Professional Documents
Culture Documents
PENDAHULUAN
A. LATAR BELAKANG
Sinar-X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun
1895. Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka disebut sinar-X. Sinar-X
digunakan untuk tujuan pemeriksaan yang tidak merusak pada material maupun
manusia. Selain itu, sinar-X juga digunakan untuk menghasilkan pola difraksi
tertentu yang dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material.
Sinar-X merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi tinggi
sekitar 200 eV sampai 1 MeV. Sinar-X dihasilkan oleh interaksi antara berkas
elektron eksternal dengan elektron pada kulit atom. Spektrum sinar-X memilki
panjang gelombang 10-5 10 nm, berfrekuensi 1017 -1020 Hz dan memiliki
energi 103 -106 eV.
Ada berbagai jenis teknik yang dikembangkan untuk analisa sampel, salah
satu satunya teknik yang menggunakan sinar-X. Teknik yang menggunakan
sinar-X antara lain X-Ray Absorption (XRA), X-Ray Fluorescence(XRF) dan XRay Diffraction(XRD). Namun, pembahasan akan difokuskan pada teknik XRD.
Panjang gelombang sinar-X memiliki orde yang sama dengan jarak antar
atom sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal. Ketika suatu
material dikenai sinar-X, maka intensitas sinar yang ditransmisikan lebih rendah
dari intensitas sinar datang. Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh material
dan juga penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut. Berkas sinar-X
yang dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya
berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena fasanya sama. Berkas sinarX yang saling menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas difraksi. Hukum
Bragg merupakan perumusan matematika tentang persyaratan yang harus
dipenuhi agar berkas sinar-X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas
difraksi. Sinar-X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan tinggi
dengan logam target.
Dari prinsip dasar ini, maka dibuatlah berbagai jenis alat yang memanfaatkan
prinsip dari Hukum Bragg ini. Salah satu jenis alat yang menerapkan prinsip
mengenai pengertian X-Ray Diffraction (Difraksi Sinar-X), komponenkomponen yang terdapat pada X-Ray Diffractometer, prinsip kerja X-Ray
Diffractometer, manfaat serta kelebihan dan kekurangan X-Ray Diffractometer.
B. RUMUSAN MASALAH
1. Apa pengertian X-Ray Diffraction (XRD)?
2. Apa saja komponen-komponen yang terdapat pada X-Ray Diffractometer?
3. Bagaimana prinsip kerja X-Ray Diffractometer?
4. Apa manfaat yang diperoleh dari X-Ray Diffractometer?
5. Apa kelebihan dan kekurangan X-Ray Diffraction?
C. TUJUAN
1. Menjelaskan pengertian X-Ray Diffraction (XRD).
2. Menjelaskan komponen-komponen yang terdapat pada X-Ray
Diffractometer.
3. Menjelaskan prinsip kerja X-Ray Diffractometer.
4. Menjelaskan manfaat yang diperoleh dari X-Ray Diffractometer.
5. Menjelaskan kelebihan dan kekurangan X-Ray Diffraction.
BAB II
PEMBAHASAN
A. X-Ray Diffraction (XRD)
XRD merupakan teknik yang digunakan untuk mengidentifikasi
10
dilengkapi dengan aliran air dingin untuk membuang panas (Q) yang
timbul.
Sinar-x yang lebih bermanfaat dan sering digunakan dalam setiap
kegiatan eksperimen khususnya pada XRD adalah sinar-x monokromatik
dan sering disebut sinar-x karakteristik. Sinar-x monokromatik (sinar-x
karakteristik) ini timbul akibat adanya
proses transisi
eksitasi elektron di dalam anoda. Sinar-x ini timbul secara tumpang tindih
dengan spektrum bremstrahlung. Disamping panjang gelombangnya yang
monokromatik, inensitas sinar-x monokromatik ini jauh lebih besar dari
pada intensitas sinar-x bremstrahlung.
Menurut pendekatan Bragg, kristal dapat dipandang terdiri atas
bidang-bidang datar (kisi kristal). Jika sinar-X ditembakkan pada
tumpukan bidang datar tersebut, maka beberapa akan didifraksikan oleh
bidang tersebut dengan sudut difraksi yang sama dengan sudut datangnya,
seperti yang diilustrasikan dalam Gambar 6, sedangkan sisanya akan
diteruskan menembus bidang.
11
Penggunaan
XRD
untuk
mempelajari
kisi
kristal
adalah
12
13
membuat suatu obyek (dalam hal ini adalah detektor) berotasi dalam posisi
sudut yang tepat. Dalam set X-Ray Diffractometer, rotasi detektor melalui
sudut sebesar 2 terjadi bersamaan dengan rotasi spesimen sebesar ,
dengan perbandingan tetap 2:1.
Sinar-X dihasilkan di suatu tabung sinar katode dengan pemanasan
kawat pijar untuk menghasilkan elektron-elektron, kemudian elektronelektron tersebut dipercepat terhadap suatu target dengan memberikan
suatu voltase, dan menembak target dengan elektron. Ketika elektronelektron mempunyai energi yang cukup untuk mengeluarkan elektronelektron dalam target, karakteristik spektrum sinar-X dihasilkan. Alat
untuk menghasilkan sinar-X harus terdiri dari beberapa komponen utama,
yaitu :
a.
printer atau layar komputer. Sinar-sinar diubah menjadi hasil dalam bentuk
gelombang-gelombang. Intensitas sinar-X dari scan sampel diplotkan
dengan sudut 2. Tiap puncak yang muncul pada pola difraktogram
mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu
tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini
kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk semua jenis
material (Nelson, 2010). Contoh data yang dihasilkan oleh X-Ray
Diffractometer dapat dilihat pada Gambar 10.
16
dimana K=1.000, b adalah lebar peak yang telah dikoreksi oleh faktor
pelebaran alat instrumen, adalah panjang gelombang sinar-X yang
digunakan, Dv adalah ukuran kristal dan adalah sudut antara sinar datang
dengan bidang normal.
E. Kelebihan dan Kekurangan X-Ray Diffraction(XRD)
Kelebihan penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material adalah
kemampuan penetrasinya, sebab sinar-X memiliki energi sangat tinggi akibat
panjang gelombangnya yang pendek.
Sedangkan kekurangannya adalah untuk objek berupa kristal tunggal
sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya. Sedangkan untuk
objek berupa bubuk (powder) sulit untuk menentukan strukturnya.
17
BAB III
PENUTUP
A. KESIMPULAN
1. X-Ray Diffraction (XRD) merupakan teknik yang digunakan untuk
mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan
parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel.
2. X-Ray Diffractometer merupakan instrumen yang digunakan untuk
mengidentifikasi material kristalit maupun non-kristalit. X-Ray
Diffractometer terdiri dari tiga bagian utama, yaitu tabung sinar-X (sumber
monokromatis), tempat obyek yang diteliti (chamber), dan detektor sinarX.
3. Prinsip kerja X-Ray Diffractometer yaitu :
a. Sinar-X dihasilkan di suatu tabung sinar katode dengan pemanasan
kawat pijar untuk menghasilkan elektron-elektron.
b. Elektron-elektron tersebut dipercepat terhadap suatu target dengan
memberikan suatu voltase, dan menembak target dengan elektron.
c. Ketika elektron-elektron mempunyai energi yang cukup untuk
mengeluarkan elektron-elektron dalam target, karakteristik spektrum
sinar-X dihasilkan.
d. Panjang gelombang yang spesifik merupakan karakteristik dari bahan
target disaring oleh kertas perak atau kristal monochrometers, yang
akan menghasilkan sinar-X monokromatik yang diperlukan untuk
difraksi.
e. Sinar-X ini bersifat collimated dan mengarahkan ke sampel. Saat
sampel dan detektor diputar, intensitas Sinar-X pantul itu direkam.
f. Ketika geometri dari peristiwa sinar-X tersebut memenuhi persamaan
Bragg, interferensi konstruktif terjadi dan suatu puncak di dalam
intensitas terjadi.
g. Detektor akan merekam dan memproses isyarat penyinaran ini dan
mengkonversi isyarat itu menjadi suatu arus yang akan dikeluarkan
pada printer atau layar komputer.
4. Manfaat XRD :
18
a.
b.
c.
d.
19
DAFTAR PUSTAKA
Cullity. (2001). Elements Of X-Ray Diffraction. Canada: AddisonWesley Publishing Company Inc.
Edi Istiyono. (2000). Fisika Zat Padat 1. Yogyakarta: FMIPA Universitas Negeri
Yogyakarta.
http://rolanrusli.com/wp-content/uploads/2011/04/Difraksi-Sinar3.jpg
http://pubs.usgs.gov/of/2001/of01-041/htmldocs/images/XRDtube.jpg diakses 5
Mei 2015.
http://up.persian-expert.com/ diakses 30 April 2015.
Nelson, Stephen A. 2010. X-ray Crystallography. Tulane University.
Smallman,R.E, Bishop, R.J. 1999. Modern Physical Metallurgy and Materials
Engineering. London : Butterworth-Heinemann.
Smallman, R.E. 2000. Metalurgi Fisik Modern & Rekayasa Material. Jakarta:
Erlangga.
Vlack, Lawrence H. Van. 2004. Elemen-Elemen Ilmu dan Rekayasa Material.
Jakarta: Erlangga.
20