Bagaimana cara mengetahui struktur kristal dari informasi XRD..?

Difraksi sinar-X merupakan suatu teknik yang digunakan untuk menentukan

sistem kristal (kubus, tetragonal, ortorombik, rombohedral, heksagonal, monoklin,
triklin), kualitas kristal (kristal tunggal, polikristalin, dan amorf), simetri kristal,
menentukan cacat kristal, mencari parameter kristal (parameter kisi, jarak antar atom,
jumlah atom per unit sel), identifikasi campuran dan analisis kimia. Difraksi tergantung
pada struktur kristal dan panjang gelombangnya. Jika panjang gelombangnya
mendekati atau lebih kecil dari ukuran atom atau kristal maka akan terjadi peristiwa
difraksi.
Teknik difraksi memanfaatkan radiasi yang terpantul dari berbagai sumber
seperti atom dan kelompok atom dalam kristal. Ada beberapa macam difraksi yang
dipakai dalam studi material yaitu: difraksi sinar-X, difraksi neutron dan difraksi
elektron. Namun yang sekarang umum dipakai adalah difraksi sinar X dan elektron.
Metode yang sering digunakan untuk menganalisa struktur kristal adalah metode
Scherrer. Ukuran kristallin ditentukan berdasarkan pelebaran puncak difraksi sinar-X
yang muncul. Metode ini sebenarnya memprediksi ukuran kristallin dalam material,
bukan ukuran partikel. Jika satu partikel mengandung sejumlah kritallites yang kecil-
kecil maka informasi yang diberikan metode Schrerrer adalah ukuran kristallin
tersebut, bukan ukuran partikel. Untuk partikel berukuran nanometer, biasanya satu
partikel hanya mengandung satu kristallites. Dengan demikian, ukuran kristallinitas
yang diprediksi dengan metode Schreer juga merupakan ukuran partikel. Berdasarkan
metode ini, makin kecil ukuran kristallites maka makin lebar puncak difraksi yang
dihasilkan, seperti diilustrasikan pada Gambar 3. Kristal yang berukuran besar dengan
satu orientasi menghasilkan puncak difraksi yang mendekati sebuah garis vertikal.
Kristallites yang sangat kecil menghasilkan puncak difraksi yang sangat lebar. Lebar
puncak difraksi tersebut memberikan informasi tentang ukuran kristallites. Hubungan
antara ukuran ksirtallites dengan lebar puncal difraksi sinar-X dapat diproksimasi
dengan persamaan Schrerrer.

Gambar 3 : Puncak XRD

 Gambar. 3 mengindikasikan bahwa makin lebar puncak difraksi sinar-X maka
semakin kecil ukuran kristallites. Ukuran kristallites yang menghasilkan pola difraksi
pada gambar bawah lebih kecil daripada ukuran kristallites yang menghasilkan pola
difraksi atas. Puncak difraksi dihasilkan oleh interferensi secara kontrukstif cahaya
yang dipantulkan oleh bidang-bidang kristal. Hubungan antara ukuran ksirtallites
dengan lebar puncal difraksi sinar-X dapat diproksimasi dengan persamaan Schrerrer.

Persamaan Schrerrer.

𝑲𝝀
D=
𝑩 𝒄𝒐𝒔 𝜽

Dimana :

 Crystallite size (satuan: nm) dinotasikan dengan symbol (D)

 FWHM (Line broadening at half the maximum intensity), Nilai yang dipakai adalah
nilai FWHM setelah dikurangi oleh “the instrumental line broadening” (satuan:
radian) dinotasikan dengan symbol (B)
 Bragg’s Angle dinotasikan dengan symbol (θ)
 X-Ray wave length dinotasikan dengan symbol (λ)
 K Adalah nilai konstanta “Shape Factor” (0.8-1) dinotasikan dengan symbol (K)

Perlu diingat disini adalah, untuk memperoleh hasil estimasi ukuran kristal dengan
lebih akurat, maka nilai FWHM harus dikoreksi oleh "Instrumental Line Broadening"
berdasarkan persamaan berikut:

Dimana :
FWHMsample adalah lebar puncak difraksi puncak pada setengah maksimum dari
sampel benda uji dan FWHMstandard adalah lebar puncak difraksi material standard
yang sangat besar puncaknya berada di sekitar lokasi puncak sampel yang akan kita
hitung.
Bila sampel dianalisis dengan menggunakan XRD, maka setelah data hasil uji sampel
diperoleh, data hasil analisa yang dperoleh tersimpan dalam format RAW data, yang
kemudian data tersebut dianalisa menggunakan software EVA.
 Contoh 1. Hasil Pengujian dengan XRD untuk serbuk WO3 dengan fasa Tungsten
trioxide

Analisa dengan Software Match

Pembahasan
1. XRD yang digunakan diffractometer system XPERT-PRO dengan posisi awal (°2Th)
sebesar 9.9994°, dengan step size (°2Th) sebesar 0.0170° dan berakhir pada (°2Th)
sebesar 89.9844°
2. Analisa hasil uji XRD menggunakan software Match! Untuk mengetahui fasa yang
terkandung, sistem kristal serta ukuran Kristal dalam sampel uji. Dari hasil uji XRD
didapatkan 21 peak. Untuk menganalisa cukup memasukkan 3 data dari letak dan
intensitas puncak tertinggi, sehingga dengan fitting dalam software Match!
Didapatkan hasil bahwa sampel uji berupa WO3 dengan fasa Tungsten trioxide
dengan sistem kristal Triclinic (anorthic). Ukuran sel parameter dari kristal sebesar a=
7.2800 Å b= 7.4800 Å, c= 3.8200 Å. Densitas dari Kristal sebesar 7.40300 g/cm3.
3. Tungsten (VI) oksida, juga dikenal sebagai tungsten trioksida atau anhidrida tungstic,
WO3 adalah senyawa kimia yang mengandung oksigen dan logam transisi tungsten.
Senyawa ini diperoleh sebagai hasil sampingan dalam pemurnian Tungsten dari
mineralnya. (1) bijih Tungsten direaksikan dengan alkali untuk menghasilkan WO3.
Reaksi selanjutnya dengan karbon atau gas hydrogen untuk mereduksi tungsten
trioksida menjadi logam murni.
2 WO3 + 3C + heat 2W + 3 CO2
WO3 + 3 H2 + heat W + 3 H2 O

4. Tungsten (VI) oksida terjadi secara alami dalam bentuk hidrat yang meliputi mineral:
tungstite WO3. H2O, meymacite WO3 . 2H2O dan hydrotungstite (komposisi yang
sama dengan meymacite, namun kadang-kadang ditulis sebagai H2WO4).

Gambar 4.4. Sistem Kristal Triclinic (anorthic)

Perhitungan untuk ukuran Kristal dapat dilihat dari puncak tertinggi, yaitu
menggunakan ketika (°2Th) sebesar 23,78° dan menggunakan persamaan Schrerrer,
dengan mengolah data FWHM dan sudut 2𝜃. Besar ukuran Kristal pada peak tertinggi
adalah 2,83 Å
Contoh 2. Hasil Pengujian dengan XRD Lapisan Tipis PZT
 Metodologi Penelitian
Karakterisasi struktur kristal lapisan tipis PZT diobservasi dengan XRD pada sudut 2θ
= 15o – 800, dengan sumber sinar X dari logam tembaga (Cu) dengan panjang
gelombang (λ) Kα1 sebesar 0,15406 nm. Hasil XRD diperoleh difraktogram yang
hasilnya dibandingkan dengan difraktogram PZT standar dari JCPDS no. 33-784 untuk
PZT. Perhitungan ukuran kristal dihitung dengan menggunakan persamaan (1.3)
dengan nilai panjang gelombang, intensitas, 2θ, dan FWHM yang dihasilkan dari uji
XRD.

Pembahasan
1. Gambar 1 menunjukkan difraktogram lapisan tipis PZT. Puncak-puncak yang muncul
semua teridentifikasi dan terdapat kesesuaian dengan data standar dari JCPDS No. 33-
784 yang mengindikasikan bahwa struktur perovskit dari PZT dengan orientasi bidang
kristal (001), (110), (111), (200), (201) & (210), (211), (002), dan (310) yang spesifik
untuk struktur kristal perovskit PZT. Munculnya sebaran orientasi bidang kristal
menunjukkan bahwa serbuk PZT yang dihasilkan memiliki struktur polikristalin.
2. Ukuran kristal dapat dihitung dengan menggunakan persamaan Schrerrer dengan nilai
panjang gelombang, intensitas, 2θ, dan FWHM yang telah dihasilkan dari uji XRD.
Persamaan modifikasi Debye Schrerrer pada tabel 1 dibuat grafik hubungan ln (1/cos
θ) sebagai sumbu x dan ln β sebagai sumbu y sehingga diperoleh nilai intersep yang
nilainya sama dengan ln (Kλ/D) seperti ditunjukkan pada Gambar 2, dan nilai ukuran
kristal (D) didapatkan hubungan D = (Kλ /e(nilai intersep)). Dari grafik diperoleh nilai
intersep sebesar -5,088 dan nilai K = 0,89 serta λ= 0,15406 nm.
 Gambar 2. Grafik hubungan ln (1/cos θ) versus ln β
3. Dari hubungan nilai intersep, nilai K dan λ maka dapat dihitung ukuran Kristal.
𝑘𝑥𝜆
Ukuran Kristal (D) =
𝑒 𝑖𝑛𝑡𝑒𝑟𝑠𝑒𝑝
0,89 𝑥 0,15406
=
𝑒 −5,088
0,137105
= = 22,22 nm
0,006170348
Hasil perhitungan ukuran kristal lapisan tipis PZT menghasilkan ukuran kristal sebesar 22,22
nm. Persamaan Debye Schrerrer menunjukkan bahwa nilai ukuran kristal yang dihasilkan
akan berbanding terbalik dengan nilai FWHM, sedangkan nilai FWHM dipengaruhi oleh
intensitas masing-masing bidang kristal, dimana semakin tinggi intensitas maka nilai FWHM
semakin kecil