UNI-FIQT AACB

Lectura N 7

QU-117 A y B

DIFRACCIN DE RAYOS X
Los Rayos X se descubrieron en 1895 por el fsico alemn Rntgen y
recibieron ese nombre porque se desconoca su naturaleza en ese momento. A
diferencia de la luz ordinaria, esa radiacin era invisible pero viajaba en lnea recta
y ennegreca las pelculas fotogrficas de manera similar a como lo haca la luz.
Sin embargo, esa radiacin era mucho ms penetrante que la luz y poda
atravesar el cuerpo humano, la madera, piezas delgadas de metal, etc. Esta
propiedad encontr inmediatamente aplicacin en la obtencin de radiografas: las
porciones menos densas de un material dejan pasar la radiacin X en mayor
proporcin que las ms densas: de esta forma es posible localizar la posicin de
una fractura en un hueso o una grieta en una pieza metlica.
En 1912 se estableci de manera precisa la naturaleza de los rayos X. En ese ao
se descubri la difraccin de rayos x en cristales y este descubrimiento prob la
naturaleza de los rayos X y proporcion un nuevo mtodo para investigar la
estructura de la materia de manera simultnea.
Los rayos X se producen cuando una partcula cargada elctricamente con
suficiente energa cintica es frenada rpidamente. Los electrones son las
partculas utilizadas habitualmente y la radiacin se obtiene en un dispositivo
conocido como tubo de rayos x que contiene una fuente de electrones y dos
electrodos metlicos. El alto voltaje entre los electrodos dirige los electrones hacia
el nodo, o blanco, y al golpear sobre l con una elevada velocidad producen r-x
en el punto de impacto que se irradian en todas direcciones. La mayor parte de la
Ec de los electrones que golpean el blanco se convierte en calor y nicamente
menos de un 1% se transforma en r-x.

Interaccin de los R-X con la materia. Difraccin

La interaccin de los r-X con la materia esencialmente ocurre mediante dos
procesos:
a) Algunos fotones del haz incidente son desviados sin prdida de energa,
constituyen la radiacin dispersada exactamente con la misma que la radiacin
incidente (es la que origina el fenmeno de la difraccin). Otros fotones son
dispersados con una pequea prdida de energa: constituyen la radiacin
Compton con ligeramente mayor que la radiacin incidente.
b) Los fotones pueden sufrir una serie de choques inelsticos al incidir sobre un
blanco y su energa incrementa la T de la muestra. Adems la energa de un fotn
de r-x puede arrancar un electrn de las capas internas de un tomo en la
muestra. Este tomo puede volver a su estado de mnima energa emitiendo un
fotn de r-X con una caracterstica de ese elemento.
Ley de Bragg
La ley de Bragg permite estudiar las direcciones en las que la difraccin de rayos
X sobre la superficie de un cristal produce interferencias constructivas, dado que
permite predecir los ngulos en los que los rayos X son difractados por un material
con estructura atmica peridica (materiales cristalinos).
Fue derivada por los fsicos britnicos William Henry Bragg y su hijo William
Lawrence Bragg en 1913. La ley de Bragg confirma la existencia de partculas
reales en la escala atmica, proporcionando una tcnica muy poderosa de
exploracin de la materia, la difraccin de rayos X. Los Bragg fueron premiados
con el Premio Nobel de Fsica en 1915 por sus trabajos en la determinacin de la
estructura cristalina del NaCl, el ZnS y el diamante.
Interferencia y difraccin
Cuando los rayos X alcanzan un tomo interaccionan con sus electrones
exteriores. stos reemiten la radiacin electromagntica incidente en diferentes

direcciones y con la misma frecuencia (en realidad debido a varios efectos hay
pequeos cambios en su frecuencia). Este fenmeno se conoce como dispersin
de Rayleigh (o dispersin elstica). Los rayos X reemitidos desde tomos
cercanos interfieren entre s constructiva o destructivamente. Este es el fenmeno
de la difraccin.
En el diagrama que sigue se esquematizan rayos X que inciden sobre un cristal.
Los tomos superiores reemiten la radiacin tras ser alcanzados por ella. Los
puntos en los que la radiacin se superpone constructivamente se muestran como
la zona de interseccin de los anillos. Se puede apreciar que existen ngulos
privilegiados en los cuales la interferencia es constructiva, en este caso hacia la
derecha con un ngulo en torno a 45.

La radiacin incidente llega a tomos consecutivos con un ligero desfase

(izquierda). La radiacin dispersada por los tomos (crculos azules) interfiere con
radiacin dispersada por tomos adyacentes. Las direcciones en las que los
crculos se superponen son direcciones de interferencia constructiva.
Ley de Bragg
La interferencia es constructiva cuando la diferencia de fase entre la radiacin
emitida por diferentes tomos es proporcional a 2. Esta condicin se expresa en
la ley de Bragg:

n = 2 d sen
donde

n es un nmero entero,

es la longitud de onda de los rayos X,

d es la distancia entre los planos de la red cristalina y,

es el ngulo entre los rayos incidentes y los planos de dispersin.

De acuerdo al ngulo de desviacin (2), el cambio de fase de las ondas produce

interferencia constructiva (figura izquierda) o destructiva (figura derecha).

Deduccin de Ley de Bragg por diferencia de camino ptico.

Para analizar los rayos dispersados por tomos en diferentes planos se toma los
rayos 1 y 2 de la figura de arriba. Estos rayos son dispersados por los tomos K y
L, la diferencia en sus caminos pticos es
ML + LN = d sen + d sen

As estos rayos estarn completamente en fase si su diferencia de caminos es

igual a un nmero entero (n) de longitudes de onda , de tal manera que se
cumple que n = 2 d sen

APLICACIONES DE LA DIFRACCIN DE RAYOS X

A continuacin se mencionan algunas de las aplicaciones ms comunes que se
encuentran en el estudio de los materiales especialmente:

Determinacin de la estructura de los materiales, esto se hace gracias a la

recopilacin de informacin que ha permitido tener una gran cantidad de
patrones de difraccin. Adems del establecimiento de los planos cristalinos
que producen difraccin y la combinacin del difractmetro con las cmaras
de difraccin de rayos X, para el estudio de estructuras complejas.

Determinacin de las composiciones y de los elementos presentes en una

estructura que se somete a estudio, esto se logra realizando anlisis
cuantitativo y cualitativos de las estructuras que se someten a estudio.

Determinacin de los cambios de fases en las estructuras, este tipo de

anlisis se realiza por medio de difractmetros o cmaras en los cuales se
puede someter el material a cambios de temperatura, lo cual permite
realizar anlisis a diferentes temperaturas.

Determinacin de esfuerzos residuales. Se realiza estudiando patrones de

difraccin del material es estudio y comparndolos con aquellos en los que
se presentan esfuerzos residuales con el fin de detectar cambios en la
morfologa de los planos que producen difraccin