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MTODOS ELCTRICOS DE PROSPECCIN

SONDEO ELCTRICO VERTICAL

SONDEO ELCTRICO VERTICAL


DEFINICIN
Se denomina Sondeo Elctrico a una serie de determinaciones de la resistividad
aparente efectuadas con el mismo tipo de dispositivo y separacin creciente entre los
electrodos de emisin y recepcin. Si el dispositivo es simtrico y permanecen fijos el centro y
el azimut, se denomina Sondeo Elctrico Vertical (SEV).
Para la obtencin de los valores de resistividad aparente, en el lugar de medicin se
colocan en el suelo cuatro electrodos de contacto (A, M, N y B) correspondiendo A y B al
circuito de energizacin (o de corriente), M y N al de recepcin (o de potencial), los que se
disponen de acuerdo a una de las dos modalidades existentes, denominadas de Schlumberger y
de Wenner, vistas en el captulo anterior. En ambos casos, las determinaciones se hacen
ampliando en pasos sucesivos la distancia entre A y B hasta llegar al valor final requerido.
Con el dispositivo Schlumberger los valores de resistividad aparente (a, en .m) se
calculan habitualmente mediante la frmula 45 o la siguiente:

a =

4 MN

( AB 2 MN 2 )

V
I

(50)

en la que V es la diferencia de potencial entre los electrodos M y N, en mV, cuando por el


circuito de emisin circula una corriente I, en mA.
En las mediciones de campo habitualmente se utiliza una planilla que contiene una
tabla parecida a la Tabla 1 y un grfico bilogartmico donde se van representando, mediante
puntos, los valores de a (en .m) en funcin de AB/2, (fig. 39).
TABLA 1

10 0 0

MN
(m)

I
(mA)

v
(mV)

a
(.m)

2
3
4
5
6,5
8
10
13
16
20
25
32
40
50
65
80
100

1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1/10
1/10
10
10
10
10
10

4,2
8,1
6,3
16,6
30,3
35,5
50,8
115
149
136
185/60
176/69
142
111
156
187
199

13,5
12,4
5,9
9,8
9,8
7,1
5,7
7,2
5,7
3,2
2,7/11
1,7/8,3
12,2
7,4
7,9
7,1
5,4

37,9
42,1
46,3
45,9
42,7
40,1
35,2
33,2
30,7
29,5
28,7/34,6
31,1/37,7
42,5
51,8
66,8
76,0
85,0

10 0

a ( .m)

AB/2
(m)

10

M N = 1m

M N=10m

1
1

10

AB/2 (m )

100

100 0

Fig. 39 Curva de resistividad aparente correspondiente a


los valores de la Tabla 1

Siempre que se utilice el dispositivo Schlumberger la curva tendr tantos tramos como
valores de MN utilizados. Que en el caso del ejemplo fueron dos: MN=1 y MN=10.

31

MTODOS ELCTRICOS DE PROSPECCIN

SONDEO ELCTRICO VERTICAL

Con el dispositivo Wenner los valores de resistividad aparente (a, en .m) se calculan
mediante la frmula (42):
a = 2 a

V
I

(42)

en la que V , I y a tienen los mismos significados anteriores. La tabla empleada ser del tipo
de la Tabla 2 y el grfico bilogartmico similar al de la fig. 40.
TABLA 2

10 0 0

(mA)

(mV)

(.m)

2
3
4
5
6,5
8
10
13
16
20
25
32
40
50
65
80
100

26,2
13,2
20,3
25,3
52,8
43,8
38,9
56,4
93,1
124
187
178
124
143
165
289
309

61,5
29,3
46,3
53,8
97
69,5
48
47,1
49,0
35,2
35,8
19,1
9,4
7,6
6,9
10,8
12,0

29,5
41,8
57,3
66,8
75,0
79,8
77,5
68,2
52,9
35,7
27,6
21,6
19,0
16,7
17,1
18,8
24,4

10 0

a ( .m)

a
(m)

10

CRA (Wenner)
1
1

10

10 0

10 0 0

a (m)

Fig. 40 Ejemplo de SEV con el Dispositivo de Wenner

Como se observa en los ejemplos anteriores, lo habitual es que la serie de valores de


los espaciamientos electrdicos para los que se efectan de mediciones de la resistividad
aparente sea lo ms aproximado a una serie geomtrica, de modo que su representacin sea
equidistante en la escala logartmica empleada. En los ejemplos, la representacin implica
diez puntos por ciclo logartmico, en cuyo caso corresponde una razn geomtrica igual a
10(1/10) = 1.26.
La finalidad de un SEV es averiguar, partiendo de la curva de resistividad aparente de
campo, la distribucin vertical de la resistividad bajo el punto sondeado, problema harto
complicado, por lo que es inevitable recurrir a los modelos simples, de relativamente fcil
manejo matemtico.
Entonces, lo que se busca en la generalidad de los casos, es encontrar un modelo de
capas horizontales y paralelas coherente con la curva de campo y con los presupuestos
geolgicos. Es decir, resolver el problema inverso. Lo que en la mayor parte de los
procedimientos empleados requiere de la solucin del problema directo, el que mediante
procedimientos matemticos, permite calcular las curvas de resistividad aparente (curva
terica) correspondientes a modelos predeterminados de capas horizontales y paralelas,
homogneas e istropas.
Un modelo de tales caractersticas, constituye lo que se denomina habitualmente como
corte geoelctrico, sobre cuya notacin y nomenclatura trata el punto siguiente. Varios cortes
geoelctricos alineados segn un perfil pueden correlacionarse para obtener una seccin
geoelctrica.

32

MTODOS ELCTRICOS DE PROSPECCIN

SONDEO ELCTRICO VERTICAL

MEDIOS ESTRATIFICADOS. NOTACIN y NOMENCLATURA


Se parte del supuesto de que el medio en que se
realizan las mediciones est compuestos por dos
semiespacios separados por una superficie plana
horizontal. El superior, de conductividad nula,
representa la atmsfera. El segundo representa el
terreno y est conformado por capas homogneas e
istropas, de extensin lateral infinita y separadas
entre s por superficies paralelas al plano aire - terreno.
Z0=0

E1
Z1=E1

E2
Z2=E1+ E2

n-1

En-1
Zn-1=E1+...+ En-1

(este es el substrato)

=0

aire

substrato
Fig. 41 Corte geoelctrico

Dado que la identificacin de las


capas se da en funcin de su resistividad,
ste supuesto semiespacio inferior es
denominado corte geoelctrico.
Un corte geoelctrico de n capas
queda identificado cuando se conocen sus
2n-1 parmetros (1, ..., n, E1, ..., En-1) o
((1, ..., n, Z1, ..., Zn-1)

Fig. 42 Nomenclatura del corte geoelctrico

2 > 1
2 < 1
a los que les correspondern CRV y
CRA como las mostradas en la Fig
43.

1000

100

a, ( .m)

Los grficos siguientes


muestran cortes de dos, tres y
cuatro capas, dibujados en la misma
plantilla bilogartmica utilizada
para graficar las curvas de
resistividad aparente (CRA), en
cuyo caso el eje vertical identifica
"resistividades verdaderas" y el
eje horizontal "profundidades"
dando lugar a grficos de trazos
rectilneos denominados Curvas de
Resistividad Verdadera (CRV).
En los cortes de dos capas
las nicas posibilidades son:

10

0,1
0,1

10

AB/2 y PROF. (m )

100

1000

Fig. 43 Cortes de dos capas

33

MTODOS ELCTRICOS DE PROSPECCIN

Nomenclatura para curvas de


tres capas

1000

100

a, ( . m)

Los cortes de tres capas


(Figs. 44 y 45) suelen designarse,
en funcin de sus relaciones de
resistividad, (cuadro siguiente)
segn una nomenclatura propuesta
por geofsicos rusos, y utilizada en
la mayor parte de las publicaciones
referidas al tema.

SONDEO ELCTRICO VERTICAL

10

Tipo K

1 < 2 > 3

Tipo H

1 > 2 < 3

Corte Tipo K

Tipo A

1 < 2 < 3

Corte Tipo H

Tipo Q

1 > 2 > 3

Curva corte Tipo K


Curva corte Tipo H
0,1
0,1

10

100

1000

AB/2 y PROF. (m )

Fig. 44 Cortes de tres capas de tipo K y H

Tales
catlogos
estn
compuestos por curvas de tres
capas, con los que, ms la ayuda de
grficos auxiliares, es posible
interpretar curvas de hasta 7, y
excepcionalmente alguna ms,
capas. Los ms conocidos en
nuestro medio son los siguientes:

1000

100

a, ( .m)

Esta
nomenclatura
era
necesaria para la elaboracin de
catlogos de curvas patrn, los que
fueron utilizados profusamente
antes de la generalizacin del uso
de las computadoras personales,
para la obtencin, por comparacin
y
superposicin,
de
cortes
geoelctricos partiendo de las
curvas de campo.

10

Corte Tipo A
Curva corte Tipo A
Corte Tipo Q
Curva corte Tipo Q
0,1
0,1

10

AB/2 y PROF. (m )

100

1000

Fig. 45 Cortes de tres capas de tipo A y Q

El de la Compagnie. Gnrale de Gophysique (1955), con 480 curvas de tres capas, cuya
ltima edicin fue publicada por la EAEG en 1963.
El de Orellana y Mooney para el dispositivo Schlumberger (1966) que contiene 25 curvas de
dos capas, 912 de tres y 480 de cuatro, agrupadas en una, 76 y 30 familias respectivamente,
con bacos auxiliares e instrucciones de empleo detalladas.
El de la Rijwaterstaat de Holanda, preparadas por Van Dam y Meulempkamp, tambin editada
por la EAEG (1969).
El de Orellana y Mooney para el dispositivo Wenner (1972)

34

MTODOS ELCTRICOS DE PROSPECCIN

1 < 2 > 3 > 4

Tipo KQ

1 > 2 < 3 > 4

Tipo HK

1 < 2 > 3 < 4

Tipo KH

1 > 2 < 3 < 4

Tipo HA

1000

100

a, ( .m)

Los cortes de cuatro


capas pueden designarse con
base en la nomenclatura anterior,
segn los ejemplos siguientes y
representados en la Fig. 46.

SONDEO ELCTRICO VERTICAL

10

Por lo que, extendiendo


este procedimiento, podran
designarse igualmente cortes de
cinco y ms capas.

0,1
0,1

10

AB/2 y PROF. (m )

100

1000

Fig. 46 Cortes de cuatro capas

Dos cortes de igual


nmero de capas, que tienen
iguales sus espesores pero las
resistividades correspondientes
son inversas entre s son
considerados recprocos.
Una de sus caractersticas
es que sus CRV son simtricas
respecto del eje =1
No ocurre lo mismo con
sus CRA, como se observa en
los grficos de la Fig. 47 tanto
como en las curvas de dos capas
del baco de la Fig. 52.

100

10

a, ( .m)

CORTES RECPROCOS

0,1

0,01
1

10

100

AB/2 y PROF. (m)

1000

10000

Fig. 47 Cortes recprocos

35

MTODOS ELCTRICOS DE PROSPECCIN

SONDEO ELCTRICO VERTICAL

RESOLUCIN DEL PROBLEMA DIRECTO


El problema directo de la Prospeccin Geoelctrica sobre medios estratificados es el
de la determinacin del potencial producido en la superficie lmite aire-tierra de un medio de
este tipo por una fuente puntual de corriente situada en dicha superficie.
La solucin encontrada puede extenderse al caso de varias fuentes puntuales y en
general a cualquier dispositivo, salvo que ste sea del tipo Schlumberger, en cuyo caso se
requiere el conocimiento del campo elctrico en la superficie del terreno.
Los mtodos utilizados con este fin son dos:
a) el de las imgenes, aplicado a la Prospeccin Geoelctrica por J. N. Hummel
(1932).
b) la integracin de la ecuacin de Laplace, aplicada por primera vez por S.
Stefanescu (1930)
MTODO DE LAS IMGENES APLICADO A UN CORTE DE DOS CAPAS
En ausencia de una segunda capa y
atendiendo a una distribucin electrdica como
la de la Fig. 48, vale la ec. 31:
UM =

1I 1 e
=
2 r r

r
A

(31)

e = emisividad

Fig. 48 Capa homognea

El efecto de una segunda capa se calcula incluyendo una fuente ficticia A1, imagen de
A, respecto de la superficie de separacin entre las dos capas (Fig. 49), cuya emisividad ser:

Ke =

2 1
e,
2 + 1

(51)

tal como surge del mtodo de las imgenes, siendo K el factor de reflexin.

r
A

Por lo que el potencial en M debido a


esta fuente ficticia ser:

E
2E

2
x A1
Fig. 49 Imagen de la fuente

U1 =

Ke
r + ( 2E )
2

(52)

al existir dos superficies lmite, debe


considerarse una segunda fuente ficticia A1,
imagen de A1 respecto de la superficie tierra
aire, de emisividad KKe donde K=1 y cuyo
potencial en M es igual al anterior (ec. 52).

36

MTODOS ELCTRICOS DE PROSPECCIN

SONDEO ELCTRICO VERTICAL

x A1

y lo mismo habr una imagen A2 de A1


respecto de la segunda superficie (Fig. 50), de
emisividad KKe=K2e y potencial

2E

U2 =

E
2E

4E

r 2 + ( 4E ) 2

y as sucesivamente, de modo tal que finalmente


debe considerarse una serie infinita de imgenes
cuyas distancias al punto M estn dadas por:

2
x A1

K 2e

rn = r 2 + (2nE) 2

1
2

por lo que el potencial en M debido a la fuente


real y a todas imgenes ser:
UM =

x
A2
Fig. 50 Serie infinita de imgenes

1I 1
Kn
+
2
2 r
n =1 r 2 + 4n 2 E 2

(53)

serie de lenta convergencia que resuelve el


problema propuesto.

LA INTEGRAL DE STEFANESCU
Resuelve el mismo problema mediante una ecuacin diferencial. Fue aplicado por
primera vez por Sabba Stefanescu (1930) partiendo de un sistema de coordenadas cilndricas
r, z, con origen en el punto A de energizacin (fig. 51).
Ya vimos (pg. 23) que en todos los puntos
del espacio, salvo el origen, el potencial debe
cumplir la ecuacin de Laplace, la que expresada en
coordenadas cilndricas ser:
2 U 1 U 2 U
+
+
=0
r 2 r r z 2
no aparece el trmino en
homogeneidad lateral.

(54)
z

debido a la

Fig. 51 Coordenadas cilndricas

Como esta condicin no se cumple en el origen (el punto de energizacin), el problema


es no homogneo. Y la solucin ser suma de la general del homogneo con una integral
particular del no homogneo.

SOLUCIN GENERAL DEL PROBLEMA HOMOGNEO (por separacin de variables)


Se considera que U es el producto de dos funciones dependientes una de r y la otra de
z, es decir:
U = R ( r ) Z( z )

(55)

calculadas sus derivadas y reemplazadas en la ec. (54), se llega a:

37

MTODOS ELCTRICOS DE PROSPECCIN

SONDEO ELCTRICO VERTICAL

1 d 2 R 1 dR
1 d2Z
2 +
+
=0
R (r ) dr
r dr Z(z) dz 2

(56)

de modo que utilizando un parmetro auxiliar , podemos poner:


1 d2Z
= 2
Z(z) dz 2

(57)

1 d 2 R 1 dR
2 +
= 2

R (r ) dr
r dr

(58)

cuyas conocidas soluciones son:


Z(z) = e z

(59)

R ( r ) = J 0 ( r )

(60)

J 0 (r ) es una funcin de Bessel de primera especie y orden cero.


Cualquier combinacin lineal de tales soluciones, como por ejemplo:

(A' e z + B' e z )J 0 (r )

(61)

ser solucin de la ecuacin homognea, por lo que conviene considerar la combinacin lineal
ms general:

U = A ' ( )e z + B' ( )e z J 0 (r )d

(62)

SOLUCIN PARTICULAR DEL PROBLEMA NO HOMOGNEO


La ms sencilla es la correspondiente a un semiespacio uniforme de resistividad 1 ya
vista (ec. 31) que en el sistema de coordenadas adoptado queda:

U=

I1
2

1
r +z
2

(63)

que podemos sumar a la anterior, utilizando la ecuacin de Weber - Lipschitz

1
r +z
2

= e

J 0 ( r )

(64)

resultando entonces para la primera capa:

U1 =

I1 z
z
z
e + A ()e + B( )e J 0 (r )d
2 0

(65)

en la que se han hecho los siguientes reemplazos:

A ' ( ) = A ( )

I1
2

B' ( ) = B( )

I1
2

De manera parecida se procede para la segunda capa, en ella el problema es


homogneo por ausencia de fuentes, por lo que ser:

38

MTODOS ELCTRICOS DE PROSPECCIN

U2 =

SONDEO ELCTRICO VERTICAL

I1
C()e z + D()e z J 0 (r )d

2 0

(66)

Para el clculo de A(), B(), C() y D() hay que aplicar las condiciones de contorno
en medios estratificados, analizadas en captulo anterior (pg. 24 y siguientes):
a) U2 se anular en el infinito, por lo que necesariamente debe ser:
D( ) = 0

(67)

b) En superficie (z = 0), es: E = 0, por tanto:

U
1 = 0
z z =0

(68)

condicin que la solucin particular ya la cumple, por lo que bastar imponerla a la general de
la homognea:

U1
= A ()e z + B()e z J 0 (r )d
z
0

(69)

que debe anularse para z = 0, y como en general: J 0 (r ) 0


A () + B( ) = 0
A () = B( )

(70)

por lo que:

I1
U1 = [ez + A()(ez + e z )]J0(r)d
2 0

(71)

I 1
C ( )e z J 0( r )d
2 0

(72)

U2 =

c) Entre ambas capas (z = E) es: U1 = U2, por lo que se tendr:


e E + A()(e E + e E ) = C()e E

(73)

d) Finalmente, las componentes normales de J para z = E deben ser iguales:

1 U1
1 U 2
=

1 z z =E 2 z z =E
resultando entonces:

2 e E + A ( )(e E e E ) = 1C( )e E

(74)

(75)

eliminando C() entre las ec. (73) y (75), resulta:

A() = B( ) =

1 (e E

( 2 1 )e E
=
+ e E ) + 2 ( e E e E )

( 2 1 ) e E
Ke E
=
( 2 + 1 ) e E ( 2 1 ) e E e E Ke E

(76)

39

MTODOS ELCTRICOS DE PROSPECCIN

K es el factor de reflexin ( K =
Sustituyendo

SONDEO ELCTRICO VERTICAL

2 1
).
2 + 1

la ec. (76) en la expresin de U1 dada por la ec. (71) y haciendo z = 0,

resulta finalmente:
U1 =

I1
Ke E
1 + 2
J 0 ( r ) d

2 0
e E Ke E

(77)

que tambin puede escribirse as:

I1 1 + Ke 2 E
U1 =

J 0 (r )d
2 0 1 Ke 2 E

(78)

que es la solucin buscada para el potencial en la superficie de un medio de dos capas.

Caso de n capas
Este procedimiento puede extenderse al caso de n capas, en cuyo caso, el potencial
queda expresado por una expresin de la siguiente forma:
U1 =

I1
N n ( ) J 0 ( r ) d
2 0

(79)

Nn, denominada Funcin Caracterstica del corte geoelctrico, es funcin de los espesores y
resistividades de las capas del corte y del parmetro de integracin .

R E SI ST I V I DA D A P A R E N T E
A partir de la frmula anterior puede deducirse la solucin del problema directo,
determinando la curva de resistividad aparente, que en el caso del dispositivo Schlumberger
viene dada por:

a = 2 r 2

E=

E
I

I
U
= 1
N n ( ) J 0 ( r )d
r
2 r 0

(80)

(81)

Como:
J 0 (r )
= J 1 ( r )
r
donde J1(r) es la funcin de Bessel de 1a especie y orden uno, resulta:

a ( r ) = 1 r 2 N n ( ) J 1 ( r ) d

(82)

Expresin que permite calcular la curva de resistividad aparente una vez determinada
Nn(), la Funcin Caracterstica del corte geoelctrico.
40

MTODOS ELCTRICOS DE PROSPECCIN

SONDEO ELCTRICO VERTICAL

En realidad, el clculo de la resistividad aparente mediante la ec. 82 no es directo


puesto que la integral no puede resolverse mediante un nmero finito de funciones conocidas,
por lo que se han intentado numerosos procedimientos por mtodos aproximados, cuadraturas
aproximadas, desarrollo de series, etc. y, con base en ellas, confeccionado colecciones de
curvas maestras como las de la CGG, Orellana y Mooney, Van Dam y Meulenkamp, entre
otras, que constituyeron durante un tiempo el nico medio disponible para el prospector
comn de resolver el problema inverso.
La Fig. 52 es una adaptacin del baco para cortes de dos capas del catlogo de
Orellana y Mooney (1966), baco que forma parte de cualquiera de las colecciones
mencionadas. Una de las principales consecuencias de estos clculos y grficos es que
muestran que cada CRA reproduce la forma general, suavizada y sin saltos, de la CRV de su
corte como puede apreciarse tanto en los grficos de las Fig. 43 a 46 como en el baco de dos
capas.
100

Inf
40
20
15
10
7

10

a ( .m)

5
3,5
2,5
2
1,5
1,25

0,8
0,65
0,5
0,4
0,3
0,2

0,1

0,15
0,1
0,07
0,05
0,025
0

0,01
0,1

10

100

AB/2 (m)

1000

Fig. 52 baco de curvas de dos capas

Los mtodos empleados para resolver la ec. (82) adolecen de inconvenientes y


limitaciones, como que los espesores del corte deben cumplir ciertas restricciones que
impiden su uso para cortes cualesquiera. Adems, los tiempos de clculo eran grandes para las
computadoras de la poca en que comenzaron a utilizarse, especialmente si los cortes tenan
muchas capas. Razones por las que se vieron favorecidos los desarrollos de mtodos basados
en aplicar convolucin, siguiendo una idea expuesta por Kunetz (Kunetz, 1966).

41

MTODOS ELCTRICOS DE PROSPECCIN

SONDEO ELCTRICO VERTICAL

EL MTODO DE CONVOLUCIN
Se definen dos variables x e y mediante:

e-x =

ey = r

que sustituidas en la ec. (82) dan:

a ( y ) = f 1 ( x ) f 2 ( y x ) dx

(83)

f1 ( x ) = 1 N n (e x )

(84)

f 2 ( y x ) = J 1 ( e y x )e 2 ( y x )

(85)

integral de convolucin donde:

aproximable por un operador lineal o filtro inverso de Schlumberger:

( a ) m = b1f1 (m j)

(86)

f =

Este mtodo comenz a aplicarse cuando Ghosh (1971) public los datos de un
operador de 9 coeficientes, o filtro directo, para un muestreo de tres puntos por dcada, que
permite el clculo de Nn() a partir la CRA. El mismo Ghosh public un filtro inverso para
obtener la curva de resistividad aparente a partir de Nn() (Ghosh, 1971b).
A partir de entonces, son muchos los investigadores que han contribuido al tema. Entre
ellos, Johansen (1975) que utiliza un filtro de 139 coeficientes para un muestreo de diez
puntos por dcada, Nyman y Landisman (1977) con sus filtros de de 13 y 31 coeficientes para
un nmero no entero de coeficientes por ciclo logartmico y Seara (1979) que public un
programa para la obtencin de filtros con cualquier nmero de coeficientes y puntos de
muestreo.

42

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