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UNIVERSIDAD POLITCNICA SALESIANA

CARRERA DE INGENIERA ELCTRICA

 DETERMINACIN DE LOS PROTOCOLOS DE


PRUEBA EN ALTA TENSIN A SER APLICADOS EN
EQUIPOS Y MATERIALES UTILIZADOS EN NIVEL DE
HASTA 22KV.

Tesis previa a la obtencin del


Ttulo de Ingeniero Elctrico.

Autor:

Olmedo Portocarrero De La Torre

Director:

Ing. Flavio Quizhpi Palomeque.

2011 - 2012
Cuenca  Ecuador

Todos los conceptos desarrollados, anlisis realizados y las conclusiones vertidas en el siguiente trabajo, son de exclusiva responsabilidad de los autores Y autorizo a la Universidad
Politcnica Salesiana el uso de la misma para nes acadmicos.

Cuenca, marzo 12 del 2012.

OLMEDO PORTOCARRERO DE LA TORRE.

Ingeniero FLAVIO QUIZHPI PALOMEQUE Director de Tesis.

CERTIFICA: Que la tesis con el ttulo  DETERMINACIN DE LOS PROTOCOLOS


DE PRUEBA EN ALTA TENSIN A SER APLICADOS EN EQUIPOS Y MATERIALES UTILIZADOS EN NIVEL DE HASTA 22KV. , ha sido desarrollada por el estudiante
Olmedo Portocarrero, ha sido revisada y asesorada de acuerdo a los requerimientos establecidos en la propuesta inicial y al cronograma denido, por lo que despus de reunir
los requisitos estipulados en los Documentos Generales e Instructivos de Graduacin de la
Universidad, autorizo su presentacin para los nes legales consiguientes.

Cuenca a marzo 12 del 2012.

Ing. Flavio Quizhpi P.

DEDICATORIA:
Con profundo agradecimiento, dedico este trabajo a mi madre, esposa, hijos y hermanos; quienes con su apoyo incondicional y paciencia han hecho posible sta anhelada meta,
inicio de nuevas experiencias y futuros desafos.

RECONOCIMIENTO:

Mi mas sincero agradecimiento y reconocimiento al Seor


e Ing. Flavio Quizhpi maestro y amigo. Quien infundido de
ese espritu salesiano, de servicio y apoyo, hizo posible la
culminacin exitosa de este libro de tesis.

DETERMINACIN DE LOS PROTOCOLOS DE


PRUEBA EN ALTA TENSIN A SER APLICADOS EN
EQUIPOS Y MATERIALES UTILIZADOS EN NIVEL DE
HASTA 22KV.

OLMEDO PORTOCARRERO
11 de julio de 2012

ndice general
1. CARACTERSTICAS DEL LABORATORIO DE ALTA TENSIN DE
LA U P S

1.1.

Equipos del Laboratorio [1]

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

1.2.

Como Funciona . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

11

1.2.1.

11

Capacidad de Generacin de Seales . . . . . . . . . . . . . . . . . .


1.2.1.1.

Altas tensiones AC sinusoidales - 60Hz hasta de 100kVrms


y 10kVA.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

11

1.2.1.2.

Altas tensiones DC hasta de 140kV y 5kVA. . . . . . . . . .

11

1.2.1.3.

Altas tensiones impulso tipo rayo normalizadas (1.2/50us)


hasta de 120kV.

1.2.1.4.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Altas corrientes impulso tipo rayo normalizadas (8/20us)


hasta de 10kA y 8kV.

1.3.

Seguridad
1.3.1.

1.4.
1.5.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Distancias de Seguridad

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

11
12
12

1.3.1.1.

Bloqueo de Seguridad

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

12

1.3.1.2.

Esquema del Banco de Control . . . . . . . . . . . . . . . .

12

Toma de Tierra . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

15

Megger [2] . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

16

1.5.1.

Descripcin Del Megger

16

1.5.2.

Pantalla de Cristal Liquida

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

17

1.5.3.

Comprobacin de Aislamiento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

18

1.5.3.1.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Conguracin del Megger para una Comprobacin de Aislamiento

1.6.

11

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . .

19

1.5.3.2.

Comprobacin en Rampa o en Rgimen esttico

1.5.3.3.

Conguracin de la Duracin de una Comprobacin

1.5.3.4.

ndice de Polarizacin (PI)

. . . . . . . . . . . . . . . . . .

20

1.5.3.5.

ndice de Absorcin Dielctrica . . . . . . . . . . . . . . . .

20

1.5.3.6.

Capacitancia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

20

. . . .

19
19

1.5.4.

Advertencias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

20

1.5.5.

PRECAUCIN . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

20

Pruebas Posibles a ser Realizadas con este Equipo [1] [3] . . . . . . . . . . .

21

1.6.1.

Pruebas de Corriente Continua en Aislamiento Slido [3.1] . . . . . .

21

1.6.2.

Prueba de Resistencia de Aislamiento [4] . . . . . . . . . . . . . . . .

21

1.6.3.

Prueba de Alto Potencial DC. [3.2] . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

22

1.6.4.

Pruebas en Corriente Alterna para Equipos con Aislamiento Slido

22

1.6.5.

Prueba de Alto Potencial AC. [3.3] . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

22

1.6.5.1.

22

Prueba de Factor de Potencia [3.4] [6]

. . . . . . . . . . . .

2. ENSAYO DE LOS AISLADORES


2.1.

Pruebas en Corriente Continua


2.1.1.

2.2.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

23

Prueba de Resistencia de Aislamiento [4] . . . . . . . . . . . . . . . .

23

2.1.1.1.

Prueba de Corto Tiempo o Lectura Puntual [5] . . . . . . .

24

2.1.1.2.

Protocolo de Prueba de Corto tiempo

24

2.1.1.3.

Prueba de Absorcin Dielctrica DAR [7] [8]

. . . . . . .

24

2.1.1.4.

Protocolo de Prueba del Indice de Absorcin Dielctrica [9]

24

2.1.1.5.

Prueba de Tensin por Pasos [9]

25

2.1.1.6.

Protocolo de la Prueba del Mtodo de Tensin por Pasos

2.1.1.7.

Prueba de Tiempo Resistencia [5]

2.1.1.8.

Protocolo de la Prueba para el Mtodo de Tiempo Resistencia 25

. . . . . . . . . . . .

. . . . . . . . . . . . . . .
.

25

. . . . . . . . . . . . . .

25

Generacin de Impulsos de Tensin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

25

2.2.1.

Funcionamiento del Circuito . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

27

2.2.2.

Protocolo de Prueba para el Impulso Estndar de Rayo

2.2.1.1.
2.3.

23

Mtodo de Prueba Estadstico [10] [11]

. . . . . . . . . . .

27

Mediciones y Anlisis de Resultados de las Pruebas de Aislamiento . . . . .

28

2.3.1.

Datos Obtenidos de los Ensayos del Aislador 52.1 . . . . . . . . . . .

28

2.3.1.1.

Datos de la Prueba de Corto Tiempo

28

2.3.1.2.

Datos de la Prueba de ndice de Absorcin Dielctrica e

. . . . . . . . . . . .

Indice de Polarizacin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

29

2.3.1.3.

Datos de la Prueba de Tensin por Pasos

30

2.3.1.4.

Datos de la Prueba de Tiempo Resistencia

. . . . . . . . .

31

2.3.1.5.

Datos de la Prueba de Impulso . . . . . . . . . . . . . . . .

32

. . . . . . . . . .

3. ENSAYO DE INTERRUPTORES
3.1.

3.2.

Pruebas de Corriente Contina

36

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

3.1.1.

Prueba de Resistencia de Contactos

3.1.2.

Protocolo de Pruebas de Resistencia de Contactos

3.1.3.

Prueba de Velocidad de Operacin de Interruptores [12]

3.1.4.

Protocolo de Prueba de Velocidad de Operacin de Interruptores

. . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . .
. . . . . . .

36
36
37
37

. .

38

Aislamientos en Seccionadores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

39

3.2.1.

Pruebas en Seccionadores. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

39

3.2.2.

Prueba de Resistencia de Aislamiento [4] . . . . . . . . . . . . . . . .

39

3.2.2.1.

Prueba de Tiempo Resistencia [5]

40

3.2.2.2.

Protocolo de la Prueba para el Mtodo de Tiempo Resistencia 40

3.2.2.3.

Mtodo de la Prueba de Absorcin Dielctrica [7] . . . . . .

3.2.2.4.

Prueba de Tensin por Pasos [9]

3.2.2.6.

Protocolo de la Prueba del Mtodo de Tensin por Pasos

. . . . . . . . . . . . . . .

40
40
40

41

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

41

Datos Obtenidos en los Ensayos del Seccionador ST (30-60 kV)


3.3.1.1.

. . .

41

Datos de la Prueba de Absorcin Dielctrica e Indice de


Polarizacin

3.3.2.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

3.2.2.5.

Mediciones y Anlisis de Resultados


3.3.1.

. . . . . . . . . . . . . .

Protocolo de la Prueba de Absorcin Dielctrica DAR _Indice


de Polarizacin PI

3.3.

27

. . . . . . .

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

3.3.1.2.

Datos de la Prueba de Tensin por Pasos

3.3.1.3.

Datos de la Prueba de Tiempo Resistencia

Prueba de Resistencia de contactos.

41

. . . . . . . . . .

42

. . . . . . . . .

43

. . . . . . . . . . . . . . . . . .

43

4. ENSAYO DE PARARRAYOS
4.1.

Pruebas de Corriente Continua [3.1]


4.1.1.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

44

Prueba de Resistencia de Aislamiento [4] . . . . . . . . . . . . . . . .

44

4.1.1.1.

Obtencin de la Resistencia de Aislamiento . . . . . . . . .

45

4.1.1.2.

Mtodo de la Tensin por Pasos [9]

45

4.1.1.3.

Protocolo de la Prueba para el Mtodo de la Tensin por


Pasos

4.2.

44

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . .

Prueba de Absorcin Dielctrica DAR [7]

4.1.1.5.

Protocolo de la Prueba de Absorcin Dielctrica

4.1.1.6.

Prueba de Indice De Polarizacin PI [7]

4.1.1.7.

Protocolo de la Prueba de Indice de Polarizacin

4.1.1.8.

Prueba de Tiempo Resistencia [5]

4.1.1.9.

Protocolo de la Prueba para el Mtodo de Tiempo Resistencia 47

. . . . . .

46
46

. . . . .

46

. . . . . . . . . . . . . .

47

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

47

Datos Obtenido de la prueba de Absorcin Dielctrica e ndice de


4.2.1.1.

Datos de la Prueba de Tensin por Pasos

4.2.1.2.

Datos de la Prueba de Tiempo Resistencia

Pruebas en Corriente Alterna


4.3.1.

46

. . . . . . . . . .

Polarizacin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

4.3.

45

4.1.1.4.

Mediciones y Anlisis de Resultados


4.2.1.

. . . . . . . . . . . . .

. . . . . . . . . .

48

. . . . . . . . .

49

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

50

Prueba de Factor de Potencia


4.3.1.1.

47

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

50

Protocolo de la prueba de factor de potencia de aislamiento

52

I Conclusiones y Recomendaciones

53

II Anexo 1

63

III Anexo 2

66

IV ANEXO 3

71

V ANEXO 4

73

VI ANEXO 5

76

VII Test Methods for Electrical Power Insulators

79

.1.

Scope

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

82

.2.

Denitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

82

.2.1.

Insulators and Parts

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

82

.2.1.1.

Insulator. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

82

.2.1.2.

Shell.

82

.2.1.3.

Pin Insulator.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

82

.2.1.4.

Post Insulator. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

82

.2.1.5.

Cap and Pin Insulator.

.2.1.6.

Line Insulator (Pin, Post).

.2.1.7.

Apparatus Insulator (Cap and Pin, Post).

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . .

82
82
82

.2.2.

.2.3.

.2.4.

.2.1.8.

Suspension Insulator.

.2.1.9.

Strain Insulator.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

83

.2.1.10.

Spool Insulator.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

83

.2.1.11.

Wire Holder. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

83
83

.2.2.1.

Low Frequency.

83

.2.2.2.

Low-Frequency Flashover Voltage.

.2.2.3.

Low-Frequency Withstand Voltage.

.2.2.4.

Low-Frequency Puncture Voltage.

.3.2.

.3.3.

.3.4.

.3.5.

. . . . . . . . . . . . . .

83

. . . . . . . . . . . . .

83

. . . . . . . . . . . . . .

83
83

.2.3.1.

Impulse Wave.

83

.2.3.2.

Impulse Flashover Voltage.

.2.3.3.

Critical Impulse Flashover Voltage.

.2.3.4.

Impulse Withstand Voltage.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . .

83

. . . . . . . . . . . . .

83

. . . . . . . . . . . . . . . . .

83

Mechanical Strength . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

84

.2.4.1.

84

Ultimate Mechanical Strength.

. . . . . . . . . . . . . . .

Combined Mechanical and Electrical Strength (Suspension


. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

.2.4.3.

Time-Load Withstand Strength.

.2.4.4.

Mechanical-Impact Strength.

84

. . . . . . . . . . . . . . .

84

. . . . . . . . . . . . . . . .

84

Miscellaneous . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

84

.2.5.1.

84

Radio-Inuence Voltage.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Test-Specimen Mounting for Electrical Tests


.3.1.

.4.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Impulse Voltages . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Insulator).

.3.

82

Low-Frequency Voltages . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

.2.4.2.

.2.5.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Suspension Insulators

. . . . . . . . . . . . . . . . .

84

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

84

.3.1.1.

Mounting Arrangement. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

84

.3.1.2.

Energized Electrode.

84

.3.1.3.

Proximity of Other Objects.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . .

85

Line Insulators (Pin, Post) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

85

.3.2.1.

Mounting Arrangement (Crossarm).

. . . . . . . . . . . .

85

.3.2.2.

Mounting Pin (If Required).

. . . . . . . . . . . . . . . . .

85

.3.2.3.

Energized Electrode.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

85

.3.2.4.

Proximity of Other Objects.

. . . . . . . . . . . . . . . . .

Apparatus Insulators (Cap and Pin, Post)

85

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

85

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

85

.3.3.1.

Mounting Arrangement.

.3.3.2.

Energized Electrode.

.3.3.3.

Proximity of Other Objects.

Strain insulators

. . . . . . . . . . . . . . . . .

85

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

86

.3.4.1.

Mounting Arrangement.

.3.4.2.

Proximity of Other Objects.

Spool Insulators

85

. . . . . . . . . . . . . .

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

86

. . . . . . . . . . . . . . . . .

86

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

86

.3.5.1.

Mounting Arrangement.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

.3.5.2.

Energized Electrode.

86

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

86

.3.5.3.

Proximity of Other Objects.

. . . . . . . . . . . . . . . . .

86

Electrical Tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

86

.4.1.

General.

86

.4.2.

Low-Frequency Dry Flashover Voltage Tests . . . . . . . . . . . . . .

86

.4.2.1.

Mounting Arrangement.

86

.4.2.2.

Voltage Application.

.4.2.3.

Dry Flashover Voltage Vdue.

.4.2.4.

Corrections

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

86

. . . . . . . . . . . . . . . . .

86

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

87

.4.3.

.4.4.

.4.5.

.4.6.

.4.7.

.4.8.

.4.9.

.4.10.

.4.11.

Low-Frequency Wet Flashover Voltage Tests

. . . . . . . . . . . . .

88

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

88

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

88

.4.3.1.

Mounting Arrangement.

.4.3.2.

Precipitation.

.4.3.3.

Preparation of Test Specimen.

. . . . . . . . . . . . . . . .

88

.4.3.4.

Voltage Application.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

88

.4.3.5.

Wet Flashover Voltage Value. . . . . . . . . . . . . . . . . .

88

.4.3.6.

Corrections.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Low-Frequency Dry Withstand Voltage Tests

. . . . . . . . . . . . .

88
88

.4.4.1.

Mounting Arrangement. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

88

.4.4.2.

Voltage Application. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

88

.4.4.3.

Test Voltage and Time.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

88

.4.4.4.

Corrections.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

88

Low-Frequency Wet Withstand Voltage Tests

. . . . . . . . . . . . .

89

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

89

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

89

.4.5.1.

Mounting Arrangement.

.4.5.2.

Precipitation.

.4.5.3.

Preparation of Test Specimen.

.4.5.4.

Voltage Application.

.4.5.5.

Test Voltage and Time.

.4.5.6.

Corrections.

. . . . . . . . . . . . . . . .

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

89
89

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

89

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

89

Low-Frequency Dew Withstand Voltage Tests

. . . . . . . . . . . .

89

.4.6.1.

Preparation of Test Specimen.

. . . . . . . . . . . . . . . .

89

.4.6.2.

Mounting Arrangement. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

89

.4.6.3.

Voltage Application.

.4.6.4.

Test voltage and Time.

.4.6.5.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

89

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

89

Corrections. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

89

Impulse Flashover Voltage Tests

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

89

.4.7.1.

General. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

89

.4.7.2.

Mounting Arrangement.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

90

.4.7.3.

IrnpulseVoltage Wave. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

90

.4.7.4.

Critical Impulse Flashover Voltage Value. . . . . . . . . . .

90

.4.7.5.

Volt-Time Flashover Cuives.

90

.4.7.6.

Corrections.

. . . . . . . . . . . . . . . . .

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Impulse Withstand Voltage Tests

90

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

90

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

90

.4.8.1.

General.

.4.8.2.

Mounting Arrangement.

.4.8.3.

Corrections.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

90

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

90

Radio-Inuence Voltage Tests

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

90

.4.9.1.

Mounting Arrangement. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

90

.4.9.2.

Equipment.

91

.4.9.3.

Atmospheric Conditions.

.4.9.4.

Precautions in Making Radio-Inuence Voltage Tests.

. . .

91

.4.9.5.

Methods of Making Tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

91

Visual CoronaTest

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

91

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

91

.4.10.1.

General. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

91

.4.10.2.

Mounting Arrangement.

.4.10.3.

Procedure.

Puncture Tests

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

92

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

92

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

92

.4.11.1.

Mounting Arrangement.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

92

.4.11.2.

Voltage Application. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

92

.4.11.3.

Percent Average Variation of Puncture Volt age.

92

. . . . . .

.5.

Mechanical Tests
.5.1.

.5.2.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Ultimate Mechanical-Strength Tests

. . . . . . . . . . . . . . . . . .

92

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

92

.5.1.1.

General.

.5.1.2.

Suspension Insulators

.5.1.3.

Line Insulators (Pin, Post) (Cantilever Strength).

.5.1.4.

Apparatus Insulators (Cap and Pin, Post)

.5.1.5.

Strain Insulators (Tensile Strength).

.5.1.6.

Spool Insulators (Transverse Strength).

.5.1.7.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

.5.4.

.5.5.

.5.6.

93

. . . . .

93

. . . . . . . . .

93

. . . . . . . . . . . .

93

. . . . . . . . . . .

94

Wire Holders . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

94

Combined Mechanical- and Electrical-Strength Test (Suspension.Insulators).


. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

.5.3.

92

Time-Load-WithstandStrengthT est
.5.3.1.

Mounting Arrangement.

.5.3.2.

Loading.

94

. . . . . . . . . . . . . . . . . .

94

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

94

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

94

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

94

.5.4.1.

Preparation of Test Specimens. . . . . . . . . . . . . . . . .

94

.5.4.2.

Testing Solution.

.5.4.3.

Procedure.

.5.4.4.

Interpretation of Results.

Porosiy Test

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

94

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

95

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

95

Thermal Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

95

.5.5.1.

Cenerai.

95

.5.5.2.

Testing Arrangement.

.5.5.3.

Equipment.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

95

.5.5.4.

Method of Making Test. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

95

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Pinhole-Gaging Test

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

95

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

95

.5.6.1.

General. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

95

.5.6.2.

Test Procedure.

95

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

.6.

Galvanizing Test. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

95

.7.

Routine Tests

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

95

Electrical Tests. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

95

.7.1.1.

High-Frequency Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

96

.7.1.2.

Low-Frequency Test.

.7.1.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

96

Mechanical Tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

96

.7.2.1.

Suspension Insulators. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

96

.7.2.2.

Apparatus Insulators.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

96

Revision of American National Standards Referred to in This Document . .

96

.7.2.

.8.

ndice de guras
1.0.1.Laboratorio de Alta Tensin UPS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.3.1.Circuitos de Control

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

9
14

1.3.2.Circuitos Principales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

15

1.5.1.Descripcin del Megger . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

16

1.5.2.Descripcin de los Botones . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

17

1.5.3.Funciones de la Pantalla . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

18

2.2.1.Caractersticas de los Parmetros de la Norma de Tensiones de Pruebas de


. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

26

2.2.2.Circuitos Bsicos de Impulso de Tensin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Impulso

27

2.2.3.Montaje experimental para la generacin de impulso tipo rayo . . . . . . . .

28

2.3.1.Aislador de Suspensin 52.1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

28

2.3.2.Tendencia de la Resistencias del Aislador 52.1 - Prueba Tensin por Pasos .

30

2.3.3.Aislador 52.1 Curva Tiempo Resistencia

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

31

2.3.4.Aproximacin Lineal y(U) y Probabilidad Relativa P(U): Impulso Positivo .

33

2.3.5.Densidad de Prob., Prob. Acumulativa: Impulso Positivo . . . . . . . . . . .

33

2.3.6.Aproximacin Lineal y(U) y Probabilidad Relativa P(U): Impulso Negativo

34

2.3.7.Densidad. de Prob., Prob. Acumulativa: Impulso Negativo . . . . . . . . . .

35

3.1.1.Circuito de medicin de resistencia de contactos . . . . . . . . . . . . . . . .

37

3.1.2.Interruptor en posicin de ensayo utilizando un Impulso grafo . . . . . . . .

38

3.1.3.Cortacircuitos de 15kV 100 A

39

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

3.3.1.Tendencia de la Resistencia del Seccionador ST 22 kV

. . . . . . . . . . . .

42

3.3.2.Seccionador ST Curva Tiempo Resistencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

43

4.1.1.a) Uso Del Terminal de Guarda.- gura tomada de The Lowdown on High
Voltage DC Testing

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

46

4.2.1.Pararrayos Clase y Norma . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

47

4.2.2.Tendencia de la Resistencia de el Pararrayos 18 kV

. . . . . . . . . . . . . .

49

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

50

4.2.3.Pararrayos Curva Tiempo Resistencia


4.3.1.Modelo paralelo de aislamiento

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

51

.0.2. Corrientes en un Dielctrico ante un Campo Elctrico DC. . . . . . . . . . .

64

.0.3. Descripcin del Pararrayos de 18 kV-15.3 kV MCOV

74

. . . . . . . . . . . . .

.0.4. Caractersticas Elctricas del Pararrayos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

75

.4.1. Low-Frequency Humidity Correction Factors . . . . . . . . . . . . . . . . . .

88

.4.2. Impulse Humidify Correction Factors . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

91

ndice de cuadros
1.1.1.Componentes Modulares del Laboratorio de Alta Tensin

. . . . . . . . . .

10

1.5.1.Descripcin de las funciones de la Pantalla . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

18

2.1.1.Resistencia de Aislamiento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

23

2.1.2.Valores de Referencia para los Indices DAR

24

. . . . . . . . . . . . . . . . . .

2.3.1.Mediciones de Resist. Volumtrica y Supercial del Aislador 52.1

. . . . . .

29

2.3.2.Resultados de la Prueba DAR del Aislador 52.1 . . . . . . . . . . . . . . .

29

2.3.3.Resultado de la Prueba de Tensin por Pasos

. . . . . . . . . . . . . . . . .

2.3.4.Aislador 52.1 Datos de Prueba Tiempo Resistencia


2.3.5.Datos Prueba de Impulso Positivo

30

. . . . . . . . . . . . . .

31

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

32

2.3.6.Regresin por Mnimos Cuadrados: Impulso Positivo

. . . . . . . . . . . . .

32

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

34

2.3.8.Regresin por Mnimos Cuadrados: Impulso Negativo . . . . . . . . . . . . .

34

2.3.9.Valores Caractersticos de las Curvas de Densidad de Probabilidad

35

2.3.7.Datos a Impulso Negativo

3.1.1.Resistencia de Contactos para Interruptores de Potencia

. . . . .

. . . . . . . . . . .

37

3.2.1.Valores de referencia para los indices DAR e PI . . . . . . . . . . . . . . . .

40

3.3.1.Datos de Prueba de Absorcin Dielctrica e ndice de Polarizacin del Seccionador ST Brasil 2002

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

3.3.2.Seccionador ST.- Prueba de Tensin por Pasos

41

. . . . . . . . . . . . . . . .

42

3.3.3.Seccionador ST Datos de Prueba Tiempo Resistencia . . . . . . . . . . . . .

43

4.2.1.Datos de Prueba de ndice de Absorcin Dielctrica e ndice de Polarizacin

48

4.2.2.Pararrayos 18 kV_15.3 MCOV Prueba de Tensin por Pasos . . . . . . . . .

48

4.2.3.Pararrayos Datos de Prueba Tiempo Resistencia

. . . . . . . . . . . . . . .

49

4.3.1.Voltajes de Prueba de Pararrayos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

51

4.3.2.Aislador 52.1 Calicacin del Aislamiento Indice DAR y PI

. . . . . . . . .

56

. . . . . . . . . .

58

4.3.3.Seccionador Calicacin del Aislamiento Indice DAR y PI

4.3.4.Pararrayos Calicacin del Aislamiento Indice DAR y PI . . . . . . . . . . .

59

4.3.5.Relacin.a Resistencias y Corrientes de Fuga . . . . . . . . . . . . . . . . . .

60

.0.6. Modelo de Tabla para Tabular las Disrupciones . . . . . . . . . . . . . . . .

67

.0.7. Modelo de Tabla para Tabular Datos de Probabilidad

. . . . . . . . . . . .

.0.8. Valores Referencia-les de la Prueba Descarga Dielctrica

. . . . . . . . . . .

68
70

.0.9. Hoja de Datos del Aislador 52.1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

72

.0.10.Referencias Especicas - Normas de Ensayos . . . . . . . . . . . . . . . . . .

77

.0.11.Normas de Prueba de Contorneo

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

77

.5.1. Rate of Increase of Load . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

93

Captulo 1

CARACTERSTICAS DEL
LABORATORIO DE ALTA
TENSIN DE LA U P S
El laboratorio de Alta tensin de la Universidad Politcnica Salesiana es tipo
modular. Posee un generador clase Marx, que probablemente es la forma ms
comn de generar altas tensiones DC y AC, cuando el voltaje requerido es mayor a la tensin disponible de alimentacin del sistema. Un generador de Marx
es un tipo de circuito elctrico cuyo objetivo es generar un pulso de voltaje
alto. Lo que hace este generador, primero es usar un Transformador  elevador
de voltaje a la entrada comn de 220VAC, luego sta es recticada a travs de
un diodo de alta corriente, y como va a ser un recticador de media onda (un
semiciclo de la componente AC) va a cargar/descargar a los Capacitores del
circuito, que es una red de resistores y capacitores, conformando una red RC,
aunque tambin se puede usar una red LC (Bobinas y Capacitores), pero hay
un manejo de mayor corriente que podra ser peligrosa, ya suciente tenemos
con el alto voltaje, como recomendacin, solamente uno de ellos debera ser
tan grande como queramos, no ambas.

1.1. Equipos del Laboratorio [1]


Los componentes del laboratorio se encuentran debidamente identicados por un nmero de parte  cdigo alfanumrico , un smbolo de elemento y valores de componente,
que hace posible el uso adecuados de los mismos dentro de una conguracin de circuito

Figura 1.0.1: Laboratorio de Alta Tensin UPS

requerida, referido al cuadro 1.1.1


DESCRIPCIN DEL COMPONENTE

TERCO TIPO NO

Mesa de control

HV9103

HV prueba de transformador

HV9105

Conector exible HV

HV9106

Varilla de tierra

HV9107

Barra de conexin

HV9108

Conector de copa

HV9109

Pedestal de piso

HV9110

Recticador

HV9111

Capacitor de Alisamiento

HV9112

Resistencia de medicin

HV9113

Interruptor de tierra

HV9114

Espaciador

HV9118

Barra espaciadora

HV9119

Capacitor de descarga

HV9120

Resistencia de carga

HV9121

Resistor de frente de onda

HV9122

Resistor wavetail

HV9123

Barra de aislamiento

HV9124

Esfera gap (Explosor)

HV9125

Unidad para la esfera gap

HV9126

Resistencia de carga 10 M ohms

HV9127

Divisor de baja tensin

HV9130

Unidad de disparo

HV9131

Esfera de disparo

HV9132

Esfera de descarga con medicin de distancia y ajuste motorizada

HV9133

Recipiente de presin y vaco

HV9134

Corona Cage

HV9135

Recipiente para pruebas de aceite

HV9136

Taza para prueba de aceite

HV9137

Electrodo

HV9138

Condensador de medicin

HV9141

Condensador de gas comprimido

HV9144

Condensador de acoplamiento

HV9146

Voltmetro para AC pico

HV9150

Voltmetro DC

HV9151

Voltmetro de impulso mximo

HV9152

Descargas parciales metro

HV9153

Cuadro 1.1.1: Componentes Modulares del Laboratorio de Alta Tensin

10

1.2. Como Funciona


La manera de obtener alta tensin es mediante un arreglo serie paralelo de condensadores y resistencias que forman los conocidos circuitos multiplicadores de tensin. Los
condensadores actan como los acumuladores de carga y en ellos vamos a establecer las
tensiones necesarias para la experimentacin, en tanto que las resistencias actan como
los elementos atenuadores en la carga y descarga de la tensin acumulada. Los circuitos
multiplicadores pueden estar conformados por diferentes etapas dependiendo de la tensin
que se desee obtener. El tiempo requerido para la carga y descarga de los condensadores
acumuladores depende esencialmente del valor de las resistencias y de la capacidad de los
condensadores que en denitiva son los que establecen las constantes de tiempo RC. As
por ejemplo, para un generador de impulsos de rayo, con una tensin de fase de 100 kV, y
una tensin de salida deseada de 1 MV (es decir, 10 etapas), las resistencias de carga debe
ser de 20 a 40 k Ohm (que corresponde a un arco de corriente continua de 5 a 10 amperios).
Si los condensadores eran de 1 uf, entonces el tiempo de descarga constante sera de 20
milsimas de segundo, mucho, mucho ms largo que la constante de tiempo de 50 micro
segundos de un impulso de prueba estndar. Este generador de ejemplo tendra una energa
almacenada de 5 kJ / por etapa o de 50 kJ para el sistema total. La energa que se disipa
por la resistencia de carga ser igual a la energa almacenada en los condensadores.

1.2.1. Capacidad de Generacin de Seales


En este momento el laboratorio con el sistema modular que cuenta est en capacidad
de generar las siguientes seales; que nos permitir realizar ensayos en aislamientos slidos,
lquidos y otros tipos de aislamientos.

1.2.1.1.

Altas tensiones AC sinusoidales - 60Hz hasta de 100kVrms y 10kVA.

Ensayos:

a. Prueba de Alto Potencial AC.


b. Prueba de Factor de Potencia
c. Prueba de Anlisis de Respuesta en Frecuencia.
1.2.1.2.

Altas tensiones DC hasta de 140kV y 5kVA.

Ensayos:

a. Prueba de Resistencia de Aislamiento


b. Prueba de Alto Potencial DC
c. Prueba de Absorcin Dielctrica d. Prueba de Voltaje por Pasos
1.2.1.3.

Altas tensiones impulso tipo rayo normalizadas (1.2/50us) hasta de


120kV.

1.2.1.4.

Altas corrientes impulso tipo rayo normalizadas (8/20us) hasta de


10kA y 8kV.

Ensayos:

a. Impulso Estndar de Rayo.


b. Impulso Estndar de Interrupcin

11

1.3. Seguridad
Todas las instalaciones de alta tensin estn protegidas contra la entrada involuntaria
en la zona de peligro.

1.3.1. Distancias de Seguridad


En el establecimiento las distancias para tensiones de hasta 1 MV, son los siguientes:
Para tensiones alterna y tensiones continuas. 50 cm por cada 100 kV.
Para tensiones de impulso. 20 cm por cada 100 kV.
Un espacio mnimo de 50 cm se observa, independiente del valor y el tipo de voltaje. Est
prohibido introducir objetos conductores a travs de la cerca mientras que la instalacin
este en uso.

1.3.1.1.

Bloqueo de Seguridad

En las instalaciones de alta tensin cada puerta posee interruptores de seguridad, los
cuales permiten la apertura de la puerta slo cuando todos los conductores principales de
la instalacin se interrumpieron. En lugar de una interrupcin directa, el interruptor de
seguridad tambin puede operar sobre el rel de falta de tensin, en lugar de un interruptor
de circuito de potencia, que, al abrir la puerta, interrumpe todos los cables principales de la
instalacin. Estos interruptores de potencia tambin puede ser conectada de nuevo cuando
la puerta est cerrada.
En las instalaciones de alta tensin cada puerta posee interruptores de seguridad, los
cuales permiten la apertura de la puerta slo cuando todos los conductores principales de
la instalacin se interrumpieron. En lugar de una interrupcin directa, el interruptor de
seguridad tambin puede operar sobre el rel de falta de tensin, en lugar de un interruptor
de circuito de potencia, que, al abrir la puerta, interrumpe todos los cables principales de la
instalacin. Estos interruptores de potencia tambin puede ser conectada de nuevo cuando
la puerta est cerrada.
La condicin de la conmutacin de una instalacin debe ser indicada por un cambio
de conguracin de la lmpara roja encendida  y por un programa de instalacin de la
lmpara verde apagada .
Si la cerca se abre para el montaje y desmontaje de la instalacin, o para efectuar
modicaciones en gran escala, todas las precauciones descritas a un lado u otro de la
entrada a la instalacin deben ser observadas. Aqu se debe prestar especial atencin a la
interrupcin segura de los cables principales, al interruptor de aislamiento u otros puntos de
desconexin sobre la mesa de control de la instalacin en cuestin, que aparecen advirtiendo
juntas la inscripcin "No encienda! Peligro! .

1.3.1.2.

Esquema del Banco de Control

El circuito completo de la mesa de control contempla:


Circuitos de Control
Circuitos Principales

12

Circuitos de Control

Entre estos tenemos:

Circuitos de seguridad que garantizan un funcionamiento libre de accidentes. No


obstante esta garanta esta completa si solo y solo si el experimentador observa
adicional-mente las normas de seguridad del laboratorio; y son:
1. Botn de apagado emergente S 5 (Emergency o ) que tiene por funcin interrumpir
el suministro de energa que alimenta a las bobinas de los contactores F1 y que
controlan los circuitos de potencia.
2. El conmutador de contacto de la puerta S 16. De funcin similar al botn de apagado
de emergencia.
Circuitos de control. Entre los que tenemos:
1. Botones de activacin del primario y del secundario del transformador.
2. Y el botn de cierre Un Locking.
Circuito de encendido, activado por la llave de operacin, el conmutador S6 (key
operated switch).
La gura 1.3.1 ejemplica con claridad estos circuitos y su funcin.

Circuitos Principales

Hay que aclarar que todos los circuitos son de mucha importancia

y que el nombre que lleva este en particular, se debe a que con ellos se establece las tensiones
de experimentacin. Estos son:
Circuito de alimentacin 220 V - 240 V, 50 Hz - 60 Hz.
EL circuito Variac 5.5 kVA. Es un transformador de espiras variables que tiene por
funcin regular la tensin de manera controlada.
EL circuito de encendido principal (Main Swich) pone a trabajar los circuitos de
medicin (voltmetro y ampermetro).
El circuito de control de seal 24 V. Controla la salida del regulador de voltaje
Circuito de medicin de tensin y corriente primaria.
Estos se muestran en la gura 1.3.2

13

Figura 1.3.1: Circuitos de Control

14

Figura 1.3.2: Circuitos Principales

1.4. Toma de Tierra


A una instalacin de alta tensin se puede entrar slo cuando todas las piezas que
puedan asumirse de alta tensin estn en la zona de contacto de toma de tierra. La puesta
a tierra slo se puede efectuar por el conductor a tierra dentro de la cerca. La jacin de

15

los cables de puesta a tierra en las piezas a tierra se debe hacer con la ayuda de barras de
aislamiento. Puestas a tierra del interruptor con una posicin de funcionamiento claramente
visible, tambin son permitidos. En las conguraciones de alta potencia con suministro
directo de la red de alto voltaje, la puesta a tierra se consigue mediante aisladores de
puesta a tierra. Puesta a tierra slo puede hacer despus de la desconexin de la fuente
de corriente, y slo podrn ser removidos cuando no hay nadie ms presente dentro de la
cerca o si la conguracin esta bacante despus de la retirada de la tierra. Todos las partes
metlicas de la instalacin que no tienen potencial durante el servicio normal deben estar
conectadas a tierra de manera able y con una seccin transversal adecuada de 1,5 mm 2
de conductor de Cu.
En las conguraciones de prueba con suministro directo de la red de alta tensin,
las conexiones de tierra deben hacerse con las consideraciones particulares de las fuerzas
dinmicas que pueden surgir.

1.5. Megger [2]


El megger equipo indispensable en un laboratorio de alta tensin, es esencialmente
un medidor de alto rango (hmetro). Que por sus caractersticas de generacin de altas
tensiones DC, y sosticado diseo nos permite determinar de manera directa Capacitancias,
Resistencias de Aislamiento, Indice de Polarizacin Dielctrica y el Indice de Absorcin
Dielctrica.

1.5.1. Descripcin Del Megger


A continuacin presentamos una descripcin grca.

Figura 1.5.1: Descripcin del Megger

16

Figura 1.5.2: Descripcin de los Botones

Adems,

tambin se utilizan para acceder a los siguientes elementos del men:

1.X Insulation Functions (Funciones de aislamiento):


1.1 Ramp o (Rampa desactivada; opcin predeterminada)
1.2 Ramp on (Rampa activada)
1.3 DAR T= 01-00
1.4 DAR/PI T= 10-00
2 Time limit xx-xx (Lmite de tiempo xx-xx)
3 Show results (Mostrar resultados)
4 Delete results (Eliminar resultados)
Pulse

para seleccionar.

1.5.2. Pantalla de Cristal Liquida


En la siguiente gura 1.5.3 se observa las funciones elegibles para la realizacin de las
distintas pruebas, los iconos de alerta para que el usuario tome la precauciones debidas
durante la experimentacin, etc. El cuadro 1.5.1 relacionado con este grco describe cada
uno de sus partes.

17

Figura 1.5.3: Funciones de la Pantalla

Cuadro 1.5.1: Descripcin de las funciones de la Pantalla

1.5.3. Comprobacin de Aislamiento


Varias son las funciones que adaptan la comprobacin a sus requisitos.
Esta funciones permiten:
Denir una tensin de prueba
Realizar una seleccin de comprobacin en rampa
Establecer un lmite de tiempo (duracin) para la comprobacin

18

Medir el ndice de polarizacin (PI)


Medir el ndice de absorcin dielctrica (DAR)
Medir la capacitancia

1.5.3.1.

Conguracin del Megger para una Comprobacin de Aislamiento

1. Con el Comprobador encendido, congure las opciones de medicin disponibles adecundolas a los requisitos de su comprobacin. Entre estas opciones se incluyen:
Tensin de prueba: puede establecer un rango entre 250 V y 10.000 V(en incrementos
de 50 V/100 V).
Comprobacin en rampa: puede activarla o desactivarla.
Lmite de tiempo: sin lmite, o de 1 a 99 minutos.
2. Conecte las sondas al circuito de corriente que se va a comprobar.

3. Pulse durante 1 segundo para comenzara la comprobacin del aislamiento.


4. Cuando se naliza la comprobacin, en la pantalla aparece STORE RESULT? (Almacenar resultado?). Si procede, memorice los resultados

1.5.3.2.

Comprobacin en Rampa o en Rgimen esttico

La funcin de comprobacin Ramp (Rampa) es una comprobacin automatizada que


comprueba el aislamiento ante posibles rupturas elctricas.
Durante una comprobacin en rampa, la tensin de salida comienza en 0 V y aumenta
lineal mente (100 V/s) hasta alcanzar la tensin de prueba especicada o hasta que se
detecte una disminucin repentina de la resistencia medida. A continuacin, se detiene
la comprobacin Ramp (Rampa), la tensin de prueba disminuye hasta cero y la tensin
del punto de ruptura elctrica se guarda en la memoria del Comprobador. El resto de
resultados de la comprobacin se considerarn no vlidos si la comprobacin no alcanza
la tensin de prueba especicada. Si la comprobacin cumple satisfactoriamente con las
normas requeridas sin que se produzca una ruptura elctrica, los nicos resultados vlidos
de la prueba sern la tensin de prueba y la resistencia del aislamiento.

1.5.3.3.

Conguracin de la Duracin de una Comprobacin

Se puede controlar la duracin de una comprobacin del aislamiento mediante la conguracin de un temporizador. El tiempo (duracin de la comprobacin) se puede establecer
en incrementos de 1 minuto hasta un mximo de 99 minutos.
Durante una comprobacin de duracin especca, el lmite de tiempo aparece en la
esquina inferior derecha de la pantalla y el tiempo transcurrido se muestra en el medio de
la pantalla. Una vez transcurrido el tiempo especicado, la comprobacin del aislamiento
se habr completado y la comprobacin habr nalizado.

19

1.5.3.4.

ndice de Polarizacin (PI)

Como parte de la comprobacin del aislamiento, el Comprobador mide y memoriza el


ndice de polarizacin, si procede. Una comprobacin del ndice de polarizacin tarda en
realizarse 10 minutos. Por lo tanto, el Comprobador comenzar la cuenta atrs cuando
queden 10 minutos. Cuando una comprobacin del aislamiento lleva 10 minutos o ms,
la comprobacin del ndice de polarizacin se naliza y memoriza. El campo en pantalla
gura como PI=.

PI =
1.5.3.5.

R 10 minutos
R 1 minuto

(1.5.1)

ndice de Absorcin Dielctrica

Como parte de una comprobacin del aislamiento, el Comprobador mide y memoriza


el ndice de absorcin dielctrica (DAR), si procede. Una comprobacin del DAR tarda 1
minuto en completarse. Por lo tanto, el valor medido y memorizado ser no ser vlido
en todas aquellas comprobaciones del aislamiento con una duracin inferior a 1 minuto.
Cuando una comprobacin del aislamiento dura 1 minuto o ms, la comprobacin del DAR
se incluye en los resultados. El campo en pantalla gura como DAR=.

DAR =
1.5.3.6.

R 1 minuto
R 30 seg

(1.5.2)

Capacitancia

Como parte de la comprobacin del aislamiento, el Comprobador mide y memoriza la


capacitancia, si procede. El campo en pantalla gura como C=.

1.5.4.

Advertencias

Antes y despus de efectuar comprobaciones, conrme que el Comprobador no indica


la presencia de tensiones peligrosas. Si el Comprobador emite un sonido de forma
continua y la pantalla muestra una tensin peligrosa, desconecte los conductores de
comprobacin y la alimentacin del circuito de corriente que se va a comprobar.
Desconecte todas las fuentes de alimentacin del circuito de corriente que se va a
comprobar y descargue la capacitancia de dicho circuito antes de utilizar el Comprobador.
Conecte el conductor de comprobacin comn antes que el conductor de comprobacin con corriente, y retire ste ltimo antes que el conductor de comprobacin
comn.

1.5.5. PRECAUCIN
Nunca conecte un probador de aislamiento MEGGER a lneas o equipo energizados.
Nunca utilice el probador o cualquiera de sus cables o accesorios para ningn otro propsito
Los aparatos bajo prueba no deben estar vivos!
No utilice el instrumento en una atmsfera explosiva

20

1.6. Pruebas Posibles a ser Realizadas con este Equipo [1] [3]
Conductores, transformadores, aisladores, pararrayos, seccionadores, etc. son elementos
muy importantes en un esquema de transmisin distribucin y proteccin dentro de un
Sistema Elctrico de Potencia.
La correcta seleccin y dimensionamiento de estos elementos, entre otros, que conformen la red elctrica; y dentro del mbito de sus especicaciones, determina el grado
de conabilidad del sistema. Con el paso del tiempo, las condiciones medio ambientales
y de operacin, cambian las caractersticas constructivas de estos, lo que causa daos o
deterioros importantes en el resto de elementos que conforman la red.
El conocimiento del estado de las caractersticas electro mecnicas, de los equipos,
permiten a tcnicos e ingenieros tomar decisiones sobre su mantenimiento, reparacin o
remplazo.
Los parmetros o caractersticas elctricas de los equipos, elementos o aparatos que se
utilizan en las redes de energa elctricas, se determinan bsicamente mediante ensayos de
laboratorio que mencionaremos a continuacin. Estos ensayos se realizan bajo normas de
aceptacin nacional o internacional:
Pruebas en Corriente Continua en Aislamiento solido
Pruebas en Corriente Alterna para Equipos con aislamiento Solido

1.6.1. Pruebas de Corriente Continua en Aislamiento Slido [3.1]


Los aislamientos slidos son materiales utilizados en varios niveles de voltajes, que
proveen un alto nivel de aislamiento y una capacidad importante de disipacin de calor. Se
comportan como materiales dielctricos que previenen el ujo de electricidad entre puntos
de diferente potencial. Se han utilizado para este propsito resinas epxicas, porcelana,
vidrio y polmeros base EPR, silicona o elastmeros termoplsticos.
Dos tipos de prueba en DC pueden ser conducidas en aislamiento slido:
Prueba de Resistencia de Aislamiento
Prueba de Alto Potencial DC

1.6.2. Prueba de Resistencia de Aislamiento [4]


Esta prueba se conduce con equipos que aplican voltajes entre 100 y 15000 voltios para
algunos fabricantes y hasta 200000 voltios para otros fabricantes. El equipo empleado es
un medidor de alta resistencia (en el rango de Mega Ohmios) cuyo propsito es establecer
la resistencia de aislamiento.
La calidad del aislamiento es evaluada segn el valor obtenido. La resistencia de aislamiento tambin depende de factores externos al sujeto bajo evaluacin estos pueden ser la
temperatura, humedad y otros factores ambientales.
El resultado de esta prueba tiene mayor poder predictivo si se compara con resultados
de un registro histrico de pruebas efectuadas. De esta forma, se puede vericar la tendencia
del nivel de aislamiento.
Un valor puntual de la resistencia de aislamiento pudiera ser insuciente para indicar la
fortaleza o debilidad del aislamiento. Un valor bajo en la resistencia de aislamiento pudiera
indicar contaminacin o la existencia de un problema que pudiera causar daos a corto
plazo.

21

1.6.3. Prueba de Alto Potencial DC. [3.2]


La prueba tiene como objeto vericar la rigidez dielctrica de un material aislante.
La rigidez dielctrica de un material aislante se dene como el mximo gradiente de
potencial que un material puede soportar sin que exista perforacin o canales de conduccin
en el mismo. Esta es calculada a partir de los voltajes de ruptura y del espesor del aislante
en el punto de ruptura o en un punto cercano a l.
La rigidez dielctrica se expresa normalmente en trminos de gradiente de voltaje en
unidades tales como voltios por milmetros o Kilo voltios por centmetros. La rigidez dielctrica de un sistema aislante determina el nivel de voltaje al cual el equipo puede operar.
Tambin determina cuanto sobre voltaje continuo o instantneo puede soportar.

1.6.4. Pruebas en Corriente Alterna para Equipos con Aislamiento Slido


Bsicamente existen dos tipos de pruebas en corriente alterna para equipos con aislamiento slido.

1.6.5. Prueba de Alto Potencial AC. [3.3]


Se realizan con voltajes superiores a los de operacin normal por un tiempo relativamente corto, alrededor de un minuto. El nivel de voltaje utilizado debe estar acorde con
lo recomendado por el fabricante y lo indicado por las normas correspondientes. Generalmente estos valores se encuentran alrededor del 75 % del voltaje de prueba de fbrica para
pruebas de aceptacin y entre el 125 % y el 150 % del voltaje nominal para pruebas de
mantenimiento por un perodo de 1 minuto.
Las conexiones de prueba son iguales a las recomendadas para pruebas de alto potencial
DC con la salvedad de que no se requiere la descarga de los equipos.

1.6.5.1.

Prueba de Factor de Potencia [3.4] [6]

Es una prueba importante para determinar la calidad del aislamiento en todo tipo de
equipo elctrico. En el caso de aislamiento slido, se recomienda utilizar un nivel de voltaje
similar al valor de voltaje nominal del equipo.
En secciones posteriores, se describir en detalle el principio terico de esta prueba, el
resultado de la misma no puede ser considerado como concluyente por s mismo, siempre
debe compararse con resultados anteriores con valores referidos al mismo nivel de voltaje
y a 20 grados centgrados.

22

Captulo 2

ENSAYO DE LOS AISLADORES


2.1. Pruebas en Corriente Continua
La informacin obtenida de estas pruebas indicar la necesidad de mantenimiento correctivo, reemplazo del equipo bajo prueba o la conrmacin de que el equipo puede ser
energizado sabiendo que la posibilidad de falla durante la puesta en servicio, ser mnima.

2.1.1. Prueba de Resistencia de Aislamiento [4]


El voltaje aplicado en una prueba de aislamiento depende de la tensin nominal del
equipo a ensayar como referencia se puede aplicar un voltaje segn lo indicado en la cuadro
2.1.1, por un perodo entre 30 y 60 segundos, luego se mide la resistencia de aislamiento.
El resultado de esta prueba tiene mayor validez si es comparado con valores histricos,
obtenidos de pruebas anteriores. Todos los valores deben estar referidos a 20 centgrados.

Voltaje Nominal [V]

Voltaje Recomendado
De Prueba DC

Mnimo Valor De
Resistencia De
Aislamiento [M]

250

500

25

600

1000

100

1000

1000

100

2500

1000

500

5000

2500

1000

8000

2500

2000

15000

2500

5000

25000

5000

20000

35000

1500

100000

46000

15000

10000

Mayor a 69000

15000

10000

Cuadro 2.1.1: Resistencia de Aislamiento

23

2.1.1.1.

Prueba de Corto Tiempo o Lectura Puntual [5]

Es una prueba DC que inyecta energa por un lapso de 30 a 60 segundos al aislador.


El valor de la prueba tiene mayor valides si se lo contrasta con registros histricos. [ver

Mtodos de Prueba (Ensayos Elctricos)


2.1.1.2.

Protocolo de Prueba de Corto tiempo

Limpiar la supercie de aislador para eliminar contaminantes o humedad de ella.


Armar el circuito de ensayo en el laboratorio (MEGGER).
Seleccionar una tensin de ensayo (10 kV)
Seleccionar la funcin de prueba Ramp.
Seleccionar el tiempo de duracin de la prueba (2 min)
Aplicar las tensiones de ensayo durante el ultimo minuto del tiempo seleccionado.
Registrar la resistencia.
Analice el resultado comparando con el valor esperado

2.1.1.3.

Prueba de Absorcin Dielctrica DAR [7] [8]

La prueba de absorcin dielctrica se conduce al nivel de tensin nominal del equipo.


El resultado de esta prueba consiste en realizar el cociente del valor de resistencia de
aislamiento tomada a los 60 segundos y el valor de resistencia de aislamiento tomada a los
30 segundos.
La prueba mide la calidad del aislamiento. Si el aislamiento se encuentra en buenas
condiciones el valor de la resistencia de aislamiento se incrementa a medida que transcurre
el tiempo. [ ver

2.1.1.4.

Mtodos de Prueba (Ensayos Elctricos)

Protocolo de Prueba del Indice de Absorcin Dielctrica [9]

Limpiar la supercie de aislador para eliminar contaminantes o humedad de ella.


Armar el circuito de ensayo en el laboratorio (MEGGER).
Seleccionar una tensin de ensayo (10 kV)
Seleccionar la funcin de prueba DAR
Contraste el resultado con la tabla.

Condicin Del Aislamiento

Relacin 60/30 Segundos

Peligroso

Dudoso

1,0 a1,25

Bueno

1,4 a1,6

Excelente

Arriba de 1,6

Cuadro 2.1.2: Valores de Referencia para los Indices DAR

24

2.1.1.5.

Prueba de Tensin por Pasos [9]

Esta prueba se realiza con un tiempo de aplicacin de tensin de 60 segundos [ver

Mtodos de Prueba (Ensayos Elctricos)


2.1.1.6.

Protocolo de la Prueba del Mtodo de Tensin por Pasos

Limpiar la supercie del aislador para liberarlo de cualquier contaminante que pueda
inuir en el resultado
Armar el circuito de ensayo en el laboratorio (MEGGER).
Seleccionar una tensin de ensayo (3 kV, 6 KV, 9 kV)
Seleccionar el tiempo de duracin de la prueba (2 min, 3 min, 3 min)
Aplicar las tensiones de ensayo, en pasos de igual duracin (60 segundos).
Tabular en un cuadro las resistencias obtenidas a las tensiones aplicadas.
Gracar la curva de ajuste de los puntos de resistencia contra tensin.

2.1.1.7.

Prueba de Tiempo Resistencia [5]

La prueba se realiza a tensin constante. Se basa en el efecto de absorcin dielctrica del


aislador. En un buen aislador aumenta la tensn conforme pasa el tiempo hasta alcanzar
un valor estable

2.1.1.8.

Protocolo de la Prueba para el Mtodo de Tiempo Resistencia

Eliminar todo residuo o contaminante de la supercie aislante del aislador


Armar el circuito de ensayo en el laboratorio (MEGGER).
Aplicar la tensin y en el primer minuto hacer 4 lecturas espaciadas igualmente en
el tiempo (15, 39, 45 y 60 segundos), luego una lectura cada minuto, hasta el minuto
5; en el minuto 10 se toma una lectura nal.
Tabular las lecturas obtenidas de 0 a los 5 minutos y a los 10 minutos
Des-energizar el circuito armado para el ensayo
Ajustar los puntos de resistencia contra tensin.

2.2. Generacin de Impulsos de Tensin


Dos son los aspectos de uso comn para caracterizar el aislamiento de los aparatos de
energa estas son Nivel bsico de aislamiento para impulso de rayo y Nivel bsico para
impulso de interrupcin; estas se denen en funcin de ondas especcas y son:
1. IMPULSO ESTNDAR DE RAYO. Un impulso completo que tiene un tiempo frontal de 1.2

y un tiempo a valor medio de 50

s.

Se describe como un impulso

1.2/50. (Norma American National Standard, C68.1-1968 Measurement of Voltage


in Dielectric Tests)

25

2. IMPULSO ESTNDAR DE INTERRUPCIN. Un impulso completo que tiene un

s.

tiempo frontal de 250

y un tiempo medio de 2500

s.

Este se describe como un

impulso 250/2500. (Norma American National Standard C68.1-1968).


La identicacin de las caractersticas del tiempo de las tensiones de impulso se da en la
Fig. 2.2.1 En este experimento de tensiones de impulso tipo rayo se utiliza sobre todo un
frente de onda de T1 = 1.2

y un tiempo de cola de T2 = 50s en promedio

Figura 2.2.1: Caractersticas de los Parmetros de la Norma de Tensiones de Pruebas de


Impulso

Esta forma 1.2/50

s,

es comnmente elegida para realizar pruebas de impulso.

Por regla general, tensiones de choque se generan en el circuito bsicos que se muestran
en la Fig. 2.2.2 Las relaciones entre los valores de los elementos y las magnitudes caractersticas que describen la curva en funcin del tiempo estn dadas por las constantes de
tiempo:

T1 Re (Cs + Cb )

T2 Rd

Cs Cb
Cs + Cb

Donde:

Cs  capacitor de impulso
Cb  capacitor de carga
Rd  resistencia de frente y
Re  resistencia de cola

26

(2.2.1)


(2.2.2)

Para tensiones de impulso tipo rayo de la forma normalizada 1.2/50 las constantes de
tiempo son:

T1 = 68,22s

(2.2.3)

T2 = 0,405s

(2.2.4)

En el diseo de circuitos de tensiones de impulso, se debe tener en cuenta que la capacidad del objeto de prueba est conectada en paralelo a Cb y por lo tanto el tiempo de
frente y la eciencia

en particular puede verse afectada. Las normas permiten toleran-

cias relativamente grandes de


establece una tolerancia del

30 %

3 %

para

T 1y

de

20 % para

T 2.

Igualmente la norma

entre el valor de la tensin de ensayo medida durante el

ensayo y el valor de la tensin de ensayo especicada.

Figura 2.2.2: Circuitos Bsicos de Impulso de Tensin

2.2.1. Funcionamiento del Circuito


El condensador Cs se carga mediante una fuente de corriente continua y luego se asla
de la fuente. El impulso se genera cuando el explosor F se cebe actuando como interruptor.
El condensador De descarga Cs esta ahora cargado con una tensin

U0

y el condensa-

dor Cb esta descargado. El cebado de los explosores acta de interruptor provocando la


rpida descarga de la capacidad, Cb, fundamentalmente a travs de la resistencia Rd. La
resistencia Re es la que determina el transitorio subsecuente.

2.2.1.1.

Mtodo de Prueba Estadstico [10] [11]

La prueba de impulso tipo rayo 1.2/50 , tiene carcter aleatorio y genera una funcin
de densidad de probabilidad conocida como funcin de Gauss. Esto nos lleva a proponer
el siguiente protocolo de prueba. [ver

Mtodos de Prueba (Ensayos Elctricos)

2.2.2. Protocolo de Prueba para el Impulso Estndar de Rayo


1. El generador de impulsos de una sola etapa debe ser tal como se establece en la gura
2.2.3 El objeto a ensayar; se integrara al circuito colocndolo paralelo al equipo de
laboratorio identicado con HV9120 en el circuito b) de la gura 2.2.3
2. Establecer una tensin

c0
U

de carga

3. Congurar el Osciloscopio para registrar el impulso estndar de rayo


4. Obtener el valor mximo de la tensin de impulso:
5. Determinar la muestra estadstica.
6. Denir el numero de ensayos por muestra.

27

b = U
c0
U

7. Procesar en forma estadstica el resultado de las muestras.

a)

b)
Figura 2.2.3: Montaje experimental para la generacin de impulso tipo rayo

2.3. Mediciones y Anlisis de Resultados de las Pruebas de


Aislamiento
En este puto expondremos las mediciones realizadas sobre el Aislador de Suspensin
52.1 descrito en la gura 2.3.1 .

Figura

Descripcin

Clase - norma

Mtodo de
ensayo norma

Aislador de
suspensin a

Clase 52

horquilla -

ANSI C29.2

ALSH y

ANSI C29.1

ALSHF
Figura 2.3.1: Aislador de Suspensin 52.1
En el parte IV presentamos las caractersticas del 52.1 que pone a disposicin el fabricante.

2.3.1. Datos Obtenidos de los Ensayos del Aislador 52.1


2.3.1.1.

Datos de la Prueba de Corto Tiempo

Condiciones de prueba:

28

20o C
56 %

Temperatura =
Humedad =

Cuadro 2.3.1: Mediciones de Resist. Volumtrica y Supercial del Aislador 52.1

Interpretacin de la Prueba

La prueba realizada bajo condiciones normales es decir

a la misma temperatura, humedad; la misma tensin y tiempo de ejecucin nos permite


comparar los resultados.
Observamos de inmediato que la resistencia supercial (Rsup
mayor que la resistencia volumtrica (Rvol

= 359 G),

= 1,67 M )

es mucho

y que resulta en un valor esperado.

Su forma posee una rea supercial mnima necesaria que es funcin de la tensin y de la
resistividad del medio para evitar descargas disruptivas de contorneo.

2.3.1.2.

Datos de la Prueba de ndice de Absorcin Dielctrica e Indice de


Polarizacin

Los datos que se muestran en el cuadro 2.3.2 a continuacin fueron tomados a una
temperatura de

20o C

y un humedad relativa de

56 %.

Cuadro 2.3.2: Resultados de la Prueba DAR del Aislador 52.1

29

Interpretacin de la Prueba

La interpretacin de la prueba se realiza por comparacin

con el cuadro de Indice de Absorcin [ver cuadro 2.1.2], lo cual nos dice que siendo el

DAR = 1,12 < 1,4 y P I = 1,35 < 2


2.3.1.3.

el aislador se encuentra en condiciones dudosa.

Datos de la Prueba de Tensin por Pasos

Condiciones de prueba.
Temperatura =

20o C

Humedad relativa =

56 %

Cuadro 2.3.3: Resultado de la Prueba de Tensin por Pasos

Figura 2.3.2: Tendencia de la Resistencias del Aislador 52.1 - Prueba Tensin por Pasos

30

Interpretacin de la Prueba

Los valores de resistencia volumtrica (Rv ), supercial

(Rs ) y la resultante (Rp ) que observamos, sin duda cumple con lo teorizado. La resistencia
de un aislamiento tiende a incrementarse ante un aumento de la tensin. En este punto
podemos decir que tomando en cuenta estas lecturas y las de la prueba de corto tiempo,
como tambin el rango de variaciones de la tensin de prueba; la resistencia de aislamiento
se estabiliza a un determinado valor no menor que la resistencia de diseo para la tensin
nominal de trabajo.
En la gura 2.3.2 representacin grca de la tendencia del aislamiento. Podemos conrmar la pendiente creciente de

2.3.1.4.

Rv y Rs

as como la estabilidad, que en efecto,

Rp evidencia.

Datos de la Prueba de Tiempo Resistencia

Condiciones de prueba.
Temperatura =

20o C

Humedad relativa =

56 %
Tensin de Prueba 5[kV]

Tiempo [s]

15

30

45

60

120

180

240

300

600

Resistencia [G()]

195

243

264

277

306

321

329

336

356

Cuadro 2.3.4: Aislador 52.1 Datos de Prueba Tiempo Resistencia

Interpretacin de la Prueba

Sin lugar a dudas la curva (Figura 2.3.3) muestra la

forma caracterstica del comportamiento de un buen aislamiento.

Figura 2.3.3: Aislador 52.1 Curva Tiempo Resistencia

31

2.3.1.5.

Datos de la Prueba de Impulso

Condiciones de prueba.
Temperatura =

20,8o C

Humedad relativa =

57 %

La toma de datos debe hacerse a impulso positivo y negativo. El aislamiento sometido a


diferentes solicitaciones puede responder, de echo, de diferente manera si se toma el ciclo
positivo de la tensin recticada o el ciclo negativo. El anlisis de los datos obtenidos nos
dir, como se comporta el objeto ensayado.
En su realizacin se tomo tensiones a intervalos de 5 kV con un nmero de muestras

por tensin igual a 20.

Prueba a Impulso Positivo [10]


Cuadro de Datos

En esta registramos el nmero de disrupciones (nd) por tensin de

prueba aplicada (x [kV]). La probabilidad relativa Q[ %] resulta de dividir el numero nd


(disrupciones) por el nmero

de muestras (n=20).

x[kV]

nd

Q[ %]

105

-1.6452

110

35

-0.3849

115

14

70

0.5240

Cuadro 2.3.5: Datos Prueba de Impulso Positivo

Regresin Lineal por Mnimos Cuadrados

Tiene por objeto denir los parmetros

de la ecuacin, que permite aproximar la probabilidad de ocurrencia de una

una disrupcin a una tensin dada.

y =m*U+b=0.2169*U

(2.3.1)

xy

105

-1.6452

-172.7472

11025

110

-0.3849

-42.3365

12100

115

- 24.3634

0.5240

x = 330

y = 1,5061

60.2602

xy = 154,8235

xmd

ymd

110

-0.5020

13225

x2 = 36350

Cuadro 2.3.6: Regresin por Mnimos Cuadrados: Impulso Positivo

Con los parmetros resultado de la regresin lineal queda denida la ecu: 2.3.1 que se
grca en la gura 2.3.6. En la misma gura 2.3.6 se a gracado la probabilidad relativa
de descarga disruptiva a escala probabilista.

32

Figura 2.3.4: Aproximacin Lineal y(U) y Probabilidad Relativa P(U): Impulso Positivo

La obtencin de

y(U ) P (U )

resulta en un procedimiento para determinar valores

fundamentales que caracterizan al objeto ensayado. Estos son: Umd (tensin media de
ruptura), s (desviacin estndar) y BIL (nivel bsico de aislamiento). La gura 2.3.5 representa la funcin de densidad de probabilidad y la funcin de probabilidad acumulativa.

Figura 2.3.5: Densidad de Prob., Prob. Acumulativa: Impulso Positivo

33

Prueba a Impulso Negativo [10]


Cuadro de Datos

En adelante lo que se expuso para la prueba a impulso positivo, es

valida para sta. En este prrafo nos limitaremos a mostrar los resultados.
x[kV]

nd

Q[ %]

105

10

1.2817

110

18

90

-1.2817

115

19

95

-1.6452

Cuadro 2.3.7: Datos a Impulso Negativo

Regresin Lineal por Mnimos Cuadrados

y = 0,2927 U 31,6479

(2.3.2)

x[kV]

xy

105

-1.2817

-134.5815

11025

110

1.2817

140.9902

12100

15

1.6452

189.1993

x = 330

y = 1,6452

xy = 195,6080

xmd

ymd

110

0.5484

13225

x2 = 36350

Cuadro 2.3.8: Regresin por Mnimos Cuadrados: Impulso Negativo

Grca de la Aproximacin g. 2.3.6 y Funciones de Prob. g. 2.3.7

Figura 2.3.6: Aproximacin Lineal y(U) y Probabilidad Relativa P(U): Impulso Negativo

34

Figura 2.3.7: Densidad. de Prob., Prob. Acumulativa: Impulso Negativo

Interpretacin de la Prueba

De la comparacin de los cuadros de datos 2.3.7 a im-

pulso negativo y 2.3.5 a impulso positivo notamos de inmediato que a paridad de tensin,
existe una mayor ocurrencia de descargas en la prueba a impulso negativo, que en la de
impulso positivo. Esto se debe a la aleatoriedad maniesta de las descargas, pero ademas
y principalmente a las caractersticas fsico qumicas del aislador ensayado.
Dos echos concretos se desprenden de este comportamiento particular del elemento en
prueba:
1. El modulo de la tensin media (U ) a la que se producen disrupciones sera menor
en la prueba a impulso negativo que en la de impulso positivo. Esto es de esperarse
dado que existe una mayor probabilidad disruptiva a tensiones negativas.
2. La desviacin estndar (s) a impulso negativo, tambin resulta ser menor que la
desviacin estndar a impulso positivo. Lo que implica que existe una mayor concentracin de descargas cuando las tensiones son negativas, o de otra manera podemos
decir que existe una mayor dispersin de las descargas cuando la tensin es positiva.
La tensin media, desviacin estndar y otra caracterstica de suma importancia, el nivel
bsico de aislamiento (BIL). Son deducibles a partir de la ecuacin de regresin lineal
y(U); lo cual habla de la importancia que tiene sta y la extrapolacin como mtodo de
aproximacin.
El siguiente cuadro nos muestra como calcular estos valores.

Valores caractersticos

b
U = m
1
s= m
BIL = U 2,5 s

y =mU b
Impulso Positivoy =
0,2169 24,3634

Impulso Negativoy

=
0,2927 U 31,6479

112.3143 [kV]

108.1264 [kV]

4.6100 [kV]

3.4165 [kV]

100.79 [kV]

99.59 [kV]

Cuadro 2.3.9: Valores Caractersticos de las Curvas de Densidad de Probabilidad

35

Captulo 3

ENSAYO DE INTERRUPTORES
INTERRUPTORES DE POTENCIA
El interruptor de potencia es un dispositivo electromecnico cuya funcin principal es la
de conectar y desconectar circuitos elctricos bajo condiciones normales o de falla, adems
pueden realizar o efectuar re-cierres, cuando sea una funcin que se requiera en el sistema.
Debido a las operaciones de sierre y apertura que cumplen los interruptores durante
su vida til , estos estn sometidos al desgaste de sus contactos y es funcin del nmero
de maniobras que realiza el mismo. El desgaste de los contactos incrementa la resistencia
elctrica entre ellos, lo que trae como consecuencia un incremento de la temperatura de
contacto y viceversa, el incremento de la temperatura resulta en una disminucin de la
fuerza de contacto y un rpido incremento de la resistencia.
Adems de los factores mecnicos, los factores ambientales como la humedad, el polvo
ambiental, la oxidacin de las supercies de contacto de un interruptor tienen efecto directo
sobre su resistencia.
De modo que para evaluar las condiciones de los contactos del interruptor, se han
establecido dos tipos de pruebas, ambos miden la resistencia

R,

esttica y dinmica.

3.1. Pruebas de Corriente Contina


3.1.1. Prueba de Resistencia de Contactos
La medicin de la resistencia de contacto se realiza usualmente usando los principios
de la ley de Ohm:

V =RI

(3.1.1)

Donde:

V
I
R

es el voltaje a travs del contacto;


es la corriente;
es la resistencia.

Si aplicamos una corriente


directamente dividiendo

Iy
por

medimos el voltaje

V,

la resistencia

se puede obtener

I.
R=

Como se ve en la gura 3.1.1

36

V
I

(3.1.2)

Figura 3.1.1: Circuito de medicin de resistencia de contactos


Dado que la cmara de interrupcin es un contenedor cerrado, slo tenemos acceso a
los conductores de entrada y de salida; la

medida entre estos dos puntos sera la suma

de todas las resistencias de contacto halladas en serie (contactos jos, de cierre y apertura
y los deslizantes).
De acuerdo a la norma IEC 694, artculo 6.4.1, el valor de la corriente a usar debera ser
lo ms cercana a la corriente nominal para la que fue diseada la cmara de interrupcin.
Si esto es imposible de lograr, se pueden usar corrientes ms pequeas pero no menos a 50
A para eliminar el efecto galvnico que podra afectar las lecturas

3.1.2. Protocolo de Pruebas de Resistencia de Contactos


1. Armar el circuito que suministre la corriente nominal del interruptor.
2. Vericar que la cmara de interrupcin del interruptor este en la posicin cerrada
3. Limpiar los puntos de conexin a la red del interruptor, que deben estar libres de
polvo, oxido o humedad que afecte la medida de resistencia.
4. Realizar varias pruebas consecutivas y calcular el promedio.
5. El valor obtenido debe estar dentro del rango de valores presentada el cuadro 3.1.1.

Tensin nominal del

Resistencia

interruptor [kV]

[]

25

100-350

120

80-200

120-30

100

735

20-80

Cuadro 3.1.1: Resistencia de Contactos para Interruptores de Potencia

3.1.3. Prueba de Velocidad de Operacin de Interruptores [12]


En los interruptores, el tiempo de apertura y cierre es crtico ya que el mismo est
ligado a la cantidad de energa que puede manejar el interruptor. Durante la secuencia de

37

apertura o cierre, el arco elctrico aparece entre el contacto mvil y el contacto jo. Si
la apertura o cierre del interruptor no se realiza en el tiempo para el que fue diseado,
la energa asociada al arco elctrico puede superar la capacidad de disipacin de energa
trmica del interruptor con el consecuente dao del equipo. Por otra parte, la no extincin
a tiempo del arco elctrico acelera el deterioro de los contactos del interruptor lo cual
adelanta el requerimiento de mantenimiento mayor en el mismo.
Esta prueba requiere de un equipo especial y un procedimiento ms complicado que el
mtodo esttico.
La informacin recogida es de una naturaleza diferente y nos da un mayor entendimiento
de la condicin del contacto que no est disponible en la prueba esttica.

3.1.4. Protocolo de Prueba de Velocidad de Operacin de Interruptores


1. Vericar la arquitectura mecnica del interruptor.
2. Armar el circuito como se indica en la gura 3.1.2.
3. Se inyecta una corriente y se mide el voltaje. Esto nos dar el valor de la resistencia
en todo su recorrido desde la posicin cerrada hasta la posicin abierta.
4. El impuls-grafo puede registrara la curva de operacin del mecanismo del interruptor
desde una posicin cerrada, a medida que se mueve a su posicin de apertura.
5. Comparar los resultados con los datos de fabricante

Figura 3.1.2: Interruptor en posicin de ensayo utilizando un Impulso grafo

SECCIONADORES

38

Este es un equipo de maniobra diseado slo para abrir o cerrar un circuito elctrico
en condiciones energizadas o no, pero sin circulacin de corriente de carga o cortocircuito,
sus maniobras de conexin o desconexin se hacen en vaco.

Figura 3.1.3: Cortacircuitos de 15kV 100 A


Las partes principales de un seccionador son:

1.- Columna de aislamiento: Forma el aislamiento a tierra respecto a puntos energizados


del seccionador.

2.- Cuchilla: Parte mvil de contacto que embraga una con otra, ya sea mvil o ja.
3.- Base: Es el soporte metlico donde se ja el seccionador.
4.- Terminales: Son las piezas conductoras a las cuales se jan los conectores de los conductores de entrada y salida del seccionador.

5.- Mecanismo de Accionamiento: Es elemento necesario para realizar las maniobras del
seccionador. Estas pueden ser por prtiga aislada.- manual (directa o a distancia).elctrica por medio de un motor elctrico accionado de forma local o remota.

3.2. Aislamientos en Seccionadores


El aislamiento de los seccionadores bsicamente est constituido por piezas cermicas,
en forma de columnas y sirve para soportar y aislar las piezas conductoras que van a
conectarse al circuito.

3.2.1. Pruebas en Seccionadores.


Pruebas de operacin mecnica.
Prueba de Resistencia de Aislamiento.
Prueba de Resistencia de contactos.
Evidentemente que entre las pruebas mencionadas, las que nos dar informacin acerca del
comportamiento elctrico del seccionador una vez instalada en red de suministro son las
dos ltimas.

3.2.2. Prueba de Resistencia de Aislamiento [4]


Las pruebas de aislamiento para seccionadores son similares a las pruebas ya indicadas
para los otros equipos aqu expuestos. Esta prueba trata de determinar si existe un camino
de baja resistencia en el aislamiento.

39

3.2.2.1.

Prueba de Tiempo Resistencia [5]

Es casi independiente de la temperatura y pude darnos informacin relevante y concluyente sobre el estado del seccionador. [ver

Mtodos de Prueba (Ensayos Elctri-

cos)]
3.2.2.2.

Protocolo de la Prueba para el Mtodo de Tiempo Resistencia

Eliminar todo residuo o contaminante de la supercie aislante del seccionador


Armar el circuito de ensayo en el laboratorio (MEGGER).
Aplicar la tensin y en el primer minuto hacer 4 lecturas espaciadas igualmente en
el tiempo (15, 39, 45 y 60 segundos), luego una lectura cada minuto, hasta el minuto
5; en el minuto 10 se toma una lectura nal.
Tabular las lecturas obtenidas de 0 a los 5 minutos y a los 10 minutos
Des-energizar el circuito armado para el ensayo
Ajustar los puntos de resistencia contra tensin.

3.2.2.3.
[ver

Mtodo de la Prueba de Absorcin Dielctrica [7]

Mtodos de Prueba (Ensayos Elctricos)

3.2.2.4.

Protocolo de la Prueba de Absorcin Dielctrica DAR _Indice de


Polarizacin PI

Liberar la supercie del seccionador de posible contaminacin por aceite o humedad


Armar el circuito de ensayo en el laboratorio (MEGGER).
Seleccionar la funcin de prueba DAR_PI.
Determinar la relacin de absorcin dielctrica DAR_PI
Contrastar de los Valores Obtenidos vs. Valores de Referencia del cuadro 3.2.1

Condiciones del

Relacin 60-30

Relacin 10/1 minuto

Aislamiento

Segundos

PI (Indice de
Polarizacin)

Peligroso

Menos de 1

Dudoso

1.0 a 1.25

1.0 a 2

Bueno

1.4 a 1.6

2 a 4

Excelente

Arriba de 1.6

Arriba de 4

Cuadro 3.2.1: Valores de referencia para los indices DAR e PI

3.2.2.5.

Prueba de Tensin por Pasos [9]

El tiempo de aplicacin de tensin de prueba es de 60 segundos [ver

Prueba (Ensayos Elctricos)

40

Mtodos de

3.2.2.6.

Protocolo de la Prueba del Mtodo de Tensin por Pasos

La supercie del seccionador debe estar libre de cualquier contaminante que pueda
inuir en el resultado
Armar el circuito de ensayo en el laboratorio (MEGGER).
Seleccionar una tensin de ensayo (3 kV, 6 kV, 9 kV)
Seleccionar el tiempo de duracin de la prueba (2 min, 3 min, 3 min)
Aplicar las tensiones de ensayo, en pasos de igual duracin (60 segundos).
Tabular en un cuadro las resistencias obtenidas a las tensiones aplicadas.
Gracar la curva de ajuste de los puntos de resistencia contra tensin.

3.3. Mediciones y Anlisis de Resultados


Objeto de experimentacin Seccionador ST-Brasil 2002 de 30-60 kV de tensin nominal.

3.3.1. Datos Obtenidos en los Ensayos del Seccionador ST (30-60 kV)


3.3.1.1.

Datos de la Prueba de Absorcin Dielctrica e Indice de Polarizacin

Condiciones de prueba:

20o C
56 %

Temperatura =
Humedad =

Cuadro 3.3.1: Datos de Prueba de Absorcin Dielctrica e ndice de Polarizacin del Seccionador ST Brasil 2002

Interpretacin de la Prueba

El seccionador empleado para la prueba fue dado de

baja por una empresa de distribucin elctrica. Los resultados de la prueba dan la razn
al personal tcnico que decidi retirar del servicio el seccionador. Comparando los indices
DAR y PI resultantes de la experimentacin, notamos que estn por debajo de los
valores tolerables. [ver cuadro 3.2.1]

41

3.3.1.2.

Datos de la Prueba de Tensin por Pasos

Condiciones de prueba:

20o C
56 %

Temperatura =
Humedad =

Cuadro 3.3.2: Seccionador ST.- Prueba de Tensin por Pasos

Figura 3.3.1: Tendencia de la Resistencia del Seccionador ST 22 kV

Interpretacin de la Prueba

Es evidente, que tanto la resistencia volumtrica (Rv ),

como la supercial (Rs ), muestran una cada de varios cientos de

42

G ;

de igual manera la

resultante (Rp ). Los resultados de la prueba de Indice de Absorcin y de Polarizacin nos


ayuda a concluir que el aislamiento se encuentra en mal estado. La gura 3.3.1 evidencia
la tendencia a la baja de las resistencias lo que conrma lo antes expuesto.

3.3.1.3.

Datos de la Prueba de Tiempo Resistencia

Condiciones de prueba:

20o C
56 %

Temperatura =
Humedad =

Tensin de Prueba 10[kV]


Tiempo [s]

15

30

45

60

120

180

240

300

600

Resistencia [G]

118

122

130

128

132

131

135

135

113

Cuadro 3.3.3: Seccionador ST Datos de Prueba Tiempo Resistencia

Interpretacin de la Prueba

El comportamiento errtico de la curva de resistencia,

termina en una drstica cada de la misma. Su forma ya muestra a simple vista el grave
deterioro del aislamiento

Figura 3.3.2: Seccionador ST Curva Tiempo Resistencia

3.3.2. Prueba de Resistencia de contactos.


La prueba de residencia de contactos en seccionadores tiene el mismo objetivo que la
prueba realizada en interruptores expuestos en este mismo captulo. Y es por ello que nos
remitiremos a ella siempre que queramos hacer una prueba de estas en seccionadores

43

Captulo 4

ENSAYO DE PARARRAYOS
Los Pararrayos son elementos de proteccin que se caracterizan por presentar dos estados bsicos de operacin o funcionamiento que depende fundamentalmente del nivel de
tensin al que esta sometido.
As el pararrayos se comportara como un aislador cuando se encuentra a su tensin
nominal de diseo, que no es mas que el mximo valor ecaz de voltaje fase tierra entre
sus polos, que le permiten una operacin normal ante sobre-tensiones transitorias.
Cuando el voltaje al que se ve sometido el pararrayos alcanza el nivel de sebado, entra
en estado de conduccin y evacua cualquier sobre tensin; luego de lo cual recupera su
condicin de aislador.

4.1. Pruebas de Corriente Continua [3.1]


Las pruebas de DC que se realizan en un pararrayos estn motivadas tomando en cuenta
su condicin de aislador y sus caractersticas constructivas.
Si el pararrayos consta de varias secciones se probar cada una de ellas. Este es el caso
de los pararrayos de oxido zinc, elemento que le permite un comportamiento dinmico
cuando esta sometido a sobre-tensiones no transitorias o a la tensin de cebado.

4.1.1. Prueba de Resistencia de Aislamiento [4]


Como se indic son pruebas destinadas a establecer la tendencia de la resistencia de
aislamiento del equipo o elemento bajo prueba.
Los pararrayos estn sometidos a diferentes exigencias elctricas y medioambientales
que podran causar el deterioro de este importante elemento de proteccin. Las razones
para realizar estas pruebas en este equipo y en otros de su misma naturaleza, son varias:
Recepcin de equipos.- Que tiene por objeto asegurar que el equipo adquirido se
encuentre en buenas condiciones, que cumplan con las especicaciones de la contratacin y que no sean fuente de perdidas econmicas.
Mantenimiento preventivo.- Motivadas principalmente por seguridad. Su objetivo,
precautelar la vida humana, incrementar la conabilidad del servicio y evitar perdidas
materiales y econmicas.
Mantenimiento correctivo.- Encaminada a mejorar las condiciones de trabajo y el
rendimiento de los sistemas.

44

Recomendaciones Iniciales
Seguridad en el laboratorio.- Lea con atencin las recomendaciones del captulo 1:
El pararrayos debe estar totalmente limpio de carbonilla o algn otro tipo de contaminante que pueda causar una descarga elctrica no prevista especialmente cuando
el ensayo se realiza en ambientes hmedos.
De ser el caso si posee un elevada caracterstica capacitiva (pararrayos de oxido
metlico) debe descargarse por completo antes de realizar cualquier ensayo.

4.1.1.1.

Obtencin de la Resistencia de Aislamiento

Durante la prueba de aislamiento, se aplica una alta tensin continua VDC sobre el
elemento ensayado. Esta tensin provoca una corriente de circulacin en la supercie (is ) y
en el interior (iv ) del aislamiento, del orden de los micro-amperios. Su intensidad responde
a parmetros fsicos y de diseo del pararrayos, as como a las condiciones del medio
circundante (temperatura y humedad) existentes en el momento de la prueba.
Estas corrientes permiten determinar la resistencia de aislamiento supercial y/o la
resistencia de aislamiento volumtrica dependiendo de la conguracin del circuito en la
prueba.
Mediante la aplicacin de la ley de Ohm obtenemos la resistencia o la corriente de fuga,
segn el mtodo y el equipo utilizado en la experimentacin.

R = V dc/I

El valor de la resistencia se expresa en mega ohmios -[M ]

I = V dc/R

El valor de la corriente se expresa en micro amperios -

[A]

Pararrayos

4.1.1.2.

Mtodo de la Tensin por Pasos [9]

En la ejecucin, se aplican tensiones que podran manifestar disrupciones o disminucin de la resistencia de aislamiento como consecuencia de la humedad, agrietamiento o
presencia de contaminantes.
En el ensayo se aplica cada tensin de prueba durante el mismo perodo de tiempo,
normalmente 60 segundos y se traza un grco de la resistencia de aislamiento registrada.

4.1.1.3.

Protocolo de la Prueba para el Mtodo de la Tensin por Pasos

Si el pararrayos a ensayar ha sido retirado momentos antes de la red de servicio,


se recomienda cortocircuitar sus extremos, con el objeto de eliminar cualquier carga
capacitiva presente en l.
Armar el circuito de ensayo en el laboratorio (MEGGER).
Seleccionar una tensin de ensayo (3 kV, 6 KV, 9 kV)
Seleccionar el tiempo de duracin de la prueba (2 min, 3 min, 3 min)
Aplicar las tensiones de ensayo, en pasos de igual duracin.
Tabular en un cuadro las tensiones obtenidas.
Gracar la curva de ajuste de los puntos de resistencia contra tensin.

45

El mtodo expuesto y una variacin del circuito de conexin del pararrayos con el Megger,
da como resultado la determinacin de la tendencia de aislamiento volumtrica o supercial,
la gura 4.1.1 a continuacin nos muestra la manera correcta de armar el circuito.

Figura 4.1.1: a) Uso Del Terminal de Guarda.- gura tomada de The Lowdown on High
Voltage DC Testing

4.1.1.4.

Prueba de Absorcin Dielctrica DAR [7]

La prueba de absorcin dielctrica es especialmente recomendable cuando en el ambiente de trabajo; el material se encuentra expuesto a contaminantes lquidos aceites y/o
humedad. [ ver

4.1.1.5.

Mtodos de Prueba (Ensayos Elctricos)

Protocolo de la Prueba de Absorcin Dielctrica

Si el pararrayos a ensayar ha sido retirado momentos antes de la red de servicio,


se recomienda cortocircuitar sus extremos, con el objeto de eliminar cualquier carga
capacitiva presente aun l.
Armar el circuito de ensayo en el laboratorio (MEGGER).
Seleccionar la tensin de prueba (10 kV).
Seleccionar la funcin DAR
Determinar la relacin de absorcin dielctrica DAR
Contrastar los Valores Obtenidos vs. Valores de Referencia para los ndices DAR
[Table 2.1.2 on page 24]

4.1.1.6.

Prueba de Indice De Polarizacin PI [7]

Esta prueba es aplicable a materiales u objetos de fcil polarizacin, pude revelar


humedad o contaminacin. [ver

4.1.1.7.

Mtodos de Prueba (Ensayos Elctricos)

Protocolo de la Prueba de Indice de Polarizacin

Si el pararrayos a ensayar ha sido retirado momentos antes de la red de servicio,


se recomienda cortocircuitar sus extremos, con el objeto de eliminar cualquier carga
capacitiva presente aun l.

46

Armar el circuito de ensayo en el laboratorio (MEGGER).


Seleccionar la tensin de prueba (10 kV).
Seleccionar la funcin DAR _PI
Determinar la relacin de absorcin dielctrica DAR_PI
Contrastar los Valores Obtenidos con los Valores de Referencia cuadro 3.2.1

4.1.1.8.

Prueba de Tiempo Resistencia [5]

4.1.1.9.

Protocolo de la Prueba para el Mtodo de Tiempo Resistencia

Si el pararrayos a ensayar ha sido retirado momentos antes de la red de servicio,


se recomienda cortocircuitar sus extremos, con el objeto de eliminar cualquier carga
capacitiva presente aun l.
Armar el circuito de ensayo en el laboratorio (MEGGER).
Aplicar la tensin y en el primer minuto hacer 4 lecturas espaciadas igualmente en
el tiempo (15, 39, 45 y 60 segundos), luego una lectura cada minuto, hasta el minuto
5; en el minuto 10 se toma una lectura nal.
Tabular las lecturas obtenidas de 0 a los 5 minutos y a los 10 minutos
Des-energizar el circuito armado para el ensayo
Ajustar los puntos de resistencia contra tensin.

4.2. Mediciones y Anlisis de Resultados


El objeto de ensayo es el Pararrayos de 18 kV - 15.3 kV (MOCV).
Figura

Descripcin

Pararrayos
PDV100 Optima

Clase

Mtodo de ensayo norma

18 kV 15.3

ANSI/IEE

MCOV

C62.11 estndar

Figura 4.2.1: Pararrayos Clase y Norma

En parte V encontramos los datos tcnicos del producto

4.2.1. Datos Obtenido de la prueba de Absorcin Dielctrica e ndice


de Polarizacin
Condiciones de prueba:

20o C
56 %

Temperatura =
Humedad =

47

Cuadro 4.2.1: Datos de Prueba de ndice de Absorcin Dielctrica e ndice de Polarizacin

Interpretacin de la Prueba

Realizando la comparacin con el cuadro de referencia

podemos armar que el aislamiento del pararrayo se encuentra en buen estado [ver cuadro
3.2.1]

4.2.1.1.

Datos de la Prueba de Tensin por Pasos

Condiciones de prueba:

20o C
56 %

Temperatura =
Humedad =

Cuadro 4.2.2: Pararrayos 18 kV_15.3 MCOV Prueba de Tensin por Pasos

Interpretacin de la Prueba

La interpretacin de los registros de las pruebas del

pararrayo como cualquier otro objeto, responde a sus caractersticas constructivas y a su


funcin en un sistema de potencia.

48

Figura 4.2.2: Tendencia de la Resistencia de el Pararrayos 18 kV


En este registro se aprecia que la resistencia volumtrica (Rv ) sufre un descenso signicativo a incrementos iguales de la tensin de prueba, no as la resistencia supercial (Rs )
que crece vertiginosamente. La resistencia volumtrica es un varistor de oxido metlico, que
ante un incremento de tensin reacciona disminuyendo su resistividad elctrica, por tanto
la disminucin de la resistencia entre sus terminales elctricos, al punto de que cuando la
tensin que se aplica sobre el elemento llega ser la tensin de cebado el pararrayos cruza
la frontera entre las caractersticas de un aislador a las caractersticas de un conductor. La
funcin de la resistencia volumtrica es la de brindar un camio de evacuacin a las sobre
tensiones, hecho que se cumple bajo determinadas condiciones de tensin. La gura 4.2.2
ilustra grcamente este comportamiento.

4.2.1.2.

Datos de la Prueba de Tiempo Resistencia

Condiciones de prueba:

20o C
56 %

Temperatura =
Humedad =

Tensin de Prueba 5 [kV]


Tiempo [s]

15

30

45

60

120

180

240

300

600

Resistencia [G]

433

613

696

759

875

932

975

997

1090

Cuadro 4.2.3: Pararrayos Datos de Prueba Tiempo Resistencia

Interpretacin de la Prueba

Esta prueba conrma el anlisis sobre el comportamiento

de la resistencia volumtrica. La resistencia integral del pararrayos muestra el comportamiento tpico, por tanto se encuentra en buen estado.

49

Figura 4.2.3: Pararrayos Curva Tiempo Resistencia

4.3. Pruebas en Corriente Alterna


Las pruebas de corriente alterna someten a los equipos a esfuerzos elctricos similares
a las condiciones de operacin normal, con excepcin de la prueba de Alta Tensin AC.

4.3.1. Prueba de Factor de Potencia


Es una prueba importante para determinar la calidad del aislamiento en todo tipo de
equipo elctrico. En el caso de aislamiento slido, se recomienda utilizar un nivel de tensin
similar al valor de tensin nominal del equipo.
El resultado de la misma no puede ser considerado como concluyente por si mismo,
siempre debe compararse con resultados anteriores con valores referidos al mismo nivel de
voltaje y a 20 grados centgrados.
La medicin de las prdidas dielctricas es efectiva en la deteccin de pararrayos defectuosos, contaminados o deteriorados.
La prueba del factor de potencia se basa en un modelo conformado por un capacitor
en paralelo con una resistencia o un capacitor en serie con una resistencia.
El capacitor representa la capasitancia del equipo bajo prueba y la resistencia representa
las prdidas en el aislamiento cuando se le aplica un voltaje de prueba.
Para nuestro anlisis el modelo considerado es una resistencia en paralelo con un capacitor. La gura 4.3.1 muestra este modelo donde It representa la corriente total que circula
por el equipo de prueba, Ic es la corriente capacitiva e Ir la corriente resistiva.

50

Figura 4.3.1: Modelo paralelo de aislamiento

El elemento resistivo en el circuito equivalente representa los vatios de prdidas disipados en el aislamiento cuando se aplica un voltaje. El elemento capacitivo representa el
capacitor que existe entre la parte que se energiza del equipo, la carcasa y tierra.
En un circuito elctrico con un voltaje AC aplicado los vatios prdida vienen dados
por:

V atios = E It cos

(4.3.1)

Donde representa el ngulo de fase entre el voltaje de prueba y la corriente total que
uye por el aislamiento.
El coseno del ngulo es conocido como factor de potencia y es igual a:

cos =

V atios
E It

(4.3.2)

De igual forma el ngulo complementario, representa el ngulo entre la corriente total


y la corriente capacitiva. Para este ngulo existe una relacin que se denomina factor de
disipacin denido como:

T ang =

Ir
IC

(4.3.3)

R
XC

(4.3.4)

lo que en el plano de impedancias implica:

T ang =
Por lo que:

T ang = R W C

(4.3.5)

El cuadro 4.3.1, muestra cuales son los voltajes de pruebas para los diferentes valores
de voltaje nominal de pararrayos.
Tensin Nominal

Tensin de Prueba

entre 2.7 y 5.1 [V]

2.5 [kV]

entre 6.0 y 5 [kV]

5 [kV]

entre 8.1 y 10 [kV]

7.5 [kV]

mas de 12 [kV]

10 [kV]

Cuadro 4.3.1: Voltajes de Prueba de Pararrayos

51

4.3.1.1.

Protocolo de la prueba de factor de potencia de aislamiento

El protocolo de la prueba de factor de potencia de aislamiento es el siguiente:


Des energizar el pararrayos.
Cortocircuitar los extremos del pararrayos, con el n de eliminar las cargas residuales
que este pueda tener.
Efectuar las conexiones entre el pararrayos y el aparato medidor de factor de potencia,
evitando el contacto con las partes que sern energizadas.
Conectar el aparato medidor de factor de potencia, y desconectarlo luego de obtener
una medicin constante.
Retirar las conexiones entre el pararrayos y el medidor de factor de potencia.
Cortocircuitar el pararrayos, durante un tiempo igual a 5 veces el tiempo que este
permaneci energizado.

52

Parte I

Conclusiones y Recomendaciones

53

Toda prueba sobre un equipo, objeto o sistema. Tiene como objetivo determinar una
caracterstica(s) o condiciones del sujeto de ensayo, que permita establecer sin lugar a
dudas cual sera su perfomans en el entorno de trabajo.
Dichas caractersticas resultan de suma importancia a la hora de usar, remplazar o
sugerir la utilizacin de los elementos ya mencionados. Especialmente cuando son parte
sensible de un todo, donde la rentabilidad o perdida dependen de su funcionamiento. Pero
adems y mucho mas importante, cuando de ellos depende la seguridad de las personas
que laboran en fabricas e industrias, la vida de pacientes en hospitales y centros de salud
y en la calle mismo.
La industria de la energa elctrica, quizs es la que mayor importancia reviste en
la cotidianidad de la vida del ser humano. Podra decirse y sin temor a equivocarse que
tiene una aplicacin universal, la mayora de las actividades realizadas por el hombre
estn relacionadas con el uso de la electricidad o depende de ella; todo funciona en su
rededor ya sea que fuere el elemento motor primario o como resultado de una conversin
de energas. Esto hace que el dimensionamiento y ulterior proteccin de un sistema de
potencia de energa elctrica a todo nivel de tensn, requiera una especial atencin, para
cumplir con los objetivos principales de calidad y conabilidad, consecuentemente asegurar
las inversiones econmicas y proteger vida.

Del Laboratorio de Alta Tensin


Los aisladores, seccionadores , interruptores, pararrayos; objetos de ensayo en esta tesis
han de cumplir con determinadas caractersticas elctricas para satisfacer las exigencias de
su entorno de trabajo. Estas deben ser determinadas en un laboratorio, capas de brindar
las condiciones apropiadas par considerar los resultados de una prueba como ables. Quiere
decir que la exactitud en las mediciones pasa por las condiciones medioambientales, por la
experiencia del experimentador como por los equipos de medicin o ensayo disponibles en
el laboratorio. las pruebas realizadas las conclusiones obtenidas de ellas, que se exponen
mas adelante, estn sujetas a las condiciones que en el momento brindaba el laboratorio.
Las pruebas que no se pudieron realizar se mencionan describiendo el protocolo a seguir. Las conclusiones que podamos sacar una ves realizadas, podran seguir la siguiente
secuencia:

a) Presentacin de los Datos de Experimentacin


b) Anlisis de la Informacin
c) Conclusiones a las que podemos llegar
El Laboratorio de Alta Tensin es un espacio de trabajo que exige la observacin de algunas
normas de seguridad. Pero ademas la preparacin cuidadosa de los ensayos a realizar, aqu
algunas recomendaciones previas a tener en cuanta:
1. El experimentador debe prepara concienzudamente el fundamento terico sobre el
que se basa el ensayo que piensa aplicar. Esto le permitir disear adecuadamente el
experimento.
2. Proveerse de la hoja de datos de sujeto de ensayo si lo tuviera.
3. Observar los limites de tensin o corriente que exhibe el datasheet objeto.
4. Otro requerimiento es la norma a utilizar en el ensayo, norma que se contrasta ademas
con la norma usada por el fabricante del equipo u objeto etc.

54

5. Establecer el mtodo de prueba a usarse. este depender de lo que queramos investigar


o establecer.
6. Disear un cuadro de datos a para la tabular de la informacin producto de la
experimentacin

Del Aislador 52.1


No existe el aislamiento perfecto. Decimos esto puesto que al escuchar la frase aislador
elctrico podramos estar tentados a suponer que por el no atraviesa ninguna corriente.
De echo esto no es verdad todo material utilizado como aislador elctrico permite el paso
en alguna medida de la corriente elctrica cuando esta sometida a una tensin. Esta es la
corriente aprovechada por los instrumentos de medicin para determinar caractersticas como la Resistencia volumtrica y supercial, el Indice de absorcin y de polarizacin. Existe
barios mtodos para determinar la resistencia de aislamiento; la utilizacin de cualquiera
de ellos depende del propsito de la prueba como del lugar donde se realiza la misma.

El Mtodo de Corto Tiempo.

No constituye un mtodo concluyente pero nos da una

muy buena idea del estado de la resistencia de aislamiento.


La interpretacin de los resultados depende tanto de la norma utilizada para su evaluacin; como de las caractersticas elctricas del elemento; que el fabricante provee con
la intensin de que el ingeniero o tcnico posea una referencia conable al momento de
seleccionar un equipo para una aplicacin dada. Ademas podran usarse los resultados
histricos de pruebas anteriores con el n de establecer el estado en el que se encuentra.
Los resultados de la medicin nos da la resistencia volumtrica (Rv
cial (Rs

= 1,67 T ),

= 359 G) y super-

que contrastada con el cuadro 2.1.1 de resistencias esperadas segn

la tensin nominal de trabajo, muestra que stas estn dentro de los limites permisibles
como lo establece la norma MTS-1993

Pruebas de Absorcin Dielctrica (DAR) e Indice de Polarizacin (PI).

Esta

destinada a detectar la existencia de micro poros en el interior del aislamiento (Prueba


DAR) y los depsitos de humedad, polucin o algn otro contaminante en la supercie del
aislador (Prueba PI). Es aconsejable que en la interpretacin de los resultados se tome en
cuenta el entorno donde se encuentra instalado el equipo (en programa de mantenimiento
por ejemplo), como tambin las condiciones en las que se realiza el ensayo.
Los valores de estas pruebas (DAR = 1.12, PI = 1.35) comparados con el del cuadro
3.2.1 nos dice que el aislamiento no esta en buen estado. El resultado PI puede deberse
posiblemente a que las supercie este contaminada por algn agente externo como aceite
o polvo, que se abra depositado en la aislador en algn momento previo a la prueba. El
valor del indice DAR tampoco es alentador nos hace pensar que el interior del aislamiento
esta porosa y a la mejor hmeda esto explicara que el resultado de la prueba sea dudosa.
El siguiente cuadro permite consignar el resultado y calicar la prueba

55

Equipo

DAR

Calicacin General
Peli.

1.12

Peligroso

Dudoso
x

Bueno.

PI

Aislador
1.35

Peligroso.

Dud.

Bue.

Exce.

Excelente.
x

Dudoso
x

Bueno

Excelente

Cuadro 4.3.2: Aislador 52.1 Calicacin del Aislamiento Indice DAR y PI

Prueba de Tensin por Pasos.

Sabemos que esta prueba tiene por objeto determinar

la tendencia del aislamiento y que si el aislamiento se incrementa o estabiliza en algn


valor en tanto se aumenta la tensin, l pasa la prueba. Pero el objetivo de esta prueba
no solo es jarnos en la tendencia creciente del aislamiento sino tambin en el valor de la
tendencia , y el valor ultimo de ella al nalizar el ensayo. Contrastando su valor ultimo
con los valores del cuadro 2.2.1 sabremos entonces si el aislador pasa o no la prueba.
El cuadro de datos 2.3.3 muestra que cada una de las resistencias (Rv ,

Rs , Rp )

all

medidas alcanzan un valor estable que se encuentra dentro de los limites tolerables y
referencia-les exigidos en el cuadro 2.1.1.
Tomando en cuenta todos los resultados de las pruebas de aislamiento realizadas en el
aislador podemos concluir que pasa la prueba.

Prueba Tiempo Resistencia.

El mtodo toma lecturas a incrementos especcos de

tiempo y se prolonga por un espacio temporal mayor que el requerido para que la capacitancia del aislador se cargue. La presencia de contaminantes y humedad en el aislador
ocasiona que el efecto de absorcin dielctrica se enmascare y la resistencia se disminuya
o permanezca constante.
Para el aislador los resultados muestra ms bien que la resistencia mantiene una tendencia creciente y que al menos en lo que a resistencia de aislamiento se reere se encuentra
en muy buen estado

Prueba de Impulso Tipo Rayo.

Es una de las de mayor relevancia en el estudio del

aislamiento. La naturaleza aleatoria, de las descargas elctricas, las caractersticas especicas del impulso de tensin, y la duracin de la exposicin del aislador a la tensin de
prueba; motiva la siguientes recomendaciones:
1. Denir y medir exactamente las tensiones de prueba
2. Calibrar adecuadamente el osciloscopio
3. Denir el numero de ensayos a realizar.
4. Proveerse de un buen cronometro
5. Anotar los datos de temperatura y humedad
6. Disee una tabla adecuada para registrar la informacin
El objetivo fundamental es determinar el Nivel Bsico de Aislamiento (BIL). Esto es el
valor de cresta del mximo impulso de tensin que es capas de soportar el aislador sin
que se produzca una descarga disruptiva. Siendo las descargas elctricas un fenmeno
aleatorio en aislamientos autorregenerables se puede obtener experimentalmente la curva
de probabilidad acumulativa (P(U)). por lo que :

56

La recopilacin de datos y el tratamiento de la informacin resulta en un proceso


estadstico (Norma IEC).
Se recomienda utilizar la aproximacin lineal por mnimos cuadrados para la obtencin de la recta y(U) que nos permita extrapolar la probabilidad de descarga para
una tensin especica.
Si se conoce y(U), se puede determinar los parmetros tensin media (U ) y desviacin
estndar (s) que caracteriza la curva de densidad de probabilidades (GAUSS) y a partir
de ellos el BIL.
Esto muestra la relevancia que tiene la recta y(U), al punto que podramos armar que
es el propsito primario del tratamiento estadstico de los dato
En el cuadro tenemos los resultados. Muestra dos ecuaciones lineales, corresponden a
la prueba a Impulso Positivo y Negativo, dos tensiones medias, dos desviaciones estndar
y dos valores de BIL. Las grcas que resultan de la aplicacin de estos valores no son muy
diferentes entre si, lo que tiene sentido pues la desviacin estndar de una y otra resultan
estar muy prximos y en cuanto al BIL podramos decir que son iguales.
Como usar los resultados:
Primero considerar que las grcas se trazaron tomando el modulo de las tensiones
de prueba y del BIL.
Segundo considerar que el nivel bsico de aislamiento es el de menor valor absoluto.

Del Seccionador ST
Todo lo dicho en cuanto a la forma de interpretar los resultados obtenidos para el
aislador 52.1, se aplica tambin para el seccionador fusible aqu ensayado. Pero como es
posible esto?. La funcin que cumple el seccionador en el sistema de potencia aria pensar
que no existe ninguna relacin entre este y el aislador, salvo que los dos son usados en un
sistema elctrico de potencia. Entonces por que la interpretacin de los resultados han
de ser echo de la misma forma que la del aislador?. La explicacin es simple y radica en
que, entre las partes constructivas se tiene una Columna de aislamiento, que cumple como
aislador a tierra de los puntos energizados del seccionador. Hasta aqu su semejanza con el
52.1, pues ademas sirve de interruptor para seccionar o separar circuitos. Esta es realizada
por la Cuchilla ( Parte mvil de contacto que embraga una con otra, ya sea mvil o ja),
en ella esta adicionada el fusible que reacciona a sobre corrientes, que puede ser resultado
de una falla elctrica imprevista, por lo que el seccionador tambin es un dispositivo de
proteccin.
Las pruebas sobre seccionadores no estarn completas tan solo con probar la calidad de
su aislamiento. Las funciones adicionales que debe cumplir este importante equipo, ya es
un motivo suciente para que sobre l se deba hacer pruebas adicionales que garantice su
idoneidad. Estas no son factibles de ser realizadas aun por falta del equipamiento adecuado.
En cuanto al seccionador que hemos utilizado para ilustrar el ensayo, fue retirado de
la red de suministro elctrico. Se esperara que las pruebas realizadas sobre el aclaren en
alguna medida cual seria la razn para su retiro.

Prueba de Absorcin Dielctrica e Indice de Polarizacin


muestra los resultados del seccionador.

57

El siguiente cuadro

Equipo

DAR

Calicacin General
Peli.

1.10

Peligroso

Dudoso
x

Bueno

PI

Seccionador
1.17

Peligroso

Dudoso
x

Dud.

Bue.

Exce.

Excelente
x

Bueno

Excelente

Cuadro 4.3.3: Seccionador Calicacin del Aislamiento Indice DAR y PI

Observando la calicacin que obtiene el seccionador y la que obtuvo el aislador 52.1


en cuanto a los indices DAR y PI. Podemos inferir que esta prueba no es la mas adecuada
para ser realizada sobre un tipo de aislamiento cermico, como es el caso que nos ocupa.
Hay materiales que exhiben muy poca o ninguna absorcin dielctrica lo que explica que
estos indicadores estn muy cercanos a uno.
Las siguientes recomendaciones podran facilitarnos el anlisis de los resultados en
cuanto a estos indices:
No arse de estos indicadores si el material no es polariza-ble. Pruebe otro tipo de
ensayos.
Cada prueba da una vista diferente sobre las condiciones del aislamiento; saber el
verdadero estado del mismo depende de si hemos realizado todas la pruebas pertinentes.
DAR y PI son una relacional a-dimensional auto-contenida por lo que su valor indica
una tendencia. Un valor mayor a 1,6 (DAR) o mayor a 4 (PI) indicara un excelente
aislamiento. Valores demasiado altos de estos podran indicar que el aislamiento se
encuentra agrietado, quebradizo o fracturado lo que obviamente no es bueno.

Prueba de Tensin por Pasos

Del cuadro 3.3.2 de valores registrados en esta prueba

resalta inmediatamente la gran diferencia entre las lecturas de resistencia tomadas a distintas tensiones. Esto es cierto para

Rs ,

como para

Rv

y no muy notorio para

Rp ;

la gura

3.3.2 muestra con claridad esta tendencia.


En consecuencia la resistencia de aislamiento del seccionador no pasa las pruebas, su
tasa de variacin con respecto a la tensin es muy acentuada por lo que la conclusin lgica
es anticipar su mal estado.
Una practica recomendable antes de una prueba, es inspeccionar visualmente el objeto
en busca de signos de ameo como carbonilla, rastros de algn contaminante y vericar la
integridad de su estructura

Prueba Tiempo Resistencia

Lo dicho esta prueba resulta ser denitiva pues evidencia

el muy mal estado del seccionador; su curva errtica comparada con la forma suave y
creciente caracterstica de un buen aislamiento no deja dudas.

Prueba de Impulso de Tensin tipo Rayo

Esta no es posible realizar en este sec-

cionador en particular puesto que el BIL de diseo para l; requiere de niveles de tensin
de prueba que supera por el momento la capacidad que tienen el laboratorio para generar
este impulso.

58

Del Pararrayo
Las partes constructivas del pararrayos destinados a cumplir una funcin especca en
caso de una eventualidad electromagntica, se evidencia en los resultados obtenidos en
cada una de las pruebas que en l fueron posible hacer.

Prueba de Absorcin Dielctrica e Indice de Polarizacin

El cuadro a continua-

cin muestra la asignacin de valores y calicacin.

Equipo

DAR

Calicacin General
Peli.

Peligroso

1.27

Dudoso

Bueno
x

PI

Pararrayos
Peligroso

2.17

Dudoso

Dud.

Bue.

Exce.

Excelente
x

Bueno
x

Excelente

Cuadro 4.3.4: Pararrayos Calicacin del Aislamiento Indice DAR y PI

Prueba de Tensin Por Pasos

Esta muestra el particular accionar que tiene la

Rv que

presenta un decrecimiento segn se aumenta la tensin. Este comportamiento es propio


de la accin de proteccin, pues se trata de un varistor cuya resistencia debe disminuir en
funcin de la tensin creciente establecindose as el mecanismo de accin que se espera de
l.
La resistencia supercial a diferencia de la volumtrica, crece continuamente de acuerdo
a la tensin a la que esta sometida. Cualquier sobre-tensin se debe descargar por la
resistencia volumtrica y no por la supercie del pararrayos.

Prueba de Tiempo Resistencia


esto es la de

Rp que

Nos conrma la tendencia del aislamiento del conjunto

en denitiva es la expuesta esta expuesta a la tensin. No podemos

separar la resistencia

Rv y Rs pues

forma un conjunto estructural.

Prueba de Impulso Tipo Rayo

Como se haba dicho los recurso del laboratorio estn

limitados a una determinada tensin por lo que no se a contemplado esta prueba. Pero es
comn que los pararrayos sean diseados con un muy alto nivel de aislamiento (BIL).

Observaciones Generales
Habiendo reexionado cada prueba realizada en todos los objetos de ensayo no esta
por dems una observacin general sobre la resistencia de aislamiento y algunas recomendaciones aplicables a todas las pruebas.
En cuanto A la resistencia de aislamiento observamos que:
El indice DAR y PI no es una prueba realizable, aclaratorio o aplicable a todos los
equipos. Debe aplicarse a materiales de fcil polarizacin
Las resistencias

Rv , Rs y Rp no siempre revisten la misma importancia en los equipos;

por poner un ejemplo en el caso de los pararrayos, la resistencia sometida a la tensin


de esfuerzo es

Rp , en cambio que para el caso de un aislador tipo carrete la resistencia

expuesta a la tensin siempre es la supercial. Existe una relacin evidente entre estas

59

resistencias y se muestran en el siguiente cuadro 4.9. En el se muestra la resistencia

Rp como

la aproximacin del paralelo de la supercial y volumtrica al igual que

la corriente

Ip

como la suma de las corrientes de fuga supercial y paralela. Algo

que no podemos pasar por alto es la relacin entre las resistencia as como las de
las corrientes (resaltadas en color rojo), del seccionador, no muestran coherencia, lo
que podra servir como una conrmacin del mal estado en el que se encuentra el
aislamiento de este objeto.

Equipo

Aislador

Seccionador

Pararrayos

Tensin
[V]
1000
1500
2000
3000
6000
9000
1000
2000
3000

Rs[G]

Rv[G]

Rp[G]

Rp[G]

Is[nA]

Iv[nA]

Ip[nA]

RsRv
Rs+Rv

1060
1580
1710
817
420
165
1060
2110
3160

327
337
338
983
318
141
446
343
325

281
280
281
804
189
162
315
290
285

250
278
282
446
181
76
314
295
295

Ip[nA]
Is + Iv

1
1
1.23
3.21
19.9
63.7
1
1
1

3.24
4.70
6.24
3.87
15
57.4
2.37
6.15
9.72

3.77
5.65
7.51
3.93
33.4
58.2
3.36
7.26
11.1

4.24
5.70
7.47
7.08
34.9
124.7
3.37
7.15
10.72

Cuadro 4.3.5: Relacin.a Resistencias y Corrientes de Fuga

Vericar la integridad estructural del objeto a ensayar podra ayudar a ahorra tiempo
y realizar un diagnostico mas acertado sobre el aislamiento.
Antes de realizar cualquier ensayo o prueba elctrica. Establecer los niveles de tensin
de ensayo para evitar errores de medicin o algn accidente
Ante pruebas contradictorias. investigar posibles errores de medicin a causa de contaminacin o humedad o tal-ves a causa de la eleccin inadecuada de la tensin de
prueba. Si la contradiccin no se supera, considerar el resultado menos favorable
como el resultado nal.

60

Bibliografa
[1]

TERCO High Voltage Experiments.-pagina 1

[2]

FLUKE Manual De Uso.-

[3]

MEGGER Pruebas De Aislamiento.- Evaluacin de Estado de Equipo de Subestacin-

[4]

Comisin Federal De Electricidad.- Coordinacin De Distribucin.- Pruebas De Resistencia De Aislamiento.-sec 2.3.2

[5]

Comisin Federal De Electricidad.- Coordinacin De Distribucin.- Mtodos de


Medicin.- Prueba De Tiempo Resistencia subseccin 2.3.2.3.- prrafo a)

[3.1] MEGGER

Pruebas

De

Aislamiento.-

Evaluacin

de

Estado

de

Equipo

de

Subestacin.- Pruebas en Corriente Continua Aislamiento Slido.- pagina 4- Direccin


de

Internet:

http://www.pdf/guias_megger/Equipos %20de %20subestaciones.pdf-

Fecha de consulta: 11/30/2011


[3.2] MEGGER

Pruebas

De

Subestacin.-Prueba

Aislamiento.-

de

Alto

Potencial

Evaluacin
DC.-

de

pagina

Estado

de

Equipo

10-Direccin

de

de

Internet:

http://www.artecing.com.uy/pdf/guias_megger/Equipos %20de %20subestaciones.pdfFecha de consulta: 11/30/2011


[3.3] MEGGER
de

Pruebas

Subestacin.-

De

Aislamiento.-

Pruebas

En

Evaluacin

Corriente

Alterna-

de

Estado

de

Direccin

de

Equipo
Internet:

http://www.artecing.com.uy/pdf/guias_megger/Equipos %20de %20subestaciones.pdfFecha de consulta: 11/30/2011


[3.4] MEGGER

Pruebas

De

Aislamiento.-

Evaluacin

de

Estado

de

Equipo

de

Subestacin.-Prueba De Alto Potencial AC.- pagina 16- Direccin de Internet:


http://www.artecing.com.uy/pdf/guias_megger/Equipos %20de %20subestaciones.pdfFecha de consulta: 11/30/2011
[3.5] MEGGER

Pruebas

De

Aislamiento.-

Evaluacin

de

Estado

de

Equipo

de

Subestacin.- Prueba De Factor De Potencia.- pagina 16- Direccin de Internet:


http://www.artecing.com.uy/pdf/guias_megger/Equipos %20de %20subestaciones.pdfFecha de consulta: 11/30/2011
[6]

Comisin Federal De Electricidad.- Coordinacin De Distribucin.-Prueba De Factor


de Potencia a los Aislamientos.- seccin 2.3.3

[7]

MEGGER
Relacin

La
de

Gua

Completa

Absorcin

para

Dielctrica.-

Pruebas
paginas

de

Aislamiento

18-19-Direccin

de

Elctrico.Internet:

http://www.ingeborda.com/biblioteca/Megger/Guia_pruebas_aislamiento.pdfFecha de consulta: 12/2/2011

61

[8]

IEEE Recommended Practice for Testing Insulation Resistance Rotating Machinery.Polarization index readings.- seccin 5.4

[9]

MEGGER

Pruebas

Subestacin.-

De

Mtodos

Aislamiento.De

Prueba.-

Evaluacin

paginas

de

4-5-6-7

Estado
-

de

Direccin

Equipo
de

de

Internet:

http://www.artecing.com.uy/pdf/guias_megger/Equipos %20de %20subestaciones.pdfFecha de consulta: 11/30/2011


[10]

IEC 60 Magnitudes y Deniciones.- Aparte 6.1, 6.2, 6.3.- paginas 27-31-33

[11]

UNE - EN 60060-2 (1997-4) Tcnicas de ensayo en alta tensin. Parte 2: Sistema de


medidas

[12]

MEGGER
po
de

de

Pruebas

De

Aislamiento.-

Subestacin.-Prueba

Velocidad

de

De

Operaciones.-

Evaluacin
Resistencia

pagina

14-

de
De

Estado

de

Equi-

Contactos.-Prueba

Direccin

de

Internet:

http://www.guias_megger/Equipos %20de %20subestaciones.pdf - Fecha 11/30/2011

62

Parte II

Anexo 1

63

Caractersticas Elctricas de los Materiales


Las caractersticas mas importantes desde el punto vista elctrico; y que deben ser
determinados en equipos y materiales utilizados en Alta Tensin son:
Resistencia de Aislamiento
Nivel Bsico de Aislamiento
Rigidez Dielctrica

Resistencia de Aislamiento

La resistencia de aislamiento no es mas que la facilidad

maniesta del material o del objeto bajo ensayo, al paso de la corriente elctrica.
El modelo bsico de un aislamiento elctrico, como se ve en la gura 1.6.1 nos muestra
la circulacin de corriente presente en presencia de una tensin elctrica.

Figura .0.2: Corrientes en un Dielctrico ante un Campo Elctrico DC.

donde:

is

= corriente supercial

iv =

corriente metricara

ic =

corriente capacitiva de carga

ia =corriente

de absorcin dielctrica

Corriente supercial

La corriente supercial es la corriente que circula por la supercie

o exterior del aislamiento y es causadas por varios factores, como la contaminacin, la


polucin, la humedad a travs de los cuales pasa el campo elctrico.

Corriente metricara

Ella atraviesa o circula por el interior del material aislante y es

esta corriente la que nos permite determinar el estado del aislamiento al interior del mismo.

64

Corriente capacitiva de carga

Forma parte de la corriente de fuga metricara y de-

pende de la capacidad que intrnsecamente se forma cuando el material se expone a una


tensin DC y se maniesta como acumulacin de energa de campo elctrico y puede ser
calculada segn:
t
V
exp RC
R

ic =
donde:

ic .......Corriente

de carga capacitiva

......Voltaje en kV

......Resistencia en Mega-ohmios

.....Capacitancia en microfaradios

.......Tiempo en segundos

Corriente de absorcin dielctrica

Tambin forma parte de la corriente metricara;

aparece como resultado del movimiento de cargas, por el efecto polarizan te del campo
elctrico DC., disminuye cuando disminuye el movimiento de las cargas; su intensidad se
calcula as:

ia = V C D T n
donde:

ia .....Corriente
V .....Voltaje

de absorcin dielctrica

de prueba en kV

C .....Capacitancia
D....

del equipo bajo prueba, en microfaradios

Constante de proporcionalidad

T .....Tiempo

en segundos

n......Constante
Nivel Bsico de Aislamiento

Para caracterizar el aislamiento de los aparatos de

energa de alta tensin se emplea parmetros como el Nivel Bsico de Aislamiento para
impulso de rayo y Nivel Bsico para Impulso de Interrupcin (BIL, por basic lightning
impulse insulation level). Este es un nivel especico del aislamiento expresado en funcin
del valor de cresta de un impulso estndar de rayo.

65

Parte III

Anexo 2

66

Mtodos de Prueba (Ensayos Elctricos)


Los mtodos de prueba o ensayo a ser utilizados en la experimentacin depende bsicamente del tipo de objeto a ensayar, de lo que nos interesa determinar en el ; as como de
sus caractersticas mecnicas y elctricas.
Mtodos Estadsticos
Prueba de Corto Tiempo o Lectura Puntual
Mtodo Tiempo Resistencia
Mtodo de voltaje por pasos
Prueba de Relacin de Absorcin Dielctrica
Prueba de Indice de Polarizacin
Prueba de Descarga Dielctrica
Los mencionados aqu tienen por objeto determinar el comportamiento de la resistencia
de aislamiento, son pruebas DC, que a diferencia de las que se realizan en AC no son destructivas y mas importante, revelan el estado del material, permitiendo al experimentador
infer el remplazo o mantenimiento y de ser el caso recomendar o no el empleo del mismo
en una aplicacin especica de diseo.

Mtodos Estadsticos

Son empleados cuando la variable en estudio posee un compor-

tamiento aleatorio de difcil prediccin. Este comportamiento depende del nivel de tensin
nominal de trabajo del aislamiento como de las condiciones medioambientales que por su
naturaleza tambin son probabilistas. En esta tesis el mtodo va orientado al tratamiento
estadstico de las pruebas de impulso de tensin tipo rayo. A continuacin se propone el
procedimiento a seguir:
El tratamiento estadstico empieza por registrar y tabular las disrupciones que se
presentan durante la prueba. Se propone el siguiente cuadro .1 para registrar estos
eventos. Se llenas cada casilla con un si o un no en caso de disrupcion sumando los
resultados positivos para cada tensin de ensayo.

Tensin de Prueba en [kV]


Muestra

U1

U2

U3

....

....

Un

No

....

....

....

....

....

Si

....

....

....

....

....

....

....

....

....

....

.....

....

....

....

....

....

.....

....

....

....

....

....

....

....

....

....

....

Cuadro .0.6: Modelo de Tabla para Tabular las Disrupciones


El resultado obtenido en el paso anterior se tabulan para su procesamiento en el
cuadro..0.7. Aqu aparece los valores de y(U) que es la aproximacin lineal de la
distribucin de probabilidades relativas P(U).. No se pude establecer una correspondencia analtica entre los valores de P(U) e y(U) pero la siguiente aproximacin se
pude utilizar con las condiciones que se enuncia con ella.

67

U[kV]

nd

Q[ %]

U1

nd1

P1(U)

y1

U2

nd2

P2(U)

y2

U3

nd3

P3(U)

y3

....

....

....

....

....

....

....

....

Un

ndn

Pn(U)

yn

Cuadro .0.7: Modelo de Tabla para Tabular Datos de Probabilidad

y =t

C0 + C1 t + C2 t 2
+ | (Q) |
1 + d1 t + d2 t2 + d3 t3

Donde:

| (Q) |< 4, 5 104

es el error contenido al usar la aproximacin.

q
ln Q12
q
t=
ln 1 2
(1Q)

para 0 < Q 0, 5
para 0, 5 < Q < 1

con:

C0 = 2, 515517
C1 = 0, 802853
C2 = 0, 010328
d1 = 1, 432788
d2 = 0, 189269
d3 = 0, 001308
entonce con U como

el valor de la escala lineal correspondiente a

(
U=

y para 0 < Q 0, 5
y para 0, 5 < Q < 1

Esto permitir determinar la ecuacin lineal

y = mU + b

lo que nos permitir conocer

por extrapolacin la probabilidad de ocurrencia de una ruptura a una tensin dada.

Prueba de Corto Tiempo o Lectura Puntual

Los materiales u objetos que se some-

ten a esta prueba, no poseen una caracterstica capacitiva notoria por lo que, la corriente
capacitiva de carga como la corriente de absorcin dielctrica tienden a desaparecer en
poqusimo tiempo. Esto permite una lectura conable de la resistencia de aislamiento.
Se realiza conectado al equipo en prueba a una tensin DC inyectndole energa por
un lapso de 30 a 60 segundos. El valor de la prueba tiene mayor valides si los resultados se
comparan con lecturas realizadas a la misma tensin y temperatura (20 grados) en pruebas
anteriores.

Mtodo Tiempo Resistencia

Basada en el conocimiento del decaimiento que sufre

la corriente de absorcin dielctrica en el tiempo. Propone analizar la tendencia de la


resistencia de aislamiento sometida a una tensn ja y a intervalos de tiempo especcos.
Arrojando resultados concluyentes sin el apoyo de pruebas previas.
Esta se desarrolla tomando lecturas puntuales en esos intervalos especcos. En un
buen aislamiento se espera que al disminuir la corriente que atraviesa el volumen del
aislante su resistencia se incremente, de no ocurrir as diramos que el mismo se encuentra
comprometido.

68

Mtodo de Voltaje por Pasos

Esta recomendado para aquellos aislamientos que pre-

sentan una alta caracterstica capacitiva, misma que limita la abilidad de una lectura de
corto tiempo o puntual. Las mediciones se realizan a diferentes tensiones, la tendencia en
la lectura de la resistencia debe ser creciente a medida que se incremente el voltaje de
prueba. Se recomienda dos a tres lecturas como mnimo.
Una disminucin de la resistencia indicara un deterioro del aislamiento producto del
envejecimiento, dao del equipo, o contaminacin.

Prueba de Absorcin Dielctrica

Se conduce a tensin nominal, tomando lecturas

a los 30 segundos y 60 seguidos de haber iniciado la prueba y se realiza el cociente entre


la lectura a los 60 segundos y la tomada a los 30 segundos. Al igual que en las pruebas
anteriores se juzga la tendencia de la resistencia de aislamiento para determinar el estado
del mismo.
El indice de absorcin dielctrica se lo representa por las siglas DAR y es igual a:

DAR =

R60
R30

donde:

R60 .....Resistencia

a los 60 segundos

R30 .....Resistencia

a los 30 segundos

Prueba de Indice de Polarizacin

Conocida por sus siglas PI se la determina tomando

una lectura al primer minuto y otra a los 10 minutos de la prueba. Esta es valida para
materiales de fcil polarizacin; esta prueba podra detectar humedad o contaminacin.
La ecuacin que la dene es:

IP =

R10
R1

donde:

R10 .....Resistencia

a los 10 minutos

R1 ......Resistencia

al primer minuto

Prueba de Descarga Elctrica

Esta prueba esta diseada para revelar el estado del

interior del aislamiento. Explota la caracterstica capacitiva y de absorcin del mismo.


Permitiendo que la corriente capacitiva de carga se extinga y midiendo la corrinte circulante
de absorcin.
La prueba se realiza inyectando energa al aislamiento por un tiempo entre 10 a 30
minutos luego se deja transcurrir 1 minuto, permitiendo que la corriente capacitiva se
extinga, pues posee una constante de tiempo RC muy reducida. La medicin de la corriente
de absorcin se realiza de manera indirecta introduciendo una resistencia de medicin para
determinarla, por la cada de tensin en la misma aplicando la ley de ohm.
El nivel de lectura de la corriente de absorcin determina el estado de aislamiento,
una lectura alta indica contaminacin generalmente por humedad, seguramente porque el
aislamiento se encuentra fracturado o agrietado, una lectura de corriente baja nos dir
que el aislamiento se encuentra en buen estado; estas lecturas son inuenciada por la
temperatura por lo que se aconseja tomar anotacin de ella.
El indicador se representa por la siglas DD y viene dado por:

69

DD = ia (en nA)/[V oltaje de P rueba (en V ) Capacitancia (en mf )]


Podemos utilizar el cuadro 4.3.2 comparativo con el n de usarlos como valores referenciales.
Descarga Dielctrica

Condicin del

Resultante

Aislamiento

Mayor a 7

Malo

Mayor a 4

Pobre

Entre 2 y 4

Cuestionable

Menor de 2

Bueno

Cuadro .0.8: Valores Referencia-les de la Prueba Descarga Dielctrica

70

Parte IV

ANEXO 3

71

Cuadro .0.9: Hoja de Datos del Aislador 52.1

72

Parte V

ANEXO 4

73

Figura .0.3: Descripcin del Pararrayos de 18 kV-15.3 kV MCOV

74

Figura .0.4: Caractersticas Elctricas del Pararrayos

75

Parte VI

ANEXO 5

76

Pruebas y Normas de Diseo


Aislador

Tipo

Prueba

Norma

Clausula

Polimricos

Retencin

Contorneo Frecuencia

ANSI C29.13

8.1

ANSI C29.13

8.2

ANSI C29.13

8.3

Industrial Seco
Polimrico

Retencin

Contorneo Frecuencia
Industrial Hmedo

Polimrico

Retenci

Voltaje Critico Impulso

Plimrico

Retencin

Radio Interferencia

ANSI C29.13

8.4

Polimrico

Pin

Contorneo Frecuencia

ANSI C29.5 O

8.2.1

Industrial Seco

ANSI 29.6
ANSI C29.5 O

Positivo y Negativo

Polimrico

Pin

Contorneo Frecuencia
Industrial Hmedo

ANSI 29.6

Polimrico

Pin

Voltaje Critico Impulso

ANSI C29.5

Positivo y Negativo

ANSI C29.6

Radio Interferencia

ANSI C29.5

Polimrico

Pin

8.2.2
8.2.3
8.2.4

ANSI C29.6
Polimrico

Line Post

Elctricas

IEC 61952

11.1

Porcelana

Line Post

Contorneo Frecuencia

ANSI C29.7

8.2.1

ANSI C29.7

8.2.2

ANSI C29.7

8.2.3

ANSI C29.7

8.2.4

Industrial Seco
Porcelana

Line Post

Contorneo Frecuencia
Industrial Hmedo

Porcelana

Line Post

Voltaje critico Impulso


Positivo y Negativo

Porcelana

Line Post

Radio Interferencia

Cuadro .0.10: Referencias Especicas - Normas de Ensayos

Prueba de Rutina.- Tensin de Contorneo de


Aisladores de Porcelana o Vidrio
Tipo

Norma

Clausula

Retencin

ANSI C29.2

8.4.4

Pin

ANSI C29.5 -

8.4

ANSI C29.6
Line Post

ANSI C29.7

8.4.1

Cuadro .0.11: Normas de Prueba de Contorneo

Pruebas y Normas.- Gua de consulta, norma y ensayo segn el tipo de objeto


Descripcin de algunos acpites de inters para la ejecucin de los ensayos

Pruebas de Rutina
ANSI C29.2

Para Aisladores De Porcelana O Vidrio Tipo Retencin.


Ensayos De Voltaje De Contorneo_Clausula (8.4.4).
Cada aislador de porcelana ser sometido a una prueba de rutina de un contorneo
segn7.1 de la norma ANSI C29.1. Todos los aislantes cumplirn con los requisitos de esta
norma.
Para Aisladores De Porcelana Tipo Pin.

ANSI C29.6

77

Ensayos De Voltaje De Contorneo_Clausula (8.4).


Cada aislador de porcelana ser sometido a una prueba de rutina de un contorneo
segn7.1 de la norma ANSI C29.1. Todos los aislantes cumplirn con los requisitos de esta
norma.
Para Aisladores De Porcelana Tipo Line Post (Pilar).

ANSI C29.7

Ensayos De Voltaje De Contorneo_Clausula (8.4.1).


Cada ncleo aislante de la cavidad podr ser sometido a una prueba de contorneo, de
conformidad con la clusula 7.1 de la norma ANSI C29.1. Para esta prueba, un electrodo
se coloca en cada lado de, y junto a la barrera de porcelana. Todos los aislantes que la
puncin no cumple con los requisitos de esta norma.

78

Parte VII

Test Methods for Electrical Power


Insulators

79

Secretariat
National Electrical Manufacturers Association
Approved as an
American National Standards Institute, Inc.

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of persons engaged in the development and approval of the document at the time it was
developed. Consensus does not necessarily mean that there is unanimous agreement among
every person participating in the development of this document.
The National Electrical Manufacturers Association (NEMA) standards and guideline
publications, of which the document contained herein is one, are developed through a voluntary consensus standards development process. This process brings together volunteers
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Approval of an American National Standard requires verication by ANSI that the
requirements for due process, consensus, and other criteria for approval have been met by
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Consensus is established when, in the judgment of the ANSI Board of Standards Review, substantial agreement has been reached by directly and materially aected interests.
Substantial agreement ineans much more than a simple majority, but not necessarily unaniinity. Consensus requires that all views and objections be considered, and that a concerted
eort be made toward their resolution.
The use of American National Standards is completely voluntary; their existence does
not in any respect preclude anyone, whether he has approved the standards or not, from

80

manufacturing, marketing, purchasing, or using products, processes, or procedures not


conforming to the standards.
The American National Standards Institute does not develop standards and will in
no circumstances give an interpretation of any American National Standard. Moreover,
no person shall have the right or authority to issue an interpretation of an American
National Standard in the name of the American National Standards Institute. Requests
for interpretations should be addressed to the secrefariat or sponsor whose name appears
on the title page of this standard.

CAUTION NOTICE:

This American National Standard may be revised or withdrawn

at any time. The procedures of the American National Standards Institute require that
action be taken perioically to rearm, revise, or withdraw this standard. Purchasers of
American National Standards may receive current information on all standards by calling
or writing the American National Standards Institute.

81

American National Standard for Electrical Power Insulators - Test Methods

.1. Scope

.2.1.5.

A cap and pin insulator is an assembly

This standard comprises a manual of


test methods to be followed in making tests
to determine the characteristics of electrical
power insulators, as dened herein. Individual tests shall be made only when specied.

.2. Denitions

Cap and Pin Insulator.

of one or more shells with metallic cap .


and pin, having means for direct and rigid
mounting.

.2.1.6.

Line Insulator (Pin, Post).

A line hsulator.is an assembly of one or


more shells, having means for semirigidly
supporting line conductors.

NOTE: Denitions as given


herein apply specically to the
subject

treated

in

this

.2.1.7.

stan-

see

American

National

Stan-

An apparatus insulator is an assembly

dard Dictionary of Electrical and

of one or more apparatus- insulator units,

Electronics Terms, ANSI/IEEE

having means for rigidly supporting electric

100-1988.

equipment.

.2.1. Insulators and Parts


.2.1.1.

Apparatus Insulator (Cap and


Pin, Post).

dard. For additional denitions

2.1.7.1 Unit.

Insulator.

An apparatus-insulator unit is an assem-

An insulator is a device intended to give

bly of one ormore shelis with attached metal

exible or rigid support to electric conduc-

parts, the function of which is to support

tors or equipment and to insulate these con-

rigidly a conductor, bus, or other conduct-

ductors or equipment from ground or from

ing elements on a structure or base member.

other conductors or equipment.


An insulator comprises one or more in-

2.1.7.2 Stack.

sulating parts to which connecting devices


(metal ttings) are often permanently attached.

.2.1.2.

An apparatusinsulator stack is a rigid assembly of two or more apparatus-insulator


units.

Shell.

.2.1.8.

Suspension Insulator.

A shell is a single insulating member,

A suspension insulator is an insulator

having a skirt or skirts without cement or

with attached metal parts having means for

other connecting devices, intended to form

nonrigidly supporting electric conductors.

a part of an insulator or an insulator assembly.

2.1.8.1 Unit.

.2.1.3.

A suspension-insulator unit is an assem-

Pin Insulator.

bly of a shell and hardware, having means

A pin insulator is an insulator having

for nonrigid coupling to other units or ter-

means for rigid mounting on a separable pin.

minal hardware.

.2.1.4.

2.1.8.2 String.

Post Insulator.

A post insulator is an insulator of gener-

A suspension-insulator string is an as-

ally columnar shape, having means for direct

sembly of two or more suspension insulators

and rigid mounting.

in tandem.

82

.2.1.9.

2.2.3.1 Dry withstand voltage tests are

Strain Insulator.

Astrain insulator is an insulator gener-

tests as described in

4.4.

ally of elongated shape, with two transverse

2.2.3.2 Wet withstand voltage tests are

holes or slots.

tests as described in

4.5.

2.2.3.3 Dew withstand voltage tests


.2.1.10.

are tests as described

Spool Insulator.

A spool insulator is an insulator of gener-

.2.2.4.

Puncture

Voltage.

ally cylindrical form having an axial mounting hole and a circumferential groove or
grooves for the attachment of a conductor.

Low-Frequency

in 4.6.

A lowfrequency puncture voltage of an


insulator is the rootmean- square value of
the low-frequency voltage that, under spec-

.2.1.11.

ied conditions, causes disruptive discharge

Wire Holder.

through any part of the insulator. Puncture


A wire holder is an insulator of generally

tests are tests as described in 4.1 1.

cylindrical or pear shape, having a hole for


securing the conductor and a screw or bolt
for mounting

.2.3. Impulse Voltages


.2.3.1.

.2.2. Low-Frequency Voltages


.2.2.1.

Impulse Wave.

An impulse wave is a unidirectional surge


generated by the release of electrical energy

Low Frequency.

into an impedance network.

Low frequency, as used in this standard,


means any frequency between 15 and 100

.2.3.2.

hertz.

Impulse Flashover Voltage.

An impulse ashimpulse over voltage of


an insulator is the crest value of the impulse

.2.2.2.

Low-Frequency

Flashover

Voltage.
A lowfrequency ashover voltage of an

wave that, under specied conditions, causes


ashover through the surrounding medium.

.2.3.3.

insulator is the root. mean-square value of

Critical

Impulse

Flashover

Voltage.

the low-frequency voltage that, under specied conditions, causes a sustained disruptive

The critical impulse ashover voltage of

discharge through the surrounding medium.

an insulator is the crest value of the impulse wave that, under specied conditions,

2.2.2.1 Dry ashover voltage tests are


tests as described in

4.2.

.2.2.3.

Low-Frequency

medium .on 50% of the applications.

Im-

pulse ashover voltage tests are tests as de-

2.2.2.2 Wet ashover voltage tests are


tests as described in

causes ashover through the surrounding

4.3.

scribed in 4.7.

.2.3.4.

Withstand

Voltage.

Impulse Withstand Voltage.

The impulse withstand voltage of an insulator is the crest value of an applied im-

A lowfrequency withstand voltage of an

pulse voliage that, under specied condi-

insulator is the rootmean-square value of the

tions, does not cause a ashover, puncture,

low-frequency voltage that, under specied

or disruptive discharge on the test specimen.


impulse withstand voltage tests are tests

conditions, can be applied without causing


ashover or puncture.

as described in 4.8.

83

.2.4. Mechanical Strength


.2.4.1.

dry ashover test.

Ultimate Mechanical Strength.

The ultimate mechanicd strength of an

(Surfaces coated with

semiconducting glaze shall be considered '


as eective leakage surfaces, and leakage distance over such surfaces shali be included

insulator is the load at which any part of the

in the leakage distance.)

insulator fails to perform its function of pro-

Distance.

viding a mechanical support without regard

insulator is the shortest distance through

to electrical failure.

the surrounding medium between terminai

Ultimate mechanical-

2.5.3 Dry-Arcing

The dry-arcing distance of an

electrodes, oc the sum of the distances be-

strength tests are tests as described in 5:l.

tween intermediate electrodes, whichever is

.2.4.2.

Combined

Mechanical

and

Electrical Strength (Suspen-

the shorter, with the insulator mounted for


dry ashover test.

sion Insulator).
The combined mechanical and electrical

.2.5.1.

Radio-Inuence Voltage.

strength of a suspension insulator is the me-

The radio-inuence voltage of an insula-

chanical load at which the insulator fails

tor is the radio-frequency voltage measured

to perform its function either electrically or

under specied conditions. Radio-inuence

mechanically, when voltage and mechanical

voltage tests are tests as described in 4.9.

stress are applied simultaneously.


bined

mechanical-

and

A com-

electrical-strength

test is a test as described in 5.2.

.2.4.3.

Time-Load

Withstand

Strength.
The time-load withstand strength of an

.3. Test-Specimen Mounting


for Electrical Tests
.3.1. Suspension Insulators
.3.1.1.

insulator is the mechanical load that, under


specied conditions, can be continu.

ously

applied without mechanical or electrical failure. A time-load withstand test is a test as


described in 5.3.

.2.4.4.

Mounting Arrangement.

Unless otherwise specied, the test specimen (unit or string) shall be suspended vertically at the end of a grounded conductor
so that the vertical distance from the uppermost point of the insulator hardware to the
supporting structure shall be not less than 3

Mechanical-Impact Strength.

feet (9 14 mm).

The rnechanicalimpact strength of an insulator is the impact which, under speci-

.3.1.2.

Energized Electrode.

ed conditions, the insulator can withstand


without damage.

The energized or bottom electrode or

- A mechanical-impact

strength test is a test as described in 5.1.2.2.

conductor shall be a straight, smooth rod


or tube having an outside diameter not less

.2.5. Miscellaneous

than 314 inch (19 mm) nor more than 1-112


inches (38 mm). It shall be coupled to the

2.5.1 Test Specimen. A test specimen is

lower integral tting of the test specimen so

an insulator which is representative of the

that the distance from the lowest edge of the

product being tested; it is a specimen that

insulator shell to the upper surface of the

is undamaged in any way which would in-

electrode shall be between 0.5 and 0.7 of the

uence the result of the test.

diameter of the lowest insulator.

2.5.2 Leak-

The con-

age Distance. The leakage distance of an in-

ductor shall be horizontal and at right angles

sulator is the sum of the shortest distances

to the axis of the test specimen.

measured along the insulating surfaces be-

ductor shall be of such length that ashover

tween the conductive parts, as arranged for

will not be initiated at the electrode ends.

84

The con-

.3.1.3.

Proximity of Other Objects.

not smaller than No.

No objects, other than parts of the test


assembly, shall be nearer the test specimen
or energized electrodes than 1-1/2 times the
test-specimen dry-arcing distance, with a
minimum allowable distance of 3 feet (9 14

Wire Gage), the ends being closely wrapped


around the conductor on each side of the insulafor.

.3.2.4.

mm).

Proximity of Other Objects.

No objects, other than parts of the test


assembly, shall be nearer the test specimen

.3.2. Line Insulators (Pin, Post)


.3.2.1.

8 AWG (American

Mounting

or energized electrodes than 1-1/2 times the

Arrangement

(Crossarm).

test-specimen dry-arcing distance, with a


minimum al. lowable distance of 3 feet (914
mm).

Unless otherwise specied, the supporting crossarm shall be a horizontal, straight,


smooth , grounded, metallic tube or structural member having a horizontal width not
less than 3 inches (76 mm) nor more than 6

.3.3. Apparatus Insulators (Cap


and Pin, Post)
.3.3.1.

inches (152 mm). It shall be of such length


that ashover will not be initiated at its
ends.

.3.2.2.

Mounting Arrangement.

Unless otherwise specied, the test specimen shall be mounted vertically upright
on a horizontal, grounded 10-inch (254-mm)
channel, with the channel anges project-

Mounting Pin (If Required).

ing down. A subbase shallbe used if the in-

When a separable pin is required, the

sulator characteristics are predicated on its

test specimen shall be mounted vertically on

use. The supporting channel shall be of such

a 1-inch (25-mm) diameter metal pin of such

length that askover will not be initiated at

length that the shortest dry.arcing distance

its ends, and its top surface shall be not less

from the upper electrode and

than 3 feet (914 mm) above the ground.

connected

metallic parts to the supporting crossarm


shall be 25% greater than the similar distance to the pin.

.3.3.2.

Energized Electrode.

The pin shall be coaxial


Insulators having

The energized or top electrode or con-

integrally assembled means for mounting on

ductor shall be a horizontal round rod or

a crossarm shall be mounted vertically and

tube at right angles to the supporting chan-

directly on th'e test crossam.

nel, and of a diameter approximately 5% of

with the test specimen.

the test-specimen dry-arcing distance within

.3.2.3.

the limits of 4-1/2 inches (1 14 mm) maxi-

Energized Electrode.

mum and 112 inch (13 mm) minimum. The

The energized or top electrode or con-

length of the conductor shall be such that

ductor shall be a horizontal round rod or

ashover will not be initiated at its ends. It

tube placed at right angles to the support-

shall be mounted directly in contact with the

ing crossarm, and 0f.a diameter not less than

top integral tting of the test specimen, and

1/2 inch (13 mm). It shail be of such length

with its horizontal axis in the same vertical

that ashover will not be initiated at its

plane as the vertical axis of the test speci-

ends. The conductor shall be placed in the

men.

top conductor groove of the test specimen.


When there is no top conductor groove, the
conductor shall be placed in the other means

.3.3.3.

Proximity of Other Objects.

provided for the conductor support. If a tie

No objects, other than parts of the test

wire is to be used, the conductor shall be se-

assembly, shall be nearer the test specimen

cured by means of at least two turns of wire

or energized electrodes than 1-1/2 times the

85

test-specimen dry-arcing distance, with a

other ends of the straps shall be suitably

minimum allowable distance of 3 feet (9 14

connected to a grounded Support.

mm).

.3.5.2.

.3.4. Strain insulators


.3.4.1.

Energized Electrode.

The energized electrode shall consist of


one turn of No.

Mounting Arrangement.

8 AWG conductor placed

around the wire groove and served back on

Unless otherwise specied, the test spec-

itself. This conductor shall be carried away

imen shall be mounted in a position with

from the test specimen parallel to and in a

its major axis at 45 degrees from the ver-

direction opposite to the supporting straps.

tical (for wet ashover test, the major axis


shall be at right angles to the spray direc-

.3.5.3.

tion, and the axis of the upper conductor


hole or slot shall be horizontal), using exible metal conductors of approximately 50%
of the hole diameter. The conductors shall
be clamped with guy clamps, spaced from
the test specimen at a distance not less than
the test-specimen length.

Mechanical ten-

sion sucient to avoid appreciable sag in the


setup shall be applied to the test specimen.

Proximity of Other Objects.

No objcfs, other than parts of the test


assembly, shall be nearer to the test specimen or energized electrodes than 1 foot (305
mm).

.4. Electrical Tests


.4.1. General.

The lower conductor shall be grounded.

Test specimens used for the tests in this


section shall have clean insulating surfaces.

.3.4.2.

Proximity of Other Objects.

No objects, other than parts of the test


assembly, shall be nearer the test specimen
or energized electrodes than 1-1/2 times the

.4.2. Low-Frequency Dry Flashover


Voltage Tests
.4.2.1.

dry-arcing distance of the test specimen,


with a minimum allowable distance of 1 foot
(305 mm).

test-specimen

mounting

for

dry

ashover voltage tests shall be in accordance


with Section 3.

.3.5. Spool Insulators


.3.5.1.

The

Mounting Arrangement.

.4.2.2.

Mounting Arrangement.

The

The test specimen shall be mounted horizontally or vertically [as specied in Fig. 1
through 5 of American National Standard
for Wet-Process Porcelain Insulators (Spool
Type), ANSI C29.3-1986) , and in contact
with two smaothmetallic straps 1-1/2 inches
(38 mm) wide and of any suitable thickness.
A rod of suitable diameter shall pass through

Voltage Application.
initiai

applied

voltage

may

be

quickly raised to approximately 75% of the


expected average dry ashover voltage value.
The continued rate of voltage increase shall
be such that the time to ashover will be not
less than 5 seconds nor more than 30 seconds
after 15% of the ashover value is reached.

.4.2.3.

Dry Flashover Voltage Vdue.

the axial hole of the test specimen and one

The dry ashover voltage value of a test

end of each of the straps. The straps shall

specimen shall be the arithmetical mean of

extend horizontally in one direction from the

not less than ve individual ashovers taken

rod and remain parallel to each other for a

consecutively. The period between consecu-

distance from the test specimen of not less

tive ashovers shall be not less than 15 sec-

than the height of the test specimen.

onds nor more than 5 minutes.

The

86

.4.2.4.

Corrections

b =barometric pressure, in inches of mercury

4.2.4.1 Standard Conditions.

Dry ashover voltage values shall be cor-

=temperature

t0 =wet-bulb

tional Standard Techniques for High-Voltage

grees Fahrenheit

Testing, ANSI/IEEE 4-1978, except the fol-

29.92 inches
(1 0.086 X 1 O'

P h =vapor pressure, in pascals


P =pressure, in pascals, of saturated

77'F (25OC)

mercury
(2.051

temperature of air, in de-

where

pascals)
0.6085 inch of

degrees

P h = P s 0.0876b(t t0 )(1 + 0.00115t0 )

of mercury

Vapor pressure:

in

For SI units:

lowing standard conditions shall apply:

Temperature:

air,

Fahrenheit

rected in accordance with American Na-

Barometric pressure:

of

aqueous vapor at
temperature t'

lo3

b =barometric

pascals)

pressure, in pascals

t = temperature of air, in degrees Celsius

t0 =wet-bulb

Humidity and relative air density corrections shall be calculated in accordance with

temperature of air, in de-

grees Celsius

4.2.4.2 and 4.2.4.3

4.2.4.3 Air Density.

4.2.4.2 Humidity.
The dry ashover voltage value shall be
corrected to standard humidity conditions in
accordance with the curves in Fig. 1. (Humidity correction curves are not available for
spool and strain insulators.)
The vapor pressure shall be determined

The dry ashover voltage value shall be


coxrected to standard atmospheric temperature and pressure conditions. To do so, divide the measured voltage value by the relative air density correction factor, Kd, Calculated in one of the following ways:
For US. customary units:

by the following procedure:


Humidity shall be measured with wet-

kd = 17,95

and dry-bulb thermometers, the air being


circulated past the thermometers at a vewhere

locity of 3 meters (9.84 feet), or more, per

P =barometric pressure in inches of mer-

second, or with the sling psychrometer. The


measurements shall be reduced to vapor

cury

T =air

pressure with the assistance of the Smithsonian Meteorological Tables or by the fol-

P
(460 + T )

temperature in degrees Fahren-

heit

lowing formulas:

For Si units:

For U.S. customary units:

Ph = Ps 0,00367b(t t, )(1 +

P Kd = 0.002955 (273 + T )

t, 32
)
1571

where

Where

P h =vapor

pressure, in inches of mer-

P =barometric pressure in pascals


T =air temperature in degrees Celsius
or

cury

P =pressure, in inches of mercury, of satkd = 0,032

urated aqueous
vapor at temperature t'

87

p
(273 + T )

where

ashover will be not less than 5 seconds nor

P =barometric pressure in millimeters of

more than 30 seconds after 75% of the wet

mercury

ashover voltage value is reached.

T =air

temperature in degrees Celsius

.4.3.5.

Wet Flashover Voltage Value.

.4.3. Low-Frequency Wet Flashover The wet ash. over voltage value of a
Voltage Tests
test specimen shall be the arithmetical mean
.4.3.1.
The

Mounting Arrangement.
test

specimen

mounting

for

of not less than ve individual ashovers


wet

ashover voltage jests shall be in accordance


with Section 3.

.4.3.2.

taken consecutively.

15 seconds nor more than 5 minutes.

.4.3.6.

Precipitation.

The precipitation shall be applied in accordance with subsection L3.3.2 and Table
1.2 (Practice in USA) of ANSI/IEEE 4-1978.

The period between

consecutive ashovers shall be not less than

Corrections.

Corrections shall be made in accordance


with 4.2.4, except that no correction for humidity shall be made.

.4.4. Low-Frequency Dry Withstand Voltage Tests


.4.4.1.
The

Mounting Arrangement.
test-specimen

mounting

for

dry

withstand voltage tests shall be in accordance with Section 3.

.4.4.2.

Voltage Application.

75% of the rated dry withstand voltage


may be applied in one step and gradually
raised to the required value in not less than
5 nor more than 30 seconds.

.4.4.3.
Figure .4.1: Low-Frequency Humidity Correction Factors

Test Voltage and Time.

The test voltage, which is the rated dry


withstand voltage with appropriate atmospheric corrections applied, shall be held on

.4.3.3.

Preparation of Test Specimen.

The preparation of the test specimen


shall

be

in

accordance

with

subsection

the test specimen for 1 minute.

.4.4.4.

Corrections.

Corrections shall be made in accordance

1.3.3.2 of ANSI/IEEE 4-1978.

with 4.2.4.

.4.3.4.

existing atmospheric conditions is obtained

Voltage Application.

At not less than 1 minute after the nal


adjustment of the spray, the applied voltage may be raised quickly to approximately

from the rated withstand voltage, as given


for standard atmospheric conditions, by use
of the following equation:

75% of the expected average wet ashover


voltage value.

The test voltage applicable to

V = Vs

The continued rate of volt-

age increase shall be such that the time to

88

where

V =test

where

Voltage, in kilovolts, applied to

V =test

test specimen

Vs =rated withstand voltage, in kilovolts


S =relative air density
H =humidity correction factor applica-

voltage, in kilovolts, applied to

test specimen

Vs =rated withstand voltage, in kilovolts


=relative air density

ble for the particular test specimen

.4.6. Low-Frequency Dew Withstand Voltage Tests


.4.5. Low-Frequency Wet Withstand Voltage Tests
.4.6.1. Preparation of Test Specimen.
.4.5.1.

Mounting Arrangement.

The

test-specimen

mounting

for

The test specimen shall be placed in a


wet

chamber having a temperature of from -10C

withstand voltage tests shall be in accor-

to -15C (14F to 5F) until the specimen is

dance with Section 3.

thoroughly cooled. (Cooling may take 10 to


12 hours.)

.4.5.2.

Precipitation.

The precipitation shall be applied in ac-

.4.6.2.

Mounting Arrangement.

cordance with subsection 1.3.3.2 and Table

The test specimen shall be mounted in

1.2 (Practice in USA) of ANSI/lEEE 4-1978.

accordance with Section 3 in a test chamber having a temperature of approximately

.4.5.3.

Preparation of Test Specimen.

The preparation of the test specimen


shall

be

in

accordance

with

subsection

77'F (25C). The relative humidity in the


test chamber shall be approximately 100%.
This may be obtained by passing live steam
at atmospheric pressure into the chamber.

1.3.3.2 of ANSI/IEEE 4-1978.

.4.6.3.
.4.5.4.

Voltage Application.

Voltage Application.

The voltage shall be raised rapidly to

75% of the rated wet withstand voltage

dew withstand test voltage, while the test

may be applied in one step and gradually

suecimen is completely covered with dew.

raised to the required value in not less than

The time to raise the voltage shall b not

5 nor more than 30 seconds.

more than 20 seconds.

.4.5.5.

.4.6.4.

Test Voltage and Time.

Test voltage and Time.

The test voltage, which is the rated wet

The test voltage, which is the rated dew

withstand voltage, with appropriate atmo-

withstand voltage with appropriate atmo-

spheric corrections applied, shall be held on

spheric corrections applied, shall be held on

the test specimen for 10 seconds.

the test specimen for 10 seconds.

.4.5.6.

.4.6.5.

Corrections.

Corrections shall be'made in accordance

Corrections shall be in accordance with


4.2.4,

except that no correction shall be

made for humidity. The test voltage applicable to existing atmospheric Conditions is obtained from the rated withstand voltage, as
given for standard atmospheric conditions,
by use of the following equation:

Corrections.

with 4.5.6

.4.7. Impulse Flashover Voltage


Tests
.4.7.1.

General.

Impulse ashover voltage tests are made-

V =Vs

under dry conditions only.

89

.4.7.2.

Mounting Arrangement.

The test-specimen mounting for impulse


ashover voltage tests shall be in accordance
with Section 3.

.4.7.3.

.4.8.1.

General.

Impulse

IrnpulseVoltage Wave.

withstand

voltage

tests

are

made to determine that the test specimen is

All tests shall be made with a 1.2 X


50-microsecond wave,

.4.8. Impulse Withstand Voltage


Tests

in accordance with

capable of withstanding a specied impulse


voltage.

ANSI/IEEE 4-1978

.4.7.4.

Critical

Impulse

Flashover

Voltage Value.

.4.8.2.

The test-specimen mounting for impulse

The critical impulse ashover voltage


shall

be

detetmined

in

accordance

with

withstand voltage tests shall be in accordance with Section 3.

ANSI/IEEE 4-1978.

.4.7.5.

Mounting Arrangement.

Volt-Time Flashover Cuives.

The volt-time ashover cumes shall be

.4.8.3.

Corrections.

determined in accordance with ANSIIIEEE


Corrections shall be made in accordance

4-1978

with 4.4.4, except that the curves in Fig. 2

.4.7.6.

Corrections.

4.7.6.1

Critical

Impulse

shall be used.

Flashover

Voltage.

4.8.4 Voltage Application. impulse withstand voltage tests shall be made with an
impulse of that polaiity which produces the

The critical impulse ashover voltage

lower ashover voltage on the test specimen.

value shall be corrected to standard condi-

Three consecutive impulses shall be applied

tions in accordance with 4.2.4, except that

to the test specimen.

the curves in Fig. 2 shall be used.

each shall be not less than the specied im-

The crest voltage of

pulse withstand voltage, with appropriate


atmospheric corrections.

4.7.6.2 Volf-Time Curves.


The full air-density corrections shall be
applicable. The humidity correction shall be
made as follows:
(1) When the critical ashover voltage

.4.9. Radio-Inuence
Tests

Voltage

value occurs at more than 10 microseconds,


full corrections shall be applied to all values

.4.9.1.

Mounting Arrangement.

with time lags of 10 microseconds or more.


When ashover above critical voltage occurs

The test-specimen mounting shall be in

at less than 10 microseconds, the correction

accordance with Section 3, except that the

shall be reduced in the direct ratio that the

clearance to objects, other than parts of the

time to ashover bears to 10 microseconds.

test assembly, shall in no case be less than 3

(2) When the critical ashover voltage

feet (914 mm) per 100 kilovolts of test volt-

value occurs at less than 10 microseconds,

age.

the correction shall be reduced in the direct

circuit shall be relatively free of radio inu-

ratio that the time to ashover bears to the

ence at a voltage 10% higher than the volt-

time at the critical ashover.

age at which the tests are to be performed.

90

All haidware assocjated with the test

if suitable correction factors should be determined, they could be applied to previous


measure. ments.

.4.9.4.

Precautions in Making RadioInuence Voltage Tests.

The following precautions should be observed when making a radio-inuence voltage test on a test specimen:

(1) The test

specimen should be at approximately the


same temperature as the room in which the
test is made. (2) The test specimen should
be clean.

(3) In some c.ases it may be

found that the radioinuence voltage falls o


Figure .4.2:

Impulse Humidify Correction

rapidly after the 60-hertz voltage has been


applied for a short time. In such cases it is

Factors

permissible to stabilize conditions by preex-

.4.9.2.

citing the test specimen at normal operating

Equipment.

voltage for a period not to exceed 5 minutes

The equipment used in making the radio-

before proceeding with the tests.

inuence voltage tests shall be in accordance


with NEMA 107-1964 (R1987), Methods of

.4.9.5.

Measuring Radio Noise?

4.9.5.1 Radio-Inuence Voltage.

4.9.2.1 Wave Shape.


The wave shape of the a p plied voltage

shall

be

sine

wave

of

acceptable

commcrcia1 standards in accordance with


ANSI/IEEE 4-1978.

The specied voltage shall be applied to


the test specimen, and the radio-inuence
voltage shall be measured in microvolts at
the specied radio frequency.

It is consid-

ered impractical to read radio-inuence test


voltages that are less than 10 microvolts.

4.9.2.2 Supply-Voltage Frequency.


The frequency of the supply voltage shall
be 60 hertz k 5%.

.4.9.3.

Methods of Making Tests

4.9.5.2

Radio-Inuence

Characteris-

tics.

Atmospheric Conditions.

The radio-inuence characteristics are

Tests shall be conducted under atmospheric conditions prevailing at the time and
place of test, but it is recommended that

determined
against

the

by

plotting

the

corresponding

test

voltage

radioinuence

voltage.

tests be avoided when the vapor pressure


exceeds 0.6 inch of mercury (2.02

103

pas-

cals). Since the eects of humidity and air


density upon the radio-inuence voltage are

.4.10. Visual CoronaTest


.4.10.1.

General.

not denitely known, no correction factors


To assist in locating a source of radio-

are recommended for either at the present


time.

However,

it is recommended that

inuence voltage, a corona test may be per-

barometric pressure and dry- and wet-bulb

formed.

thermometer readings be recorded so that

oughly darkened room.

91

The test shall be made in a thor-

.4.10.2.

.4.11.3.

Mounting Arrangement.

Percent Average Variation of


Puncture Volt age.

The test-specimen mounng shall be in


accordance with 4.9.1.

The percent average variation of the


puncture voltage is determined as follows:

.4.10.3.

Procedure.

Let

V I, V 2, V 3 ..., V n =individual

A voltage well above the corona point


shall be applied and slowly lowered until

values, in kilovolts

all discharges disappear from the test specimen.

V =average

The point of disappearance shall be

the corona voltage. The observer's eyes shall

punc-

ture voltage

puncture volt-

age, in

be thoroughly accustomed to the darkened

kilovolts

room before making visual observations.

then

.4.11. Puncture Tests


.4.11.1.

Mounting Arrangement.

V =

Puncture tests shall be performed on


fully assembled insulators only.

(V1 + V2 + V3 , ... + Vn )
n

Let

The test

a1 = V V1
a2 = V V2
a3 = V V3
An = V Vn

specimen shall be inverted and immersed in


insulating oil having a sucient dielectric
strength to prevent external ashover of the
specimen.
The oil shall be at least 6 inches (152
mm) deep over all parts of the test specimen. Voltage shall be applied between the

NOTE:

integrally assembled electrode (cap and pin)

positive: that is, neglect the slgns.

Consider all these values of n as

on all units having these parts. In the case

Let

of pin insulators having no conducting elec-

a =average variation, in kilovolts


A =percent average variation

trodes at one or both terminals, electrodes


shall be provided as follows:

then

An electrode in the pinhole shall be provided by setting a metallic thimble, with


suitable conducting material, such as cement

a=

or alloy. The thimble shall be provided with

(a1 + a2 + a3 + ..... + an )
n

a close-tting pin for attaching the conductor.

The top of the test specimen shall be

A=

coated with conducting material to a diam-

100 a
V

eter of approximately I inch (25 mm) larger


than the tesf-specimen head.

.5. Mechanical Tests

.4.11.2.

.5.1. Ultimate
MechanicalStrength Tests

Voltage Application.

Voltage shall be applied between the


electrodes, as described in 4.1 1.1. The ini. tiai applied voltage may be raised quickly

.5.1.1.

General.

to the rated dry ashover voltage of ihe test.

Mechanical load shall be applied to the

specimen. The voltage shall then be raised

test specimen in the manner prescribed in S.

at the rate of approximately 10000 volts ev-

1.1 through 5.3.2. The load shall be started

ery 15 seconds to the value at which punc-

at zero and smoothly brought up in a prac-

ture occurs.

tically stepless variation to the failure point.

92

The load may be increased rapidly to ap-

the test specimen and the testing machine

proximately 75% of rated strength of the in-

shall be such that no appreciable deection

sulator.

takes place at values up to the failure point

The rate of increase of load from

of the test specimen.

75% of rating to failure is given in Table 1.

Insulators whose de-

sign incorporates selfcontained metal caps,

.5.1.2.

Suspension Insulators

mounting bases, pins, or conductor clamps,


shall be tested with this hardware, using a

5.1.2.1 Tensile Strength.

suitable rigid support.

Mechanical-tensile load shall be applied


between terminal ttings in line with the

.5.1.4.

Apparatus

Insulators

(Cap

and Pin, Post)

axis of the test specimen.

5. 1.4.1 Cantilever Strength.


Cantilever-strength tests shall be made
with the test specimen adequately secured
to the testing machine.

The load shall be

applied normal to the axis of the test specimen at the specied point of application. in
demonstrating stack ratings, one insulator
unit may be used. The equivalent lever arm

Table .5.1: Rate of Increase of Load

may be obtained by bolting a bar or pipe of


proper length and stiness to the test spec-

5.1.2.2 Mechanical-Impact Strength.

imen.

The test specimen shall be mourited in


the specied test machine in the specied

5.1.4.2 Torsional Strength.

manner under a tensile load of approximately 2000 pounds-force (8896 N). The
bearing point of the pendulum shall be so
adjusted that, when released, the copper
nose will strike the outer rim of the shell
squarely in a direction parallel to the axis of
the unit and towards the cap. The test specimen shall receive an impact of the specied
severity by releasing the pendulum when its
shaft is opposite the corresponding mark on

Torsional-strength tests shall be made


with the test specimen adequately secured to
the testing machine. The torsional load shall
be applied to the test specimen through a
torque member so constructed that the test
specimen is not subjected to any cantilever
stress.

5.1.4.3 Tensile Strength.

the indicating scale. The pendulum shall be


released with no imparted acceleration. After receiving the specied impact, the test
specimen shall be tested for soundness by

Tensile-strength tests shall be made with


the test specimen adequately secured to the
testing machine. The load shall be applied
in line with the axis of the test specimen.

momentary ashover.

.5.1.3.

Line

Insulators

(Pin,

Post)

5.1.4.4 Compression Strength.


Compressionstrength tests shall be made

(Cantilever Strength).
Mechanical load shall be applied inline
with the side groove of the test specimen
and normal to the axis of the pinhole. The
load at the tie-wire groove may be applied

by applying load in compression in line with


the axis of the test specimen

.5.1.5.

Strain

Insulators

(Tensile

Strength).

by means of a loop of exible stranded caThe mounting pin,

Mechanical load shall be applied in line

connecting hardware, and linkages between

with the main axis of the test specimen, us-

ble or the equivalent.

93

ing exible, stranded, steel cable. Each cable loop shall be secured with clamps so positioned that the distance between the edge

.5.2. Combined Mechanical- and


Electrical-Strength
Test
(Suspension.Insulators).

of the nearest clamp and the end of the test


specimen is the same as the length of the
test specimen.

The diameter of the cable

used should not exceed 50% of the diameter


of the hole in the test specimen.

.5.1.6.

Load shall be applied as described in


5.1.1 and 5.1.2.1. Simultaneously, a lowfrequency voltage of not less than 75% of the
rated dry ashover voltage shall be applied
to the test specimen.

Spool Insulators (Transverse


Strength).

The test specimen shall be mounted between close-tting parallel straps, using a

.5.3. Time-Load-WithstandStrengthT
est
.5.3.1.

Mounting Arrangement.

through bolt of the same diameter as that

The test-specimen mounting shall be in

for which the test specimen is designed.

accordance with the pertinent provisions in

The straps and connecting linkage shall be

5.1.

such that no appreciable deection will take


place.

Mechanical load shall be applied in

.5.3.2.

the plane of the external wire groove. The


load shall be applied by means of a loop of
exible, stranded, steel cable. The diameter
of the cable shall not exceed the radius of
the wire grooves.

.5.1.7.

specied

load

shall

be

applied

smoothly, without undue vibration or shock,


and maintained for the specied period. After the load has been removed, the test specimen shall be checked for electrical soundness
by being subjected to momentary ashover.

Wire Holders

Test specimens having more than one shell


shall have each shell checked individually for

5.1.7.1 Tensile Strength.

electrical soundness.

The mounting screw or bolt shall be installed in such a manner that the mounting
surface of the test specimen does not touch
the support.

The

Loading.

Load shall be applied in line

.5.4. Porosiy Test


.5.4.1.

using a loop of exible, stranded, steel cathe radius of the wire hole in the insulator.
The loop shall be clamped, with the inside
edge of the nearest clamp placed 9 inches
(229 mm) from the end of the insulator.

of

Test

Speci-

mens.

with the axis of the mounting screw or bolt,


ble, the diameter of which shall not exceed

Preparation

Freshly broken fragments of the insulator, having clean surfaces exposed, shall be
used for this test. At least 75% of the Surface area shall be free from glaze or other
treatment.

Fragments approximately 1/4

inch (6 mm) in the smallest dimension up


to 3/4 inch (19 mm) in the largest dimension are recommended.

5.1.7.2 Cantilever Strength.


The mounting screw , or boit shall be
held

rigidly

in

such

manner

that

the

.5.4.2.

Testing Solution.

mounting base of the test specimen seats

For this test, a solution consisting of 1

squarely against the face of the plate. Load

gram of basic fuchsine dye dissolved in 1 liter

shall be applied in a plane parallel to the

of 50% alcohol shall be used. If a denatured

mounting surface, passing through the cen-

alcohol is used, one should be selected which

ter of the wire groove, using the exible loop

does not react with the dye to cause fading

arrangement described in 5.1.7.1.

of the color.

94

.5.4.3.

.5.5.4.

Procedure.

The test specimens shall be completely

The

Method of Making Test.


test

specimen

shall

rst

be

im-

immersed in the testing solution within a

mersed in a hot water bath for 10 minutes.

pressure chamber.

It shall then be withdrawn and immersed

A minimum pressure of

4000 poundsforce per square inch (27 600

in a cold water bath for 10 minutes.

Not

kN/m ) shall be applied for not less than

more than 5 seconds shall elapse in trans-

5 hours, or an optional test at minimum

ferring the test specimen from one bath to

10000 pounds-force per square inch (68 900

another. After the specied number of hot

kN/m ) for not less than 2 hours may be

and cold cycles; the test specimen shall be

used. At the conclusion of the pressure ap-

tested for electrical soundness by momen-

plication, the test specimens shall be thor-

tary ashover.

oughly dried and broken for examination.

.5.4.4.

.5.6. Pinhole-Gaging Test

Interpretation of Results.

.5.6.1.

General.

Penetration into small ssures formed in


preparing the test specimens shall be disre-

When the threaded pinholes of pin insu-

garded. Porosity is indicated by penetration

lators are gaged, the specied pinhole gage

of the dye into the test specimen to an extent

shall be used.

visible to the unaided eye.

.5.6.2.

.5.5. Thermal Test


.5.5.1.

Test Procedure.

The gage shall be screwed into the test

Cenerai.

specimen until the gage is tight.

The thermal test shall consist of alter


nate immersions of the test specimen in hot
and cold water.

The dis-

tance from the bottom of the pinhole to the


point where the gage stops, as indicated by
the plunger and scale on the gage, shall be
read.

The gage shall be removed from the

test specimen, and the number of revolutions

.5.5.2.

of the gage required to release it from the

Testing Arrangement.

pinhole shall be counted.


The test specimens shall be arranged so
that they are not in contact with each other
and so that air shall not be entrapped during
irnmersion. Free circulation of water shall be

.6. Galvanizing Test.

provided. Test specimens shall be at least 2


inches (5 1 mm) from the walls of the tank.

Test for thickness of coating shall be in


accordance with Standard Measurement of
Coating.Thickness by the Magnetic Method:

.5.5.3.

Nonmagnetic Coatings of Mag netic Base

Equipment.

Metals, ASTM B 499-75 (1987).

Each bath shall have a weight of water at


least 10 times the weight of the test specimen
immersed. Either natural or forcea circulation may be used to maintain the temperature of all parts of the bath within

40 F

0
(2 C ) of the specied value. The recorded

.7. Routine Tests


.7.1. Electrical Tests.

temperature shall be measured at least 4

Flashover tests on shells or insulators

inches (102 mm) from the heating or cool-

may be made in accordance with either the

ing elements.

pro- . cedure in 7.1.1 or in 7.1.2.

95

.7.1.1.

.7.2. Mechanical Tests

High-Frequency Test

.7.2.1.

7.1.1.1 Method 1.

Suspension Insulators.

Prior to or simultaneous with the nal


The shells or insulators shall be sub-

electrical test, the assembled suspension in-

jected to a damped high-frequency voltage

sulators shaU be given a tensile-strength test

sucient to cause ashover for from 3 to

3 seconds in duration, at the specied value,

5 seconds.

applied in line with the axis of the insulator.

The frequency shall be approx-

imately 200 kilohertz in damped trains.

.7.2.2.

Apparatus Insulators.

Prior to or simultaneous. with the nal


electrical test, .the assembled apparatus in-

7.1.1.2 Method 2.

sulators shall be given a tensile-strength test

The shells or insulators shall be subjected to a high-frequency discharge from a


. transformer adjusted to a no-load voltage
of not less than 115% of the low-frequency
dry ashover of the shells or insulators, this
test to be continued for a period of from
3 to 5 seconds.

The frequency superim.

posed upon the low-frequency voltage shall


be higher than 100 kilohertz.

3 seconds in duration, at the specied value,


applied in line with the axis of the insulator.

.8. Revision of American


National Standards Referred to in This Document
When the following American National
Standards referred to in this document are
superseded by a revision approved by the

.7.1.2.

Low-Frequency Test.

American National Standards Institute, Inc,


the revision shall apply:
ANSI C29.3-1986W, et-Process Porce-

The shells or insulators shall be subjected to vigorous dry ashover for from 3 to

lain Insulators (Spool Type)


ANSI/IEEE

5 minutes. The voltage control shall be such


that a continual ashover occurs and divides

ANSI/IEEE

uniformly over the shells orinsulators under


test.

4-1978,

Techniques

for

High-Voltage Testing
100-1988,

Dictionary

Electrical and Electronics Terms.

96

of

American National Standards


The standard in this booklet is one of 8000 standards approved to date by . the American National Standards Institute.
The Standards Institute provides the machinery for creating voluntary standards. It
serves to eliminate duplication of standards activities and to weld conicting standards
into single, nationally accepted standards under the designation "American National Standards."
Each standard represents general agreement among maker, seller, and user groups as
to the best current practice with regard to some specic problem. Thus the completed
standards cut across the whole fabric of production, distribution, and consumption of goods
and services. American National Standards, by reason of Institute procedures, reect a
national consensus of manufacturers, consumers, and scientic, technical, and professional
organizations, and governmental agencies. The completed standards are used widely by
industry and commerce and often by municipal, state, and federal governments.
The Standards Institute, under whose auspices this work is being done, is the United
States clearinghouse and coordinating body for voluntary standards activity on the national
level. It is a federation of trade associations, technical societies, professional groups, and
consumer organizations. Some 1 O00 companies are aJiated with the Institute as company
members.
The American National Standards Institute is the United States member of the International Organization for Standardization (60)an d the International Electrotechnical
Commission (I ECh Through these channels U.S. standards interests make their positions
felt on the international level. American National Standards are on le in the libraries of
the national standards bodies of more than 60 countries

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