Ac = 3 y Re = 4. El plan de inspeccin apropiado es: Tamao de la muestra Nmero de aceptacin Nmero de rechazo n Ac Re = = = 125 tems 3 4
Alternativamente, se podra utilizar la tabla adicional X-K-2.
60
De nuevo se encuentra un tamao de muestra de 125; en la columna correspondiente a un NAC de 1,0, se encuentra, como antes, los nmero de aceptacin y de rechazo igual a 3 y 4, respectivamente.
EJEMPLO 28.
Supngase que el NAC es 0,40, el nivel de inspeccin I y el tamao del lote 230. La Tabla I da E como letra clave. Consultando la Tabla II-A, se observa que no hay ningn plan que corresponda a la letra E y a un NAC de 0,40, pero una flecha que apunta hacia abajo, dirige al usuario a la letra G y el plan requerido en este caso es:
n Ac Re
= = =
32 tems. 0 1
Alternativamente se puede consultar la tabla adicional X-E-2, pero esta pgina no tiene una columna para un NAC de 0,40. En su lugar, aparece el smbolo de un tringulo que apunta hacia abajo para los NAC inferiores a 1,0. Al pie de pgina se encuentra el significado de este tringulo: "Utilice la letra clave ms prxima siguiente para la cual existen nmeros de aceptacin y de rechazo". Si se interpreta este tringulo como una punta de flecha, esta apunta en la direccin en que se encontrar la tabla apropiada. Esta lleva a la letra F donde, de nuevo, no se encuentra el valor correspondiente a un NAC de 0,40 y se sigue a la letra G para encontrar el mismo plan establecido anteriormente. Es importante recordar que, si un tringulo o una serie de tringulos dirige al usuario de una pgina a otra en las tablas adicionales, o que si una flecha dirige al usuario de una letra a otra en las tablas generales, el tamao de muestra que se va a utilizar es el indicado en la nueva pgina o en la nueva lnea a la que se ha llegado, y no el tamao indicado en la pgina o lnea de origen (vase el numeral 10.3). Cuando se encuentran flechas o tringulos que apuntan hacia arriba, su significado es similar. Hacen referencia a los casos en los cuales no se encuentran valores altos de NAC en las tablas adicionales, para las letras claves indicadas en la Tabla I, y el smbolo tiene el siguiente significado: "Utilice el tamao de muestra precedente para el cual se encuentren disponibles los nmeros de aceptacin y de rechazo". Los tringulos apuntan en la direccin en la cual se encuentra la tabla apropiada.
EJEMPLO 29.
Se supone un NAC de 0,015, un nivel de inspeccin III y un tamao de lote de 120. La Tabla I da como letra clave G, pero al consultar la Tablas II-A hay una flecha que conduce a la letra P. A la cual corresponde un tamao de muestra de 800, que excede al tamao del lote. 61
En este caso, se debe tomar como muestra la totalidad del lote, es decir 120. El nmero de aceptacin y rechazo permanece como 0 y 1. La NTC-ISO 2859-1 establece que los valores del NAC iguales o inferiores a 10 pueden expresar un porcentaje de tems no conformes o bien un nmero de no conformidades por cada 100 tems, en tanto que los valores del NAC superiores a 10 slo expresan no conformidades por cada 100 tems (vase el numeral 3.5). Es necesario, decidir si conviene contar las no conformidades o los tems no conformes. En funcin de esta decisin debe definirse a continuacin el valor del NAC. Por esta razn, los ejemplos 26, 27 y 28 estn incompletos, porque los valores del NAC estn en forma de nmero sin precisar la unidad, al igual que los nmeros de aceptacin y de rechazo, que no tendra ningn sentido en la prctica. Estos ejemplos sirven nicamente para mostrar cmo se obtiene un plan de muestreo sirvindose de estas tablas.
EJEMPLO 30.
En el ejemplo 27, el NAC tiene un valor de 1,0 y el plan de muestreo es:
Tamao de muestra Nmero de aceptacin Nmero de rechazo
n Ac Re
= = =
125 tems 3 4
No obstante, el NAC debe definirse en trminos del porcentaje de tems no conformes o en nmero de no conformes o en nmero de no conformidades por cada 100 tems. Si el NAC fuera de 1,0 % de tems no conformes, el plan de muestreo sera:
n Ac Re
= = =
Si el NAC fuera de 1,0 tems no conformes por cada 100 tems, el plan de muestreo sera: Tamao de la muestra Nmero de aceptacin Nmero de rechazo n Ac Re = = = 125 tems 3 tems no conformes 4 tems no conformes
Debe advertirse que las tablas se utilizan exactamente de la misma manera en ambos casos
62

3.11 INSPECCIN NORMAL
Se debe recordar que un NAC corresponde a la frontera de separacin entre los productos buenos y los malos en la escala de calidades. Cuando se ha especificado un NAC para un determinado producto, lo ideal sera disponer de un sistema, gracias al cual los lotes pudieran ser siempre aceptados para una calidad mejor que la caracterizada por el NAC y no ser aceptados para una calidad inferior a la caracterizada por el NAC; es decir, una curva caracterstica que descendiera verticalmente sobre el NAC, como la trazada en la Figura 7. No obstante, este ideal es algo que ningn plan de muestreo puede dar, por lo que hay que aceptar una curva que no desciende verticalmente. Por otra parte, la curva caracterstica no puede cortar esta lnea vertical ideal ms que en un solo punto, ahora bien: En qu punto debe cortarla ? Una solucin posible consiste en permitir que la curva corte a la lnea vertical cerca de la base del diagrama, como se muestra en la Figura 8. Tal plan de muestreo ofrece la ventaja de proteger al consumidor, ya que si se presenta para aceptacin un lote cuya calidad es peor a la caracterizada por el NAC, habr una gran probabilidad de que sea rechazado. No obstante, esta solucin no es satisfactoria desde el punto de vista del productor: no se sentir perjudicado si al presentar tems de peor calidad que la caracterizada por el NAC, la mayor parte de ellos son rechazados; pero, por el contrario, tendr razn para sentirse perjudicado si, al presentar tems de mejor calidad que la caracterizada por el NAC, muchos de ellos resultan rechazados. En el caso representado en la Figura 8, solamente se aceptara algo ms de un lote entre cinco, si la proporcin de tems no conformes fuera igual a la mitad del NAC, y se aceptara menos de la mitad de los lotes aunque la proporcin de tems fuera igual a un cuarto del NAC. Es evidente, que esto no es satisfactorio, ya que, si el productor desea evitar rechazos demasiado frecuentes, est obligado a suministrar una calidad netamente superior a la realmente necesaria. Se corre el riesgo de tener dificultades de produccin, de aumentar bastante el precio de los productos y, adems, de deteriorar las relaciones entre el productor y la autoridad responsable de la inspeccin. Hay otra solucin: permitir que la curva corte a la lnea vertical en la parte superior del grfico, como se indica en la Figura 9. Esta solucin satisface al productor, puesto que basta con que introduzca lotes de una calidad igual o superior a la caracterizada por el NAC, para que tenga casi la certeza de que sern aceptados. Sin embargo, el consumidor ser ahora quin se sentir perjudicado ya que si el productor presenta lotes de calidad peor a la caracterizada por el NAC, la probabilidad de que sean aceptados podra ser elevada. Por ejemplo, en el caso representado en la Figura 9, si se presentan lotes que tienen una proporcin de tems no conformes dos veces mayor que el NAC, cerca del 60 % de ellos sern aceptados. Cuando el tamao de la muestra es relativamente pequeo para un NAC dado, un aseguramiento tan elevado para el productor acarreara al consumidor un riesgo demasiado grande.
63
Figura 7. Curva caracterstica de operacin ideal pero irrealizable
Por consiguiente, para nmeros de aceptacin pequeos, es obligatorio aceptar una probabilidad de aceptacin ms pequea que la que corresponde al NAC. La Figura 10 muestra la razn de esto. Las curvas caractersticas se presentan para un NAC del 1 % de tems no conformes y para los tamaos de muestra ms pequeos y ms grandes que corresponden a este NAC. Si la calidad es buena, el productor tiene un mejor aseguramiento con una muestra muy grande que con una pequea, pero la curva va descendiendo con una pendiente ms rpida segn se va otorgando una mayor proteccin al consumidor. Una inspeccin normal, tal como la mostrada en el ejemplo de la Figura 9, est concebida para proteger al productor contra la eventualidad de un porcentaje elevado de lotes rechazados, aun cuando produzca una calidad mejor que la caracterizada por el NAC. Tambin, para la inspeccin normal, las curvas caractersticas cortan a la lnea vertical del NAC en la proximidad de la cumbre, pero el nivel exacto de la interseccin vara de un plan a otro segn el valor del producto: "NAC x Tamao de la muestra", o lo que viene a ser lo mismo, segn el valor del nmero de aceptacin. Con relacin a la Tabla 7, se puede observar que un tamao de muestra grande, para un NAC dado, que conduzca a un valor del producto: "NAC x Tamao de la muestra" de al menos 200, significa, por consiguiente, un aseguramiento para el productor de al menos el 98 % para la aceptacin de su lote, si la calidad es igual a la caracterizada por el NAC y un aseguramiento an ms elevado para una calidad mejor.
64
Figura 8. Curva caracterstica de operacin de un plan de muestreo diseado para dar una probabilidad elevada de rechazo, al someter a inspeccin lotes de calidad inferior al NAC Tabla 7. Porcentaje de lotes que se espera sean aceptados para un valor de calidad de NAC, muestreo simple, inspeccin normal NAC x tamao de la muestra Nmero de aceptacin Porcentaje de lotes que se espera sean (aproximado) aceptados (aproximado) 88,1 0 12,5 90,9 1 50 95,3 2 80 96,1 3 125 98,3 5 200 98,4 7 315 98,5 10 500 98,3 14 800 99,0 21 1 250 98,7 30 2 000 98,5 44 3 150 Nota. Las cifras de la primera columna son aproximadas, ya que es imposible conseguir que los valores de "NAC x Tamao de la muestra" sean exactamente constantes sobre las diagonales de la Tabla II-A. Como resultado las cifras de la tercera columna son tambin, aproximadas, aunque se apreciar que las cifras reales estn siempre muy cerca del valor aproximado dado en esta tabla.
65
Figura 9. Curva OC de un plan de muestreo diseado para dar una alta probabilidad de aceptacin, si se someten lotes de calidad mejor al NAC
3.12
INSPECCIN ESTRICTA
Cuando se necesita realizar una inspeccin estricta, en las tablas se encuentra el plan apropiado, exactamente de la misma forma, excepto que, si se emplean las tablas principales, se utiliza la Tabla II-B en lugar de la Tabla II-A, mientras que si se emplean las tablas adicionales (Tabla X), se encuentra la columna apropiada leyendo el valor del NAC a partir de la parte inferior en lugar de leerse comenzando por la parte superior. En general, puede comprobarse que un plan estricto tiene el mismo tamao de muestra que el plan normal correspondiente, pero con un nmero de aceptacin ms pequeo. No obstante, si el nmero de aceptacin es 1 en inspeccin normal, reducirlo a 0 conducira a un grado de rigurosidad excesivo del plan, y cuando el nmero de aceptacin es de 0 en inspeccin normal, no existen nmeros ms pequeos. En ambos casos, el aumento de rigurosidad se obtiene aumentando el tamao de la muestra y manteniendo el nmero de aceptacin igual al de la inspeccin normal. Las curvas caractersticas de operacin (curvas OC) para inspeccin estricta no se presentan con el fin de evitar confusin al poner demasiada informacin en los diagramas. Sin embargo, los valores de las posibilidades de aceptacin se dan en las Tablas X, y donde existe un plan, tanto como plan normal para un NAC y como plan estricto para un NAC diferente, se aplica la misma curva caracterstica en ambos casos. Es preciso recordar que las cifras utilizadas para identificar las curvas se refieren a los valores del NAC correspondientes a una inspeccin normal.
66

EJEMPLO 31.
Supngase que el NAC es 1,0, el nivel de inspeccin II, el tamao del lote 2 500. Segn la Tabla Y, la letra clave es la K. Utilizando de la Tabla X-K-2, el plan estricto es el siguiente: Tamao de la muestra n Nmero de aceptacin Ac Nmero de rechazo Re = = = 125 tems 2 tems no conformes. 3 tems no conformes.
Este plan es el mismo que el plan normal para una letra clave K y un NAC de 0,65. Su curva caracterstica de operacin (curva OC)es, por consiguiente, la marcada con 0,65 en el grfico K. 3.13 REGLAS DE CAMBIO. EJEMPLO
El numeral 2.9 introduce el concepto de inspeccin normal y estricta; adems, las ltimas dos clusulas anteriores han analizado estos conceptos, lo que cada uno puede hacer y el modo de utilizar las tablas con el propsito de encontrar los planes de muestreo apropiados. En el numeral 2.11 se estudian las reglas de cambio por medio de las cuales se puede tomar la decisin de cambiar de una inspeccin normal a una estricta, o viceversa [vase el numeral 9.3], o, alternativamente, descontinuar el proceso si el nmero acumulado de lotes no aceptados en una inspeccin estricta, alcanza el valor de 5 [vase el numeral 9.4]. En este numeral se presenta un ejemplo que ilustra las reglas de cambio de la inspeccin mediante el uso de la NTC-ISO 2859-1.
Figura 10. Curva caracterstica para dos planes de muestreo, inspeccin normal, para el 1,0 % de no conformidades
67

EJEMPLO 32.
Un producto se suministra en lotes de 4 000. El NAC es del 1,5 % de tems no conformes. El nivel de inspeccin es III. Se practica el muestreo simple. La Tabla I da como letra clave la letra M y se encuentra que los planes de muestreo que se van a aplicar, son:
Inspeccin normal 315 10 11 Inspeccin estricta 315 8 9
Tamao de la muestra Nmero en aceptacin Nmero en rechazo
La Tabla 8 muestra los resultados de la inspeccin de los 25 primeros lotes. Es corriente la aplicacin de una inspeccin normal al comienzo de la produccin, que es lo que se hace en este ejemplo. La no aceptacin de los lotes 4 y 10 no produce el paso a una inspeccin estricta ya que en un ninguno de estos casos se aplica la regla de dos sobre cinco; sin embargo, la no aceptacin del lote 12 que se produce despus de la no aceptacin del 10, implica el paso a una inspeccin estricta a partir del lote 13. Al pasar el lote 21 han sido ya aceptados en inspeccin estricta cinco lotes sucesivos, por lo que se vuelve a una inspeccin normal a partir del lote 22.
Tabla 8. 25 Lotes de un proceso hipottico de inspeccin Nmero del lote 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 Tamao del lote 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 Tamao de la muestra 315 315 315 315 315 315 315 315 315 315 315 315 315 315 315 315 315 315 315 315 Ac Re tems no conformes 7 2 4 11 9 4 7 3 2 12 8 11 7 8 4 9 3 5 2 7 Resultado Medidas a tomar
10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 8 8 8 8 8 8 8 8
11 11 11 11 11 11 11 11 11 11 11 11 9 9 9 9 9 9 9 9
A A A N A A A A A N A N A A A N A A A A A A A A A
Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Pasar a estricta Contine estricta Contine estricta Contine estricta Contine estricta Contine estricta Contine estricta Contine estricta Contine estricta Retornar a normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal
6 9 8 315 4 000 21 7 11 10 315 4 000 22 2 11 10 315 4 000 23 5 11 10 315 4 000 24 3 11 10 315 4 000 25 NAC = 1,5 % no conformes, de nivel III de inspeccin (vase el ejemplo 32) A = Aceptacin; N = No aceptable
68

3.14
MTODOS PARA REDUCIR LOS RIESGOS
En una inspeccin por muestreo existir el riesgos de aceptar lotes malos o de no aceptar lotes buenos; sin embargo estos riesgos sern tolerables siempre que se hayan elegido satisfactoriamente el NAC y el nivel de inspeccin. Si el productor o el consumidor considera en su caso en particular que su riesgo es demasiado alto, sera conveniente chequear que el NAC y el nivel de inspeccin se han elegido correctamente. En el resto de estas subclusulas se supondr que estos son apropiados y fueron seleccionados apropiadamente. El productor estar interesado en reducir su riesgos cuando la calidad sea mejor que el NAC; (por otra parte, el no esta autorizado para reducir el riesgo). y el consumidor estar particularmente interesado en los riesgos cuando la calidad es peor que el NAC, as como en el caso que la calidad sea mejor que el NAC, en cuyo caso recibir la calidad requerida Existen tres mtodos que se pueden utilizar para reducir los riesgos de ambas partes. El primer mtodo consiste en mejorar la calidad durante la produccin, lo cual puede parecer obvio, pero es muy fcil olvidar la regla simple cuando se discuten planes de muestreo, curvas OC, reglas de cambio, etc., de que un bajo porcentaje de no conformes en la produccin aumenta la probabilidad de aceptacin al productor. El segundo mtodo se aplica solo en un caso particular, pero este es el caso que causa mayor ansiedad, ya que el nmero de aceptacin es 0. Los planes con un nmero de aceptacin cero darn curvas OC con una inclinacin tan reducida, que corresponden inevitables a los riesgos ms elevados. Por esta razn, la NTC-ISO 2859-1 permite el uso de una alternativa cuando las tablas conducen a un nmero de aceptacin cero (siempre que la autoridad responsable de la inspeccin lo acepte). Esta alternativa consiste en utilizar el muestreo para el mismo NAC, con un nmero de aceptacin 1, en lugar de cero [vase el numeral 10.3]. Esto tiene su precio, ya que se requiere de un tamao de muestra cuatro veces mayor, pero los riesgos para ambas partes se reducen tanto que vale la pena. Este costo se puede reducir al adoptar un muestreo doble o mltiple (vanse los numerales 2.20 y 2.21). Solo se disponen de estas alternativas cuando el nmero de aceptacin es 1 o ms. El muestreo secuencial es otra posibilidad, pero no esta cubierto por el alcance de esta seccin. El tercer mtodo consiste en considerar la posibilidad de aumentar el tamao del lote. Si el tamao del lote puede aumentarse lo suficiente para cambiar la letra clave y aumentar el tamao de la muestra, los riesgos se reducirn para ambas partes, ya que un tamao de muestra mayor conduce a una curva caracterstica con una pendiente mayor; las tablas estn hechas de tal manera que esta curva quedar por encima de la anterior en la mayor parte de los puntos donde la calidad es mejor que la caracterizada por el NAC, y por debajo para la mayor parte de los puntos en los que la calidad es inferior al NAC. Desafortunadamente, no es posible conformar las tablas de tal modo que estas caractersticas sean siempre las que se desean, sin perder otras. La Figura 11 muestra, como ejemplo, cuatro planes de inspeccin normal asociados a un NAC de 1,5 % de tems no conformes. Para una calidad mejor que el NAC se ve que mientras mayor es la muestra, mayor es la proporcin de los lotes aceptados. Para una calidad inferior a dos veces el NAC, la muestra mayor no acepta la mayora de los lotes y con la muestra menor se acepta una proporcin mayor proporcin de lotes (se desea que el plan tan a menudo como sea posible no acepte el lote, cuando la calidad 69
es peor que el NAC). El punto de interseccin de las curvas para los tamaos de muestra 32 y 50 no es satisfactorio. La idea de aumentar los tamaos de los lotes para obtener una mejor proteccin en el muestreo, puede ser objetado ya que no siempre es fcil o razonable cambiarlos. El tamao de lote debe fijarse en funcin de parmetros tales como la continuidad de la produccin, la cantidad de producto que puede manipularse al mismo tiempo, los problemas de transporte, los problemas de control de inventarios, etc. Todo esto es cierto, sin embargo es conveniente recordar que en igualdad de condiciones, el incremento del tamao del lote puede servir de gran ayuda desde el punto de vista de la inspeccin por muestreo. Se recomienda remitirse al numeral 3.4 para un anlisis ms amplio sobre el tamao del lote. Al examinar la altura de las curvas presentadas en la Figura 11, a dos, tres y cuatro veces el NAC, hay que recordar que las curvas muestran solo la parte correspondiente a la inspeccin normal. Para casi todos los planes en inspeccin normal, en la NTC-ISO 2859-1 el porcentaje de lotes aceptados cuando la calidad es dos veces el NAC, es menos del 80 % Semejante proporcin de aceptacin tan baja siempre conducir a una inspeccin estricta en poco tiempo. En algunas circunstancias es posible decidir que no vale la pena el compromiso necesario al usar un sistema completo de muestreo. Las partes, pueden, en este caso, acordar un plan a partir de las curvas OC, pero cuando se adopta este enfoque, las partes deben estar informadas para que el resultado sea satisfactorio. 3.15 INSPECCIN REDUCIDA
Algunas veces hay evidencia que la calidad de la produccin es mejor que el NAC. Donde esto ocurre y hay razones para suponer que esta calidad continuar, no es necesario un plan de muestreo para separar los lotes buenos de los lotes malos ya que todos los lotes sern buenos. Sin embargo la inspeccin no se puede obviar del todo puesto que se requiere de una advertencia, en caso que la calidad de la produccin desmejore. En estas circunstancias, se puede conseguir un ahorro considerable, utilizando un plan de inspeccin reducida con tamaos de muestra de las dos quintas partes del tamao correspondientes a un plan de inspeccin normal (salvo cuando el plan de inspeccin normal tenga un tamao de muestra menor a 5, y la proporcin es mayor a las dos quintas partes, ya que una inspeccin reducida requiere de un tamao de muestra de al menos 2. A simple vista, se puede pensar que la mejor forma de reducir el tamao de la muestra, consiste en tomar una letra clave anterior en el orden alfabtico, pero tambin podra reducir la proporcin de lotes que se espera sean aceptados con el NAC. Esto penalizara al productor por realizar un buen trabajo; este resultado sera claramente insatisfactorio por esto es necesaria una tabla especial para la inspeccin reducida, la que corresponde a la Tabla II-C de las tablas generales. La implementacin de la inspeccin reducida no es obligatoria. El uso de la inspeccin estricta, s es esencial para el esquema cuando se dan las condiciones para las reglas de cambio, pero la inspeccin reducida es totalmente opcional; an si se obtienen las condiciones de cambio necesarias, no es obligatorio que el consumidor las introduzca a menos que l lo desee o el contrato especifique su uso.
70
Figura 11. Cuatro planes de muestreo para un NAC de 1,5 % de no conformes, inspeccin normal, muestreo simple
Las reglas de cambio [vase el numeral 9.3.3] estn diseadas para asegurar que la inspeccin reducida no se introduce a menos que la calidad observada es realmente buena y probablemente continuar as para determinar si la inspeccin reducida, es permisible, la historia reciente de la produccin tiene que ser comparada con un nmero lmite tomado de la Tabla VIII.
EJEMPLO 33.
Un producto en elaboracin ha de ser inspeccionado en las condiciones siguientes: NAC: 10 % de tems no conformes, tamao del lote = 4 000 tems, nivel de inspeccin I con muestreo simple. El plan normal para la letra clave J es :
Tamao de la muestra: n Nmero de aceptacin: Ac Nmero de rechazo: Re
= = =
80 tems. 14 tems no conformes. 15 tems no conformes.
71
La Tabla 9 presenta los resultados del proceso de inspeccin. La inspeccin normal es usada al comienzo de la tabla, y corresponde a una parte de una serie ms larga. Los primeros resultados en la lista son buenos, aceptndose todos los lotes con un nmero de tems no conformes en cada muestra muy por debajo del nmero de aceptacin. Despus de haber inspeccionado la muestra tomada del lote 51, el inspector se pregunta si sera admisible la aplicacin de una inspeccin reducida. As, se cuenta el nmero total de tems no conformes en las muestras de los ltimos 10 lotes y se encuentra que asciende a 70 en un total de 800 tems inspeccionados. En la Tabla VIII se encuentra que el nmero lmite es de 68 para 800 tems y un NAC de 10, por lo que 70 es demasiado elevado y an no es admisible cambiar a una inspeccin reducida. Despus de seguir obteniendo muy buenos resultados, se decide hacer un nuevo intento una vez se ha inspeccionado el lote 55. El nmero de tems no conformes encontrados en los 10 ltimos lotes es ahora slo de 54, y este valor se encuentra dentro del lmite. As, se permite practicar una inspeccin reducida, puesto que los 10 lotes precedentes han sido aceptados en inspeccin normal y la produccin esta a una tasa estable. El concepto de "una produccin a una tasa estable", varia de una industrias para otra. Fundamentalmente, significa que no ha habido ninguna interrupcin en la fabricacin, que pudiera invalidar el argumento de que la calidad actual seguramente es buena, porque los ltimos resultados registrados han sido buenos. El sentido exacto de la expresin "una produccin a una tasa estable" depender del criterio tcnico basado en la consideracin de todos los factores cuya variacin pueda afectar la calidad del producto. Puesto que la decisin de cambiar a una inspeccin reducida es opcional, el regreso a una inspeccin normal est permitido siempre que se quiera y debe efectuarse cuando la fabricacin se torne irregular o se retarde, o cuando otras condiciones conduzcan a estimarla necesaria. El regreso a una inspeccin normal es obligatorio cuando un lote en inspeccin reducida no es aceptado.
Tabla 9. Quince lotes de un proceso de inspeccin hipottico Ac Re
Nmero del lote 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55
Tamao del lote 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000
Tamao de la muestra 80 80 80 80 80 80 80 80 80 80 80 80 80 80 80
tems no conformes 7 5 7 6 9 7 9 8 6 5 8 4 3 1 3
Resultado
Medidas a tomar
14 14 14 14 14 14 14 14 14 14 14 14 14 14 14
15 15 15 15 15 15 15 15 15 15 15 15 15 15 15
A A A A A A A A A A A A A A A
Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Contine normal Cambiar a reducida
NAC = 10 % no conformes, de nivel I de inspeccin (vase el ejemplo 33) A = Aceptacin
Los planes de muestreo reducido tienen la caracterstica poco usual de presentar un intervalo entre el nmero de aceptacin y el de rechazo. Segn la regla, si el nmero de tems no 72
conformes comprobado es inferior o igual al nmero de aceptacin, el lote se acepta y se contina aplicando una inspeccin reducida (a no ser que existan otras condiciones que obliguen al regreso a una inspeccin normal). Si se alcanza o sobrepasa el nmero de rechazo, el lote no se acepta y a partir del lote siguiente se aplica la inspeccin normal. Sin embargo, si el resultado se encuentra en el intervalo que separa el nmero de aceptacin del nmero de rechazo, se acepta el lote aunque se restaura la inspeccin normal [vase el numeral 11.1.4] Los tamaos de la muestra en un rgimen de inspeccin reducida, siguen la misma serie de nmeros que para la inspeccin normal, pero con dos etapas de retraso. Esto da tambin constancia sobre los diagonales. Se observar que no se presentan las curvas caractersticas de operacin para la inspeccin reducida. Esto se ha hecho deliberadamente por dos razones: primera, porque tienden a confundir ya que el ojo apreciara la totalidad de la curva a pesar de que su extremo derecho no tiene aplicabilidad en este caso, (debido a que la inspeccin reducida slo est permitida cuando se sabe, por los ltimos resultados, que el porcentaje de tems no conformes es inferior al NAC y que hay buenas razones para confiar que esta buena calidad se mantendr). Segunda, porque si la ordenada de las curvas representa el "porcentaje de lotes que se espera que sean aceptados", esta expresin no es aplicable a la inspeccin reducida, porque basta que un solo lote sea rechazado para que se vuelva a la inspeccin normal. A veces, al consultar la Tabla VIII, se encuentra un asterisco en lugar de un nmero. Esto significa que el nmero de tems muestreados de los diez ltimos lotes no es suficiente para poder juzgar si es admisible pasar a una inspeccin reducida. En cuyo caso se tomar un nmero de lotes superior a 10 hasta que se encuentre un nmero en la tabla. El primer nmero que se encuentra es siempre 0, por lo que esta tcnica slo se debe adoptar cuando se haya comprobado que no hay ningn tem no conforme en las muestras tomadas de ms de 10 lotes sucesivos.
EJEMPLO 34. La Tabla 10 es la continuacin del ejemplo de la Tabla 8. Se han aceptado veinte lotes en inspeccin reducida, desde el lote 56 hasta el 75. El plan reducido se encuentra en la Tabla IIC, y es: Tamao de la muestra: Nmero de aceptacin: Nmero de rechazo: n Ac Re = = = 32 tems 7 tems no conformes. 10 tems no conformes.
Se encuentran 7 o menos tems no conformes en cada muestra hasta el lote 81, y se contina en inspeccin reducida. Los 9 tems no conformes del lote 82 obligan a volver a la inspeccin normal, aunque se acepta el lote. Tres lotes despus, hay que imponer la inspeccin estricta ya que dos lotes (la No. 83 y 85) entre los cinco ltimos en inspeccin normal, no han sido aceptados. Como la inspeccin reducida es opcional, un inspector consciente habra establecido la inspeccin normal a partir del lote 79, despus de haber observado que haba 14 tems no conformes en las 96 tems inspeccionados de los lotes 76, 77 y 78, lo que pareciera indicar que ya no se estaba cumpliendo con el NAC de 10 %
73
Se debe sealar que la inspeccin reducida no es el nico procedimiento que puede emplearse cuando el nivel de la calidad del productor es mejor que el NAC. Algunas veces podra ser ventajoso utilizar los procedimientos de muestreo intermitentes (vase la NTC-ISO 2859-3). En caso de que los procesos de control de calidad del fabricante sean satisfactorios y los niveles de calidad sean significativamente mejores que el NAC, puede aplicarse la inspeccin indirecta. El comprador puede entonces reemplazar su muestreo de aceptacin por los resultados de la inspeccin obtenido por el productor. 3.16 MUESTREO DOBLE Y MLTIPLE
Los principios para seleccionar planes dobles o mltiples a partir de las tablas, son semejantes a los del muestreo simple, aunque se utilizan las tablas principales III o IV en lugar de la Tabla II) o la parte apropiada de la pgina al usar las tablas adicionales X. Cuando se utilizan las tablas adicionales, es necesario asegurarse de que se han tomado los tamaos de muestra correctos, ya que las tablas proporcionan nicamente los tamaos acumulados. No obstante, todos los planes tienen la caracterstica comn de que las muestras sucesivas tienen el mismo tamao que la primera muestra y esta regla es fcil de recordar. Cuando el plan de muestreo simple apropiado tiene un nmero de aceptacin de cero o un tamao de muestra igual a 2, no se dispone de un plan doble. Cuando el plan de muestreo simple apropiado tiene un nmero de aceptacin de cero, o un tamao de muestra de 2, 3 5, no se dispone de un plan mltiple. La alternativa consiste en, o bien practicar un muestreo simple, o bien, adoptar el plan doble o mltiple correspondiente al tamao de muestra inmediatamente superior disponible para el NAC requerido.
EJEMPLO 35. Si el NAC es de 0,40 y la letra clave es G, la Tabla III-A tiene un asterisco que hace referencia a una nota al pie de pgina. Se podr utilizar la Tabla II-A (plan simple), en cuyo caso, el plan ser: Tamao de la muestra: Nmero de aceptacin: Nmero de rechazo: n Ac Re = = = 32 tems 0 tems no conformes 1 tem no conforme.
o bien, se continuar buscando en la Tabla III-A, descendiendo en la columna de 0,40 hasta encontrar el plan doble bajo la letra clave K que es:.
Tamao de muestra Nmero de aceptacin Nmero de rechazo Primera 80 0 2 Segunda 80 1 2 Combinada 160
74
Si se emplean las tablas adicionales, se encontrarn las mismas alternativas. Para un muestreo doble o mltiple con inspeccin reducida, si se obtiene un resultado en la ltima muestra que est en el intervalo comprendido entre el nmero de aceptacin y el de rechazo, significa que hay que tomar otra muestra, igual que para una inspeccin normal o estricta, slo que ahora hay tambin un intervalo entre los nmeros definitivos de aceptacin y de rechazo. Un resultado comprendido en este ltimo intervalo significa que el lote se debe aceptar pero se debe reestablecer la inspeccin normal, igual que en un muestreo simple reducido. En la Tabla IX figuran las curvas del "tamao medio de la muestra" para el muestreo doble o mltiple, estos se pueden utilizar para decidir si la ventaja obtenida al aplicar un muestreo doble o mltiple, en lugar de un muestreo simple, es suficiente para que valga la pena su aplicacin (vase el numeral 12.5). Las curvas se clasifican segn el valor del nmero de aceptacin en muestreo simple y son necesariamente aproximaciones hasta cierto punto, porque no pueden aplicarse exactamente a todos los planes dados. El abcisa de cada curva est graduado en unidades que expresan "n veces la proporcin de tems no conformes", expresin en la que n es el tamao de muestra del plan de muestreo simple correspondiente. En cada caso particular, este eje puede dividirse por n para obtener una escala que exprese la proporcin de tems no conformes. La ordenada expresa fracciones de este mismo valor de n. La lnea trazada en lo alto de cada diagrama representa, por tanto, el tamao de muestra simple, y la eficacia de los planes doble y mltiple puede juzgarse por medio de sus curvas en relacin con esta lnea superior. Obsrvese que en el curso de una inspeccin por muestreo, se espera que la mayor parte del tiempo se usar una inspeccin normal, a la vez de que los lotes sern de una calidad mejor a la del NAC. En este caso, las partes ms significativas de estas curvas son las situadas a la izquierda de las flechas de la lnea de la base. En los grficos en los que no figura ninguna flecha, se refieren a nmeros de aceptacin utilizados nicamente en inspeccin estricta. Cuando para un plan de muestreo simple el nmero de aceptacin es 1, el plan mltiple es, casi siempre, menos eficaz que el plan doble. No es posible obviar este inconveniente sin que las tablas pierdan otras propiedades valiosas. En estas condiciones, es preferible usar un muestreo doble, a no ser que existan buenas razones, distintas a las del tamao medio de la muestra, para querer aplicar un muestreo mltiple. La Tabla X supone que no se aplica la suspensin de la inspeccin descrita en el numeral 2.22.
75
Tabla 10. Diez lotes tomados en el curso de una inspeccin hipottica Nmero del lote 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 Tamao del lote 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 4 000 Tamao de la muestra 32 32 32 32 32 32 32 80 80 80 tems no conformes 5 2 7 3 1 4 9 17 12 15 Resultado A A A A A A A N A N Medidas a tomar
Ac 7 7 7 7 7 7 7 14 14 14
Re 10 10 10 10 10 10 10 15 15 15
Contine reducida Contine reducida Contine reducida Contine reducida Contine reducida Contine reducida Retornar a normal Contine normal Contine norma Cambiar a estricta
NAC = 10 % no conformes, de nivel I de inspeccin (vase el ejemplo 34) A = Aceptacin; N = No aceptable
EJEMPLO 36. Se aplica el plan de muestreo simple correspondiente a la letra clave K y a un NAC del 2,5 % de no conformes:
n Ac Re
= = =
Se est considerando la utilizacin de un muestreo doble o mltiple en lugar de ste. La curva de la Tabla IX que se debe consultar es la designada por Ac = 7, refirindose al nmero de aceptacin. Si se desea, puede dividirse el eje inferior por 125, tamao de la muestra, y multiplicar el resultado por 100 para obtener una escala graduada en porcentaje de tems no conformes. Las cifras 3, 6, 9 y 12 se convertiran entonces en 2,4 %, 4,8 %, 7,2 % y 9,6 % de conformes. En general no es necesario realizar esta operacin. De igual manera, puede atribuirse a la escala de la izquierda los valores 1/4, 1/2, 3/4 de 125. Al observar las curvas, se comprobar que:
a)
El plan doble tiene un tamao de muestra menor que el plan simple y el plan mltiple tiene siempre un tamao medio menor que el plan doble; Si la calidad es perfecta, el tamao de muestra de un plan doble es alrededor de los 2/3 del tamao de muestra de un plan simple, y la muestra de un plan mltiple es alrededor de la cuarta parte de un plan simple; En el nivel aceptable de calidad (NAC) estas proporciones se elevan hasta alrededor de los 70 % y 60 % respectivamente del plan simple; 76
b)
c)

d)
El valor promedio mximo de la muestra de un plan doble es ligeramente superior a los 9/10 de la muestra de un plan simple, y el valor medio mximo de la muestra de un plan mltiple es ligeramente superior al 8/10 de la muestra de un plan simple.
3.17
CALIDAD LMITE Y LOTE AISLADO
En la NTC-ISO 2859-1 se supone que se presentan una serie de lotes aceptables, por lo que la parte alta y a la izquierda de la curva caracterstica es la ms importante. Sin embargo, cuando el producto viene en un lote nico aislado o una serie corta de lotes, la parte baja y a la derecha de la curva tambin es importante, ya que indica la probabilidad de aceptar un lote malo al presentarlo entre una serie de lotes buenos. Esto resulta particularmente significativo cuando se compra un solo lote de una serie. Para resolver los casos de esta naturaleza, se han establecido las Tablas VI-A, VI-B, VII-A y VII-B [vase el numeral 12.6]. Las Tablas VI-A y VII-A expresan el lmite de calidad en porcentaje de tems no conformes y las Tablas VI-B y VII-B en nmero de no conformidades por cada cien tems. Es necesario separar los dos casos, ya que las respuestas son algo diferentes en el extremo inferior y a la derecha de la curva son los CL10 y CL5 (vase el numeral 2.8). Los valores que figuran en las tablas CL son los mismos que se encuentran en las curvas caractersticas de las tablas adicionales pero resulta til reunirlos en una sola tabla. Las tablas se refieren al muestreo simple, pero son igualmente aplicables, de forma aproximada a los planes doble y mltiple.
EJEMPLO 37. Debe inspeccionarse un lote aislado. Se ha resuelto que deber exigirse una buena probabilidad de aceptacin si la calidad del lote es de 1,0 % tems no conformes; pero debera tener una probabilidad de aceptacin del 10 % si la calidad es casi el 4,0 % de tems no conformes. Respetando estas condiciones, se requiere el menor tamao de muestra conforme a las tablas. Bajo la columna para un NAC de 1,0, en la Tabla VI-A, es necesario encontrar un nmero inferior o igual a 4,0. La letra clave M es la primera que satisface estas condiciones para un valor del CL de 3,7 % de tems no conformes. Remitindose a las tablas adicionales se encuentra el plan deseado y su curva caracterstica, a saber:
n Ac Re
= = =
No est de ms recordar en este momento, el significado de la curva caracterstica. Un CL de 3,7 % de tems no conformes significa que si el lote contiene 3,7 % de tems no conformes, la probabilidad de que sea aceptado es de un 10 %. Esto no significa que exista una probabilidad del 10 % de que el lote contenga 3,7 % de tems no conformes. 77
Se puede observar que los valores del CL son siempre ms altos que los del NAC, y en algunos casos mucho ms altos, pero mientras se incrementa el tamao de muestra se va disminuyendo la diferencia entre los dos valores. Cuando se inspecciona un lote aislado, a diferencia de un lote en una serie de lotes, los valores del CL deben considerarse aproximados si el tamao de la muestra sobrepasa la quinta parte del tamao del lote. En estas condiciones, el valor real ser un poco inferior al que figura en las tablas. En la NT-ISO 2859-2 se presentan detalles adicionales relacionados con el mtodo de muestreo para lotes aislados.
3.18
TAMAO DE MUESTRAS
Los tamaos de las muestras dadas en la NTC-ISO 2859-1 para un muestreo simple forman una serie (como la serie de los valores del NAC) escalonada de manera que cada nmero es, ms o menos, igual a 1,585 veces el precedente. Esto significa que el producto NAC multiplicado por el tamao de la muestra es aproximadamente constante sobre las diagonales de izquierda -abajo a derecha - arriba en la Tabla II-A, lo que conduce a una Tabla lgica en s misma si los nmeros de aceptacin se eligen tambin de manera que sean constantes a lo largo de las diagonales. Esta caracterstica es ms til para construir las tablas que para utilizarlas, aunque el patrn resultante significa que las tablas se prestan para elaborar resmenes convenientes, nomogramas especiales o reglas de clculo que pueden ser prcticos. Vase por ejemplo el numeral 3.21 y las Figuras 12 y 13. En el muestreo doble o mltiple (vanse los numerales 2.20, y 2.21) los tamaos de las muestras siguen el mismo patrn, aunque para una letra clave dada, el tamao de la muestra doble est retrasado un lugar en la serie con relacin al muestreo simple, mientras que el tamao de la muestra mltiple est retrasado dos lugares con relacin al del muestra doble. Los tamaos de las muestras para una inspeccin reducida estn siempre retrasados dos lugares con relacin a los tamaos correspondientes a una inspeccin normal. De lo anterior resulta que a cada letra clave dada corresponden cinco valores distintos de tamao de la muestra segn se efecte un muestreo simple, doble o mltiple y segn que la inspeccin sea o no reducida (vase el numeral 2.15). Esta es la razn por la cual es necesario disponer de letras clave para indexar las Tablas, en lugar de los valores de los tamaos de las muestras. 3.19 CURVAS CARACTERSTICAS DE OPERACIN
Las tablas adicionales X de la NTC-ISO 2859-1 muestran tanto las curvas caractersticas como los valores tabulados a partir de los cuales se han obtenido dichas curvas. Estas son aplicables a un muestreo simple. pero las curvas correspondientes a un muestreo doble o mltiple se ajustan a stas de una forma muy aproximada (vase el numeral 12.1). Las curvas caractersticas, presentadas en la NTC-ISO 2859-1, muestran que cuando el nmero de aceptacin es cero, la parte superior de la curva es bastante difcil de leer con exactitud. Para esta parte superior de las curvas existe una frmula aproximada y simple lo suficientemente exacta para los fines prcticos, cualquiera que sea el tamao de la muestra. 78

Esta frmula es la siguiente:
Porcentaje de lotes que se espera que sean aceptados = 100 - n (porcentaje de tems no conformes en los lotes presentados).
Note que esta frmula slo puede aplicarse cuando el nmero de aceptacin es cero y solamente para la parte superior de la curva; es decir, cuando el porcentaje de lotes que se espera sean aceptados es igual o mayor que 80 %
EJEMPLO 38.
Con un NAC de 0,40 % de tems no conformes y la letra clave G. El plan de muestreo es:
Tamao de la muestra: n Nmero de aceptacin: Ac Nmero de rechazo:
= = Re
32 tems 0 tems no conformes. = 1 unidad defectuosa.
Cul es el porcentaje de lotes que se espera sean aceptados para este NAC?. La respuesta es;
100 - (32 x 0,40 %) de los lotes = 87,2 % de los lotes.
Este valor es cercano al valor exacto de 88,0 %, calculado a partir de la expresin:

100 (1-0,0040)
32
EJEMPLO 39.
En las mismas condiciones, cual debera ser el porcentaje de tems no conformes en los lotes presentados, para que sean aceptados el 95 % de los lotes?. La frmula precedente, escrita en otra forma establece que:
Porcentaje de items no conformes en los lotes presentados = 100 porcentaje de lotes presentados a ser aceptados tamao de la muestra 100 95 = 0,156 % de items no conformes 32
Este valor es muy cercano al valor de 0,160 % dado por la Tabla X-G-1 de la NTC-ISO 2859-1. 79

3.20
TABLA DE LCMS (vase el numeral 2.12 de la teora)
Las Tablas V-A y V-B presentan los factores de LCMS para los planes de muestreo simples normal y estricto. Se aplican, tambin, aproximadamente, a los planes dobles y mltiples equivalentes. Si se requieren valores ms exactos de LCMS, se multiplica el valor tabulado por factor de correccin f siguiente:
a)
Para el caso de inspeccin por porcentaje de tems no conformes:
f = 1
2n 2N
(para Ac >0), y
f =1
n 1 2N 2n
(para Ac=0), donde
Donde: n = es el tamao de muestra
es el tamao de lote
b)
Para el caso de inspeccin por no conformidades por 100 tems:

f =1 Ac x n (2Ac + 3) N
(para todo valor de Ac)
Notas: 6) Si el factor de correccin citado, cualquier que sea apropiado, es cercano al valor de 1,00, entonces no se hace mucha diferencia y pueden emplearse los valores tabulados sin ninguna correccin; de otra forma, es preferible usar el factor. En el caso de la inspeccin de no conformidades por cada cien tems, no se requiere ninguna correccin Cuando Ac=0
7)
El anlisis de la Tabla V-B mostrar que, con excepcin de la diagonal superior (para la cual el nmero de aceptacin es 0), el valor del LCMS para la inspeccin estricta es siempre cercano al valor de NAC. Si se requiere mantener esta relacin entre el NAC y el LCMS en la inspeccin estricta, entonces se debe hacer uso a la opcin de emplear los planes con un nmero de aceptacin de 1, en lugar de aquellos que tienen un nmero de aceptacin de 0.
EJEMPLO 40.
Para un tamao de lote de 400, un NAC de 4,0 % de tems no conformes y un nivel de inspeccin II, se encuentra que la letra clave es H. En caso de inspeccin normal, el 80
LCMS se encuentra en la Tabla V-A con un valor de 6,3 %, por lo que un valor ms exacto es:
6,3 x (1
2 x 50 3 x 400
) = 5% items no conformes
Notas: 8) 9) Los valores reales del LCMS pueden obtenerse mediante un clculo complicado que hace uso de la distribucin hipergeomtrica. En el caso del ejemplo anterior, el valor real del LCMS es de 5,81 % En el ejemplo anterior, si la inspeccin fuese por no conformidades por cada cien tems, en vez de porcentaje de tems no conformes, el valor del LCMS sera el siguiente:
6,3 x 1
= 6,0 ( para un Ac = 5 ) (10 + 3) x 400

5 x 50
3.21
NOMOGRAMAS
En la elaboracin de las tablas de la NTC-ISO 2859-1 se han utilizado determinadas frmulas matemticas que permiten relacionar algunas caractersticas de las tablas bajo una forma simplificada, tal como se indica en las Figuras 12 y 13. Estos nomogramas no reemplazan a las tablas, pero pueden ser de inters ya que muestran las relaciones entre diferentes valores, y pueden ser tiles porque muestran, en una forma condensada, una parte de las informaciones contenidas en las tablas. Para usar la Figura 12 supngase que se desea conocer cual es (en muestreo simple e inspeccin normal) el tamao de muestra correspondiente a la letra clave H. Una lnea recta que une el punto dado H en la escala de la izquierda con el punto denominado simple (normal o estricta) de la escala de la derecha, corta la escala central en el valor 50, que es el tamao buscado de la muestra.
Nota 10. Antes que trazar lneas sobre la Figura, es preferible utilizar una regla, o unir los dos puntos con un hilo, con el fin de mantener la pgina limpia para su uso futuro.
81
Se procede igual con la Figura 13. Si se desea saber cul es el nmero de aceptacin que corresponde a un tamao de muestra 50 para un NAC de 2,5, una lnea recta corta la escala del centro en el valor 3 en inspeccin normal 2 en inspeccin estricta.
Figura 12. Nomograma que da el tipo de muestreo, la letra clave y el tamao de muestra que figura en la NTC - ISO 2859-1
82
Figura 13. Nomograma para el NAC que da el tamao de la muestra y los nmeros de aceptacin que figuran en la NTC-ISO 2859-1
83

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SECCIN 2: INTRODUCCIN GENERAL AL MUESTREO DE ACEPTACIN

PROPSITO DE LA INSPECCIN POR MUESTREO

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tamao de muestra nmero de aceptacin

Figura 1. CMS y su lmite LCMS

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NO CONFORMIDAD E TEMS NO CONFORMES

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No. de items no conformes x 100 No. total de items = (20/500) x 100 = 4

No. de no conformidades x 100 No. total de items =(26/500) x 100 = 5,2

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redondeando al entero inferior ms cercano, se tiene que d = 6

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(N-d/2)(1-1/(d+1)) = (3 454-3) (1-0,0011/7) = 3 451 x 0,0627 24 = 2 164,61

Tamao de la muestra Nmero de aceptacin Nmero de rechazo

2 165 0 tems no conformes. 1 tem no conforme

redondeando al entero superior, se tiene que N = 4 109 El tamao de muestra es:

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Tamao de la muestra: Nmero de aceptacin: Nmero de rechazos:

125 tems. 2 tems no conformes. 3 tems no conformes.