Atmega16 Proyectos

ESCUELA POLITCNICA NACIONAL
FACULTAD DE INGENIERA ELCTRICA Y

ELECTRNICA
DISEO Y CONSTRUCCIN DE UN INSTRUMENTO (PROTOTIPO)

PARA LA MEDICIN DE PARMETROS FSICOS, BASADO EN EL
PRINCIPIO DE CORRIENTES INDUCIDAS, PARA EL
LABORATORIO DE ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS, DE LA
FACULTAD DE INGENIERA MECNICA DE LA ESCUELA
POLITCNICA NACIONAL
PROYECTO PREVIO A LA OBTENCIN DEL TTULO DE INGENIERO

EN ELECTRNICA Y TELECOMUNICACIONES
DARO ROLANDO LPEZ URRESTA

dariolopezu@hotmail.com
MARCO ANTONIO PILCO PAVN
marc_6_ant@yahoo.com
DIRECTOR: ING. CARLOS FLORES

carlos.flores@epn.edu.ec
Quito, Abril 2011
ii
DECLARACIN
Nosotros, Daro Rolando Lpez Urresta y Marco Antonio Pilco Pavn, declaramos
bajo juramento que el trabajo aqu descrito es de nuestra autora; que no ha sido
previamente presentada para ningn grado o calificacin profesional; y, que
hemos consultado las referencias bibliogrficas que se incluyen en este
documento.
A travs de la presente declaracin cedemos nuestros derechos de propiedad
intelectual correspondientes a este trabajo, a la Escuela Politcnica Nacional,
segn lo establecido por la Ley de Propiedad Intelectual, por su Reglamento y por
la normatividad institucional vigente.
Daro Rolando Lpez Urresta
Marco Antonio Pilco Pavn
iii
CERTIFICACIN
Certifico que el presente trabajo fue desarrollado por Daro Rolando Lpez
Urresta y Marco Antonio Pilco Pavn, bajo mi supervisin.
ING. CARLOS FLORES

DIRECTOR DEL ROYECTO
iv
AGRADECIMIENTO
A Dios, por darme una vida llena de Bendiciones.

A mis padres; ejemplo de sacrificio y esfuerzo, por estar en los momentos ms
difciles, a quienes les quiero mucho y estn en mi corazn.
A mis hermanos que siempre me han apoyado, especialmente en mi carrera
universitaria de los que me siento muy orgulloso.
A mi amigo y compaero de tesis por su ayuda en la elaboracin del proyecto. a
los profesores de la universidad especialmente al Ing. Carlos Flores por su apoyo
y ayuda incondicional.
A mis amigos y compaeros en los cuales he podido confiar, a los que les deseo
muchos xitos.
Daro R. Lpez U.
DEDICATORIA
El presente trabajo va dedicado con mucho

cario a mis padres Silvia y Romeo y a mis
hermanos por apoyarme en todo momento.
Daro R. Lpez U.
vi
AGRADECIMIENTO
Ante todo agradezco a Dios por darme la vida y alumbrarme cada paso que doy
todos los das de mi vida, por darme la familia tan espectacular que tengo, por
ayudarme a no rendirme.
Agradezco a mis padres, Mara Georgina Pavn Toapanta y Mario Antonio Pilco
Ramos, por brindarme esa oportunidad de salir adelante, por darme ese amor y
cario inmenso que me brindan cada da de mi existir y sobre todo por haber
luchado siempre junto a m siempre en todos los instantes de mi vida, por todo su
apoyo, por su forma de ensearme a ver la vida siempre con nimo, esperanza,
respeto y con la alegra que no se pierde en sus corazones.
A mis hermanos, por su tolerancia, amistad, compaerismo, por cada vivencia y

experiencia que he pasado con ellos, y sobre todo por ese lazo de hermandad
que perdurar en toda mi vida.
A mis tos, a mis primos, y de una manera muy especial a mi abuelita que me ha
enseado que con amor, respeto y perseverancia podemos hacer todo lo que nos
propongamos en la vida.
A todos mis amigos con los que he compartido muchas vivencias a lo largo de
toda mi carrera universitaria, en especial a mi amigo y compaero de tesis por el
vii
grado de responsabilidad, paciencia y entrega que siempre demostr al momento

de realizar el presente proyecto.
A los ingenieros de la Escuela Politcnica Nacional que imparten sus

conocimientos para hacernos crecer profesional e ntegramente y sobre todo de
una manera muy especial le agradezco al Ing. Carlos Flores por toda la paciencia,
ayuda, conocimientos, enseanzas, sobre todo la calidad humana y respeto que
demuestra siempre hacia el estudiante y a las personas en general.
Marco Antonio. Pilco Pavn.
viii
DEDICATORIA
Esta tesis est dedicada con mucho amor y

cario para mis padres Mario Antonio Pilco
Ramos y Mara Georgina Pavn Toapanta
porque siempre han sido y sern un ejemplo en
toda mi vida.
Marco Antonio Pilco Pavn
ix
Contenido
RESUMEN .............................................................................................................................. xii
PRESENTACIN ................................................................................................................ xiii
CAPTULO 1............................................................................................................................... 1
FUNDAMENTOS TERICOS ..................................................................................................1
1.1 MTODOS DE ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS ................................................................................ 1
1.1.1 INTRODUCCIN .......................................................................................................................... 1
1.1.2 ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS ..................................................................................................... 1
1.1.3 MTODOS DE ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS MS UTILIZADOS ................................................. 3
1.2 MATERIALES OBJETO DE PRUEBAS EN EL LABORATORIO DE ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS ......... 6
1.2.1 MATERIALES MAGNTICOS ........................................................................................................ 6
1.2.2 MATERIALES FERROSOS Y NO FERROSOS .................................................................................. 9
CAPTULO 2............................................................................................................................ 11
CORRIENTES INDUCIDAS .................................................................................................. 11
2.1 ANLISIS DE LAS CORRIENTES INDUCIDAS ................................................................................. 11
2.2 MTODO DE FORMULACIN DEL CAMPO MAGNTICO ............................................................. 12
2.2.1 CAMPO MAGNETICO ................................................................................................................ 12
2.2.2 FLUJO MAGNETICO .................................................................................................................. 13
2.3 PARMETROS DE ENSAYO ......................................................................................................... 14
2.3.2 CARACTERISTICAS DE LA BOBINA ............................................................................................ 17
2.3.3 CONDUCTIVIDAD ELCTRICA ................................................................................................... 18
2.3.4 PERMEABILIDAD MAGNTICA .................................................................................................. 19
2.3.5 GRIETAS .................................................................................................................................... 21
2.3.6 PROFUNDIDAD DE PENETRACIN............................................................................................ 22
2.3.7 EFECTO DE SEPARACIN (LIFT-OFF) ......................................................................................... 24
2.3.8 EFECTO DE BORDE ................................................................................................................... 25
2.4 SELECCIN DE LA FRECUENCIA MS ADECUADA DEPENDIENDO DEL MATERIAL ..................... 26
2.5 EFECTO DE LAS PRINCIPALES VARIABLES DEL ENSAYO EN EL PLANO DE IMPEDANCIA ............. 26
CAPTULO 3............................................................................................................................ 29
DISEO Y CONSTRUCCIN DEL PROTOTIPO MICROCONTROLADO DE
CORRIENTES INDUCIDAS .................................................................................................. 29
3.1 DISEO DEL CIRCUITO ELECTRNICO......................................................................................... 29
3.1.1 FUENTE DE ALIMENTACIN ..................................................................................................... 30
3.1.2 MICROCONTROLADOR ATMEGA16.......................................................................................... 32
3.1.3 CONVERSOR DIGITAL ANLOGO (DAC0808) ............................................................................ 37
3.1.4 GENERADOR DE FUNCIONES XR-2206 ..................................................................................... 40
3.1.5 ACOPLADOR DE IMPEDANCIA (CONFIGURACIN EN COLECTOR COMN) ............................. 43
3.1.6 PUENTE DE WHEATSTON ......................................................................................................... 46
3.1.7 CONVERSIN ANLOGO DIGITAL............................................................................................ 48
3.1.8 DISPLAY LCD ............................................................................................................................. 54
3.1.9 DIAGRAMA ESQUEMTICO DEL PROTOTIPO MICROCONTROLADO DE CORRIENTES
INDUCIDAS ........................................................................................................................................ 55
3.2 CONTROLES Y CONEXIONES ....................................................................................................... 56
3.2.1 TECLAS DE SELECCIN DE FRECUENCIA ................................................................................... 56
3.2.2 TECLAS DE INCREMENTO Y DISMINUCIN DE FRECUENCIA .................................................... 57
3.2.3 DISPLAY LCD INDICADOR DE FRECUENCIA Y VARIACIN DE PARMETROS ............................ 57
3.2.4 TECLAS DE FUNCIONAMIENTO DEL PROTOTIPO EN MODO NORMAL Y PORCENTAJE ............ 58
3.2.5 PROTOTIPO MICROCONTROLADO DE CORRIENTES INDUCIDAS.............................................. 59
3.3 SOFTWARE UTILIZADO PARA LA SIMULACIN DE LAS ETAPAS DEL PROTOTIPO
MICROCONTROLADO DE CORRIENTES INDUCIDAS .......................................................................... 60
3.3.1 PROTEUS .................................................................................................................................. 60
3.4 SOFTWARE UTILIZADO PARA LA PROGRAMACIN EN LOS MICROCONTROLADORES
ATMEGA16 DEL PROTOTIPO MICROCONTROLADO DE CORRIENTES INDUCIDAS ............................ 62
3.4.1 BASCOM AVR ........................................................................................................................... 62
3.4.2 PROGISP167 ............................................................................................................................. 64
3.5 SOFTWARE UTILIZADO PARA EL DISEO DEL ESQUEMTICO E IMPRESO DE LA PLACA DEL
PROTOTIPO DE CORRIENTES INDUCIDAS. ........................................................................................ 64
3.5.1 ALTIUM DESIGNER ................................................................................................................... 64
3.5.2 PRESENTACIN DEL DISEO DE PCB (PRINTED CIRCUIT BOARD) ............................................ 65
CAPTULO 4............................................................................................................................ 67
PRUEBAS DEL PROTOTIPO MICROCONTROLADO DE CORRIENTES
INDUCIDAS ..................................................................................................................
67
4.1 MEDICIN DE CONDUCTIVIDAD ELCTRICA ............................................................................... 67

4.1.1 PATRONES DE CONDUCTIVIDAD .............................................................................................. 68
4.1.2 PRUEBA DE DETERMINACIN DE CONDUCTIVIDAD ................................................................ 68
xi
4.2 DETECCIN DE DISCONTINUIDADES .......................................................................................... 71

4.2.1 PRUEBA DE DETECCIN DE DISCONTINUIDADES ..................................................................... 72
4.3 MEDICIN DE ESPESORES DE RECUBRIMIENTOS NO CONDUCTORES ........................................ 74
4.3.1 PRUEBA DE ESPESORES DE RECUBRIMIENTOS NO CONDUCTIVOS ......................................... 75
4.4 COMPROBACIN DEL EFECTO DE SEPARACIN
(LIFT-OFF) .................................................. 78
4.4.1 PRUEBA DEL EFECTO DE SEPARACIN ..................................................................................... 78
CAPTULO 5............................................................................................................................ 82
ANLISIS DE RESULTADOS ............................................................................................... 82
5.1 MEDICIN DE LA CONDUCTIVIDAD ELCTRICA .......................................................................... 82
5.2 DETECCIN DE DISCONTINUIDADES .......................................................................................... 82
5.3 MEDICIN DE ESPESORES DE RECUBRIMIENTOS NO CONDUCTORES ........................................ 83
5.4 COMPROBACIN DEL EFECTO DE SEPARACIN
(LIFT-OFF) .................................................. 84
5.5 COMPARACIN DE COSTOS DEL EQUIPO IMPLEMENTADO DE CORRIENTES INDUCIDAS

RESPECTO A EQUIPOS EXISTENTES EN EL MERCADO ....................................................................... 85
5.5.1 CARACTERSTICAS PRINCIPALES DEL PROTOTIPO MICROCONTROLADO DE CORRIENTES
INDUCIDAS IMPLEMENTADO EN STE PROYECTO DE TITULACIN .................................................. 85
5.5.2 CARACTERSTICAS PRINCIPALES DEL INSTRUMENTO DE CORRIENTES DE EDDY PHASEC 2S ... 87
5.5.3 CARACTERSTICAS PRINCIPALES DEL INSTRUMENTO DE CORRIENTES DE EDDY PHASEC 3d. . 87
5.5.4 COMPARACIN DE COSTOS ..................................................................................................... 88
CAPTULO 6............................................................................................................................ 91
CONCLUSIONES Y RECOMENDACIONES ........................................................................ 91
6.1 CONCLUSIONES ......................................................................................................................... 91
6.2 RECOMENDACIONES ................................................................................................................. 92
INSTRUCTIVO DE MANTENIMIENTO ............................................................................. 93

TERMINOLOGA .................................................................................................................... 95
REFERENCIAS BIBLIOGRFICAS ..................................................................................... 99
ANEXOS ..................................................................................Error! Marcador no definido.
xii
RESUMEN
En el presente proyecto de titulacin se presenta el diseo e implementacin de

un prototipo microcontrolado de corrientes inducidas, mediante el cual, podremos
identificar
diferenciar
variaciones
de
parmetros
fsicos
tales
como:
conductividad, caracterizacin de materiales, profundidad de fisuras abiertas a la

superficie, profundidad de discontinuidades bajo la superficie, variacin de forma,
espesor de pared en lminas y tubos, en materiales ferromagnticos y no
ferromagnticos.
En el captulo 1 se hace referencia a una breve introduccin acerca de los
ensayos no destructivos y sus diferentes tipos de mtodos, as como tambin su
importancia dentro del control de calidad en la industria.
En el captulo 2 se analiza a los ensayos no destructivos mediante el mtodo de
corrientes inducidas, adems se da a conocer los principios fundamentales de los
efectos magnticos de la induccin de corriente.
En el captulo 3 se presenta el diseo y construccin del prototipo microcontrolado
de corrientes inducidas en cada una de sus etapas, con un enfoque electrnico.
En el captulo 4 se realizaron prcticas de laboratorio con materiales como el
cobre, aluminio, zinc, bronce y plomo, fundamentales en el aprendizaje del
mtodo de corrientes inducidas dentro de los ensayos no destructivos.
En el captulo 5 se analizaron los resultados obtenidos con el prototipo
microcontrolado de corrientes inducidas, as como tambin una comparacin de
costos respecto a equipos de Corrientes de Eddy de venta en el mercado, y por
ltimo en el captulo 6 se realizaron las respectivas conclusiones y
recomendaciones.
xiii
PRESENTACIN
El mtodo de ensayo no destructivo nos asegura un adecuado mantenimiento en

los procesos de fabricacin y durante el funcionamiento de mquinas en la
industria metalmecnica, petrolera, etc.
Entre las principales reas de aplicacin de los ensayos no destructivos son la de
produccin, operacin y mantenimiento por lo que se puede anotar como
aspectos principales al control de calidad, avance de procesos de produccin,
mejora de la calidad, extensin del tiempo de vida til de mquinas y piezas
fabricadas.
El presente proyecto tiene por objeto implementar un prototipo microcontrolado de
corrientes inducidas que sea capaz de mostrar los cambios que se producen al
inducir corrientes elctricas debido a fisuras abiertas a la superficie, profundidad
de discontinuidades bajo la superficie, variacin de forma, espesor de pared en
lminas y tubos de materiales no ferromagnticos y ferromagnticos (previa
saturacin) por medio de una bobina alimentada por corriente alterna en un rango
de frecuencias de 50 KHz a 400 KHz, mostrando el resultado en un display LDC
con valores en porcentaje, teniendo siempre un patrn de referencia.
CAPTULO 1
FUNDAMENTOS TERICOS
1.1 MTODOS DE ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS
1.1.1 INTRODUCCIN
Los Mtodos de Ensayos no Destructivos permiten a ingenieros y tcnicos definir
e implementar pruebas para caracterizar y localizar condiciones y fallas en
materiales, en muchos casos estas son las causantes de accidentes graves,
como por ejemplo: precipitacin o choque de aviones, fallos en reactores, tuberas
a punto de estallar, y muchos otros acontecimientos aunque no tan peligrosos
pero que no deben pasar desapercibos.
Los materiales que se pueden inspeccionar son los ms diversos, entre metlicos
y no metlicos, normalmente utilizados en procesos de fabricacin, tales como:
laminados, fundidos, forjados y otras conformaciones.
1.1.2 ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS
Los Ensayos no destructivos, tambin conocidos como END o NTD (Non
Destruction Test), consisten en someter a un material o estructura metlica o no
metlica, a un tipo de prueba
que no altere de forma permanente sus
propiedades fsicas, qumicas, mecnicas o dimensionales, con el propsito de

obtener informacin acerca de fallas o defectos, de manera que se pueda ofrecer
un excelente equilibrio entre el control de la calidad, y la eficacia en costos.
En todos los casos de Ensayos no Destructivos, el material objeto de ensayo se
somete a la accin de ciertos fenmenos fsicos, que hacen que la energa bajo
diferentes formas fluya a travs del material. Las heterogeneidades y
discontinuidades provocan anomalas en el flujo de esa energa (distorsin,

reflexin, absorcin, etc) que se detectan desde el exterior de la muestra.
Podemos establecer distintas clasificaciones de los mtodos de END segn sus
fundamentos, aplicaciones o su estado actual de desarrollo.
1.1.2.1 Segn sus fundamentos
Se basan esencialmente en las aplicaciones de uno o varios de los siguientes
fenmenos fsicos:
Ondas electromagnticas (comprendiendo fenmenos basados en las

propiedades elctricas y/o magnticas de las muestras.)
Ondas elsticas o acsticas.
Emisin de partculas subatmicas.
1.1.2.2 Segn sus aplicaciones

De manera general se puede decir que las aplicaciones de los mtodos de END
permiten realizar estudios de defectos, hacer mediciones y caracterizar
materiales.
Defectologa: Deteccin, ubicacin y evaluacin de: heterogeneidades,

discontinuidades, impurezas, corrosin, fugas; puntos calientes, etc.
Metrologa: Medicin de: espesores de material base de ambos lados y de

un solo lado, de recubrimientos, de dureza, controles de nivel, etc.
Caracterizacin de materiales: Determinacin de caractersticas fsicas,

mecnicas, qumicas.
1.1.2.3 Segn el estado actual de desarrollo

De acuerdo al Estado Actual de Desarrollo se pueden clasificar en Mtodos
convencionales de END y en Mtodos nuevos o no convencionales de END.
1.1.2.3.1 Mtodos convencionales de END

Consideramos como mtodos convencionales aquellos que debido al desarrollo
actual de los equipos y tcnicas operatorias, permiten seguir el ritmo de la
produccin, proporcionan un registro permanente y permiten la automatizacin del
proceso de inspeccin. Estos mtodos son los que comnmente se utilizan en la
industria.
1.1.2.3.2 Mtodos nuevos o no convencionales de END
Consideramos como mtodos nuevos, aquellos de reciente introduccin o en
perodo actual de desarrollo, o aquellos que no tienen una utilizacin
generalizada.
El desarrollo acelerado de estos mtodos nuevos ha sido principalmente por los
avances tecnolgicos en los campos aerospacial y nuclear, en los que se
requieren un severo control de calidad en los materiales.
1.1.3 MTODOS DE ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS MS UTILIZADOS
El nmero de mtodos de ensayos no destructivos que se pueden utilizar para
inspeccionar componentes y realizar medidas es grande y sigue creciendo,
debido a que los investigadores siguen encontrando nuevas formas de aplicacin
de la fsica y otras disciplinas cientficas para desarrollar mejores mtodos de
ensayos no destructivos, sin embargo, a continuacin se sealan los mtodos de
ensayos no destructivos que se utilizan con mayor frecuencia dentro de procesos
de control de calidad en materiales:
Inspeccin Visual y Pruebas pticas
Ensayo por Lquidos Penetrantes
Ensayo Radiogrfico
Ensayo por Ultrasonido
Ensayo por Corrientes Inducidas
1.1.3.1 Inspeccin Visual y Pruebas pticas

La inspeccin visual implica el uso de un inspector ocular para buscar defectos. El
inspector tambin puede utilizar herramientas especiales tales como lupas,
espejos, etc, para acceder y ampliar la inspeccin del rea. Los examinadores
visuales siguen procedimientos que van desde los ms simples hasta muy
complejas.
La limitante en este mtodo de ensayo no destructivo es la deteccin nicamente
de discontinuidades abiertas a la superficie.
1.1.3.2 Ensayo por Lquidos Penetrantes
Este mtodo de inspeccin requiere de lquidos, tintas o soluciones visibles o
fluorescentes, los cuales sirven para cubrir el objeto de prueba, que luego de la
aplicacin de una tcnica de secado y en algunos casos luz ultravioleta, se
pueden observar fcilmente imperfecciones o fallas en un material. La velocidad y
la extensin de esta accin dependen de propiedades tales como tensin
superficial, la cohesin, la adhesin y la viscosidad.
Es un mtodo para detectar discontinuidades abiertas a la superficie.
(a)
(b)
Figura 1.1 Tintas penetrantes: (a) comunes vistas con luz comn; (b) fluorescentes vistas
con luz negra.1
Figura tomada de http://www.thermoequipos.com.ve/pdf/articulo_06.pdf
1.1.3.3 Ensayo Radiogrfico

El ensayo radiogrfico supone la utilizacin de rayos x y gamma para examinar
imperfecciones en materiales y piezas. Este mtodo de inspeccin no destructiva
se basa en la absorcin de radiacin penetrante por la pieza que est siendo
inspeccionada. Esa variacin en la cantidad de radiacin absorbida, detectada
mediante un medio, nos indicar, entre otras cosas, la existencia de una falla
interna o defecto en el material.
1.1.3.4 Ensayo por Ultrasonido
Los ultrasonidos emplean ondas de sonido de longitud de onda corta a altas
frecuencias, para identificar discontinuidades o errores tanto en la superficie como
en el interior de materiales, adems de medir espesores y detectar corrosin.
1.1.3.5 Ensayo por Corrientes Inducidas o de Foucault (Eddy Currents)
La inspeccin por Corrientes de Foucault es uno de los mtodos de ensayos no
destructivos que utilizan el principio de interaccin de campos magnticos para la
realizacin de exmenes y pruebas.
El ensayo por corrientes inducidas es de gran versatilidad, lo que permite su uso
en la solucin de problemas tales como:
Medicin de parmetros fsicos:
Conductividad elctrica: capacidad de un material o medio para

conducir corriente elctrica.
Permeabilidad magntica: capacidad de un material o medio para

atraer y hacer pasar a travs de s campos magnticos.
Deteccin de discontinuidades:
Corrosin: deterioro que sufre un material cuando interacta con el

medio en el que trabaja.
Grietas: hendiduras o aberturas en cuerpos o materiales slidos.
Separacin de materiales mezclados:
Medicin de espesores de recubrimiento: lminas delgadas de

pintura u otro de tipo de materiales, que cubren la superficie de un
material ferromagntico, con el propsito de evitar oxidaciones o
corrosiones.
Algunas de las ventajas de la inspeccin de Corrientes de Foucault son:
Sensible a las pequeas grietas tanto superficiales como internas en los

materiales.
La inspeccin da resultados inmediatos.
El mtodo puede ser utilizado para diferenciacin de conductividad en

diversos materiales.
Es necesaria la mnima preparacin del material.
Algunas de las limitaciones de la inspeccin de Corrientes de Foucault son:
Slo los materiales conductores pueden ser inspeccionados.
La superficie debe ser accesible a la bobina.
El acabado superficial y la aspereza en gran proporcin (asperezas a

simple vista) puede interferir en las mediciones.
La profundidad de penetracin es limitada de acuerdo con la frecuencia del

generador alimentador del Puente de Wheatstone.
En general, la tcnica se utiliza para inspeccionar un rea relativamente pequea,

el diseo de la bobina y los parmetros de prueba deben ser establecidos con un
buen conocimiento de la falla que necesita ser detectada.
1.2 MATERIALES OBJETO DE PRUEBAS EN EL LABORATORIO

DE ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS
1.2.1 MATERIALES MAGNTICOS
Dependiendo de las peculiaridades de la estructura electrnica de los materiales
se distinguen diferentes tipos de materiales magnticos:
Materiales Diamagnticos
Materiales Paramagnticos
Materiales Ferromagnticos
1.2.1.1 Materiales Diamagnticos

El diamagnetismo es un efecto universal porque se basa en la interaccin entre el
campo aplicado y los electrones mviles del material. Las caractersticas
esenciales de los materiales diamagnticos son:
Los materiales diamagnticos se magnetizan dbilmente en el sentido

opuesto al del campo magntico aplicado. Resulta as que aparece una
fuerza de repulsin sobre el cuerpo respecto del campo aplicado.
La susceptibilidad magntica es negativa y pequea y la permeabilidad

relativa es entonces ligeramente menor que 1.
La intensidad de la respuesta es muy pequea.
Ejemplos de materiales diamagnticos son el cobre y el helio.

1.2.1.2 Materiales Paramagnticos
Los materiales paramagnticos se caracterizan por tomos con un momento
magntico neto, que tienden a alinearse paralelo a un campo aplicado. Las
caractersticas esenciales de los materiales paramagnticos son:
Los materiales paramagnticos se magnetizan dbilmente en el mismo

sentido que el campo magntico aplicado. Resulta as que aparece una
fuerza de atraccin sobre el cuerpo respecto del campo aplicado.
La susceptibilidad magntica es positiva y pequea y la permeabilidad

relativa es entonces ligeramente mayor que 1.
La intensidad de la respuesta es muy pequea, y los efectos son

prcticamente
imposibles
de
detectar
excepto
extremadamente bajas o campos aplicados muy intensos.
temperaturas
Distintas variantes del paramagnetismo se dan en funcin de la estructura

cristalina del material, que induce interacciones magnticas entre tomos vecinos.
Ejemplos de materiales paramagnticos son el aluminio y el sodio.
1.2.1.3 Materiales Ferromagnticos
El diamagnetismo y el paramagnetismo son inducidos por un campo magntico
aplicado, y la imantacin permanece slo mientras se mantenga el campo. Un
tercer tipo de magnetismo, denominado ferromagnetismo, es de gran importancia
en ingeniera. Los materiales ferromagnticos producen campos magnticos que
pueden mantenerse o eliminarse a voluntad.
Los elementos ferromagnticos ms importantes son el hierro (Fe), cobalto (Co) y
nquel (Ni).
Las caractersticas esenciales de los materiales ferromagnticos son:
Los materiales ferromagnticos se magnetizan fuertemente en el mismo

sentido que el campo magntico aplicado. Resulta as que aparece una
fuerza de atraccin sobre el cuerpo respecto del campo aplicado.
La susceptibilidad magntica es positiva y grande y la permeabilidad

relativa es entonces mucho mayor que 1.
Los materiales ferromagnticos, compuestos de hierro y sus aleaciones con

cobalto, tungsteno, nquel, aluminio y otros metales, son los materiales
magnticos ms comunes y se utilizan para el diseo y constitucin de ncleos de
los transformadores y maquinas elctricas.
Ejemplos de materiales ferromagnticos son el hierro, el cobalto, el nquel y la
mayora de los aceros.
1.2.2 MATERIALES FERROSOS Y NO FERROSOS

1.2.2.1 Materiales Ferrosos
Los materiales ferrosos son aquellos cuyo componente principal es el hierro (Fe);
y el Carbono (C) es el principal regulador de sus propiedades.
Dentro de los ensayos no destructivos los materiales ferrosos comnmente
utilizados son los aceros, que no son ms que aleaciones de hierro y carbono.
Los aceros se clasifican de acuerdo a su concentracin de carbono siendo los
ms utilizados dentro de la industria los: aceros de bajo carbono, aceros de alta
resistencia y baja aleacin, aceros de medio carbono, aceros de alto carbono y
aceros inoxidables.
1.2.2.2 Materiales no Ferrosos
Los metales no frricos pueden clasificarse, atendiendo a su densidad en:
pesados, ligeros y ultraligeros.
Los materiales no frricos de mayor aplicacin industrial son el cobre y sus
aleaciones, el aluminio, el plomo, el estao y el zinc:
1.2.2.2.1 Cobre
El cobre tiene un punto de fusin alto de 1083C, es dctil, manejable y posee
una alta conductividad elctrica y trmica. Entre las aleaciones ms importantes
tenemos al bronce (Cu+Sn) y al latn (Cu+Zn). El cobre es de gran utilidad dentro
de la industria, como por ejemplo en la fabricacin de: campanas, engranes,
cables elctricos, motores elctricos, etc.
1.2.2.2.2 Estao
El estao tiene un punto de fusin bajo de 231C, posee baja resistencia, baja
dureza y buena ductilidad. Entre las aleaciones ms importantes se tiene:
10
aleaciones para soldar o soldaduras blandas (Pb+Sn) y bronces (Cu+Sn).

Algunas de sus aplicaciones ms importantes son la fabricacin de hojalata y la
proteccin del acero contra la oxidacin.
1.2.2.2.3 Zinc
El zinc se destaca por ser un material con un punto de fusin relativamente bajo
de 419C, es muy resistente a la corrosin en el aire y en el agua, pero poco
resistente al ataque de cidos y sales. Entre las aleaciones ms importantes se
tiene: latones (Cu+Zn). Una de sus aplicaciones ms importantes es la de
recubrimiento para otros metales con el propsito de evitar corrosin,
generalmente se utiliza el termino galvanizado cuando se aplica zinc sobre otro
material.
1.2.2.2.4 Aluminio
El aluminio tiene un punto de fusin de 660 C, es muy ligero e inoxidable, es
dctil, manejable, buen conductor de electricidad y del calor. Principalmente,
aleaciones de aluminio y magnesio (Al +Mg) son empleados en el campo de la
aeronutica, y aleaciones de aluminio, nquel y cobalto (ALNICO), son utilizados
en la fabricacin de potentes imanes permanentes. Otras de sus muchas
aplicaciones son la fabricacin de alambres, herramientas, electrodomsticos,
adems, el aluminio en polvo se usa en pinturas, combustible para cohetes,
explosivos, etc.
1.2.2.2.5 Plomo
El plomo posee un punto de fusin de 327,4C, es muy manejable, se oxida
fcilmente, resiste a los cidos clorhdrico y sulfrico. La soldadura blanda
(Sn+Pb) es una de sus aleaciones principales. Se utilizan una gran variedad de
compuestos de plomo para diversas aplicaciones; el azuro de plomo, es el
detonador estndar para los explosivos, los arseniatos de plomo se emplean en
grandes cantidades como insecticidas para la proteccin de los cultivos; el
litargirio (xido de plomo) se emplea mucho para mejorar las propiedades
magnticas de los imanes de cermica de ferrita de bario.
11
CAPTULO 2
CORRIENTES INDUCIDAS
2.1 ANLISIS DE LAS CORRIENTES INDUCIDAS
Es una tcnica de inspeccin no destructiva, que se basa en la generacin de un
campo magntico y que permite la deteccin de discontinuidades a nivel
superficial y subsuperficial.
El ensayo por corrientes inducidas consiste en hacer pasar una corriente alterna
por una bobina, la cual genera un campo magntico. Al colocar la pieza a
inspeccionar en direccin perpendicular al campo magntico creado por la bobina,
se generan corrientes inducidas (Corrientes Eddy) circulares en la pieza. Las
corrientes elctricas inducidas van a producir un campo magntico (secundario),
que se va a oponer al campo magntico de la bobina (primario) modificando la
impedancia. La consiguiente variacin de la corriente elctrica que circula por la
bobina es el parmetro que se mide y registra. Los defectos existentes en la pieza
interrumpen las Corrientes Eddy, lo que provoca que el campo magntico
producido por dichas corrientes sea menor. En la Figura 2.1 se muestra un
esquema de este mtodo.
Figura 2.1 Generacin del Campo de Corrientes Eddy2

2
Figura tomada de http://www.obtesol.es/index.php?option=com_content&task=view&id=181&
12
Las trayectorias circulares de las corrientes inducidas son paralelas a la superficie

del objeto. Estas trayectorias de corrientes inducidas envuelven a su vez lneas de
flujo magntico dentro del material en inspeccin. En la Figura 2.2 se muestra las
corrientes inducidas circulares en la pieza y la direccin del flujo magntico.
Figura 2.2 Corrientes Inducidas Circulares3

Los ensayos por corrientes inducidas consisten en la utilizacin de una bobina,
por la cual circula una corriente alterna, que al momento de acercar a un material
conductor se produce un cambio en la impedancia. Es una muestra bidimensional
de la amplitud y fase de la respuesta del ensayo.
2.2 MTODO DE FORMULACIN DEL CAMPO MAGNTICO

2.2.1 CAMPO MAGNETICO
La corriente elctrica va siempre acompaada de fenmenos magnticos. Este
efecto de la corriente elctrica desempea una funcin importante en casi todos
los aparatos y mquinas elctricas.
Figura tomada de bibdigital.epn.edu.ec/bitstream/15000/510/1/CD-0462.pdf
13
El espacio en que actan fuerzas magnticas se denomina campo magntico.

Este se forma, por ejemplo, entre los extremos de un imn recto o entre los
brazos de un imn en forma de herradura.
Figura 2.3 Campo Magntico4

La relacin entre la polaridad magntica de una espira y el sentido de la corriente
que circula por ella la establece la regla de la mano derecha de la que se deriva
esta otra: una cara es norte cuando un observador situado frente a ella ve circular
la corriente (convencional) de derecha a izquierda y es sur en el caso contrario.
En la Figura 2.3 se muestra el sentido de la corriente segn el campo magntico.
2.2.2 FLUJO MAGNETICO
Se llama flujo magntico al nmero total de lneas de fuerza creadas por un
campo magntico. Se representa con la letra griega (phi), y tiene como unidad
el Weber (W).
Figura tomada de http://www.etitudela.com/Electrotecnia/downloads/magnetimo.pdf
14
Figura 2.4 Flujo Magntico

El flujo magntico es el producto del valor absoluto de los vectores densidad de
) y superficie de rea (), debido a que el campo magntico es
flujo (
perpendicular a la superficie, como se indica en la Figura 2.4.

La densidad de flujo es el nmero de lneas de fuerza que pasan

perpendicularmente por un rea de 1 centmetro cuadrado. Se representa con la
letra B y tiene como unidad la Tesla (T).

2.3 PARMETROS DE ENSAYO

Las tcnicas de inspeccin por corrientes inducidas dependen de varios
parmetros que corresponden a propiedades del material que se va a
inspeccionar, caractersticas de las bobinas, o del procedimiento mismo de
inspeccin.
15
Entre los factores ms importantes cabe destacar los siguientes: impedancia y

caractersticas de la bobina; conductividad elctrica; permeabilidad magntica;
grietas; profundidad de penetracin; efecto de separacin, y efecto de borde.
2.3.1 IMPEDANCIA DE LA BOBINA
La impedancia de una bobina es la suma fasorial de la resistencia hmica y la
reactancia inductiva, ambas expresadas en ohmios (), por tanto la unidad de la
impedancia est en ohmios (). Se representa por la letra , y es la oposicin que
presenta la bobina al paso de la corriente.
Si hacemos circular por la bobina una corriente continua, la resistencia elctrica,

R, de la bobina es lo nico que se opone a dicha corriente, se verificar la ley de
Ohm:

Donde:
= cada de tensin a travs de la bobina en voltios
= corriente que circula a lo largo de la bobina en amperios
= resistencia equivalente de la bobina en ohmios
Por el contrario, al aplicar una corriente alterna, como se muestra en la Figura 2.5,
la resistencia a la corriente se compone de dos parmetros: la resistencia
equivalente, R, y la reactancia inductiva, XL, de la bobina (ambas expresadas en
ohmios).
La reactancia inductiva XL se expresa como:
XL = 2 Lo
Donde, es la frecuencia de la corriente alterna en Hertz (Hz); y Lo, la
autoinductancia de la bobina en Henrys. Ntese que la reactancia inductiva, XL,
depende de los parmetros de la bobina y la frecuencia de prueba.
16
Figura 2.5 Circuito en Corriente Alterna5

La aplicacin de la ley de Ohm nos conduce a la nueva frmula:

Donde , es la impedancia de la bobina y est compuesta de una parte reactiva y
una resistiva.

Cuando aumenta la frecuencia, la impedancia de la bobina tambin lo hace, por lo
que disminuye la intensidad del campo magntico primario y, en consecuencia,
baja la intensidad de la corriente inducida en la pieza que se evala. Los voltajes
y (Figura 2.5) debidos a la reactancia inductiva y la resistencia de la bobina,
estn desfasados uno respecto al otro en un ngulo de 90.
Adems de la ley de Ohm, tambin se puede utilizar una representacin

rectangular como se muestra en la Figura 2.6, formado por los catetos , y la
hipotenusa , para calcular el valor de la impedancia.
El ngulo entre el voltaje de un generador y su corriente se denomina ngulo de

fase del circuito. Su smbolo es (theta).
Figura tomada de http://www.imt.mx/archivos/Publicaciones/PublicacionTecnica/pt231.pdf
17
Figura 2.6 Tringulo de Impedancias

En la Figura 2.6 el ngulo entre y es el ngulo de fase. Se puede calcular de
la siguiente forma:

El valor de en las bobinas utilizadas en corrientes inducidas es, en general,

bajo, por lo que, su impedancia puede considerarse como puramente reactiva.
2.3.2 CARACTERISTICAS DE LA BOBINA
Todo cable por el que circula una corriente crea a su alrededor un campo
magntico muy dbil, para aprovechar la energa de dicho campo magntico se
enrolla al alambre conductor y de esta forma se obtiene lo que se conoce como
bobina.
Figura 2.7 Bobina
18
2.3.2.1 Intensidad de Campo

Se denomina intensidad de campo a la causa que origina el campo magntico, se
representa con la letra H, la unidad de medida es el amperio/metro (A/m) y est
dada por:

Donde:

= nmero de espiras de la bobina
= intensidad de la corriente
= longitud de la bobina
La intensidad de campo aumenta a medida que se incrementa el nmero de

espiras en la bobina, y disminuye conforme aumenta la longitud.
A partir de la intensidad de campo, podemos calcular la densidad de flujo
mediante la frmula:

Donde es la permeabilidad magntica del material que se utiliza como ncleo de

la bobina en .
2.3.3 CONDUCTIVIDAD ELCTRICA
La conductividad elctrica es una propiedad que tienen los metales para dar paso,
con mayor o menor resistencia al flujo de corriente, se representa con la letra
(sigma), y su unidad es S/m (Siemens por metro). La conductividad elctrica
depende de la distribucin y energa de los electrones que rodean al ncleo. Los
materiales recocidos (estructura ordenada), conducen mejor que los materiales
deformados (estructura desordenada).
19
Mediante la aplicacin de corrientes inducidas posibilita la medicin de

conductividad elctrica, en trminos de porcentaje IACS (Patrn Internacional de
Cobre Recocido). La medida de la conductividad se hace tomando como
referencia la del cobre no aleado y recocido, que se toma como 100% IACS. En la
Tabla 2.1 se presenta la conductividad elctrica de algunos metales en siemens
por metro y en porcentaje IACS.
METAL
CONDUCTIVIDAD
ELCTRICA
ABSOLUTA (S/m)
CONDUCTIVIDAD
ELCTRICA
(%IACS)
Plata
6,30 * 107
105
Cobre
5,96 * 107
100
Oro
4,55 * 107
70
Aluminio
3,78 * 107
61
Tabla 2.1 Conductividad Elctrica de Metales

2.3.4 PERMEABILIDAD MAGNTICA
La permeabilidad magntica del material de una pieza que se inspeccione tiene
un efecto muy importante en la inspeccin no destructiva, particularmente la que
utiliza Corrientes Eddy. La permeabilidad es un parmetro usado para evaluar el
comportamiento de un material frente al campo magntico. Asimismo, se define
como la capacidad de un material de concentrar lneas magnticas. La
permeabilidad magntica se representa con la letra griega minscula, y
est definida por:

Como las Corrientes Eddy se inducen por el campo magntico de la bobina, la

permeabilidad del material influye de manera importante en la corriente inducida
y, por tanto, en el campo magntico secundario.
20
La permeabilidad magntica es igual a:
Donde, es la permeabilidad magntica en el vaco y tiene un valor de
4 * 10-7 Y es la permeabilidad magntica relativa que nos permite

clasificar
los
materiales
como
ferromagnticos,
paramagnticos
diamagnticos.
Para materiales diamagnticos la permeabilidad magntica tiene un valor menor a

la unidad ( =0.99), mientras que para materiales paramagnticos su valor es
mayor que la unidad ( =1.05). Para ferromagnticos, el valor de es mayor a

uno, >1, lo que significa que el campo magntico inducido se intensifica con el
material. Esto ltimo, para los materiales ferromagnticos plantea un problema
potencial cuando se utilizan las Corrientes Eddy en pruebas no destructivas, ya

que las variaciones en el campo magntico pueden producir cambios de
impedancia mayores a los debidos por los parmetros de inters (grietas,
espesor, conductividad, etc). En la Tabla 2.2 se indican los valores de
permeabilidad magntica de algunos materiales.
MATERIAL
TIPO
Cobre
Diamagntico
PERMEABILIDAD
MAGNTICA RELATIVA
Aire
Paramagntico
1,0000004
Aluminio
Paramagntico
1,00002
Cobalto
Ferromagntico
250
Nquel
Ferromagntico
660
Hierro
Ferromagntico
5000
0,9999991
Tabla 2.2 Permeabilidad Magntica Relativa
21
La solucin que se da en este ltimo caso es saturar magnticamente el material,

para que los cambios en el campo magntico no se amplifiquen y no superen a
los que se generan por las propiedades de inters. Al saturar la muestra hacemos
que la permeabilidad pase a valer 1, y por tanto el material se pueda ensayar
como si se tratara de un material no ferromagntico.
2.3.5 GRIETAS
La impedancia de la bobina tambin se ve afectada por la presencia de grietas
superficiales o subsuperficiales que provocan distorsin en el flujo de las
corrientes inducidas.
Figura 2.8 Corrientes Eddy en un Material con Grietas6

Alguna irregularidad en el material, por ejemplo una grieta, como se aprecia en la
Figura 2.8, obstruye el paso de las Corrientes Eddy ya que estas tienen que
rodearla, esto genera que la intensidad de las corrientes disminuya y
consecuentemente el campo magntico generado por ellas y que tiene un efecto
reactivo en la bobina tambin se reduzca, y la reactancia en la bobina contina
incrementndose. Este efecto es utilizado en el mtodo de Corrientes Eddy con el
fin de detectar las discontinuidades.
Figura tomada de http://www.llogsa.com/nueva_web/Centro_de_descarga/aplicacion
22
2.3.6 PROFUNDIDAD DE PENETRACIN

Las corrientes inducidas no se distribuyen uniformemente en toda la masa de la
muestra; por lo contrario, su densidad es mxima en la superficie y disminuye
exponencialmente segn penetran hacia el interior de la muestra. Este fenmeno,
llamado efecto pelicular, es tanto ms acusado cuanto mayor sea la frecuencia de
la corriente, la conductividad de muestra y la permeabilidad magntica.
Figura 2.9 Profundidad de Penetracin Estndar

La profundidad cuando la densidad corrientes inducidas es 1/e (37%), de su
densidad superficial se denomina profundidad de penetracin estndar, se
designa con la letra griega minscula (delta), y se calcula mediante la expresin:

Donde: = profundidad de penetracin estndar en metros
= permeabilidad magntica de la muestra en Henrios por metro

frecuencia de inspeccin en Hertz
= conductividad elctrica en Siemens por metro
23
En la expresin anterior, vemos que la profundidad de penetracin es

inversamente proporcional a tres parmetros: frecuencia, permeabilidad y
conductividad, de los cuales slo la frecuencia se tiene como variable, mientras
que los otros dos parmetros son valores fijos y conocidos de la muestra de
ensayo.
Tambin se observa que el valor de aumenta, cuando la conductividad
disminuye, con lo que se tiene mayor penetracin en materiales que no son

buenos conductores.
Figura 2.10 Profundidad de Penetracin7

En las muestras de poco espesor, la frecuencia deber ser tal, que la profundidad
de penetracin sea menor que el espesor de la muestra, pues de lo contrario se
obtendran errores en la medidas deseadas, debido a las variaciones de espesor
de la muestra.
En la inspeccin de grietas o discontinuidades superficiales, la frecuencia de
ensayo deber elegirse de manera que dichas grietas o discontinuidades estn
dentro de la zona de la profundidad de penetracin.
Figura tomada de http://www.olympus-ims.com/es/ndt-tutorials/eca-tutorial/what-is-eca/depth
24
Adicionalmente, la capacidad de penetracin es menor para materiales

ferromagnticos (es decir, la profundidad de penetracin disminuye cuando
aumenta). Como se mencion, los materiales ferromagnticos generalmente se
pueden saturar magnticamente con una bobina adicional, por lo que el valor de
no presenta variaciones cuando se cambia la frecuencia.
2.3.7 EFECTO DE SEPARACIN (LIFT-OFF)
Las indicaciones de las corrientes inducidas son muy sensibles a la distancia

entre la bobina y la superficie del material inspeccionado, debido a que la
densidad de corriente disminuye rpidamente a medida que la bobina se aleja de
la superficie de la pieza.
Figura 2.11 Efecto de Separacin

Con la bobina en vaco, el vector impedancia tiene su extremo en A, como se
muestra en la Figura 2.11, mientras que para una muestra de conductividad, por
ejemplo 4,55 * 107 S/m en contacto con la bobina, el nuevo extremo estara en B.
Sin embargo, el paso de A a B no es brusco, sino que se produce a medida que la
bobina se va aproximando a la muestra. Esta variacin de la impedancia en
funcin de la distancia es lo que se llama efecto de separacin (lift-off).
25
Si vamos tomando valores de la impedancia al variar la distancia, podemos

construir el lugar geomtrico que representa la lnea de trazos (AMNB). Hay que
subrayar que las variaciones sensibles de impedancia comienzan a producirse a
muy poca distancia de la muestra (1 cm o menos), y que las variaciones son
mucho ms pronunciadas en las proximidades del contacto.
2.3.8 EFECTO DE BORDE
El efecto de borde se relaciona con la distorsin en el flujo de corriente inducida,
cuando la bobina se aproxima al borde de la pieza o a una unin entre materiales.
Una distorsin grande en el flujo de corriente puede tener cambios importantes en
las mediciones y por tanto, enmascarar variaciones por otro tipo de anomalas. A
pesar de que existen diseos de bobinas que reducen el rea de inspeccin
minimizando el efecto de borde, ste no se puede eliminar completamente, y es
recomendable que el rea de inspeccin se mantenga a una distancia
determinada de los bordes o fronteras. En general, se establece 3,175 mm como
la distancia mnima a la que se puede aproximar el rea de inspeccin al borde;
sin embargo, el valor depende del tipo y tamao de bobina y la frecuencia de la
corriente alterna de prueba.
Figura 2.12 Colocacin de Bobinas

En la Figura 2.12 se muestra cual es la forma correcta de colocar la bobina en la
muestra a inspeccionar
26
2.4
SELECCIN DE LA FRECUENCIA MS ADECUADA
DEPENDIENDO DEL MATERIAL

Como se ha analizado, la frecuencia tiene una influencia significativa en la
inspeccin por Corrientes Eddy, con valores tpicos de inspeccin que van de 200
Hz a ms de 6 MHz. Por lo general, la seleccin de la frecuencia para un caso
especfico implica determinado compromiso con alguna de las variables de
inspeccin; as, por ejemplo, la profundidad de penetracin aumenta a medida
que la frecuencia disminuye; pero por el contrario, la sensibilidad se reduce.
Mientras que para la deteccin de grietas superficiales en materiales no
ferromagnticos se sugieren altas frecuencias (~5 MHz); para materiales
ferromagnticos se requieren frecuencias menores (~1 MHz). Por lo general, el
criterio es utilizar la frecuencia ms alta posible, pero consistente con la
capacidad de penetracin requerida.
2.5
EFECTO DE LAS PRINCIPALES VARIABLES DEL ENSAYO
EN EL PLANO DE IMPEDANCIA
Cuando se acerca la bobina a la superficie de la muestra conductora, la situacin
se modifica de la siguiente manera:
1. Se generan corrientes inducidas en la muestra, y se originan prdidas
hmicas. Es como si hubiese aumentado la resistencia de la bobina, que
pasa a tener un valor distinto de cero (se haba supuesto despreciable la
resistencia en vaco).
2. El campo magntico generado por las corrientes inducidas, al oponerse
constantemente al campo magntico primario, lo debilita, con lo que el
campo en el interior de la bobina es menor que en vaco. En consecuencia
tambin disminuye la autoinduccin (Lo), y por lo tanto, la nueva reactancia
inductiva ( ), ser menor que (XLo).
27
3. Para todos los efectos es como si tuvisemos una nueva bobina en vaco
con una impedancia :
que es en general menor que o
que presenta una clara componente hmica (), frente a 0

que tiene una componente reactiva ( ), menor que ( )
Se acostumbra a considerar a la impedancia como un nmero complejo con

como componente real, y como componente imaginaria. Esto adems incluye
el hecho de que las intensidades asociadas a cada componente estn desfasadas

90.
As, la impedancia puede representarse en unos ejes cartesianos que forman el

plano complejo de impedancia. La componente reactiva se sita en el eje de
ordenadas, y puede relacionarse con la energa almacenada en la bobina y en la

muestra durante cada ciclo de la corriente alterna.
Figura 2.13 Plano de Impedancias

Cuando es constante y variable (en aumento), la impedancia aumenta y el
ngulo de fase tambin.
28
Cuando es constante y variable (en aumento), la impedancia aumenta y el
ngulo de fase disminuye.
En la Figura 2.13 se ve la representacin en el plano de impedancia de la bobina

en vaco (Po), y el desplazamiento de este punto hasta P1 al acercar una muestra
conductora. Este punto que representa la impedancia es en realidad el extremo
del vector impedancia.
En ausencia de un objeto metlico en ensayo, la bobina en vaco tiene una
impedancia caracterstica cuyas coordenadas en el plano de impedancia nos dan
el punto Po, de abscisa Ro, y de ordenada XLo.
Si aproximamos la bobina a un objeto metlico, el campo magntico inicial que
presentaba la bobina en vaco queda modificado al superponerse ahora con el
campo magntico que generan desde el objeto en ensayo las corrientes
inducidas, bajo la accin de la bobina. Esta modificacin del campo magntico
inicial tiene exactamente el mismo efecto que el que se obtendra si hubieran
cambiado las caractersticas de la bobina.
La magnitud y direccin del desplazamiento de la impedancia en vaco desde (Po)
a (P1) bajo la influencia del objeto metlico son funciones de las propiedades del
material metlico del objeto y de las caractersticas instrumentales de la bobina.
En determinados casos, se puede calcular, para diferentes frecuencias de
corriente, el efecto que tienen sobre la impedancia caracterstica de la bobina
ciertas propiedades fsicas de la muestra metlica.
29
CAPTULO 3
DISEO Y CONSTRUCCIN DEL PROTOTIPO
MICROCONTROLADO DE CORRIENTES INDUCIDAS
3.1 DISEO DEL CIRCUITO ELECTRNICO
Para el diseo del prototipo microcontrolado de corrientes inducidas, se busc
como construir un instrumento muy verstil que no solo detecte grietas existentes
en materiales no ferromagnticos y ferromagnticos (previa saturacin), si no que
se pueda medir otros parmetros mediante la induccin magntica como la
conductividad, profundidad de fisuras abiertas a la superficie, profundidad de
discontinuidades bajo la superficie, y variacin de forma.
Figura 3.1 Diagrama de Bloques del Prototipo
En la Figura 3.1 se presenta el diagrama de bloques del prototipo microcontrolado

de corrientes inducidas.
A continuacin se disea cada uno de los bloques que conforman el prototipo
empezando desde la fuente de alimentacin.
30
3.1.1 FUENTE DE ALIMENTACIN

La fuente de alimentacin nos sirvi para convertir la tensin alterna en una
tensin continua y as polarizar a los circuitos integrados a 12 V, 5 V y 5 V, la
fuente consta de los siguientes componentes:
1.- Transformador de entrada
2.- Rectificador a diodos
3.- Filtro para el rizado
4.- Regulador lineal
3.1.1.1 Transformador de Entrada
En la Figura 3.2 se muestra el transformador con toma central que se compr,
para reducir la tensin de la red de 120 V a 12 V.
Figura 3.2 Transformador a 12 V - 1.5 A

3.1.1.2 Rectificador a Diodos
Se utiliz un rectificador de onda completa como se indica en la Figura 3.3, con
dos diodos (D1 y D2) para convertir la tensin alterna que sale del transformador
en tensin continua pulsante positiva (punto A), que posteriormente se regula a 12
V, 5 V y dos diodos (D3 y D4) para obtener una onda rectificada negativa (punto
B), que luego se regula a 5 V.
31
Figura 3.4 Rectificador de Onda Completa

3.1.1.3 Circuito Filtro
La tensin que se obtiene a la salida del rectificador es continua pulsante, esta no
es la clase de tensin continua que requerimos para la alimentacin de los
circuitos electrnicos. Lo que se necesitamos es una tensin constante, similar a
la que produce una batera. Para obtener este tipo de tensin rectificada en la
carga fue necesario emplear un circuito filtro.
Para el circuito filtro se coloc el condensador a la salida de la etapa de
rectificacin, como se puede apreciar en la Figura 3.5, con un valor de 2200 uF,
con el siguiente criterio:

32
3.1.1.4 Regulador de Voltaje

Para polarizar a los circuitos integrados necesitamos que la fuente de
alimentacin nos entregue tensiones de 12 V, 5 V y 5 V, para ello se coloc los
reguladores de salida fija: LM7812 LM7805 Y LM7905, como se muestra en la
Figura 3.5, donde se presenta la fuente de alimentacin del prototipo
microcontrolado de corrientes inducidas.
Figura 3.5 Fuente de Alimentacin

El voltaje de 5 V fue necesario para polarizar el microcontrolador (Atmega16), 12
V para el generador de funciones (XR-2206) y acoplador de impedancias, y -5 V
requeridos para la alimentacin del conversor digital anlogo (DAC0808).
3.1.2 MICROCONTROLADOR ATMEGA16
Para el diseo del prototipo se necesit de un microcontrolador con
caractersticas necesarias para controlar un LCD (Display de Cristal Lquido), y
una conversin anloga digital, las cuales poseen los microcontroladores
Atmega8 y Atmega16 optando por el segundo, ya que presenta ms puertos de
entrada y salida de datos.
33
En la Figura 3.6 se presenta la distribucin de pines del Atmega16
Figura 3.6 Configuracin de Pines del Atmega16
3.1.2.1 Entradas y salidas de datos del microcontrolador Atmega16

El microcontrolador Atmega16, se lo emple para generar 8 bits por el puerto A,
valores en binario desde 00000000 hasta 11111111, es decir de 0 a 255 en
decimal, los cuales son enviados al conversor digital anlogo (DAC0808), como
se indica en la Figura 3.7, siendo esta la primera etapa de la generacin de una
seal diente de sierra que posteriormente nos sirvi para el barrido de frecuencia.
Para tener una mejor apreciacin, se dividi en tres rangos a los valores
generados a la salida del puerto A, quedando establecidos de la siguiente
manera:
Primer Rango (Rg 1) de 11111111 (255) a 10101010 (170).
Segundo Rango (Rg 2) de 10101010 (170) a 01010101 (85).
Tercer Rango (Rg 3) de 01010101 (85) a 00000000 (0).
34
Estos intervalos son seleccionados por medio de tres pulsantes conectados al

pin 3, 4 y 5 del puerto D, que tienen leds en los pines 0, 1 y 2 del puerto C para
identificar cual de los rangos est activado, adems posee dos pulsantes los
cuales sirven para moverse dentro de cada rango ya sea incrementando o
disminuyendo, los que estn conectados a los pines 0 y 1 del puerto D, como se
aprecia en la Figura 3.7, y adems los pines de salida (puerto A) que van al
conversor digital anlogo (DAC0808).
Figura 3.7 Conexin de los Pulsantes en el Microcontrolador ATMEGA16

En la Figura 3.7 se muestra un ejemplo en el cual se presion el pulsante Rg 1,
iluminndose el diodo led como indicador, por lo cual los valores a la salida del
puerto A que van al conversor digital anlogo (DAC0808) se colocan en 11111111
en binario 255 en decimal.
A continuacin se presenta el diagrama de flujo del cdigo de la frecuencia
programado en el microcontrolador Atmega16 comandado por los pulsantes,
indicados en la Figura 3.7.
35
INICIO
Dato 255 de salida al prtico A

Muestra en LCD el valor
correspondiente en baja frecuencia
Se presion una
tecla de cambio
de frecuencia
No
2
Si
No
No
Tecla de baja
frecuencia
Tecla de
Media
frecuencia
Si
No
Tecla de
alta
frecuencia
Si
Si
Dato 255 al PORTA
Dato 170 al PORTA
Dato 85 al PORTA

correspondiente en baja
frecuencia

correspondiente en media
frecuencia

correspondiente en alta
frecuencia
No
Se encuentra
en rango Baja
Frecuencia
Si
No
Se encuentra
en rango
Media
Frecuencia
Si
3
No
No
Se encuentra
en rango Alta
Frecuencia
Si
4
36
Presion
tecla
Incremento
No
Presion
tecla
Decremento
No
No
No
Si
Se mantiene el
dato en el Valor
dejado Tanto en
el PORTA como
en frecuencia en
el LCD
Si
Vara en decremento el dato en

un rango de 255 a 170 al PORTA
Vara en incremento el dato en

Muestra en LCD el incremento

del valor correspondiente en
baja frecuencia

baja frecuencia
Presion
tecla
Si
Incremento
Si
No
Presion
tecla
Si
Decremento
Si



baja frecuencia

baja frecuencia
No
Se mantiene el
dato en el Valor
dejado Tanto en
el PORTA como
en frecuencia en
el LCD
37
No
Presion
tecla
Presion
tecla
Si
Decremento
Si
Incremento
Si
No
Se mantiene el
dato en el Valor
dejado Tanto en
el PORTA como
en frecuencia en
el LCD
Si



baja frecuencia

baja frecuencia
3.1.3 CONVERSOR DIGITAL ANLOGO (DAC0808)

Las seales digitales generadas por el microcontrolador (Atmega16), son
enviadas al convertidor digital anlogo (DAC0808) de 8 bits a travs del cual se
obtiene una seal de corriente, siendo necesaria una etapa para convertir la
corriente en voltaje, esta transformacin se la hace por medio del amplificador
operacional LF353.
En esta etapa se utiliz una fuente de voltaje de 5 V y 5 V, tanto para el
conversor digital anlogo (DAC0808) como para el amplificador operacional
LF353, adems se define un voltaje de referencia (Vref) al pin 14, por medio de un
divisor de tensin que es de 1,25 V.

En la Figura 3.8 se presenta el circuito que se implement en el prototipo

microcontrolado de corrientes inducidas para la conversin digital anloga.
38
Figura 3.8 Conversor Digital Anlogo (DAC0808)

El voltaje anlogo a la salida del amplificador operacional LF353 est dado por:

Donde es la corriente que ingresa al amplificador operacional y es la

resistencia del mismo.

El voltaje est en funcin de A1, A2, A3, hasta A8, que son los bits del dato binario,
teniendo en cuenta que A8 es el bit menos significativo hasta A1 que es el ms
significativo.
Para el caso de seleccionar el primer rango en el microcontrolador pulsando
Rg 1, los valores binarios que ingresan al conversor digital anlogo son
11111111, por lo tanto el voltaje de salida es:
39

En la Figura 3.9, se observa la captura de la imagen del osciloscopio con el

voltaje anlogo de salida para valores en los cuales A1, A2A8 son unos. Este
valor de voltaje es el mximo de todos los rangos que se puede obtener a la
salida del conversor.
Figura 3.9 Voltaje a la Salida del Conversor

Si los valores binarios que ingresan al conversor son 01010101, la salida de
voltaje anlogo es:

El voltaje calculado se puede apreciar en la Figura 3.10, que es la imagen

capturada del osciloscopio para los valores binarios anteriormente expuestos.
40
Figura 3.10 Voltaje a la Salida del Conversor

3.1.4 GENERADOR DE FUNCIONES XR-2206
Para la generacin de la seal alterna se utiliz el integrado XR-2206, generando
con ste una onda cuadrada, el motivo por el cual se escogi esta forma de onda
es para crear un campo magntico constante y por tanto, un flujo constante en la
bobina.
Figura 3.11 Generador de Onda Cuadrada
41
En la Figura 3.11 se muestra el circuito implementado para la generacin de la

onda cuadrada del prototipo microcontrolado de corrientes inducidas.
El generador de seales XR-2206 consta de un oscilador controlado por voltaje
(VCO), del cual vamos a tener un barrido de frecuencias mediante la variacin de
la seal de voltaje manejada por los pulsantes del microcontrolador Atmaga16
indicados en la Figura 3.7, con los cuales generamos valores en binario que
posteriormente nos da un equivalente en voltaje por medio del DAC0808.
La tensin que ingresa al generador de funciones para controlar la frecuencia, se
la hace por medio del pin 7, y va de 0 V a un mximo de 2,73 V en el caso de que
el microcontrolador genere el valor de 255 en decimal, es decir todos los bits en
uno.
En el caso de tener la mxima tensin, es decir en el primer rango (Rg 1) vamos a
generar una frecuencia de 50 KHz, como se presenta en la
capturada del osciloscopio a 5us/Div.
Figura 3.12 Onda Cuadrada a 50 KHz
Figura 3.12,
42
En el segundo rango (Rg 2) se generan valores de 10101010 en binario, la

frecuencia que se obtiene es de 181 KHz a 5us/Div, como se indica en la
Figura 3.13, capturada del osciloscopio.

Para el tercer rango (Rg 3) se tiene valores de 01010101 en binario que
corresponden a una frecuencia de 301 KHz a 5us/Div, como se muestra en la
Figura 3.14, capturada del osciloscopio.
43
3.1.5 ACOPLADOR DE IMPEDANCIA (CONFIGURACIN EN COLECTOR

COMN)
Para la construccin del circuito amplificador de corriente fueron necesarios
ciertos parmetros como por ejemplo: ganancia, frecuencia de trabajo, voltaje de
salida, fuente de alimentacin, resistencia de entrada, carga a la salida del
amplificador. El circuito amplificador en configuracin colector comn mostrado en
la Figura 3.15, nos sirve como acoplador de impedancia debido a que si
conectamos directamente la etapa de salida del circuito XR-2206 a la etapa de
entrada al Puente de Wheatston, la impedancia de ste ltimo circuito consuma
demasiada corriente del primero (el circuito puente carga al generador) debido a
su baja impedancia de aproximadamente 115 [], provocando una distorsin
considerable en la forma de onda necesaria para ver los efectos de las corrientes
inducidas en los materiales de prueba.
Figura 3.15 Circuito Acoplador de Impedancia (Configuracin Colector Comn)
44
PARMETROS
DATOS
Ganancia (A)
Frecuencia (f) KHz
30
Voltaje de salida (Vo) V
Carga (RL)
115
Fuente de alimentacin (VCC) V
12
Resistencia de entrada (Rin)
600
Parmetro del transistor
120
Tabla 3.3 Datos para el Diseo del Acoplador de Impedancia

Con resistencias de tolerancia del 5%
Rin600[]
Req
Rin
600[]
Req
Req 4,96 []
+1
121
RL = 115 []
RE ||RL 4,96 []
RE RL
4,96 []
RE + RL
RE 5,18 []
asumo RE =100 [] , debido a que con este valor de resistencia se puede cumplir
con el parmetro dado como fuente de alimentacin; si no se cumple ste
parmetro sera necesario la implementacin de otra fuente de voltaje de acuerdo
al nuevo valor de Vcc requerido para la polarizacin del amplificador de corriente,
reflejndose dicha necesidad en un incremento tanto en el valor del equipo, como
en las dimensiones fsicas del mismo.
Req=RE ||RL
Req = 100115
Req=53,49[
45
VRE
RE
100
*VopVRE
*3[V]VRE 5,6[V]
53,49
Req
VRE 5,6*1,1[V] VRE 6,16[V]

IE =
VRE
6,16[V]
IE =
IE =61,6[mA]
RE
100[]
re =
25[mV]
25[mV]
re =
re =0,4[] existe estabilidad trmica

61,16[mA]
VCE Vop+VactVCE 3[V]+2[V]VCE 5[V]

IB =
IE
61,6[mA]
IB =
IB =509,09[A]
121
+1
I2 IB I2 =10*IB I2 =10*509,09AI2 =5,09[mA]

I1 =I2 +IB I1 =5,09mA+509,09AI1 =5,6[mA]
R2 =
VE +VJBE
6,16[V]+0,6[V]
R2 =
R2 =1,328[K]
5,09[mA]
I2
asumo R2 =1,5[K]
R1 =
VCC -VE -VJBE

12[V]-6,16[V]-0,6[V]
R1 =
R1 =935,71[]
5,6[mA]
I1
asumo R1 =1[K]
Rin = R1 ||R2 ||RinT Rin = [K]||[K]||121*(0,4+100[])
Rin = 571,76[]
46
Clculo de Capacitores de paso

CE
1
CE 0,48 [F] asumo CE = 1 [F]
2*30[KHz]*11[]

1
CB
CB 0,106[F]

2*30[KHz]*50[]
CB 0,106[F] asumo CB = 1 [F]

3.1.6 PUENTE DE WHEATSTON
En la Figura 3.16, se presenta el Puente de Wheatston, que es el mtodo en que
se basan los equipos de corrientes inducidas, consta de tres resistencias dos de
igual valor, una bobina y una resistencia variable que sirve para que el puente
est en equilibrio, es decir no exista corriente entre el punto a y b. El circuito est
alimentado con una onda cuadrada de 5,5 voltios pico-pico aproximadamente.
Las resistencias que se utiliz para el puente son de valores bajos ya que se tom
en consideracin que la reactancia inductiva para la mnima y mxima frecuencia
es baja.
El puente se desequilibra cada vez que la bobina entra en contacto con el material
es decir cambia la impedancia, y por tanto existe una corriente entre los puntos a
y b, ya que el voltaje en la rama de la bobina ya no es el mismo.
47
Figura 3.16 Puente de Wheatston

Para una frecuencia de 50 KHz se tiene una impedancia de bobina de:

Los voltajes en los puntos a y b del Puente de Wheatston para la tensin mxima
de entrada de 2,73 V son:

48
Para poder apreciar estos cambios que se realizan en la impedancia de la bobina,

se utiliz un display LCD, para el cual fue necesario rectificar las seales en los
puntos a y b con el diodo 1N4148 y filtrarlas para la entrada hacia un segundo
microcontrolador Atmega16 que realiza la conversin anloga digital (ADC),
presentando la salida en un LCD.
3.1.7 CONVERSIN ANLOGO DIGITAL
Para la conversin anloga digital se emple el microcontrolador Atmega16, ste
recibe las seales enviadas del Puente de Wheatston por los pines 2 y 6 del
puerto A, realiza la conversin y la resta de las tensiones de los puntos a y b
mediante software, y la presenta en el display LCD como se aprecia en la
Figura 3.17.

Figura 3.17 Entradas al Conversor Anlogo Digital
49
La polarizacin al ADC se provee externamente a travs del pin AVCC. Mediante

el pin AREF se aliment al ADC con la seal de referencia de 5 V, y para
minimizar el ruido se conect AVCC a VCC mediante un circuito LC como se
muestra en la Figura 3.18.
Figura 3.18 Conexin de la Alimentacin del ADC
continuacin
se
presenta
el
diagrama
de
flujo
programado
en
el
microcontrolador Atmega16 del cdigo implementado para la conversin anlogo

digital, y las transformaciones en porcentaje de las variaciones producidas por el
cambio de impedancia de la bobina
INICIO
Almacena 200 datos o

muestras de seal a la
entrada del ADC0
Almacena 200 datos o

muestras de seal a la
entrada del ADC1
Obtiene el Valor mximo y el mnimo de los

200 datos almacenados desde el ADC0, y
realiza un promedio entre ambos valores
50
Obtiene el Valor mximo y el mnimo de los

200 datos almacenados desde el ADC1, y
realiza un promedio entre ambos valores
Se realiza la resta entre el valor del

promedio obtenido desde el ADC0 y el valor
del promedio obtenido desde el ADC1
Se transforma dicha resta en un valor

adecuado de voltaje correspondiente a las
variaciones de impedancia de la bobina con
respecto al material de prueba
Presion
alguna
tecla
No
Si
Se
encuentra
en modo
normal
No
Se
encuentra
en modo
porcentaje
Si
2
No
Si
Se muestra en el LCD el valor

correspondiente a las variaciones
de voltaje con respecto al cambio
de impedancia de la bobina y al
equilibrio del puente, multiplicado
por un factor de 100
4
1
Presion
la tecla
modo
normal
No
Presion
tecla de
Toma
referencia
0%
No
Presion
tecla de
toma de
referencia
100%
No
Si
Elimina los valores almacenados
con respecto a la referencia 0% y
la referencia 100%
correspondiente a las
variaciones de impedancia de la
bobina con respecto al material
de prueba, y se muestran estos
valores en el LCD multiplicado
Si
Si
5
51
Se encuentra
en modo
normal
Se encuentra
en modo
porcentaje
No
Si
No
Si
El valor a tomar
como
referencia a 0%
es mayor que
cero
El valor a
tomar como
referencia a
0% es mayor
que cero
No
Muestra
en el
LCD
opcin
no vlida
Si
Muestra
en el
LCD
opcin
no
vlida
Si
No
Almacena el dato con respecto a

la referencia 0%
Almacena el dato con respecto a la

nueva referencia 0%

variaciones de impedancia de la
bobina con respecto al material
de prueba, y se muestran estos
valores en el LCD multiplicado
Transforma el valor
correspondiente a las variaciones
de voltaje con respecto al cambio
de impedancia de la bobina en un
rango respecto a la referencia
tomada como el nuevo valor 0% y
la referencia del 100% anterior,
incremento o decremento de escala
El valor es mostrado en el LCD
1
52
No
Se encuentra
en modo
normal
Se
encuentra
en modo
porcentaje
Si
No
1
Si
Se tom el
valor de
referencia a
0%
Si
9
No
Muestra en
el LCD
Error
escoja la
primera
referencia
El valor a tomar
como referencia a
100% es menor o
igual que
referencia a 0% y
referencia a 0% es
mayor que cero
No
Muestra
en el LCD
Error
Fuera de
Rango
10
1
1
10

la nueva referencia 100%
Transforma el valor
variaciones de voltaje con
respecto al cambio de
impedancia de la bobina en un
tomada como 0% y asume este
nuevo valor de referencia como
el 100%
, incremento o decremento de
escala
53
El valor a tomar
como referencia a
100% es menor o
igual que
referencia a 0% y
referencia a 0% es
mayor que cero
No
Muestra
en el LCD
Error
Fuera de
Rango
Si
la referencia 100% y cambia el
modo a porcentaje
Transforma el valor
variaciones de voltaje con
respecto al cambio de
impedancia de la bobina en un
tomada 0% y asume este valor de
referencia como el 100%
El valor es mostrado en el LCD
Transforma el valor correspondiente

a las variaciones de voltaje con
respecto al cambio de impedancia
de la bobina y el desequilibrio del
puente en un rango respecto a la
referencia tomada como 0% y el
valor de referencia tomada como el
100%
El valor es
menor al 100% y
mayor al 0%
No
Se muestra en el LCD
Porcentaje Fuera de
Rango
Si
Se muestra en el LCD el
correspondiente valor en
porcentaje
54
3.1.8 DISPLAY LCD

Para mostrar los cambios que se producen al desequilibrarse el puente por causa
del cambio de impedancia de la bobina, se utiliz un display LCD de 2x16, es
decir 2 filas y 16 columnas, como se indica en la Figura 3.19.
Figura 3.19 Display LCD 16*2

3.1.8.1 Conexin del display LCD con el microcontrolador Atmega16
Los pines del 7 al 14 forman un bus de datos por los cuales se enva la
informacin para escribir en el display LCD. En las seales de datos solo fue
necesario 4 de los 8 pines, se utiliz el 11, 12, 13 y 14 conectados a los pines 2,
3, 4 y 5 del puerto D del microcontrolador Atmega16, como se indica en la Figura
3.20.
Figura 3.20 Conexin del Display LCD con el Microcontrolador Atmega16
55
3.1.9 DIAGRAMA ESQUEMTICO DEL PROTOTIPO MICROCONTROLADO

DE CORRIENTES INDUCIDAS
56
3.2 CONTROLES Y CONEXIONES

3.2.1 TECLAS DE SELECCIN DE FRECUENCIA
Estas teclas sirven para elegir el rango de frecuencias con el que deseamos
trabajar de acuerdo al parmetro que vamos a medir con el equipo, ya sea
conductividad, fisuras abiertas a la superficie, profundidad de discontinuidades
bajo la superficie, variacin de forma, espesor de pared en lminas y tubos, como
se explic al inicio, unos de los factores importantes para la realizacin de este
ensayo con corrientes inducidas es la frecuencia, por lo que se opt en dividir la
generacin de frecuencia en tres rangos con sus respectivas teclas, conectadas a
los pines 3, 4 y 5 del puerto D de microcontrolador Atmega16, denominadas:
rango 1 de baja frecuencia que va desde los 50 KHz hasta los 181 KHz, rango 2
de media frecuencia de los 181 KHz a los 301 KHz, y rango 3 de alta frecuencia
que va desde los 301 KHz hasta la mxima frecuencia del equipo de 400 KHz, y
adems tres leds en los pines 0, 1 y 2 del puerto C que sirven de indicadores del
rango de frecuencia seleccionado como se muestra en la Figura 3.21.
Figura 3.21 Conexin de Teclas al Microcontrolador Atmega16
57
3.2.2 TECLAS DE INCREMENTO Y DISMINUCIN DE FRECUENCIA

Dentro de cada rango de frecuencias, ya sea alta, media o baja frecuencia, se
necesita hacer un barrido total de sus frecuencias, para lo cual se coloc dos
teclas adicionales en los pines 0 y 1 del puerto D, como se indica en la
Figura
3.21, con el propsito de incrementar o disminuir la frecuencia dentro del rango

seleccionado, haciendo un barrido desde la mnima hasta la mxima frecuencia.
3.2.3 DISPLAY LCD INDICADOR DE FRECUENCIA Y VARIACIN DE
PARMETROS
En el equipo implementado se tienen dos display LCD, el primero muestra la
frecuencia de operacin, y est conectado a los pines del puerto B del
microcontrolador Atmega16 como se indica en la Figura 3.22.
Figura 3.22 Conexin del Display LCD de la Frecuencia

El segundo display LCD como se aprecia en la Figura 3.17, est conectado a los
pines del puerto D, y tiene como propsito indicar la resta de las tensiones en los
58
puntos a y b del Puente de Wheatston generado por el cambio de impedancia de

la bobina, al momento de realizar la medicin de conductividad elctrica,
deteccin de discontinuidades, medicin de espesores de recubrimientos no
conductores y comprobacin del efecto de separacin.
3.2.4 TECLAS DE FUNCIONAMIENTO DEL PROTOTIPO EN MODO NORMAL

Y PORCENTAJE
Las teclas selectoras son tres, y estn conectadas a los pines 1, 2 y 3 del puerto
B del microcontrolador Atmega16 como se presenta en la Figura 3.23. La tecla
selectora denominada referencia 0% es aquella que sirve para almacenar en la
memoria del microcontrolador un valor que se va a tomar como la mnima
referencia para que conjuntamente luego de presionar la tecla selectora
denominada referencia 100% automticamente el equipo pase a funcionar en
modo porcentaje, tomando ste ltimo valor y almacenndolo en la memoria del
microcontrolador como mximo; lo que significa que se va a tomar dos valores de
referencia un mnimo que ser tomado como 0%, y un mximo denominado como
el 100%.
Figura 3.23 Teclas Selectoras Normal y Porcentaje
59
Adems se tiene la posibilidad de ampliar este rango o escala cambiando los

valores que se tome como referencia, ya que si algn material se encuentra fuera
de sta escala, el equipo indicara que el parmetro a medir se encuentra fuera de
rango. La tecla normal sirve para salir del modo porcentaje, es decir regresa a la
resta de las tensiones en los puntos a y b del Puente de Wheatston.
3.2.5 PROTOTIPO MICROCONTROLADO DE CORRIENTES INDUCIDAS
60
Bobina de Prueba
3.3 SOFTWARE UTILIZADO PARA LA SIMULACIN DE LAS

ETAPAS
DEL
PROTOTIPO
MICROCONTROLADO
DE
3.3.1 PROTEUS
El programa PROTEUS es una aplicacin CAD que se compone de tres mdulos
bsicos: ISIS (Intelligent Schematic Input System), que es el mdulo de captura
de esquemas, VSM (Virtual System Modelling) es el mdulo de simulacin,
incluyendo PROSPICE, y por ltimo ARES (Advanced Routing Modelling) es el
mdulo para realizacin de circuitos impresos (PCB).
3.3.1.1 Isis
El mdulo ISIS es un programa que nos permite dibujar sobre un rea de trabajo
un circuito que posteriormente podremos simular. Las utilidades que posee este
software son entre otras:
Libreras de componentes
Conexionado automtico entre dos puntos del esquema
Netlist compatible con la mayora de los programas de realizacin de PCB
Enumeracin automtica de componentes, etc.
61
Una vez instalado el programa en el respectivo computador, al abrirlo se tiene una

pantalla como la que se muestra en la Figura 3.24.
Figura 3.24 Visualizacin de la Pantalla de ISIS
Barra de Ttulo
Situada en la parte superior de la pantalla, en ella se muestra el cono del
programa, el nombre del fichero abierto, la leyenda, y en ocasiones mensajes de
que el programa ha entrado en un modo particular de funcionamiento (por ejemplo
Animating cuando se simula).
Barra de Mens
Permite el acceso a la mayor parte de las opciones del programa, sin embargo en
algunas opciones solo estn disponibles en los iconos de las barras de
herramientas.
62
Zona de Trabajo
Que es donde ir el diseo y se colocan todos los elementos necesarios para
generar nuestros circuitos a simular.
Ventana de Vista Completa
Esta ventana nos muestra una visin global del diseo, y mediante el puntero
podemos seleccionar que zona del diseo estar visible en la ventana de edicin,
si no fuese posible visualizar todo sobre dicha ventana. La zona visible se
encuentra dentro de dicha ventana, mediante un recuadro verde.
Barra de Dispositivos
En esta barra aparecern todos los componentes, terminales, pines, generadores,
etc, que se quieren introducir en el esquema, esta ventana dispone de 2 botones
los cuales nos permiten acceder a las libreras de componentes incluidas en ISIS.
Barra de Estado
Situada en la parte inferior de la pantalla, en ella se muestran mensajes
informativos acerca de las opciones del men de los componentes de las
simulaciones, a la derecha se indican las coordenadas de la posicin del cursor,
las unidades son en milsimas de pulgada.
3.4 SOFTWARE UTILIZADO PARA LA PROGRAMACIN EN LOS

MICROCONTROLADORES
ATMEGA16
DEL
PROTOTIPO
MICROCONTROLADO DE CORRIENTES INDUCIDAS

3.4.1 BASCOM AVR
El BASCOM AVR es un compilador de BASIC para la familia AVR de ATMEL

desarrollado por la empresa holandesa MCS Electronic, sirve para realizar
programas en alto nivel, el cual posee un compilador y un ensamblador que
traduce las instrucciones estructuradas en lenguaje de mquina.
63
Inicio
Presionando FILE NEW, se abre un archivo en blanco para trabajar.
Compilador
Presionando el icono de la barra de herramientas o F7, se compila el proyecto
como se indica en la Figura 3.25 y se obtiene un archivo .hex, el cual va a ser
grabado en el microcontrolador.
Figura 3.25 Cuadro de Compilacin de un Proyecto

Simulador
Una vez que se compila un proyecto, se puede simular con ayuda de BASCOM
SIM, presionando el icono de simulacin de la barra de herramientas o F2,
apareciendo una ventana como se muestra en la Figura 3.26, donde se puede
apreciar el programa principal, espacios de memoria y LCD etc.
Figura 3.26 Cuadro de Simulacin en BASCOM AVR
64
3.4.2 PROGISP167
Luego de haber obtenido el archivo hexadecimal de nuestro programa, el
siguiente paso es grabar el archivo en el microcontrolador, por lo que se necesita
de un circuito que active la programacin del microcontrolador para trasladar
todas las instrucciones a la memoria de programa del mismo. En el mercado
encontramos una diversidad de circuitos grabadores de AVR, los cuales nos
muestran principalmente los fusibles y el archivo a cargar en el microcontrolador.
Un grabador muy utilizado en el mercado es el progisp167 con comunicacin
USB, el cual puede conectarse directamente a los pines de programacin del
microcontrolador, sin ninguna circuitera adicional.
Figura 3.27 Programador USB para los Microcontoladores AVR
3.5
SOFTWARE
UTILIZADO
PARA
EL
DISEO
DEL
ESQUEMTICO E IMPRESO DE LA PLACA DEL PROTOTIPO DE

CORRIENTES INDUCIDAS.
3.5.1 ALTIUM DESIGNER
Es una herramienta muy poderosa utilizada a escala industrial para realizar la
implementacin de sistemas electrnicos, adems de ser capaz de permitirnos
llevar el diseo del hardware desde la concepcin inicial hasta el producto final.
65
En general se puede decir que Altium Designer es un conjunto de programas para

el diseo electrnico en todas sus fases y para todas la disciplinas, ya sean
esquemas, simulacin , diseo de circuitos impresos , implementacin de FPGA,
o desarrollo de cdigo para microprocesadores.
La Figura 3.28 muestra el entorno del diseo esquemtico del prototipo
microcontrolado de corrientes inducidas en Altium Designer.
Figura 3.28 Diseo Esquemtico en Altium Designer

3.5.2 PRESENTACIN DEL DISEO DE PCB (PRINTED CIRCUIT BOARD)
Luego de haber realizado el esquemtico del diseo del circuito de corrientes
inducidas lo trasladamos a nuestra hoja PCB para proceder al ruteo
correspondiente de las pistas, en la Figura 3.29 se presenta el diseo del PCB
total terminado para el prototipo microcontrolado de corrientes inducidas; los
trazos de color rojo y color azul muestran que el diseo fue realizado para una
impresin de placa a doble capa, con el propsito de reducir el tamao del
66
prototipo, adems de utilizar las dimensiones exactas de los elementos a ser

colocados en la placa terminada.
Figura 3.29 Diseo PCB del Prototipo para ser Ruteada a Doble Capa.
67
CAPTULO 4
PRUEBAS DEL PROTOTIPO MICROCONTROLADO DE
4.1 MEDICIN DE CONDUCTIVIDAD ELCTRICA
Siempre que vara la conductividad de un material, vara la impedancia, con lo
cual tenemos la posibilidad de detectar diferencias entre muestras midiendo
simplemente la impedancia.
La conductividad elctrica se mide en materiales no ferromagnticos y en
ferromagnticos previa saturacin magntica.
En todas estas mediciones, se debe tener especial atencin a las siguientes
variables que pueden inducir a error en la medida o la interpretacin.
a) Todas las medidas se realizarn lo suficientemente lejos del borde para
eliminar sus efectos.
b) El espesor de la muestra ser por lo menos tres veces la profundidad de
penetracin de las corrientes inducidas en el material que se est
midiendo.
c) La presencia de revestimiento en las aleaciones de aluminio altera la
lectura de la conductividad.
d) La calibracin, y la medida, se deben realizar a la misma temperatura.
La conductividad de cada metal aumenta a medida que aumenta la pureza, ya
que al eliminar los tomos extraos de un metal, la fuente de dispersin se
reduce.
La mayora de los metales, en ingeniera, son aleaciones. Una aleacin se forma
aadiendo uno a ms metales, al metal base para formar un metal de
propiedades deseadas. Estos elementos de aleacin se aaden durante la
68
fundicin del metal. Segn aumenta la cantidad de elementos aadidos, la

conductividad disminuye. Algunos elementos de aleacin tienen un efecto sobre la
conductividad mucho mayor que otros.
4.1.1 PATRONES DE CONDUCTIVIDAD
Los equipos de corrientes inducidas utilizados para la medicin de conductividad
elctrica normalmente vienen en unidades
de %I.A.C.S. establecidos por la
Internacional Annealed Cooper Standard, en la que por ejemplo, el cobre tiene la

conductividad alta de 100 %I.A.C.S frente a la del plomo que es baja de 8,4
%I.A.C.S y para conductividades intermedias el aluminio y el zinc con 61 y 29,1
%I.A.C.S respectivamente.
4.1.2 PRUEBA DE DETERMINACIN DE CONDUCTIVIDAD
OBJETIVO: Realizar la curva de conductividad elctrica.
MTODO:
Determinar la conductividad elctrica de varios metales por medio de

corrientes inducidas.
EQUIPO:
- Prototipo microcontrolado de corrientes inducidas.

- Cuerpos de Prueba: Cobre, Aluminio, Zinc, Bronce y Plomo.
- Bobina: Dimetro 5 mm, bobina de superficie.
AJUSTES:
- Frecuencia: 72,26 KHz.

- Calibracin: 0% al aire y 100% al cobre.
En la Figura 4.1, se presentan los cinco cuerpos de prueba que se utiliz para la
determinacin de la conductividad elctrica por corrientes inducidas los cuales
son cobre, aluminio, zinc, bronce y plomo.
69
Figura 4.1 Cuerpos de prueba para conductividad

Los valores de la conductividad elctrica presentados en el display LCD del
prototipo microcontrolado de corrientes inducidas en porcentaje I.A.C.S de los
cinco metales, como tambin de la frecuencia de operacin se muestran en la
Figura 4.2.
Frecuencia de operacin
Cobre
Aluminio
Zinc
Bronce
Plomo
Figura 4.2 Valores de conductividad mostrados en el display LCD
70
En la Tabla 4.1, se presentan los valores de la conductividad elctrica tomados

con el prototipo microcontrolado de corrientes inducidas, comparados con los
porcentajes en I.A.C.S (Patrn Internacional de Cobre Recocido) de cinco
metales, cuatro no aleados y el bronce como metal aleado.
PROTOTIPO
CUERPO DE
UNIDADES
PRUEBA
(% I.A.C.S)
Cobre
100
100 (%)
Aluminio
61
81,82 (%)
Zinc
29,1
54,55 (%)
Bronce
19
18,18 (%)
Plomo
8,4
12,50 (%)
MICROCONTROLADO DE
Tabla 4.1 Valores de conductividad en el prototipo microcontrolado de corrientes

inducidas
En la Figura 4.3, se grafica la curva de la conductividad elctrica de los cinco
metales, con los valores tomados de la Tabla 4.1, en la cual los valores del
eje
X son los del prototipo microcontrolado de corrientes inducidas y los del eje Y se
representan por la conductividad relativa en porcentaje IACS.
Con el grfico de la Figura 4.3, se comprueba que la curva de conductividad
elctrica sirve tanto para metales aleados como es el caso del bronce que es una
fundicin de cobre mas estao que cae dentro de la curva, como tambin para los
no aleados que son los materiales restantes.
71
CONDUCTIVIDAD (% I.A.C.S)
CURVA DE CONDUCTIVIDAD ELCTRICA

100
61
29,1
19
8,4
12,5 18,18
54,55
81,82
100
PROTOTIPO MICROCONTROLADO
DE CORRIENTES INDUCIDAS (%)
Figura 4.3 Curva de conductividad de los metales
4.2 DETECCIN DE DISCONTINUIDADES

La discontinuidad se define como la carencia o ausencia de material que afecta el
rendimiento de un elemento, mientras que un defecto es una discontinuidad no
aceptada por la norma adems que afecta el rendimiento de un material en mayor
cantidad. De esto se deduce que un defecto siempre es una discontinuidad pero
no siempre una discontinuidad es un defecto.
Cuando a una bobina alimentada por corriente alterna se la hace pasar por un
metal que tiene defectos, las lneas de las corrientes inducidas en el material
sufren perturbaciones y esto conlleva a que el flujo magntico se altere y exista un
cambio en la impedancia del circuito puente, que se va a ver representado en un
cambio en el porcentaje de la lectura en el prototipo microcontrolado de corrientes
inducidas.
72
4.2.1 PRUEBA DE DETECCIN DE DISCONTINUIDADES

OBJETIVO: Comprobar la existencia de fisuras en un metal no ferromagntico.
MTODO:
Se determina la existencia de una discontinuidad a diferentes

profundidades por medio de la bobina en el aluminio.
EQUIPO:

- Cuerpo de Prueba: Aluminio.
AJUSTES:

- Calibracin: 0% al aire y 100% al aluminio.
La prueba de discontinuidades se la ejecuta con un bloque de aluminio con

ranuras de 1, 2 y 3 mm de profundidad como se presenta en la Figura 4.4. El
prototipo microcontrolado de corrientes inducidas se ajusta a una frecuencia de
76,87 KHz y se calibra 0 % al aire y 100% al bloque de aluminio, se realiza una
exploracin sobre la superficie con la bobina generando corrientes inducidas en el
material que se van a ver representadas en el display LCD como 100% mientras
no se haga pasar la bobina por las ranuras.
Figura 4.4 Bloque de aluminio con ranuras

A medida que la profundidad de la ranura es ms grande los datos mostrados en
el display LCD del prototipo microcontrolado de corrientes inducidas van
73
disminuyendo, ya que las corrientes inducidas generadas se ven perturbadas por

los defectos existentes en el bloque de aluminio.
La frecuencia de operacin y las lecturas en porcentaje de las ranuras del bloque
de aluminio a diferentes profundidades presentadas en el display LCD se indican
en la Figura 4.5.
0 mm
1 mm
2 mm
3 mm
Figura 4.5 Valores de discontinuidades en funcin de la profundidad
CUERPO DE
PROFUNDIDAD DE
PRUEBA
FISURAS
Aluminio
PROTOTIPO
MICROCONTROLADO DE
0 mm
100 (%)
1 mm
91,67 (%)
2 mm
83,33 (%)
3 mm
75,00 (%)
Tabla 4.2 Valores de Discontinuidades en el prototipo microcontrolado de corrientes

inducidas
74
Los valores de discontinuidades en cada ranura en funcin de la profundidad se

muestran en la Tabla 4.2.
En la Figura 4.6, se grafican los valores de lectura del prototipo microcontrolado
de corrientes inducidas como funcin de la profundidad de la ranura en el bloque
de aluminio.
CURVA DE PROFUNDIDAD DE FISURAS

100
91,67
83,33
75
PROFUNDIDAD DE DISCONTINUIDADES (mm)
Figura 4.6 Curva de profundidad de fisuras
4.3 MEDICIN DE ESPESORES DE RECUBRIMIENTOS NO

CONDUCTORES
Una amplia variedad de recubrimientos no conductores son utilizados para
proteccin contra la corrosin, como pinturas, plsticos, etc.
75
La tcnica de inspeccin por corrientes inducidas se utiliza con alto grado de

exactitud para el control del espesor del recubrimiento no conductor, o prdidas
del mismo durante el servicio.
La determinacin del espesor de las capas no conductoras es una medida relativa
del acoplamiento magntico entre la bobina y el material conductor. En otros
trminos, el espesor del material no conductor es la medida del lift-off, o espacio
entre la bobina y el material conductor.
Para la medida de los recubrimientos no conductores, por medio de las tcnicas
de corrientes inducidas, se exigen tres condiciones:
1. El recubrimiento no conductor debe estar en ntimo contacto con el
material conductor.
2. El espesor del recubrimiento debe ser menor que el margen efectivo de la
variacin del campo magntico generado por la bobina.
3. El espesor del material base debe ser al menos tres veces la profundidad
de penetracin a la frecuencia empleada.
4.3.1 PRUEBA DE ESPESORES DE RECUBRIMIENTOS NO CONDUCTIVOS

OBJETIVO: Medicin del espesor de recubrimiento.
MTODO:
Colocar lminas de acetato como recubrimiento no conductivo sobre

un metal no ferromagntico.
EQUIPO:

- Cuerpos de Prueba: Aluminio y lminas de acetato.
AJUSTES:
- Frecuencia: 400 KHz.

76
Para realizar las lecturas en el prototipo microcontrolado de corrientes inducidas

de espesores de recubrimiento no conductivo, primero se ajusta a la frecuencia de
400 KHz que se tiene valores en los que se aprecia cada lmina de acetato que
se coloque en el material, tambin se calibra al 100% en el bloque sin
recubrimiento y a medida que se van colocando las lminas de acetato se vern
los cambios en el display LCD del prototipo microcontrolado de corrientes
inducidas.
La frecuencia de operacin y los datos que se obtuvo en porcentaje en el display
LCD en funcin del nmero de lminas de acetato que se coloc sobre el bloque
de aluminio se indican en la Figura 4.7
En contacto con la nuestra
1 lmina de acetato
2 lminas de acetato
3 lminas de acetato
4 lminas de acetato
5 lminas de acetato
Figura 4.7 Espesores de recubrimiento en funcin del nmero de lminas de acetato
77
En la Tabla 4.3 se muestran las lecturas para 5 lminas de acetato.
NMERO DE
CUERPO DE
LMINAS DE
PRUEBA
ACETATO
Aluminio
PROTOTIPO
ESPESOR DE
MICROCONTROLADO
RECUBRIMIENTO
DE CORRIENTES
INDUCIDAS
0 mm
100 (%)
0,11 mm
94,83 (%)
0,22 mm
84,48 (%)
0,33 mm
74,14 (%)
0,44 mm
63,79 (%)
0,55 mm
53,45 (%)
Tabla 4.3 Valores del espesor de recubrimiento no conductivo sobre el aluminio

Los patrones para medida de recubrimientos no conductores suelen ser lminas
de papel o plstico y deben tener espesores conocidos y uniformes.
CURVA DE ESPESORES DE RECUBRIMIENTO

100
84,48
63,79
53,45
0,11
0,22
0,33
0,44
0,55
ESPESOR DE RECUBRIMIENTOS (mm)
Figura 4.8 Curva de espesores de recubrimientos no conductivos sobre el aluminio
78
En la Figura 4.8 se tiene la curva de espesores de recubrimientos no conductivos

de la lectura del equipo en funcin de grosor del nmero de lminas de acetato.
Una de las prcticas ms utilizada es la medida de capas de pintura sobre
estructuras de aleaciones de aluminio en las aeronaves. Se controla el espesor de
pintura para garantizar una buena proteccin a la corrosin, sin que tenga un
espesor excesivo y recubrimiento quebradizo.
4.4 COMPROBACIN DEL EFECTO DE SEPARACIN (LIFT-OFF)

Cuando la bobina es separada de la superficie de la muestra existe una
disminucin del coeficiente de acoplamiento. Parte del campo magntico
originado por la bobina no llega a la muestra. Si la separacin es tal que ninguna
parte del campo magntico afecta al material de la muestra, la reactancia
inductiva tendr un valor mximo (bobina en vaco).
Cuando vamos aproximando la bobina a la muestra van aumentando las lneas de
flujo, que a su vez crean un campo magntico ms intenso, que se opone al
campo de la bobina reduciendo su valor, y a su vez disminuyendo la inductancia
de la bobina y la reactancia inductiva. Esta reduccin es mxima cuando la bobina
est en contacto con la muestra.
4.4.1 PRUEBA DEL EFECTO DE SEPARACIN
OBJETIVO: Establecer el efecto de separacin bobina-objeto.
MTODO:
Se procede a tomar valores a diferentes distancias entre la bobina y

el material, en este caso el aluminio.
EQUIPO:

- Cuerpos de Prueba: Aluminio.
79
AJUSTES:

Los porcentajes que se obtuvo en el display LCD en la prueba de lift-off
a una
frecuencia de operacin de 250,41 KHz dependiendo de la separacin de la

bobina con respecto al objeto de prueba se indican en la Figura 4.9.
0 mm (en contacto)
1 mm (Bobina-Objeto)
2 mm (en contacto)
3 mm (Bobina-Objeto)
4 mm (en contacto)
1 cm (Bobina-Objeto)
Figura 4.9 Valores del LCD dependiendo de la distancia (Bobina-Objeto)

En la Tabla 4.4 se tiene las lecturas del prototipo microcontrolado de corrientes
inducidas a distintas distancias de separacin entre la bobina y el objeto a
inspeccionar.
80
CUERPO DE
DISTANCIA
PRUEBA
BOBINA-OBJETO
PROTOTIPO
MICROCONTROLADO DE
0 mm (contacto)
100 (%)
1 mm
31,65 (%)
2 mm
15,19 (%)
3 mm
7,59 (%)
4 mm
2,53 (%)
1 cm
1,27 (%)
30 cm (vaco)
0 (%)
Aluminio
Tabla 4.4 Valores a diferentes distancias de la muestra

Al colocar la bobina en contacto con el material se generan las corrientes
inducidas con mayor intensidad, estas van disminuyendo a medida que se va
alejando la bobina de la muestra, estos cambios afectan a la impedancia de la
bobina, aprecindose la variacin en el display LCD.
CURVA DE LIFT-OFF
100
31,65
15,19
1,27
0
10
DISTANCIA BOBINA-OBJETO (mm)

Figura 4.10 Curva de lift-off en el bloque de aluminio
81
La curva del efecto de separacin (lift-off) de la lectura del prototipo

microcontrolado de corrientes inducidas en funcin de la separacin bobina-objeto
en milmetros, se indica en la Figura 4.10.
82
CAPTULO 5
ANLISIS DE RESULTADOS
5.1 MEDICIN DE LA CONDUCTIVIDAD ELCTRICA
Para la medicin de conductividad elctrica se utiliz metales no ferromagnticos
tales como: cobre, aluminio, zinc, bronce y plomo, de pureza alrededor del 99%,
teniendo como referencia al cobre con una conductividad alta del 100 %I.A.C.S y
al plomo con una conductividad baja del 8,4 %I.A.C.S.
Se realiz varias lecturas en el prototipo microcontrolado de corrientes inducidas a
diferentes frecuencias, de las cuales se concluye que a 72,26 KHz se obtuvo
valores de conductividad elctrica semejantes a los establecidos por el Patrn
Internacional de Cobre Recocido (%I.A.C.S), los cuales se muestran en la
Tabla 4.1.
Con los valores de la Tabla 4.1, se grfica la curva de conductividad colocando en
el eje de las abscisas las lecturas del prototipo microcontrolado de corrientes
inducidas y en el eje de las ordenadas los valores en porcentaje (I.A.C.S) como se
muestra en la Figura 4.3, teniendo como resultado una curva semejante a la de
otros equipos de corrientes inducidas, con la cual a partir de esta grfica se puede
determinar conductividades de cualquier otro metal puro no ferromagntico.
5.2 DETECCIN DE DISCONTINUIDADES

El material para la deteccin de discontinuidades es un bloque de aluminio que
presenta tres ranuras de 1, 2 y 3 mm de profundidad y un ancho de la ranura de
aproximadamente 0,2 mm como se muestra en la Figura 4.4.
En la Tabla 4.2 se tiene las lecturas del prototipo microcontrolado de corrientes
inducidas para las discontinuidades observndose que inicialmente el valor es de
83
un 100 % cuando la bobina est en una superficie en la que no existe una ranura,
a medida que la sonda va pasando por cada ranura los valores van disminuyendo
conforme la ranura tiene una mayor profundidad.
La curva realizada con los diferentes valores de discontinuidades inicia con un
valor de 100 % y va decreciendo conforme aumenta la profundidad de la ranura
en el bloque de aluminio, como se observa en la Figura 4.6, a partir de la grfica
se puede saber la medida de la profundidad de la ranura si se conoce la lectura
del equipo ya que se sigue con la tendencia de la curva o tambin, si se conoce le
dimensin de la ranura se puede saber el valor que va a indicar el prototipo
microcontrolado de corrientes inducidas, siempre y cuando se mantenga la misma
frecuencia y el ambiente donde se realice las pruebas.
5.3 MEDICIN DE ESPESORES DE RECUBRIMIENTOS NO

CONDUCTORES
Para la medicin de espesores de recubrimientos se utiliz lminas de acetato de
0,11 mm, como no conductores sobre un metal no magntico como el aluminio
puro, teniendo como resultado las lecturas que se indican en la Tabla 4.3, en el
prototipo microcontrolado de corrientes inducidas, observndose que a medida
que se va colocando una a una las lminas, los valores indicados en el display
van disminuyendo. Esta es una prueba del efecto de vaciado que se produce
cuando la bobina
se va alejando del material conductivo, desbalanceando el
circuito puente con el cambio de impedancia de la sonda.

Al existir un recubrimiento no conductivo que separa la bobina de la pieza
conductiva, se genera un efecto de vaciado que es proporcional al espesor del
recubrimiento no conductivo que se interpone entre la pieza y la bobina de
prueba, sin importar el tipo de recubrimiento no conductivo que sea papel,
plstico, etc.
84
Con los datos de la Tabla 4.3, se realiza una curva de espesores de recubrimiento
no conductivo versus las lecturas del equipo como se puede ver en la Figura 4.8,
donde la curva es descendente ya que los valores se vuelven cada vez ms
pequeos a medida que se aumenta el nmero de lminas, esto se debe a la
induccin que disminuye conforme la bobina se aleja de la pieza, por lo cual se
dice, el prototipo microcontrolado de corrientes inducidas est en la capacidad de
medir cualquier clase de recubrimientos no conductivo sobre metales no
ferromagnticos pero conductores distintamente del tipo de recubrimiento.
Para poder apreciar los valores en funcin del nmero de lminas hay que tener
en cuenta la frecuencia de operacin en la cual sea muy sensible el equipo para
poder obtener valores aceptables.
5.4 COMPROBACIN DEL EFECTO DE SEPARACIN (LIFT-OFF)

El efecto de separacin es cuando se aleja la bobina de la muestra lo que hace
que el campo magntico que es mayor en contacto con la muestra vaya
disminuyendo a medida que se aleja la sonda del cuerpo de prueba, estos
cambios en los valores son registrados en el display LCD del prototipo
microcontrolado de corrientes inducidas, indicados en la Tabla 4.4, como se
puede apreciar las variaciones de la impedancia son ms sensibles a una
distancia de la muestra de 1 cm o menos ya que el campo magntico se induce
con mayor intensidad. La bobina al estar alejada del material, es decir al aire
(vaco) no se produce induccin lo que da como resultado un valor de cero en el
prototipo microcontrolado de corrientes inducidas, es decir la impedancia no ha
cambiado y en consecuencia el circuito puente no ha sufrido un desequilibrio.
Este fenmeno es el mismo al de tener un recubrimiento no conductor sobre el
metal ya que en los dos casos es el mismo principio, las lneas de flujo se van
perdiendo a medida que se aleja la bobina del material de prueba.
85
En la Figura 4.10, se tiene la curva de lectura del equipo en funcin de la distancia

empezando desde un valor de 100 % en contacto con el material decreciendo
hasta 0 %, (vaco) esto sucede cuando la bobina se ha alejado una distancia en la
cual el equipo ya no registra ninguna induccin sobre el material.
5.5 COMPARACIN DE COSTOS DEL EQUIPO IMPLEMENTADO

DE
CORRIENTES
INDUCIDAS
RESPECTO
EQUIPOS
EXISTENTES EN EL MERCADO
Al realizar la comparacin de costos de equipos de Corrientes de Eddy existentes
en el mercado con respecto al prototipo realizado en ste proyecto de titulacin,
se debe destacar el gran ahorro econmico que representa el diseo y
construccin el presente prototipo microcontrolado de corrientes inducidas, en
relacin a la compra de otro equipo similar en el mercado, debido a que el diseo
de ste prototipo estuvo encaminado especficamente a la enseanza de los
principios de corrientes inducidas en el laboratorio de ensayos no destructivos, lo
que permite al estudiante un buen aprendizaje de los fundamentos de ensayos no
destructivos mediante Corrientes de Eddy, sin necesidad de usar un equipo
avanzado de nivel industrial.
5.5.1
CARACTERSTICAS
PRINCIPALES
DEL
PROTOTIPO
MICROCONTROLADO DE CORRIENTES INDUCIDAS IMPLEMENTADO EN

STE PROYECTO DE TITULACIN
En el mercado existe una variedad de equipos de inspeccin por Corrientes de
Eddy, los cuales son usados en la industria para un anlisis exhaustivo de
materiales dentro del control de calidad para la construccin de productos
derivados de dichos materiales, sin embargo en muchas ocasiones el adquirir
dichos equipos para una prctica de laboratorio de ensayos no destructivos con la
finalidad de entender el fundamento principal de estos ensayos, no es justificable.
86
Por lo expuesto anteriormente, fue necesario la implementacin de un equipo

basado en el principio de inspeccin por corrientes de Eddy, el mismo que es de
gran utilidad para el aprendizaje de este mtodo de inspeccin en los ensayos no
destructivos. A continuacin se muestran las principales caractersticas y
aplicaciones de ste instrumento:
Modo de presentacin de resultados en valores normales en un display

LCD.
Modo de presentacin de resultados en porcentajes en un display LCD.
Variacin de parmetros en tiempo real.
Tres tipos de rangos de frecuencias disponibles.
Incremento y decremento de frecuencias dentro de un rango especfico.
Fcil portabilidad de un lugar a otro.
Liviano.
Capacidad de almacenamiento de datos en la memoria de los

microcontroladores.
Facilidad de sustitucin de circuitos integrados del equipo por cuestin de

fallas o daos.
Optimo desempeo en prcticas de Ensayos no Destructivos.
Manejo fcil y amigable.
Instructivo de mantenimiento
APLICACIONES
Las siguientes aplicaciones estn encaminadas al ensayo no destructivo en
materiales ferromagnticos y no ferromagnticos:
Variaciones de conductividad y caracterizacin de materiales.
Profundidad de fisuras abiertas a la superficie.
Profundidad de discontinuidades bajo la superficie.
Variacin de forma.
Espesor de pared en lminas y tubos.
87
5.5.2
CARACTERSTICAS
PRINCIPALES
DEL
INSTRUMENTO
DE
CORRIENTES DE EDDY PHASEC 2S

El instrumento de Corrientes de Eddy Phasec 2s fue diseado para detectar fallas
en metales ferrosos y no ferrosos, y es conveniente para casi todas las
aplicaciones de Corrientes de Eddy, a continuacin se muestran las principales
caractersticas del instrumento y sus aplicaciones:
Paginacin inmediata del men: con solo presionar en el botn de men se

activa de forma instantnea el men o a la pantalla de operacin.
Ajuste fino de la frecuencia
Modo de conductividad y espesor de recubrimiento
Ajustes guardados de fbrica para aplicaciones comunes
Modo de sensor giratorio compatible con la mayora de los dispositivos de

otros fabricantes
APLICACIONES
Deteccin de grietas abiertas a la superficie en metales
Inspeccin a travs de recubrimientos no ferrosos como pintura.
Deteccin de grietas en metales no ferrosos.
Medicin de la conductividad elctrica para identificar materiales no

ferrosos.
5.5.3
CARACTERSTICAS
PRINCIPALES
DEL
INSTRUMENTO
DE
CORRIENTES DE EDDY PHASEC 3d.

ste instrumento de Corrientes de Eddy asegura al usuario un buen rendimiento
en el modo de giratorio y de conductividad con una amplia seleccin de filtros y
modos de potencial.
88
A continuacin se presentan las principales caractersticas y aplicaciones para

dicho instrumento:
Paginacin inmediata del men.
Ajuste de la frecuencia
Modo de conductividad y espesor de recubrimiento
Ajustes guardados de fbrica para aplicaciones comunes
Modo de sensor giratorio compatible con la mayora de los dispositivos de

otros fabricantes
Rango de frecuencia de prueba de 10Hz 10MHz
La operacin con doble frecuencia puede minimizar el impacto
APLICACIONES
Deteccin de grietas abiertas a la superficie en metales
Inspeccin a travs de recubrimientos no ferrosos como pintura
Deteccin de grietas en metales no ferrosos
Medicin de la conductividad elctrica para identificar materiales no

ferrosos.
5.5.4 COMPARACIN DE COSTOS

A continuacin se presenta la tabla de costos del instrumento microcontrolado de
corrientes inducidas diseado e implementado en el presente proyecto de
titulacin, as como tambin las tablas de costos de dos equipos de Corrientes de
Eddy de venta en el mercado.
89
DETALLE DEL COSTO DEL PROTOTIPO MICROCONTROLADO DE CORRIENTES

INDUCIDAS DISEADO E IMPLEMENTADO
COSTOS
Materiales electrnicos activos y pasivos
CANTIDAD
102 elementos en
total
VALORES EN
DLARES
54,00
Placa del circuito impreso
67,72
Sonda o bobina de prueba
300,00
Total
$ 421,72
Tabla 5.1: Costos del prototipo microcontrolado de Corrientes Inducidas Diseado

Nota: la bobina de prueba que se utiliz fue adquirida hace 25 aos para el laboratorio de
ensayos no destructivos, el precio en la actualidad es de 300 dlares en SETE (Servicios
Tcnicos Especializados Fredi Mio, Asesor Tcnico)
DETALLE DEL COSTO DEL INSTRUMENTO DE CORRIENTES DE EDDY PHASEC 2S

Costos
Cantidad
Instrumento de Corrientes de Eddy PHASEC 2S
Total
Valores en
dlares
$ 15.000,00
$ 15.000,00
Tabla 5.2: Costos del Equipo de Corrientes de Eddy PHASEC 2S
DETALLE DEL COSTO DEL INSTRUMENTO DE CORRIENTES DE EDDY PHASEC 3D

Costos
Instrumento de Corrientes de Eddy PHASEC
3D
Total
Cantidad
1
Valores en dlares
$ 18.000,00
$ 18.000,00
Tabla 5.3: Costos del Equipo de Corrientes de Eddy PHASEC 3D
90
Con las tablas de costos de los instrumentos de corrientes inducidas mostrados

anteriormente, se presenta a continuacin un cuadro comparativo con respecto al
costo del equipo as como tambin de acuerdo a las ventajas y desventajas de los
mismos.
TIPO DE INSTRUMENTO
VENTAJAS
DE CORRIENTES DE
DESVENTAJAS
COSTO
EDDY
Fcil manejo.
Fcil portabilidad de un lugar a
otro.
Prototipo microcontrolado de
corrientes inducidas
implementado en el presente
proyecto de titulacin
Liviano.
Disminucin de precisin en
Fcil su reparacin.
lugares
Repuestos baratos.
interferencia.
Buen
caracterizador
de
mucha
de
BAJO
materiales.
Falta de display grfico para
Amplio rango de frecuencias
visualizacin de curvas de
para realizacin de pruebas
impedancia y de lift-off.
dentro de los ensayos no

destructivos.
Larga vida til.
Necesidad de entrenamiento
otro.
para el manejo de estos
Liviano.
Instrumento PHASEC 2S
equipos.
Poco sensible a
ruidos e
interferencias.
Mantenimiento y reparacin
Uso de display grfico para
del instrumento slo donde
visualizacin de curvas de lift-
el fabricante del equipo.
ALTO
off.
Instrumento PHASEC 3D
Necesidad de entrenamiento
otro.
para el manejo de estos
Liviano.
equipos.
Poco sensible a
ruidos e
interferencias.
Mantenimiento y reparacin
Uso de display grfico para
del instrumento slo donde
visualizacin de curvas de lift-
el fabricante del equipo.
ALTO
off.
Tabla 5.4: Cuadro Comparativo de Costos, Ventajas y Desventajas de los Instrumentos de

Corrientes de Eddy
91
CAPTULO 6
CONCLUSIONES Y RECOMENDACIONES
6.1 CONCLUSIONES
El presente prototipo microcontrolado de corrientes inducidas implementado, es
de gran utilidad dentro de pruebas a realizarse en el laboratorio de ensayos no
destructivos, tanto para conocer el funcionamiento en base a la teora de
corrientes inducidas como para el respectivo anlisis de calidad en materiales
ferromagnticos y no ferromagnticos.
Podemos concluir que el diseo del prototipo microcontrolado de corrientes
inducidas es una base slida para la futura construccin de un equipo ms
sofisticado de corrientes inducidas, nicamente utilizando nuevas tecnologas en
cuanto a microcontroladores, displays, etc. Cabe recalcar que tambin su costo
sera mayor que el valor del presente prototipo.
El manejo del prototipo es muy sencillo, lo cual ayuda al estudiante a entender
con mucha facilidad los fundamentos del mtodo de corrientes inducidas dentro
de los ensayos no destructivos, y realizar sus prcticas de la manera ms
satisfactoria posible.
No hubo la necesidad de una gran inversin para la adquisicin del prototipo
microcontrolado de corrientes inducidas, como en el caso de los equipos de
Corrientes de Eddy a la venta en el mercado, ya que posee los elementos
necesarios, puntuales y suficientes, aprovechando al mximo los recursos del
equipo.
La bobina o sonda es el elemento ms sensible del prototipo microcontrolado de
corrientes inducidas, debido a que es propensa a la percepcin de interferencias y
ruido del medio externo dentro de un rango de frecuencias muy amplio, lo que
92
podra originar en ciertas ocasiones, una toma de lecturas no tan exactas en

cuanto a la variacin de parmetros en los materiales.
6.2 RECOMENDACIONES
El prototipo microcontrolado de corrientes inducidas debe ser usado en un
ambiente con poca interferencia respecto al medio externo, ya que la bobina de
prueba capta seales interferentes del medio en un amplio rango de frecuencias.
Es conveniente un ruteo a dos capas o ms, dentro de la realizacin de la placa
del circuito impreso para la implementacin del prototipo microcontrolado de
corrientes inducidas, con el propsito de reduccin de dimensiones del mismo,
adems de hacer uso de antisolder para poder evitar la presencia de
interferencias en las pistas de la placa, provenientes del medio externo o debido a
los puntos de suelda de los elementos que pertenecen a la misma.
Se recomienda usar un tipo de cable trenzado y blindado para la conexin de la
sonda con la placa del circuito impreso del prototipo microcontrolado de corrientes
inducidas, con el propsito de evitar la introduccin de interferencias del medio
con respecto a la sonda y por ende a la placa de circuito impreso.
El presente proyecto de titulacin se podra utilizar como un tema a fin para la
implementacin de un prototipo en el que se pueda observar en un display LCD
grfico o en un monitor de un computador la representacin de la impedancia de
la bobina como tambin, una grfica a escala de la conductividad elctrica.
Para la utilizacin del prototipo microcontrolado de corrientes inducidas, se
recomienda que el espesor del material base debe ser al menos tres veces la
profundidad de penetracin a la frecuencia de empleada.
Para obtener buenas lecturas en el display LCD, se sugiere que la bobina de
prueba ste en ntimo contacto con el material en estudio.
93
INSTRUCTIVO DE MANTENIMIENTO
Pasos para el uso adecuado del Prototipo Microcontrolado de

Corrientes Inducidas
1. Enchufar el cable de poder a la toma de la red elctrica (120V).
2. Conectar la bobina de prueba al conector BNC.
3. Encender el equipo.
4. En caso de no encenderse ninguno de los display LCD verificar el estado
del fusible.
5. Presionar el reset ubicado en el extremo del prototipo en el caso que
alguno de los display LCD indique caracteres incoherentes.
6. En el caso de no existir variacin en el display LCD al colocar la bobina
sobre el material de prueba, revisar la conexin del cable de la bobina
internamente a la placa del prototipo.
7. Cuando no se observe cambios en el display LCD que indica las
variaciones de los parmetros, cambiar el integrado generador de
funciones (XR-2206), teniendo en cuenta la posicin al momento de retirar
del scalo.
94
8. Si existe algn problema no especificado anteriormente, revisar los

integrados conversor digital anlogo (DAC0808), y el amplificador
operacional (LF353), y en ltimo caso chequear los microcontroladores.
9. Seleccionar el rango de frecuencias de acuerdo al parmetro a medir.
10. Pulsar la tecla selectora 0 % referencia (bobina de prueba al aire).
11. Pulsar la tecla selectora 100 % referencia (bobina de prueba sobre el
material en inspeccin).
95
TERMINOLOGA
Acoplador de Impedancia Elemento indispensables para conseguir la mxima
transferencia de potencia entre circuitos.
Altium Designer
Herramienta utilizada a escala industrial para realizar la

implementacin de sistemas electrnicos.
Amplificador Operacional Circuito electrnico que tiene dos entradas y una

salida. La salida es la diferencia de las dos entradas
multiplicada por un factor (G) (ganancia).
Bobina
Componente pasivo de un circuito elctrico que, debido

al fenmeno de la autoinduccin, almacena energa en
forma de campo magntico.
Campo Magntico
Espacio en que actan fuerzas magnticas, suelen

representarse mediante "lneas de campo magntico" o
"lneas de fuerza.
Compilador
Programa encargado de tomar un texto (cdigo fuente)

escrito en un lenguaje de alto nivel y traducirlo a un
lenguaje comprensible por las computadoras (cdigo
objeto).
Conductividad Elctrica
Propiedad que tienen los metales para dar paso, con

mayor o menor resistencia al flujo de corriente, se
representa con la letra (sigma), y su unidad es S/m
(Siemens por metro).
Conversor Digital Anlogo Dispositivo para convertir datos digitales en seales de

corriente o de tensin analgica.
96
Corriente Alterna
Circula durante un tiempo en un sentido y despus en

sentido opuesto, volvindose a repetir el mismo
proceso en forma constante.
Corriente Continua
No cambia su magnitud ni su direccin en el tiempo.
Corrientes Eddy
Corrientes
generadas
travs
de
induccin
electromagntica, cuando una corriente alterna es

aplicada a un conductor.
Display de Cristal Lquido Pantalla delgada y plana formada por pxeles, utilizada
para mostrar mensajes.
Diodo
Dispositivo de dos terminales que permite el paso de la

corriente en una sola direccin.
Ferromagntico
Propiedad
que
tienen
algunas
sustancias
para
presentar grandes intensidades de imanacin .

Flujo Magntico
Nmero total de lneas de fuerza creadas por un campo

magntico. Se representa con la letra griega (phi), y
tiene como unidad el Weber (W).
Frecuencia
Magnitud que mide el nmero de repeticiones por

unidad de tiempo, y se mide en hercios (Hz).
Generador de Funciones
Circuito integrado capaz de generar seales variables

en
el
dominio
del
tiempo
para
ser
aplicadas
posteriormente sobre el circuito bajo prueba.

Impedancia
Oposicin al paso de la corriente elctrica alterna.
97
IACS
Patrn Internacional de Cobre Recocido, expresada en

porcentaje.
Ley de Ohm
Relaciona el valor de la resistencia de un conductor con

la intensidad de corriente que lo atraviesa y con la
diferencia de potencial entre sus extremos.
Lift-Off
Distancia entre la bobina y la superficie del material de

prueba.
Microcontrolador
Dispositivo electrnico capaz de llevar a cabo procesos

lgicos. Estos procesos son programados en lenguaje
y son introducidos en este a travs de un programador.
Onda Cuadrada
Alterna su valor entre dos extremos sin pasar por los

valores intermedios.
Oscilador
Un oscilador electrnico es un circuito electrnico que

produce una seal electrnica repetitiva, a menudo una
onda senoidal o una onda cuadrada.
Permeabilidad Magntica Capacidad de un material de concentrar lneas

magnticas.
Progisp167
Grabador con comunicacin USB, el cual se conecta

directamente
los
pines
de
programacin
del
microcontrolador, sin ninguna circuitera adicional.

Proteus
Herramienta para realizar el diseo de circuitos

electrnicos.
Puente de Wheatstone
Constituido por tres resistencias y una bobina, utilizado

para calcular el valor de impedancia de uno de ellos.
98
Reactancia Inductiva
Oposicin al cambio de circulacin de la corriente

alterna.
Rectificador a Diodos
Convierte la tensin alterna que sale del transformador

en tensin continua pulsante.
Regulador de Voltaje
Dispositivo que mantiene a la salida una tensin

constante.
Seal Diente de Sierra
Comienza en cero y aumenta linealmente a su valor

mximo. Luego, instantneamente desciende a cero, y
nuevamente aumenta hasta su valor mximo.
Transistor
Dispositivo electrnico semiconductor que cumple

funciones de amplificador, oscilador, conmutador o
rectificador.
99
REFERENCIAS BIBLIOGRFICAS
Libros
GMEZ DE LEN, Eduardo, Corrientes Inducidas Nivel II END, Editorial

Fundacin Confemetal.
CASTILLO, Augusto, NOROA, Diego, Estudio de la Optimizacin de los

equipos construidos en el laboratorio de Ensayos no Destructivos y su
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CALDERN, Antonio, Apuntes en Clase de Circuitos Electrnicos.
AVILS, Enrique, Diseo y construccin de un equipo para ensayos no

destructivos por Corriente Inducidas, Tesis Quito 1987.
VALENCIA, Ramiro, Aplicaciones electrnicas con microcontroladores

AVR, diciembre 2008.
ECHEVARRIA, Ricardo, Laboratorio de E.N.D de la Universidad Nacional

del Comahue, 2001.
CEVALLOS,
Mario,
Teora
Electromagntica
Escuela
Politcnica
Nacional, 2003.
COLLAGUAZO, Gerardo, Sistemas basados en microprocesadores, UTN,

2008.
MCS Electronics, BASCOM-AVR user manual, 2009.
KELB, Wilhelm, Eddy Current Course, Institute for Nuclear Engineering

and Nondestructive Testing, Quito 1989.
100
The American Society for Nondestructive Testing, Inc., Electromagnetic

Testing Classroom Training Book, december 2006.
ALMEIDA, Francisco, CABRERA, Alberto, Mtodo de Inspeccin para la

deteccin de fisuras, corrosin y conductividad elctrica mediante
corrientes inducidas , Tesis Quito 2003
Direcciones electrnicas
http://www.epn.edu.ec/Departamentos/Materiales/Laboratorios/LabEnsayos
nodestructivos.htm
http://www.atmel.com/dyn/resources/prod_documents/doc2466.pdf.
http://www.datasheetcatalog.org/datasheet/nationalsemiconductor/DS0056
87.PDF
http://www.datasheetcatalog.org/datasheet/nationalsemiconductor/DS0056
49.PDF
http://www.datasheetcatalog.org/datasheet/motorola/2N3055.pdf
http://www.datasheetcatalog.org/datasheet/exar/XR2206v103.pdf
http://www.thermoequipos.com.ve/pdf/articulo_06.pdf
http://www.powerpointsgratis.net/ciencia-e-ingenieria-de-los-materiales/2/
http://www.etitudela.com/Electrotecnia/downloads/magnetimo.pdf
http://www.imt.mx/archivos/Publicaciones/PublicacionTecnica/pt231.pdf
101
ANEXO A
MICROCONTROLADOR
ATMEGA16
102
103
104
105
106
ANEXO B
CONVERSOR DIGITAL ANLOGO
(DAC0808)
107
108
109
110
ANEXO C
REGULADORES DE VOLTAJE
7805-7812-7905
111
112
113
114
115
ANEXO D
GENERADOR DE FUNCIONES
XR-2206
116
117
118
119
120
ANEXO E
AMPLIFICADOR OPERACIONAL
LF353
121
122
123
ANEXO F
TRANSISTOR DE POTENCIA
2N3055
124
125

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ESCUELA POLITCNICA NACIONAL

FACULTAD DE INGENIERA ELCTRICA Y

DISEO Y CONSTRUCCIN DE UN INSTRUMENTO (PROTOTIPO)

PROYECTO PREVIO A LA OBTENCIN DEL TTULO DE INGENIERO

DARO ROLANDO LPEZ URRESTA

DIRECTOR: ING. CARLOS FLORES

Quito, Abril 2011

Daro Rolando Lpez Urresta

Marco Antonio Pilco Pavn

ING. CARLOS FLORES

A Dios, por darme una vida llena de Bendiciones.

El presente trabajo va dedicado con mucho

A mis hermanos, por su tolerancia, amistad, compaerismo, por cada vivencia y

grado de responsabilidad, paciencia y entrega que siempre demostr al momento

A los ingenieros de la Escuela Politcnica Nacional que imparten sus

Marco Antonio. Pilco Pavn.

Esta tesis est dedicada con mucho amor y

Marco Antonio Pilco Pavn

4.1 MEDICIN DE CONDUCTIVIDAD ELCTRICA ............................................................................... 67

4.2 DETECCIN DE DISCONTINUIDADES .......................................................................................... 71

4.4.1 PRUEBA DEL EFECTO DE SEPARACIN ..................................................................................... 78

5.5 COMPARACIN DE COSTOS DEL EQUIPO IMPLEMENTADO DE CORRIENTES INDUCIDAS

INSTRUCTIVO DE MANTENIMIENTO ............................................................................. 93

En el presente proyecto de titulacin se presenta el diseo e implementacin de

conductividad, caracterizacin de materiales, profundidad de fisuras abiertas a la

El mtodo de ensayo no destructivo nos asegura un adecuado mantenimiento en

que no altere de forma permanente sus

propiedades fsicas, qumicas, mecnicas o dimensionales, con el propsito de

discontinuidades provocan anomalas en el flujo de esa energa (distorsin,

Ondas electromagnticas (comprendiendo fenmenos basados en las

Ondas elsticas o acsticas.

Emisin de partculas subatmicas.

1.1.2.2 Segn sus aplicaciones

Defectologa: Deteccin, ubicacin y evaluacin de: heterogeneidades,

Metrologa: Medicin de: espesores de material base de ambos lados y de

Caracterizacin de materiales: Determinacin de caractersticas fsicas,

1.1.2.3 Segn el estado actual de desarrollo

1.1.2.3.1 Mtodos convencionales de END

Inspeccin Visual y Pruebas pticas

Ensayo por Lquidos Penetrantes

Ensayo por Ultrasonido

Ensayo por Corrientes Inducidas

1.1.3.1 Inspeccin Visual y Pruebas pticas

Figura tomada de http://www.thermoequipos.com.ve/pdf/articulo_06.pdf

1.1.3.3 Ensayo Radiogrfico

Conductividad elctrica: capacidad de un material o medio para

Permeabilidad magntica: capacidad de un material o medio para

Corrosin: deterioro que sufre un material cuando interacta con el

Grietas: hendiduras o aberturas en cuerpos o materiales slidos.

Separacin de materiales mezclados:

Medicin de espesores de recubrimiento: lminas delgadas de

Algunas de las ventajas de la inspeccin de Corrientes de Foucault son:

Sensible a las pequeas grietas tanto superficiales como internas en los

La inspeccin da resultados inmediatos.

El mtodo puede ser utilizado para diferenciacin de conductividad en

Es necesaria la mnima preparacin del material.

Algunas de las limitaciones de la inspeccin de Corrientes de Foucault son:

Slo los materiales conductores pueden ser inspeccionados.

La superficie debe ser accesible a la bobina.

El acabado superficial y la aspereza en gran proporcin (asperezas a

La profundidad de penetracin es limitada de acuerdo con la frecuencia del

En general, la tcnica se utiliza para inspeccionar un rea relativamente pequea,

1.2 MATERIALES OBJETO DE PRUEBAS EN EL LABORATORIO

= cada de tensin a travs de la bobina en voltios

= resistencia equivalente de la bobina en ohmios

hipotenusa , para calcular el valor de la impedancia.

El valor de en las bobinas utilizadas en corrientes inducidas es, en general,

= conductividad elctrica en Siemens por metro