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las organizaciones
Asignatura
Estructura Organizacional
Unidad 1
Estudiante
Alba Len Ral
Matrcula
ES1410909187
1
Normas de
calidad
Hace referencia
Objetivos
NMX-I-001NYCE-2003
ELECTRONICA-APARATOS
ELECTRONICOSTELEFONO
AUTOMATICO
DE
ALCANCIA (CANCELA A LA
NMX-I-001-CT-1984)
Esta
norma
no
concuerda con ninguna
Norma Internacional por
no existir referencias al
momento
de
su
elaboracin.
NMX-I-007/1NYCE-2006
EQUIPOS
Y
COMPONENTES
ELECTRONICOSMETODOS
DE
PRUEBAS
AMBIENTALES Y DE
DURABILIDAD-PARTE
1:
GENERALIDADES Y
GUIA (CANCELA A LA NMXI-007/1-NYCE-2001)
Aunque
en
principio
est
destinada
a
productos
electrotcnicos, esta norma no se
aplica exclusivamente a ellos y
puede ser utilizada en otros
campos si se desea.
Otros mtodos de pruebas
ambientales, especficos de tipos
particulares de especmenes,
pueden ser incluidos en la
especificacin particular.
La presente Norma
incluye una serie de
mtodos de pruebas
ambientales, as como
sus
severidades
apropiadas y prescribe
diferentes condiciones
atmosfricas para las
mediciones
y
las
pruebas,
concebidas
para
garantizar
la
capacidad
de
los
especmenes para ser
utilizados
en
las
condiciones previsibles
de
transporte,
almacenamiento
y
todas las formas de uso
operacional.
NMX-I-007/2-2NYCE-2006
EQUIPOS
Y
COMPONENTES
ELECTRONICOSMETODOS
DE
PRUEBAS
AMBIENTALES Y DE
DURABILIDAD-PARTE 2-2.
NMX-I-007/2-3NYCE-2006
EQUIPOS
Y
COMPONENTES
ELECTRONICOSMETODOS
DE
PRUEBAS
AMBIENTALES Y DE
DURABILIDAD-PARTE 2-3.
PRUEBAS. PRUEBA
Aa:
FRIO
PARA
UN
ESPECIMEN
NO
DISIPADOR
CON VARIACION BRUSCA
DE LA TEMPERATURA
(CANCELA A LA NMX-I007/2-3-NYCE-2001)
Este procedimiento se
aplica a especmenes
que estn sometidos a
baja
temperatura
durante
un
tiempo
suficiente para que
alcancen la estabilidad
trmica.
La duracin de la
prueba
se
mide
normalmente, a partir
del momento en que se
alcanza la estabilidad
trmica del espcimen.
Cuando esto no sea
aplicable,
vase
el
captulo 2 de la NMX-I007/2-2-NYCE.
NMX-I-007/2-4NYCE-2006
EQUIPOS
Y
COMPONENTES
ELECTRONICOSMETODOS DE
PRUEBAS AMBIENTALES Y
DE DURABILIDADPARTE
2-4. PRUEBAS. PRUEBA
Ab: FRIO PARA
UN
ESPECIMEN
NO
DISIPADOR
CON
VARIACION
LENTA
DE
LA
TEMPERATURA (CANCELA
A
LA
NMX-I-007/2-4-NYCE2001)
Este procedimiento se
aplica
a
los
especmenes que son
sometidos
a
baja
temperatura durante un
tiempo suficiente para
que
alcancen
la
estabilidad trmica.
NMX-I-007/2-6NYCE-2006
EQUIPOS
Y El objeto de la prueba de calor
COMPONENTES
seco es determinar la aptitud de
ELECTRONICOSlos componentes u otros artculos,
METODOS DE PRUEBAS
para ser utilizados o almacenados
a alta temperatura.
Las pruebas de calor seco no
permiten verificar la aptitud de los
especmenes para soportar o
funcionar durante las variaciones
de temperatura. En este caso,
es necesario utilizar la prueba N
de la NMX-I-007/2-31-NYCE
aplicables al mismo
tiempo
a
los
especmenes
que
disipan calor y a los que
no lo disipan.
NMX-I-007/215-NYCE-2006
EQUIPOS
Y
COMPONENTES
ELECTRONICOSMETODOS DE
PRUEBAS AMBIENTALES Y
DE DURABILIDADPARTE
2-15. PRUEBAS.
PRUEBA Ea y GUIA:
CHOQUES (CANCELA A LA
NMX-I-007/2-15-NYCE2001).
Se
puede
utilizar
tambin la prueba de
choque para asegurar
que el diseo de un
espcimen
es
satisfactorio en lo que
concierne a integridad
estructural, as como un
medio de control de
calidad.
Consiste
esencialmente
en
someter un espcimen
a
choques
no
repetitivos que tengan
una forma normalizada
de pulso con una
duracin
y
una
aceleracin
pico
especfica.
NMX-I-007/217-NYCE-2007
EQUIPOS
Y
COMPONENTES
ELECTRONICOSMETODOS DE
PRUEBAS AMBIENTALES Y
DE DURABILIDADPARTE
2-17. PRUEBAS. PRUEBA
EC: CAIDA
Y
VUELCO,
PRUEBA
DESTINADA
PRINCIPALMENTE
A
EQUIPOS
(CANCELA A LA NMX-I007/2-17-NYCE-2002).
Esta
prueba
est
destinada
principalmente
a
muestras sin embalar y
a los equipos en sus
cajas de transporte,
cuando se considera
que stas forman parte
integrante del equipo.
EQUIPOS Y
COMPONENTES
ELECTRONICOSMETODOS
DE
PRUEBAS
AMBIENTALES Y DE
DURABILIDAD-PARTE 2-18.
PRUEBAS.
PRUEBA ED: CAIDA LIBRE
(CANCELA A LA
NMX-I-007/2-18-NYCE2002).
Esta
norma
est
destinada
a
especmenes
no
embalados o a objetos
colocados
en
sus
contenedores
de
transporte cuando estos
ltimos
puedan
considerarse
como
parte
del
propio
espcimen. Asimismo,
est destinada a la
prueba de dispositivos
conectados por medio
de cables, tales como
conectores y pequeas
unidades de control
remoto, cuando estos
aparatos
estn
expuestos a cadas
frecuentes
sobre
superficies duras. Las
condiciones de prueba
para cada libre se
describen en el captulo
3; y las condiciones de
prueba para cadas
libres
repetidas
se
describen en el captulo
4.
NMX-I-007/225-NYCE-2007
EQUIPOS
Y
COMPONENTES
ELECTRONICOSMETODOS DE
PRUEBAS AMBIENTALES Y
DE DURABILIDADPARTE
2-25.
PRUEBAS.
GUIA
PARA SIMULAR
LOS
EFECTOS
DEL
ALMACENAMIENTO
(CANCELA A LA NMX-I007/2-25-NYCE-2002).
Bibliografa:
www.nyce.org.mx. (Noviembre 2015). Acervo Normativo NYCE. [PDF En lnea].
[Consulta: 01 de Septiembre de 2016].
Disponible:
https://www.nyce.org.mx/wp-content/uploads/2015/11/CatalogoNYCENov2015.pdf