55 Congresso Anual da ABM

AVALIAO QUMICA DE INCLUSES PROVENIENTES DE

FLUXANTES DO MOLDE [1]

Paulo R. Leal [2]

Paulo H. Cardoso [3]
Antonio Cezar Faria Vilela [4]
Jorge Madias [5]
Walter Lima [6]
Joaquin Bas [7]
Resumo
A produo de aos de construo mecnica se d tradicionalmente atravs
da utilizao de fluxantes no molde de lingotamento contnuo. Existem uma srie de
variveis responsveis pelo eventual arraste deste p ou escria para dentro do ao.
A consequncia disto o aparecimento de incluses no produto final.
A identificao via microssonda EDS uma tcnica muito empregada nas
Siderrgicas para identificar as incluses encontradas, objetivando, atravs de sua
anlise qumica, determinar qual a sua origem. A presena de sdio nas incluses
uma das chaves para a identificao do p como origem das mesmas. Entretanto,
dependendo do seu teor, isto pode levar a algumas dvidas e/ou erros de
diagnstico.
Este trabalho visa justamente situar o panorama de anlise de incluses
originadas de fluxantes do molde, determinando algumas tcnicas para uma
determinao mais precisa de incluses deste tipo. Para isto, foram analisadas
quimicamente incluses com diferentes variveis qumicas atravs de microssonda
EDS.
Os resultados indicaram a existncia de fontes potenciais de erros de anlise
e algumas solues para se evitar problemas e/ou dvidas na composio qumica
de incluses com sdio.
palavras-chave: incluso, fluxante, EDS

[1]

Contribuio tcnica ao 55 Congresso Anual da ABM, a ser realizado de 16 a 20 de Julho de 2000

no Rio de Janeiro/RJ
[2]
Engenheiro Metalrgico, Mestrando PPGEM/UFRGS, bolsista CNPq
[3]
Engenheiro Mecnico, Msc., Doutorando PPGEM/UFRGS, bolsista CNPq
[4]
Engenheiro Metalrgico, Dr. Ing, Professor do DEMET/PPGEM/UFRGS
[5]
Chefe do Setor de Aciaria, Instituto Argentino de Siderurgia (IAS)
[6]
Engenheiro Mecnico, Departamento de Pesquisa e Desenvolvimento Gerdau S.A. Aos Finos
Piratini
[7]
Engenheiro Metalrgico, Dr.-Ing., Gerente de Desenvolvimento Tecnolgico da Gerdau S.A. Aos
Finos Piratini

905

55 Congresso Anual da ABM

INTRODUO
O lingotamento contnuo (LC) de aos de construo mecnica requer uma
srie de cuidados visando a qualidade superficial e interna do produto. Dentro deste
panorama, a utilizao de fluxantes no molde quase universal, devido a ele
desempenhar 5 funes: lubrificao do molde, transferncia de calor, proteo
trmica, proteo contra reoxidao e absoro de incluses, sem que haja o seu
arraste para dentro do ao [1]. Anomalias operacionais no LC, tais como variao de
nvel no molde e altura da camada de escria, podem provocar o arraste de escria
para o molde, conforme j verificado em alguns estudos prvios, gerando incluses
no produto [2].
Fluxantes tpicos empregados no molde tm majoritariamente em sua
composio qumica CaO e SiO2, alm de Al2O3, Na2O, CaF2, K2O e C, que lhes
conferem determinadas propriedades dependendo da proporo dos mesmos [5]. Em
caso de arraste da escria do molde, a composio qumica da incluso formada
tender a ser assemelhada com a do fluxante, dependendo do tempo de interao
com o ao at solidificao. O Na2O, por no ser convencionalmente encontrado em
quantidades razoveis em outras matrias-primas utilizadas na fabricao do ao e
ter seu pico de EDS facilmente identificado, sem a presena de outros picos
secundrios de outros elementos sobrepondo-se a ele, determinante na
classificao de uma incluso como proveniente de escria do molde. Geralmente
est associado a presena de outros elementos em maior quantidade, tais como Si
ou Ca.
O Microscpio Eletrnico de Varredura (MEV) e microssonda EDS muito
empregado na caracterizao de incluses, devido a sua rpida e relativamente
precisa anlise. Entretanto, dependendo de sua condio de uso e da proporo de
elementos na incluso (principalmente em pequenas quantidades), podem ser
geradas anlises equivocadas principalmente em incluses encontradas em
produtos laminados (com a estrutura j deformada, dificultando a identificao de
fases), que podem levar a caracterizao da partcula como tendo uma origem
diferente da real.
Este trabalho busca justamente apresentar algumas das potenciais fontes de
erros e solues encontradas para uma identificao correta da quantidade de Na
nas incluses, a fim de caracteriz-las ou no como originrias da escria do molde,
visando a tomada de aes rpidas para evitar-se o seu surgimento. Os resultados
apresentados so decorrentes de um trabalho conjunto entre o Laboratrio de
Siderurgia (LASID) e Laboratrio de Metalurgia Fsica (LAMEF), da Escola de
Engenharia/UFRGS, com o Grupo Gerdau - Aos Finos Piratini, e Instituto Argentino
de Siderurgia (IAS). Verificou-se que principalmente a interpretao do espectro
EDS, local de anlise e tenso utilizada no MEV, alm da preparao de amostras,
tem uma influncia muito grande na determinao da quantidade de Na das
incluses.

906

55 Congresso Anual da ABM

METODOLOGIA
As incluses analisadas neste trabalho foram obtidas a partir de cortes
transversais de tarugos lingotados continuamente de seo 150 mm na Gerdau
Aos Finos Piratini. Foram estudadas incluses no produto bruto de fuso devido ao
fato das mesmas no se encontrarem deformadas, o que permite uma anlise mais
precisa das fases encontradas, o que mais difcil no produto transformado
mecanicamente [4]. Finalmente, as incluses encontradas foram preparadas de tal
modo a evitar quaisquer fonte de contaminao e analisadas em Microscpio
Eletrnico de Varredura (MEV) com microssonda EDS.

RESULTADOS E DISCUSSO
So mostrados a seguir os resultados obtidos para as variveis testadas, bem
como algumas potenciais fontes geradoras de erros de anlise.

Influncia da Anlise do Espectro EDS

A anlise dos picos de elementos existentes no espectro EDS tem uma
grande influncia na composio qumica da regio amostrada. muito importante a
seleo somente daqueles elementos realmente existentes. Muitas vezes, mesmo a
seleo de um elemento que no aparea no espectro, pode aparecer na contagem
percentual executada pelo software da microssonda.
Para mostrar isto, procedeu-se a anlise de incluso em um clcio aluminato,
que devido a sua origem e espectro EDS, sabia-se da no existncia de Na. A figura
1 mostra o espectro EDS da incluso com 20 keV, enquanto a tabela 1 suas
respectivas variaes de composio qumica.

Mg

Na

Grfico 1 Espectro de incluso sem presena de sdio

%Na %Mg
%Al
%Si
%S
%Ca %Mn
Considerando Na
0,52 11,89 40,57 12,28 3,60 28,05 3,09
Sem considerar Na
0,00 11,88 40,67 12,37 3,63 28,33 3,12
Tabela 1 Anlise de incluso considerando ou no o Na

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55 Congresso Anual da ABM

Conforme visto na tabela 1, mesmo se tendo um espectro sem presena de

Na, caso o considere na anlise qumica, verifica-se a sua existncia em teores que
segundo alguns autores j poderiam ser suficientes para considerar a incluso como
proveniente de p fluxante do molde [5]. Outro fator importante tambm analisar a
curva de correo do espectro (ZAF) efetuada automaticamente pelo software
utilizado. Muitas vezes, ela tambm pode estar errada, pois pode se sobrepor a
picos existentes, no considerando-os. Neste caso, deve-se executa-la de forma
manual.
Em outra amostra executou-se o mesmo procedimento utilizado
anteriormente: submeteu-se a anlise EDS uma incluso sem Na (figura 2) porm
somente a 10 keV, tenso esta que se presta mais a deteco de elementos leves.
Os resultados foram similares aos anteriores, ou seja, mesmo no havendo pico de
Na, caso este seja selecionado, algum teor indicado na anlise. Entretanto, para
se ter certeza da no existncia do Na nas amostras, selecionou-se um elemento
que se sabe no existir nas amostras: o Ac. Os resultados indicaram que caso ele
fosse selecionado, mesmo sem haver pico, poderia ser indicado na anlise qumica
com teores maiores que 1%, conforme mostra a tabela 2. Este valor to elevado Ac,
elemento este inexistente em incluses, deve-se provavelmente ao software de
correo ZAF da microssonda. Fica evidente os cuidados que deve-se ter na
escolha dos picos e execuo da anlise EDS.

Grfico 2 Espectro de incluso sem presena de sdio

%Na %Mg %Al

%Si
%S %Ca %Mn %Ac
Considerando Na
0,44 4,60 26,70 11,50 3,09 50,49 3,18
0,0
Sem considerar Na
0,00 4,61 26,77 11,55 3,11 50,76 3,20 0,00
Considerando Ac
0,00 4,57 26,47 11,35 3,04 49,89 3,13 1,55
Tabela 2 Anlise de incluso considerando ou no o Na e o Ac
Por outro lado, pode-se tambm deparar com o caso de encontrar-se picos
duvidosos de Na. Neste caso, uma soluo seria diminuir a tenso do MEV, pois
quanto menor ela for, mais fcil ser a identificao dos elementos leves, como o
Na. A figura 3 mostra um espectro EDS com pico duvidoso de Na. Baixando-se a
tenso para 10 keV e fazendo-se a anlise por maior tempo pde-se verificar que o
pico realmente de Na, conforme mostra a tabela 3.

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55 Congresso Anual da ABM

Figura 3 Espectro de incluso com presena duvidosa de sdio

%Na %Mg %Al %Si

%S
%K %Ca %Mn
20 keV - Com Na 0,50 1,50 2,39 50,25 3,87 2,87 20,15 12,08
20 keV - Sem Na
0,00 1,50 2,39 50,40 3,90 2,89 20,30 12,18
10 keV Com Na 0,92 0,64 2,03 65,03 3,03 4,61 11,09 12,66
Tabela 3 Anlise de incluso considerando ou no o Na

%Cu
6,40
6,44
0,00

Por outro lado, a fim de se caracterizar corretamente uma incluso como

proveniente de fluxante do molde, importante, alm da presena de Na, verificar a
existncia de outros elementos qumicos caractersticos dos ps fluxantes. Dentre
eles, destaca-se o Si, visto que a slica largamente utilizada na fabricao de ps
fluxantes.
De acordo com a profundidade da incluso em relao a superfcie do
produto, segundo alguns autores, podero haver mudanas nos teores de Si e Na
da mesma [5]. A slica da incluso seria reduzida pelo Al dissolvido no ao lquido,
sendo que logo aps o teor de Na diminuiria tambm [5]. As causas para isto seriam
uma mudana na atividade do Na, bem como sua baixa tenso de vapor. Assim, no
poderia existir uma incluso sem slica, mas com Na ao mesmo tempo. Caso isto
ocorresse, ela seria proveniente de contaminao na preparao da amostra.
Entretanto, estudos realizados sobre em incluses sabidamente de ps
fluxantes a diferentes distncias da superfcie de tarugos no indicaram a afirmao
acima mencionada. Algumas incluses encontradas a maior profundidade
mostraram queda no teor de slica e aumento da alumina, mas com teor de sdio
ainda elevado. A tabela 4 compara a composio qumica de duas incluses
encontradas a diferentes profundidades. Conforme pode ser visto, a incluso mais
profunda teve uma diminuio no seu teor de Si, mas o Na continuou em teores
elevados.
Profundidade
%O
%Na
%Mg
%Al
%Si
%S
%Ca
%Mn
5 mm
35,4
4,2
0,4
2,9
15,4
0,3
39,0
2,2
45 mm
36,0
3,8
0,8
24,9
1,6
1,1
31,7
0,1
Tabela 4 Comparao de composio qumica de incluses em diferentes
profundidades

909

55 Congresso Anual da ABM

Portanto, fica claro que a anlise criteriosa do espectro EDS fundamental

para se ter resultados confiveis.

Influncia da Tenso do MEV

Conforme pode ser visto na tabela 3, a tenso do MEV tem uma influncia
grande na composio qumica da rea analisada. Menores tenses se associam a
maior identificao de elementos leves, enquanto que maiores tenses detectam
mais facilmente elementos mais pesados. Deste modo, importante para assegurar
a reprodutibilidade de resultados padronizar a tenso de anlise, bem como
determinar uma tenso tima, que detecte bem o Na sem haver prejuzo aos
elementos mais pesados.
Influncia da Preparao
Alguns autores acreditam que a preparao da amostra pode ter influncia
significativa no aparecimento de Na das incluses [5]. A figura 4 mostra partculas de
NaCl encontrada sobre matriz de ao com problema de preparao. Caso ela
estivesse sobre alguma incluso e fosse feita uma anlise EDS pontual sobre ela,
poderiam ser criadas condies equivocadas para um diagnstico da origem da
mesma. A origem do cristal de NaCl pode estar vinculada principalmente a um
contato fsico com a superfcie da amostra ou a contaminao por lcool na limpeza
da mesma.

Figura 4 Partcula de NaCl

Deste modo, algumas precaues bsicas devem ser tomadas a fim de evitar
este tipo de incluso, como por exemplo:
- Utilizao de gua destilada na preparao das amostras;
- Cuidado com o pano de polimento. Evitar panos muito usados e polimento
com alumina;
- Assegurar que no haja contato fsico com a superfcie da amostra;
- Cuidado na limpeza da superfcie com lcool.

910

55 Congresso Anual da ABM

Influncia anlise EDS Pontual x Janela

importante a definio por parte de quem ir analisar a incluso, se a sua
anlise via microssonda EDS ser executada pontualmente ou por uma janela geral.
A anlise pontual localizada, permitindo a definio precisa de fases, enquanto a
anlise geral se refere a toda uma rea, dando uma composio qumica geral da
partcula.
Esta definio se torna muito importante quando se observa a estrutura de
incluses originadas em ps fluxantes, que pode ser bem varivel. A figura 5 mostra
uma incluso tpica de fluxantes, com a existncia de uma matriz de silicato de
clcio com Na e agulhas de 2 CaO.SiO2, o que confirmado via tabela 5. Mostra-se
na figura 5 regio da janela geral e os locais das anlises pontuais.

Figura 5 Incluso proveniente de fluxante do molde, mostrando regies de anlise

%O
%F %Na %Mg %Al %Si
%S %Ca
Janela geral
34,01 5,04 4,13 0,27 6,99 11,93 0,19 36,44
Pontual agulha 27,71 7,34 0,86
2,59 11,32 0,08 49,92
Pontual matriz
36,04 5,31 5,39 0,20 7,88 11,86 0,17 32,19
Tabela 5 Anlise qumica incluso mostrada na figura 5

%Mn
0,96
0,22
0,96

Portanto, fica evidente que enquanto uma anlise via janela geral d uma
idia da incluso como um todo, a pontual permite a identificao clara das fases
presentes. Assim, principalmente no caso de anlises pontuais, torna-se importante
definir a rea a ser analisada, a fim de se ter resultados representativos, que no
levem a erros sobre a origem das incluses. Assim, sob o ponto de vista da
definio da origem das incluses, a informao fornecida pela anlise sobre uma
janela geral pode ser suficiente. Porm, a anlise pontual das fases presentes pode
fornecer informaes teis sobre todas fases da incluso, no caso de observao de
amostras sem deformao.

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55 Congresso Anual da ABM

Utilizao de Detector de Eletrons Retroespalhados e Secundrios no MEV

As incluses provenientes de arraste de escria do molde, conforme j
reportado na literatura, podem-se apresentar com diferentes morfologias [6]. Isto se
deve ao fato de que os ps usados no molde, dependendo de seus elementos
qumicos e velocidade de resfriamento, tendem a cristalizar-se de maneira diferente.
Assim, no resfriamento podem ser formadas diversas estruturas (desde dendritas at
agulhas) geralmente em uma matriz vtrea [7]. Deste modo, torna-se interessante que
durante a anlise se possam identificar claramente as fases presentes,
principalmente no caso de se desejar anlises mais precisas da estrutura da
incluso. Neste caso, sugere-se que se faa a anlise no MEV atravs de um
detector de eletrons retroespalhados, que permite maior contraste de fases, j que
os eltrons so captados em camadas mais internas da amostra, ou seja,
elementos de diferente peso atmico geram diferentes brilhos. J o detector de
eltrons secundrios permite, na verdade, uma melhor visualizao da topografia da
incluso.
As figura 6 e 7 mostram a imagem de uma mesma incluso proveniente de
escria do molde submetida aos dois detectores. Pode-se ver que na imagem da
incluso obtida via detector de eltrons retroespalhados, existe um melhor contraste
entre as fases presentes, o que no ocorre na imagem obtida via eltrons
secundrios, onde, inclusive, a identificao de dendritas difcil.

Figuras 6 e 7 Incluso analisada a partir de detector de eltrons retroespalhados e

secundrios, respectivamente
Uma alternativa para este problema no caso de anlises em microscpios
sem detectores de eltrons retroespalhados a utilizao de recobrimento condutor
de ouro na amostra (sputtering), que permite um melhor contraste de fases.
Entretanto, deve-se salientar que a camada que recobre a amostra pode causar
interferncia na anlise qumica, principalmente para elementos leves (como o Na).
Outra soluo o recobrimento por carbono da amostra, feito atravs de
evaporao. Apesar de no propiciar um contraste to bom quanto o sputtering de
ouro, no influi significativamente na anlise qumica de elementos mais leves,
invalidando apenas anlises de carbono.

912

55 Congresso Anual da ABM

CONCLUSES
1. Deve-se analisar sempre o espectro EDS, solicitando somente a anlise qumica
de elementos com picos, sob risco de incorrer-se em erros muitas vezes graves
com relao a possibilidade de caracterizao errnea da incluso.
2. Em caso de picos duvidosos de Na, baixar a tenso do MEV e aumentar o tempo
de anlise a fim de conformar ou no sua existncia.
3. Evitar quaisquer fontes de contaminao.
4. Sugere-se a padronizao dos mtodos de anlise com relao a tenso do
MEV, tempo de anlise, regio de anlise e tipo de detector, a fim de assegurar a
reprodutibilidade de resultados. importante, a partir disto, a determinao de a
partir de qual teor de Na deve-se considerar a incluso como proveniente de
escria do molde.

AGRADECIMENTOS
Os autores agradecem ao apoio do CNPq, PADCT/FINEP e Gerdau Aos
Finos Piratini na realizao deste trabalho.

BIBLIOGRAFIA:
[1] PINHEIRO, C; SAMARASEKERA, I; BRIMACOMBE, J. Mold flux for continuous
casting of steel; USA: The University of British Columbia, 1997.
[2] FREITAS, S. ET AL. Estudo do arraste de escria no molde atravs de
modelamento fsico e matemtico. XXX Seminrio de Fuso, Refino e Solidificao
dos Metais, 1998, Belo Horizonte, p. 333-342.
[3] MILLS, K. The performance of casting powders and their effect on surface quality.
Steelmaking Conference Proceedings ISS, 1991, USA, p. 121-129.
[4] LEAL, P. ET AL. Caracterizao de macro-incluses em tarugos de lingotamento
contnuo. XXX Seminrio de Fuso, Refino e Solidificao dos Metais, 1998, Belo
Horizonte, p. 313-319.
[5] BYRNE, M., CRAMB, A., FENICLE, T. The sources of exogenous inclusions in
continuous cast, aluminum-killed steels. Continuous Casting, vol. 7, ISS-AIME, p.
133-143.
[6] MADIAS, J. Palestra sobre incluses em aos acalmados com alumnio e
tratados com clcio; Argentina: IAS, 1998.
[7] CRAMB, A. Seminario de productos de colada continua sin defectos; Argentina:
IAS, Agosto, 1999.

913

55 Congresso Anual da ABM

CHEMICAL EVALUATION OF MOLD FLUX INCLUSIONS [1]

Paulo R. Leal [2]

Paulo H. Cardoso [3]
Antonio Cezar Faria Vilela [4]
Jorge Madias [5]
Walter Lima [6]
Joaquin Bas [7]

Abstract
Production of steels for mechanical construction is traditionally done through
the utilization of mold fluxes in continuous casting. There are many variables
responsible for the eventual powder entrapment in the steel. The consequence is the
formation of inclusions in the final product.
The inclusion identification via EDX technique is applied in Steel Mills. EDX
utilization aims to determine the inclusion origin. The presence of sodium strongly
indicates that the inclusion origin is related to mold powder. However, depending of
sodium content, some doubts or diagnose mistakes can occur.
This paper aims to show analysis of mold flux inclusions regarding the useful
techniques to perform good chemical analysis wich will be related with the inclusions
origin.
For this purpose, some inclusions were chemically analyzed by EDX regarding
the different variables that could be present in the analysis.
The results show the existence of potential errors fonts in the analysis.
Possible solutions that could be employed to avoid problems or doubts referring to
the chemistry of inclusions with sodium are proposed.
Key words: inclusion, mold flux, EDS

[1]

Technical contribution to 55 Anual Congress of ABM, to be done from 16 to 20 of July of 2000 in

Rio de Janeiro/RJ
[2]
Metallurgical Engineer, Msc. PPGEM/UFRGS, CNPq
[3]
Mechanical Engineer, Msc., Dsc. PPGEM/UFRGS, CNPq
[4]
Metallurgical Engineer, Dr. Ing, Professor of DEMET/PPGEM/UFRGS
[5]
Metallurgical Engineer, Instituto Argentino de Siderurgia (IAS)
[6]
Mechanical Engineer, Gerdau S.A. Aos Finos Piratini
[7]
Metallurgical Engineer, Dr.-Ing., Gerdau S.A. Aos Finos Piratini

914