CASO :

En el siguiente cuadro muestra la fase inicial del control de un proceso de

fabricacin de transistores de los cuales se extrajeron 11 muestras de 4
Construir la grfica de la media y el rango si fuera posible para el futuro

x1 x2 x3 x4 media rango dev

1.4200938
4.3 3.2 2.1 1 2.65 3.3 9
2.3237900
4 5.8 7.6 9.4 6.7 5.4 1
5.2 4.3 3.4 2.5 3.85 2.7 1.161895
1.0327955
4.9 4.1 3.3 2.5 3.7 2.4 6
0.3872983
3.8 3.5 3.2 2.9 3.35 0.9 3
3.0983866
5.6 3.2 0.8 -1.6 2 7.2 8
1.0327955
4.1 3.3 2.5 1.7 2.9 2.4 6
0.7745966
3.5 4.1 4.7 5.3 4.4 1.8 7
1.5491933
3.9 5.1 6.3 7.5 5.7 3.6 4
0.9036961
4.5 3.8 3.1 2.4 3.45 2.1 1
1.6782927
3.5 4.8 6.1 7.4 5.45 3.9 8
4.0136363 0.7633657
6 6.3 5

CARTA DE CONTROL DE LA MEDIA ()

CASO B: cuando no se conoce ni
a) Estimacin de por

1
= = 999.55

=1

b) Cuando el estimador de es

1
= = 6.3

=1

Lmites de control:
= + 2 = 999.55 + 0.729 25.2 = 1017.92
 = = 999.55

= 2 = 999.55 0.729 25.2 = 981.18

Grfica Xbarra de X1, ..., X4

1020
LCS=1017.28

1010
Media de la muestra

__
1000 X=999.55

990

LCI=981.82
980
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Muestra

De acuerdo al grafico no existe ningn punto fuera de los lmites de control por
tanto el proceso es estable o est bajo control estadstico para los
requerimientos de la oficina tcnica o del comprador.

CARTA DE CONTROL DEL RANGO:

CASO B: cuando no se conoce ni
a) Estimacin del R por

1
= = 25.2

=1
 b) Estimacin de por
= 4 = 2.282 25.2 = 57.51
= = 25.2
= 3 = 0 25.2 = 0

Grfica R de X1, ..., X4

60
LCS=57.49

50
Rango de la muestra

40

30
_
R=25.2

20

10

0 LCI=0

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Muestra

De acuerdo al grafico no existe ningn punto fuera de los lmites de control por
tanto el proceso es estable o est bajo control estadstico para los
requerimientos de la oficina tcnica o del comprador.

CARTA DE CONTROL DE LA DESVIACION ESTANDAR:

CASO B: cuando no se conoce ni
a) Estimacin del por

1
= = 11.14

=1
 b) Estimacin de por
= 4 = 2.266 11.14 = 25.24
= = 11.14
= 3 = 0 11.14 = 0

Grfica S de X1, ..., X4

25 LCS=25.24

20
Desv.Est. de la muestra

15

_
S=11.14
10

0 LCI=0

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Muestra

De acuerdo al grafico no existe ningn punto fuera de los lmites de control por
tanto el proceso es estable o est bajo control estadstico para los
requerimientos de la oficina tcnica o del comprador.

Hallar los lmites de control para la muestra de 5 artculos de la media de un

proceso de fabricacin de transistores con las caractersticas siguientes. Media
del proceso 5.60, desviacin estndar 0.05
=5 = 5.60 = 0.05
= 1.342

= 3

= 3(0.05)/5
 = 5.67 = 5.63

= 5.60 1.342(0.05)

= 5.67 = 5.53

5.67

= 5.60

5.53

Con los lmites de control del ejemplo anterior verificar si el proceso de

fabricacin de los transistores se mantienen bajo control, si se extrajeron 10
muestras de tamao 5 de hora en hora, la informacin se da en el siguiente
cuadro.
Diferencias en la fabricacin de transistores
Especificaciones: 5.60 0.15

x1 x2 x3 x4 media rango dev

1.4200938
4.3 3.2 2.1 1 2.65 3.3 9
2.3237900
4 5.8 7.6 9.4 6.7 5.4 1
5.2 4.3 3.4 2.5 3.85 2.7 1.161895
1.0327955
4.9 4.1 3.3 2.5 3.7 2.4 6
0.3872983
3.8 3.5 3.2 2.9 3.35 0.9 3
3.0983866
5.6 3.2 0.8 -1.6 2 7.2 8
1.0327955
4.1 3.3 2.5 1.7 2.9 2.4 6
 0.7745966
3.5 4.1 4.7 5.3 4.4 1.8 7
1.5491933
3.9 5.1 6.3 7.5 5.7 3.6 4
0.9036961
4.5 3.8 3.1 2.4 3.45 2.1 1
1.6782927
3.5 4.8 6.1 7.4 5.45 3.9 8
4.0136363 0.7633657
6 6.3 5

Para saber si los datos estn bajo control y ningn promedio sale de los LCS y
LCI.

Hallaremos sus promedios
Muestra
1 2.65
2 6.7
3 3.85 LCS
4 3.7
5 3.85
6 2
7 2.9
8 4.4 LCS
9 5.7
10 3.45
11 5.45

Como podemos observar que el promedio de la muestra 3 y 8 sobrepasa el

LCS, entonces se verifica que el proceso no est bajo control estadstico.
 =
= 3.30 0.15
= 5.75 = 5.45
Tambin se observa que LT no se encuentran dentro de los LC.
a) Cul es el porcentaje de las diferencias cm en la fabricacin de
bateras de automviles Que cumplan con dichas especificaciones
mencionadas?

= 3.30 = 0.05 Especificaciones 330 0.15

= 3
= 3.30 0.15
= 7.75 = 2.45

= ( )

= ( )

2.45 3.30 7.75 3.30
= ( )
0.05 0.05
= (3 3)
= 3 3 => 3 3
= 0.9974
Por lo tanto: El 99.74% de datos estn dentro de la LE y el 0.26% de los datos
no cumplen con los LE
b) Usando los mismos datos, calcule el % de datos comprendidos debajo
de 5.45

= ( < )

= ( < )

5.45 5.60
= ( < )
0.05
 = 0.00135

~(5.60, 0.052 )
= 0.00135 = 0.001

Por lo tanto: El 0.135% de las diferencias en c/u en la fabricacin de bateras

de automviles se encuentran en bajo el lmite de especificacin total
c) calcular el porcentaje de los que estn comprendidas arriba de 5.75 cm
= ( > )

= ( > )

5.75560
=( > )
0.05

= ( > 3)
= 0.9987
= 1 9987
= 0.0013

Por lo tanto: el 0.13% de las diferencias en cm en la fabricacin transistores

se encuentran arriba de 5.75cm.
d) Calcule el porcentaje de los datos que estn comprendidos entre 6.35 y
5.80

= (1 2)
1 2
= ( )

5.385.60 5.805.60
= (
0.05 0.05

= (4.4 4
= 4.4 4
= 4 4.4
=1
=1

(4 4.4
( = 4, = 0)+ ( = 0, = 4.4

Por lo tanto: el 100% de las diferencias en la fabricacin de las bateras de los

4.4
automviles estn comprendidos entre 5.38 y 5.80

e) si se desea que el 20% de las diferencias en la poblacin de los transistores

ste por debajo de 5.32 cm como habr que ajustar la diferencia media en la
fabricacin de los transistores. La dispersin es de 0.15 cm

Dispersin de 0.15 cm
0 5.32 0
= = => (0.15)(1.26) = 5.32 0
0.15

0.189 = 5.32 0
5.131 = 0

Por lo tanto: la diferencia media en la fabricacin de los transistores debe

centrarse a 5.131 cm para que el 20% de la diferencia de un transistor sea
inferior a 5.32.
Se toman muestras de 10 articulos de un proceso de fabricacin y tiene
intervalos regulares
Se analizan 60 grupos y se obtiene:

= 1000 = 60

yS
a) Calcular los lmites de tolerancia de control de las cartas de la

n = 10
m=60
 = 1000
= 50
1000
= 60 = 1.67

50
= 60 = 0.83

0.83
= 4 = 0.9515 = 0.87

Para la media :
= 3/
0.87
LCS = 1.67+3 = 2.496
10
0.87
LCI = 1.67-3 = 0.844
10

Para la desviacin :
LCS = B4 = LCS = 1.9701(0.83)=1.635183
LCI = B3 = LCI = 0.030(0.83)=0.0249

b) Cules son los lmites de tolerancia natural del proceso

= 3

= 1.67 + 3(0.87)=4.0629
= 1.67 3(0.87) = 1.1571

C) si los lmites de especificacin: Son

c) Las siguientes cartas yS

Indican control estadstico n=10
Carta
LCS= 510
L. central = 500
LCI=590

Carta S
LCS= 15.05
L. central = 5.456
LCI=0

a) Estimar los parmetros del proceso

= = 5.456 = 4

5.456
= 0.9213 = 5.92206

b) Especificacion 70515

= 1( ) = 3

3 = 15
=5

= 705 + 15 = 720
= 705 15 = 690

690 700 720 700

= 1( )
5.92206 5.92206

= 1 (1.68860 3.3772)
= 1(( 3.3772)-(( 1.68860)
= 1(0.98956 0.12507) = (1 0.86449 ) = 0.1356
C. ERROR TIPO I =1- : constante

690 700 720 700

= ( )
5 5
= (2 4)
= 1(( 4)-(( 2)=0.099997-
0.02275=0.97722
1- =0.022781 0.0228
d. Suponer que la media del proceso se corre a 693
12
= =6
4

690700 720700
= ( )=(0.5 4.5)
5 5

= 1(( 4.5)-(( 0.5)=1-0.30854=0.69146

1 = 0.30854 0.3108
Es la probabilidad de detectar el cambio en la 1era muestra subsecuente

e) Para el corrimiento del inciso en longitud promedio

1 1
= = = 3.22
1 0.3108
3.22 Es la longitud de la corrida

a) Un proceso esta bajo control X= 50 S=1 n=5 las especificaciones

del proceso son 7510 . La caracterstica de la calidad sigue una
distribucin normal.

a) Estimar la capacidad real del proceso

85 45

= = = 3.1746032
6(1.05)
B) Estimar la capacidad real del proceso

= | | = |95 100| = 5
 + 85+45
= = =95
2 2
2 2(5)
W=LTS-LTI=80-45=35 = = = 0.5
20

Esto indica que Cpre disminuye en un 50% respecto de cp como

consecuencias del centrado corrimiento el promedio
(1 ) 20(1 0.5)
= = = 1.58
6(1.05)