6 CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA DE FABRICAO

6
th
BRAZILIAN CONFERENCE ON MANUFACTURING ENGINEERING
11 a 15 de abril de 2011 Caxias do Sul RS - Brasil
April 11
th
to 15
th
, 2011 Caxias do Sul RS Brazil

Associao Brasileira de Engenharia e Cincias Mecnicas 2011

USO DA TCNICA DE PERFILOGRAFIA PARA VISUALIZAO DOS
MODOS DE TRANSFERNCIA METLICA NO PROCESSO DE
SOLDAGEM GMAW USANDO UMA CMERA CMOS DE ALTA
VELOCIDADE

Lopera, Jess Emilio Pinto, jesusemilio@unb.br
1

Ramos, Esdras Godinho, esdrasgr@gmail.com
1

Carvalho, Guilherme Carib de, gccarval@unb.br
1

Alfaro, Sadek C Absi, sadek@unb.br
1


1
Universidade de Braslia, Departamento de Engenharia Mecnica, Braslia, DF, 70.910-900, Brasil


Resumo: Desde a sua primeira apario na dcada dos anos oitenta, a tcnica de Perfilografia (shadowgraph) foi
reconhecida como uma ferramenta interessante na filmagem dos processos GMAW e no estudo da transferncia
metlica. Devido significativa melhora nos sistemas de aquisio e armazenamento de imagens digitais, surgidos
nos ltimos anos a tcnica tornou-se uma importante ferramenta para anlise e desenvolvimento de novos processos
de soldagem. Neste trabalho apresenta-se a aplicao da tcnica de Perfilografia para adquirir imagens da
transferncia metlica no processo GMAW convencional usando uma cmera CMOS de alta velocidade. O clssico
arranjo de lente divergente-convergente foi mudado para um arranjo de lente divergente e dois espelhos cncavos.
Este arranjo ptico no produz uma frente de onda plana, usado na Perfilografia convencional, mas permite ter um
controle no dimetro do feixe de laser que pode ser usado para fazer a filmagem. Alm do arranjo ptico, conseguiu-
se sincronizar a aquisio das imagens do processo por meio da utilizao de um sinal produzido pelo sistema de
controle da cmera, o qual gera um pulso a cada imagem amostrada. A sincronizao foi realizada adquirindo-se o
trem de pulsos em conjunto com os sinais eltricos do processo, possibilitando correlacionar as imagens com os
valores instantneos de corrente e de tenso de soldagem. Com esse aparato, foram obtidas e sincronizadas imagens
dos diferentes modos de transferncia metlica encontrados no processo GMAW convencional a uma taxa de mil
frames por segundo.

Palavras-chave: GMAW, Perfilografia, Transferncia metlica, Cmera de alta velocidade, Sincronizao


1. INTRODUO

A Perfilografia, conhecida tambm como Shadowgrafia, uma tcnica de iluminao usada freqentemente junto
com cmeras de alta velocidade na filmagem de transferncia metlica em processos de soldagem GMAW. Antes do
trabalho de Allemand et al (1985), a filmagem era feita iluminando a cena diretamente com lmpadas de alta
intensidade luminosa, superior produzida pelo arco. Esta luz era ento fotografada atravs de filtros de densidade
neutra com alto poder de atenuao, o que implicava em custos relativamente elevados e de perdas de informao nas
imagens. A tcnica de perfilografia faz uso da iluminao direcional a contraluz com um feixe laser como fonte de luz,
o que soluciona em grande parte os problemas apresentados anteriormente.
Um fator importante a destacar no uso da perfilografia o menor custo computacional que se requer para analisar
as imagens. comum encontrar outras tcnicas para adquirir imagens dos modos de transferncia metlica (Houghton
et al, 2007; Wang et al, 2007 e Weglowski et al, 2008), mas as imagens de perfilografia tm a vantagem de ter um
maior contraste entre o fundo e os elementos envolvidos na transferncia metlica (arame, metal transferido, pea a
soldar) pelo que possvel extrair informao com o uso de filtros espaciais, morfologia matemtica e limiarizao de
baixo custo como no caso de Maia (2001), o que torna o trabalho mais eficiente. Tambm pode-se encontrar melhorias
nas imagens obtidas a partir da perfilografia com o uso de lmpadas de alta potncia usadas como fonte de luz, o que
gera um fundo mais uniforme e facilita em maior grau a extrao de caractersticas como apresentado nos trabalhos de
Praveen et al (2006) e de Reis (2009). A desvantagem da perfilografia que, por enquanto, se usa com a tocha de
soldagem fixa, devido ao arranjo ptico que utiliza, de modo que sua implementao depende da aplicao.
Apesar da importncia da perfilografia como sistema de iluminao, esta tcnica no tem evoludo muito desde que
foi concebido seu propsito, por outro lado, os sistemas de aquisio e armazenamento de imagens de alta velocidade
tiveram um alto grau de desenvolvimento desde os anos oitenta, o que facilitou razoavelmente a obteno de imagens
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relevantes no estudo de transferncia metlica, generalizando assim o uso da perfilografia. comum encontrar hoje em
dia cmeras com taxas de aquisio de dez mil frames por segundo, ou superior, mas tem-se que ter em conta que com
uma maior taxa de frames por segundo, permite-se fazer um estudo mais detalhado dos fenmenos, porm vai-se
requerer de mais tempo de processamento e de um hardware mais robusto para analisar as imagens adquiridas.
Uma ferramenta que vem a complementar os estudos experimentais de transferncia metlica por meio de
perfilografia a sincronizao das imagens obtidas na filmagem com sinais de corrente, tenso ou de outro tipo de
sensor que sejam adquiridas durante a soldagem (Blsamo et al, 2000). Este fato permite aprofundar em detalhe os
processos de pesquisa de transferncia metlica o que possibilita importantes acrscimos nos conhecimentos da
soldagem GMAW. Neste trabalho apresenta-se a aplicao da tcnica de Perfilografia para adquirir imagens da
transferncia metlica no processo GMAW convencional usando uma cmera CMOS com uma taxa de aquisio de mil
frames por segundo. As imagens obtidas so sincronizadas com os sinais eltricos do processo, possibilitando
correlacion-las com os valores instantneos de corrente e de tenso de soldagem.

2. SISTEMA PTICO

O clssico sistema ptico proposto para trabalhar com perfilografia apresentado na Fig. (1). Uma definio dada
por Groetelaars (2005) descreve o princpio da Perfilografia como a passagem de um feixe colimado de laser pela
regio do arco, de modo que a imagem resultante represente a sombra desses elementos (arame, metal em transferncia,
cordo de solda). Um filtro ptico de interferncia passa-banda (na regio do laser) colocado entre o arco e a cmera,
de modo que somente o feixe de laser e as sombras respectivas vo aparecer na imagem, suprimindo a luz produzida
pelo arco que no esteja na regio do filtro. Este arranjo utiliza um expansor de feixe laser de tipo Galileu. Como
apresenta Weichel (1990) e Steen (2003) o expansor utiliza uma lente divergente como entrada do feixe e uma
convergente como sada, que de acordo com Hecht (2002), produz idealmente uma frente de onda plana na sada do
expansor, no tendo assim distoro nem ampliao nas geometrias dos elementos.


Figura 1. Principio da perfilografia aplicado a soldagem. (Blsamo et al, 2000)

A frente de onda plana se consegue quando as frentes de onda esfricas de luz que entram na lente convergente
partem do ponto focal objeto da mesma. Depois de atravessar a lente os raios ficam paralelos ao eixo ptico e as frentes
de onda perpendiculares ao mesmo, como se v na Fig. (2). Nesse caso diz-se que o feixe de luz colimado. Por
coincidir os pontos focais objeto das duas lentes, a distncia entre elas no expansor de Galileu a diferena dos valores
positivos das distncias focais das mesmas (por conveno a distncia focal da lente divergente tomada como
negativa), assim, o ponto focal objeto da lente convergente vai coincidir com o ponto focal objeto da lente divergente,
como sugerido na Fig. (3).



Figura 2. Formao de ondas planas a partir de ondas esfricas mediante o uso de uma lente convergente. A
letra F representa o foco imagem da lente. A luz incidente se propaga na direo das setas.

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Figura 3. Sistema expansor de feixe laser de Galileu. F representa o foco objeto da lente convergente e da
lente divergente. DL a distncia entre as duas lentes. DFC a distncia focal da lente convergente. DFD a
distncia focal da lente divergente. A luz incidente se propaga na direo das setas.


Da figura 3 vemos que:

DFD DFC DL (1)

Se forem tomadas as convenes de sinais para as distncias focais das lentes, DL ser a soma das distncias focais
das lentes devido ao sinal negativo da distncia focal da lente divergente.
O dimetro do feixe laser expandido encontrado com a seguinte relao

i
D MP D ) (
0
(2)

Onde:
D
o
o dimetro do feixe laser expandido.
D
i
o dimetro do feixe laser inicial.
MP conhecido como Magnifying Power e igual relao entre as distncias focais das lentes

d
c
f
f
MP

(3)

Onde:
f
c
a distncia focal da lente convergente.
f
d
a distncia focal da lente divergente.

Outro tipo de expansor de feixe laser conhecido como Expansor de Kepler que utiliza duas lentes convergentes e
faz coincidir o foco imagem da primeira com o foco objeto da segunda, como se v na Fig. (4). Neste caso, a distncia
entre as duas lentes vai ser a soma das distncias focais das lentes (Weichel, 1990 e Steen, 2003). O dimetro do feixe
laser expandido obedece mesma relao do expansor de Galileu, mas neste caso f
c
a distncia focal da lente
convergente 2 e f
d
a distncia focal da lente convergente 1.

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Figura 4. Expansor de feixe laser de Kepler. As linhas verticais e curvas representam as frentes de onda. F
representa o foco de cada lente. DL a distncia entre as duas lentes. A luz incidente se propaga na direo das
setas.

Por ter o foco do feixe laser no meio das lentes, o arranjo Kepleriano o indicado caso se queira fazer filtragem
espacial do feixe laser. Uma desvantagem que se requer de mais espao fsico na hora da instalao. Se a idia
trabalhar com um laser de alta potncia, a configurao de Kepler apresentar acumulao de energia no ponto focal, o
que pode apresentar problemas dependendo do experimento, neste caso, prefere-se usar a configurao de Galileu.
Para o caso dos espelhos, as propriedades pticas encontram semelhana entre um espelho cncavo e uma lente
convexa (convergente), por um lado, e de um espelho convexo e uma lente cncava, por outro. Esta semelhana pode-
se ver na prtica no telescpio Newtoniano, que utiliza uma lente divergente e um espelho cncavo, o qual faz
referncia ao telescpio de Galileu. As relaes entre os dimetros do feixe de entrada e de sada sero mantidas
considerando as convenes utilizadas para os focos dos espelhos esfricos. Desta forma pode-se fazer configuraes
para o expansor apenas com lentes, apenas com espelhos ou com suas combinaes como a apresentada por Shafer
(1978), Hariharan (1987) ou Hello et al (1996).

2.1 Cmeras de alta velocidade (Balch, 1999)
Os primeiros sistemas de vdeo de alta velocidade ou analisadores de movimento surgiram naturalmente devido s
tecnologias de armazenamento magntico, sendo que estiveram comercialmente disponveis a partir de 1970. Estes
sistemas de vdeos s poderiam capturar imagens a 120 fps. A segunda gerao foi introduzida por NAC Inc. em 1979 e
poderia capturar a 200 fps. Em 1980, Kodak introduziu a terceira gerao de analisadores de movimento, o SP2000, que
poderia armazenar imagens monocromticas a 2000 fps. A quarta gerao foi uma nova abordagem em captura de
imagens a alta velocidade usando uma memria de estado slido como mdia de armazenamento. Em 1990 Kodak
apresentou o EktaPro EM, que armazenava imagens digitais em DRAM. A manipulao de imagens com tecnologia
DRAM permitiu o surgimento de novas tcnicas de capturas de imagens, que melhorou a qualidade dos dados e
providenciou gravao prolongada de imagens. A quinta gerao avanou em maior resoluo, mais velocidade (frame
rate), e melhorou a qualidade para imagens coloridas e monocromticas. O modelo HS 4540 da Kodak alcanava taxas
de at 40500 fotos por segundo. A sexta gerao apresentou vantagens em flexibilidade, tamanho, portabilidade,
velocidade e facilidade de manuseio. Os novos sistemas de vdeo podem ser comparados revoluo tecnolgica dos
computadores pessoais, onde consumidores podem combinar diferentes vendedores de hardware e software para
configurarem suas mquinas de acordo com aplicaes especficas.

3. EXPERIMENTO E RESULTADOS

Como fonte de luz usou-se um laser de He-Ne com comprimento de onda de 633 nm, 15 mW de potncia e um
feixe de luz com 1.2 mm de dimetro. O expansor de feixe de laser foi estabelecido utilizando uma lente divergente
com distncia focal (f
d
) de 40 mm e dois espelhos cncavos com distncia focal (f
c
) de 300 mm cada um. Os dois
espelhos cncavos podem ser usados para montar um expansor de feixe de Kepler, mas ao terem as mesmas distncias
focais, o valor do Magnifying Power fornecido pela Eq. (3) 1 e portanto no cumpre sua funo de magnificao, por
isso se faz uso da lente divergente para expandir o feixe na entrada do sistema. Deste modo, a disposio do sistema de
iluminao apresentada na Fig. (5).

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Figura 5. Disposio da lente e os espelhos no expansor de feixe laser. Vista de cima. A luz incidente se
propaga na direo das setas.

Com referncia Fig. (5) pode-se observar que at o primeiro espelho encontramos um expansor de feixe laser de
Galileu, depois deste espelho se tem um feixe de luz formado por ondas planas. At aqui, a distncia entre a lente e o
espelho dada pela Eq. (1) de 260 mm. Essa distncia no influenciada pela inclinao do espelho. Da Eq. (3) tem-se
que o valor do Magnifying Power 7.5, sendo que o dimetro de sada do feixe fornecido pela Eq. (2) 9 mm. Este
dimetro resulta pequeno em geral e ainda mais porque se quer filmar modos de transferncia diferentes do curto
circuito. por esta razo que se usa o segundo espelho.
A onda proveniente do espelho 1 transforma-se numa onda esfrica depois de refletir no espelho 2 e converge em
seu foco, depois se expande em forma de cone, cujo dimetro final depende do dimetro do feixe incidente e da
distncia focal do espelho. Assim, a uma distncia de 1m, onde disposto o alvo (arame-eletrodo), o feixe laser tem um
dimetro de 30 mm, suficiente para iluminar os objetos de interesse, como se apresenta na Fig. (6). Desta forma, usando
o mtodo de perfilografia com a disposio apresentada na Fig. (5) e as distncias mencionadas anteriormente, foram
obtidas imagens de transferncia metlica como as apresentadas na Fig. (7).



Figura 6. Iluminao dos alvos com o feixe laser expandido. Pode-se observar como a sombra dos alvos
projetada na cmera fixa na parte posterior.


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Figura 7. Fotografias de transferncia metlica: (a) transferncia por curto circuito; (b) transferncia
globular; (c) transferncia goticular; (d) transferncia goticular com alongamento.

A cmera utilizada nos experimentos uma DALSA 1M150-SA, de tecnologia CMOS, de alta velocidade e de baixo
custo em relao a outras utilizadas em monitoramento de processos de soldagem. A uma resoluo mxima de 1
megapixel (1024x1024) ela permite capturar a uma taxa de at 150 frames por segundo. Seu pequeno tamanho e
robustez a torna adequada para ambientes industriais. Ela tambm permite limitar a rea de interesse que ser
fotografada, de forma que se reduza a resoluo e aumente a taxa de aquisio, assim, para uma resoluo de 128x128
pixels pode-se atingir uma taxa de captura terica de 7900 fps. Neste trabalho foi usada uma resoluo de 96x128 com
uma taxa de aquisio de 1000 fps e um tempo de exposio do sensor CMOS de 50 s. Essa taxa suficiente para
observar os modos de transferncia da soldagem.
Para fazer a sincronizao das imagens obtidas com os sinais eltricos capturados para os experimentos, foi
utilizado um sinal fornecido pela cmera. Este sinal se apresenta como um pulso eltrico cada vez que uma foto est
sendo adquirida. A durao do pulso foi de 50s e foi programado de modo que seu pico coincida com a metade do
tempo de exposio da cmera. O valor do pulso varia ao redor de 3V. Os sinais eltricos capturados nos experimentos
foram de corrente, de tenso e o sinal que provm da cmera. Esses sinais so adquiridos por meio de uma placa a uma
taxa de 20 kHz, e so visualizados e armazenados por meio de uma interface em LabVIEW.
Cada dado de qualquer sinal adquirido caracterizado pelo seu valor e por sua ordem de chegada, de forma que
fcil comparar e assim sincronizar os valores dos sinais adquiridos com cada foto da filmagem. Desta maneira, foram
adquiridos e sincronizados sinais eltricos e fotos para os modos de transferncia metlica em Curto Circuito, Globular
e Goticular. Uma amostra dos experimentos realizados apresentada nas Fig. (8), Fig. (9) e Fig. (10).



Figura 8. Seqncia de imagens em sincronismo com sinais adquiridos de tenso e corrente durante
transferncia em curto circuito. Os dados no eixo horizontal indicam o tempo em que foi adquirido cada dado e
igual para os trs grficos
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Figura 9. Seqncia de imagens em sincronismo com sinais adquiridos de tenso e corrente durante
transferncia Globular.


Figura 10. Seqncia de imagens em sincronismo com sinais adquiridos de tenso e corrente durante
transferncia Goticular projetada.

4. CONCLUSES

A tcnica de iluminao por perfilografia do processo de transferncia metlica em conjunto com as imagens
sincronizadas com os sinais de tenso e corrente so ferramentas que auxiliam em pesquisas e em monitoramento na
soldagem. Os modos de transferncia metlica so facilmente identificados, assim como as imagens em cada etapa do
processo. Atualmente no se encontra diferenas significativas entre os sistemas de aquisio de imagens CMOS ou
CCD. As vantagens que antes eram apresentadas por cada uma (CMOS mais econmica e CCD melhor qualidade) so
igualmente atingidas pelas duas tecnologias e a aquisio de uma cmera particular depende dos requisitos e das
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disponibilidades econmicas. A cmera utilizada neste trabalho econmica em relao a outras e permite estudar os
fenmenos decorrentes da transferncia metlica.

5. REFERNCIAS

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Balch, K, 1999, High Frame Rate Electronic Imaging, White Paper, pp. 2-4.
Blsamo, P.S., Vilarinho, L.O., Vilela, M. and Scotti, A., 2000, "Development of an Experimental Technique for
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Dalsa, 2004, 1M28_75_150_User_Manual_rev05, Camera Users Manual.
Groetelaars, P.J., 2005, Influncia da Variao de Parmetros de Soldagem Sobre a Transferncia Metlica e perfil do
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Hariharan P., 1987, Beam expander for making large rainbow holograms, Applied Optics, Vol. 26, pp. 1815.
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, Soldagem & Inspeo, Vol. 12, No. 4, pp. 293-299
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em Soldagem a Arco Voltaico, Dissertao de Mestrado, Universidade Federal de Uberlndia, Uberlndia, M-G,
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Aluminum, Proceedings of 2006 Advanced Materials Processing Technologies Conference, Las Vegas, USA, pp.
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of Materials Science and Engineering, Vol. 33, pp. 49-56
Weichel, H., 1990, Laser Beam Propagation in the Atmosphere, Ed. SPIE, Washington, USA, 108 p.

6. DIREITOS AUTORAIS

Os autores so os nicos responsveis pelo contedo do material impresso includo neste trabalho.















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USE OF SHADOWGRAPHY TECHNIQUE FOR VISUALIZATION OF
METAL TRANSFER MODES IN GMAW PROCESS USING A CMOS HIGH
SPEED CAMERA

Lopera, Jess Emilio Pinto, jesusemilio@unb.br
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Ramos, Esdras Godinho, esdrasgr@gmail.com
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Carvalho, Guilherme Carib de, gccarval@unb.br
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Alfaro, Sadek C Absi, sadek@unb.br
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Universidade de Braslia, Departamento de Engenharia Mecnica, Braslia, DF, 70.910-900, Brasil


Summary: Since its first appearance in the eighties decade, the technique of Shadowgraph was recognized as an
interesting tool for filming GMAW procedures and for the study of metal transfer phenomenon. Due to significant
improvement of digital systems for processing and storage, the technique has become an important tool for analysis
and development of new welding processes. In this work is presented the application of Shadowgraph technique to
acquire images of metal transfer in conventional GMAW process using a CMOS high speed camera. The classic
divergent-convergent setting of lenses was changed by an arrangement of one divergent lens and two concave mirrors.
This optical arrangement does not produce a plane wavefront, used in conventional Shadowgraph, but enables a
control on the laser beam diameter which is used to make the filming. In addition, synchronized acquisition of the
process was performed, by the use of a camera system control signal that generates an electrical pulse to each image
sampled, acquiring the train pulses together with the electric signals of the process, allowing correlate images with the
instantaneous values of welding current and voltage. With this system were obtained and synchronized images of
different metal transfer modes found in the conventional process GMAW at rates of 1000 frames per second.

Keywords: GMAW, Shadowgraph, Metal transfer, High speed camera, Synchronisation