Manual Ultrasonido IQT Chile Nivel I

INDICE
INDICE............................................................................................................................2
ENSAYO DE ULTRASONIDO .................,,,,..................................................................4
1.- PRINCIPIOS ACSTICOS........................................................................................4
1.1 OSCILACIN ...........................................................................................................4
1.2 ONDAS:....................................................................................................................6
1.3 TIPOS DE ONDAS:..................................................................................................8
1.31 Onda longitudinal....................................................................................................8
1.32. Onda transversal: .................................................................................................9
1.4. SONIDO...................................................................................................................9
1.41- Propagacin del sonido:......................................................................................10
1.42 .El comportamiento de ondas snicas en superficies limites...............................12
1.43. Dispersin, difraccin , interferencia: ..................................................................15
1.44. Disminucin de la presin snica........................................................................17
2. PRINCIPIOS BASICOS DE LOS
INSTRUMENTOS................................................................20
2.1. GENERACIN DE ULTRASONIDO.................,.............................................. 20
2.11. Procedimientos mecnicos.......................................................,..................
20
2.12. Efecto magnetoestrictivo .................................................................................. 20
2.13. Efecto piezoelctrico ......................................................................................... 20
2.2. PROCEDIMIENTO DE ENSAYO ULTRASONICO.......................................... 23
2.21. Procedimiento de transmisin......................................................................... 23
2.22. Procedimiento de pulso-eco........................................................................... 25
2.23. Otros procedimientos de ensayo ................................................................... 27
2.3. PALPADORES............................................................................
28
2.31 Propiedades..................................................................................................... 28
2.32. Campo snico................................................................................................. 29
2.33. Descripcin de palpadores ultrasnicos .......................................................... 31
2.4. EQUIPOS DE ENSAYO ULTRASONICO ................................................
43
2.41. Instrumental bsico ....................................................................................
43
2.5. SISTEMAS DE REPRESENTACION ............................................................. 49
2.51 Representacin "Tipo A" (o pantalla Tipo A) ............................................
49
2.52 Representacin "Tipo B" ............................................................................
49
2.53 Representacin "Tipo C" .................................................................................. 50
2.6. BLOQUES PATRONES DE CALIBRACION Y DE REFERENCIA..................... 51
2.61 Bloques de calibracin ..................................................................................... 51
2.62 Bloques normalizados de referencia...........................................................
51
3.- PRINCIPIOS BASICOS DE APLICACIN ........................................................ 54
3.1. ACOPLAMIENTO...........................................................................................
54
3.2. SUPERFICIE DE LA PIEZA DE ENSAYO ...................................................
54
3.21. Rugosidad.......................................................................................................... 54
3.22. Curvatura ...................................................................................................
55
3.23. Recubrimiento...........................................................................................
57
3.3. SELECCION DE LOS PALPADORES........................................................
57
3.31. Procedimiento de ensayo ............................................................................... 57
3.32. Seleccin de la direccin del haz ultrasnico.................................................... 57

3.33. Seleccin de la frecuencia de ensayo ............................................................. 58
3.34. Seleccin del tamao del transductor.......................................................
59
3.4. AJUSTE DEL EQUIPO ...............................................................................
61
3.5. TECNICA DE INMERSION.................................................................................. 61
3
Calculo de compensacin en ultrasonido por
inmersin...........................................................66
3.6. INTERPRETACION DE LA PRESENTACION EN LA PANTALLA DE TRC....... 68
3.61. Indicaciones de defectos .........................................................................
69
3.62. Indicaciones de defectos aparentes ................................................................ 72
3.7 DETERMINACION DE LA FORMA Y TAMAO DE DISCONTINUIDADES...... 77
3.71. Discontinuidades grandes.............................................................................. 78
3.72. Discontinuidades pequeas ........................................................................
79
Diagramas AVG....................................................................................................
79
Mtodo DAC .....................................................................................................
82
Descripcin de reflectividades:................................................................................. 82
3.9. PROCEDIMIENTOS GENERALES DEL ENSAYO ULTRASONICO.................. 87
Bibliografa: ..........................................................................................................
89
ENSAYO DE ULTRASONIDO
1.- PRINCIPIOS ACSTICOS
Para obtener una mejor comprensin de los fenmenos que ocurren en el ensayo no
destructivo de ultrasonido, es necesario recordar algunos pocos conceptos fsicos
bsicos.
1.1 OSCILACIN
Como punto de partida consideremos el trmino oscilacin y todas sus caractersticas
relacionadas. Un ejemplo bien conocido de oscilacin son los pndulos o las cuerdas
de un instrumento musical, cuya caracterstica comn de oscilacin en ellos es el
cambio regular de su valor de estado (por ejemplo posicin de una partcula de la masa)
o el peridico alcance de una condicin instantnea (en un pndulo, por ejemplo, el
punto de inversin derecho o izquierdo). Un
pndulo puede moverse veloz o lentamente, fuerte o dbilmente; dos pndulos
idnticos pueden
oscilar en el mismo sentido o no con otro.
Los siguientes trminos estn relacionados con las vibraciones y sern abreviadamente
definidos como sigue:
OSCILACIN (CICLOS): cambio peridico de la condicin o el comportamiento de un
cuerpo.
PERODO: tiempo necesario para llevar a cabo una oscilacin, por ejemplo el tiempo
en que un cuerpo se mueve un ciclo completo relacionado al momento de estados
idnticos. Este se designa "t" y es usualmente expresado en segundos (seg.), ver figura
1.
Fig. 1 : Oscilacin de un pndulo ( derecha) y su representacin grfica vs. el tiempo
FRECUENCIA: Es la inversa del perodo o el nmero de oscilaciones (ciclos) por unidad

de tiempo. La frecuencia se la designa con "f" dando la relacin:
La unidad es el "Hertz" (Hz).

1 Hertz (Hz) = 1 ciclo por segundo.
1 Kilohertz (KHz) = 103 Hz = 1000 ciclos por segundo.
1 Megahertz (MHz) = 106 Hz = 1 milln de ciclos por segundo.
1 Gigahertz (GHz) = 109 Hz = 109 ciclos por segundo.
Fig.2: Ejemplo de oscilaciones con diferentes tiempos y frecuencias.
AMPLITUD: Es la mxima desviacin del cuerpo oscilante desde la posicin de
equilibrio
(posicin cero), ver figura 3 .
Si la amplitud (designada por "A") es constante en el tiempo, la oscilacin es
desamortiguada; si
esta decrece con el tiempo, se la llama oscilacin amortiguada, ver Fig. 5.
Fig. 3: Definicin de la amplitud A de una oscilacin
FASE: Es la condicin instantnea en una oscilacin: el concepto se aplica
principalmente cuando
se comparan 2 oscilaciones, de modo que es tambin llamado diferencias o
desplazamiento de
fases, ver Fig. 4. La diferencia de fase, designada por "", es comnmente
dimensionada en
grados de ngulo, donde el perodo t corresponde a un ngulo de 360 (crculo) ,
1 Principios acsticos
Ing. Ricardo Echevarria- Lab. END -F.I. - Univ. Nac. Comahue
6
Fig. 4: Ejemplo de oscilacin con diferencia de fases ""
AMORTIGUACIN o ATENUACIN: Decremento en el tiempo de la amplitud de una
oscilacin.
Las diferentes razones por lo que sucede esto, se vern ms adelante. Ver Fig. 5 .
Fig. 5: Oscilaciones amortiguadas y desamortiguadas
1.2 ONDAS:
Hasta aqu se ha considerado el comportamiento de un cuerpo simple ( por ejemplo el
pndulo). La misma consideracin se puede aplicar ahora aplicada a partculas
elementales
(tomos y molculas) de un cuerpo. Aqu deben ser discutidas algunas caractersticas
de gran
importancia para el ensayo ultrasnico debido al gran nmero y a las fuerzas actuantes
entre ellos
(tomos y molculas).
Si varios cuerpos son acoplados entre s rgidamente y a uno de ellos se lo hace oscilar,
todos
los otros oscilarn en la misma fase, frecuencia y amplitud; mientras sea
desamortiguado, esto
puede ser considerado como una entidad, ver Fig. 6.

Fig. 6: Modelo de acoplamiento rgido.
7
No obstante, si estos cuerpos no estuvieran unidos uno con otro, los dems
permaneceran en
reposo si uno de ellos oscilase (Fig. 7) .
Fig. 7: Modelo sin uniones
Cuando hay una unin elstica entre estos cuerpos (por ejemplo varios pndulos unidos
por
elsticos (o resortes) Fig. 8), la oscilacin de uno de los cuerpos ser gradualmente
transmitida al
adyacente y as siguiendo. De esta forma se produce una onda. Ver Fig. 9 .
Fig. 8: Modelo con acoplamiento elstico.
Fig. 9: Modelo de una onda (longitudinal) y su propagacin. :longitud de onda
Las definiciones relacionadas a la ocurrencia y la propagacin de ondas son las
siguientes:
Onda: es la propagacin de una oscilacin y sucede cuando una partcula oscila
transmitiendo su
vibracin a la adyacente.
Las partculas adyacentes tienen una diferencia de fase constante.
8
El grfico de una onda es similar al de una oscilacin, pero versus una distancia en
lugar del
tiempo.
Acoplamiento : Unin entre dos partculas adyacentes o medio, y es el factor necesario
para la
ocurrencia y propagacin de ondas. Un acoplamiento total (rgido) o el no acoplamiento
total
nunca ocurre en la naturaleza, esto vara dentro de lmites amplios. El acoplamiento es
producido
por fuerzas atmicas o moleculares elsticas de enlace, por friccin, por gravitacin,
etc.
Velocidad de propagacin (velocidad snica): es la velocidad de propagacin de
una onda,
relacionada a iguales fases, por lo que de all tambin es llamada velocidad de fase.
Es designada por "c" (en alguna bibliografa tambin como "v") y se expresa en cm/s ,
m/s
Km/s .
La velocidad snica es una propiedad del material.
Longitud de onda: es la distancia entre dos puntos adyacentes de condicin de
oscilacin
equivalente o igual fase, mirando en la direccin de propagacin. La longitud de onda
es una
magnitud muy importante, designada por " ", y cuya relacin de aplicabilidad es la
siguiente:
.=c*t=
f
c
;f=
l
c
; c = lf (2)
1.3 TIPOS DE ONDAS:
La propagacin de ondas puede ocurrir en dos direcciones:
a) en la direccin de oscilacin de las partculas
b) en la direccin perpendicular de oscilacin de las mismas.
Existen los siguientes tipos de ondas:
1.31 Onda longitudinal
Aqu, la direccin de oscilacin de las partculas coincide con la direccin de
propagacin de la
onda como muestra la Fig. 9. Como ejemplo, se puede mencionar una onda normal (
variacin de
compresin) en aire. Por esto es tambin llamada onda de compresin, ver Fig. 10.
Fig. 10:Ondas longitudinales y transversales
9
1.32. Onda transversal:
La direccin de oscilacin de la partcula es perpendicular a la direccin de propagacin
de la
onda. Un ejemplo obvio, an cuando no sea correcto en el sentido fsico, es el
encontrado en
ondas en agua (oscilacin vertical, propagacin horizontal)
En la Fig. 10, estos dos tipos de ondas son comparadas con sus explicaciones
pertinentes.
Los pequeos puntos representan las partculas elementales del medio. Por aadidura,
pueden
ser posible combinaciones de estos dos tipos de ondas lo que ser discutido ms
adelante .
1.4. SONIDO
Consideraremos el captulo de sonido fuera del amplio campo de las oscilaciones y
procesos de
ondas y explicaremos esto algo ms detallado debido a que es de importancia en el
mtodo de
ensayo.
El sonido, como se conoce diariamente, se propaga en forma de ondas. En oposicin
a las ondas
magnticas, calricas y lumnicas est asociado con la presencia de materia.
En el rango de sonido audible uno puede distinguir:
Tonos: esto es determinado por la frecuencia.
Volumen: depende de la amplitud de oscilacin .
Timbre: es determinado por la ocurrencia de varias frecuencias simultneamente, por
las varias
amplitudes de una oscilacin individual , y por la duracin de las diferentes

componentes del
sonido.
Respecto a la frecuencia (tonos), ms all de las divisiones que puedan ser hechas, se
sabe que
no todas ellas son audibles para el odo humano. Solamente lo es un cierto rango, con
un lmite
superior e inferior, el cual puede diferir entre individuos y que puede variar con la edad.
El lmite
inferior de audibilidad se halla alrededor de 16 Hz, y el superior alrededor de 20 KHz.
De acuerdo con convenios internacionales , el rango es ahora subdividido como sigue:
Subsnico: f < 16 Hz; esto es el rango de vibracin debajo del lmite de audibilidad. No
se
escuchar ningn tono , solo se notar presin.
Sonido audible: 16 _ f _ 20 Hz, rango de frecuencias de sonido que son audibles por
el odo
humano.
Ultrasonido: f > 20 KHz, estas frecuencias estn por encima del lmite de escucha
humana. Las
frecuencias usuales para los ensayos no destructivos son en el rango de 0.5 a 25 MHz.
Ver
Fig.11.
Fig. 11: Espectro acstico
Se puede hacer una subdivisin de acuerdo a la duracin del sonido en :
10
Sonido continuo: la duracin del sonido es mucho mas larga que el tiempo de
oscilacin ,
Sonido pulsado: aqu la duracin del sonido es solamente unas pocas veces el tiempo
de
oscilacin. El intervalo entre dos pulsos es mucho mas largo que la duracin del pulso,
ver Fig.
12.
Fig. 12: Sonido continuo y por pulsos graficado vs. tiempo ,
1.41- Propagacin del sonido:
Como ya se mencion, la propagacin de las ondas sonoras esta vinculado a la materia.
Por
ejemplo si una onda sonora se est propagando, debe existir un material slido, lquido
o
gaseoso, por lo que se deduce que la onda sonora no es ms que la propagacin de
las
vibraciones de las partculas del material elstico. Ya que lquidos y gases no ofrecen
ninguna
resistencia a los esfuerzos cortantes, las ondas transversales (ondas de corte) no
pueden ser
propagadas en estos medios.
En lquidos y gases solamente pueden ser
propagadas ondas longitudinales.
Por esta razn, el ejemplo dado en 1.32 no es aplicable a esto.

En materiales slidos, se pueden propagar las ondas longitudinales
y transversales como as tambin todas sus combinaciones.
Las ondas longitudinales o transversales puras, slo se formarn si el espesor del
material con
respecto a la direccin de propagacin de la onda, es considerablemente mayor que la
longitud
de onda .
De otro modo, se formaran en las chapas o lminas, un tipo de ondas combinadas de
los dos
anteriores, que son llamadas ondas de chapa o Lamb. Estas ondas se pueden
subdividir en
ondas de dilatacin y flexin adicionales, ver Fig. 13.
Fig. 13: Tipos de ondas de Lamb. Arriba: onda de dilatacin. Abajo onda de flexin .
11
Una nueva combinacin de ondas longitudinales y transversales son las ondas
superficiales, ver
Fig.14, las cuales pueden existir solamente a lo largo de la superficie, siendo capaces
de seguir
una superficie curvada. Como se puede ver en la figura 14, la profundidad de
penetracin de una
onda superficial es aproximadamente igual a la mitad de la longitud de onda.
Fig. 14: Onda superficial.
Para completar, tambin sern mencionadas las ondas de torsin, las cuales se pueden
dar en
cuerpos con forma de barras. Estas, son oscilaciones rotacionales alrededor del eje
longitudinal
de la barra, la direccin de propagacin se sita en la direccin del eje longitudinal.
La velocidad de propagacin (velocidad de sonido) de
ondas longitudinales, transversales o de superficie, son
constantes del material, independientes de la
frecuencia y dimensiones del material.
Existe la siguiente correlacin:
Cl= (3)
(1 )(1 2 )
1mm
m
r
E
Cl= ( )
()
4
21
1
r m
E
Cs = 0.9 t
Donde Cl = velocidad de la onda longitudinal.
Ct = velocidad de la onda transversal.
Cs = velocidad de la onda superficial.
E = Mdulo de elasticidad de Young
= densidad.
= constante de Poisson.
La velocidad de propagacin de las ondas Lamb (tipos
de flexin y dilatacin) y las ondas de torsin dependen
no solamente de las constantes del material dadas
arriba, sino tambin de las dimensiones del mismo, del
tipo de onda y de su frecuencia. La dependencia de la
frecuencia de la velocidad de onda del sonido, es
tambin llamada " dispersin"
Las ondas snicas que se esparcen uniformemente en todas direcciones son llamadas
ondas
esfricas, aquellas que se esparcen slo en una direccin, ondas planas.
1.42 .El comportamiento de ondas snicas en superficies limites
1.421. Direccin del sonido en superficies limites perpendiculares .
Si una onda snica incide normalmente en la interfase de dos materiales, una parte de
la energa
snica es transmitida al otro material, mientras que otra parte ser reflejada, como se
muestra en
la figura 15 .
Fig. 15: Incidencia del sonido normal a la interfase entre dos medios.
Las proporciones de energa transmitida y reflejada dependen de la impedancia de los
dos
materiales .
La impedancia acstica se puede calcular como:
Z = r * c (6)
Donde Z = impedancia acstica
= densidad del material del medio considerado
C = velocidad del sonido del medio considerado
Si una onda snica viaja a travs de un material con impedancia acstica Z1, e incide
perpendicularmente en una interfase correspondiente a otro material con impedancia
acstica Z2,
se pueden definir las siguientes magnitudes:
Factor de reflexin : R =
21
21
ZZ
ZZ

(7)
Factor de transmisin : T' =
21
2
ZZ
Z
(8)
El factor de reflexin da la proporcin (%) de presin acstica reflejada y el factor de
transmisin
da la proporcin de presin acstica transmitida en el segundo material .
"R'" puede ser positivo o negativo, "T'" puede ser mayor o menor que 1, dependiendo
cul de
los dos, Z1 Z2 es mayor. Esto no esta en contraposicin con el principio de energa,
sino que
aqu se considera la presin acstica y no la energa (o intensidad) acstica. Un material
con alta
impedancia acstica es llamado "acsticamente duro" y uno de baja impedancia,
"acsticamente blando".
Si la impedancia acstica de los dos medios
son iguales (Z1= Z2), no hay reflexin ( R'=
0 ), el sonido pasa a travs de la 1interfase
si alterarse (T'= 1).
Ser mencionado nuevamente que los valores de R' y T' estn relacionados con la
presin y no
con la intensidad acstica. Esta forma de representacin ha sido elegida
deliberadamente, puesto
que la amplitud del eco que aparece indicado en un equipo de ultrasonido es
proporcional al valor
de la presin acstica .
De las expresiones (7) y (8) se deduce, en primer lugar, que la presin acstica reflejada
ser de
la misma amplitud, cualquiera sea el lado de la superficie lmite sobre el cual incide la
onda, es
decir, independiente de la secuencia de ambos materiales; si bien en el caso de ser Z2>
Z1, R'
ser positivo lo que indica que la onda incidente y la reflejada estn en la misma fase
y, en caso
contrario, (Z2 < Z1), R' ser negativo, lo que indica una inversin de fase de la onda
reflejada
con relacin a la incidente .
En cambio, la presin acstica transmitida, si bien en fase con la onda incidente, no
ser
independiente de la secuencia de los dos materiales, de manera que se Z2> Z1 , T' >1,
lo que
indica que su amplitud ser mayor que la de la onda incidente y en caso contrario ( Z2<
Z1 , T1'<1)
menor. Ver Fig.. 16 .
2
Onda incidente en acero Onda incidente en agua

Fig. 16: Valores de la presin acstica en el caso de reflexin en una superficie. Lmite
aceroagua
14
Si se quiere hallar la relacin entre las impedancias acsticas y la intensidad
denominamos:
R=
Ii
Ir al coeficiente de reflexin
T=
Ii
It
al coeficiente de transmisin
Ambos adimensionales que expresan el porcentaje de intensidad reflejada y
transmitida,
respectivamente, en relacin con la intensidad incidente.
El balance de energa, expresada en intensidad, nos da:
y por consiguiente
De la teora de la propagacin de ondas acsticas se obtiene:
2
21
21 1
ZZ
ZZ
R ; 2
12
4
ZZ
ZZ
T
De aqu se deduce que, desde el punto de vista de las intensidades acsticas, es

indiferente el
lado de la superficie lmite sobre el cual incide la onda, ya que los valores de R y T no
cambian al
permutarse entre s Z1 y Z2, a diferencia de lo que ocurra con las presiones acsticas.
1.422. Incidencia oblicua en la interfase
Si la onda snica incide sobre la interfase con un ngulo oblicuo, los fenmenos que
ocurren son
12
considerablemente ms complicados que con una incidencia normal. Nuevamente hay

una
componente reflejada y otra transmitida, pero el hecho adems origina que parte de la
energa
acstica sea convertida en otro tipo de onda, por lo que habr dos ondas reflejada y
dos
transmitidas, ver Fig.. 17 .
Fig. 17:Incidencia oblicua de una onda snica .
Ii= Ir + It R + T= 1
15
A partir de la incidencia de una onda longitudinal con un ngulo oblicuo se crearn:
- Una onda longitudinal reflejada.
- Una onda transversal reflejada.
- Una onda longitudinal refractada.
- Una onda transversal refractada.
En medios lquidos y gaseosos, por supuesto, la componente transversal asociada
desaparece.
Las diferentes direcciones estn definidas por el ngulo formado entre la onda y la
normal en el
punto de incidencia sobre la interfase.
Con una incidencia oblicua del sonido sobre la interfase entre dos medios, se aplican
leyes fsicas
similares a las utilizadas en ptica .
Con una proporcin de sonido pasando a travs de la interfase, uno hablar, por
analoga con la
ptica, de "refraccin" u "onda refractada", mientras la expresin "reflexin" se
conservar.
La ley de Snell de refraccin, bien conocida en ptica, es tambin vlida aqu y es :
sen a 1 = C1 ; sen a 1 = sen a 2 (10)

sen a 2 C2 C1 C2
La relacin es aplicable para todo tipo de ondas, independientemente si uno esta
trabajando con
la componente reflejada o refractada. Solo los ngulos correspondientes y las
velocidades de
propagacin deben ser introducidos en la frmula .
1.43. Dispersin, difraccin , interferencia:
Si una onda snica encuentra un obstculo, por ejemplo un medio con diferentes
propiedades
acsticas, pueden ocurrir varios fenmenos, dependiendo del tamao del obstculo.
Los
siguientes tres casos sern apuntados, ver Fig. 18.
Fig. 18: Dispersin y difraccin de ondas en obstculos .
16
a) El obstculo es pequeo comparado con la longitud de onda, en este caso, aquel no

interfiere
la propagacin de la onda y sta viaja como si el obstculo no estuviera presente.
1.431. Dispersin.
b) Si el tamao del obstculo es del mismo orden de magnitud que el de la longitud de
onda, el
proceso de propagacin, como un todo, es dbilmente interferido, aunque, algo de
energa de la
onda es absorbida. Esta energa se extender como una nueva onda esfrica en todas
direcciones, con el obstculo como punto central. Este proceso es llamado " dispersin
".
La dispersin est ilustrada grficamente por la ley de reflexin y refraccin en la Fig.
19.
Fig. 19:Esquema de dispersin acstica
1.432. Difraccin.
c) Si tenemos un obstculo ms grande que la longitud de onda, y si adems asumimos
que la
impedancia acstica del obstculo difiere mucho del de los alrededores, se producir
una
reflexin de la onda en el mismo. En efecto, no habr onda de propagacin detrs de
l (sombra
de la onda), pero esta sombra ser cada vez menor con el incremento de la distancia
desde el
obstculo. Esto ocurre porque las partes de la onda que corren a lo largo de los bordes
del
obstculo son algo curvadas (difractadas) y corren oblicuamente hacia el interior de la
sombra. De
la misma forma el haz de onda reflejado se abre hacia el frente. Este proceso es llamado
difraccin", ver Fig. 18 .
Por supuesto , estos procesos no son aislados unos de otros, mas bien ocurren con
una
transicin gradual, dependiendo del tamao del obstculo. As se produce "difraccin"
y
"dispersin" en un obstculo de tamao medio.
1.433. Interferencia
Hay an otro fenmeno: la nueva onda reflejada se superpone con la original tal que,
dependiendo de las fases de ellas, se puede producir un refuerzo, un debilitamiento, o
una
completa anulacin.
Si la onda original tiene un pico (mximo) al mismo tiempo que la reflejada, las dos se
sumarn,
y el pico de la nueva onda ser mayor que la original. En cambio, puede ocurrir la
desaparicin
cuando el mximo de una coincide con el mnimo de la otra, o cuando una tenga la
misma altura
que profundidad en la otra. Tal superposicin se llama " interferencia ", ver Fig. 20.
Fig. 20 : Superposicin de ondas

1.44. Disminucin de la presin snica
Al alejarse la onda snica del transmisor, la presin snica disminuye. Esta reduccin
tiene
varias causas:
1.441. Divergencia
Un transmisor snico radia el sonido no solamente en una direccin, sino en un dado
rango
angular (similar a un "cono" luminoso).
La seccin transversal del haz se hace mayor con el incremento de la distancia, de tal
forma que
la energa se distribuye sobre ,un rea cada vez mayor. La cantidad de energa snica
por unidad
de rea as se va haciendo cada vez menor, como se muestra en la figura 21.
Fig. 21: Reduccin de la presin acstica causada por la divergencia.
Este fenmeno es llamado divergencia. Una onda plana no tiene divergencia en
contraposicin a
una onda esfrica (ver tambin captulo 2.32).
1.442. Atenuacin del sonido
El amortiguamiento (atenuacin) del sonido no es causado por la geometra de
propagacin, sino
que es una caracterstica del material.
Los siguientes fenmenos son responsables de la atenuacin del sonido:
1.4421. Dispersin, ver seccin 1.431
1.4422. Absorcin
Parte de la energa acstica disminuye debido a las perdidas por friccin, con lo cual se
convierte
en calor.
Esta "friccin interna" crece con la frecuencia. Materiales con alta friccin interna (igual
a alta
absorcin) se usan como amortiguadores acsticos.
El coeficiente de atenuacin acstico indica la cantidad de atenuacin snica por unidad
de
longitud de recorrido del sonido, para un determinado material. Adems del material, la
atenuacin snica tambin depende de la frecuencia y del tipo de onda.
1.443. Medicin de la atenuacin:
La atenuacin se mide en decibeles (dB), una unidad comparativa logartmica. Esto es
bien
conocido por los electrnicos y definido como:
a [dB] = 20 log U1 (11)
U2
U: voltajes elctricos.
a: atenuacin de la respuesta de ganancia.
As, la altura de las indicaciones de los ecos en la pantalla del osciloscopio son
proporcionales a
los voltajes de los impulsos de los ecos, lo que puede ser escrito como:
H1 = U1 (12)
H2 U2
(H: altura del eco)
y de all:,
20. 1 H
a Log H
Se puede ver que solamente comparando la altura de dos ecos ser posible obtener
evidencias
de la atenuacin del sonido. Tal estimacin es posible si hay posibilidades de
comparacin .
Con una relacin de altura de dos ecos H1/H2 = 2/1 = 2 encontramos:
a = 20 log 2 = 20 2x 10,3 = 6 dB
Esto significa que una reduccin de 6 dB en la altura del eco, corresponde a un
decremento a la
mitad de su altura.
2. PRINCIPIOS BASICOS DE LOS INSTRUMENTOS.

Los modelos del instrumental para ensayos ultrasnicos estn constantemente
cambiando debido
al progreso tcnico; sus principios bsicos tienen, sin embargo, una vigencia inalterable.
Estos conocimientos deberan ser familiares al operador, para que le permitan la
seleccin del
mtodo ptimo para resolver su problema de ensayo entre varias posibilidades.
Esta segunda parte de este apunte describe los tipos de palpadores usados
comnmente tanto
como la construccin de los instrumentos y sus accesorios mas simples.
ULTRASONIDO
De acuerdo a la definicin (inc. 1.4) la regin del ultrasonido comienza ms all de la
frecuencia
de 20 KHz. Para el ensayo no destructivo de materiales reviste particular inters el
rango de 0,5 15 MHz ; en algunos casos especficos ( el ensayo de hormign, por ejemplo), tambin
el rango
de 50 KHz y frecuencias
ms altas.
2.1. GENERACIN DE ULTRASONIDO
2.11. Procedimientos mecnicos.
Existe un gran nmero de mtodos para generar ultrasonidos; en principio sirven ya los
mismos
procedimientos que se emplean para generar sonidos audibles. Si los dispositivos
capaces de
oscilar se construyen con una frecuencia propia correspondientemente alta. Empero,
estos
procedimientos mecnicos, y algunos otros principios, no se utilizan en el ensayo no
destructivo
de materiales, recurrindose por el contrario a otros efectos fsicos, a saber: el efecto
magnetoestrictivo, y sobre todo el efecto piezoelctrico.

2.12. Efecto magnetoestrictivo
Los materiales ferromagnticos (muy especialmente el nquel, adems del acero),
tienen la
propiedad de contraerse o expandirse por efecto de un campo magntico.
Inversamente, en una barra de acero ferromagntico se produce un campo magntico
si es
expuesta a un esfuerzo de traccin o compresin.
Este efecto se aprovecha para lograr altas potencias sonoras a relativamente bajas
frecuencias,
por ejemplo, en el ya mencionado ensayo de hormign o en el caso de algunos otros
problemas
especficos en cuyo detalle no ha de entrarse en este trabajo.
2.13. Efecto piezoelctrico
El efecto piezoelctrico reviste una importancia mucho mayor, siendo aprovechado casi
universalmente para el ensayo no destructivo de materiales. Ciertos cristales naturales
o
sintetizados tienen la propiedad de que en presencia de un esfuerzo de traccin o
compresin se
originan cargas elctricas en su superficie. La carga cambia de signo si se invierte la
direccin del
esfuerzo. As es que en las superficies de un cristal expuesto alternativamente a un
esfuerzo de
traccin y un esfuerzo de compresin existe un potencial alternativamente positivo y
negativo (
tensin alterna).
El efecto piezoelctrico es reversible, es decir, cuando se aplica una carga elctrica a
la superficie
del cristal, esta se contrae o se expande segn el signo de la carga elctrica. Una
tensin
elctrica alterna, aplicada a las superficies del cristal, da origen a oscilaciones
mecnicas de
presin (expansin y contraccin); Fig. 22. De la reversibilidad se extrae, de modo
inmediato, que
puede emplearse el mismo principio para generar y recibir ondas longitudinales
ultrasnicas.
En efecto, en la mayora de los casos se utiliza un mismo cristal como emisor y receptor.
2- Principios bsicos de los instrumentos
Fig. 22: Efecto piezoelctrico del cuarzo (corte X)

El efecto piezoelctrico no es propio de todos los cristales y slo se produce en
determinadas
condiciones. El ejemplo ms conocido es el cuarzo. Un cristal de cuarzo natural tiene
una forma
determinada, siempre recurrente, que se describe con ayuda de los ejes
cristalogrficos,
designados ejes X , Y y Z, igual que en un sistema de coordenadas cartesianas
normales. (Fig.
23).
El efecto piezoelctrico slo se consigue en el cuarzo si la lmina de cuarzo ha sido
cortada del
cristal, perpendicularmente al eje X o al eje Y. En el primer caso, la deformacin
mecnica del
cristal tiene lugar en la misma direccin del campo elctrico; en el segundo caso
perpendicularmente a ella. Por esto se habla de cuarzos, u oscilaciones, de corte X y
de corte Y.
Los cuarzos de corte X generan ondas longitudinales; los de corte Y, ondas
transversales (Fig.
24). En la mayora de los casos entra en consideracin el corte X.
Adems del cuarzo, la turmalina como mineral natural, presenta tambin el efecto
piezoelctrico.
Una significacin mucho mayor han alcanzado los transductores cermicos sinterizadas
que
adquieren el efecto piezoelctrico por "polarizacin", esto es un enfriamiento desde una
alta
temperatura caracterstica del material con exposicin a altos voltajes elctricos. El
efecto
piezoelctrico puede, sin embargo, perderse por despolarizacin cuando se excede la
temperatura de Curie.
Los cermicos sinterizados ms importantes son el titanato de bario, el sulfato de litio,
el zirconato
de plomo-titanio (PZT) y el metanobiato de plomo.
Fig. 23. a) Sistema simplificado de coordenadas en un cristal de cuarzo; posiciones de
cortes X e
Y. b) efecto piezoelctrico del cuarzo.
Fig. 24: Efecto piezoelctrico del cuarzo (corte Y)
2.131. Caractersticas de algunos materiales piezoelctricos.
Cuarzo: fue el primer material usado. Tiene caractersticas muy estables en frecuencia,
sin
embargo es muy pobre como generador de energa acstica y es comnmente
reemplazado por
materiales muy eficientes.
Sulfato de litio: es muy eficiente como receptor de energa acutica, pero es muy frgil,
soluble
en agua y su uso esta limitado a temperaturas por debajo de los 75 C.
Cermicas sinterizadas: producen los generadores ms eficientes de energa
acstica, pero
tienen tendencia al desgaste.
2.2. PROCEDIMIENTO DE ENSAYO ULTRASONICO.
Segn se dijo en 1.42, una onda ultrasnica incidente: en parte se refracta y en parte
se refleja si
existe una variacin de la resistencia a la onda sonora, como en el caso en que exista
un defecto
dentro del material.

De ello se derivan dos procedimientos de ensayo, basados respectivamente, en la
evolucin de la
parte transmitida de la onda o de la parte reflejada de la misma.
2.21. Procedimiento de transmisin
En este procedimiento se evala la parte del ultrasonido que ha sido transmitido a travs
de la
pieza que se ensaya.
A un lado de la pieza se aplica un emisor de sonido y al otro lado, un receptor.
En presencia de un defecto, la intensidad sonora en el receptor disminuye a causa de
la reflexin
parcial o se hace nula en caso de reflexin total (Fig. 25). Lo mismo da que se emplee
sonido
continuo o impulsos de sonido para el ensayo, pues el emisor y el receptor
elctricamente estn
separados entre s.
En este ensayo no se puede determinar la profundidad a la que est localizado el
defecto de la
pieza.
Existen dos zonas de transmisin en el recorrido del sonido
Dado que se utilizan dos palpadores, existen dos zonas de transmisin en el recorrido
del sonido
("acoplamiento") que influyen sobre la intensidad de sonido en el receptor ( la zona de
transicin
del emisor a la pieza objeto y la de la pieza en el receptor).
As mismo es necesario una exacta alineacin geomtrica entre el emisor y el receptor.
Fig. 25: Mtodo por transmisin (esquema)
2.22. Procedimiento de pulso-eco

Este procedimiento que se designa tambin como procedimiento de pulsos o impulsos
reflejados,
utiliza la porcin reflejada del sonido para la evaluacin de defectos. El oscilador
piezoelctrico
funciona a la vez como emisor y como receptor. Como la energa recibida es mucho
ms dbil
que la emitida, aqu no puede operarse sobre la base sonido continuo , emplendose
exclusivamente impulsos de sonido. Un impulso elctrico de cortsima duracin genera
una
anloga onda ultrasnica; inmediatamente despus, mientras an se est propagando
la onda, el
mismo oscilador esta listo para la recepcin. La onda sonora penetra en el material,
hasta que,
como resultado de una superficie lmite, tiene lugar una reflexin parcial o total.
Si la superficie reflectante se encuentra perpendicularmente a la direccin de
propagacin de la
onda sonora, sta es reflejada en su primitiva direccin y al cabo de un tiempo

determinado, que
depende de la velocidad del sonido en el material objeto de ensayo y de la distancia
que existe
entre el oscilador y la superficie reflectante, llega de vuelta al oscilador, siendo
reconvertida en un
impulso elctrico.
Ahora bien, no toda la energa que regresa es reconvertida en energa elctrica, sino
que en la
interfaz entre el palpador y la superficie de la pieza tiene lugar de nuevo una reflexin
parcial ; una
parte menor del sonido atraviesa por segunda vez a pieza, y as sucesivamente. De
este modo se
origina una sucesin de ecos (Fig. 26).
Fig. 26: Formacin de ecos mltiples (esquema)
Debe tenerse presente adems que no solamente el lado posterior, sino cualquier otro
reflector
(defecto) determina ecos mltiples (Fig. 27).
Puesto que se puede medir el tiempo de recorrido y se conoce la velocidad del sonido
de la
mayor parte de los materiales, este mtodo permite establecer la distancia existente
entre el
oscilador y la superficie refractante, o dicho de otro modo, determinar la posicin del
reflector (Fig.
28) . Por esto es que se emplea este procedimiento en la mayora de los casos.
Agregase a ello
que no hay ms que una sola superficie de acoplamiento ( que es atravesada en el viaje
de ida y
de vuelta) entre el oscilador y la pieza, por lo que resulta mucho ms sencillo mantener
constante
el acoplamiento.
Fig. 27: Ecos mltiples causado por el eco de fondo y un defecto (esquema)
2.23. Otros procedimientos de ensayo

Mencionaremos aqu para redondear el cuadro, pero sin entrar en detalles, otros dos
procedimientos de ensayo que no se pueden realizar con los equipos ordinarios de
impulsosecos;
el procedimiento de resonancia y el de modulacin de frecuencias.
Fig. 28: Mtodo de pulso- eco (esquema)
2.3. PALPADORES
2.31 Propiedades
Todos los palpadores utilizados en el ensayo de ultrasonido, no destructivo de
materiales, operan
sobre la base del efecto piezoelctrico.
El transductor, muchas veces designado genricamente pero equivocadamente como

cuarzorecibe
un corto impulso elctrico.
La oscilacin del cristal decae lentamente en su propia frecuencia de resonancia como
ocurre en
el caso de una campana taida brevemente (Fig.29). Esta frecuencia propia surge para
la
oscilacin fundamental, de la ecuacin :
0f
=
d
C
2
(12)
donde c : frecuencia natura
f0 : velocidad del sonido en el material del transductor
d :espesor del cristal.
Fig. 29: Arriba: Vibracin de un cristal dbilmente atenuado y de otro fuertemente
atenuado
Abajo: La misma seal sobre la pantalla del TRC despus de rectificada y filtrada.
Ahora bien, como en el procedimiento de impulso-eco, el cristal, eventualmente debe,
tras un
intervalo extremadamente corto, funcionar otra vez como receptor, es preciso obtener
en el menor
tiempo posible la atenuacin de la oscilaciones inductivas. Pero esta atenuacin no
deber ser
demasiado fuerte tal que reduzca pronunciadamente la sensibilidad del palpado.
Desafortunadamente el requisito de alta sensibilidad de respuesta y, al mismo tiempo,
pulsos
estrechos dando alta resolucin se oponen mutuamente.
El trmino resolucin designa la capacidad de respuesta del palpador, para dar
indicaciones
separadas de dos discontinuidades muy prximos entre s, en forma claramente
separados en la
pantalla del osciloscopio. Adems esto se distingue entre resolucin prxima y
resolucin lejana.
Estas expresiones se
refieren a la distancia desde el transmisor de pulsos (oscilador) y pueden ser diferentes.
Con un oscilador dbilmente atenuado se obtiene una alta
potencia y sensibilidad pero, a causa de lo ancho de los
impulsos un menor grado de resolucin.
Con un oscilador fuertemente atenundose obtiene una
alta resolucin (pulsos angostos) y potencia y sensibilidad
decreciente
El poder de resolucin tambin depende del material del transductor. Los esfuerzos de
los
constructores de los palpadores tienden hacia un compromiso lo ms ventajoso entre

otros
factores condicionantes. En parte hay palpadores construidos especialmente o para alta
potencia
o para alta resolucin .
Para transmitir una cantidad suficiente de energa sonora a la pieza que se ensaya, es
necesario
que el transductor genere unas pocas vibraciones de alta frecuencia. Sin embargo,
oscilaciones
de bajas frecuencias insumen ms tiempo que aquellos palpadores de alta frecuencia (
por Ej. , a
1 MHz, un micro-segundo ;a 10 MHz , 0,1 micro-segundo ) .
2.32. Campo snico
El rea influenciada por las vibraciones transmitidas por el palpador se conoce como
campo
snico. Este es muy importante para la evaluacin del tamao de defectos ; por ello, es
necesario
explicar brevemente algunos trminos especiales que conciernen al campo snico y
comportamiento de la presin acstica en l. Cumpliendo con los principios fsicos, el
cristal
transmite las ondas ultrasnicas nicamente en sentido perpendicular a las superficies
a las que
se aplican cargas elctricas; esto ocurre, aproximadamente, en forma de un haz de
rayos
paralelos, con una seccin transversal correspondiente al
dimetro del transductor para la primera parte de la propagacin.
A una cierta distancia del oscilador, el haz se abre en forma de cono. Esta caracterstica
se
muestra en la figura 30.
Fig. 30: Campo ultrasnico de un transductor.
El rea de rayos ultrasnicos paralelos se llama
campo cercano.
El rea de rayos que se abren cnicamente se
llama campo lejano
La distancia a la cual el campo cercano pasa
sobre el campo lejano es llamada "rango del
campo cercano" o "longitud del campo cercano".
Esto depende del dimetro del cristal y de la
longitud de onda en el material de la pieza de
trabajo y puede ser calculado como sigue:
c
D D f l o
44
22
l
(13)
El significado de los smbolos en la frmula son: I0: longitud del campo cercano; D:
dimetro del
cristal (dimetro efectivo, normalmente un pequeo porcentaje menos que el real); :
longitud de
onda; f: frecuencia; c: velocidad del sonido.
Como la longitud del campo cercano puede ser determinado experimentalmente, las
restantes
magnitudes son derivadas de esto. De esta forma, el dimetro efectivo del cristal se
calcula como:
La presin snica en el campo cercano, y por consiguiente ,la altura del eco causado
por un
defecto en esta zona, depende mucho de la ubicacin del mismo dentro del haz. Las
razones de
este fenmeno son las interferencias en el campo cercano. La estimacin del tamao
del defecto
es prcticamente imposible si ste se encuentra en esa zona (Fig. 31).
Fig. 31.
l 0 D l (14)
En el campo lejano el haz ultrasnico se abre cnicamente. En todo momento, la
presin snica
mxima se encuentra en el eje del sistema sobre el eje del transductor, y decrece
proporcionalmente con la distancia desde el cristal. (Fig.30).
Desvindose desde el eje hacia los laterales, hay tambin una disminucin de la presin
snica.
Esta se considera como 100% sobre el eje de simetra, disminuyendo a medida que
nos
desviamos hacia los lados. Si marcramos todos los puntos, en cualquier direccin y a
cualquier
distancia del cristal, en los cuales la presin snica alcance el 10 % del valor en el eje,
se
obtendra el rea superficial de un cono. El ngulo de apertura de este cono se llama
"ngulo de
divergencia del haz".
El clculo del mismo puede hacerse como sigue:
D
sen
q l 10 1,08 (15)
0
0 ,54 I
sen
q l (16)
Estas frmulas son vlidas para transductores circulares. Para aquellos que sean
rectangulares
las relaciones son algo ms complicadas: en estos la longitud del campo cercano se
calcula como
10
sigue:
b
a
lab
2
1 * 221
0
pl
(17)
donde a : lado mas corto del rectngulo.
b : lado ms largo del rectngulo
l : longitud de onda.
La seccin transversal del campo ultrasnico ya no es circular; el ngulo mayor del haz
lo causa
el lado ms corto del rectngulo, y viceversa ( Fig.32) . Aqu tambin luego de haber
determinado
empricamente la longitud del campo cercano, se puede calcular el dimetro efectivo
sustituto del
transductor.
Fig. 32: Haz ultrasnico de un transductor rectangular (esquema)
2.33. Descripcin de palpadores ultrasnicos
2.331. De incidencia normal
Para un haz de incidencia normal,( la transmisin del sonido es perpendicular a la
superficie de la
pieza) son vlidas las leyes del captulo 1.421.
2.332. El palpador normal
El nombre de "Palpador normal", deriva de la direccin en que las ondas ultrasnicas
viajan en la
pieza ( la direccin perpendicular a la superficie de un objeto se conoce como la
direccin
"normal" ).
El cristal del transductor tiene metalizadas las caras para poder aplicarle pulsos
elctricos. Una de
esas caras se pega al cuerpo amortiguador, la otra puede bien ser acoplada
directamente a la
pieza a ensayar (cristal sin proteccin), o estar cubierta con una capa de material
plstico o
cermico.
Las caractersticas del tamao del palpador dependen de las propiedades de
amortiguamiento o
cuerpo de atenuacin. Los alambres de conexin, soldados a las caras plateadas del
cristal,
suben pasando junto al cuerpo amortiguador hacia una pequea bobina que realiza la
adaptacin
elctrica entre el oscilador y el emisor de impulsos. Dos alambres adicionales van a la
ficha en
que se inserta el cable.
Los palpadores para la tcnica por inmersin tienen en lugar de ficha, un enchufe
directo,
fijamente fundido, para el cable.
La unidad compuesta por el oscilador, el cuerpo amortiguador y la bobina es tambin
llamada
"Inserto" o "Nob", y va alojada en una carcaza metlica puesta a tierra (Fig.33).
Fig. 33: Palpador normal con suela protectora (esquema)
2.3312. Palpadores de doble cristal
Los palpadores de doble cristal combinan dos sistemas de palpadores completos, en
una sola
carcaza. Una barrera acstica entre los dos sistemas evita la transmisin de uno a otro
dentro del
palpador, mientras que uno acta como emisor, y el otro como receptor.
Por esto, el sistema se puede asumir como una combinacin del mtodo de transmisin
y
reflexin. Entre los cristales y la superficie de la pieza que se ensaya hay lo que se
llaman "lneas
de retardo" construidos de plstico (plexigls) o, para superficies calientes, de material
cermico
resistente al calor, lo que hace que el pulso transmisor no coincida con el punto cero de
la
pantalla, correspondiendo a la superficie de la pieza como se conoce con el uso de
palpador
normal.
El pulso transmisor aparece a la izquierda del punto cero y, cuando se lleva a cabo la
calibracin,
esta seal queda afuera del campo de observacin. La propagacin ultrasnica como
muestra la
figura 34 explica el principio:
Fig.34: Palpador con doble cristal (esquema)
La onda ultrasnica generada por el transmisor T primero atraviesa el bloque plstico y
llega a la
superficie lmite entre ste y la pieza, donde una parte del haz es reflejado hacia el
cristal
transmisor. Como ste no esta conectado con la seccin receptora del equipo, la onda
sonora
reflejada no es indicada ( esto sucedera si el palpador fuera normal). La otra parte de
la onda que
fue transmitida dentro de la pieza que se ensaya, viaja hasta la superficie trasera donde
se refleja
y vuelve a la superficie donde , nuevamente una parte es transmitida hacia el bloque
plstico del
receptor y llegando al transductor R, causa en l el primer eco de fondo. Una parte de

la onda ha
sido reflejada en la superficie forzndola a recorrer la pieza por segunda vez antes de
entrar en el
bloque plstico y generar as el segundo eco de fondo. El mismo fenmeno sucede
varias veces,
lo que causa un tercer, cuarto, etc. ecos de fondo.
Calculando desde el comienzo del pulso de emisin, los ecos recibidos aparecern
despus de
haber recorrido las siguientes distancias: 2s + 2d; 2s + 4d; 2s + 6d; 2s + 8d; etc. Los
intervalos de
los ecos mltiples sucesivos corresponden al espesor de la pieza, mientras que la
distancia entre
el pulso emisin y el primer eco de fondo es mayor en 2s correspondiendo al espesor
del
recorrido de retardo ( bloque plstico).
Como, sin embargo, la pantalla del TRC no indica la distancia real sino el tiempo de
recorrido
correspondiente, es necesario convertir la distancia en tiempo de acuerdo a la frmula:
(18)
donde c : velocidad del sonido; a: longitud de onda; t: tiempo de recorrido.
Por esto, las verdaderas distancias sobre la pantalla son las siguientes:
2s + 2d ; 2s + 4d ; 2s + 6d
cs cd cs cd cs cd
donde s: espesor de la lnea de retardo; d: espesor de la pieza de ensayo; cs: velocidad
de
retardo de la lnea de retardo; cd: velocidad del sonido en el material de la pieza.
De una consideracin ms detenida surge que debe, adems, tenerse en cuenta que
las partes
de la onda snica que llegan al oscilador emisor tanto como las que llegan al oscilador
receptor,
son reflejadas nuevamente, y, en el caso del cristal transmisor, penetran en la pieza
con un
retraso de tiempo de2s/cs, y son tambin recibidas con ese retraso.
En el caso del receptor las ondas pueden ser reflejadas en la superficie lmite entre el
bloque de
retardo y la superficie de la pieza, y tambin recibido nuevamente despus del mismo
retraso de
tiempo. Principalmente lo mismo es vlido para los correspondientes ecos mltiples.
Adems
debera ser considerado que en realidad las distancias s y d no son las transversales
del bloque
c
a
t
t
a
c ;
2- Principios bsicos de los instrumentos de plstico y de la pieza, sino levemente mas

largas que estas debido a los ngulos algo oblicuos
del camino snico. Estas diferencias deben ser consideradas para la medicin exacta,
por
ejemplo la medicin de espesores de pared.
Fig. 35: Ecos mltiples de un palpador de doble cristal
La eleccin correcta del material del trayecto previo hace posible la atenuacin de esas
indicaciones de reflexiones de ecos no buscadas de tal forma que no interfieran sobre
la pantalla;
sin embargo, puede aparecer, cerca del punto cero (superficie de la pieza) y, a la
distancia 2s
desde el eco de emisin (Fig. 35), un pequeo "eco de interferencia" causado por una
deficiente
barrera acstica entre el transmisor y el
receptor, que se origina a travs del acoplante. Este eco puede ser suprimido , en
muchos casos,
por un adecuado ajuste del equipo.
Cuando los dos transductores del palpador de doble cristal son levemente inclinados
uno sobre el
otro (Fig. 36), la trayectoria de los haces ultrasnicos se solapan dentro de la pieza de
ensayo. El
palpador de doble cristal tiene la ms alta sensibilidad en el punto de interseccin de
los ejes de
los
haces (Fig. 37). Se produce una zona muerta debido al espesor finito de la barrera
acstica entre
el transmisor y el receptor.
Las ventajas que ofrecen los palpadores de doble cristal son que
prcticamente eliminan la zona muerta.
Se pueden utilizar cristales ms adecuados para las funciones a cumplir. Por ejemplo
se puede
usar titanato de bario como emisor y sulfato de litio como receptor.
Fig. 36: Propagacin ultrasnica de un palpador de doble cristal con ngulo grande y
uno
pequeo
Fig. 37: Influencia de los ngulos sobre la sensibilidad en palpadores de doble cristal
(esquema)
Los palpadores de doble cristal tienen, debido a su estructura general y a la presencia
de los
trayectos de retardo, tericamente una ms baja sensibilidad que los palpadores
normales, pero
una resolucin a corta distancia incomparablemente mejor debido a que no aparece el
eco de
emisin sobre la pantalla, en un equipo ajustado correctamente.
De esta forma , es posible detectar posibles defectos a pocos milmetros por debajo de
la
superficie. Otro campo de aplicacin de estos palpadores es la medicin de espesores.
Se debe sealar que defectos con direccionalidad preferencial, por ejemplo finas lneas
de
inclusiones en productos laminados semi-terminados, mostrarn diferentes grados de
reflexin
dependiendo de la posicin de la barrera acstica con respecto a la direccin del
defecto .
Comnmente, los mejores resultados se obtienen cuando ambas direcciones son
paralelas.
2.3313. Palpadores normales de ondas transversales (corte - Y)
La construccin de estos palpadores es igual a la de los palpadores normales de ondas
longitudinales. Solamente, el transductor en s mismo, tiene una orientacin
cristalogrfica
diferente y, por ello, genera vibraciones cortantes (ondas cortantes) (Fig. 24).El
procedimiento de
transmisin de ondas de corte desde el transductor al interior de la pieza es un problema
difcil
debido a que el lquido acoplante no se puede
usar porque stos son incapaces de transmitir ondas de corte (ver captulo 1.41). El
acople
puede llevarse a cabo utilizando acoplantes rgidos (por ejemplo componentes de
resinas epoxi),
por presin firme del palpador sobre la superficie usando una goma protectora o lamina
plstica
debajo del cristal, o por acople del transductor sobre la pieza con el agregado de cera
de abejas.
Por estas razones, los palpadores con cristales con corte Y son casi exclusivamente
usados en
laboratorios de ensayos, por ejemplo para la determinacin de constantes elsticas de
los
materiales.
2.332. Incidencia oblicua del ultrasonido.
Ya se explic en el captulo 1.422, que una onda que incide oblicuamente es capaz de
generar
cuatro nuevas ondas con diferentes direcciones y velocidades las cuales pueden ser
calculadas
con la ley de refraccin (IX).
2.3321. Palpador angular
El palpador angular consiste esencialmente de un cristal cementado a una cua de
plexigls. De
esta forma se consigue una incidencia oblicua sobre la superficie de la pieza.
Los haces reflejados vuelven a la cua plstica y, o son absorbidos por un atenuador
convirtindose en calor, o se evita el retorno al transductor con una adecuada forma de
la cua
para evitar causar indicaciones de ecos perturbadores. Dentro de la pieza se
propagarn la onda
longitudinal refractada y, adicionalmente, la nueva onda transversal generada. De
acuerdo con la
ley de refraccin (IX) estos dos tipos de ondas tendrn tambin, debido a sus diferentes
velocidades, diferentes direcciones.

Fig. 38: Palpador angular (esquema)
No puede determinarse en la pantalla del equipo si un eco tiene origen en una onda
transversal o
una longitudinal. Por ello una indicacin sobre la pantalla puede tener distintas orgenes
debido a
los distintos ngulos y velocidades de los tipos de ondas, y, no sera posible la
localizacin segura
de un defecto detectado.
Una solucin a este problema est dado por el hecho de que la onda longitudinal tiene,
debido a
su mayor velocidad, un ngulo de refraccin mayor al de la onda transversal (Fig. 39
a).
Incrementando gradualmente el ngulo de incidencia, se llegar a un punto en el cual
la onda
longitudinal no penetrar el medio sino que se propagar a lo largo de la superficie,
mientras que
la transversal permanecer an en la pieza de ensayo (Fig. 3 b).
En este punto, el ngulo entre la direccin de la onda transversal y la perpendicular a
la superficie
ser de 33,2 en el acero. Un incremento adicional del ngulo de incidencia eliminar
la onda
longitudinal ( no existe sen l > 1), por lo que puede ser calculado. Ahora la nica onda
que
existe en el medio es la transversal (Fig. 39 c). S se contina incrementando el ngulo
de
incidencia, tambin la onda transversal se propagar a travs de la superficie del medio
(onda
superficial, Fig., 39 d).
Fig. 39: direccin de propagacin de onda como funcin del ngulo de incidencia.
Los palpadores angulares comerciales utilizan slo el rango donde existe onda
transversal
,exclusivamente, en el medio de ensayo, el cual es normalmente acero. La onda
ultrasnica real
es emitida hacia el medio en la forma de un haz de rayos donde, la lnea geomtrica
que se ha
considerado hasta ahora, corresponde al eje de este haz. Las mismas relaciones que
fueron
consideradas con palpadores normales como campo cercano, campo lejano y ngulo
de
divergencia , son vlidas para los palpadores angulares. El eje del haz donde existe la
mxima
presin snica se marca en el lateral de los palpadores angulares como "punto de
emisin" y sirve
como punto de referencia para clculos y medidas.
Adems de los datos relativos a ngulo y punto de emisin y su lnea de unin,

respectivamente,
la llamada "lnea de emisin", los palpadores angulares indican adicionalmente con una
cifra, que
siempre es la misma para un ngulo particular y representa el valor 2 * tg l. Esto es
necesario
en clculos que sern descriptos ms adelante.
Cuando se usen palpadores angulares, debern tenerse en cuenta los siguientes
hechos
fundamentales:
El ngulo marcado y de all tambin el factor 2 * tg l son slo vlidos para materiales
con una
velocidad snica de las ondas transversales de 3.230 m/s. Estos valores no pueden ser
usados
para materiales con velocidades de ondas de corte diferentes pero pueden ser
calculadas por
medio de la ley de refraccin.
b)La indicacin en la pantalla del TRC es segura slo cuando el ngulo t es mayor que
33,2,
debido a que la onda longitudinal ser eliminada solamente con ngulos mayores que
este.
Tambin esto es slo vlido para acero, por lo que para otros materiales con diferentes
relaciones entre las velocidades de la onda longitudinal y la transversal se debern
chequear por
medio de la ley de refraccin. En la prctica son comnmente usados los ngulos de
35 , 45 ,
60 , 70 , 80 y 90 (palpador de onda superficial). ngulos menores a 35 son ,debido
a la
ambigedad de las indicaciones, slo usados en la solucin de problemas especiales.
La indicacin en la pantalla del TRC ser bien definida solamente en presencia de un
solo tipo de
onda la cual es siempre, de acuerdo con la ley de refraccin, la mas lenta (onda
transversal). Es
imposible el caso inverso (onda longitudinal ms lenta que la transversal).
d) Los palpadores angulares emiten ondas longitudinales. Las ondas transversales, son
consecuencia de la refraccin que se produce en la superficie lmite entre la cua de
plexigls del
palpador y la pieza de trabajo.
De la misma forma que los palpadores normales, los angulares tienen una carcaza
puesta a tierra
y una bobina de adaptacin, en cambio, muchas veces, no poseen un cuerpo de
amortiguacin
debido a que la cua de plexigls, cementada al cristal, tiene una atenuacin
suficientemente alta.
El cuerpo amortiguador ilustrado en la Fig. 38 sirve para atenuar las partes de ondas
reflejadas en
la superficie lmite.
Un parmetro importante para la aplicacin de palpadores angulares es el llamado
"distancia de
paso" o simplemente "paso1".

Cuando un palpador angular se acopla a una chapa de espesor "d", la onda ultrasnica
ser
reflejada totalmente en la superficie inferior de la chapa y regresar a la superficie
superior a una
cierta distancia. A la distancia entre el punto de emisin de haz en el palpador y el punto
recin
descrito se lo llama paso. Esto se muestra en la Fig. 40a y se puede calcular por medio
de la
frmula :
ps = 2 * tg t * d (19)
Donde: ps: paso ; :ngulo del haz snico ; d : espesor de chapa.
Para simplificar el clculo del paso, el factor 2 * tgt muchas veces es grabado sobre la
carcaza
del palpador. El borde de la pieza dar indicaciones con altura mxima cuando la
distancia, entre
el borde y el punto de emisin del haz, es un mltiplo entero del medio paso (p/2).
Esto sucede alternativamente (Fig. 40b) en el borde superior e inferior de la chapa. La
Fig. 40c
muestra el principio de reflexin en un borde .
Fig. 40 a: Definicin de paso
b: Ecos obtenidos alternativamente del borde inferior y superior
c: Reflexin alrededor de un borde.
Si antes de la reflexin en la cara opuesta de la pieza de ensayo la onda ultrasnica
alcanza
directamente a un defecto , la llamada "distancia proyectada" (p) se define como sigue
(Fig.41):
p = s * sen t (20)
Donde "s" es la distancia (en la direccin del haz) entre la superficie y el reflector p la
distancia
proyectada sobre la horizontal desde el punto de emisin del palpador al defecto.
Fig. 41: Definicin de distancia proyectada
t0 = s . cos g t (cuando la discontinuidad est antes del medio paso)
t1 = 2 . d s . cos g t (cuando la discontinuidad est ms all del medio paso)

Estas relaciones son muy importantes para la localizacin de defectos en una pieza.
Algunas
veces es ms fcil, para el operador, medir la distancia desde el frente del palpador en
lugar de
hacerlo desde el punto de salida del haz. En esos casos uno esta hablando de la
"distancia
proyectada acortada".
Las relaciones que se han dado ms arriba solamente son vlidas cuando el ensayo se
realiza
sobre superficies planas. Si el ensayo se debiera realizar sobre un objeto curvo, el paso
depender, adicionalmente, del radio de curvatura(R) (Fig. 42).
La frmula para su clculo es la siguiente:

f
f
g
1 (1 ) cos
)
2
1(
R
d
sen
tg R t (21)
donde "" es el ngulo en el centro de curvatura correspondiente al paso.
Como esta ecuacin no puede ser resuelta para "", el clculo se lleva a cabo para un
arreglo
plano y la curvatura ser tenida en cuenta por el factor de correccin k como se muestra
a
continuacin:
p tg d k s t 2 g (22)
El factor de correccin k depende de la relacin entre el espesor de pared d y el
dimetro D o del
radio R y su valor se puede sacar de la figura 43.
Fig. 42. Distancia de en una superficie curva con reflexin causada por la superficie
interna.
Superficie plana para comparacin.
Fig. 43. Factor de correccin k como una funcin de la relacin del espesor de pared
d al
dimetro D al radio de curvatura R
El paso puede ser ms fcilmente determinado cuando no hay reflexin en la superficie
interna o
cuando el material es slido (Fig. 44).
Fig. 44: Distancia de paso sobre un objeto curvo sin reflexin interna.
Las siguientes frmulas son vlidas para estos casos:
(24)
90
90
2 (90 )(23)
t
t
pr
g
p
dg
Adems, se puede deducir de la geometra de la propagacin de un haz ultrasnico en

un objeto
curvado, cuando la parte central de la pieza no puede ser alcanzada ni an usando el
palpador de
menor ngulo ( 35 ) que se usa comnmente, la siguiente relacin:
Ver la trayectoria del sonido en la Fig. 45
1 (25) t sen
R
d g
o relacionndolo con el dimetro D = 2R
(26)
2
1 t sen
D
d g
Para un ngulo de 35 el valor de d/D =0,21

Esto significa que, en ensayo de tubos, estos pueden ser inspeccionados
completamente siempre
que la relacin de espesor de pared a dimetro exterior sea "menor o igual a 0,2 ".
Fig. 45: Espesor de pared mximo d alcanzado con el ngulo t
2.3322. Palpadores para ensayo de tubos
El palpador para ensayo de tubos no es otra cosa que un arreglo de dos palpadores
angulares, en
paralelo, transmitiendo en direcciones opuestas (a las agujas del reloj y en direccin
contraria a
las agujas del reloj). Sirve para detectar fisuras internas y externas en tubos. Cada
transductor en
este par de palpadores angulares, recibe el pulso transmitido por el otro como un eco
de
referencia. Un defecto radial ser indicado dos veces, como se puede ver en la figura
46. Esta
indicacin desaparecer cuando se halle diametralmente opuesto al palpador. Un
defecto
aparecer solamente una vez , ya sea a la derecha o a la izquierda del eco de
referencia, segn
el palpador que lo indique. Hoy en da, este principio de transmisin de dos haces
opuestos en
una barra o tubo, es aplicado casi exclusivamente en plantas de ensayos
automatizados.
1) Eco de emisin
2) Eco del defecto indicado por el palpador A
3) Eco de referencia.
4) Eco del defecto indicado por el palpador B

X: Localizacin aparente del eco de referencia
Fig. 46: Propagacin ultrasnica y pantalla del TRC. del ensayo de un tubo con dos
palpadores.
2.3323. Palpadores de ondas Lamb
Cuando una onda ultrasnica incide oblicuamente en una chapa metlica puede, puede
originar
en ciertas condiciones (condiciones de excitacin), ondas Lamb o tambin llamadas
ondas de
chapa. Esto significa que la chapa vibrar en forma similar a la resonancia. La onda
Lamb se
puede dar como una onda de dilatacin o como una onda de flexin (ver Fig. 13). La
generacin
de estas ondas depende , entre otros factores, de la frecuencia, el ngulo de incidencia,
de la
velocidad del sonido, y del espesor del material. En la prctica, la generacin se puede
llevar a
cabo variando continuamente el ngulo de incidencia hasta que, con ciertos ngulos,
se
producirn las ondas. De all que, el espesor del material deber ser del orden de la
longitud de
onda. En este principio se basan los palpadores de ondas de Lamb, los que por lo tanto
no son
otra cosa que palpadores angulares con ngulos con variacin continua. En la Fig. 47
se muestra
una de las ms comunes construcciones entre muchas otras.
Fig. 47: Palpadores con ngulos variables (Palpadores de ondas Lamb). Esquema.
La capacidad de indicacin de los palpadores de ondas de Lamb radica en que estas
ondas son
reflejadas sobre s mismas cuando ya no son dadas las condiciones de excitacin, por
ejemplo,
cuando el espesor de la chapa vara por defectos de laminacin (exfoliaciones). Esto
es tambin
la razn para la alta sensibilidad de los ensayos con estas ondas.
De otra manera la sensibilidad de las indicaciones tambin dependen del tipo y
orientacin del
defecto con respecto al tipo de onda Lamb ; as, por ejemplo, las laminaciones son
generalmente
indicadas mucho mejor por una onda de flexin que por una de dilatacin, cuando
aquellas estn
situada en la fibra neutra de la pieza la que no est en movimiento en el caso de la onda
de
dilatacin.
El principal rango de aplicacin de los palpadores de ondas Lamb est en la deteccin
de
laminaciones e inhomogeneidades en hojas y placas metlicas que no permitan un
ensayo con
palpadores normales o de doble cristal debido a sus pequeos espesores, o cuando es

necesaria
una inspeccin completa en el total del volumen. Comnmente se ensayan espesores
de pared
hasta 6 mm con estos tipos de ondas. El lmite superior para el su uso esta entre 12 a
16 mm de
espesores de pared y depende adems de las propiedades del material y de la
frecuencia usada.
Las ondas Lamb frecuentemente muestran una forma caracterstica como la indicada
en la Fig.
48, lo que facilita su reconocimiento.
Fig. 48: eco tpico de una onda Lamb.
2.324. Palpador de ondas superficiales
El palpador de ondas superficiales es un palpador con un ngulo de penetracin de 90
entre el
eje del haz y la direccin perpendicular (Fig. 38 d). Aqu no se puede definir el punto de
emisin
del haz sobre el palpador.
Los ensayos ultrasnicos con ondas superficiales son poco frecuentes en comparacin
con otros
tipos de ondas. El rango de aplicacin es limitado, a pesar de la alta sensibilidad que
muestran
estas ondas en superficies laminadas, de algunas clases: la principal aplicacin es la
deteccin de
finsimas fisuras e inhomogeneidades en superficies rectificadas o pulidas. Como las
ondas
superficiales penetran solamente a una profundidad de la mitad de la longitud de onda
(ver Fig.
14), fisuras a mayor profundidad no sern detectadas. De otra manera, las ondas
superficiales
son capaces de seguir superficies curvas si el radio de curvatura es suficientemente
grande con
respecto a la longitud de onda.
Se puede verificar muy fcilmente si una indicacin ha sido causada por una onda
superficial :
tocando la
superficie de la pieza con un dedo aceitado entre el palpador y la localizacin del
defecto har
que la amplitud del eco disminuya (debido a la atenuacin), no as si la responsable de
la
indicacin es otro tipo de onda (algunas ondas Lamb tambin pueden mostrar este
comportamiento).
2.4. EQUIPOS DE ENSAYO ULTRASONICO
2.41. Instrumental bsico
El principio de operacin de un equipo de ensayo ultrasnico se ilustra en la Fig. 49.
Fig.49: Esquema de un equipo de U.S.
Un generador de pulsos induce al transmisor de pulsos el cual excita al cristal del

transductor.
Este corto pulso elctrico normalmente tiene un voltaje pico de algunos cientos de volts,
en
algunos viejos transmisores de tubos, por encima de los cinco kilovolt. Estos altos
voltajes son,
sin embargo, completamente inocuos debido a su extremadamente corta duracin. El
mismo
generador de pulsos tambin activa (dispara) la base de tiempos (generador de barrido)
horizontal
en el osciloscopio de rayos catdicos (TRC) por medio de un circuito de tiempo de
retardo.
La deflexin vertical en las placas del TRC se alimentan con un amplificador y un
rectificador de
pulsos (ecos) recibidos desde la pieza.
La longitud de medicin (rango) que se observa en la pantalla se puede variar alterando
la
velocidad de la base de tiempo.
Se produce una deflexin vertical cada vez que el transductor est \1sujeto a una
tensin elctrica
(pulso transmitido o recibido). Cuando se opera por el mtodo de transmisin o con
palpadores de
doble cristal, el transmisor de salida esta separado del receptor (entrada) por medio de
un
interruptor. En definitiva los transductores de transmisin y recepcin estn conectados
separadamente por cables y enchufes. Un circuito de proteccin, en el caso del mtodo
de pulsoeco,
asegura que los altos voltajes en el transmisor no daen al receptor.
Hoy en da es habitual la construccin de modernos equipos ultrasnicos modulares;
se construye
instrumental para ensayo manual para ser usados con unidades cada vez mas livianos,
compactos y pequeos. Junto con los sistemas modulares hay muchas otras
posibilidades para la
combinacin; de esta forma, por ejemplo, varios tamaos de pantallas pueden ser
combinadas
con distintos mtodos de deflexin, supresin del llamado "csped" , etc. Mdulos
adicionales
auxiliares, tales como diferentes tipos de monitores, circuitos especiales equivalentes
para operar
con mltiples palpadores, decodificadores, interruptores electrnicos, transmisores y
receptores
preamplificados se pueden integrar en este sistema.
De esta forma se puede elegir la ms econmica y efectiva combinacin para solucionar
el
problema del cliente.
Seguidamente se describirn los controles ms importantes de los equipos ultrasnicos
para
operar con el mtodo de pulso-eco o transmisin.

2.411. Intensidad de pulsos.
La intensidad del pulso elctrico para hacer vibrar el cristal del transductor se puede
variar
continua o escalonadamente con este control. Se recomienda baja intensidad debido a
que as se
obtiene una ptima resolucin (pulsos angostos). Se elegirn altas intensidades de
pulsos cuando
exista altos niveles de ruidos elctricos ( para incrementar la relacin seal- ruido), o
cuando el
material presente una marcada atenuacin de la onda causada por absorcin o
dispersin. En
este caso la resolucin ser algo menor: con una alta intensidad le toma ms tiempo al
cristal
atenuarse y los pulsos mostrados en la pantalla del TRC sern ms anchos que con
baja
intensidad. Por lo expuesto se disminuir, en todo lo posible y segn el problema
particular del
ensayo , para obtener la mejor resolucin.
2.412. Ganancia
Esta perilla de control varia la altura de los ecos de manera que permite mantener la
relacin de
amplitud constante. La cantidad de ganancia se expresa en dB (decibeles), ver el punto
1.443.
Una variacin de ganancia de 6 dB significa una disminucin a la mitad o un aumento
al doble
independientemente de la altura del eco real (Fig. 50).
Fig. 50:Ecos mltiples. La Fig. de la derecha muestra la misma secuencia de ecos con
una
reduccin en la ganancia de 6 dB
2.413. Supresin
2.4131. Supresin no lineal
La supresin no lineal permite tambin una variacin de la amplitud de los ecos pero,
en este
caso, la diferencia de amplitud ( y no la relacin de amplitud) permanece constante.
Accionando el regulador de supresin en sentido horario, reducir la altura de todos los
ecos en la
misma cantidad expresada en porcentaje de la altura de la pantalla. La verdadera
relacin de
alturas entre los ecos no se mostrar ms, pero muchos de los pequeos, indeseados,
no
importantes y algunas indicaciones que confunden sern suprimidas facilitando la
interpretacin,
particularmente en ensayos manuales.
Siempre que sea requerida una clasificacin de defectos por medio de una descripcin
de la
amplitud de los ecos se deber, incondicionalmente, eliminarse la supresin no lineal o
se llegar
a una interpretacin equivocada. Como muestra la Fig. 51, un eco justamente pasando
el umbral
inicial causa una pequea deflexin, concordando con el eco de emisin en la lnea
horizontal.
Fig.51:Ecos mltiples. La figura de la derecha muestra la misma secuencia de ecos
reducidos un
50% de la ATP. por supresin.
2.4132 Supresin lineal
Se puede lograr una supresin de las indicaciones pequeas, sin alterar la altura de los
ecos, por
medio de la regulacin de umbral lineal ilustrada en la Fig. 52.
Fig.52:Ecos mltiples. La Fig. de la derecha muestra la misma secuencia de ecos con
una
supresin lineal de aproximadamente 20% de la ATP.
El mtodo de supresin lineal se usa comnmente en plantas con ensayos
automatizados y en
equipos de laboratorio. Los ecos con amplitudes que excedan al umbral se mantendrn
sin
modificacin, mientras que aquellos que estn por debajo del mismo, no aparecern en
la
pantalla. Como se ve, un eco que apenas alcance el umbral ser mostrado en toda su
amplitud
original, este modo de supresin no es lo mejor en los ensayos manuales porque
muestra al
operador, que observa la pantalla ,efectos ms confusos que la que muestra la
supresin no
lineal. Sin embargo, la relacin real puede ser mostrada, solamente, por el supresor
lineal.
2.414 Forma de los ecos
La envolvente de los ecos puede ser influenciada por la cantidad de filtrado. Este efecto
se
muestra en la Fig. 53.
Fig.53: Ecos mltiples. Influencia de un filtrado dbil (izq.). y uno fuerte (der.).
Normalmente se desea lograr una alta resolucin, por ejemplo, conseguir pulsos tan
angostos
como sea posible.. Sin embargo, cuando se opera con grandes longitudes de medida
(por
ejemplo en el rango de metros)las indicaciones en la pantalla del TRC se hace difcil de
evaluar
dado que los ecos se vuelven demasiados finos. En tales casos se sacrifica una buena
resolucin
en favor de un mejor reconocimiento por medio de un fuerte filtrado. As los ecos se
vuelven ms
anchos , brillantes y suaves. Muchas veces la cantidad de filtrado es conectada junto
con la
longitud de medida (rango).

2.415. Regulador de la longitud de medida. Rango
El comando para la regulacin de la longitud de medicin permite variar la escala de
presentacin, y as desplegar en el rea total de la pantalla, el rango de inters . La
calibracin se
lleva a cabo teniendo en cuenta las siguientes condiciones:
a) Mtodo de pulso - eco , esto es el recorrido de ida y vuelta de la onda ultrasnica a
travs del
material.
b) La calibracin es vlida solamente para una velocidad de onda definida, normalmente
la
velocidad de la onda longitudinal en acero, esto es 5.920 m/s (ver DIN 54120).
c) La visualizacin a travs del total de la pantalla, esto es entre la lnea izquierda y
derecha del
reticulado.
2.416. Regulador del punto cero y desplazamiento
El comando de regulador del cero permite un corrimiento hacia la izquierda de lo que
se muestra
en el total de la pantalla sin cambiar la escala (rango). De esta forma, partes del camino
snico
que no interese (por ejemplo el recorrido en el agua entre el palpador y la superficie de
la pieza en
un ensayo por la tcnica de inmersin, que se refiere en la seccin 3.5) puede ser
corrida hacia la
izquierda, fuera de la pantalla, y la parte de inters ser mostrada en el total de la
pantalla,
logrando as un efecto de "lupa de profundidad" (Fig. 54).
1) Eco de emisin
2) Eco de la superficie de entrada
3) Eco del defecto
4) Primer eco de fondo
5) a 7) Segundo a cuarto eco de fondo
Fig. 54:Tcnica por inmersin de una pieza. Izq.:indicaciones incluyendo el paso en el
agua y
ecos de fondo. Der.: desarrollo del rango de inters en la pantalla.
2.417. Regulador de la velocidad del sonido
Este regulador no cambia, por supuesto, la velocidad del sonido en el material, por ser
esta una
constante natural, pero permite al personal de ensayo adecuar el espesor de la pieza
ledo en el
regulador de la longitud de medicin o rango, al espesor efectivo del material de
diferente
velocidad de sonido. Para una recalibracin, se ajusta previamente el regulador de la
longitud de
medicin o regulador de rango al espesor de la pieza y con ayuda de los reguladores
de
desplazamiento y de velocidad de sonido, se ensancha la distancia entre dos ecos de

fondo (el
primero y el segundo , por ejemplo) sobre la pantalla del osciloscopio. Esto no es difcil
de realizar
ya que el regulador de velocidad de sonido tiene los mismos efectos que el de rango.
2.418. Lupa de profundidad
La lupa de profundidad, comnmente encontrada en los viejos equipos, permite
ensanchar lo que
se observa en pantalla para clarificar los detalles (incrementa la precisin de lectura).
comnmente se ensancha dos a cinco veces el valor de la indicacin original. Los
mismos efectos
pueden alcanzarse con el regulador de rango y el de cero, como se muestra en las
secciones
2.415 y 2.416.
2.419. Control Distancia - Amplitud
En los ensayos ultrasnicos, la amplitud de un eco de una discontinuidad de cierto
tamao,
decrece cuando el espesor se incrementa, la compensacin para esta "atenuacin"
consiste en
un control electrnico que se agrega a muchas unidades ultrasnicas.
Algunos de los nombres ms comunes de este control son: Correccin de amplitud en
distancia
(DAC), Ganancia variable (TCG) o Sensibilidad variable (STC).
Este control es muy utilizado cuando se lo complementa con un detector de alarma de
fallas o con
un sistema de registro.
a)
b) c) d)
Fig. 55:Correccin DAC : a) probeta con reflectores artificiales de igual tamao. b) altura
de los
ecos producidas por los reflectores c) curva DAC y activado el control DAC; d) dem c)
pero sin la
curva DAC.
2.42. Monitores
Un monitor es un aditamento auxiliar destinado a automatizar parcial o totalmente un
ensayo.
Asimismo constituye un auxiliar valioso en los ensayos manuales en serie, eliminando
la
necesidad de que el operador observe constantemente la pantalla. As el operador
podr atender
al correcto posicionamiento y acople del palpador. El rango de operacin del monitor
est
pticamente indicado en la pantalla por una pequea deflexin hacia arriba o hacia
abajo de la
lnea horizontal (Fig. 56). La posicin y el ancho de este, tambin llamado "diafragma",
puede ser
ajustado por medio del regulador correspondiente.
Fig.56:Diafragma del monitor

El monitor responder en cuanto un impulso ocurra dentro de este diafragma. Se
distinguen
diferentes tipos de monitores segn las distintos modos de respuesta y seales de
salidas.
2.421. Monitor de seales
El monitor de seales, tambin llamado monitor "blanco / negro" o "si/no" ,emite una
seal tan
pronto como un pulso producido dentro del alcance del diafragma exceda o descienda
por debajo
de un determinado nivel ajustable (umbral del monitor). Esta seal puede ser elctrica,
ptica
(lmpara de sealizacin), o acstica (bocina o timbre). Cuando hay varios impulsos
dentro del
alcance del diafragma, el mayor de ellos es el que determina la respuesta del monitor.
2.422. Monitor proporcional
El monitor proporcional puede entregar una tensin continua cuya magnitud es
proporcional al
nivel (altura) de la seal que se encuentre dentro del alcance del diafragma. En caso
de darse
varios impulsos, el mayor de ellos determina la magnitud de la tensin continua.
Normalmente los
monitores proporcionales estn provistos de un instrumento calibrado en porcentaje de
la altura
total de la pantalla del TRC.
Tambin existen monitores digitales de este tipo.
2.423. Monitor universal
El monitor universal es una combinacin de monitor de seales y monitor proporcional,
con dos
salidas separadas (salida de seal y salida proporcional).
2.424. Monitor de tiempo de recorrido
Este monitor puede entregar una tensin continua proporcional al tiempo de recorrido
de la onda
ultrasnica, esto es, proporcional a la distancia entre el pulso de referencia (pulso de
emisin, eco
de la superficie) y el eco observado. En caso de darse varios impulsos dentro del
alcance del
diafragma, el de menor tiempo de recorrido ( menor distancia desde el pulso de
referencia)
determina la magnitud de la tensin continua.
Monitores digitales son comnmente usados para la medicin de espesores de
paredes.
2.425 Monitor integrador
Este monitor permite el control de mltiples ecos o tambin llamados "ecos montaas".
Es similar
al ya descrito monitor proporcional pero en ste el voltaje continuo de salida es
proporcional al
rea de los ecos, esto es, al rea formada por todos los ecos y la lnea horizontal, que
se
encuentran dentro del alcance del diafragma. De esta forma, el eco de mxima amplitud
dentro
del diafragma no ser \1responsable del voltaje de salida.
La desaparicin o crecimiento de pequeos ecos junto al eco mximo tiene variaciones
constantes del rea y el monitor mostrar una variacin del valor indicado en oposicin
al monitor
proporcional. La cantidad de rea integrada puede ser elegida en porcentaje por medio
de un
regulador y es indicada por un medidor. Esta provisto tambin de una salida adicional
que indica
cuando se excede o desciende por debajo del nivel ajustado.
2.5. SISTEMAS DE REPRESENTACION

Hay tres tipos bsicos de representacin de pantallas de TRC para ensayos
ultrasnicos:
2.51 Representacin "Tipo A" (o pantalla Tipo A)
Es el ms extendido y es el de representacin en un tubo de rayos catdicos (TRC) en
el que las
indicaciones aparecen como deflexiones verticales de la base de tiempo, es decir, en
la pantalla
se representa el tiempo en la escala horizontal y la amplitud en la escala vertical.
La representacin tipo A, se discrimina de izquierda a derecha.
La altura de los ecos pueden ser comparadas con la altura de un eco proveniente de
un reflector
de referencia conocido, a fin de tener una referencia del tamao de la indicacin.
El mtodo de registro ms sencillo para este tipo de pantalla es el de la fotografa directa
del
oscilograma. Sin embargo, este mtodo es lento por lo que, en ocasiones , se acoplan
al equipo
sistemas de registro sobre papel que el propio operador puede manejar de manera
simple,
obteniendo la representacin del oscilograma en tiempo real.
Fig.57: representacin tipo A
2.52 Representacin "Tipo B"
La representacin tipo B, usa una pantalla de osciloscopio tpico que muestra una vista
de una
seccin transversal del material a ser ensayado. La imagen es retenida sobre el TRC
el tiempo
necesario para evaluar la pieza y para fotografiar la pantalla, con el objeto de obtener
un registro
permanente.
Fig.58: representacin tipo B
2.53 Representacin "Tipo C"
La pantalla tipo C, representa una vista en planta, similar a una placa radiogrfica.
Adems,
muestra la forma y localizacin de la discontinuidad, pero no su profundidad.
Los sistemas de alta velocidad de barrido, generalmente utilizan pantallas tipo C,

conjuntamente
con graficadores, algunos de ellos con papel tratado qumicamente.
El movimiento del papel est sincronizado con el movimiento del transductor a travs
de la
superficie de ensayo.
La ventaja de la pantalla tipo C, es su velocidad y su capacidad de producir registros
permanentes. Sin embargo, la pantalla solamente da longitud y ancho, pero no la
profundidad de
la falla.
Este tipo de representacin, junto con el tipo B, prcticamente estn reservados a los
ensayos
automticos por inmersin.
Fig.59: Representacin tipo C
Las siguientes imgenes son una representacin tipo C realizada por inmersin de una
moneda
(de su superficie)
Moneda Imgen ultrasnica
2.6. BLOQUES PATRONES DE CALIBRACION Y DE REFERENCIA
2.61 Bloques de calibracin
Los bloques de calibracin en el ensayo por contacto se usan para comprobar el
funcionamiento
del equipo ultrasnico y del transductor, y para efectuar la regulacin del instrumento a
fin de que
ste se adapte a las condiciones del ensayo. Permite la verificacin de distancias
conocidas y
relaciones angulares; verificacin del ngulo y del punto de salida de haz en un palpador
angular;
verificacin de la resolucin del palpador, etc.
Los bloques de "calibracin", algunas veces son incorrectamente llamados bloques de
"referencia" porque contienen discontinuidades artificiales de dimensiones y
profundidades
conocidas.
La Norma IRAM 723 "BLOQUES PATRON PARA CALIBRACION DE EQUIPOS",
define dos
bloques de calibracin para equipos de ultrasonido que utilizan las tcnicas por reflexin
de
pulsos. Estos dos bloques (tipo B1 y tipo B2), que se describen en el Apndice I, tienen
como
antecedentes a los propuestos por el International Institute of Welding (Documento V461-71/OF)
y adoptados por la International Organization for Standards (I50/TC 44-Sec 345-44, F).
En dicha
norma se establecen las caractersticas del material, las dimensiones y tolerancias de
fabricacin.
La Norma IRAM-CNEA Y 500-1002, fija el procedimiento que debe seguirse para
calibrar y ajustar
las condiciones de funcionamiento y sensibilidad de los equipos (incluidos palpador y

correctores)
utilizados en el ensayo de materiales por la tcnica de reflexin, de manera que dichas
calibraciones y ajustes sean reproducibles y comparables.
Se adjuntan dichas normas en el Apndice I
2.62 Bloques normalizados de referencia.
En el examen por ultrasonido, todas las indicaciones de discontinuidades (ecos) son
generalmente comparados con bloques normalizados de referencia.
El bloque de referencia ideal debe ser un trozo de la misma pieza que vamos a verificar
o bien
debe estar constituido del mismo material.
Algunos bloques se utilizan para la prueba de contacto, otros para el ensayo por
inmersin y otros
se utilizan para ambos.
Aqu se presentaran algunos de los ms comnmente utilizados. Un bloque tpico es el
siguiente:
Bloque ASTM
El bloque es cilndrico
E: dimetro del orificio de fondo plano
B: Distancia entre la superficie de apoyo del palpador y el orificio de fondo plano.
G: altura total del bloque
La mayora de los bloques tienen las siguientes caractersticas comunes:
1.- estn fabricados con material cuidadosamente seleccionado.
2.- El material debe tener una atenuacin, tamao de grano y tratamiento trmico
apropiado y
libre de fallas.
3.- Todas sus dimensiones deben ser mecanizadas en forma precisa.
4.- Todos los orificios deben ser de fondo plano y tener el dimetro especificado para
ser un
reflector ideal.
5.- Los dimetros y largos de los orificios laterales deben ser cuidadosamente
controlados.
Normalmente son utilizados tres juegos de bloques de referencia:
1.- Bloques de referencia de rea y amplitud.
2.- Bloques de referencia de amplitud y distancia.
3.- Juego bsico ASTM de rea-distancia y amplitud.
Los juegos de rea - amplitud proveen patrones de diferentes reas en la discontinuidad
(orificio
E), a la misma profundidad (B).
Los bloques de distancia - amplitud1proveen patrones con discontinuidades del mismo
tamao
(E) a distintas profundidades (B).
El juego bsico de patrones ASTM consiste en 10 bloques de 50 mm de dimetro.
G - B = 19 mm
Distancia B Dimetro E
mm Mm
1/8 3,15 5/64 2
6,50 5/64 2
12,7 5/64 2
19 5/64 2
11/2 38 5/64 2
3 76 3/64 1,2
3 76 5/64 2
3 76 8/64 3,15
6 152 5/64 2
6 152 8/64 3,15
3-Principios bsicos de aplicacin
3.- PRINCIPIOS BASICOS DE APLICACIN

No hay quien se haya iniciado en el campo de la tcnica de ultrasonido y no haya tenido
que
reconocer que, por muy profundos que sean los conocimientos tcnicos adquiridos en
la materia,
inevitablemente surgen dificultades en la tcnica de aplicacin. La presente parte 3 de
este
trabajo informativo ha de servir para disminuir tales problemas, proporcionando datos
de validez
general en lo que respecta a la tcnica de ensayo. Se recomienda, mediante ensayos
prcticos
preliminares con un equipo de ultrasonido, una dilucidacin concreta de las relaciones
que a
continuacin se describen. De este modo se podr conseguir una cierta seguridad en
el manejo
de los palpadores y del equipo, que es imprescindible para el empleo en la prctica del
ensayo.
Es de sealar que muchos de los ensayos necesarios pueden llevarse a cabo con los
bloques
normalizados internacionalmente (Normas DIN 54120 y 54122; IRAM 723 ).
3.1. ACOPLAMIENTO
En el ensayo prctico es preciso asegurar el fcil pasaje de las ondas ultrasnicas
desde el
palpador a la pieza de ensayo y viceversa, para obtener resultados seguros y
reproducibles. Por
esto, se debe remover todo el aire entre ellos lo que se realiza con el mojado de la
superficie de
la pieza por medio de un lquido o una pasta. El acoplante ptimo ser aquel que, con
un espesor
de /4, tenga una impedancia acstica igual a la media geomtrica de las impedancias
en los dos
medios adyacentes; esto se puede calcular como:
Z Z Z
1*2
(27)
Donde:
Zc: impedancia acstica del acoplante.

Z1: impedancia acstica del medio 1 .
Z2: impedancia acstica del medio 2 .
La sustancia natural que ms se aproxima a este acoplante ideal es la glicerina para
muchos
ensayos; pero la prctica ha demostrado que el agua o muchos aceites tienen casi la
misma
eficiencia. As tambin se ha encontrado que el engrudo para papel de pared con
antixido puede
servir como un buen acoplante, particularmente cuando el ensayo se hace sobre
cabeza y en
casos donde el aceite no es permitido.
Existen en el mercado diversos acoplantes pero, en la mayora de los casos no aportan
ninguna
ventaja esencial. Comnmente se usa aceite de mquinas en los ensayos manuales y
agua (con
algn inhibidor de corrosin) como acoplante en aquellos automatizados.
3.2. SUPERFICIE DE LA PIEZA DE ENSAYO
3.21. Rugosidad
Si la rugosidad superficial de la pieza es del orden o superior a la longitud de onda, se
producir
dispersin acstica debido a la refraccin (Fig. 19). La misma regla vale para la
superficie
posterior, donde la onda ultrasnica es dispersada por el fenmeno de reflexin. Como
consecuencia de esto, la sensibilidad de indicacin se reduce en comparacin con otra
pieza de
igual tamao, igual material, pero de superficie ms lisas. Los efectos de reduccin de
la
sensibilidad debida a la rugosidad puede ser compensada por el pulido de la superficie,
o
aumentando la ganancia del receptor. Obviamente, se debe ser cuidadoso para tener
un buen
acoplamiento, para esto se puede usar una capa protectora de neopreno resistente al
aceite
(llamada suela), colocada en el frente del palpador con algunas gotas de acoplarte entre
ste y el
neopreno. Esta capa llenar las desigualdades de la superficie facilitando la
transferencia del
sonido y protegiendo, a su vez, a la cara del palpador contra el desgaste o daos. Una
parte de la
energa ultrasnica ser absorbida por la suela, pero el beneficio por el mejoramiento
del acople ,
en muchos casos, es mayor que las perdidas en el material de la suela.
3.22. Curvatura
Cuando se inspecciona por ultrasonido una pieza con superficies curvas, comnmente
se produce
un ensanchamiento (divergencia) del haz. Este fenmeno es causado por refraccin

(Fig. 60).
lw
lk
lw
lk
c
c
g
a
sin
sin
Fig. 60: Divergencia adicional del haz causada por refraccin entre el acoplante y la
superficie de
la pieza.
Adems de esto, el rea donde el palpador contacta a la pieza para la transferencia del
sonido es
menor, por lo que de esta forma, slo se utiliza una parte de la superficie del cristal.
Estos dos
factores son la razn por la cual se reduce la sensibilidad del ensayo, comparado con
el caso de
una superficie plana.
Es frecuente el uso de bloques adaptadores para obtener un rea de contacto total
entre el
palpador y la superficie de la pieza. Tambin, las ya mencionadas capas de neopreno
pueden ser
de utilidad. Es preciso puntualizar que con esto slo se consigue aumentar el rea de
contacto sin
lograr evitar la divergencia.
La magnitud de la divergencia depende de las velocidades del sonido en el acoplante y
la pieza.
Este hecho se puede utilizar para la eleccin del material del bloque adaptador ms
conveniente.
Como se ilustra en la Fig. 61, la doble refraccin no tiene influencia en la propagacin
ultrasnica.
Fig. 61: Refraccin con y sin acoplante. El ngulo de refraccin permanece constante;
el haz
ultrasnico es levemente desviado.
Por medio de la eleccin de materiales adecuados es posible, tericamente, lograr una
focalizacin (Fig. 62); debera considerarse que las perdidas por reflexin debido a las
grandes
diferencias de las impedancias snicas del adaptador y el acoplante generalmente son
mayores
que la ganancia obtenida por la focalizacin.
Fig.62: Influencia de las velocidades del sonido en el adaptador (C1) y la pieza(C2)

.
En el rea de acoplamiento, por supuesto, se generan una serie de ecos; esto puede
perturbar la
interpretacin de las indicaciones en la pantalla del TRC. Por esta razn, el bloque
adaptador
deber ser lo ms corto posible, de tal forma que los mltiples ecos estn muy juntos
unos de
otros y produzcan el menor ensanchamiento posible del eco de emisin (
particularmente cuando
se use un material con alta atenuacin, causando slo unos pocos ecos mltiples), o
se deber
hacer tan largo de tal forma que los ecos mltiples no ocurran en el rango del ensayo
sobre la
pantalla del TRC. En este caso el tiempo de recorrido en el adaptador deber ser mayor
que el
tiempo de recorrido en la pieza. Esto se puede calcular como sigue:
b
a
aw
C
I I (28)
Donde:
Ia: longitud del bloque adaptador.
Iw: longitud del camino snico en la pieza.
Ca: velocidad del sonido en el bloque adaptador.
Cw: velocidad del sonido en la pieza.
3.23. Recubrimiento
Se debe prestar especial atencin a las superficies con recubrimientos . La regla
general es que
un recubrimiento firmemente adherido ( por ejemplo capas de pinturas, cascarillas
firmemente
adherentes o capas de herrumbre) causarn un efecto perturbador pequeo; pero es
aconsejable
la limpieza de la superficie por medio de cepillo de acero, lima, raspador o amolado
cuando se
encuentren depsitos exfoliados, esto es, cuando exista aire en los pequeos vacos
entre el
depsito y la pieza. Estos espacios impiden en muchos casos la transferencia del
ultrasonido.
Superficies hmedas o grasosas en general no representan un inconveniente, la
mayora de las
veces hasta ofrecen una ventaja a causa de que sus propiedades mejoran el
acoplamiento.
3.3. SELECCION DE LOS PALPADORES
A primera vista parece ser difcil la seleccin del palpador ptimo por la gran variedad
de
unidades disponibles para un problema de ensayo particular. La eleccin ser facilitada

cuando,
antes que nada, se fije el procedimiento de ensayo y luego, en el orden que sigue, la
direccin de
penetracin del sonido, frecuencia de ensayo y tamao del cristal.
3.31. Procedimiento de ensayo
El principio de pulso-eco es el mtodo ms comn y ampliamente usado. Si es posible,
este
deber ser el mtodo preferido debido a que los defectos detectados pueden ser
localizados (ver
2.22).
Cuando se usa el mtodo por transmisin (2.21), la localizacin resulta imposible, por
lo que este
procedimiento ser solamente usado cuando el otro falle, por ejemplo en casos de alta
absorcin
o fuerte dispersin, donde el eco de fondo no puede detectarse por el doble camino (ida
y vuelta)
del sonido, comparado con el camino simple que recorre en el mtodo por transmisin.
El
principal campo de aplicacin de los palpadores con doble cristal (T/R S/E) est en la
deteccin
de defectos muy cercanos a la superficie y en las mediciones de espesores de paredes
o
ensayos de corrosin. En este caso debe considerarse el ngulo y la distancia focal
para obtener
los resultados ptimos ( ver 2.3312).
Otras elecciones debern ser hechas de acuerdo a las siguientes consideraciones.
3.32. Seleccin de la direccin del haz ultrasnico
Generalmente, la direccin del haz ultrasnico se elegir de tal forma que los defectos
esperados,
ofrezcan la mxima reflexin, esto es, que el haz ultrasnico encuentre a la superficie
del defecto
en direccin perpendicular a este. Adems , se debe tratar de evitar indicaciones
causadas por la
forma y geometra de la pieza en ensayo.
El lugar donde el palpador es colocado sobre la superficie del componente deber ser
lo ms
plano y liso como sea posible para evitar el ensanchamiento del haz y las perdidas por
dispersin.
Tambin, se deber elegir una direccin de palpador con la que se obtenga un eco de
fondo u
otro eco de referencia el cual puede ser usado para la deteccin indirecta ( por ejemplo
la
desaparicin del eco de fondo por causa de una estructura esponjosa o porosa en
fundiciones de
hierro sin tener otros ecos indicadores), y tambin como una indicacin del correcto
acoplamiento.
En la Fig. 63 se dan algunos ejemplos de elecciones correctas e incorrectas de
colocacin de
palpadores.
Fig.63: Ejemplos de ubicaciones correctas e incorrectas del palpador
3.33. Seleccin de la frecuencia de ensayo
En los equipos de ensayos modernos la frecuencia de ensayo est determinada
exclusivamente
por el palpador ; poseen una ancha banda para recibir y no contienen demasiados
elementos que
influyan en la frecuencia del ensayo.
Se dice, generalizando, que un defecto con forma aproximadamente esfrica puede ser
indicada
por el mtodo de ensayo ultrasnico ( esto es palpador y equipo), cuando su dimetro
es igual o
mayor que una tercera parte de la longitud de onda.
La longitud de onda puede ser calculada, como ya se indic anteriormente, con la
frecuencia del
palpador y la velocidad del sonido en el material a ser ensayado, por medio de la frmula
(II).
Al respecto debe tenerse presente que en la frmula debe introducirse la velocidad del
tipo de
onda que se est utilizando, por ejemplo, cuando se usan palpadores angulares, la
velocidad de
la onda transversal.
Para poder detectar los defectos ms pequeos , se deber seleccionar la frecuencia
ms alta
posible. Adems de esto, los palpadores de altas frecuencias presentan pulsos cortos
(angostos)
produciendo as una mejor resolucin, como se muestra en la Fig. 64.
Fig. 64: Ejemplos de buena (Izq.) y mala (Der.) resolucin.
Los lmites de las frecuencias superiores, sin embargo, estn dadas por la estructura
cristalina y/o
la absorcin del material. En el primer caso, cada grano cristalino da una reflexin y
dispersin,
produciendo un considerable "csped o pasto ) o indicaciones de "ruidos de la
estructura" en la
pantalla del TRC. En este caso, un eco de fondo se superpondr ms o menos al ruido
y no ser
detectable. Esta es la razn por la cual es imposible detectar defectos menores o
iguales a la
estructura del material. Un ejemplo de esto se da en la Fig. 65, donde el eco de fondo
no puede
visualizarse dentro de las indicaciones de la estructura.
El caso de una absorcin extremadamente alta es frecuente encontrarla cuando se
ensayan
materiales como resinas o plsticos. La absorcin aumenta rpidamente con la
frecuencia
llegndose as al lmite superior de la misma.

Por lo expuesto, se pueden generalizar, para la eleccin de la frecuencia de ensayo, la
siguiente
regla: La frecuencia deber ser lo mas alta posible para una buena resolucin y
deteccin de
defectos pequeos. El limite superior de ella esta dado por la respuesta de absorcin
de la
estructura granular y ser superado cuando un eco de fondo de la pieza no pueda ser
individualizado. En caso de incertidumbre, ensayos preliminares breves con diferentes
frecuencias, podrn clarificar la situacin.
Fig.65: Indicaciones de pantalla de una barra de Zn moldeada (Izq.) y una de acero
forjado (Der.)
del mismo espesor. Frecuencia:6MHz
Usualmente, materiales forjados o prensados se examinan con frecuencias entre 2 y 6
MHz;
piezas fundidas que por lo general tienen estructuras ms gruesas necesitan
frecuencias entre
0.5 y 2 MHz. Cermicos (por ejemplo aisladores elctricos, etc.) presentan tambin una
buena
conductividad sonora y pueden ser ensayados en la mayora de los casos con 2 4
MHz.
Materiales sintticos, dependiendo de su absorcin y espesores, sern ensayados con
frecuencias desde 1 a 4 MHz. Las frecuencias de ensayo para concreto y materiales
similares
estn entre 50 y 200 KHz, necesitndose en estos casos equipos especiales.
3.34. Seleccin del tamao del transductor
Generalmente, existe una gran variedad de tamaos de cristales diferentes por lo que
se hace
necesario una seleccin. Si el tamao mximo no est limitado por las dimensiones de
la pieza de
ensayo, debe ser considerado en primer trmino cuando se requiera o no la
determinacin de un
tamao de defecto equivalente. En este caso, el tamao del cristal deber ser tal que
la longitud
del campo cercano del palpador sea menor que la profundidad estimada para los
defectos, dado
que la determinacin del tamao equivalente de defecto slo es posible en el rango del
campo
lejano.
Cuando se calcula la longitud del campo cercano, es posible colocar en la frmula ( 13
) el
dimetro efectivo.
Adems, el dimetro del haz snico , a la profundidad "1", deber ser lo ms pequeo
que se
pueda para mantener la relacin : tamao de defecto / dimetro del haz lo ms grande
como sea
posible y as conseguir los resultados ptimos para la sensibilidad de indicacin y
localizacin
lateral. El dimetro , a la profundidad "1", puede ser calculado como sigue (Fig. 66).

Fig.66: Clculo del dimetro del haz ultrasnico.
0 10 j D2l l tgJ para l > l (29)

0
Donde:
D: dimetro del cristal.
l0: longitud del campo cercano.
10: ngulo de divergencia (ver XV y XVI).
Cuando no se requiere la determinacin del tamao del defecto equivalente, la
examinacin
puede llevarse a cabo tanto en el campo cercano como en el campo lejano. La mxima
sensibilidad posible se encuentra en la vecindad de la longitud del campo cercano; a
profundidades mas pequeas que esta longitud, la localizacin de un defecto en la
direccin
lateral est agravada debido al hecho de que all puede haber presin acstica (esto es
sensibilidad) mnima en el eje del haz , y alta sensibilidad en la zona marginal del haz ,
causado
por las interferencias en el rea del campo cercano. El dimetro del haz ultrasnico en
el campo
cercano es aproximadamente igual al dimetro del cristal:
f D para l 0 l (30)
Por lo arriba mencionado, es suficiente colocar el dimetro verdadero en lugar del
efectivo, el cual
es un porcentaje ms pequeo que el real y debe ser provisto por el fabricante.
En la Fig. 67 se dan algunos ejemplos de las geometras de haces ultrasnicos.
Fig. 67: Diferentes formas de haces de palpadores de 4 MHz en acero (esquema)
Es obvio que los resultados ptimos se encontrarn a la profundidad de "l1" para el
cristal de 6
mm; de lz para el de 24 mm y a "l3" para el de 40 mm. Generalmente se puede decir
que para
piezas pequeas se tomarn dimetros pequeos y para piezas grandes dimetros
mayores.
3.4. AJUSTE DEL EQUIPO

Aqu solamente se darn instrucciones generales para el ajuste del instrumental; los
detalles
debern ser estudiados de los manuales provistos junto con el equipamiento. El
procedimiento de
ajuste consiste en dos partes:
1) ajuste del rango de profundidad y
2) ajuste de la sensibilidad.
La puesta a punto del rango de profundidad deber ser hecho antes que el de la
ganancia. El
ajuste de la longitud de medida de la profundidad (rango) en s mismo consiste en dos
etapas:
1.1) desarrollar el rango de profundidad de inters en la mxima distancia plana de la

pantalla del
TRC, para facilitar la lectura de profundidad , y
1.2) ajustar el cero para compensar las influencias de capas protectoras, lneas de
retardo, etc. .
Para mayor informacin, referirse a las normas por ejemplo DIN 54 120 y 54 122 (
bloques 1 y 2
de referencias) o IRAM-CNEA Y 500-1 002 .
El ajuste de la ganancia de la sensibilidad es el segundo paso en la puesta a punto del
equipo. Si
no hay instrucciones de especificaciones particulares, ser un buen mtodo colocar el
eco de
fondo de 6 a 12 dB por encima de la altura total de la pantalla (ATP). An cuando sean
detectados pequeos defectos, la ganancia ser incrementada hasta que se observen
las
indicaciones de la estructura. Este "ruido de la estructura o csped" usualmente no es
buscado y
puede ser eliminado por medio del regulador de supresin. Cuando se requiere una
evaluacin de
defectos por medio de la altura de los ecos, el supresor debe volverse a cero para evitar
observar
en forma no lineal las indicaciones. En otros casos, por ejemplo en inspecciones con
palpadores
angulares, o cuando el eco de fondo no puede ser observado, puede ser til tener una
probeta
con defectos artificiales (por ejemplo un orificio calibrado de 2 mm de dimetro).
Para obtener pulsos lo ms angostos posible (alta resolucin) se recomienda llevar a
cabo el
ensayo con la mnima potencia del transmisor; solamente despus de haber alcanzado
el punto
de mxima sensibilidad, o la inspeccin ha sido llevada a cabo en lugares con altos
ruidos
elctricos (arranques automticos, soldadoras, etc.), se puede incrementar la salida del
transmisor, en casos de ganancia reducida.
3.5. TECNICA DE INMERSION
Para la inspeccin ultrasnica por el mtodo de inmersin la pieza es totalmente
sumergida en un
lquido (comnmente agua) y el haz es usualmente proyectado desde una cierta
distancia. (Fig. 68).
a: Esquema de ubicacin principal
.
bc
Fig. 68
1:Eco de emisin.
2:Primer eco de la superficie superior.
3:Eco del defecto.
4:Eco de fondo (pared posterior)
5 a 8: segundo a quinto eco de la superficie superior.

a): Recorrido en el fluido demasiado corto; aparecen ecos mltiples (5) de la superficie
dentro del
rango de ensayo (de 2 a 4).
c): Correcto dimensionamiento de la lnea de retardo.
El lmite lquido-componente producir, por este mtodo, un eco de superficie el cual,
con un
correcto ajuste del rango de profundidad, marcar el cero en la pantalla del TRC en
lugar del eco
de emisin (en muchos casos no interesa la supervisin de camino en el fluido, as que,
contrariamente a lo que muestra la Fig. 68 (c) la distancia entre los ecos N 2 al N 4
ser la que
se desarrollar a lo largo del total de la pantalla).
La ventaja de este mtodo es el constante y uniforme acoplamiento.
Adems, el eco de la superficie (entrada a la pieza de ensayo) es ms angosto que el
eco de
emisin, permitiendo as una mejor resolucin a pequeas profundidades en la pieza.
Como en este caso, a diferencia de la tcnica de contacto directo, no hay reflexin total
( el medio
lquido es considerablemente mejor conductor ultrasnico que el aire), y como una parte
del
sonido es reflejada y se propaga en el medio lquido, debe prestarse atencin a las
indicaciones
provenientes de la zona del lquido pues pueden interpretarse como defectos
inexistentes. Si en la
tcnica de inmersin se usan reflexiones en zig-zag, el rango de la onda ultrasnica
ser ms
corto que en la tcnica de contacto directo (Fig. 69 a) debido a la conversin de onda y
radiacin
de energa (ley de refraccin) en cada paso (Fig. 69 b). Por ejemplo, cuando en un
ensayo de un
tubo (Fig. 46), este se sumerge en un lquido, el eco de referencia de la circunferencia
obviamente
disminuir o desaparecer.
Fig. 69: a) tcnica de contacto; b) tcnica de inmersin
Tampoco puede ser eliminada por la tcnica de inmersin la influencia de la dispersin
provocada
por la rugosidad de la superficie , como falsamente se asume en muchos casos. As, la
tcnica de
inmersin tiene como principal ventaja un acoplamiento constante con la superficie de
la pieza de
trabajo. Otra ventaja es que dado que el palpador no est en contacto directo con la
pieza, se
pueden usar cristales ms finos de alta frecuencia.
Se debe prestar atencin a que la longitud del trayecto snico en el fluido sea lo
suficientemente
grande para evitar que los ecos mltiples no caigan dentro del rango de ensayo.
En principio, las mismas reglas dadas para el retardo en los bloques (ver seccin 3.22,
formula 28
) son vlidas aqu y muy importantes; as como se colocaba la longitud y la velocidad
snica en el
bloque de retardo se debe colocar ahora los valores del trayecto previo en el fluido.
Es frecuente el uso de palpadores focalizados en esta tcnica, los que ofrecen una alta
sensibilidad de ensayo concentrada sobre un lugar relativamente pequeo. El modo de
actuar de
los focalizadores ("lentes", Fig. 70 a y b) se deduce tambin de las leyes de refraccin
(ver
seccin 3.22 y frmula 9).
Fig. 70 Izq.: palpador con focalizacin (lente) en agua. Der.: Acortamiento de la longitud
focal
cuando el foco cae dentro de la pieza.
La eleccin para el uso de una lente cncava o convexa, depende de las velocidades
del sonido
en el material de las mismas y en el fluido. La longitud focal de tales lentes ultrasnicas
se puede
calcular as:
1
12
C
C
r
f
(31)
Donde:
f : longitud focal.
r : radio de curvatura de la lente.
c1: velocidad del sonido en la lente.
c2: velocidad del sonido en el lquido.
Las velocidades del sonido c1y c2 debern tener la mayor diferencia posible para obtener
un alto
ndice de refraccin, y sus impedancias acsticas lo ms semejantes posibles para
conseguir las
mnimas prdidas por reflexin. Buenos resultados que concilian estos dos trminos las
ofrece el
plexigls.
Si lo que se busca es focalizar en un punto, la curvatura de la lente deber ser esfrica
Fig. 71 a);
si la focalizacin se busca en una lnea , la lente ser cilndrica Fig. 71 b).
ab
Fig. 71 Lentes acsticas. a) Focalizado en un punto; b) focalizado en una lnea
Se debe considerar tambin que si la focalizacin se realiza dentro de la pieza y no en
su
superficie, habr una refraccin adicional en la superficie lmite lquido / pieza. Este
hecho causa
un acortamiento (en el plano de la superficie) de la longitud focal, el cual es
aproximadamente
proporcional a la relacin de velocidades (Fig. 70 b ).
Ejemplo:
Supongamos que queremos determinar cul ser el camino ms adecuado en el agua
(distancia
palpador-pieza) si se usa un palpador focalizado con una longitud focal en agua de 100
mm y el
foco se desea colocar a 5 mm por debajo de la superficie de la pieza ( de acero).Para
el clculo
se deber:
Sagua = Sf Sm.(Cm / Cagua)
Donde :
Sagua: paso en el agua (distancia entre el palpador y la pieza de ensayo).
Sf: distancia focal en agua.
Sm: distancia en el material de ensayo
C m y Cagua : velocidad del sonido en el material de ensayo y en agua respectivamente.
1.- Hallar la relacin entre la velocidad en el acero y la velocidad snica en el agua.
4
1,5 10 /
6.0 10 /
5
5
cm s
cm s
Significa que una unidad de medida en acero ser igual a cuatro en agua.
2.- Hallar la equivalencia entre el camino deseado en acero y en agua.
4*5 mm (en acero) = 20 mm (en agua)
3.- Restar a la distancia focal de la lente:
100 - 20 = 80 mm
Por lo tanto la distancia a la cual se deber colocar la lente para que el haz se focalice
dentro de
la pieza a una profundidad de 5 mm ser de 80 mm (recorrido en agua).
Resumiendo, podemos decir que la utilizacin de lentes acsticas ofrecen :
Incremento en la sensibilidad para defectos pequeos.
Mejoramiento de la resolucin cerca de la superficie
Correccin del contorno de las superficies
Mejoramiento de la relacin seal / ruido
Calculo de compensacin en ultrasonido por inmersin
Cuando se realiza un ensayo de ondas de corte circunferencial en tuberas de

aleaciones de
acero, muchas especificaciones requieren obtener una onda refractada de 45 grados
dentro de el
espesor de la tubera. La compensacin del transductor requerida para producir esto
debe ser
calculada usando la Ley de Snell. Para determinar el ngulo incidente correcto que
producir una
onda de corte refractada de 45 grados ser:
SS
HO
v
v2
H O SS
sen sen 2

y la ecuacin de compensacin para determinar el corrimiento del transductor respecto
de la lnea
central de la tubera para producir el ngulo de incidencia calculado es:
x R sen
x compensacin
2
OD
R
Sin embargo con una derivacin de las ecuaciones se obtiene una regla simple
aproximada de la
compensacin deseada = 6
OD
, que puede ser calculada mentalmente mientras se est frente al
sistema a ensayar.
SS
HO
v
v2
SS X R senq
3.1km/s
1.48km/s
X R sen45
X R0.338
0.338
2
OD X
Como 0.338 es aproximadamente 1/3, la ecuacin puede ser reescrita
3
1
2
OD X
6
OD X
Esta regla aproximada para calcular la compensacin del transductor para materiales
de
velocidades similares.Por ejemplo para encontrar la compensacin que producir una
onda de corte de 45 grados
circunferencial aproximada en una tubera de acero inoxidable de 6.4 mm de dimetro,

calculando
6.4/6=1.05 mm de compensacin.
La siguiente Fig. muestra el problema planteado
3.6. INTERPRETACION DE LA PRESENTACION EN LA PANTALLA DE TRC
Como ya fue mencionado anteriormente, el haz electrnico, dentro del tubo de rayos
catdicos, es
deflectado en la direccin horizontal en una proporcin lineal con el tiempo ( generador
de la base
de tiempo); adems de esto, es tambin deflectado en la direccin vertical cuando
aparece un
voltaje elctrico adicional en el transductor (seal ultrasnica de emisin o recepcin).
Principalmente lo que se mide es el tiempo de recorrido de la onda ultrasnica en la
pieza.
De acuerdo con la relacin:
(velocidad) c = (distancia) a
(tiempo) t
el espesor de la pieza o la distancia a un defecto puede ser calculada cuando se conoce
la
velocidad del sonido como :
a t c (32)
De all que la pantalla del TRC puede ser calibrada directamente en longitud cuando la
velocidad
del sonido es conocida. Despus de un ajuste correcto, se leer directamente en las
divisiones de
la pantalla la longitud al reflector en mm.
Como referencia para esta lectura se toma el punto (en abscisas) sobre el cual el eco
comienza a
crecer (Fig. 72).
Fig.72:El punto en donde el eco se levanta (punto izquierdo en la base del mismo),
es la referencia para su localizacin. Los cuatro ecos visibles (excepto
el eco de emisin) estn localizados en las divisiones: 1,5 ; 4,5 ; 6,0 y 9,0.
3.61. Indicaciones de defectos
Los defectos son indicados de diferentes maneras , de acuerdo a sus formas, tamaos
y
ubicaciones dentro de la pieza.
3.611. Indicaciones directas
El ms comnmente usado y confiable es el mtodo de indicacin directa del defecto
el que
debera ser aplicado, siempre que sea posible, ya que dar los resultados ms
satisfactorios de
evaluacin y reconocimiento. En este mtodo aparece sobre la pantalla del TRC, un
pulso o eco
adicional.
3.6111. Eco de localizacin del defecto
La localizacin de un defecto , esto es su profundidad, puede ser leda desde la pantalla

de TRC
siempre que antes se haya realizado un correcta calibracin del rango de medida. Para
ello, se
puede ajustar en el equipo una longitud de medicin aproximada y redonda de nmero
entero, y
leer el lugar del defecto, sin mayores clculos, como fraccin fcilmente distinguible de
la longitud
de medicin total ajustada (Fig. 73).
Fig. 73:Rango de medicin:200mm
Eco de fondo en: 145 mm
Eco del defecto: 86,7 mm
Otra forma de calibracin es desarrollar, en el total de la pantalla, la distancia entre el
eco de
emisin y el eco de fondo de la pieza, y leer la localizacin del defecto como una fraccin
porcentual del espesor de la misma (Fig. 74).
Fig.74: Sea la longitud de medicin , por ejemplo 145mm; luego el eco de fondo se lee
en 145mm
y el eco del defecto en 59,8% de 145mm = 86,7mm
Cuando se usan palpadores angulares es sencillo, en algunos casos, determinar la
localizacin
de un defecto por la componente horizontal ( distancia proyectada) del haz ultrasnico
oblicuo, o
por la componente vertical (profundidad) en lugar de hacerlo a travs de la longitud del
camino
snico.
En la prctica, se usan las misma reglas para la localizacin de defectos que las ya
mencionada
antes, junto con las correspondientes funciones trigonomtricas (factor proporcional
para ngulo
constante).
Muchas veces, cuando se usan palpadores normales o angulares, el fuerte impulso del
eco de
emisin (su ancho) afecta la resolucin y sensibilidad sobre distancias pequeas,
cercanas a la
superficie (zona muerta), dificultando la deteccin de defectos que estn muy cerca de
la
superficie.
Se podra pensar que sera ms ventajoso visualizar en pantalla, por ejemplo, el rango
entre el
primer y segundo eco de fondo en lugar de la distancia entre el eco de emisin y el
primer eco de
fondo, ya que, como se dijo en la seccin 2.22, se repite la presentacin, y adems al
ser el
primer eco de fondo mucho ms estrecho que el de emisin, se esperara una mejor
detectabilidad y resolucin a cortas distancias de la superficie. Este mtodo no se
recomienda y
no debe ser aplicado ya que existe el peligro de que aparezcan indicaciones falsas (ver
4.2).
Siempre se usar el rango entre el eco de emisin y el primer eco de fondo; los defectos
cercanos
a la superficie sern tratados de hallar por medio de palpadores con doble cristal (T/R
o S/E), o
desde el lado posterior, o por alguna otra tcnica.
3.6112. Altura del eco
Generalmente se puede decir que no es posible determinar el tamao exacto de un
defecto por
medio de la altura de un eco.
Se puede observar en las algo simplificadas ilustraciones de la Fig. 75 que la altura de
los ecos
tambin depende de la orientacin de la superficie reflectora del defecto, del grado de
rugosidad
(en comparacin con la longitud de onda), de la forma (esfrica, cilndrica, plana, etc.),
y , por
supuesto, del material del defecto (cavidades gaseosas, segregaciones, inclusiones no
metlicas).
Fig.75:Reflexiones y vistas de pantallas obtenidas de diferentes defectos(esquemtico,
no usar
como catlogo).
Sin embargo es posible, por medio de series de ensayos experimentales
(particularmente en
casos de producciones masivas) y junto a ensayos destructivos, adquirir cierta
experiencia
particular, para los mismos tipos de discontinuidades, y as ser capaz de poder afirmar
con
bastante seguridad sobre el tamao de los defectos encontrados. Estas afirmaciones
slo
tendrn validez para las mismas o tipos de tareas similares.
La altura de los ecos pueden adems estar relacionadas con las indicaciones que
provienen de
defectos artificiales patrones con propiedades definidas (orificios de fondo plano
perpendiculares
a la direccin del sonido, orificios cilndricos, ranuras, etc.). Esto permite unificar la
tcnica de
ensayo, lo que es indispensable para establecer normas generales y prescripciones
para la
realizacin de los ensayos.
3.6113. Forma del eco
La forma de un eco que se muestre sobre la pantalla de TRC permite estimar la forma
superficial
de un defecto. La experiencia ha demostrado que aquellos que posean superficies lisas,
ya sean
planos o curvados, producirn un nico eco angosto (agudo), mientras que defectos
irregulares,
con superficies rugosas producirn ecos anchos, interrumpidos, escarpados casi sin
ningn pico
definido (Fig. 76) .
Fig.76: Defectos con diferentes formas y sus resultados de pantalla.
3.6114. Proyeccin del haz desde diferentes direcciones
Si un defecto, una vez detectado, es expuesto a un haz ultrasnico desde distintas
direcciones, se
obtendr una mejor evaluacin de la forma y tamao del mismo. Un defecto con forma
esfrica
dar aproximadamente la misma respuesta, esto es la altura del eco, desde diferentes
direcciones, mientras que un defecto plano presentar, obviamente, un mximo cuando
el haz
caiga perpendicularmente a la superficie, y un mnimo cuando sea paralela a esta.
3.612. Indicaciones indirectas de defectos
En muchos casos, cuando no son posibles indicaciones directas, los defectos pueden
ser
indicados indirectamente , por ejemplo en ciertos tipos de porosidad o esponjosidad
como se
muestra en la Fig. 76 ( inferior - izquierda). La altura del eco de fondo disminuir
considerablemente al mismo tiempo que aparecern ecos del defecto. Con el ensayo
indirecto de
defectos, el eco de fondo decrece aun cuando no se visualicen ecos del defecto. La
observacin
del eco de fondo, hoy en da, es parte esencial en algunos modernos ensayos
ultrasnicos. Se
debe considerar adems que una cada del eco de fondo tambin puede ser causado
por
rugosidad o curvatura de la superficie como as tambin por acoplamiento insuficiente.
En general
son vlidas las mismas reglas que para el mtodo de transmisin, donde se observa un
decaimiento anlogo del pulso penetrante cuando el defecto est localizado entre los
dos
palpadores ultrasnicos (tambin aqu la altura del eco depende de la rugosidad,
curvatura,
calidad de acoplamiento, y, adicionalmente, del correcto posicionamiento.
En muchos casos, los resultados del ensayo pueden ser clarificados por los mltiples
ecos en
lugar de un solo eco de fondo.
3.62. Indicaciones de defectos aparentes
Las indicaciones de defectos aparentes son causadas por otros fenmenos ms que
por defectos
verdaderos. Pueden existir las siguientes razones: respuestas a la geometra de la
pieza, mala
eleccin de palpadores, conversin de ondas, y ecos espurios o ecos fantasmas por
valores
demasiado altos de repeticin de pulsos. Como la presencia de indicaciones de
defectos
aparentes dificulta la evaluacin de los resultados del ensayo, es preciso evitarlos en la

medida
de lo posible. Para ello puede procederse, por ejemplo de la siguiente manera:
elegir la posicin del palpador y la direccin ptima del haz.
el rango de evaluacin deber ser entre el eco de emisin y el primer eco de fondo; las
indicaciones aparentes, frecuentemente, aparecen despus del eco de fondo debido a
tiempos y
trayectos de recorrido del sonido ms largos
Si no es posible evitar estas indicaciones dentro del rango de ensayo, es factible
predecir, y
as, tomar en cuenta el lugar de su aparicin.
3.621. Conversin y desdoblamiento de ondas
3.6211. Incidencia rasante de ondas
Cuando las ondas ultrasnicas ( ondas longitudinales) viajan en forma paralela y
cercanas a la
superficie de la pieza, por ejemplo cuando se ensaya desde un extremo a otro un
componente
cilndrico de aproximadamente el mismo dimetro que el cristal del transductor, se
pueden
producir desdoblamientos a ondas transversales que viajan a travs de la pieza con
diferentes
velocidades y en otras direcciones las que pueden determinarse por medio de la ley de
refraccin
(Fig. 77).
Fig. 77:Generacin de ecos satlites por desdoblamiento y reconversin de ondas
transversales.
1:Eco de pared de fondo.
2:Primer eco satlite
3:Segundo eco satlite
4:Segundo eco de fondo
El desdoblamiento y transformacin de ondas transversales puede ocurrir una, dos, tres
o ms
veces tanto en el camino de ida como en el de vuelta, y en cualquier punto de la
superficie del
componente. Estos ecos, llamados satlites, aparecen siempre despus del primer eco
de fondo
debido tanto, al camino recorrido ms largo, como a que la velocidad de las ondas
transversales
es menor. El tiempo adicional de recorrido es mltiplo entero del tiempo necesario para
que la
onda transversal viaje a travs de la pieza y puede ser calculado como:
b
b
tg
c
Dc
st
l
cos
1
2 (33)
Donde:
s : diferencia de camino snico entre el primer eco de fondo y el primer eco satlite o
entre dos
ecos satlites adyacentes.
D : dimetro de la pieza.
cl : velocidad de la onda longitudinal.
ct : velocidad de la onda transversal.
: ngulo de la onda transversal desdoblada ( puede ser calculado por medio de la ley
de
refraccin).
Adems de esto, es posible determinar la velocidad de la onda transversal por medio
de los ecos
satlites como se indica a continuacin:
D
s
c
c
l
t
12 2
(34)
Sin ecos satlites Con ecos satlites
Fig. 78 :Ecos de fondo mltiples.
3.6212. Transformacin de onda de 29/ 61
Segn la ley de efraccin pueden ser generadas por una onda longitudinal que incida
oblicuamente sobre una superficie refractante de la pieza, dos tipos de ondas: una onda
longitudinal y una transversal (ver seccin 1.422). Generalmente, ambos tipos de ondas
no tienen
la misma energa, dado que las mismas dependen del ngulo de incidencia Fig. 79.
En el rango entre 60 a 75, las ondas longitudinales tienen un marcado mnimo,
mientras que las
ondas transversales son esencialmente fuertes. Esto significa que una onda longitudinal
incidiendo en estos ngulos producir, principalmente una onda transversal y
solamente una dbil
onda longitudinal.
El ngulo de la onda transversal refractada se puede calcular por medio de la ley de
refraccin.
Este fenmeno puede causar una situacin complicada cuando los ngulos de ambas
ondas
suman 90, y hay un borde de la pieza en escuadra (90) en el camino snico. La
marcha del
camino snico es el ilustrado en la Fig. 80a. La presin snica es muy dbil en el camino
normalmente esperado; la onda transversal generada es mucho ms fuerte, pero sigue
otra
direccin y no vuelve al palpador. As es que el efecto de borde en escuadra debilita
notablemente la reflexin. El caso inverso (Fig. 80 b), debe tomarse en consideracin
cuando se
usan palpadores de 60.
Fig.79: Presin snica de ondas longitudinales y transversales vs. ngulo de incidencia
()
El valor mximo ha sido definido pero sigue otra como 100 %.
Fig. 80: Conversin del tipo de onda 29/ 61 en una pieza con bordes rectangulares.
L: longitudinal ; T: transversal.
Los ngulos para cualquier material se pueden calcular con las siguientes frmulas:
cl
ct
sen l
sen t
ct
cl
sen t
sen l
lttl
b
a
b
a
a b 90 a b 90
(35)
Para acero se obtienen los ngulos de 29 y 61. Esto significa que, en acero, una onda
longitudinal que incida sobre una superficie con un ngulo de 61 ser casi totalmente
transformada en una onda transversal con un ngulo de reflexin de 29, y viceversa.

Tales
transformaciones de ondas, junto a una forma particular de la pieza, pueden a su vez,
dar origen
a ecos de defectos aparentes.
3.6213. Ondas superficiales
Cuando se usan palpadores con grandes ngulos, y debido a la divergencia del haz
snico, se
pueden generar ondas superficiales, las que viajan a lo largo de la superficie con una
velocidad
diferente a las ondas transversales (ver seccin 1.41), y son susceptibles de reaccionar
a
pequeas rugosidades de la superficie, causando as indicaciones. Los ecos
producidos por estas
ondas disminuirn su altura cuando se toque con la punta del dedo con aceite la
superficie de la
pieza, entre el palpador y la rugosidad que da origen a la indicacin.
3.6214. Ondas Lamb
Cuando se ensayan chapas metlicas delgadas, muy frecuentemente se generan
ondas Lamb en
lugar de las ondas transversales ordinarias. La velocidad de estas ondas es funcin del
espesor
de la chapa, frecuencia y del tipo de onda Lamb. En estos casos, la inspeccin deber
ser llevada
a cabo usando el mtodo de ondas Lamb exclusivamente, usando un palpador universal
(ver
secciones 1.41 y 2.3323). Adems de esto, la onda Lamb es mucho menos atenuada
en el
material que la onda transversal por lo que resulta en un ensayo de alta sensibilidad.
3.622. Geometra de la pieza de ensayo
3.6221. Reflectores dentro del camino sonido
Frecuentemente las indicaciones son causadas por bordes, ya sea perpendiculares u
oblicuos al
camino snico (Fig. 63 arc), y en muchos casos pueden ser evitadas por medio de una
adecuada
eleccin del palpador, lugar de ensayo y direccin. De otra forma, la mayora de las
veces, es
bastante fcil predeterminar sus localizaciones en la pantalla del TRC.
3.6222. Ecos parsitos por desviacin del haz
Ecos debidos a la desviacin del haz son causados por la geometra de la pieza, como
se
muestra en la Fig. 63 b. Se producen despus del primer eco de fondo cuando se
examinan
barras redondas desde la superficie cilndrica. En este caso, la causa de este fenmeno
es el
ensanchamiento del haz debido a la curvatura de la superficie. Como se muestra en la
Fig. 81, se
produce una reflexin triangular con y sin transformacin del tipo de
onda. En muchos casos, los tiempos de recorrido del sonido de los ecos satlites, son
mas largos
que el del eco de fondo de tal forma que aquellos aparecern despus que este.
Adems, por la
conversin de tipo de onda, el tiempo de recorrido es ms largo dada la menor velocidad
de las
ondas transversales.
Fig.81:Generacin de ecos satlites en la inspeccin de una barra cilndrica.
1:Primer eco de fondo
2:Eco satlite por reflexin triangular sin conversin de tipo de onda (2 = 2)
3:Eco satlite por reflexin triangular con conversin de tipo de onda (2 2)
4:Segundo eco de fondo
3.623. Ecos espurios o fantasmas
La aparicin de ecos espurios o fantasmas se deben a frecuencias de repeticin de
pulsos
excesivamente altas, esto es intervalos demasiado pequeos entre un impulso y el
siguiente.
Como cada pulso transmitido tambin activa (dispara) nuevamente la deflexin
horizontal (base
de tiempo) del haz electrnico del osciloscopio , puede suceder que al darse una larga
secuencia
de ecos, los ltimos ecos de un impulso emitido an no se hayan extinguido totalmente
cuando se
inicia el impulso de emisin siguiente.
Como consecuencia del nuevo disparo, los impulsos residuales de una secuencia se
presentan
en la pantalla conjuntamente con la nueva secuencia de impulsos .En la Fig. 82 se
observa el
principio de la generacin de ecos fantasmas.
Un mtodo seguro para reconocer estos ecos, es variando la frecuencia del pulso de
repeticin de
tal
forma que, cuando sta se reduce suficientemente, los ecos fantasmas desaparecern.
En
mayora de los equipos en particular los aparatos para ensayos manuales, la frecuencia
de la
secuencia de pulsos es conmutada al comando de rango de medicin de tal manera
que, siempre
hay una distancia suficientemente grande entre los distintos pulsos emitidos, con lo que
se
previene la generacin de ecos fantasmas. En el caso de aparatos integrados en
instalaciones,
donde la frecuencia de la secuencia de impulsos tambin puede ajustarse
independientemente de
la longitud de medicin, debe contemplarse la posibilidad de estos ecos en caso de
manejo
incorrecto.
Fig.82:Formacin de ecos fantasmas.
Izquierda:: distancia suficiente entre pulsos.

Derecha: ecos fantasmas causados por distancia insuficiente entre pulsos de
transmisin. Los
ltimos ecos mltiples de una secuencia anterior son visibles entre los ecos de la nueva
secuencia.
3.7 DETERMINACION DE LA FORMA Y TAMAO DE DISCONTINUIDADES
Dado cualquier discontinuidad como puede ser una cavidad en una fundicin de hierro
representar un obstculo para la onda snica.
La informacin de este defecto se puede obtener por medio de la onda reflejada en l
(su eco)
cuando se usa el mtodo del eco o por medio de su sombra cuando se aplica el mtodo
de la
medicin de la intensidad del sonido.
Tanto el eco del defecto como de su sombra estn basados en conceptos puramente
pticogeomtricos
por lo que la informacin que se puede obtener slo ser posible en los casos de
discontinuidades grandes y regulares como por ejemplo en fisuras transversales planas
y lisas en
una barra donde la onda incidente se reflejar como en un espejo y con una sombra
total detrs
de ella.
Sin embargo, los defectos naturales pueden ser tan pequeos que produzcan
fenmenos de
difraccin tanto en el eco que producen como en su sombra. Por esto las
discontinuidades se
clasifican de acuerdo a sus dimensiones transversales con respecto al haz snico en
discontinuidades grandes y pequeas.
Se aclara que la designacin de "pequeo" no es una evaluacin de la seriedad de la
discontinuidad con respecto a la pieza en ensayo o lo que es lo mismo como puede
afectar su
aptitud para el servicio.
3.71. Discontinuidades grandes.
El tamao de las discontinuidades grandes o sea aquellas que son mayores que la
seccin
transversal del haz snico a la profundidad del defecto se pueden estudiar por el mtodo
de los
valores medios o mtodo de exploracin dinmica.
El estudio se realiza de la siguiente forma: se barre la pieza fuera de la zona donde se
encuentra
el defecto sin que existan interferencias de paredes laterales. Si se obtiene eco de fondo
este se
calibra a una determinada altura total de pantalla ( por Ej. 80% ATP) .
Cuando el haz comience a interceptar el defecto el eco de fondo comenzar a disminuir
tomndose como proyeccin del defecto sobre la superficie de la pieza aquel punto en
el cual el
eco de fondo haya disminuido a la mitad del valor de la ATP calibrada anteriormente
(en nuestro
Ej. 40% ATP). En este punto el eje del haz se encontrar en el borde del defecto. As
se contina
delimitando el contorno de la falla. Ver Fig. 83.
En el caso de fallas alargadas en las cuales slo la dimensin longitudinal sea mayor
que el
dimetro del haz se podr determinar por este mtodo solamente esta longitud.
Siempre es preferible trabajar con un haz de rayos lo ms paralelos posibles esto es en
el campo
cercano en un palpador de gran dimetro o en el campo lejano con palpadores de
pequeo
ngulo de divergencia.
Fig. 83: Comportamiento del eco del defecto y del eco de fondo durante el barrido de
un defecto
grande.
Este mtodo necesita del eco de fondo (superficies de barrido y de fondo paralelas) no
siendo
imprescindible la aparicin del eco del defecto el cual podr estar en posicin oblicua o
ser
volumtrico (cavidad de contraccin). De esta forma los resultados sern
independientes de la
ganancia del ensayo y de la orientacin o forma del defecto.
Si por cualquier razn no se tuviera eco de fondo el ensayo se podr realizar de la
misma forma
pero con el eco del defecto. En este caso los resultados obtenidos si dependern del
nivel de
sensibilidad del ensayo (ganancia) y la orientacin o forma del defecto. Es claro que
cuando la
discontinuidad en estudio sea paralela a la superficie de barrido los resultados sern
reales pero
en el caso de orientaciones o geometras diferentes (falla oblicua o rugosidad) los
resultados
sern slo aproximados al real dependiendo de que criterio de mnima altura de la
indicacin de
su eco se adopte el que indicar dnde comienza la heterogeneidad.
De la misma forma se podrn medir por medio de palpadores angulares de 70 a 75 la
profundidad de fisuras superficiales o la distancia de fisuras desde la superficie en el
caso de que
estas existan y sean grandes por ejemplo en forjados.
De ser posible la profundidad se medir de ambos lados y los resultados promediados.
3.72. Discontinuidades pequeas
La determinacin del tamao de defectos pequeos (rea del defecto menor que la
seccin
transversal del haz snico) se puede realizar solamente midiendo el eco de mxima
amplitud
producido por el defecto. Este mtodo se llama de determinacin esttica (sin
movimiento del
palpador) y luego se lo compara con discontinuidades conocidas.
Estas discontinuidades o reflectores pueden ser:
1) Discontinuidades naturales conocidas de idntica naturaleza y morfologa que las

estudiadas.
Es el caso ideal pero tambin el ms limitado pues se puede aplicar en casos muy
particulares
como por ejemplo en grandes producciones sistemticas en donde se puede presentar
un tipo
determinado de defecto.
2) Discontinuidades artificiales de morfologas "similares" a las esperadas. Tambin
difcil de
aplicar. Se suele utilizar en casos de estudios cuidadosos de las condiciones de ensayo.
3) Reflectores en forma de disco circular plano. Usualmente se utilizan orificios de fondo
plano de
distintos dimetros para obtener los resultados como una aproximacin que depender
de cun
alejado estemos de la realidad del defecto en estudio.
En general las discontinuidades naturales tienen superficies rugosas e irregulares lo
que dar
indicaciones de menor altura que un disco circular con igual superficie de reflexin por
lo que el
tamao de una discontinuidad natural pequea ser igual o mayor que la de un disco
circular
perpendicular al haz snico presente en la misma muestra y cuyos ecos sean de igual
altura.
Una tcnica muy usada que compara el tamao de una heterogeneidad con discos
circulares
planos es la que emplea los Diagramas AVG.
Diagramas AVG
Estos diagramas son una recopilacin de respuestas de discontinuidades de referencia
de
distintos dimetros y a distintas distancias. Intervienen las variables:
A : distancia del palpador a la discontinuidad (ordenada del diagrama ; escala
logartmica).
V : ganancia( abcisa en el diagrama; escala decimal e invertida)
G : dimetro de la discontinuidad de referencia o equivalente (curvas del diagrama). La
curva que
est indicada con (infinito) corresponde a la respuesta de una discontinuidad de
tamao infinito
(con respecto al tamao del dimetro del palpador) y es el eco de fondo de la pieza.
Con estos diagramas lo que se obtiene es que :
La discontinuidad en estudio tiene una
respuesta similar a la de un disco circular
plano (orificio de fondo plano) de un
determinado dimetro.
Existen Diagramas particulares (Fig. 84) para cada palpador en general dados por el
fabricante y
que son los normalmente usados y un Diagrama general (o normalizado) que es
adimensional
(Fig. 85).
En el Diagrama general A (adimensional) es la distancia a la discontinuidad dividido el

campo
cercano del palpador que se utilice; G (adimensional) es el dimetro de los discos
planos de
referencias dividido por el dimetro del palpador utilizado.
La zona izquierda del diagrama es la regin de incertidumbre del campo cercano por lo
que no es
posible trabajar all.
Los pasos del procedimiento son los siguientes:
a) Se elige un reflector de referencia. Este puede ser el fondo de la pieza el de la probeta
u
orificios de fondo plano de un determinado dimetro.
b) Se calibra el equipo con un rango de trabajo de acuerdo a las distancias antes
elegidas.
-Se fija con la ganancia la ATP adecuada para el eco de la discontinuidad de referencia
y se
anota dicho valor.
c) Con la distancia a la discontinuidad de referencia se entra en el diagrama hasta cortar
la curva
que corresponda a la misma () si la referencia es el fondo de la pieza). Este ser el
punto que
representa su respuesta. Movindose sobre la horizontal hasta el eje de ordenadas se
lee el valor
de la ganancia que corresponde a este punto sobre el diagrama.
d) Con la misma calibracin hecha en b) se busca el eco mximo de la discontinuidad
en estudio
y con la ganancia se lo lleva hasta la misma ATP que fue fijada en b) para la
discontinuidad de
referencia. Se anota la diferencia de dB.
e) Sobre el diagrama y con la distancia de la discontinuidad real se traza una vertical
hasta
interceptar a una horizontal que se obtiene de sumar o restar al punto de referencia los
dB
hallados en d). Este nuevo punto as hallado representa a la discontinuidad real y la
curva G que
lo intercepte nos dar el dimetro equivalente de un orificio de fondo plano que tendr
una
respuesta semejante a la de la discontinuidad real.
Se darn a continuacin ejemplos de usos de los diagramas AVG:
Ejemplo 1- a : Diagrama particular.
Datos:- Pieza a ensayar: barra de acero forjado de 200 mm de dimetro y 250 mm de
longitud.
Palpador : Krautkr5amer B2 S-N Serie D
Discontinuidad de referencia: eco de fondo (250 mm)
Eco de fondo a 80 % ATP : 26 dB (equipo)
Eco de fondo : 11 dB(diagrama)
Eco del defecto se observa a : 200 mm de profundidad
- Eco del defecto llevado a 80% ATP :40 dB (equipo)

Diferencia de ganancia (en equipo) : 40-26= + 14 dB
e) - En el diagrama : 11 + 14 = 25 dB
Subo con 200 mm (profundidad del defecto) hasta 25 dB dando un defecto equivalente
de 8 mm
de dimetro.
Ejemplo 1- b: Diagrama particular
Datos:
Pieza a ensayar: barra de acero forjado de 200 mm de dimetro y 250 mm de longitud.
Palpador : Krautkrmer B2 S-N Serie D
a) - Discontinuidad de referencia: orificio de = 8mm
- Profundidad : 500 mm
b) - Eco de referencia. a 80 % ATP : 36 dB (equipo)
c) - Eco de referencia : 40 dB(diagrama)
d) - Eco del defecto se observa a : 300 mm de profundidad
- Eco del defecto llevado a 80% ATP : 46 dB (equipo)
- Diferencia de ganancia (en equipo) : 46-36= + 10 dB
- Subo con 300 mm (profundidad del defecto) hasta 50 dB dando un defecto equivalente
de 2.8 mm de dimetro (aprox.).
Nota: en el punto d) la diferencia de ganancia (en equipo) podra ser negativa si el eco
del defecto
sobrepasara el 80% de la ATP . En este caso en el punto e) en el diagrama se deber
restar ( y
no sumar) los dB al valor antes obtenido.
Fig. 84: Diagrama particular.
Ejemplo 2: Diagrama general ( o normalizado).
a) - Discontinuidad de referencia: eco de fondo (100 mm)
- Campo cercano del palpador utilizado : 10 mm
- Dimetro del palpador : 10 mm
10
10
tan 100
1
campo cercano del palpador
dis cia al eco de fondo
A
b) - Eco de fondo a 80 % ATP : 40 dB (equipo)
c) - Eco de fondo : 15 dB(diagrama)
d) - Eco del defecto se observa a : 50 mm de profundidad
5
10
50
2 A
- Eco del defecto llevado a 80% ATP : 54 dB (equipo)
- Diferencia de ganancia (en equipo) : 54-40 = + 14 dB
- Subo con 5 (profundidad del defecto) hasta 28 dB dando G = 0.3
El defecto equivalente ser:

defecto equivale mm
palpador
defecto
G 0.3 10 3
f
f
Fig. 85: Diagrama general.
Mtodo DAC
Descripcin de reflectividades:
Para describir reflectores desconocidos de seccin menor que la del haz, generalmente
se
compara la altura del eco que genera ste con el eco de un reflector artificial de forma
y tamao
conocido ( eco de referencia).
Para relacionar las alturas de ambos ecos se puede utilizar diferentes formas que se
explicarn
con el siguiente ejemplo:
1) Descripcin de alturas de ecos.: supongamos que se haya colocado el eco de fondo
( Pos. 1)
a 80% ATP y que a continuacin se haya localizado un defecto que con la misma
amplificacin alcanza tan solo el 40% ATP (Pos.2)
Fig. 6.1. : Comparacin de reflectividades.
La diferencia de reflectividades se puede expresar de tres formas.
1.1 Relacin de alturas de ecos (H2 / H1)
0,5
2
1
80%
40%
1
H
H
En otras palabras el eco referido tiene la mitad de la altura del eco de referencia.
1.2 Diferencia entre alturas de ecos (H) en dB.
Segn una convencin se define la diferencia entre dos alturas de ecos expresada en
dB por el
logaritmo de la relacin de altura entre ambos multiplicada por 20
2
20.log 2
H
H
H
en este caso es:
H 6dB
80
40
20.log
lo que indica que el eco comparado tiene una altura 6 dB menor () que la del eco de
referencia.
1.3 Diferencia de amplificacin ( V) en dB
Para determinar la diferencia de amplificacin V, se coloca, mediante el mando de
amplificacin,
el eco a evaluar a la misma altura de pantalla, como la del eco de referencia y se
comparan los
valores.
defecto
Pared posterior
(reflector de
referencia)
12
Eco de referencia Eco del defecto
Gk = Amplificacin del equipo correspondiente al eco de referencia
Gf= Amplificacin del equipo correspondiente al eco a comparar ( o del defecto) a la
altura de
referencia
Vf:= Diferencia de amplificacin.
Vf:= Gf Gk
En este caso podra ser Gk = 16 dB y Gf = 22 dB por lo que Vf:= 22 16 = + 6 dB.
Lo que indica que la amplificacin del equipo ha tenido que ser aumentada (+) en 6 dB
para que
el eco del defecto alcanzara la altura de referencia.
Como se ve, los valores de H y V se diferencian solamente en el signo:
H = V
2) Comparacin directa de reflectividades- Mtodo DAC ( Distancia Amplitud
Correccin)
Este mtodo se basa en bloques de comparacin que deben tener una geometra y ser
de un
material similar al objeto de ensayo. Estos bloques tienen reflectores artificiales de
determinada
forma y tamao ( reflectores de comparacin).
De acuerdo a la geometra del objeto de ensayo se hallan determinadas en
especificaciones y
Cdigos las medidas especficas de los bloques de comparacin. En la mayora de los
casos se
utilizan agujeros transversales como reflectores de comparacin.
2.1 Procedimiento segn el mtodo DAC.
1) Ajuste el equipo en recorrido o dpa.
2) Construccin de la lnea de referencia
Para ello se generan ecos de los reflectores de comparacin sin variar la amplificacin
del equipo,
uniendo los picos de los ecos. De esta forma se obtiene la lnea de referencia ( Fig. 6.2)
GK
Referencia Comparacin
GF
Fig. 6.2. Curva DAC
A continuacin se anota el valor de amplificacin del equipo ( Gk) con la que se
construy la lnea
de referencia.
3) Correccin de transferencia VT
Se puede dar el caso que el objeto de ensayo tenga una superficie de peores
condiciones que el
bloque de referencia o que su estructura sea diferente. Para compensar estos efectos
se realiza
una correccin de transferencia.
Para ello hay que determinar previamente las prdidas de sensibilidad VT al pasar de
un cuerpo
al otro.
Determinacin de VT
Para ello se generan con dos palpadores del mismo tipo, las indicaciones de
transmisin en V,
colocndolas a la misma altura de la pantalla ( FIG 6.3)
FIG 6.3 Determinacin de VT
Se anotan las dos amplificaciones del equipo GT1 y GT2 a partir de las cuales se
determina la
correccin de transferencia:
d1 d2
ERER
Bloque de
comparacin
Objeto de
GT1
80%
ATP
GT2
VT = GT1 GT2 Condicin: d1 = d2
Esta diferencia contiene las prdidas ocasionadas por diferencias de superficie y en
parte por
diferencia de atenuacin.
4) Amplificacin adicional VT (dB)
Puede darse el caso que se quiera registrar con una mayor sensibilidad (V) que la
correspondiente al reflector de comparacin.
5) Sensibilidad de registro GR (dB)
La sensibilidad de registro se obtiene de las suma:
GR = GK + DVT + DV
6) Descripcin de reflectores.
Todos los reflectores que llegan a la lnea de referencia o la sobrepasan con la
amplificacin GR
deben registrarse, determinndose la diferencia con respecto a la lnea de referencia

HF en dB.
En este caso el valor HF tambin suele llamarse sobrepaso del lmite de registro.
3.8. CONSIDERACIONES EN LA CONSTRUCCION DE PIEZAS
Cuando una pieza deber ser ensayada ultrasnicamente por ejemplo por seguridad
se deber
tener en cuenta esto desde su proyecto.
Tanto en los materiales provistos como en la manufacturacin y procesos de maquinado
los
posibles eventuales defectos y su posicionamiento pueden ser previamente estimados
en la
mayora de los casos por lo que deberan ser consideradas reas adecuadas para el
acoplamiento geometras acsticas simples
para una evaluacin fcil de los resultados del ensayo. Ecos causados por la geometra
de la
pieza o por conversin de ondas pueden ser evitados con geometras adecuadas. Sin
embargo
hoy en da, estos requerimientos no son satisfactoriamente considerados haciendo
frecuentemente que el ensayo sea dificultoso, caro y hasta imposible de realizar.
3.9. PROCEDIMIENTOS GENERALES DEL ENSAYO ULTRASONICO
Las tcnicas de ensayo, las cuales se encuentran en especificaciones y reglas, son los
resultados
obligados de los procedimientos que se mencionan ms adelante. En muchos casos
ser
necesario un diagrama en escala.
Principio bsico: La respuesta a la direccin de
propagacin del sonido en el arreglo de ensayo, depende
de la existencia del defecto.
En muchos casos, el defecto en la pieza es conocido ( por ejemplo piezas reclamadas
por haber
sufrido corte o quebradura) o pueden ser, al menos estimada (rea , forma , orientacin)
considerando las propiedades del material y los procesos sufridos.
La determinacin de la direccin necesaria del haz snico se debe efectuar desde la
posicin del
defecto hacia la superficie; mientras que en un defecto volumtrico, principalmente
aquellos
esfricos, hay libertad en la eleccin de la direccin, un reflector cilndrico podr ser
hallado desde
todas las direcciones perpendiculares al eje del cilindro. Existen mayores restricciones
para un
reflector plano el cual ser detectable solamente desde una direccin (y la opuesta
respectiva)
perpendicular a su superficie o por la tcnica en tndem ( dos palpadores, uno emisor
y el otro
receptor). Las direcciones del sonido dependen obligatoriamente de estas
consideraciones.
La siguiente consideracin es que el rea de inters de la superficie sea accesible para
un
adecuado acoplamiento. Si esto se da, la tcnica de ensayo puede ser directamente

deducida:
segn el ngulo con la superficie, incidencia del sonido perpendicular u oblicua; se
pueden usar
tcnicas por contacto directo o por inmersin, en caso de la tcnica de contacto y
camino snico
corto, palpadores de doble cristal. Cuando se usa incidencia oblicua puede ser
necesario calcular,
dependiendo del material, los ngulos por medio de la ley de refraccin ( ver 1.422,
(11)). En la
tcnica de inmersin se debe tener cuidado de asegurarse que el tiempo de recorrido
del sonido
en el lquido nunca ser menor que en la pieza para evitar ecos mltiples de
interferencia en el
rango de ensayo (ver 3.5).
Cuando el rea determinada para el ensayo sea inaccesible, o cuando exista peligro de
indicaciones aparentes dentro del rango de ensayo, se buscarn otras tcnicas. Se
debern
considerar las siguientes posibilidades:
1.Si el rea de la superficie es inaccesible, excepto que se puede llegar a la zona de
inters por
otra direccin del sonido (zig-zag) , podrn ser aplicadas las reglas de reflexin para
encontrar
una nueva direccin la cual gue a otra rea de la superficie.
2.Eleccin de una direccin diferente del sonido, bajo circunstancias de no
perpendicularidad al
defecto. En caso de defectos cercanos a la superficie, se puede utilizar el efecto de
borde como el
descrito en 2.3321, Fig. 40, en donde ambas direcciones delantera y trasera de la onda
ultrasnica casi coincide, lo cual permite el uso de un solo palpador.
3.Si el efecto de bordes no puede ser utilizado, se podr tambin encontrar
oblicuamente un
plano del defecto en el cual se reflejar segn las leyes de reflexin (1.422). La direccin
perpendicular al plano del defecto es, en este caso, la bisectriz del ngulo. Esta tcnica
de ensayo
es conocida como " tcnica en tndem", y generalmente requiere dos palpadores
separados, uno
emisor y el otro receptor . Las consideraciones ya mencionadas para la superficie deben
ser, en
este caso, tenidas en cuenta para cada palpador.
4. En casos de defectos con una fuerte dispersin se puede usar un arreglo semejante
al indicado
en 3 pero asimtrico. Esto es tambin llamada "tcnica delta" que consta de un palpador
transmisor y otro receptor separados.
Frecuentemente sern posibles varios arreglos de ensayo. En estos casos se
recomienda seguir
preferentemente lo que se describe a continuacin:
1.Los defectos planos sern detectados perpendicularmente: tcnica de ensayo simple

y fcil de
inspeccionar con un palpador.
2.Relacionado a la superficie de la parte bajo ensayo: en muchos casos el uso de
palpadores
normales (vertical) es ms simple que el de los palpadores angulares, por lo que se los
preferir.
3.En lo posible se usar un camino snico recto sin cambios de direccin dentro de la
pieza.
4.Sern ms favorables las tcnicas de ensayos con un solo palpador por ser,
generalmente, ms
simples que en tndem o delta.
5.Darn mayor seguridad y confianza los arreglos de ensayos en los cuales aparezca
un eco de
referencia en el fondo del rango de ensayo ( por ejemplo pared posterior o eco de un
borde ).
6.Se debern evitar los arreglos de ensayos que den indicaciones aparentes ( ver 3.32
y 3.62).
7.Por razones econmicas, el volumen de la pieza a ensayar ser el mayor posible al
mismo
tiempo que el rea de inspeccin lo ms pequea que se pueda.
8.Cuando la orientacin del plano de un defecto es desconocido, el ensayo deber
llevarse a
cabo desde distintos sitios de la superficie. Ejemplo: defectos planos en barras:
inspeccionar
desde varias generatrices.
9.El mtodo de transmisin ser usado solamente en los casos cuando el mtodo de
pulso-eco
falle.
Esta compilacin contiene los ms importantes puntos de vista para juzgar las
soluciones a los
distintos problemas de ensayos ultrasnicos. Con una poca experiencia se reconocer
fcilmente
la tcnica ptima de ensayo. Existe tambin un gran nmero se especificaciones, los
que podrn
ser aplicados por analoga en piezas similares, y los que facilitarn la solucin de
problemas.
Bibliografa:
Introduccin a los Mtodos de Ensayos No Destructivos.
Instituto Nacional de Tcnica Aero Espacial (Madrid).
Ultrasonic Testing
Dr. Ing. Volker Deutsch and Manfred Vogt
Ultrasonic testing of Materials
Krautkrmer
ASM Handbook Vol 17
Normas ASTM
Normas IRAM- CNEA CNEA
Cdigo ASME Seccin V
CNEA Y 500- 1 002

Manual Ultrasonido IQT Chile Nivel I

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INDICE

3.32. Seleccin de la direccin del haz ultrasnico.................................................... 57

Fig. 1 : Oscilacin de un pndulo ( derecha) y su representacin grfica vs. el tiempo

FRECUENCIA: Es la inversa del perodo o el nmero de oscilaciones (ciclos) por unidad

La unidad es el "Hertz" (Hz).

puede ser considerado como una entidad, ver Fig. 6.

amplitudes de una oscilacin individual , y por la duracin de las diferentes

Por esta razn, el ejemplo dado en 1.32 no es aplicable a esto.

Onda incidente en acero Onda incidente en agua

De aqu se deduce que, desde el punto de vista de las intensidades acsticas, es

considerablemente ms complicados que con una incidencia normal. Nuevamente hay

sen a 1 = C1 ; sen a 1 = sen a 2 (10)

a) El obstculo es pequeo comparado con la longitud de onda, en este caso, aquel no

Fig. 20 : Superposicin de ondas

2. PRINCIPIOS BASICOS DE LOS INSTRUMENTOS.

magnetoestrictivo, y sobre todo el efecto piezoelctrico.

Fig. 22: Efecto piezoelctrico del cuarzo (corte X)

dentro del material.

2.22. Procedimiento de pulso-eco

onda sonora, sta es reflejada en su primitiva direccin y al cabo de un tiempo

2.23. Otros procedimientos de ensayo

El transductor, muchas veces designado genricamente pero equivocadamente como

constructores de los palpadores tienden hacia un compromiso lo ms ventajoso entre

receptor y llegando al transductor R, causa en l el primer eco de fondo. Una parte de

2- Principios bsicos de los instrumentos de plstico y de la pieza, sino levemente mas

2- Principios bsicos de los instrumentos

Adems de los datos relativos a ngulo y punto de emisin y su lnea de unin,

paso" o simplemente "paso1".

t1 = 2 . d s . cos g t (cuando la discontinuidad est ms all del medio paso)

2- Principios bsicos de los instrumentos

Adems, se puede deducir de la geometra de la propagacin de un haz ultrasnico en

Para un ngulo de 35 el valor de d/D =0,21

4) Eco del defecto indicado por el palpador B

palpadores normales o de doble cristal debido a sus pequeos espesores, o cuando es

Un generador de pulsos induce al transmisor de pulsos el cual excita al cristal del

operar con el mtodo de pulso-eco o transmisin.

longitud de medida (rango).

desplazamiento y de velocidad de sonido, se ensancha la distancia entre dos ecos de

Fig.56:Diafragma del monitor

2.5. SISTEMAS DE REPRESENTACION

Los sistemas de alta velocidad de barrido, generalmente utilizan pantallas tipo C,

las condiciones de funcionamiento y sensibilidad de los equipos (incluidos palpador y

3.- PRINCIPIOS BASICOS DE APLICACIN

Zc: impedancia acstica del acoplante.

un ensanchamiento (divergencia) del haz. Este fenmeno es causado por refraccin

Fig.62: Influencia de las velocidades del sonido en el adaptador (C1) y la pieza(C2)

unidades disponibles para un problema de ensayo particular. La eleccin ser facilitada

llegndose as al lmite superior de la misma.

3-Principios bsicos de aplicacin

0 10 j D2l l tgJ para l > l (29)

3.4. AJUSTE DEL EQUIPO

1.1) desarrollar el rango de profundidad de inters en la mxima distancia plana de la

5 a 8: segundo a quinto eco de la superficie superior.

Sagua = Sf Sm.(Cm / Cagua)

Cuando se realiza un ensayo de ondas de corte circunferencial en tuberas de

3-Principios bsicos de aplicacin

circunferencial aproximada en una tubera de acero inoxidable de 6.4 mm de dimetro,

La localizacin de un defecto , esto es su profundidad, puede ser leda desde la pantalla

aparentes dificulta la evaluacin de los resultados del ensayo, es preciso evitarlos en la

transformada en una onda transversal con un ngulo de reflexin de 29, y viceversa.

Izquierda:: distancia suficiente entre pulsos.

1) Discontinuidades naturales conocidas de idntica naturaleza y morfologa que las

En el Diagrama general A (adimensional) es la distancia a la discontinuidad dividido el

- Eco del defecto llevado a 80% ATP :40 dB (equipo)