Professional Documents
Culture Documents
Amplitude mdia
Nas tabelas [1] podemos encontrar os valores tabelados das constantes necessrias para o clculo, assim
para n=3,temos A2 = 1,023 ; D3=0 ; D4=2,575
*Para a mdia:
-Linha central:
LC=76,92
*Para a amplitude:
- Linha central:
LC= 1,41
UNIVERSIDADE FEDERAL DA BAHIA
ESCOLA POLITCNICA - DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA QUMICA
ENG D02 Estatstica Aplicada na Engenharia Professor Herbert Oliveira
Aluna: Vernica S. Nascimento
LIC = 0.(1,41) = 0
Nas tabelas [1] podemos encontrar os valores tabelados das constantes necessrias para o clculo, assim
para n=3, A3 =1,954 ; B3=0; B4=2,568
*Para a mdia:
-Linha central:
LC= 76,92
LIC=76,92 (1,954).(0,74)=75,48
LSC = (2,568).(0,74)=1,9
-Linha central:
LC=0,74
LIC=0.(0,74)=0
UNIVERSIDADE FEDERAL DA BAHIA
ESCOLA POLITCNICA - DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA QUMICA
ENG D02 Estatstica Aplicada na Engenharia Professor Herbert Oliveira
Aluna: Vernica S. Nascimento
c) Construa as cartas de controle X-Barra e R e X-Barra e S, utilizando o Excel. Analise as 08 regras de alerta e
identificao de causas especiais. O processo encontra-se sob controle?
GRFICOS DE X-BARRA E R
UNIVERSIDADE FEDERAL DA BAHIA
ESCOLA POLITCNICA - DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA QUMICA
ENG D02 Estatstica Aplicada na Engenharia Professor Herbert Oliveira
Aluna: Vernica S. Nascimento
GRFICOS DE X-BARRA E S
UNIVERSIDADE FEDERAL DA BAHIA
ESCOLA POLITCNICA - DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA QUMICA
ENG D02 Estatstica Aplicada na Engenharia Professor Herbert Oliveira
Aluna: Vernica S. Nascimento
d) Obtenha as cartas de controle X-Barra-R e X-Barra-S, utilizando o Minitab. Compare a anlise das regras de
alerta de causas especiais do software com a anlise feita no item anterior.
_
_
77 X=76,918
76
LC L=75,534
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28 31
Sample
4
U C L=3,481
3
Sample Range
2
_
R=1,352
1
0 LC L=0
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28 31
Sample
UNIVERSIDADE FEDERAL DA BAHIA
ESCOLA POLITCNICA - DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA QUMICA
ENG D02 Estatstica Aplicada na Engenharia Professor Herbert Oliveira
Aluna: Vernica S. Nascimento
_
_
77 X=76,918
76
LC L=75,534
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28 31
Sample
2,0
U C L=1,818
1,5
Sample StDev
1,0
_
S =0,708
0,5
0,0 LC L=0
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28 31
Sample
Fazendo-se novamente a analise dos oito casos especiais(como na questo anterior) ,conclui-se que o
processo encontra-se sob controle.
a) 76 a 78%
Cp =(78-76)/(6.0,83) = 0,4
b) 75 a 79%
Cp = (79-75)/(6.0,83) = 0,8
c) 75 a 78,5%
Cp= (78,5-75)/(6.0,83)=0,7
UNIVERSIDADE FEDERAL DA BAHIA
ESCOLA POLITCNICA - DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA QUMICA
ENG D02 Estatstica Aplicada na Engenharia Professor Herbert Oliveira
Aluna: Vernica S. Nascimento
Grficos de Capabilidade
a) 76 a 78%:
Process Capability of Turno 01
LSL USL
Process Data Within
LS L 76 Ov erall
Target *
U SL 78 P otential (Within) C apability
Sample M ean 77,0261 Cp 0,59
Sample N 31 C PL 0,60
C PU 0,57
StDev (Within) 0,567528
StDev (O v erall) 0,641708 C pk 0,57
C C pk 0,59
O v erall C apability
Pp 0,52
PP L 0,53
PP U 0,51
Ppk 0,51
C pm *
LSL USL
Process Data W ithin
LS L 76 Ov erall
Target *
U SL 78 P otential (Within) C apability
Sample M ean 76,8616 Cp 0,32
Sample N 31 C PL 0,27
C PU 0,36
StDev (Within) 1,04959
StDev (O v erall) 0,897269 C pk 0,27
C C pk 0,32
O v erall C apability
Pp 0,37
PP L 0,32
PP U 0,42
Ppk 0,32
C pm *
LSL USL
P rocess D ata Within
LSL 76 Overall
Target *
USL 78 P otential (Within) C apability
S ample M ean 76,8655 Cp 0,37
S ample N 31 C PL 0,32
C PU 0,42
S tDev (Within) 0,905666
S tDev (O v erall) 0,850541 C pk 0,32
C C pk 0,37
O v erall C apability
Pp 0,39
P PL 0,34
P PU 0,44
P pk 0,34
C pm *
b) 75 a 79%:
Process Capability of Turno 01
LSL USL
P rocess D ata Within
LS L 75 Ov erall
Target *
USL 79 P otential (Within) C apability
S ample M ean 77,0261 Cp 1,17
S ample N 31 C PL 1,19
C PU 1,16
S tD ev (Within) 0,567528
S tD ev (O v erall) 0,641708 C pk 1,16
C C pk 1,17
O v erall C apability
Pp 1,04
PPL 1,05
PPU 1,03
P pk 1,03
C pm *
LSL USL
P rocess D ata Within
LS L 75 Ov erall
Target *
USL 79 P otential (Within) C apability
S ample M ean 76,8616 Cp 0,64
S ample N 31 C PL 0,59
C PU 0,68
S tD ev (Within) 1,04959
S tD ev (O v erall) 0,897269 C pk 0,59
C C pk 0,64
O v erall C apability
Pp 0,74
PPL 0,69
PPU 0,79
P pk 0,69
C pm *
LSL USL
P rocess D ata Within
LSL 75 Ov erall
Target *
U SL 79 P otential (Within) C apability
Sample M ean 76,8655 Cp 0,74
Sample N 31 C PL 0,69
C PU 0,79
StD ev (Within) 0,905666
StD ev (O v erall) 0,850541 C pk 0,69
C C pk 0,74
O v erall C apability
Pp 0,78
PP L 0,73
PP U 0,84
P pk 0,73
C pm *
LSL USL
P rocess D ata Within
LSL 75 Overall
Target *
U SL 78,5 P otential (Within) C apability
Sample M ean 77,0261 Cp 1,03
Sample N 31 C PL 1,19
C PU 0,87
StDev (Within) 0,567528
StDev (O v erall) 0,641708 C pk 0,87
C C pk 1,03
O v erall C apability
Pp 0,91
PPL 1,05
PPU 0,77
P pk 0,77
C pm *
LSL USL
P rocess D ata W ithin
LS L 75 O verall
Target *
US L 78,5 P otential (Within) C apability
S ample M ean 76,8616 Cp 0,56
S ample N 31 C PL 0,59
C PU 0,52
S tD ev (Within) 1,04959
S tD ev (O v erall) 0,897269 C pk 0,52
C C pk 0,56
O v erall C apability
Pp 0,65
PPL 0,69
PPU 0,61
P pk 0,61
C pm *
LSL USL
P rocess D ata Within
LS L 75 Overall
Target *
USL 78,5 P otential (Within) C apability
S ample M ean 76,8655 Cp 0,64
S ample N 31 C PL 0,69
C PU 0,60
S tDev (Within) 0,905666
S tDev (O v erall) 0,850541 C pk 0,60
C C pk 0,64
O v erall C apability
Pp 0,69
PPL 0,73
PPU 0,64
P pk 0,64
C pm *