Professional Documents
Culture Documents
12
Capitolul 1. ConcepŃii actuale în ingineria electronică
politicii economice a firmei, prin luarea în consideraŃie a unor factori tehnici, eco-
nomici şi sociali.
Tema de proiectare trebuie să conŃină toate datele în măsură să exprime con-
cret, exact şi complet comanda. Aceasta urmează să prezinte succesiv parametri
tehnico-economici pe care trebuie să-i aibă în vedere proiectantul la elaborarea
documentaŃiei tehnice pentru fabricarea noului produs.
Principalele date conŃinute în tema de proiectare sunt:
- destinaŃia şi condiŃiile de exploatare ale produsului;
- caracteristicile de bază ale acestuia;
- cerinŃele principale din punct de vedere constructiv şi funcŃional;
- parametri garantaŃi;
- standardele sau normele interne;
- indicatori tehnico-economici şi de exploatare;
- volumul producŃiei (numărul de produse şi eşalonarea în timp a acestora).
Dezvoltarea, fabricaŃia, întreŃinerea şi utilizarea unui echipament trebuie tra-
tate ca o unitate şi în acest sens se vorbeşte despre un lanŃ tehnologic. Prin aceasta
se consideră totalitatea paşilor individuali care pornesc de la cercetare şi conduc
apoi prin construcŃia echipamentului, pregătirea documentaŃiei tehnice şi a mijloa-
celor de fabricaŃie (SDV-urilor), fabricaŃia, testarea, repararea subansamblurilor,
montarea echipamentelor, punerea lor în stare de funcŃionare şi în final, la testarea
întregului echipament. În figura 1.1 se indică principalele etape ale lanŃului tehno-
logic corespunzător realizării unui echipament electronic.
Proiectarea sistemului
Componente
Pregătire cablaje im-
primate
Fabricarea
Fabricarea şi testarea părŃilor me-
subansamblului canice
14
Capitolul 1. ConcepŃii actuale în ingineria electronică
15
TEHNOLOGII ELECTRONICE
funcŃia cerută se exprimă prin mărimile electrice de la bornele de ieşire ale circui-
tului (fig. 1.2), în funcŃie de mărimile electrice de la intrarea circuitului (ca date
ale problemei) şi de parametrii elementelor componente care formează circuitul şi
care constituie necunoscutele problemei.
A. Studiul de design
19
TEHNOLOGII ELECTRONICE
21
TEHNOLOGII ELECTRONICE
ve provizorii şi, pe cât posibil, folosind materiale şi metode de execuŃie cât mai
apropiate de cele ce vor fi utilizate în producŃie.
Omologarea prototipului constă în verificarea performanŃelor obŃinute de
prototip prin încercări şi măsurători de laborator, de către proiectant şi de către
un organ neutru, pentru a se putea sesiza greşelile sistematice şi subiective.
Rezultatele încercărilor şi măsurătorilor se înscriu într-un buletin de încercări,
care joacă un rol important în aprecierea produsului.
22
Capitolul 1. ConcepŃii actuale în ingineria electronică
1.2.6. FabricaŃia
24
Capitolul 1. ConcepŃii actuale în ingineria electronică
patru la fiecare trei ani), problema asigurării calităŃii produselor capătă o impor-
tanŃă din ce în ce mai mare.
Creşterea deosebită a importanŃei calităŃii a fost determinată, în principal, de
sporirea continuă a exigenŃei clienŃilor şi a societăŃii, creşterea complexităŃii pro-
duselor şi a proceselor de realizare a acestora.
AtenŃia acordată problemei calităŃii pune în lumină, însă şi dificultatea unei
definiŃii a acesteia, care să fie atât completă, cât şi precisă.
În sensul cel mai cuprinzător, calitatea este însuşirea unui produs de a satis-
face o necesitate reală. În sensul cel mai precis, calitatea reprezintă proprietatea
ca performanŃele produsului să se înscrie între limitele specificate.
Ambele definiŃii sunt perfectibile. Prima nu permite constituirea unei măsuri
a calităŃii, iar a doua presupune existenŃa unui proiect perfect, în care toate per-
formanŃele şi limitele lor sunt prevăzute cu exactitate, ceea ce, în realitate nu este
posibil. Cele două definiŃii se completează. De aceea, definiŃia precisă este utiliza-
tă ca fundament al teoriei matematice a calităŃii, fiind mereu amendată şi extinsă
în lumina definiŃiei complete.
Domeniul tehnologiei electronice, prin dinamismul lui, a condus la conturarea
unei concepŃii noi în domeniul calităŃii, concepŃie care s-a impus şi în domenii mai
tradiŃionale. Dezvoltarea unei teorii a calităŃii capabile să dea o măsură exactă a
calităŃii produselor a însemnat un pas fundamental în cadrul acestei concepŃii, care
se axează pe păstrarea unui nivel controlabil al calităŃii, optim din punct de vedere
economic.
În figura 1.3 se pun în evidenŃă două trăsături esenŃiale ale concepŃiei actua-
le în domeniul calităŃii.
Măsuri Produs
Nivelul optim tehnice
al calităŃii din punct
de vedere economic
Măsurarea
(atestarea)
calităŃii
25
TEHNOLOGII ELECTRONICE
A. Indicatori de conformitate
B. Indicatori de fiabilitate
28
Capitolul 1. ConcepŃii actuale în ingineria electronică
Tabela 1.1
I n d ic at o ru l Si m b o l ul Def i ni Ńi a
Densitatea de probabili- f(y) Limita raportului între probabilitatea ca performanŃa să
tate a performanŃei fie situată în intervalul (y, y + ∆y) şi mărimea acestui
interval, când ∆y→0:
P( y ≤ Y < y + ∆y )
f ( y ) = lim
∆y → 0 ∆y
29
TEHNOLOGII ELECTRONICE
Tabela 1.2
U ni t ate a
In d i c at o ru l S i mb o l ul De f i ni Ńi a
de m ă s u ră
FuncŃia de repartiŃie F(t) Probabilitatea ca un produs să se defecteze –
a timpului de funcŃionare în intervalul (0, t):
F (t ) = P(T ≤ t )
FuncŃia de fiabilitate R(t) Probabilitatea ca un produs să funcŃioneze –
fără defectare în intervalul (0, t), în condiŃii deter-
minate:
R (t ) = P (T > t )
30
Capitolul 1. ConcepŃii actuale în ingineria electronică
ObservaŃii
1. După caz, în loc de ore, indicatorii de fiabilitate pot fi exprimaŃi în număr
de acŃionări, cicluri de funcŃionare etc.
2. FuncŃia de fiabilitate pe un interval (t1, t2) se defineşte prin relaŃia:
R (t 2 )
R(t1 , t 2 ) = .
R(t1 )
3. Media timpului de funcŃionare reprezintă valoarea medie a timpului de
funcŃionare până la defectare (MTTF), în cazul produselor nereparabile,
sau până la prima defectare (MTFF), în cazul produselor reparabile. Dacă
repararea poate fi asimilată cu înlocuirea, reprezintă valoarea medie a tim-
pului de funcŃionare între două defectări succesive (MTBF).
I II III
31
TEHNOLOGII ELECTRONICE
În figura 1.6 se prezintă cea mai generală formă a ratei de defectare. În aceas-
tă reprezentare se disting trei zone (perioade):
- în prima perioadă, rata de defectare scade (uzură negativă) şi probabilitatea
de defectare a sistemului este cu atât mai scăzută cu cât vârsta acestuia este
mai mare;
- în a doua perioadă, caracterizată de o rată de defectare constantă, uzura sis-
temului este nulă;
- în perioada a treia, rata de defectare devine pozitivă.
Duratele celor trei perioade diferă de la un produs la altul. În cazul compo-
nentelor electronice, perioada uzurii nulă sau aproape nulă este destul de îndelun-
gată, în timp ce în cazul echipamentelor, cea mai întinsă este, în general, perioada
uzurii negative, cu o viteză de scădere mică a ratei de defectare (o pantă mică a
curbei de variaŃie).
Exprimarea analitică a indicatorilor de fiabilitate se bazează pe adoptarea
unei anumite legi de repartiŃie a timpului de funcŃionare până la defectare. Aceste
legi de repartiŃie caracterizează categorii largi de produse, fără să se poată stabili o
corespondenŃă biunivocă între legea de repartiŃie şi produsul considerat.
În tabela 1.3 sunt prezentate legile de repartiŃie cele mai utilizate pentru ca-
racterizarea fiabilităŃii componentelor şi a sistemelor electronice şi se dau expresi-
ile indicatorilor de fiabilitate pentru fiecare lege de repartiŃie în parte.
Se poate observa că, în cazul legii de repartiŃie exponenŃiale, se obŃine o rată
de defectare constantă şi egală cu parametrul λ al legii, ceea ce face ca această
lege de repartiŃie să fie foarte mult utilizată în domeniul aprecierii fiabilităŃii com-
ponentelor şi sistemelor electronice. De asemenea, se poate aprecia că, în cazul
acestei legi, rata de defectare este inversul mediei timpului de funcŃionare, astfel
încât, oricare dintre aceşti doi indicatori poate fi adoptat pentru caracterizarea sin-
tetică a fiabilităŃii unui sistem.
În toate cazurile în care ipoteza unei rate de defectare constantă este justifica-
tă, se preferă utilizarea acesteia în locul mediei timpului de funcŃionare,
eliminându-se astfel inconvenientul subiectiv al unor valori ale ratei de defectare
λ ≅ 10–5…10–6 ore–1, iar anumite tipuri de circuite integrate ating chiar valori de
10–8…10–9 ore–1. Exprimând asemenea nivele de fiabilitate cu ajutorul mediei
timpului de funcŃionare s-ar crea impresia falsă a imposibilităŃii defectării prin
comparaŃie cu scara umană a valorilor timpului. De exemplu, un circuit integrat cu
rata de defectare λ = 10–6 ore–1 are o medie a timpului de funcŃionare de un milion
de ore. FuncŃia sa de fiabilitate într-un interval de funcŃionare de un an (10 000 de
ore) este de 0,99, ceea ce, pentru o singură componentă, nu este deloc exagerat.
32
Capitolul 1. ConcepŃii actuale în ingineria electronică
Tabela 1.3
I n d ic a- Le ge a de re p a rt i Ń ie a t i m p ul u i de f u nc Ń i o n a re
t o ru l ExponenŃială Normală Weibull Log-normală
t − m0 t − γ β ln t − m 0
F(t) 1 − exp(−λt ) φ 1 − exp − φ
σ0
η σ0
t−γ β
m −t exp − m − ln t
R(t) exp(−λt ) φ 0
η φ 0
σ0 σ0
1 t − m0
2 β −1 t −γ β 1 ln t − m 2
f(t) λ − exp(−λt )
1
exp − β(t − γ ) ⋅ exp −
1
exp − 0
η
σ0 2π
2 σ0
η β
tσ 2 π
2 σ 0
0
2 1 ln t − m
2
1 t − m0 1
1
exp − exp − 0
2 σ0 tσ 0 2π 2 σ0
σ0 2π
z(t)
λ β(t − γ )β−1
m0 − t
φ ηβ m0 − ln t
φ
σ0 σ0
σ2
1 1 exp m 0 + 0
m m0 γ + ηγ + 1 2
λ β
D
1
σ 02
2 1
η 2 γ + 1 + γ 2 + 1 ( )[ ( ) ]
exp 2m 0 + σ 02 ⋅ exp σ 02 − 1
λ β β
2
2 1 σ2
exp m 0 + 0 ⋅ exp(σ 0 )2 − 1
1
σ σ0 η γ + 1 + γ 2 + 1
λ 2
β β
1 1 1
tF ⋅ ln m0 + φ −1 ( F )σ 0 γ + ηβ ln exp[m 0 + φ −1 ( F )σ 0 ]
λ 1− F 1− F
33
TEHNOLOGII ELECTRONICE
ObservaŃii
x
1 u2
1. φ( x) = ∫ ⋅ exp
2
du
este funcŃia Laplace, iar φ −1 este inversa acesteia.
−∞ 2π
∞
2. Γ( y ) = ∫ t y −1 ⋅ exp(−t )dt este funcŃia Euler de speŃa 1.
0
34