Universidad Autnoma de Coahuila

Facultad de Ciencias Qumicas

Cuestionario terico UV.

Anlisis Instrumental II

Dra. Rosa Idalia Narro Cspedes

Saltillo Coahuila, a 18 de febrero de 2010

CUESTIONARIO 1.

1. Rangos de longitud de onda del espectro

2. Partes de una onda

Campo elctrico
Direccin de propagacin
Campo magntico
3. Definiciones de los fenmenos de la radiacin electromagntica

Absorcin: transicin desde el estado fundamental a uno o varios

estados excitados de un tomo o molcula, que tiene lugar con
transferencia de energa procedente de la radiacin electromagntica,
transicin de un nivel a otro de ms energa.

Emisin: transicin desde estados excitados a estados de menor nivel

de energa con emisin de radiacin

Difraccin: desviacin de los rayos luminosos cuando inciden sobre un

borde de un objeto opaco.

Transmisin: retencin momentnea de la energa radiante por los

tomos, iones o molculas, seguida de una re-emisin de la radiacin en
todas direcciones.

Dispersin: cambio en la direccin de la luz debido a su interaccin con

la materia; puede ocurrir con o sin transferencia de energa. Separa las
ondas de distinta frecuencia.

4. Definicin de:

Fluorescencia: es la propiedad de una sustancia para emitir luz cuando

es expuesta a radiaciones del tipo ultravioleta, rayos catdicos o rayos X.
Las radiaciones absorbidas (invisibles al ojo humano), son transformadas
en luz visible, o sea, de una longitud de onda mayor a la incidente

Fosforescencia: fenmeno en el cual ciertas sustancias tienen la

propiedad de absorber energa y almacenarla, para emitirla
posteriormente en forma de luz.

Luminiscencia: es toda luz cuyo origen no radica exclusivamente en las

altas temperaturas, por el contrario, es una forma de "luz fra" en la que
la emisin de radiacin lumnica es provocada en condiciones de
temperatura ambiente o baja

5. Definicin de Cromforo:
Cuando la radiacin incide sobre una sustancia no toda ella se ve afectada
por la misma; al tomo o conjunto de tomos que absorben radiacin se le
denominaba cromforo
6. Efecto auxocrmico:
En las molculas existen tambin tomos o grupos de tomos que no
absorben radiacin, pero hacen que se modifique alguna de las
caractersticas de la absorcin del cromforo, se denominaban a tales
grupos auxocromos.
7. Efecto hipsocrmico:
Los picos asociados n-* se desplazan generalmente hacia longitudes de
onda ms corta. corrimiento hacia el azul, cuando la longitud de onda de
absorcin de una sustancia se desplaza hacia longitudes de onda
menores o de mayor energa por efecto del solvente o por sustituyentes.

Desplazamiento al azul al aumentar la polaridad del solvente que

disminuye la energa del orbital n desplazando 30 nm o ms.
8. Efecto batocromico:
*- * desplazamiento hacia al rojo al aumentar la polaridad del solvente,
es pequeo 5 nm se presenta en compuestos con electrones .
Cuando la longitud de onda de absorcin de una sustancia se desplaza
hacia longitudes de onda ms grandes o de menor energa por efecto del
solvente o por sustituyentes; tambin se conoce como corrimiento hacia el
rojo.
9. Efecto de la conjugacin de enlaces:
La absorbancia de multicromforos son
siempre y cuando estn separados por
conjugacin del oxgeno de doble enlace
Carboxlicos), originan un efecto batocrmico
conjugan 3 enlaces dobles.

aproximadamente aditivos
un enlace. Ejemplo: La
(aldehdos, cetonas y ac.
mayor as como cuando se

10. Nombre todos los mtodos para caracterizar materiales.

Purificacin:
Cristalizacin fraccionada
Destilacin fraccionada
Extraccin mediante dvte
Cromatografa
Determinacin del peso molecular:
Crioscopa
Espectrometra de masas
Anlisis elemental:
Cualitativo
Cuantitativo
Composicin centesimal
Frmula molecular
Constantes Fsicas:
Punto de fusin
Punto de ebullicin
ndice de refraccin
Densidad
Caracterizacin qumica:
Ensayos de grupos funcionales
Determinacin del N de grupos
Modificacin qumica
Obtencin de derivados
Mtodos Fsicos:
Espectroscopa UV

 Espectroscopa IR
Espectroscopa RMN
Espectrometra de Masas
Otros mtodos fsicos:
Espectroscopa Raman
Espectrometra de microondas
Medidas de momentos dipolares
Dispersin ptica rotatoria
Difraccin de rayos X
11. Diferencias entre Espectroscopa y Espectrometra y sus definiciones.
Espectroscopa: Tcnica de anlisis que hace uso de la interaccin entre la
radiacin electromagntica y la materia para estudiar la composicin de la misma.
Espectrometra: Tcnica espectroscpica para determinar la concentracin o la
cantidad de especies de inters. En estos casos, el instrumento que realiza tales
medidas es un espectrmetro o espectrgrafo.
Diferencias:
La fuente de energa en Espectroscopa es la radiacin electromagntica y
en la espectrometra son electrones de alta energa o iones.
Los mtodos espectroscpicos solo permiten obtener el espectro que
genera un determinado compuesto, en cambio los mtodos
espectromtricos periten medir o cuantificar la concentracin de dicho
compuesto.
Mtodos instrumentales:
Espectroscopa: Espectroscopa de emisin de rayos X, visible y de
electrones, Espectroscopa fotoacustica, de resonancia de espn
electrnico, Raman.
Espectrometra: Espectrofotometra de rayos X, UV, visible, IR, de masas,
etc.
12. Partes de un espectrofotmetro

Generador de seales: Aplicacin directa o indirecta de alguna forma de energa

sobre la muestra, que le permite generar una seal
Transductor de entrada o detector: Dispositivo analgico que mide propiedades
fsicas y qumicas de forma continua y pulsante.
Procesador de seales: Recibe la seal y la transforma en una seal elctrica
Transductor de salida o dispositivo de lectura: Transforma la seal elctrica en
informacin til para el analista.

13. Nombrar 5 equipos que utilicen los diferentes tipos de radiacin.

14. Para qu sirve y en que regiones trabaja la lmpara de deuterio,

tungsteno y arco de xenn.
Fuente de radiacin:

lmpara de Deuterio o Hidrgeno: proporcionan espectro continuo en

la regin UV (160-375 nm)
lmpara de filamento de Tungsteno: radiacin visible e IR cercano
arco de xenn: espectro continuo entre 150 y 800 nm se utiliza en el
UV-Visible

15. Tipos de selectores de onda

filtros
monocromadores: de red, de prisma.

16. Material utilizado en las cubetas o celdas de UV

Cubetas cuarzo o slice fundida para que sean transparentes a la luz
(permitan en paso de radiacin de la regin espectral de inters).
17. Detectores utilizados en UV (2) y explique 1 con su dibujo.
Fotomultiplicadores y fotodiodos:
Detector de radiacin: fotomultiplicador.

18. Nombre todos los tipos de electrones que intervienen en la absorcin

de la radiacin UV-vis.
1) Electrones, y n (molculas e iones orgnicos)
2) Electrones d, f (iones metales de transicin, lantnidos, actnidos)
3) Electrones transferencia carga (complejos inorgnicos)
19. Nombre los 4 tipos de transiciones electrnicas.

20. 5 aplicaciones del espectrofotmetro de UV.

Aplicaciones a alimentos:
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
8.

Detector tpico HPLC (UV/vis)-haz diodos

Perfiles de compuestos fenlicos en zumos (huellas digitales)
Perfiles flavonoides en mermeladas (origen botnico)
Clasificacin varietal y regional de vinos en funcin de su contenido en
antocianinas y polifenoles analizados por HPLC
Mquinas diferenciadoras del color (sorting) para evaluar la calidad de
alimentos
Aplicaciones enzimticas
Aplicaciones especficas: azcares, cido ascrbico, ctrico, vitamina A,
caroteno, Fe, Mn, Zn, etc
Automatizacin

21. Fundamento del ngulo de contacto, XPS, SIMS , SEM, AFM.

ANGULO DE CONTACTO: puede ser obtenido midiendo el ngulo formado
entre el slido y la tangente a la superficie de la gota.
XPS (espectroscopia Foto electrnica de Rayos X): para producir los rayos x
de baja energa, una fuente de electrones es dirigida a un objetivo de Al,
dnde los rayos x se forman. Estos rayos x, tienen una energa de 1486 eV.
El objetivo (metal) es dirigido a un cristal de cuarzo, el cual debido al ngulo
de Bragg monocromatiza los rayos X y nos enfoca en un punto.

SIMS: (espectroscopa de masas del in secundario) el bombardeo de una

superficie de una muestra con un rayo de iones primarios seguido por la
espectroscopa de masas de los iones secundarios emitidos.
SEM: (microscopa electrnica). Cuando un haz de electrones e, de suficiente
energa, interacciona con la materia se producen diferentes seales que
recogidas con detectores adecuados nos proporcionan informacin acerca de
la zona de interaccin de dicho haz con los tomos. La tcnica esencialmente
consiste en hacer incidir en la muestra un haz de electrones.
AFM (microscopa de fuerza atmica): Una punta delgada y con terminacin
extremadamente fina de apenas 5 nm, barre una muestra, y la deteccin de
minsculas fuerzas atmicas o moleculares de interaccin entre la punta y la
superficie de la muestra se registran, observan y estudian.
22. Explique el efecto fotoelctrico y que profundidad alcanza el XPS.

Las lneas espectrales son identificadas por la capa de la cul los

electrones son expulsados (1s,2s y 2p etc)
Los electrones expulsados tienen una energa cintica: KE=hv-BE-
Siguiendo este proceso el tomo puede liberar energa por la emisin de
un electrn auguer.

Se dice que el anlisis es superficial ya que los fotoelectrones son originados a

profundidades de 20-100 .
23. Qu es "sputtering" o expulsin?
Un in primario produce una colisin en cascada entre los tomos de la
superficie y entre 0.1 y 10 tomos son generalmente expulsados. Depende la
naturaleza del analito.
24. Equipo que determina los estados de oxidacin.
XPS (espectroscopa foto electrnica de rayos X).
25. Para que se utiliza la espectrometra de masas (importancia).
Nos permite obtener:

Pesos moleculares
Informacin estructural
Informacin cuantitativa

Es la ms sensible de todas las tcnicas superficiales por la inherente sensibilidad

de su detector.

26. Qu tipo de informacin se obtiene en un equipo SIM?

Determina la composicin de muestras orgnicas e inorgnicas.

Determina la composicin de una muestra a diferentes profundidades.
Los perfiles pueden ser utilizados para generar imgenes especficas de los
elementos presentes.
Detectar impurezas o trazas de elementos especialmente en
semiconductores y filamentos delgados.

27. Diferencias entre SIMS dinmico y esttico.

Esttico: erosin lenta, (ms de 15 minutos) consume solo una dcima parte
de la capa monoatmica. No daa mucho la muestra.
Dinmico: involucra el uso de iones primarios de ms alta energa, erosin
rpida (menor a 1 segundo), es utilizado para generar perfiles de profundidad.
28. Detectores con los que cuenta el SEM.

Electrones secundarios
Electrones retrodispersados
Rayos X

29. Ventajas del AFM contra el SEM.

No se necesita preparar la muestra, barre tanto superficies conductoras

como no- ductivas. Polmeros de muestras biolgicas.
Permite visualizar los materiales y muchas de sus propiedades con una
extraordinaria resolucin espacial de hasta 1 nm.