1

INTRODUZIONE -EFFETTO PIEZOELETTRICO

Leffetto piezoelettrico fu scoperto da Jaques e Pierre Curie
nel 1880 ed una caratteristica di certi cristalli naturali
(quarzo, tormalina) o sintetici (solfato di litio, ammonio di-
idrogenato fosfato), di ceramiche ferroelettriche
polarizzate e di particolari film di polimeri, che permette loro
di sviluppare una carica quando vengono deformati
elasticamente.
In un cristallo, questa carica si manifesta quando unazione
meccanica provoca la comparsa di un dipolo elettrico in
ciascuna molecola, spostando il centro delle cariche positive e
negative. La rottura dellequilibrio elettrostatico produce la
polarizzazione.
INTRODUZIONE -EFFETTO PIEZOELETTRICO
Inoltre gli stessi materiali si deformano meccanicamente se
sottoposti ad un campo elettrico esterno, fenomeno noto come
effetto piezoelettrico inverso.
Lassenza di un centro simmetria condizione necessaria
affinch si manifesti la piezoelettricit, assente in materiali
conduttori e strutturalmente simmetrici.
A causa delle loro naturale struttura asimmetrica, materiali
cristallini, come il quarzo, presentano leffetto piezoelettrico
senza la necessit di alcun tipo di trattamento, mentre le
ceramiche piezoelettriche (come ad esempio il titanato di
bario o lo zirconato titanato di piombo-PZT) devono essere
artificialmente polarizzate per mezzo di un intenso campo
elettrico esterno, il cui valore ne influenza fortemente la
sensibilit.
2
MATERIALI PIEZOELETTRICI
Si definisce piezoelettricit una polarizzazione elettrica prodotta
da sforzi meccanici in determinate classi di cristalli, che
proporzionale allo sforzo stesso ed ha un segno direttamente o
inversamente variabile con essi. Tale effetto definito come
effetto piezoelettrico diretto. Viceversa, gli stessi materiali devono
rispondere con la produzione di uno sforzo, che si palesa con una
variazione dimensionale, quando vengono sottoposti ad una
polarizzazione elettrica. In questo caso si parla di effetto
piezoelettrico inverso ed un secondo aspetto della stessa
propriet del materiale. Entrambi i comportamenti sono
largamente impiegati per ottenere sensori e attuatori di varia
natura e, in particolare, la seguente ricerca ha sfruttato il primo.
Si pu rappresentare l ampiezza dell effetto piezoelettrico
tramite il vettore di polarizzazione P=P
xx
+P
yy
+P
zz,
dove x, y e z
si riferiscono ad un sistema di riferimento solidale agli assi del
cristallo. In ciascun comportamento piezoelettrico, sia diretto
sia inverso, gli sforzi e le deformazioni sono correlati ai
parametri elettrici per mezzo di costanti, che assumono valori
diversi per le diverse direzioni allinterno del materiale. A loro
volta, sforzi e deformazioni sono correlati tra loro dalle
costanti elastiche del materiale, anchesse diverse nelle diverse
direzioni spaziali.
In termini di sforzi assiali e sforzi di taglio si possono
scrivere le equazioni:

xy zx yz zz yy xx zz
xy zx yz zz yy xx yy
xy zx yz zz yy xx xx
d d d d d d P
d d d d d d P
d d d d d d P



36 35 34 33 32 31
26 25 24 23 22 21
16 15 14 13 12 11
+ + + + + =
+ + + + + =
+ + + + + =
3
dove d
mn
sono i coefficienti piezoelettrici e dimensionalmente
hanno il significato di carica prodotta per unit di forza,
espressa in Coulomb/Newton, per quanto riguarda leffetto
diretto e di deformazione per unit di campo elettrico, espressa
in metri/Volt per quanto concerne leffetto inverso. Il primo
pedice si riferisce alla carica generata allinterno del materiale
(effetto diretto) o al campo elettrico applicato (effetto inverso), il
secondo pedice, rispettivamente, alla direzione delle forze
applicate o delle deformazioni indotte.
Ulteriori parametri di utilit pratica, ai fini dello studio delle
propriet piezoelettriche, sono i coefficienti g
mn
e h
mn
. I primi si
ottengono dal rapporto dei corrispondenti coefficienti d
mn
e della
costante dielettrica assoluta e rappresentano il gradiente di
tensione per unit di pressione. I secondi si ricavano da
unulteriore rapporto dei corrispondenti valori di g
mn
e del
modulo di Young relativo allorientazione spaziale del cristallo e
si utilizzano per il calcolo del gradiente di tensione per unit di
forza.
Infine, lefficienza di conversione meccano-elettrica, alle frequenze
nellintorno della frequenza di risonanza, espressa dai coefficienti
k
mn
, ossia dalla radice quadrata del rapporto tra lenergia elettrica
in uscita e quella meccanica in entrata (per leffetto diretto) e vale la
relazione:
( )2
1
mn mn mn
h d k =
Come si gi visto i materiali che possiedono queste
propriet sono divisibili in due categorie principali: i cristalli
naturali e le ceramiche piezoelettrichepolarizzate. Dei primi
sono ben conosciuti i valori delle costanti piezoelettriche,
mentre dei secondi ancora molto si pu scoprire
relativamente alla dipendenza di tali costanti da spessori del
materiale, tensioni e temperature di polarizzazione ed
esercizio.
4
I CRISTALLI NATURALI-IL QUARZO
I cristalli naturali con propriet piezoelettriche sono il quarzo, la
tormalina e i sali di Rochelle. Il quarzo un monocristallo di
biossido di silicio con una cella elementare costituita da tre
molecole di SiO2, posizionate in modo da costituire un cristallo di
forma esagonale. Ogni cristallo presenta i seguenti assi di
simmetria:
a) un asse z detto asse ottico, di simmetria ternaria, il quale
attraversa il cristallo in tutta la sua lunghezza; la sezione normale
allasse z un esagono regolare;
b) tre assi meccanici y di simmetria binaria, normali allasse z e
normali, ciascuno, a due facce laterali opposte del cristallo;
c) tre assi elettrici x di simmetria binaria, normali ognuno allasse
z e ad un asse y.
a) un asse z detto asse
ottico, di simmetria
ternaria, il quale
attraversa il cristallo in
tutta la sua lunghezza;
la sezione normale
allasse z un esagono
regolare;
b) tre assi meccanici y
di simmetria binaria,
normali allasse z e
normali, ciascuno, a
due facce laterali
opposte del cristallo;
c) tre assi elettrici x di
simmetria binaria,
normali ognuno allasse
z e ad un asse y.
Se si taglia una piastrina di
quarzo, in modo tale che le
facce maggiori della piastrina
risultino perpendicolari ad un
asse elettrico, e si
sottopongono le due facce
maggiori ad una
compressione meccanica, su
di esse si manifestano cariche
elettriche di segno opposto e
la quantit di carica presente
proporzionale alla forza
applicata. Se la forza
applicata di trazione la
polarit delle cariche
elettriche si inverte.
5
Qualora venga
applicata alla piastrina
una forza meccanica in
direzione dellasse
meccanico (quindi in
direzione normale alla
precedente), sulle facce
perpendicolari allasse
elettrico si generano
ancora delle cariche
elettriche, con la
differenza che una
compressione lungo
lasse elettrico
corrisponde ad una
trazione lungo lasse
meccanico. Questi
comportamenti hanno
il nome di effetto
piezoelettrico diretto.
Se la sollecitazione avviene
nella direzione dellasse
ottico, non si produce alcuna
polarizzazione elettrica. Se,
invece, si sottopone la
piastrina di quarzo ad un
campo elettrico avente la
direzione dellasse elettrico,
si verifica una dilatazione in
questa direzione (oppure una
contrazione, in funzione del
segno della polarizzazione)
proporzionale allintensit
del campo. A questo effetto
longitudinale se ne associa
uno trasversale di
contrazione (o dilatazione)
lungo la direzione dellasse
meccanico, indicato come
effetto trasversale. Si tratta
delleffetto piezoelettrico
inverso.
I coefficienti piezoelettrici d
mn
per il quarzo sono:
0 0 0 0 0 0
2 0 0 0 0
0 0 0
11 14
14 11 11
d d
d d d

ed i loro valori numerici, riportati in letteratura sono:

d
11
=2.310
-12
C/N;
d
14
=0.6710
-12
C/N.
6
Scegliendo la direzione di taglio nel monocristallo con una certa
oculatezza, leffetto piezoelettrico dei quarzi viene largamente
sfruttato nella realizzazione di trasduttori di forza e pressione.
In particolare, questo materiale presenta caratteristiche
vantaggiose quali:
- elevata rigidezza e resistenza meccanica, che garantiscono
piccole deformazioni elastiche durante la compressione;
- eccellente linearit a fronte di un ampio range di carico;
- piccola dipendenza dalla costante piezoelettrica della
temperatura;
-nessun effetto piroelettrico.
In base a queste propriet risulta motivata la larga diffusione di
trasduttori piezoelettrici al quarzo per la misura di alte pressioni,
anche in ambienti sottoposti ad elevate temperature.
I CRISTALLI NATURALI-LA TORMALINA
La tormalina, a differenza del quarzo, caratterizzata da range
di temperatura pi ampi, nonch da un costo elevato ed una
bassa sensibilit e, per questo motivo, viene scarsamente
utilizzata nella realizzazione di sensori. I coefficienti
piezoelettrici per la tormalina sono:
0 0 0
0 0 0
2 0 0 0 0
33 31 31
15 22 22
22 15
d d d
d d d
d d

I valori numerici disponibili in letteratura sono:

d
33
=1.910
-12
C/N;
d
h
=2.410
-12
C/N (coefficiente piezoelettrico di carica derivante da
sollecitazione idraulica);
La distribuzione dei suoi coefficienti piezoelettrici la rende
particolarmente adatta per la misura della pressione idrostatica.
7
I CRISTALLI NATURALI-I SALI DI ROCHELLE
I sali di Rochelle sono il solo materiale piezoelettrico che ha
avuto uno sviluppo su scala industriale, per il fatto che giocano
un ruolo fondamentale in applicazioni come microfoni e
altoparlanti. In queste applicazioni risultano importanti
lelevata sensibilit rispetto agli sforzi di taglio e lelevata
permettivit. Tuttavia i suoi limiti in termini di robustezza,
isteresi e ridotto range di temperatura e umidit, li rendono
poco adatti ad applicazioni sensoristiche per pressioni e
temperature elevate.
I valori disponibili in letteratura sono, in questo caso, forniti a
30C e relativi a sollecitazioni di taglio:
d
14
=2755010
-12
C/N (in funzione del piano di taglio del
cristallo e del tipo di sollecitazione applicata).
LE CERAMICHE PIEZOELETTRICHE
Le ceramiche
piezoelettrichesono
sostanze policristalline
con propriet
ferroelettriche che, a
seguito di una
polarizzazione, possono
presentare
caratteristiche
piezoelettriche.
Per comprendere
leffetto piezoelettrico
nelle ceramiche
conveniente considerare
prima il comportamento
di questi materiali a
livello microscopico.
- Cella elementare
di ceramica
piezoelettrica:
a) configurazione
cubica al di sopra
della temperatura
di Curie;
b) configurazione
tetraedrica al di
sotto della
temperatura di
Curie
8
Come gi detto, affinch un materiale esibisca propriet piezoelettriche, la sua
struttura cristallina non deve possedere un centro di simmetria, ossia ci deve essere
almeno un asse nel cristallo tale che la disposizione atomica appaia differente se si
procede in direzioni opposte lungo di esso. Al di sopra di una certa temperatura,
chiamata temperatura di Curie, la struttura del cristallo possiede un centro di
simmetria e perci non ha momento di dipolo elettrico. Al di sotto di questa
temperatura esso subisce un cambiamento di fase ed evolve verso una struttura pi
complessa che non centrosimmetrica.
In questa fase il cristallo ha un
dipolo elettrico bloccato, che pu
essere invertito o disposto in
direzioni diverse. Ci si riferisce a
tali materiali con il termine
ferroelettrici, poich questo
comportamento elettrico
presenta unanalogia fisica con il
comportamento dei materiali
ferromagnetici.
Configurazione dei domini dei momenti di
dipolo elettrico:
a) prima della polarizzazione; b) durante la
polarizzazione; c) dopo la polarizzazione
In particolare, queste ceramiche presentano, in
modo analogo ai materiali ferromagnetici, la
possibilit di essere polarizzate permanentemente.
In sostanza esse si possono schematizzare come
costituite da zone aventi polarizzazione spontanea,
che possono essere parzialmente orientate tramite
lapplicazione di un campo elettrico esterno. Se si
graficizza la polarizzazione elettrica del materiale
in funzione di un campo elettrico variabile si
ottiene un ciclo di isteresi completo. Quello che
conta ai fini della piezoelettricit la
polarizzazione residua che si ha alla rimozione del
campo elettrico esterno.
Attraverso un processo di
miscelazione di materiali
ferroelettrici si ottengono delle
paste in cui i singoli
microcristalli sono ferroelettrici
e possiedono una spontanea
polarizzazione. Tuttavia la
combinazione disordinata di
questi microcristalli in una
polvere di varia composizione e
granulometria non possiede un
momento di dipolo elettrico
rilevabile a livello macroscopico.
9
Condizione necessaria affinch la polarizzazione abbia successo, il
raggiungimento della temperatura di Curie durante il processo di
esposizione al campo elettrico e il successivo raffreddamento del materiale,
sempre in presenza del campo. Cos facendo, i domini tendono ad allinearsi
nella direzione pi vicina a quella del campo, producendo un momento di
dipolo risultante ed un allungamento del pezzo nella stessa direzione.
Dopo la rimozione del campo esterno, i dipoli non sono pi in grado di
tornare nella originaria posizione casuale, ma risultano come congelati in
una direzione preferenziale. Se viene applicata una forza esterna di
trazione o compressione in grado deformare elasticamente il pezzo, si
ottiene una variazione nel momento di dipolo, che induce una tensione tra
gli elettrodi, opportunamente realizzati sulle superfici normali allasse di
polarizzazione.
Se la sollecitazione meccanica tale che la ceramica assuma nuovamente la
forma che aveva prima della polarizzazione, la tensione ottenuta avr la
stessa polarit di quella utilizzata per produrre il campo polarizzante; se,
invece, la sollecitazione meccanica opposta, anche la tensione misurata
risulter invertita.
Se la polarizzazione avviene lungo lasse z i coefficienti d
mn
si
riducono a tre e sono rappresentabili secondo lo schema:
0 0 0
0 0 0 0 0
0 0 0 0 0
33 31 31
15
15
d d d
d
d
In genere, poi, per uno studio semplificato della risposta di un
trasduttore di questo tipo, si ipotizza che il sistema sia ad un solo
grado di libert, ossia se assoggettato ad una sollecitazione in
ununica direzione avr un solo movimento, per quanto piccolo,
nella direzione di applicazione della forza. Ci significa che si
considera un solo modo di vibrare, per lo pi nella direzione dello
spessore. In questo caso le costanti piezoelettriche rilevanti, che
descrivono laccoppiamento elettro-meccanico, saranno, in base
alla convenzione, d
33
e g
33
.
10
Il primo coefficiente rappresenter, quindi, la carica indotta per
unit di forza applicata nella direzione 3, il secondo il gradiente di
tensione (campo) per unit di sforzo (pressione) sempre nella
direzione 3. I due valori sono legati dalla costante dielettrica
assoluta:
33 33
g d =
In letteratura si trovano valori delle costanti piezoelettriche, per
le ceramiche, che dipendono dalla tensione di polarizzazione. Il
valore della costante d
33
varia tra 15 e 580pC/N e pu essere
verificato sperimentalmente.
CALIBRAZIONE DINAMICA DEI TRASDUTTORI PIEZO
Strumenti di misura assoluti e relativi
Per definizione, la risposta di strumenti di
misura assoluti pu essere rappresentata da
unespressione matematica che descriva
esattamente il fenomeno fisico. Tale
espressione matematica, basata sui principi
fisici che regolano il funzionamento
dellapparato di misura , spesso, difficile o
impossibile da formulare.
Anche nei casi in cui conosciuta una
espressione matematica approssimata,
ricavata tramite semplificazioni pi o meno
giustificabili, necessario effettuare una
determinazione sperimentale della relazione
s=f(p)
che viene indicata come calibrazione.
Curva p(t)
11
Calibrazione statica
La calibrazione statica effettuata a temperatura costante e
compara la risposta del traduttore con uno strumento assoluto
chiamato manometro campione o di riferimento. Gli apparecchi di
calibrazione sono, a seconda della gamma della pressione di misura,
o manometri a liquido o bilance manometriche.
La calibrazione statica dei trasduttori di pressione , quindi, una
determinazione sperimentale approssimata della funzione di
trasferimento del trasduttore, nellipotesi semplificativa che la
funzione in uscita sia una relazione di proporzionalit tra
pressione applicata e carica (o in alcuni casi tensione) fornita,
indipendentemente dalla velocit con la quale viene applicata la
pressione.
In genere tale calibrazione avviene tramite lutilizzo di strumenti
detti bilancemanometriche, che permettono di assoggettare il
trasduttore a pressioni comprese tra 10Pa e 10
3
MPa, con
accuratezza nella quantificazione della pressione applicata tra 0.1 e
0.01% della gamma di misura. Per il metodo impiegato, che si
riferisce a grandezze fisiche assolute, la calibrazione statica da
considerarsi un metodo assoluto.
Risposta dinamica
La risposta dinamica definita dalla relazione
s(t,p) f{p(t)}
In generale non possibile conoscere unespressione matematica
rigorosa per questa legge e, daltra parte, non esiste un metodo
assoluto di misura dinamica della pressione, che permetta di
effettuare la calibrazione per comparazione. Inoltre, non risulta
che sia possibile generare una pressione avente un legge di
variazione perfettamente conosciuta. Quello che si pu fare la
determinazione della risposta di un sistema, tramite una pseudo
calibrazione dinamica. Questo tipo di calibrazione viene
effettuata tramite un dispositivo che genera una pressione con
andamento approssimativamente conosciuto e la risposta s(t) di
un trasduttore da calibrare viene comparata con quella di un
altro trasduttore preso come riferimento.
12
In effetti tutti i corpi in movimento vibratorio hanno un
comportamento quasi statico fino ad una certa frequenza f
M
, detta
frequenza massima. Questo valore, che dipende dal sistema e dalla
precisione desiderata, pu essere calcolato a partire da un modello
meccanico, che si suppone rappresentativo.
Il metodo generale si pu riassumere secondo i seguenti punti:
- la frequenza f
M
della catena di misura viene calcolata con
lausilio di un modello semplificato;
- se il contenuto armonico massimo f della pressione da
misurare inferiore o uguale a f
M
, prevedendo eventualmente un
coefficiente di sicurezza, sufficiente una calibrazione statica;
- se lo studio del modello mostra che la frequenza f
M

inferiore ad f, si potrebbe aumentare f
M
, modificando la catena di
misura, o, se questo non possibile, effettuare una pseudo
calibrazione dinamica.
Gerarchia degli standard di calibrazione
Per evitare la necessit di dar corso a calibrazione assolute per
ogni trasduttore possibile stabilire una gerarchia degli standard
di calibrazione:
Quantit fisiche fondamentali
Lunghezza, Massa, Tempo, Corrente
Istituti Nazionali ed Internazionali per la
determinazione degli standard a partire da
quantit fisiche fondamentali
Trasduttori Transfert Standard
Trasduttori di riferimento
Trasduttore
piezo in
sezione
13
I trasduttori standard sono riuniti in tre gruppi:

- Trasduttori Standard Primari (primary standard transducers)

Un metodo di calibrazione in grado di stabilire la sensibilit di un
trasduttore in relazione a grandezze fisiche fondamentali (espresse
nel SI) noto come assoluto. Un trasduttore calibrato con questo
metodo viene detto Trasduttore Standard Primario e collocato in
cima alla gerarchia. Trasduttori di questo tipo sono presenti negli
Istituti Nazionali ed Internazionali per il gli Standard, o presso i
Laboratori dove sono stati calibrati.
-Trasduttori per il trasferimento dello Standard (transfert standard
transducers)
Questi trasduttori vengono calibrati per comparazione dagli
Istituti o dai Laboratori di Standardizzazione usando Standard di
Riferimento Primari, oppure con metodi assoluti. I trasduttori per
il trasferimento dello Standard vengono scambiati e ricalibrati tra
gli Istituti in modo da stabilire la conformit delle diverse
calibrazioni effettuate. Tramite questo processo di scambio,
possibile affermare la conformit dei metodi e delle
apparecchiature usate dai diversi Laboratori. In questo modo si
stabilisce anche la riferibilit (traceability). Essa definisce quale
Istituto di Standardizzazione responsabile per la definizione della
conformit della calibrazione effettuata nello specifico Laboratorio.
Perci, un trasduttore calibrato dal Laboratorio di Calibrazione
definito riferibile (traceable) allIstituto di Standardizzazione
indicato
14
- Trasduttori Standard duso (working reference standard
transducers)
Questi trasduttori vengono utilizzati per la calibrazione per
comparazione dei trasduttori duso corrente. Essi vengono
calibrati dagli Istituti o dai Laboratori usando metodi assoluti o
comparativi. In questo modo si mantiene la riferibilit
(traceability) della calibrazione.

Ogni Laboratorio deve possedere trasduttori standard duso

(working standard) per poter effettuare la calibrazione per
comparazione, ma deve possedere anche almeno un trasduttore
per il trasferimento dello standard (transfert standard) per
poter garantire la riferibilit dei sensori impiegati.
Esempio di curva di calibrazione del trasduttore working standard
fino a 150MPa
Il trasduttore working standard (5 QP 2000T-AVL), utilizzato in
genere per le prove fino al fondo scala di 150MPa, presenta la
seguente sensibilit in funzione della pressione applicata:
MPa pC/MPa
10 63.3
25 63.1
50 62.9
75 62.7
100 62.6
125 62.5
150 62.4
200 62.4

62.2
62.4
62.6
62.8
63.0
63.2
63.4
0 50 100 150 200
p [MPa]
s
e
n
s
i
b
i
l
i
t

[
p
C
/
M
P
a
]

15

Curva di taratura del trasduttore di riferimento
0
50
100
150
200
250
0 2000 4000 6000 8000 10000 12000 14000
Q [pC]
p

[
M
P
a
]

possibile quindi ottenere la curva di taratura:
Principio del metodo di calibrazione dinamica
Una massa di peso noto viene lasciata cadere da un'altezza
misurabile su di un dispositivo di pressurizzazione, che converte
l'energia d'impatto in un impulso di pressione idraulica.
La pressione applicata simultaneamente al trasduttore di
riferimento ed al trasduttore in calibrazione produce segnali
espressi in carica e/o in tensione, proporzionali alla pressione
stessa.
La lettura e lelaborazione dei segnali generati permettono la:
- determinazione della sensibilit del trasduttore al variare
della pressione applicata;
- calibrazione dinamica dell'intera catena di misura;
- verifica della presenza d'interruzioni elettriche nel
trasduttore.
16
L'accuratezza della sensibilit rilevata dipende dalla:
- accuratezza con la quale nota la caratteristica sensibilit-
pressione del trasduttore considerato di riferimento
(normalmente migliore dello 0.5% del fondo scala);
- accuratezza con la quale stata effettuata la calibrazione degli
amplificatori di carica (normalmente migliore dello 0.1% del
fondo scala);
- linearit degli amplificatori di carica (normalmente migliore
dello 0.05% del fondo scala);
- accuratezza del sistema di rilevazione e misura (normalmente
migliore dello 0.1% del fondo scala).
Al fine di compensare gli errori di linearit del trasduttore di
riferimento, a partire dai dati sensibilit-pressione ricavati dal
certificato di calibrazione, si ottiene l'equazione della polinominale
che, con il metodo dei minimi quadrati, meglio approssima la risposta
del trasduttore.
Tale equazione viene impiegata come curva di correzione dei valori di
carica forniti dal trasduttore di riferimento, permettendo una
migliore laccuratezza nella misura della pressione.
La calibrazione degli amplificatori di carica impiegati, effettuata
prima d'ogni prova mediante l'uso del dispositivo di calibrazione
(calibratore di carica), permette di verificare ed eventualmente
correggere, gli scarti di lettura derivanti dagli amplificatori di carica
e di ridurre quindi l'errore reciproco a valori migliori dello 0.1%.
17
Supporto e massa battente
Lunit di pressurizzazione alloggiata allinterno di un
supporto, che funziona anche, e soprattutto, da guida per la
massa battente. Grazie ad esso possibile regolare laltezza di
caduta, in modo da ottenere il fondo scala della misura
desiderato.
Risulta, perci, possibile sottoporre il trasduttore in prova a
diversi cicli di sollecitazioni, variando lenergia potenziale legata
alla massa, prima della caduta, e variando, di conseguenza,
lenergia dellimpulso idraulico.
Unit di
pressurizzazione
Supporto e massa battente
I trasduttori piezo sono
sistemi del secondo
ordine
Con frequenza di risonanza
ad altissima frequenza circa
100-200KHz
Durata impulso: 3.5ms circa
~1.2ms di rise time
Rise time del piezo 2s
18
RISPOSTA DEI DUE
TRASDUTTORI A
CONFRONTO
ANDAMENTO
DELLERRORE IN
FUNZIONE DELLA
PRESSIONE
ERRORE PERCENTUALE
IN FUNZIONE DELLA
PRESSIONE
CURVE-FITTING DI ORDINE
n-ESIMO
19
RISULTATO:
EQUAZIONE DELLA
CURVA CHE MEGLIO
APPROSSIMA
LANDAMENTO
SENSIBILITA-
PRESSIONE
UTILZZATA
DURANTE LA
MISURA PER
COMPENSARE
EVENTUALI ERRORI
+[ Bar ]---[ pC/Bar ]-+ +[ Bar ]-- -[ pC/Bar ]-+ +[ Bar ]---[ pC/Bar ]
400 2.315 1000 2.333 1600 2.351
500 2.317 1100 2.336 1700 2.353
600 2.319 1200 3.340 1800 2.356
700 2.322 1300 2.343 1900 2.358
800 2.326 1400 2.346 2000 2.360
900 2.329 1500 2.349 pC/Bar 2.344
RILEVAZIONE DI ALTE PRESSIONI
IMPULSIVE
Ambiti in cui si registra maggior interesse nella rilevazione di alte
pressioni impulsive
AMBITO MOTORISTICO
Test in camera di combustione
AMBITO BALISTICO
Test per verificare armi e
munizioni
Pressioni allinterno della canna
dellarma al momento
dellinnesco
Pressioni sviluppate:
50500MPa
Durata dellimpulso:
Qualche millisecondo
20
MISURA DELLA PRESSIONE CAMERA DI SCOPPIO
BALISTICA INTERNA
TRASDUTTORI
PIEZOELETTRICI
Ottima risposta
dinamica per un ampia banda
passante
Elevata impedenza meccanica
Elevata rigidezza
QUARZO
Nessun effetto piroelettrico
Eccellente linearit in un
elevato range di carico
(AVL,PCB,KISTLER)
I tempi di balistica interna, ricavati dalla
misura della pressione e dal passaggio alla
bocca, permettono di effettuare una stima
dellandamento della combustione del
propellente.
Il tempo T
4
(tempo di canna) viene
normalmente, misurato direttamente
(usando laser o flash detectors), mentre gli
altri tempi sono ricavati dalla curva
pressione-tempo.
Istante di percussione
Tempo di accensione
Tempo di ritardo di accensione
Tempo di transizione
Tempo di azione o di canna
Tempo di salita
Tempo al picco
Tempo al massimo gradiente
21
RIFERIMENTI NORMATIVI
I valori di pressione rilevati vengono confrontati con i valori
massimi stabiliti nelle normative riguardanti lambito di utilizzo (i
limiti riguardano sia il valore massimo sia la deviazione standard)
Norma C.I.P. decisione [XX-9]
Misura della pressione delle cartucce a percussione centrale per
armi a canna rigata. Metodo del trasduttore di pressione
meccano-elettrico
Norma C.I.P. decisione [XIX-3]
Misura della pressione delle cartucce a piombo a percussione
centrale destinate alle armi a canna liscia metodo del
trasduttore meccano- elettrico
C.I.P. decisione [XXII-2]
Regole e procedure di collaudo C.I.P. relative alle
cartucce a pallini d'acciaio (steel shot) ed alle armi
abilitate al tiro di tali cartucce
MISURA DELLENERGIA DI RINCULO-UTILIZZO
ACCELEROMENTRI PIEZOELETTRICI
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il fondoscala dell'accelerometro sia adeguato per la
sollecitazione presunta, almeno con un fattore pari a 5
la frequenza propria dell'accelerometro sia la pi alta possibile,
compatibilmente con la sensibilit ed il fondoscala
si usino accelerometri con smorzatore meccanico incorporato o
montati su smorzatore meccanico adeguato
l'accelerometro sia montato secondo le specifiche tecniche del
costruttore per assicurare che le prestazioni ottenute
dall'accelerometro siano conformi alle caratteristiche tecniche
pubblicate
gli accelerometri per shock siano montati con una vite (stud) o
con due viti corte, secondo le caratteristiche costruttive
il supporto sia piano, con superficie pulita e con una buona finitura
superficiale.
Al momento del picco di pressione la forza di rinculo pu essere
maggiore di 10000 N e quindi, se si considera che il tempo di salita
al picco della pressione dell'ordine di 0.5 millisecondi, l'arma
rincula per meno di 0.5 mm. Se l'arma non bloccata ma
impugnata a mano, il picco della forza di rinculo talmente alto che
l'arma, se pure trattenuta, rincula senza una forza di reazione
significativa.
L'elevato valore della forza di rinculo implica anche che l'arma non
possa essere considerata rigida e che quindi si abbiano delle
deformazioni.
Nelle prove di rinculo preferibile quindi fissare l'accelerometro
sul corpo dell'arma, il pi vicino possibile alla canna
Caratteristiche generali dell'accelerometro da impiegare
Sensibilit trasversale minore del 5%.
Linearit in ampiezza entro il 10%, dal 5% al 100% del picco di accelerazione.
Risposta in frequenza entro 10% nella banda da 5 Hz 2 KHz.
Il dispositivo di misura pu essere di tipo piezoelettrico con uscita in carica o in tensione
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FILTRAGGIO
Il filtro impiegato ha una molteplice funzione:
fissare la larghezza di banda del segnale
attenuare o sopprimere la risonanza del trasduttore
smorzare le oscillazioni disturbanti.
I filtri impiegabili sono analogici e/o digitali o una combinazione di filtri
analogici e digitali.
Il filtraggio analogico "definitivo" nel senso che applicato al segnale
d'ingresso ne modifica stabilmente e definitivamente le caratteristiche,
secondo la funzione di trasferimento del filtro impiegato.
Il filtraggio digitale essendo applicato al segnale campionato, pu essere
modificato in funzione delle esigenze di misura e valutazione, senza
alterare il file originale che rimane sempre disponibile.
La combinazione del filtraggio analogico e digitale, permettendo di
eliminare l'aliasing, incrementa l'accuratezza della misura e permette
l'elaborazione digitale del segnale rilevato.