REL MULTIFUNCIONAL BASADO EN

MICROCONTROLADORES 87C196KC
ALIRIO CALA V.
Ingeniero Electricista Ms.C.
Profesor Titular Escuela de Ingenieras Elctrica
Electrnica y 1elecomunicaciones,
Universidad Industrial de Santander
acalav@uis.edu.co

LAURA A. BARRIOS H.
Ingeniera Electricista
Universidad Industrial de Santander
laura_bh@engineer.com

ALFONSO HERNNDEZ M.
Ingeniero Electricista
Universidad Industrial de Santander

RESUMEN

Se presenta el diseo de un rel numrico multifuncional basado en microcontroladores

desarrollado por los autores como trabajos de investigacin de pregrado y posgrado[6J.[8J.[16].
Se exponen las especificaciones cumplidas por este rel, los desarrollos matemticos para la
obtencin de las magnitudes elctricas, lasfimciones de proteccin soportadas, e! esquema general
de! hardware y un resumen de! software diseado.

PALABRAS CLAVE: Rels numricos, sistemas digitales de proteccin, rels multifuncionales. funciones de
proteccin.

ESPECIFICACIONES C. Caractersticas fisicas del sistema de proteccin

A. Funciones de proteccin soportadas e Panel de leds para indicaciones de alarmas y

disparos.
Funcin Cdigo e Entradas y salidas digitales estndar TIL.
ANSI
Sobrevoltaje RMS, trifsico 59 Panel de leds indicadores de alarmas y disparos.
Subvoltaje RMS, trifsico 27 e Visualizador de cristal liquido para mostrar
Sobrecorriente instantneo trifsico 50 mediciones, configuraciones y mensajes.
Sobrecorriente temporizado 51 e Teclado para introduccin de ajustes
Sobrefrecuencia 810 y configuraciones.
Subfrecuencia 81U
Potencia direccional 32 D. Seales de entrada
Sobrecorriente de secuencia negativa 46
e Tres entradas de voltaje nominal 120 V rms, 60 Hz.
B. Mediciones Voltaje mximo continuo 125% del voltaje norninal.

e Valores rms de los fasores de frecuencia fundamental e Tres entradas de corriente nominal de 5.0 A, 60 Hz, Y
de voltaje y corriente. una entrada de corriente nominal de I A para el circuito
Potencia :iri.versa. neutro.
e Factor de potencia.
e Deteccin de prdida de fase.
VIS Ingenieras, Volumen 1, No. 1, pags. 11-19. Mayo 2002; Facultad de Ingenieras Fisicomecnicas, VIS
 12 UI9In~:.s REVISTA CE LA FACUL.TAD DE INGENIER[AS F(SICCMECNICAS

E. Capacidades adicionales. En la Fignra 2 se muestran los componentes de ste

o Capacidad para almacenar muestras y eventos.
o Capacidad para realizar autodiagnsticos.
HARDWARE
El hardware se dise en forma modular para facilitar
la construccin, las modificaciones, las pruebas y el
mantenimiento del sistema. Est conformado por los
siguientes bloques, mostrados en la Fignra 1:
ACONOI
ClONA
DaR
'.:r;,~~F.l~lE~PiRiO~M~RAM~
:,......
SEALES
'..
L-"'""'OfIfR'"al AGP
; ..
; seales sin amplificar.
bloque: banco de filtros, amplificadores de ganancia
programable, sumadores de offset y detectores de ventana.
Las seales entran a travs de nn banco de filtros
pasabajo (antialliasing) en circuito integrado con
frecuencia de corte correspondiente al quinto armnico de
la seal.
Debido al amplio rango dinmico de las seales de
corriente, se usan amplificadores de ganancia programable
(AGP) para mantener una buena precisin en las medidas
de corriente que as 10 requieren
UNIDAD DE (clculos para proteccin de
PROCESAMIENTO
Me 1 y CONTROL potencia inversa, y sobrecorriente
de secuencia negativa), mientras
que para las protecciones de
EPROM RAM
sobrecorriente, se emplean las

Todas las seales se superponen

ESTADO
BREAKER
I sobre nn offset de 2.5 VDC para
elinrinar la componente negativa y
REl I EPROM RAM
60 OPTOAISwtIENTO finalmente son vigiladas por un
ALARMA I
DE 1D~'lJW UIl I circnito detector de ventana, el cual
D1SPARO envia una seal de alarma al bloque
FUENTE DE
HABIUTACI9N TE~DOc:::::l ,VOC
principal en el caso de que se
RECONEXlON
VL:J 12VDC
presenten voltajes fuera del rango
Figura 1 Diagrama en bloques del rel multifuncional de O a 5 Y pico.

Bloque de transformadores de corriente y voltaje

o Bloque de acondicionamiento de seales anlogas.
o Unidad de control de proceso
Bloque de entradas/salidas digitales. In .....- .....- - . ,
le ;:;:.!~:='--, Ve
Interfase de usuario: visualizador y teclado Ib::,=?-......

A. Bloque de transformadores
la
..."'"
..........
En este bloque se convierten los voltajes y corrientes a
niveles mximos de 2.5 YAC pico y se aislan
elctricamente los circuitos posteriores respecto a los
transformadores de medida.

La entrada de los transfonnadores de voltaje est

protegida con supresores de voltajes transitorios. Se utilizan
resistencias de precisin para transformar la seal de
corriente en un voltaje entre los rangos requeridos. ~

B. Bloque de acondicionamiento de seales anlogas

Este bloque adapta los voltajes provenientes de los A

transformadores de acople, al rango de O a 5 Y pico,
compatible con los conversores A/D. Figura 2 Esquema del bloque de acondicionamiento de seales
 REL MULTIF"UNCIONAL BASADO EN MICROCONTROLADORES S7C196KC
C. Unidad de procesamiento y control
Es el cerebro del rel. En este bloqne se lleva a cabo el
muestreo y la conversin anloga a digital de las seales
de voltaje y corriente, se realiza el procesamiento de los
datos y todas las tareas de presentacin de resultados y
control de eventos en tiempo real.
Est integrado por tres microcontroladores, la memoria
RAM y EPROM, Y las interfases con los dems bloques.
Cada microcontrolador maneja dos bancos de memoria
externa EPROM y RAM no voltil (NVSRAM), cuyas
direcciones son codificadas con (dispositivos lgicos
programables) PLD's
Se seleccionaron microcontroladores 87Cl96KC Intel
de 16 bits por su alta velocidad de procesamiento, facilidad
para el control y gestin de las interrupciones, soporte de
operaciones de entrada/salida, yel conversor AID de 10
bits que multiplexa 8 entradas anlogas con un tiempo
mnimo de muestreo de 10 J,lS. Adems estos
microcontroladores poseen 5I 2 bytes de RAM interna con
48 bytes dedicados a registros de funciones especiales
(SFR's) y pueden direccionar hasta 64 KB de memoria
externa.
D. Bloque de E/S digitales
Contiene los siguientes elementos:
Manejadores de leds indicadores de estado de las
funciones de proteccin.
Manejador de relevos que producen las seales de
alarma y disparo.
Entradas digitales opto aisladas de estado de breaker y
prdida de fase.
E. Interfase con el usuario
Contiene los siguientes componentes:
Mdulo visualizador de cristal lquido.
Teclado para entrada local de ajustes y calibraciones,
con los siguientes mandos:
Arriba
Abajo
Entrar ajuste
Confirmar comando
Reinicializar sistema
1 :3
TRATAMIENTO DE SEALES, y CLCULOS DE
FASORES y MAGNITUDES DEL SISTEMA
El muestreo de las seales se realiza a una rata de 960
Muestras por segnndo (N ~ 16 muestras/ciclo para sistemas
de 60 Hz), satisfaciendo el criterio de NYQUIST, puesto
que los filtros antialliasing eliminan las componentes de
frecuencia superiores al quinto armnico (300 Hz).
Para obtener los fasores de voltaje y corriente del
sistema se emplea la transformada discreta de Fourier
(DFT), en versin recursiva, pues se considera como una
de las mejores opciones en el procesamiento digital de
seales para casos como el presente[1 1], [9].
A. DFT en tiempo real
Si se tiene una seal anloga continua x(t) de la cual
se toman muestras en cada instante de muestreo t=kT
(k=0,1,2...N), la secuencia x[kT] ser su correspondiente
funcin muestreada.
Considerando que x[kT] no es estrictamente peridica,
sino que evoluciona de un rgimen peridico a otro rgimen
peridico, dependiendo de las fluctuaciones en el sistema
elctrico, puede en cada instante kT, calcularse la
transformacin correspondiente a las ltimas N muestras
(k-N a k-l), cuyos coeficientes se denominan F[n,k] pues
en principio son variables con el tiempo. Como F[n,k] no
depende de x[kT], en tiempo real puede completarse su
estimacin en cuanto se disponga de x[k-l].
Existen diferentes transformaciones, cada una de las
cuales corresponde a un origen de tiempos distinto, y por
tanto diferente origen de ngulos. Para el origen de tiempos
fijo en k=O (equivalente en ngulo a k=m*N, siendo m un
nmero entero), se tiene:
H
F {n,k] = : [xr] W
r~ k - N
rn] Siendo W = e -1'"N (1)
Cada muestra x[r] se multiplica siempre por el mismo
coeficiente e - j2l'l:rn!N, por lo cual para ahorrar clculos se
puede tomar el valor calculado hasta el momento, aadirle
la nueva muestra y descontar la muestra saliente. La
expresin correspondiente a ste algoritmo recursivo se
muestra en la ecuacin (2).
F [,.'1 = F('.'_JI (X ('-JI +X[._N_JI) W('-J)' (2)
B. Fasar de frecuencia fUndamental en forma recursiva
La componente de frecuencia fundamental del fasor
calculada por la DFT est dada por:
 14 REVISTA DE LA FACULTAD DE INGENIER(AS F(SICDMECNICAEI

2 ~ [x ] -j2~kfN En la Figura 3 se muestra el algoritmo empleado para

-- N f:;; [k] e calcular la frecuencia del sistema y un diagrama
2 N-l 21t comparativo de los fasores de voltaje para un ciclo y el
-N L [xI'1 ]sen-k (3)
N
1-0
ciclo anterior. Se emplea el fasor de voltaje de secuencia
positiva por su mayor estabilidad.

Una vez se ha calculado la DFT para la primera ventana FRECUENCIA

de datos, se calcula el fasor de secuencia fundamental en
fonna recursiva: A + jB = V V l(K) - 1(K-16)

F 1[k] = -F l[k-lj + 2
N [X[k_t] - X[k_N_I]
] e -j2dlN e + jD = V ,(>" + V"K.'"
= ~ e[F1IkJ]- j i m[1"1IkJ] ta n 2.... =
2
~ e [1"1[kd= ~ e [1"1[k-1J]+ ~ [X[k-ll -X[k_N_1dcos ~ k (4)

ro [Fl[kl]:::: i ro [Fl[k-d +~ [X[k-ll - X[k_N_t] sen 21t k h-L

N N 7t 2
e Fasar de voltaje de secuencia positiva
no
Siendo Va, Vb, Ve, los fasares de voltaje, para la
frecuencia fundamental de las tres fases, el fasor de voltaje
de secuencia positiva se obtiene COIDO:
/:if = -/:if
VI ='!'(va +a Vb +a 2 Vc ) (5)
3 I = lo + !J.f
a =-0.5 + jO.866
FIN
D. Fasor de corriente de secuencia negativa
Figura 3. Algoritmo k c,1cul0 de frecuencia del siswma.
La corriente de secuencia negativa se calcula usando
los fasores de corriente obtenidos de la DFT.
Potencia activa y reactiva
(6)
La potencia se calcula a partir de los fasores de voltaje
y corriente obtenidos por medio de la DFT.
E. Frecuencia fundamental de la seal

Del clculo recursivo con origen de tiempos fijo de la s = VI' = P + jQ (9)

DFT resulta un fasor de secuencia positiva estacionario,
sin embargo si la frecuencia de la seal de entrada cambia = VI'
a a
(lO)
ligeramente de su valor fo en una cantidad tif, mientras la
frecuencia de muestreo pennanece constante, el ngulo de
fase del fasor de secuencia positiva cambia a una rata FUNCIONES DE PROTECCIN
directamente relacionada con if ASumiendo que la
frecuencia se calcula durante el ciclo de 16 muestras, el Protecciones de sobrecorriente
ngulo de fase del fasor en el k-simo instante se representa
por:
Para las protecciones de sobrecorriente de fase se
N 27t (7)
emplea la mayor magnitud de corriente de fase como
fo indicador de la presencia de falla, para la sobrecorriente
trifsica, se emplea el fasor fundamental de frecuencia
De donde
positiva y para la proteccin de corriente inversa, se utiliza
1 de la magnitud del fasor fundamental de corriente de secuencia
M = --= (8)
27t dt negativa.
REL. MULTIFUNCIONAL BASADO EN MICROCONTROLADDRES B7C196KC 15

B. Proteccin de sobrecorriente de disparo instantneo. Proteccin de potencia inversa

Genera una seal de disparo en un tiempo mnimo Un valor negativo de potencia en la ecuacin ( 15)
cuando la corriente calculada es superior a la corriente pico supone potencia inversa. El rel de potencia inversa acta
mxima permitida (Ip). con un retardo programado.

C. Proteccin de sobrecorriente temporizada Prnin (15)

El tiempo de operacin se determina con base en la
magnitud de la corriente de acuerdo con las curvas
caractersticas de tiempo inverso. Estas curvas se definen
DISEO DEL SOFTWARE
por la ecuacin general:

r*t=M*K (JI) El software se dise bajo un enfoque estructurado

utilizando programacin modular. La Figura 4 muestra la
Donde: K: Tap del transfonnador estructura modular del software. En general los
M,n: Constantes caractersticas de la curva
microcontroladores MC-I y MC-2 realizan la adquisicin
t: Tiempo de disparo en segundos.
1: Corriente de falla expresada en mltiplos de la corriente y procesamiento de las seales de voltaje y corriente, y
de arranque de falla. soportan las funciones de proteccin, mientras que un tercer
microcontrolador MC-3 se encarga de controlar la
y por las ecuaciones particulares: transferencia de datos con MCI y MC-2 y establecer
Tabla 1. Ecuaciones de tiempo/sobrecorriente comunicacin local y remota con el usuario. Por tanto, los
mdulos de MC_1 y MC_2 presentan gran similitud y se
Tipo de temporizacin Tiempo estudiarn en conjunto.
0.14* K
Normalmente inversa t= (12) Se aprovechan gran parte de las fuentes de interrupcin
0.02 -1 ofrecidas por los 87C196KC, para responder a
13.5* K requerimientos de procesamiento en tiempo real.
Muy inversa t= (13)
-1
A. Mdulos de los microcontroladores MCj y MCj
SO*K
Extremadamente inversa t=-- (14)
2 -1 l. Mdulo Principal. MCl_PPL y Mdulo Principal.
MC2 PPL.
C. Proteccin de Voltaje
El Mdulo principal en MC_I es el encargado de la
configuracin de registros, inicializacin de variables,
Los componentes de un sistema de potencia soportan
defInicin de macros, llamado a las rutinas de diagnstico
sin deteriorarse ciertos niveles de sobrevoltaje y subvoltaje,
por tanto las protecciones de voltaje debe admitir un tiempo
de retardo en su operacin que permita, si es posible, la
correccin de la causa de la variacin del sistema. I INICIO
I
"'. .. .... ' ..
'.
. ........ '.
Esta proteccin se diseo con dos niveles de voltaje
I MC_l
I I MC_3 I I NC_'
ajustables para disparo temporizado con retardos
MC1_PPAL Mel_PPAL MC2 PPAL
independientes. Tarobin existe una unidad de disparo
(~:~~::~)
( IniciaHzacin ( Inicializacin)
instantneo para sobrevoltaje de fase, o para el fasor Diagnstico Diagnstico

de voltaje de secuencia positiva. J.. i

.1 1 I I
Ajuste ) ( Operacio Ajuste ) ( Operacin Ajuste ) ( Operadn
D. Proteccin de Frecuencia

Cuando la frecuencia calculada est fuera de los 1 MCl_SCAN

J1 Mel_COM I 1 MC2_SCAN J
rangos programados segn las caractersticas del I MCl-FALL I 1 MC3_CALC I I MC2.-FALL
J
sistema de potencia protegida, el rel acta segn los
retardos programados. Se programan varios pasos de f DISPLAY )
deslizamiento de frecuencia en cada sentido. Figura 4. ESCjuema general de la orgamzacln del software del SIstema
 15 OISln~;:As REVISTA DE LA FACULTAD DE INGENIERAS FSICOMECNICAB

y ajuste e intercambio de datos con MC_3. En la Figura 5 { MCl SCAH

se muestra el diagrama de flujo del modulo MCI_PPAL. Iniciar Mel SCAN

Definir constante!> y variables;
y configurar SfR's
( MCl PPAL ) V.<tori,,, "i~rO"S ,r"
~
Definican de constantes y variables onversin AfD termina
001
Asignacin de memoria, configuradn SFR ' s
Veetorizadn de interruodones 11 '~n_LU'"

Rutina inicializacin del microcontrolador
~rra:~~lJa temporalmente

, Ultimo cana

11
00

Inicializacin de rutinas de autodiagnstico
DFTN_l
ventana -

DFT~l Calculos DFT recursIVos

fasores de voltaje y corriente, fasor de voltaje de
J,. DFT para primera
ventana de muestras secuencia +, y corriente de secuenda ,Potencia
y frecuencia del sistema
"f no
INT EXTERNA? In<:n!I'T"entarmJeslr.!
00
muestra

INT_DATOSl
si
Incrementar ventana

Intercambia informacin con MC_3 ventana =3 Ileiocializar

Inicializa y ajusta las funciones de proteccin no
y medicin segn el cdigo recibido. tomar

Figura 6. Algoritmo del Mdulo MCl_SCAN

f FINAL 1
Figura 5. Algoritmo del Mdulo Principal MCl_PPL
G. Mdulos de tratamiento de fallas. MCI_FALL y
MC2_FALL
Las rutinas de autodiagnstico se encargan de vigilar
la operacin del programa en modo operacin y verificar En la Figura 7 y la Figura 8 se muestran los diagramas
el funcionamiento de la RAM durante la secuencia de
generales de stos mdulos.
inicializacin. El intercambio de informacin con MC 3
tanto en modo de ajuste, como de operacin se habilita
I

MCs..-FALL
por la interrupcin externa atendida por la subrutina
INT_DATOSI. lnlclo_ MC1_FALLL
Deftnlcln de constantes y vari<lbles,aslgni\dn de memor1il
eonnQur.ldn de SFR's y veetoriZadl1 de intemlpclooes

El Mdulo Principal MC2]PL cumple en MC_2 las Uama la slgule<lte funcin de proteedn ronfiguracla

mismas funciones de MCI_PPL en MC_1.

F. Mdulos de converslOn anlogo-digital y

procesamiento de las seales. MCI_SCAN y
MC2 SCAN

Estos mdulos comandan el barrido de los canales

anlogos, a la rata de muestreo defmida, y ejecutan todos
DISPARO
los clculos para obtener los fasores de voltajes y corrientes Actualz.l bander.l fallas

segn corresponda, realizan el control del AGP para el

caso del MCI_SCAN, y almacenan las muestras segn la
ventana de datos detenninada. Las conversiones anlogo
digitales se disparan automticamente, programndolas
como eventos en la memoria de acceso por contenido
(CAM) de la unidad de salidas de alta velocidad (HSO)
del microcontrolador.
El mdulo MCI_SCAN se encarga del procesamiento
de las seales de voltaje y corrientes amplificadas, mientras
que MC2 SCAN realiza el barrido de las seales de
corriente no amplificadas.
Figura 7. Diagrama de flujo MCl_FALL
Su funcin principal es detectar la presencia de fallas
segn las protecciones configuradas, y cuando ocurren una
o ms fallas actualizar las banderas indicadoras de alarmas
y disparos Por medio de interrupciones se supervisa la
ocurrencia de falla externa, o falla en el otro
microcontrolador 2.
REL MULTIF'"UNCIONAL BASADO EN MICROCONTROLADORES S?C 196KC 17

Las funciones de ste mdulo pueden resumirse as:

Inicio_ MC2_FALLL
Definicin de constantes y variables/asignacin de memoria Detectar las peticioues de ajuste local e infonnar a
Configuracin de 5FR's y Vectorizacin de interrupciones
MC_1 y MC_2 la ocurrencia de tales eventos.
Llama la siguiente funcin de proteccin configurada
Transmitir a MC_l y MC_2 las constantes de
calibracin

Comandar y coordinar las tareas de iniciacin y

autodiagnstico del sistema

no TIME-.A,RRQ
bandera falla? 2. Mdulo de clculos. MC3- CAL
TIME_TRANS
calOJla tiempo transcurrido Como se ve en la Figura 10 este mdulo lee los datos
transferidos por los MC_1 y MC_2, identifica la presencia
si de fallas y alarmas, calcula las magnitudes rms de los
DISPARO
fasores de voltaje y corriente por medio de la subrutina
VIS_RMS la cual involucra un algoritmo para clculo de
Repeticin del proceso de toma de muestras hasta disparo de breaker raz cuadrada. Adems convierte a BCD y ASCII los datos
Figura 8. Diagrama de Flujo MC2_FALL
binarios que se mostrarn en el DISPLAY.

El Mdulo de tratamiento de fallas MC2]ALL es

anlogo a MC1_FALL para las funciones de proteccin ( MC3 CAL I
de sobrecorriente instantnea y temporizada
Definicin de constantes y variables
Asignacin de memoria configuracin SFR' s
B. Mdulos del microcontrolador MC-3
V1S_RMS
1. Mdulo Principal. MC3- PPL. calada magnitudes RM5,
potencia del sistema y factor de potencia

BIN_BCO
Definidn de constantes y variables
Asignaci de memoria, configuradn SFR' s
Vectorizacin de interrupciones
I Convierte nmeros binarios a BCD

I RETORNO)
INICIO_TRAN
Inida transmisin de datos de arranque a MC_l y MC_2 Figura 10. Diagrama de Flujo mdulo MC3_CAL

no
3. Mdulo de administracin de visualizador LeD.
SI DiSPLAY
TRANS_REC
Intercambia informadn con Me! y MC2
Soporta todas las subrutinas de gestin del display local
no inicializacin y visualizacin de mensajes en el panel
frontal del dispositivo, adems convierte los datos
numricos al formato aceptado por la matriz, y recibe las
entradas del teclado.
5EL_FUNOON
selecciona presentadn en DISPlAY 4. Mdulo de comunicacin. MC3_COM
RUT3_INTS
Petidn peridica de datos a MC! y MC_2 Atiende las interrupciones de transmisin y recepcin
serial de datos y ejecuta las rutinas asociadas a dichas
AlUSTE_LOCAL
Recibe informacin de ajuS>tes desde el interrupciones tanto en modo de operacin como de ajuste.
teclado y muestra configuradones en el
display
RETORNO
Figura 9. Diagrama de Flujo mdulo MC3_PPL
lB OIB:i~~;~~.s REVISTA CE LA F"ACUL.TAO DE INGENIERAS FSICCMECNICAS
( MCUOM )
;;
Definicin de constantes yvariables
Asignaci de memoria, configuracin SFR's
Vectorizadn de interrupciones
Figura 11. Diagrama de Flujo mdulo MC3_COM
PRUEBAS FUNCIONALES EN PC
Se desarroll una aplicacin en LabVIEW para realizar
pruebas funcionales de los algoritmos de medicin y
proteccin. Se utiliz un PC 486DX4-100 MHz con 8 MB
de memoria RAM y una taljeta de adquisicin NATIONAL
INSTRUMENTS, modelo AT_MIO_16E_IO.
Aunque LabVIEW incorpora una completa biblioteca
de procesamiento digital de seales, se utilizaron los
algoritmos diseados para el rel multifuncional basado
en microcontroladores.
El usuario se comunica por medio del panel de interfaz
el cual incluye los signientes controles e indicadores:
o Oscilogramas de seales de voltaje y corriente.
Indicadores de magnitudes RMS, frecuencia, potencia
activa y reactiva, y factor de potencia.
o Selector de prueba con seales reales o simuladas.
o Selector del tipo de falla.
o Controles de variacin de magnitudes RMS.
Ajustes de frecuencia de muestreo, muestras por ciclo
y selector de canales de adquisicin.
o Indicadores de alarmas y disparos de las diferentes
funciones de proteccin incluidas.
El tiempo de respuesta del sistema rel oscil entre 200
y 300 rus, dependiendo de la funcin de proteccin, el cual
puede ser bastante aceptable en protecciones de respaldo.
Usando un computador ms rpido, este tiempo puede
reducirse sustancialmente, pero se mantendrn limitaciones
para tiempo real.
CONCLUSIONES
Se ha presentado el diseo de un rel multifuncional
basado en tres microcontroladores 87CI96 de Intel. La
estructura modular del software y el hardware de ste
diseo, permite adaptarlo fcilmente a nuevas necesidades
de proteccin y medicin, o para brindar prestaciones
adicionales.
En un primer proyecto se culmin la etapa de diseo
del software y hardware del rel y la construccin y prueba
de los bloques de transformacin, de acondicionamiento
de seales anlogas, y de entradas y salidas digitales.
Actualmente se est trabajando en la construccin de un
primer prototipo del rel multifuncional, pues se prevn
grandes posibilidades de desarrollo en ste campo de las
protecciones digitales y numricas de sistemas de potencia.
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REL MULTIFUNCIONAL BASADO EN MICROCONTROLADORES B7C196KC
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