Iram 15 (Aql)

NORMA
ARGENTINA
IRAM 15-1*
ISO 2859-1
Segunda edicin
15-1
2010
2010-04-07
Sistemas de muestreo para la

inspeccin por atributos
Parte 1 - Planes de muestreo para las
inspecciones lote por lote tabulados segn
el nivel de calidad aceptable (AQL)
(ISO 2859-1, IDT)
Sampling system for inspection by attributes
Part 1 - Sampling schemes for lot by lot inspection indexed by
acceptance quality limit (AQL)
* Corresponde a la revisin parcial de la edicin de diciembre

de 1973, a la que esta Parte de la Segunda Edicin, junto con
las partes 0 y 2 de esta norma, reemplaza.
Referencia Numrica:
IRAM 15-1:2010
ISO 2850-1:1999
DOCUMENTO PROTEGIDO POR EL DERECHO DE PROPIEDAD INTELECTUAL
IRAM 2010-04-07
No est permitida la reproduccin de ninguna de las partes de esta publicacin por
cualquier medio, incluyendo fotocopiado y microfilmacin, sin permiso escrito del IRAM.
IR AM- ISO 1 5-1 :201 0

ISO 2 859 -1:1 999
Prefacio IRAM
El Instituto Argentino de Normalizacin y Certificacin (IRAM) es una
asociacin civil sin fines de lucro cuyas finalidades especficas, en su
carcter de Organismo Argentino de Normalizacin, son establecer
normas tcnicas, sin limitaciones en los mbitos que abarquen, adems
de propender al conocimiento y la aplicacin de la normalizacin como
base de la calidad, promoviendo las actividades de certificacin de
productos y de sistemas de la calidad en las empresas para brindar
seguridad al consumidor.
IRAM es el representante de la Argentina en la International Organization
for Standardization (ISO), en la Comisin Panamericana de Normas
Tcnicas (COPANT) y en la Asociacin MERCOSUR de Normalizacin
(AMN).
Esta norma IRAM es el fruto del consenso tcnico entre los diversos
sectores involucrados, los que a travs de sus representantes han
intervenido en los Organismos de Estudio de Normas correspondientes.
Corresponde a la revisin parcial de la edicin de diciembre de 1973, a la

que esta Parte de la Segunda Edicin, junto con las partes 0 y 2 de esta
norma, reemplaza.
La norma IRAM 15 bajo el nombre general Sistemas de muestreo para la
inspeccin por atributos, se compone de las partes siguientes:
Parte 0 - Introduccin.
Parte 1/ ISO 2859-1 - Planes de muestreo para las inspecciones lote por
lote tabulados segn el nivel de calidad aceptable (AQL).
Parte 2/ ISO 2859-2 - Planes de muestreo para las inspecciones de
lotes aislados, tabulados segn la calidad lmite (LQ).
Parte 3/ ISO 2859-3 - Procedimientos de muestreo para lotes salteados.
Esta norma IRAM es idntica a la norma ISO 2859-1:1999 Sampling
procedures for inspection by attributes. Part 1 - Sampling schemes indexed
by acceptance quality limit (AQL) for lot by lot inspection.
Slo se realizaron los cambios editoriales siguientes:
Se agreg un anexo informativo donde se indican los organismos que
llevan a cabo el estudio de la norma y otro con la bibliografa
considerada.
Se agregaron en el captulo 2 una nota IRAM relativa a las normas IRAM
que versan sobre los mismos temas que consideran las ISO que se citan
como documentos normativos de consulta, en el apartado 3.2 otra nota
IRAM relativa al uso de smbolos derivados de denominaciones en ingls y
en el apartado 8.1 otra referente a una mencin de una norma ISO cuyo
tema tambin es considerado por una norma IRAM.
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Prefacio ISO
ISO (Internacional Organization for Standardization) es una federacin
mundial de organismos nacionales de normalizacin (organismos
miembros de la ISO). El trabajo de preparacin de las normas
internacionales normalmente se realiza a travs de los comits tcnicos
de ISO. Cada organismo miembro interesa-do en una materia para la
cual se haya establecido un comit tcnico, tiene el derecho de estar
representado en dicho comit. Las organizaciones internacionales,
gubernamentales y no gubernamentales, en coordinacin con ISO,
tambin participan en el trabajo. ISO colabora estrechamente con la
Internacional Electrotechnical Commission (IEC) en todos los temas de
normalizacin electrotcnica.
Las normas internacionales se redactan de acuerdo con las reglas
establecidas en las Directivas ISO/CEI, parte 3.
Los proyectos de normas internacionales adoptados por los comits
tcnicos son enviados a los organismos miembros para votacin. La
publicacin como Norma Internacional requiere la aprobacin de al
menos el 75% de los organismos miembros propuestos para votar.
La norma ISO 2859-1 ha sido preparada por el Comit Tcnico
ISO/TC 69, Applications of statistical methods, subcomit SC 5,
Acceptance sampling.
La segunda edicin de la ISO 2859-1 anula y reemplaza a la primera
edicin (ISO 2859-1:1989) de la cual constituye una re-visin tcnica.
Los cambios significativos en esta edicin incluyen:
un nuevo procedimiento para el cambio de inspeccin normal a
simplificada;
un referencia al muestreo salteado como alternativa a la inspeccin
simplificada;
se ha modificado el trmino calidad lmite por calidad de riesgo de
consumidor en los ttulos de las tablas 6-A, 6-B, 6-C, 7-A, 7-B y 7-C;
se agreg una tabla indicando el riesgo del productor como la
probabilidad de rechazo de lotes con un porcentaje de no conformes
igual al AQL;
se agregaron los planes con nmeros de aceptacin fraccionarios; el
propsito de estos planes es proveer de una progresin consistente
desde los planes con nmero de aceptacin cero a los de nmero de
aceptacin 1. Los planes con nmero de aceptacin fraccionario se
encuentran en las tablas 11-A, 11-B y 11-C, donde se colocan las
flechas en las posiciones correspondientes a las tablas 2-A, 2-B y 2-C;
los planes simplificados se han modificado para eliminar los nmeros
intermedios entre los nmeros de aceptacin y de rechazo;
IR AM- ISO 1 5-1 :201 0

ISO 2 859 -1:1 999
se realizaron algunos cambios en los planes de muestreo doble para

proveer un tamao de muestra promedio menor;
se modificaron los planes de muestreo mltiple a cinco etapas en
lugar de siete. Este cambio no produjo un aumento del tamao de
muestra promedio. Algunos de los nuevos planes tienen un tamao
de muestra promedio menor que su contraparte en la edicin previa;
se agregaron las curvas de caracterstica de operacin de los
esquemas en la tabla 12.
La ISO 2859 consta de las partes siguientes, bajo el ttulo general
Sampling procedures for inspection by attributes:
Part 0 - Introduction to the ISO 2859 attribute sampling system.
Part 1 - Sampling schemes indexed by acceptance quality limit (AQL)
for lot-by-lot inspection.
Part 2 - Sampling plans indexed by limiting quality (LQ) for isolated lot
inspection.
Part 3 - Skip-lot sampling procedures.
Se recomienda vehemente que esta parte de la ISO 2859 se emplee
conjuntamente con la ISO 2859-0, que contiene ejemplos ilustrativos.
El anexo A de esta parte de la ISO 2859 es solamente informativo.
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
ndice
Pgina
OBJETO Y CAMPO DE APLICACIN ........................................................... 7
DOCUMENTOS NORMATIVOS PARA CONSULTA ..................................... 7
TRMINOS, DEFINICIONES Y SMBOLOS .................................................. 8
EXPRESIN DE LA NO CONFORMIDAD..................................................... 11
NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE (AQL) ...................................................... 12
PRESENTACIN DEL PRODUCTO PARA MUESTREO............................ 12
ACEPTACIN Y RECHAZO ........................................................................ 13
EXTRACCIONES DE LAS MUESTRAS....................................................... 14
INSPECCIN NORMAL, ESTRICTA O SIMPLIFICADA ............................. 14
10 PLANES DE MUESTREO ............................................................................ 16

11 DETERMINACIN DE LA ACEPTABILIDAD............................................... 18
12 INFORMACIN SUPLEMENTARIA............................................................. 18
13 PLANES CON NMERO DE ACEPTACIN FRACCIONARIO PARA
MUESTREO SIMPLE (OPCIONAL) ............................................................. 20
Anexo A (Informativo) Ejemplo para un plan de muestreo no constante ............ 88
Bibliografa........................................................................................................... 89
Anexo B - IRAM (Informativo) Bibliografa........................................................... 90
Anexo C - IRAM (Informativo) Integrantes de los organismos de estudio........... 91
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Sistemas de muestreo para la inspeccin por atributos

Parte 1 - Planes de muestreo para las inspecciones lote por lote
tabulados segn el nivel de calidad aceptable (AQL)
muestreo) cuando se detecte un deterioro
en la calidad;
1 OBJETO Y CAMPO DE APLICACIN

1.1 Esta norma establece un sistema de aceptacin por muestreo para la inspeccin por
atributos. Est tabulada en trminos del Nivel
de Calidad Aceptable (AQL).
Su propsito es inducir al proveedor a travs de
la presin econmica y psicolgica de la no
aceptacin de lotes, para mantener como mnimo un promedio de proceso tan bueno como
el AQL especificado, y a la vez proporcionar un
lmite superior para el riesgo del cliente de
aceptar ocasionalmente un lote deficiente.
Los planes de muestreo indicados en esta norma son de aplicacin, pero no limitados, a la
inspeccin de:
a)
tems terminados;
b)
componentes y materias primas;
c)
operaciones (procesos);
d)
materiales en proceso;
e)
artculos en depsito;
f)
operaciones de mantenimiento;
g)
datos o registros;
h)
procedimientos administrativos.
1.2 Estos esquemas estn preparados fundamentalmente para ser empleados en series
continuas de lotes, es decir, series lo suficientemente grandes para que permitan aplicar las
reglas de cambio (ver 9.3). Estas reglas proporcionan:
a)
una proteccin para el cliente (mediante el

cambio a una inspeccin estricta o incluso
a una suspensin de la inspeccin por
b)
un incentivo (a criterio de la autoridad responsable) para reducir los costos de

inspeccin (mediante el cambio a una inspeccin simplificada) cuando se alcance en
forma estable una buena calidad.
Los planes de muestreo de esta norma se pueden emplear tambin para la inspeccin de
lotes aislados, pero en este caso, se recomienda al usuario que tome las precauciones de
consultar las curvas caractersticas con el fin de
obtener un plan que proporcione la proteccin
adecuada (ver 12.6). En este caso, tambin se
recomienda al usuario que consulte los planes
de muestreo tabulados por la calidad lmite
(LQ) dados en la IRAM 5-2/ISO 2859-2.
2 DOCUMENTOS NORMATIVOS PARA

CONSULTA
Todo documento normativo que se menciona a
continuacin es indispensable para la aplicacin de este documento.
Cuando en el listado se mencionan documentos normativos en los que se indica el ao de
publicacin, esto significa que se debe aplicar
dicha edicin, en caso contrario, se debe aplicar la edicin vigente, incluyendo todas sus
modificaciones.
IRAM 15-3/ISO 2859-3 - Sistemas de muestreo
para inspeccin por atributos. Parte 3 Sistemas de muestreo de lotes aislados.
ISO 3534-1:1993 - Statistics. Vocabulary and
symbols. Part 1 - Probability and general
statistical terms.
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
ISO 3534-2:1993 - Statistics. Vocabulary and

symbols. Part 2 - Statistical quality control.
de stos, o se cuenta el nmero de no conformidades por tem.
NOTA IRAM. Respecto a las normas ISO citadas, la

ISO 3534-1 y la ISO 3534-2, existen dos normas IRAM
que consideran los mismos temas: la IRAM 34552-1:2003
- Estadstica. Vocabulario y smbolos. Parte 1 - Definiciones de probabilidad y de estadstica general, y la
IRAM 34555:2007 - Estadstica. Vocabulario y smbolos.
Control estadstico de la calidad.
NOTA. La inspeccin por atributos incluyen la inspeccin

por la conformidad de los tem as como la inspeccin por
el nmero de no conformidades, por cien tems.
En esta norma tambin se indican la IRAM 15-0 Sistemas

de muestreo para la inspeccin por atributos. Parte 0 - Introduccin, y la IRAM 15-1/ISO 2859-2 Sistemas de
muestreo para la inspeccin por atributos. Parte 2 - Planes de muestreo para las inspecciones de lotes aislados,
tabulados segn la calidad lmite (LQ), pero stas no
constan en el correspondiente captulo 2 Documentos
normativos para consulta de la ISO 2859-1.
3.1.4 tem. Aquello que se puede describir y

considerar individualmente.
Ejemplos
una unidad fsica;
una cantidad definida de material;
un servicio, una actividad o un proceso;
una organizacin o una persona; o
la combinacin de todos o algunos de ellos.
3 TRMINOS, DEFINICIONES Y
SMBOLOS
3.1.5 no conformidad. Incumplimiento de un

requisito especificado.
3.1 trminos y definiciones. Para los fines de

la presente norma se aplican las definiciones
dadas en la ISO 3534-1 e ISO 3534-2, y las siguientes:
NOTA 1. En algunas situaciones los requisitos especificados coinciden con los requisitos de uso del cliente (ver
apartado 3.1.6). En otras situaciones pueden no coincidir,
siendo ms o menos severos, o la relacin exacta entre
ambos no es totalmente conocida o entendida.
NOTA. Para facilitar su utilizacin, las definiciones de algunos de estos trminos se han obtenido de la ISO 3534-1 e
ISO 3435-2, mientras que otros estn redefinidos o son definidos nuevamente.
NOTA 2. Las no conformidades son clasificadas de acuerdo con su nivel de gravedad en categoras tales como:
3.1.1 inspeccin. Actividad tal que involucra

medir, examinar, ensayar o contrastar, una o
varias caractersticas de un producto o servicio,
y comparar los resultados con los requisitos
especificados con el fin de determinar si se obtiene la conformidad para cada una de estas
caractersticas.
3.1.2 inspeccin original. Primera inspeccin
de un lote de acuerdo con las disposiciones de
esta norma.
NOTA. Esto debe distinguirse de la reinspeccin de un lote que ha sido reenviado despus de un rechazo previo.
3.1.3 inspeccin por atributos. Inspeccin por

medio de la cual, cualquiera de los tems es clasificado como conforme o no conforme con respecto a un requisito especificado o a un conjunto
Clase A - Aquellas no conformidades de un tipo considerado como la de ms alta preocupacin; en los muestreos
para aceptacin, las no conformidades de esta clase tendrn asignado un valor de AQL muy pequeo.
Clase B - Aquellas no conformidades de un tipo considerado que tienen menor preocupacin que las de clase A;
por lo tanto, puede tener asignado un valor de AQL mayor
que en la clase A y menor que en la clase C, si existiese
una tercera clase, etc.
NOTA 3. El agregado de caractersticas y clases de no
conformidades afectar a la probabilidad global de aceptacin del producto.
NOTA 4. El nmero de clases, la asignacin dentro de
una clase y la eleccin del AQL para cada clase se recomienda que sean apropiadas para los requisitos de la
calidad de la situacin especificada.
3.1.6 defecto. Incumplimiento de un requisito

asociado a un uso previsto.
NOTA 1. El trmino defecto es apropiado cuando una caracterstica de calidad de un producto o servicio es evaluada en trminos de utilizacin (en contraposicin a la
conformidad con especificaciones).
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
NOTA 2. Dado que en la actualidad el trmino defecto tiene un significado definido dentro de la ley, no es aconsejable utilizarlo como un trmino genrico.
3.1.7 tem no conforme. tem con una o ms

no conformidades.
3.1.10 no conformidades por 100 tems (en

una muestra). Nmero de no conformidades
por muestra, dividido por el tamao de la muestra, multiplicado por cien:
100
NOTA. Los tems no conformes generalmente se clasifican por su nivel de gravedad en categoras, tales como:
Clase A - Un tem que contiene una o ms no conformidades de clase A y tambin podra contener no conformidades de clase B y/o de clase C, etc.
Clase B - Un tem que contiene una o ms no conformidades de clase B y tambin podra contener no conformidades de clase C, etc., pero que no contiene no conformidades de clase A.
3.1.8 porcentaje no conforme (en una muestra). Nmero de tems no conformes en la

muestra dividido por el tamao de la muestra,
multiplicado por cien:
d
100
n
siendo:
d
el nmero de no conformidades por

muestra;
el tamao de la muestra.
3.1.11 no conformidades por 100 tems (en

una poblacin o lote). Nmero de no conformidades por poblacin o lote por el tamao de la
poblacin o lote, multiplicado por cien:
100 p = 100
D
N
siendo:
siendo:
d
el nmero de tems no conformes en la

muestra;
el tamao de la muestra.
3.1.9 porcentaje no conforme (en una poblacin o lote). Nmero de tems no conformes en la poblacin o lote dividido por el tamao de la poblacin o lote, multiplicado por cien:
100 p = 100
d
n
D
N
siendo:

tem;

poblacin o lote;
el tamao de la poblacin o lote.
NOTA. Un tem podra contener una o ms no conformidades.
3.1.12 autoridad responsable. Concepto utilizado para mantener la neutralidad de esta norma principalmente para propsitos de especificacin, con independencia de si est siendo
invocado o aplicado por la primera, segunda o
tercera parte.
la proporcin de tems no conformes;
NOTA 1. La autoridad responsable puede ser:
el nmero de tems no conformes en la

poblacin o lote;
a)
el departamento de calidad dentro de la organizacin

de un proveedor (primera parte);
el tamao de la poblacin o lote.
b)
el comprador u organizacin compradora (segunda

parte);
c)
una autoridad de verificacin o de certificacin independiente (tercera parte)
d)
cualquiera de a), b) o c), de acuerdo con las funciones (ver nota 2) establecidas en un acuerdo escrito
entre dos partes, por ejemplo un documento entre el
proveedor y el cliente.
NOTA. En esta norma los trminos porcentaje no conforme (ver 3.1.8 y 3.1.9) o no conformidades por 100 tem
(ver 3.1.10 y 3.1.11) son usados principalmente, en lugar
de los trminos tericos, proporcin de tem no conformes
y no conformidades por tem ya que los trminos citados
en primer lugar son los empleados en forma ms amplia.
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
NOTA 2. Las obligaciones y funciones de una autoridad

responsable estn indicadas en esta norma (ver 5.2, 6.2,
7.2, 7.3, 7.5, 7.6, 9.1, 9.3.3, 9.4, 10.1, 10.3, 13.1).
3.1.13 lote. Cantidad definida de un producto,

material o servicio, agrupada.
NOTA. Un lote de inspeccin puede consistir de varios lotes o partes de lotes de produccin.
3.1.14 tamao del lote. Nmero de tems en

un lote.
3.1.15 muestra. Uno o ms tems extrados de
un lote destinados a proporcionar informacin
sobre ste.
3.1.16 tamao de la muestra. Nmero de tems
en la muestra.
3.1.17 plan de muestreo. Combinacin del tamao de la muestra a usarse con los criterios
asociados de aceptacin del lote.
3.1.20 inspeccin normal. Utilizacin de un

plan de muestreo (ver 3.1.17) con un criterio de
aceptacin que ha sido ideado para asegurar al
fabricante una alta probabilidad de aceptacin
cuando el promedio del proceso (ver 3.1.25) del
lote es mejor que el nivel de calidad aceptable
(ver 3.1.26).
NOTA. La inspeccin normal se usa cuando no hay razn
para sospechar que el promedio del proceso (ver 3.1.25)
difiere de un nivel aceptable.
3.1.21 inspeccin estricta. Uso de un plan de

muestreo (ver 3.1.17) con un criterio de aceptacin que es ms riguroso que el del correspondiente plan para inspeccin normal (ver 3.1.20).
NOTA. La inspeccin estricta es utilizada cuando el resultado de la inspeccin de un nmero predeterminado de
lotes consecutivos indica que el promedio del proceso (ver
3.1.23) podra ser peor que el AQL (ver 3.1.24).
NOTA 1. Un plan de muestreo simple es una combinacin

del tamao de la muestra y los nmeros para la aceptacin y rechazo. Un plan de muestreo doble es una
combinacin de dos tamaos de muestras y de nmeros
para la aceptacin y rechazo para la primera muestra y
para la muestra combinada.
3.1.22 inspeccin simplificada. Uso de un

plan de muestreo (ver 3.1.17) con un tamao
de muestra (ver 3.1.16) que es menor que el
del correspondiente plan para inspeccin normal (ver 3.1.20) y con un criterio de aceptacin
que es comparable al correspondiente al plan
para inspeccin normal.
NOTA 2. Un plan de muestreo no contiene las reglas sobre cmo obtener la muestra.
NOTA 1. La capacidad de discriminacin bajo la inspeccin simplificada es menor que en inspeccin normal.
NOTA 3. Para el propsito de esta norma es conveniente

diferenciar entre los trminos plan de muestreo (ver
3.1.17), esquema de muestreo (ver 3.1.18) y sistema de
muestreo (ver 3.1.19).
3.1.18 esquema de muestreo. Combinacin de

planes de muestreo con reglas para cambiar de
un plan a otro.
NOTA. Ver 9.3.
3.1.19 sistema de muestreo. Conjunto de

planes de muestreo, o de esquemas de muestreo, cada uno de ellos con sus propias reglas
para cambiar de planes, junto con procedimientos de muestreo que incluyen criterios para la
eleccin de los planes o esquemas ms apropiados.
NOTA. Esta norma es un sistema de muestreo tabulado por
rangos de tamao de lote, niveles de inspeccin y AQL. En
la IRAM 15-2/ISO 2859-2 se describe un sistema de muestreo con planes LQ.
10
NOTA 2. La inspeccin simplificada puede usarse cuando

los resultados de la inspeccin de un nmero predeterminado de lotes consecutivos indican que el promedio de
proceso (ver 3.1.25) es mejor que el AQL (ver 3.1.26).
3.1.23 puntuacin para el cambio. Indicador

que se usa en la inspeccin normal para determinar si los resultados de la inspeccin en
curso son suficientes para permitir el cambio a
inspeccin simplificada.
NOTA. Ver 9.3.3.
3.1.24 puntuacin para la aceptacin. Indicador que se usa en planes con nmero de
aceptacin fraccionario para determinar la
aceptabilidad del lote.
NOTA. Ver 13.2.1.2.
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
3.1.25 promedio del proceso. Promedio del

nivel del proceso para un periodo de tiempo definido o para una cantidad de produccin.
AOQ
NOTA. En esta norma el promedio del proceso es el nivel de

calidad (expresado como porcentaje no conforme o nmero
de no conformidades por 100 tems) durante un periodo en el
cual el proceso se encuentra bajo control estadstico.
AOQL lmite de la calidad promedio de salida

(en porcentaje de tem no conformes o
en no conformidades por 100 tem).
3.1.26 nivel de calidad aceptable (AQL; NCA).

Nivel de calidad que es el promedio ms bajo tolerable del proceso cuando se somete una serie
continua de lotes de muestreo para la aceptacin.
NOTA 1. Este concepto se aplica nicamente cuando se
utiliza un esquema de muestreo con reglas para el cambio
o la interrupcin, tales como las contempladas en esta
norma ISO 3951.
NOTA 2. Aunque los lotes individuales con un nivel de calidad tan baja como el AQL, tienen una probabilidad alta de
ser aceptados, el establecimiento de un AQL no significa
que ste sea el nivel de calidad deseable. Los esquemas
de muestreo que se encuentran en normas tales como la
presente, con sus reglas para el cambio o para interrumpir
la inspeccin por muestreo, estn diseadas para animar a
los proveedores a lograr un promedio del proceso mejor
que el AQL. De otra forma, habra un gran riesgo de que la
severidad de la inspeccin cambiase a una inspeccin estricta bajo la cual el criterio de aceptacin de los lotes
debera ser ms exigente. Una vez que ha empezado la
inspeccin estricta, a menos que se lleve a cabo una accin
para mejorar el proceso, es muy probable que la regla que
requiera una interrupcin de la inspeccin por muestreo,
lleve a que se invoque dicha mejora.
3.1.27 riesgo de calidad del cliente (CRQ;

RCC). Nivel de calidad del lote o de proceso,
que en el plan de muestreo corresponde a un
riesgo especificado por el cliente.
NOTA. Usualmente el riesgo de calidad del cliente es de 10%.
3.1.28 calidad lmite (LQ; CL). Cuando se considera un lote aislado, nivel de calidad que, para
el objeto de la inspeccin de la muestra, est limitado a una baja probabilidad de aceptacin.
calidad promedio de salida (en porcentaje de tem no conformes o en no conformidades por 100 tem).
CRQ
riesgo de calidad del cliente (en porcentaje de tem no conformes o en no conformidades por 100 tem).
nmero de tem no conformes (o no conformidades) encontrados en una muestra

de un lote.
nmero de tem no conformes en un lote.
LQ
calidad lmite (en porcentaje de tem no

conformes o en no conformidades por
100 tems).
tamao del lote.
tamao de la muestra.
promedio del proceso.
px
nivel de calidad para el cual la probabilidad de aceptacin es x, donde x es una

fraccin.
Pa
probabilidad de aceptacin (en porcentaje).
Re
nmero de rechazo.
NOTA. El smbolo n podra ir acompaado de un subndice. Los subndices numricos 1 a 5 indican las muestras
1 a 5 respectivamente. En general, ni es el tamao de la
i-sima muestra, en el muestreo doble o mltiple.
NOTA IRAM. Se seleccionaron los smbolos en ingls debido a que son de uso comn.
3.2 Smbolos y abreviaturas
4 EXPRESIN DE LA NO CONFORMIDAD
Los smbolos y abreviaturas utilizados en esta

norma son los siguientes:
4.1 Generalidades
Ac
nmero de aceptacin.
AQL
nivel de calidad aceptable (en porcentaje de tem no conformes o en no conformidades por 100 tem).
La magnitud de la no conformidad puede expresarse tanto en trminos de porcentaje no

conforme (ver 3.1.8 y 3.1.9), como en trminos
de no conformidades por 100 tems (ver 3.1.10
y 3.1.11). Las tablas 7, 8 y 10 se basan en que
11
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
las no conformidades ocurren aleatoriamente y

con independencia estadstica. Si se conoce
que una no conformidad en un tem puede ser
causada por una condicin que tambin causa
otras, los tems deben considerarse nicamente como conformes o no conformes e ignorar
las mltiples no conformidades.
4.2 Clasificacin de las no conformidades
Dado que la mayora de los muestreos para la

aceptacin implican la evaluacin de ms de
una caracterstica de calidad, y ya que stas
pueden diferir en importancia en trminos de
calidad y/o efectos econmicos, es deseable
clasificar los tipos de no conformidades de
acuerdo con clases acordadas, segn se define
en 3.1.5. El nmero de categoras, la asignacin de no conformidades dentro de las
categoras, y la eleccin del AQL para cada categora, debe ser adecuados a los requisitos de
calidad de la situacin especfica.
5 NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE (AQL)

5.1 Utilizacin y aplicacin
El AQL, junto con la letra cdigo del tamao de

la muestra (ver 10.2), se utiliza para la tabulacin de los planes y esquemas de muestreo
presentados en esta norma.
Cuando se establece un valor especfico del
AQL para cierta no conformidad o grupo de no
conformidades, ello indica que el esquema de
muestreo aceptar la mayora de los lotes presentados, si el nivel de calidad (porcentaje no
conforme o no conformidades por 100 tems)
en estos lotes no es superior al valor establecido para el AQL. Los planes de muestreo estn
concebidos de tal forma que la probabilidad de
aceptacin en el valor de AQL establecido, depende del tamao de la muestra para un AQL
dado, generalmente mayor para muestras grandes que para pequeas.
El AQL es un parmetro del esquema de muestreo y no debe confundirse con el promedio del
proceso, que describe el nivel operativo del
proceso de fabricacin. Se espera que el pro-
12
medio del proceso sea mejor que el AQL para

evitar excesivos rechazos bajo este sistema.
NOTA. Advertencia: el establecimiento de un AQL no debe implicar que el proveedor tenga el derecho de suministrar conscientemente algn tem no conforme.
5.2 Especificacin de los AQL
El AQL que vaya a emplearse debe establecerse

en el contrato o por la autoridad responsable (o
de acuerdo con las reglas establecidas). Pueden
establecerse diferentes AQL, para grupos de no
conformidades consideradas en conjunto o para
no conformidades individuales segn se describe
en 3.1.5. La clasificacin en grupos debe ser
apropiada a los requisitos de calidad para la situacin en particular. Puede establecerse un
AQL para un grupo de no conformidades, como
complemento a los AQL para no conformidades
individuales o subgrupos, dentro del grupo.
Cuando el nivel de calidad se expresa como porcentaje de tem no conformes (ver 3.1.8 y 3.1.9),
los valores del AQL no deben exceder del 10%
de no conformidades. Cuando el nivel de calidad
se expresa como un nmero de no conformidades por 100 tems (ver 3.1.10 y 3.1.11), podrn
utilizarse valores de AQL de hasta 1 000 no conformidades por 100 tems.
5.3 AQL preferidos
La serie de valores de AQL dados en las tablas

son conocidos como serie de AQL preferidos.
Si para algn producto se establece un AQL diferente de estos valores, estas tablas no son
aplicables.
6 PRESENTACIN DEL PRODUCTO

PARA MUESTREO
6.1 Formacin de los lotes
El producto debe agruparse en lotes o sublotes

identificables, o de cualquier otra forma que
pueda establecerse (ver 6.2). Cada lote debe
constar, siempre que sea posible, de tems de
un solo tipo, grado, clase, tamao y composicin, producidos bajo condiciones uniformes y
esencialmente en el mismo perodo de tiempo.
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
6.2 Presentacin de los lotes
La formacin de los lotes, el tamao de stos y

la forma en la cual cada lote debe ser preparado e identificado por el proveedor, debe establecerse, o ser aprobado, o acordado con la
autoridad responsable. Cuando sea necesario,
el proveedor debe proporcionar espacio de almacenamiento adecuado y satisfactorio para
cada lote, el equipo necesario para la adecuada identificacin y presentacin, y el personal
para la manipulacin del producto requerida para la extraccin de las muestras.
7 ACEPTACIN Y RECHAZO
7.1 Aceptabilidad de los lotes
La aceptacin de un lote debe determinarse por

el uso de uno o varios planes de muestreo.
El trmino no aceptacin se utiliza en este contexto como rechazo cuando se refiere al resultado de seguir el procedimiento. Se evitar el uso
de otras acepciones del trmino rechazo cuando
se refieran a acciones que el cliente puede tomar,
como por ejemplo: nmero de rechazo.
NOTA IRAM. Sin embargo en la serie IRAM 15/ISO 2859
se emplea el trmino rechazo y no aceptacin indistintamente, dando preferencia al primero.
7.2 Disposicin de lotes rechazados
La autoridad responsable debe decidir sobre la

disposicin de los lotes rechazados. Dichos lotes pueden ser desechados, clasificados (con o
sin reposicin de tems no conformes), reprocesados, reevaluados (en relacin con criterios
de uso ms especficos) o retenidos a la espera
de informacin adicional, etc.
7.3 tems no conformes
Si un lote ha sido aceptado, el comprador se

reserva el derecho de no aceptar cualquier tem
no conforme que se encuentre durante la inspeccin, independientemente de que dicho
tem forme parte de una muestra o no. Los
tems no conformes que se encuentren pueden
ser reparados o reemplazados por tems conformes y presentados nuevamente a inspeccin
con la aprobacin de, y en la forma especificada por la autoridad responsable.

7.4 Clases de no conformidades o tems no
conformes
La asignacin especfica de no conformidades

o tems no conformes a dos o ms clases requiere utilizar un conjunto de planes de muestreo. En general, el grupo de planes de muestreo, tienen un tamao de muestra comn, pero
diferentes nmeros de aceptacin para cada
categora con un AQL diferente, tal como se
muestra en las tablas 2, 3 y 4.
7.5 Reserva especial para clases crticas de
no conformidades
Algunos tipos de no conformidades pueden tener

una importancia crtica. Este apartado, especifica
las disposiciones especiales para tales tipos de
no conformidades. La autoridad responsable podr requerir que se inspeccione cada tem del
lote para dicha categora de no conformidades.
Se reserva el derecho a inspeccionar cada tem
presentado con relacin a tales no conformidades
y no aceptar el lote de forma inmediata si se encuentra una no conformidad de esta clase. Se
reserva asimismo el derecho a realizar un muestreo, para categoras especficas de no conformidades de cada lote enviado por el proveedor, y
a no aceptar ningn lote si se encuentra que una
muestra extrada de ste contiene una o ms de
estas no conformidades.
7.6 Lotes presentados a una nueva inspeccin
Todas las partes deben ser notificadas inmediatamente, si se encuentra un lote no aceptable.
Tales lotes no deben remitirse nuevamente para
reinspeccin hasta que todos los tems sean
examinados o ensayados y el proveedor est seguro que todos los tems no conformes han sido
eliminados o reemplazados por tems conformes
o que las no conformidades han sido corregidas.
La autoridad responsable debe determinar si se
utiliza un nivel de inspeccin normal o estricto para la nueva inspeccin y si sta debe incluir todos
los tipos o clases de no conformidad, o solamente los tipos o clases de no conformidad que
causaron el rechazo inicial.
13
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
8 EXTRACCIONES DE LAS MUESTRAS

8.1 Seleccin de las muestras
Los tems seleccionados para el muestreo deben extraerse del lote por muestreo aleatorio
simple (ver 2.1.5 en la ISO 3534-2:1993). Sin
embargo, cuando el lote se componga de sublotes o estratos, identificados por algn criterio
racional, se debe utilizar un muestreo estratificado de tal forma que el tamao de la
submuestra de cada sublote o estrato sea proporcional al tamao de este sublote o estrato
(ver 2.25 de la ISO 2859-0:1995).
NOTA IRAM. La ISO 2859-0 es una introduccin a la serie
de normas de muestreo por atributos; la IRAM 15-0 tambin considera los mismos aspectos, pero no es idntica a
la ISO mencionada.
8.2 Momento para extraer las muestras
Las muestras pueden extraerse durante la produccin o despus de que el lote ha sido producido. En cualquier caso, las muestras se
seleccionan segn lo establecido en 8.1.
8.3 Muestreo doble o mltiple
Cuando se emplee el muestreo doble o mltiple, cada muestra consecutiva debe seleccionarse entre los tems restantes del mismo lote.
9 INSPECCIN NORMAL, ESTRICTA O

SIMPLIFICADA
9.1 Comienzo de la inspeccin
La inspeccin normal debe llevarse a cabo al

comienzo de la inspeccin, a no ser que la autoridad responsable disponga otro criterio.
14
9.2 Continuacin de la inspeccin
La inspeccin normal, estricta o simplificada debe

continuar sin cambios sobre los lotes sucesivos,
excepto cuando los procedimientos de cambio
(ver 9.3) requieran cambiar la severidad de la inspeccin. Los procedimientos de cambio deben
aplicarse independientemente a cada clase de no
conformidades o de tem no conformes.
9.3 Procedimientos y reglas para el cambio
de inspeccin (ver figura 1)
9.3.1 Normal a estricta. Cuando se aplica una
inspeccin normal, se debe cambiar lo ms rpido posible a una inspeccin estricta si dos de
cinco (o menos de cinco) lotes consecutivos,
han sido no aceptados en la inspeccin inicial
(esto es, ignorando los lotes reinspeccionados).
9.3.2 Estricta a normal. Cuando se aplica una
inspeccin estricta, se debe reinstaurar una inspeccin
normal,
cuando
cinco
lotes
consecutivos hayan sido aceptados en la inspeccin inicial.
9.3.3 Normal a simplificada
9.3.3.1 General. Cuando se aplica una inspeccin normal, se debe cambiar a una inspeccin
simplificada si se cumplen cada una de las siguientes condiciones:
a)
el valor actual de la puntuacin de cambio

es (ver 9.3.3.2), como mnimo, 30;
b)
la produccin est en rgimen estable;
c)
la inspeccin simplificada es considerada

deseable por la autoridad responsable.
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Figura 1 - Esquema de las reglas para el cambio (ver 9.3)
15
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
9.3.3.2 Puntuacin para el cambio. El clculo

de la puntuacin para el cambio debe iniciarse
al comienzo de la inspeccin normal, a menos
que la autoridad responsable haya especificado
otro criterio.
Los puntos para el cambio deben establecerse

en cero al comienzo, y se actualiza con la inspeccin de los lotes siguientes a la inspeccin
normal original.
a)
Planes de muestro simples:

1)
2)
b)
cuando el nmero de aceptacin es 2

ms, se aade 3 a los puntos para el
cambio si el lote es aceptado y el AQL
hubiera sido el inmediato anterior; en
caso contrario se restablece la puntuacin para el cambio a cero;
cuando el nmero de aceptacin es 0
1, se aade 2 a los puntos para el
cambio si se acepta el lote; en caso
contrario se restablecen los puntos para el cambio a cero.
Planes de muestreo doble y mltiple:

1)
2)
cuando se utiliza un plan de muestreo

doble, se aade 3 a la puntuacin para
el cambio si el lote es aceptado despus de la primera muestra; en caso
contrario se restablece la puntuacin
para el cambio a cero.
cuando se utiliza un plan de muestreo
mltiple, se aade 3 a los puntos para
el cambio si el lote es aceptado en la
tercera muestra; en caso contrario se
restablece la puntuacin para el cambio a cero.
NOTA. La aplicacin de los puntos para el cambio se ilustra en el anexo A.
9.3.4 Simplificada a normal. Cuando se aplica

una inspeccin simplificada, se restablece la inspeccin normal si en la inspeccin original se
cumple alguna de las condiciones siguientes:
a)
un lote es rechazado;
b)
la produccin comienza a ser irregular o a

decaer;
16
c)
otras condiciones que justifiquen la reinstauracin de la inspeccin normal.
9.4 Interrupcin de la inspeccin
Si el nmero acumulado de lotes rechazados

en una secuencia de lotes consecutivos en la
inspeccin estricta original alcanza el valor de
5, los procedimientos de aceptacin segn esta
norma no deben continuar hasta que se tomen
acciones por parte del proveedor para mejorar
la calidad del producto o servicio a inspeccionar, y la autoridad responsable haya acordado
que estas acciones son efectivas. Entonces
debe utilizarse la inspeccin estricta como si se
hubiese invocado el apartado 9.3.1.
9.5 Muestreo de lotes
La inspeccin lote por lote en esta norma puede sustituirse por el muestreo de lotes salteados cuando se cumplan los requisitos de la
IRAM 15-3/ ISO 2859-3.
NOTA. Hay limitaciones para el uso de los procedimientos
para lotes salteados de la IRAM 15-3/ISO 2859-3 en lugar
de los procedimientos para inspeccin simplificada de esta norma. Algunos de los AQL y niveles de inspeccin no
son aplicables.
10 PLANES DE MUESTREO
10.1 Nivel de inspeccin
El nivel de inspeccin indica la cantidad relativa

de inspeccin. En la tabla 1 se dan tres niveles
de inspeccin para uso general: I, II y III. A menos que se especifique otra cosa debe aplicarse
el nivel II. Pueden emplearse el nivel I y el nivel III
cuando sean necesarias una menor y una mayor
discriminacin respectivamente. Tambin se dan
en la tabla 1, adicionalmente, cuatro niveles especiales, S-1, S-2, S-3 y S-4, que pueden
aplicarse cuando sean necesarios tamaos de
muestra relativamente pequeos y puedan o
deban tolerarse mayores riegos en el muestreo.
El nivel de inspeccin requerido para cualquier
aplicacin particular debe ser especificado por
la autoridad responsable. Esto permite a la autoridad requerir mayor discriminacin para algunos fines y menor para otros.
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
En cada nivel de inspeccin, las reglas para el

cambio deben operar para requerir la inspeccin normal, estricta o simplificada, segn se
especifica en el captulo 9. La eleccin del nivel
de inspeccin est totalmente separada de estas tres formas de inspeccin. Es decir, el nivel
de inspeccin especificado debe mantenerse
inamovible cuando se realizan cambios entre
inspeccin normal, estricta y simplifica.
En la designacin de los niveles de inspeccin
S-1 a S-4, debe tenerse cuidado de evitar el
uso de AQL inconsistentes con estos niveles de
inspeccin. Por ejemplo: la letra cdigo para el
nivel S-1 no puede ser mayor que D, equivalente a un nico tamao de muestra 8, pero no
sera de aplicacin el nivel S-1 si el AQL es
0,1%, para el cual, el mnimo tamao de muestra es 125.
La cantidad de informacin sobre la calidad de
un lote, obtenida del examen de muestras extradas de un lote, depende del tamao absoluto de las muestras, no del tamao relativo de la
muestra en relacin al tamao del lote, con tal
que la muestra sea relativamente pequea con
respecto al lote que se examina. A pesar de esto, hay tres razones para variar el tamao de la
muestra con respecto al tamao del lote:
a)
cuando la prdida debida a una decisin

errnea es alta, es ms importante tomar
la decisin correcta;
b)
con un lote grande, puede darse un tamao de muestra que seria antieconmico
para un lote pequeo;
c)
la verdadera seleccin aleatoria es ms difcil, si la muestra es demasiado pequea

con respecto al tamao del lote.
10.2 Letras cdigo de tamao de muestra
Los tamaos de las muestras se designan por

letras cdigo del tamao de muestra. La tabla 1
se utiliza para obtener la letra cdigo aplicable
en funcin del tamao del lote en particular y
del nivel de inspeccin establecido.
NOTA. Para ahorrar espacio en las tablas o para eliminar
repeticiones innecesarias en el texto, a veces se utiliza el
trmino abreviado letra cdigo.
10.3 Obtencin del plan de muestreo
El AQL y la letra cdigo del tamao de muestra

se utilizan para obtener el plan de muestreo de
las tablas 2; 3; 4 11. Para un AQL especificado y un tamao de lote dado, la misma combinacin de AQL y de letra cdigo de tamao
de muestra debe utilizarse para obtener el plan
de muestreo de la tabla para la inspeccin
normal, estricta y simplificada.
Cuando no disponga de un plan de muestreo para una combinacin dada de AQL y de letra cdigo de tamao de la muestra, las mismas tablas
remitirn al usuario a una letra cdigo diferente.
El tamao de la muestra a utilizar est dado por
la nueva letra cdigo, y no por la letra original. Si
este procedimiento conduce a diferentes tamaos de muestra para diferentes categoras de no
conformidades o tem no conformes, puede utilizarse la letra cdigo correspondiente al tamao
de muestra mximo, para todas las no conformidades o tems no conformes, cuando lo establezca o lo apruebe la autoridad responsable. Como
alternativa a un plan de muestreo simple con un
nmero de aceptacin 0, cuando as lo establezca o apruebe la autoridad responsable, puede
utilizarse el plan con un nmero de aceptacin 1
con su correspondiente mayor tamao de muestra para un determinado AQL (cuando est
disponible). Otra alternativa es utilizar los planes
con nmero de aceptacin fraccionario opcional,
descritos en el captulo 13, cuando lo establezca
o apruebe la autoridad responsable.
10.4 Tipos de planes de muestreo
En las tablas 2; 3 y 4 se exponen tres tipos de

planes de muestreo: simple, doble y mltiple,
respectivamente. Cuando se disponga de varios tipos de planes de muestreo para un AQL y
una letra cdigo de tamao de muestra dados,
pueden utilizarse cualquiera de ellos. Se debe
tomar una decisin sobre el tipo de plan que
debe emplearse (simple, doble o mltiple), para
un AQL y una letra de cdigo determinados,
basndose en la comparacin entre las dificultades administrativas y los tamaos promedios
de muestra de los planes disponibles. Para los
planes de muestreo dados en esta norma, el
tamao promedio de muestra de los planes
mltiples es menor que para el doble, y ambos
son menores que el tamao de muestra para
17
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
los planes simples (ver tabla 9). Generalmente

las dificultades administrativas para el muestreo
simple y el costo por tems de la muestra son
menores que para el muestreo doble o mltiple.
11 DETERMINACIN DE LA
ACEPTABILIDAD
11.1 Inspeccin para tems no conformes
Para determinar la aceptacin de un lote por

medio de la inspeccin del porcentaje no conforme, se debe utilizar el plan de muestreo aplicable de acuerdo con 11.1.1, 11.1.2 y 11.1.3.
11.1.1 Planes de muestreo simple (nmero
de aceptacin entero). El nmero de tems de
la muestra inspeccionada debe ser igual al tamao de la muestra dada por el plan. Si el
nmero de tems no conformes encontrados en
la muestra es igual o menor que el nmero de
aceptacin, el lote debe aceptarse. Si el nmero de tems no conformes encontrados en la
muestra es igual o mayor que el nmero de rechazo, el lote debe rechazarse.
11.1.2 Planes de muestreo doble. El nmero
de tems inspeccionados de la primera muestra
est dado por el plan. Si el nmero de tems no
conformes encontrados en la primera muestra
es igual o menor que el primer nmero de
aceptacin, el lote se acepta. Si el nmero de
tems no conformes encontrados en la primera
muestra es igual o mayor que el primer nmero
de rechazo, el lote se rechaza.
Si el nmero de tems no conformes encontrados en la primera muestra se encuentra entre

el primer nmero de aceptacin y rechazo, se
debe inspeccionar una segunda muestra cuyo
tamao est dado por el plan. El nmero de
tems no conformes encontrados en la primera
y segunda muestra debe acumularse. Si el nmero acumulado de tems no conformes es
igual o menor que el segundo nmero de aceptacin, el lote se acepta. Si el nmero acumulado de tems no conformes es igual o mayor
que el segundo nmero de rechazo, el lote se
considera no aceptable.
18
11.1.3 Planes de muestreo mltiple. En el

muestreo mltiple, el procedimiento es similar
al especificado en 11.1.2. En esta norma hay
cinco fases en las que se adoptar una decisin desde la primera hasta la ltima.
11.2 Inspeccin para no conformidades
Para determinar la aceptacin de un lote en una

inspeccin de no conformidades por 100 tems se
debe utilizar el procedimiento especificado para la
inspeccin del porcentaje no conforme (ver 11.1),
excepto que el trmino no conformidades deba
sustituirse por tems no conformes.
12 INFORMACIN SUPLEMENTARIA
12.1 Curvas caractersticas de operacin
(CO)
Las curvas caractersticas de operacin para la

inspeccin normal y simplificada, representadas en la tabla 10, indican el porcentaje de
lotes que puede esperarse que se acepten, segn los diferentes planes de muestreo para una
calidad de proceso dada. Las curvas representadas son las correspondientes al muestreo
simple, para planes con un nmero de aceptacin entero; las curvas para el muestreo doble
y mltiple se ajustan a stas tanto como sea
posible. Las curvas CO representadas para
AQL superiores a 10 son aplicables a inspeccin de no conformidades por 100 tems; las
correspondientes a AQL iguales a 10 o inferiores son aplicables a inspeccin de tems no
conformes. Para AQL de 10 o inferiores, estas
curvas CO son tambin aplicables a la inspeccin de no conformidades.
Cada una de las curvas representa los valores
de calidad del producto presentado a la inspeccin, correspondientes a los valores seleccionados de probabilidades de aceptacin, y se
muestran en forma de tabla. Adems tambin se
indican los valores correspondientes a muestreo
por tems no conformes o no conformidades por
100 tems, para AQL de 10 o menores.
Los esquemas normalizados para las curvas CO
representados en la tabla 12, indican la amplitud
del porcentaje de lotes de varias calidades que
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
sern aceptados, tomando en consideracin las

reglas para el cambio pero sin considerar el
efecto de la regla para la interrupcin de la inspeccin (ver 9.4). El eje de las abscisas es la
relacin de la calidad del proceso con respecto
al AQL. Cada curva representa un nmero de
aceptacin para inspeccin normal.
12.2 Promedio del proceso
El promedio del proceso puede estimarse por el

porcentaje promedio de no conformes o nmero
promedio de no conformidades por 100 tems (el
que sea aplicable) encontrado en las muestras
enviadas por el proveedor para la inspeccin
original, con tal de que la inspeccin sea continua. Cuando se utilice el muestreo doble o mltiple, nicamente debe incluirse el resultado de la
primera muestra en la estimacin del promedio
del proceso.
12.3 Calidad promedio de salida (AOQ)
La calidad promedio de salida es la calidad promedio del producto a largo plazo aceptado para
su salida para un valor dado de calidad de entrada del producto, incluyendo todos los lotes
aceptados ms todos los lotes no aceptados,
despus de que estos ltimos hayan sido sometidos a una inspeccin 100% y todos los
tems no conformes hayan sido reemplazados
por tems conformes.
12.4 Lmite de la calidad promedio de salida
(AOQL)
El AOQL es el valor mximo de las calidades

promedios de salida para todas las calidades posibles presentadas para un plan de muestreo de
aceptacin dado. En la tabla 8-A se dan los valores aproximados de AOQL para cada uno de los
planes de muestreo simple en inspeccin normal
y en la tabla 8-B para cada uno de los planes de
muestreo simple en inspeccin estricta.
12.5 Curvas del tamao promedio de la
muestra
En la tabla 9 se dan las curvas del tamao medio de la muestra para el muestreo doble y
mltiple, las que se comparan con el correspondiente plan de muestreo simple para cada
nmero de aceptacin. Estas curvas representan el tamao promedio esperado de la muestra,
bajo los diferentes planes de muestreo para niveles dados de calidad del proceso. Las curvas
suponen que la inspeccin es continua (ver la
ISO 3534-2).
12.6 Riesgos del consumidor y del productor
12.6.1 Utilizacin de planes individuales. Esta
norma est prevista para que se emplee como
un sistema de inspeccin estricto, normal o simplificado sobre una serie de lotes, para alcanzar
la proteccin del cliente asegurando al fabricante
que la aceptacin se producir en la mayora de
los casos, si la calidad es mejor que el AQL.
Ocasionalmente, los planes individuales especficos se seleccionan de esta norma y se usan

las reglas para el cambio. Por ejemplo: un comprador puede estar utilizando los planes nicamente con el propsito de verificacin. Esta no
es la aplicacin prevista para el sistema dado en
esta norma y su uso en esta forma no debe denominarse como inspeccin de conformidad con
esta norma. Cuando se usa de esta forma, esta
norma simplemente representa una coleccin de
planes individuales tabulados segn su AQL.
Las curvas caractersticas de operacin y otras
medidas del plan as elegido, deben ser evaluadas individualmente respecto a un plan desde
las tablas proporcionadas.
12.6.2 Tablas para el riesgo de calidad del
cliente. Si la serie de lotes no es lo suficientemente grande para permitir la aplicacin de las
reglas para el cambio, podra ser deseable limitar la seleccin de planes de muestreo a aquellos asociados con un valor de AQL establecido,
que den un riesgo de calidad del cliente menor
que la proteccin de la calidad lmite especificada. Los planes de muestreo para este propsito
pueden seleccionarse eligiendo una calidad de
un riesgo del cliente (RCC) y el correspondiente
riesgo del consumidor (probabilidad de aceptacin del lote) asociado a l.
Las tablas 6 y 7 dan valores del riesgo de calidad del cliente (RCC) correspondiente a un
riesgo del consumidor de 10% (probabilidad de
aceptacin del lote). La tabla 6 se aplica cuando se inspecciona por tems no conformes y la
tabla 7 se aplica cuando se inspecciona por
nmero de no conformidades. Para lotes individuales con niveles de calidad menores o igua-
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ISO 2 859 -1:1 999
les que el valor tabulado del riesgo de calidad

del cliente, la probabilidad de aceptacin del lote es menor o igual que el 10%. Cuando hay
razones para proteger contra una calidad lmite
especificada en un lote, las tablas 6 y 7 son tiles para fijar un tamao mnimo de muestra
asociado con el AQL y el nivel de inspeccin
especificado para la inspeccin de las series de
lotes. La IRAM 15-2/ISO 2859-2 proporciona
detalles del procedimiento para seleccionar
planes de muestreo para lotes aislados.
EJEMPLO: se adopta para lotes individuales un
riesgo de calidad del cliente del 5% de tems no
conformes con una probabilidad de aceptacin
asociada de 10% o inferior. Si se desea un
AQL de 1% de tems no conformes para la inspeccin de una serie de lotes, la tabla 6-A
indica que el tamao mnimo de la muestra est dado por la letra cdigo L.
12.6.3 Tablas de riesgo del productor. Las tablas 5-A, 5-B y 5-C dan la probabilidad de
rechazo para lotes de calidad AQL en la inspeccin normal, estricta y simplificada, respectivamente. Esta probabilidad se denomina riesgo del
productor en 2.6.7 de de la ISO 3534-2:1993.
1. Para inspeccin simplificada, las fracciones

1/5, 1/3 y 1/2 se encuentran en lugar de las tres
entradas con flechas en la tabla 2-C, entre los
planes para nmero de aceptacin 0 y 1.
La utilizacin de planes con nmero de aceptacin fraccionario no requiere un cambio en la
letra cdigo del tamao de muestra, con el correspondiente cambio en el tamao de la muestra, cuando la combinacin de la letra cdigo y
AQL resulte en un plan entre los nmeros de
aceptacin 0 y 1, tal como se describe en 10.3.
13.2 Determinacin de la aceptabilidad
13.2.1 Inspeccin por tems no conformes
13.2.1.1 Planes de muestreo constantes.
Cuando el plan de muestreo con nmero de
aceptacin fraccionario permanece constante
para todos los lotes, se aplican las reglas siguientes:
a)
Cuando no hayan tems no conformes en

la muestra, el lote debe aceptarse.
b)
Cuando haya dos o ms tem no conformes

en la muestra, el lote se debe rechazar.
c)
Cuando haya un solo tem no conforme en

la muestra de un lote en curso, el lote debe
considerarse aceptable nicamente si no
se ha encontrado ningn tem no conforme
en las muestras de un nmero suficiente
de lotes precedentes.
13 PLANES CON NMERO DE

ACEPTACIN FRACCIONARIO PARA
MUESTREO SIMPLE (OPCIONAL)
13.1 Aplicacin de los planes con nmero
de aceptacin fraccionario
Este apartado especifica procedimientos opcionales para planes de muestreo con nmero de
aceptacin fraccionario.
Los procedimientos opcionales pueden utilizarse previa aprobacin de la autoridad responsable. A menos que establezca otra cosa, deben utilizarse los procedimientos normalizados,
expuestos anteriormente.
Los planes con nmero de aceptacin fraccionario se representan en las tablas 11-A, 11-B y
11-C. Para inspeccin normal y estricta, las fracciones 1/3 y 1/2 se encuentran en lugar de las
dos entradas con flechas de la tabla 2-A y 2-B
entre los planes para nmero de aceptacin 0 y
20
Para un nmero de aceptacin de 1/2 se requiere uno de dichos lotes. Para un nmero de
aceptacin de 1/3 se requieren dos de dichos
lotes. Para un nmero de aceptacin de 1/5 se
requieren cuatro de dichos lotes. En otros casos el lote en curso debe rechazarse. Si el
primer lote inspeccionado tiene un tem no conforme, se rechaza el lote.
13.2.1.2 Planes de muestreo no constantes.
Cuando el plan de muestreo no permanece constante en los lotes sucesivos, debido a la variacin
del tamao del lote, se usa un nmero de aceptacin que se calcula de la forma siguiente:
a)
Al comienzo de la inspeccin normal, estricta o simplificada, se establece el nmero de aceptacin en 0.
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b)
Si el plan de muestreo obtenido indica un

nmero de aceptacin 0, el nmero de
aceptacin debe mantenerse sin cambios.
Si el nmero de aceptacin es 1/5, se suma 2 a la puntuacin de aceptacin.
Si el nmero de aceptacin es 1 o ms, se
suma 7 a la puntuacin de aceptacin.
c)
d)
Para planes con nmero de aceptacin

fraccionario, si la puntuacin de aceptacin
antes de la inspeccin es 8 o menor, el lote
puede aceptarse nicamente si no hay
tems no conformes en la muestra. Para
planes con nmero de aceptacin fraccionario, si el nmero de aceptacin antes de
la inspeccin es 9 o mayor, el lote puede
aceptarse nicamente si aparece como
mximo un tem no conforme en la muestra. Si el nmero de aceptacin dado es un
entero, se utiliza este nmero de aceptacin para determinar la aceptabilidad (en
acuerdo con 11.1.1 11.2).
Si uno o ms tems no conformes se encuentran en la muestra, se establece el nmero de aceptacin en 0 (por ejemplo,
despus de tomar una decisin en relacin
con la aceptabilidad del lote).
El nmero de aceptacin debe actualizarse

(adicionarse) despus de obtener el plan de
muestreo y antes de decidir sobre la aceptacin
del lote. La puntuacin de aceptacin debe reestablecerse en cero despus de que se haya
adoptado la decisin sobre la aceptacin. La
puntuacin para el cambio (ver 9.3.3.2) debe
adicionarse o restablecerse en cero despus
de decidir sobre la aceptacin del lote.
NOTA. Cuando se utiliza una puntualizacin de cambio
para el caso de planes de muestreo constante, los resultados son los mismos que en 13.2.1.1.
13.2.2 Inspeccin por nmero de no conformidades. A fin de determinar la aceptabilidad de un lote en una inspeccin por nmero
de no conformidades, se deben utilizar los procedimientos especificados para inspeccin de

tems no conformes (ver 13.2.1), excepto que el
trmino no conformidades debe sustituirse por
el trmino tems no conformes.
13.3 Reglas para el cambio
13.3.1 Normal a estricta y estricta a normal.
Estas reglas son las mismas que se indican en
9.3.1 y 9.3.2, respectivamente.
13.3.2 Normal a simplificada. La regla para
actualizar la puntuacin para el cambio (ver
9.3.3) bajo muestreo simple cuando se utiliza
un nmero de aceptacin fraccionario, es la siguiente:
a)
Cuando el nmero de aceptacin es 1/3

1/2, se suma 2 al valor de cambio si el lote
es aceptado. En otros casos restaurar el
valor de cambio a cero.
b)
Cuando el nmero de aceptacin es cero, se

suma 2 al valor de cambio si hay tems no
conformes en la muestra; caso contrario se
restaura la puntuacin para el cambio a 0.
13.3.3 Inspeccin simplificada a normal e

interrupcin de la inspeccin. Las reglas son
las mismas que se indican en 9.3.4 y 9.3.6,
respectivamente.
NOTA. Los planes de muestreo con nmero de aceptacin fraccionario no son aplicables bajo el sistema de
muestreo para lotes aislados de la IRAM 15-3/ISO 2859-3.
13.4 Plan de muestreo no constante
El ejemplo del anexo A ilustra la aplicacin de

este sistema de muestreo para la aceptacin
mediante la utilizacin de planes con nmero
de aceptacin fraccionario con tamao del lote
variable.
En este ejemplo se supone que se presenta una
serie de lotes para inspeccin por tems no conformes, y que se ha acordado utilizar un AQL de
1% de tems no conformes con nivel de inspeccin general II. En la tabla del anexo A se
muestra el resultado para los primeros 25 lotes.
21
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 1 - Letras cdigo del tamao de muestra (ver apartados 10.1 y 10.2)
Tamao del lote
Niveles especiales de inspeccin
Niveles generales de inspeccin
S-1
S-2
S-3
S-4
II
III
15
16
25
26
50
51
90
91
150
151
280
281
500
501
1 200
1 201
3 200
3 201
10 000
10 001
35 000
35 001
150 000
150 001
500 000
500 001 en adelante
22
Tabla 2-A - Planes de muestreo simple para inspeccin normal (tabla maestra)
Nivel de calidad aceptable (AQL), en porcentaje de elementos no conformes y no conformidades por 100 unidades
Letra
(Inspeccin normal)
cdigo Tamao
de tamade la
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650 1 000
o de
muestra 0,010 0,015 0,025 0,040 0,065 0,10 0,15 0,25 0,40 0,65
muestra
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
A
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
0 1
1 2
2 3
3 4
5 6
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
2 3
3 4
5 6
7 8
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
1 2
7 8
10 11 14 15 21 22 30 31 44 45
10 11 14 15 21 22 30 31 44 45
10 11 14 15 21 22 30 31 44 45
10 11 14 15 21 22 30 31 44 45
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
= Utilizar el primer plan de muestreo por encima de la flecha.

= Nmero de aceptacin.
Re
= Nmero de rechazo.
23
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2859-1:1 999
= Utilizar el primer plan de muestreo bajo la flecha. Si el tamao de la muestra es igual o excede el tamao del lote, se efecta una inspeccin 100%.
Ac
10 11 14 15 21 22 30 31
Nivel de calidad aceptable (AQL), en porcentaje de tems no conformes y no conformidades por 100 unidades (inspeccin estricta)
Letra
cdigo Tamao
de tamade la
0,010 0,015 0,025 0,040 0,065 0,10 0,15 0,25 0,40 0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650 1 000
o de
muestra
muestra
A
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
3 150
0 1
1 2
2 3
3 4
5 6
1 2
2 3
3 4
5 6
8 9
1 2
2 3
3 4
5 6
8 9
1 2
2 3
3 4
5 6
8 9
1 2
2 3
3 4
5 6
8 9
1 2
2 3
3 4
5 6
8 9
1 2
2 3
3 4
5 6
8 9
1 2
2 3
3 4
5 6
8 9
1 2
2 3
3 4
5 6
8 9
1 2
2 3
3 4
5 6
8 9
1 2
2 3
3 4
5 6
8 9
1 2
2 3
3 4
5 6
8 9
1 2
2 3
3 4
5 6
8 9
1 2
2 3
3 4
5 6
8 9
1 2
2 3
3 4
5 6
8 9
2 3
3 4
5 6
8 9
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
1 2
Re
= Nmero de rechazo.
12 13 18 19 27 28 41 42
12 13 18 19 27 28 41 42
12 13 18 19 27 28 41 42
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
Ac
12 13 18 19 27 28
12 13 18 19 27 28 41 42
1 2
8 9
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
24
Tabla 2-B - Planes de muestreo simple para inspeccin estricta (tabla maestra)
Tabla 2-C - Planes de muestreo simple para inspeccin simplificada (tabla maestra)
Nivel de calidad aceptable (AQL), en porcentaje de elementos no conformes y no conformidades por 100 unidades
Letra
(Inspeccin normal)
cdigo Tamao
de tamade la
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650 1 000
o de
muestra 0,010 0,015 0,025 0,040 0,065 0,10 0,15 0,25 0,40 0,65
muestra
A
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
0 1
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8 10 11 14 15 21 22 30 31
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8 10 11 14 15 21 22 30 31
1 2
2 3
3 4
5 6
6 7
8 9 10 11 14 15 21 22
1 2
2 3
3 4
5 6
6 7
8 9 10 11 14 15 21 22
1 2
2 3
3 4
5 6
6 7
8 9 10 11 14 15 21 22
1 2
2 3
3 4
5 6
6 7
8 9 10 11
1 2
2 3
3 4
5 6
6 7
8 9 10 11
1 2
2 3
3 4
5 6
6 7
8 9 10 11
1 2
2 3
3 4
5 6
6 7
8 9 10 11
1 2
2 3
3 4
5 6
6 7
8 9 10 11
1 2
2 3
3 4
5 6
6 7
8 9 10 11
1 2
2 3
3 4
5 6
6 7
8 9 10 11
1 2
2 3
3 4
5 6
6 7
8 9 10 11
1 2
2 3
3 4
5 6
6 7
8 9 10 11
1 2
2 3
3 4
5 6
6 7
8 9 10 11
2 3
3 4
5 6
6 7
8 9 10 11
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
0 1
1 2
Ac
Re
= Nmero de rechazo.
25
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2859-1:1 999
Letra
Tamao
Nivel de calidad aceptable (AQL), en porcentaje de tems no conformes y no conformidades por 100 unidades (inspeccin normal)
Tamao de la
cdigo
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100 150 250 400 650 1 000
de tama- Muestra de la muestra 0,010 0,015 0,025 0,040 0,065 0,10 0,15 0,25 0,40 0,65 1,0
muestra acumuo de
muestra
lado Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
A
B
C
D
E
F
G
H
J
K
L
M
N
P
Q
R
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
2
2
3
3
5
5
8
8
13
13
20
20
32
32
50
50
80
80
125
125
200
200
315
315
500
500
800
800
1 250
1 250
2
4
3
6
5
10
8
16
13
26
20
40
32
64
50
100
80
160
125
250
200
400
315
630
500
1 000
800
1 600
1 250
2 500
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
0 2
1 2
0
1
0
3
2
2
3
4
0
1
0
3
1
4
2
2
3
4
3
5
0
1
0
3
1
4
2
6
2
2
3
4
3
5
5
7
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 5
6 7
3 6
9 10
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 5
6 7
3 6
9 10
5 9
12 13
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 5
6 7
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 5
6 7
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 5
6 7
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 5
6 7
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 5
6 7
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 5
6 7
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 5
6 7
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 5
6 7
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 5
6 7
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
0 3
3 4
1 3
4 5
2 5
6 7
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
1 3
4 5
2 5
6 7
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
2 5
6 7
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
17 22
37 38
7 11
18 19
11 16
26 27
17 22
37 38
25 31
56 57
11 16
26 27
17 22
37 38
25 31
56 57
Ac
= Nmero de aceptacin. / Re = Nmero de rechazo.
= Utilizar el plan de muestreo simple correspondiente (o, como alternativa, utilizar el plan de muestreo doble situado debajo, cuando est disponible).
17 22 25 31
37 38 56 57
25 31
56 57
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
26
Tabla 3-A - Planes de muestro doble en inspeccin normal (tabla general)
Tabla 3-B - Planes de muestreo doble en inspeccin estricta (tabla general)

Letra
Tamao
Tamao de la
cdigo
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100 150 250 400 650 1 000
muestra acumuo de
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
muestra
lado
A
B
C
D
E
F
G
H
J
K
L
M
N
P
Q
R
2
2
3
3
5
5
8
8
13
13
20
20
32
32
50
50
80
80
125
125
200
200
315
315
500
500
800
800
1 250
1 250
2 000
2 000
2
4
3
6
5
10
8
16
13
26
20
40
32
64
50
100
80
160
125
250
200
400
315
630
500
1 000
800
1 600
1 250
2 500
2 000
4 000
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
0 2
1 2
0
1
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3
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2
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0
1
0
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1
4
2
2
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4
3
5
0
1
0
3
1
4
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2
2
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1 2
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6 7
4 7
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1 2
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6 7
4 7
10 11
6 10
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1 2
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1 3
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2 5
6 7
4 7
10 11
6 10
15 16
9 14
23 24
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 5
6 7
4 7
10 11
6 10
15 16
9 14
23 24
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 5
6 7
4 7
10 11
6 10
15 16
9 14
23 24
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6 7
4 7
10 11
6 10
15 16
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23 24
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1 2
0 3
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6 7
4 7
10 11
6 10
15 16
9 14
23 24
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0 3
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1 3
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2 5
6 7
4 7
10 11
6 10
15 16
9 14
23 24
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
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2 5
6 7
4 7
10 11
6 10
15 16
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23 24
0 3
3 4
1 3
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2 5
6 7
4 7
10 11
6 10
15 16
9 14
23 24
1 3
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2 5
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4 7
10 11
6 10
15 16
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23 24
2 5
6 7
4 7
10 11
6 10
15 16
9 14
23 24
4 7
10 11
6 10
15 16
9 14
23 24
15 20
34 35
6 10
15 16
9 14
23 24
15 20
34 35
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52 53
9 14
23 24
15 20
34 35
23 29
52 53
0 2
1 2
Ac
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34 35 52 53
23 29
52 53
27
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
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Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Letra
Tamao
Nivel de calidad aceptable (AQL), en porcentaje de tems no conformes y no conformidades por 100 unidades (inspeccin simplificada)
Tamao de la
cdigo
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Ac
Re
Ac
Re
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Re
Ac
Re
Ac
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Re
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Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
muestra
lado
C
D
E
F
G
H
J
K
L
M
N
P
Q
R
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
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2
3
3
5
5
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13
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20
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32
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50
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80
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125
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200
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315
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500
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5
10
8
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13
26
20
40
32
64
50
100
80
160
125
250
200
400
315
630
500
1 000
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
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1 2
0
1
0
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2
2
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0
1
0
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2
2
3
4
3
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0
1
0
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2
2
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0
1
0
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2
3
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6
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1 2
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1 3
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4 7
10 11
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0 2
1 2
0 3
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2 4
5 6
3 6
7 8
4 7
10 11
59
12 13
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 4
5 6
3 6
7 8
4 7
10 11
59
12 13
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 4
5 6
3 6
7 8
4 7
10 11
59
12 13
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 4
5 6
3 6
7 8
4 7
10 11
59
12 13
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 4
5 6
3 6
7 8
4 7
10 11
59
12 13
0 2
1 2
0 3
3 4
1 3
4 5
2 4
5 6
3 6
7 8
4 7
10 11
59
12 13
0 3
3 4
1 3
4 5
2 4
5 6
3 6
7 8
4 7
10 11
59
12 13
*
*
*
*
*
*
1 3
4 5
2 4
5 6
3 6
7 8
4 7
10 11
59
12 13
2 4
5 6
3 6
7 8
4 7
10 11
59
12 13
Ac
Re
= Nmero de rechazo.
*
*
*
*
*
*
*
*
*
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4 7
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59
12 13
*
*
*
*
*
*
7 11 11 16
18 19 26 27
11 16
26 27
I
*
*
*
*
*
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
28
Tabla 3-C - Planes de muestreo doble en inspeccin simplificada (tabla general)
Tabla 4-A - Planes de muestreo mltiple en inspeccin normal (tabla general)

Letra
Tamao
Tamao de la
cdigo
Muestra
muestra
de
la
0,010 0,015 0,025 0,040 0,065 0,10 0,15 0,25 0,40 0,65 1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100 150 250 400 650 1 000
de tamuestra acumumao de
lado
muestra
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
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2
2
2
2
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3
3
3
3
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5
5
5
5
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8
8
8
8
13
13
13
13
13
20
20
20
20
20
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10
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12
15
5
10
15
20
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8
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24
32
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#
0
0
0
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#
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#
0
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0
1
#
0
0
1
3
#
0
1
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4
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2
2
2
2
2
3
3
3
4
3
3
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5
5
#
0
0
0
1
#
0
0
1
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#
0
1
2
4
#
1
2
4
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2
2
2
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3
4
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5
4
5
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7
# 2
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0 2
0 2
1 2
# 2
0 3
0 3
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# 3
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4 5
# 4
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# 2
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# 2
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# 3
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4 5
# 4
1 5
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1 6
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5 9
9 10
0 5
3 8
6 10
9 12
12 13
# 2
0 3
0 3
1 3
3 4
# 3
0 3
1 4
2 5
4 5
# 4
1 5
2 6
4 7
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5 9
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0 5
3 8
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9 12
12 13
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4 10
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12 17
18 19
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
# 3
0 3
1 4
2 5
4 5
# 4
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1 6
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5 9
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0 5
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9 12
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12 17
18 19
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20 25
26 27
# 4
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2 6
4 7
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0 5
3 8
6 10
9 12
12 13
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4 10
8 13
12 17
18 19
2 9
7 14
13 19
20 25
26 27
0 4
1 6
3 8
5 9
9 10
0 5
3 8
6 10
9 12
12 13
1 7
4 10
8 13
12 17
18 19
2 9
7 14
13 19
20 25
26 27
0 5
3 8
6 10
9 12
12 13
1 7
4 10
8 13
12 17
18 19
2 9
7 14
13 19
20 25
26 27
1 7
4 10
8 13
12 17
18 19
2 9
7 14
13 19
20 25
26 27
2 9
7 14
13 19
20 25
26 27
4 12
11 19
19 27
28 34
37 38
4 12
11 19
19 27
28 34
37 38
6 16
17 27
29 38
40 48
56 57
6 16
17 27
29 38
40 48
56 57

Ac
= La aceptacin no est permitida para este tamao de muestra.
++
#
29
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Letra
Tamao
Tamao de la
cdigo
de tama- Muestra de la muestra 0,010 0,015 0,025
muestra acumuo de
muestra
lado Ac Re Ac Re Ac Re
Primera
32
32
Segunda
32
64
K
Tercera
32
96
Cuarta
32
128
Quinta
32
160
Primera
50
50
Segunda
50
100
L
Tercera
50
150
Cuarta
50
200
Quinta
50
250
Primera
80
80
Segunda
80
160
M
Tercera
80
240
Cuarta
80
320
Quinta
80
400
Primera
125
125
Segunda 125
250
N
Tercera
125
375
*
Cuarta
125
500
Quinta
125
625
Primera
200
200
Segunda 200
400
P
Tercera
200
600
*
Cuarta
200
800
Quinta
200
1 000
Primera
315
315
Segunda 315
630
Q
Tercera
315
945
*
Cuarta
315
1 260
Quinta
315
1 575
Primera
500
500
# 2
Segunda 500
1 000
0 2
R
Tercera
500
1 500
0 2
Cuarta
500
2 000
0 2
Quinta
500
2 500
1 2
0,040 0,065 0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650 1 000
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
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0
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0
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2
2
2
2
3
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#
0
0
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#
0
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#
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2
2
2
2
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3
4
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5
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5
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# 2
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0 2
0 2
1 2
# 2
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0 3
1 3
3 4
# 3
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4 5
# 4
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2 6
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# 2
0 2
0 2
0 2
1 2
# 2
0 3
0 3
1 3
3 4
# 3
0 3
1 4
2 5
4 5
# 4
1 5
2 6
4 7
6 7
0 4
1 6
3 8
5 9
9 10
0 5
3 8
6 10
9 12
12 13
# 2
0 2
0 2
0 2
1 2
# 2
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0 3
1 3
3 4
# 3
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4 5
# 4
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6 10
9 12
12 13
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4 10
8 13
12 17
18 19
# 2
0 3
0 3
1 3
3 4
# 3
0 3
1 4
2 5
4 5
# 4
1 5
2 6
4 7
6 7
0 4
1 6
3 8
5 9
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0 5
3 8
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9 12
12 13
1 7
4 10
8 13
12 17
18 19
2 9
7 14
13 19
20 25
26 27
# 3
0 3
1 4
2 5
4 5
# 4
1 5
2 6
4 7
6 7
0 4
1 6
3 8
5 9
9 10
0 5
3 8
6 10
9 12
12 13
1 7
4 10
8 13
12 17
18 19
2 9
7 14
13 19
20 25
26 27
# 4
1 5
2 6
4 7
6 7
0 4
1 6
3 8
5 9
9 10
0 5
3 8
6 10
9 12
12 13
1 7
4 10
8 13
12 17
18 19
2 9
7 14
13 19
20 25
26 27
0 4
1 6
3 8
5 9
9 10
0 5
3 8
6 10
9 12
12 13
1 7
4 10
8 13
12 17
18 19
2 9
7 14
13 19
20 25
26 27
0 5
3 8
6 10
9 12
12 13
1 7
4 10
8 13
12 17
18 19
2 9
7 14
13 19
20 25
26 27
1 7
4 10
8 13
12 17
18 19
2 9
7 14
13 19
20 25
26 27
2 9
7 14
13 19
20 25
26 27
Ac = Nmero de aceptacin. / Re = Nmero de rechazo.
* = Utilizar el plan de muestreo simple correspondiente (o, como alternativa, utilizar el plan de muestreo doble situado debajo, cuando est disponible).
++ = Utilizar el plan de muestreo simple correspondiente (o, como alternativa, utilizar el plan de muestreo doble situado debajo, cuando est disponible).
# = La aceptacin no est permitida para este tamao de muestra.
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
30
Tabla 4-A - Planes de muestreo mltiple en inspeccin normal (tabla general) (fin)
Tabla 4-B - Planes de muestreo mltiple de inspeccin estricta (tabla general)

Letra
Tamao
Tamao de la
cdigo
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100 150 250 400 650 1 000
muestra acumuo de
muestra
A
++
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
2
2
2
2
2
3
3
3
3
3
5
5
5
5
5
8
8
8
8
8
13
13
13
13
13
2
4
6
8
10
3
6
9
12
15
5
10
15
20
25
8
16
24
32
40
13
26
39
52
65
#
0
0
0
1
2
2
2
2
2
#
0
0
0
1
#
0
0
1
3
2
2
2
2
2
2
3
3
3
4
#
0
0
0
1
#
0
0
1
3
#
0
1
2
4
2
2
2
2
2
2
3
3
3
4
3
3
4
5
5
#
0
0
0
1
#
0
0
1
3
#
0
1
2
4
#
1
2
4
6
2
2
2
2
2
2
3
3
3
4
3
3
4
5
5
4
5
6
7
7
# 2
0 2
0 2
0 2
1 2
# 2
0 3
0 3
1 3
3 4
# 3
0 3
1 4
2 5
4 5
# 4
1 5
2 6
4 7
6 7
0 4
2 7
4 9
6 11
10 11
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
# 2
0 3
0 3
1 3
3 4
# 3
0 3
1 4
2 5
4 5
# 4
1 5
2 6
4 7
6 7
0 4
2 7
4 9
6 11
10 11
0 6
3 9
7 12
11 15
15 16
# 3
0 3
1 4
2 5
4 5
# 4
1 5
2 6
4 7
6 7
0 4
2 7
4 9
6 11
10 11
0 6
3 9
7 12
11 15
15 16
1 8
6 12
11 17
16 22
23 24
# 4
1 5
2 6
4 7
6 7
0 4
2 7
4 9
6 11
10 11
0 6
3 9
7 12
11 15
15 16
1 8
6 12
11 17
16 22
23 24
0 4
2 7
4 9
6 11
10 11
0 6
3 9
7 12
11 15
15 16
1 8
6 12
11 17
16 22
23 24
0 6
3 9
7 12
11 15
15 16
1 8
6 12
11 17
16 22
23 24
1 8
6 12
11 17
16 22
23 24
3 0
10 17
17 24
25 31
34 35
3 0
10 17
17 24
25 31
34 35
6 15
16 25
26 35
38 45
52 53
6 15
16 25
26 35
38 45
52 53
++
#
31
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999

Ac
Letra
Tamao
Tamao de la
cdigo
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100 150 250 400 650 1 000
muestra acumuo de
muestra
Primera
20
20
# 2 # 2 # 3 # 4 0 4 0 6 1 8
Segunda
20
40
0 2 0 3 0 3 1 5 2 7 3 9 6 12
J
Tercera
20
60
0 2 0 3 1 4 2 6 4 9 7 12 11 17
*
Cuarta
20
80
0 2 1 3 2 5 4 7 6 11 11 15 16 22
Quinta
20
100
1 2 3 4 4 5 6 7 10 11 15 16 23 24
Primera
32
32
# 2 # 2 # 3 # 4 0 4 0 6 1 8
Segunda
32
64
0 2 0 3 0 3 1 5 2 7 3 9 6 12
K
Tercera
32
96
0 2 0 3 1 4 2 6 4 9 7 12 11 17
*
Cuarta
32
128
0 2 1 3 2 5 4 7 6 11 11 15 16 22
Quinta
32
160
1 2 3 4 4 5 6 7 10 11 15 16 23 24
Primera
50
50
# 2 # 2 # 3 # 4 0 4 0 6 1 8
Segunda
50
100
0 2 0 3 0 3 1 5 2 7 3 9 6 12
L
Tercera
50
150
0 2 0 3 1 4 2 6 4 9 7 12 11 17
*
Cuarta
50
200
0 2 1 3 2 5 4 7 6 11 11 15 16 22
Quinta
50
250
1 2 3 4 4 5 6 7 10 11 15 16 23 24
Primera
80
80
# 2 # 2 # 3 # 4 0 4 0 6 1 8
Segunda
80
160
0 2 0 3 0 3 1 5 2 7 3 9 6 12
M
Tercera
80
240
0 2 0 3 1 4 2 6 4 9 7 12 11 17
*
Cuarta
80
320
0 2 1 3 2 5 4 7 6 11 11 15 16 22
Quinta
80
400
1 2 3 4 4 5 6 7 10 11 15 16 23 24
Primera
125
125
# 2 # 2 # 3 # 4 0 4 0 6 1 8 # 2
Segunda 125
250
0 2 0 3 0 3 1 5 2 7 3 9 6 12 0 2
N
Tercera
125
375
0 2 0 3 1 4 2 6 4 9 7 12 11 17 0 2
*
Cuarta
125
500
0 2 1 3 2 5 4 7 6 11 11 15 16 22 0 2
Quinta
125
625
1 2 3 4 4 5 6 7 10 11 15 16 23 24 1 2
Primera
200
200
# 2 # 2 # 3 # 4 0 4 0 6 1 8 # 2
Segunda 200
400
0 2 0 3 0 3 1 5 2 7 3 9 6 12 0 2
P
Tercera
200
600
0 2 0 3 1 4 2 6 4 9 7 12 11 17 0 2
*
Cuarta
200
800
0 2 1 3 2 5 4 7 6 11 11 15 16 22 0 2
Quinta
200
1 000
1 2 3 4 4 5 6 7 10 11 15 16 23 24 1 2
Ac
= Nmero de aceptacin / Re = Nmero de rechazo.
++
#
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
32
Tabla 4-B - Planes de muestreo mltiple en inspeccin estricta (tabla general) (continuacin)
Tabla 4-B - Planes de muestreo mltiple en inspeccin estricta (tabla general) (fin)
Letra
Tamao
Tamao de la
cdigo
de tama- Muestra de la muestra
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100 150 250 400 650 1 000
muestra acumu- 0,010 0,015 0,025 0,040 0,065 0,10 0,15 0,25 0,40 0,65 1,0
o de
muestra
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
315
315
315
315
315
315
630
945
1 260
1 575
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
500
500
500
500
500
800
800
800
800
800
500
1 000
1 500
2 000
2 500
800
1 600
2 400
3 200
4 000
*
#
0
0
0
1
*
#
0
0
0
1
2
2
2
2
2
#
0
0
0
1
2
2
2
2
2
#
0
0
1
3
2
3
3
3
4
#
0
1
2
4
3
3
4
5
5
#
1
2
4
6
4 0 4
5 2 7
6 4 9
7 6 11
7 10 11
#
0
0
1
3
2
3
3
3
4
#
0
1
2
4
3
3
4
5
5
#
1
2
4
6
4 0 4
5 2 7
6 4 9
7 6 11
7 10 11
0 6
3 9
7 12
11 15
15 16
0 6
3 9
7 12
11 15
15 16
1 8
6 12
11 17
16 22
23 24
1 8
6 12
11 17
16 22
23 24
#
0
0
0
1
#
0
0
0
1
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
Ac
Re
= Nmero de rechazo.
++
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
33
Letra
Tamao
Tamao de la
cdigo
de tama- Muestra de la muestra
0,010 0,015 0,025 0,040 0,065 0,10 0,15 0,25 0,40 0,65 1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100 150 250 400 650 1 000
muestra acumuo de
muestra
++
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
*
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
2
2
2
2
2
3
3
3
3
3
5
5
5
5
5
8
8
8
8
8
13
13
13
13
13
2
4
6
8
10
3
6
9
12
15
5
10
15
20
25
8
16
24
32
40
13
26
39
52
65
++
#
0
0
0
1
2
3
3
3
3
#
0
0
1
3
#
0
0
1
3
2
2
3
3
4
2
3
3
3
4
#
0
0
0
1
#
0
0
1
3
#
0
1
2
4
2
2
2
2
2
2
3
3
3
4
3
3
4
5
5
#
0
0
0
1
#
0
0
1
3
#
0
1
2
4
#
1
2
3
5
2
2
2
2
2
2
3
3
3
4
3
3
4
5
5
3
4
5
5
6
#
0
0
0
1
#
0
0
0
1
#
0
1
2
4
#
1
2
3
5
0
1
2
4
7
++
2 # 2 # 3
2 0 3 0 3
2 0 3 1 4
2 1 3 2 5
2 3 4 4 5
2 # 2 # 3
2 0 3 0 3
2 0 3 1 4
2 1 3 2 5
2 3 4 4 5
3 # 3 0 4
3 1 4 1 6
4 2 5 2 7
5 3 5 4 8
5 5 6 7 8
3 0 4 0 4
4 1 6 2 7
5 2 7 4 9
5 4 8 6 11
6 7 8 10 11
4 0 4 0 5
6 2 7 3 8
7 4 9 6 10
8 6 11 9 12
8 10 11 12 13
++
# 3
1 4
2 5
3 5
5 6
# 3
1 4
2 5
3 5
5 6
0 4
2 7
4 9
6 11
10 11
0 4 0 4 0 5
1 6 2 7 3 8
2 7 4 9 6 10
4 8 6 11 9 12
7 8 10 11 12 13
0 4 0 5
2 7 3 8
4 9 6 10
6 11 9 12
10 11 12 13
0 5
3 8
6 10
9 12
12 13
Ac
Re
= Nmero de rechazo.
++
#
*
*
*
*
*
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
34
Tabla 4-C - Planes de muestreo mltiple en inspeccin simplificada (tabla general)
Tabla 4-C - Planes de muestreo mltiple en inspeccin simplificada (tabla general) (fin)
Letra
Tamao
Tamao de la
cdigo
Tama- Muestra de la muestra 0,010 0,015 0,025 0,040 0,065 0,10 0,15 0,25 0,40 0,65 1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100 150 250 400 650 1 000
muestra acumuo de
muestra
Primera
20
20
# 2 # 2 # 3 # 3 0 4 0 4 0 5
Segunda
20
40
0 2 0 3 0 3 1 4 1 6 2 7 3 8
L
Tercera
20
60
0 2 0 3 1 4 2 5 2 7 4 9 6 10
*
Cuarta
20
80
0 2 1 3 2 5 3 5 4 8 6 11 9 12
Quinta
20
100
1 2 3 4 4 5 5 6 7 8 10 11 12 13
Primera
32
32
# 2 # 2 # 3 # 3 0 4 0 4 0 5
Segunda
32
64
0 2 0 3 0 3 1 4 1 6 2 7 3 8
M
Tercera
32
96
0 2 0 3 1 4 2 5 2 7 4 9 6 10
*
Cuarta
32
128
0 2 1 3 2 5 3 5 4 8 6 11 9 12
1 2 3 4 4 5 5 6 7 8 10 11 12 13
Quinta
32
160
Primera
50
50
# 2 # 2 # 3 # 3 0 4 0 4 0 5
Segunda
50
100
0 2 0 3 1 4 1 4 1 6 2 7 3 8
N
Tercera
50
150
0 2 0 3 2 5 2 5 2 7 4 9 6 10
*
Cuarta
50
200
0 2 1 3 3 5 3 5 4 8 6 11 9 12
1 2 3 4 5 6 5 6 7 8 10 11 12 13
Quinta
50
250
Primera
80
80
# 2 # 2 # 3 0 4 0 4 0 4 0 5
Segunda
80
160
0 2 0 3 0 3 1 6 1 6 2 7 3 8
P
Tercera
80
240
0 2 0 3 1 4 2 7 2 7 4 9 6 10
*
Cuarta
80
320
0 2 1 3 2 5 4 8 4 8 6 11 9 12
1 2 3 4 4 5 7 8 7 8 10 11 12 13
Quinta
80
400
Primera
125
125
# 2 # 2 # 3 # 3 0 4 0 4 0 5
Segunda 125
250
0 2 0 3 0 3 1 4 2 7 2 7 3 8
Q
Tercera
125
375
0 2 0 3 1 4 2 5 4 9 4 9 6 10
*
Cuarta
125
500
0 2 1 3 2 5 3 5 6 11 6 11 9 12
1 2 3 4 4 5 5 6 10 11 10 11 12 13
Quinta
125
625
Primera
200
200
# 2 # 2 # 3 # 3 # 4 0 4 0 5
Segunda 200
400
0 2 0 3 0 3 1 4 1 6 2 7 3 8
R
Tercera
200
600
0 2 0 3 1 4 2 5 2 7 4 9 6 10
Cuarta
200
800
0 2 1 3 2 5 3 5 4 8 6 11 9 12
Quinta
200
1 000
1 2 3 4 4 5 5 6 7 8 10 11 12 13
Ac = Nmero de aceptacin.
Re = Nmero de rechazo.
*
++
#
35
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
36
Tabla 5-A - Riesgo del productor en inspeccin normal

(porcentaje de lotes no aceptados en planes de muestreo simple)
Letra
cdigo de
tamao
de muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
0,010 0,015 0,025 0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
12,2
12,2
12,0 7,63*
12,0 7,64*
11,8 7,15* 10,8*
11,8 7,15* 10,8*
11,3 7,15* 10,5* 9,63
11,3 7,15* 10,5* 9,58
11,8 6,41* 10,1* 9,02 4,92
11,8 6,41* 10,1* 8,99 4,87
12,2 7,15* 9,45* 9,02 4,74 4,31
12,2 7,15* 9,45* 9,00 4,71 4,25
11,8 7,44* 10,2* 8,20 4,56 3,92 1,83
11,8 7,44* 10,2* 8,19 4,54 3,89 1,80
11,8 7,15* 10,8* 9,02 4,05 3,83 1,66 1,83
11,8 7,15* 10,8* 9,01 4,04 3,81 1,63 1,79
11,3 7,15* 10,5* 9,63 4,74 3,38 1,66 1,68 1,77
11,3 7,15* 10,5* 9,63 4,73 3,37 1,64 1,66 1,74
11,8 6,41* 10,1* 9,02
4,92 3,83 1,25 1,48 1,37 1,95
11,8 6,41* 10,1* 9,02
4,92 3,82 1,24 1,47 1,35 1,91
7,15* 9,45* 9,02 4,74 4,31 1,66 1,19 1,37 1,73 1,41
7,15* 9,45* 9,02 4,74 4,30 1,65 1,18 1,36 1,71 1,38
1,0
12,2
12,2
7,15*
7,16*
10,5*
10,5*
9,02
8,94
4,74
4,66
3,83
3,74
1,66
1,60
1,55
1,50
1,37
1,32
1,73
1,68
0,940
0,907
1,5
11,3
11,4
6,85*
6,86*
9,45*
9,45*
8,42
8,30
4,05
3,92
3,38
3,26
1,25
1,18
1,19
1,13
0,936
0,882
1,03
0,971
0,607
0,570
2,5
11,8
11,9
7,15*
7,16*
10,8*
10,8*
9,02
8,82
4,74
4,52
3,83
3,62
1,66
1,52
1,48
1,36
1,37
1,26
1,52
1,41
0,940
0,857
4,0
11,3
11,5
7,15*
7,17*
10,5*
10,5*
9,63
9,32*
4,74
4,39
4,11
3,77
1,66
1,44
1,68
1,47
1,37
1,19
1,73
1,52
1,02
0,883
6,5
10
12,2
12,6
6,85*
6,87*
10,8*
10,8*
9,63
9,10
5,41
4,80
4,31
3,74
1,96
1,58
1,83
1,47
1,77
1,43
1,95
1,60
1,41
1,13
7,15*
7,19*
9,45*
9,39*
9,02
8,15
4,74
3,81
4,31
3,42
1,66
1,13
1,68
1,17
1,37
0,937
1,73
1,23
0,940
0,626
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
9,45*
9,02
4,74
4,31
1,66
1,19
1,37
1,73
1,41
1,35
7,54
4,05
3,38
1,48
1,19 0,667 1,03 0,607 0,979 0,627
4,05
3.83
1,66
1,83
1,37
3,38
1,68
1,68
1,77
1,73 0,607 1,35
1,48
1,83
1,77
2,62
1,41 0,979 2,17
1,19
1,37
1,73
1,41
1,04
1,73
1,20
1,03 0,940
0,607
NOTAS
1
El riesgo del fabricante corresponde a la probabilidad de no aceptacin de lotes de AQL especificado.
Las entradas superiores corresponden a inspeccin de no conformidades por 100 unidades basadas en la distribucin de Poisson.
Las entradas inferiores corresponden a inspeccin de porcentaje no conforme y estn basadas en la distribucin binomial.
El smbolo * indica un valor calculado en el caso de un plan de muestreo opcional con nmero de aceptacin fraccionario (vase la tabla 11 A).
1,03 0,940 1,35

1,73
2,17
Tabla 5-B - Riesgo del proveedor en inspeccin estricta

Letra
cdigo
tamao
de muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
3 150
0,010 0,015 0,025 0,040 0,065
18,1
18,1
18,1
18,1
17,1 14,6*
17,1 14,6*
13,7* 21,0*
13,7* 21,0*
18,7
18,7
18,1
18,1
15,1*
15,1*
21,0*
21,0*
19,1
19,1
18,5
18,5
15,5*
15,5*
22,2*
22,2*
19,6
19,6
14,3
14,3
0,10
18,1
18,1
14,8*
14,8*
21,0*
21,0*
19,1
19,1
13,2
13,1
14,3
14,3
0,15
17,1
17,1
13,7*
13,7*
19,3*
19,3*
17,3
17,3
12,1
12,0
12,1
12,1
8,39
8,38
0,25
18,1
18,1
14,6*
14,6*
21,0*
21,0*
18,7
18,7
13,2
13,1
14,3
14,3
9,70
9,68
6,81
6,78
0,40
18,1
18,2
15,1*
15,2*
21,0*
21,0*
19,1
19,1
13,4
13,3
14,3
14,3
10,5
10,5
6,81
6,77
6,38
6,34
0,65
18,8
18,8
15,5*
15,5*
22,2*
22,2*
19,6
19,5
14,3
14,2
15,2
15,1
11,1
11,1
8,19
8,13
7,00
6,94
6,98
6,92
1,0
18,1
18,2
15,1*
15,2*
21,0*
21,0*
19,1
19,1
13,2
13,1
14,3
14,2
9,98
9,88
6,81
6,71
6,38
6,28
5,19
5,10
1,5
17,7
17,8
13,7*
13,8*
19,7*
19,8*
17,3
17,3
12,1
11,9
12,1
12,0
8,39
8,24
5,16
5,03
4,27
4,14
3,74
3,63
2,5
18,1
18,3
15,5*
15,6*
21,0*
21,1*
19,1
19,0
13,2
12,9
14,3
14,1
9,70
9,44
6,81
6,56
5,80
5,56
5,19
4,96
4,0
18,1
18,5
15,1*
15,3*
22,2*
22,4*
19,1
19,0
13,8
13,5
14,3
13,9
10,5
10,1
6,81
6,41
6,38
5,99
5,52
5,15
6,5
17,7
18,3
15,5*
15.9*
22,2*
22,6*
20,7
20,5
14,3
13,7
15,8
15,2
11,1
10,4
8,19
7,51
7,00
6,34
6,98
6,32
10
15
25
18,1
13,7 21,0*
19,0
13,7*
17,9* 17,3
14,2*
21,0*
17,3 13,2
21,6*
19,1
12,1 14,3
18,7
14,3
13,4 11,1
13,4
14,3
8,39 6,61
13,3
10,5
5,58 6,38
9,44
6,81
4,27 5,19
5,79
6,38
3,74
5,38
5,19
4,28
NOTAS
1
El smbolo * indica un valor calculado en el caso de un plan de muestreo opcional con nmero de aceptacin fraccionario (vase la tabla 11 B).
40
65
100
150
250
400
650
1 000
19,1
14,3
14,3
8,39
6,81
6,38
6,98
5,25
12,1
13,4
8,39
4,03
4,27
3,74
4,09
2,21
14,3
11,1
6,81
4,27
5,19
5,25
6,16
10,5
8,19
8,38
3,74
5,25
5,12
8,19
8,79
6,98
4,09
6,16
6,36
6,98
6,22
37
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Letra
cdigo de
tamao
de muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
0,010 0,015 0,025 0,040 0,065
4,62
4,62
4,88 2,07*
4,88 2,07*
2,33* 2,94*
2,33* 2,94*
4,88
4,88
2,26*
2,26*
3,16*
3,16*
4,72*
4,72*
4,88
4,88
2,33*
2,33*
3,20*
3,20*
4,72*
4,72*
4,15
4,15
5,07
5,07
2,39*
2,39*
3,39*
3,39*
4,92*
4,92*
4,27
4,26
1,59
1,59
0,10
4,88
4,88
2,33*
2,33*
3,16*
3,16*
4,72*
4,72*
4,03
4,02
1,44
1,43
0,908
0,904
0,15
4,69
4,69
2,07*
2,07*
2,94*
2,93*
4,21*
4,21*
3,69
3,68
1,24
1,23
0,729
0,724
0,775
0,769
0,25
4,88
4,88
2,33*
2,32*
3,16*
3,16*
4,72*
4,71*
3,98
3,96
1,44
1,42
0,861
0,851
0,912
0,902
0,453
0,447
0,40
5,07
5,08
2,33*
2,32*
3,30*
3,29*
4,72*
4,71*
4,15
4,12
1,44
1,42
0,908
0,891
0,942
0,926
0,453
0,444
0,571
0,561
0,65
5,07
5,08
2,56*
2,56*
3,39*
3,38*
5,06*
5,04*
4,27
4,21
1,59
1,56
0,957
0,929
1,07
1,04
0,513
0,496
0,629
0,611
1,77
1,74
1,0
4,88
4,90
2,33*
2,32*
3,39*
3,37*
4,72*
4,69*
4,15
4,07
1,44
1,38
0,908
0,866
0,912
0,873
0,453
0,430
0,518
0,493
1,37
1,32
1,5
4,40
4,43
2,07*
2,06*
2,94*
2,91*
4,51*
4,47*
3,69
3,57
1,29
1,21
0,729
0,674
0,775
0,720
0,321
0,293
0,380
0,350
0,936
0,882
2,5
4,88
4,94
2,07*
2,05*
3,16*
3,12*
4,72*
4,65*
4,27
4,06
1,44
1,30
0,908
0,803
0,912
0,813
0,453
0,395
0,493
0,434
1,37
1,26
4,0
7,69
7,84
2,33*
2,30*
2,94*
2,87*
4,72*
4,61*
4,15
3,81
1,59
1,35
0,908
0,741
1,00
0,836
0,453
0,361
0,571
0,468
1,37
1,19
6,5
10
12,2
12,6
5,40*
5,48*
3,39*
3,29*
4,51*
4,33*
4,27
3,70
1,59
1,20
1,09
0,793
1,07
0,788
0,558
0,389
0,629
0,454
1,77
1,43
7,15*
7,19*
7,15*
7,19*
4,72*
4,42*
3,69
2,60
1.44
0,856
0,908
0,502
1,07
0,646
0,453
0,239
0,571
0,330
1,37
0,935
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
9,45*
9,02
4,74
4,31
1,66
1,19
1,37
1,73
1,41
1,35
9,45*
9,02
4,74
4,31
1,66
1,19
1,37
1,73
1,41
1,35
3,69
1,44 0,908 1,07 0,453 0,380 1,37
1,73
1,41
1,09 0,729 0,775 0,396 0.38 0.667 1,03 0,607

0,729 0,912 0,453 0.629 1,37
0,775 0,453 0,571 1,77
0,396 0,629 1,77
0,380 1,37
1,04
NOTAS
1
El smbolo * indica un valor calculado en el caso de un plan de muestreo opcional con nmero de aceptacin fraccionario (vase la tabla 11 C).
1,03 0,940
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
38
Tabla 5-C - Riesgo del proveedor en inspeccin simplificada

Tabla 6-A - Riesgo de calidad del consumidor en inspeccin normal

(porcentaje de tems no conformes en planes de muestreo simple para la inspeccin de porcentaje de tems no conformes)
Letra
cdigo de
tamao de
muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
Nivel de calidad aceptable (AQL), porcentaje de tems no conformes

0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
68,4
69,0*
53,6
54,1*
57,6*
36,9
37,3*
39,8*
58,4
25,0
25,2*
27,0*
40,6
53,8
16,2
16,4*
17,5*
26,8
36,0
44,4
10,9
11,0*
11,8*
18,1
24,5
30,4
41,5
6,94
7,01*
7,50*
11,6
15,8
19,7
27,1
34,0
4,50
4,54*
4,87*
7,56
10,3
12,9
17,8
22,4
29,1
2,84
2,86*
3,07*
4,78
6,52
8,16
11,3
14,3
18,6
24,2
1,83
1,84*
1,97*
3,08
4,20
5,27
7,29
9,24
12,1
15,7
21,9
13,8
1,14
1,16*
1,24*
1,93*
2,64
3,31
4,59
5,82
7,60
9,91
0,728
0,735*
0,788*
1,23
1,68
2,11
2,92
3,71
4,85
6,33
8,84
0,459
0,464*
0,497*
0,776
1,06
1,33
1,85
2,34
3,06
4,00
5,60
0,287
0,290*
0,311*
0,485
0,664
0,833
1,16
1,47
1,92
2,51
3,51
0,184
0,186*
0,199*
0,311
0,425
0,534
0,741
0,940
1,23
1,61
2,25
0,116*
0,124*
0,194
0,266
0,334
0,463
0,588
0,769
1,00
1,41
NOTAS
1
A la calidad de riesgo del consumidor, se espera que se acepte el 10% de los lotes.
Todos los valores se basan en la distribucin binominal.
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
39
Letra
cdigo de
tamao de
muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
3 150

0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
6,5
10
68,4
0,115
53,6
54,1*
36,9
37,3*
39,8*
25,0
25,2*
27,0*
40,6
16,2
16,4*
17,5*
26,8
36,0
10,9
11,0*
11,8*
18,1
24,5
30,4
6,94
7,01*
7,5O*
11,6
15,8
19,7
27,1
4,50
4,54*
4,87*
7,56
10,3
12,9
17,8
24,7
2,84
2,86*
3,07*
4,78
6,52
8,16
11,3
15,7
21,4
1,83
1,84*
1,97*
3,08
4,20
5,27
7,29
10,2
13,9
19,3
1,14
1,16*
1,24*
1,93
2,64
3,31
4,59
8,42
8,76
12,2
7,77
0,728
0,735*
0,788*
1,23
1,68
2,11
2,92
4,09
5,59
0,459
0,464*
0,497*
0,776
1,06
1,33
1,85
2,59
3,54
4,92
0,287
0,290*
0,311*
0,485
0,664
0,833
1,16
1,62
2,21
3,08
0,184
0,186*
0,199*
0,311
0,425
0,534
0,741
1,04
1,42
1,98
0,116*
0,124*
0,194
0,266
0,334
0,463
0,649
0,888
1,24
0,123
NOTAS
1
4,0
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
40
Tabla 6-B - Riesgo de calidad del consumidor en inspeccin estricta

Tabla 6-C - Riesgo de calidad del consumidor en inspeccin simplificada

Letra
cdigo de
tamao de
muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
so
80
125
200
315
500
800

0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
36,9
1,5
2,5
4,0
6,5
10
68,4
69,0*
68,4
68,4*
69,0*
68,4
68,4*
69,0*
73,2*
53,6
53,6*
54,1*
57,6*
80,4
36,9*
37,3*
39,8*
58,4
75,3
25,0
25,0*
25,2*
27,0*
40,6
53,8
65,5
16,2
16,20
16,4*
17,5*
26,8
36,0
44,4
52,3
10,9
10,9*
11,0*
11,8*
18,1
24,5
30,4
36,1
46,7
6,94
6,94*
7,01*
7,50*
11,6*
15,8
19,7
23,4
30,6
37,4
4,50
4,50*
4,54*
4,87*
7,56
10,3
12,9
15,4
20,1
24,7
29,1
2,84
2,84*
2,86*
3,07*
4,78
6,52
8,16
9,74
12,8
15,7
18,6
12,1
1,83
1,83*
1,84*
1,97*
3,08
4,20*
5,27
6,29
8,27
10,2
1,14
1,14*
1,16*
1,24*
1,93
2,64
3,31
3,96
5,21
6,42
7,60
0,728
0,728*
0,735*
0,788*
1,23
1,68
2,11
2,52
3,32
4,09
4,85
0,459
0,460*
0,464*
0,497*
0,776
1,06
1,33
1,59
2,10
2,59
3,06
0,287*
0,290*
0,311*
0,485
0,664
0,833
0,997
1,31
1,62
1,92
NOTAS
1
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
41
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
42
Tabla 7-A - Riesgo de calidad del consumidor en inspeccin normal

(no conformidades por 100 unidades en planes de muestreo simple para la inspeccin de no conformidades por 100 unidades)
Letra
cdigo
de tamao de
muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
1,15
Nivel de calidad aceptable (AQL), no conformidades por 100 unidades

0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
115
116*
125*
194
266
334
464
589
770
1006
1409
1916
77,5* 83,0*
130
177
223
309
392
514
671
939
1277
1793
77,8
106
134
185
235
308
403
564
766
1076
48,6
66,5
83,5
116
147
193
252
352
479
672
29,9
40,9
51,4
71,3
90,5
119
155
217
295
414
19,4
26,6
33,4
46,4
58,9
77,0
101
141
12,2
16,6
20,9
29,0
36,8
48,1
62,9
88,1
7,78
10,6
13,4
18,5
23,5
30,8
40,3
56,4
4,86
6,65
8,35
11,6
14,7
19,3
25,2
35,2
22,5
76,8
46,1
28,8
17,7
11,5
7,20
4,61
2,88
7,26* 7,78*
4,65* 4,98*
2,91* 3,11*
29,1* 31,1*
17,9* 19,2*
11,6* 12,5*
46,5* 49,8*
1,84
1,86* 1,99*
3,11
4,26
5,34
7,42
9,42
12,3
16,1
1,16*
1,25*
1,94
2,66
3,34
4,64
5,89
7,70
10,1
14,1
315
0,731 0,738* 0,791*
1,23
1,69
2,12
2,94
3,74
4,89
6,39
8,95
500
0,461 0,465* 0,498* 0,778
1,06
1,34
1,85
2,35
3,08
4,03
5,64
800
0,665 0,835
1,16
1,47
1,93
2,52
3,52
1 250
0,184 0,186* 0,199* 0,311
0,426
0,534 0,742 0,942
1,23
1,61
2,25
2 000
0,116* 0,125* 0,266
0,334
0,464 0,589 0,770
1,01
1,41
0,288 0,291* 0,311* 0,486
0,334
NOTAS
1
Tabla 7-B - Riesgo de calidad del consumidor en inspeccin estricta

Letra
cdigo de Tamao
de la
tamao
de mues- muestra
tra
A
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
3 150

0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
115
116*
125*
194
266
334
464
650
889
1238 1748
17,5* 83,0*
130
177
223
309
433
593
825
1165 1683
77,8
106
134
185
260
356
495
699
1010
48,6
66,8
83,5
116
162
222
309
437
631
29,9
40,9
51,4
71,3
100
137
190
269
388
19,4
26,6
33,4
46,4
65,0
88,9
124
12,2
16,6
20,9
29,0
40,6
55,6
77,4
7,78
10,6
13,4
18,5
26,0
35,6
49,5
4,86
6,65
8,35
11,6
16,2
22,2
30,9
19,8
76,8
46,1
28,8
17,7
11,5
7,20
4,61
2,88
4,65* 4,98*
2,91* 3,11*
1,84
1,86* 1,99*
3,11
4,26
5,34
7,42
10,4
14,2
1,16*
1,25*
1,94
2,66
3,34
4,64
6,50
8,89
12,4
0,731 0.738* 0,791* 1,23
1,69
2,12
2,94
4,13
5,64
7,86
1,34
1,85
2,60
3,56
4,95
0,665 0,835 1,16
1,62
2,22
3,09
0,426
0,534 0,742 1,04
1,42
1,98
0,334
0,464 0,650 0,889 1,24
1,15
0,461 0,465* 0,498* 0,778

0,288 0,291* 0,311* 0,486
0,184 0,186* 0,199* 0,311
0,115 0,116* 0,125* 0,194
7,26* 7,78*
29,1* 31,1*
17,9* 19,2*
11,6* 12,5*
46,5* 49,8*
0,266
1,06
1 000
0,123
43
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
NOTAS
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
44
Tabla 7-C - Riesgo de calidad del consumidor en inspeccin simplificada

Letra
cdigo de Tamao
de la
tamao
de mues- muestra
tra

0,010
0,015
0,025
0,040
13
20
32
50
80
125
200
315
500
0,461
800
0,288* 0,291* 0,311* 0,486
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
115
116*
125*
194*
266
334
464
589
770
1006 1409 1916
115
115*
116*
125*
194
266
334
464
589
770
1006 1409 1916
115*
116*
125*
194
266
334
400
527
650
770
1006 1409
76,8* 77,5* 83,0*
130
177
223
266
351
433
514
671
939
77,8
106
134
160
211
260
308
403
564
48,6
66,5
83,5
99,9
132
162
193
29,9
40,9
51,4
61,5
81,0
100
119
19,4
26,6
33,4
40,0
52,7
65,0
77,0
12,2
16,6
20,9
25,0
32,9
40,6
48,1
7,78
10,6
13,4
16,0
21,1
26,0
30,8
19,3
115
76,8
46,1
28,8
17,7
11,5
7,20
4,61
17,7* 17,9* 19,2*
7,20* 7,26* 7,78*
4,61* 4,65* 4,98*
46,1* 46,5* 49,8*
28,8* 29,1* 31,1*
11,5* 11,6* 12,5*
4,0
2,88
2,88* 2,91* 3,11*
4,86
6,65
8,35
9,99
13,2
16,2
1,84
1,8*
1,86* 1,99*
3,11
4,26
5,34
6,39
8,43
10,4
12,3
1,15*
1,16*
1,25*
1,94
2,66
3,34
4,00
5,27
6,50
7,70
0,731 0,731* 0,738* 0,791* 1,23
1,69
2,12
2,54
3,34
4,13
4,89
0,461 0,465* 0,498* 0,778
1,34
1,60
2,11
2,60
3,08
0,665 0,835 0,999 1,32
1,62
1,93
1,15
1,06
NOTAS
1
650
1 000
Tabla 8-A - Lmite de la calidad media de salida en inspeccin normal (planes de muestreo simple)
Letra
cdigo de Tamao
de la
tamao
de mues- muestra
tra
2
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
25
40
65
100
150
250
400
650
1000
42,0
68,6
97,1
158
224
326
470
733
1085
28,0
45,7
64,7
106
149
218
313
489
723
1102
27,4
38,8
63,4
89,4
131
188
293
434
661
24,3
39,6
55,9
81,6
117
183
271
413
24,4
34,4
50,2
72,3
113
167
254
22,4
32,6
47,0
73,3
20,4
29,4
45,8
18,8
29,3
18,4
14,8
.
12,3
10,5
7,36
6,70
4,60
4,33
2,83
2,73
1,84
1,79
1,15
1,13
0,736
0,728
0,460
0,457
0,267
0,266
0,168 0,274
0,168 0,274
0,420
0,419
0,435
0,435
0,388
0,388
0,672
0,670
0,686
0,685
0,617
0,617
0,634
0,634
1,05
1,05
1,10
1,10
0,971
0,971
1,01
1,01
0,894
0,895
0,171
0,171
0,155
0,155
0,158
0,158
0,396
0,396
0,358
0,358
0,326
0,327
0,559
0,559
0,522
0,523
0,470
0,470
0,816
0,817
0,752
0,753
0,733
0,734
0,294
0,293
0,184
0,183
0,117
0,117
0,0736
0,0735
0,0460
0,0460
0,0294
0,0294
15
0,0672
0,0672
0,0420 0,0686
0,0420 0,0686
0,105
0,105
0,110
0,110
0,0971
0,0971
0,243
0,243
0,253
0,254
0,224
0,224
1,68
1,67
1,71
1,71
1,55
1,55
1,58
1,59
1,42
1,42
1,31
1,31
1,17
1,18
1,17
1,17
2,62
2,60
2,74
2,74
2,43
2,43
2,53
2,54
2,24
2,24
2,07
2,08
1,88
1,89
4,20
4,14
4,28
4,27
3,88
3,89
3,96
3,98
3,58
3,60
3,26
3,28
2,98
3,00
2,93
2,94
6,46
6,32
6,86
6,82
6,07
6,08
6,34
6,38
5,59
5,63
5,22
5,26
4,70
4,73
4,65
4,69
10,5
10,1
10,5
10,5
9,71
9,75
9,90
10,0
8,94
9,06
8,16
8,27
7,52
7,61
7,33
7,41
1,83
1,84
NOTA
Las entradas inferiores corresponden a inspeccin de porcentaje no conforme y estn basadas en la distribucin normal.
16,8
16,0
17,1
17,0
14,9
15,1
15,8
16,2
14,0
14,3
13,1
13,3
11,7
12,0
11,7
11,9
18,3
......
45
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Nivel de calidad aceptable (AQL), porcentaje de tems no conformes y no conformidades por 100 unidades (inspeccin normal)
Letra
cdigo de Tamao
de la
tamao
de mues- muestra
tra
A
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
3 150
Nivel de calidad aceptable (AQL), porcentaje de tems no conformes y no conformidades por 100 unidades (inspeccin estricta)
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
42,0
68,6
97,1
158
257
397
619
966
28,0
45,7
64,7
106
172
265
412
644
1 020
16,8
27,4
38,8
63,4
103
159
247
387
612
17,1
24,3
39,6
64,3
99,3
155
242
382
14,9
24,4
39,6
61,1
95,2
149
235
15,8
25,7
39,7
61,9
16,1
24,8
38,7
15,9
24,7
18,4
14,8
12,3
10,5
7,36
6,70
4,60
4,33
2,83
2,73
1,84
1,79
1,15
1,13
0,736
0,728
0,460
0,457
0,294
0,293
0,184
0,183
0,117
0,117
0,0736
0,0735
0,0460
0,0460
0,0294
0,0294
0,0672
0,0672
0,0420 0,0686
0,0420 0,0686
0,0184
0,0184
0,105
0,105
0,110
0,110
0,0971
0,0971
0,168
0,168
0,171
0,171
0,155
0,155
0,158
0,158
0,267
0,266
0,274
0,274
0,243
0,243
0,253
0,254
0,257
0,257
0,420
0,419
0,435
0,435
0,388
0,388
0,396
0,396
0,412
0,412
0,397
0,398
0,672
0,670
0,686
0,685
0,617
0,617
0,634
0,634
0,643
0,644
0,636
0,636
0,619
0,619
1,05
1,05
1,10
1,10
0,971
0,971
1,01
1,01
1,03
1,03
0,993
0,995
0,990
0,991
1,68
1,67
1,71
1,71
1,55
1,55
1,58
1,59
1,63
1,64
1,59
1,59
1,55
1,55
2,62
2,60
2,74
2,74
2,43
2,43
2,53
2,54
2,57
2,58
2,52
2,53
2,47
2,48
4,20
4,14
4,28
4,27
3,88
3,89
3,96
3,98
4,12
4,14
3,97
4,00
3,93
3,95
6,46
6,32
6,86
6,82
6,07
6,08
6,34
6,38
6,43
6,49
6,36
6,42
6,19
6,25
0,0267
0,0267
NOTA
Las entradas inferiores corresponden a inspeccin de porcentaje no conforme y estn basadas en la distribucin normal.
10,5
10,1
10,5
10,5
9,71
9,75
9,90
10,0
10,3
10,5
9,93
10,1
9,90
10,1
15,5
..
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
46
Tabla 8-B - Lmite de la calidad media de salida en inspeccin estricta (planes de muestreo simple)
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 9 - Curvas del tamao de la muestra promedio para muestreos simples, dobles y
mltiples (inspeccin normal, estricta y simplificada)
n = tamao de muestreo simple equivalente.

Ac = Nmero de aceptacin de la muestra simple.
= Punto de referencia que muestra la representacin del AQL en inspeccin normal.
(Contina)
47
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 9 (fin)
Curvas del tamao de la muestra promedio para muestreos simples, dobles y mltiples
(inspeccin normal, estricta y simplificada)
n = tamao de muestreo simple equivalente.

Ac = Nmero de aceptacin de la muestra simple.
= Punto de referencia que muestra la representacin del AQL en inspeccin normal.
48
Tabla 10-A - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra A (planes individuales)
Grfico A Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
(las curvas para muestreo doble y mltiple se ajustan a stas todo lo posible)
Calidad del lote presentado (p, en porcentaje no conforme para AQL 10, en no conformidades por 100 tems para AQL > 10)
NOTA. Los valores en las curva son niveles de calidad aceptables (AQL) para inspeccin normal.
Tabla 10-A-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Pa
1 000
859
995
1 073
1 214
1 383
1 568
1 748
1 862
2 088
1 000
977
1 122
1 206
1 354
1 533
1 728
1 916
2 035
2 270
NOTA. Se utiliza la distribucin binomial para las entradas correspondientes a la inspeccin de tems no conformes, se utiliza la distribucin de Poisson para la
inspeccin del nmero de conformidades.
49
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
Nivel de calidad aceptable, inspeccin normal (en porcentaje de tems no conformes y no conformidades por 100 unidades)
6,5
6,5
25
40
65
100
150
250
400
650
p (en porcentaje de tems no conformes)
p (en no conformidades por 100 unidades)
0,501
0,503
7,43
21,8
41,2
89,3
145
175
239
305
374
517
629
2,53
2,56
17,8
40,9
68,3
131
199
235
308
384
462
622
745
5,13
5,27
26,6
55,1
87,2
158
233
272
351
432
515
684
812
13,4
14,4
48,1
86,4
127
211
298
342
431
521
612
795
934
29,3
34,7
83,9
134
184
284
383
433
533
633
733
933
1 063
50,0
69,3
135
196
255
371
484
540
651
761
870
1 087
1 248
68,4
115
194
266
334
464
589
650
770
889
1 006
1 238
1 409
77,6
150
237
315
388
526
657
722
848
972
1 094
1 335
1 512
90,0
230
332
420
502
655
800
870
1 007
1 141
1 272
1 529
1 718
40
65
100
150
250
400
650
Nivel de calidad aceptable, inspeccin estricta (en porcentaje de tems no conformes y no conformidades por 100 unidades)
50
Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
de
muestra
acumulativo
< 6,5
6,5
Ac Re
Ac Re
Simple
0 1
Ac Re
Utilizar
letra
cdigo
Doble
< 10
15
25
40
65
100
150
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
27 28
30 31
(*)
(*)
(*)
(*)
(*)
(*)
(*)
(*)
(*)
(*)
(*)
(*)
(*)
40
65
100
150
Utilizar
letra
cdigo
15
400
600
25
250
400
600
Ac
Re
*
(*)
=
=
=
=
=
1 000
*
10
250
Utilizar
letra
cdigo
*
D
Mltiple
10
utilizar la letra cdigo ms prxima sucesiva para la cual los valores de aceptacin y rechazo estn disponibles
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
utilizar el plan de muestreo simple situado en la parte superior (o, como alternativa, utilizar la letra D)
utilizar el plan de muestreo simple (o, como alternativa utilizar la letra B)
1 000
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 10-A-2 - Planes de muestreo para la letra cdigo de tamao de muestra A
Tabla 10-B - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra B (planes individuales)
Grfico B Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Tabla 10-B-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Pa
0,334
0,335
4,95
14,5
27,4
59,5
96,9
117
159
203
249
1,70
1,71
11,8
27,3
45,5
87,1
133
157
206
256
308
3,45
3,51
17,7
36,7
58,2
105
144
181
234
288
343
9,14
9,59
32,0
57,6
84,5
141
199
228
287
347
408
20,6
23,1
55,9
89,1
122
189
256
28/9
356
422
489
37,0
46.2
89,8
131
170
247
323
360
434
507
580
53,6
76,8
130
177
223
309
392
433
514
593
671
63,2
99,9
158
210
258
350
438
481
565
648
730
78,5
154
221
280
335
437
533
580
671
761
848
6,5
6,5
25
40
65
100
150
250
345
415
456
530
622
724
825
890
1 019
400
419
496
541
623
722
832
939
1 008
1 145
572
663
716
809
922
1 045
1 165
1 241
1 392
650
600
651
748
804
903
1 022
1 152
1 277
1 356
1 513
1 000
947
1 065
1 131
1 249
1 389
1 539
1 683
1 773
1 951
1 000
1 029
1 152
1 222
1 344
1 489
1 644
1 793
1 886
2 069
NOTA. Se utiliza la distribucin binomial para las entradas correspondientes a la inspeccin de tems no conformes; se utiliza la distribucin de Poisson
para la inspeccin de nmero de no conformidades.
51
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
4,0
4,0
15
25
40
65
100
150
250
400
Tipo de plan
de muestreo
Tamao de
muestra
acumulativo
< 4,0
4,0
6,5
10
158
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
Simple
Doble
Utilizar Utilizar Utilizar

letra
letra
letra
cdigo cdigo cdigo
4
A
Mltiple
6,5
6,5
10
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
++
++
++
++
++
25
40
65
100
10 11 12 13 14 15 18 19 21 22 27 28 30 31 41 42 44 45
5 9
6 10
7 11
9 14
11 16 15 20 17 22 23 29
10 11 12 13 15 16 18 19 23 24 26 27 34 35 37 38 52 53
15
++
150
++
++
++
250
++
400
++
++
650
Ac
Re
*
++
=
=
=
=
=
utilizar la letra cdigo ms prxima sucesiva para la cual los valores de aceptacin y rechazo estn disponibles.
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
utilizar el plan de muestreo simple situado en la parte superior (o, como alternativa, utilizar la letra E)
utilizar el plan de muestreo doble situado en la parte superior (o, como alternativa, la letra cdigo D)
++
++
1 000
++
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
52
Tabla 10-B-2 - Planes de muestreo para la letra cdigo de tamao de muestra B
Tabla 10-C - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra C (planes individuales)
Grfico C Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Tabla 10-C-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Pa
2,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
600

0.201
2,97
8,72
16,5
35,7
58,1
70,1
95,4
122
150
207
251
343
391
1,03
7,11
16,4
27,3
52,3
79,6
93,9
123
154
185
249
298
398
449
2,11
10,6
22,0
34,9
63,0
93,1
109
140
173
206
273
325
429
482
5,75
19,2
34,5
50,7
84,4
119
137
172
208
245
318
374
485
542
13,9
33,6
53,5
73,4
113
153
173
213
253
293
373
433
553
613
27,7
53,9
78,4
102
148/
194
216
260
304
348
435
499
627
691
46,1
77,8
106
134
185
235
260
308
356
403
495
564
699
766
59,9
94,9
126
155
210
263
289
339
389
438
534
605
745
814
92,1
133
168
201
262
320
348
403
456
509
612
687
835
908
4,0
15
25
40
65
100
150
250
400
568
639
679
479
833
923
1 010
1 064
1 171
650
618
691
733
806
893
986
1 076
1 131
1 241
NOTA. Se utiliza la distribucin binomial para las entradas correspondientes a la inspeccin de tems no conformes, se utiliza la distribucin de Poisson para
la inspeccin del nmero de conformidades.
53
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
2,5
10
p (en porcentaje de
tems no conformes)
0,201
3,27
1,02
7,64
2,09
11,2
5,59
19,4
12,9
31,4
24,2
45,4
36,9
58,4
45,1
65,7
60,2
77,8
4,0
Tipo de
plan de
muestreo
Tamao de
muestra
2,5
acumulati- < 2,5
vo
Ac Re Ac Re
Simple
4,0
Ac Re
6,5
Ac Re
Ac Re
0 1
10
15
25
40
65
100
150
250
400
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9
10 11
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
5 9
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
650
1 000
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
12 13 14 15 18 19 21 22 27 28
30 31
41 42
44 45
6 10
11 16 15 20
17 22
23 29
25 31
15 16 18 19 23 24 26 27 34 35
37 38
52 53
56 57
*
Doble
Utilizar
letra cdigo
Utilizar
letra cdigo
Utilizar
letra cdigo
6
B
Mltiple
< 4,0
4,0
6,5
10 11 12 13
7 11
9 14
10
++
++
++
++
15
25
40
65
++
++
100
++
++
++
150
++
250
++
++
++
400
Ac
Re
*
++
=
=
=
=
=
Utilizar
letra cdigo
utilizar la letra cdigo ms prxima sucesiva para la cual los valores de aceptacin y rechazo estn disponibles.
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
utilizar el plan de muestreo simple situado en la parte superior (o, como alternativa, utilizar la letra F).
utilizar el plan de muestreo doble situado en la parte superior (o, como alternativa, la letra cdigo D).
++
650
++
1 000
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
54
Tabla 10-C-2 - Planes de muestreo para letra cdigo de tamao de muestra C
Tabla 10-D - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra D (planos individuales)
Grfico D Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Tabla 10-D-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Pa
1,5
6,5
10,15
25
40
65
100
150
250
400

0,126
1,86
5,45
22,3
36,3
43,8
59,6
76,2
93,5
129
157
215
0,641
4,44
10,2
32,7
49,8
58,7
77,1
96,1
116
156
186
249
1,32
6,65
13,8
39,4
58,2
67,9
87,8
108
129
171
203
268
3,60
12,0
21,6
52,7
74,5
85,5
108
130
153
199
234
303
8,66
21,0
33,4
70,9
95,9
108
133
158
183
233
271
346
17,3
33,7
49,0
92,8
121
135
163
190
217
272
312
392
28,8
48,6
66,5
116
147
162
193
222
252
309
352
437
37,4
59,3
78,7
131
164
180
212
243
274
334
378
465
57,6
83,0
105
164
200
218
252
265
315
382
429
522
2,5
10
15
40
65
100
150
250
244
281
301
339
363
432
479
509
568
355
399
424
468
521
577
631
665
732
400
386
432
458
504
558
617
672
707
776
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
1,5
6,5
10
p (en porcentaje de tems
no conformes)
0,126
1,97
6,08
0,639
4,64
11,1
1,31
6,86
14,7
3,53
12,1
22,1
8,30
20,1
32,1
15,9
30,3
43,3
25,0
40,6
53,8
31,2
47,1
60,0
43,6
59,0
70,7
2,5
10
55
Tamao
Tipo de
de
plan de
muestra < 1,5
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
> 400
muesacumulatreo
tivo
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
Simple
0 1
Doble
7 11
3 4
5 6
7 8
8 9
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
# 2
# 2
# 3
# 4
0 4
0 4
0 5
0 6
1 7
1 8
2 9
3 10
0 2
0 3
0 3
1 5
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10
6 12
7 14
10 17 11 19 16 25 17 27
0 2
0 3
1 4
2 6
3 8
4 9
6 10
7 12
8 13
11 17 13 19 17 24 19 27 26 35 29 38
0 2
1 3
2 5
4 7
5 9
6 11
9 12
11 15
12 17 16 22 20 25 25 31 28 34 38 45 40 48
10
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11 12 13 15 16
18 19 23 24 26 27 34 35 37 38 52 53 56 57
10
15
25
40
10
2
4
Mltiple
2 3
Utilizar Utilizar Utilizar

letra
letra
letra
cdigo cdigo cdigo
< 2,5
2,5
4,0
6,5
10 11 12 13
14 15 18 19 21 22 27 28 30 31 41 42 44 45
1 2
5 9
6 10
10 11 12 13 15 16
65
9 14
11 16 15 20 17 22 23 29 25 31
18 19 23 24 26 27 34 35 37 38 52 53 56 57
100
150
4 12
250
= utilizar la letra cdigo ms prxima sucesiva para la cual los valores de aceptacin y rechazo estn disponibles.
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
utilizar la letra cdigo precedente para la cual, los valores de aceptacin y rechazo estn disponibles
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
utilizar el plan de muestreo simple situado en la parte superior (o, como alternativa, utilizar la letra G)
la aceptacin no est permitida para este tamao de muestra
6 15
400
6 16
> 400
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
56
Tabla 10-D-2 - Planes de muestreo para letra cdigo de tamao de muestra D
Tabla 10-E - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra E (planes individuales)
Grfico E Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Tabla 10-E-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Pa
150
150
173
185
208
236
266
295
313
349
250
219
246
261
288
321
355
388
409
450
250
238
266
282
310
344
379
414
435
477
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
Nivel de calidad aceptable. Inspeccin normal (en porcentaje de tems no conformes y no conformidades por 100 unidades)
1,0
4,0
6,5
10
1,0
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
p (en porcentaje tems no
conformes)
0,0773 1,18
3,58
6,95 0,0773 1,14
3,35
6,33
13,7
22,4
27,0
36,7
46,9
57,5
79,6
96,7
132
0,394
2,81
6,60
11,3
0,395
2,73
6,29
10,5
20,1
30,6
36,1
47,5
59,2
71,1
95,7
115
153
0,807
4,17
8,80
14,2
0,810
4,09
8,48
13,4
24,2
35,8
41,8
54,0
66,5
79,2
105
125
165
2,19
7,41
13,4
19,9
2,21
7,39
13,3
19,5
32,5
45,8
52,6
66,3
80,2
94,1
122
144
187
5,19
12,6
20,0
27,5
5,33
12,9
20.6
28,2
43,6
59,0
66,7
82,1
97,4
113
144
167
213
10,1
19,4
28,0
36,1
10,7
20,7
30,2
39,3
57,1
74,5
83,1
100
117
134
167
192
241
16,2
26,8
36,0
44,4
17,7
29,9
40,9
51,4
71,3
90,5
100
119
137
155
190
217
269
20,6
31,8
41,0
49,5
23,0
36,5
48,4
59,6
80,9
101
111
130
150
168
205
233
286
29,8
41,3
50,6
58,8
35,4
51,1
64,7
77,3
101
123
134
155
175
196
235
264
321
1,5
6,5
10
1,5
6.5
10
15
25
40
65
100
150
57
Tipo de
plan de
muestreo
Simple
Doble
Tamao
de muestra acumulativo
< 1,0
1,0
1,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
13
0 1
11 16 15 20 17 22
23 29 25 31
10 11 12 13 15 16 18 19 23 24 26 27 34 35 37 38
52 53 56 57
3 4
5 6
7 8
8 9
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
# 2
# 2
# 3
# 4
0 4
0 4
0 5
0 6
1 7
1 8
2 9
3 10
0 2
0 3
0 3
1 5
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10
6 12
7 14
10 17 11 19
16 25 17 27
0 2
0 3
1 4
2 6
3 8
4 9
6 10
11 17 13 19 17 24 19 27
26 35 29 38
12
0 2
1 3
2 5
4 7
5 9
6 11
9 12
11 15 12 17 16 22 20 25 25 31 28 34
38 45 40 48
15
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11 12 13 15 16 18 19 23 24 26 27 34 35 37 38
52 53 56 57
6,5
10
15
25
D
3
< 1,5
2,5
10 11 12 13 14 15 18 19 21 22 27 28 30 31
5 9
6 10
7 11
9 14
1,5
Ac Re
2 3
UtiliUtiliUtilizar
zar
zar
letra
letra
letra
cdigo cdigo cdigo
> 250
41 42 44 45
1 2
16
Mltiple
2,5
4,0
40
12 8
13
65
100
4 12
150
= utilizar la letra cdigo ms prxima sucesiva para la cual los valores de aceptacin y rechazo estn disponibles
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
utilizar el plan de muestreo simple situado en la parte superior (o, como alternativa, utilizar la letra cdigo H)
la aceptacin no est permitida para este tamao de muestra.
6 15
250
6 16
> 250
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
58
Tabla 10-E-2 - Planes de muestreo para letra cdigo de tamao de muestra E
Tabla 10-F - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra F (planes individuales)
Grfico F Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
(las curvas para muestreo doble y mltiple se ajustan a stas todo lo posible
Tabla 10-F-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Pa
40
37,4
46,2
51,5
61,2
73,3
87,0
101
109
127
65
51,7
62,2
68,4
79,5
93,3
109
124
133
153
65
62,9
74,5
81,2
93,4
108
125
141
151
172
NOTA. Se utiliza la distribucin binomial para las entradas correspondientes a la inspeccin de tems no conformes, se utiliza la distribucin de Poisson para la inspeccin del nmero de conformidades.
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
0,65
2,5
4,0
6,5
10
0,65
2,5
4,0
6,5
10
15
25
0,0502
0,759
2,27
4,36
9,75
0,0503
0,743
2,18
4,12
8,93
14,5
17,5
23,9
30,5
0,256
1,81
4,22
7,14
14,0
0,256
1,78
4,09
6,83
13,1
19,9
23,5
30,8
38,4
0,525
2,69
5,64
9,02
16,6
0,527
2,66
5,51
8,72
15,8
23,3
27,2
35,1
43,2
1,43
4,81
8,70
12,8
21,6
1,44
4,81
8,64
12,7
21,1
29,8
34,2
43,1
52,1
3,41
8,25
13,1
18,1
27,9
3,47
8,39
13,4
18,4
28,4
38,3
43,3
53,3
63,3
6,70
12,9
18,7
24,2
34,8
6,93
13,5
19,6
25,5
37,1
48,4
54,0
65,1
76,1
10,9
18,1
24,5
30,4
41,5
11,5
19,4
26,6
33,4
46,4
58,9
65,0
77,0
88,9
13,9
21,6
28,3
34,4
45,6
15,0
23,7
31,5
38,8
52,6
65,7
72,2
84,8
97,2
20,6
28,9
35,8
42,1
53,2
23,0
33,2
42,0
50,2
65,5
80,0
87,0
101
114
1,0
4,0
6,5
10,
1,0
4,0
6,5
10
15
25
40
59
60
Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
< 0,65
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9
10 11
12 13
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
5 9
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
# 2
# 2
# 3
# 3
0 4
10
0 2
0 3
0 3
0 3
15
0 2
0 3
1 4
20
0 2
1 3
25
1 2
4,0
Simple
20
0 1
Doble
13
26
5
Mltiple
< 1,0
1,0
Ac Re
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
1,5
2,5
25
65
> 65
Ac Re
Ac Re
Ac Re
14 15
18 19
21 22
6 10
7 11
9 14
11 16
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
0 4
0 5
0 6
1 7
1 8
2 9
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10
6 12
7 14
1 4
3 8
4 9
6 10
7 12
8 13
11 17
13 19
2 5
2 5
5 9
6 11
9 12
11 15
12 17
16 22
20 25
3 4
4 5
4 5
9 10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
6,5
10
15
25
40
40
65
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
> 65
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 10-F-2 - Planes de muestreo para letra cdigo de tamao de muestra F
Tabla 10-G - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra G (planes individuales)
Grfico G Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Tabla 10-G-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
0,40
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
0,0314
0,160
0,329
0,895
2,14
4,24
6,94
8,94
13,4
0,65
1,5
2,5
4,0
6,5
10
0,40
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
0,471
1,12
1,67
3,01
5,19
8,19
11,6
14,0
19,0
2,5
1,40
2,60
3,49
5,42
8,27
11,9
15,8
18,4
23,8
4,0
2,67
5,88
9,73
0,0314
0,464
1,36
2,57
5,58
9,08
11,0
14,9
19,1
4,38
8,50
13,1
0,160
1,11
2,56
4,27
8,17
12,4
14,7
19,3
24,0
5,56
10,2
15,1
0,329
1,66
3,44
5,45
9,85
14,6
17,0
21,9
27,0
7,98
13,4
19,0
0,899
3,00
5,40
7,92
13,2
18,6
21,4
26,9
32.6
11,4
17,5
23,7
2,17
5,24
8,36
11,5
17,7
24,0
27,1
33,3
39,6
15,4
22,3
29,0
4,33
8,41
12,3
16,0
23,2
30,3
33,8
40,7
47,6
19,7
27,1
34,0
7,20
12,2
16,6
20,9
29,0
36,8
40,6
48,1
55,6
22,5
30,1
37,2
9,36
14,8
19,7
24,2
32,9
41,1
45,1
53,0
60,8
28,1
36,0
43,2
14,4
20,7
26,3
31,4
41,0
50,0
54,4
63,0
71,3
6,5
10
0,65
2,5
4,0
6,5
10
15
25
25
23,4
28,9
32,2
38,2
45,8
54,4
62,9
68,4
79,5
40
32,3
38,9
42,7
49,7
58,3
67,9
77,4
83,4
95,6
40
39,3
46,5
50,8
58,4
67,7
78,0
88,1
94,5
107
NOTA. Se utiliza la distribucin binomial para las entradas correspondientes a la inspeccin de tems no conformes, se utilizar la distribucin de Poisson para la inspeccin del nmero de conformidades.
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Pa
61
62
Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
de
muestra
acumulativo
< 0,40
0,40
0,65
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Simple
32
0 1
Doble
20
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9
10 11
12 13
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
5 9
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
# 2
# 2
# 3
# 4
0 4
16
0 2
0 3
0 3
1 5
24
0 2
0 3
1 4
32
0 2
1 3
40
1 2
2,5
40
Mltiple
< 0,65
Ac Re
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
0,65
1,0
1,5
15
40
> 40
Ac Re
Ac Re
Ac Re
14 15
18 19
21 22
6 10
7 11
9 14
11 16
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
0 4
0 5
0 6
1 7
1 8
2 9
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10
6 12
7 14
2 6
3 8
4 9
6 10
7 12
8 13
11 17
13 19
2 5
4 7
5 9
6 11
9 12
11 15
12 17
16 22
20 25
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
4,0
6,5
10
15
25
25
40
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
> 40
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 10-G-2 - Planes de muestreo para letra cdigo de tamao de muestra G
Tabla 10-H - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra H (planes individuales)
Grfico H Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Tabla 10-H-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
1,5
2,5
4,0
6,5
10
0,25
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
0,25
1,0
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
0,0201
0,103
0,210
0,574
1,38
2,73
4,50
5,82
8,80
0,40
0,300
0,715
1,07
1,92
3,33
5,29
7,56
9,14
12,6
1,5
0,886
1,66
2,22
3,46
5,31
7,69
10,3
12,1
15,8
2,5
1,68
3,69
6,07
7,36
10,1
0,0201
0,297
0,871
1,65
3,57
5,81
7,01
9,54
12,2
2,78
5,36
8,22
9,72
12,9
0,103
0,711
1,64
2,73
5,23
7,96
9,39
12,3
15,4
3,53
6,43
9,54
11,2
14,5
0,211
1,06
2,20
3,49
6,30
9,31
10,9
14,0
17,3
5,10
8,51
12,0
13,8
17,5
0,575
1,92
3,45
5,07
8,44
11,9
13,7
17,2
20,8
7,29
11,3
15,2
17,2
21,2
1,39
3,36
5,35
7,34
11,3
15,3
17,3
21,3
25,3
10,0
14,5
18,8
21,0
25,2
2,77
5,39
7,84
10,2
14,8
19,4
21,6
26,0
30,4
12,9
17,8
22,4
24,7
29,1
4,61
7,78
10,6
13,4
18,5
23,5
26,0
30,8
35,6
14,8
19,9
14,7
27,0
31,6
5,99
9,49
12,6
15,5
21,0
26,3
28,9
33,9
38,9
18,7
24,2
29,2
31,6
36,3
9,21
13,3
16,8
20,1
26,2
32,0
34,8
40,3
45,6
4,0
6,5
10
0,40
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
15
15,0
18,5
20,6
24,5
29,3
34,8
40,3
43,8
50,9
25
20,7
24,9
27,3
31,8
37,3
43,5
49,5
53,4
61,2
25
25,1
29,8
32,5
37,4
43,3
49,9
56,4
60,5
68,7
63
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Pa
64
Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
de
muestra
acumulativo
< 0,25
0,25
0,40
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Simple
50
0 1
32
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9
10 11
12 13
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
5 9
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
# 2
# 2
# 3
# 4
0 4
26
0 2
0 3
0 3
1 5
39
0 2
0 3
1 4
52
0 2
1 3
65
1 2
1,5
Doble
64
13
Mltiple
< 0,40
0,40
Ac Re
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
0,65
1,0
10
25
> 25
Ac Re
Ac Re
Ac Re
14 15
18 19
21 22
6 10
7 11
9 14
11 16
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
0 4
0 5
0 6
1 7
1 8
2 9
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10
6 12
7 14
2 6
3 8
4 9
6 10
7 12
8 13
11 17
13 19
2 5
4 7
5 9
6 11
9 12
11 15
12 17
16 22
20 25
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
2,5
4,0
6,5
10
15
15
25
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
utilizar el plan de muestreo simple situado en la parte superior (o, como alternativa, utilizar la letra cdigo L)
> 25
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 10-H-2 - Planes de muestreo para letra cdigo de tamao de muestra H
Tabla 10-J - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra J (planes individuales)
Grfico J Curvas caracterstica de operacin de planes de muestreo simple
Tabla 10-J-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
0,15
0,65
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
0,0126
0,0641
0,132
0,359
0,863
1,72
2,84
3,68
5,59
0,25
0,187
0,446
0,667
1,20
2,09
3,33
4,78
5,79
8,01
1,0
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
0,15
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
0,550
1,03
1,39
2,16
3,33
4,84
6,52
7,66
10,1
1,5
1,04
2,28
3,73
4,51
6,17
7,93
9,76
0,0126 0,186 0,545
1,03
2,23
3,63
4,38
5,96
1,73
3,32
5,07
6,00
7,91
9,89
11,9
0,0641 0,444
1,02
1,71
3,27
4,98
5,87
7,71
2,20
3,99
5,91
6,90
8,95
11,0
13,2
0,132
0,665
1,38
2,16
3,94
5,82
6,79
8,78
3,18
5,30
7,50
8,61
10,9
13,2
15,5
0,360
1,20
2,16
3,17
5,27
7,45
8,55
10,8
4,57
7,06
9,55
10,8
13,3
15,8
18,3
0,866
2,10
3,34
4,59
7,09
9,59
10,8
13,3
6,30
9,14
11,9
13,3
16,0
18,6
21,3
1,73
3,37
4,90
6,39
9,28
12,1
13,5
16,3
8,16
11,3
14,3
15,7
18,6
21,4
24,2
2,88
4,86
6,65
8,35
11,6
14,7
16,2
19,3
9,41
12,7
15,8
17,3
20,3
23,2
26,0
3,74
5,93
7,87
9,69
13,1
16,4
18,0
21,2
12,0
15,6
18,9
20,5
23,6
26,6
29,6
5,76
8,30
10,5
12,6
16,4
20,0
21,8
2,2
2,5
4,0
6,5
10
0,25
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
7,62
9,61
10,8
13,0
15,8
19,0
22,2
24,3
28,5
10
10
9,35
11,6
12,9
15,3
18,3
21,7
25,2
27,4
31,8
15
12,9
15,6
17,1
19,9
23.,3
27,2
30,9
33,4
28,2
15
15,7
18,6
20,3
23,4
27,1
31,2
35,2
37,8
42,9
65
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Pa
Tipo de
plan de
muestreo
Simple
Tamao
< 0,15
0,15
0,25
Ac Re
Ac Re
Ac Re
80
50
Doble
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
0 1
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9
10 11
12 13
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
5 9
10
15
> 15
Ac Re
Ac Re
Ac Re
14 15
18 19
21 22
6 10
7 11
9 14
11 16
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
# 2
# 2
# 3
# 4
0 4
0 4
0 5
0 6
1 7
1 8
2 9
40
0 2
0 3
0 3
1 5
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10
6 12
7 14
60
0 2
0 3
1 4
2 6
3 8
4 9
6 10
7 12
8 13
11 17
13 19
80
0 2
1 3
2 5
4 7
5 9
6 11
9 12
11 15
12 17
16 22
20 25
100
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
1,0
1,5
2,5
4,0
100
20
Mltiple
Ac Re
6.5
< 0,25
0,25
0,40
0,65
6,5
10
15
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
utilizar el plan de muestreo simple situado en la parte superior (o, como alternativa, utilizar la letra cdigo J)
> 15
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
66
Tabla 10-J-2 - Planes de muestreo para letra cdigo de tamao de muestra J
Tabla 10-K - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra K (planes individuales)
Grfico K Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Tabla 10-K-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Pa
0,10
0,00804
0,0410
0,0843
0,230
0,553
1,10
1,83
2,37
3,62
0,15
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
0,10
0,40 0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
0,119 0,351 0,664

0,285 0,657 1,10
0,426 0,885 1,40
0,769 1,38 2,03
1,34 2,13 2,93
2,14 3,11 4,05
3,08 4,20 5,27
3,74 4,95 6,09
5,19 6,55 7,81
0,65
1,0
1,5
1,45 2,36 2,86 3,90 5,00 6,15 8,55 10,4 0,00804 0,119 0,349 0,659 1,43 2,32 2,81 3,82
2,11 3,22 3,81 5,01 6,26 7,54 10,2 12,2 0,0410 0,284 0,654 1,09 2,09 3,18 3,75 4,94
2,54 3,76 4,39 5,69 7,01 8,37 11,1 13,3 0,0843 0,425 0,882 1,40 2,52 3,72 4,35 5,62
3,39 4,79 5,50 6,94 8,39 9,86 12,8 15,1
0,230 0,769 1,38 2,03 3,38 4,76 5,47 6,90
4,52 6,12 6,92 8,51 10,1 11,7 14,9 17,3
0,555
1,34 2,14 2,94 4,54 6,14 6,94 8,53
5,88 7,66 8,54 10,3 12,0 13,7 17,1 19,6
1,11
2,15 3,14 4,09 5,94 7,75 8,64 10,4
7,29 9,24 10,2 12,1 13,9 15,7 19,3 21,9
1,84
3,11 4,26 5,34 7,42 9,42 10,4 12,3
8,23 10,3 11,3 13,2 15,1 17,0 20,6 23,3
2,40
3,80 5,04 6,20 8,41 10,5 11,5 13,6
10,2 12,3 13,4 15,5 17,5 19,4 23,2 26,0
3,68
5,31 6,72 8,04 10,5 12,8 13,9 16,1
2,5
4,0
6,5
10
0,15
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
4,88
6.15
6,92
8,34
10,1
12.2
14,2
15,6
18,3
6,5
6,5
5,98
7,40
8,24
9,79
11,7
13,9
16,1
17,5
20,4
10
8,28
9,95
10,9
12,7
14,9
17,4
19,8
21,4
24,5
10
10,1
11,9
13,0
14,9
17,3
20,0
22,5
24,2
27,2
67
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
0,40
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
68
Tabla 10-K-2 - Planes de muestreo para letra cdigo de tamao de muestra K

Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
de
muestra
acumulativo
< 0,10
0,10
0,15
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Simple
125
0 1
80
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9
10 11
12 13
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
5 9
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
# 2
# 2
# 3
# 4
0 4
64
0 2
0 3
0 3
1 5
96
0 2
0 3
1 4
128
0 2
1 3
160
1 2
0,65
Doble
160
32
Mltiple
< 0,15
0,15
Ac Re
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
0,25
0,40
4.0
10
> 10
Ac Re
Ac Re
Ac Re
14 15
18 19
21 22
6 10
7 11
9 14
11 16
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
0 4
0 5
0 6
1 7
1 8
2 9
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10
6 12
7 14
2 6
3 8
4 9
6 10
7 12
8 13
11 17
13 19
2 5
4 7
5 9
6 11
9 12
11 15
12 17
16 22
20 25
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
6,5
10
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
utilizar el plan de muestreo simple situado en la parte superior (o, como alternativa, utilizar la letra cdigo K)
> 10
Tabla 10-L - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra L (planes individuales)
Grfico L Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Tabla 10-L-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
0,065
0,25
0,40
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
0,00503
0,0256
0,0527
0,144
0,346
0,691
1,14
1,49
2,28
0,10
0,074
0,178
0,266
0,481
0,838
1,34
1,93
2,35
3,27
0,40
0,219
0,410
0,552
0,864
1,33
1,95
2,64
3,11
4,14
0,65
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
0,065
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
P (en porcentaje de tems no conformes)
0,414 0,900 1,47 1,77 2,42 3,10 3,80 5,28 6,43 0,00503 0,0704 0,218 0,412 0,893 1,45 1,75 2,39 3,05
0,686
1,31
2,01 2,37 3,11 3,89 4,68 6,31 7,57 0,0256
0,178 0,409 0,683
1,31
1,99 2,35 3,08 3,84
0,875
1,58
2,34 2,73 3,54 4,36 5,20 6,91 8,22 0,0507
0,266 0,551 0,872
1,58
2,33 2,72 3,51 4,32
1,27
2,11
2,99 3,43 4,33 5,23 6,15 8,00 9,40
0,144
0,481 0,864
1,27
2,11
2,98 3,42 4,31 5,21
1,83
2,83
3,83 4,33 5,33 6,32 7,32 9,32 10,8
0,347
0,839
1,34
1,84
2,84
3,83 4,33 5,33 6,33
2,54
3,69
4,81 5,36 6,46 7,55 8,63 10,8 12,4
0,693
1,35
1,96
2,55
3,71
4,84 5,40 6,51 7,61
3,31
4,59
5,82 6,42 7,60 8,76 9,91 12,2 13,8
1,15
1,94
2,66
3,34
4,64
5,89 6,50 7,70 8,89
3,83
5,18
6,47 7,10 8,33 9,54 10,7 13,1 14,8
1,50
2,37
3,15
3,88
5,26
6,57 7,22 8,48 9,72
4,93
6,42
7,82 8,50 9,82 11,1 12,4 14,8 16,6
2,30
3,32
4,20
5,02
6,55
8,00 8,70 10,1 11,4
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
0,10
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
4,0
3,74
4,62
5,15
6,12
7,33
8,70
10,1
10,9
12,7
6,5
5,17
6,22
6,84
7,95
9,33
10,9
12,4
13,3
15,3
6,5
6,29
7,45
8,12
9,34
10,8
12,5
14,1
15,1
17,2
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Pa
69
70
Tipo de
plan de
muestreo
Simple
Tamao
< 0,065
0,065
0,10
Ac Re
Ac Re
Ac Re
200
125
0,15
0,25
0,40
0.65
1,0
1,5
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
0 1
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9
10 11
12 13
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
5 9
1 2
3 4
6 7
9 10
10 11
# 2
# 2
# 3
# 4
0 4
100
0 2
0 3
0 3
1 5
150
0 2
0 3
1 4
200
0 2
1 3
250
1 2
0,40
Doble
250
50
Mltiple
< 0,10
0,10
Ac Re
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
0,15
0,25
2,5
6,5
> 6,5
Ac Re
Ac Re
Ac Re
14 15
18 19
21 22
6 10
7 11
9 14
11 16
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
0 4
0 5
0 6
1 7
1 8
2 9
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10
6 12
7 14
2 6
3 8
4 9
6 10
7 12
8 13
11 17
13 19
2 5
4 7
5 9
6 11
9 12
11 15
12 17
16 22
20 25
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
4,0
6,5
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
utilizar el plan de muestreo simple situado en la parte superior (o, como alternativa, utilizar la letra cdigo P)
> 6,5
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 10-L-2 - Planes de muestreo para letra cdigo de tamao de muestra L
Tabla 10-M - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra M (planes individuales)
Grfico M Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Tabla 10-M-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
0,040
0,15
0,25
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
0,00319
0,0163
0,0334
0,0913
0,2220
0,439
0,728
0,947
1,45
0,065
0,047
0,113
0,169
0,305
0,532
0,853
1,23
1,50
2,09
0,25
0,139
0,260
0,350
0,549
0,848
1,24
1,68
1,99
2,64
0,40
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
0,040
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
0,262
0,435
0,555
0,805
1,16
1,62
2,11
2,44
3,15
0,65
0,570 0,929 1,12 1,53 1,95 2,40 3,33 4,05 0,00319 0,047 0,138 0,261 0,567 0,923 1,11 1,51
0,833
1,27
1,50 1,97 2,46 2,96 3,99 4,78
0,0163
0,113 0,260 0,434 0,830
1,26
1,49 1,96
1,00
1,48
1,73 2,24 2,76 3,29 4,37 5,20
0,0334
0,169 0,350 0,554
1,00
1,48
1,72 2,23
1,34
1,89
2,17 2,74 3,32 3,90 5,07 5,95
0,0913
0,305 0,548 0,805
1,34
1,89
2,17 2,74
1,80
2,43
2,75 3,38 4,02 4,65 5,92 6,87
0,220
0,533 0,849
1,17
1,80
2,43
2,75 3,39
2,35
3,06
3,41 4,11 4,81 5,49 6,86 7,87
0,440
0,855
1,24
1,62
2,36
3,07
3,43 4,13
2,92
3,71
4,09 4,85 5,59 6,33 7,77 8,84
0,731
1,23
1,69
2,12
2,94
3,74
4,13 4,89
3,31
4,13
4,54 5,33 6,10 6,86 8,36 9,46
0,951
1,51
2,00
2,46
3,34
4,17
4,58 5,38
4,11
5,01
5,44 6,29 7,12 7,93 9,51 10,7
1,46
2,11
2,67
3,19
4,16
5,08
5,52 6,40
1,0
1,5
2,5
4,0
0,065
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
1,94
2,44
2,74
3,31
4,02
4,83
5,64
6,17
7,24
2,5
2,5
2,37
2,94
3,27
3,89
4,66
5,52
6,39
6,95
8,08
4,0
3,28
3,95
4,34
5,05
5,93
6,90
7,86
8,47
9,71
4,0
3,99
4,73
5,16
5,93
6,88
7,92
8,95
9,60
10,9
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Pa
71
72
Tipo de
plan de
muestreo
Simple
Tamao
< 0,040
0,040
0,065
Ac Re
Ac Re
Ac Re
315
0 1
200
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
1,5
Ac Re
2,5
4,0
>4,0
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
0 3
1 3
6 10
7 11
9 14
11 16
1 2
3 4
4 5
9 10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
# 2
# 2
# 3
# 4
0 4
0 4
0 5
0 6
1 7
1 8
2 9
160
0 2
0 3
0 3
1 5
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10
6 12
7 14
240
0 2
0 3
1 4
2 6
3 8
4 9
6 10
7 12
8 13
11 17
13 19
320
0 2
1 3
2 5
4 7
5 9
6 11
9 12
11 15
12 17
16 22
20 25
400
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
0,25
0,40
0,65
1,0
Doble
400
80
Mltiple
Ac Re
0,10
<0,065
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
0,065
0,10
0,15
1 2
0 2
1,5
2,5
4,0
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
utilizar el plan de muestreo simple situado en la parte superior (o, como alternativa, utilizar la letra cdigo Q)
> 4,0
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 10-M-2 - Planes de muestreo para letra cdigo de tamao de muestra M
Tabla 10-N - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra N (planes individuales)
Grfico N Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Tabla 10-N-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
0,025
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
0,025
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
0,00201
0,0103
0,0211
0,0575
0,139
0,277
0,459
0,597
0,917
0,040
0,03
0,071
0,106
0,192
0,335
0,538
0,776
0,945
1,32
0,15
0,087
0,164
0,221
0,346
0,534
0,783
1,06
1,25
1,67
0,25
0,165
0,274
0,349
0,507
0,734
1,02
1,33
1,54
1,99
0,40
0,358 0,84 0,705 0,959 1,23 1,51 2,0*9 2,54 0,00201 0,03 0,087 0,165 0,357 0,581 0,701 0,954
0,524 0,799 0,942 1,24 1,54 1,86 2,50 3,00 0,0103 0,071 0,164 0,273 0,523 0,796 0,939 1,23
0,632 0,933 1,09
1,41 1,74 2,07 2,75 3,25 0,0211 0,106 0.220 0,349 0,630 0,931 1,09
1,40
0,845 1,19
1,37
1,73 2,09 2,45 3,10 3,75 0,0575 0,192 0,345 0,507 0,844 1,19
1,37
1,72
1,13
1,53
1,73
2,13 2,53 2,93 3,73 4,33
0,139
0,336 0,535 0,734 1,13
1,53
1,73
2,13
1,48
1,93
2,15
2,60 3,03 3,47 4,33 4,97
0,277
0,539 0,764 1,02
1,48
1,94
2,16
2,60
1,85
2,34
2,59
3,06 3,54 4,00 4,92 5,60
0,461
0,778 1,06
1,34
1,85
2,35
2,60
3,08
2,09
2,61
2,87
3,37 3,86 4,34 5,29 5,99
0,599
0,949 1,26
1,55
2,10
2,63
2,89
3,39
2,60
3,17
3,45
3,99 4,51 6,03 6,04 6,78
0,921
1,33
1,68
2,01
2,62
3,20
3,48
4,03
0,65
1,0
1,5
2,5
0,040
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
1,22
1,54
1,73
2,08
2,53
3,04
3,56
3,69
4,56
1,5
1,50
1,85
2,08
2,45
2,93
3,48
4,03
4,38
5,09
2,5
2,07
2,49
2,73
3,18
3,73
4,35
4,95
5,34
6,12
2,5
2,51
2,98
3,25
3,74
4,33
4,99
5,64
6.05
6,87
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Pa
73
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
74
Tabla 10-N-2 - Planes de muestreo para letra cdigo de tamao de muestra N
Tipo de
plan de
muestreo
Simple
Tamao
< 0,025
0,025
0,040
Ac Re
Ac Re
Ac Re
500
0 1
315
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
> 2,5
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
5 9
6 10
7 11
9 14
11 16
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
# 2
# 2
# 3
# 4
0 4
0 4
0 5
0 6
1 7
1 8
2 9
250
0 2
0 3
0 3
1 5
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10
6 12
7 14
375
0 2
0 3
1 4
2 6
3 8
4 9
6 10
7 12
8 13
11 17
13 19
500
0 2
1 3
2 5
4 7
5 9
6 11
9 12
11 15
12 17
16 22
20 25
625
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
0,15
0,25
0,40
0,65
Doble
630
125
Mltiple
Ac Re
0,065
< 0,040
0,040
0,065
0,10
1,0
1,5
2,5
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
utilizar el plan de muestreo simple situado en la parte superior (o, como alternativa, utilizar la letra cdigo R)
> 2,5
Tabla 10-P - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra P (planes individuales)
Grfico P Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Tabla 10-P-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
0,015
0,065
0,10
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
0,00126
0,00641
0,0132
0,0360
0,0866
0,173
0,287
0,374
0,574
0,025
0,0186
0,0444
0,0665
0,120
0,210
0,336
0,485
0,592
0,827
0,10
0,0546
0,102
0,136
0,216
0,334
0,489
0,664
0,785
1,05
0,15
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
0,015
0,065
0,10
0,15 0,25 0,40
0,65
P (en porcentaje de tems no conformes)
P (en no conformidades por 100 unidades)
1,0
1,5
0,103 0,224 0,364 0,440 0,598 0,765 0,938 1,30 1,58 0,00126 0,0186 0,0545 0,103 0,223 0,363 0,438 0,595 0,762 0,935 1,29 1,57
0,171 0,327 0,499 0,588 0,773 0,964 1,16 1,56 1,87 0,00641 0,04444 0,102 0,171 0,327 0,498 0,587 0,771 0,961 1,16 1,56 1,86
0,218 0,394 0,583 0,680 0,879 1,08
1,29 1,71 2,04 0,0132 0,0665 0,138 0,218 0,394 0,582 0,679 0,878 1,08 1,29 1,71 2,03
0,317 0,528 0,745 0,855 1,08
1,30
1,53 1,99 2,34 0,0360
0,120
0,216 0,317 0,527 0,745 0,855 1,08 1,30 1,53 1,99 2,34
0,459 0,708 0,958 1,08
1,33
1,58
1,83 2,33 2,71 0,0866
0,210
0,334 0,459 0,709 0,959 1,08 1,33 1,58 1,83 2,33 2,71
0,638 0,928 1,21
1,35
1,62
1,90
2,17 2,71 3,11
0,173
0,337
0,490 0,639 0,928 1,21 1,35 1,63 1,90 2,17 2,72 3,12
0,833 1,16
1,47
1,62
1,92
2,21
2,51 3,08 3,51
0,288
0,486
0,665 0,835 1,16 1,47 1,62 1,93 2,22 2,52 3,09 3,52
0,966 1,31
1,64
1,80
2,11
2,42
2,72 3,32 3,76
0,374
0,593
0,787 0,969 1,31 1,64 1,80 2,12 2,43 2,74 3,34 3,78
1,25
1,63
1,99
2,16
2,50
2,83
3,16 3,79 4,26
0,576
0,830
1,05
1,26 1,64 2,00 2,18 2,52 2,85 3,18 3,82 4,29
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
0,025
0,10
0,15
0,25 0,40
0,65
1,0
1,5
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Pa
75
76
Tipo de
plan de
muestreo
Simple
Doble
Tamao
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
800
0 1
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
500
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
1 2
3 4
4 5
6 7
# 2
# 2
# 3
400
0 2
0 3
600
0 2
800
1000
1000
200
Mltiple
<0,025
0,025
Ac Re
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
0,040
0,065
0,65
Ac Re
1,0
1,5
> 1,5
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
4 7
5 9
6 10
7 11
9 14
11 16
9 10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
# 4
0 4
0 4
0 5
0 6
1 7
1 8
2 9
0 3
1 5
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10
6 12
7 14
0 3
1 4
2 6
3 8
4 9
6 10
7 12
8 13
11 17
13 19
0 2
1 3
2 5
4 7
5 9
6 11
9 12
11 15
12 17
16 22
20 25
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
utilizar el plan de muestreo simple situado en la parte superior
> 1,5
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 10-P-2 - Planes de muestreo para letra cdigo de tamao de muestra P
Tabla 10-Q - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra Q (planes individuales)
Grfico Q Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Tabla 10-Q-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
0,010
0,040
0,065
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
0,0008
0,0041
0,0843
0,0230
0,0554
0,111
0,184
0,239
0,368
0,015
0,0119
0,0284
0,0426
0,0769
0,134
0,215
0,311
0,379
0,530
0.065
0,0349
0,0654
0,0882
0,168
0,214
0,313
0,425
0,503
0,671
0,10
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
0,010
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,0659
0,109
0,140
0,203
0,294
0,408
0,534
0,619
0,801
0,15
0,143 0,233 0,281 0,383 0,469 0,600 0,830 1,01 0,0008 0,0119 0,0349 0,0659 0,143 0,232 0,281
0,209 0,319 0,376 0,494 0,616 0,741 0,998 1,19 0,00410 0,0284 0,0654 0,109 0,209 0,318 0,376
0,252 0,373 0,435 0,562 0,693 0,825 1,10 1,30 0,00843 0,0425 0,0882 0,140 0,252 0,372 0,435
0,338 0,477 0,547 0,690 0,834 0,980 1,27 1,50 0,0230 0,0769 0,138
0,203 0,338 0,476 0,547
0,453 0,613 0,693 0,853 1,01
1,17
1,49 1,73 0,0555
0,134
0,214
0,294 0,454 0,614 0,694
0,593 0,774 0,863 1,04
1,22
1,39
1,74 1,99
0,111
0,215
0,314
0,409 0,594 0,775 0,864
0,741 0,940 1,04
1,23
1,42
1,61
1,98 2,25
0,184
0,311
0,428
0,534 0,742 0,942 1,04
0,839 1,05
1,15
1,35
1,55
1,75
2,13 2,41
0,240
0,380
0,504
0,620 0,841 1,05
1,15
1,05
1,28
1,39
1,61
1,82
2,03
2,43 2,73
0,368
0,531
0,672
0,804
1,05
1,28
1,39
0,25
0,40
0,65
1,0
0,015
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,382
0,494
0,562
0,690
0,853
1,04
1,23
1,36
1,61
0,488
0,615
0,692
0,834
1,01
1,22
1,42
1,56
1,83
0,65
0,65
0,598
0,740
0,824
0,979
1,17
1,329
1,61
1,75
2,04
1,0
0,828
0,995
1,09
1,27
1,49
1,74
1,98
2,14
2,45
1,0
1,01
1,19
1,30
1,49
1,73
2,00
2,25
2,42
2,75
NOTA. Se utiliza la distribucin binomial para las entradas correspondientes a la inspeccin de tems no conformes, se utiliza la distribucin de Poisson para la inspeccin del nmero de
conformidades.
77
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Pa
78
Tipo de
plan de
muestreo
Simple
Doble
Tamao
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9
10 11
12 13
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
5 9
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
# 2
# 2
# 3
# 4
0 4
630
0 2
0 3
0 3
1 5
945
0 2
0 3
1 4
1 260
0 2
1 3
1 575
1 2
0,065
Ac Re
1 250
315
0,010
0,015
Ac Re
Ac Re
Ac Re
0 1
800
1 600
Mltiple
Utilizar
letra
cdigo
R
0,010
0,015
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
0,025
0,040
0,40
1,0
> 1,0
Ac Re
Ac Re
Ac Re
14 15
18 19
21 22
6 10
7 11
9 14
11 16
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
0 4
0 5
0 6
1 7
1 8
2 9
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10
6 12
7 14
2 6
3 8
4 9
6 10
7 12
8 13
11 17
13 19
2 5
4 7
5 9
6 11
9 12
11 15
12 17
16 22
20 25
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
0,65
1,0
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
> 1,0
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 10-Q-2 - Planes de muestreo para letra cdigo de tamao de muestra Q
Tabla 10-R - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra R (planes individuales)
Grfico R Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Tabla 10-R-1 - Valores tabulados de curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,025
0,040
0,065
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
0,00743
0,0178
0,0266
0,0481
0,0839
0,135
0,194
0,237
0,331
0,040
0,0218
0,0409
0,0551
0,0864
0,134
0,196
0,266
0,314
0,420
0,065
0,0412
0,0683
0,0873
0,127
0,184
0,255
0,334
0,387
0,501
0,10
0,0893 0,145 0,176 0,239 0,305 0,374 0,518 0,630 0,00743 0,0218 0,0412 0,0893 0,145 0,175 0,239
0,131 0,199 0,235 0,309 0,385 0,463 0,623 0,746 0,0178 0,0409 0,0683 0,131 0,199 0,235 0,308
0,158 0,233 0,272 0,351 0,433 0,515 0,684 0,813 0,0266 0,0551 0,0872 0,158 0,233 0,272 0,351
0,211 0,298 0,342 0,431 0,521 0,612 0,796 0,935 0,0481 0,0864 0,127
0,211 0,298 0,342 0,431
0,283 0,383 0,433 0,533 0,633 0,733 0,933 1,08
0,0839
0,134
0,184
0,284 0,383 0,433 0,533
0,371 0,484 0,540 0,650 0,760 0,869 1,09
1,25
0,135
0,196
0,255
0,371 0,484 0,540 0,651
0,463 0,588 0,649 0,769 0,888 1,00
1,24
1,41
0,194
0,266
0,334
0,464 0,589 0,650 0,770
0,525 0,656 0,721 0,847 0,970 1,09
1,33
1,51
0,237
0,315
0,388
0,526 0,657 0,722 0,848
0,654 0,798 0,868 1,00
1,14
1,27
1,52
1,71
0,332
0,420
0,502
0,655 0,800 0,870 1,01
0,15
0,25
0,40
0,65
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,3054
0,384
0,432
0,521
0,633
0,761
0,889
0,972
1,14
0,40
0,40
0,374
0,462
0,515
0,612
0,733
0,870
1,01
1,09
1,27
0,65
0,517
0,622
0,684
0,795
0,933
1,09
1,24
1,33
1,53
0,65
0,629
0,745
0,812
0,934
1,08
1,25
1,41
1,51
1,72
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Pa
79
80
Tipo de
plan de
muestreo
Simple
Doble
Tamao
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9
10 11
12 13
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
5 9
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
# 2
# 2
# 3
# 4
0 4
1 000
0 2
0 3
0 3
1 5
1 500
0 2
0 3
1 4
2 000
0 2
1 3
2 500
1 2
0 ,040
Ac Re
2 000
0 1
1 250
2 500
500
Mltiple
0,010
0,010
0,015
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
Utilizar
letra
cdigo
0 ,015
0 ,025
0,25
0,65
> 0,65
Ac Re
Ac Re
Ac Re
14 15
18 19
21 22
6 10
7 11
9 14
11 16
12 13
15 16
18 19
23 24
25 27
0 4
0 5
0 6
1 7
1 8
2 9
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10
6 12
7 14
2 6
3 8
4 9
6 10
7 12
8 13
11 17
13 19
2 5
4 7
5 9
6 11
9 12
11 15
12 17
16 22
20 25
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11
12 13
15 16
15 16
23 24
26 27
0 ,065
0 ,10
0 ,15
0,25
0,40
0,40
0,65
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
nmero de aceptacin
nmero de rechazo
> 0,65
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 10-R-2 - Planes de muestreo para letra cdigo de tamao de muestra R
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 10-S - Tablas para la letra cdigo de tamao de muestra S (planes individuales)
Grfico S Curvas caractersticas de operacin de planes de muestreo simple
Calidad del lote presentado (p, en porcentaje no conforme para AQL 10, en no conformidades por
100 tems para AQL > 10)
81
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 10-S-1 Valores tabulados de curvar

caractersticas de operacin de planes de
muestreo simple
Nivel de calidad aceptable, inspeccin normal
(en porcentaje de tems no conformes y no
conformidades por 100 unidades)
Pa
Tabla 10-S-2 - Planes de muestreo para letras cdigo de tamao de muestra S
Tipo de
plan de
muestreo
Tamao de
muestra
acumulativo
Nivel de calidad aceptable,

inspeccin normal (en porcentaje de tems no
conformes y no conformidades por 100 unidades)
p (en porcentaje de
tems no conformes)
p (en no conformidades
por 100 unidades)
99,0
0,00472
0,00472
95,0
0,0113
0,0113
90,0
0,0169
0,0169
75,0
0,0305
0,0305
50,0
0,0533
0,0533
25,0
0,0855
0,0855
10,0
0,123
0,123
5,0
0,151
0,151
1,0
0,211
0,211
0,025
0,25
0,25
Nivel de calidad aceptable,

inspeccin estricta (en porcentaje de tems no conformes y no conformidades por
100 unidades)
Ac
Simple
Doble
Mltiple
Nivel de calidad aceptable, inspeccin estricta

(en porcentaje de tems no conformes y no
conformidades por 100 unidades)
Ac
Re
#
Re
3150
2 000
4 000
800
1 600
2 400
3 200
4 000
= nmero de aceptacin
= nmero de rechazo
= la aceptacin no est permitida para este tamao de muestra
NOTA. Se utiliza la distribucin binomial para las entradas correspondientes a la inspeccin de tems no conformes, se utiliza la distribucin de Poisson para la inspeccin del nmero de no conformidades.
82
Tabla 11-A - Planes de muestreo simple en inspeccin normal (tabla general auxiliar)
Letra cdigo de
tamao
de la
muestra
Nivel de calidad aceptable, AQL (en porcentaje de tems no conformes y no conformidades por 100 unidades) (inspeccin normal)
Tamao
de la
muestra
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
A
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1/3
1/3
1/2
1/3
1/2
1
1/3
1/2
1/3
1/2
1
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1
1/3
1/2
1/3
1/2
1
10 11 14 15 21 22 30 31 44 45
10 11 14 15 21 22 30 31 44 45
10 11 14 15 21 22 30 31 44 45
2 3
5 6
7 8
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
Ac
Re
= Nmero de rechazo.
83
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
10 11 14 15 21 22 30 31 44 45
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22 30 31
7 8
5 6
3 4
2 3
7 8
5 6
3 4
2 3
2 3
1/2
84
Letra cdigo de
tamao
de la
muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1/3
1/3
1/2
1/3
1/2
1
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19
12 13 18 19 27 28 41 42
12 13 18 19 27 28 41 42
8 9
5 6
5 6
3 4
3 4
2 3
2 3
12 13 18 19 27 28 41 42
12 13 18 19 27 28 41 42
12 13 18 19
Ac
Re
= Nmero de rechazo.
12 13 18 19 27 28
1/2
1/2
1/2
1/2
1/3
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Tabla 11-B - Planes de muestreo simple en inspeccin estricta (tabla general auxiliar)
Tabla 11-C - Planes de muestreo simple en inspeccin simplificada (tabla general auxiliar)
Letra cdigo de
tamao
de la
muestra
Tamao
de la
muestra
0,010 0,015 0,025 0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1000
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac R Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
2
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
0 1
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
5 6
10 11 14 15 21 22 30 31
0 1
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
5 6
10 11 14 15 21 22 30 31
0 1
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
4 5
6 7
10 11 14 15 21 22
0 1
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
4 5
6 7
8 9
10 11 14 15
0 1
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
4 5
6 7
8 9
0 1
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
4 5
6 7
8 9
10 11
0 1
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
4 5
6 7
8 9
10 11
0 1
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
4 5
6 7
8 9
10 11
0 1
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
4 5
6 7
8 9
10 11
0 1
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
4 5
6 7
8 9
10 11
0 1
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
4 5
6 7
8 9
10 11
0 1
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
4 5
6 7
8 9
10 11
0 1
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
4 5
6 7
8 9
10 11
0 1
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
4 5
6 7
8 9
10 11
0 1
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
4 5
6 7
8 9
10 11
1/5
1/3
1/2
1 2
2 3
3 4
4 5
6 7
8 9
10 11
Ac
Re
= Nmero de rechazo.
21 2
10 11 14 15 21 22
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
85
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
86
Tabla 12 Esquema de curva CO (normalizadas)
NOTA. Ac en cada curva indica el nmero de aceptacin para una inspeccin normal.
(Contina)
Tabla 12 Esquema de curva CO (normalizadas) (fin)
87
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
NOTA. Ac en cada curva indica el nmero de aceptacin para una inspeccin normal.
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
88
Anexo A
(Informativo)
Ejemplo para un plan de muestreo no constante

Lote
nmero
Tamao
del lote
Tamao de
muestra
Letra
cdigo de
tamao
de muestra
Ac
dado
180
32
1/2
Continuar con normal
200
32
1/2
10
250
32
1/2
450
50
300
50
80
13
Cambio a estricta
800
80
Continuar con estricta
300
50
1/2
100
20
10
600
80
12
12
Puntuacin de
aceptacin
(antes de la
inspeccin)
Ac
aplicable
tems no
conformes
Aceptabilidad
Puntuacin de
aceptacin
(despus de
inspeccin)
Marcador de
cambio
Accin a efectuar
11
200
32
1/3
15
0*
Restablecer normal
12
250
32
1/2
13
600
80
12
14
80
13
15
200
32
1/2
16
500
50
12
12
11
17
100
20
1/3
15
15
13
18
120
20
1/3
18
18
15
19
85
13
18
18
17
20
300
50
25
19
21
500
50
21
22
700
80
14
24
23
600
80
27
24
550
80
14
0*
30
25
400
20
NOTAS. A = Aceptable
R = no aceptable
* muestra el nmero de aceptacin despus del cambio
Cambio a simplificada
Continuar con simplificada
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Bibliografa
[1]
ISO 2859-0: 1995, Sampling procedures for inspection by attributes Part 0: Introduction to the
ISO 2859 attribute sampling system.
[2]
ISO 2859-2:1985, Sampling procedures for inspection by attributes Part 2 Sampling plans
indexed by quality (LQ) for isolated lot inspection.
[3]
ISO 3951, Sampling procedures and charts for inspection by variables for percent non
conforming.
[4]
ISO 8402, Quality management and quality assurance Vocabulary.
89
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Anexo B - IRAM
(Informativo)
Bibliografa
Para el estudio de esta norma se ha tenido en cuenta el antecedente siguiente:
ISO -
90
INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION

ISO 2859-1:1999 Sampling procedures for inspection by attributes. Part 1 - Sampling
schemes indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection.
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
Anexo C - IRAM
(Informativo)
Integrantes de los organismos de estudio

El estudio de esta norma ha estado a cargo de los organismos respectivos, integrados en la forma
siguiente:
Subcomit Estadstica Comisin Planes de muestreo para la aceptacin

Integrante
Representa a:
Dra.
Mara Cristina ARRIAGA
Ing.
Ing.
Ing.
Dra.
Marino COLINA PARDO

Jos Mara GTTIG
Horacio NAPOLITANO
Ana Mara PALERMO
Sr.
Gonzalo RUBIO LONGAS
Ing.
Flavio DURANTE
CONSEJO PROFESIONAL DE CIENCIAS

ECONMICAS CMARA II - ROSARIO
AC & ASOC.
EDESUR S.A.
JENCK S.A.
INSTITUTO DE INVESTIGACIONES CIENTFICAS
Y TCNICAS PARA LA DEFENSA (CITEFA)
INSTITUTO DE INVESTIGACIONES
TECNOLGICAS
IRAM
Comit General de Normas (C.G.N.)

Integrante
Integrante
Dr.
Lic.
Ing.
Dr.
Ing.
Ing.
Tco.
Ing.
Ing.
Sr.
Ing.
Jos M. CARACUEL
Alberto CERINI
Ramiro FERNNDEZ
Federico GUITAR
Jorge KOSTIC
Jorge MANGOSIO
Hugo D. MARCH
Samuel MARDYKS
Tulio PALACIOS
ngel TESTORELLI
Ral DELLA PORTA
91
IR AM 15- 1:2 010

ISO 2 859 -1:1 999
ICS 03.120.30
* CNA 00.00
* Corresponde a la Clasificacin Nacional de Abastecimiento asignada por el Servicio Nacional de Catalogacin del Ministerio de Defensa.

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NORMA

Sistemas de muestreo para la

* Corresponde a la revisin parcial de la edicin de diciembre

DOCUMENTO PROTEGIDO POR EL DERECHO DE PROPIEDAD INTELECTUAL

IR AM- ISO 1 5-1 :201 0

Corresponde a la revisin parcial de la edicin de diciembre de 1973, a la

IR AM 15- 1:2 010

IR AM- ISO 1 5-1 :201 0

se realizaron algunos cambios en los planes de muestreo doble para

IR AM 15- 1:2 010

OBJETO Y CAMPO DE APLICACIN ........................................................... 7

DOCUMENTOS NORMATIVOS PARA CONSULTA ..................................... 7

TRMINOS, DEFINICIONES Y SMBOLOS .................................................. 8

NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE (AQL) ...................................................... 12

PRESENTACIN DEL PRODUCTO PARA MUESTREO............................ 12

ACEPTACIN Y RECHAZO ........................................................................ 13

EXTRACCIONES DE LAS MUESTRAS....................................................... 14

INSPECCIN NORMAL, ESTRICTA O SIMPLIFICADA ............................. 14

10 PLANES DE MUESTREO ............................................................................ 16

IR AM 15- 1:2 010

Sistemas de muestreo para la inspeccin por atributos

1 OBJETO Y CAMPO DE APLICACIN

componentes y materias primas;

una proteccin para el cliente (mediante el

un incentivo (a criterio de la autoridad responsable) para reducir los costos de

2 DOCUMENTOS NORMATIVOS PARA

IR AM 15- 1:2 010

ISO 3534-2:1993 - Statistics. Vocabulary and

de stos, o se cuenta el nmero de no conformidades por tem.

NOTA IRAM. Respecto a las normas ISO citadas, la

NOTA. La inspeccin por atributos incluyen la inspeccin

En esta norma tambin se indican la IRAM 15-0 Sistemas

3.1.4 tem. Aquello que se puede describir y

3.1.5 no conformidad. Incumplimiento de un

3.1 trminos y definiciones. Para los fines de

3.1.1 inspeccin. Actividad tal que involucra

3.1.3 inspeccin por atributos. Inspeccin por

3.1.6 defecto. Incumplimiento de un requisito

IR AM 15- 1:2 010

3.1.7 tem no conforme. tem con una o ms

3.1.10 no conformidades por 100 tems (en

3.1.8 porcentaje no conforme (en una muestra). Nmero de tems no conformes en la

el nmero de no conformidades por

3.1.11 no conformidades por 100 tems (en

el nmero de tems no conformes en la

el nmero de no conformidades por

el nmero de no conformidades por

el tamao de la poblacin o lote.

NOTA. Un tem podra contener una o ms no conformidades.

la proporcin de tems no conformes;

NOTA 1. La autoridad responsable puede ser:

el nmero de tems no conformes en la

el departamento de calidad dentro de la organizacin

el tamao de la poblacin o lote.

el comprador u organizacin compradora (segunda

una autoridad de verificacin o de certificacin independiente (tercera parte)

IR AM 15- 1:2 010

NOTA 2. Las obligaciones y funciones de una autoridad

3.1.13 lote. Cantidad definida de un producto,

3.1.14 tamao del lote. Nmero de tems en

3.1.20 inspeccin normal. Utilizacin de un

3.1.21 inspeccin estricta. Uso de un plan de

NOTA 1. Un plan de muestreo simple es una combinacin