Unidad 3. Introducci N A Las Tçcnicas de Caracterizaci N

Materiales y nanotecnologa
Unidad 3. Introduccin a las tcnicas de

caracterizacin
Ingeniera en Energas Renovables

8 Cuatrimestre
Programa de la asignatura:
caracterizacin
Clave:
Ing. 230930831
Universidad Abierta y a Distancia de

Mxico
Divisin de Ciencias de la Salud, Biolgicas y Ambientales | Energas Renovables 1
caracterizacin
ndice
Unidad 3. Introduccin a las tcnicas de caracterizacin ................................................... 3

Presentacin de la unidad .............................................................................................. 3
Propsitos ...................................................................................................................... 4
Competencia especfica ................................................................................................. 4
3.1. Uso e importancia de las tcnicas de caracterizacin.............................................. 4
3.1.1. La caracterizacin de los materiales ................................................................. 4
3.1.2. Utilidad de las tcnicas de caracterizacin ........................................................ 9
3.1.3. Anlisis de las tcnicas de caracterizacin ..................................................... 10
3.2. Tcnicas de caracterizacin .................................................................................. 11
3.2.1. Mecnicas....................................................................................................... 11
3.2.2. Trmicas ......................................................................................................... 16
3.2.3. Elctricas ........................................................................................................ 23
3.2.4. Magnticas ..................................................................................................... 38
3.2.5. pticas ........................................................................................................... 41
Actividad 1. Tipo de anlisis...................................................................................... 47
Actividad 2. Anlisis de resultados........................................................................... 48
Evidencia de aprendizaje. Anlisis de un material .................................................. 49
Cierre de la unidad ....................................................................................................... 49
Para saber ms ............................................................................................................ 50
Fuentes de consulta ..................................................................................................... 51
caracterizacin
Unidad 3. Introduccin a las tcnicas de caracterizacin
Presentacin de la unidad
Hasta el momento, el curso se haba centrado en la relacin entre la estructura de un
material y sus propiedades. Sin embargo, no se haba tratado la manera de determinar la
estructura, composicin o propiedades de los materiales.
Por otro lado, a fin de que los materiales cumplan la funcin para la que fueron diseados,
es necesario realizar un anlisis y caracterizacin para asegurar que cumplen las
propiedades deseadas, y al mismo tiempo, permita determinar las causas de algn
material defectuoso, con el objetivo de mejorarlo y evitar que el problema se repita.
En esta unidad se pretende abordar de manera general, algunas de las tcnicas ms
usadas para caracterizar los compuestos de slidos. Esto, con el fin de determinar la
informacin que se puede obtener, cmo obtener esa informacin, y finalmente, cmo
usarla.El objetivo principal de esta unidad, es proporcionar una descripcin prctica de los
mtodos utilizados para caracterizar una amplia gama de materiales.
El anlisis pretende siempre un conocimiento ms profundo de un determinado material,
mientras que su caracterizacin es en general ms limitada y puede llegar a restringirse a
una sola caracterstica del material.
En esta unidad, se abordarn algunas de las tcnicas ms importantes para la
caracterizacin de materiales. Los fundamentos tericos en los que se basa cada una de
las tcnicas, no sern desarrollados en esta unidad. Sin embargo, estos temas pueden
ser encontrados en muchos otros libros de texto, citados en la bibliografa, as como
algunos sugeridos en la seccin Para saber ms. Por otro lado, no es necesario conocer a
fondo cada una de las tcnicas existentes. Es conveniente reconocer, las aplicaciones del
mtodo, la preparacin de muestras y resultados que se pueden obtener. Esto con el fin
de poder determinar el mejor mtodo a utilizar para un material particular.
Una vez elegido el grupo de tcnicas adecuadas a emplear, se deben estudiar a fondo,
con el fin de conocer sus fundamentos, variantes de la tcnica y la interpretacin de los
resultados.
caracterizacin
Propsitos
Al finalizar con el estudio de la unidad:
Identificars las tcnicas de caracterizacin adecuadas para describir las

propiedades de un material.
Reconocers el sistema energtico en el que puede usarse un material de acuerdo
a sus propiedades.
Competencia especfica
Examinar las propiedades de los materiales para determinar su aplicacin en sistemas
energticos a partir del anlisis de los datos obtenidos en las tcnicas de caracterizacin.
3.1. Uso e importancia de las tcnicas de caracterizacin

Hay una amplia variedad de tcnicas de caracterizacin de materiales. Su eleccin
depender del tipo de informacin que se desee obtener, y las condiciones en las que se
encuentra la muestra. Esta unidad, se ha enfocado a las tcnicas de caracterizacin de
materiales slidos, como se ha mencionado, son los de mayor inters en el rea de la
ciencia de los materiales.
3.1.1. La caracterizacin de los materiales

De acuerdo a la naturaleza del material que est siendo estudiado, se pueden emplear un
conjunto de tcnicas para evaluar su estructura y propiedades. Algunas tcnicas son
cualitativas, como las que proporcionan una imagen de una superficie, otras generan
informacin cuantitativa, como las concentraciones relativas de los tomos que componen
el material. Los avances tecnolgicos permiten obtener imgenes bidimensionales y
tridimensionales de las posiciones atmicas en un slido, en tiempo real. Por otro lado, la
sensibilidad de las tcnicas cuantitativas tambin sigue mejorando, es posible medir
fcilmente partes por trilln las concentraciones de impurezas en una muestra (Fahlman,
2011).
Caractersticas de los instrumentos
Los instrumentos se caracterizan por diversos parmetros con los cuales se puede tener
una idea de la calidad de los resultados.
caracterizacin
La precisin de un instrumento se define como el grado de concordancia entre los datos
obtenidos de la misma manera. Es un reflejo del error aleatorio que se produce en la
medida, y por lo tanto, su cuantificacin se realiza mediante clculo estadstico aplicado a
una serie de mediciones. El valor usual que cuantifica la precisin de un instrumento
analtico es la desviacin estndar absoluta.
La exactitud es el grado de desviacin entre el valor medio obtenido en una serie de
medidas y el valor verdadero de la medida. La exactitud es un reflejo del error sistemtico
absoluto de la medida, y es justamente este el parmetro que la cuantifica. Es posible
utilizar materiales estndar de referencia, tambin conocidos por patrones, que tienen
valor conocido de concentracin de y que son medidos en el equipo a calibrar. En dicha
medida conviene reducir el error aleatorio para aumentar la precisin, por lo que conviene
que el nmero de medidas con patrones sea del orden de 20 o 30 cuando la precisin es
baja. Estos conceptos se pueden interpretar ms fcilmente con la ayuda de la siguiente
figura.
Representacin de los conceptos de precisin y exactitud. Fuente: tomado de Faraldos, (2011).
Las medidas realizadas en el instrumento, se representan como lanzamientos de tiro al

blanco. El centro de las dianas representa el valor verdadero . La diana de la izquierda
corresponde a un instrumento de gran precisin, pero de una baja exactitud (no est
calibrado), siendo el error, el mdulo del segmento de separacin entre el centro de la
diana y el valor medio de los lanzamientos. La diana de la derecha corresponde a un
instrumento de buena exactitud, ya que el valor medio de los lanzamiento corresponde
con el valor verdadero (est bien calibrado), pero de baja precisin. El mdulo del
segmento representado sera la desviacin estndar. Esta ltima caracterstica, suele ser
una intrnseca del equipo y no puede ser cambiada.
Por otro lado, la sensibilidad de un instrumento representa su capacidad de discriminar
entre pequeas cantidades de algn componente. Este parmetro, cuantifica cmo
cambia la seal analtica frente a un cambio pequeo de la concentracin del
componente. La sensibilidad depende simultneamente de la precisin y la exactitud. Un
caracterizacin
equipo de baja precisin no puede ser muy sensible, ya que un cambio de la
concentracin de algn componente producir un cambio de la seal analtica ms
pequeo que la desviacin estndar, que ser alta. La dependencia con la exactitud viene
dada a travs de la curva de calibrado. La forma de realizar un calibrado que maximice la
exactitud, es mediante un ajuste lineal entre la seal analtica y la concentracin de algn
componente.
El lmite de deteccin, es la concentracin mnima de algn componente que es posible
medir con el instrumento. Para cuantificarlo, se debe medir la seal analtica en blanco.
Esta seal es producida por una muestra donde la concentracin de algn componente es
cero, y coincide con el valor de ordenadas a concentracin cero. En muchos equipos, esta
seal es nula, pero en otros muchos tiene un valor discreto que se tienen que determinar.
El rango dinmico, es el intervalo de concentraciones en el que es aplicable la recta de
calibrado con el fin de realizar un anlisis cuantitativo. Se toma un umbral de
concentracin mayor que el lmite de deteccin, denominado lmite de cuantificacin, para
tener una confianza estadstica mayor en dicha cuantificacin, y que corresponde a una
seal analtica cuya diferencia con la seal del blanco es 10 veces la desviacin estndar.
El lmite superior es el lmite de linealidad, y es el punto en que la curva de calibrado deja
de tener un comportamiento lineal.
Curva de calibrado. Fuente: tomado de Faraldos, (2011).
La resolucin de un equipo es la capacidad para distinguir entre dos seales analticas

frente a un cambio de la seal estmulo. La definicin de este parmetro no es siempre
posible en todas las tcnicas instrumentales. Su cuantificacin es el valor absoluto de la
seal estmulo que permite distinguir entre dos seales analticas. En otras ocasiones es
el valor absoluto de un parmetro relacionado con la seal estmulo.
caracterizacin
Manipulacin de muestras
En general, una muestra es de un volumen o peso muy inferior al sistema que se
pretende analizar, pero debe ser representativa. Es decir, las propiedades de la muestra
deben ser las mismas que las del sistema. Su obtencin se realiza mediante un muestreo,
que depender del tipo de material a analizar.
De acuerdo al tipo de material, se debe considerar en que parte se realizar el anlisis,
como en la superficie o en el volumen. Por otro lado, a veces es necesaria una
homogeneizacin de la muestra. En cualquier caso, se debe reducir el tamao del
material hasta obtener un tamao de partcula manejable en el laboratorio.
Los metales y otros materiales, deben tener consideraciones adicionales, debido a que
algunos slidos compactos son afectados por una exposicin prolongada a las
condiciones ambientales, como la corrosin en el caso de los metales. En este tipo de
slidos, existe una diferencia entre analizar la superficie macroscpica de la muestra (del
orden de milmetros) y analizar su interior. En estos casos, se debe separar la muestra de
la superficie exterior y de la masa interior. Con el tiempo la muestra del interior se
transformar de nuevo en superficie exterior, de manera que la separacin se debe
realizar inmediatamente antes del anlisis correspondiente o aislando la muestra en otras
condiciones.
En la mayor parte de las tcnicas, el tamao adecuado es del orden de micras. Sin
embargo, en el proceso de reduccin y seleccin del tamao, comienzan a aparecer
errores experimentales debidos a la manipulacin de la muestra. Estos pueden ser
causados por la prdida de algn componente, ya que podra perderse algn componente
ms que otros. Tambin puede producirse contaminacin, es decir, la introduccin de
algn componente que originalmente no estaba en la muestra.
Los sistemas de reduccin del tamao de partcula son variados, aunque los ms usados
en el laboratorio son los morteros y los molinos de bolas. Para evitar la prdida de algn
componente o la contaminacin, hay que seleccionar adecuadamente el material para el
mortero o para las bolas del molino en funcin de la naturaleza de la muestra. Los
materiales ms habituales son gata, almina, carburo de silicio, carburo de boro,
porcelana y acero.
Despus de cada pulverizado se realiza un tamizado de la muestra, el cual va
seleccionando el tamao de partcula dentro de un determinado rango o por debajo de un
determinado valor mximo.
caracterizacin
Humedad
Debido a la exposicin al ambiente, la mayora de las muestras slidas contienen agua en
mayor o menor medida. Por esta razn, puede ser considerada como uno de los
componentes bsicos del material. El agua puede estar presente en la muestra en
diferentes formas:
Absorbida es la que se encuentra en el interior de los poros abiertos de una

muestra slida y no interacciona con la superficie.
Adsorbida es la que se encuentra interaccionando con la superficie de la muestra.
Ocluida es la que se encuentra en el interior de los poros cerrados del material, y
que por lo tanto, no tiene posibilidad de escapar si no se forma una grieta que abra
el poro.
De cristalizacin es el agua que forma parte de la estructura cristalina del slido,
pero la molcula de agua constituye una unidad separada.
De constitucin es la que se forma en la descomposicin de determinados slidos,
sin que se encuentre previamente de una forma diferenciada.
Se han ordenado de forma creciente segn su estabilidad, es decir, es ms fcil eliminar

del slido el agua absorbida que el agua adsorbida y as sucesivamente.
Una forma til de caracterizar el contenido de agua, es el anlisis trmico, dado que se
puede determinar el tipo de agua de acuerdo al orden en que es eliminada al aumentar la
temperatura.
En algunos casos, es necesario eliminar el agua antes de proceder con otro tipo de
anlisis. Para ello, se realizado un secado de la muestra, en las condiciones que se hayan
determinado en el anlisis trmico. Existen diversos mtodos:
Estufa de temperatura controlada, se usa un horno, cuidando que a la temperatura

de secado no se est eliminando otros componentes de la muestra.
Desecador, en que la muestra se pone en una cmara con materiales muy
hidroflicos que eliminan el agua selectivamente a temperatura ambiente.
Mtodos especiales, como la liofilizacin, las membranas de intercambio, los
hornos de microondas, etc.
Normalmente se requiere utilizar sistemas de control de humedad, que mantienen una

humedad constante en caso de que interese que la muestra permanezca con su humedad
original o con la obtenida con los mtodos anteriores.
caracterizacin
3.1.2. Utilidad de las tcnicas de caracterizacin
Es til examinar las tcnicas segn el tipo de informacin analtica que proporcionan. Con
el fin de tener una idea general sobre su aplicacin, las tcnicas se pueden clasificar
segn la informacin obtenida, como la composicin, la estructura, la textura o la
superficie de la muestra. Las tcnicas para la obtencin de composicin, no sern
tratadas en el texto, debido a que el inters general est en las propiedades de los
materiales slidos.
De acuerdo a esta clasificacin, algunas tcnicas se encontrarn en varias divisiones.
Esto se debe, a que las tcnicas tienen una gran versatilidad y proporcionan
informaciones diversas. Sin embargo, siempre se requiere utilizar ms de una tcnica
para completar la informacin obtenida.
Estructura
Estas tcnicas proporcionan informacin sobre la distribucin en el espacio de los tomos
o los iones presentes en el material. Esta informacin puede dividirse en diversos grupos,
de acuerdo al tipo de caractersticas que se desean obtener. En este caso particular, las
propiedades de inters son:
Tamao y forma. Son las tcnicas que brindan informacin microscpica sobre el
tamao y forma de las partculas que constituyen un material slido. En este grupo
se encuentran las Microscopas Electrnicas (SEM y TEM).
Textura y superficie
Este conjunto de tcnicas provee informacin sobre la composicin, estructura y
morfologa, pero limitada a la superficie externa de una muestra slida. La morfologa
proviene de la distribucin y cantidad de huecos y poros. Para realizar un anlisis de
superficie se pueden utilizar las siguientes tcnicas:
Tamao y forma. De manera similar al anlisis estructural, las tcnicas usadas son
las Microscopas Electrnicas (SEM y TEM). Tambin, las Microscopas de Fuerza
Atmica (AFM) y de Efecto Tnel (STM) son especialmente sensibles a la
estructura superficial.
Especies adsorbidas. En general, debido a su exposicin al aire, la superficie del
slido puede adsorber una gran variedad de compuestos que pueden interaccionar
de diversas formas. Esta valoracin se realiza mediante Anlisis Trmico (TA).
caracterizacin
3.1.3. Anlisis de las tcnicas de caracterizacin
El anlisis e interpretacin de los resultados es la ltima etapa del proceso de
caracterizacin de un material.
El propsito del anlisis, es resumir las observaciones llevadas a cabo de forma que
proporcionen respuesta a las interrogantes.
La interpretacin, es un aspecto especial del anlisis, cuyo objetivo es buscar un
significado ms amplio de acuerdo a conocimientos disponibles.
Se debe tener en cuenta el tipo de informacin que se desea obtener, as mismo, de las
tcnicas y procedimientos seguidos en la elaboracin.
Interpretacin de los resultados
La interpretacin de los resultados, se realiza confrontando los resultados del anlisis de
los datos, con las hiptesis formuladas y relacionando dichos resultados con la teora y los
procedimientos de la investigacin. La interpretacin debe limitarse al sistema de
variables considerado, pues solo stas cuentan con el fundamento terico para la
interpretacin.
Los datos obtenidos de la caracterizacin, tienen poco significado si no se realiza una
interpretacin de los datos en forma adecuada.
En la medida de lo posible, la tabla o tablas que presentan los resultados de un estudio
deben explicarse por s mismas y no requerir una extensa lectura del texto para ser
interpretadas. En cambio, el material del texto, debe sealar los aspectos importantes de
los datos y atraer la atencin hacia la pertinencia de los resultados.
Con este tema, se concluye la introduccin a la importancia y uso de las tcnicas de
caracterizacin. En el siguiente tema se abordan las tcnicas de caracterizacin que
sern tratadas en durante la unidad, que como se ha mencionado, por la gran variedad de
tcnica existentes, se considerarn las ms importantes.
caracterizacin
3.2. Tcnicas de caracterizacin
Cada una de las tcnicas de caracterizacin puede ser aplicada para obtener diferente
tipo de informacin. Debido a esto, la clasificacin de las tcnicas en esta unidad se
realiz con base al tipo de interaccin que se realiza en cada muestra. Esta clasificacin
pretende agrupar de manera simple y general, algunas tcnicas de caracterizacin, sin
que el nombre del grupo llegue a ser restrictivo.
En el grupo de las mecnicas, se han incluido la mayora de pruebas mecnicas.

En el tema de propiedades mecnicas, ya se haban mencionado algunas de las
pruebas que son realizadas en los materiales, pero no se consideraron diversos
aspectos de la caracterizacin.
En las de tipo ptico, se pueden agrupar las espectroscopias. Se ha referido a un

tipo de espectroscopia, que incluye luminiscencia, fluorescencia y fosforescencia.
En las trmicas, se han incluido las tcnicas de caracterizacin donde las

muestras son sometidas a ciertas condiciones de temperatura con el fin de obtener
diferente tipo de informacin.
En la interaccin de tipo elctrico, se han agrupado las tcnicas referentes a la

microscopa electrnica. Este tipo de interaccin elctrica, se refiere a la
interaccin de los electrones con el material.
En el tipo magntico, se ha incluido el mtodo ms comnmente usado para la

determinacin de curvas de magnetizacin en funcin del campo magntico, el
Magnetmetro de Muestra Vibrante (VSM).
3.2.1. Mecnicas
Como se ha mencionado en unidades anteriores, si una carga es esttica o bien cambia
de forma relativamente lenta con el tiempo y es aplicada uniformemente sobre una
seccin o superficie de una pieza, el comportamiento mecnico puede ser estimado
mediante un ensayo de esfuerzo-deformacin. Existen tres principales maneras de aplicar
la carga: traccin, compresin y cortante. En la siguiente figura, se muestra un esquema
del comportamiento general. Cada figura corresponde a cargas de a) traccin, b)
compresin, c) cortante y d) torsin.
caracterizacin
Representacin de los diferentes tipos de deformaciones. Fuente: tomado de Callister, (2010).
Ensayos de traccin
Este ensayo puede ser utilizado para determinar varias propiedades de los materiales que
son importantes para el diseo. Al realizar el ensayo se utiliza una probeta, una pieza
hecha del material a estudiar con forma y tamao determinados por la norma
correspondiente. La probeta deforma hasta la rotura, con una carga de traccin que
aumenta gradualmente y se aplica uniaxialmente a lo largo del eje de la probeta (Callister,
1995).
La probeta se monta con sus extremos en las mordazas de la mquina de ensayos. La
mquina de ensayos alarga la probeta a una velocidad constante, y mide la carga
instantnea aplicada y el alargamiento resultante.
caracterizacin
Mquina universal de ensayos. Fuente: tomado de Callister, (2010).
Durante el ensayo, la deformacin est confinada en la regin ms estrecha del centro, la

cual tiene una seccin uniforme a lo largo de su longitud. Dura varios minutos y es
destructivo, es decir, la probeta es deformada de forma permanente y a menudo rota.
El resultado del ensayo de traccin se registra en funcin del alargamiento. Estas
caractersticas de carga-deformacin dependen del tamao de la probeta. Se requerir el
doble de carga para producir el mismo alargamiento si el rea de la seccin de la probeta
se duplica. Para minimizar los factores geomtricos, la probeta se normaliza. En la
siguiente figura se muestra una probeta de traccin normalizada. Generalmente la seccin
de la probeta es circular, pero tambin se utilizan probetas de seccin rectangular
(Callister, 2010).
Probeta normalizada. Fuente: tomado de Callister, (2010).
Cuando comienza aplicarse la carga, el material se alarga en proporcin con la carga. Se

produce una deformacin elstica que no es permanente. Es decir, si se retira la carga en
esa zona, el material regresa a su longitud y forma original.Sin embargo, en algunos
materiales, existe una componente de la deformacin elstica que depende del tiempo. Es
caracterizacin
decir, al retirar la carga se requiere que transcurra algn tiempo para que el material se
recupere completamente. En algunos materiales polimricos su magnitud es importante, y
se denomina comportamiento viscoelstico.
La pendiente de la curva esfuerzo-deformacin en la zona elstica, corresponde al
mdulo de Young. Cuanto mayor es el mdulo, ms rgido es el material.
Si se contina incrementando la carga, la muestra comienza a sufrir una deformacin
permanente o plstica. Por lo tanto, el esfuerzo y la deformacin ya no son
proporcionales. La tensin aumenta hasta un mximo , y despus disminuye hasta
que finalmente se produce la fractura punto .
La resistencia a la traccin , es la tensin en el mximo del diagrama tensindeformacin nominales. Esto corresponde a la mxima tensin que puede ser soportada
por una estructura a traccin. Antes de llegar a ese punto, toda la deformacin es
uniforme en la regin estrecha de la probeta. Sin embargo, cuando se alcanza la tensin
mxima, empieza a disminuir el rea de la seccin transversal en algn punto de la
probeta. En la siguiente figura se muestra una grfica tensin-deformacin, con el
correspondiente esquema de la probeta.
Curva tensin-deformacin. Fuente: tomado de Callister, (2010).
caracterizacin
Ensayos de compresin
Un ensayo de compresin se realiza de forma similar a un ensayo de traccin, excepto
que la fuerza es compresiva y la probeta se contrae a lo largo de la direccin de la fuerza.
Por convencin, una fuerza de compresin se considera negativa y por tanto, produce un
esfuerzo negativo. Los ensayos de compresin son menos comunes porque para la
mayora de los materiales utilizados en aplicaciones estructurales, se obtiene muy poca
informacin adicional a partir del ensayo de compresin. Los ensayos de compresin se
utilizan cuando se desea conocer el comportamiento del material bajo deformaciones
permanentes grandes (es decir, plsticas), tal como ocurren en los procesos de
conformacin, o bien, cuando se tiene un comportamiento frgil a traccin.
Ensayos de corte y de torsin
Los ensayos de esfuerzo cortante fuerza impuesta paralelamente a las caras superior e
inferior. Las fuerzas de torsin producen un movimiento rotacional alrededor del eje
longitudinal de un extremo de la pieza respecto al otro extremo. Ejemplos de torsin se
encuentran en el caso de ejes de mquinas y ejes impulsores, as como en las brocas.
Los ensayos de torsin generalmente se realizan sobre cilindros slidos, o bien sobre
tubos.
Dureza
La dureza es una medida de la resistencia de un material a la deformacin plstica
localizada, por ejemplo, una pequea abolladura o ralladura. Las tcnicas cuantitativas de
dureza que se basan en un pequeo penetrador que es forzado sobre una superficie del
material en condiciones controladas de carga y velocidad de aplicacin de la carga. En
estos ensayos se mide la profundidad o tamao de la huella resultante, lo cual, se
relaciona con un nmero de dureza; cuanto ms blando es el material, mayor y ms
profunda es la huella, y menor es el nmero de dureza. Las durezas medidas tienen
solamente un significado relativo (y no absoluto), y es necesario tener precaucin al
comparar durezas obtenidas por tcnicas distintas.
El ensayo de dureza Rockwell constituye el mtodo ms usado para medirla dureza
debido a que es muy simple de llevar a cabo. Se pueden utilizar diferentes escalas de
acuerdo al tipo de penetradores y cargas. Esto permite ensayar cualquier metal o aleacin
desde el ms duro al ms blando. Los penetradores son bolas esfricas de acero
endurecido que tienen dimetros de
,
,
,y
. El penetrador
cnico de diamante, se utiliza para los materiales ms duros.
caracterizacin
El nmero de dureza se determina a partir de la diferencia de profundidad de penetracin

que resulta al aplicar primero una carga inicial pequea y despus una carga mayor. La
utilizacin de la carga pequea aumenta la exactitud de la medida.
Los equipos modernos estn automatizados y la dureza es medida directamente. Cada
medida requiere nicamente unos pocos segundos.
Algunos equipos permiten la variacin del tiempo de aplicacin de la carga. Esta variable
debe ser considerada al interpretar los resultados de los ensayos de dureza.
3.2.2. Trmicas
Anlisis trmico
El anlisis trmico, es un grupo de tcnicas en las que se mide una propiedad fsica de
una sustancia en funcin de la variacin de temperatura, a travs de un programa
controlado de temperatura.
Existen tcnicas que pueden combinar diferentes mtodos de anlisis trmico junto a
detectores de distinto tipo para analizar los gases que se desprenden de la muestra
durante el anlisis trmico.
Todas las tcnicas tienen una amplia variedad de aplicaciones. En este tema se tratarn
las tcnicas de aplicacin general, como las tcnicas de anlisis termogravimtrico,
anlisis trmico diferencial y calorimetra diferencial de barrido.
Anlisis termogravimtrico (ATG)
El anlisis termogravimtrico es una tcnica que determina la prdida o ganancia de masa
en funcin de la temperatura. Se pueden definir tres tipos principales de anlisis
termogravimtricos:
A) Anlisis termogravimtrico isotermo. Se registran los cambios de masa
temperatura constante.
B) Anlisis termogravimtrico cuasi-isotermo. La muestra se calienta mientras la
masa es constante, y se estabiliza la temperatura conform se van produciendo
los cambios de masa.
C) Anlisis termogravimtrico dinmico. La muestra se calienta en una atmsfera
determinada con una rampa de temperatura controlada.
caracterizacin
Tipos de anlisis termogravimtrico. Fuente: tomado de Faraldos, (2011).
En la siguiente figura, se muestra una curva de anlisis termogravimtrico, donde el slido

se descompone en el slido y en el gas , el cual se desprende provocando una
prdida de peso
.
La temperatura inicial , es la temperatura en la cual se comienza a registrar la prdida
de peso, mientras que la temperatura final , corresponde al punto en el que alcanza la
mxima prdida de peso o bien, la temperatura a la que finaliza el proceso. El intervalo de
temperatura del proceso es
.
caracterizacin
Anlisis termogravimtrico de una reaccin sencilla.Fuente: tomado de Faraldos, (2011).
La estabilidad trmica, es la capacidad de un material de mantener sus propiedades sin

cambio durante un proceso de calentamiento. El anlisis termogravimtrico es una
herramienta muy til para estudiar la estabilidad trmica de los materiales bajo distintas
condiciones experimentales. Para realizar los anlisis termogravimtricos, se utiliza la
termobalanza.
Gran parte de la informacin que se obtiene depende de distintos factores, tanto
instrumentales como de la propia muestra a analizar.
Algunos de los factores instrumentales ms importantes son:
Velocidad de calentamiento de la muestra.

Atmsfera en la que se realiza el anlisis.
Geometra del horno y del portamuestras.
Sensibilidad del equipo.
Composicin del portamuestras.
Los principales factores, dependientes de la muestra, que se deben tener en cuenta son:
Cantidad de muestra.
Solubilidad de los gases producidos en la propia muestra.
Tamao de partcula.
Calor de la reaccin producida.
Empaquetamiento de la muestra.
caracterizacin
Naturaleza de la muestra.
Conductividad trmica del gas de arrastre.
Instrumentacin
La termobalanza es el instrumento que permite la medida continua del peso de la muestra
en funcin de la temperatura. De manera general, en la siguiente figura se muestran los
principales componentes de un equipo de anlisis termogravimtrico:
Esquema de un equipo de ATG. Fuente: tomado de Faraldos, (2011).
Algunas balanzas compensan automticamente la variacin que se produce, aplicando

una fuerza proporcional al cambio de peso producido y esta fuerza es la que se registra
en el termograma.
Los portamuestras se suelen fabricar de materiales inertes para evitar reacciones con las
muestras. Los ms empleados son de platino, cuarzo o almina. Su capacidad puede
variar desde unos miligramos hasta algunos gramos.
El diseo del horno de la termobalanza, es muy importante para evitar errores en las
medidas por turbulencias, conveccin, entre otros. Los hornos pueden alcanzar
temperaturas superiores a
,
o incluso
. Pueden estar situados
debajo o al lado del sistema de medida, dependiendo del tipo de equipo.La medida de la
temperatura se realiza mediante termopares.
caracterizacin
La temperatura del horno, las rampas de temperatura, la atmsfera en contacto con la
muestra, las medidas del peso, entre otras, son algunas de las variables que se controlan
directamente desde un ordenador conectado a la termobalanza.
Aplicaciones
La termogravimetra es un mtodo de anlisis cuantitativo muy fiable y reproducible. Se
usa ampliamente en una gran variedad de aplicaciones en campos tan variados como la
metalurgia, pintura, cermica, polmeros, mineraloga, alimentacin, qumica inorgnica y
orgnica, bioqumica, catlisis, por citar algunos.
A continuacin, se enlistan algunos de los estudios que se realizan empleando el anlisis
trmico:
Descomposicin trmica de materiales inorgnicos, orgnicos o polimricos.

Corrosin de metales en distintas atmsferas a elevadas temperaturas.
Reacciones de estado slido.
Calcinacin y tostado de minerales.
Destilacin y evaporacin de lquidos.
Pirlisis de carbn, petrleo y maderas.
Determinacin de la pureza y composicin de frmacos.
Estabilidad trmica de polmeros.
Contenido de aditivos en plsticos.
Composicin de mezclas de polmeros y copolmeros.
Determinacin de humedad, contenido en voltiles o cantidad de cenizas.
velocidades de evaporacin y sublimacin.
Mtodos trmicos y calorimtricos de anlisis: anlisis trmico diferencial (DTA) y

calorimetra diferencial de barrido (DSC)
El anlisis trmico diferencial (DTA), registra la temperatura de una muestra en
comparacin con la de un material trmicamente inerte, cuando la muestra es calentada o
enfriada a una velocidad constante en una atmsfera controlada.
Los cambios de temperatura en la muestra con respecto a la referencia, se deben a los
procesos exotrmicos o endotrmicos, que pueden ser producidos por fusin, ebullicin,
sublimacin, vaporizacin, cambios de fase, inversiones de estructura cristalina, procesos
de adsorcin, reacciones qumicas de deshidratacin, disociacin, descomposicin,
oxidacin, reduccin, entre otros.
caracterizacin
Como consecuencia de estos procesos, se obtiene un termograma diferencial en el que
se registra la diferencia de temperatura entre la muestra y la referencia (
)
frente a la temperatura del sistema, que se va modificando.
Los procesos exotrmicos, en los que se desprende calor de la muestra, provocan un
aumento de su temperatura con respecto a la referencia y dan lugar a mximos en el
termograma. Por el contrario, los procesos endotrmicos originan mnimos en la curva
como consecuencia de la absorcin de calor por parte del material bajo estudio. De esta
manera, se obtienen picos en los termogramas diferenciales cuyas reas dependen de la
masa de la muestra, de la entalpa del proceso, de la conductividad calorfica de la
muestra y de ciertos factores geomtricos.
En la siguiente figura, se presenta una curva tpica de DTA de un compuesto con cuatro
tipos de transiciones. El primer cambio en la curva del termograma ( ) corresponde a una
transicin caracterstica de materiales polimricos amorfos vitrificados, en los que se
produce un cambio en la capacidad calorfica. Sin embargo, no hay absorcin o
desprendimiento de calor, tan solo se produce un descenso en la lnea base, ya que la
variacin de entalpa es nula. La transicin es tpica de un proceso endotrmico, como
por ejemplo, la fusin de un compuesto. Los picos ms ensanchados como el perfil de la
transicin , corresponden a reacciones qumicas de disociacin o descomposicin. Los
procesos exotrmicos, como los debidos a cambios de fase cristalina, resultan en picos
similares al de la transicin .
Termograma de un anlisis trmico diferencial para una muestra hipottica. Fuente: tomado de
Faraldos, (2011).
caracterizacin
Si en lugar de medir cambios de temperatura entre la muestra y la referencia, se miden
las diferencias de la cantidad de calor absorbido o desprendido, se tendrn los mtodos
calorimtricos de anlisis, como la calorimetra de barrido diferencial (DSC). Por lo
general, los instrumentos de DSC tienen mayor sensibilidad que los de DTA, aunque
estos ltimos alcanzan mayores temperaturas de trabajo.
Todos los calormetros se componen de una celda, donde se produce el fenmeno
trmico bajo estudio, y la zona que rodea la celda. Sin embargo, el tipo de intercambio de
calor entre las dos zonas, ser diferente en cada tipo de calormetro.
Para eliminar los efectos de las fluctuaciones de temperatura externa en el bloque del
calormetro suele haber dos medidores de flujo de calor conectados en oposicin entre s.
Una de las celdas contendr el sistema bajo estudio y la otra se utilizar como referencia.
Esto permite la compensacin de fenmenos parsitos debidos a alteraciones externas y
la estabilizacin de la lnea base. Las curvas de DSC son muy similares a las de DTA,
excepto en las unidades del eje de ordenadas, en el que se representa el flujo de calor
por unidad de tiempo. En este caso los picos positivos se deben a fenmenos
endotrmicos y los negativos a procesos exotrmicos.
Anlisis de las curvas DTA/DSC
La interpretacin terica de las curvas, tanto de anlisis trmico diferencial como de
calorimetra de barrido diferencial, ha dado lugar al desarrollo de distintas teoras para
correlacionar el rea bajo los picos del termograma con los diferentes parmetros
relativos a la muestra y a factores experimentales que dependen del equipo utilizado.
Estas teoras se basan en la relacin existente entre la transferencia de calor y la
geometra de la muestra y del portamuestras.
Tanto el anlisis trmico diferencial como la calorimetra de barrido diferencial, pueden
verse afectados por un gran nmero de factores. En los termogramas obtenidos con fines
cualitativos, es importante determinar bien el perfil, la posicin y el nmero de picos
endotrmicos y exotrmicos. Un simple cambio de las condiciones experimentales, como
la velocidad de calentamiento o la atmsfera que rodea a la muestra, puede ocasionar
ciertas variaciones en el nmero de picos o en sus posiciones y su perfil.
Los factores instrumentales que pueden afectar a las curvas experimentales de DTA/DSC
son la atmsfera del horno, as como su tamao y forma, el material y la geometra del
portamuestras, la velocidad de calentamiento, la velocidad y tiempo de respuesta del
instrumento, el tipo de termopar y la disposicin de este en el equipo.
Los factores que dependen de las caractersticas de la muestra son el tamao de
partcula de la muestra, la densidad de empaquetamiento, su conductividad trmica y
caracterizacin
capacidad calorfica, su grado de cristalinidad, los cambios de volumen durante el
proceso, la cantidad de muestra utilizada y el efecto del diluyente.
Aplicaciones
Cualquier fenmeno que produzca un cambio entlpico o en la capacidad calorfica de un
material puede ser detectado por las tcnicas de anlisis trmico diferencial o por
calorimetra. Este tipo de fenmenos pueden ser causados por cambios de estado,
cambios en la composicin qumica, por ejemplo.
Las tcnicas de DTA/DSC son una herramienta analtica rpida para la identificacin de
numerosos compuestos. Pueden ser utilizadas como tcnicas de control para distinguir
rpida y fcilmente entre materiales y detectar modificaciones en ellos. Si se realiza
adecuadamente la calibracin del equipo, estas tcnicas permiten realizar estimaciones
cuantitativas de una substancia o una mezcla de substancias o determinar su pureza.
3.2.3. Elctricas
Microscopa electrnica de materiales
Los microscopios contribuyen a la investigacin de las caractersticas microestructurales
de todo tipo de materiales. El lmite de aumentos del microscopio ptico es de
aproximadamente
. Sin embargo, algunos elementos estructurales son demasiado
finos o pequeos para su observacin mediante microscopia ptica.
El microscopio electrnico, es capaz de conseguir muchos ms aumentos que el
ptico.Este microscopio utiliza la interaccin de los electrones para generar la imagen. De
acuerdo con la mecnica cuntica, un electrn en movimiento, se comporta como una
onda, con una longitud de onda inversamente proporcional a su velocidad. Los electrones,
acelerados mediante altos voltajes, pueden conseguir longitudes de onda del orden de
. Estos microscopios tienen grandes aumentos y elevado poder resolutivo como
consecuencia de la corta longitud de onda del haz de electrones. Lentes magnticas
focalizan el haz de electrones y forman la imagen. La geometra de los componentes del
microscopio es, esencialmente, igual que la del ptico (Callister, 1995).
El microscopio de barrido proporciona imgenes de la morfologa externa, mientras que el
microscopio de transmisin informa sobre la estructura interna de los slidos.La
informacin que se obtiene, est en funcin de los distintos procesos fsicos de
interaccin del haz de electrones de alta energa (
) con dicho objeto. La
microscopa electrnica permite obtener informacin local de la muestra estudiada, a
diferencia de la mayora de las tcnicas que aportan las medias representativas de toda la
muestra (Faraldos, 2011).
caracterizacin
La mayora de los conceptos como ampliacin, profundidad de campo, resolucin y
aberraciones empleados en microscopa electrnica son equivalentes a los usados en
microscopa ptica.
Conceptos
La ampliacin, es el aumento final del objeto. Es proporcional al nmero de lentes y a sus
distancias focales. Para conseguir grandes ampliaciones se utiliza una combinacin de
lentes, de manera que los aumentos totales se consigan en dos o ms etapas.
La resolucin, es la distancia ms pequea entre dos puntos, de modo que pueden verse
claramente separados como entidades independientes. Para obtener una mayor
resolucin ( ), se puede disminuir la longitud de onda de la radiacin ( ), o bien aumentar
el ngulo de incidencia ( ).
Donde
es el ndice de refraccin.
En un microscopio, la imagen se encuentra enfocada cuando el objeto se encuentra en el

plano de foco ptimo. Si parte del objeto est fuera de ese plano, esa zona de la imagen
est fuera de foco, o borrosa. Esta caracterstica se le conoce como la profundidad de
campo ( ), que limita el espesor del objeto a estudiar. A mayor profundidad de campo, se
espera obtener imgenes ntidas de objetos de espesor apreciable. Como se puede ver
en la siguiente relacin, para aumentar la profundidad de campo, se debe aumentar la
longitud de onda de la fuente de iluminacin, o bien disminuir el ngulo de convergencia
( ), que corresponde al ngulo entre la fuente de luz y el objeto.
Sin embargo, al realizar estos cambios se sacrifica la resolucin. Es por tanto necesario,
alcanzar un equilibrio en los diferentes parmetros en funcin de las necesidades de cada
observacin.
Microscopa electrnica de barrido (SEM)
El microscopio electrnico de barrido es una herramienta de investigacin muy til para el
estudio y la caracterizacin de materiales. La superficie de la muestra, se barre con un
haz de electrones de alta energa. Como consecuencia, se producen en la superficie
diversos tipos de seales. El haz reflejado de electrones, se colecta y se presenta con la
caracterizacin
misma velocidad de barrido en un tubo de rayos catdicos. La imagen, representa las
caractersticas de la probeta. La superficie debe ser elctricamente conductora,
independientemente de que est o no pulida y atacada. Son posibles aumentos de
, con gran profundidad de campo.
Con ayuda de otros accesorios, se puede obtener un anlisis qumico elemental

cualitativo y semicuantitativo de reas superficiales muy localizadas. Por otro lado, a partir
del examen de la microestructura, se puede determinar la fractura mecnica, intuir las
propiedades mecnicas de las aleaciones, el efecto de los tratamientos trmicos, entre
otros, (Callister, 1995).
Las seales ms usuales, corresponden a electrones retrodispersados y secundarios, en
los que se fundamenta el microscopio de barrido de electrones y la emisin de rayos X,
que se utiliza en el anlisis con microsonda de electrones.
En un microscopio electrnico de barrido, el haz pasa a travs unas lentes condensadoras
magnticas y de objetivo. El barrido se lleva a cabo mediante las de bobinas localizadas
entre las lentes, unas desvan el haz en la direccin a lo largo de la muestra y las otras
desvan en la direccin y as, mediante movimientos rpidos del haz, la superficie de la
muestra es irradiada completamente con el haz de electrones (Skoog, 2001).
El detector, cuenta el nmero de electrones secundarios de baja energa emitidos por
cada punto de la superficie. La siguiente figura muestra los principales componentes de
un microscopio electrnico de barrido:
caracterizacin
Representacin de un microscopio electrnico de barrido. Fuente: tomado de Faraldos, (2011).
Las lentes en SEM no forman parte del sistema de formacin de la imagen, sino que se
usan para ampliar y enfocar el haz de electrones sobre la superficie de la muestra.
Las dos grandes ventajas de este microscopio, son el rango de ampliacin y la
profundidad de campo de la imagen. La profundidad de campo de SEM permite enfocar a
la vez superficies que se encuentran a diferentes alturas. La profundidad de campo
depende de la divergencia del haz de electrones, el cual viene definido por el dimetro de
la apertura de la lente objetivo y la distancia entre la muestra y dicha apertura.
El voltaje de aceleracin, generalmente, se encuentra entre
y
, y su resolucin
. La mayor ampliacin es funcin del sistema de barrido ms que de las lentes, es
decir, cuanto menor sea el rea barrida mayor es la ampliacin (Hernndez, 2011).
Existen diversos fenmenos que tienen lugar debido al impacto de los electrones. Entre
los ms importantes en SEM, estn la emisin de electrones secundarios, seguido de la
emisin de electrones retrodispersados, debido a que proveen diferente tipo de
informacin de la muestra observada.
Los detectores, discriminan los electrones en funcin de su energa, permitiendo por tanto
formar imgenes tanto con electrones secundarios como con retrodispersados. Los
electrones secundarios son emitidos por la muestra en procesos inelsticos de ionizacin
debido a la colisin con el haz incidente, altamente energtico. Estos electrones, al ser de
caracterizacin
baja energa (hasta
) vuelven a ser absorbidos por tomos adyacentes, pero los
generados cerca de la superficie pueden escapar. Debido a esto, las imgenes formadas
por electrones secundarios representan las caractersticas de la superficie de la muestra.
Una fraccin de los electrones del haz incidente pueden abandonar el material como
electrones retrodispersados (BSE). Se consideran BSE aquellos electrones con energa
entre
y la energa del haz incidente. La intensidad de los electrones
retrodispersados depende del nmero atmico promedio de la muestra pues elementos
ms pesados producirn ms electrones retrodispersados. Es posible hacer uso
combinado de estos tipos de electrones, permitiendo obtener buenas imgenes con gran
nmero de cuentas.
Otra emisin importante que tiene lugar cuando el haz de electrones interacciona
inelsticamente con la muestra, es la de fotones de rayos X con energa y longitud de
onda caractersticos de los elementos que forman la muestra. Con un detector adecuado,
se puede formar una imagen empleando los rayos X emitidos, usando el mismo principio
de formacin de imagen que con electrones secundarios. La imagen final ser un mapa
de distribucin elemental en el cual la variacin de contraste refleja la concentracin del
elemento elegido.
Preparacin de muestras
Una de las grandes ventajas de la microscopa electrnica de barrido es el hecho de que
muchas especies pueden ser examinadas sin apenas preparacin. El espesor de la
muestra viene delimitado nicamente por el del portamuestras.
Para examinar el contraste topogrfico, basta con cortar y pulir la superficie para evitar
contaminar el microscopio, y empleando solo el mnimo de limpieza necesario. Se
emplean disolventes como acetona, ultrasonidos o pulido mecnico. Posteriormente, la
muestra se coloca sobre un portamuestras metlico normalmente con pegamento o
pintura conductora, y se seca.Si se trata de un material aislante, se debe recubrir con un
agente conductor. Sin embargo, si se van a llevar a cabo observaciones a muy bajo
voltaje, no es necesario este recubrimiento.
La muestra se suele recubrir con carbn o metales, como el oro. El recubrimiento con
metal, es ms efectivo que el carbn, evitando que la muestra se cargue. Cuando la carga
se acumula en la muestra, se dificultan las observaciones y se debe cambiar de zona.
Cuando se realiza el anlisis de rayos X, es necesario que la seal del recubrimiento
conductor sea conocida y sobre todo, no enmascare ninguna de las seales de la
muestra, en caso tal, se debe recubrir con carbn.
caracterizacin
Microscopa electrnica de transmisin (TEM)
La imagen formada en un microscopio electrnico de transmisin (TEM) est formada por
un haz de electrones que atraviesa la muestra, de manera que se pueden observan
detalles de la microestructura interna. Frecuentemente es utilizado para el estudio de las
dislocaciones.
Los contrastes de la imagen se consiguen por diferencias del haz difractado o dispersado
por varios elementos de la microestructura o defecto (Callister, 1995).
Teniendo en cuenta que los materiales slidos absorben los haces de electrones, la
muestra debe ser muy delgada, a fin de que la transmisin del haz incidente pase a travs
de ella.
Instrumentacin
La muestra es iluminada por un haz de electrones producidos en el can situado en la
parte superior del microscopio. Este can puede ser termoinico o de emisin de campo.
Los electrones, que son emitidos en el filamento, pasan a travs de una gran diferencia de
potencial y adquieren una energa cintica. En la siguiente figura, se muestran algunas
partes de las que est compuesto un microscopio electrnico de trasmisin (Faraldos,
2011).
Esquema de un microscopio electrnico de transmisin (TEM). Fuente: tomado de Faraldos,

(2011).
caracterizacin
Antes de alcanzar la muestra, el haz de electrones es modificado por las lentes y la
apertura condensadoras para mejorar la coherencia del haz. Cuando el haz interacciona
con la muestra tienen lugar procesos elsticos e inelsticos. En los procesos elsticos, los
electrones incidentes son dispersados sin prdida de energa y en los procesos
inelsticos, los electrones incidentes ceden parte de su energa a los electrones internos
del material.
La lente objetivo, focaliza los haces dispersados y forma la primera imagen intermedia.
Esta imagen es luego aumentada y corregida por una serie de lentes proyectoras para ser
procesada y mostrarse en la pantalla de un ordenador. Con el microscopio de transmisin,
se logran aproximadamente
de aumentos y tienen una capacidad de resolucin
de hasta
(Callister, 1995; Hernndez, 2011).
El mtodo a elegir preparar muestras para TEM, depende tanto del tipo de material como
de la informacin requerida.La muestra a estudiar debe ser principalmente delgada, lo
suficiente como para ser transparente al haz de electrones, y representativa del material a
estudiar.
Para su preparacin es necesaria una primera etapa de adelgazamiento inicial.
Posteriormente se adelgaza hasta alcanzar la transparencia al haz de electrones. La
primera etapa de adelgazamiento supone la obtencin de lminas de entre
y
de espesor y de estas se corta un disco de
de dimetro. La regin central de este
disco se adelgaza, finalmente por una o ambas caras, hasta alcanzar un espesor de tan
solo unas micras. Este proceso se lleva a cabo normalmente mediante pulido qumico,
electroqumico, bombardeo inico o ultramicrotoma, (Faraldos, 2011).
Generalmente, las muestras se colocan sobre una rejilla que puede ser de cobre,
aluminio, nquel, wolframio, entre otros. Las son rejillas que unos
de dimetro y de
a
mallas.
Microscopa electrnica de transmisin con barrido (STEM)
Algunos microscopios de transmisin, pueden operar en modo TEM y adems, en modo
STEM, Microscopa electrnica de transmisin con barrido.
Un microscopio electrnico de transmisin con barrido es en esencia un microscopio
electrnico de transmisin al que se le ha acoplado un sistema de bobinas deflectoras, las
cuales permiten barrer el haz de electrones sobre la superficie de la muestra. Las bobinas
controlan que la sonda de electrones barra en todo momento paralelamente al eje ptico,
caracterizacin
es decir, que no cambie de direccin a medida que realiza el barrido. En el modo STEM,
el haz de electrones ya no es paralelo como sucede en el TEM sino que converge en un
punto de manera que se obtiene una sonda de electrones muy focalizada, la cual
atraviesa la muestra, generando a su vez distintas seales que se pueden detectar y
monitorizar en funcin de la posicin del haz.
En la prctica, un TEM/STEM tiene la lente objetivo y las lentes proyectoras debajo de la
muestra, pero en el modo STEM estas solo se utilizan para cambiar la longitud de cmara
entre la muestra y el plano del detector; tambin para formar la imagen de la sonda
electrnica. Por lo tanto, la mayor parte de la ptica acta sobre el haz antes de que este
atraviese la muestra.
En este caso, no se necesita una lente objetivo para enfocar la imagen, sino que la seal
de la interaccin de los electrones con la materia la va recogiendo un detector que
transforma esos impulsos en una imagen y, por tanto, algunos defectos de esta lente,
como la aberracin cromtica, dejan de tener importancia. Esto es una ventaja a la hora
de analizar muestras con un espesor considerable.
La fuente de electrones tiene que ser capaz de proporcionar una alta intensidad de
corriente en un haz muy fino, lo cual requiere el empleo de caones de emisin de campo,
ya que para producir un nivel de seal apropiado es necesario que el nmero de
electrones que se dispersan por cada punto de la muestra sea grande.
En modo STEM se pueden obtener tres tipos de imgenes en funcin del detector que se
emplee, imgenes de campo claro (BF), imgenes de campo oscuro (DF) e imgenes
HAADF o de contraste Z.
Las imgenes de campo claro son formadas por los electrones que difractan cerca del eje
ptico, es decir, a bajos ngulos. En cambio, las imgenes de campo oscuro se formaran
con los electrones difractados a alto ngulo.Por ltimo, las imgenes de contraste Z estn
formadas con los electrones que estn dispersados a muy alto ngulo.
Las imgenes STEM BF y STEM DF estn formadas por la contribucin de la dispersin
elstica e inelstica, pero en el caso de las imgenes de contraste Z solo se hace uso de
la dispersin incoherente, dispersin inelstica.
El tipo de informacin que se obtiene en STEM es complementaria a la obtenida en modo
TEM.
caracterizacin
Procesado
El procesado digital de imgenes es la manipulacin de imgenes experimentales
encaminada a la obtencin de mayor informacin sobre la muestra. Es necesario para
filtrar las imgenes experimentales y eliminar as el posible ruido obteniendo una imagen
mejorada, con contrastes ms ntidos y tambin es esencial para cuantificar la informacin
que contiene una imagen.
Consideraciones
Para determinar los tipos de microscopios electrnicos a usar, se debe establecer el tipo
de informacin que se desea obtener, a fin de elegir los ms apropiados para llevar a
cabo el estudio.
Uno de los aspectos ms importantes que se debe tener en cuenta, es la resolucin
necesaria. Utilizar un microscopio cuya resolucin est muy por encima de la necesaria,
implica no solo un gasto innecesario, sino una complicacin, debido a que el exceso de
informacin en una imagen, tiende a ocultar la informacin til presente en ella.
Tambin se debe tener en cuenta, los posibles efectos de dao de radiacin, ya que,
generalmente a mayor voltaje de aceleracin del microscopio, se provocan mayores
daos al cristal. Cada tipo de estudio conlleva tambin su propia estrategia.
Microscopios de sonda de barrido
Los microscopios de sonda de barrido son capaces de resolver, a nivel atmico, detalles
relativos a las superficies. El principal uso de los microscopios de sonda de barrido, es la
determinacin de la topografa de las superficies de las muestras. A diferencia de los
microscopios pticos y de electrones, los de sonda de barrido muestran adems, detalles
del eje z, perpendicular a la superficie, (Skoog, 2001).
Los instrumentos basados en las interacciones tipo punta-muestra, constituyen un
conjunto de herramientas denominadas mtodos de sondas de barrido. Estas tcnicas,
permiten caracterizar distintas propiedades superficiales con resolucin nanomtrica. Por
esta razn, son indispensables para el desarrollo de la investigacin en el campo de las
nanociencias, (Faraldos, 2011).
La caracterstica que comparten las sondas de barrido, es que constan de una sonda local
que detecta algn tipo de interaccin con una superficie. La interaccin se registra en
distintas posiciones y con ese conjunto de datos se construye una imagen.
caracterizacin
En general, para el posicionamiento de la sonda sobre la muestra, se utilizan materiales
piezoelctricos, mtodos de deteccin y retroalimentacin de seales.
A estas tcnicas se les llama microscopas, sin embargo, no utilizan ondas
electromagnticas para construir una imagen. La informacin superficial se obtiene
detectando localmente, estados electrnicos, fuerzas electrostticas, fuerzas repulsivas o
atractivas, corrientes electroqumicas, fuerzas magnticas, etc. Existen diversas tcnicas
y modos de operacin, y su uso se realiza de acuerdo al caso particular (Faraldos, 2011).
El microscopio de barrido de efecto tnel (STM) y el microscopio de fuerza atmica
(AFM), barren la superficie de la muestra en un rastreo programado, con una punta muy
aguda que se desplaza siguiendo los cambios de la topografa de la superficie. El
movimiento se mide y traduce, por medio de un ordenador, en una imagen de la
topografa de la superficie. A menudo, esta imagen muestra detalles a una escala de
tamao atmico. La principal desventaja del STM, es que la superficie de estudio debe ser
conductora de la electricidad. En cambio, el AFM no presenta esta limitacin (Skoog,
2001).
Microscopa de efecto tnel (STM)
El microscopio de efecto tnel, se basa en el fenmeno cuntico que describe la
probabilidad de que los electrones atraviesen una fina capa de un material no conductor.
La corriente por efecto tnel, se registra entre una punta conductora afilada y una
superficie, separadas unos pocos nanmetros. La corriente, pasa a travs de un medio
que no contiene electrones. Por ejemplo, vaco, lquido no polar o incluso una disolucin
acuosa de un electrlito (Skoog, 2001).
La punta se aproxima o aleja de la superficie lo necesario para compensar cualquier
desnivel presente en la superficie, de manera que la distancia se mantenga constante.
Estos desplazamientos verticales, se determinan registrando la corriente en cada punto
de la superficie y a partir de ellos, se construye la imagen del perfil topogrfico de la
superficie.
La corriente depende tanto de la distancia entre la punta y la superficie, como de la
densidad de estados electrnicos de la muestra. Por esta razn, una imagen topogrfica
de STM ser, un reflejo de la densidad electrnica de la superficie.
Tambin existen otros modos de operacin que permiten obtener informacin distinta a la
topogrfica.
caracterizacin
Esquema del funcionamiento de un microscopio de efecto tnel. Fuente: tomado de NISE,

(s/d).
Microscopa de fuerza atmica (AFM)
En el microscopio de fuerza atmica, se registra a lo largo de la superficie, la fuerza
originada por la interaccin entre los tomos de la punta y los tomos de la superficie. La
fuerza se mide a travs del desplazamiento vertical de una micropalanca muy blanda,
tambin llamada cantilver, que es capaz de deformarse bajo la influencia de las fuerzas
atmicas, del orden de unos pocos nanonewtons. La punta, pasa por la superficie y
mapea en su recorrido el contorno topogrfico (Faraldos, 2011).
A diferencia del STM, el microscopio de fuerza atmica, permite la resolucin de tomos
individuales tanto de superficies conductoras como aislantes.
El campo de fuerzas acta entre la superficie de la muestra y el cantilver, provocando
ligeras desviaciones que se detectan mediante un sistema ptico.
Como en el STM, el movimiento de la punta, o a veces de la muestra, se logra mediante
un tubo piezoelctrico. Durante un barrido, se mantiene constante el campo de fuerzas
sobre la punta en el movimiento hacia arriba y hacia abajo de la punta, que entonces
proporciona la informacin topogrfica (Skoog, 2001).
caracterizacin
La fuerza entre la punta y la muestra es la interaccin registrada, al igual que en el
microscopio de efecto tnel lo es la corriente. Aunque en este caso, la interaccin es
mucho menos definida. La punta interacciona con la superficie a travs de fuerzas
atractivas y repulsivas de distinta ndole, de acuerdo a cada caso. La fuerza resultante
puede incluir fuerzas de van der Waals, fuerzas capilares, interacciones qumicas, fuerzas
electrostticas, fuerzas magnticas, fuerzas de solvatacin, entre otras.
La fuerza entre la sonda y la muestra se mide a travs de la deformacin de la
micropalanca. El comportamiento de la micropalanca se puede visualizar como un
pequeo resorte que se estira o encoje cuando es sometido a una fuerza.
En la siguiente imagen, se puede observar un esquema del funcionamiento del
microscopio, donde un fotodiodo registra la posicin del reflejo del lser sobre el
cantilver.
Esquema del funcionamiento del microscopio de fuerza atmica. Fuente: tomado de Faraldos,
(2011).
La deformacin del cantilver se mide detectando el desplazamiento en direccin

perpendicular a la superficie de la muestra , conforme este va deslizndose sobre ella.
Este mdulo se encuentra conectado a una unidad externa de control con la electrnica
necesaria para operar el microscopio y a un ordenador con el software y las tarjetas de
interfaz adecuadas para controlar el funcionamiento del equipo.
caracterizacin
La forma ms habitual de medir el desplazamiento del cantilver, es registrando en un
fotodiodo de cuatro cuadrantes el reflejo de un haz lser incidente sobre su superficie.
Esta configuracin permite detectar con precisin desplazamientos de hasta dcimas de
nanmetro. El fotodiodo de cuatro cuadrantes permite separar las seales originadas por
el movimiento vertical y el movimiento de torsin del cantilver al deslizarse sobre la
superficie. La informacin sobre el relieve se manifiesta en el desplazamiento vertical
mientras que la informacin sobre las fuerzas de friccin entre la punta y la muestra, que
se opone al deslizamiento de la punta, afecta la torsin del cantilver.
Instrumentacin
Toda la familia de microscopas de sonda de barrido, cuentan con un sistema de
posicionamiento fino de la punta, de rastreo de la punta sobre la superficie, de deteccin
de la posicin de la punta, y de retroalimentacin. De esta manera, es posible compensar
los cambios de seal detectados y mantener constante la distancia entre la punta y la
muestra.
Los microscopios, pueden operar en varios modos, intercambiando el soporte de la punta,
el portamuestras o incorporando algn mdulo electrnico adicional para controlar y
detectar alguna seal de inters.
La superficie se analiza punto a punto, es decir, para cada coordenada , de la
superficie se registra una interaccin. Con esta coleccin de datos se construye la imagen
tridimensional de la superficie. La zona de estudio no se analiza simultneamente, sino
que se recogen los datos secuencialmente, punto a punto y lnea a lnea. Este muestreo
secuencial limita la velocidad a la que se pueden adquirir las imgenes.
Puntas
La punta para detectar la corriente de un microscopio de efecto tnel, es un filamento de
un material conductor. Este hilo, puede ser de tungsteno, oro, platino-iridio, y se encuentra
sujeto mecnicamente a un soporte. El hilo de metal, es de unos
de espesor. En
la siguiente imagen se muestra una punta de tugsteno que fue afiliada
electroqumicamente. En la parte derecha de la imagen, se muestra la forma de colocar la
punta en el soporte.
caracterizacin
Punta de tungsteno afilada electroqumicamente y el soporte. Fuente: tomado de Farlados, (2011).
Para un microscopio de fuerza atmica, la punta que se utiliza para rastrear una
superficie, es tpicamente el extremo de una pirmide de nitruro de silicio o de silicio, con
un radio de
nanmetros, cuya base se encuentra colocada sobre una plataforma
de dimensiones micromtricas, denominada cantilver.
Punta de un AFM. Fuente: tomado de Farlados, (2011).
Operacin en medios lquidos

La corriente tnel entre la punta y una superficie conductora se puede medir aun cuando
la superficie y la punta se encuentren sumergidas en un medio lquido no conductor. En el
caso de que el medio sea conductor, ser necesario recubrir la punta de algn material
aislante de forma que la corriente fluya nicamente por el extremo prximo a la superficie
analizada. Esta versatilidad en el funcionamiento del microscopio de efecto tnel permite
caracterizar superficies conductoras sumergidas en medios lquidos conductores
(Farlados, 2011).
El microscopio de fuerzas tambin puede utilizarse para caracterizar superficies
sumergidas en un medio lquido. El ajuste adicional necesario es un realineamiento de la
trayectoria del reflejo del lser que compense su desviacin al sumergirse en el lquido.
caracterizacin
Operacin en condiciones de ambiente controlado
Los microscopios de sonda de barrido son pequeos y pueden llegar a instalarse en el
interior de cmaras de ultra alto vaco o incluso en el interior de microscopios electrnicos
de barrido.
Tambin es frecuente que resulte de inters, mantener a la muestra en condiciones
controladas de presin o en presencia de gases. Siempre y cuando las presiones no sean
extremas, se puede implementar una cmara donde se incluya la muestra, la punta, o
incluso el microscopio completo para cumplir estas condiciones. Cada sistema, segn sea
su geometra y el acoplamiento entre el soporte donde se apoya la muestra y el sistema
de posicionamiento y deteccin del movimiento de la punta, requerir de una forma de
aislamiento distinto.
Operacin a distintas temperaturas
Los sistemas de registro de seal son extremadamente sensibles a perturbaciones
mecnicas y elctricas, adems de que exigen una alta estabilidad. Por esta razn,
incluso trabajando a temperatura ambiente, es recomendable tener siempre la precaucin
de esperar a que todos los componentes del sistema alcancen el equilibro trmico que
permita tomar imgenes de alta resolucin libres de distorsiones. Los equipos se suelen
colocar en entornos aislados de vibraciones y protegidos de corrientes de aire y cambios
bruscos de temperatura.
Existen instrumentos que permiten tomar imgenes de muestras en una rango
comprendido entre
grados hasta aproximadamente
grados. Para evitar
complicaciones, normalmente se calienta el soporte donde se encuentra la muestra,
evitandoa as, calentar el resto del microscopio.
Las microscopas de sonda de barrido son instrumentos en continuo desarrollo. Son
compatibles con una gran variedad de condiciones, siendo la mayor limitacin para su
implementacin, de carcter tcnico. Es por ello recomendable, revisar detenidamente los
manuales del equipo a utilizar, de manera que se pueda conocer de manera precisa el
funcionamiento del equipo particular.
Preparacin de las muestras
Se debe tener presente, que se trata de tcnicas de caracterizacin de superficies. Por
tanto, la estructura que se analiza es exclusivamente la zona que est expuesta al medio.
Se pueden estudiar tanto superficies slidas extensas como materiales orgnicos o
inorgnicos suspendidos en una solucin, siempre y cuando se adsorban previamente a
una superficie slida plana.
caracterizacin
A fin de obtener el mximo rendimiento y fiabilidad de la caracterizacin superficial, es
imprescindible la limpieza de la muestra. En el caso del microscopio de fuerza atmica, la
sonda detectar todo lo que se encuentre en la superficie y es prcticamente imposible
distinguir la seal proveniente de elementos contaminantes de la proveniente en la
superficie de inters (Faraldos, 2011).
Aplicaciones
El tipo de muestras que puede caracterizarse con estos microscopios es muy diverso.
Como se ha mencionado, se pueden caracterizar superficies conductoras, utilizando el
STM, o no conductoras, utilizando el AFM.
Es posible analizar muestras metlicas, cermicas, polmeros orgnicos, partculas
orgnicas o inorgnicas e incluso muestras biolgicas.
Las microscopas de sonda de barrido tienen mltiples aplicaciones en el estudio de
procesos catalticos. Constituyen una herramienta imprescindible para el estudio de
superficies e interfases. Aunque la mayor parte de las aplicaciones se refieren a
caracterizaciones estructurales y morfolgicas, la observacin en tiempo real de procesos
dinmicos superficiales, incluyendo la adsorcin, difusin y reaccin, proporcionan una
informacin esencial para entender los mecanismos catalticos.
Otras aplicaciones incluyen la manipulacin de superficies, al igual que la fabricacin de
catalizadores nanoestructurados, la manipulacin directa de tomos y molculas
adsorbidas y reacciones mediadas por la punta.
3.2.4. Magnticas
Magnetmetro de Muestra Vibrante (VSM)
Las caractersticas de cualquier material magntico definen sus posibles aplicaciones y
estn descritas en trminos de su curva de magnetizacin en funcin del campo
magntico (M vs. H).
El instrumento de medicin ms comnmente usado para la determinacin de curvas M
vs. H, llamado tambin lazo de histresis, es el Magnetmetro de Muestra Vibrante
(VSM), que es una de las tcnicas ms usadas tanto en laboratorios de investigacin
bsica como en ambientes de produccin, dada su capacidad de medir las propiedades
magnticas bsicas de materiales como funcin del campo magntico externo, la
temperatura y el tiempo.
caracterizacin
Las tcnicas de caracterizacin magnticas se pueden dividir en dos tipos:
Medicin de la fuerza sobre un material en un campo magntico: Las tcnicas de

fuerza, se han utilizado a lo largo de los aos, siendo la balanza de Faraday la
ms representativa. Sin embargo, estas tcnicas dificultan la observacin de la
magnetizacin en un campo uniforme debido a que el gradiente del campo es
esencial para la produccin de la fuerza. Adems, estas tcnicas no son
fcilmente adaptables a rutinas de medicin de magnetizacin versus campo
aplicado.
Medicin de induccin magntica en la vecindad de la muestra: Todas las tcnicas

de induccin involucran la medicin de un voltaje inducido en una bobina por un
cambio de flujo ocasionado por la variacin del campo magntico aplicado, la
posicin de la bobina, o la posicin de la muestra. El VSM es la tcnica de
induccin que por su fcil implementacin en laboratorios, su gran adaptabilidad a
rutinas de automatizacin, y su alta sensibilidad, es el equipo ms comn de
caracterizacin magntica.
Instrumentacin
A continuacin se describen los diferentes elementos del magnetmetro de muestra
vibrante y la forma en que se relacionan durante una medicin de magnetizacin.
Esquema de un equipo VSM. Fuente: tomado de Rosales, (2006).
Para generar el movimiento vibratorio aplicado a la muestra, se usa un transductor y un

controlador, que ajusta y controla la amplitud de la vibracin a un valor de referencia
establecido mediante un generador de seales. Estas vibraciones son transmitidas hasta
la muestra por medio de una varilla acrlica. La muestra se ubica en su extremo inferior,
entre los polos del electroimn, rodeada por el espacio vectorial magntico que stos
caracterizacin
generan. El campo magntico aplicado a la muestra es medido mediante un gaussmetro
que posee una sonda Hall transversal.
El gaussmetro y fuente DC, se articulan en el software de control general del sistema
para establecer el campo magntico deseado, segn los rangos preestablecidos por el
usuario. Estos valores programados se convierten en la referencia para el algoritmo de
control y establecimiento del campo magntico. La muestra vibra perpendicularmente al
campo aplicado, entonces los momentos magnticos oscilantes inducen un voltaje en las
bobinas de deteccin estacionarias. Las propiedades magnticas de la muestra pueden
ser deducidas de las mediciones de este voltaje.
Un segundo voltaje es inducido en una bobina de referencia vibrante al interior del
transductor. Dicha solenoide se encuentra acoplado al eje de vibracin, e interacciona con
el campo magntico producido por magnetos permanentes en su interior, es decir, sobre
el mismo eje de vibracin. Tanto la muestra como la bobina de referencia se encuentran
impulsadas por un elemento en comn.
Para realizar una medicin primero se ubica la muestra de calibracin en la parte central
de la bobinas por simple inspeccin visual, despus observando la fase en el visualizador
del lock-in se ubica la muestra en el mnimo desfase y en mxima seal de salida posible.
De esta forma la seal en las bobinas de deteccin se vuelve independiente de los
pequeos desplazamientos de la muestra debido a que la seal de salida se hace
mxima.
La combinacin de alta sensibilidad y estabilidad permite mediciones en materiales
magnticos blandos donde los cambios y el momento magntico son muy pequeos.
M vs. H para algunos materiales magnticos. Fuente: tomado de Rosales, (2006).
caracterizacin
3.2.5. pticas
Actualmente, el uso de mtodos pticos es muy extendido, debido a su rapidez, a la gran
gama de instrumentacin disponible y sus grandes posibilidades de automatizacin. En
muchos casos es posible la resolucin de un problema analtico sin necesidad de recurrir
a mtodos de otro tipo.
Los mtodos pticos hacen uso de la radiacin electromagntica, la cual, est constituida
por ondas que se propagan en el espacio a la velocidad . Las ondas estn constituidas
por componentes elctricos y magnticos perpendiculares entre s, donde se representa
una onda polarizada que se propaga a lo largo del eje , (Hernndez, 2011).
La materia y las radiaciones electromagnticas pueden interaccionar entre s con un
intercambio de energa.
La espectroscopia estudia el comportamiento los materiales frente a la radiacin
electromagntica. Las diferentes espectroscopias se pueden clasificar de acuerdo a la
zona espectral: UV-VIS, IR, Microondas, entre otras. Sin embargo, no solo existen las
radiaciones electromagnticas, sino tambin, por ejemplo, la radiacin con iones
(espectroscopia de masas), con electrones (espectroscopia de electrones), o con ondas
de sonido (acstica).
Las regiones del espectro electromagntico en orden creciente de longitud de onda y
decreciente de energa son: rayos csmicos, rayos , rayos , ultravioleta, visible (UVVIS), infrarrojo (IR), microondas y radio.
De acuerdo la relacin de la energa con la frecuencia, se puede ver que la energa de los
fotones aumenta con la frecuencia y decrece con la longitud de onda (es el inverso de la
frecuencia). De esta manera, los efectos de los diferentes tipos de radiacin sobre la
materia se explican en funcin de la energa de sus fotones. Por ejemplo, la radiacin UVVIS produce un efecto sobre los electrones de enlace. Las energas son del orden de a
, (Faraldos, 2011).
En la siguiente figura se muestran las regiones del espectro electromagntico y las
transiciones asociadas.
caracterizacin
El espectro electromagntico y algunos tipos de transiciones asociadas. Fuente: tomado de

Faraldos, (2011).
En general, en espectroscopia los fenmenos de inters son la absorcin y la transmisin

de la radiacin, y la reflexin para el estudio de slidos.
Interaccin de la radiacin y la materia. Fuente: tomado de Faraldos, (2011).

Cuando una radiacin incide con un ngulo dado en la interfase entre dos medios con
densidades diferentes, se produce un choque elstico entre el fotn y el in, tomo o
molcula. No se produce intercambio energtico, pero s direccional en el fotn o
refraccin, como consecuencia de las diferencias en las velocidades en ambos medios.
Cuando la radiacin atraviesa una interfase entre medios con diferente ndice de
refraccin, siempre se produce una reflexin, tanto mayor cuanto ms aumente la
diferencia entre los ndices.
caracterizacin
Espectroscopia de luminiscencia, fluorescencia y fosforescencia
Esta espectroscopia permite la determinacin cuantitativa de una gran variedad de
especies inorgnicas y orgnicas a nivel de traza (<
moles). Su gran sensibilidad,
selectividad y su gran intervalo de respuesta lineal, con la concentracin de algn
componente, constituyen las grandes ventajas de la luminiscencia. La rapidez de la
tcnica permite medir cambios de concentracin en picosegundos. La fotoluminiscencia
permite el marcaje mltiple y resolver combinaciones espectrales temporal y
espacialmente. Es una tcnica segura que no destruye la muestra, ni genera
subproductos, y no es invasiva. Ello le confiere gran aplicacin en estudios de tejidos y
muestras biolgicas.
Instrumentacin
La mayor parte de los componentes de los instrumentos espectroscpicos son
esencialmente semejantes, aunque difieren algo en su configuracin y propiedades
dependiendo de la regin del espectro y del fenmeno en estudio. En general son:
Una fuente de energa estable

Selector de longitud de onda
Recipiente de muestra
Detector de radiacin
Dispositivo de procesamiento y lectura de las seales
Tipos de equipos
Algunos de los equipos que permiten el anlisis cualitativo y cuantitativo de sustancias
fluorescentes:
Espectrofluormetros, que miden valores promedio de propiedades de pequeas

muestras.
Microscopios de fluorescencia, los cuales determinan las caractersticas
fluorescentes de las muestras. Emplea una luz intensa con la que se excita el
material, de modo que la imagen se basa en la luz emitida por la muestra excitada.
Escneres de fluorescencia: similar al anterior pero para muestras macroscpicas.
caracterizacin
Algunos aspectos particulares de los espectrofluormetros se citan a continuacin:
Espectrofluormetros de filtros. En general, se componen de una fuente, filtro

primario y secundario, celda, detector y espejo para compensar variaciones en la
intensidad de la fuente.
Espectrofluormetros de haz sencillo. Disponen de componentes similares que el

fluormetro de filtros, salvo que un monocromador primario y otro secundario se
encargan de seleccionar las longitudes de onda de excitacin y emisin.
Espectrofluormetros de doble haz. En este caso, varan por la utilizacin de una

segunda celda de referencia. Un divisor de haz enva la radiacin excitadora a las
dos celdas.
Fuentes
Normalmente se necesita una fuente de radiacin continua con dos requisitos esenciales:
Debe generar un haz de potencia suficiente para que se detecte y se mida con facilidad a
lo largo de toda la regin de longitudes de onda de inters. Su potencia de salida debe ser
estable por encima del intervalo de tiempo que duren las medidas.
La lmpara de vapor de mercurio es la ms sencilla, de bajo costo y larga duracin (ms
de diez aos). Es til para muestras que no requieren excitacin a
donde su
radiacin no es intensa.
Las lmparas de arco de Xenon proporcionan gran uniformidad de intensidad emitida,
aunque dan lneas caractersticas muy intensas en la regin del UV-visible.
Actualmente, se utilizan fuentes lser, que proporcionan mayor sensibilidad y selectividad.
Pero la excitacin por lser suele reducirse a las bandas de
y
. Esto
restringe los experimentos basados en determinacin simultnea del color de varias
sondas. Se requieren sondas con mximos de absorcin prximos a la de las fuentes de
lser (Faraldos, 2011).
Selectores de radiaciones
Para el anlisis espectroscpico se necesita una radiacin constituida por una banda
estrecha de longitudes de onda, de modo que la seal de salida ideal sera una radiacin
de una nica longitud de onda o frecuencia, es decir, radiacin monocromtica. Sin
embargo, no existe ningn selector de longitud de onda que se aproxime al caso ideal, en
su caso, se obtiene una distribucin de longitudes de onda.
caracterizacin
Los monocromadores tienen por objeto descomponer la radiacin policromtica en sus
componentes, dando un haz monocromado cuya longitud de onda pertenezca a la regin
en estudio.
Los instrumentos de fluorescencia se caracterizan por incorporar dos selectores de
radiaciones antes y despus de la celda portamuestras. Mientras el fluormetro emplea
filtros de vidrio o cuarzo, el espectrofluormetro utiliza dos monocromadores de red.
Generalmente, los selectores de radiacin primario o de excitacin y secundario o de
emisin, se disponen en ngulo de 90.
En un fluormetro, el filtro primario selecciona una banda estrecha de longitudes de onda.
Los filtros primarios evitan la excitacin de otros compuestos presentes en la celda que
podran excitarse a longitudes de onda distintas a las del componente. Los filtros
secundarios seleccionan la longitud de onda captada por el detector.
Polarizadores
Los polarizadores se utilizan para anlisis de anisotropa o polarizacin de fluorescencia.
El filtro convierte la radiacin no polarizada incidente en radiacin polarizada
verticalmente.
Los polarizadores son muy tiles para determinaciones cuantitativas de compuestos de
elevado peso molecular, o realizacin de espectros en medios que resultan fluorescentes
en las condiciones de eleccin para la fluorescencia del componente. En general,
utilizando polarizadores se realiza una preseleccin de dipolos. Solo se excita y se recoge
la fraccin de molculas con el dipolo apropiado para los polarizadores.
Recipientes para muestras
En los espectrofluormetros y los portamuestras son celdas de slice fundida o cuarzo, que
tienen forma prismtica tetragonal.
Detectores
Los detectores suelen ser tubos fotomultiplicadores que convierten la intensidad de la luz
en corriente elctrica. Se colocan a 45, 90 y 180 respecto de la fuente de radiacin,
siendo ms frecuente en posicin perpendicular.
caracterizacin
Procesadores de seal
Los procesadores, expresan la seal de fluorescencia en unidades arbitrarias de
intensidad relativa.
Los instrumentos que recopilan informacin espacial lo hacen girando la muestra y
recogiendo la luz emitida mediante espejos controlados por galvanmetros o motores,
recopilando separadamente las emisiones de distintos puntos mediante un fotodiodo.
Existen programas que analizan las imgenes obtenidas con los ficheros de luz emitida
por diferentes coordenadas de la muestra.
Los depsitos de grasa, las huellas dactilares o la absorcin de disolventes orgnicos en
las paredes pueden afectar seriamente las medidas.
En general, suele ser suficiente lavar las celdas con agua varias veces, para terminar con
agua destilada o desionizada y secarlas con calor o en vaco. El secado puede ser ms
rpido si se enjuaga una ltima vez con etanol o con metanol, pero nunca con papel de
celulosa o algodn, pues dejan restos en la cubeta.
Las muestras pueden ser slidas, lquidas y gaseosas. Existen celdas especficas para el
anlisis de cada tipo de muestra.
En general, las muestras deben ser fluorescentes. No obstante, esta tcnica analtica
puede aplicarse a gran nmero de sustancias no fluorescentes. Por ejemplo, compuestos
que despus de un tratamiento fisicoqumico muestran fluorescencia. O bien, los que sin
ser fluorescentes son capaces de interaccionar, con otras molculas fluorescentes,
llamadas labels o etiquetas fluorescentes (Faraldos, 2011).
Las etiquetas fluorescentes deben generar una seal fluorescente intensa y diferente de
la del medio de reaccin. Su reaccin con las sustancias a analizar se denomina
derivatizacin y debe ser suave, verstil, rpida y rendir productos de reaccin estables.
Consideraciones
Cuando se desconocen las propiedades fluorescentes del componente, deben
determinarse en primer lugar las longitudes de onda de excitacin y emisin ms
apropiadas.
Se debe tener en cuenta que los espectros de fluorescencia son adems muy afectados
por factores ambientales (disolvente, pH, concentracin de muestra, temperatura).
caracterizacin
La interpretacin de los espectros de absorcin y emisin proporciona informacin del
componente tanto en estado fundamental como en el excitado. Los parmetros a
considerar son el nmero de bandas de absorcin y emisin, la longitud de onda mxima
de las bandas de absorcin y de las de emisin, sus respectivas intensidades relativas,
rendimiento cuntico de la fluorescencia, desplazamiento de Stokes y vida media del
estado excitado.
Aplicaciones
Este tipo de espectroscopia permite el anlisis cualitativo de algunos componentes
fluorescentes en soluciones muy diluidas, aventajando en sensibilidad a otros mtodos.
Esta medicin se basa en la relacin entre la concentracin del componente y la
intensidad de la fluorescencia emitida por este.
Con este tema, se concluye la tercera unidad, donde se han abordado algunos aspectos
generales de las tcnicas de caracterizacin, y se han citado tcnicas de uso general para
la obtencin de informacin en la caracterizacin de materiales.
Actividad 1. Tipo de anlisis

El propsito de la actividad es que, dado un material, identifiques las tcnicas
adecuadas para determinar las propiedades de inters.
De los materiales propuestos por tu Facilitador(a), elige uno. Cita dos tcnicas de
caracterizacin adecuadas para determinar tres de las propiedades proporcionadas por
el Facilitador(a).
1. Realiza un escrito que contenga la siguiente informacin:
Nombre del material y las propiedades que se desean estudiar.
Indica al menos dos posibles tcnicas que se pueden emplear para
determinar cada una de las caractersticas (no necesariamente incluidas en
la unidad).
Justifica el empleo de cada tcnica de caracterizacin.
Cita adecuadamente la bibliografa usada en la investigacin.
2. Redacta de forma clara y concisa, cuidando el vocabulario y ortografa.
3. Participa en el foro agregando tu escrito y redaccin de los puntos anteriores y
comenta en las aportaciones de tus compaeros(as).
4. Consulta los criterios de evaluacin.
caracterizacin
Actividad 2. Anlisis de resultados
La actividad consiste en un resumen y cuadro conceptual de una tcnica de
caracterizacin, que incluye la preparacin de muestras, uso de aparatos y anlisis de
resultados.
De acuerdo a lo indicado por el Facilitador(a), investiga en libros especializados,
manuales, pginas de internet y artculos, para obtener los detalles de la tcnica de
caracterizacin. Recuerda que en la unidad solo se menciona informacin bsica de la
tcnica.
1. Realiza un escrito que contenga la siguiente informacin:
Indica el nombre de la tcnica de caracterizacin y el material.
Escribe una introduccin que hable sobre los usos de la tcnica y los
principales fundamentos tericos en los que se basa. Nombra el tipo de
equipos que se utilizan para realizar la tcnica.
Describe el proceso que a seguir para realizar las medidas, desde la
preparacin de muestras hasta la obtencin de los resultados. Realiza un
cuadro conceptual que resuma los pasos a seguir.
Describe brevemente la manera en la que se deben interpretar los resultados
del anlisis, ya sean valores, picos en grficas, etc. Siempre enfocado a los
resultados que se desean describir.
Redacta de forma clara y concisa, cuidando el vocabulario y ortografa.
2. Enva tu reporte al Facilitador(a) por medio de la herramienta de Tareas.
3. Consulta los criterios de evaluacin.
caracterizacin
Evidencia de aprendizaje. Anlisis de un material
La ltima actividad consiste en un reporte de la informacin obtenida al analizar un
material, descripcin de sus propiedades en base a los resultados e indicar el sistema
energtico en el que puede aplicarse.
1. Realiza un reporte que contenga la siguiente informacin:
Menciona el nombre del material y la tcnica de caracterizacin de la
Actividad 2. Anlisis de resultados.
Extrae toda la informacin posible de los resultados del anlisis, y
relacinala con las propiedades del material. Recuerda que se debe ampliar
la descripcin en caso de que los resultados estn acompaados de una
discusin.
De acuerdo a la informacin obtenida, investiga e indica el sistema
energtico en el que puede usarse el material, justificando su empleo en el
sistema en base a las propiedades encontradas.
Redacta de forma clara y concisa, cuidando el vocabulario y ortografa.
2. Enva tu reporte al Facilitador(a) por medio de la herramienta de Portafolios.
3. Consulta la escala de evaluacin.
Recuerda realizar tu Autorreflexin y Autoevaluacin para concluir con las actividades de

la asignatura.
Cierre de la unidad
Una vez vista la relacin entre los fundamentos de la estructura de los materiales y sus
propiedades, se pone en evidencia, el vnculo entre las propiedades de los materiales con
distintas tcnicas de caracterizacin.
La mayora de las tcnicas de caracterizacin, no provee informacin directa de las
propiedades de los materiales, sino de la composicin y estructura. Como se present
anteriormente, es posible relacionar la estructura con las propiedades de un material.
En esta unidad, la mayora de las tcnicas citadas, proveen informacin de las
propiedades, pero es importante resaltar la amplia gama existente para obtener
informacin de un material.
caracterizacin
El material brindado en la unidad, es de carcter general, por lo que es necesario elegir y
estudiar a detalle los fundamentos y particularidades de la tcnica a utilizar. Esto con el fin
emplear e interpretar adecuadamente los resultados obtenidos.
En general, al realizar un anlisis, el usuario no tiene contacto directo con el equipo. Para
ello es necesario, realizar un curso previo o capacitacin para su uso. Tambin, puede
darse el caso donde nicamente puede ser manejado por el tcnico a cargo. En cualquier
caso, se debe conocer el procedimiento utilizado en el equipo, con el fin de conocer los
diferentes parmetros con los que puede ser configurado, de manera que al solicitar el
servicio, se indiquen los parmetros adecuados para la muestra en particular.
Para saber ms
Microscopia electrnica
http://www.revista.unam.mx/vol.6/num7/art70/art70-4.htm
Calorimetra diferencial de barrido (plsticos)
https://www.youtube.com/watch?v=ujsgLUD-X3Y
Comportamiento mecnico de materiales plsticos
https://www.youtube.com/watch?v=wp20rqS7QFQ
Curvas calorimtricas (DSC)
https://www.youtube.com/watch?v=RrAPoSLGSqo
Deformacin plstica en materiales metlicos
https://www.youtube.com/watch?v=kM_VyUq5Ifs&list=PLB82228356728B994&index=8
https://www.youtube.com/watch?v=YG2VGM-6JBo&list=PLB82228356728B994
Diagrama tensin deformacin
https://www.youtube.com/watch?v=jIxwVfTuK6Q&list=PLB82228356728B994
Ensayo de dureza
https://www.youtube.com/watch?v=1e1F5j3ACKA
Ensayo de traccin
https://www.youtube.com/watch?v=I7hTLXsQc6U&list=PLB82228356728B994
https://www.youtube.com/watch?v=-5CStao_C2U
https://www.youtube.com/watch?v=qr2_jPz2Ufc
https://www.youtube.com/watch?v=06snoPpb7OE
caracterizacin
Microscopio electrnico virtual
http://www.ammrf.org.au/myscope/sem/practice/virtualsem/
http://micro.magnet.fsu.edu/primer/java/electronmicroscopy/magnify1/index.html
Fuentes de consulta
Callister, W. (1995). Introduccin a la Ciencia e Ingeniera de los materiales. Volumen 1.
Editorial Revert, S.A.
Callister, W. (1995). Introduccin a la Ciencia e Ingeniera de los materiales. Volumen 2.
Editorial Revert, S.A.
Callister, W. D., & Rethwisch, D. G. (2010). Materials Science and Engineering: An
Introduction (8a ed.). Wiley.
Fahlman, B. D. (2011). Materials characterization. In B. D. Fahlman (Ed.), Materials
Chemistry (2nd ed.). Springer.
Faraldos, M., & Goberna, C. (2011). Tcnicas de anlisis y caracterizacin de materiales
(2nd ed.). Espaa: Consejo Superior de Investigaciones Cientficas.
Hernndez, H. L. y Gonzlez P. C. (2002). Introduccin al anlisis instrumental. (1st ed.).
Espaa: Ariel.
Hernndez Rivera, J. L., Cruz Rivera, J. D. J., Martnez Snchez, R., & Garibay Febles, V.
(2011). Microscopa electrnica. La intimidad de un mundo inimaginable. Ciencia y
desarrollo. Retrieved July 10, 2013, from
http://www.conacyt.gob.mx/comunicacion/Revista/250/articulos/microscopiaelectronica.html
Red de Educacin Informal Nanotecnologa NISE. (s/d). Breakthrough: The Scanning
Tunneling Microscope. Recuperado de http://www.nisenet.org/node/3447
Rosales Rivera, A., Restrepo, J. A., Sanin, M. A., & Patio, O. E. (2006). Desarrollo de un
magnetmetro de muestra vibrante. Revista Colombiana de Fsica, 38(1), 77.
Skoog Douglas A., Holler, F. J., & Nieman, T. (2001). Principios de anlisis instrumental
(5th ed.). Madrid, Espaa: McGraw-Hill.

Unidad 3. Introducci N A Las Tçcnicas de Caracterizaci N

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Unidad 3. Introduccin a las tcnicas de

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Unidad 3. Introduccin a las tcnicas de caracterizacin ................................................... 3

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Identificars las tcnicas de caracterizacin adecuadas para describir las

3.1. Uso e importancia de las tcnicas de caracterizacin

3.1.1. La caracterizacin de los materiales

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Representacin de los conceptos de precisin y exactitud. Fuente: tomado de Faraldos, (2011).

Las medidas realizadas en el instrumento, se representan como lanzamientos de tiro al

Curva de calibrado. Fuente: tomado de Faraldos, (2011).

La resolucin de un equipo es la capacidad para distinguir entre dos seales analticas

Divisin de Ciencias de la Salud, Biolgicas y Ambientales | Energas Renovables 6

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Absorbida es la que se encuentra en el interior de los poros abiertos de una

Se han ordenado de forma creciente segn su estabilidad, es decir, es ms fcil eliminar

Estufa de temperatura controlada, se usa un horno, cuidando que a la temperatura

Normalmente se requiere utilizar sistemas de control de humedad, que mantienen una

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En el grupo de las mecnicas, se han incluido la mayora de pruebas mecnicas.

En las de tipo ptico, se pueden agrupar las espectroscopias. Se ha referido a un

En las trmicas, se han incluido las tcnicas de caracterizacin donde las

En la interaccin de tipo elctrico, se han agrupado las tcnicas referentes a la

En el tipo magntico, se ha incluido el mtodo ms comnmente usado para la

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Representacin de los diferentes tipos de deformaciones. Fuente: tomado de Callister, (2010).

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Mquina universal de ensayos. Fuente: tomado de Callister, (2010).

Durante el ensayo, la deformacin est confinada en la regin ms estrecha del centro, la

Probeta normalizada. Fuente: tomado de Callister, (2010).

Cuando comienza aplicarse la carga, el material se alarga en proporcin con la carga. Se

Curva tensin-deformacin. Fuente: tomado de Callister, (2010).

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El nmero de dureza se determina a partir de la diferencia de profundidad de penetracin

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Tipos de anlisis termogravimtrico. Fuente: tomado de Faraldos, (2011).

En la siguiente figura, se muestra una curva de anlisis termogravimtrico, donde el slido

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Anlisis termogravimtrico de una reaccin sencilla.Fuente: tomado de Faraldos, (2011).

La estabilidad trmica, es la capacidad de un material de mantener sus propiedades sin

Velocidad de calentamiento de la muestra.

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Esquema de un equipo de ATG. Fuente: tomado de Faraldos, (2011).

Algunas balanzas compensan automticamente la variacin que se produce, aplicando

Descomposicin trmica de materiales inorgnicos, orgnicos o polimricos.

Mtodos trmicos y calorimtricos de anlisis: anlisis trmico diferencial (DTA) y

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En un microscopio, la imagen se encuentra enfocada cuando el objeto se encuentra en el

Con ayuda de otros accesorios, se puede obtener un anlisis qumico elemental

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Representacin de un microscopio electrnico de barrido. Fuente: tomado de Faraldos, (2011).

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Esquema de un microscopio electrnico de transmisin (TEM). Fuente: tomado de Faraldos,

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