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Protection

P A C K A G E Manual del usuario

Estimado cliente de OMICRON.

Es nuestro deseo mantener la calidad de la documentación de


nuestro producto en los niveles más altos posibles. Por ese motivo,
estamos realizando una profunda revisión de nuestros ejemplos
prácticos. Este manual se irá remplazando gradualmente mediante
ejemplos actualizados en documentos individuales.

Hasta entonces, continuaremos distribuyendo este manual como


referencia de trabajo para usted. Los ejemplos del mismo son
técnicamente correctos. Tenga en cuenta, no obstante, que no están
actualizados y por tanto no reflejan los últimos cambios o
implementaciones de las funciones de Test Universe.

Agradecemos su comprensión.
OMICRON Test Universe

Nota: En caso de que desee imprimir este manual para leer en papel todos los ejemplos
relacionados con el paquete de Test Universe, recuerde que tiene que imprimir aparte el
PDF vinculado del capítulo 6 ”Overcurrent”.

El nombre de este archivo PDF es Overcurrent Example.pdf.

Número de artículo VESD4002 – Versión del manual: PROT.SP.10


© OMICRON electronics. Reservados todos los derechos.
Este manual es una publicación de OMICRON electronics GmbH.
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ejemplo, fotocopia, microfilmación o almacenamiento en sistemas informáticos, es necesario el
consentimiento explícito de OMICRON electronics. No está permitida la reimpresión total o parcial.
Este manual representa el estado técnico existente en el momento de su redacción. La información
acerca del producto, las especificaciones y todos los datos técnicos contenidos en este manual no son
vinculantes a nivel contractual. OMICRON electronics se reserva el derecho de realizar cambios en
todo momento en la tecnología y/o en la configuración sin previo aviso.
Hemos hecho todo lo posible para que la información que figura en esta publicación sea a la vez útil y
exacta. No obstante, tenga en cuenta de que esta publicación puede contener errores, y que ni sus
autores ni OMICRON electronics asumen ulteriores responsabilidades por las afirmaciones y
declaraciones formuladas en este manual ni por el uso que se pueda hacer de las mismas. El usuario
es responsable de cada aplicación descrita en este manual y de sus resultados. OMICRON se exonera
explícitamente de toda responsabilidad ante errores en este manual.
OMICRON electronics traduce este manual de su idioma original inglés a otros idiomas. Cada
traducción de este manual se realiza de acuerdo con los requisitos locales, y en el caso de
discrepancia entre la versión inglesa y versiones no inglesas, prevalecerá la versión inglesa del
manual.

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Contenido

Contenido

1 Introducción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .9
1.1 Prólogo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .10
1.2 Rango de aplicación del software Protection Package . . . . . . . . . . . . . .11
2 QuickCMC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .17
2.1 Características de QuickCMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .17
2.2 Ejemplo 1: Tiempo de arranque, reposición y disparo . . . . . . . . . . . . . .19
2.2.1 Cableado entre el relé y la unidad de prueba CMC . . . . . . . . . .20
2.2.2 Inicio del módulo QuickCMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .20
2.2.3 Configuración del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .21
2.2.4 Configuración del hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .22
2.2.5 Introducción de las corrientes por defecto . . . . . . . . . . . . . . . . .23
2.2.6 Ejecución de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .25
2.3 Ejemplo 2: Relé de distancia - Alcance de zona y Tiempo de disparo . .29
2.3.1 Cableado entre el relé y la unidad CMC. . . . . . . . . . . . . . . . . . .30
2.3.2 Inicio del módulo QuickCMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .30
2.3.3 Configuración del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .31
2.3.4 Definición de los parámetros de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . .31
2.3.5 Ejecución de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .32
3 Ramping . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .35
3.1 Características de Ramping . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .35
3.1.1 Prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .36
3.1.2 Detalle. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .37
3.1.3 Vista Medidas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .37
3.1.4 Informe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .38
3.1.5 Oscilografía. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .38
3.1.6 Barra de herramientas de navegación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .40

3
OMICRON Test Universe

3.2 Ejemplo: Prueba de arranque para una protección de generador . . . . .41


3.2.1 Consideraciones antes de iniciar la prueba . . . . . . . . . . . . . . . .41
3.2.2 Cableado entre la protección del generador y la unidad CMC . .42
3.2.3 Inicio de Ramping desde el OCC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .43
3.2.4 Configuración del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .43
3.2.5 Configuración del hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .43
3.2.6 Definición de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .44
3.2.7 Ejecución de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .48
3.2.8 Definición del informe de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .48
4 Pulse Ramping . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .49
4.1 Ejemplo: Prueba de arranque I>> Elemento de un relé multifuncional
de protección de un generador . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .51
4.1.1 Cableado entre el relé de protección y la unidad de prueba
CMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .52
4.1.2 Inicio del módulo de prueba Pulse Ramping . . . . . . . . . . . . . . .52
4.1.3 Configuración del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .52
4.1.4 Configuración del hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .53
4.1.5 Definición de la rampa de pulsos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .53
4.1.6 Ejecución de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .56
4.1.7 Definición del informe de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .57
4.1.8 Almacenamiento e impresión de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . .57
5 State Sequencer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .59
5.1 Vistas de State Sequencer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .59
5.2 Disparo Z . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .61
5.3 Estado Z . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .61
5.4 Ejemplo 1: Función Falta en el fusible. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .62
5.4.1 Cableado entre el relé de protección y la unidad de
prueba CMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .63
5.4.2 Inicio de State Sequencer desde el OCC . . . . . . . . . . . . . . . . . .63
5.4.3 Configuración del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .64
5.4.4 Configuración del hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .64

4
Contenido

5.4.5 Definición de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .65


5.4.6 Ejecución de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .69
5.4.7 Definición del informe de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .71
5.5 Ejemplo 2: Recierre automático del alimentador. . . . . . . . . . . . . . . . . . .72
5.5.1 Cableado entre el relé y la unidad CMC. . . . . . . . . . . . . . . . . . .73
5.5.2 Inicio de State Sequencer. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .74
5.5.3 Configuración del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .74
5.5.4 Configuración del hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .75
5.5.5 Definición de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .75
5.5.6 Ejecución de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .81
5.5.7 Oscilografía. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .82
5.5.8 Tabla de datos del cursor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .83
5.5.9 Definición del informe de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .83
6 Overcurrent . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .85
7 Distance . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .87
7.1 Ejemplo: Prueba de protección primaria de distancia . . . . . . . . . . . . . . .88
7.1.1 Inicio del módulo de prueba Distance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .90
7.1.2 Configuración del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .90
7.1.3 Configuración del hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .95
7.1.4 Definición de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .96
7.1.5 Definición del informe de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .99
7.1.6 Ejecución de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .100
7.1.7 Análisis de determinados puntos de prueba. . . . . . . . . . . . . . .101
7.1.8 Consejos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .103
8 ARC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .107
8.1 Configuración del módulo de prueba Autoreclosure . . . . . . . . . . . . . . .108
8.1.1 Configuración del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .108
8.1.2 Configuración del hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .109
8.1.3 Ajustes de ARC en el módulo de prueba . . . . . . . . . . . . . . . . .109

5
OMICRON Test Universe

8.2 Secuencia de una prueba de AR. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .112


8.3 Ejemplo 1: Ejemplo en modo simulación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .113
8.3.1 Ajustes del módulo de prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .113
8.3.2 Ejecución de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .114
8.3.3 Resultados de la prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .114
8.4 Ejemplo 2: Pruebas de ARC para un SIEMENS 7SA511 . . . . . . . . . . .116
8.4.1 Ajustes del equipo en prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .117
8.4.2 Prueba de la función Recierre . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .118
8.4.3 Prueba y evaluación de los tiempos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .120
8.4.4 Resultados de la prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .122
9 Differential . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .125
9.1 Acerca de Differential . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .125
9.2 Ejemplo: Relé de transformador diferencial . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .127
9.2.1 Cableado entre el relé de protección y la unidad CMC . . . . . .128
9.2.2 Inicio de Differential desde el OCC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .128
9.2.3 Configuración del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .128
9.2.4 Configuración del hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .131
9.2.5 Definición de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .132
9.2.6 Ejecución de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .135
9.2.7 Definición del informe de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .136
10 Pruebas monofásicas y salida de magnitudes de falta . . . . . . . . . . . . . .137
10.1 Introducción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .137
10.2 Relés electromecánicos y el Modelo de faltas monofásicas . . . . . . . . .137
10.3 Salida de las magnitudes de falta para pruebas de protección
de distancia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .138
10.4 Ajustes de la configuración del hardware para el uso del Modelo
de faltas monofásicas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .141
10.5 Salida de las magnitudes de falta para pruebas de Protección de
sobrecorriente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .143
10.6 Fuente de corriente monofásica y fuente de tensión trifásica . . . . . . . .144
10.7 Fuente de corriente monofásica y fuente de tensión monofásica . . . . .145

6
Contenido

11 Herramientas de prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .147


11.1 TransPlay . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .147
11.1.1 Características de TransPlay . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .147
11.1.2 Ejemplo de uso de TransPlay. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .148
11.2 Harmonics . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .160
11.3 Binary I/O Monitor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .161
11.3.1 Características de Binary I/O Monitor. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .162
11.3.2 Uso de Binary I/O Monitor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .162
11.3.3 Menú de contexto . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .163
11.3.4 Menú Opciones. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .164
11.4 Polarity Checker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .166
11.5 Overcurrent Chracteristics Grabber. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .166
11.6 AuxDC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .167
11.7 Administrador de licencias. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .169
11.7.1 Acerca de los archivos de licencia en general . . . . . . . . . . . . .169
11.7.2 Búsqueda de archivos de licencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .170
11.7.3 Contenido de un archivo de licencia. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .170
11.7.4 Fusión de archivos de licencia en el archivo de licencia
principal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .170
11.7.5 Fusión de dispositivos y claves individuales en el archivo
de licencia principal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .172
11.7.6 Menús de contexto . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .172
11.7.7 Clasificación de los datos mostrados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .173
11.7.8 Show Only Licenses With Version (Mostrar sólo licencias
con versión) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .173
11.7.9 Envío del archivo de licencia principal a OMICRON por
correo electrónico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .173
Extensiones de nombres de archivo en OMICRON Test Universe . . . . .175
Información de contacto / asistencia técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .181
Índice. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .183

7
OMICRON Test Universe

8
Introducción

1 Introducción
El manual de Protection proporciona una vista general detallada del software
Protection Package (Paquete de programas de Protección), así como uno o
más ejemplos de prueba específicos para cada módulo de prueba que forma
parte de este paquete.
En los sistemas de ayuda en línea específicos de cada módulo se encuentra
información detallada acerca de los módulos de prueba. Se le invita a usar esta
referencia primero, siempre que tenga una pregunta o necesite una explicación
adicional acerca de un tema específico. Para iniciar la ayuda en línea, haga clic
en el comando T E M A S D E A Y U D A . . . del menú desplegable A Y U D A del
módulo de prueba o herramienta en cuestión.
Si ésta no satisface sus necesidades, envíenos su(s) pregunta(s) por fax o
correo electrónico o póngase en contacto con nosotros directamente por
teléfono (consulte la sección ”Información de contacto / asistencia técnica”).
Para obtener información detallada acerca del OMICRON Control Center
(OCC), consulte el manual El concepto. El archivo PDF se encuentra en la ruta
de instalación de OMICRON Test Universe\Doc. Hay un hipervínculo directo a
este manual en el tema "Manuales de usuario de OMICRON Test Universe" de
la ayuda en línea. Además, la ayuda en línea también ofrece información
detallada sobre el Control Center en la entrada --- OMICRON Control Center -
-- del índice.
El software Protection Package ofrece una gama completa de funciones para
definir y realizar pruebas exhaustivas a cualquier relé de protección. Contiene
varios módulos de prueba orientados a funciones específicas, que pueden
operar en modo autónomo para pruebas sencillas.
Los módulos de prueba están diseñados para automatizar las pruebas y realizar
evaluaciones automáticas. Para crear pruebas completas multifuncionales, se
pueden incrustar todos los módulos de prueba en un documento del OMICRON
Control Center (plan de prueba) una o varias veces. El OMICRON Control
Center es la herramienta de automatización dominante, que aprovecha el
planteamiento orientado a documento para las pruebas.

 Un consejo para los usuarios nuevos: El módulo de prueba QuickCMC


constituye un buen punto de partida para familiarizarse con el software de
prueba Test Universe.

9
OMICRON Test Universe

1.1 Prólogo
Damos por hecho que conoce y se encuentra cómodo con el sistema operativo
Windows™ 1. Antes de usar OMICRON Test Universe, tómese el tiempo
necesario para familiarizarse con el sistema operativo de su ordenador.
En este manual se siguen los siguientes convenios:

Ratón
Hacer clic Pulsar y soltar el botón principal del ratón. El botón principal
del ratón es el botón que más se usa. Para la mayoría de la
gente, es el botón izquierdo del ratón.
Hacer clic con el botón derecho del ratón
Pulsar y soltar el botón secundario del ratón. El botón
secundario del ratón es el botón que menos se usa. Para la
mayoría de la gente, es el botón derecho del ratón.
Hacer doble clic Pulsar y soltar dos veces el botón principal del ratón.
Arrastrar Mover el ratón mientras se mantiene pulsado el botón
principal del ratón.
Soltar Retirar el dedo de uno de los botones del ratón.
Desplazar Las barras de desplazamiento situadas a lo largo de los
lados derecho e inferior de una ventana se pueden usar para
desplazar arriba y abajo, a la derecha y a la izquierda, el
contenido de la ventana. Para usar una barra de
desplazamiento, haga clic y pulse uno de los botones de
flecha situados en los extremos de la barra, o arrastre el
regulador de la barra de desplazamiento.

1. Windows es una marca comercial de Microsoft Corporation registrada en EE.UU.

10
Introducción

1.2 Rango de aplicación del software Protection


Package
El "Protection Package" de OMICRON Test Universe contiene:

Control Center (OCC) - Crear documentos de prueba multifuncionales

Control Center Herramienta de automatización, plan de pruebas


orientado al documento, plantilla y formulario de
informe.

Test Wizard Crea un nuevo documento de prueba (plan de prueba)


de una forma rápida y fácil. Una secuencia de cuadros
de diálogo guía al usuario a través del proceso de
creación de un documento de prueba nuevo.
Empiece en la Start Page haciendo clic en "Abrir un
documento vacío..." o en el Control Center haciendo
clic en el icono del Test Wizard.

Módulos de ayuda de Control Center


Inicie cualquier Módulo de ayuda del Control Center seleccionando la opción
del menú desplegable I N S E R T A R | M Ó D U L O D E P R U E B A . . .
Pause Proporciona funciones especiales para detener,
continuar o realizar pausas en un procedimiento de
prueba de Control Center. Pause Module no está
visible en la Start Page, si bien se puede acceder a él
desde el OCC.
ExeCute Inicia un programa ejecutable, un procedimiento de
procesamiento por lotes o abre un documento
asociado con una aplicación. Permite iniciar una
aplicación externa fuera de un documento de prueba
de Control Center.
TextView Muestra el contenido de un archivo de texto ASCII.
Con TextView incrustado en un documento OCC, el
contenido del archivo de texto se actualiza y se
muestra en el documento OCC en tiempo de
ejecución, es decir, mientras se está ejecutando la
prueba.

11
OMICRON Test Universe

Módulos de prueba
Inicie un módulo de prueba bien en modo "autónomo" en la Start Page o
incrustándolo en el Control Center por medio de I N S E R T A R | M Ó D U L O D E
PRUEBA...

QuickCMC Con QuickCMC, una unidad de prueba CMC emite


estáticamente valores analógicos y digitales.
Además, pueden supervisarse las entradas de la
unidad CMC y pueden realizarse mediciones simples
con las entradas binarias. QuickCMC representa un
buen punto de partida para nuevos usuarios.
Ramping Variación de la amplitud, la frecuencia y la fase a lo
largo de una función en escalera (o rampa).
Evaluación e informe automáticos de los valores de
arranque/reposición. Rampas simultáneas de dos
parámetros de la señal (p. ej. la amplitud y la
frecuencia). Cálculo de la relación de arranque/
reposición. Repetición automática de las pruebas con
cálculo automático del valor promedio. Funciones
Paso atrás y Zoom para obtener una resolución más
alta en el umbral.
Pulse Ramping Prueba de los valores de arranque de los relés de
protección multifuncionales con varias funciones o
elementos de protección sin reparametrizar el relé.
State Sequencer Emisión de una secuencia de estados. Se puede usar
para determinar los tiempos de disparo u otras
medidas de tiempo con evaluación automática.
Permite el ajuste de la amplitud, la frecuencia y la fase
de cada generador en cada estado individual. Incluye
la creación automática del informe y de la función de
disparo Z para las aplicaciones de distancia.
Overcurrent Diseñado para los relés de sobrecorriente. Prueba la
característica de operación para verificar el tiempo de
disparo con evaluación automática. Incluye la prueba
automática de arranque / reposición y la creación
automática del informe. Simula las faltas de fase a
tierra, fase a fase, trifásicas, de secuencia negativa y
homopolares.
Autoreclosure Prueba de la función de recierre automático con un
modelo de falta de protección de distancia integrado y
un interfaz XRIO de distancia.

12
Introducción

Módulos de prueba
Distance Proporciona las funciones para definir y realizar
pruebas de los relés de distancia por medio de
evaluaciones de los elementos de impedancia y
usando definiciones de disparo individual en el plano
de impedancia-Z con representación gráfica de la
característica.
Definición de las características del relé
Un editor gráfico permite definir, de forma rápida y
sencilla, las características nominales del relé y los
ajustes. Se pueden definir zonas de arranque,
disparo, extensión y de no-disparo, usando los
elementos predefinidos. Se proporciona una vista
general completa de todas las zonas definidas.
El interfaz estándar XRIO, admitido por varios
fabricantes de relés, hace posible la importación
directa de los datos del relé desde el programa de
ajuste de parámetros del relé. Los ajustes de
impedancia para las zonas se introducen y
representan como valores primarios o secundarios, a
elección del usuario.
Definición de las pruebas:
Las pruebas se definen en el plano de impedancia:
Los puntos de prueba se añaden a la tabla de los
puntos de prueba con el ratón o se introducen con el
teclado. Esta tabla está dividida en varias fichas, cada
una perteneciente a un bucle de falta, p. ej., A-N (L1-
E) , B-N (L2-E), C-N (L3-E), A-B (L1-L2)... etc. Se
pueden definir puntos de prueba para varios bucles de
falta simultáneamente (es decir, para todos los bucles
monofásicos) o para cada bucle de falta por separado.
Cuando se realiza una prueba, se activan las listas de
los puntos de prueba de los bucles de falta
individuales. La reacción del relé se compara con los
ajustes especificados nominales y se hace una
evaluación. Los resultados se representan
gráficamente en el plano de impedancia y
numéricamente en la tabla de puntos de prueba.

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OMICRON Test Universe

Módulos de prueba
Distance (cont.) Para un análisis más detallado de los resultados, se
pueden representar gráficamente las tensiones y las
corrientes pertenecientes a un punto de prueba y la
reacción del relé (conmutación de los contactos de
salida). Es posible medir el tiempo con los cursores.
Informes: Distance genera automáticamente un
informe de prueba que contiene los ajustes del relé,
los ajustes de la prueba, los puntos de prueba y los
resultados en formato tabular y gráfico.
Differential Ofrece una solución de prueba integrada para relés de
protección diferencial del generador, la barra y el
transformador. Realiza pruebas monofásicas de la
característica de operación (valor de arranque, prueba
de la pendiente) y la función de bloqueo por corriente
de avalancha (prueba de frenado por armónicos).
Para la prueba de la característica de operación, se
definen puntos de prueba en el plano Idiff/Ipol, ya sea
usando el ratón o introduciéndolos desde el teclado.
Un interfaz gráfico del usuario facilita la definición de
la prueba.
Differential proporciona también un entorno de
pruebas apropiado para la función de frenado por
armónicos. Se puede definir la amplitud del
componente fundamental y el porcentaje del armónico
superpuesto para cada uno de los puntos de prueba.
Las corrientes de prueba pertenecientes a los puntos
de prueba se inyectan al relé y se evalúa la reacción
del relé.
Insertando varios módulos Differential en un
documento del OMICRON Control Center, se pueden
probar automáticamente diferentes bucles de falta.
CB Configuration La unidad de prueba CMC 256 ofrece una simulación
del IP que emula la acción de los contactos auxiliares
(52a / 52b) de un interruptor de potencia durante los
procesos de disparo y cierre.
CB Configuration configura la máquina de estado de
simulación del interruptor de potencia (IP) en el
firmware de la unidad CMC. Este módulo asigna
automáticamente las señales encaminadas de
entrada y salida binarias a las entradas y salidas de
simulación de la máquina de estado.

14
Introducción

Herramientas de prueba
TransPlay Reproduce los datos transitorios (archivos
COMTRADE) usando una unidad de prueba CMC .
Harmonics Crea una secuencia de señales que consta de una
pre-señal con frecuencia de la fundamental, seguida
de una señal con combinación espectral definible
(todos los armónicos hasta de 3 kHz si los admite el
hardware conectado), seguida de una post-señal con
frecuencia de la fundamental. Harmonics puede
generar hasta tres corrientes y tres tensiones, cada
una con composición de armónicos individual.
Binary I/O Monitor Muestra el estado de todas las entradas y salidas del
hardware CMB y CMC 256 de OMICRON, y todas las
entradas del resto del hardware CMC de OMICRON.
También puede mostrar los cambios de estado de las
entradas de CMB y de CMC 256.
Polarity Checker Determina si la polaridad es correcta inyectando una
señal especial de prueba de la polaridad en una
ubicación determinada. A continuación, se realiza la
comprobación de la polaridad con el accesorio CPOL,
un comprobador de polaridad portátil fácil de usar.
Overcurrent Complementa el módulo de prueba Overcurrent.
Chracteristics Ayuda a extraer características de sobrecorriente a
Grabber partir de representaciones gráficas. Es muy útil en
casos en los que la característica de tiempo inverso
no se conoce a partir de una fórmula determinada
sino sólo por una representación gráfica (por ejemplo,
una imagen en un manual de un relé).
AuxDC Configura la salida auxiliar de CC de la unidad de
prueba CMC 256 o de una unidad CMB de entrada/
salida binaria.
Administrador de Explorador de licencias, herramienta de fusión de
licencias licencias y editor de archivos de licencia.

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OMICRON Test Universe

Adicionales
Software de Facilita y automatiza la calibración y prueba de la
calibración de línea de productos CM de OMICRON. El Software de
campo (Field calibración de campo ejecuta procedimientos de
Calibration calibración/prueba en puntos de prueba definidos
Software) mediante plantillas y comprueba si la unidad de
prueba se ajusta a las especificaciones. Tras calibrar/
probar una unidad de prueba, el Software de
calibración de campo suministra un informe en el que
se resumen las condiciones y los resultados de las
pruebas.
CM Engine Interfaz de programación para desarrolladores de
software. Proporciona control total sobre las
funciones de las unidades de prueba de OMICRON.

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QuickCMC

2 QuickCMC
QuickCMC controla una unidad de prueba CMC de OMICRON de la misma
manera que un panel frontal.
El usuario puede emitir tensiones, corrientes y frecuencias estáticamente o bien
como señales de salida en rampa, trabajar con entradas y salidas binarias
(digitales) y efectuar mediciones sencillas en las entradas analógicas.
QuickCMC permite aplicaciones como pruebas manuales de un bloque de
corriente de avalancha o una función de sincronización. No es necesario iniciar
otros módulos como Ramping o State Sequencer para realizar comprobaciones
manuales rápidas.
No existe límite superior en cuanto al número de salidas (generadores) que se
puede controlar. Para probar una protección de barra, por ejemplo, se conectan
una unidad de prueba CMC 256 y dos amplificadores CMA 156 . QuickCMC
permite el control simultáneo de los 16 generadores.
QuickCMC representa un buen punto de partida para nuevos usuarios.

2.1 Características de QuickCMC


• Control numérico o gráfico de valores de salida analógicos de la unidad CMC
(absolutos o relativos al nominal) para un máximo de 16 generadores de
tensión o corriente en términos de amplitud, ángulo de fase y frecuencia.
• Cálculo de falta integrado para redes bifásicas o trifásicas, introduciendo
nuevos modos modos de ajuste de funcionamiento (ajuste de generadores
de tensión y corriente directamente o como impedancias, componentes
simétricos, potencias y valores de falta).
• Ajuste manual de las salidas binarias.
• Representación de los valores medidos para las entradas analógicas de la
unidad CMC (±20 mA / ±10 VCC).
• Paso manual o automático de las magnitudes de salida analógicas.
• Función de paso para todos los valores accesibles en la "cuadrícula de
entrada multifuncional1" (es decir, potencias, impedancias, etc.).
• Función de rampa de pulsos como notable mejora de la función paso/rampa.
• Control de la función de paso con la rueda del ratón.

1. Para obtener información sobre la "cuadrícula de entrada multifuncional" y Cálculo de falta, con-
sulte la ayuda en línea de Test Universe. Vaya al índice e introduzca "cuadrícula de...".

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OMICRON Test Universe

• Medición de entrada binaria con estado y temporizador, es decir, la primera


transición de estado en cualquier entrada binaria después del último cambio
de una salida. Muestra la pendiente y el tiempo.
• Función "Desactivar salidas con trigger" para desactivar las salidas
analógicas de la unidad CMC en el momento en que se produzca una señal
de trigger en la entrada binaria (con tiempo de retardo definible).
• Función "Desactivar según tiempo" para ajustar el intervalo de tiempo
máximo que ha de transcurrir antes de que QuickCMC desactive las salidas
analógicas de la unidad CMC en caso de que no se produzcan señales de
trigger.
• "Administrador de unidades" para alternar las unidades entre segundos y
ciclos, valores primarios y secundarios, absolutos y relativos.
• "Botón Pre-falta" para emitir un estado de pre-falta en las salidas analógicas
de la unidad CMC, es decir, salida de tensión nominal (U = Unom) y de
corriente cero (I = 0 A).
• Botón "Mantener" para pasar del estado de pre-falta al estado de falta.
• Menús de contexto para un ajuste rápido de los valores.
• Plano de impedancia para pruebas manuales de relés de distancia.
• Diagrama vectorial para representar gráficamente las magnitudes
especificadas.
• Los vectores pueden ajustarse en el diagrama vectorial arrastrando con el
ratón.
• Informes definidos por el usuario y evaluaciones.
• Botón "Añadir al informe" para añadir todos los datos y valores reales en el
momento en que se produzca una señal de trigger en una entrada binaria al
informe de la prueba.

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QuickCMC

2.2 Ejemplo 1: Tiempo de arranque, reposición y


disparo
Archivo de muestra: QuickCMC_overcurrent.qcm
Guardado en:
...Ruta de instalación de OTU\Test Library\Samples\SW Manual
Examples\Protection

 Tarea
Prueba de los tiempos de arranque, reposición y disparo de un relés de
sobrecorriente genérico. Se tiene que generar un informe.
Ajustes dados:
Arranque: 1,2 A
Relación de arranque/reposición: 0,9
Tiempo de disparo: 300 ms.

 Solución
Con QuickCMC, OMICRON Test Universe ofrece un módulo de prueba
especialmente dedicado para realizar pruebas manuales rápida y fácilmente.
Se usa normalmente en modo autónomo, aunque puede emplearse también
como parte del OMICRON Control Center.
Las diferencias entre los modos de funcionamiento "autónomo" e "incrustado"
se explican en el capítulo 2 ”La Start Page de Test Universe” del manual "El
Concepto".

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OMICRON Test Universe

2.2.1 Cableado entre el relé y la unidad de prueba CMC


1. Conecte las entradas de corriente del relé de protección a las
correspondientes salidas de corriente de la unidad de prueba CMC.
2. Conecte la señal de disparo del relé de protección a la entrada binaria 1 y la
señal de arranque (inicio) del relé a la entrada binaria 2 de la unidad de
prueba CMC.
Figura 2-1:
Unidad de prueba
CMC 256, vista frontal

Conectar a Conectar señal de disparo del relé a la


entradas de entrada binaria 1, y señal de arranque
corriente del (inicio) del relé a la entrada binaria 2
relé de protección

2.2.2 Inicio del módulo QuickCMC


1. Inicie la OMICRON Start Page.
2. Haga clic en "Q U I C K C M C " en la sección Módulos de prueba.

 Si abre el archivo de muestra QuickCMC_overcurrent.qcm anteriormente


citado, y desea hacer cambios en el equipo en prueba, la configuración del
hardware o los ajustes de la prueba, tiene que borrar primero los resultados de
la prueba.
Para hacerlo, seleccione P R U E B A | B O R R A R o use el botón correspondiente
de la barra de herramientas.

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QuickCMC

2.2.3 Configuración del equipo en prueba


Para configurar el relé que está probando, utilice la función del software Equipo
en prueba.
En QuickCMC, abra Equipo en prueba utilizando la opción del menú
desplegable P A R Á M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A o haciendo clic en el
botón "Equipo en prueba" de la barra de herramientas. En el cuadro de diálogo
Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar los parámetros del
equipo en prueba.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la sección
3 ”Configuración del equipo en prueba” del manual "El concepto" o en la ayuda
en línea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del índice.
1. Haga clic en "E Q U I P O E N P R U E B A " o seleccione "P A R Á M E T R O S |
E Q U I P O E N P R U E B A " para abrir el cuadro de diálogo correspondiente a
los datos específicos del equipo en prueba.
2. Haga clic para abrir la carpeta de dispositivos o use el botón "E D I T A R ".
3. Introduzca el relé de protección (equipo en prueba) y varios parámetros
generales en la ficha Ajustes del dispositivo.
4. Haga clic en A C E P T A R para cerrar los ajustes del dispositivo del Equipo en
prueba.

¿Por qué hay un bloque Distance (Distancia) en Equipo en


prueba de QuickCMC?
El concepto del OMICRON Control Center (OCC) es guardar en una ubicación
centralizada datos de equipos en prueba o subestaciones que también puedan
utilizar otros módulos de prueba de Equipo en prueba. Por tanto, al insertar un
módulo de prueba QuickCMC en un documento del OCC después de Equipo en
prueba se añade un bloque Distance (Distancia) al Equipo en prueba.
Si se inicia QuickCMC en modo autónomo desde la Start Page (es decir, si no
está insertado en un documento del OCC), Equipo en prueba también
contendrá un bloque Distance (Distancia). Esto se debe a que QuickCMC
puede utilizar partes del Equipo en prueba de Distance, como por ejemplo
• Conexión pto. estrella del TC
• El diagrama de impedancia (todas las zonas de distancia definidas en el
equipo en prueba)
• Ángulo de línea (en todos los modos de ajustes en los que los ángulos sean
relevantes)
• Longitud de la línea (en los modos de ajuste de Z%)

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OMICRON Test Universe

2.2.4 Configuración del hardware


En Configuración del hardware el usuario "configura" los componentes del
hardware que utiliza; es decir, refleja la configuración real del hardware (las
conexiones, el encaminamiento de las señales, etc.) en el software.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Configuración del
hardware en la sección 4 ”Configuración del hardware de prueba” del manual
"El concepto" o en la ayuda en línea, en la entrada --- Configuración
del hardware --- del índice.
1. Haga clic en "C O N F I G U R A C I Ó N D E L H A R D W A R E " o seleccione
"P A R Á M E T R O S | C O N F I G U R A C I Ó N D E L H A R D W A R E " para abrir la
Configuración del hardware.
2. En la ficha General, haga clic en el botón "D E T A L L E S … " para abrir el
cuadro de diálogo Detalles de la configuración de salida (como se
muestra en la figura 2-2) y seleccione la unidad de prueba correcta que
refleja la configuración real.
Haga clic en A C E P T A R para guardar los ajustes y cerrar este cuadro de
diálogo.
Figura 2-2:
Detalles de la
configuración de salida.

22
QuickCMC

3. Seleccione la ficha Salidas analógicas.


4. Defina los nombres mostrados para cada señal de corriente, p. ej. IL1, IL2 e
IL3 (o IA, IB, IC,…).
Tenga presente que los nombres de fase pueden preajustarse en los
Ajustes del sistema, a los que se puede acceder desde la Start Page.
5. Especifique el terminal de conexión del esquema de protección en la
columna "Terminal de conexión".
6. Cerciórese de que la matriz de cableado está correctamente especificada;
es decir, que IL1 del relé está conectada a IL1 de la unidad de prueba CMC.
7. Seleccione la ficha Entradas binarias / analógicas.
8. Defina la entrada binaria 1 como "Disparo" y la entrada binaria 2 como
"Inicio" (mantenga los valores por defecto).
9. Defina las entradas binarias 1 - 4 como "Sin potencial", activando la casilla
de verificación que corresponda. Si se usan contactos húmedos, el nivel del
trigger de cada entrada se puede especificar por separado.
10.Haga clic en A C E P T A R para confirmar los ajustes y volver a la vista Prueba
de QuickCMC.

2.2.5 Introducción de las corrientes por defecto


1. En la vista Prueba de QuickCMC, la vista principal para especificar todos los
parámetros de prueba necesarios, seleccione el modo de ajuste "Directo",
que le permite controlar directamente los generadores de la unidad CMC
definidos en fase, amplitud y frecuencia.
2. En el campo de la amplitud IL1, ajuste el valor 1 A.
3. Haga clic con el botón derecho del ratón en la amplitud IL1 para abrir el menú
de contexto y seleccione I G U A L A R M A G N I T U D E S . Esto hace que las
corrientes de las tres fases se ajusten en 1 A.
Las amplitudes de la tensión, los ángulos de fase y la frecuencia se
introducen de la misma forma. Sin embargo, en este ejemplo los campos de
tensión están ocultos, porque las salidas de tensión se han especificado
como "No usado" en la Configuración del hardware.
4. Haga clic con el botón derecho del ratón en el diagrama vectorial para abrir
el menú de contexto y seleccione "Optimizar" para ajustar la escala. El
diagrama vectorial presenta gráficamente los vectores de tensión y corriente
5. Ajuste en cada canal una frecuencia de 50 Hz.
Para emitir CC, haga clic con el botón derecho del ratón en el campo de la
frecuencia. Esto hace que se abra el menú de contexto. Seleccione "CC" .
Los campos del ángulo de fase se desactivan automáticamente.

23
OMICRON Test Universe

6. Si el ordenador está conectado a una unidad de prueba CMC, se muestra en


línea el estado de las entradas binarias.
7. En "Trigger activado", desactive la casilla de verificación "Desactivar"
8. Para activar las salidas de corriente, haga clic en el botón F5 de la barra de
herramientas, "Activar/Desactivar salidas". Esto aplica los valores de falta
ajustados a las salidas analógicas de la unidad de prueba CMC y activa
(ajusta en ON) toda las salidas binarias seleccionadas.
Un símbolo de rayo rojo anexo al botón señala las salidas activas.
Al desactivar el botón F5 "Activar/Desactivar salidas", se desactivan las
salidas analógicas y binarias. Un símbolo de rayo transparente anexo al
botón señala el estado de desactivado (OFF).
"F5" indica que la tecla de función <F5> del teclado realiza la misma tarea
que si se hace clic en el botón. Como alternativa se puede usar la opción
P R U E B A | A C T I V A R S A L I D A S del menú desplegable.

Salidas binarias
En esta prueba de ejemplo no son necesarias salidas binarias. No obstante, he
aquí una breve explicación por aquello del rigor:
Cada una de las 8 salidas binarias de las que dispone la unidad de prueba CMC
se puede ajustar en OFF (desactivada) o en ON (activada). Una salida OFF
(casilla de verificación desactivada) genera una señal binaria “0” hacia el equipo
en prueba conectado, y una salida ON (casilla de verificación activada) genera
una señal binaria “1”.
Una señal binaria puede ajustarse en ON en cualquier momento, si bien su
salida real depende del estado de las salidas analógicas: sólo si alguna salida
analógicas se convierte en activa (activando F5 "Activar/Desactivar salidas" o
F8 "Ajustar pre-falta" ), las salidas binarias seleccionadas generan una señal
ON (activada). Si la salida de señales analógicas se detiene, también se
desactivan las salidas binarias.

 El número de salidas binarias disponibles y su ruta se indican en la


Configuración del hardware.
Si utiliza un cuadro de conmutación CM ASB2, las salidas binarias 5 - 8 hacen
funcionar el CM ASB2.

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QuickCMC

2.2.6 Ejecución de la prueba


El objetivo es averiguar el valor de arranque y reposición del relé de
sobrecorriente indicado. Esto se podría hacer manualmente o bien utilizando la
función de rampa automática. Aquí se explican ambas posibilidades.

Paso 1: Paso manual de las corrientes


1. En "Paso/Rampa", seleccione la corriente IL1 de la unidad CMC como
"Salida" a escalonar.
2. En "Magnitud", seleccione escalonar la magnitud en pasos.
3. Especifique un paso de 5 mA.
4. Especifique un tiempo por paso de 500 ms.
5. En "Entradas binarias/ Trigger", seleccione la casilla de verificación entrada
binaria 2, "Inicio".
6. Haga clic en el botón "Arriba" hasta que el relé arranque.
7. Supervise la entrada binaria 2 en la que está conectado el contacto de
arranque del relé. Cuando el relé arranca, la entrada binaria 2 "Inicio"
muestra el tiempo de arranque y el valor que se muestra en IL1 indica la
corriente de arranque buscada del relé.
Nota: Si mantiene "pulsado" continuamente el botón "Arriba", se aplica un
paso transcurrido el tiempo especificado. El tiempo indicado es un valor
mínimo y puede tener una tolerancia positiva de aproximadamente 200 ms.
En modo Pulse Ramp, "Tiempo" se ejecuta en tiempo real y el tiempo de
"Restablecer" puede tener una tolerancia positiva.
Los comandos Arriba / Abajo también se pueden emitir con la rueda del
ratón. Para hacerlo, haga clic en la rueda del ratón. Aparecerá entonces
"pulsado". Mueva entonces hacia delante/atrás la rueda del ratón para
aumentar/disminuir la rampa. Para desconectar el control de la rueda del
ratón, vuelva a hacer clic en el botón.

25
OMICRON Test Universe

Paso 2: Rampa automática de la corriente


1. Ajuste como corriente la corriente nominal; es decir, 1 A en todas las fases.
2. En "Paso/Rampa", especifique un tiempo por paso de 500 ms.
3. Active la casilla de verificación "Auto paso".
4. En "Entradas binarias/ Trigger", seleccione la casilla de verificación entrada
binaria 2, "Inicio". Así la rampa de salida de la unidad CMC se parará cuando
se genere la señal "Inicio", pero las salidas seguirán activadas.
5. Haga clic una vez en el botón "Arriba".
Nota: La corriente IL1 sube en rampa lentamente a una velocidad de 5 mA
por cada 0,5 segundos aproximadamente. Observe también que el botón
"Arriba" sigue "pulsado". Para detener la rampa automática, haga clic otra
vez en el botón "Arriba" para desactivarlo.
Tan pronto como alguna de las entradas binarias arranque o se reponga, se
detendrá la rampa. Las salidas permanecerán A C T I V A S cuando alguna de
las entradas binarias arranque.
6. Cuando el relé arranca, la entrada binaria 2 "Inicio" muestra el tiempo de
arranque y el valor que se muestra en IL1 indica la corriente de arranque
buscada del relé.
7. Pulse F10 o haga clic en el botón F10 "Añadir al informe" si se van a
documentar los resultados. Introduzca el correspondiente título de la prueba
y un comentario si procede. Evalúe manualmente la prueba como correcta o
incorrecta haciendo clic en el botón correspondiente.
Si desea información detallada sobre los informes, consulte la sección
5.2 ”Informes de prueba” en la página 100 del manual de usuario "El concepto".

Paso 3: Búsqueda del valor de reposición


1. Haga clic una vez en el botón "Abajo". Observe que la corriente IL1 baja en
rampa lentamente a una velocidad de 5 mA por cada 0,5 segundos
aproximadamente.
Nota: Tan pronto como alguna de las entradas binarias se reponga, se
detendrá la rampa otra vez. Las salidas permanecerán activadas cuando se
produzca un trigger en alguna de las entradas binarias.
2. El valor que se muestra en IL1 después del trigger de Quick CMC indica la
corriente de reposición del relé y la entrada binaria 2 "Inicio" muestra el
Tiempo de reposición correspondiente.

26
QuickCMC

3. Si se debe documentar el resultado, pulse F 1 0 o haga clic en el botón F10


"Añadir al informe" e introduzca el correspondiente título de la prueba y
comentario, si procede. Evalúe manualmente la prueba como correcta o
incorrecta haciendo clic en el botón correspondiente.
4. Desactive la casilla de verificación "Auto paso".

Paso 4: Uso de la función Mantener


Se pueden escalonar simultáneamente múltiples magnitudes (p. ej. una
simulación de falta trifásica):
1. Especifique la configuración de corriente por defecto; es decir, la corriente
de pre-falta.
2. Haga clic en el botón F9 "Mantener" o seleccione P R U E B A | M A N T E N E R
V A L O R E S para fijar las salidas de la unidad CMC en la configuración actual.

Mientras las salidas analógicas estén activadas (F5 "Activar/Desactivar


salidas"), todo cambio en el valor de una salida analógica y/o en el estado
de una salida binaria se aplicará instantáneamente. Sin embargo, activar
F9 "Mantener", le permite cambiar múltiples valores analógicos y/o estados
de salidas binarias que no se aplicarán a las salidas en tanto no haga clic
una vez más en F9 "Mantener" para desbloquearlo.
"F9" indica que la tecla de función <F9> del teclado realiza la misma tarea
que si se hace clic en el botón.

3. Introduzca la corriente del nuevo estado de la falta, p. ej. IL1 = 2 A.


4. Mientras apunta el campo de la amplitud de V1, haga clic con el botón
derecho del ratón. En el menú de contexto, seleccione I G U A L A R
M A G N I T U D E S . Observe que los valores en las salidas de la unidad CMC no
se actualizan automáticamente.
5. Haga clic en el botón F9 "Mantener". Las salidas de la CMC se actualizan
automáticamente con los nuevos valores especificados para IL1, IL2 e IL3.

27
OMICRON Test Universe

Paso 5: Realización de una prueba de tiempo de disparo


utilizando la función Mantener
La funcionalidad de sincronización en QuickCMC registra el tiempo desde el
último cambio aplicado a alguna de las salidas hasta el arranque o reposición
de alguna de las entradas binarias.
El "último cambio aplicado" puede ser el cambio manual aplicado a una
amplitud de tensión, ángulo de fase, frecuencia, salida binaria o cualquiera de
los valores de la sección modo de ajuste. Estas magnitudes se pueden
escalonar manualmente, conectar (On) o desconectar (Off), o mantener. Si se
procesa una rampa automáticamente, se muestra en pantalla el tiempo desde
el último cambio del paso, esto es, el último momento en el que la magnitud del
paso ha cambiado.
1. Especifique las corrientes nominales para las tres fases.
2. En "Trigger activado", active la casilla de verificación "Desactivar". Active
también la casilla de verificación Trigger en la entrada binaria "Disparo" para
hacer que la unidad CMC se desactive cuando se produzca el disparo.
Desactive la casilla de verificación Trigger en la entrada binaria 2 "Inicio".
3. Haga clic en el botón F9 "Mantener".
4. Aumente todas las corrientes a 2 A.
5. Haga clic una vez más en el botón F9 "Mantener".
Nota: La función de sincronización funciona sólo en el modo en línea; es
decir, conectado a una unidad de prueba CMC.
6. El tiempo de disparo del relé, así como la entrada binaria que desencadenó
el trigger, se muestran luego en el campo "Entradas binarias".
7. Si se debe documentar el resultado, pulse F 1 0 o haga clic en el botón F10
"Añadir al informe" e introduzca el correspondiente título de la prueba y
comentario, si procede. Evalúe manualmente la prueba como correcta o
incorrecta haciendo clic en el botón correspondiente.
Si desea información detallada sobre los informes, consulte la sección
5.2 ”Informes de prueba” en la página 100 del manual de usuario "El concepto".

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QuickCMC

2.3 Ejemplo 2: Relé de distancia - Alcance de zona


y Tiempo de disparo
Archivos de muestra:
• QuickCMC-Distance.qcm
• QuickCMC-Distance.ohc
• QuickCMC-Distance.rio
Guardados en:
...Ruta de instalación de OTU\Test Library\Samples\SW Manual
Examples\Protection

 Tarea
Es necesario probar el alcance de zona y el tiempo de disparo de la zona 1 de
un relé de distancia. El relé de distancia utilizado en este ejemplo es un Alstom
PD 552. La prueba se realiza manualmente, por lo que sólo se necesita una
comprobación rápida. Se tiene que compilar un informe.
Se proporcionan los siguientes ajustes:
Alcance de zona en eje X imaginario: 6,77 Ohm
Tiempo de disparo de zona 1: 0 s
Tiempo de disparo de zona 2: 250 ms
Tiempo de disparo de zona 3: 500 ms

 Solución
Con QuickCMC, OMICRON Test Universe ofrece un módulo de prueba
especialmente dedicado para realizar pruebas manuales rápida y fácilmente.
QuickCMC ofrece la ventaja de que su uso es sencillo y al mismo tiempo
proporciona la funcionalidad para ajustar independientemente hasta 16
generadores de tensión o corriente, en términos de amplitud, ángulo de fase y
frecuencia; para representar todas las magnitudes manualmente por pasos, o
automáticamente en rampa o rampa de pulsos y realizar pruebas de
sincronización simples. Un diagrama vectorial muestra gráficamente las
magnitudes especificadas. Está también incorporada la función para la creación
de informes.
QuickCMC se usa típicamente en modo autónomo, aunque puede emplearse
también como parte del OMICRON Control Center.

29
OMICRON Test Universe

2.3.1 Cableado entre el relé y la unidad CMC


Conecte las entradas del relé de protección a las correspondientes salidas de
corriente y tensión de la unidad de prueba CMC.
8. Conecte la señal de disparo del relé de protección a la entrada binaria 1 y la
señal de arranque (inicio) del relé a la entrada binaria 2 de la unidad de
prueba CMC.
Figura 2-3:
Unidad de prueba Conectar a entradas
CMC 256, vista frontal de tensión del relé
de protección

Conectar a entradas de Conectar señal de disparo del relé a la


corriente del relé de entrada binaria 1, y señal de arranque
protección (quizás no (inicio) del relé a la entrada binaria 2
corresponda el B )

2.3.2 Inicio del módulo QuickCMC


1. Inicie la OMICRON Start Page.
2. Haga clic en "Q U I C K C M C " en la sección Módulos de prueba.

 Si abre el archivo de muestra QuickCMC_Distance.qcm anteriormente


citado, y desea hacer cambios en el equipo en prueba, la configuración del
hardware o los ajustes de la prueba, tiene que borrar primero los resultados de
la prueba.
Para hacerlo, seleccione P R U E B A | B O R R A R o use el botón correspondiente
de la barra de herramientas.

30
QuickCMC

2.3.3 Configuración del equipo en prueba


Para configurar el relé que está probando, utilice la función del software Equipo
en prueba.
En QuickCMC, abra Equipo en prueba utilizando la opción del menú
desplegable P A R Á M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A o haciendo clic en el
botón "Equipo en prueba" de la barra de herramientas. En el cuadro de diálogo
Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar los parámetros del
equipo en prueba.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la sección
3 ”Configuración del equipo en prueba” del manual "El concepto" o en la ayuda
en línea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del índice.
1. Haga clic en "E Q U I P O E N P R U E B A " o seleccione "P A R Á M E T R O S |
E Q U I P O E N P R U E B A " para abrir el cuadro de diálogo correspondiente a
los datos específicos del equipo en prueba.
2. Haga clic para abrir la carpeta de dispositivos o use el botón "E D I T A R ".
3. Introduzca el relé de protección (equipo en prueba) y varios parámetros
generales en la ficha Ajustes del dispositivo.
4. Haga clic en A C E P T A R para cerrar los ajustes del dispositivo del Equipo en
prueba.

2.3.4 Definición de los parámetros de la prueba


Determine el alcance de la zona 1:
1. En la vista Prueba de QuickCMC, la vista principal para especificar todos los
parámetros de prueba necesarios, seleccione el modo de ajuste "Z-I const.".
2. Por defecto se ajusta como tipo de falta "A-N" (L1-E) y como corriente de
prueba 1 A.
3. En la vista Impedancia (V E R | I M P E D A N C I A ), coloque un disparo fuera de
la zona 3 en el eje X imaginario, para evitar que el relé de distancia se
dispare en la zona 2 o 3.
4. En la vista Prueba, en "Trigger activado", seleccione la opción "Desactivar".
5. En "Entradas binarias/ Trigger", desactive la casilla de verificación entrada
binaria 1, "Disparo". Así la unidad de prueba CMC se desactivará cuando se
produzca el disparo.
Para que la unidad de prueba CMC aplique a la impedancia rampa de pulsos,
se usa la función Pulse Ramp de QuickCMC, a fin de impedir que se disparen
la Zona 2 y la Zona 3.

31
OMICRON Test Universe

Pulse Ramping genera una secuencia de pulsos (cada anchura de pulso


representa el tiempo de falta) con un paso creciente (o decreciente). Entre dos
pulsos de rampa consecutivos se inserta un estado de "restauración" (U = UN,
I = 0). Por tanto, una rampa de pulsos es realmente una rampa que se
interrumpe durante un periodo de tiempo definido después de cada pulso.
6. Seleccione las opciones "Auto paso" y "Pulse Ramp" para activar esta
función.
7. En la sección "Paso/Rampa" de la vista Prueba de QuickCMC, ajuste la
salida en "XFault", la magnitud que se variará en "Magnitud", el tamaño en
"0,1 Ohm", el tiempo en "100 ms" (para evitar disparos en las zonas 2 o 3) y
Restablecer tiempo en "300 ms".

2.3.5 Ejecución de la prueba


1. Para activar las salidas de corriente, haga clic en el botón F5 de la barra de
herramientas, "Activar/Desactivar salidas". Esto aplica los valores de falta
ajustados a las salidas analógicas de la unidad de prueba CMC y activa
(ajusta en ON) toda las salidas binarias seleccionadas.
Un símbolo de rayo rojo anexo al botón señala las salidas activas.
2. Haga clic en el botón "Paso Abajo" . El valor de la impedancia de salida se
emitirá en rampa de pulsos, en los pasos de 100 mOhm especificados. Una
vez producido el disparo del relé (en este ejemplo a 6,8 Ohm), la señal de
disparo del relé se interpreta en la entrada binaria 1 de la unidad CMC como
el trigger, y la CMC se desconectará. El alcance de la impedancia se
determina, por tanto, con 6,8 Ohm.
Figura 2-4:
Pulse Ramping con
QuickCMC

32
QuickCMC

3. Haga clic en el botón F10 "Añadir al informe" e introduzca el título, y


comentario si procede, de la prueba correspondiente. Evalúe manualmente
la prueba como correcta o incorrecta haciendo clic en el botón
correspondiente.
Si desea información detallada sobre los informes, consulte la sección
5.2 ”Informes de prueba” en la página 100 del manual de usuario "El
concepto".
4. En "Modo de ajuste", cambie el modo a "Z%-I const." para definir un disparo
relativo a ZL1E y determinar el tiempo de disparo de la zona 1.
5. Ajuste Z% en "50% de ZL1E" (o ZAN) y PhiZ en "68°" (68° hace referencia
al ángulo de línea y se puede seleccionar en el menú de contexto)
6. Active las salidas de la unidad CMC haciendo clic en el botón F5 "Activar/
Desactivar salidas". El tiempo de disparo medido de 58,60 ms refleja el
tiempo propio del relé de distancia cuando el tiempo de disparo de la zona 1
se ajusta en 0.
Figura 2-5:
Tiempo de disparo de
zona 1:

7. Haga clic en el botón F10 "Añadir al informe" e introduzca el título, y


comentario si procede, de la prueba correspondiente. Evalúe manualmente
la prueba como correcta o incorrecta haciendo clic en el botón
correspondiente.
Nota: Ciertos relés de distancia exigen una condición de pre-falta para
realizar pruebas. Un método sencillo de simular una condición de pre-falta
es pasar primero a modo Directo. Ahí se puede definir una situación normal
de carga (pre-falta) por medio de los menús de contexto. Después es
necesario hacer clic en el botón F9 "Mantener" para poder cambiar a uno de
los modos Z. En el modo Z se puede definir y luego emitir un disparo
pulsando otra vez el botón F9 "Mantener".

33
OMICRON Test Universe

Sugerencia relativa a la aplicación:


Como no es posible activar la unidad CMC e iniciar la rampa de pulsos al mismo
tiempo, es necesario situar el punto inicial de la rampa de pulsos fuera de la
zona 3 para determinar el alcance de la zona 1. Evidentemente, esto supone
más tiempo que la posibilidad de iniciar la rampa de pulsos cerca del alcance
de la zona 1.
Por tanto, la función que sigue se ha implantado en QuickCMC. Ahora el punto
inicial de la rampa de pulsos se puede ajustar fuera de la zona 1, en la zona 2.
Pulsando "Mayús" en el teclado y haciendo clic en el botón "Paso Abajo" al
mismo tiempo, la unidad CMC arrancará inmediatamente con la rampa de
pulsos.
Utilizando esta función nueva, ya no es necesario iniciarPulse Ramp fuera de la
zona 3 para determinar el alcance de la zona 1.

34
Ramping

3 Ramping
El módulo de prueba Ramping proporciona al usuario una herramienta versátil
para definir diversos tipos de prueba de rampa utilizando una unidad de prueba
CMC. Su campo de aplicación principal es la medida y evaluación de los valores
de umbral.
Dos funciones de cualquier combinación de señales se pueden representar en
rampa simultáneamente con hasta cinco estados de rampa (dependiendo de las
características de la rampa). En cada estado de rampa, Ramping puede realizar
un número ilimitado de medidas que se evalúan automáticamente de acuerdo
con los parámetros de tolerancia definidos por el usuario.

3.1 Características de Ramping


Las características más significativas:
• 5 características de rampa predefinidas de complejidad diferente (de 1 a
5 estados de rampa por característica)
• Es posible representar simultáneamente en rampa dos combinaciones
de señales de salida
Rampa de señales superpuestas
• Cada estado de rampa se ejecuta en la unidad CMC en tiempo real
• Duración mínima del paso de 1ms
• Posibilidad de realizar un número ilimitado de medidas para cada estado
de rampa individual a través de entradas binarias de la unidad CMC.
• Evaluación automática de los puntos de la prueba, presentando en
pantalla cada uno de ellos
• Evaluación automática de las cantidades calculadas, p. ej. relación de
arranque / reposición o ángulo de par máximo
• Repetición automática de la prueba con los cálculos estadísticos
• Posibilidad de definir señales de salida binaria para cada uno de los cinco
estados de rampa
• Todos los valores de salida de la unidad CMC se muestran en pantalla en
tiempo real durante la prueba
• Posibilidad de definir las condiciones de salida estática para salidas de la
unidad CMC no representadas en rampa para cada estado de rampa
individual.

35
OMICRON Test Universe

Se puede realizar una amplia variedad de pruebas usando el módulo Ramping.


Los siguientes son algunos ejemplos:
• Prueba de arranque del relé
• Prueba de reposición del relé
• Relación de arranque/reposición
• Prueba direccional
• Prueba de sincronización (verificación sincrónica)
• Prueba del regulador de tensión para transformadores
• Prueba del regulador de tensión para los generadores

Ramping ofrece 5 vistas diferentes:


• Prueba

• Detalle

• Medidas

• Informe

• Oscilografía

3.1.1 Prueba
En la vista Prueba de Ramping puede seleccionar la forma de la rampa y ajustar
individualmente los parámetros de la rampa. Además, en Prueba puede ajustar
el número de repeticiones de la prueba y activar la función "Cálculo de la
media". Esta función realiza el cálculo del valor medio sumando los valores
reales medidos de cada estado de rampa y dividiéndolos por el número de
ejecuciones de la rampa.

36
Ramping

3.1.2 Detalle
En la vista Detalle se puede:
• ajustar los valores estáticos (magnitud, ángulo de fase y frecuencia) de las
salidas de la unidad CMC no representadas en rampa para cada estado de
rampa individual
• activar o desactivar las salidas binarias y las salidas del transistor de la
unidad de prueba CMC durante la ejecución de los estados individuales de
la rampa.
• ajustar individualmente las condiciones de parada en cada estado de rampa
(trigger).

 Nota relativa al ajuste de fase "Forzar fases absolutas" presente en la ficha


Salida analógica de Detalle:
Dado que no es probable para una rampa, que el cero de la señal tenga lugar
exactamente en el cruce de los ejes, pueden ocurrir saltos de fase en la
transición desde un estado de rampa al otro. Para evitar tales saltos de fase, se
detiene la ejecución del estado de rampa en este punto por medio de las
opciones especificadas.
En este caso, el módulo de prueba Ramping añade los ángulos de fase, por
defecto, cuando se ha detenido la ejecución en los valores de arranque
definidos por el usuario del estado subsiguiente de la rampa.
Sin embargo, para ciertas aplicaciones puede ser necesario para un estado de
rampa arrancar con valores absolutos del ángulo de fase (p. ej. valores
definidos por el usuario), sin tener en cuenta los valores actuales del ángulo de
fase de la rampa precedente. Para hacer esto, es necesario activar la
característica "Forzar fases absolutas".
Para obtener una descripción más detallada, consulte la ayuda en línea de
Ramping. Abra la ayuda en línea, haga clic en la entrada "Pruebas con
Ramping" del índice y desplácese hasta "Detalle | ficha Salidas analógicas
Detalles | Forzar fases absolutas" .

3.1.3 Vista Medidas


La vista Medidas se divide en dos tablas: La tabla superior sirve para definir las
condiciones de medida y mostrar los resultados de la prueba; la tabla inferior
sirve para definir los cálculos de las relaciones de señales, p. ej. relación de
arranque / reposición.
Durante la salida de una señal en rampa, se puede realizar un número ilimitado
de medidas. Los parámetros de la rampa se ajustan independientemente de los
ajustes de las medidas.

37
OMICRON Test Universe

Las condiciones especificadas por el usuario en la tabla superior activan las


medidas, un trigger definido de manera similar por el usuario detiene a la rampa
(ajustado en la ficha Trigger de la vista Detalle).
La medida es una característica opcional. No es necesario especificar
condiciones de la medida para emitir una señal en rampa.
Si no se ha seleccionado rampa, condición o señal, la medida no es válida y no
se efectúa ninguna medida durante la salida de rampa. Si no se ha ajustado
valor nominal o valor de tolerancia, la medida se realiza pero no se evalúa. El
valor medido, sin embargo, puede seguir utilizándose para una condición
calculada, como la relación.

3.1.4 Informe
La vista Informe presenta el documento de prueba con los datos y los resultados
de la evaluación de la prueba.

3.1.5 Oscilografía
Oscilografía presenta la definición del estado en rampa, así como los estados
de salida en rampa, en tiempo real, con las respuestas adquiridas en las
entradas binarias.
Los valores de tiempo y de la señal se pueden determinar por medio de dos
marcadores (reguladores).
Los valores representados son valores efectivos en voltios para las magnitudes
de tensión, en amperios para las magnitudes de la corriente, en grados para los
ángulos de fase y en Hz para la frecuencia.
Un menú de contexto permite:
• Mostrar u ocultar ciertos diagramas de la vista.
• Mostrar u ocultar ciertas señales en un diagrama.
• Zoom

Funciones adicionales de la vista Oscilografía


• Marcador (regulador)
Los reguladores actúan como puntos de anclaje para los cursores de
medida.
Además, se usan para mover el cursor horizontalmente, a lo largo del eje
del tiempo. Esto se hace usando las teclas de flecha del cursor del
teclado del PC, o haciendo clic y arrastrando con el ratón hasta la
posición deseada.

38
Ramping

Si prefiere usar las teclas de flecha del cursor del teclado de su PC, use
la tecla <Tabulador> o <Mayús> + <Tabulador> para cambiar entre los
reguladores.
• Cuadro de diálogo Datos del cursor
El cuadro de diálogo Datos del cursor aparece cada vez que la
oscilografía está activa. Este cuadro de diálogo representa las posiciones
de los cursores 1 y 2 en el eje del tiempo y la diferencia de tiempo Δt entre
los cursores. Además, los valores correspondientes de las señales
también están representados en el módulo de prueba Ramping.
En lugar de mover los cursores a lo largo del eje del tiempo como se ha
descrito anteriormente, puede también introducir directamente las
posiciones del cursor en los campos de entrada correspondientes. El
valor Δt es un valor que sólo se muestra y no se puede sobreescribir.
Nota: Los cursores se "adhieren" a los eventos para facilitar la definición
de sus posiciones.
• Transiciones de estado rampa
Las transiciones de un estado de rampa a otro se representan con líneas
verticales que se muestran en pantalla en todos los diagramas de la vista.
La sección de los estados de rampa presentados en la parte superior de
la vista muestran las transiciones de un estado de rampa al siguiente.
Cada transición de estado de rampa se designa con el nombre del estado
de rampa que se inicia en ese punto. Esto significa que la primera
transición de estado de la rampa se muestra en la posición t = 0s y se
denomina "Estado 1".
• Magnitud en rampa
Las magnitudes modificadas de la señal se presentan como función del
tiempo en un diagrama. Se utiliza un formato de línea diferente para cada
magnitud que ha cambiado. Las asignaciones entre el tipo de línea y la
salida del generador se muestran en la parte inferior de los diagramas. Si
se ha cambiado más de una magnitud al mismo tiempo, se presenta una
ordenada adicional, con la escala que corresponde, para la segunda
magnitud en el borde de la derecha del diagrama. Los valores
representados son valores efectivos, que están en voltios y amperios
para las magnitudes de la tensión y de la corriente, en grados para los
ángulos de fase y en Hz para la frecuencia.
• Señales binarias de salida
Las señales binarias de salida están etiquetadas con las designaciones
que se han asignado en la configuración del hardware. El estado binario
0 se representa por una línea delgada y el estado binario 1 se representa
por un rectángulo estilizado.

39
OMICRON Test Universe

• Señales binarias de entrada


Al igual que las señales binarias de salida, las señales binarias de
entrada están etiquetadas también con las designaciones que se han
asignado en la configuración del hardware. El estado binario 0 se
representa por una línea delgada y el estado binario 1 se representa por
un rectángulo estilizado.

3.1.6 Barra de herramientas de navegación


Figura 3-1:
Barra de herramientas
de navegación de
Ramping

La barra de herramientas de navegación se usa para trasladarse entre los


varios estados consecutivos de la rampa.
Para obtener una descripción más detallada, consulte la ayuda en línea. Abra
la ayuda en línea, haga clic en la entrada "Menús, Barra de herramienta, Iconos
de estado" en el índice y desplácese hasta "La barra de herramientas de
navegación".

40
Ramping

3.2 Ejemplo: Prueba de arranque para una


protección de generador
Archivo de muestra: Ramping-Generator_Frequency_Protection.occ
Guardado en: ...Ruta de instalación de OMICRON Test Universe\
Test Library\Samples\SW Manual Examples\Protection

 Tarea
La tarea del operador es probar secundariamente la protección del generador
(frecuencia) 7UM511 (relé Siemens) en una estación eléctrica como parte de
una prueba principal. De interés particular es la prueba de arranque/reposición
de la primera etapa de la protección del generador, que tienen un ajuste de
parámetro de 49,5 Hz.

 Solución
Se realiza usando el módulo de prueba Ramping.

3.2.1 Consideraciones antes de iniciar la prueba


1. Para llevar a cabo la prueba de arranque/reposición para la protección
del generador (frecuencia), tiene que definir dos estados de rampa
consecutivos en el módulo de prueba Ramping.
• Estado de la rampa 1: Estado de rampa desde 50 Hz a 4949 Hz para
la prueba de arranque de la protección del generador.
• Estado de la rampa 2: Estado de rampa desde 49 Hz a 50 Hz para la
prueba de reposición.
2. Puede automatizar la evaluación de los valores de arranque/reposición
introduciendo los valores nominales de la protección del generador
(49,5 Hz para el arranque o 49,52 Hz para la reposición) y las tolerancias
correspondientes (±0,01 Hz).
Durante la prueba, el módulo de prueba Ramping analiza y evalúa si los
valores medidos están dentro de la banda de tolerancia definida y se
evalúa la prueba como "correcta" o "incorrecta". Todos los valores
introducidos y los valores medidos se registran automáticamente para
permitir una visualización detallada del proceso de prueba después de
haber completado la prueba.
3. Si tiene que realizar solamente una prueba, puede ser conveniente iniciar
el módulo de prueba Ramping como programa en modo autónomo (sin
iniciar previamente el OMICRON Control Center (OCC)).

41
OMICRON Test Universe

Normalmente, se prueban, en forma secuencial, todas las funciones


disponibles de protección de un relé. En estos casos, resulta de mayor
utilidad copiar e incrustar el módulo de prueba, tantas veces como sea
necesario, en el documento de prueba del Control Center. Los ajustes
para cada módulo de prueba copiado se pueden modificar para una
prueba específica.
A continuación, el OMICRON Control Center puede procesar
secuencialmente todas las pruebas en el documento de prueba.
En el ejemplo que sigue, el módulo de prueba Ramping está incrustado
en un documento de prueba del OMICRON Control Center.

3.2.2 Cableado entre la protección del generador y la


unidad CMC
1. El inicio de la primera etapa de la protección del generador está acoplado
a un contacto particular del relé. Conecte este contacto a la entrada
binaria de la unidad CMC usando cables de prueba adecuados. En el
ejemplo se usa la entrada binaria BinIn1.
2. Conecte las entradas de corriente y tensión del relé de protección a las
correspondientes salidas de corriente y tensión de la unidad de prueba
CMC.
Figura 3-2:
Unidad de prueba Conectar a entradas de
CMC 256, vista frontal tensión del relé de
protección

Conectar a entradas Conecte el contacto del relé para el inicio


de corriente del de la señal de la primera etapa de la
relé de protección protección del generador a la entrada
binaria 1

42
Ramping

3.2.3 Inicio de Ramping desde el OCC


Inicie el OMICRON Control Center desde la Start Page haciendo clic en A B R I R
U N D O C U M E N T O V A C Í O . Inserte Ramping en el documento del OCC
seleccionando la opción de menú I N S E R T A R | M Ó D U L O D E P R U E B A . . . |
O M I C R O N R AMPING.

3.2.4 Configuración del equipo en prueba


Para configurar el relé que está probando, utilice la función del software Equipo
en prueba.
Abra Equipo en prueba bien utilizando la opción del menú desplegable
P A R Á M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A o haciendo clic en el icono de
E Q U I P O E N P R U E B A de la barra de herramientas. En el cuadro de diálogo
Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar los parámetros del
equipo en prueba.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la sección
3 ”Configuración del equipo en prueba” del manual "El concepto" o en la ayuda
en línea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del índice.

3.2.5 Configuración del hardware


Configure el hardware de acuerdo con el cableado descrito en la sección
3.2.2 ”Cableado entre la protección del generador y la unidad CMC”.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Configuración del
hardware en la sección 4 ”Configuración del hardware de prueba” del manual
"El concepto" o en la ayuda en línea, en la entrada --- Configuración
del hardware --- del índice.

43
OMICRON Test Universe

3.2.6 Definición de la prueba

Paso 1: Inserción del módulo de prueba Ramping en el


documento de prueba
1. Haga clic en el icono Ramping de la barra de herramientas de los
módulos de prueba
o
2. seleccione I N S E R T A R | M Ó D U L O D E P R U E B A o haga clic en el icono
correspondiente y seleccione luego "OMICRON Ramping".

Paso 2: Definición de los estados de rampa


1. En la vista Prueba del módulo Ramping, defina dos estados de rampa
consecutivos haciendo clic en el icono correspondiente R A M P A D O B L E
(figura 3-3, 1).
Figura 3-3:
Ficha Ajustes de rampa

2 3

4 5 6 7 8

2. Tal como se muestra en la figura 3-3, defina la frecuencia de salida (3) de


todas las señales (2) como función en la que se le aplicará la rampa.
3. El estado de rampa 1 tiene que realizar la prueba de arranque de la
protección del generador a 49,5 Hz.
• Consecuentemente, su rango de frecuencia se sitúa en rampa entre
50 Hz (4) y 49 Hz (5).
• El tamaño del paso Δf de la señal se define con 0,001 Hz (6).
• El tiempo del paso Δt puede ser más grande que el tiempo de disparo
del relé. En el ejemplo se ha seleccionado Δt con 0,200 s (7).
• Esto da como resultado un estado de rampa con una variación
diferencial df/dt (8) de 0,001 Hz/0,2 s = 0,005 Hz/s.
Nota: En lugar de cambiar el paso Δf, puede introducir el cambio
diferencial del estado de rampa df/dt directamente en el campo de
entrada (8).

44
Ramping

4. El estado de rampa 2 se define de la misma manera pero los parámetros


del estado de rampa 2 tienen que ser opuestos a los del estado de
rampa 1.
5. Los estados de rampa definidos se representan automáticamente en la
Oscilografía.
Figura 3-4:
Oscilografía de los
estados de rampa
definidos

Paso 3: Definición de los valores de la salida estática


Todos los valores que son estáticos, durante la emisión del estado de rampa,
se definen en la ficha Salidas analógicas en la vista Detalle del módulo de
prueba Ramping.
Los valores representados con rampas se muestran en un fondo gris, los
valores estáticos se muestran en un fondo de color amarillo o blanco. Puede
editar los valores estáticos manualmente o puede sobrescribirlos.
Figura 3-5:
Representación de las
señales de salida
estática y en rampa

45
OMICRON Test Universe

Paso 4: Definición de las condiciones del trigger


Tiene que informar al módulo de prueba qué contactos (es decir, qué entradas
binarias de la unidad CMC) reaccionan al arranque o a la reposición del relé.
En este ejemplo el contacto de arranque se conecta a la entrada binaria 1 de la
unidad CMC y se denomina "St_UnderFreq".
1. Seleccione la ficha Trigger en la vista Detalle (figura 3-7).
Tenga en cuenta que la condición del trigger tiene que definirse
individualmente para cada estado de rampa.
Use la barra de herramientas de navegación para cambiar entre los
estados de rampa individuales.
Figura 3-6:
Barra de herramientas
de navegación del
módulo de prueba
Ramping
2. Durante el estado de rampa 1, el contacto de arranque debe cerrar (es
decir, pasa del estado "0" al estado "1"). Consecuentemente, tiene que
ajustar el trigger binario St_UnderFreq = 1 para el estado de rampa 1 en
la ficha "Trigger".
3. Ajuste la condición binaria del trigger St_UnderFreq = 0 para el estado de
rampa 2.
Figura 3-7:
Ficha Trigger de la vista
Detalle

La característica "Paso atrás" autoriza la ejecución de una subrampa que


permite encontrar los valores de arranque de manera rápida y exacta.
Para obtener una descripción más detallada, consulte la ayuda en línea.
Abra la ayuda en línea, haga clic en la entrada "Pruebas con Ramping"
del índice y desplácese hasta "Detalle | ficha Trigger Detalles | Paso
atrás" .

46
Ramping

Paso 5: Definición de los valores nominales y las tolerancias


Cambie a la vista Medidas. Esta vista está dividida en dos tablas. La tabla
superior sirve para definir las condiciones de medida y mostrar los resultados
de la prueba; la tabla inferior sirve para definir los cálculos de las relaciones de
señales.
Durante la salida de una señal en rampa, se puede realizar un número ilimitado
de medidas. Los parámetros de la rampa se ajustan independientemente de los
ajustes de las medidas. Las condiciones especificadas por el usuario en la tabla
superior activan las medidas.
La medida es una característica opcional. No es necesario especificar
condiciones de la medida para emitir una señal en rampa. Si no se ha
seleccionado rampa, condición o señal, la medida no es válida y no se efectúa
ninguna medida durante la salida de rampa. Si no se ha ajustado valor nominal
o valor de tolerancia, la medida se realiza pero no se evalúa. El valor medido,
sin embargo, puede seguir utilizándose para una condición calculada, como la
relación.
En la figura 3-8, la columna "Real", muestra el valor de la función en rampa en
el momento en que se cumple la condición del trigger.
Figura 3-8:
Valores medidos y
evaluación de cada
estado de rampa

Se realiza una evaluación automática de los valores medidos de arranque y de


reposición cuando se introduce un valor nominal y las tolerancias.
La figura 3-8 muestra los valores nominal y real así como la evaluación
automática después de que se ha realizado la prueba.

47
OMICRON Test Universe

3.2.7 Ejecución de la prueba


Puede comenzar la prueba real después que haya definido la entrada de los
datos significativos y haya realizado los ajustes necesarios.
1. Para iniciar la prueba, haga clic en el icono C O M E N Z A R de la barra de
herramientas del módulo de prueba Ramping.
2. Una vez finalizada la prueba, el resultado que aparece en Medidas tendrá
un aspecto parecido al de la figura 3-8.
3. Los resultados de la prueba se representan también en la Oscilografía
(figura 3-9).
Figura 3-9:
Resultados de la prueba
representados en la
Oscilografía

3.2.8 Definición del informe de la prueba


Seleccione P A R Á M E T R O S | I N F O R M E . Se abrirá un cuadro de diálogo en el
que puede definir el rango de aplicación del informe.
Encontrará una descripción detallada sobre la definición de los informes de las
pruebas en la sección 5.2 ”Informes de prueba” del manual "El concepto" o en
la ayuda en línea en la entrada --- Informes de prueba --- del índice.
Seleccione V E R | I N F O R M E para ver el informe de la prueba.

48
Pulse Ramping - Introducción

4 Pulse Ramping
El módulo de prueba Pulse Ramping proporciona funciones que facilitan la
prueba de los valores de arranque de un relé de protección multifuncional con
más de una función o elementos de protección.
Para ello, Pulse Ramping genera una secuencia de pulsos (cada anchura de
pulso representa el tiempo de falta) con un tamaño de paso creciente (o
decreciente). Cada dos pulsos de rampa consecutivos se inserta un estado de
"restauración". Por tanto, una rampa de pulsos es realmente una rampa que se
interrumpe durante un periodo de tiempo definido después de cada pulso. Los
pulsos de la rampa aumentan en función del tamaño del paso hasta que la
rampa alcance su valor máximo o el umbral de arranque (depende del ajuste
"Parar rampa en medida" de la ficha Condiciones de prueba).
Figura 4-1:
Una rampa de pulsos
típica

tiempo de tiempo de falta


restauración

Pulse Ramping no precisa que se cableen a la unidad CMC uno o más


contactos de arranque; todas las medidas pueden realizarse utilizando el
contacto de disparo. Por lo tanto, no son necesarios la parametrización ni el
cableado de contactos de arranque. Además, Pulse Ramping determina todos
los valores de arranque de un relé multifuncional sin necesidad de inhabilitar los
elementos de relé que interfieren.
El tiempo de falta ha de ajustarse en un valor suficiente para que dispare la
función que se prueba. Las demás funciones del relé de protección, las que
tengan un tiempo de disparo más prolongado que la función que se prueba, no
dispararán. Tras cada pulso de falta, un estado de reposición restaura el relé.
Por lo tanto, la duración del tiempo de falta determina realmente la función o
elemento del relé de protección que se va a probar. El tiempo de falta debe
ajustarse para un tiempo superior al tiempo de disparo de la función que se
prueba, pero inferior a los tiempos de disparo de los elementos de protección
anteriores.
El tiempo de restauración debe ser suficientemente prolongado para restaurar
correctamente el relé.

49
OMICRON Test Universe

Puede generarse una rampa de pulsos en una o más salidas de corriente o


tensión de la unidad CMC, y poner en rampa cualquier cantidad de salidas de
la CMC: magnitud, frecuencia o ángulo. Así, se pueden simular las faltas A-N
(L-E), A-B (L-L) y A-B-C (L-L-L).
El siguiente ejemplo muestra un ejemplo de aplicación típico de Pulse Ramping.

50
Pulse Ramping - Ejemplo práctico

4.1 Ejemplo: Prueba de arranque I>> Elemento de


un relé multifuncional de protección de un
generador
Archivo de muestra: PulseRamping_7UM511.pra
Guardado en: ...Ruta de instalación de OMICRON Test Universe\
Test Library\Samples\SW Manual Examples\Protection

 Tarea
Puesta en servicio del relé multifuncional de protección del generador 7UM511
(SIEMENS). Entre otros puntos de prueba, la persona que realiza la prueba
debe determinar el valor de arranque del elemento de sobrecorriente
instantánea I>>. No se permite cambiar ninguno de los ajustes del relé para la
prueba. La prueba se lleva a cabo con el contacto de disparo.
Ajustes del relé:

Datos CV/VT
Corriente nominal secundaria 1A
Corriente nominal primaria 1000kA
Tensión nominal secundaria 100V (L-L)
Tensión nominal primaria 10500V (L-L)

Función de protección Arranque Tiempo de disparo


51 I> 1,2A 3s
50 I>> 2,5A 100ms
32 Potencia hacia atrás -1% de la potencia 10s
nominal
46 Secuencia negativa de 60% 3s
sobrecorriente
27 V< 75V (L-L) 1,5s
40 Pérdida de campo λ 1= 0,4 5s
α 1 = 80°
λ 2 = 0,35
α 2 = 90°
40 Pérdida de campo instantánea λ 3 = 1,1 1,5s
α 3 = 90°

51
OMICRON Test Universe

4.1.1 Cableado entre el relé de protección y la unidad de


prueba CMC
1. Conecte las entradas de corriente y tensión del relé de protección a las
correspondientes salidas de corriente y tensión de la unidad de prueba
CMC.
2. Conecte el contacto de disparo del relé a la entrada binaria BinIn1 de la
unidad de prueba CMC.
Figura 4-2:
Unidad de prueba Conectar a entradas
CMC 256, vista frontal de tensión del relé
de protección

Conectar a entradas Conecte el contacto de disparo del relé


de corriente del relé de protección a la entrada binaria 1
de protección

4.1.2 Inicio del módulo de prueba Pulse Ramping


Inicie el módulo de prueba Pulse Ramping en modo autónomo desde la
OMICRON Start Page haciendo clic en Ramping... | Pulse Ramping.

4.1.3 Configuración del equipo en prueba


Para configurar el relé que está probando, utilice la función del software Equipo
en prueba.
Abra Equipo en prueba bien utilizando la opción del menú desplegable
P A R Á M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A o haciendo clic en el icono de
E Q U I P O E N P R U E B A de la barra de herramientas. En el cuadro de diálogo
Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar los parámetros del
equipo en prueba.

52
Pulse Ramping - Ejemplo práctico

Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Equipo en prueba


y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la sección
3 ”Configuración del equipo en prueba” del manual "El concepto" o en la ayuda
en línea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del índice.

4.1.4 Configuración del hardware


En la Configuración del hardware, refleje el cableado tal como se describe en
4.1.1 ”Cableado entre el relé de protección y la unidad de prueba CMC”:
• 3 corrientes (en este caso: IA, IB, IC)
• 3 tensiones (en este caso: VL1, VL2, VL3)
• y el contacto de disparo (entrada binaria "Disparo").
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Configuración del
hardware en la sección 4 ”Configuración del hardware de prueba” del manual
"El concepto" o en la ayuda en línea de Pulse Ramping , en la entrada ---
Configuración del hardware --- del índice.

4.1.5 Definición de la rampa de pulsos

Paso 1: Ajuste de los parámetros de la rampa


En la prueba de Pulse Ramping, seleccione la ficha Parámetros de rampa y
defina una rampa de acuerdo con la tabla siguiente:
Tabla 4-1:
Parámetros de rampa Campo Valor Comentario
que debe ajustar
Salidas IA La prueba se realiza para el bucle de falta
IA-N (IL1-E)
Magnitud Magnitud Se establece una rampa para la magnitud de
corriente
Reposición 1A Después de cada pulso, se restaura el relé
debido a que detecta las condiciones de
operación normales (corriente nominal).
Desde 2,4A Sabemos que el arranque debe estar en torno
Hasta 2,6A a los 2,5 A

Δ 10mA Estamos satisfechos con una exactitud de


+- 10mA
Tiempo de 2s El relé se restaura si detecta las condiciones
restauración nominales de operación durante al menos 2 s
después de la falta

53
OMICRON Test Universe

Campo Valor Comentario


Tiempo de 200ms t>> es 100ms. Por lo tanto, 200ms serán
falta suficientes para hacer que el relé dispare para
la función I>>; sin embargo, no emitirá un
disparo para ninguna otra función.
Medir en Disparo 0>1
Nom. 2,5A Éste es el valor de arranque esperado.
Tol+ 20mA 2,52A es el límite superior de tolerancia.
Tol- 20mA 2,48A es el límite inferior de tolerancia.

Figura 4-3:
Vista Prueba de Pulse
Ramping. La rampa de
pulsos se define en la
ficha Parámetros de
rampa

54
Pulse Ramping - Ejemplo práctico

Paso 2: Ajuste de las salidas analógicas


En esta ficha Salidas analógicas, ajuste los valores de las salidas analógicas
estáticas de la unidad CMC, es decir, las salidas que no están en rampa. Los
valores de salida analógica se ajustan independientemente para el estado de
reposición y el estado de falta.
Figura 4-4:
Ficha Salidas
analógicas que
muestra IA como la
salida en rampa

En este ejemplo, se establece en rampa la magnitud de IA; por lo tanto, se


pueden ajustar aquí los valores de todas las magnitudes, con excepción de IA.
Como es necesario restaurar correctamente el relé, el estado de restauración
se ajusta a la corriente nominal trifásica (1A) y a la tensión nominal (57,73V).
El estado de la falta simula una IA a la falta a tierra. Por lo tanto, IB e IC se
mantienen a la corriente nominal. Para las tensiones, se parte de la suposición
de que la falta causa una caída de VA-N (VL1-E) a 0V, mientras que VB-N
(VL2-E) y VC-N (VL3-E) conservan su valor nominal.

Salidas binarias
No se requieren salidas binarias para esta prueba.

Condiciones de prueba
Los ajustes de la ficha Condiciones de prueba se mantienen en los ajustes por
defecto. Esto hace que se inicie la prueba inmediatamente en cuanto se pulsa
el botón R E P R O D U C I R y que se detenga la rampa si se produce el disparo.

55
OMICRON Test Universe

4.1.6 Ejecución de la prueba


- Para iniciar la prueba, haga clic en el botón R E P R O D U C I R o seleccione la
opción de menú P R U E B A | C O M E N Z A R / C O N T I N U A R .
- Ahora, se emite tanto la señal en rampa como los valores estáticos.
- Al terminar la prueba, se obtiene un resultado como el que se muestra en la
figura 4-5:
Figura 4-5:
Resultados de la prueba

Nota: "Tiempo de medida" muestra el tiempo transcurrido (t) entre el comienzo


del pulso en el que se produjo el disparo y el disparo real. La línea roja de la
figura 4-6 muestra el umbral de disparo.
Figura 4-6:
"Tiempo de medida"

Disparo

De acuerdo con la norma, medir el tiempo de disparo requeriría dos veces el


valor del disparo (mostrado como un pulso azul claro en la figura 4-6). Aquí no
ocurre esto. Para determinar correctamente el tiempo de disparo,
recomendamos módulos de prueba como State Sequencer.

56
Pulse Ramping - Ejemplo práctico

4.1.7 Definición del informe de la prueba


Seleccione P A R Á M E T R O S | I N F O R M E . Se abrirá un cuadro de diálogo en el
que puede definir el rango de aplicación del informe.
Encontrará una descripción detallada sobre la definición de los informes de las
pruebas en la sección 5.2 ”Informes de prueba” del manual "El concepto" o en
la ayuda en línea en la entrada --- Informes de prueba --- del índice.
Seleccione V E R | I N F O R M E para ver el informe de la prueba.

4.1.8 Almacenamiento e impresión de la prueba


Para guardar y/o imprimir la prueba, use los iconos correspondientes de la barra
+
de herramientas o los menús desplegables A R C H I V O | G U A R D A R y
A RCHIVO | I MPRIMIR.
Un archivo de prueba de Pulse Ramping guardado tiene la extensión de nombre
de archivo .pra

57
OMICRON Test Universe

58
State Sequencer

5 State Sequencer
El módulo de prueba State Sequencer permite:
• definir una secuencia de estados
• emitir cada uno de los valores de estado al equipo en prueba en tiempo real
• repetir la salida de los estados definidos por el usuario en un bucle infinito.
Las respuestas del equipo en prueba pueden medirse y registrarse en función
del tiempo, y analizarse automática o manualmente después de la prueba.
Pueden especificarse condiciones del trigger para controlar la progresión de la
secuencia. Estas condiciones del trigger pueden definirse por:
• duración del estado
• cambio del estado de salida de un equipo en prueba
• control manual
• señales externas.

5.1 Vistas de State Sequencer


State Sequencer comprende un total de siete vistas:
Tabla proporciona una vista panorámica de la secuencia,
mientras que la vista Detalle proporciona una vista más
pormenorizada de todos los parámetros de uno de los
estados.
Informe permite usar el ajuste del informe por defecto, o un ajuste
personalizado, que incluye sólo aquellos elementos de
los ajustes de la prueba y los resultados de interés.
Detalle se usa para definir los parámetros de cada estado de la
secuencia.
Diagrama vectorial se usa para definir los parámetros de cada estado de la
secuencia.
Vista de impedancia muestra la impedancia de falta calculada por Cálculo de
falta. Obtiene el valor de ZFalta en el plano complejo; es
decir, devuelve el valor absoluto real de ZFalta. Estará
vacío si se selecciona un modo de ajuste sin tipo de falta
en la Cuadrícula de entrada multifuncional. El cálculo de
la tensión de falta y/o la corriente de falta ahora lo realiza
el servidor de cálculo de falta. Por tanto, ya no es
necesario ajustar el tipo de falta ni el modelo de prueba.

59
OMICRON Test Universe

El Plano de impedancia muestra las características de


relé de distancia de un archivo XRIO real cargado. Para
las faltas de línea a tierra, se tiene en cuenta el factor k
ajustado en el Equipo en prueba/XRIO.
Se puede alternar entre valores primarios y secundarios
utilizando el Administrador de unidades (consulte el
capítulo 5.3.3 ”Administrador de unidades” del manual El
Concepto), por ejemplo si se está en el modo de valores
secundarios pero se desea mostrar las impedancias en
el modo de valores primarios. La vista de impedancia
muestra un título según el estado del Administrador de
unidades.
Se puede encontrar más información en los temas de la
Ayuda en línea de State Sequencer "Vista de
impedancia" y "Cuadrícula de entrada multifuncional
(Cálculo de falta)").
Medidas permite la especificación de los eventos en el tiempo y
evalúa la medida como "correcta" o "incorrecta" en
función del tiempo nominal esperado y de los márgenes
de desviación que se han dado. Además, es posible la
medida del tiempo interactivo en la vista Oscilografía.
Asimismo evalúa los niveles de entradas binaras como
correctas o incorrectas de acuerdo con la tolerancia de
tiempo y la condición de nivel de diversas entradas
binarias.
Oscilografía Muestra las gráficas de la tensión y de la corriente, de los
estados de entrada binarios (1 o 0) y las transiciones de
estado como funciones del tiempo.

60
State Sequencer

5.2 Disparo Z
La función Disparo Z aplica un estado de impedancia de falta a la secuencia
actual.
Este estado de impedancia está compuesto de un total de 3 estados, que se
insertan después del estado actualmente seleccionado de la secuencia: un
estado pre-falta, un estado de falta y un estado post-falta.
Admite el ajuste de parámetros tales como
• impedancia de la línea |Z| y Phi |Z|
• factor de puesta a tierra |k0| y Phi |k0|
• tipo de falta
• localización de la falta (realizada por un multiplicador por medio del valor de
la impedancia de la línea, para formar la impedancia de falta real)
Para insertar un disparo Z, seleccione la opción del menú
EDITAR | INSERTAR DISPARO Z.
Al insertar la impedancia de disparo Z, se crea una nueva entrada al final de la
tabla de medida y se ajusta el foco en el estado de post-falta para permitir la
introducción de otro disparo.
La función Disparo Z requiere las siguientes condiciones previas:
• Se ha definido el triple de tensión del generador VA-N (VL1-E), VB-N (VL2-
E), VC-N (VL3-E). Este triple se usa para la salida de las tensiones del
modelo trifásico.
• Se ha definido el triple de corriente del generador (IL1), IB (IL2), IC (IL3).
Este triple se usa para la salida de las corrientes del modelo trifásico.
En el caso de falta monofásica o bifásica, las corrientes de falta comienzan en
transición por cero. En el caso de una falta trifásica IL1 (IA respectivamente)
comienza en cero.

5.3 Estado Z
El estado de impedancia Z es una versión reducida de la característica de
disparo en el plano de impedancias Z. Inserta un estado de falta con una
duración definida por el usuario para el estado actualmente seleccionado.
No se ha creado ningún trigger, ni condición de medida. Todas las demás
cuestiones mencionadas en el disparo Z se aplican también para el estado Z.

61
OMICRON Test Universe

5.4 Ejemplo 1: Función Falta en el fusible


Archivo de muestra: Sequencer_Fusefail.seq
Guardado en: ...Ruta de instalación de OMICRON Test Universe\
Test Library\Samples\SW Manual Examples\Protection

 Tarea
Probar la función Falta en el fusible de un relé de distancia (llamada también
"Caída de tensión" o "Falta TT").

Solución
Se requiere un programa automático de escalones múltiples para probar la
función falta en el fusible.
Paso 1: Prueba las condiciones del sistema sano.
Paso 2: Prueba la condición falta en el fusible, por la cual una tensión se
fija en 0 V por un tiempo superior al del temporizador de falta en el
fusible.
Paso 3: Para verificar si la función falta en el fusible bloquea
definitivamente la señal de disparo, se tiene que inyectar una falta
a tierra (tensión cero, alta corriente), por lo cual no se permite
disparar al relé.
Esta es una aplicación ideal para State Sequencer, en la cual se puede definir
cualquier número de estados de tensión o de corriente. La transición desde un
estado al siguiente es instantánea y depende de un tiempo fijado o de una
condición del trigger, según se haya definido para las entradas binarias.
Si es necesario probar sólo la función de falta en el fusible, se puede usar el
módulo de prueba State Sequencer en modo autónomo. Asimismo, si sólo se
requiere una prueba manual, se puede realizar usando el módulo QuickCMC.

62
State Sequencer

5.4.1 Cableado entre el relé de protección y la unidad de


prueba CMC
1. Conecte las entradas de corriente y tensión del relé de protección a las
correspondientes salidas de corriente y tensión de la unidad de prueba
CMC. Los puntos de estrella a tierra de la entrada de los TC y los TT del relé
se tienen que conectar al "N" de la unidad CMC.
2. Conecte el contacto de disparo del relé a la entrada binaria BinIn1 de la
unidad de prueba CMC.
Figura 5-1:
Unidad de prueba Conectar a entradas de
CMC 256, vista frontal tensión del relé
de protección

Conectar a entradas Conecte el contacto de disparo del relé


de corriente del relé de protección a la entrada binaria 1
de protección

5.4.2 Inicio de State Sequencer desde el OCC


Inicie el OMICRON Control Center desde la Start Page haciendo clic en A B R I R
U N D O C U M E N T O V A C Í O . Inserte State Sequencer en el documento del OCC
seleccionando la opción de menú I N S E R T A R | M Ó D U L O D E P R U E B A . . . |
OMICRON STATE SEQUENCER.

63
OMICRON Test Universe

5.4.3 Configuración del equipo en prueba


Para la configuración del relé en prueba, se utiliza la función de software
correspondiente de Equipo en prueba. Abra Equipo en prueba con la opción
del menú desplegable P A R Á M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A . También se
puede hacer clic en el icono Equipo en prueba de la barra de herramientas. En
el cuadro de diálogo Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar
los parámetros del equipo en prueba.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la sección
3 ”Configuración del equipo en prueba” del manual "El concepto" o en la ayuda
en línea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del índice.

5.4.4 Configuración del hardware


Configure el hardware de acuerdo con el cableado descrito en la sección
5.4.1 ”Cableado entre el relé de protección y la unidad de prueba CMC”.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Configuración del
hardware en la sección 4 ”Configuración del hardware de prueba” del manual
"El concepto" o en la ayuda en línea de State Sequencer, en la entrada ---
Configuración del hardware --- del índice.

64
State Sequencer

5.4.5 Definición de la prueba

Paso 1: Definición del estado 1, sistema sano


Figura 5-2:
Prueba, definición del
estado 1

1. Defina el estado 1 en "Detalle" (figura 5-2, 1):


Tensiones nominales equilibradas en 63,51V con ángulos equilibrados.
Corriente de carga equilibrada en 0,1A y un ángulo de carga de 5° de
retraso. Introduzca un nombre "Sistema sano".
Nota: La hoja de propiedades (clic con el botón derecho del ratón) está a
disposición de todos los campos para igualar las magnitudes, equilibrar los
ángulos, etc.
Los valores introducidos en "Detalle" se transfieren automáticamente a
"Tabla" (2).

65
OMICRON Test Universe

2. Seleccione la ficha Trigger en "Detalle".


Figura 5-3:
Detalle, ficha Trigger

2
1

Cada estado de una secuencia debe tener su propia condición del trigger.
Sólo si la condición del trigger del estado n se cumple y termina el estado,
State Sequencer ejecutará el estado n+1.
Para obtener una descripción detallada sobre las condiciones del trigger,
consulte la ayuda en línea. Abra la ayuda en línea, haga clic en la entrada
"Vistas de State Sequencer" en el índice y desplácese hasta "Detalle". El
tema sobre la vista Detalle contiene una sección denominada "Ficha
Trigger".
3. El estado sano (sin falta) debe emitirse durante un periodo máximo de
5 segundos (figura 5-3, 1). El valor de 5,000 s en "Tiempo de espera:"
representa el tiempo de estado máximo. Si durante este período se produce
un trigger binario (2), State Sequencer pone fin a este estado de forma
prematura y ejecuta el siguiente estado. Si en ese tiempo no se detecta
ningún trigger, este estado termina una vez transcurrido el "Tiempo de
espera:" y se ejecuta el estado siguiente.
La condición de trigger binario se define seleccionando "Usar trigger binario
como se especifica a continuación" (2). Defina una condición del trigger AND
u OR en (3). Las entradas binarias disponibles aquí dependen de las
entradas definidas e indicadas en la Configuración del hardware en la
ficha Entradas binarias/analógicas.
Se puede definir un tiempo de retardo prefijado después de una condición
del trigger (4).

66
State Sequencer

4. Seleccione la ficha Salidas analógicas.


Nota: La página Salida analógica no está disponible si en la Configuración
del hardware no se han indicado salidas analógicas.

Paso 2: Definición del estado 2, estado de falta en el fusible


1. Haga clic en el icono de Estado nuevo o seleccione
E DICIÓN | INSERTAR ESTADO.
2. Edite 0 V como amplitud de "V A-N" (VL1-E). Deje como están las demás
tensiones y corrientes. Introduzca un nombre "Estado de falta en el fusible".
3. El estado de falta en el fusible se debe emitir durante un tiempo prefijado de
15 segundos.

Paso 3: Definición del estado 3, falta A-N (L1-E)


1. Defina otro estado nuevo.
2. Defina un nuevo nombre y edite I A = 2 A a -75°.
3. Este estado debe emitirse durante un 1 segundo como máximo
(figura 5-4, 1). Ajuste una condición de trigger binario (2) para la señal de
disparo (3) correspondiente al evento que dispara el relé. Defina también un
retardo después del trigger de 40 ms (4).

67
OMICRON Test Universe

Figura 5-4:
Prueba, definición del
estado 3

2
1

En la vista "Tabla" figuran todas las tensiones y corrientes de los tres


estados en una única tabla.
4. Haga clic en el icono del Diagrama vectorial o seleccione
V E R | D I A G R A M A V E C T O R I A L para mostrar un diagrama vectorial del
estado seleccionado en ese momento; en este caso, el estado 3.
Nota: El Diagrama vectorial desaparece si no se indican salidas analógicas.
En este caso, la opción del menú y el botón de la barra de herramientas
estarán desactivados. Se activarán otra vez tan pronto como se indiquen
salidas analógicas.

68
State Sequencer

5.4.6 Ejecución de la prueba


Es posible ejecutar una prueba sólo si no hay resultados presentes. En caso
necesario, borre los resultados haciendo clic en el icono de Borrar o
seleccionando P R U E B A | B O R R A R .
1. Haga clic en el icono Comenzar/Continuar prueba o seleccione
PRUEBA | C OMENZAR.
2. Para ver las tensiones y corrientes de salida, haga clic en el icono de
Oscilografía o seleccione V E R | O S C I L O G R A F Í A .
Figura 5-5:
Oscilografía

3. Puede ampliar o reducir la vista de la oscilografía. Las señales que aparecen


se pueden desactivar con la hoja de propiedades (pulsación del botón
derecho del ratón en la ventana de oscilografía).

69
OMICRON Test Universe

Figura 5-6:
Oscilografía - señales
de tensión ampliadas/
reducidas

4. Cierre State Sequencer y vuelva al Control Center.


Figura 5-7:
Oscilografía

70
State Sequencer

5.4.7 Definición del informe de la prueba


Seleccione P A R Á M E T R O S | I N F O R M E . Se abrirá un cuadro de diálogo en el
que puede definir el rango de aplicación del informe.
Encontrará una descripción detallada sobre la definición de los informes de las
pruebas en la sección 5.2 ”Informes de prueba” del manual "El concepto" o en
la ayuda en línea en la entrada --- Informes de prueba --- del índice.
Seleccione V E R | I N F O R M E para ver el informe de la prueba.

71
OMICRON Test Universe

5.5 Ejemplo 2: Recierre automático del


alimentador
Archivo de muestra: Sequencer_ARC.seq
Guardado en: ...Ruta de instalación de OMICRON Test Universe\
Test Library\Samples\SW Manual Examples\Protection

 Tarea
La función de recierre automático del esquema de protección de un alimentador
se tiene que probar con una secuencia de recierre automático incorrecta para
un falta A-N (L1-E).
Se proporcionan los siguientes resultados:
Esquema de disparo: Disparo monopolar / tripolar
Secuencia ARC de falta a tierra: disparo monopolar 
disparo tripolar  bloqueo.
Tiempo muerto para un disparo monopolar: 500 ms
Tiempo muerto para un disparo tripolar: 1s
Tiempo típico instantáneo de disparo: 50 ms

 Solución
Es necesario simular la siguiente secuencia de estados para un ciclo completo
de ARC incorrecto:
- Pre-falta: Tensiones nominales y corrientes de carga durante 1 s.
- Falta A-N (L1-E) a 1Ω hasta que dispara la fase A.
- Tiempo muerto nº 1: El polo A abre (es decir, no hay tensión ni corriente
en la fase A, pero se emiten las tensiones nominales y las corrientes de
carga en las fases B y C) hasta que se produzca la señal ARC.
- Disparo nº 1: Igual que Falta A-N (L1-E).
- Tiempo muerto nº 2: Los tres polos abren (es decir, no hay corriente ni
tensión en ninguna fase) hasta que se emita la señal ARC.
- Disparo nº 2: Igual que Falta A-N (L1-E).
- Bloqueo: Igual que para el tiempo muerto nº 2.

72
State Sequencer

Es necesario simular siete estados, uno detrás del otro. La transición desde un
estado al próximo debe ser instantánea. El OMICRON Test Universe ofrece el
módulo de prueba State Sequencer, que está diseñado para aplicaciones como
las descritas anteriormente.
Para probar un esquema completo de protección de distancia, es necesario
probar secuencialmente todas las funciones primarias y auxiliares del esquema.
Con la objeto de probar este tipo de esquema con un procedimiento de prueba
completo y automático, la prueba de State Sequencer tiene que incrustarse en
el documento del OMICRON Control Center.

 El módulo State Sequencer puede, no obstante, utilizarse asimismo en forma


autónoma; este ejemplo de State Sequencer funciona en modo autónomo.

5.5.1 Cableado entre el relé y la unidad CMC


1. Conecte las entradas de tensión del relé de protección a las
correspondientes salidas de tensión de la unidad de prueba CMC.
2. Conecte las entradas de corriente del relé de protección a las
correspondientes salidas de corriente de la unidad de prueba CMC.
Asegúrese de que las salidas de corriente del relé (es decir, el lado de salida
de los transformadores de corriente) están conectadas juntas en el punto de
estrella a tierra.
3. Conecte las señales de disparo del relé correspondientes a las fases A, B y
C a las entradas binarias 1, 2 y 3 de la unidad de prueba CMC.
4. Conecte la señal de inicio de ARC del relé de protección a la entrada binaria
4 de la unidad de prueba CMC.

73
OMICRON Test Universe

Figura 5-8:
Unidad de prueba Conectar a entradas
CMC 256, vista frontal de tensión del relé
de protección

Conectar a entradas Conecte el contacto de disparo del relé


de corriente del relé de protección a la entrada binaria 1
de protección

5.5.2 Inicio de State Sequencer


Inicie State Sequencer en modo autónomo desde la OMICRON Start Page
haciendo clic en S T A T E S E Q U E N C E R .

5.5.3 Configuración del equipo en prueba


Para configurar el relé que está probando, utilice la función del software Equipo
en prueba.
Abra Equipo en prueba bien utilizando la opción del menú desplegable
P A R Á M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A o haciendo clic en el icono de
E Q U I P O E N P R U E B A de la barra de herramientas. En el cuadro de diálogo
Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar los parámetros del
equipo en prueba.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la sección
3 ”Configuración del equipo en prueba” del manual "El concepto" o en la ayuda
en línea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del índice.

74
State Sequencer

5.5.4 Configuración del hardware


Configure el hardware de acuerdo con el cableado descrito en la sección
5.5.1 ”Cableado entre el relé y la unidad CMC”.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Configuración del
hardware en la sección 4 ”Configuración del hardware de prueba” del manual
"El concepto" o en la ayuda en línea, en la entrada --- Configuración
del hardware --- del índice.

5.5.5 Definición de la prueba

Paso 1: Definición del estado pre-falta


1. En el campo "Nombre" de la vista Tabla, renombre el estado por defecto
"Estado 1" como "Pre-falta".
2. En las vistas Tabla o Detalle, para este estado pre-falta, introduzca:
- las tensiones: 69,28 V, equilibradas a 0° para V A-N (L1-E), 60 Hz
- las corrientes: 1 A, equilibradas a -10° para I A, 60 Hz
Nota: Un menú de contexto (que se abre al hacer clic con el botón
derecho del ratón) está disponible para todos los campos de entrada
(amplitud, ángulos de fase y frecuencia).
Figura 5-9:
Definición del estado
pre-falta en la ficha
Salidas analógicas de
la vista Detalle

75
OMICRON Test Universe

5. Seleccione la ficha Trigger.


Figura 5-10:
Definición de la
condición del trigger en
la ficha Trigger

Para obtener una descripción detallada sobre las condiciones del trigger,
consulte la ayuda en línea de State Sequencer. Abra la ayuda en línea,
haga clic en la entrada "Vistas de State Sequencer" en el índice y
desplácese hasta "Detalle". El tema sobre la vista Detalle contiene una
sección denominada "Ficha Trigger".
6. En "Tiempo de espera:" defina el tiempo máximo del estado en 1,000 s.
7. Asegúrese de haber desactivado las demás condiciones del trigger, dado
que este estado debería emitirse exactamente durante 1 s.
Nota: Todos los parámetros introducidos se copian automáticamente a la
vista Tabla.

76
State Sequencer

Paso 2: Definición del estado de la falta A-N (L1-E)


1. Haga clic en el icono de Estado nuevo en la barra de herramientas de
navegación o seleccione E D I C I Ó N | I N S E R T A R E S T A D O . Un estado
nuevo se añade al primero.
Figura 5-11:
Barra de herramientas
de navegación

Los parámetros de este estado son idénticos a los del estado anterior.
2. Edite los parámetros para V A-N (V L1-E) e I A (I L1) para representar una
falta A-N (L1-E) con 1 Ω impedancia de falta (VA-N = 10 V @ 0°;
I A = 10 A @ -75°).
Nota: Se dispone de una función especial para insertar un estado en
términos de impedancia de falta: Seleccione I N S E R T A R | D I S P A R O Z .
Figura 5-12:
Definición del estado de
la falta A-N (L1-E)

77
OMICRON Test Universe

3. Seleccione la ficha Trigger.


Figura 5-13:
Definición de la
condición de trigger

4. En "Tiempo de espera:" defina un tiempo máximo de estado de 500 ms.


5. Seleccione una condición binaria del trigger y asegúrese de que Disparo A,
Disparo B y Disparo C están todos ajustados en "1" con una condición lógica
del trigger "OR".
Nota: Se puede borrar la transición desde el presente hasta el próximo
estado, después que se ha cumplido la condición del trigger, especificando
un tiempo para el "Retardo después del trigger" – en este caso ajustado en
40 ms para simular el tiempo de disparo del relé.

Paso 3: Definición de los estados restantes


Defina los estados restantes copiando uno de los estados presentes y luego
actualizando los parámetros que correspondan.
Los estados restantes por definir son:
• Tiempo muerto Nº 1
• Disparo de falta Nº 1
• Tiempo muerto Nº 2
• Disparo de falta Nº 2
• Bloqueo

78
State Sequencer

El estado "Tiempo muerto nº 1" es similar al estado de "Pre-falta" con la


diferencia de que la tensión y la corriente de la fase A es cero y la condición del
trigger se ajusta en la señal ARC. Los estados "Tiempo muerto nº 2" y
"Bloqueo" son similares a "Tiempo muerto nº 1" con la diferencia de que las
tensiones y las corrientes de todas las fases son cero. Los estados "Disparo de
falta nº 1" y "Disparo de falta nº 2" son idénticos a la "Falta A-N" (L1-E).
1. Seleccione el estado a copiar, en este caso el "Estado pre-falta" (haga clic
en la columna del estado en la Tabla).
2. Haga clic en el icono de Estado nuevo de la barra de herramientas de
navegación. El estado nuevo, que se ha añadido al último, es idéntico al
"Estado pre-falta".
Para insertar un nuevo estado entre dos estados existentes, seleccione el
estado anterior (o posterior) y luego seleccione
E DICIÓN | INSERTAR ESTADO.
3. Ajuste la tensión y la corriente de la fase A en cero.
4. Ajuste las condiciones del trigger en la señal "ARC".
Figura 5-14:
Vista Tabla - todos los
estados definidos

5. Repita los pasos 1 a 4 para el Disparo de falta Nº 1, Tiempo muerto Nº 2,


Disparo de falta Nº 2 y Bloqueo.
Para visualizar los distintos estados definidos, se cuenta con un diagrama
vectorial. Éste muestra la configuración de los vectores del estado presente
seleccionado.
6. Haga clic en el icono del Diagrama vectorial de la barra de herramientas de
State Sequencer o seleccione V E R | D I A G R A M A V E C T O R I A L .
El tamaño del diagrama vectorial se puede modificar arrastrando los bordes
de la ventana. La escala de los vectores, así como las propiedades del
diagrama, pueden cambiarse haciendo clic con el botón derecho del ratón
dentro del Diagrama vectorial.
7. Haga clic en el icono de la barra de herramientas de navegación para
seleccionar el primer estado de la secuencia de prueba.
8. Haga clic repetidamente en el icono en la barra de herramientas de
navegación para trasladarse entre los distintos estados, mientras observa el
diagrama vectorial.

79
OMICRON Test Universe

Paso 4: Definición de las medidas de sincronización


Es necesario definir los parámetros siguientes para las medidas de
sincronización:
Nombre: El nombre del evento por sincronizar.
Inicio: El evento que inicia el temporizador (p.ej., inicio de un
estado específico).
Fin: El evento que detiene el temporizador (p. ej.,
arranque de una señal de disparo).
Ignorar antes: En largas secuencias de prueba es necesario
sincronizar los repetidos arranques (o reposiciones)
de una misma señal de entrada. Dispone de una
función de filtro de todos los arranques y las
reposiciones previos a un evento específico para
determinar los tiempos de arranque y reposición.
Tnom: Tiempo teórico de arranque / reposición.
Tdesv-: Máxima desviación negativa admitida.
Tdesv+: Máxima desviación positiva admitida.
En este ejemplo es necesario sincronizar los siguientes eventos:
• Disparo para la falta A-N (L1-E), Disparo nº 1 y Disparo nº 2.
• Tiempos de recierre automático para el Tiempo muerto Nº 1 y el Tiempo
muerto Nº 2.
Proceda como sigue para definir las medidas de sincronización:
1. Haga clic en el icono de la vista Medidas de la barra de herramientas de
State Sequencer, o seleccione V E R | M E D I D A para abrir la ventana
Medidas.
Introduzca los parámetros para medir el tiempo de disparo para la falta A-N
(L1-E):
– Nombre: Disparo 1
– Inicio: Falta A-N (L1-E)
– Fin: Disparo A 0>1
– Tnom: 50 ms
– Tdesv-: 40 ms
– Tdesv+: 50 ms
Nota: Las columnas para el tiempo real medido (Treal), la desviación del
tiempo real desde el tiempo de arranque nominal (Tdesv) y la Evaluación, es
decir, si la desviación está dentro de la banda definida por Tdesv- y Tdesv+,
se completará después que se haya ejecutado una prueba real.

80
State Sequencer

2. Para definir una nueva condición de medida, haga clic con el botón derecho
del ratón en algún lugar de la ventana Medidas y seleccione I N S E R T A R , o
seleccione E D I C I Ó N | I N S E R T A R C O N D I C I Ó N D E M E D I D A .
3. Defina los parámetros para las siguientes cuatro medidas del tiempo:
Tabla 5-1:
Parámetros para las Nombre Inicio Fin Omitir Tnom Tdesv- Tdesv+
medidas del tiempo
Disparo Disparo de Disparo Disparo de 50 ms 40 ms 50 ms
nº 1 falta nº 1 A 0>1 falta nº 1
Disparo Disparo de Disparo Disparo de 50 ms 40 ms 50 ms
nº 2 falta nº 2 A 0>1 falta nº 2
ARC Nº1 Tiempo ARC 0>1 Tiempo 500ms 100ms 100ms
muerto muerto
nº 1 nº 1
ARC Nº 2 Tiempo ARC 0>1 Tiempo 500ms 100ms 100ms
muerto muerto
nº 2 nº 2

Figura 5-15:
Medidas

5.5.6 Ejecución de la prueba


Es posible ejecutar una prueba sólo si no hay resultados presentes. En caso
necesario, borre los resultados haciendo clic en el icono B O R R A R o
seleccionando P R U E B A | B O R R A R .
Haga clic en el icono de C O M E N Z A R / C O N T I N U A R P R U E B A de la barra de
herramientas de State Sequencer o seleccione P R U E B A | C O M E N Z A R .
Esto hará que se ejecute la secuencia de prueba como se especifica.
Nota: Se presenta el tiempo real, la desviación y una evaluación para cada
medición de sincronización especificada. Si esta secuencia de prueba se está
procesando en modo fuera de línea, es decir, sin la unidad CMC conectada, los
resultados mostrados en la vista Medidas son valores puramente aleatorios.
Si se ha incrustado la prueba en el Control Center, podrá ejecutarse también
desde aquí, haciendo clic en su icono en el OCC o seleccionando
P RUEBA | C OMENZAR.

81
OMICRON Test Universe

5.5.7 Oscilografía
Está disponible una Oscilografía para mostrar en pantalla la magnitudes de
tensión y de corriente con respecto al tiempo.
Nota: Se puede ver previamente la oscilografía antes de realizar una prueba.
Es posible ampliar y reducir la oscilografía y desactivar las señales / diagramas
mostrados mediante la hoja de propiedades (haga clic con el botón derecho del
ratón en cualquier parte de la ventana de Oscilografía). Los ajustes del
diagrama (visibilidad, zoom) se guardan para cada documento.
Para obtener una descripción detallada sobre la Oscilografía, consulte la ayuda
en línea de State Sequencer. Abra la ayuda en línea, haga clic en la entrada
"Vistas de State Sequencer" en el índice y desplácese hasta "Oscilografía".
Figura 5-16:
Oscilografía

82
State Sequencer

5.5.8 Tabla de datos del cursor


La tabla de datos del cursor se encuentra ahora en la Oscilografía. La tabla
muestra la posición de los dos cursores en la columna "Tiempo" de la
Oscilografía. Se puede cambiar la posición del cursor introduciendo un tiempo.
En la columna "Señal", se puede asignar una señal analógica a cada cursor. El
valor momentáneo de la señal seleccionada se muestra en la columna "Valor".
Si las señales asignadas a los dos cursores son de la misma magnitud física (p.
ej., dos tensiones), se mostrará la diferencia en la tercera línea.
Figura 5-17:
Tabla de datos del
cursor

5.5.9 Definición del informe de la prueba


Seleccione P A R Á M E T R O S | I N F O R M E . Se abrirá un cuadro de diálogo en el
que puede definir el rango de aplicación del informe.
Encontrará una descripción detallada sobre la definición de los informes de las
pruebas en la sección 5.2 ”Informes de prueba” del manual "El concepto" o en
la ayuda en línea en la entrada --- Informes de prueba --- del índice.
Seleccione V E R | I N F O R M E para ver el informe de la prueba.

83
OMICRON Test Universe

84
Overcurrent

6 Overcurrent
Dado que este capítulo ha quedado obsoleto, ha sido retirado del manual. Se
ha sustituido por un ejemplo práctico de uso que publicamos en un archivo PDF
aparte. El nombre de este archivo PDF es Overcurrent Example.pdf.
Se instala junto con el software de Test Universe y está disponible como archivo
PDF en su disco duro en la carpeta de instalación\Test Universe\Doc. Hay
carpetas específicas para otros idiomas distintos del inglés.
Haga clic aquí para abrir Overcurrent Example.pdf.

85
OMICRON Test Universe

86
Distance

7 Distance
El módulo de prueba Distance proporciona la funcionalidad para definir y
realizar pruebas de relés de distancia por medio de evaluaciones de los
elementos de impedancia usando definiciones de disparos individuales en el
plano de impedancias Z con representación gráfica de la característica.

Definición de las características del relé


Un editor gráfico de la característica realiza rápida y fácilmente la definición de
las características nominales del relé y los ajustes. Se pueden definir zonas de
arranque, disparo, extendidas y de no disparo, usando los elementos
predefinidos. Se proporciona una vista general completa de todas las zonas
definidas.
Si se usa el formato RIO/XRIO 1 (Relay Interface by OMICRON) que muchos
fabricantes de relés admiten, es posible importar directamente los datos de los
relés del software de ajuste de los parámetros de los relés (para obtener más
información póngase en contacto con el fabricante de sus relés).
Los ajustes de impedancia para las zonas se pueden introducir y representar
como valores primarios o secundarios.

Definición de pruebas de distancia


Las pruebas se definen en el plano de impedancia: Los puntos de prueba se
añaden a la tabla de los puntos de prueba con el ratón, o se introducen desde
el teclado. Esta tabla está dividida en varias fichas, cada una perteneciente a un
bucle de falta, p. ej. A-N (L1-E), B-N (L2-E), C-N (L3-E), A-B (L1-L2), A-B-C (L1-
L2-L3). Se pueden definir los puntos de prueba para varios bucles de falta a la
vez (p. ej., para todos los bucles monofásicos) o para cada bucle de falta por
separado.
Cuando se realiza una prueba, se activan las listas de los puntos de prueba de
los bucles individuales de falta. La reacción del relé se compara con los ajustes
especificados nominales y se hace una evaluación. Los resultados se
representan gráficamente en el plano de impedancia y numéricamente en la
tabla de puntos de prueba.

1. XRIO representa la segunda generación de la tecnología de archivos RIO. Puede encontrar


más información al respecto en el capítulo 3.2 ”XRIO” del manual El Concepto. Para obtener
información técnica básica sobre el formato de archivos XRIO, consulte los manuales de XRIO
que se instalaron con el software Test Universe (a menos que se cancelara su instalación) en
la carpeta "Doc". Encontrará hipervínculos directos a estos manuales en el tema de la Ayuda
en línea "Manuales de usuario de OMICRON Test Universe".

87
OMICRON Test Universe

Para un análisis más detallado de los resultados se pueden representar


gráficamente las tensiones y las corrientes pertenecientes al punto de prueba y
la reacción del relé (conmutación de los contactos de salida). Es posible medir
el tiempo con los cursores.

7.1 Ejemplo: Prueba de protección primaria de


distancia
Archivos de muestra:
• Distance-LFZR111.dst
• Distance-LFZR111.ohc
• Distance-LFZR111.rio
Guardados en: ...Ruta de instalación de OMICRON Test Universe\
Test Library\Samples\SW Manual Examples\Protection

 Tarea
Como parte de la rutina de mantenimiento en la subestación de Transmisión de
Green Valley, se tiene que verificar el funcionamiento del relé de protección
primaria de distancia del alimentador 2 (Dispositivo 21; consulte la figura 7-1).
El relé en cuestión es el LFZR 111 ajustado con una característica básica Mho
de operación de tres zonas. No se usan esquemas tales como POR o PUR.
Se supone que el relé ha sido previamente programado con los datos
necesarios y que el ingeniero que prueba el relé confirma estos ajustes y el
funcionamiento correcto. La prueba de cualquier característica DEF, Inst’
Overcurrent, IDMT Overcurrent o Bloqueo por variación de la potencia no se
considera en este ejemplo. Sin embargo, otros módulos dentro del grupo
Protection Package son capaces de realizar tales pruebas.
1. El relé opera correctamente para las faltas que ocurren dentro de las
respectivas zonas de protección. Por ejemplo, la zona de falta
monofásica a tierra se ve como un evento de la zona 1.
2. Algunos tiempos de disparo están dentro de la tolerancia nominal de
disparo.
3. Los resultados se representan en ambos formatos, tabular y en el plano
de impedancia.
4. El informe de los resultados se puede adaptar para incluirlo en el archivo
de la subestación sin alteración o edición.
5. Tipos de falta que se van a probar aquí: monofásica a tierra, fase a fase
y trifásica.

88
Distance

Figura 7-1:
El diagrama
esquemático muestra
un ejemplo del sistema
de transmisión. El relé a
probar está en la
subestación Green
Valley.

 Solución
En esta prueba de ejemplo se utiliza el módulo de prueba Distance en modo
autónomo.
El tiempo necesario para este ejemplo es de 30 – 60 minutos (modo simulación
o con un relé).
Equipo necesario:
• OMICRON Test Universe – que consta de la unidad de prueba trifásica
CMC 256 o 156, el grupo de programas Protection Package y los cables
de conexión.
• Multímetro, es decir, EnerLyzer para CMC 256 o Fluke.
• Todos los manuales relacionados con el relé.
• Conocimiento de los parámetros del sistema y su interconexión.
• La hoja de los ajustes característicos del relé – para los ajustes usados
en este ejemplo.

89
OMICRON Test Universe

7.1.1 Inicio del módulo de prueba Distance


Inicie el módulo de prueba Distance en modo autónomo desde la OMICRON
Start Page haciendo clic en D I S T A N C E .

7.1.2 Configuración del equipo en prueba


Para configurar el relé que está probando, utilice la función del software Equipo
en prueba.
Abra Equipo en prueba bien utilizando la opción del menú desplegable
P A R Á M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A o haciendo clic en el icono Equipo en
prueba de la barra de herramientas. En el cuadro de diálogo Equipo en prueba
se pueden examinar, acceder y editar los parámetros del equipo en prueba.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la sección
3 ”Configuración del equipo en prueba” del manual "El concepto" o en la ayuda
en línea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del índice.
En este ejemplo queremos importar de un archivo los parámetros del equipo en
prueba.
1. Seleccione P A R Á M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A para abrir el cuadro
de diálogo de datos específicos del equipo en prueba.
Usando el formato RIO/XRIO1, se pueden importar (y exportar)
fácilmente de archivos datos y parámetros de los relés (botones
"Importar" / "Exportar").
Algunos fabricantes de relés también usan el formato RIO/XRIO para
exportar los parámetros desde su programa de parametrización del relé
e importarlos directamente al Test Universe (p. ej., Disgi de Siemens).
Para obtener más información, póngase en contacto con el fabricante de
sus relés.
2. Importe el archivo Distance-LFZR111.rio para cargar los parámetros
del dispositivo de protección.
3. Ahora examine los ajustes de:
• Ajustes del sistema,
• Ajustes de zona,
• Ajustes de prueba por defecto.

1. Para obtener información técnica básica sobre el formato de archivos XRIO, consulte los
manuales de XRIO que se instalaron con el software Test Universe (a menos que se cancelara
su instalación) en la carpeta "Doc". Encontrará hipervínculos directos a estos manuales en el
tema de la Ayuda en línea "Manuales de usuario de OMICRON Test Universe".

90
Distance

Las figuras 7-2 a 7-4 muestran las correspondientes páginas estándar de


los parámetros de protección de distancia.
4. Cuando le parezca que todos los parámetros del equipo en prueba son
correctos, vuelva a la vista Prueba.

91
OMICRON Test Universe

Ajustes del sistema


Figura 7-2:
Página estándar de
Equipo en prueba para
los ajustes del sistema
después de cargar el
archivo Distance-
LFZR111.rio

"Parámetros del sistema" y "Factor de puesta a tierra" se pueden introducir a


partir de los datos calculados de los ajustes. Las tolerancias para el relé se
extraen de las hojas de datos característicos y se pueden introducir como
valores absolutos o relativos.
Nota: Los valores de tolerancia también se pueden introducir o editar
individualmente para cada zona en la ficha Ajustes de zona.
Simulación del interruptor se ajusta en 100 ms (en el bloque CB Configuration
de Equipo en prueba).

92
Distance

Ajustes de zona
Figura 7-3:
Página estándar de
Equipo en prueba para
los ajustes de la zona
después de cargar el
archivo Distance-
LFZR111.rio

Para obtener información acerca de cómo definir características nuevas o editar


las existentes, consulte la sección ”Consejo 2: Introducción de características”
en la página 103.

93
OMICRON Test Universe

Ajustes de prueba por defecto


Figura 7-4:
Página estándar de la
vista Prueba para los
ajustes de prueba por
defecto después de
cargar el archivo
Distance-LFZR111.rio

El "Modelo de prueba" es I de prueba constante (consulte la sección ”Consejo


1: El modelo de corriente (I) de prueba constante” en la página 103 si desea
más información).
• "Inicialización de la falta" se selecciona como aleatorio.
• "Componente CC" está seleccionado.
• "Referencia de tiempo" se selecciona como Inicialización de la falta.
• Se pueden ajustar los tiempos de "Pre-falta", "Falta" y "Post-falta" según
proceda.

94
Distance

7.1.3 Configuración del hardware


En este ejemplo queremos importar la configuración del hardware.
1. Haga clic en el icono Configuración del hardware para abrir la ventana
Configuración del hardware.
2. Haga clic en el botón "Importar" y seleccione el archivo Distance-
LFZR111.ohc para cargar los datos de configuración del hardware.
En este ejemplo, se usan tres canales de tensión y tres de corriente (ficha
Salidas analógicas), así como una entrada binaria para cada conexión
de los contactos de salida del relé de disparo (ficha Entradas binarias /
analógicas).
3. Cuando haya terminado, haga clic en A C E P T A R y vuelva a la vista
Prueba.
Nota: Todos los cambios realizados en la configuración del hardware
pueden guardarse en un nuevo archivo OHC y conservarse para uso
futuro.
Las conexiones físicas entre el equipo en prueba y el relé en prueba no
se describen aquí, dado que pueden cambiar de acuerdo con la
configuración del bloque de prueba, las anomalías del cableado
secundario y otras restricciones prácticas de la ingeniería.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Configuración del
hardware en la sección 4 ”Configuración del hardware de prueba” del manual
"El concepto" o en la ayuda en línea, en la entrada --- Configuración del
hardware --- del índice.

95
OMICRON Test Universe

7.1.4 Definición de la prueba


El procedimiento que se indica más adelante se puede seguir a efectos
didácticos. No obstante, para ahorrar tiempo, también se puede abrir el archivo
Distance-LFZR111.dst para cargar automáticamente todos los datos que
se utilizan en este ejemplo.
Si está creando una prueba nueva (es decir, si no utiliza el archivo de ejemplo
Distance-LFZR111.dst que se proporciona), guarde esta prueba con el
comando A R C H I V O | G U A R D A R C O M O . Asigne al archivo un nombre de su
elección (nombre.dst).

Paso 1: Definición de los ajustes de la prueba


En la vista Prueba de Distance seleccione la ficha Ajustes.
En este ejemplo queremos utilizar los ajustes de prueba por defecto definidos
en los parámetros del equipo en prueba como se ha indicado en la sección
”Ajustes de prueba por defecto” en la página 94.
Haga clic en el botón "Ajuste por defecto" para cargar estos ajustes. La ficha
Ajustes mostrará entonces los ajustes que aparecen en la figura 7-4 de la
página 94.

Paso 2: Definición de las condiciones del trigger


La ficha Trigger configura las condiciones del trigger para las entradas binarias.
En la figura 7-5 se muestra el contenido de esta ficha. Tenga presente que en
esta prueba sólo se utiliza una entrada binaria (el relé se debe haber ajustado
para usar este contacto en cualquier disparo).
Figura 7-5:
Ficha Trigger

La lógica del Trigger se ajusta en OR. El contacto de arranque no se usa en este


caso. Esta situación se indica por la "X" que aparece en la ventana de selección.

96
Distance

Paso 3: Definición de los puntos de prueba


El plano de impedancia de la ficha Disparo indica los datos de zona relevantes.
Ahora se pueden definir los puntos de prueba.
Figura 7-6:
Prueba de Distance
antes de ajustar el
procedimiento de
prueba

1. Seleccione cada punto de prueba del diagrama del plano de impedancia


con una pulsación del botón izquierdo del ratón (consulte la figura 7-7).
Figura 7-7:
Selección de un disparo
usando el ratón en el
plano de impedancia.

97
OMICRON Test Universe

2. Para añadir este punto de prueba a las tablas de puntos de prueba de


todos los tipos de falta (es decir, L1-E, L2-E,L1-L2, etc.), haga clic en el
botón "Añadir a..." y, a continuación, active la casilla de verificación
"Todos" en el cuadro de diálogo que aparece. Haga clic en A C E P T A R
para cerrar este cuadro de diálogo (consulte la figura 7-8).
Figura 7-8:
Adición de un punto de
prueba a las tablas de
puntos de prueba de
todos los tipos de falta

3. El punto de prueba se añade a las tablas de puntos de prueba de todos


los tipos de falta seleccionados como se muestra en la figura 7-9.
Figura 7-9:
Un punto de prueba
añadido a la tabla de
puntos de prueba

98
Distance

4. En este ejemplo, el ingeniero elige disparos de prueba a lo largo del


ángulo de la característica de la línea protegida para mostrar la exactitud
de los ajustes de la zona de alcance. Los puntos se muestran en la figura
7-10, siendo el procedimiento para introducir cada punto es el mismo que
se ha descrito anteriormente.
Figura 7-10:
Entrada completa de los
puntos de prueba (ficha
L1-L2-L3). Los mismos
puntos de prueba se
definen para los demás
tipos de falta.

5. Guarde esta rutina de prueba. Seleccione A R C H I V O | G U A R D A R o el


icono "Guardar" de la barra de herramientas, que guarda el archivo con
el nombre que ha elegido anteriormente, es decir nombre.dst.

7.1.5 Definición del informe de la prueba


Seleccione P A R Á M E T R O S | I N F O R M E . Se abrirá un cuadro de diálogo en el
que puede definir el rango de aplicación del informe.
Encontrará una descripción detallada sobre la definición de los informes de las
pruebas en la sección 5.2 ”Informes de prueba” del manual "El concepto" o en
la ayuda en línea en la entrada --- Informes de prueba --- del índice.
Seleccione V E R | I N F O R M E para ver el informe de la prueba.

99
OMICRON Test Universe

7.1.6 Ejecución de la prueba


Paso 1: Ejecución de la prueba
Una vez en el lugar de trabajo, instale el equipo y luego recupere la rutina de
prueba nombre.dst. Instale el cableado y verifíquelo. A continuación, puede
comenzar la prueba del relé de distancia LFZR111.
Comience la prueba haciendo clic en el icono "Comenzar" de la barra de
herramientas.
Haga una pausa en la prueba con el icono "Pausa" de la barra de herramientas.
Pare la prueba con el icono "Parar" de la barra de herramientas.
Durante la prueba, todo punto de prueba (disparo) se resalta cuando se está
probando. Una cruz verde después de la prueba indica que el punto de prueba
es correcto (cruz roja = incorrecto). Use el sistema de ayuda contextual si desea
más información sobre los demás símbolos de resultados y su significado. La
prueba debe ejecutarse automáticamente hasta probar el punto de prueba final
de la ficha L1-L2-L3.

Paso 2: Visualización del informe de la prueba


Seleccione V E R | I N F O R M E para ver el informe de la prueba. La figura 7-11
muestra el informe producido en este ejemplo. Puede recorrer el informe para
inspeccionar los resultados y determinar el formato del contenido del mismo.
Figura 7-11:
Vista Informe una vez
terminada la prueba

100
Distance

7.1.7 Análisis de determinados puntos de prueba


Si en el transcurso de la prueba desea analizar la respuesta del relé a un
determinado punto de prueba, puede
• realizar una prueba de disparo individual sin registrar resultados en el
informe
• o ver las señales.

Prueba de disparo individual sin registrar los resultados


Resalte el punto de disparo de prueba en la ficha del tipo de falta
correspondiente y haga clic en el icono de "Prueba individual" de la barra de
herramientas.
Se hace el disparo y se puede evaluar la reacción del relé repetidamente. No se
registra ningún resultado.

Visualización de las señales


Es posible ver las formas de onda aplicadas al equipo en prueba por el equipo
en prueba en un trazado de la magnitud versus el tiempo de la oscilografía.
1. Seleccione un punto de prueba de su interés en la tabla del tipo de falta
correspondiente.
2. Haga clic en el icono "Oscilografía" de la barra de herramientas o
seleccione V E R | O S C I L O G R A F Í A .
La salida de las formas de onda del equipo en prueba se muestra en
pantalla con representación gráfica de las entradas binarias, que han
sido, en este caso, la condición de disparo de la señal.
Se pueden hacer las medidas por medio de los cursores; se puede
evaluar, por ejemplo, un tiempo de disparo que se haya indicado (figura
7-12).
Nota: La oscilografía de un disparo de prueba se puede exportar al
informe de la prueba.

101
OMICRON Test Universe

Figura 7-12:
Oscilografía que
muestra las ondas
correspondientes al relé
y el estado del canal
binario de disparo de la
entrada

3. Seleccione A R C H I V O | G U A R D A R , e introduzca el nombre de un


archivo .DST.

102
Distance

7.1.8 Consejos

Consejo 1: El modelo de corriente (I) de prueba constante


El modelo de corriente (I) de prueba constante supone una fuente de corriente
teórica (de impedancia infinitamente grande) conectada al bucle de falta. La
tensión de prueba se calcula a partir del producto de la corriente constante y de
la impedancia total del bucle de falta.

Consejo 2: Introducción de características


La introducción de características se explica en las páginas estándar de los
datos específicos del equipo en prueba.
1. Para introducir un detalle nuevo de la zona, haga clic en Nuevo en la ficha
Ajustes de zona de la ventana "Parámetros para el equipo protegido".
La figura 7-13 muestra la ficha Ajustes de zona.
Figura 7-13:
Página estándar al
añadir una nueva
característica de zona.
Haga clic en "Nuevo" y
después en "Editar...".

103
OMICRON Test Universe

2. Ahora haga clic en E D I T A R . . . para abrir el Editor de característica.


Figura 7-14:
Editor de característica

3. Para introducir una característica de disparo Mho en la zona 1, primero


haga clic en el icono "Mho" de la sección "Formas predefinidas". Ajuste
el alcance hacia delante hasta el valor requerido desde la hoja de ajustes.
El resultado tiene que ser como se muestra en la figura 7-15.
Figura 7-15:
Definición de una
característica Mho
usando formas
predefinidas y
ajustando el alcance
hacia delante

104
Distance

4. Haga clic en A C E P T A R para volver a la ficha Ajustes de zona.


Se muestra la característica en el plano de impedancia limitada a la
derecha por los bordes de la tolerancia relevante, que se representan con
una línea quebrada. La información asociada se introduce marcada en
negro en la tabla en el lado izquierdo. Z1 está actualmente activa, la
característica Mho mostrada es funcional para todos los bucles de falta
(es decir, P-E, P-P, 3P) y se define como la característica de disparo.
Las tolerancias relativas para la impedancia Z (medición) y T (tiempo de
operación) se pueden ajustar aquí también junto con el tiempo nominal
de disparo para Z1.
5. Repita el proceso antes mencionado para añadir zonas adicionales.

Consejo 3: Edición de una zona existente


La edición de una zona existente se explica en las páginas estándar de los
datos específicos del equipo en prueba.
1. Resalte la zona correcta en la lista.
2. Haga clic en "Editar...".
3. Realice los ajustes necesarios de los datos en el "Editor de característica"
y haga clic en A C E P T A R .

Consejo 4: Ajustes del relé


CTR/VTR = 0,38
Ajuste del alcance Z1
0,8 x 100 x 0,484∠80° x 0,38 = 14,71∠80° Ohmios seg
Ajuste de alcance Z2
(100 + 30) x 0,484∠80° x 0,38 = 23,9∠80° Ohmios seg
Ajuste de alcance Z3
160 x 1,2 x 0,484∠80° x 0,38 = 35,31∠80° Ohmios seg
Desplazamiento (Offset) hacia atrás Z3
0,1 x 14,71∠80° = 1,41∠80° Ohmios seg
Factor de compensación del neutro de falta a tierra (kzn)
Kzn = (Zl0-Zl1) / 3Zl1 = 0,79∠-6,5°
Ajuste del relé usado kzn = 0,79∠74°

105
OMICRON Test Universe

106
ARC

8 ARC
El módulo de prueba Autoreclosure se usa para probar procesos de recierre
automático junto con una protección de línea.
Para probar los procesos de recierre automático (AutoReClosing - ARC), el
módulo de prueba Autoreclosure emite un cortocircuito ajustable del suministro
eléctrico hacia la protección de línea. Los comandos de disparo de la protección
y los comandos de cierre del interruptor de potencia (IP) del recierre automático
se miden e introducen en una simulación integrada de interruptores de potencia.
Con este método, las señales de corriente y tensión de un tiempo muerto se
simulan en tiempo real y se emiten hacia el equipo en prueba.
El módulo de prueba Autoreclosure ofrece dos modos de prueba:
• Secuencia fallida
• Secuencia exitosa
con cualquier número de ciclos de recierre (ciclos de AR).
Con cada ciclo de AR, las siguientes magnitudes se evalúan y registran
automáticamente en un informe de prueba en formato tabular:
• tiempo de disparo
• modo de disparo (disparo monopolar / tripolar)
• tiempo muerto
• duración del cierre de IP
• disparo final
Las señales de corriente y tensión, los comandos de disparo y de IP activado,
así como otras señales binarias, se muestran en la oscilografía.

107
OMICRON Test Universe

Figura 8-1:
Una secuencia típica
de AR

8.1 Configuración del módulo de prueba


Autoreclosure
Inicie el módulo de prueba Autoreclosure en modo autónomo desde la
OMICRON Start Page haciendo clic en Autoreclosure.

8.1.1 Configuración del equipo en prueba


Para configurar el relé que está probando, utilice la función del software Equipo
en prueba.
Abra Equipo en prueba bien utilizando la opción del menú desplegable
P A R Á M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A o haciendo clic en el icono de
E Q U I P O E N P R U E B A de la barra de herramientas. En el cuadro de diálogo
Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar los parámetros del
equipo en prueba.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la sección
3 ”Configuración del equipo en prueba” del manual "El concepto" o en la ayuda
en línea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del índice.

108
ARC

8.1.2 Configuración del hardware


Haga clic en el icono de Configuración del hardware de la barra de herramientas
o seleccione C O N F I G U R A C I Ó N D E L H A R D W A R E en el menú desplegable
PARÁMETROS.

Ficha General
Especifique la unidad de prueba que se utiliza en la ficha General.

Ficha Salidas analógicas


Por defecto se seleccionan las tensiones trifásicas y las corrientes trifásicas. Se
puede emitir también la tensión de falta y la corriente de falta. Esto permite
probar dispositivos de protección que requieren corrientes más altas.

Ficha Entradas binarias / analógicas


Por defecto, la entrada 1 se asigna al comando de disparo del dispositivo de
protección y la entrada 3 al comando IP activado. La señal 2 está preparada
para registrar cualquier otra señal del dispositivo de protección. Esta señal se
puede ajustar como "no usada". La selección de las señales binarias determina
si la falta se desactiva mediante un disparo tripolar o mediante un disparo
monopolar selectivo de la fase.
Si la falta se va a desactivar con esta última opción, no use el comando de
disparo.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Configuración del
hardware en la sección 4 ”Configuración del hardware de prueba” del manual
"El concepto" o en la ayuda en línea, en la entrada --- Configuración
del hardware --- del índice.

8.1.3 Ajustes de ARC en el módulo de prueba


Disparo y tiempos
Ajuste en esta ficha el tipo de falta, la tensión de falta, la corriente de falta y el
ángulo entre la tensión y la corriente de falta.
La descripción de la falta se crea automáticamente y puede modificarse. Los
tiempos máximos del comando de disparo y del pulso de AR revisten especial
importancia. Si no se detecta ningún comando de disparo dentro del tiempo
máximo especificado para el comando de disparo una vez emitida la falta, la
prueba se interrumpe. El tiempo muerto comienza en cuanto desaparece el
comando de disparo y termina con la aparición del comando IP activado. Si un
previsible comando IP activado no se detecta dentro del tiempo máximo
especificado, la secuencia de ejecución también se interrumpe.

109
OMICRON Test Universe

Secuencia fallida
En esta ficha se puede activar o desactivar la verificación de la secuencia fallida
y se puede especificar el número de ciclos. El ajuste correcto de esta última
opción depende de los ajustes del equipo en prueba. Por ejemplo, si el equipo
en prueba tiene configurados los parámetros para tres intentos de AR (un ciclo
de tiempo muerto corto y dos ciclos de tiempo muerto largo), el número de ciclos
tiene que ajustarse en tres.
En esta ficha se definen también los eventos a medir y el modo de evaluar cada
ciclo.
Nota: Los volcados de pantalla que aparecen en este manual muestran un
sistema operativo en inglés. Agradeceremos su comprensión.
Figura 8-2:
Parametrización de una
prueba de secuencia
fallida – columna
"Evento"

El tiempo muerto y el comando IP activado siempre se pueden capturar. Las


señales Disparo, Disparo L1, Disparo L2, Disparo L3 sólo se pueden
seleccionar en la columna "Evento" si estas señales están seleccionadas en la
configuración del hardware (consulte la figura 8-2).

110
ARC

En la columna "Modo de evaluar" (consulte la figura 8-3) se pueden seleccionar


los siguientes ajustes:
Sólo registrar: sólo se registra el resultado; no se realiza ninguna
evaluación
Tiempo: la evaluación se realiza según los ajustes de Tnom y Tdesv
Esperado: la evaluación es positiva si el evento se produce dentro del
tiempo máximo
No esperado: la evaluación es positiva si el evento NO se produce dentro
del tiempo máximo.
Figura 8-3:
Parametrización de una
prueba de secuencia
fallida – columna "Modo
de evaluar"

El ciclo "Final" está configurado por defecto y no se puede cambiar. Con este
ciclo se prueba el disparo trifásico final y se verifica que no se produce ningún
otro comando IP activado.

Secuencia exitosa
En esta ficha se puede activar o desactivar la verificación de la secuencia
exitosa y se puede especificar el número de ciclos. El número de ciclos para la
secuencia exitosa debe ser como mínimo 1 e igual o menor que el número de
ciclos ajustado para la secuencia fallida.
Los ajustes de los eventos y del modo de evaluar se toman de la secuencia
fallida y no se pueden cambiar aquí.
El ciclo "Final" está configurado por defecto y no se puede cambiar. Con este
ciclo se prueba si no se produce un nuevo disparo.

111
OMICRON Test Universe

8.2 Secuencia de una prueba de AR


La verificación de un AR correcto y de un AR incorrecto se puede realizar dentro
de una sola secuencia de prueba o mediante secuencias de prueba distintas.
Por defecto ambas pruebas están activadas.
Para ajustar los parámetros de prueba para las pruebas o para mostrar los
resultados, abra la ficha Secuencia fallida o Secuencia exitosa en la vista
Prueba.
La curva de señal correspondiente a la prueba seleccionada en ese momento
se muestra en la Oscilografía.
Toda prueba empieza por la salida del estado pre-falta.
Después, se repite la secuencia siguiente con arreglo al número de ciclos
especificado.
- Emisión del estado de falta, en espera de la aparición del comando de
disparo.
- 50ms después de la aparición del comando de disparo (tiempo de
conmutación de IP), el estado de falta se desactiva en el siguiente paso por
cero de las corrientes. La tensión y la corriente son cero. Si se indica el
comando de disparo, siempre se efectúa un disparo trifásico.
- Inicio del tiempo muerto, en espera de la aparición del comando IP activado.
- 50ms después de la aparición del comando IP activado, la falta se vuelve a
emitir.
La secuencia se interrumpe si no se detecta ningún comando IP activado dentro
del tiempo máximo.
Al probar una secuencia fallida, el estado de falta se emite después del último
recierre, a fin de probar el disparo trifásico. Transcurrido el tiempo máximo de
disparo, todas las tensiones y corrientes se desactivan.
Al probar la secuencia exitosa, el estado pre-falta (sistema sano) se emite tras
el último recierre, a fin de probar si no aparece ningún nuevo comando de
disparo durante el tiempo máximo de disparo.
Si se activan ambas pruebas, la secuencia fallida se prueba antes que la
exitosa. El tiempo máximo de cierre de IP se usa también como tiempo entre la
terminación de la secuencia fallida y el inicio de la secuencia exitosa.

112
ARC

8.3 Ejemplo 1: Ejemplo en modo simulación


Utilice el objetivo de prueba que figura a continuación para familiarizarse con el
uso del módulo en modo simulación antes de realizar por primera vez una
prueba concreta.

 Objetivo de la prueba
Un dispositivo de protección con función ARC está parametrizado de tal manera
que con cualquier tipo de falta se efectúan dos intentos de AR.
• Tensión nominal del equipo en prueba: 100V
• Corriente nominal del equipo en prueba: 1A

8.3.1 Ajustes del módulo de prueba


En la ficha Disparo y tiempos mantenga los ajustes por defecto.
La falta especificada por defecto es una falta L1-Tierra con una tensión de falta
de 0V y la corriente de falta ajustada al doble de la corriente nominal. En caso
de falta las tensiones y corrientes que se producen se muestran en el diagrama
vectorial.
Pase a la ficha Secuencia fallida. Aumente a 2 el número de ciclos.
Figura 8-4: ^

Ajustes del módulo de


prueba - Secuencia
fallida

113
OMICRON Test Universe

En la ficha Secuencia exitosa el número de ciclos también se preajusta


automáticamente en dos ciclos.
Figura 8-5:
Ajustes del módulo de
prueba - adopción
automática del número
de ciclos en la ficha
Secuencia fallida

Tenga presente que en esta ficha sólo se puede efectuar la activación o


desactivación de la secuencia y el ajuste del número de ciclos. Por este motivo,
toda la tabla figura con un tono gris.

8.3.2 Ejecución de la prueba


Una vez realizados estos ajustes, se puede empezar la prueba. Comience la
prueba haciendo clic en el icono Comenzar de la barra de herramientas o
seleccionando la opción de menú P R U E B A | C O M E N Z A R / C O N T I N U A R .

8.3.3 Resultados de la prueba


Los resultados de la prueba se muestran en las tablas de las fichas Secuencia
fallida y Secuencia exitosa.
Figura 8-6:
Representación de los
resultados de la prueba

En la Oscilografía se muestran las corrientes, tensiones y señales binarias a lo


largo de un eje temporal (consulte la figura 8-7).

114
ARC

Figura 8-7:
Resultados de la
simulación, vista
optimizada con la
función zoom

Para cambiar la representación de la oscilografía pasando de los resultados de


la secuencia fallida a los resultados de la secuencia exitosa, diríjase a la ficha
correspondiente de la vista Prueba.

115
OMICRON Test Universe

8.4 Ejemplo 2: Pruebas de ARC para un SIEMENS


7SA511
Se probará la función de recierre automático de la protección de un alimentador.
El relé en cuestión es un Siemens 7SA511 con la opción ARC.
Archivo de muestra: AWE-7SA511.oar
Guardado en: ...Ruta de instalación de OMICRON Test Universe\
Test Library\Samples\SW Manual Examples\Protection

 Objetivo de la prueba
La función de recierre automático del relé de protección está activada. Está
parametrizada para dos ciclos de recierre, un tiempo muerto corto (recierre
automático rápido) y un tiempo muerto largo (recierre automático lento).
Nota: En muchos relés de protección el primer ciclo de AR se denomina tiempo
muerto corto (recierre automático rápido) y todos los ciclos subsiguientes se
denominan tiempo muerto largo (recierre automático lento).
En un primer paso se probará la función fundamental del ARC. La verificación
de los valores de tiempo ajustados tiene lugar en una segunda etapa.

Equipo necesario
1. Unidad de prueba CMC 156 o CMC 256
2. Software de prueba OMICRON Test Universe, versión 1.6 o posterior
3. Manual del relé
4. Conocimiento de los parámetros del sistema y su interconexión
5. Opcional: software Digsi para verificar los ajustes del relé

116
ARC

8.4.1 Ajustes del equipo en prueba


La función ARC de un dispositivo de protección depende de numerosos
parámetros. El operador de pruebas debe conocer en profundidad el significado
de estos parámetros y de sus ajustes.
En este ejemplo se supone la siguiente parametrización:
• Frecuencia: 50Hz
• Tensión secundaria nominal: 100V
• Tensión primaria nominal: 110kV
• Corriente secundaria nominal: 5A
• Corriente primaria nominal: 1000A
• El dispositivo de protección se dispara ante una tensión de falta de 0 V y una
corriente de falta del doble de la corriente nominal. En todos los tipos de falta
se efectúan dos intentos de AR (1 tiempo muerto corto + 1 tiempo muerto
largo).
• Tiempo de bloqueo tras un AR correcto: 3,0s
• Tiempo de bloqueo tras un AR incorrecto: 3,0s
• Tiempo muerto corto (monopolar): 1,20s
• Tiempo muerto corto (tripolar): 0,40s
• Tiempo muerto largo (monopolar): 0,80s
• Tiempo muerto largo (tripolar): 0,80s
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la sección
3 ”Configuración del equipo en prueba” del manual "El concepto" o en la ayuda
en línea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del índice.

117
OMICRON Test Universe

8.4.2 Prueba de la función Recierre


Ajustes del módulo de prueba
Las tensiones y corrientes nominales se ajustan como parámetros del equipo
en prueba. En la ficha Disparo y tiempos cambie la corriente IL1 a 10A.
Figura 8-8:
Modificación de la
corriente IL1 en la ficha
Disparo y tiempos

El módulo de prueba utiliza el tiempo máximo de cierre de IP como tiempo


muerto entre las pruebas relativas a una secuencia fallida y a una secuencia
exitosa. Es por este motivo que el tiempo debe ser mayor que el tiempo de
bloqueo tras un AR incorrecto.
En la primera prueba, los demás ajustes se dejan intactos.
En la ficha Secuencia fallida aumente a 2 el número de ciclos.

Uso del modo de prueba individual


Con una prueba individual puede verificar rápidamente el funcionamiento del
equipo en prueba. Con el modo de prueba individual se efectúa concretamente
la prueba que figura en la ficha seleccionada en ese momento en la vista
Prueba. Los resultados de la prueba no se incorporan al informe de la prueba.
Por ejemplo, el siguiente resultado se obtiene si comienza una prueba individual
mientras está seleccionada la ficha Secuencia fallida:

118
ARC

Figura 8-9:
Resultado de una
prueba individual
correspondiente a la
ficha Secuencia fallida

Este resultado confirma el funcionamiento esencialmente adecuado del equipo


en prueba.

119
OMICRON Test Universe

8.4.3 Prueba y evaluación de los tiempos


En la prueba final se registrarán los comandos de disparo en cada fase y se
verificará que se mantienen tiempos nominales importantes.

Ajustes del módulo de prueba


En la configuración del hardware, desactive la señal "Disparo" y active las
señales "Disparo L1", "Disparo L2" y "Disparo L3".
Figura 8-10:
Activación de Disparo
L1, Disparo L2 y
Disparo L3 en la
configuración del
hardware

En la ficha Secuencia fallida deseamos especificar 4 eventos por ciclo.


Para ello, seleccione el ciclo correspondiente haciendo clic en la columna
"Ciclo". Seleccione a continuación "Añadir evento". Repita el proceso hasta
asignar 4 eventos al ciclo.
En cuanto al tiempo muerto, cambiamos el modo de evaluar a "Tiempo" y
especificamos los siguientes parámetros con arreglo a los tiempos nominales
del equipo en prueba:
• Tiempo muerto corto (monopolar): 1,20s
• Tiempo muerto corto (tripolar): 0,40s
• Tiempo muerto largo (monopolar): 0,80s
• Tiempo muerto largo (tripolar): 0,80s

120
ARC

Dado que se emite una falta L1-E, el tiempo muerto del primer ciclo tiene que
ser 1,2s. El tiempo muerto del segundo ciclo será 0,8s. Para las tolerancias de
tiempo seleccionamos el valor 100ms.
En el primer ciclo, un error monopolar dará lugar a un único disparo monopolar.
Compruebe esto ajustando el modo de evaluar del Disparo L1 en "Esperado", y
del L2 y L3 en "No esperado".
En la figura 8-11 se muestra la ficha Secuencia fallida con la configuración
completa.
Figura 8-11:
Ficha Secuencia
fallida con todos los
ajustes de la
configuración

Los ajustes de la ficha Secuencia exitosa ya son correctos. Ahora ambas


pruebas están activadas.
Empiece ambas pruebas haciendo clic en el icono de comenzar o
seleccionando la opción de menú P R U E B A | C O M E N Z A R / C O N T I N U A R .

121
OMICRON Test Universe

8.4.4 Resultados de la prueba


Los resultados de la prueba se muestran en las tablas de las fichas Secuencia
fallida y Secuencia exitosa.
Figura 8-12:
Ejemplo del resultado
de una prueba en la
ficha Secuencia fallida

Figura 8-13:
Ejemplo del resultado
de una prueba en la
ficha Secuencia
exitosa

122
ARC

En la Oscilografía los dos cursores se ajustan de manera que se pueda leer la


duración del comando IP activado.
Figura 8-14:
Resultado de la prueba
en la oscilografía

En caso de AR incorrecto, el comando de disparo interrumpe el comando IP


activado. La duración máxima del comando IP activado sólo se da en caso de
AR correcto. El valor medido 503,5ms cumple de forma muy exacta el
parámetro del equipo en prueba, fijado en 0,50s.

Informe
Junto con los ajustes básicos, la vista Informe muestra los parámetros del
equipo en prueba, los valores de falta y las tablas correspondientes a la
secuencia fallida y exitosa.
Si se va a añadir la oscilografía al informe de la prueba, debe ajustarse el
formato "detallado" de informe con la opción de menú P A R Á M E T R O S |
INFORME.
La oscilografía se añade entonces al informe tal como está ajustada en la
pantalla en ese momento (incluido el factor de zoom y los ajustes de cursor).

123
OMICRON Test Universe

124
Differential

9 Differential
El módulo de prueba Differential proporciona una solución compacta para
efectuar pruebas de relés de protección diferencial de generador, barra y
transformador, realizando pruebas de característica de operación (valor de
arranque, prueba de pendiente) y la función de bloqueo por avalancha (prueba
de frenado por armónicos) en modo monofásico, p. ej. para 3 relés de
protección monofásica por equipo en prueba.
Tenga presente que las pruebas trifásicas que conlleven eliminación de
homopolar y compatibilización de grupos vectoriales precisan el módulo de
prueba Advanced Differential del paquete Advanced Protection.

9.1 Acerca de Differential


Los puntos de prueba se definen en el plano Idiff/Ipol, ya sea con el ratón o
usando el teclado para la prueba de la característica de operación.
Figura 9-1:
Differential - diagrama
de la característica de
operación

Differential proporciona también un entorno de pruebas apropiado para la


función de frenado por armónicos. Se puede definir la amplitud del componente
fundamental y el porcentaje del armónico superpuesto para cada uno de los
puntos de prueba.

125
OMICRON Test Universe

Figura 9-2:
Differential - plano de
prueba del frenado por
armónicos

Las corrientes de prueba pertenecientes a los puntos de prueba se inyectan al


relé y se evalúa la reacción del relé.
Insertando varios módulos Differential en un documento del OMICRON Control
Center , se pueden probar automáticamente diferentes bucles de falta.

126
Differential

9.2 Ejemplo: Relé de transformador diferencial


Archivo de muestra: Differential D21 se2.occ
Guardado en: ...Ruta de instalación de OMICRON Test Universe\
Test Library\Samples\SW Manual Examples\Protection

 Tarea
El trabajo del operador de pruebas es probar un relé convencional del
transformador diferencial de protección BBC D21 SE2 (Relé de Brown Boveri)
en una estación de potencia como una parte de un amplio programa de
pruebas.
Este relé protege un transformador de 2 devanados con los siguientes datos
nominales:
Grupo vectorial YD5 el lado en Y está conectado a tierra
Potencia: 38,1 MVA
Tensión nominal (primario): 110 kV
Tensión nominal (secundario): 11 kV
Corriente nominal (primario): 200 A
Corriente nominal (secundario): 2000 A

 Solución
En el ejemplo que sigue, utilizamos el módulo de prueba Differential incrustado
en el OMICRON Control Center.
Durante la prueba, el módulo de prueba Differential analiza y evalúa si los
valores medidos se encuentran dentro de la banda de tolerancia definida y
evalúa la prueba como "correcta" o "incorrecta". Todos los valores introducidos
y los valores medidos se registran automáticamente para permitir una
visualización detallada del proceso de prueba después de haber completado la
prueba.
Nota: Si tiene que realizar solamente una prueba, puede ser conveniente iniciar
el módulo de prueba Differential como programa autónomo (sin iniciar
previamente el OMICRON Control Center).
Sin embargo, todas las funciones disponibles de protección de un relé se
probarán normalmente de forma secuencial. En estos casos, tiene mayor
sentido incrustar el módulo de prueba varias veces en el documento de prueba
y cambiar entonces los ajustes de cada caso incrustado para una prueba
apropiada.

127
OMICRON Test Universe

9.2.1 Cableado entre el relé de protección y la unidad CMC


1. Conecte las entradas de corriente del relé de protección a las
correspondientes salidas de corriente de la unidad de prueba CMC.
2. Conecte la señal de disparo del relé de protección a la entrada binaria 1.
Figura 9-3:
Unidad de prueba
CMC 256, vista frontal

Conectar a Conectar señal de disparo del relé a la


entradas de entrada binaria 1
corriente del
relé de protección

9.2.2 Inicio de Differential desde el OCC


Inicie el OMICRON Control Center desde la Start Page haciendo clic en A B R I R
U N D O C U M E N T O V A C Í O . Inserte Differential en el documento del OCC
seleccionando la opción de menú I N S E R T A R | M Ó D U L O D E P R U E B A . . . |
O M I C R O N D IFFERENTIAL.

9.2.3 Configuración del equipo en prueba


Para configurar el relé que está probando, utilice la función del software Equipo
en prueba.
Abra Equipo en prueba bien utilizando la opción del menú desplegable
P A R Á M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A o haciendo clic en el icono de
E Q U I P O E N P R U E B A de la barra de herramientas. En el cuadro de diálogo
Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar los parámetros del
equipo en prueba.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la sección
3 ”Configuración del equipo en prueba” del manual "El concepto" o en la ayuda
en línea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del índice.

128
Differential

Paso 1: Inserción del equipo en prueba y definición de los


ajustes del dispositivo
1. Seleccione I N S E R T A R | E Q U I P O E N P R U E B A para abrir el cuadro de
diálogo correspondiente a los datos específicos del equipo en prueba, y
especifique los ajustes de dispositivo del relé sometido a prueba.
2. En el cuadro de diálogo de los datos específicos del equipo en prueba,
seleccione "Differential" como función del equipo en prueba y defina los
parámetros de protección diferencial como se indica en el siguiente paso
2.

Paso 2: Definición de los parámetros de protección


diferencial
Las figuras 9-4 a 9-6 muestran las páginas estándar de los parámetros de
protección diferencial. El relé de protección BBC D21 SE2 tiene los siguientes
parámetros adicionales.
Las fórmulas, que se presentan más adelante, se encuentran en el manual del
relé. Los parámetros ajustables g y v definen la característica de operación.
Valor del offset: g = 20% g = (I1-I2)/In a Ipol = 0
Pendiente: v = 50% v = (I1-I2)/0,5(I1+I2)
Las siguientes ecuaciones son válidas de acuerdo con la hoja de datos para las
diferentes partes de la característica:
Ipol/In = 0... 0,5 Idiff/In = 20% o 0,2
Ipol/In = 0,5... 3 Idiff = In*g + (Ipol-0,5In)*v
Introducción de los valores en la ecuación:
Idiff = 5A*0,2 + (Ipol-0,5*5A)*0,5
Por lo tanto: Ipol/In = 0,5... 3 e In = 5A
Idiff = 0,5 Ipol- 0,25 (1)

129
OMICRON Test Universe

Figura 9-4:
Página estándar de los
parámetros de
protección diferencial:
Ficha Dispositivo de
protección

Figura 9-5:
Página estándar de los
parámetros de
protección diferencial:
Definición de la
característica basada
en la ecuación

130
Differential

La característica de operación se ha obtenido experimentalmente porque la


hoja de datos del relé no contiene una característica precisa. En la lista se
cuenta solamente con una estabilización implementada sobre el segundo
armónico.
Figura 9-6:
Página estándar de los
parámetros de
protección diferencial:
Armónicos,
característica
experimental derivada
de la estabilización de la
corriente de avalancha

9.2.4 Configuración del hardware


Configure el hardware de acuerdo con el cableado descrito en la sección
9.2.1 ”Cableado entre el relé de protección y la unidad CMC”.
Encontrará una descripción detallada del cuadro de diálogo Configuración del
hardware en la sección 4 ”Configuración del hardware de prueba” del manual
"El concepto" o en la ayuda en línea, en la entrada --- Configuración
del hardware --- del índice.

131
OMICRON Test Universe

9.2.5 Definición de la prueba

Paso 1: Inserción del módulo de prueba Differential en el


documento de prueba
1. Haga clic en el icono Differential de la barra de herramientas de los
módulos de prueba
o
2. Seleccione I N S E R T A R | M Ó D U L O D E P R U E B A o haga clic en el icono
correspondiente de la barra de herramientas y seleccione luego
"OMICRON Differential".

Paso 2: Definición de la prueba de la característica de


operación
La prueba se lleva a cabo por separado para cada fase. Si la característica de
operación se debe probar para las tres fases, la prueba tiene que repetirse para
las otras fases. En esta sección sólo se describe la prueba correspondiente a la
primera fase.
Coloque los puntos de prueba inmediatamente debajo y encima de la
característica: El relé debe estabilizar para todos los puntos a la derecha y por
debajo de la característica; todos los puntos a la izquierda y por arriba de la
característica dan por resultado un disparo en el tiempo típico de operación.
El tiempo de disparo es determinado por el módulo de prueba y se introduce en
una tabla; se actualizan los puntos de prueba en el plano diff-pol y al mismo
tiempo se genera el protocolo en el fondo en función de los datos actualizados.
Tabla 9-1:
Puntos de prueba Idiff Ipol Tiempo Idiff Ipol Tiempo
nominal nominal

0,30 I/In 0,40 I/In 0,05 s 0,80 I/In 4,00 I/In Sin disparo
0,10 I/In 0,40 I/In Sin disparo 1,70 I/In 6,00 I/In 0,05 s
0,60 I/In 2,00 I/In 0,05 s 1,30 I/In 6,00 I/In Sin disparo
0,40 I/In 2,00 I/In Sin disparo 1,80 I/In 8,00 I/In Sin disparo
1,20 I/In 4,00 I/In 0,05 s 0,30 I/In 0,40 I/In 0,05 s

132
Differential

Figura 9-7:
Nueve puntos de
prueba para probar la
característica de
operación definida

Paso 3: Definición de la prueba de la característica de


corriente de avalancha
Esta prueba también se ejecuta por separado para cada fase. Se describe la
prueba para la primera fase.
Se superpone un segundo armónico sobre la onda a 50 Hz. El porcentaje del
armónico se puede elegir de acuerdo con el punto de prueba. Los puntos de
prueba se muestran en la característica (figura 9-7) como en la prueba de la
característica de operación. El relé tiene que estabilizar para todos los puntos a
la derecha y por debajo; los puntos a la izquierda y por arriba de la característica
dan por resultado un disparo.
Tabla 9-2:
Puntos de prueba Idiff I2/Idiff Reacción nominal
0,30 I/In 5% Disparo
0,30 I/In 15% Disparo
0,50 I/In 18% Disparo
0,50 I/In 22% Estabilización
1,00 I/In 18% Disparo
1,00 I/In 23% Estabilización
1,50 I/In 21% Disparo
1,50 I/In 26% Estabilización
2,00 I/In 29% Estabilización

133
OMICRON Test Universe

Figura 9-8:
Nueve puntos de
prueba para probar la
característica de
estabilización de la
avalancha

134
Differential

9.2.6 Ejecución de la prueba


1. Haga clic en el icono de C O M E N Z A R / C O N T I N U A R P R U E B A de la barra
de herramientas para comenzar la prueba.
2. Al terminar, los resultados de la prueba se muestran como en las figuras
9-9 y 9-10.
Figura 9-9:
Resultado de la prueba
de característica de
operación con
evaluación automática

Figura 9-10: bc

Resultado de la prueba
de estabilización de
avalancha con
evaluación automática

135
OMICRON Test Universe

9.2.7 Definición del informe de la prueba


Puede definir ahora el informe de la prueba
• directamente en el módulo de prueba Differential usando el comando del
menú P A R Á M E T R O S | I N F O R M E
• o bien en el OMICRON Control Center usando la opción de menú
PRUEBA | INFORME.
Encontrará una descripción detallada sobre la definición de los informes de las
pruebas en la sección 5.2 ”Informes de prueba” del manual "El concepto" o en
la ayuda en línea en la entrada --- Informes de prueba --- del índice.

136
Pruebas monofásicas y salida de magnitudes de falta

10 Pruebas monofásicas y salida de


magnitudes de falta
10.1 Introducción
Con el fin de alcanzar una potencia de salida (o corriente, o tensión) más
elevada, los grupos de prueba y amplificadores de OMICRON permiten la
conexión en serie o en paralelo de salidas analógicas. De este modo, se puede
probar la mayoría de los relés electromecánicos con el CMC 256. Para casos
de prueba en los que la potencia de una prueba trifásica no sea suficiente,
OMICRON ha desarrollado el Modo monofásico, que se encuentra disponible
en los módulos de prueba Distance, Advanced Distance y Overcurrent. En las
siguientes explicaciones se describe cómo trabajar con el modo monofásico así
como con el Modelo de faltas monofásicas, que constituye la base para las
pruebas de todos los bucles de falta con fuentes monofásicas.

10.2 Relés electromecánicos y el Modelo de faltas


monofásicas
Los relés electromecánicos tienen requisitos especiales en cuanto a las
unidades de prueba electrónicas, dado que la demanda de potencia de las
entradas de corriente y de tensión puede ser considerablemente más elevada
que con los relés numéricos modernos. En el pasado, los amplificadores de
potencia se solían utilizar junto con unidades de prueba electrónicas para
excitar las cargas altas de los relés electromecánicos. En comparación con sus
predecesores, el CMC 256proporciona una potencia de salida
considerablemente mayor, que amplía en gran medida el rango de aplicación
para aplicaciones trifásicas. Muchos relés electromecánicos pueden probarse
sin amplificadores de potencia adicionales. Los relés que sigan necesitando
potencia más elevada pueden probarse con los amplificadores OMICRON
CMS 251 o CMS 252.
Generalmente, en modo de funcionamiento monofásico, las unidades de
prueba pueden obtener por fase mucha más potencia que en modo trifásico.
Para obtener esta potencia adicional, pueden conectarse varias fases juntas.
Habitualmente, las salidas de tensión están conectadas en paralelo, para
incrementar la corriente de salida. Además, las fuentes de corriente se conectan
en paralelo para incrementar la corriente de salida o se conectan en serie para
lograr una tensión de fuente más alta.

137
OMICRON Test Universe

Los módulos de prueba OMICRON Distance, Advanced Distance y Overcurrent


pueden configurarse para que obtengan lo que se denomina comúnmente
"magnitudes de falta". Las magnitudes de falta denotan corrientes y tensiones
que tipifican la falta. Estas magnitudes de falta están asignadas a fuentes
monofásicas de corriente y tensión. Consecuentemente, se elige una
configuración de unidad de prueba que proporcione la potencia (o corriente, o
tensión) de salida óptima.

10.3 Salida de las magnitudes de falta para pruebas


de protección de distancia
Los relés electromecánicos de distancia tienen una propiedad que puede ser
esencial para las pruebas: se suelen utilizar como circuitos de un solo relé, es
decir, el circuito de medición y el circuito para detección direccional sólo está
presente una vez, no por fase. Cuando se detecta una condición de arranque,
empieza a funcionar un circuito de selección de fase, el cual conecta las
magnitudes de falta con los circuitos para determinar la impedancia y la
dirección.
Este circuito de un solo relé puede usarse para pruebas. De este modo, es
posible probar los relés de este tipo en modo monofásico, lo que significa hacer
la prueba con una sola corriente y una sola tensión cada uno. El circuito de
selección de fase se ocupa de que se suministre a los circuitos de medición esta
corriente y tensión exactas. El relé ignorará las magnitudes de las fases que no
tengan faltas, de modo que no es necesario generarlas.
Las magnitudes de falta son la corriente y la tensión, las cuales determinan la
impedancia de falta. El circuito de selección de fase suministra estas
magnitudes de falta al circuito de medición de impedancia. Dependiendo del
tipo de falta, las magnitudes son diferentes. En las dos figuras que aparecen a
continuación, se muestra la situación para faltas de fase a tierra y faltas de fase
a fase.

138
Pruebas monofásicas y salida de magnitudes de falta

Figura 10-1:
Tensiones y corrientes
para faltas de fase a
tierra.

Figura 10-2:
Tensiones y corrientes
para faltas de fase a
fase.

En el caso del ejemplo de faltas de fase a tierra, las magnitudes de falta son la
tensión de fase a tierra y la corriente de fase de la fase con falta.
En el caso del ejemplo de faltas de fase a fase, las magnitudes de falta
comprenden la tensión de fase a fase y las corrientes de la fase con falta. Las
corrientes bifásicas aparecen en el diagrama fasorial como dos corrientes con
magnitudes idénticas y señales opuestas. De hecho, hay una corriente que
fluye hacia el relé en una sola fase y fuera del relé en la otra. Sin embargo,
también en este caso, es suficiente una fuente para producir esta corriente de
prueba.

139
OMICRON Test Universe

El software de prueba instalado de esta manera realiza la salida de las


magnitudes de falta a través de las fuentes monofásicas sin la intervención
adicional del usuario. El resto de las funciones del módulo de prueba
permanecen inalterables, lo que significa que la especificación de
características y el ajuste de los puntos de prueba se realiza como si los relés
estuvieran conectados en modo trifásico. El usuario sólo tiene que comprobar
que las fuentes están conectadas correctamente a los terminales del relé, de
acuerdo con el tipo de falta. El software de prueba (Advanced) Distance
recuerda al usuario mediante un mensaje que el cableado debe ser modificado
al inicio de la prueba y ante cualquier cambio del tipo de falta.

140
Pruebas monofásicas y salida de magnitudes de falta

10.4 Ajustes de la configuración del hardware para


el uso del Modelo de faltas monofásicas
El uso de las fuentes presentes en la unidad de prueba se determina en la vista
de detalle de la configuración del hardware. Las combinaciones de fuentes
disponibles figuran en una lista y el cableado necesario se indica en un gráfico
situado al lado.
La figura 10-3 muestra una configuración típica de un CMC 256 para probar
relés electromecánicos de distancia con una corriente nominal de 1A.
Figura 10-3:
Vista de detalle de la
configuración del
hardware: una sola
selección posible para
funcionamiento en
modo monofásico.

La corriente máxima de prueba de 12,5A es totalmente suficiente en este caso.


Por tanto es posible conectar cuatro fuentes de corriente en serie, lo que
proporciona una tensión de excitación hasta de 60 V (valor pico). Con el
CMC 256, ya no se necesitan resistencias de compensación para garantizar
una distribución de tensión nivelada al conectar fuentes de corriente en serie.

141
OMICRON Test Universe

La tensión disponible procedente de las fuentes de tensión de esta unidad de


prueba, no viene determinada por la corriente nominal de los amplificadores,
sino por la fuente de alimentación respectiva. La corriente máxima puede
obtenerse desde una fuente única con el cableado que se indica.
La asignación de las magnitudes de falta a las fuentes monofásicas se realiza
en el cuadro de diálogo para las salidas analógicas. Las señales I Falta y
V Falta se seleccionan para sus fuentes de corriente y tensión respectivas.
Figura 10-4:
Configuración del
hardware, ficha Salidas
analógicas: asignación
de las magnitudes de
falta en los módulos de
prueba Advanced
Distance.

Figura 10-5:
Ejemplo de cableado
para una falta L-N
mostrado con un caso
especial de falta A-N. Equipo Relé en
en prueba
prueba

Figura 10-6:
Ejemplo de cableado
para una falta L-L
mostrado con un caso
especial de falta C-A. Equipo Relé en
en prueba
prueba

142
Pruebas monofásicas y salida de magnitudes de falta

10.5 Salida de las magnitudes de falta para pruebas


de Protección de sobrecorriente
Los relés de sobrecorriente requieren a menudo corrientes elevadas para
probar los >>elementos I. El CMC 256 puede generar 25 A en modo trifásico.
Para obtener esta potencia adicional, pueden conectarse varias fases juntas.
Habitualmente, las salidas de tensión están conectadas en paralelo, para
incrementar la corriente de salida. Además, las fuentes de corriente se conectan
en paralelo para incrementar la corriente de salida o se conectan en serie para
lograr una tensión de fuente más alta. Si esta corriente sigue siendo
insuficiente, el paralaje de salidas permite la emisión de hasta 75 A en modo
monofásico. Adicionalmente, algunos relés electromecánicos de sobrecorriente
requieren una tensión de salida elevada del dispositivo de prueba, cuando es
necesaria una conexión en serie de las salidas de corriente, lo que implica de
nuevo el uso del modo monofásico.
En el módulo de prueba Overcurrent, el ajuste de la configuración del hardware
se realiza exactamente como se describe anteriormente, es decir, mediante
asignación de I Falta y V Falta.
Las magnitudes de falta son la corriente de falta L-N o L-L y una tensión L-N.
Evidentemente, no pueden probarse las faltas trifásicas, las faltas homopolares
y las faltas de secuencia negativa.
Para relés no-direccionales, sólo es necesaria una fuente de corriente. El ajuste
es muy sencillo puesto que se admiten todas las faltas L-N y L-L.
Para los relés direccionales, los tipos de faltas admitidos dependen de la
combinación de las fuentes de tensión y corriente.

143
OMICRON Test Universe

10.6 Fuente de corriente monofásica y fuente de


tensión trifásica
Aunque, por razones de demanda de tensión en el trayecto de la corriente, se
elija una fuente de corriente monofásica, la alimentación del relé mediante
tensiones trifásicas sigue siendo posible en la mayoría de los casos.
El relé tiene todas las tensiones disponibles para decidir el direccionamiento. En
faltas L-N, el relé puede usar la tensión L-N de la fase en falta o la tensión L-L
de las fases sin falta. En faltas L-L, el relé puede usar la tensión L-N de la fase
sin falta, una de las tensiones L-N de las fases en falta o la tensión L-L de las
fases en falta.
En este caso, se admiten todos los tipos de falta L-N y L-L.
Tabla 10-1:
I Falta generada en
Tipo de falta I Falta
función del tipo de falta.
A-N IA

B-N IB

C-N IC

A-B IA = -IB

B-C IB = -IC

C-A IC = -IA

144
Pruebas monofásicas y salida de magnitudes de falta

10.7 Fuente de corriente monofásica y fuente de


tensión monofásica
Si sólo se dispone de tensión monofásica, las pruebas de faltas L-L pueden
resultar especialmente delicadas. Por este motivo, sólo se admiten faltas L-N
cuando se usan fuentes monofásicas tanto para corriente como para tensión.
Las pruebas de faltas L-N se realizan presuponiendo que la tensión de la fase
en falta se usa para la decisión direccional.
Tabla 10-2:
I Falta y V Falta
Tipo de falta I Falta V Falta
generadas en función
del tipo de falta
A-N IA VA-N

B-N IB VB-N

C-N IC VC-N

145
OMICRON Test Universe

146
Herramientas de prueba

11 Herramientas de prueba
La sección Herramientas de prueba de OMICRON Test Universe presenta
aplicaciones autónomas adicionales para tareas de pruebas específicas. Puede
encontrarlas en la Start Page en "Herramientas de prueba".

11.1 TransPlay
TransPlay es un programa que funciona independientemente de OMICRON
Test Universe y del concepto del módulo de prueba incrustado. Realiza
reproducciones de los datos transitorios usando una unidad de prueba CMC. Se
pueden reproducir archivos de duración considerable. La única limitación es la
capacidad del disco duro del PC.
Nota: EnerLyzer y TransPlay no se pueden ejecutar en paralelo porque
TransPlay está descargando datos constantemente y requiere todos los
recursos disponibles. EnerLyzer y Advanced TransPlay se pueden ejecutar en
paralelo porque Advanced TransPlay descarga la señal completa y el
procesamiento restante tiene lugar íntegramente en la unidad de prueba.

11.1.1 Características de TransPlay


• Reproducción de archivos múltiples
• Soporte de formatos de archivo transitorio de 16 bits WAV y Comtrade
• Reproducción de datos de archivos transitorios en una oscilografía
• Especificación de las condiciones (externas) del trigger para inicializar la
reproducción
• Especificación de la velocidad de muestreo de reproducción en el rango
de 1 a 10 kHz
• Especificación de las relaciones de transformación y graduación de las
amplitudes
• Registro de las entradas binarias
• Inversión de cada canal

147
OMICRON Test Universe

11.1.2 Ejemplo de uso de TransPlay


Archivos de muestra:
• Aa12zf.cfg
• Aa12zf.dat
Guardados en:
...Ruta de instalación de OTU\Test Library\Samples\SW Manual
Examples\Protection

 Tarea
Se requiere la salida de señal transitoria con tres canales de tensión y tres
canales de corriente.
La señal se presenta en forma de archivo en formato COMTRADE (archivo CFG
y DAT).

 Solución
Este ejemplo se basa en un informe de falta. La señal registrada tiene una
corriente máxima de aproximadamente 30 A. Por lo tanto, se debe usar el
amplificador de corriente CMA 156. Este amplificador permite la emisión de los
siguientes valores máximos de corriente en un triple de corriente (A o B):
• 25 Aef x 2 = 35,355 Apico
• o bien, 70,71 Apico si ambos triples de corriente están conectados en
paralelo.

148
Herramientas de prueba

Paso 1: Inicio de TransPlay


Inicie TransPlay desde la Start Page de OMICRON Test Universe
seleccionando H E R R A M I E N T A S D E P R U E B A . . . | T R A N S P L A Y .
Figura 11-1:
Interfaz del usuario de
TransPlay

Paso 2: Especificación de la configuración del hardware


Haga clic en el icono de la barra de herramientas Configuración del hardware
para abrir el cuadro de diálogo Configuración del hardware con la ficha
Dispositivo de prueba.

149
OMICRON Test Universe

Ficha Dispositivo de prueba


Figura 11-2:
Configuración del
hardware: información
acerca del dispositivo
de prueba.

Durante el inicio, TransPlay identifica el equipo de prueba conectado (en el


ejemplo es un CMC 156 con el número de serie CH707C).
Nota: Haga clic en el botón "Rebuscar" si el programa se inicia primero en el
modo de simulación y el dispositivo de prueba se conecta o enciende
posteriormente. Se detecta el hardware y se inicializa automáticamente.
Ficha Amplificador
Figura 11-3:
Configuración del
hardware: asignación
de los amplificadores.

150
Herramientas de prueba

Ficha Entradas binarias


Las entradas binarias se ajustan en la ficha Entradas binarias (sin potencial o
con valor límite o umbral).
Figura 11-4:
Configuración del
hardware: umbral de las
entradas binarias.

Paso 3: Carga del archivo de la señal


1. Haga clic en el botón " Añadir a lista..." de la vista Prueba de TransPlay.
Figura 11-5:
Vista Prueba de
TransPlay

2. Aparece un cuadro de diálogo de la selección. Seleccione el archivo de


señal que le interesa (en el ejemplo el archivo COMTRADE
AA12ZF.CFG) y haga clic en el botón A B R I R .
3. Se abre el cuadro de diálogo para el filtro de Importación del archivo
comtrade.

151
OMICRON Test Universe

Figura 11-6:
Filtro de importación del
archivo comtrade

En este cuadro de diálogo se efectúan los siguientes ajustes:


• Se tienen que asignar las señales de tensión y de corriente (canales)
del archivo Comtrade a las salidas del amplificador físico.
• En el ejemplo mostrado hay un triple de tensión con 125 V, un triple
de corriente con 12,5 A, y otros dos triples con 25 A cada uno.
• Tiene que introducir además, la relación de transformación de la
tensión y/o de los transformadores de corriente.
Esto es necesario si el archivo COMTRADE contiene los valores
primarios. En este caso, el programa sugiere ya un valor.
Este ejemplo usa valores secundarios que los amplificadores
seleccionados pueden emitir sobre el rango completo. Por eso, la
relación de transformación es 1.
4. Al hacer clic en el botón A C E P T A R se aplican los ajustes. Ahora se carga
el archivo.
Durante el proceso de carga, la señal se convierte de formato
COMTRADE al formato WAV, que se usa para aplicaciones de audio.
Desde ahora en adelante, este formato de archivo se usa para todos los
procesos ulteriores internos al PC.
5. El nombre de archivo AA12ZF.WAV se presenta ahora (consulte la figura
11-7).

152
Herramientas de prueba

Paso 4: Después de la carga del archivo de la señal


Después de cargar el archivo AA12ZF.CFG, éste se representa en la ventana
de reproducción (consulte la figura 11-7). El área del lado derecho “Propiedades
del archivo” presenta información detallada acerca de la señal, p. ej.,
• Nombre (*.WAV)
• Duración de la reproducción
• Frecuencia de muestreo
• Canales en el archivo
Figura 11-7:
TransPlay después de
cargar el archivo
COMTRADE.

Si activa la casilla de verificación "Conservar archivos WAV convertidos", el


archivo WAV convertido estará disponible también cada vez que finalice la
herramienta de prueba TransPlay. En caso contrario, se borra el archivo cuando
se sale del programa.
Puede también cargar varios archivos en la ventana de reproducción. Estos
archivos se reproducirán en el orden asignado.

153
OMICRON Test Universe

Paso 5: Preparación de la salida de la señal


Dado que en el ejemplo se usa el amplificador CMA 156 para la salida de
corriente, hay que activar la casilla de verificación “Corrección del tiempo de
retardo” antes de reproducir el archivo.
Sin esta corrección, puede presentarse una falta de fase de aproximadamente
2° entre la tensión (unidad de prueba CMC) y la corriente (amplificador).
Nota: Este error de fase se corrige automáticamente y sin ninguna acción por
parte del usuario para las señales de salida de onda sinusoidal de los restantes
módulos de prueba.
Para este ejemplo, la salida de la señal debe ocurrir para una condición
específica del trigger.
1. Active la casilla de verificación “Habilitar trigger” y defina “Entrada 1”
como una condición del trigger.
Si define la condición del trigger "Trigger Ext.", el TransPlay espera una
señal del trigger desde la unidad de sincronización externa CMGPS, que
está conectada al enchufe circular del panel posterior del dispositivo de
prueba CMC antes de que éste inicie la emisión de la señal transitoria.
2. Abra el cuadro de diálogo Propiedades de reproducción haciendo clic
en su icono de la barra de herramientas.
Figura 11-8:
Propiedades de
reproducción de
TransPlay: Ficha
General

154
Herramientas de prueba

Ficha General
Aquí puede ajustar la frecuencia de reproducción de la emisión. El ajuste
por defecto es la frecuencia con la cual se ha registrado la señal. En la
mayoría de los casos, se emitirá la señal con la misma frecuencia. Por lo
tanto, puede dejar este valor inalterado.
En la práctica se puede usar, por ejemplo, para adaptar un evento de falta
en una fuente alimentación eléctrica de 60 Hz a otra de 50 Hz estirando
el eje de tiempo según el factor 60/50.
Nota: La frecuencia de reproducción se puede ajustar entre 1 y 100 kHz.
Pero las señales están limitadas a un máximo de 10 kHz por el dispositivo
de prueba.
Debido a la conversión, se añaden los valores calculados por las
interpolaciones lineales, o se reduce la frecuencia simple a 10.000 por
segundo si la frecuencia de registro fue más alta.
Si se han incluido frecuencias más altas que 5 kHz, pueden producirse
efectos de solape.
TransPlay carga los archivos convertidos (*.WAV) en la memoria
transitoria de la unidad de prueba CMC, que emite las señales.
Nota: El archivo por reproducir debe almacenarse en el disco duro, si es
posible, para garantizar el mejor tiempo de carga. Si se carga desde un
disquete o mediante un PC en la red pueden presentarse problemas de
velocidad.
Si se activa la casilla de verificación “No parar por falta de datos” se
continúa emitiendo la señal, incluso si el PC conectado no es capaz de
cargar a tiempo los valores de salida del búfer de muestreo.
Esto es relevante sólo en caso de archivos muy largos u ordenadores
lentos. La memoria transitoria es capaz de almacenar temporalmente
• 2 k de muestras (2048 muestras) con 6 canales de salida, o
• 1 k de muestras (1024 muestras) con 12 canales de salida.
Al activar la casilla de verificación "Registro de entradas binarias...
Habilitar", se anotan todos los cambios de una de las 10 entradas binarias
en un archivo de texto definido, cuando la señal se reproduce (p. ej., el
archivo de prueba BIN.TXT en la figura 11-15).

155
OMICRON Test Universe

Ficha Invertir
En la ficha Invertir puede ajustar un desplazamiento de fase de 180
grados para un canal. De esta manera, puede invertirse una señal.
Figura 11-9:
Propiedades de
reproducción de
TransPlay: inversión de
señales

Uso práctico de esta característica: inversión del flujo de corriente


cambiando la conexión del punto estrella (p. ej. desde Hacia la Barra a
Hacia la Línea).
En nuestro ejemplo no se usa esta inversión.

Fichas de CMx15x
En las fichas CMC156 U, CMC156 I, CMA156 IA y CMA156 IB puede
cambiar la asignación de señales a las salidas del amplificador que se
han definido al cargar el programa.
Para este ejemplo, se han asignado las señales como sigue:
• Señales de tensión a CMC156 V.
• Señales de corriente al triple A del CMA156 I.
Figura 11-10:
Propiedades de
reproducción de
TransPlay – asignación
de señales a la unidad
CMC 156 V.

156
Herramientas de prueba

Figura 11-11:
Propiedades de
reproducción de
TransPlay – asignación
de señales a la unidad
CMC 156 I.

Figura 11-12:
Propiedades de
reproducción de
TransPlay – asignación
de señales a la unidad
CMA 156 IA

Figura 11-13:
Propiedades de
reproducción de
TransPlay – asignación
de señales a la unidad
CMA 156 IB

157
OMICRON Test Universe

Paso 6: Representación gráfica del archivo o archivos de


señales
Las señales por reproducir se pueden representar gráficamente, ya sea antes o
después de la reproducción, haciendo clic en sus iconos.
Figura 11-14:
Oscilografía –
representación gráfica
de las señales de la
tensión y de la corriente.

Haciendo clic con el botón derecho del ratón en el gráfico se abre un menú de
contexto donde puede seleccionar la función zoom. Esta función le permite
representar cada parte de la señal con un eje ampliado del tiempo.

Paso 7: Reproducción del archivo o archivos de señales


Para reproducir un archivo de señal cargado, haga clic en el icono
correspondiente de la barra de herramientas.
Si se han cargado varios archivos en la ventana de reproducción, estos archivos
se reproducirán en el orden asignado.

Paso 8: Registro de los cambios de estado de las salidas


binarias
Todos los cambios en las entradas binarias se anotan en el archivo de texto
(aquí: BIN.TXT; consulte la figura 11-15).
Se hace referencia al tiempo al inicio de la salida. Las entradas de una prueba
repetitiva se agregan al final del archivo.

158
Herramientas de prueba

Figura 11-15:
Archivo de registro con
las entradas binarias
como resultado de la
prueba.

159
OMICRON Test Universe

11.2 Harmonics
Harmonics permite crear una secuencia de señales que consta de una pre-
señal con frecuencia de la fundamental, seguida de una señal con combinación
espectral definible (todos los armónicos hasta de 3 kHz si los admite el
hardware conectado), seguida de una post-señal con frecuencia de la
fundamental.
Harmonics puede generar hasta tres corrientes y tres tensiones, cada una con
composición de armónicos individual.
Puede definirse la duración de las tres partes de la secuencia de señales.
Además, la parte central puede reaccionar ante una señal de entrada binaria
('señal de disparo') que da lugar a una transición directa a la post-señal y una
medición del tiempo del disparo.
Además de generar esta secuencia de señales activa, también puede emitir la
composición de armónicos como estado estático (es decir, duración controlada
manualmente) o exportarla como archivo Comtrade definido para reproducirlo
por separado, por ejemplo con la herramienta TransPlay o con el módulo de
prueba Advanced TransPlay.
Para obtener más información acerca de Harmonics, consulte su ayuda en
línea. Inicie Harmonics y haga clic en el comando Temas de ayuda del menú
desplegable A Y U D A .

160
Herramientas de prueba

11.3 Binary I/O Monitor


Binary I/O Monitor es un programa que se ejecuta independientemente de
OMICRON Test Universe. Muestra el estado de todas las entradas y salidas del
hardware CMB y CMC 256 de OMICRON, y todas las entradas del resto del
hardware CMC de OMICRON. Binary I/O Monitor también puede mostrar
cambios de estado de entradas de CMB y CMC 256.
Si un módulo de prueba de OMICRON se está ejecutando simultáneamente, el
monitor muestra los conectores utilizados con sus nombres de señal asignados,
tal como se definió en la configuración del hardware, así como sus estados. Si
no se está ejecutando ningún módulo de prueba, el monitor muestra los
números de los contactos de E/S binarias.
Binary I/O Monitor no tiene funcionalidad de generación de informes ni puede
utilizarse como módulo de prueba en un documento OCC.
Figura 11-16:
Binary I/O Monitor

161
OMICRON Test Universe

11.3.1 Características de Binary I/O Monitor


Binary I/O Monitor ofrece las funciones siguientes:
• Muestra el estado de todas las entradas y salidas del hardware CMB y
CMC 256 de OMICRON, y todas las entradas del resto del hardware
CMC de OMICRON.
• Muestra tantos conectores de E/S como se detecten.
• Binary I/O Monitor muestra todas las entradas y salidas disponibles en
una cuadrícula: una columna para los conectores de E/S de la unidad
CMC y otra para cada tarjeta del CMB. Cada columna tiene una fila para
cada conector.
• El tamaño de las columnas puede cambiarse manualmente y Binary I/O
Monitor guardará estos ajustes de una sesión para otra.
• Si el usuario no especifica ningún ajuste de columna, el tamaño de las
columnas se ajustará automáticamente en el inicio para adaptarlas a la
longitud de la etiqueta del conector.
• El usuario puede ampliar o reducir la presentación mediante el menú de
contexto.
• Cada entrada y salida se identifica con el mismo nombre asignado en la
configuración del hardware desde el módulo de prueba que se ejecuta
simultáneamente (p. ej., 01 Inicio L1, 04 Disparo L1, etc.).
• El estado de cada conector se indica mediante un pequeño símbolo: un
círculo indica una entrada y un cuadrado indica una salida. Si el símbolo
es blanco, significa que el conector está inactivo (0); si es rojo, significa
que el conector está activo (1); si es gris, significa que el estado no está
disponible. Si se ha seleccionado la casilla de verificación "Indicar cambio
de estado", se mostrará una pequeña flecha en color amarillo para indicar
que se ha detectado un cambio de estado de la E/S binaria.

11.3.2 Uso de Binary I/O Monitor


Binary I/O Monitor tiene un botón, etiquetado M A N T E N E R , que toma una
instantánea de la pantalla de los estados actuales, y una casilla de verificación
“Indicar cambio de estado”. Al inicio, el botón M A N T E N E R no está activado y la
casilla de verificación no está seleccionada.
Si se activa la casilla de verificación "Indicar cambio de estado", una flecha
amarilla situada al lado de la información actual del estado indica cada cambio
de una entrada (desde 0 a 1 o desde 1 a 0) de un CMB o de una unidad
CMC 256. Cada cambio continuará indicándose hasta que se pulse el botón
M A N T E N E R , o bien hasta que se desactive la casilla de verificación.

162
Herramientas de prueba

Nota: Sólo pueden figurar cambios de estado de entradas de CMB o de


CMC 256; los cambios de estado de entradas otras unidades CMC nunca se
indican mediante una flecha amarilla.
Al pulsar el botón M A N T E N E R se toma una instantánea de la pantalla de los
estados actuales y la información de cambios de estado. Del mismo modo, si se
ha activado la casilla de verificación "Indicar cambio de estado", al pulsar el
botón M A N T E N E R se borrará y se inhabilitará. Una vez pulsado, la etiqueta de
botón M A N T E N E R cambiará a R E S T A B L E C E R . Al pulsar el botón
M A N T E N E R / R E S T A B L E C E R por segunda vez, la pantalla se libera y Binary I/
O Monitor muestra de nuevo los estados actuales de los conectores.

11.3.3 Menú de contexto


Binary I/O Monitor ofrece diversas opciones mediante el menú de contexto. Este
menú aparece haciendo clic con el botón derecho del ratón en cualquier parte
de la cuadrícula de E/S. El menú de contexto ofrece dos opciones de
visualización: zoom y redimensionamiento automático de las columnas.

Zoom
Z O O M permite al usuario reducir la pantalla (R E D U C I R ) para que estén visibles
más columnas y más entradas y salidas en al ventana de Binary I/O Monitor, o
bien ampliar la pantalla (A M P L I A R ). Si la pantalla está ampliada, se verán
menos columnas, pero la información que se muestra será más legible. Resulta
útil en pantallas con resolución muy alta.
Haciendo clic con el botón derecho del ratón en cualquier parte de la cuadrícula
de E/S, el usuario puede acceder a las tres opciones del menú de zoom:
A M P L I A R , R E D U C I R y 1 0 0 % . Al seleccionar "A M P L I A R " se amplía la
visualización en pantalla. Si se selecciona “R E D U C I R ”, se reducirá la
visualización en pantalla. Si se selecciona “1 0 0 % ” la visualización recupera su
tamaño por defecto.
El último ajuste de zoom se guarda al salir del programa. La próxima vez que
se inicie Binary I/O Monitor, aparecerá la cuadrícula de E/S con el mismo ajuste
de zoom.

Redimensionamiento automático
La opción R E D I M E N S I O N A M I E N T O A U T O M Á T I C O se utiliza para adaptar el
ancho de las columnas de la cuadrícula de E/S al tamaño de la etiqueta de
entrada o salida de mayor longitud. De este modo se garantiza que todas las
etiquetas se verán completas.

163
OMICRON Test Universe

La opción de R E D I M E N S I O N A M I E N T O A U T O M Á T I C O está situada en la parte


inferior del menú de contexto. Esta opción puede activarse haciendo clic con el
botón derecho del ratón en cualquier parte de la cuadrícula de E/S y
seleccionando, a continuación, R E D I M E N S I O N A M I E N T O A U T O M Á T I C O .
Aparecerá una marca de verificación junto a la opción, para indicar que ésta se
encuentra activada.
Los anchos de columnas también pueden ajustarse manualmente. Cuando se
desplaza el puntero por la línea situada entre dos columnas, adopta la forma de
una flecha con dos puntas.
Al hacer clic en el borde de la columna y arrastrar en la dirección
correspondiente, se redimensiona la columna. Cuando los tamaños de las
columnas se ajustan manualmente, la opción R E D I M E N S I O N A M I E N T O
A U T O M Á T I C O se deselecciona y los tamaños de las columnas se guardan al
salir del programa. La próxima vez que se inicie Binary I/O Monitor, aparecerán
las columnas con el mismo ancho.

11.3.4 Menú Opciones


En el menú O P C I O N E S , el segundo de los tres menús desplegables de Binary
I/O Monitor, hay dos alternativas: S I E M P R E V I S I B L E y V E L O C I D A D D E
ACTUALIZACIÓN.

Siempre visible
La opción S I E M P R E V I S I B L E se usa para mantener siempre Binary I/O Monitor
en el primer plano de la pantalla, aunque sea otra ventana la que esté activa en
ese momento. Esta opción resulta útil si el usuario desea trabajar en otra
ventana y continuar controlando la actividad de Binary I/O Monitor.
La opción S I E M P R E V I S I B L E se puede activar haciendo clic en la opción
S I E M P R E V I S I B L E del menú desplegable O P C I O N E S . Aparecerá una marca
de verificación junto a la opción, para indicar que ésta se encuentra activada.

Velocidad de actualización
La opción V E L O C I D A D D E A C T U A L I Z A C I Ó N permite al usuario ajustar la
velocidad a la que se actualizará Binary I/O Monitor. Binary I/O Monitor, como
todas las aplicaciones, utiliza los recursos del ordenador. Si el ordenador se
ralentiza debido a que sus recursos son insuficientes, reducir la velocidad de
actualización de Binary I/O Monitor, puede liberar recursos del sistema para
otras tareas.

164
Herramientas de prueba

La velocidad de actualización se puede cambiar haciendo clic en la opción


A C T U A L I Z A R del menú desplegable O P C I O N E S . Se abrirá un submenú con
tres velocidades de actualización: baja, media (la velocidad de actualización por
defecto) y alta. La velocidad de actualización actual se indica mediante una
marca de verificación.
Nota: La carga de la CPU del ordenador depende del número de entradas y
salidas visualizadas y de la velocidad de actualización. De este modo, la
velocidad de actualización puede mejorarse, reduciéndose al mismo tiempo el
uso de recursos del sistema, ampliando o reduciendo el tamaño de la ventana
para que se muestren exclusivamente las columnas necesarias.

165
OMICRON Test Universe

11.4 Polarity Checker


Polarity Checker determina si la polaridad es correcta.
Para ello, la unidad de prueba CMC inyecta una señal especial de prueba de
polaridad en un determinado lugar. Esta señal puede ser una señal tanto de
tensión como de corriente procedente de la unidad de prueba CMC, y presenta
una característica de señal similar a una señal en diente de sierra con una
pendiente distinta de ascenso y de descenso.
Entonces se hace propiamente la comprobación de polaridad con el accesorio
CPOL, un comprobador de polaridad portátil fácil de usar.
Figura 11-17:
Configuración ilustrada
de una comprobación
de polaridad

Para obtener más información acerca de Polarity Checker, consulte su ayuda


en línea. Inicie Polarity Checker y haga clic en el comando T E M A S D E A Y U D A
del menú desplegable A Y U D A .

11.5 Overcurrent Chracteristics Grabber


Overcurrent Characteristics Grabber es un complemento del módulo de prueba
Overcurrent. Ayuda a extraer características de sobrecorriente a partir de
representaciones gráficas. Es muy útil en casos en los que la característica de
tiempo inverso no se conoce a partir de una fórmula determinada sino sólo por
una representación gráfica (por ejemplo, una imagen en un manual de un relé).
Para obtener más información acerca de Overcurrent Characteristics Grabber,
consulte su ayuda en línea. Inicie Overcurrent Characteristics Grabber y haga
clic en el comando T E M A S D E A Y U D A del menú desplegable A Y U D A .

166
Herramientas de prueba

11.6 AuxDC
La utilidad AuxDC se utiliza para ajustar la salida de tensión CC auxiliar de la
unidad de prueba CMC 256 o de una unidad de entrada/salida binaria CMB, por
medio de un regulador. Por defecto, sólo hay una ficha de propiedades, donde
figura el nombre y el número de serie del dispositivo conectado (CMC 256 o
CMB). Si OMICRON Test Universe detecta un segundo dispositivo, se crea una
segunda hoja de propiedades, con el nombre y el número de serie del
dispositivo. En el modo simulación, sólo aparece la hoja de propiedades de la
unidad CMC 256.
Figura 11-18:
AuxDC

Hojas de propiedades
Seleccione la hoja de propiedades del dispositivo que desee para ajustar la
salida de tensión auxiliar CC haciendo clic en la ficha correspondiente.

Regulador
Con el regulador seleccione:
• uno de los valores de tensión predefinidos
• el ajuste Otros, que le permite introducir cualquier valor de tensión que
elija, sin sobrepasar los límites del grupo de prueba
• la desactivación de la tensión CC auxiliar.

167
OMICRON Test Universe

Botones
Ajustar Establece como valor actual de tensión la salida de tensión CC
auxiliar del dispositivo que aparece en la hoja de propiedades
activa (es decir, la del CMC 256 o la del CMB).
Cerrar Sale de AuxDC.
Ayuda Invoca la ayuda en línea de AuxDC.
Por defecto Fija como potencia de arranque por defecto el valor de tensión
ajustado en ese momento en la hoja de propiedades activa (es
decir, la de la unidad CMC 256 o CMB). La siguiente vez que se
arranque la unidad CMC 256 o el CMB, la salida de CC auxiliar
se ajustará automáticamente en este valor por defecto.
Este valor por defecto permanece vigente hasta que se cambia
intencionadamente.
Ajustar un valor de potencia de arranque por defecto significa que
inmediatamente después de encender la unidad CMC 256 o el CMB, esta
tensión se aplicará a la salida de tensión CC auxiliar, sin importar si el PC está
conectado a él o no.
Advertencia: Esta tensión puede representar peligro de muerte.

168
Herramientas de prueba

11.7 Administrador de licencias


Administrador de licencias combina las funciones de un examinador de
licencias, una herramienta de fusión y un editor de archivos de licencia. Busca
archivos de licencia de OMICRON guardados en el disco o discos duros del
ordenador y muestra su contenido. Fusiona la información de licencia de
distintos archivos en un archivo maestro de licencia denominado
Omicron.lic. Asimismo permite añadir manualmente claves de licencia.
Para iniciar Administrador de licencias, haga clic en el vínculo Administrador de
licencias de la Start Page en "Configurar".

11.7.1 Acerca de los archivos de licencia en general


El software OMICRON Test Universe está protegido contra la instalación y uso
no autorizados mediante un archivo de licencia.
Los códigos del archivo de licencia indican tanto los módulos de prueba como
los números de serie del hardware; es decir, cada código indica un par de
"módulo de prueba X para operar con unidad de prueba A". El código de licencia
que permite al módulo de prueba X operar con la unidad de prueba A difiere del
código correspondiente al equipo de prueba B, aunque A y B puedan pertenecer
al mismo modelo de CMC.
El archivo de licencia principal Omicron.lic se instala automáticamente en
[Archivos comunes]\OMICRON.
[Archivos comunes] contiene la ruta completa a la carpeta establecida por
Windows para guardar archivos compartidos por aplicaciones que están
instaladas en el sistema. En el Windows en español, esa carpeta se llama
"Archivos comunes" y está situada en la carpeta [Archivos de programa].
En otras versiones idiomáticas de Windows, el nombre de la carpeta de
archivos se traduce por defecto de la manera adecuada al idioma local.
Omicron.lic es un archivo de texto ASCII que se puede ver con cualquier de
textos.
Si adquiere otras unidades de prueba OMICRON posteriormente, debe añadir
sus códigos de licencia, dispuestos en archivos de licencia independientes, al
archivo de licencia principal. Para hacerlo, emplee la utilidad Administrador de
licencias.

169
OMICRON Test Universe

11.7.2 Búsqueda de archivos de licencia


• Introduzca la ruta de búsqueda en el campo de entrada "Buscar en" y haga
clic en "Buscar". Administrador de licencias busca automáticamente en esta
carpeta y en todas sus subcarpetas. Si desea buscar en un disco duro
entero, introduzca únicamente la letra de la unidad de disco
correspondiente, p. ej., C:\. El cuadro combinado "Buscar en" guarda las
selecciones más recientes.
o
• Haga clic en "Examinar" para desplazarse por la estructura de carpetas.
Seleccione la carpeta correspondiente y haga clic en "Buscar".
Todos los archivos de licencia encontrados se indican en el campo de lista
superior.
No es necesario buscar el archivo de licencia principal. Mientras esté presente
físicamente en el disco duro, será visible siempre.

11.7.3 Contenido de un archivo de licencia


Haga clic en uno de los archivos de licencia del campo de lista superior.
• El campo de lista del lado inferior izquierdo muestra los dispositivos
(unidades de prueba) que contiene el archivo, y sus correspondientes
números de serie.
• El campo de lista del lado inferior derecho muestra las claves que
pertenecen a cada dispositivo seleccionado en el cuadro de lista del lado
izquierdo. Cada clave representa exactamente un módulo de prueba con
licencia para operar con el dispositivo seleccionado.

11.7.4 Fusión de archivos de licencia en el archivo de


licencia principal
Opción de menú correspondiente: A R C H I V O | O P E N F I L E A N D M E R G E …
(A BRIR ARCHIVO Y FUSIONAR)
Desplácese por la estructura de carpetas y seleccione el archivo de licencia que
le interese. El archivo seleccionado se fusiona íntegramente en el archivo de
licencia principal Omicron.lic; se añaden las claves nuevas. En el archivo de
licencia principal se impiden las entradas dobles: si una clave ya existe, la
nueva la reemplaza.
Opción de menú correspondiente: E D I C I Ó N | M E R G E F I L E ( F U S I O N A R
ARCHIVO).

170
Herramientas de prueba

En el campo de lista superior seleccione cualquier archivo de licencia que le


interese salvo el archivo de licencia principal. El archivo de licencia
seleccionado se fusiona íntegramente en el archivo de licencia principal; se
añaden las claves nuevas. En el archivo de licencia principal se impiden las
entradas dobles: si una clave ya existe, la nueva la reemplaza.
Nota: La fusión del contenido es unidireccional, es decir, sólo es posible
fusionar un archivo de licencia en el archivo de licencia principal, no viceversa.
Por consiguiente, según qué archivo de licencia se seleccione, este botón y las
opciones de menú correspondientes podrán estar desactivadas o no.

Opción de menú correspondiente: E D I C I Ó N | D E L E T E F I L E ( E L I M I N A R


ARCHIVO)

Elimina el archivo de licencia seleccionado. Advertencia: De esta manera se


puede borrar también el archivo de licencia principal. Los archivos eliminados
no se pueden restaurar desde la Papelera de reciclaje de Windows.

171
OMICRON Test Universe

11.7.5 Fusión de dispositivos y claves individuales en el


archivo de licencia principal
Opciones de menú correspondientes: E D I C I Ó N | M E R G E D E V I C E
(F USIONAR DISPOSITIVO) ( TECLA F USIONAR)
Seleccione un dispositivo en el campo de lista del lado inferior izquierdo o una
clave en el campo de lista del lado inferior derecho y haga clic en el icono
correspondiente. El dispositivo o clave seleccionados se fusionan en el archivo
de licencia principal. En el archivo de licencia principal se impiden las entradas
dobles: si ya figura un dispositivo con ese número de serie o una clave con ese
código de licencia, se sustituyen por los nuevos.

Opción de menú correspondiente: E D I C I Ó N | D E L E T E D E V I C E ( E L I M I N A R


DISPOSITIVO) (TECLA SUPR)

Elimina del archivo de licencia principal el dispositivo o clave seleccionado.


Advertencia: Los elementos eliminados no se pueden restaurar.
Nota: Sólo se pueden borrar entradas del archivo de licencia principal. Por
consiguiente, según qué archivo de licencia se seleccione, este botón y las
opciones de menú correspondientes podrán estar desactivadas o no.

11.7.6 Menús de contexto


En todos los campos de lista, al pulsar el botón derecho del ratón se abre un
menú de contexto. Las opciones de los menús de contexto se corresponden con
los comandos de las barras de herramientas y de los menús desplegables.
Fusionan archivos de licencia completos (en el campo de lista superior), o
dispositivos o claves seleccionados (campos de lista inferiores) en los archivos
de licencia principales. Se dispone también de la posibilidad de eliminar.
Con la opción de menú de contexto A D D L I C E N S E K E Y (Añadir clave de
licencia) [opción de menú desplegable correspondiente: E D I C I Ó N | A D D
L I C E N S E K E Y … (Añadir clave de licencia)] puede especificar un nuevo par
"unidad de prueba A con licencia para operar con módulo de prueba X". Para
hacerlo, necesita un número de serie de dispositivo y un código de licencia de
módulo de prueba válidos. Nota: Una clave de licencia nueva sólo se puede
añadir al archivo de licencia principal. Por consiguiente, según qué archivo de
licencia se seleccione, las opciones de menú correspondientes podrán estar
desactivadas.

172
Herramientas de prueba

11.7.7 Clasificación de los datos mostrados


En los dos campos de lista inferiores, los datos mostrados se pueden clasificar
para presentar los datos por orden ascendente y por tipo de dispositivo, número
de serie o nombre del módulo. Para hacerlo, haga clic en el encabezamiento
correspondiente (p. ej., Dispositivo).

11.7.8 Show Only Licenses With Version (Mostrar sólo


licencias con versión)
A partir de Test Universe 2.0, se introducen "versiones del código de licencia".
Al añadir el número de versión de TU a una clave de licencia se permite al
usuario guardar en un único archivo de licencia principal claves de licencia
idénticas que corresponden a distintas versiones de TU. Este archivo de
licencia principal podrá después utilizarse en distintos ordenadores con
distintas versiones de TU sin necesidad de cambiar previamente los archivos de
licencia principales.
Este cuadro combinado representa un filtro de pantalla: Especifique si se
muestran todas las claves de licencia del archivo en cuestión disponibles (por
defecto) o sólo las que corresponden a la versión que ha seleccionado.

11.7.9 Envío del archivo de licencia principal a OMICRON


por correo electrónico
En caso de que necesite enviar el archivo de licencia principal a la asistencia
técnica de OMICRON para ser analizado, seleccione la opción del menú
desplegable A R C H I V O | S E N D M A S T E R L I C E N S E F I L E . . . (Enviar archivo
de licencia principal). De este modo se transmite una copia del archivo de
licencia principal a la aplicación estándar de correo electrónico del ordenador.
Si no se dispone de tal aplicación, se activa el Asistente para conexión a
Internet de Windows.

173
OMICRON Test Universe

174
Extensiones de nombres de archivo en OMICRON Test Universe

Extensiones de nombres de archivo


en OMICRON Test Universe
Control Center OCC
nombre de archivo.OCC Documento de prueba del OMICRON
Control Center

Módulos de ayuda de OCC


nombre de archivo.PAU Pause Module
nombre de archivo.EXQ ExeCute
nombre de archivo.TXV TextView

Configuración del hardware


nombre de archivo.OHC Configuración del hardware de OMICRON
(importación/exportación desde la ficha
General de la Configuración del hardware)

Equipo en prueba
nombre de archivo.RIO El término RIO es el acrónimo de Relay
Interface by OMICRON (Interfaz de relé de
OMICRON).
RIO se desarrolló debido a la necesidad de
un formato de datos uniforme para los
parámetros de relés de protección
producidos por diferentes fabricantes. RIO
proporciona una estructura común para que
se puedan probar relés funcionalmente
similares de diferentes fabricantes con
procedimientos de prueba similares.
Además, RIO permite importar
características de relés desde fuentes
externas al software Test Universe.
nombre de archivo.XRIO XRIO representa la segunda generación de
la tecnología de archivos RIO. El término
RIO es el acrónimo de Relay Interface by
OMICRON (Interfaz de relé de Omicron),
una tecnología que ya estaba disponible
con versiones anteriores de Test Universe.
La X indica "extendido".

175
OMICRON Test Universe

Módulos de prueba
nombre de archivo.ADT Advanced Distance
nombre de archivo ANNUCH Annunciation Checker
nombre de archivo.BDF Differential
nombre de archivo.CBS Circuit Breaker Simulation
nombre de archivo.DST Distance
nombre de archivo.GRF Transient Ground Fault
nombre de archivo.HRT (Advanced Differential) Diff. Harmonic
Restraint
nombre de archivo.MEA EnerLyzer
nombre de archivo.MET Meter
nombre de archivo.NSI NetSim
nombre de archivo.OAR Autoreclosure
nombre de archivo.OTF (Advanced Differential) Diff. Operating
Characteristic
nombre de archivo.OUC UCA-CMC Configuration
nombre de archivo.OVT Overcurrent
nombre de archivo.PQT Generador de señales PQ
nombre de archivo.PRA Pulse Ramping
nombre de archivo.QCM QuickCMC
nombre de archivo.RMP Ramping
nombre de archivo.SEQ State Sequencer
nombre de archivo.SNC Synchronizer
nombre de archivo.TRA Advanced TransPlay
nombre de archivo.TRD Transducer
nombre de archivo.TST (Advanced Differential) Diff. Trip Time
nombre de archivo.VGT (Advanced Differential) Diff Configuration
nombre de archivo.VSR VI-Starting

176
Extensiones de nombres de archivo en OMICRON Test Universe

IEC 61850
nombre de archivo.OSV Configuración de valores de muestra
(Módulo de configuración
IEC 61850-9-2 LE ).
nombre de archivo.OGC Archivo de configuración GOOSE
nombre de archivo.OUC Archivo de configuración GSSE

Herramientas de prueba
nombre de archivo.BIO Binary I/O Monitor
nombre de archivo.HOU Harmonics
nombre de archivo.LST TransPlay
nombre de archivo.TYP TypConverter

Otras extensiones de nombres de archivo que conviene


conocer:
nombre de archivo.CFG Archivo de configuración COMTRADE para
la descripción de los canales del informes
de errores (nombres de señales, frecuencia
de muestreo, etc.). Se puede importar con
el módulo de prueba Advanced TransPlay y
cargar con la herramienta de prueba
TransView (opcional).
nombre de archivo.CML Archivo Comtrade. Puede cargarse con la
herramienta de prueba TransView
(opcional).
nombre de archivo.CSV Formato Comma Separated Value (valores
separados por comas). Este formato de
archivo se puede leer desde cualquier base
de datos de uso común. Los datos se
escriben simplemente en un formato de
tabla. Un delimitador de campos (que puede
seleccionarse) separa los valores
individuales.
Si un determinado valor es una cadena de
texto, el valor necesita tener un calificador
del texto (el texto puede contener el
carácter que se usa como delimitador de

177
OMICRON Test Universe

campos). Dado que la denominación de los


valores booleanos no es coherente en los
diferentes programas de base de datos, los
valores Verdadero (True) y False (Falso)
también han de definirse.
nombre de archivo.DAT Archivo COMTRADE con los valores de
muestreo de los canales del informe de
errores. Se puede importar con el módulo
de prueba Advanced TransPlay y cargar
con la herramienta de prueba TransView
(opcional).
nombre de archivo.HDR "Archivo de encabezado", que contiene
todo texto relacionado con datos que no
utiliza el programa. Puede cargarse con el
módulo de prueba Advanced TransPlay
nombre de archivo.PDF Inventado por Adobe, el Portable Document
Format se ha convertido en el formato
estándar de distribución e intercambio de
documentos electrónicos. Los archivos PDF
tienen exactamente el mismo aspecto que
los documentos originales y mantienen las
fuentes, las imágenes, los gráficos y el
diseño de cualquier archivo fuente,
independientemente de la aplicación y
plataforma empleadas para crearlos.
Para ver un archivo PDF, se precisa
Adobe Reader © o Foxit Reader (ambos
programas son gratuitos). Si todavía no
tiene un lector de PDF en el ordenador,
OMICRON Test Universe instalará Foxit
Reader.
nombre de archivo.PL4 Archivo PL4. Se puede importar con el
módulo de prueba Advanced TransPlay y
cargar con la herramienta de prueba
TransView (opcional).
nombre de archivo.RTF Formato Rich Text Format. Formato de
archivo empleado por Microsoft Word u otra
aplicación de procesamiento de texto.
nombre de archivo.TPL Archivo de plantilla para los informes de
pruebas (basados en RTF)

178
Extensiones de nombres de archivo en OMICRON Test Universe

nombre de archivo.TRF Archivo TRF. Se puede importar con el


módulo de prueba Advanced TransPlay y
cargar con la herramienta de prueba
TransView (opcional).
nombre de archivo.XML XML (eXtensible Markup Language,
Lenguaje de marcas ampliable) ha sido
aceptado como norma de intercambio de
datos, especialmente entre plataformas
distintas. XML y las tecnologías
relacionadas son recomendaciones del
W3C (World Wide Web Consortium).
Si desea más información sobre XML, la
página Web de W3C
http://www.w3.org/XML/ puede ser un
buen punto de partida.

179
OMICRON Test Universe

180
Información de contacto / asistencia técnica

Información de contacto / asistencia técnica


Norteamérica y Sudamérica
OMICRON electronics Corp. USA
12 Greenway Plaza, Suite 1510
Houston, TX 77046, USA
Teléfono: +1 713 830-4660 o 1 800 OMICRON
Correo electrónico: techsupport@omicronusa.com
Sitio Web http://www.omicronusa.com

Asia, Pacífico
OMICRON electronics Asia Ltd.
Suite 2006, 20/F, Tower 2
The Gateway, Harbour City
Kowloon, Hong Kong S.A.R.
Teléfono: +852 2634 0377
Correo electrónico: support@asia.omicron.at
Sitio Web: http://www.omicron.at

Europa, África, Oriente Medio


OMICRON electronics GmbH
Oberes Ried 1
6833 Klaus, Austria
Teléfono: +43 5523 507-333
Correo electrónico: support@omicron.at
Sitio Web: http://www.omicron.at

Si desea conocer las direcciones de oficinas de OMICRON provistas de centros


de atención al cliente, oficinas comerciales regionales y oficinas en general, a
efectos de formación, consultas y puesta en servicio, visite nuestro sitio Web
http://www.omicron.at.

181
OMICRON Test Universe

182
Índice

Índice B
barra de herramientas
barra de herramientas de navegación
A del módulo de prueba Ramping . . . . . . . 40
Binary I/O Monitor, herramienta de prueba . 15
Administrador de licencias . . . . . . . . . . . . . . 15
administrador de unidades (QuickCMC) . . . . 18
ajustes de zona en prueba de distancia
(módulo de prueba Distance) . . . . . . . . . . . . 93
ángulo de par
C
en módulo de prueba Ramping . . . . . . . . 35 cableado
ángulo de par máximo relé de protección a unidad de prueba
en módulo de prueba Ramping . . . . . . . . 35 CMC (Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . 128
ARC relé de protección a unidad de prueba
Autoreclosure, módulo de prueba . . 12, 107 CMC (Pulse Ramping) . . . . . . . . . . . . . . 52
secuencia de prueba de recierre relé de protección a unidad de prueba
automático (módulo de prueba CMC (QuickCMC) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
Autoreclosure) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112 relé de protección a unidad de prueba
secuencia típica de recierre automático CMC (Ramping) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
(módulo de prueba Autoreclosure) . . . . 108 relé de protección a unidad de prueba
archivo CMC (State Sequencer) . . . . . . . . . . . . . 63
formato CFG (herramienta de prueba Caída de tensión Consulte función falta en
TransPlay) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 153 el fusible
formato WAV (herramienta de prueba cálculo de falta
TransPlay) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 153 en QuickCMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
archivo de muestra cálculo de la media
ejemplo de uso de TransPlay . . . . . . . . 148 función del módulo de prueba Ramping . 36
para QuickCMC . . . . . . . . . . . . . . . . . 20, 30 característica
archivo WAV (herramienta de prueba característica de disparo Mho
TransPlay) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 153 (Distance) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104
armónico característica de disparo Mho (Distance) . . 104
armónico superpuesto (módulo de característica Mho (módulo de prueba
prueba Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . 125 Distance) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
prueba de frenado de armónicos CB Configuration
(módulo de prueba Differential) . . . . . . . 125 módulo de prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
armónico superpuesto (módulo de prueba ciclo de ARC incorrecto (módulo de prueba
Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125 State Sequencer) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
asistencia técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 181 CM Engine . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
AuxDC (herramienta de prueba) . . . . . . . . . 167 CMC 256
AuxDC, utilidad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15 tensión AuxDC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167
compatibilización de grupos vectoriales
(Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125

183
OMICRON Test Universe

Disparo Z
C función del módulo de prueba State
Sequencer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
COMTRADE Distance, módulo de prueba . . . . . . . . . 13, 14
extensión de nombre de archivos CML . 177 distancia
TransPlay, herramienta de prueba . . . . 148 Bloque Distance (Distancia) del equipo
conexión en prueba de QuickCMC . . . . . . . . . . . . . 21
relé de protección a unidad de prueba prueba de relés de distancia en
CMC (Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . 128 QuickCMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
relé de protección a unidad de prueba
CMC (Pulse Ramping) . . . . . . . . . . . . . . . 52
relé de protección a unidad de prueba
CMC (QuickCMC) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
relé de protección a unidad de prueba
E
CMC (Ramping) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42 El concepto
relé de protección a unidad de prueba manual en formato PDF . . . . . . . . . . . . . . 9
CMC (State Sequencer) . . . . . . . . . . . . . 63 elemento instantáneo de sobrecorriente I>>
contactos auxiliares (52a/52b) de un (prueba con Pulse Ramping) . . . . . . . . . . . . 51
interruptor de potencia . . . . . . . . . . . . . . . . . 14 eliminación de homopolar (Differential) . . . 125
Control Center (OCC) equipo en prueba
vista general . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11 bloque Distance (Distancia) en Equipo
control del panel frontal en prueba de otros módulos . . . . . . . . . . 21
QuickCMC, módulo de prueba . . . . . . . . 17 estado
correo electrónico definición de estados (módulo de
dirección de OMICRON . . . . . . . . . . . . . 181 prueba State Sequencer) . . . . . . . . . . . . 65
CPOL, comprobador de polaridad . . . . . . . 166 Disparo Z (estado pre-falta, de falta y
cuadrícula de entrada multifuncional post-falta) en el módulo de prueba
(QuickCMC) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17 State Sequencer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
secuencia de estados (módulo de
prueba State Sequencer) . . . . . . . . . . . . 59
estado Z
D función del módulo de prueba State
Sequencer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
Datos del cursor ExeCute (Módulo de ayuda de OCC) . . . . . 11
cuadro de diálogo del módulo de prueba extensiones de nombres de archivos en
Ramping . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39 Test Universe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 175
diferentes bucles de falta
pruebas automáticas con Differential . . 126
Differential, módulo de prueba . . . . . . . . . . . 14
dirección
dirección de OMICRON . . . . . . . . . . . . . 181
disparo
ajuste de disparos en el módulo de
prueba Distance . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97

184
Índice

F L
factor de puesta a tierra (módulo de prueba línea directa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 181
Distance) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92
Falta TT Consulte función falta en el
fusible
formato de archivo CFG . . . . . . . . . . . . . . . 153
forzar fases absolutas
M
función de Ramping . . . . . . . . . . . . . . . . . 37 magnitudes de falta, salida . . . . . . . . . . . . 137
función ARC de protección del alimentador modelo de prueba
prueba con módulo de prueba State Distance, módulo de prueba . . . . . . . . . . 94
Sequencer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72 modelo de corriente (I) de prueba
función de bloqueo por avalancha (módulo constante (Distance) . . . . . . . . . . . . . . . 103
de prueba Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . 125
función falta en el fusible
prueba con módulo de prueba State
Sequencer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62 O
oscilografía
en módulo de prueba State Sequencer . 82

H Overcurrent, módulo de prueba . . . . . . . . . . 12

Harmonics, herramienta de prueba . . . . . . . 15


herramienta de prueba
AuxDC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167
herramientas de prueba
P
TransPlay . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15, 147 parar rampa en medida (función del módulo
de prueba Pulse Ramping) . . . . . . . . . . . . . 49
Pause Module (Módulo de ayuda de OCC) . 11
PDF

I extensión de nombre de archivos . . . . . 178


plano de impedancia
I >> definición de pruebas de distancia
elemento instantáneo de sobrecorriente (Distance) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
(prueba con Pulse Ramping) . . . . . . . . . . 51 en módulo de prueba State Sequencer . 60
igualar magnitudes prueba de relés de distancia en
en menú de contexto (QuickCMC) . . . . . 23 QuickCMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
impedancia de falta plano de impedancias Z
en módulo de prueba State Sequencer . . 59 disparos individuales en el plano de
información de contacto impedancias Z (Distance) . . . . . . . . . . . . 87
dirección de OMICRON . . . . . . . . . . . . . 181 plano Idiff/Ipol (módulo de prueba
interruptor de potencia Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125
Simulación del interruptor . . . . . . . . . . . . 14 Polarity Checker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 166
introducción al módulo Protection . . . . . . . . . . 9 Polarity Checker, herramienta de prueba . . . 15

185
OMICRON Test Universe

P Q
pre-falta QuickCMC, módulo de prueba . . . . . . . . . . . 12
en QuickCMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
Prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
prueba
ejecución de una prueba
(Autoreclosure) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
R
ejecución de una prueba (Differential) . . 135 Ramping, módulo de prueba . . . . . . . . . . . . 12
ejecución de una prueba (Distance) . . . 100 ratón
ejecución de una prueba (Pulse paso de las corrientes de salida con la
Ramping) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56 rueda del ratón (QuickCMC) . . . . . . . . . . 25
ejecución de una prueba (QuickCMC) . . . 25 recierre automático
ejecución de una prueba (Ramping) . . . . 48 función ARC de protección del
ejecución de una prueba (State alimentador (módulo de prueba
Sequencer) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69, 81 Autoreclosure) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
prueba de arranque secuencia de prueba de recierre
protección del generador (Ramping) . . . . 41 automático (módulo de prueba
prueba de arranque del relé Autoreclosure) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112
con módulo de prueba Ramping . . . . . . . 36 recierre automático del alimentador
prueba de pendiente (módulo de prueba prueba con módulo de prueba State
Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125 Sequencer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
prueba de reposición del relé reguladores
con módulo de prueba Ramping . . . . . . . 36 en módulo de prueba Ramping . . . . . . . . 38
prueba de sincronización (verificación relación de arranque/reposición
sincrónica) con módulo de prueba Ramping . . . . . . . 36
con módulo de prueba Ramping . . . . . . . 36 relé
prueba del regulador de tensión para definición de características del relé
generadores de distancia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
con módulo de prueba Ramping . . . . . . . 36 puesta en servicio de relé de protección
prueba del regulador de tensión para del generador (Pulse Ramping) . . . . . . . 51
transformadores relé de protección multifuncional
con módulo de prueba Ramping . . . . . . . 36 (módulo de prueba Pulse Ramping) . . . . 49
prueba direccional relé de protección multifuncional (módulo
con módulo de prueba Ramping . . . . . . . 36 de prueba Pulse Ramping) . . . . . . . . . . . . . 49
pruebas monofásicas . . . . . . . . . . . . . . . . . 137 relés de distancia
pruebas trifásicas (con Differential) . . . . . . 125 prueba de relés de distancia (módulo
puesta en servicio de prueba Distance) . . . . . . . . . . . . . . . . 87
relé de protección multifuncional del relés de protección diferencial
generador (Pulse Ramping) . . . . . . . . . . . 51 prueba de relés de distancia . . . . . . . . . 125
pulse ramping relés de protección diferencial del
señales de salida con QuickCMC . . . . . . 25 transformador
Pulse Ramping, módulo de prueba . . . . . . . . 12 prueba de relés de distancia . . . . . . . . . 125

186
Índice

R T
representar en rampa tabla de datos del cursor
definición de rampas (módulo de prueba en módulo de prueba State Sequencer . 83
Pulse Ramping) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53 Test Wizard . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
definición de rampas (módulo de prueba TextView (Módulo de ayuda de OCC) . . . . . 11
Ramping) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44 tiempo
paso manual de las corrientes arranque . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
(QuickCMC) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25 reposición . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
representación automática en rampa tiempo de disparo . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
de las corrientes de salida (QuickCMC) . 26 tiempo de arranque (QuickCMC) . . . . . . . . . 19
señales de salida con Pulse Ramping . . . 49 tiempo de disparo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
señales de salida con QuickCMC . . . . . . 17 tiempo de falta (módulo de prueba Pulse
señales de salida con Ramping . . . . . . . . 35 Ramping) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
RIO tiempo de medida (función del módulo de
extensión de nombre de archivos . . . . . 175 prueba Pulse Ramping) . . . . . . . . . . . . . . . . 56
tiempo de reposición (QuickCMC) . . . . . . . . 19
tiempo de restauración (módulo de prueba
Pulse Ramping) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
S TransPlay
herramienta de prueba . . . . . . . . . . 15, 147
salida de magnitudes de falta . . . . . . . . . . . 137 trigger
salidas binarias definición de trigger (módulo de prueba
en QuickCMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24 Distance) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96
secuencia exitosa (módulo de prueba definición de trigger (módulo de prueba
Autoreclosure) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107 Ramping) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
secuencia fallida (módulo de prueba definición de trigger (módulo de prueba
Autoreclosure) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107 State Sequencer) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
señal transitoria
con 3 canales de tensión y 4 de
corriente (TransPlay) . . . . . . . . . . . . . . . 148
Simulación del interruptor . . . . . . . . . . . . . . . 14
prueba con módulo de prueba Distance . 92
X
sistema sano XML
definición del estado "sistema sano" en extensión de nombre de archivos . . . . . 179
el módulo de prueba State Sequencer . . 65 XRIO
sobrecorriente extensión de nombre de archivos . . . . . 175
prueba de un relé de sobrecorriente
en QuickCMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
State Sequencer, módulo de prueba . . . . . . 12
Z
ZFalta
en módulo de prueba State Sequencer . 59

187
OMICRON Test Universe

188

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