SENSORI FBG E

PIEZOELETTRICI IN
AERONAUTICA
FAIL SAFE WINGLET

ING. DARIO FAMÀ

INTEGRAZIONE DEI SENSORI FBG NEL MATERIALE COMPOSITO

Fibra ottica
Le fibre ottiche sono filamenti di materiale dielettrico (come il vetro o i polimeri),
che permettono di trasmettere al loro interno un campo elettromagnetico con perdite di
potenza estremamente limitate.

La trasmissione del segnale è possibile andando a modificare l’indice di rifrazione della

parte più esterna della fibra (chiamata cladding), ottenendo così una superficie di
discontinuità rispetto al nucleo centrale (core) all’interno del quale resta confinato il
segnale, grazie al fenomeno della riflessione totale.

Figura 1 - Fibra ottica

Il core presenta dimensioni differenti a seconda che si tratti di fibre monomodali, ossia che
permettono la trasmissione di un solo raggio luminoso o modo di propagazione al
proprio interno, o fibre multimodali, nel caso sia possibile la trasmissione di più modi di
propagazione.

In particolare le fibre monomodali hanno un diametro del core compreso tra gli 8 e i 10
µm, mentre per le fibre multimodali il diametro del core è maggiore e compreso tra i 50
e i 62.5 µm.

Il cladding invece presenta un diametro di circa 125 µm per le fibre standard.

Le fibre ottiche monomodali di ultima generazione, non ancora di largo impiego,

possono presentare diametri del cladding minori, anche di 50, 60, 80 µm, a parità di
diametro del core.
Nelle figure più sotto è riportata una rappresentazione delle due differenti tipologie di
fibre ottiche.

Figura 2 - Fibra ottica monomodale Figura 3 - Fibra ottica multimodale

Teoria delle fibre ottiche

Il fenomeno della propagazione della luce all’interno delle fibre ottiche, essendo i
fenomeni di diffrazione trascurabili, può essere studiato nell’ipotesi di validità delle leggi
che regolano l’ottica geometrica.

Le fibre ottiche trasmettono il segnale sfruttando il fenomeno della riflessione totale

interna (TIR) in cui i raggi di luce passando attraverso un’interfaccia tra due mezzi
trasparenti, caratterizzati da un indice di rifrazione differente, subiscono il fenomeno
della rifrazione e cambiano direzione secondo la Legge di Snell:

𝒏𝟏 𝐬𝐢𝐧 𝝑𝟏 = 𝒏𝟐 𝐬𝐢𝐧 𝝑𝟐

Figura 4 - Legge di Snell

Quando la luce passa da un materiale con indice di rifrazione maggiore a uno minore,
così come avviene nelle fibre ottiche, esiste un angolo limite 𝜃1 = 𝜃𝑐𝑟 in corrispondenza
del quale 𝜃2 = 90°, ossia non vi è più la presenza del raggio rifratto. Per la
determinazione dell’angolo limite vale la seguente relazione:
𝑛2
sin 𝜃𝑐𝑟 =
𝑛1

In corrispondenza di un angolo di incidenza maggiore o uguale a 𝜃𝑐𝑟 avviene la

riflessione totale interna.

Figura 5
- Riflessione totale interna

Risulta pertanto essenziale trasmettere la luce all’interno della fibra in modo che l’angolo
di incidenza interno verifichi la suddetta condizione e il segnale, rimanendo confinato nel
nucleo (core), possa propagarsi per successive riflessioni fino a raggiungere il rivelatore. I
raggi parzialmente rifratti, infatti, perdono potenza a ogni riflessione e quindi
scompaiono rapidamente.

Considerando un raggio proveniente dall’esterno della fibra, il massimo angolo di

incidenza che garantisce che la luce rifratta subisca il fenomeno della riflessione totale
interna è definito angolo di accettazione (𝜃𝑎 ). L’insieme di tutte le possibili traiettorie
incidenti aventi angolo inferiore o uguale a quello di accettazione, costituisce il cono di
accettazione mostrato in fig. Figura 6.
 Figura 6 - Cono di accettazione

Necessariamente durante l’utilizzo di fibre ottiche bisogna prestare attenzione ai raggi di

curvatura, poiché raggi di curvatura ridotti possono generare angoli incidenti inferiori a
quello critico, come mostrato in fig. Figura 7, provocando perdite di potenza.

Figura 7 - Raggi di curvatura eccessivi

Reticolo di Bragg
I reticoli di Bragg, Fiber Bragg Grating (FBG), sono realizzati mediante
un’opportuna modulazione locale dell’indice di rifrazione del core di una fibra ottica
fotosensibile, effettuata tramite una per mezzo di una sorgente energetica, come i raggi
UV.
 Figura 8 - Reticolo di Bragg

Il tratto di fibra ottica modificato ha la funzione di filtro, permettendo quindi di

selezionare delle particolari lunghezze d’onda. In particolare la luce viaggiando attraverso
la fibra ottica viene in parte riflessa in corrispondenza di ogni piccola variazione
dell’indice di rifrazione.

Per un piccolo range di lunghezze d’onda, i raggi luminosi riflessi agiscono

costruttivamente percorrendo a ritroso la fibra ottica. La riflessione massima avviene per
la lunghezza d’onda chiamata lunghezza d’onda di Bragg, 𝜆𝐵 , ricavabile attraverso
l’equazione fondamentale di Bragg, che la relaziona al periodo delle frange del reticolo,
Λ, e all’indice di rifrazione effettivo, 𝑛𝑒𝑓𝑓 .

𝜆𝐵 = 2𝑛𝑒𝑓𝑓 Λ

Il contributo additivo dei raggi luminosi riflessi avviene quindi solo per quelle lunghezze
d’onda legate al passo del reticolo e al particolare indice di rifrazione.

Figura 9 - Riflessione della luce nel reticolo di Bragg

L’equazione precedente implica che la lunghezza d’onda di Bragg subisca una variazione
a ogni alterazione delle proprietà fisiche o meccaniche del reticolo. L’applicazione di una
deformazione provocherà ad esempio una variazione del passo del reticolo e dell’indice
di rifrazione effettivo attraverso effetti ottici. In modo analogo il reticolo sarà soggetto a
rispondere diversamente se soggetto a modifiche della temperatura.

Per questo motivo i reticoli di Bragg possono essere utilizzati come sensori per la misura
di deformazione e temperatura attraverso la variazione della lunghezza d’onda di Bragg.

L’intensità della risposta del sensore dipende dalla lunghezza del reticolo di Bragg e
quindi dal numero di variazioni dell’indice di rifrazione all’interno del reticolo.

Un’altra variante che possono presentare i reticoli, oltre alla lunghezza, è la spaziatura tra
le frange. In particolare esistono due differenti tipologie di reticolo:

• uniforme
• non uniforme (chirped)

Il primo presenta una periodicità costante delle frange d'interferenza, permettendo così
la riflessione di una sola lunghezza d’onda luminosa, ottenendo uno spettro di riflessione
stretto e centrato in corrispondenza della 𝜆𝐵 .

Contrariamente il reticolo chirped presenta una variazione monotona delle sue

caratteristiche, ottenuta sia modificando la spaziatura delle singole frange, sia
modificando l’indice di rifrazione del core. I reticoli chirped danno quindi luogo a uno
spettro di riflessione più ampio rispetto ai reticoli uniformi perché la riflessione della luce
avviene a differenti lunghezze d’onda.

Sistemi di misura basati su sensori FBG

A partire dai primi anni ’90 l’utilizzo di sensori ottici, basati sul reticolo di Bragg, è
cresciuto notevolmente in virtù delle loro peculiari caratteristiche e della capacità di
trasdurre sia variazioni di temperatura sia di deformazione. La necessità di discriminare il
contributo di tali grandezze alla variazione di lunghezza d’onda riflessa dal reticolo ha
parallelamente condotto allo sviluppo di molteplici tecniche di disaccoppiamento del
segnale ottico.
Generalmente i sistemi di misura che disaccoppiano il segnale ottico si basano
sull’impiego di due sensori FBG aventi differente risposta alle medesime perturbazioni.
Utilizzando due sensori aventi differenti coefficienti di proporzionalità è possibile
disaccoppiare i contributi delle due grandezze risolvendo il seguente sistema di due
equazioni in due incognite:
 ∆𝜆𝐵1 𝐾𝜀 𝐾𝑇1 𝜀
{ }=[ 1 ]{ }
∆𝜆𝐵2 𝐾𝜀2 𝐾𝑇2 Δ𝑇

È evidente che in tal caso la risoluzione del sistema è possibile solamente se ai sensori è
applicato lo stesso livello di sollecitazione.
Un’altra possibilità d'impiego dei sensori FBG è rappresentata dall’impiego di soluzioni
meccaniche tali da permettere di variare la deformazione percepita dal sensore lungo la
sua lunghezza comportando una modificazione della spaziatura del reticolo (ottenendo,
di fatto, un sensore chirped). In questo caso la discriminazione tra deformazione e
temperatura non sarà più effettuata andando ad analizzare unicamente lo spostamento
della lunghezza d’onda di Bragg, ma sarà necessario analizzare la risposta spettrale del
sistema.
Le tecniche adottate sono riassunte nella
Tabella 1:

Tabella 1 - Vantaggi e svantaggi tra i diversi sistemi di misura

FIGURA - SISTEMA DI MISURA VANTAGGI SVANTAGGI

Figura 10 - Variazione della
sezione mediante giunzione
splice di fibre differenti
Figura 11 - Variazione della
sezione mediante giunzione
overlap di fibre
Figura 12 - Sistema basato
sulla variazione del
coefficiente di dilatazione
termica del reticolo
Figura 13 - Sistema basato
sull'isolamento meccanico del
reticolo mediante tubo
capillare passante/non
passante
Figura 14 - Sistema basato
sull'isolamento meccanico del
reticolo mediante tubo
capillare non passante
Figura 15 - Sistema basato
sull'acquisizione di un
Facilità di identificazione delle
deformazioni e delle variazioni di
temperatura.
Facilità di identificazione delle
deformazioni e delle variazioni di
temperatura.
Utilizzo di fibre aventi le
medesime caratteristiche.
Impiego di un singolo sensore
FBG.
Facilità di identificazione della
deformazione e delle variazioni di
temperatura.
Tecnica di misura adatta
all’inglobamento.
Facilità di identificazione delle
deformazioni e delle variazioni di
temperatura.
Tecnica di misura adatta
all’inglobamento.
Deformazione strutturale
Inadeguatezza all’inglobamento.
Difficoltà realizzative.
Inadeguatezza all’inglobamento.
Incertezza sui coefficienti di
proporzionalità.
Inadeguatezza all’inglobamento.
Identificazione delle lunghezze
d’onda di Bragg difficoltosa.
Inadeguatezza all’inglobamento.
Realizzazione difficoltosa.
Invasività.
Sistema non ridondante.
Invasività.
Variazione della temperatura non
determinabile.
 segnale direttamente
compensato in temperatura
Figura 16 - Sistema basato su
FBG sovrascritti
Figura 17 - Sistema basato su
FBG phase-shifted
Figura 18 - Sistema basato
sulla trasformazione
uniforme/chirped del reticolo
facilmente identificabile.
Tecnica di misura adatta
all’inglobamento.
Bassa invasività.
Collocazione dei sensori.
Tecnica di misura adatta
all’inglobamento.
Bassa invasività.
Impiego di un singolo sensore
FBG.
Protezione del sensore.
Necessità di differenti sorgenti
luminose.
Determinazione delle
sollecitazioni complessa
Inadeguatezza all’inglobamento.
Determinazione delle
sollecitazioni complessa.

Ogni sistema di misura ha le sue peculiarità tali da favorirne l’impiego in differenti

situazioni. Per permettere l’individuazione delle tecniche più adatte alle situazioni
d'impiego è stato realizzato un confronto tra i diversi sistemi di misura presentati. In
particolare, come parametri di confronto sono stati scelti degli indici in grado di definire
la facilità realizzativa e di utilizzo del sistema di misura, i costi che sono necessari
affrontare e la possibilità d'inglobamento all’interno di strutture in composito
evidenziandone il grado d'invasività.
Il confronto è stato reso possibile definendo una scala di valori in grado di valutare, in
prima approssimazione, il peso degli indici considerati.
La scala di valori è stata così definita:

Tabella 2 - Indice della scala di valori

Valore Definizione
1 Basso
2 Medio
3 Alto

L’indice 3 applicato per la voce dei costi è associato a un costo minore per la
realizzazione del sistema di misura.

Tabella 3 - Confronto tra i diversi sistemi di misura

SISTEMA DI MISURA FR C FI PI NI TOTALE

Variazione della sezione mediante giunzione splice di fibre
2 2 3 NO - 7
differenti
Variazione della sezione mediante giunzione overlap di fibre 2 2 2 NO - 6
Sistema basato sulla variazione del coefficiente di
2 3 2 NO - 7
dilatazione termica del reticolo
Sistema basato sull'isolamento meccanico del reticolo
2 2 2 NO - 6
mediante tubo capillare passante
Sistema basato sull'isolamento meccanico del reticolo
3 2 3 SI 2 10
mediante tubo capillare non passante
Sistema basato sull'acquisizione di un segnale direttamente
1 2 3 SI 1 7
compensato in temperatura
Sistema basato su FBG sovrascritti 3 2 3 SI 3 11
Sistema basato su FBG phase-shifted 2 1 1 SI 3 7
Sistema basato sulla trasformazione uniforme/chirped del
1 2 3 NO - 6
reticolo

𝐹𝑅 = 𝑓𝑎𝑐𝑖𝑙𝑖𝑡à 𝑟𝑒𝑎𝑙𝑖𝑧𝑧𝑎𝑡𝑖𝑣𝑎
𝐶 = 𝑐𝑜𝑠𝑡𝑖
𝑙𝑒𝑔𝑒𝑛𝑑𝑎 𝐹𝐼 = 𝑓𝑎𝑐𝑖𝑙𝑖𝑡à 𝑑′ 𝑖𝑚𝑝𝑖𝑒𝑔𝑜
𝑃𝐼 = 𝑝𝑜𝑠𝑠𝑖𝑏𝑖𝑙𝑖𝑡à 𝑑′ 𝑖𝑛𝑔𝑙𝑜𝑏𝑎𝑚𝑒𝑛𝑡𝑜
{ 𝑁𝐼 = 𝑛𝑜𝑛 𝑖𝑛𝑣𝑎𝑠𝑖𝑣𝑖𝑡à

Figura 10 - Variazione della sezione mediante giunzione splice di fibre differenti

Figura 11 - Variazione della sezione mediante giunzione overlap di fibre

Figura 12 - Sistema basato sulla variazione del coefficiente di dilatazione termica del reticolo

Figura 13 - Sistema basato sull'isolamento meccanico del reticolo mediante tubo capillare
passante
Figura 14 - Sistema basato sull'isolamento meccanico del reticolo mediante tubo capillare non
passante

Figura 15 - Sistema basato sull'acquisizione di un segnale direttamente compensato in

temperatura
 Figura 16 - Sistema basato su FBG sovrascritti

Figura 17 - Sistema basato su FBG phase-shifted

Figura 18 - Sistema basato sulla trasformazione uniforme/chirped del reticolo

COSTRUTTORI MONDIALI DI FIBRE OTTICHE

 (in Italia):

1. Bright Solutions SRL

Via Artigiani 27

27010 Cura Carpignano (Pavia)

Italy

Tel.: +39 0382 58 3091

www.brightsolutions.it

2. Quanta System S.p.A.

Via IV Novembre, 116

21058 Solbiate Olona (VA)

Italy

Tel.: +39 0331 37 6797

www.quantasystem.com

MATERIALE

10Gtek Transceivers Co., Ltd. Keopsys SA

7 Floor, Anlewuye Building Headquarters
Shunfeng Road, Baoan District 44 2 rue Paul Sabatier
Shenzhen 518000 22300 Lannion
P. R. China France

Tel.: +86 755 2998 8100, e-mail: Tel.: +33 2 96 05 08 00

info@sfpcables.com
www.keopsys.com
www.100gsfp.com

3S Photonics S.A.S. KEYMILE GmbH

Route de Villejust Wohlenbergstr. 3
91625 Nozay Cedex 30179 Hannover
France Germany

Tel.: +33 1 69 80 57 50 Tel.: +49 511 6 74 70

www.3spgroup.com www.keymile.com

AC Photonics Kingfisher International

2701 Northwestern Parkway 30 Rocco Drive
Santa Clara, CA 95051 Scoresby
USA Victoria 3179
Australia
Tel.: +1 408 986 9838
Tel.: +61 3 9757 4100, e-mail:
www.acphotonics.com
sales@kingfisher.com.au

www.kingfisherfiber.com

ADVA AG Optical Networking Kotura

Campus Martinsried
Fraunhoferstraße 9a
82152 Martinsried
Germany
Tel.: +49 89 8 90 66 50
www.advaoptical.com
2630 Corporate Place
Monterey Park, CA 91754
USA
Tel.: +1 626 236 4500
www.kotura.com

Advanced Fiber Resources Ltd. Laser 2000 GmbH

2/F, B-5, Southern Software Park, Argelsrieder Feld 14
Tangjia 82234 Wessling
Zhuhai 519080 Germany
P. R. China
Tel.: +49 8153 40 50
Tel.: +86 756 389 8088
www.laser2000.de
www.fiber-resources.com

Agiltron Inc. Laser Components GmbH

15 Presidential Way Werner-von-Siemens-Straße 15
Woburn, MA 01801 82140 Olching
USA Germany

Tel.: +1 781 935 1200 Tel.: +49 8142 2 86 40, e-mail:

info@lasercomponents.com
www.agiltron.com
 www.lasercomponents.com

AiDi USA, Inc. Lasermate Group, Inc.

90 New Montgomery St., 8th Floor 1987 W. Holt Ave.
San Francisco, CA 94105 Pomona, CA 91768
USA USA

Tel.: +1 415 766 4380 Tel.: +1 909 623 4995

www.aidicorp.com www.lasermate.com

Alcon Technologies Inc. Lasertec Inc.

11201 Hampshire Ave S No 3 GuanQian Road
Minneapolis, MN 55438 JinAn Fuzhou
USA Fujian 350014
P. R. China
Tel.: +1 952 445 4072
Tel.: +86 591 8805 6805, e-mail:
www.alcon-tech.com
sales@lcoptical.com

www.lcoptical.com

Alfa Photonics SAS Luciol Instruments SA

Site Data IV- Bat E1 7b Route Suisse
Route de Nozay 1295 Mies
91460 Marcoussis Switzerland
France
Tel.: +41 22 755 56 50
Tel.: +33 1 69 63 26 05
www.luciol.com
www.alfaphotonics.com

Alnair Labs Modulight, Inc.

Westside Gotanda 2F, 6–2–7 Nishi- Hermiankatu 22
Gotanda, 33720 Tampere
Shinagawa-ku, Tokyo 141–0031 Finland
Japan
Tel.: +358 20 7 43 90 00
Tel.: +81 3 5487 7831
www.modulight.com
www.alnair-labs.com

Amonics Ltd. MPB Communications

Unit 101, 1/F, Winning Centre Head Office
29 Tai Yau Street 147 Hymus Boulevard
San Po Kong, Kowloon Montreal, Quebec H9R 1E9
Hong Kong Canada

Tel.: +852 2428 9723 Tel.: +1 514 694 8751

www.amonics.com www.mpbc.ca

Anritsu Company NeoPhotonics

1155 East Collins Boulevard, Suite 100 2911 Zanker Road
Richardson, TX 75081 San Jose, CA 95134
USA USA

Tel.: +1 972 644 1777 Tel.: +1 408 232 9200

www.anritsu.com www.neophotonics.com

BaySpec Inc. Nuphoton Technologies

1101 McKay Drive 41610 Corning Place
San Jose, CA 95131 Murrieta, CA 92562
USA USA

Tel.: +1 408 512 5928 Tel.: +1 951 696 8366 ext 102

www.bayspec.com www.nuphoton.com

CASIX Inc. Oclaro, Inc.

20 Fuxing Street World Headquarters
350014 Fuzhou, Fujian 2560 Junction Ave.
P. R. China San Jose, CA 95134
USA
Tel.: +86 591 8362 0115, e-mail:
sales@casix.eu Tel.: +1 408 383 1400

www.casix.com www.oclaro.com

CETC 41ST OF-LINK Communications Co., Ltd.

No. 79 HongKong East Road
Qingdao
P.R. China
Tel.: +86 532 6886 4758, e-mail:
fujianren@e-jiaxun.com
www.ei41.com/41en/Html/main.asp
5F, The Brilliant Science and Technology
Park
Minqing Rd., New Longhua Dist.
Shenzhen 518109
P. R. China
Tel.: +86 755 2302 0615, e-mail: sales@of-
 link.com

www.of-link.com

Corning Inc. OFS Global Headquarters

One Riverfront Plaza 2000 Northeast Expressway
Corning, NY 14831 Norcross, Georgia 30071
USA USA

Tel.: +1 607 974 9000 Tel.: +1 770 798 2000

www.corning.com www.ofsoptics.com

COVEGA Corporation Optical Comb, Inc.

10335 Guilford Road Imperial Ochanomizu 302
Jessup, MD 20794 3–11–2 Kanda Ogawamachi, Chiyoda-ku
USA Tokyo 101–0052
Japan
Tel.: +1 240 456 7100
Tel.: +81 3 6426 2831
www.covega.com
www.optocomb.com/eng

Discovery Semiconductors, Inc. Optiwave Photonics Limited

119 Silvia Street Plot #70, Road #10
Ewing, NJ 08628 IDA, Mallapur
USA Hyderabad – 500 076. AP
India
Tel.: +1 609 434 1311
Tel.: +91 40 2717 8639 / 2717 8649
www.discoverysemi.com
www.optiwavephotonics.com

DK Photonics Technology Co., Ltd. Optoplex Corporation

D Bldg., Huafeng Industry Park 3342 Gateway Blvd.
Hangcheng Rd., Xixiang, Bao’an Fremont, CA 94538
Shenzhen, 518000 USA
P. R. China
Tel.: +1 510 490 8320
Tel.: +86 0755 3682 0366, e-mail:
www.optoplex.com
info@dkphotonics.com

www.dkphotonics.com
Draka Comteq Optical Fibre Photop Technologies, Inc.
Zwaanstraat 1 253 Fuxin East Road
5651 CA Eindhoven Fuzhou, Fujian, 350014
The Netherlands P. R. China

Tel.: +31 40 295 8600 Tel.: +86 591 8805 2800

fibre.prysmiangroup.com www.photoptech.com

Edmund Optics Picometrix

Schönfeldstr. 8 2925 Boardwalk
76131 Karlsruhe Ann Arbor, MI 48104
Germany USA

Tel.: +49 721 6 27 37 30 Tel.: +1 734 864 5600

www.edmundoptics.com www.picometrix.com

ELUXI Ltd. Polytec GmbH

Harborough Innovation Centre Polytec-Platz 1–7
Airfield Business Park 76337 Waldbronn
Leicester Road Germany
Market Harborough, LE16 7WB
Tel.: +49 7243 604 1720
United Kingdom

www.polytec.de
Tel.: +44 1858 41 4220, e-mail:
enquiries@eluxi.co.uk

www.eluxi.co.uk

EQ Photonics GmbH Qingdao E-jiaxun Optical and Electrical Info Co.,

Obere Hauptstr. 30 Ltd.
85386 Eching Villa 2, No. 79 Hongkong East Road
Germany Laoshan District, Qingdao
P. R. China
Tel.: +49 89 31 90 19 23
Tel.: +1 86 532 68864779, e-mail:
www.eqphotonics.de
ejiaxunoptical@gmail.com

www.ejiaxunoptical.com

Exfiber Optical Technologies Co., Ltd. RED-C Optical Networks Ltd.

No.501–504, 2nd Building Atidim Technology Park, Bldg. 3
Zancheng Taihe Plaza, No.58 Qianjiang Tel Aviv 61580
Rd Israel
Hangzhou
Tel.: +972 3 7 69 12 22
P. R. China

www.red-c.com
Tel.: +86 571 8502 8939

www.exfiber.com

EXFO Inc. Rising Electro-Optics Ltd.

400 Godin Avenue 1st Floor, Bldg 24#, Jinshan Fuwan
Quebec, Quebec G1M 2K2 Industrial Park
Canada No.869, Pan Yu Road
Fuzhou, Fujian 350002
Tel.: +1 418 683 0211, e-mail:
P. R. China
info@exfo.com
Tel.: +86 591 8334 9016
www.exfo.com
www.rising-eo.com

Fiber Connections, Inc. Rosenberger-OSI GmbH & Co. OHG

5878 Highway #9 Endorferstr. 6
Schomberg, ON L0G 1T0 86167 Augsburg
Canada Germany

Tel.: +1 905 939 2808 Tel.: +49 821 24 92 40

www.fiberc.com www.rosenberger-osi.com

Fiberise Shenzhen Golight Technology Co., Ltd

Baskerville House, Centenary Square
Birmingham, B1 2ND
United Kingdom
Tel.: +44 870 486 8809
6/F, Dawei Building
54 Jianshe West Road, Longhua Town,
Bao'an District
Shenzhen, Guangdong Province
P. R. China

www.fiberise.com
Tel.: +86 755 8349 3996, e-mail:
sales@go2light.com

www.go2light.com/en

FiberLogix Intl. Ltd. SHKE Communication Tech

Ashley House West, 6/F, Unit 1, Zhongyuntai Science &
Vale Industrial Park Tech Industrial Park
Tolpits Lane Tangtou 1st Road
Watford. WD18 9QP
United Kingdom
Tel.: +44 1923 77 7766
www.fiberlogix.com
Fiberon Technologies
287 Turnpike Road
Westborough, MA 01581
USA
Tel.: +1 508 616 9500
www.fiberon.com
Fiberstore Co., Ltd.
5-D Inteligent Tower, Fumin Rd.
Futian District
Shenzhen 518045
P.R. China
Tel.: +86 755 8300 3611
www.fiberstore.com
Fibertronix AB
Håstaholmen 4
824 42 Hudiksvall
Sweden
Tel.: +46 65 03 66 18
www.fibertronix.com
Fujikura
1–5–1, Kiba, Kouto-ku
Tokyo 135–8512
Japan
Tel.: +813 5606 10 30
www.fujikura.co.jp/eng
Shiyan, Bao'an District, Shenzhen
P. R. China
Tel.: +86 755 8253 5150
www.shke.com.cn
Sichuan Huiyuan Plastic Optical Fiber Co.,Ltd
Chongzhou Industrial Developmet Zone
Chengdu, Sichuan 611230
P. R. China
Tel.: +86 28 8238 2755, e-mail:
sherlysheng@hotmail.com
en.pof.com.cn
Silitec Fibers SA
Route de la Gare 70
2017 Boudry
Switzerland
Tel.: +41 32 843 80 00, e-mail:
info@silitec.ch
www.silitec.ch
Source Photonics
20550 Nordhoff Street
Chatsworth, CA 91311
USA
Tel.: +1 818 773 9044
www.sourcephotonics.com
Southern Photonics Ltd
Level 6, Symonds Centre
49 Symonds St
Auckland 1010
New Zealand
Tel.: +64 9 3 73 38 40
www.southernphotonics.com
Furukawa Electric
Marunouchi Nakadori Bldg.
2–3, Marunouchi 2-chome
Chiyodaku, Tokyo 100–8322
Japan
www.furukawa.co.jp
GigOptix, Inc.
130 Baytech Drive
San Jose, CA 95134
USA
Tel.: +1 408 522 3100
www.gigoptix.com/contact
Ibsen Photonics A/S
Ryttermarken 15–21
3520 Farum
Denmark
Tel.: +45 44 34 70 00
www.ibsen.dk
Industrial Fiber Optics, Inc.
1725 West 1st Street
Tempe, AZ 85281–7622
USA
Tel.: +1 480 804 1227
i-fiberoptics.com
Infini Fiber Optic Cable
Block 5, Wangtang Industrial Park
Nanshan Area
Shenzhen
Sumitomo Electric Lightwave Corp.
78 T. W. Alexander Drive
P. O. Box 13445
Research Triangle Park, NC 27709
USA
Tel.: +1 800 358 7378
www.sumitomoelectric.com
TeraXion
2716 Einstein St.
Quebec, Quebec G1P 4S8
Canada
Tel.: +1 418 658 9500
www.teraxion.com
Thorlabs
56 Sparta Avenue
Newton, NJ 07860
USA
Tel.: +1 973 300 3000, e-mail:
sales@thorlabs.com
www.thorlabs.com
TTI Fiber Communication Tech. Co., Ltd.
East 6/F, Building 1
Zhongyuntai Industrial Park
Yingrenshi, Shiyan, Bao’an District
Shenzhen 518108
P. R. China
Tel.: +86 0755 2663 7069
www.ttifiber.com
Verrillon
15 Centennial Drive
North Grafton, MA 01536
 P. R. China USA

Tel.: +86 75586 6 1756 Tel.: +1 508 890 7100

www.infinifiber.com www.verrillon.com

InPhenix, Inc. VERTILAS GmbH

250 North Mines Rd Lichtenbergstrasse 8
Livermore, CA 94551 c/o Gate Garching
USA 85748 Garching
Germany
Tel.: +1 925 606 8809, e-mail:
info@inphenix.com Tel.: +49 89 54 84 20 00

www.inphenix.com www.vertilas.com

Integra Networks Vitesse Semiconductor Corporation

745 Albany Shaker Rd. 741 Calle Plano
Latham, NY 12110 Camarillo, CA 93012–8543
USA USA

Tel.: +1 877 402 3850 Tel.: +1 805 388 3700

integranetworks.net www.vitesse.com

JDS Uniphase Corporation

430 N. McCarthy Blvd.
Milpitas, CA 95035
USA

Tel.: +1 408 546 5000

www.jdsu.com

CAMPO DI APPLICAZIONE DELLE FIBRE OTTICHE

PARAMETRO VALORI TIPICI
Risoluzione in temperatura 0.1°C
Precisione in temperatura 5°C
Intervallo temperatura del sensore da 50°C a 700°C
da 0°C a 200°C
da -20°C a 110°C
Intervallo lunghezza d'onda 0.05-2.2 nm
2-60 nm
C-Band: 1530-1565 nm
 L-Band: 1565-1625 nm
Frequenza FWHM 50 GHz
100 GHz
200 GHz
Larghezza di banda 50 GHz
100 GHz
Riflettanza 10-99.99%
Tipicamente > 99.5%
Materiale connettore Acciaio blindato con rivestimento LDPE
Tipo di connettore FC/APC
Stabilità termica < 1 pm/°C

COMPATIBILITÀ CON L'HW DI CONDIZIONAMENTO DEL SEGNALE

Il sistema di acquisizione del segnale proveniente da un sensore FBG è
schematizzato più sotto.

Figura 19 - Schema del sistema di acquisizione del segnale

Descrizione dello schema in Figura 19:

• Il pc definisce con quale intensità la sorgente deve emettere la luce e con quali
valori l'interrogatore deve acquisire (verde).
• La sorgente invia impulsi ottici al sensore FBG (verde) che riflette un'onda
luminosa con una precisa lunghezza d'onda di Bragg (rosso).
 • L'interrogatore ottico riceve il segnale riflesso (rosso), rileva la sua lunghezza
d'onda e lo elabora per poterlo salvare nel pc (rosso).

Figura 20 - Sorgente - interrogatore OTTOLIGHT

Nel corso di una generica acquisizione di un segnale ottico proveniente da un sensore

FBG possono essere regolati vari parametri attraverso un programma realizzato in
LabView che ha lo scopo di mettere in comunicazione il PC con la
sorgente/interrogatore. I parametri che possono essere definiti dall'utente sono
l'intensità della luce in mW per la sorgente luminosa (regolata tramite una densità
spettrale di potenza), il guadagno di amplificazione, la frequenza di acquisizione, il
numero di medie nell'intervallo di misura e il valore di soglia per l'interrogatore ottico.1

SPECIFICHE OTTICHE DELLA SORGENTE - INTERROGATORE OTTOLIGHT

Larghezza spettrale della sorgente a banda larga 70 nm
Potenza in uscita < 1 mW
Sensori FBG per fibra 4 (8 opzionali)
Valori centrali lunghezze d'onda (versione a 4 sensori) 1529, 1547, 1565, 1583 nm
Numero di fibre 1
Intervallo massimo misurabile per fibra Fino a 8000 pm (4000 pm con 8 sensori)
Risoluzione massima 0.1 pm
Accuratezza su FSR 0.1%

I SENSORI PIEZOELETTRICI

1
Come un qualsiasi segnale di misura, anche quello ottico è affetto da rumore; il livello raggiunto da quest'ultimo
deve essere tale da non confondere il segnale d'interesse. Per questo è sempre un buon accorgimento aumentare
l'intensità luminosa in modo da fare emergere maggiormente il segnale riflesso dal rumore di fondo. Bisogna però
stare attenti a non eccedere con l'aumento della luminosità altrimenti il segnale riflesso presenta un picco talmente
elevato da mandare in saturazione lo strumento e non permettere all'interrogatore ottico l'individuazione corretta
del picco di lunghezza d'onda λB.
 Sono sistemi elettrici "attivi"; in altre parole, i cristalli producono un’uscita
elettrica solo quando si ha una variazione nel carico (stress) meccanico. Per questa
ragione, non sono in grado di compiere misure statiche nel vero senso della parola; non
è comunque corretto affermare che la strumentazione piezoelettrica è in grado di
eseguire solo misure dinamiche: trasduttori a quarzo, accoppiati ad adeguati circuiti per il
condizionamento del segnale, possono effettuare misure quasi statiche in modo
eccellente e con ottima precisione, su intervalli di minuti e finanche di ore. I sensori
piezoelettrici sono utilizzati sia nei laboratori sia nelle linee di produzione, in tutte quelle
applicazioni che richiedono misure accurate dei cambiamenti dinamici di grandezze
meccaniche quali la pressione, la forza e l’accelerazione. La lista delle possibili
applicazioni continua a crescere e, a tutt’oggi, comprende l’aerospazio, la balistica, la
biomeccanica, l’ingegneria meccanica e strutturale.

La maggior parte dei trasduttori piezoelettrici utilizza il quarzo come sensore in virtù
delle sue eccellenti caratteristiche: elevata resistenza allo stress meccanico, resistenza a
temperature fino a 500°C, alta rigidità, alta linearità, isteresi trascurabile, sensibilità
costante in un ampio range di temperature e bassissima conducibilità. Sono comunque in
uso anche gli elementi piezoceramici.

I trasduttori in quarzo consistono essenzialmente in sottili lastre di cristallo tagliate in

modo opportuno (rispetto agli assi del cristallo), secondo la specifica applicazione; il
cristallo genera un segnale (una carica da pochi pC) che è proporzionale alla forza
applicata. Il meccanismo piezoelettrico è semplice: quando al cristallo è applicata una
forza meccanica, le cariche elettriche si spostano e si accumulano sulle facce opposte. La
forma e le dimensioni del cristallo dipendono dall’applicazione specifica; gli
accelerometri in genere hanno una massa aggiuntiva (detta "sismica").

Esistono due diverse soluzioni: a flessione e a compressione. La configurazione a

compressione ha il vantaggio di un’alta rigidità che la rende adatta per la rilevazione di
pressioni e forze ad alta frequenza. Alla semplicità del sistema a flessione si contrappone
il limitato range di frequenze di funzionamento e la bassa tolleranza ai sovraccarichi
meccanici. La configurazione "shear" (o a taglio) è quella tipicamente adottata negli
accelerometri poiché offre il giusto equilibrio tra range di frequenze utilizzabili, bassa
sensibilità alle sollecitazioni fuori asse, bassa sensibilità alle sollecitazioni della base e
bassa deriva termica. Il taglio del cristallo è spesso oggetto di brevetto; la maggior parte
dei sensori Kistler, ad esempio, include un elemento che è sensibile a carichi sia di
compressione sia shear; altri tagli "specializzati" includono il taglio trasversale (per alcuni
trasduttori di pressione) e il taglio "polistabile" per trasduttori di pressione ad alta
temperatura.
La struttura tipica di sensori di forza, pressione e accelerazione è caratterizzata dalla
presenza di un contenitore del sensore, il cristallo piezoelettrico e l’elettrodo in cui si
localizza la carica generata per effetto piezoelettrico prima che sia condizionata
dall’amplificatore. L’accelerometro incorpora anche una massa. Non c’è molta differenza
nella configurazione interna tra i diversi tipi di sensore. Negli accelerometri, che
misurano la variazione di moto, la massa sismica è costretta dal cristallo a seguire i
movimenti della base e della struttura cui è attaccata.

Dalla forza risultante è possibile ottenere l’accelerazione tramite la legge di Newton 𝐹 =

𝑚𝑎. I sensori di pressione e forza sono quasi identici e, in entrambi i casi, la forza è
applicata direttamente sul cristallo; differiscono principalmente nel fatto che i sensori di
pressione utilizzano un diaframma per convertire la pressione (che è forza per unità di
area) in forza. A causa delle suddette analogie, i sensori progettati per misurare una
grandezza spesso sono sensibili anche ad altre sollecitazioni. Questa sensibilità è spesso
indesiderata e può essere ridotta con una progettazione accurata: nei sensori di
pressione, ad esempio, può essere introdotto un elemento di compensazione per ridurre
la sensibilità all’accelerazione; detto elemento altro non è che un accelerometro
opportunamente calibrato, connesso in serie al sensore di pressione, con polarità
opposta.

Un altro problema è la deriva termica del cristallo; questa può essere compensata
mediante l’utilizzo di amplificatori con caratteristica termica opposta. Come già detto in
precedenza, il segnale (una carica elettrica) generato dal cristallo va amplificato
utilizzando un amplificatore a elevata impedenza d’ingresso. Il dispositivo attivo è un
amplificatore di tensione ad alto guadagno (in configurazione invertente) con ingresso a
Fet o Mosfet. In sostanza, l’amplificatore agisce da integratore di carica compensando la
carica del trasduttore con una carica di valore uguale, ma polarità opposta, producendo
così una tensione ai capi del condensatore. In linea di principio, più che di amplificatore,
si dovrebbe quindi parlare di convertitore carica-tensione.

I due parametri più importanti di cui tenere conto nell’utilizzo pratico degli amplificatori
di carica sono la costante di tempo e il drift. La costante di tempo è definita come il
tempo di scarica di un circuito accoppiato in AC: applicando in ingresso un gradino,
trascorso un intervallo pari alla costante di tempo la tensione in uscita si riduce al 37%
del suo valore iniziale. Il drift è definito come la variazione (indesiderata) del livello di
uscita nel tempo, quando il segnale applicato in ingresso è costante. Dei due effetti uno
sarà dominante: con ingresso "nullo" (forza sul cristallo costante) l’uscita
dell’amplificatore di carica saturerà alla tensione di alimentazione (se a dominare sarà il
drift) o decadrà a zero (alla velocità della costante di tempo). La costante di tempo ha
inoltre un impatto importante sulle prestazioni del sensore nel suo complesso: in
generale, più lunga è la costante di tempo migliore è la risposta del sensore in bassa
frequenza.

Nella misura delle vibrazioni l’amplificatore si comporta sostanzialmente come un filtro

passa alto a singolo polo: se si vogliono misurare eventi impulsivi, la costante di tempo
deve essere almeno 100 volte più grande della durata totale dell’evento stesso; in caso
contrario, la componente in continua del segnale d’uscita va a zero prima che l’evento sia
terminato.

Il progredire della microelettronica ha reso possibile l’integrazione dell’amplificatore nel

sensore; i dispositivi di questo tipo sono classificati come sensori a "bassa impedenza" e
offrono una serie di vantaggi tra i quali si ricorda:

• la disponibilità in uscita di un segnale di tensione a bassa impedenza compatibile

con la maggior parte della strumentazione di misura;
• la possibilità di trasmettere il segnale in cavi di notevole lunghezza senza degrado
delle prestazioni;
• la possibilità di caratterizzare in modo molto preciso il sensore le cui prestazioni
non dipendono più dall’elettronica cui è collegato.

Dal canto loro i sensori cosiddetti ad "alta impedenza" - quelli cioè che non
integrano l’amplificatore - sono di utilizzo più complesso, in quanto:

• hanno bisogno di un circuito esterno di condizionamento e conversione del

segnale;
• a causa dell’elevata impedenza d’uscita sono più sensibili ai disturbi ambientali
quali accoppiamenti parassiti, interferenze elettromagnetiche, ecc.;
• richiedono speciali cablaggi a basso rumore e bassa perdita che necessariamente
non possono essere molto lunghi.

I sensori ad alta impedenza però offrono anche alcuni vantaggi rispetto a quelli
a bassa impedenza. Non integrando elettronica, sono utilizzabili anche a temperature
molto elevate (fino a 500°C); inoltre, le caratteristiche in termini di sensibilità e risposta
in frequenza possono essere modificate agendo sull’amplificatore esterno. In
conclusione, i sensori piezoelettrici possono offrire prestazioni uniche rispetto ai sensori
realizzati con altre tecnologie; la convenienza del loro utilizzo va valutata tenendo conto
dei vantaggi (l’ampio range di frequenze e di temperature di lavoro) e degli svantaggi
(non eseguono misure statiche) alla luce della specifica applicazione.