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FIGURA 1 FIGURA 2
FIGURA 3
Paso 2. Preprocesado.
Una vez recogidas las imgenes durante la aplicacin de la carga, se tiene
una secuencia de imgenes desde el estado inicial o de referencia hasta
el final o deformado, la tcnica de correlacin de imgenes calcula el
movimiento en cada uno de los puntos de las imgenes comparando la
imagen en estudio con la imagen de referencia. Para el clculo del
movimiento, la imagen es dividida de forma uniforme en distintos
conjuntos, generalmente cuadrados, llamados facetas. Cada faceta ser
procesada para calcular el valor medio de la escala de grises existente en
cada una de ellas y se buscar la misma faceta en la imagen deformada.
Para el proceso de bsqueda en la imagen deformada se establece un
rea de anlisis sobre la que se har la correlacin, esta rea de bsqueda
se especifica con el nmero de pixeles en el que se superponen los centros
de las facetas. Para un punto P cualquiera de la imagen, una faceta
cuadrada de dimensiones (2M+1) x (2M+1) de pixeles centrada en el
punto P=(0, 0, ) de la imagen de referencia es elegida y buscada en la
imagen deformada. Para evaluar cada una de las facetas de la imagen de
referencia y la de la imagen deformada, un criterio de correlacin debe
ser preestablecido para realizar el clculo.
Correlacin Cruzada(CC)
Correlacin Cruzada Normalizada (NCC)
Zero Correlacin Cruzada Normalizada (ZNCC)
MATERIAL BIRREFRIGENTE:
Los materiales cristalinos pueden tener diferentes ndices de refraccin
asociados con diferentes direcciones cristalogrficas. Una situacin comn
en los cristales minerales es, que tienen dos ndices de refraccin distintos
y por ello se llaman materiales birrefringentes (doble refraccin). Si las
direcciones y y z son equivalentes en trminos de las fuerzas cristalinas,
entonces el eje x es nico y se llama eje ptico del material. La
propagacin de la luz a lo largo del eje ptico seria independientemente
de su polarizacin; su campo elctrico en cualquier lugar es perpendicular
al eje ptico y se llama onda ordinaria. La onda de luz con un campo
elctrico paralelo al eje ptico se llama onda extraordinaria; ejemplos de
materiales birrefringentes son la calcita, turmalina, cuarzo, nitrato de
sodio, hielo, Rutilio, policarbonato, etc.
POLARISCOPIO:
El polariscopio es el equipo empleado en fotoelasticidad. Se trata de una
disposicin determinada de unos elementos pticos, los cuales se van a
describir a continuacin. Un material birrefringente se inserta en el
polariscopio, de tal forma que los patrones de franjas, relacionada con la
diferencia de tensiones principales y las direcciones de las tensiones
principales en el modelo, son capturados mediante una cmara digital y
procesados y visualizados a travs de un ordenador.
Polariscopio plano:
Una de las disposiciones pticas mas simples es el polariscopio plan. Esta
compuesto por una fuente de luz, un polarizador, el modelo y analizador.
El polariscopio plano es iluminado con luz monocromtica. Cuando esta
atraviesa el modelo, el estado de polarizacin cambia de punto a punto
dependiendo de las direcciones de las tensiones principales y la diferencia
entre las mismas. El polarizador se dispone a 90 respecto a una direccin
de referencia (normalmente horizontal). La informacin sobre el campo
de tensiones puede ser obtenida si el estado de polarizacin de la luz
transmitida es estudiado. Esto se obtiene introduciendo un polarizador a
0. Ya que este elemento ayuda al anlisis de la luz emergente, se conoce
como analizador. Con la introduccin de este elemento, las franjas
observadas corresponden a los puntos en lo que la intensidad de la luz
transmitida es cero. Es de notar que, en esta disposicin, polarizador y
analizador estn cruzados y el fondo de la imagen es oscuro.
Polariscopio circular:
Est compuesto por una fuente de luz, un polarizador, una lmina cuarto
de onda, el modelo, una segunda lamina cuarto de onda y un analizador.
En este tipo de polariscopio, la luz polarizada circular se usa para revelar
el campo de tensiones en el modelo. Esto se logra introduciendo una
lmina cuarto de onda entre polarizador y modelo, con su eje lento a 45
con respecto del eje de polarizacin del polarizador. La luz emergente es
analizada usando la combinacin de una segunda lmina cuarto de inda y
un analizador. El eje lento de esta lmina cuarto de onda se dispone a
45 respecto del eje de polarizacin del analizador. Por tanto, en esta
disposicin, en la que el polarizador y analizador se encuentran cruzados
al igual que las dos lminas cuarto de onda, el fondo de la imagen aparece
oscuro y, por tanto, esta disposicin se conoce como disposicin de campo
oscuro.
Donde hay una concentracin de esfuerzos, las franjas se presentarn
formando un conjunto muy cerrado de curva, ya que el gradiente de
deformacin es muy grande. Por otro lado, cuando un slo color cubre
una zona grande, indica que hay deformacin uniforme en toda ella. Si
existe una franja con valor igual a cero, el color ser negro. En los bordes
de un modelo el esfuerzo siempre ser cero.
EXTENSOMETRIA ELECTRICA:
http://www.gom.com
http://ocw.unican.es/ciencias-de-la-salud/ciencias-psicosociales-
i/materiales/bloque-i/tema-1/1.1.3.2.2-metodos-experimentales
http://www.esimetic.ipn.mx/Servicios/Paginas/LAnalisis.aspx
http://tesis.ipn.mx/bitstream/handle/123456789/12416/EFECTOS%20A
ERODINAMICOS.pdf?sequence=1
http://www.advanc3dtechnologies.com/equipo-de-analisis-de-
deformacion-gom-aramis/
http://tauja.ujaen.es/bitstream/10953.1/2714/1/TFG-Cataln-Requena-
Javier.pdf