Prinsip Kerja X-Ray Diffraction (XRD)

XRD digunakan untuk analisis komposisi fasa atau senyawa pada material dan juga
karakterisasi kristal. Prinsip dasar XRD adalah mendifraksi cahaya yang melalui celah kristal.
Difraksi cahaya oleh kisi-kisi atau kristal ini dapat terjadi apabila difraksi tersebut berasal
dari radius yang memiliki panjang gelombang yang setara dengan jarak antar atom, yaitu
sekitar 1 Angstrom. Radiasi yang digunakan berupa radiasi sinar-X, elektron, dan neutron.
Sinar-X merupakan foton dengan energi tinggi yang memiliki panjang gelombang berkisar
antara 0.5 sampai 2.5 Angstrom. Ketika berkas sinar-X berinteraksi dengan suatu material,
maka sebagian berkas akan diabsorbsi, ditransmisikan, dan sebagian lagi dihamburkan
terdifraksi. Hamburan terdifraksi inilah yang dideteksi oleh XRD. Berkas sinar X yang
dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada juga
yang saling menguatkan karena fasanya sama. Berkas sinar X yang saling menguatkan itulah
yang disebut sebagai berkas difraksi. Hukum Bragg merumuskan tentang persyaratan yang
harus dipenuhi agar berkas sinar X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi.
Ilustrasi difraksi sinar-X pada XRD dapat dilihat pada Gambar 1 dan Gambar 2.

Gambar 1. Ilustrasi difraksi sinar-X pada XRD.

Gambar 2. Ilustrasi difraksi sinar-X pada XRD.

 Dari Gambar 2 dapat dideskripsikan sebagai berikut. Sinar datang yang menumbuk
pada titik pada bidang pertama dan dihamburkan oleh atom P. Sinar datang yang kedua
menumbuk bidang berikutnya dan dihamburkan oleh atom Q, sinar ini menempuh jarak SQ +
QT bila dua sinar tersebut paralel dan satu fasa (saling menguatkan). Jarak tempuh ini
merupakan kelipatan (n) panjang gelombang (), sehingga persamaan menjadi :

Persamaan diatas dikenal juga sebagai , dimana, berdasarkan persamaan diatas,

maka kita dapat mengetahui panjang gelombang sinar X () dan sudut datang pada bidang
kisi (), maka dengan ita kita akan dapat mengestimasi jarak antara dua bidang planar kristal
(d001). Skema alat uji XRD dapat dilihat pada Gamnbar 3 dibawah ini.

Gambar 3: Skema alat uji XRD.

Dari metode difraksi kita dapat mengetahui secara langsung mengenai jarak rata-rata
antar bidang atom. Kemudian kita juga dapat menentukan orientasi dari kristal tunggal.
Secara langsung mendeteksi struktur kristal dari suatu material yang belum diketahui
komposisinya. Kemudian secara tidak langsung mengukur ukuran, bentuk dan internal stres
dari suatu kristal. Prinsip dari difraksi terjadi sebagai akibat dari pantulan elastis yang terjadi
ketika sebuah sinar berinteraksi dengan sebuah target. Pantulan yang tidak terjadi kehilangan
energi disebut pantulan elastis (elastic scatering). Ada dua karakteristik utama dari difraksi
yaitu geometri dan intensitas. Geometri dari difraksi secara sederhana dijelaskan
oleh Braggs Law (Lihat persamaan 2). Misalkan ada dua pantulan sinar dan . Secara
matematis sinar tertinggal dari sinar sejauh SQ+QT yang sama dengan 2d sin secara
geometris. Agar dua sinar ini dalam fasa yang sama maka jarak ini harus berupa kelipatan
bilangan bulat dari panjang gelombang sinar . Maka didapatkanlah Hukum Bragg: 2d
sin = n. Secara matematis, difraksi hanya terjadi ketika Hukum Bragg dipenuhi. Secara
fisis jika kita mengetahui panjang gelombang dari sinar yang membentur kemudian kita bisa
mengontrol sudut dari benturan maka kita bisa menentukan jarak antar atom (geometri dari
latis). Persamaan ini adalah persamaan utama dalam difraksi. Secara praktis sebenarnya nilai
n pada persamaan Bragg diatas nilainya 1. Sehingga cukup dengan persamaan 2d sin = .
Dengan menghitung d dari rumus Bragg serta mengetahui nilai h, k, l dari masing-masing
nilai d, dengan rumus-rumus yang telah ditentukan tiap-tiap bidang kristal kita bisa
menentukan latis parameter (a, b dan c) sesuai dengan bentuk kristalnya.

Estimasi Crystallite Size dan Strain Menggunakan XRD

Elektron dan Neutron memiliki panjang gelombang yang sebanding dengan dimensi
atomik sehingga radiasi sinar X dapat digunakan untuk menginvestigasi material kristalin.
Teknik difraksi memanfaatkan radiasi yang terpantul dari berbagai sumber seperti atom dan
kelompok atom dalam kristal. Ada beberapa macam difraksi yang dipakai dalam studi
material yaitu: difraksi sinar X, difraksi neutron dan difraksi elektron. Namun yang sekarang
umum dipakai adalah difraksi sinar X dan elektron. Metode yang sering digunakan untuk
menganalisa struktur kristal adalah metode Scherrer. Ukuran kristallin ditentukan
berdasarkan pelebaran puncak difraksi sinar X yang muncul. Metode ini sebenarnya
memprediksi ukuran kristallin dalam material, bukan ukuran partikel. Jika satu partikel
mengandung sejumlah kritallites yang kecil-kecil maka informasi yang diberikan
metiode Schrerrer adalah ukuran kristallin tersebut, bukan ukuran partikel. Untuk partikel
berukuran nanometer, biasanya satu partikel hanya mengandung satu kristallites. Dengan
demikian, ukuran kristallinitas yang diprediksi dengan metode Schreer juga merupakan
ukuran partikel. Berdasarkan metode ini, makin kecil ukuran kristallites maka makin lebar
puncak difraksi yang dihasilkan, seperti diilustrasikan pada Gambar 4. Kristal yang
berukuran besar dengan satu orientasi menghasilkan puncak difraksi yang mendekati sebuah
garis vertikal. Kristallites yang sangat kecil menghasilkan puncak difraksi yang sangat lebar.
Lebar puncak difraksi tersebut memberikan informasi tentang ukuran kristallites. Hubungan
antara ukuran ksirtallites dengan lebar puncal difraksi sinar X dapat diproksimasi dengan
persamaan Schrerer.
 Gambar 4 : XRD Peaks

Rumus Scherrer

Dimana :
Crystallite size (satuan: nm) dinotasikan dengan symbol (D)
FWHM (Line broadening at half the maximum intensity), Nilai yang dipakai adalah
nilai FWHM setelah dikurangi oleh the instrumental line broadening (satuan:
radian) dinotasikan dengan symbol (B)
Braggs Angle dinotasikan dengan symbol ()
X-Ray wave length dinotasikan dengan symbol ()
K Adalah nilai konstantata Shape Factor (0.8-1) dinotasikan dengan symbol (K)
Perlu diingan disini adalah: Untuk memperoleh hasil estimasi ukuran kristal dengan lebih
akurat maka, nilai FWHM harus dikoreksi oleh "Instrumental Line Broadening" berdasarkan
persamaan berikut.

Dimana :
FWHMsample adalah lebar puncak difraksi puncak pada setengah maksimum dari sampel benda
uji dan FWHMstandard adalah lebar puncak difraksi material standard yang sangat besar
puncaknya berada di sekitar lokasi puncak sample yang akan kita hitung.