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Laboratrio de Controle e
Automao I
Instrumentao
Balana de Preciso
Com Strain Gages
STRAIN GAGES
Sensor de Deformao
Deformaes e fadiga so geradas em componentes, subsistemas e sistemas,
devido a peso, temperatura, presso, vibrao ou foras de deslocamento. Um
dos mtodos mais usuais para realizar estas medies atravs do uso de
extensmetros metlicos, ou strain gauges ("gages"), conectados em ponte de
Wheatstone.
O extensmetro baseia-se no princpio de que, quando um condutor est sujeito
a um esforo de tenso ou compresso, ocorre uma variao de sua resistncia. A
amplitude da variao, relacionada com a resistncia original, proporcional
intensidade do esforo aplicado, ou ainda:
GF =
R
L
R
L
R
provenientes de catlogo do fabricante), possui
= 2 1500 = 3000 E .
R
Desta maneira, pode-se calcular a tenso de sada do medidor como sendo:
eo = 3000 Vex G .
BALANA DE PRECISO
PREPARAO
1) Ler o Tutorial Strain Gage Technical Data da OMEGA Engineering.
2) Descrever as funes e as principais caractersticas dos circuitos integrados
LM723 e INA114, com o auxlio dos datasheets da National Semicondutor e da
Burr Brown/Texas Instruments.
3) Descrever o funcionamento do Mdulo Condicionador para Clulas de Carga
(Braga, 2002), apresentado na Figura 1 abaixo. A ponte de Wheatstone com
strain gages e a fonte de alimentao so externos ao Mdulo. Este, por sua
vez, constitudo por quatro elementos:
Regulador de tenso, para excitao da ponte de Wheatstone (tenso Vex);
Circuito de balanceamento da ponte;
Amplificador de instrumentao, para aumentar o nvel da tenso de
desequilbrio da ponte;
Filtro RC passa - baixa, para atenuar rudos de 60 Hz no sinal de sada.
VCC
R3
2.2k
12
11
Vc
Vcc+
R4
560
R1
100
C2
12V
VEE
Fonte de Alimentao
COMP
Vz
Vref
VEE
+Vex
Vex=6V
10
OUT
+ +
Vcc-
5
9
6
R5
20k
R6
13
C1 33nF
0 VEE
LM723
CL
CS
- -
12V
GND
U1
2
3
4
R2
1k
VCC
VCC
VCC
33nF
R7
560
Balano
100k
0
Balanceamento
VCC
C3
.1uF
1
8
3
V+
Vo
GS1
GS2 +
+
OUT
Filtro
f0=100Hz
15k
Vof
R=120
1
2
3
4
R2
R1
R3
R4
Strain-gages
C4
.1uF
Vo
INA114AP
C5
.1uF
R8
REF
RG
10k
U2
0
2
JP2
GND
V-
G=1+50k/RG
Clula de Carga
VIN(-)
0
VEE
VIN(+)
Amplificador de Instrumentao
PARTE EXPERIMENTAL
1) Verificar a construo fsica da balana e a fixao dos strain-gages da
Ponte de Wheatstone na haste metlica. Analisar os esforos possveis
sobre os mesmos: quais strain-gages sofrero trao e quais sofrero
compresso?
2) Fazer o ajuste de zero com o prato vazio, com VO = 0,00 Volts.
3) Fazer o ajuste de fundo de escala, de modo que a massa M = 300g de um
corpo padro corresponda tenso de sada VO = +3,00 Volts.
ATENO: utilizar massas de at 300 g para no deformar a balana. Tomar
cuidado ao manusear os padres a serem utilizados na calibrao, pois eles
no devem ser tocados com as mos.
4) Levantar pontos (VO x M) da Caracterstica Esttica da Balana, utilizando
os diversos corpos padro. Trabalhar com variaes (intervalos) de 20
gramas, sendo 16 pontos com variaes crescentes e 16 com variaes
decrescentes. Observar que, dos 16 pontos, um se refere balana sem
carga.
5) Com o auxilio de um Software (p. ex., Planilha Excel ou MATLAB) obter os
grficos VO [Volts] x M [gramas] para os testes crescente e decrescente.
- Fazer regresses de primeira ordem nestas curvas experimentais. Existe
histerese significativa entre as duas?
- Obter a funo analtica V'O = f(M), isto , a equao de calibrao do
transdutor. Qual o seu ganho?
- Calcular e plotar o erro de linearidade, em funo da massa M:
EL(M) = VO(M) V'O(M)
- Para qual faixa de massa M o erro maior? Por qu?
- Verificar, com um osciloscpio, o rudo presente na medio e o efeito da
filtragem realizada.
6) Estudar, agora, o Comportamento Dinmico da Balana, identificando a
funo de transferncia:
G(s) = VO(s) / M(s)
Para isso, com o auxlio de um osciloscpio digital, fazer a aquisio do
sinal VO com o tempo, tanto para um degrau de massa igual a 200 gramas
(deixada cair no prato da balana), quanto para um impulso (aplicado na
extremidade da haste metlica, neste caso com e sem a massa de 200 g).
Em cada caso, exportar o sinal do osciloscpio para um microcomputador,
atravs de comunicao serial.
7) Encontrar uma funo G(s) para cada teste, medindo o perodo das
oscilaes (intervalo de tempo entre picos), assim como plotar a envoltria
em um grfico semi-logartmico e fazer uma regresso de primeira ordem.
O ganho esttico de G(s) a inclinao da caracterstica esttica j obtida,
ou seja, o ganho do transdutor. O modelo pode ser validado para o
transitrio completo? Por qu?
8) Analisar o comportamento dinmico da Balana, modelando-a teoricamente
por um sistema massa-mola-amortecedor. Para simplificao, considerar
um sistema de translao retilnea vertical, uma vez que o deslocamento
angular da haste bem pequeno. Obter um modelo de segunda ordem e
verificar analiticamente como a massa, o coeficiente de rigidez (da mola) e
o coeficiente de atrito influenciam esta funo de transferncia: os
resultados tericos so coerentes com as medies experimentais?
9) O comportamento dinmico da Balana adequado? Por qu? Qual(ais)
alterao(es) mecnica(s) e /ou eltrica(s) poderiam ser feitas, de forma a
alterar esse comportamento? Comentar as caractersticas estticas e
dinmicas da balana. Tirar concluses.
Referncias Bibliogrficas
Doebelin, E. O.
Measurement Systems Application and Design (Cap. 3)
McGraw-Hill International Editions, 4th Edition, 1990.
OMEGA Engineering, Inc
The Pressure, Strain and Force Handbook, Section E, 2000.
www.omega.com/techref/strain-gage.html
Strain Gage Technical Data, 2002.
National Instruments
Strain Gauge Measurement A Tutorial.
Application Note 078, 1998.
www.national.com
LM723 Voltage Regulator
National Semiconductor.
www.ti.com
INA114 Precision Instrumentation Amplifier.
Texas Instruments / Burr-Brown.
The three primary factors influencing gage selection are operating temperature,
state of strain (gradient, magnitude, and time dependence) and stability required.
Because of its outstanding sensitivity, the Wheatstone bridge circuit is the most
frequently used circuit for static strain measurements. Ideally, the strain gage is the
only resistor in the circuit that varies and then only due to a change in strain on the
surface.
There are two main methods used to indicate the change in resistance caused by
strain on a gage in a Wheatstone bridge. Often, an indicator will rebalance the
bridge, displaying the change in resistance required in micro-strain. the second
method installs an indicator, calibrated in micro-strain, that responds to the voltage
output of the bridge. This method assumes a linear relationship between voltage
out and strain, an initially balanced bridge, and known V in. In reality, the V outstrain relationship is nonlinear, but for strains up to a few thousand micro-strain,
the error is not significant.
Potential Error Sources
In a stress analysis application, the entire gage installation cannot be calibrated as
can some pressure transducers. Therefore, it is important to examine potential
error sources prior to taking data.
Some gages may be damaged during installation. It is important therefore to check
the resistance of the strain gage prior to stress.
Electrical noise and interference may alter your readings. Shielded leads and
adequately insulating coatings may prevent these problems. A value of less than
500 M ohms (using an ohmmeter) usually indicates surface contamination.
Thermally induced voltages are caused by thermocouple effects at the junction of
dissimilar metals within the measurement circuit. Magnetically induced voltages
may occur when the wiring is located in a time varying magnetic field. Magnetic
induction can be controlled by using twisted lead wires and forming minimum but
equal loop areas in each side of the bridge.
Temperature effects on gage resistance and gage factor should be compensated
for as well. This may require measurement of temperature at the gage itself, using
thermocouples, thermistors, or RTDs. Most metallic gage alloys, however, exhibit a
nearly linear gage factor variation with temperature over a broad range which is
less than 1% within 100C.
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Temperature Characteristic
Temperature dependent changes of the specific strain gage grid resistance occur
in the applied gage owing to the linear thermal expansion coefficients of the grid
and specimen materials. These resistance changes appear to be mechanical strain
in the specimen. The representation of the apparent strain as a function of
temperature is called the temperature characteristic of the strain gage application.
In order to keep apparent strain through temperature changes as small as
possible, each strain gage is matched during the production to a certain linear
thermal expansion coefficient. OMEGA offers strain gages with temperature
characteristics matched to ferritic steel and aluminum.
Service Temperature Range
The service temperature range is the range of ambient temperature where the use
of the strain gages is permitted without permanent changes of the measurement
properties. Service temperature ranges are different whether static or dynamic
values are to be sensed.
Maximum Permitted RMS Bridge Energizing Voltage
The maximum values quoted are only permitted for appropriate application on
materials with good heat conduction (e.g., steel of sufficient thickness) if room
temperature is not exceeded. In other cases temperature rise in the measuring grid
area may lead to measurement errors. Measurements plastics and other materials
with bad heat conduction require the reduction of the energizing voltage or the duty
cycle (pulsed operation).
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