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FLORIANPOLIS
2004
Dissertao submetida
Universidade Federal de Santa Catarina
como parte dos requisitos para a
obteno do grau de Mestre em Engenharia Eltrica
Esta dissertao foi julgada adequada para obteno do Ttulo de Mestre em Engenharia
Eltrica, rea de Concentrao em Eletromagnetismo e Dispositivos Eletromagnticos, e
aprovada em sua forma final pelo Programa de Ps-Graduao em Engenharia Eltrica da
Universidade Federal de Santa Catarina.
Banca Examinadora:
ii
AGRADECIMENTOS
O fato de representar formalmente a autoria desta dissertao, no significa que ela
tenha resultado apenas do esforo individual. Ela contou com diversas co-autorias
presenciais ou no. Frutos de vnculos estabelecidos com colegas do GRUCAD (grupo de
concepo e anlise de dispositivos eletromagnticos), com colegas de diversos
laboratrios, com pessoas de reas distintas engenharia e de muitos outros vnculos, no
menos importantes, que deram sua importante contribuio na consolidao deste trabalho.
Assim, passo a destac-las sumariamente agradecendo as pessoas e os organismos que
contriburam para viabilizao desta pesquisa.
No Brasil agradeo:
-
minhas filhas Lesly e Ketty pela constante espera das horas de lazer em
minha companhia.
iv
vi
ABSTRACT: This work presents an analysis of the non oriented sheet steel silicon
magnetic losses measurements process. Comparisons between measurements procedures
of iron losses and permeability introduced by Brazilian standard NBR 5161, American
standard ASTM A343, Japanese standard JIS C2550 and by international electrotechnical
commission IEC 404-2 are performed. A strategy of iron loss separation are also
developped in this work. The iron loss are separated in three components: hysteresis loss;
eddy current loss and excess loss. In this strategy, called hysteresis loss elimination
strategy, no low frequencies measurements (where the dynamic losses are neglected) is
needed. Consequently only two measurements are needed: total loss with variation of the
induction keeping frequency fix and total loss with variation of the frequency keeping the
induction constant.
vii
SUMRIO
viii
ix
LISTA DE TABELAS
Tabela 1: Objetivo das normas tcnicas........................................................................................................ 8
Tabela 2: Procedimento para corte das lminas e isolao adicional entre as lminas. ................................... 9
Tabela 3: Procedimento de medida da espessura. ....................................................................................... 11
Tabela 4: Medida da densidade de massa. .................................................................................................. 12
Tabela 5: Condies necessrias para o ensaio. .......................................................................................... 14
Tabela 6: Modelo de separao da perda magntica.................................................................................... 17
Tabela 7: Instrumentos para obteno da perda magntica total. ................................................................. 17
Tabela 8: Instrumentos para obteno da permeabilidade magntica. .......................................................... 19
Tabela 9: Valor convencional do caminho magntico, massa magneticamente efetiva e seo transversal. .. 20
Tabela 10: Esquema de ligao para o ensaio da perda magntica............................................................... 22
Tabela 11: Esquema de ligao para o ensaio da permeabilidade magntica................................................ 23
Tabela 12: Compensao da queda de tenso devido ao fluxo disperso. ...................................................... 25
Tabela 13: Reduo da relutncia............................................................................................................... 28
Tabela 14: Procedimentos para o ensaio. .................................................................................................... 28
Tabela 15: Clculo da perda especfica total............................................................................................... 32
Tabela 16: Correo da perda magntica. ................................................................................................... 33
Tabela 17: Separao das Perdas................................................................................................................ 35
Tabela 18: Obteno da permeabilidade magntica. ................................................................................... 37
Tabela 19: Reprodutibilidade..................................................................................................................... 39
Tabela 20: Relatrio de teste...................................................................................................................... 40
Tabela 21: Dados do ensaio segundo a norma brasileira NBR5161 ............................................................. 52
Tabela 22: Dados do ensaio segundo as normas americana, japonesa e norma da comisso eletrotcnica
internacional. ..................................................................................................................................... 53
Tabela 23: Dados do ensaio utilizando-se o SDCMM................................................................................. 54
Tabela 24: Dados do ensaio segundo a norma NBR 5161. .......................................................................... 58
Tabela 25: Separao das perdas segundo a norma NBR5161..................................................................... 58
Tabela 26: Dados obtidos atravs da leitura do SDCMM............................................................................ 59
Tabela 27: Separao das perdas atravs da leitura do SDCMM. ................................................................ 60
Tabela 28: Correo das perdas segundo a norma brasileira NBR5161. ...................................................... 62
Tabela 29: Correo das perdas utilizando leituras do SDCMM.................................................................. 63
Tabela 30: Ensaio da permeabilidade magntica segundo as normas tcnicas.............................................. 64
Tabela 31: Ensaio da permeabilidade magntica atravs da leitura do SDCMM. ......................................... 65
Tabela 32: Dados do ensaio da perda por histerese, perda total 50 Hz e perda total 1T. .......................... 83
Tabela A2.1: leituras do voltmetro de valor mdio calibrado em valor eficaz. ............................................ 97
LISTA DE FIGURAS
Fig. 1: a) Quadro de Epstein; b) Disposio das lminas............................................................................... 5
Fig.2: Induo magntica........................................................................................................................... 53
Fig.3: Corrente primria e tenso secundria 50 Hz e 1,632 T. ................................................................. 55
Fig.4: Induo magntica........................................................................................................................... 55
Fig.5: Ensaio 50Hz. Perda total por unidade de massa em funo da amplitude da induo magntica. ..... 56
Fig.6: Ensaio 1 T. Perda total por ciclo em funo da freqncia.............................................................. 58
Fig.7: Ensaio 1 T. Separao das perdas. ................................................................................................. 59
Fig.8: Ensaio 1 T: a) Perda total; b) Perda total por ciclo em funo da freqncia. .................................. 60
Fig.9: Ensaio 1T, variando a freqncia................................................................................................... 61
Fig.10: Tenso secundria e corrente primria 1T e 150 Hz, e fator de forma de 1,1112. .......................... 61
Fig.11: Perda total 50 Hz. ....................................................................................................................... 63
Fig.12: Sinais de tenso e corrente 50 Hz, 1,614 T e F=1,13. ................................................................... 64
Fig.13: Curva B-H do material................................................................................................................... 66
Fig.14: Sinais de tenso e corrente 50 Hz e 0,295 T. ................................................................................ 66
Fig.15: Reta de solues. ........................................................................................................................... 73
Fig.16: Fluxograma da estratgia de generalizao. .................................................................................... 75
Fig.17: Diviso do segmento de reta. ......................................................................................................... 77
Fig.18: Fluxograma da estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese........................................ 80
Fig.19: Fluxograma geral da estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese. .............................. 82
Fig.20: Caracterizao 50Hz: a) Separao das perdas. b) Separao das perdas corrigida. ....................... 84
Fig.21: Perda Total em 1T em funo da freqncia. .................................................................................. 85
Fig.22: Separao das Perdas: a) Caracterizao 50 Hz; b) Perda total em 1T em funo da freqncia. ... 85
Fig.23: Separao das perdas: a) Caracterizao 50Hz; b) Perda total em 1T em funo da freqncia. .... 86
Fig.24: Separao das perdas: a) Caracterizao 50Hz; b) Perda total em 1T em funo da freqncia. .... 87
Fig.25: Separao das perdas: a) Caracterizao 50Hz; b) Perda total em 1T em funo da freqncia. .... 88
Fig.26: Separao das perdas: a) Caracterizao 50Hz; b) Perda total em 1T em funo da freqncia. .... 88
Fig.A1: Mtodo do Empuxo. ..................................................................................................................... 93
Fig. A2: Equipamentos convencionais e padronizados conforme a NBR5161, utilizados nos ensaios. ......... 97
xi
Acelerao.
Ap
Ah
Induo magntica.
[T]
Bm
[T]
Bm
[T]
Espessura da lmina.
[m]
Empuxo.
[N]
Efm
[V]
Freqncia.
[Hz]
Fi
Fora.
[N]
f0
[Hz]
Fp
Acelerao da gravidade.
[m/s2]
Hm
[A/m]
[A/m]
He
[A/m]
Im
[A]
I1
[A]
xii
kh
kp
Indutncia mtua.
[H]
Lm
[H]
Comprimento da amostra.
[m]
le
[m]
lm
[m]
[kg]
ma
[kg]
me
[kg]
mi
[kg]
n om
NI
Norma infinito.
N1
N2
Potncia dissipada.
[W]
Peso do material.
[N]
Pc
[W]
Ptot
Perda total.
[W]
Ph
[W]
Pd
Perda dinmica.
[W]
Pclas
[W]
Pe
Perda excedente.
[W]
Pm
[W]
Ps
[W/kg]
Pt
P 'm
[W]
xiii
[W]
Pp
[W]
Resistncia da amostra.
[]
Ri
Rt
[]
[]
Rv
[ ]
R2
[ ]
Rn
[ ]
Rm
[ ]
Coeficiente de determinao.
St
[m2]
[m2]
do quadro de Epstein.
SI
Sistema Internacional.
SDCMM
U2
U2m
[V]
[V]
U2
[V]
Um
[V]
Um
[V]
vd
Volume deslocado.
[m3]
V0
Wh
[J/kg]
Wf
[J/kg]
xiv
We
Perda excedente.
[J/kg]
Wsh
[J/kg]
Wtot
Perda total.
[J/kg]
Valor mdio de x.
Valor mdio de y.
[kg/m3]
[kg/m3]
[.m]
%Si
%Al
xv
[H/m]
[m]-1
INTRODUO
Considerando a abordagem eletromagntica, para caracterizar um material
necessrio determinar os parmetros que descrevem o meio e a perda magntica que nele
ocorre. Para descrever o meio necessrio obter seu valor de permeabilidade magntica e
seu valor de condutividade eltrica. Para caracterizar o material, tendo em vista a perda
magntica, seleciona-se um modelo de perda magntica e determinam-se seus parmetros.
A caracterizao do material do ponto de vista eletromagntico constitui um tema
bastante amplo, logo, necessrio destacar os critrios que nortearam as prioridades desta
pesquisa. Neste trabalho, analisam-se os procedimentos de medio da perda magntica e
da permeabilidade magntica em lminas de ao ao silcio, em operao com freqncias
menores que 300 Hz. Supe-se que o campo magntico e a induo magntica variam em
apenas uma direo. Considera-se apenas a categoria de aos de gro no orientado. Este
estudo no contempla o efeito da temperatura, do envelhecimento, da isolao entre
lminas, o efeito de proximidade de corrente nos enrolamentos, das capacitncias parasitas
e o efeito pelicular. Alguns destes efeitos podem ser desprezados com segurana, pois
trabalha-se em freqncias relativamente baixas.
Para determinar o campo magntico utiliza-se a lei de Ampre. Ressaltam-se as
seguintes consideraes [1]: como no existe acesso ao campo magntico vetorial, toma-se
o vetor diferencial do caminho amperiano colinear ao campo magntico. Desta forma
possvel resolver a integral da equao utilizando-se o mdulo do vetor campo magntico.
O campo magntico ser considerado constante em todos os pontos do caminho
amperiano. Assim, mede-se este campo de forma indireta atravs da corrente primria,
apesar da dificuldade existente na determinao do comprimento do caminho magntico
efetivo.
A induo magntica obtida atravs da lei de Faraday. Segundo esta lei um fluxo
magntico variando no tempo produz uma tenso induzida num circuito fechado,
originando uma corrente eltrica. Esta lei utilizada simultaneamente com a lei de Lenz
que expressa a oposio da tenso induzida em relao ao fluxo que a produziu. A corrente
no circuito fechado produz uma induo magntica oposta induo magntica original
[1]. Da mesma forma que para o campo magntico, no existe acesso induo magntica
vetorial ou a sua efetiva distribuio em uma seo transversal. Logo, utiliza-se o mdulo
da induo magntica e o mdulo do vetor diferencial de rea para resolver a equao da
lei de Faraday. A induo magntica suposta constante na seo transversal do circuito.
Perante o exposto, mede-se a induo magntica de forma indireta atravs da tenso
secundria induzida.
As consideraes acima apresentadas resultam em valores aproximados no
processo de medio da perda magntica e, principalmente, da permeabilidade do material.
As propriedades magnticas, obtidas desta forma, possuem influncia econmica por
determinarem a eficincia de dispositivos eletromagnticos. Estes dados fornecem
requisitos para negociao, levantamento do projeto e controle da qualidade do material.
Assim, incentivam-se pesquisas na melhoria das propriedades dos materiais, na
modelagem do comportamento do material sob diferentes condies de magnetizao, na
caracterizao do material atravs de medidas da perda magntica e da permeabilidade
magntica (curva B-H).
Dado um transformador sem carga e magnetizado, a energia consumida pelo seu
ncleo corresponde principalmente perda magntica. Esta perda define a qualidade do
material do ncleo. A perda magntica total quando determinada define a qualidade do
material, mesmo sendo um valor obtido em condies especficas (formato da amostra,
tenses no material, instrumento de teste e processo de magnetizao) que podem no
corresponder s condies reais que o produto final estar submetido [2].
A perda magntica medida mantendo-se a induo magntica na forma de onda
senoidal (para efeitos de comparao de resultados) e o campo magntico variando
livremente. Tambm os modelos de previso da perda magntica que sero utilizados
mostram que a variao temporal da induo magntica provoca perda magntica,
tornando-se necessrio controlar as distores na forma do fluxo magntico. No quadro de
Epstein, devido no linearidade do material (visvel na curva B-H) e a resistncia
primria, a tenso primria no senoidal quando se mantm a tenso secundria senoidal.
Conseqentemente, para fluxo senoidal a corrente de excitao no senoidal. A corrente
de excitao deve evoluir livremente no tempo, enquanto que a induo magntica deve ser
mantida senoidal. O valor da perda magntica obtido atravs da corrente primria e da
tenso secundria (para no incluir a parcela da perda no cobre do enrolamento primrio
[4]).
A perda magntica depende de diversos fatores, entre eles, das condies de ensaio
(especificamente amplitude da induo magntica e freqncia) e da amostra (sua direo
de estampagem em relao ao sentido de laminao, espessura, resistividade eltrica e
densidade). Quanto direo da amostra, a perda magntica influenciada pela anisotropia
das propriedades magnticas. As propriedades magnticas variam com a direo da
induo magntica e do campo magntico devido existncia da textura do material. A
textura do material est relacionada com a distribuio no aleatria dos gros [2].
Em nvel micro estrutural, a perda magntica depende das discordncias e do
tamanho do gro. Gros so cristais que constituem o material [2].
Os circuitos magnticos, que utilizam aos em suas partes constituintes, possuem
variadas formas. Para caracterizar o material magntico utilizam-se equipamentos de teste
os quais exigem formatos especiais [2]. A amostra toroidal apresenta a vantagem de formar
um circuito magntico fechado, com o fluxo magntico completamente localizado no
interior dos enrolamentos. Amostra neste formato seria ideal para caracterizao do
material, se no fosse a dificuldade na determinao do comprimento do caminho
magntico mdio. Amostras neste formato apresentam ainda as seguintes desvantagens:
necessidade de confeccionamento de enrolamentos para cada amostra de teste, e dispor os
enrolamentos no formato da amostra difcil.
A amostra constituda por lminas utilizada em equipamentos com circuito de
fechamento (yoke[27]). O circuito de fechamento construdo por um material distinto
da amostra, tendo elevada permeabilidade e baixa perda magntica. Este processo
encontrado no teste de chapa nica. Este tipo de amostra tambm utilizado no teste de
Epstein, sendo este ltimo o ensaio de medio da perda magntica mais utilizado no
Brasil [3].
O teste de chapa nica apresenta as seguintes vantagens: facilitar a preparao da
amostra (amostra maior que 100mm no necessita recozimento para alvio de tenses);
utilizar menor quantidade de material (chapa nica) e possibilitar ensaio na direo
transversal e longitudinal (para circuitos de fechamento quadrados). Entretanto, necessita
ajustes pelo teste de Epstein e no apresenta boa reprodutibilidade como este ltimo. No
teste de chapa nica as medidas da perda magntica podem ser influenciadas pela presso
que o circuito de fechamento superior exerce na amostra, pelo alinhamento da amostra no
280mm
220mm
lm
190mm
a)
b)
Para atender os objetivos foi realizada uma sinopse comparativa entre as normas
NBR 5161, ASTM A 343, JIS C 2550 e IEC 404-2. O cerne do trabalho a sinopse
comparativa entre as normas tcnicas. Como resultado deste estudo elaborou-se um roteiro
como sugesto de procedimento para a caracterizao de materiais magnticos utilizando o
quadro de Epstein padro. A fim de ilustrar o estudo das normas, foram realizados ensaios
com caracterizao de um material respectivamente a cada norma.
Desenvolveu-se tambm programas numricos de obteno dos parmetros de um
modelo para as perdas magnticas. Estas so ferramentas de interesse acadmico e
industrial, pois existe uma dificuldade experimental e analtica para a determinao dos
parmetros que caracterizam o material sob o ponto de vista das perdas magnticas.
ASTM A 343
JIS C 2550
IEC 404-2
Definir procedimentos para obteno das Apresentar um mtodo de teste (para Apresentar mtodos de teste para chapas Apresentar mtodos de medio de
propriedades de lminas planas de ao corrente alternada)
para fins eltricos.
para avaliar
as e lminas de ao magntico.
quadro de Epstein.
A norma japonesa apresenta objetivo mais genrico que as demais normas. No esclarece no objetivo o tipo de teste e o equipamento a
ser utilizado. A norma brasileira mais especfica definindo o tipo de teste. Mas a norma americana e a norma da comisso eletrotcnica
internacional, alm de esclarecerem o tipo de teste, definem o equipamento de teste a ser utilizado.
1.1.2 Procedimento para Corte das Lminas e Isolao Adicional entre as Lminas
Tabela 2: Procedimento para corte das lminas e isolao adicional entre as lminas.
NBR 5161
ASTM A 343
JISC 2550
IEC 404-2
- So utilizadas lminas sem - So utilizadas lminas de seo transversal uniforme - Inserir isolao entre as camadas das - As medidas devem ser realizadas
isolao adicional.
em
lminas
sem
isolao
- So utilizadas lminas de - As lminas devem possuir 30 mm de largura e um - A mquina de corte no deve produzir adicional.
superfcie plana e espessura comprimento no inferior a 280 mm, com tolerncia rebarbas.
de 0,8mm. Para facilitar a montagem e desmontagem - As peas de teste devem ser de forma ser utilizadas.
Cortam-se
rebarbas,
lminas
de
b=30mm0,2mm
sem do quadro recomendado um comprimento de 305 retangular, com largura de 30mm e - As lminas devem ser cortadas
comprimento de 280mm a 320mm. A por um mtodo que no produza
largura mm.
e - Em nenhum caso, a amostra deve consistir de um tolerncia na largura deve ser 0,2mm e no rebarbas.
comprimento 280 l < 308 nmero inferior a 12 lminas. Amostras que pesam comprimento 0,5mm.
mm, com exatido de 0,5 menos que 15g por 1cm de comprimento devem - O nmero total de peas de teste deve ser seguintes dimenses:
selecionado de acordo com a mxima massa Largura: b = 30mm 0,2mm.
mm. Para facilitar a montagem consistir de pelo menos 20 lminas.
e desmontagem do quadro, - O nmero total de lminas deve ser mltiplo de admissvel pelo modelo do quadro. A Comprimento: 280mm l
320mm. So utilizadas lminas de
quantidade mnima de peas 12.
utilizam-se lminas de 305 quatro.
mm de comprimento.
iguais,
com
tolerncia de 0,5mm.
10
No que se refere largura e ao comprimento da amostra, as normas brasileira, japonesa e da comisso eletrotcnica internacional,
estabelecem uma largura e um comprimento mnimo e mximo da amostra com respectivas tolerncias. A norma brasileira estabelece o
comprimento mximo num valor inferior a 308 mm (prximo do comprimento timo de montagem e desmontagem do quadro). A norma
japonesa e a norma da comisso eletrotcnica internacional estabelecem comprimento mximo de 320mm (distante do comprimento timo). A
norma americana deixa lacunas, no apresentando a tolerncia para a medida da largura da amostra (30mm de largura) nem o limite mximo
para seu comprimento (comprimento superior ou igual 280mm 0,8mm).
O comprimento timo da amostra (305mm) apenas tratado nas normas brasileira e americana, estabelecendo um comprimento para
facilitar a montagem e desmontagem do quadro.
Sobre a isolao adicional entre lminas, somente as normas brasileira, japonesa e norma da comisso eletrotcnica internacional
informam que no permissvel sua insero na amostra. Isolao adicional aquela que no a natural lmina.
Quanto superfcie da amostra, com exceo das normas americana e japonesa, as demais normas esclarecem que as lminas devem
possuir superfcie plana. Lminas com curvatura podem exigir esforo ao serem inseridas no quadro, provocando tenses no material. Estas
tenses aumentam o valor da perda magntica [2]. A referncia [2] diz ainda que a curva de histerese do material pode apresentar reentrncias
devido variao do acoplamento das lminas nos cantos e vibrao das mesmas durante o ensaio.
Quanto a rebarbas, com exceo da norma americana, as demais normas recomendam utilizar amostras sem rebarba excessiva. A altura
da rebarba pode interferir no acoplamento das lminas [2].
No que se refere quantidade de lminas, com exceo da norma japonesa, as demais normas esclarecem que o nmero total de
lminas seja mltiplo de quatro. Com exceo da norma da comisso eletrotcnica internacional, as demais normas estabelecem a quantidade
mnima de 12 lminas. Entretanto, a norma americana restringe ainda o nmero de lminas em funo do peso da amostra por unidade de
11
comprimento (20 lminas no mnimo, para amostra pesando menos que 15g/cm). J a norma japonesa apenas restringe o nmero mximo de
lminas de acordo com a mxima massa admissvel pelo modelo do quadro utilizado.
Quanto seo e propriedades da amostra, somente a norma americana esclarece que a amostra deve apresentar seo transversal
uniforme e propriedades uniformes em uma dada direo. Nestas condies, o processo de magnetizao do material tende a ser homogneo.
Sobre a distribuio de lminas para corte, somente as normas americana e japonesa apresentam sugestes de reas para corte da
amostra, de forma a que esta seja mais representativa. Pelo processo de laminao, as regies centrais da tira da bobina tende a ser mais
espessa que as regies laterais.
Quanto espessura da lmina, somente a norma brasileira limita seu valor, sendo no mximo 1mm.
IEC 404-2
JISC 2550
----------
medidas feitas.
15mm
15mm
15mm
----------
12
Apenas as normas brasileira e japonesa apresentam o procedimento de medida da espessura da lmina. A norma brasileira sugere uma
distncia maior das extremidades da lmina (40 mm), para evitar os efeitos de borda. A espessura dada, assim, pela mdia aritmtica das
medidas em quatro pontos diferentes da lmina. Por sua vez, a norma japonesa sugere oito pontos de medio da espessura (15mm distantes
da extremidade), para cada lmina, com localizao ilustrada pela Fig. JIS 2. Esta norma especifica ainda o instrumento a ser utilizado
(micrometro externo), mas no fornece a tolerncia da medida como o faz a norma brasileira (0,01mm de exatido).
NBR 5161
Esta norma apresenta trs mtodos de obteno da densidade do material: mtodo do empuxo; da resistividade e
----------
m. w
m mi
NBR (1.1)
O mtodo da resistividade empregado em amostras siliciosas para fins eltricos cuja composio qumica satisfaa os
seguintes requisitos: teor total de silcio e alumnio entre 1% e 5%; teor de alumnio no superior a 0,4% e teor dos
demais componentes de liga no superior a 0,4%. Para este mtodo necessrio um instrumento para medio da
resistncia. A densidade de massa do material calculada atravs do resultado do produto dado por:
----------
----------
13
. =
m.R
l.le
NBR (1.2)
Neste ensaio a massa da amostra deve ser medida com preciso de 0,25%; a resistncia da amostra deve ser medida
com preciso de 0,5%; o comprimento total da amostra deve ser medido com preciso de 0,25% e a distncia entre os
eletrodos de potencial deve ser medida com preciso de 0,25%.
O produto obtido inserido no grfico x , fornecido pela norma, para determinar o correspondente valor da
densidade do material. O valor desta ltima grandeza dado pela mdia aritmtica de valores de cinco amostras.
Para o mtodo que considera as percentagens de Al e Si presentes no material, tem-se que:
NBR (1.3)
Somente a norma brasileira apresenta mtodos para obteno da densidade de massa do material. Este valor afeta a rea da amostra
utilizada para obteno da amplitude da induo magntica. O mtodo que considera as percentagens de silcio e alumnio utiliza valores das
percentagens de alumnio e silcio presentes no material. Estes dados so fornecidos pelo fabricante. Entretanto, estas caractersticas no so
uniformes na extenso do material. O mtodo da resistividade requer medio da resistncia. Esta medida pode ser influenciada pelo contacto
entre os eletrodos e a amostra. O mtodo do empuxo torna-se mais adequado para medio da densidade do material. Como o valor obtido
pode ser influenciado pela temperatura necessrio medir a densidade do lquido no momento do ensaio (vide apndice 1).
14
NBR 5161
ASTM A 343
JISC 2550
IEC 404-2
- As lminas devem ser inicialmente - Antes da medio desmagnetiza-se a - A amostra deve ser inicialmente - As
realizadas
em
- A fonte deve incluir circuito que temperatura ambiente deve ser de 18 a amostra
temperatura de 18 a 28 C.
so
medidas
de
teste
deve
ser
desmagnetizada.
forma de onda da induo magntica magntico senoidal. O fator de forma - A perda magntica obtida em amostra - As caractersticas magnticas so
senoidal. Esta condio satisfeita
quando a tenso secundria induzida for deve ser inferior a 1% de
senoidal. Assim, o fator de forma da
na faixa 1,111%. Este limite pode ser obtidos para valores especficos de
ser
transposto
no
ensaio
da
durante o teste devem ser estveis com magntica total, o fator de forma da
realimentao. Caso no seja possvel, circuito necessrio para manter a forma tenso secundria na faixa de 1,111%.
corrige-se a perda magntica para de onda do fluxo senoidal (utilizando Esta fonte deve possuir realimentao
desvios do fator de forma entre 1 e 10%. realimentao negativa da tenso
negativa da forma de onda da tenso
- A freqncia deve ser constante com secundria induzida).
induzida.
tolerncia de 0,2%.
15
ensaio realizado para amplitude de - Para testes da perda magntica em 50 - Para materiais de gro no orientado, tenso secundria no limite estabelecido.
induo
magntica
at
1,5T
uma
faixa
de
preferivelmente para freqncia entre pontos de induo magntica: 1; 1,5 ou magntica at 1,5 T.
400 Hz.
pode
utiliza-se
ser
alcanada
com
uma
instrumentao adequada.
uma
faixa
de
induo
magntica at 1,5T.
Quanto desmagnetizao da amostra, todas as normas estabelecem que a amostra deve ser inicialmente desmagnetizada. Em alguns
casos, no final do processo de produo do material, este apresenta magnetismo residual mesmo sem que houvesse aplicao de um campo
magntico externo [2]. O magnetismo residual ocorre quando existem condies para magnetizar o material e caractersticas da microestrutura
que aumentam o campo coercitivo. Este ltimo uma resistncia do material desmagnetizao.
Sobre a temperatura ambiente durante o ensaio (18 a 28C), somente a norma americana no estabelece uma temperatura. Elevando-se
a temperatura eleva-se a resistividade do material, diminuindo-se a perda por correntes de Foucault [2]. Geralmente as mquinas eltricas
operam com os ncleos magnticos sob temperatura superior a 40C.
No que se refere ao regime de induo magntica, todas as normas citam que o ensaio da perda total vlido mantendo-se a forma de
onda da induo magntica na forma senoidal. Esta condio satisfeita quando a tenso induzida no enrolamento secundrio for senoidal. As
normas fornecem ainda o limite do deslocamento do fator de forma da tenso secundria (1,11 1%). O fator de forma dado pela razo entre
o valor eficaz da tenso secundria e seu valor mdio retificado (o termo valor mdio utilizado nas normas, e que ser doravante adotado
neste trabalho, se refere ao valor mdio retificado. Vide apndice 2). O fator de forma uma relao adequada para averiguar a distoro de
uma forma de onda senoidal. Como as perdas dependem da amplitude da induo magntica esta deve ser determinada com preciso.
16
Observando-se o comportamento da perda por unidade de massa em funo da amplitude da induo magntica, verifica-se que a perda
magntica aumenta com o aumento da amplitude da induo magntica.
As normas brasileira, americana e japonesa estabelecem que a faixa de variao do fator de forma (1,11 1%) pode ser transposta no
ensaio da permeabilidade magntica. Sugere-se que este ensaio seja realizado em regime de fluxo senoidal porque as relaes utilizadas para
obteno da amplitude do campo magntico (no mtodo do indutor mtuo) e amplitude de induo magntica so vlidas somente para regime
senoidal (item 1.1.16).
A faixa da amplitude da induo magntica apresentada por todas as normas. Para materiais de gro no orientado, a amplitude de
induo magntica mxima de 1,5T. A norma americana cita ainda os valores 1T e 1,7T.
Todas as normas estabelecem uma faixa de freqncia de teste. A norma brasileira recomenda uma faixa de 15 a 100 Hz, ou at 400
Hz com instrumentao adequada. A norma americana recomenda uma faixa de 25 a 400 Hz. A norma japonesa e a norma da comisso
eletrotcnica internacional, recomendam uma faixa de freqncia at 400 Hz.
Quanto fonte de alimentao, todas as normas citam que esta pode incluir circuito que mantenha a forma de onda do fluxo senoidal.
A norma brasileira no estabelece a tolerncia na variao da tenso e da freqncia. As demais normas indicam as caractersticas da fonte
quanto estabilidade da tenso e a exatido da freqncia. A norma japonesa e a norma da comisso eletrotcnica internacional, recomendam
que a estabilidade da tenso e da freqncia no deve exceder 0,2% dos valores desejados. J a norma americana estabelece uma tolerncia
de 0,1%. Sobre o limite de variao da freqncia, somente a norma brasileira apresenta a tolerncia para sua variao (0,2%). Observando o
comportamento da perda magntica por unidade de massa em funo da freqncia, verifica-se que a perda magntica aumenta com o
aumento da freqncia.
17
NBR 5161
A
perda
magntica,
ASTM A 343
em
JISC 2550
IEC 404-2
----------
----------
amostra Separa-se a perda magntica em duas componentes: uma varivel com a segunda potncia
submetida a um campo alternado, dada do fator de forma e outra no afetada pela variao do fator de forma.
por:
Ptot = Ph +Pclass
Somente as normas brasileira e americana indicam um modelo da perda magntica. Perda por histerese e perda por correntes de
Foucault constituem a perda magntica total. Estas normas no consideram a existncia da perda dita anmala (excedente) [15 ].
JISC 2550
- Valor mdio da tenso secundria: deve ser - Valor mdio da tenso secundria: deve ser -
Valor
medido utilizando-se um voltmetro, de bobina medido atravs de um voltmetro de valor mdio secundria:
mvel
com retificador,
de classe 0,5.
IEC 404-2
mdio
da
deve
ser
exceder
0,25%.
Instrumentos
(superior ou igual 1000/V). O instrumento exatido de 0,5% podem ser utilizados em casos resistncia interna no deve ser com exatido de 0,2% ou
geralmente calibrado em valor eficaz.
18
relao:
valoreficaz = 1,11valormdio NBR (1.5) - Valor eficaz da tenso secundria: para - Valor eficaz da tenso secundria: deve ser
medido utilizando-se um voltmetro de valor
eficaz verdadeiro com resistncia interna superior
ou igual 500/V e de classe 0,5.
- Corrente primria: deve ser medida utilizando-se
um ampermetro de valor eficaz de classe 1 ou
melhor, cuja resistncia interna seja baixa.
- Freqncia: para a medida permissvel utilizar
um frequencmetro de classe 0,5, ou de classe 0,2
se for necessrio maior exatido.
- Potncia: medida utilizando-se um wattmetro
de classe 0,5 prprio para sistemas de fator de
potncia baixo (0,1 ou 0,2). A resistncia do
circuito de tenso deve ser inferior ou igual
100/V.
- Monitoramento da imagem da tenso medida:
utilizar osciloscpio.
Valor
eficaz
da
deve
ser
verdadeiro. A exatido do voltmetro eficaz deve utilizando-se voltmetro de valor 0,2% ou melhor.
ser a mesma que a especificada para o voltmetro eficaz com exatido de 0,5%.
Freqncia:
medida
utilizando-se
deve
ser
utilizando-se
um
inferior 5000 /V da indicao de fundo de ampermetro de valor eficaz com de 0,1% ou melhor.
impedncia interna baixa e com - Potncia: deve ser medida
escala.
por
um wattmetro
de
0,5%
com
ou
impedncia
interna
para
evitar -
Potncia:
deve
baixo fator
com
um
A preciso da medida depende da classe de exatido do instrumento. Com maior incidncia, a comisso eletrotcnica internacional
exige instrumentos com menor classe de exatido (0,1%, 0,2%) em relao aos instrumentos exigidos pelas demais normas (0,5%). Assim, os
custos de aquisio de instrumentao segundo a comisso eletrotcnica internacional so mais elevados que para as demais normas.
19
interessante observar que as normas NBR 5161 e IEC 404-2 sugerem a utilizao de um osciloscpio para checar a forma de onda da tenso
induzida, sem exigir que seja realizada uma anlise harmnica do sinal. Entretanto, o fator de forma pode ser um indicador da distoro, desde
que os instrumentos utilizados estejam adequados tambm aos valores a serem medidos.
JISC 2550
IEC 404-2
necessrio um ampermetro de valor - Mtodo do voltmetro de valor de pico e - Mtodo do voltmetro de pico: o - Mtodo do voltmetro de pico: o
eficaz de baixa impedncia e de classe resistor padro: a medio da amplitude da voltmetro de pico deve apresentar voltmetro de pico deve apresentar
0,5 ou melhor.
corrente de excitao pode ser feita com um exatido de 2,5%. A resistncia do exatido de 0,5% ou melhor. Resistor
- Quando o mtodo do resistor calibrado voltmetro de pico. Este voltmetro mede a resistor no deve ser superior a 1 e com exatido de 0,1% deve ser utilizado.
for utilizado para medio do campo tenso do resistor padro conectado em sua tolerncia deve ser de 0,1%.
- Mtodo do indutor mtuo: o indutor
magntico necessrio um osciloscpio srie com o enrolamento primrio do quadro - Mtodo do indutor mtuo: o mtuo deve apresentar exatido de 0,5%.
ou um voltmetro eletrnico de valor de de Epstein. O voltmetro deve apresentar indutor mtuo deve apresentar O enrolamento primrio do indutor
pico. A exatido da medida deve ser exatido de 1% ou melhor. O resistor deve exatido de 0,5%. Um indutor mtuo mtuo conectado em srie com o
3% ou melhor. A exatido do resistor apresentar exatido de 0,1% ou melhor. de 1 A ou 10 A deve ser utilizado de enrolamento primrio do quadro de
calibrado deve ser 0,5% ou melhor. A Para evitar nveis de distores intolerveis, acordo com o campo magntico a ser Epstein. O voltmetro de valor mdio
resistncia do resistor calibrado no deve um resistor fixo entre 0,1 e 1 medido. utilizado tambm um pode ser o mesmo utilizado para medir a
ser superior 1 para minimizar a geralmente apropriado.
distoro da forma de onda do fluxo.
20
mnima.
do
circuito
primrio.
secundria do indutor deve ser baixa deve ser baixa. A adio do voltmetro no
comparando-se com o instrumento de deve alterar a tenso secundria do indutor
medida
ele
conectado
minimizao do erro).
O termo indutor mtuo utilizado para denominar o dispositivo utilizado para obter a amplitude do campo magntico.
Para obteno da permeabilidade magntica as normas apresentam dois mtodos para medir a corrente: do resistor calibrado e do
indutor mtuo. Quanto ao mtodo do resistor calibrado, a norma americana a nica que especifica a resistncia mnima permissvel do
resistor (0,1). As normas NBR 5161, ASTM A 343 e JISC 2550 especificam que o resistor no deve ter o valor superior a 1. A norma da
comisso eletrotcnica internacional no especifica o valor da resistncia. Sobre o mtodo do indutor mtuo, a norma americana no
especifica a exatido do indutor mtuo.
1.1.8 Valor Convencional do Caminho Magntico, Massa Magneticamente Efetiva e Seo Transversal
Tabela 9: Valor convencional do caminho magntico, massa magneticamente efetiva e seo transversal.
NBR 5161
ASTM A 343
JISC 2550
0,94m.
IEC 404-2
- Para clculo da perda magntica, a - A massa efetiva da amostra dada por: - A massa ativa dada por:
massa ativa da amostra (menor que a
21
ma =
ma =
lm .m
4l
NBR (1.6) ma =
lm m
m
= 0,235
4l
l
ASTM (1.1)
m
4l
S=
NBR (1.7)
m
4l
m
S=
4l
lm .m
4l
IEC (1.1)
por:
S=
ma =
JIS (1.1)
lm .m
4l
S=
JIS (1.2)
m
4l
IEC (1.2)
ASTM (1.2)
Todas as normas adotam o valor 0,94m, para representar o comprimento efetivo do caminho magntico do fluxo. Assim, a massa ativa
da amostra menor que a massa total. O comprimento efetivo do caminho magntico do fluxo depende do tipo de material, da induo
magntica e afetado pela sobreposio das lminas nos cantos do quadro [3].
Na equao ma =
m 4.l
ma lm
lm .m
verifica-se que a massa total m corrigida pelo fator lm/4l. Esta relao obtida por proporcionalidade:
4l
assim, ma =
lm .m
4l
A seo transversal obtida atravs da densidade de massa do material porque a espessura da lmina apresenta variao tpica de at
8%, dificultando a medio da seo geometricamente. Para deduzir a equao S =
m
m
=
volume S .l
m
4.l.S
assim, S =
m
tem-se que:
4l
como no quadro de Epstein a massa m est distribuda ao longo dos quatro braos tem-se:
m
4.l.
22
A equao da massa ativa e a equao da seo transversal, acima deduzidas, consideram que os braos do quadro de Epstein tenham a
mesma massa e o mesmo comprimento. Logo, estas condies devem ser verificadas.
NBR 5161
ASTM A 343
P
A
G
Hz
U1
U2
V1
V2
Mc
W
S
Mc
S
V1
IEC 404-2
S1
Rn
JISC 2550
A
Mc
G
S3
V2
Hz
Primrio
V1
Secundrio
S2
W
Hz
V2
V1
Mc
W
V3
Hz: frequencmetro.
Hz: frequencmetro.
Hz: frequencmetro.
W: wattmetro.
W: wattmetro.
W: wattmetro.
W: wattmetro.
do fluxo disperso.
do fluxo disperso.
do fluxo disperso.
do fluxo disperso.
23
Todas as normas apresentam basicamente o mesmo circuito para medio da perda magntica. Apenas a norma americana apresenta
um circuito sem o ampermetro de controle da bobina de corrente do wattmetro. A potncia obtida pelas leituras da corrente primria e
tenso secundria para no incluir a perda no cobre.
NBR 5161
ASTM A 343
JISC 2550
IEC 404-2
tenso
do
resistor
Bobina de compensao
V2
Hz
Primrio
Secundrio
Hz: frequencmetro.
24
mtodos de medio:
o seguinte circuito:
Hz
Primrio
Mc
Secundrio
25
A permeabilidade magntica pode ser obtida pelo mtodo do resistor calibrado ou pelo mtodo do indutor mtuo. Quanto ao mtodo
do indutor mtuo, os valores das indutncias e resistncias podem ser afetadas pela freqncia. Assim, estas grandezas devem ser medidas
antes do ensaio.
NBR 5161
ASTM A 343
ajuste
do
indutor
JISC 2550
IEC 404-2
permeabilidade,
indutncia mtua do
26
deve ser checado. Passa-se uma polarizao magntica e compensador deve ser tal
B ' m = Bm + 0 H m
St S
S
NBR (1.8)
ao
passar
corrente
A induo magntica obtida a partir da tenso secundria diferente da do quadro sem amostras, mas Ajusta-se
induo magntica na amostra devido ao segundo termo de NBR(1.8). Para com o compensador de fluxo mtua
da
alternada
indutncia enrolamento
bobina
de sem
Observa-se
tenso que
indicao
Bm =
2mV,
U2
4 fN 2 S
NBR (1.9)
significa
que
o compensador)
fluxo
disperso,
induo Epstein.
sem amostra no quadro de Epstein, a tenso nos enrolamentos secundrios no indicada pelo voltmetro de valor
deve ser superior a 0,1% da tenso deste enrolamento sem o indutor de mdio a induo intrnseca. Em
compensao. Neste caso a induo magntica calculada em NBR(1.9) a muitos casos os valores da
induo intrnseca so iguais aos
valores da induo normal.
comuns
no
dos
do
apenas
ajuste tal que ao excitar o enrolamento primrio com uma corrente alternada magntica calculada pela tenso
Epstein
tenso
no enrolamentos
variao do fluxo disperso. Desta forma o segundo termo de NBR(1.8) voltmetro. Quando esta tenso enrolamento
desaparecer. A induo magntica da amostra torna-se igual induo for inferior ou igual 1mV ou de
no
acoplado para compensar o fluxo disperso. A tenso secundria do indutor alternada de circuito aberto nos voltmetro de valor mdio no
acoplado compensa a tenso secundria do quadro de Epstein causada pela terminais secundrios com um (conectado
no
primrio,
amostra
minimizar este erro necessrio preencher os braos do quadro com o maior disperso conectado na polaridade compensao de forma dispositivo,
nmero possvel de amostras. Alternativamente, pode ser utilizado um indutor certa.
uma
do
27
Como o fluxo disperso na seo transversal do quadro aumenta a tenso induzida, necessrio compens-lo. Para compensar a tenso
devido ao fluxo disperso, utiliza-se um indutor de compensao de fluxo disperso. Assim, a induo magntica da amostra igual induo
magntica obtida pela tenso secundria.
A equao NBR(1.9) deduzida da seguinte forma:
U2 = N2
m = Bm S
Como U pico =
U2 =
Assim, Bm =
2U 2
2
U2
4
U 2 = N 2m w cos( wt )
tem-se: U pico = N 2 Bm Sw
e
w = 2f,
tem-se:
2
U 2 = N 2 Bm S 2f
4
U2
4 fN 2 S
Sempre que se utilizar um compensador de fluxo disperso a medida da polarizao magntica considerada como o valor da induo
magntica [3].
28
NBR 5161
A
fora
ASTM A 343
JISC 2550
IEC 404-2
permitida, Se a lmina for razoavelmente plana e se existir rea de contacto nos cantos, uma Uma fora de 1N deve ser Para
aplicada nos cantos do relutncia suficientemente pequena obtida sem recorrer presso nas juntas. Caso aplicada
nas
minimizar
juntas entreferro
permitido
quadro de Epstein, de contrrio, pressiona-se as juntas utilizando-se pesos no magnticos de 200 g. sobrepostas, para minimizar aplicar uma fora de 1N
1N.
a relutncia magntica.
Com exceo da norma americana, as demais normas recomendam aplicar uma fora de 1N nos cantos do quadro de Epstein. Neste
caso, seria necessrio instrumentao adequada para controlar esta fora. A norma americana elimina este problema, estabelecendo a massa
(200g) dos pesos de material no magntico aplicados nos cantos do quadro.
NBR 5161
ASTM A 343
JISC 2550
IEC 404-2
- Mede-se a massa da amostra - Checam-se os comprimentos das lminas verificando - Controla-se o manuseio da - A amostra de teste deve ser
com exatido de 0,1% .
conformidade
com 0,8mm de tolerncia. Checam-se as amostra para evitar tenses no pesada e sua massa determinada
comprimento.
29
lminas
forem
cortadas
na - Pesa-se a amostra numa balana capaz de determinar a massa cortadas na mesma direo em -
As
lminas
devem
ser
direo da laminao e as com 0,1% de exatido. A massa nominal da amostra deve ser dois grupos (quatro grupos no empilhadas nas bobinas do quadro
restantes perpendiculares esta aproximadamente 2 kg, 1 kg ou 0,5 kg para lminas de 28 cm total).
com
juntas
duplamente
direo, inserem-se as primeiras conforme o quadro de teste. Imprecises na pesagem e na - Inserem-se as lminas no sobrepostas nos cantos. Os braos
em dois braos paralelos do medida do comprimento da amostra causam erros na medida da quadro de Epstein. Cada grupo devem ser de igual comprimento,
quadro de Epstein e as ltimas induo magntica, resultando elevados erros nas perdas obtidas. formando
um
brao
nos braos restantes. Os braos - Divide-se a amostra em quatro grupos, contendo igual nmero caminho magntico. Utilizam- e
com
igual
quantidade
de
devem possuir o mesmo nmero de lminas e mesma massa. Inserem-se as lminas (sempre se lminas cortadas na mesma lminas. Se metade das lminas
mltiplas de quatro) nos solenides do quadro uma por vez, direo em braos opostos. forem cortadas na direo da
de lminas.
- Nos cantos o entreferro entre comeando com uma lmina em cada dois solenides opostos. Se Formam-se juntas duplamente laminao
as lminas deve ser o mnimo metade das lminas forem cortadas na direo da laminao e as sobrepostas nos cantos.
- Desmagnetiza-se a amostra em dois braos paralelos do quadro e as ltimas nos braos fecha-se
aplicando um campo alternado e restantes. Dispem-se as lminas com superposio nos cantos.
restantes
chave
desmagnetiza-se
S2
decrescente.
Ajusta-se
as
restantes perpendiculares esta direo, inserem-se as primeiras - Considerando a Fig. JIS 3, inserem-se as primeiras em dois
possvel.
fonte
amostra
deve
ser
de instrumentos conectados conforme Fig.ASTM 2 e as chaves S1 e e S3 e abre-se a chave S2. desmagnetizada por um campo
fechadas,
chaves
S3
S5
abertas,
efetua-se
desmagnetizao aplicando inicialmente uma tenso de fonte no que a leitura do voltmetro de decrescente.
U 2 = 4 fSBm N 2 NBR (1.10) circuito primrio suficiente para magnetizar a amostra para uma valor
- O ampermetro do circuito da
alternado
mdio
for
induo acima do joelho da curva de magnetizao. Calcula-se o correspondente da amplitude da vagarosamente aumentada at que
valor da tenso, para a desejada induo magntica de teste na induo magntica previamente o
amostra, de acordo com a equao:
determinada.
Mantm-se
freqncia no valor
valor
mdio
da
tenso
30
U 2 = 2Bm SN 2 f
wattmetro
no
seja
sobrecarregada.
- Anota-se a tenso mdia
ASTM (1.3)
especificado.
Calcula-se
U2
U2
Anota-se
wattmetro.
F=
do
no
seja
do
de
induo
magntica
como
segue:
U 2 = 4 fN 2
Ri
SBm IEC (1.3)
Ri + Rt
circuitado
secundria
reajustada
tenso
se
necessrio.
- O fator de forma da tenso
secundria deve ser determinado
da razo de seu valor eficaz para
seu valor mdio retificado.
- A leitura do wattmetro deve ser
anotada.
31
Quanto ao manuseio da amostra, apenas a norma japonesa recomenda lidar com as amostras com cuidado. Este procedimento evita
incluso de tenses no material. A tenso de trao pode aumentar a permeabilidade magntica e a tenso de compresso pode diminuir este
valor [2]. Qualquer dobramento da amostra altera o valor da perda magntica.
Quanto inspeo da amostra, a norma americana recomenda checar a amostra para possveis descartes. Deve-se analisar o
comprimento, as rebarbas, a incluso de abusos mecnicos, a uniformidade da largura e existncia de desvios de corte.
Sobre o arranjo da amostra, as normas americana e japonesa recomendam dividir a amostra em quatro grupos. Tem-se dois grupos na
direo da laminao e dois grupos na direo transversal. Este procedimento facilita a insero das lminas no quadro e evita possveis
enganos. A norma americana estabelece que cada grupo tenha o mesmo nmero de lminas e a mesma massa. Quanto insero da amostra
no quadro, todas as normas estabelecem a mesma metodologia de insero da amostra, realando a sobreposio das lminas nos cantos. Este
procedimento reduz a relutncia do circuito e o fluxo disperso nestes pontos [3]. Quando a amostra for cortada metade na direo da
laminao e a outra parte perpendicular a esta direo, obtm-se melhor previso do comportamento do material no dispositivo
eletromagntico. A perda magntica na direo transversal maior que a perda magntica na direo longitudinal [2]. As propriedades
magnticas so anisotrpicas porque variam com a direo da induo magntica e do campo magntico devido existncia da textura do
material e a distribuio no aleatria dos gros.
Quanto desmagnetizao da amostra, j abordada no item 1.1.5, a norma americana apresenta um procedimento de desmagnetizao
mais detalhado. Somente esta norma recomenda realizar o teste imediatamente aps este procedimento.
Referente ao ajuste da fonte, a norma da comisso eletrotcnica internacional realiza um ajuste da fonte de tenso (em funo da
induo de teste desejada) diferente das demais normas. Este ajuste funo das resistncias dos instrumentos conectados ao circuito
secundrio e da resistncia srie do enrolamento secundrio e do indutor de compensao, conforme a equao IEC(1.3). O valor eficaz da
tenso secundria utilizado para o clculo da induo magntica (equaes ASTM 1.3 e JIS 1.3) obtido atravs da leitura do voltmetro de
32
valor mdio (a tenso eficaz obtida multiplicando-se a leitura do voltmetro de valor mdio por 1,11 quando este no o fizer
automaticamente).
Quanto proteo do wattmetro, somente a norma brasileira e a norma da comisso eletrotcnica internacional recomendam conectar
um ampermetro ao primrio para controlar a bobina de corrente do wattmetro.
Sobre a leitura do wattmetro, a norma americana apresenta opes de leitura considerando a excluso de cargas dos instrumentos
secundrios e a possibilidade de se realizar todas as leituras simultaneamente. A norma da comisso eletrotcnica internacional, recomenda
curto circuitar o ampermetro e se necessrio reajustar a tenso secundria.
NBR 5161
ASTM A 343
N
(1,11U 2 )
Pc = 1 Pm
N2
Ri + Rt
JISC 2550
Para obter a perda especfica da amostra Calcula-se a perda magntica pela A perda total da amostra de teste deve ser
necessrio subtrair toda potncia do frmula:
freqncia
especficas,
perda
Pc
ma
NBR (1.13)
Pc 4l
m.l m
NBR (1.14)
Ps =
Ps =
IEC 404-2
P U 2 Ri
Ps = m
ma
Pc = Pm
U2
Ri
JIS (1.4) Pc =
IEC (1.4)
A perda magntica por unidade de A perda especfica total medida dada por:
massa dada por:
Ps =
ASTM (1.4)
(1,11U 2 )
N1
Pm
N2
Ri
P
Ps = c
ma
JIS (1.5)
Pc
ma
Ps =
Pc 4l
m.l m
IEC (1.5)
IEC (1.6)
33
Para obter a perda magntica, todas as normas subtraem a potncia do circuito secundrio (dada pelo segundo termo das equaes
NBR(1.12), JIS(1.4) e IEC(1.4)) da leitura do wattmetro (Pm ). Para a norma brasileira, a potncia do circuito secundrio obtida
considerando-se a resistncia equivalente dos instrumentos secundrios Ri e a resistncia srie do enrolamento secundrio do quadro e do
indutor de compensao Rt. Para as normas americana, japonesa e a norma da comisso eletrotcnica internacional a potncia do circuito
secundrio obtida considerando-se somente a resistncia equivalente da associao paralela entre a bobina de tenso do wattmetro e as
outras cargas secundrias Ri.
ASTM A 343
Recomenda-se manter o fator de forma da tenso secundria na faixa de O erro percentual no fator de forma dado por:
JISC 2550
A correo da
perda magntica
100(U 2 U 2 )
ASTM (1.5)
U2
no realizada
de realimentao. Se no for possvel, realizam-se correes nos valores
Na determinao do erro do fator de forma, assume-se
desde que o fator
medidos de perda magntica para considerar um desvio do fator de forma at
que a componente por histerese da perda magntica de forma da
10%.
independente do fator de forma se a amplitude da
tenso secundria
Admite-se que a perda por histerese no depende do fator de forma se a
induo magntica for correta. A induo magntica
seja mantido na
amplitude da induo magntica for correta. A perda por correntes de Foucault
correta quando o voltmetro de valor mdio for
faixa de 1,11
depende do valor eficaz da tenso, logo, depende do fator de forma. Assim,
utilizado para estabelecer este valor. Como a perda
1%.
corrige-se a perda magntica total atravs do fator de forma pela equao
por correntes de Foucault funo do valor eficaz da
NBR (1.16).
tenso, ser incorreta para tenses no senoidais. A
F =
Pt =
por:
IEC 404-2
----------
34
PC =
kh =
Pt
Ph
Pc
kp =
NBR (1.16)
F 2
kh + k p (
)
1,11
Ps corrigida =
k
NBR (1.18)
Pc
kh + k p = 1 ,
ASTM (1.6)
onde,
NBR (1.17)
Pp
Ps observada
100
h + (k.e)
NBR (1.19)
U
= 2
U 2
ASTM (1.7)
F = 1,11 F
F
Pt
1,11
P = 2 k p
NBR (1.21)
Pc = P + Pt ,
NBR (1.22)
onde,
kp: obtido atravs do mtodo da separao das perdas.
F: fator de forma medido.
Sobre a correo da perda magntica, a norma da comisso eletrotcnica internacional nada estabelece. A norma japonesa afirma
somente que no so necessrias correes quando o fator de forma pertencer a faixa 1,11 1%. A norma brasileira solicita que o fator de
forma seja mantido na faixa 1,11 1%, atravs de sistemas eletrnicos com realimentao. Caso no seja possvel, corrige-se a perda
magntica para desvios do fator de forma entre 1% a 10%. A norma americana sugere correo da perda magntica quando o erro percentual
35
do fator de forma for maior que 1% e menor ou igual a 10%. Nesta norma as constantes h e e, referentes perda por histerese e perda por
correntes de Foucault, so obtidas pelo mtodo de separao de perdas, para fluxo senoidal na faixa de 1,11 1%.
Sobre a correo da perda magntica total atravs do fator de forma, a norma brasileira e a norma americana admitem que a perda por
histerese no depende do fator de forma (se a amplitude da induo magntica for correta) e a perda por correntes de Foucault depende do
fator de forma (porque depende do valor eficaz da tenso, ou seja, das distores da forma de onda).
A perda por histerese funo da amplitude da induo magntica (veja equao NBR(1.26)). A equao NBR(1.10) apresenta a
relao entre a tenso secundria mdia e a amplitude da induo magntica. Como comenta-se no item 1.1.10, utilizando-se compensador de
fluxo disperso, a induo magntica na amostra igual induo magntica obtida pela tenso secundria mdia. Por este motivo admitido
que a perda por histerese no depende do fator de forma.
A perda por correntes de Foucault obtida atravs da integral volumtrica do produto entre a condutividade eltrica do material e o
quadrado do campo eltrico. O campo eltrico obtido dividindo- se a tenso eficaz pelo comprimento. O valor eficaz da tenso secundria
dado pelo produto entre o valor secundrio mdio e o fator de forma. Assim a perda por correntes de Foucault depende do fator de forma.
1.1.15 Separao da Perda Total: Perda por Histerese e Perda por Correntes de Foucault
Tabela 17: Separao das Perdas.
NBR 5161
A perda total separada em duas parcelas, devido a correntes de Foucault e devido histerese do material, admitindose variao com a segunda e a primeira potncia da freqncia. Para mesmo valor de induo magntica tem-se:
Pc = Ap B 2 m f 2 + Ah Bm f
x
Ap: Depende do volume da amostra. proporcional ao quadrado da espessura de uma nica lmina.
---------NBR (1.23)
----------
----------
36
Pc
x
= Ap B 2 m f + Ah Bm
f
NBR (1.24)
Pc/f
arctg(ApBm2)
AhBmx
f
Fig. NBR 5: Mtodo de separao das perdas.
Para levantar o grfico da Fig. NBR 5 atravs da reta NBR(1.24), mantm-se constante a amplitude da induo
magntica e o fator de forma. Para este caso, o desvio do fator de forma no deve ser superior a 1% de 1,11. Obtidos os
termos ApBm2 e AhBmx multiplica-se por f2 e f obtendo-se:
Pp = Ap Bm f 2
NBR (1.25)
Ph = Ah Bm f
NBR (1.26)
kp =
Pp
Pc
kh =
Ph
Pc
NBR (1.27)
NBR (1.28)
37
Somente a norma brasileira detalha o mtodo de separao de perdas. Tem-se duas componentes: perda por histerese e perda por
correntes de Foucault. A perda por histerese obtida atravs do mtodo do prolongamento da curva da perda magntica em funo da
freqncia at se atingir freqncia nula.
NBR 5161
ASTM A 343
amplitude
JISC 2550
IEC 404-2
duas maneiras: atravs de valores da amplitude da corrente de excitao utilizando-se Fecha-se o interruptor S (Fig. JIS 4) e deve ser determinada pela equao:
induo magntica e de valores eficazes do campo um voltmetro de valor de pico e ajusta-se a fonte de tenso at que a
magntico ou da amplitude da induo magntica um resistor padro. A chave S1 leitura do voltmetro de pico seja a
e da amplitude do campo magntico.
campo
magntico
desejado.
ao
Ri
SBm IEC (1.7)
Ri + Rt
U 2 = 4 fN 2
campo
carregamento
do
NI
NU
Hm = 1 m = 1 m
lm
Rnlm
Hm =
N1I m
lm
JIS (1.6)
Im =
-
Um
Mtodo
Rn
II:
IEC (1.8)
IEC (1.9)
observa-se
no
tenso
do
enrolamento
38
Determina-se o campo magntico. O valor eficaz Se o indutor mtuo e o voltmetro ajusta-se a fonte de tenso at que a (Fig. IEC 5).
de valor mdio forem utilizados leitura do voltmetro de valor mdio for a A amplitude do campo magntico
H =
N1 I1
lm
NBR (1.29)
segue-se
tambm
de seguinte frmula:
do
Hm =
N1 I m
NU
= 1 2
lm
4,17 fL
Hm =
Aps
obter
N 1U m
Rn l m
N1 R v + Rm
.
.U m
4 fLlm
Rv
vrias
amplitudes
NBR (1.30)
NBR (1.31)
amplitude
I m = U m (2 Rn )
da
corrente
Hm =
N1I m
lm
N1 R v + Rm
.
.U m
Rv
4 fLl m
JIS (1.7)
Hm =
Hm =
IEC (1.10)
atravs
campo
excitao,
medida
ao
ASTM (1.10)
do
campo
magntico
correspondente.
A amplitude da permeabilidade magntica
dada por: Bm / (0Hm).
Somente a norma brasileira apresenta dois mtodos de levantamento da curva de magnetizao do material: pela amplitude da induo
magntica e valor eficaz do campo magntico ou pela amplitude da induo magntica e amplitude do campo magntico. As demais normas
39
utilizam este ltimo mtodo. As normas brasileira e americana esclarecem que para obter-se a permeabilidade magntica, pode ser
especificado o campo magntico e calculada a induo magntica correspondente e vice-versa. A norma japonesa apresenta apenas a primeira
possibilidade, enquanto que a norma da comisso eletrotcnica internacional nada afirma.
A amplitude do campo magntico obtida atravs dos seguintes mtodos:
-
Mtodo do resistor calibrado: as normas brasileira, japonesa e norma da comisso eletrotcnica internacional
apresentam mesma formulao para este mtodo. A norma americana multiplica por dois o valor da resistncia
utilizada.
Mtodo do indutor mtuo: as normas americana e japonesa apresentam mesma formulao para este mtodo. A norma
brasileira e a norma da comisso eletrotcnica internacional apresentam mesma formulao para este mtodo,
corrigindo o valor da tenso secundria mdia pela resistncia interna do voltmetro de valor mdio e resistncia
secundria do indutor mtuo.
1.1.17 Reprodutibilidade
Tabela 19: Reprodutibilidade.
NBR 5161
ASTM A 343
IEC 404-2
- Perda magntica: para testes em freqncias - Perda magntica: caracterizada por um desvio
JISC 2550
----------
comerciais o desvio padro pode ser at 1,5% padro relativo de at 1,5%, para medio em
1,5%.
para lminas de ao de gro no orientado, para material de gro no orientado at 1,5 T. Para
induo at 1,5 T.
Permeabilidade
40
Perda magntica: com exceo da norma americana, as demais normas esclarecem que para reproduzir o mtodo o desvio padro
admissvel de 1,5%. A norma da comisso eletrotcnica internacional lembra que para altas indues espera-se que este desvio cresa.
Permeabilidade magntica: com exceo da norma americana, as demais normas esclarecem que para reproduzir o mtodo utilizandose instrumentos de classe 0,5 o desvio padro admissvel de 2%.
NBR 5161
ASTM A 343
JISC 2550
IEC 404-2
Deve conter:
----------
----------
----------
Somente a norma da comisso eletrotcnica internacional, estabelece os itens que devem constar no relatrio de teste.
41
Largura:
NBR5161, JIS C 2550 e IEC 404-2: 30mm 0,2mm.
ASTM A 343: 30mm.
Comprimento:
NBR5161: 280 l < 308mm 0,5 mm. Preferencial: l = 305mm
ASTM A 343: l 280mm 0,8mm. Preferencial: l = 305mm.
JIS C 2550, IEC 404-2: 280mm l 320mm 0,5mm.
Espessura:
NBR5161: inferior ou igual 1,0mm.
42
43
m
4l
lm .m
sendo lm = 0,94 [m].
4l
44
NBR5161: U 2 = 4 fSBm N 2
IEC 404-2: U 2 = 4 fN 2
Ri
SBm
Ri + Rt
45
(1,11U 2 )
N
NBR5161: Pc = 1 Pm
N2
Ri + Rt
P U 2 Ri
ASTM A 343: Ps = m
ma
JIS C 2550: Pc = Pm
(1,11U 2 )
N
IEC 404-2: Pc = 1 Pm
N2
Ri
Ps =
Pc
ma
U2
Ri
Ps =
Pc
ma
U2
U2
Ps =
Pc
ma
46
(1,11U 2 )
N
onde Pt = 1 P ' m
N2
Ri + Rt
Pt
F 2
)
kh + k p (
1,11
U
= 2
U2
Ps observada
100
h + (k.e)
onde
histerese do
material.
Pc = Ap B 2 m f 2 + Ah Bm f
x
47
Pc
x
= Ap B 2 m f + Ah Bm
f
Para levantar esta curva mantm-se constante a amplitude da
induo magntica e o fator de forma. Para este caso, o desvio do
fator de forma no deve ser superior a 1% de 1,11. Obtidos os
termos ApBm2 e AhBmx multiplica-se por f2 e f obtendo-se:
Pp = A p Bm f
2
kp =
Pp
Pc
Ph = Ah Bm f
x
e kh =
Ph
Pc
Bm =
U2
obtida. U 2 obtido corrigindo-se o valor da leitura
4 fN 2 S
Rv + R2
. Quando a induo magntica for
Rv
especificada,
ajusta-se
tenso
secundria
para
valor
48
magntico H =
N1I1
determinado.
lm
N 1U m
. Para o
Rn l m
N1 R v + Rm
.
.U m
4 fLlm
Rv
N1I m
deve ser
lm
calculada.
49
N1I m N1U m
=
.
lm
Rnlm
N1I m
NU
= 1 2 .
lm
4,17 fL
Ri
SBm .
Ri + Rt
N1I m
lm
onde I m =
Um
Rn
N1 R v + Rm
.
.U m
4 fLlm
Rv
50
1.3 Concluso
Como pode-se observar, as normas apresentam basicamente a mesma finalidade.
Entretanto, diferem em alguns itens. Cada norma tcnica aprofundou mais um item em relao
outra. Algumas apresentam lacunas dificultando a compreenso e prejudicando a clareza
caracterstica de normas tcnicas.
Quanto abrangncia de assunto, a norma brasileira apresenta-se mais completa,
fornecendo em uma mesma documentao informaes relacionadas ao ensaio em questo. As
demais normas tcnicas no incluram em documentao nica todas as informaes
necessrias para o ensaio.
Classificando as normas tcnicas, segundo maior abrangncia de informaes
relacionadas ao ensaio, tem-se o seguinte perfil: a norma brasileira apresenta apenas uma
lacuna, correspondente ao relatrio de teste. Na seqncia, esto as normas americana e
japonesa, ambas com quatro lacunas. A norma americana apresenta lacunas relacionadas ao
procedimento de medida da espessura; procedimento de medida da densidade do material;
procedimento de separao da perda magntica e relatrio de teste. A norma japonesa
apresenta as seguintes lacunas: procedimento de medida da densidade do material; modelo da
perda magntica; procedimento de separao da perda magntica e relatrio de teste. A norma
da comisso eletrotcnica internacional apresenta maior nmero de lacunas (5),
correspondentes ao procedimento de medida da espessura; procedimento de medida da
densidade do material; modelo da perda magntica; procedimento de separao da perda
magntica e correo da perda magntica.
No prximo captulo, apresentar-se- uma caracterizao de um material utilizando os
procedimentos
normativos,
com
medies
atravs
da
instrumentao
padro.
51
52
53
BmNBR Bmnorma
.
BmNBR
0,020
Bm
0,015
BmASTM
BmJIS
BmIEC
0,010
0,005
0,000
0,00
0,50
1,00
1,50
2,00
BmNBR (T)
54
Osciloscpio
U2 (V) U2m (V) Hm (A/m) Ptot (W) W (J/kg) ma (kg)
43,36
40,44
37,66
35,09
32,76
30,49
28,06
25,63
22,60
19,52
16,45
13,39
10,13
7,13
3,03
3276,6
968,1
268,1
147,4
107,2
90,9
84,9
78,2
68,5
63,4
56,9
54,2
44,4
38,7
28,7
7,50
5,60
4,35
3,65
3,13
2,74
2,35
2,01
1,58
1,23
0,94
0,66
0,41
0,23
0,05
0,1080
0,0807
0,0627
0,0526
0,0451
0,0395
0,0338
0,0289
0,0228
0,0177
0,0136
0,0096
0,0059
0,0033
0,0007
1,39
Na tabela 23, os valores obtidos do fator de forma confirmam que a forma de onda da
induo magntica foi mantida senoidal no ensaio. Entretanto, os valores do fator de forma
apresentados na tabela 21 indicam que a forma de onda da induo magntica no seria
senoidal (com exceo da medida cujo fator de forma foi igual a 1,11). O controle da forma de
onda da induo magntica pelo fator de forma pode ser comprometido pela instrumentao
utilizada, como mostra a tabela 21. A norma brasileira exige que este controle seja realizado
tambm atravs do monitoramento da imagem da tenso secundria em um osciloscpio, mas
no solicita uma anlise harmnica da forma de onda. Neste caso do ensaio no houve a
necessidade de realizar a correo da perda magntica porque pela tabela 23 e visualmente
pela Fig.3, a tenso secundria foi mantida na forma de onda senoidal.
As medies com a instrumentao padro geralmente foram realizadas no incio das
escalas por fora das condies da fonte de alimentao do quadro de Epstein.
55
Tenso secundria
Corrente primria
60
Tenso (V)
40
2
1
0
-1
20
0
200
-20
400
600
800
5
4
3
1000
Corrente (A)
80
-2
-40
-3
-4
-5
-60
-80
Tempo (s)
BmNBR
BmASTM
BmJIS
BmIEC
0,29
Bm
0,24
0,19
0,14
0,09
0,04
-0,01
0,00
0,50
1,00
BmSDCMM (T)
1,50
2,00
W (J/kg)
56
0,12
0,10
0,08
0,06
0,04
0,02
0,00
0,00
NBR
ASTM
IEC
SDCMM
JIS
0,50
1,00
Bm (T)
1,50
2,00
Fig.5: Ensaio 50Hz. Perda total por unidade de massa em funo da amplitude da
induo magntica.
Na Fig.5 verifica-se que as normas brasileira, americana, japonesa e a norma
da comisso eletrotcnica internacional apresentam praticamente o mesmo resultado.
Este comportamento esperado porque estas normas possuem formulaes idnticas
para o clculo das grandezas envolvidas. A norma brasileira e a norma da comisso
eletrotcnica internacional apresentam resultados semelhantes aos resultados das
demais normas porque a soma da resistncia equivalente dos equipamentos do
enrolamento secundrio do quadro de Epstein e resistncia em srie do enrolamento
secundrio do quadro de Epstein e do indutor de compensao aproximadamente
igual a resistncia equivalente dos equipamentos do enrolamento secundrio do
quadro de Epstein. A curva obtida pela leitura do SDCMM difere da curva obtida
segundo as normas tcnicas utilizando a sua instrumentao padro.
Observando ainda a Fig.5, verifica-se que duas curvas diferentes modelam o
comportamento do mesmo material. As medidas obtidas atravs da instrumentao
padro apresentaram-se menos confiveis que as medidas obtidas atravs do
SDCMM. O fator de forma lido na instrumentao padro no apresentou coerncia
com os valores obtidos com o SDCMM. Estes valores do fator de forma afetam
diretamente a deciso da necessidade da correo das perdas. No item 1.1.7.1 a norma
brasileira apresenta dois limites admissveis de variao do fator de forma (limite de
leitura da perda e limite no qual a correo da perda possvel). Existe um conflito
no estabelecimento dos limites acima quando se dispe de um valor de fator de forma
57
foi
58
ma (kg)
0,4273
1,3886
1,3886
0,4273
1,3886
0,4273
0,4273
0,4273
0,4273
Pc/f
0,0094
0,0360
0,0383
0,0125
0,0437
0,0144
0,0150
0,0170
0,0192
Pc (W)
0,3750
0,5538
0,7077
0,8750
1,0769
1,3000
1,5000
2,1250
2,8750
Pc/f
0,0094
0,0111
0,0118
0,0125
0,0135
0,0144
0,0150
0,0170
0,0192
Pc/f (J)
0,015
0,010
0,005
0,000
0
50
100
150
200
f (Hz)
Pp
0,128
0,200
0,288
0,392
0,512
0,648
0,800
1,250
1,800
Ph
0,264
0,330
0,396
0,462
0,528
0,594
0,660
0,825
0,990
Kh
0,7040
0,5958
0,5596
0,5280
0,4903
0,4569
0,4400
0,3882
0,3444
Kp
soma Kh e Kp
0,3413
1,0454
0,3611
0,9570
0,4070
0,9665
0,4480
0,9760
0,4754
0,9657
0,4985
0,9554
0,5333
0,9733
0,5882
0,9765
0,6261
0,9705
59
Perda (W)
Pc
Pp
Ph
50
100
Frequncia (Hz)
150
(A/m)
71,5
84,9
85,6
80,4
104,3
96,8
99,0
108,7
120,6
U2 (V)
7,59
29,99
36,17
12,37
48,38
17,34
18,51
22,99
27,03
F
Ps
1,1100
1,1110
1,1097
1,1102
1,1095
1,1102
1,1099
1,1102
1,1112
(W/kg) m a (kg)
1,0977 0,4273
1,4475 1,3886
1,8075 1,3886
2,2000 0,4273
2,8805 1,3886
3,3936 0,4273
3,9787 0,4273
5,4532 0,4273
7,1149 0,4273
3,50
NBR
3,00
erro%
SDCMM
25%
20%
Erro%
Perda (W)
2,50
2,00
15%
1,50
10%
1,00
5%
0,50
60
0,025
0,020
0,015
0,010
0,005
0,000
0,00
0
50
100
150
Frequncia (Hz)
0%
200
50
100
150
Freqncia (Hz)
200
Fig.8: Ensaio 1 T: a) Perda total; b) Perda total por ciclo em funo da freqncia.
A Fig.8a ilustra o erro entre a perda magntica obtida segundo a norma brasileira
utilizando a instrumentao padro (item 2.2.1) e segundo as medies atravs do osciloscpio
e seu sistema. As medidas segundo o SDCMM so mais confiveis que as medies realizadas
atravs da instrumentao padro pelo motivo apresentado no item 2.1.2.
Com os resultados apresentados na Fig.8b construiu-se a seguinte tabela:
Pp
0,128
0,200
0,288
0,392
0,512
0,648
0,800
1,250
1,800
SDCMM.
Ph
kh
kp
soma kh e kp
0,332 0,7079 0,2729
0,9808
0,415 0,6710 0,3234
0,9944
0,498 0,6448 0,3729
1,0177
0,581 0,6181 0,4170
1,0351
0,664 0,5395 0,4160
0,9555
0,747 0,5152 0,4469
0,9621
0,830 0,4882 0,4706
0,9588
1,038 0,4453 0,5365
0,9818
1,245 0,4095 0,5921
1,0016
O coeficiente da perda por histerese 0,0083 [J] obtido pela extrapolao da reta para
freqncia nula (Fig.8). O coeficiente da perda por correntes de Foucault 0,00008 [J] obtido
atravs da tangente do ngulo da reta apresentada na Fig.8.
Perda (W)
61
3,5
3,0
2,5
2,0
1,5
1,0
0,5
0,0
P
Pp
Ph
50
100
Frequncia (Hz)
150
50
40
30
20
10
0
-10
-20
-30
-40
-50
Tenso sec.
Corrente prim.
0,2
0,15
0,1
0,05
0
200
400
600
800
1000
-0,05
Corrente (A)
Tenso (V)
variao mxima. Este fato comprova que a forma de onda da induo foi mantida senoidal.
-0,1
-0,15
-0,2
Tempo (s)
Fig.10: Tenso secundria e corrente primria 1T e 150 Hz, e fator de forma de 1,1112.
62
Medida f (Hz)
7
50
8
50
9
50
10
50
11
50
12
50
13
50
14
50
15
50
16
50
17
50
18
50
Bm (T)
U2m (V) U2 (V) Pm (W)
5,87E-01
15,8
16,8
0,750
7,07E-01
19,0
19,6
1,125
7,88E-01
21,2
21,9
1,275
9,12E-01
24,5
24,9
1,750
1,04E+00
27,9
28,1
2,250
1,11E+00
29,7
31,5
2,500
1,24E+00
33,3
35,0
3,000
1,29E+00
34,7
37,0
3,375
1,39E+00
37,4
40,0
4,125
1,42E+00
38,3
40,7
4,375
1,56E+00
41,9
44,9
5,875
1,61E+00
43,2
46,0
6,300
F
1,0656
1,0311
1,0344
1,0161
1,0062
1,0595
1,0500
1,0668
1,0699
1,0630
1,0718
1,0638
Pc (W)
Ri ()
Rt ()
16071428,57
5,38
0,75
16071428,57
1,12
16071428,57
1,27
16071428,57
1,75
16071428,57
2,25
36290322,58
2,50
36290322,58
3,00
36290322,58
3,37
36290322,58
4,12
36290322,58
4,37
36290322,58
5,87
36290322,58
6,30
63
F
1,1142
1,1101
1,1104
1,1101
1,1118
1,1107
1,1103
1,1104
1,1101
1,1105
1,1105
1,1103
1,1106
1,1112
1,1124
1,1134
1,1239
1,1298
Perda (W)
SDCMM: P
6
4
2
0
0,0
0,5
1,0
Induo (T)
1,5
2,0
Tenso (V)
1000
-100
5
4
3
2
1
0
-1
-2
-3
-4
-5
Corrente (A)
64
Tempo (s)
NBR e IEC
ASTM e JIS
Bm
Epstein
Indutor
Hm
Bm
(T)
U2m (V)
U2m (V)
(A/m)
(T)
1,441
38,7
21,6 455,25322
1,4404
1,324
35,6
8,6 180,2044
1,3231
1,207
32,4
5,4 113,81331
1,2059
1,089
29,3
4,5
94,8444
1,0887
Hm
(A/m)
450,9742
178,5106
112,7436
93,95296
65
Osciloscpio
NBR e IEC
ASTM e JIS
Bm
Epstein Indutor
Hm
Bm
Hm
Bm
Hm
66
1,6
1,4
1,2
NBR e IEC 50 Hz
Bm (T)
1,0
ASTM e JIS 50 Hz
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
100
200
300
400
500
H m (A/m)
Corrente primria
0,6
20,0
0,5
15,0
0,4
10,0
0,3
0,2
5,0
0,1
0,0
-5,0
200
400
600
800
1000
0
-0,1
-10,0
-0,2
-15,0
-0,3
-20,0
Corrente (A)
Tenso (V)
25,0
-0,4
Tempo (s)
67
2.5 Concluso
Este captulo apresentou um exemplo da aplicao das normas tcnicas sobre a
caracterizao de ao ao silcio de gro no orientado. Foi mostrada, atravs dos ensaios, a
dificuldade de se utilizar a instrumentao padro convencional quando no se tem condies
e disponibilidade de uma fonte de tenso adequada impondo a forma de onda senoidal no
secundrio do quadro. Poder-se-ia utilizar a tenso comercial com regulagem da amplitude
atravs de um auto transformador. Dois problemas ento haveriam: a inexistncia do controle
da tenso no secundrio e a forma de onda da tenso comercial est contaminada atualmente
por um contedo harmnico.
No ensaio da perda total segundo as normas tcnicas, o controle da forma de onda da
induo magntica atravs do fator de forma da tenso secundria obtido atravs da
instrumentao padro no foi eficiente devido s leituras terem sido realizadas no incio das
escalas dos instrumentos de medida. Os resultados do fator de forma obtidos atravs da
instrumentao padro divergiam dos resultados obtidos com o SDCMM. Houve dificuldades
em manter sempre as leituras dos instrumentos no final da escala. Assim, os dados obtidos
atravs do SDCMM apresentaram-se mais confiveis, visto que o fator de forma assim obtido
esteve sempre coerente com a imagem da tenso secundria observada.
Quanto ao modelo de separao das perdas apresentado pela norma brasileira, existe
uma dificuldade para caracterizar suas componentes como perda por histerese e perda por
correntes de Foucault. Apenas a norma brasileira separa a perda magntica em duas
componentes, uma varivel com a primeira potncia da freqncia (perda por histerese) e a
outra varivel com a segunda potncia da freqncia (perda por correntes de Foucault).
Estas componentes so obtidas da curva da perda por ciclo em funo da freqncia, supondo
que esta curva tenha comportamento linear. Na realidade, a curva da perda por ciclo em
funo da freqncia no apresenta comportamento linear.
No ensaio da permeabilidade magntica, segundo o mtodo utilizando o indutor mtuo,
foram obtidos poucos pontos medidos com a instrumentao padro, dificultando o traado da
68
curva B-H. J o SDCMM permitiu o traado desta curva, com mais nmero de pontos
apresentando-se novamente mais eficaz que a instrumentao padro convencional.
Para um mesmo material testado, as normas tcnicas forneceram resultados
semelhantes, tanto os resultado da perda magntica bem como os resultados das caractersticas
de magnetizao.
No prximo captulo apresentar-se- mtodos numricos de separao das perdas
magnticas, baseados na modelagem do atual estado-da-arte [4,10].
69
P ( class ) =
2d 2
6
( Bm f ) 2 , [W]
(3.0)
70
induo magntica constante ( por exemplo 1T) utilizada para confirmao dos coeficientes
encontrados relativos aos trs tipos de perda magntica, conforme o modelo apresentado por
[19].
Procura-se neste captulo contextualizar estratgias no padronizadas de obteno da
perda magntica, utilizando o modelo da separao das perdas magnticas em trs
componentes.
seo transversal [m2]. O primeiro termo a perda por histerese Wh e o segundo termo a
perda por correntes de Foucault Wf. O terceiro termo representa a perda excedente We. Para
uma induo magntica com forma de onda senoidal, a perda total Wstot dada pela equao
(3.2), onde a perda por histerese dada pelo modelo de Steinmetz com os parmetros kh e .
Para esta especfica forma de onda da induo magntica, a perda magntica funo da
amplitude da induo magntica e dos coeficientes constantes, dados pela equao (3.3).
71
GVo S 1 T dB(t )
d 2 1 T dB(t )
= W (t ) h +
dt
+
dt , [J/kg]
12 f T 0 dt
f T 0 dt
2
W (t )tot
W ( Bm ) = k h Bm
s
tot
1,5
8.76 SGVo
(d )2
f o Bm2 +
+
6
f o Bm1.5 , [J/kg]
(3.1)
(3.2)
(3.3)
Obtm-se a perda por histerese numa freqncia relativamente baixa, por exemplo 1
Hz, onde as perdas dinmicas (perda por correntes de Foucault e perda excedente) podem ser
desprezadas. Pelo modelo de Steinmetz a perda por histerese dada pela equao (3.4). A
faixa de induo magntica (regio de baixa induo magntica) selecionada baseando-se
nos resultados estatsticos. Esta seleo feita de forma a obter-se o maior coeficiente de
determinao (vide equao (3.11)) e o maior nmero de pontos experimentais possvel.
Wh = k h ( Bm )
(3.4)
onde,
1,4<<1,8 para aos ao silcio de gro no orientado.
kh : dependente do material e do sistema de unidades empregado.
: dependente apenas do material.
y = a + bx
(3.5)
(3.5.a)
72
y = a + bx + E
(3.6)
Para assentar uma reta de predio um conjunto de pontos, minimiza-se a soma dos
quadrados dos resduos. Esta soma dada pela equao (3.7), onde n o nmero de pontos
experimentais.
Sr =
( y a bx )
n
i =1
(3.7)
b=
x y x y
n x ( x )
i
(3.8)
a = y bx
(3.9)
( y y)
(3.10)
Com os valores da soma dos quadrados dos resduos e da soma total dos
quadrados, o coeficiente de determinao obtido:
r2 =
St S r
St
(3.11)
Para se obter assentamento perfeito da reta, a soma dos quadrados dos resduos Sr
deve ser nula. Assim,
r2 =1
De (3.5) e (3.5.a) define-se:
kh = e a
(3.12)
=b
(3.13)
A perda total obtida pelo ensaio do material a uma freqncia alta, por exemplo 50
Hz, onde as perdas dinmicas (perda por correntes de Foucault e perda excedente) so
detectadas. O procedimento para obteno das constantes kt e da perda total, anlogo ao
procedimento de obteno de kh e relativos perda por histerese.
73
1, 5
[J/kg]
(3.14)
kt ( Bm ) k h (Bm )
0 ,5
k f ( Bm )
1,5
(Bm )
(3.15)
A equao (3.15) representa a reta de solues. Esta equao pode ser reescrita como:
k e = a fe + b fe k f
(3.16)
P 1(0, afe)
P min (Pmin1, Pmin2)
kf
74
d ( p1 , p 2 ) = (
a fe
b fe
) 2 + a fe
d ( p1, p2 )
1000
(3.17)
(3.18)
Para selecionar o par ordenado (kf, ke) necessrio conhecer as coordenadas dos pontos
pmin e pmax. Esta formulao obtida atravs das seguintes imposies:
d ( p 2 , p max ) = d ( p1 , p min ) =
p max , p min k e = a fe + b fe k f
(3.19)
2
2
+ 2a fe b fe ) p max 1 + (( ) 2 2 + a fe ) = 0
(1 + b fe ) p max 1 + (2
b fe
b fe
p
max 2 = a fe + b fe p max 1
(3.20)
A primeira equao do sistema (3.20) uma equao quadrtica. Para obter-se o ponto
desejado (situado no primeiro quadrante), toma-se a raiz que resulta um valor positivo de
pmax2. Desta forma se obtm as coordenadas do ponto Pmax.
Para o ponto pmin tem-se:
2
p min 1 =
2
1 + b fe
p min 2 = a fe + b fe p min 1
(3.21)
f
f
1.5
(3.22)
+ ke (Bm )
, [J/kg]
f0
f0
O par ordenado (kf, ke) avaliado comparando as perdas estimadas utilizando-se a equao
75
w f = k f ( Bm )
(3.23)
1,5
(3.24)
we = k e ( Bm )
Incio
Entrada de dados do ensaio
da perda por histerese
variando a induo e
mantendo freq. constante
(1Hz): f, Bm e Wh
Linearizao de
Wh= khBm
Regresso
linear
r2, kh e
r2 1
Entrada de dados do
ensaio da perda total
variando a induo e
mantendo freq. constante
(50 Hz): f0, Bm e Wtot
Excluso de pontos:
(Wh, Bm)
S
Linearizao de
Wtot = ktotBm
Regresso
linear
r2, ktot e
N Excluso de pontos:
r2 1
(Wtot, Bm)
S
Reta de solues:
ke=afe+bfekf
76
kf = pmin1:pmax1
i=1:nf
Wtotc(i)=khBm+f(i)/f0kfBm2+(f(i)/f0)keBm1,5
erro(i)=((Wtotf(i)-Wtotc(i))/Wtotf(i))
Soluo = separao de menor erro.
Entrada de dados do
ensaio da perda total
variando a frequncia e
mantendo induo
constante (1T): f, Bm e
Wtotf
Visualizao grfica.
Fim
77
1, 5
(3.25)
kt ( Bm 2 )
kt ( Bm 3 )
kt ( Bm 4 )
(3.26)
= kh ( Bm 4 ) + k f ( Bm 4 ) 2 + ke ( Bm 4 )1, 5
x1 + rx2
1+ r
(3.27)
onde,
x1, x2: so as coordenadas dos pontos extremos.
r: razo dada.
A Fig.17 ilustra o procedimento de diviso do segmento de reta utilizado nesta
estratgia.
Bm4
Bm3
Bm2
Bm1
78
Bm 2
1
0,4 + 1,4
2
=
= 0,73
1
1+
2
Bm 3 =
0,4 + 2(1,4)
= 1,067
1+ 2
2
1,5
2
1,5
k t (1,067) = k h (1,067) + k f (1,067) + k e (1,067)
2
1,5
(3.28)
F=
(3.29)
2
1, 5
k h (0,73) + k f (0,73) + k e (0,73) k t (0,73)
2
1,5
k h (1,067) + k f (1,067) + k e (1,067) k t (1,067)
2
1,5
k h (1,4) + k f (1,4) + k e (1, 4) k t (1,4)
f1
f
2
f3
f4
(3.30)
O vetor das derivadas parciais de fi (x1, x2, ..., xn) denominado vetor gradiente de
fi(x), dado por:
f i ( x ) =
f i ( x ) f i ( x)
f ( x)
,
,..., i
x
x 2
x n
1
(3.31)
79
f 1 ( x)
T
f 2 ( x)
f n ( x)
T
J ( x) =
, fx( x)
, fx( x)
f1 ( x) f1 ( x)
,
,
x1
x 2
f 2 ( x ) f 2 ( x)
,
,
x
1
2
f n ( x) , f n ( x) ,
x
x 2
1
f n ( x)
,
x n
1
(3.32)
lim x
k
= x*
Esta verificao realizada utilizando-se a norma infinito, sendo v o vetor dos valores
absolutos de F:
v
= max vi para 1 i n
<
80
O sistema (3.30) apresenta vrias solues, entretanto, existe apenas uma soluo
fisicamente verdadeira, ou que atenda o modelo da equao (3.2) pois os parmetros d, , ,
Regresso linear
r2, ktot e
r2 1
Mtodo de
Newton
Excluso de pontos:
(Wtot,Bm)
S
Entrada dos valores iniciais: ;
erros E1 e E2; nmero de iteraes
x1 = valores iniciais.
Contador = 0.
k = 1:iterao
81
condies
verdadeiras
S
sol = x1
contador = contador + 1
i=1:4
solucao = armaz
Fim
xk+1 = xk + sk
condies2
verdadeiras
k = k+1
S
sol = x k +1
contador = contador + 1
i=1:4
Condies = NI de F(xk) < E1 e
kf > ke (ou kf < ke ) e kh>0 e ke > 0,0002
solucao = armaz
Fim
Fig.19.a: Fluxograma da estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese.
82
Incio
Entrada dos valores iniciais
e das condies das solues.
Clculo da soluo.
Entrada de dados do
ensaio variando a
frequncia e mantendo
induo constante (1T):
f, Bm e Wtotf
j=1:contador
i=1:nf
Wtotc(i)=soluo(1,j)Bmsolucao(2,j) +
(f(i)/f0) soluo(3,j)Bm2 + (f(i)/f0)soluo(4,j)Bm1,5
erro(i)=((Wtotf(i)-Wtotc(i))/Wtotf(i))
Seleo da separao de
menor erro
Visualizao grfica
erro
mnimo
S
Fim
3.4 Resultados
Nesta parte do trabalho, apresenta-se os resultados obtidos aplicando as
estratgias de separao das perdas abordadas. O material ensaiado foi inserido no
quadro de Epstein com todas as lminas cortadas na direo longitudinal. No ensaio
83
da perda por histerese foram utilizadas doze lminas por brao. Nos ensaios restantes
foram utilizadas trs lminas por brao. Os seguintes dados de ensaio foram obtidos
para a amostra:
Tabela 32: Dados do ensaio da perda por histerese, perda total 50 Hz e perda
total 1T.
f (Hz)
Bm (T)
W h (J/kg)
0,053 7,09E-05
0,128 0,000394
0,252 0,001326
0,369 0,002455
0,498 0,003938
0,676 0,00638
0,748 0,007496
0,848 0,009176
0,928 0,010659
1,015 0,012274
1,091 0,013967
1,266 0,019126
1,392 0,02502
1,43 0,027449
1,465 0,030888
1,49 0,033382
1,513 0,035955
1,533 0,038594
1,592 0,046089
1,616 0,050067
1,664 0,050579
f (Hz)
Bm (T)
50
84
0,06
Perda Total
Perda Hist.
Perda (J/kg)
Perda Fouc.
0,05
0,04
Perda Exc.
0,03
Perda Tot.
Medida
0,02
Perda Hist.
Medida
Wtot = 0,0207Bm1,7012
Wh =
0,0122Bm1,6425
We =
0,0035Bm1,5
0,01
0,3
0,07
PerdaTotal (J/kg)
0,06
Perda Hist.
Corrigida
0,05
Perda Fouc.
Corrigida
Wf = 0,0049Bm2
Perda corrigida (J/kg)
0,07
0,03
Perda Exc.
Corrigida.
Perda Total
Medida (J/kg)
0,02
Perda Hist.
Medida (J/kg)
0,04
Wtot = 0,0207Bm1,7012
Wh = 0,0116Bm1,6448
Wf = 0,0053Bm2
We = 0,0038Bm1,5
0,01
0,6
0,9
1,2
Induo (T)
1,5
1,8
0,3
0,6
0,9
1,2
Induo (T)
1,5
1,8
85
0,06
0,05
10%
8%
0,04
6%
Erro
12%
0,03
4%
0,02
2%
0,01
0
100
0%
300
200
Frenquncia (Hz)
0,07
0,1
0,08
Perda (J/kg)
0,07
0,06
0,05
a
0,06
0,05
Perda [J/kg], erro
0,09
Wtot = 0,0207Bm1,7011
1,6423
Wh = 0,0122Bm
2
Wf = 0,0063Bm
1,5
We = 0,0025Bm
0,04
0,03
b
0,04
0,03
0,02
0,02
0,01
0,01
0
0
0,2
0,4
0,6
0,8
1
1,2
Induo (T)
1,4
1,6
1,8
50
100
150
200
Freqncia em [Hz]
250
300
86
Como nesta estratgia a perda por histerese no foi corrigida, os resultados sero
comparados com os resultados da estratgia de referncia sem correo da perda por histerese.
A Fig.22.b mostra que a aproximao da perda calculada em relao curva medida, est
caracterizada por um erro mximo de aproximadamente 6,5%. Este erro 3,5% menor que o
erro apresentado pela estratgia de referncia. Observando as Figuras 21 e 22.b verifica-se que
esta ltima modela melhor o comportamento do material (em todos os pontos medidos).
0,09
0,08
Perda em [J/kg]
0,07
0,06
0,05
0,06
PerdaTotal exp.
Perda Total
Perda por Histerese
Perda por Corr. Fouc.
Perda Excedente
0,05
0,1
Wtot = 0,0207Bm1,7011
Wh = 0,0122Bm1,6742
Wf = 0,0066Bm2
We = 0,0020Bm1,5
0,04
0,03
0,04
0,02
0,03
0,02
0,01
0,01
0
0
0,2
0,4
0,6
0,8
1
1,2
Induo em [T]
1,4
1,6
1,8
0
0
50
100
150
200
Freqncia em [Hz]
250
300
87
0,12
0,08
0,06
0,1
0,08
0,06
0,04
0,04
0,02
0,02
0
0
0,2
0,4
0,6
0,8
1
Induo em [T]
Perda em [J/kg]
0,1
0,12
1,2
1,4
1,6
1,8
0
20
40
60
80
100
120
Freqncia em [Hz]
140
160
180
88
direo transversal. Os resultados foram obtidos para de 0,1 1,10 com passo de 0,01 e para
kf > ke.
0,08
0,1
0,08
Perda em [J/kg]
0,07
0,06
0,05
0,07
0,09
Wtot = 0,0260Bm
1,6767
Wh = 0,0177Bm
2
Wf = 0,0073Bm
1,5
We = 0,0009Bm
0,04
0,06
0,05
0,04
0,03
0,03
0,02
0,02
0,01
0,01
0
0
0,2
0,4
0,6
0,8
Induo em [T]
1,2
1,4
1,6
0
20
1,8
40
60
80
160
180
200
0,12
Perda em [J/kg]
0,08
0,06
Wtot = 0,0290Bm1,7001
Wh = 0,0192Bm1,6162
Wf = 0,0073Bm2
We = 0,0026Bm1,5
0,04
0,03
0,04
0,02
0,02
0,01
0
0
0,2
0,4
0,6
0,8
Induo em [T]
0,05
0,1
0,06
1,2
1,4
1,6
1,8
0
20
40
60
80
100
120
140
Freqncia em [Hz]
160
180
200
89
As figuras 24.b, 25.b e 26.b mostram que a curva da perda total calculada segue
praticamente o mesmo comportamento da curva experimental, havendo erros de dimenses
desprezveis.
3.5 Concluso
A estratgia de referncia foi utilizada como base para o desenvolvimento da estratgia
de generalizao. A estratgia de referncia apresenta a vantagem de utilizar dados de dois
ensaios (da perda total e da perda por histerese). Entretanto, sua desvantagem reside no fato de
poder fornecer como soluo uma separao das perdas que apresenta um erro maior que o
obtido pelas demais estratgias, mas, o erro tolervel.
A estratgia de generalizao apresenta a desvantagem de utilizar trs ensaios (da
perda total com variao da induo, ensaio da perda por histerese com variao da induo e
ensaio da perda total com variao da freqncia). Entretanto, atinge um conjunto de
parmetros do modelo melhor, comparando-se com a estratgia de referncia.
A estratgia de eliminao da perda por histerese apresenta vantagem de no exigir
equipamentos que permitam realizar o ensaio em freqncias muito baixas onde se possam
desprezar as perdas dinmicas. Por outro lado, esta estratgia mostrou-se ser mais eficiente
que as estratgias de referncia e de generalizao por fornecer um erro menor. Na estratgia
de eliminao da perda por histerese so necessrios apenas dois ensaios (da perda total com
variao da induo e da perda total com variao da freqncia).
Pode-se concluir que a estratgia de eliminao da perda por histerese alm de reunir
as vantagens das estratgias anteriores (dois ensaios e atingir um conjunto de parmetros do
modelo melhor), elimina o ensaio crtico em baixas freqncias. O conjunto de busca da
estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese maior que o conjunto de busca das
estratgias de referncia e de generalizao, porque kh e tambm so incgnitas. Isto
apresenta uma vantagem de se poder encontrar um conjunto mais prximo dos valores reais.
90
4. CONCLUSO GERAL
Este trabalho abordou as normas de caracterizao de lminas de ao ao silcio de gro
no orientado. Fez-se uma sinopse comparando as normas brasileira NBR5161, americana
ASTM A343, japonesa JISC 2550 e norma da comisso eletrotcnica internacional IEC 404-2.
Restringiu-se o estudo sobre a determinao das perdas magnticas e permeabilidade
magntica do material. Como resultado, organizou-se um roteiro com diretrizes e sugestes
para ser utilizado desde a obteno das amostras, ensaios, procedimentos de clculos, at o
relatrio final sobre a caracterizao. Sabe-se que trabalhos desta natureza at o presente
momento foram raros no Brasil, e at mesmo no exterior. Assim, julga-se que este trabalho
seja relevante para o meio industrial, pois auxilia a avaliao dos valores apresentados nos
catlogos dos materiais dos fabricantes, realizados sob as diversas normas, bem como auxilia
aquelas empresas que forem realizar a caracterizao do material para efeitos de controle de
qualidade ou na elaborao de uma caracterizao conforme tal norma. Por vezes, h textos
repetitivos. A inteno que o leitor tenha um resumo da sinopse, podendo averiguar o que
cada norma trata em especfico sobre determinado assunto.
Realizou-se a caracterizao de uma amostra de um material conforme as quatro
normas estudadas. Comentou-se os resultados obtidos e as dificuldades de se utilizar a
instrumentao padro convencional. No geral, como de se esperar, a aplicao das vrias
normas conduzem a praticamente uma mesma caracterizao do material.
Uma contribuio relevante deste trabalho o desenvolvimento da estratgia de
eliminao do ensaio da perda por histerese. Esta estratgia no necessita equipamentos que
atingem freqncias baixas (por exemplo 1Hz) onde se possam desprezar as perdas dinmicas.
Com as vantagens da estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese apresentadas e
com os resultados obtidos, recomenda-se a utilizao desta estratgia no processo de
separao das perdas no material.
A estratgia de generalizao apresenta a desvantagem de utilizar trs ensaios (da
perda total com variao da induo, ensaio da perda por histerese com variao da induo e
ensaio da perda total com variao da freqncia). A estratgia de eliminao do ensaio da
perda por histerese apresenta a vantagem de no exigir equipamentos que permitam realizar o
91
ensaio em freqncias muito baixas onde se podem desprezar as perdas dinmicas. Por outro
lado, esta estratgia mostrou-se ser mais eficiente que a estratgia de generalizao por
fornecer um erro menor. Na estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese so
necessrios apenas dois ensaios (da perda total com variao da induo e da perda total com
variao da freqncia). Podemos concluir que o conjunto de busca da estratgia de
eliminao do ensaio da perda por histerese maior que o conjunto de busca da estratgia de
generalizao, porque kh e tambm so incgnitas. Isto apresenta uma vantagem de se poder
encontrar um conjunto mais prximo dos valores reais.
Para continuidade desta pesquisa, os seguintes temas so propostos: anlise de erro
referente s medies utilizando os procedimentos normativos; preparar e adquirir
conhecimentos para implementao de laboratrio padronizado de caracterizao magntica
de lminas de ao ao silcio; desenvolvimento de um novo modelo para a perda por histerese
que contemple a regio de altas indues; adequar a estratgia de eliminao do ensaio da
perda por histerese para modelar outros tipos de materiais; desenvolver uma estratgia de
separao das perdas magnticas baseada em um ensaio em nica freqncia; realizar um
estudo da perda magntica considerando-se o efeito pelicular das correntes induzidas.
Como existe dificuldade de identificao das componentes da separao das perdas
apresentada pela norma brasileira, como perda por histerese e perda por correntes de Foucault,
recomenda-se utilizar a metodologia de separao das perdas em trs componentes: perda por
histerese; perda por correntes de Foucault e perda excedente. Este modelo para as perdas
magnticas em trs tipos apresenta resultados mais prximos realidade [4].
Como a condutividade eltrica do material varia na extenso do lote de ao e como a
espessura do material de dimenso muito pequena e varivel no recomenda-se obter a perda
por correntes de Foucault atravs de clculo utilizando estas duas grandezas. Como o
comportamento da perda em funo da freqncia no linear, no recomenda-se a obteno
da perda por histerese extrapolando-se esta curva para freqncia nula.
92
93
Fio de nylon
y
E
x
gua
Suporte
Balana
F = ma
i
(A1.1)
E p=0
(A1.2)
94
v d g mg = 0
(A1.3)
vd = m
(A1.4)
assim, E = m
(A1.5)
(A1.6)
Como a densidade de massa varia com a temperatura, este valor deve ser lido durante o
ensaio. O seguinte procedimento pode ser seguido: mede-se a massa de 5ml de gua obtendose a relao g/ml. Sabendo-se que 1m3 = 1000 l e aplicando converses pertinentes, obtm-se
o valor da densidade do lquido utilizado w em kg/m3.
Com estes dados, o valor da densidade do material pode ser determinado utilizando-se
a equao NBR (1.1) reescrita como: =
me . w
.
me mi
95
96
(A2.1)
U2 =
1
2
(U 2 (t )) dt . Para U 2 (t ) = U pico sen( wt ) obtm-se
T 0
T
1
2
U2 =
(U pico sen( wt )) dt
T 0
Assim,
U2 =
U pico
2
De (A2.1) e (A2.2) define-se que U 2 = 1,11U 2
(A2.2)
97
98
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
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[2]
[3]
[4]
[5]
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JAPANESE INDUSTRIAL STANDARD. Test Methods for Magnetic Steel Sheet and
Strip. JIS C 2550. 2000.
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INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION. Magnetic Materials Methods of Measurement of the Magnetic Properties of Electrical Steel Sheet and Strip
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Strategy for Iron Losses Separation. In: PIERS (2004, Pisa).
[11] HOFFMANN, Rodolfo; VIEIRA, Snia. Anlise de Regresso: Uma Introduo a
Econometria. 2a edio. So Paulo: hucitec, 1977.
[12] LEHMANN, Charles H.Geometria Analtica. 6 edio. Rio de Janeiro: Editora globo,
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[13] RUGGIERO, Mrcia A. Gomes; LOPES, Vera Lcia da Rocha. Clculo Numrico:
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