Tema 16.1 Muestreo Aceptacion David Gen

MUESTREO DE ACEPTACIÓN ING.
DAVID SANGA / UASF
MUESTREO DE
ACEPTACIÓN
Elaborado por: Ing. David Andrés Sanga Tito

Enero del 2015
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MUESTREO DE ACEPTACIÓN ING. DAVID SANGA / UASF
CONTENIDO
1. Muestreo de aceptación por atributos

1.0 Métodos estadísticos para la mejora de la calidad
1.1 Muestreo de aceptación por atributos
1.2 Muestreo simple por atributos
1.3 Muestreo doble, múltiple y secuencial
1.4 Tablas de muestreo MIL-STD-105E o Z1.4
2. Muestreo de aceptación por variables

2.1 Ventajas y desventajas
2.2 Método de control de la fracción defectiva
2.3 Tablas ASQC Z1.9 de muestreo por variables
2.4 Uso de las tablas
2.5 Otros procedimientos de muestreo por variables
Preguntas y ejercicios
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1. MUESTREO DE ACEPTACIÓN POR ATRIBUTOS
1.0 MÉTODOS ESTADÍSTICOS PARA LA MEJORA DE LA CALIDAD

Se utilizan tres métodos estadísticos principales para el monitoreo y mejora de procesos: las cartas de control, el diseño de
experimentos y el muestreo estadístico, además de las herramientas estadísticas para la solución de problemas en planta por
grupos de trabajo o Círculos de calidad.
CARTAS DE CONTROL
La carta de control es una técnica muy útil para el monitoreo de los procesos, cuando se presentan variaciones anormales donde
las medias o los rangos salen de los límites de control, es señal de que se debe tomar acción para remover esa fuente de
variabilidad anormal. Su uso sistemático proporciona un excelente medio para reducir la variabilidad.
LSC (UCL) = Límite superior de control

LC = Línea central
LIC (LIC) = Límite inferior de control
Fig. 1.1 Carta de control de Shewhart y sus límites de control
Fig. 1.2 Carta de control y patrones de anormalidad
Ejemplo 1.1 Identificar una situación donde se pueda monitorear un comportamiento o una característica de calidad (dimensión,
tiempo, etc.), identificar como medir, cada cuando medir y que muestra se toma.
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Discutir sus hallazgos con el grupo.
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DISEÑO DE EXPERIMENTOS
Un experimento diseñado es muy útil para descubrir las variables clave que tienen influencia en las características de calidad de
interés del proceso. Es un método para variar en forma sistemática los factores controlables del proceso y determinar los efectos
que tienen esos factores en los parámetros finales del producto. Permite reducir la variabilidad en la característica de calidad y en
determinar los niveles más adecuados de los factores controlables que optimicen el desempeño del proceso.
ENTRADAS CONTROLABLES
X1 X2 XP
PROCESO
INSUMOS DEL PROCESO Y CARACT.DE CALIDAD
Materias primas,
Componentes, etc.
Z1 Z2 ZQ
ENTRADAS NO CONTROLABLES
Fig. 1.3 Proceso de producción, entradas y salidas
El principal método para diseñar experimentos es el diseño factorial, en el cual los factores son variados de tal forma de probar
todas las posibles combinaciones de los niveles de los factores.
El diseño de experimentos es una herramienta fuera de línea es decir se utiliza durante el desarrollo de los productos o procesos,
más que durante su fabricación.
Una vez que se han identificado las variables que afectan el desempeño del proceso, normalmente es necesario modelar la
relación entre estas variables y la característica de calidad de interés. Para lo cual se puede utilizar el análisis de regresión.
El monitoreo en el proceso de las variables relevantes que afectan las características de calidad se hace por medio de cartas de
control.
Ejemplo 1.2 Identificar un proceso y describir como se pueda experimentar variando algunos factores en ciertos niveles y midiendo
una característica del producto.
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_________________________________________________________________.
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MUESTREO DE ACEPTACIÓN
Está relacionado con la inspección y prueba del producto, donde se selecciona e inspecciona una muestra aleatoria de un lote
mayor, resultando en una aceptación o rechazo de ese lote mayor, esto ocurre en la recepción de materias primas y componentes y
en el producto terminado.
Tiene las siguientes ventajas:

- El costo de evaluación es menor que con la inspección al 100%
- Se puede aplicar más fácilmente cuando se trata de realizar pruebas destructivas.
- Se puede aplicar presión sobre la calidad de los lotes de proveedores ya que con una pequeña muestra puede ser rechazado
el total de su lote.
Entre sus desventajas se encuentran:

- Se pueden cometer errores al aceptar lotes defectivos, dada la probabilidad finita de encontrar productos defectivos en la
muestra.
- Si los lotes no son uniformes, el muestreo no es una técnica confiable.
- No se garantiza que los lotes aceptados estén libres de defectivos.
A continuación se muestran diferentes esquemas de la aplicación del método.
a) INSPECCIÓN EN LINEA FINAL o EN PROCESO ENVIO
PROCESO INSPECCION CLIENTE

INTERNO O
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EXTERNO
Productos Productos
b) INSPECCION EN RECIBO DE MATERIALES COMPRADOS
ENVIO CLIENTE /
PROVEEDOR Materias primas INSPECCION
Materias primas PLANTA
c) INSPECCION RECTIFICADORA ACEPTAR ENVIO CLIENTE /
PLANTA
PROVEEDOR Materias INSPECCION
primas
RECHAZO
Desperdicio Retrabajo Selección

DISPOSICIÓN DE LOTES
Fig. 1.4 Variaciones del muestreo de aceptación
El muestreo de aceptación tiende a reforzar el apego o conformancia a especificaciones pero no tiene un efecto de
retroalimentación en el proceso de producción o diseño que mejoren la calidad.
Ejemplo 1.3 Identificar un proceso o línea donde se aplique el muestreo de aceptación explicando como se realiza y por qué.
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Ejemplo 1.4 Identificar un material comprado donde se aplique el muestreo de aceptación en recepción explicando como se realiza
y por qué.
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Ejemplo 1.5 Identificar un material crítico que se inspeccione en recibo y se seleccione si se encuentra defectivo, explicar este
proceso y sus resultados e impacto en las líneas de producción.
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_________________________________________________________________.
En el transcurso del tiempo, las tres técnicas estadísticas anteriores han tenido la evolución siguiente:
Fig. 1.5 Evolución de la aplicación deMUESTREO

métodos estadísticos
DE
100% ACEPTACION
CONTROL DE PROCESO
PáginaDISEÑO
5 de 35 DE
EXPERIMENTOS
0%
Tiempo
El muestreo se ha estado utilizando para calificar los lotes de proveedores, sin embargo ha estado siendo desplazado por métodos
preventivos como el CEP y el diseño de experimentos, delegando toda la responsabilidad en el proveedor.
1.1 MUESTREO DE ACEPTACIÓN POR ATRIBUTOS
Si se recibe un lote de un proveedor, se toma una muestra y se evalúan algunas de las características del producto, en base a los
resultados se toma una decisión sobre la disposición del lote, ya sea aceptados para su uso en producción, o rechazados para que
el proveedor tome acciones.
Fig. 1.6 Proceso de inspección por muestreo
Hay 3 aspectos importantes del muestreo:

1. Su propósito es calificar los lotes, no estimar los parámetros del lote.
2. No proporcionan un mecanismo de control de calidad, simplemente aceptan o rechazan lotes.
3. Sirven como herramienta de auditoría para asegurar que la calidad de un lote esté de acuerdo a especificaciones.
Existen 3 alternativas para calificar un lote:

1. Aceptar sin inspección. Con proveedores confiables.
2. Inspeccionar al 100%, separando los productos defectuosos.
3. Realizar un muestreo de aceptación.
La aceptación por muestreo es más útil en las situaciones siguientes:

1. Cuando las pruebas son destructivas.
2. Cuando el costo de la inspección 100% es muy alto.
3. Cuando la inspección 100% es muy tardada.
4. Cuando las cantidades a inspeccionar 100% son muy altas y con tasa de defectos baja, que haga que se causen errores al
inspeccionar, dejando pasar productos defectuosos.
5. Cuando el proveedor no es confiable al 100%, o su capacidad de proceso es baja.
6. Cuando hay riesgo de generar problemas legales por productos críticos.
1.1.1 VENTAJAS Y DESVENTAJAS DEL MUESTREO
Cuando se utiliza inspección por muestreo, se tienen las ventajas siguientes:

1. Es más barato, requiriendo menos inspección.
2. Existe un menor manejo de producto o menor daño.
3. Se aplica a pruebas destructivas.
4. El rechazar un lote completo en lugar de sólo las partes defectivas, motiva al proveedor a mejorar su calidad.
El muestreo de aceptación también presenta varias desventajas:

1. Existe el riesgo de “aceptar” lotes malos y de “rechazar” lotes buenos.
2. La información que se genera respecto al producto o proceso es poca.
3. El muestreo de aceptación requiere documentación y planeación, no así la inspección 100%.
1.1.2 TIPOS DE PLANES DE MUESTREO
Existen diversas clasificaciones de estos planes, una de ellas es la de variables y atributos. Una característica se expresa en
variables si se puede medir, o en atributos si se califica como “pasa no pasa”.
Un plan de muestreo simple es un procedimiento de calificación de lotes, donde se toma una muestra aleatoria de n partes y la
disposición del lote es determinada dependiendo de los resultados de la muestra, aceptándose si se encuentran hasta c productos
defectivos.
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Un plan de muestreo doble implica que después de tomar una muestra e inspeccionar, se toma una decisión de (1) rechazar, (2)
aceptar o (3) tomar una segunda muestra, si esto sucede, se combina la información de la primera y de la segunda para tomar una
decisión.
Un plan de muestreo múltiple es una extensión del doble, en el cual más de dos muestras pueden ser necesarias antes de tomar
una decisión. Los tamaños de estas muestras son más pequeños que en el muestreo doble.
El muestreo secuencial implica la selección de unidades del lote, una por una, tomando decisiones de aceptar o rechazar el lote
después de un cierto número de unidades.
Se pueden desarrollar planes de muestreo que produzcan resultados similares con cualquiera de las modalidades anteriores.
1.1.3 FORMACIÓN DE LOTES
Para inspección de lotes, estos deben cumplir las características siguientes:
1. Deben ser homogéneos, las unidades deben ser producidas por las mismas corridas de producción, en condiciones
similares. Es difícil tomar acciones correctivas para lotes mezclados.
2. Lotes grandes son preferibles a lotes pequeños, dado que la inspección es más eficiente.
3. Los lotes deben manejarse en forma similar con el proveedor y con el cliente, las partes deben estar empacadas
adecuadamente para evitar riesgos de daño y permitir la selección de muestra en forma sencilla.
MUESTREO ALEATORIO
Las muestras deben ser representativas del lote, no deben tomarse sólo partes de las capas superiores, sino de preferencia
numerar las partes con un número y seleccionar con tablas de números aleatorios o también se puede estratificar el lote.
1.1.4 GUIA DE APLICACIÓN DE PLANES DE MUESTREO

Un plan de aceptación es el establecimiento del tamaño de muestra a ser usado y el criterio de aceptación o rechazo para calificar
lotes individuales.
Un esquema de aceptación es un conjunto de procedimientos de planes de aceptación en los cuales se relacionan los tamaños de
lote, tamaño de muestra, criterio de aceptación o rechazo, la cantidad de inspección 100% y de muestreo.
Un sistema de muestreo es un conjunto de esquemas de muestreo. Los procedimientos de muestreo de aceptación son:
Procedimiento Procedimiento
Objetivos por atributos por Variables
1. Asegurar niveles de calidad Plan específico Plan específico

Para el consumidor y productor en base a curva OC en base a curva OC
2. Mantener la calidad en el Sistema de AQL Sistema de AQL

objetivo MIL-STD-105E MIL-STD-414
Los clientes están enfocados a mejorar la calidad de sus proveedores, seleccionando a los mejores y trabajando en forma cercana
para reducir su variabilidad, con técnicas de control estadístico del proceso. El muestreo de aceptación se utiliza mientras se
mejora la calidad con el proveedor.
1.2 MUESTREO SIMPLE POR ATRIBUTOS
En este sistema se toma una muestra simple aleatoria del lote (n) cuyo tamaño es (N) y si se encuentra hasta un máximo de partes
defectivas (c.) se acepta el lote, de otra forma se rechaza.
Ejemplo 1.6 En la bolsa de fichas se encuentran algunas de otro color representando las defectuosas, tomar 10 muestras de 20
fichas cada una y anotar cuantas defectuosas se obtuvieron, indicando si se acepta o se rechaza el lote, si c = 2.
Muestra Defectuosas Lote aceptado (X) Lote rechazado (X)

En la muestra
1 – 20 partes
2 – 20 partes
3 – 20 partes
4 – 20 partes
5 – 20 partes
6 – 20 partes
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7 – 20 partes
8 – 20 partes
9 – 20 partes
10 - partes
Totales Porcentaje de lotes Porcentaje de lotes
aceptados rechazados
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Muestra Defectuosas Lote aceptado (X) Lote rechazado (Y)

En la muestra
1 – 20 partes
2 – 20 partes
3 – 20 partes
4 – 20 partes
5 – 20 partes
6 – 20 partes
7 – 20 partes
8 – 20 partes
9 – 20 partes
10 - partes
Totales Porcentaje de lotes Porcentaje de lotes
aceptados rechazados
Muestra Defectuosas Lote aceptado (X) Lote rechazado (X)

En la muestra
1 – 20 partes
2 – 20 partes
3 – 20 partes
4 – 20 partes
5 – 20 partes
6 – 20 partes
7 – 20 partes
8 – 20 partes
9 – 20 partes
10 - partes
Totales Porcentaje aceptado Porcentaje rechazado
Un plan de muestreo simple se define por su tamaño de muestra n y el número de aceptación c. El tamaño del lote se especifica
como N.
Por ejemplo si se tiene el plan:

N=10,000
n=89
c=2
Significa que de cada lote de 10,000 partes se toman al azar n=89 para inspección, si el número de productos defectivos
observados en la muestra d es menor o igual a c = 2, el lote se acepta, en caso contrario se rechaza.
1.2.1 LA CURVA OC
La curva característica de operación (OC) muestra la probabilidad de aceptar el lote (Pa o  en el eje Y), versus la fracción
defectiva media en el lote (p en el eje X), mostrando la potencia de discriminación del plan de muestreo.
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Fig. 1.7 Curva característica de operación y plan de muestreo
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Ejemplo 1.9 El total de fichas de otro color entre las fichas del color principal representa la fracción defectiva en el lote o sea
_______. Esto representa solo un punto en la curva característica de operación siguiente para n = 20.
Para construir la curva OC completa variar la fracción defectiva como sigue y graficar la probabilidad de aceptación. En Excel
Insertar función (Fx); Estadísticas; seleccionar la función =distr.binom(c, n, p, 1)
Fracción defectiva en el Pa-Probabilidad de Pa-Probabilidad de Pa-Probabilidad de

lote aceptación c = 4 aceptación c = 2 aceptación c = 0
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.10
Etc.
La curva característica de operación se obtiene graficando p versus la probabilidad binomial de encontrar y aceptar a lo más c
defectivos o sea:
c
n! d nd
Pa  P{d  c)   p (1  p) (1.1)
d 0 d!(n  d )!
Esto mismo se puede aproximar por la distribución de Poisson para efectos prácticos.
Se puede usar Excel para los cálculos, un ejemplo utilizando la distribución binomial acumulada (opción VERDADERA en Excel) se
muestra a continuación:
1.2.2 CURVA CARACTERÍSTICA DE OPERACIÓN OC

p Pa = 
0.005 0.98968755 Pa
0.01 0.939689918
0.02 0.736577576
0.03 0.498482838
0.04 0.304158359
0.05 0.172076864
0.06 0.091869347 Curva OC
0.07 0.046819851
0.08 0.022955079
0.09 0.010886432
Fig. 1.8 Cálculo de la Curva característica de operación OC p
En este caso si los lotes tienen un 2% de defectivo, su probabilidad de aceptación es de 0.74. Significa que de cada 100 lotes
recibidos, se aceptarán 74 y se rechazarán 26.
A continuación se muestran algunas variaciones de la curva característica de operación variando tanto como el criterio de
aceptación c manteniendo n constante y después manteniendo c como constante y variando n.
Manteniendo n constante y variando c se tiene:
p n = 89, c=0 n = 89 c=1 n = 89, c =2
0.005 0.640109373 0.926389444 0.98968755

0.01 0.408820174 0.776345382 0.939689918
0.02 0.165623034 0.466448545 0.736577576
0.03 0.06647898 0.249467514 0.498482838
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0.04 0.026432591 0.124453451 0.304158359
0.05 0.010408805 0.059165839 0.172076864
0.06 0.004058625 0.027115072 0.091869347
0.07 0.001566688 0.01206181 0.046819851
0.08 0.000598572 0.005231002 0.022955079
0.09 0.0002263 0.002218234 0.010886432
Pa
c=0, 1, 2
P (fracción defectiva en el lote)
Para el caso en que lo que se varíe sea n se tiene:
p n = 50, c=2 n = 100, c = 2 n = 200, c = 2
0.005 0.997944456 0.985897083 0.920160568

0.01 0.986182729 0.920626798 0.676678695
0.02 0.921572252 0.676685622 0.235148136
0.03 0.810798075 0.419775083 0.059290946
0.04 0.676714004 0.232142624 0.012489138
0.05 0.540533123 0.118262981 0.002336294
0.06 0.416246472 0.056612777 0.000400477
0.07 0.310788561 0.025788541 6.40456E-05
0.08 0.225974275 0.011272803 9.66278E-06
0.09 0.160540491 0.004756131 1.38543E-06
Pa
n=50, 100,200 2
p (fracción defectiva en el lote)
Fig. 1.9 Curvas características de operación diversas
PUNTOS ESPECIFICOS EN LA CURVA OC
Un consumidor frecuentemente fija de común acuerdo con su proveedor, un nivel de calidad aceptable (AQL), que representa el
nivel más pobre de calidad que el consumidor considera aceptable como promedio, normalmente es la fracción defectiva que tiene
un 95% de ser aceptada ( = 0.95).
Por otra parte el consumidor quiere rechazar los lotes en la mayoría de los casos cuando tengan una fracción defectiva de a lo más
un porcentaje defectivo tolerable en el lote (LTPD), normalmente esta fracción defectiva corresponde a una probabilidad de
aceptación del 10% o rechazo del 90% de las veces. También se el denomina Nivel de Calidad Rechazable.
Ejemplo 1.10 Identificar en las curvas del ejercicio 1.9 el AQL y el LTPD aproximados para cada plan de muestreo o curva OC.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
CURVAS OC TIPO A y B.
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La curva OC tipo A utilizando la distribución hipergeométrica se construye cuando se tiene un lote aislado de tamaño finito, se
utiliza cuando n/N >=0.10. En Excel se utiliza la función (Fx Estadísticas) =distr.hipergeom(c, n, fracción defectiva, N).
La curva OC tipo B utiliza la distribución binomial o de Poisson cuando n/N < 0.1, sin embargo en los niveles donde n/N=0.1 ambas
curvas A o B son muy parecidas. Para binomial usar en Excel = distr.binom(c, n, p, 1) y con Poisson =poisson(c, nxp,1)
Ejemplo 1.11 Para n = 20, n = 2, N =100, construir una curva OC utilizando la distribución Hipergeométrica y la distribución
Binomial y de Poisson.
Fracción defectiva en el Pa-Distribución Pa-Distribución binomial Pa-Distribución de

lote Hipergeométrica Poisson
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.10
Etc.
1.2.3 INSPECCIÓN RECTIFICADORA
Los programas de aceptación por muestreo normalmente requieren acción correctiva cuando los lotes son rechazados, de tal forma
que el proveedor los selecciona al 100% remplazando los artículos defectivos por buenos. Esta actividad se denomina inspección
rectificadora por su impacto en la calidad de salida final hacia la planta.
Fig. 1.10 Inspección rectificadora (las piezas malas son reemplazadas y reintegradas al lote)
Suponiendo que los lotes que llegan tienen una fracción defectiva p 0 , después de la actividad de inspección bajo un plan de
muestreo, algunos lotes serán aceptados y otros serán rechazados.
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Los lotes rechazados serán seleccionados al 100% por el proveedor remplazando los artículos defectuosos por buenos después se
integran a los lotes que ingresan a la planta obteniéndose una fracción defectiva p 1 menor a la original, denominada calidad
promedio de salida AOQ, en lotes de tamaño N se tiene:
1. n artículos de la muestra no contienen defectivos.

2. N-n artículos los cuales si el lote se rechazó no contenían defectivos.
3. N-n artículos los cuales si el lote se acepta contienen p(N-n) defectivos.
Así los lotes después del proceso rectificador, contienen un número esperado de defectivos igual a P ap(N-n) con la cual se puede
expresar una fracción defectiva media AOQ como sigue,
Pa p ( N  n)
AOQ  (1.2)
N
Ejemplo 1.12 Suponiendo que N=10,000, c=2 y que la calidad de entrada p=0.01.
Como en la curva característica de operación (para n=89, c=2) cuando p=0.01, Pa = 0.9397, entonces el AOQ es:
Pa p ( N  n) (0.9397)(0.01)(10000  89)
AOQ    0.0093
N 10000
AOQ  0.93% en lugar del 1% entrante.
Cuando N es grande respecto al tamaño de muestra n, se tiene,
AOQ  Pa p (1.3)
La curva de AOQ versus p se muestra a continuación:
Fig. 1.11 Curva de calidad de salida promedio (AOQ)
CURVA AOQ
Fracción defectiva
p Pa Pa . P
0.005 0.98968755 0.004948438
0.01 0.939689918 0.009396899 AOQ
0.02 0.736577576 0.014731552
0.03 0.498482838 0.014954485
0.04 0.304158359 0.012166334 AOQL = 1.55%
0.05 0.172076864 0.008603843
0.06 0.091869347 0.005512161
0.07 0.046819851 0.00327739
0.08 0.022955079 0.001836406
0.09 0.010886432 0.000979779
0.03 p
Fig. 1.12 Cálculo de la Curva de calidad de salida promedio (AOQ) p
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De la gráfica anterior se observa que la curva AOQ tiene un valor máximo o la peor fracción defectiva de salida hacia la planta o
proceso, que se denomina límite de calidad de salida promedio AOQL el cual es aproximadamente 0.0155 o 1.55% defectivo.
Ejemplo 1.12
Para construir la curva AOQ variar la fracción defectiva como sigue y graficar la probabilidad de aceptación binomial multiplicada
por la fracción defectiva. En Excel Insertar función (Fx); Estadísticas; seleccionar la función =distr.binom(c, n, p, 1) y multiplicar por
p.
Fracción defectiva en el AOQ = Pa x p AOQ = Pa x p AOQ = Pa x p

lote (p) c=4 c=2 c=0
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.10
Etc.
El número promedio de inspección total por lote es ATI, igual a:
ATI  n  (1  Pa)( N  n) (1.4)
Ejemplo 1.13 Con N=10000, n=89, c=2 y p=0.01. Como Pa = 0.9397 se tiene:
ATI = 89 + (1-0-9397)(10000 – 89) = 687
Siendo este el total de piezas que en promedio se inspeccionarán por lote, algunas por el cliente (n) y otras por el proveedor (N-n)
en base al plan de muestreo.
Las curvas ATI para diferentes tamaños de lote se muestra a continuación, para n = 89 y c = 2:
p Pa ATI-N=1000 ATI-N=5000 ATI-N=10000

0.005 0.98968755 92.39464177 139.644441 191.20669
0.01 0.939689918 143.9424844 385.1828112 686.7332196
0.02 0.736577576 322.9778285 1382.667526 2699.779647
0.03 0.498482838 545.8821346 2551.950783 5059.536593
0.04 0.304158359 722.9117347 3506.278297 6985.486501
0.05 0.172076864 843.2379767 4154.93052 8294.546199
0.06 0.091869347 916.3070247 4542.829636 9089.4829
0.07 0.046819851 951.3471157 4770.067712 9535.968456
0.08 0.022955079 979.0879231 4881.267607 9772.492212
0.09 0.010886432 990.0824602 4946.536731 9892.104569
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Fig. 1.13 Curvas de número de muestras inspeccionadas promedio por el cliente y por el proveedor
1.3 MUESTREO DOBLE, MÚLTIPLE Y SECUENCIAL
Estos tipos de muestreo son extensiones del muestreo simple, se pueden diseñar curvas OC equivalentes.
1.3.1 PLANES DE MUESTREO DOBLE
Un plan de muestreo doble es un procedimiento en el cual, bajo ciertas circunstancias, se requiere una segunda muestra para
calificar el lote. El plan se define por los parámetros siguientes:
n1 = tamaño de muestra en la primera muestra.

c1 = criterio de aceptación en la primera muestra.
n2 = tamaño de muestra en la segunda muestra.
c2 = criterio de aceptación en la segunda muestra.
Al aplicar el plan el número de defectivos observados en la primera muestra es d1 y los defectivos observados en la segunda
muestra es d2.
fichas en una o dos muestras como sigue.
Tomar una muestra y anotar los productos defectuosos d1, si d1 es menor o igual a c1 = 2 se acepta el lote. Si d1 es mayor o igual
a c2 = 4 rechazar el lote. Continuar con otro lote.
En caso de que los defectuosos d1 sean 2 o 3 todavía no aceptar ni rechazar el lote, tomar una segunda muestra y anotar los
defectuosos encontrados como d2.
Si d1 más d2 es menor o igual que c2 = 4 aceptar el lote. Si d1 más d2 exceden a c2 =4 rechazar el lote.
Anotar los hallazgos en la tabla siguiente:
Muestras de 20 d1 = Defectuosas d2 = Lote Lote
partes, tomar una o En la primera Defectuosas aceptado rechazado
dos según se muestra En la segunda (X) (Y)
requiera muestra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Totales Porcentaje
rechazado
Suponiendo que:
n1 = 50
c1 = 1
n2 = 100
c2 = 3
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Fig. 1.14 Operación del muestreo doble
En la primera muestra de n=50 artículos, se acepta el lote si el total de defectivos d1 <= c1=1, rechazándose si d1 >c2=3.
Si d1 es igual a 2 o a 3, se toma una segunda muestra de 100 artículos, se inspecciona y se determina el número de defectivos d2 .
Se acepta el lote si [d1+d2 <= c2=3] y se rechaza en caso contrario.
En ambas muestras la primera y segunda, la inspección se continua hasta inspeccionar todos los artículos, por eso se denomina
inspección completa, el número promedio de artículos inspeccionados por muestra ASN es,
ASN  n1  n2 (1  P1 ) (1.5)
donde P1 es la probabilidad de tomar una decisión en la primera muestra o sea:

P1=P{el lote se acepta en la primera muestra} + P{el lote es rechazado en la primera muestra}
Si por el contrario la inspección de los artículos se suspende cuando se encuentra un número de defectivos mayor al criterio de
aceptación c2 y no se inspeccionan todos los artículos, el método se denomina inspección recortada, el comportamiento de
ambos esquemas se muestra a continuación,
Fig. 1.14 Diferencias en muestras inspeccionadas por el cliente promedio con inspección completa y recortada
Por tanto el muestreo doble es más económico que el simple sólo para ciertos valores de p, ya que si p tiene valores intermedios el
ASN es mayor implicando mayores costos de inspección. La inspección recortada si es más económica sin embargo proporciona
menos información acerca del lote.
CURVA CARACTERÍSTICA DE OPERACIÓN
Del ejemplo anterior, si Pa es la probabilidad de aceptación, esta se forma con la probabilidad de aceptación en la primera muestra
más la probabilidad de aceptación en la segunda muestra ya sea usando la distribución binomial o la de Poisson. O sea:
Pa  PaI  PaII (1.6)

P  P ( d 1  1 n1 )
a
I
(1.7)
P a
II
 P(d1  2 n1 ) xP(d 2  1 n2 )  P (d1  3 n1 ) xP(d 2  0 n 2 ) (1.8)
Prob.de decidir
p Pa (1º muestra) Pa (2º muestra) Pa total en 1º muestra
0.005 0.973868476 0.023086044 0.99695452 0.975541743
0.01 0.910564687 0.060110197 0.970674884 0.928938723
0.02 0.735771394 0.082974214 0.818745608 0.876809831
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0.03 0.555279873 0.055742128 0.611022002 0.908030663
0.04 0.400481197 0.027184125 0.427665321 0.971005627
0.05 0.279431752 0.01098373 0.290415482 1.021593093
0.06 0.190003258 0.003907151 0.193910409 1.04698017
0.07 0.126493499 0.001264661 0.12775816 1.052081017
0.08 0.082712023 0.00037995 0.083091973 1.046006124
0.09 0.053238461 0.000107325 0.053345786 1.035937851
Fig. 1.15 Curva característica de operación bajo muestreo doble
INSPECCIÓN RECTIFICADORA
Cuando se usa el esquema de inspección rectificadora, la curva AOQ está dada por,
{PaI ( N  n1 )  PaII ( N  n1  n2 )} p
AOQ  (1.9)
N
Asumiendo que todos los defectivos son remplazados por artículos buenos en los lotes rechazados, la curva de inspección total
promedio es,
ATI  nPaI  (n1  n2 ) PaII  N (1  Pa ) (1.10)

donde Pa  PaI  PaII
1.3.2 PLANES DE MUESTREO MÚLTIPLE
Un muestreo múltiple es una extensión del doble, donde pueden requerirse más de dos muestras para calificar el lote, por ejemplo
un plan de 5 etapas es el siguiente:
Muestra acumulada Número de aceptación No. Rechazo

20 0 3
40 1 4
60 3 5
80 5 7
100 8 9
Al terminar cada etapa de muestreo, si el número de defectivos es menor o igual al número de aceptación, se acepta el lote. Si en
cualquier etapa el número de defectivos acumulado excede el número de rechazo, se rechaza el lote, de otra forma se sigue
tomando una siguiente muestra.
Una ventaja que tiene es que el tamaño de muestra es más pequeño que en el caso del simple o del doble, con una mejor
eficiencia de inspección. Sin embargo es más complejo de administrar.
1.3.3 MUESTREO SECUENCIAL

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Es una extensión de los planes anteriores, aquí se toma una secuencia de muestras del lote, cuya magnitud será determinada por
los resultados del proceso de muestreo. Si el tamaño del subgrupo inspeccionado en cada etapa es mayor que uno, se denomina
muestreo secuencial de grupo, si es uno, como es nuestro caso, se denomina muestreo secuencial artículo por artículo.
En este caso se tienen 2 líneas, una de aceptación y otra de rechazo, teniendo como dato las coordenadas de la curva OC (p 1, 1-)
y (p2, ).
En este caso no se puede tomar una decisión de aceptación hasta que hayan transcurrido las suficientes muestras, que hagan que
la línea de aceptación tenga valores positivos en Xa, 44 en este caso, y no se puede rechazar hasta en la 2ª. Muestra.
Fig. 1.16 Operación del muestreo secuencial
1.4 TABLAS DE MUESTREO MIL-STD-105E (ANS Z1.4, ISO 2859)
DESCRIPCIÓN DE LA NORMA
Esta norma se desarrolló durante la segunda guerra mundial emitiéndose en 1950 con la versión A. La versión D se publicó en
1963 y en 1971 fue adoptada por la ANSI con pequeños cambios como la Z1.4 y en 1973 fue adoptada por la ISO como la norma
ISO 2859. En 1989 se liberó la versión E.
La norma proporciona tres tipos de muestreo (con curvas OC equivalentes):

- Muestreo simple.
- Muestreo doble.
- Muestreo múltiple
En cada uno de los casos se prevén los siguientes tipos de inspecciones:
- Inspección normal.
- Inspección estricta.
- Inspección reducida.
Se inicia con la inspección normal, se pasa a estricta cuando se observa mala calidad del proveedor y se usa la reducida cuando la
calidad del proveedor es buena, reduciendo los tamaños de muestra.
El punto focal de la norma es el AQL (nivel de calidad aceptable entre 0.1% y 10%), negociado entre cliente y proveedor. Los
valores típicos de AQL para defectos mayores es de 1%, 2.5% para defectos menores y 0.65% para defectos críticos. Cuando se
utiliza para planes de defectos por unidad se tienen 10 rangos adicionales de AQLs hasta llegar a 1000 defectos por cada 100
unidades, los niveles pequeños de AQL se pueden utilizar tanto para controlar fracción defectiva como defectos por unidad.
El tamaño de muestra en el estándar está determinado por el tamaño del lote y por la selección del nivel de inspección.
Se proporcionan tres niveles de inspección, donde el nivel II se considera normal; el nivel I requiere alrededor de la mitad de la
inspección del nivel II y se usa cuando se requiere menos discriminación; el nivel III requiere alrededor del doble de inspección del
nivel II, y se usa cuando se requiere más discriminación.
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Hay también cuatro niveles especiales de inspección, S-1, S-2, S-3 y S-4, estos usan tamaños de muestra muy pequeños y sólo
deben usarse cuando los riesgos grandes del muestreo sean aceptables, el nivel S4 se utiliza en pruebas destructivas.
Para un AQL específico, un nivel de inspección y un tamaño de lote dado, el estándar MIL-STD-105E proporciona un plan de
muestreo normal que se utilizará conforme el proveedor produzca productos con calidad AQL o mejor. También proporciona un
mecanismo de cambio a inspección estricta o reducida como se ilustra en la figura y se describe a continuación.
1. Normal a estricta. Cuando se tiene inspección normal, la inspección estricta se instituye cuando cuándo dos de cinco lotes
consecutivos han sido rechazados.
2. Estricta a normal. Cuando se tiene inspección estricta, la inspección normal se instituye cuando cinco lotes consecutivos
son aceptados.
3. Normal a reducida. Cuando se tiene inspección normal, la inspección reducida se instituye cuando se cumple con todas las
condiciones siguientes:
a. Diez lotes consecutivos han sido aceptados con inspección normal.

b. El número total de defectivos en las muestras de los diez lotes precedentes es menor o igual a el número límite
aplicable del estándar.
c. La producción de lotes ha sido continua sin interrupciones mayores.
d. La inspección reducida se considera adecuada por la función responsable de la inspección por muestreo.
4. Reducida a normal. Cuando se tiene inspección reducida, la inspección normal se instituye cuando se cumple cualquiera de
las condiciones siguientes:
a. Un lote es rechazado.
b. Cuando el procedimiento de muestreo termina sin decisión de aceptación o rechazo, el lote se acepta pero se cambia a
inspección normal en el próximo lote.
c. La producción es irregular o se retarda en entregas.
d. Otras condiciones que fuercen a cambiar a la inspección normal.
5. La Inspección se descontinúa. Cuando diez lotes se acepten con inspección estricta y el proveedor tome acciones para
mejorar su calidad.
10 lotes Inspección
OK 2 lotes rechazados Inspección
reducida de 5 recibidos estricta
1 lote rechazado 10 lotes
aceptados
Inspección
normal
Fig. 1.17 Reglas de cambio de planes de inspección
PROCEDIMIENTO
Los pasos a seguir para el uso de las normas es el siguiente:
1. Negociación del AQL – Nivel de calidad aceptable (cliente – proveedor).

2. Decisión del nivel de inspección.
3. Determinación del tamaño del lote.
4. Consultar la tabla 1 (ver apéndice) y localizar la letra código correspondiente al tamaño del lote y el nivel de inspección.
5. Decisión en cuanto al procedimiento de muestreo a utilizar (simple, doble, múltiple).
6. Uso de la tabla correcta para encontrar el tipo de plan a utilizar (las tablas se encuentran en el apéndice).
7. Uso de la tablas para inspección reducida y estricta, cuando se requieran hacer cambios.
Ejemplo 1.15 Si N= 2,000 y AQL= 0.65% usando el nivel II de inspección:
1. La tabla I indica la letra código K.
2. La tabla II-A para inspección normal indica el plan de muestreo n=125 y c=2.
3. La tabla II-B para inspección estricta indica el plan de muestreo n= 125, c=1.
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4. La tabla II—C para inspección reducida indica el plan de muestreo n = 50, Aceptar = 1, Rechazar = 3
La flecha descendente cambia el plan, la letra de código y el tamaño de muestra, lo mismo para la ascendente. Por ejemplo, un
AQL de 1.5% y letra F será cambiado a letra G con tamaño de muestra 32 en lugar de 20.
Para el caso de muestreo doble con los datos anteriores, la letra código es K y de las III-A, III-B y III-C se obtienen los planes
siguientes:
Inspección normal (n1= n2=80, c1a=0, cir=3, c2a=3),

Estricta (mismas que n1 y n2, c1a=0, cir=2, , c2a=1, c2r=2) y Reducida (n1= n2=32, c1a= c2a=0, c2r=3, c2r=4).
Comprobar lo anterior.
DISCUSIÓN
El estándar MIL-STD-105E está orientado al AQL, se enfoca al lado de riesgo del productor de la curva OC, la parte restante de la
curva depende de la selección del nivel de inspección. Los tamaños de muestra seleccionados son 2, 3, 5, 8, 13, 20, 32, 50, 80,
125, 200, 315, 500, 800, 1250 y 2000.
El estándar civil ANSI/ASQC Z1.4 o ISO 2859 es la contraparte del estándar MIL-STD-105E, difiriendo en que:
1. Se usa el término “No conforme” o “no conformancia” o “porcentaje no conforme”.

2. Cambian ligeramente las reglas de cambio agregándose una opción para inspección reducida sin el uso de números límite.
3. Se agregan varias tablas que muestran el desempeño de los planes, como el AOQL, fracciones defectivas para Pa = 0.1 y Pa
= 0.95, curvas de ASN y OC.
4. Hay una descripción detallada de los planes de muestreo simples.
5. Se proporciona un esquema ilustrando las reglas de cambio en inspección.
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2. MUESTREO DE ACEPTACIÓN POR VARIABLES
2.1 VENTAJAS Y DESVENTAJAS
La principal ventaja del muestreo por variables es que se puede obtener la misma curva característica de operación con tamaño de
muestra menor que el que requeriría un plan por atributos. Otra ventaja es que los datos por variables proporcionan más
información del proceso que los atributos. Cuando los AQLs son muy pequeños (del orden de ppm), el tamaño de muestra
requerido en el caso de muestreo por atributos es muy grande y por variables muy pequeño. Cuando la inspección es del tipo
destructivo, los planes por variables si se aplican son más económicos.
Como desventajas se tienen el probable alto costo de las mediciones versus juzgar por atributos, a pesar de que el tamaño de
muestra sea menor y que es necesario un plan de muestreo para cada característica importante del producto. Otra desventaja es
que se utiliza un plan de muestreo por cada característica inspeccionada.
Se debe conocer la distribución de la característica de calidad, la cual debe ser normal ya que de otra forma se pueden cometer
errores en la aplicación del plan de muestreo por variables. Esto es más crítico cuando las fracciones defectivas son muy
pequeñas.
Los planes especifican el número de artículos a muestrear en los cuales se hacen mediciones en la característica de calidad
seleccionada, y el criterio de aceptación de esos lotes.
Una comparación entre los diferentes tipos de muestreo se da a continuación, considerando una p1 = 0.01, p2 = 0.08,  = 0.05 y  =
0.10:
Tipo de muestreo n ó ASN

1. Muestreo simple por atributos n = 61.
2. Muestreo doble por atributos
3. Muestreo múltiple por atributos ASN en p1 = 45
6. Muestreo simple por variables, sigma
desconocida, método de s ASN en p1 = 41
1. Muestreo simple por variables n=27

Sigma conocida
n=10
Como se observa, si la distribución es normal y la desviación estándar es conocida, el costo de muestreo por variables es menor.
TIPOS DE PLANES DE MUESTREO
Existen dos tipos de planes de muestreo por variables, los que controlan la fracción defectuosa del lote y los que controlan un
parámetro del proceso tal como la media.
2.1 MÉTODO DE CONTROL DE LA FRACCIÓN DEFECTIVA
Como la característica de calidad es una variable, siempre existirá ya sea un límite de especificación inferior (LIE), límite de
especificación superior (LSE) o ambos, que definan los valores aceptables de esa característica.
Considerando una característica de calidad X normalmente distribuida y un límite inferior de especificaciones LIE, la fracción
defectiva p es función de la media del lote  y su desviación estándar .
Asumiendo que la desviación estándar  del proceso es conocida, se desea tomar una muestra del lote para determinar si o no el
valor de la media es tal que la fracción defectiva p es aceptable. Para esto se tienen dos métodos.
p 
__
LIE x
X
Fig. 2.1 Bases del muestreo por variables
Procedimiento 1.
Tomando una muestra aleatoria de n artículos del lote y calculando el estadístico
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X  LIE
Z LIE  (2.1)

ZLIE expresa justamente la distancia entre la media X de la muestra y el límite inferior de especificación LIE, entre mayor sea su
valor, la media X de la muestra estará más alejada del LIE y en consecuencia menor será la fracción defectiva p.
Si hay un valor crítico p que no deba ser excedido con una probabilidad establecida, se puede traducir el valor de p en una
distancia crítica por decir k para ZLIE. De esta forma si Z LIE <= k, se aceptará el lote ya que automáticamente la fracción defectiva p
es satisfactoria, en caso contrario la fracción defectiva p es mayor que la aceptable y se rechazará el lote.
Fig. 2.2 Muestreo por variables – Procedimiento 1 (K)
Fig. 2.3 Curva característica de operación (OC) y plan de muestreo para el procedimiento 1 en base a K
Ejemplo 2.1 Si =100,  =10 y LIE= 82:
X  LIE 82  100
Z LIE    1.8
 10
Donde (-1.8) = 0.0359 o sea el 3.59% defectuoso.
Se sigue el mismo procedimiento para el caso de tener un límite superior de especificación unilateral LSE.
LSE  X
Z LSE  (2.2)

Cuando se tiene un solo límite de especificación, la relación entre Z y la fracción defectiva (p) es:
p Zs ó Z i
0.25 0.6745
0.20 0.8416
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0.15 1.0364
0.10 1.2816
0.05 1.6449
0.02 2.0537
0.01 2.3263
Procedimiento 2.
A partir de una muestra sencilla de tamaño n del lote, se calcula ZLIE o QLIE  Z LIE n /( n  1) (más exacto) y se estima la
fracción defectiva p como el área bajo la curva normal debajo de Z LIE, si esta fracción estimada p, excede un valor máximo M, se
rechaza el lote, de otra forma se acepta.
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Fig. 2.4 Muestreo por variables – Procedimiento 2 (M)
Fig. 2.5 Curva característica de operación (OC) y plan de muestreo para el procedimiento 2 en base a M
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Para el caso de límites bilaterales se calculan ambos QLIE y QLSE.
X  LIE
Q LIE  n /( n  1) (2.3)

LSE  X
Q LSE  n /( n  1)

Se estiman las fracciones defectivas P(Q LIE) y P(QLSE) de la tabla mostrada en el apéndice para estimar las fracciones defectivas pI
y pS, si la suma de ambas fracciones defectivas no excede al valor máximo permitido M se acepta el lote, en caso contrario se
rechaza el lote.
Cuando la desviación estándar  es desconocida, se puede estimar de la desviación estándar de la muestra s, remplazando en las
fórmulas anteriores a  por s.
2.2 TABLAS ASQC Z1.9 – 1993 DE MUESTREO POR VARIABLES
Originalmente se emitieron las tablas MIL-STD-414 sin embargo posteriormente fueron homologadas con las tablas MIL-STD-105E
(incluyendo inspección normal, reducida y estricta y concordancia en las letras código de los planes para cada AQL) para
su uso en la industria dando lugar a las tablas Z1.9 de la ASQC.
Se enfoca al AQL (entre 0.1% a 10%) con cinco niveles generales de inspección (el normal es el II), el nivel III tiene una curva más
abrupta que el nivel II. Se pueden usar niveles más bajos (S3 S4) para reducir costos muestrales si se toleran riesgos mayores.
Tiene la siguiente organización:
Variabilidad Variabilidad
Desconocida Conocida
Método de S
Especificación Especificaciones
Unilateral Bilaterales
Procedimiento 1 Procedimiento 2 Procedimiento 2

(Método de k) (Método de M) (Método de M)
Fig. 2.6 Organización de las tablas de muestreo por variables
Tienen 4 secciones:
A. Descripción general, con definición de términos, código de letras de tamaño de muestra, y curvas OC de los planes.
B. Planes basados en la desviación estándar de la muestra con sigma del proceso desconocida.
C. Planes basados en la amplitud de la muestra con sigma desconocida (ya descontinuado).
D. Planes basados en la media de la muestra cuando se conoce la sigma del proceso.
2.3 USO DE LAS TABLAS
Las tablas se encuentran en el apéndice y su uso se ilustra con un ejemplo:
Ejemplo 2.2 Para el caso del embotellador: Si el límite inferior LIE = 225 psi, suponiendo que el nivel de calidad aceptable en este
límite es AQL = 1% y que las botellas se embarcan en lotes de N = 100,000, con sigma desconocida se tiene:
Procedimiento 1.
1. En la tabla A-2 se identifica el código de letra, en este caso, la N:
2. En la tabla B-1 se determina la n y k en este caso con la letra N y AQL= 1.00 negociado entre proveedor y cliente, se obtiene k
= 2.03. Para el caso de inspección severa (escala inferior) k = 2.12. Para el caso de inspección reducida k = 1.8 de la tabla B-2.
3. En la tabla B-3 se determina M en el renglón de N y columna de AQL= 1% obteniéndose M= 2.05%. Para inspección severa M
= 1.42%. Para inspección reducida, de la tabla B-4 se obtiene k = 3.44%.
4. La inspección estricta se usa cuando 2 de 5 lotes han sido rechazados
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5. La inspección reducida se usa cuando los 10 lotes anteriores se han aceptado y su fracción defectiva estimada es menor que un
límite inferior especificado y la producción es estable.
Nota:
Es posible pasar de planes de muestreo con sigma desconocida a planes con sigma conocida con menor n si se demuestra
estabilidad en una gráfica X -s para los lotes (al menos para 30). Los planes específicos para este tipo de planes se deben
consultar en el estándar.
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EJEMPLOS TOMADOS DEL ESTANDAR Z1.9-1993
2.3.1 VARIABILIDAD DESCONOCIDA – MÉTODO DE LA DESVIACIÓN ESTÁNDAR
B1. Plan de muestreo para límite especificación unilateral. Procedimiento 1
a) De la tabla A2 seleccionar la letra código de función del tamaño del lote y el nivel de inspección.
b) Usar tablas B1 (normal y estricta) y B2 (reducida) para obtener el plan.
n - tamaño de muestra.
K - constante de aceptabilidad
c) Obtener mediciones de muestras , calcularX y s.
d) Criterio de aceptación.
LSE - Límite superior de especificación.
LIE - Límite inferior de especificación.
Comparar (LSE – X) / s ó (X– LIE) / s con k.
Si es mayor o igual se acepta el lote, en caso contrario se rechaza.
Ejemplo 2.3 La máxima temperatura de operación es de 209ºF. Un lote de 40 artículos se inspecciona, tomando AQL = 1%, nivel
II.
Solución.
a) De tabla A2, se selecciona la letra D.
b) De la tabla B1, n = 5, k= 1.52
c) Suponiendo lecturas 197º, 188º, 184º, 205º y 201º.
X= 195 , s = 2.8
d) ( LSE - X ) / s = (209 – 195) / 2.8 = 1.59
e) 1.59 > k por tanto se acepta el lote.
B5- Usando el procedimiento 2
a) Usar tablas B3 ( normal y estricta) y B4 (reducida) y obtener el plan de inspección, n y M  Porcentaje máximo de no
conformes.
b) Obtener mediciones de muestras, calculandoX y s.
c) Criterio de aceptación.
Calcular el índice de calidad QS= (LSE - X ) / s
QI= (X – LIE ) / s
En tabla B5 entrar con QU o QL para encontrar porcentaje estimado no conforme PS o PI.
Comparar PS o PI con M , si es igual o menor se acepta el lote, se rechaza en caso contrario.
Ejemplo 2.4 De lo anterior; X = 195 ; s = 2.8

a) De la tabla B3 se obtiene M = 3.33% para letra D, n = 5 y AQL = 1%.
b) De la taba B5 con QS= 1.59 se obtiene PS = 2.19%
c) Como PS  M se acepta el lote.
B2. Plan de muestreo para doble límite de especificación.
a) Determinar la letra código de la tabla A2, en base a nivel de inspección.

b) Obtener el plan n y M de tabla B3 y B4. Si se especifican diferentes AQL´s para cada límite de especificación, obtener el
porcentaje máximo no conforme para cada límite M I y MS. Si se asigna el mismo AQL a ambos límites, designar el nivel máximo de
porcentaje no conforme por M.
c) Obtener mediciones del muestreo.
d) Calcular los índices de Calidad QS = (LSE - X ) / s y QL =( X – LIE ) /s
e) De tabla B5 encontrar PI y PS en base a QU y QL y el tamaño de muestra n.
Pestimada= PI + PS
f) Comparar Pest. Con M, si es menor o igual se acepta el lote, en caso contrario se rechaza.
Nota: Cuando hay diferente AQL para cada límite:

Aceptar si PI  MI y PS  MS y P = PI + PS mayor (MS, MI)
Ejemplo 2.5 Se inspecciona un lote de 40 muestras con nivel de inspección II, inspección normal y en base a temperaturas de los
_
ejemplos anteriores, n = 5, X = 195; s= 2.8; considerando LIE= 180F; LSE= 209F; AQL= 1% donde de tabla
B-3 M = 3.32%
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209  180
QS=  1.59 ; PS = 2.19% (de tabla B-5)
8.8
195  180
QI=  1.704; PI = 0.66% (de tabla B-5) por tanto la fracción defectiva total es de
8.8
p = 2.85%
Como P < M se acepta el lote.
Ejemplo 2.6 Si el AQLS= 1% y AQLI= 2.55% de tabla B3, MS= 3.32% , MI=9.8%
a) PS= 2.19% ; PI= 0.66% P = 2.85%
b) Comparando PS  MS ; PI  MI y P  MI
Se acepta el lote.
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2.3.2 VARIABILIDAD CONOCIDA
D.1 Sólo un límite de especificación. Procedimiento 1.

Usar tabla D1 y D2 para obtener n y k
Ejemplo 2.7 Se toma un lote de 500 artículos para inspección. LIE= 58,000 psi. N= 500, nivel II, inspección Normal. AQL= 1.5%.
La variabilidad  es conocida con valor 3,000 psi
a) de tabla A2, se identifica la letra I y de tabla D1 obtenemos n = 10

Valores de muestra 62,500; 60,500; 68,000; 59,000; 65,500
62,000; 61,000; 96,000; 58,000; 64,500.
a) Cálculo de X= 63,000 ; ( X – LIE) /  = 1.67
b) De tabla D1 ; k = 1.7
c) Comparando ( X – LIE)/  < k y el lote se rechaza.
D.5 Usando la el procedimiento 2.

a) Usar tablas D3 y D4 obteniendo n, M y V
b) Calcular QS= (LSE - X) V /  y QL=( X – LIE) V / 
c) Usando tabla D5 estimar PS y PI
d) Comparar D= PS + PI  M para aceptabilidad
Ejemplo 2.8 Sea LIE= 58,000 psi; tamaño del lote 500 artículos;AQL = 1.5%; Inspección nivel II, normal. De los datos anteriores
_
se obtuvo X = 63,000; n = 10 ;  = 3,000. De tabla A-2 se obtiene la letra I.
a) Obtención en tabla D3 de n, M y V como 10, 3.63%, 1.054 respectivamente.
b) Cálculo de QL =(63,000 - 58,000) * 1.054 / 3,000 = 1.756
c) Determinar PL de tabla D5 con QL= 1.756 es 3.92%
Como PL > M se rechaza el lote.
D9. Plan de muestreo para doble límite de especificación
a) Determinar la letra código de la tabla A2, en base a nivel de inspección.

b) Obtener el plan n, el factor v y el porcentaje máximo aceptable M de tabla D3 y D4. Si se especifican diferentes AQL´s para
cada límite de especificación, obtener el porcentaje máximo no conforme para cada límite M I y MS. Si se asigna el mismo AQL a
ambos límites, designar el nivel máximo de porcentaje no conforme por M.
c) Obtener mediciones del muestreo en n partes.
d) Calcular la media de los datos.
e) Calcular los Indices de Calidad QS = (LSE - X ) v /  y QL =( X – LIE ) v / 
f) De tabla D-5 encontrar PI y PS en base a QU y QL y el tamaño de muestra n.
Pestimada= PI + PS
Ejemplo 2.9 La especificación para una colada de acero es de 67,000 y 58,000 psi respectivamente. Un lote de 500 artículos se
somete a inspección. El nivel de inspección es II, inspección normal con AQL = 1.5%. La variabilidad  conocida con valor 3,000
psi.
a) De tabla D-3 se obtuvo n = 10, v = 1.054, M = 3.63%

_
b) De las mediciones de las 10 muestras se obtuvo X  63,000
c) Los índices QS con QL son respectivamente 2.459 y 3.162 con fracciones estimadas defectuosas 0.697% y 0.078% de la tabla
D-5.
d) Como la fracción defectiva total no excede el valor de M = 3.63%, se acepta el lote.
NOTA: Comparar Pestimada con M, si es menor o igual se acepta el lote, en caso contrario se rechaza.
Una consideración muy importante en el uso de las normas es que la población de donde se obtienen las muestras debe
ser normal. Es más crítico para pequeños valores de AQL.
La ventaja de la norma Z1.4 es que se puede iniciar con un esquema de muestreo por atributos con la MIL-STD-105E, obtener
información suficiente y después cambiar a un esquema por variables manteniendo la misma combinación de letra para el AQL.
Es muy importante una prueba de normalidad a partir de los datos variables de cada lote.
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2.5 OTROS PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO POR VARIABLES
2.4.1 ASEGURAMIENTO DE LA MEDIA DEL PROCESO
Los planes de muestreo por variables también pueden utilizarse para asegurar la calidad media de un material en lugar de su
fracción defectiva. El método general que aquí se emplea es el de prueba de hipótesis, lo cual se ilustra con un ejemplo.
Ejemplo 2.10 Se considera aceptable un lote si tiene menos de 0.3 ppm de emisiones de formaldeído en maderas. Se diseña un
plan de muestreo con una probabilidad de aceptación del 95% si las emisiones son en promedio de 0.3 ppm, y los lotes con un 0.4
ppm tengan una probabilidad de aceptación del 10%. Si por experiencia se sabe que la desviación estándar es 0.10 ppm, se tiene:
Si X A es la media muestral debajo de la cual se aceptará el lote, está normalmente distribuida y tiene una probabilidad de 0.95 de
aceptación, entonces,
X A  0.3 X A  0.3
  1.645
 0.1 (2.4)
n n
En forma similar si los lotes que tienen un nivel de emisión de 0.40 ppm tienen una probabilidad de 0.10 de aceptación, entonces,
X A  0.4 X A  0.4
  1.282
 0.1 (2.5)
n n
resolviendo para X A y n se obtiene:
X A = 0.355 n= 9
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Preguntas y Ejercicios de muestreo de aceptación
MUESTREO DE ACEPTACIÓN POR ATRIBUTOS
1. Explique qué es el muestreo de aceptación.
2. El muestreo de aceptación es una decisión intermedia entre dos extremos: cero inspección o inspección al 100%. Explique
bajo qué condiciones se recomienda aplicar el muestreo de aceptación.
3. ¿Cuáles son las ventajas del muestreo de aceptación sobre la inspección al 100%?
4. Comente de manera general en qué consisten los planes de muestreo por atributos y por variables.
5. ¿En qué consiste un muestreo doble?
6. Explique en forma general cómo se recomienda formar un lote que va a ser sometido a un plan de muestreo de
aceptación.
7. Describe qué es y cuál es la utilidad de la curva característica de operación de un plan de muestreo por atributos.
8. Apoyándose en las propiedades de la curva CO, señale qué tanta influencia tiene el tamaño de lote en el tipo de calidad
que acepta un plan de muestreo de aceptación.
9. Algunas personas tienen la costumbre de tomar un tamaño de muestra igual a cierto porcentaje del tamaño de lote (10%).
¿Con base en las propiedades de la curva CO, es adecuada esta costumbre?
10. Comente el significado de los índices NCA (AQL) y NCL (AOQ), su relación con el riesgo del productor y riesgo del
consumidor.
11. ¿Cuál es el propósito de los distintos niveles de inspección en las tablas de MIL STD 105E?
12. ¿Cuál es la finalidad de que un esquema de muestreo obtenido mediante las MIL STD 105E tenga planes normal,
reducido y severo o estricto?
13. Un proveedor de sábanas y un hotel han decidido evaluar el producto en lotes de 100 usando un AQL de 1% con una
probabilidad de rechazo del 0.10 .
a) Use el MIL STD 105E y determine los planes de muestreo para c = 0, 1, 2 .
b) ¿Si usted fuera el comprador, cuál de los planes anteriores seleccionaría? ¿Por qué?
14. En una empresa se ha venido aplicando un muestreo de aceptación con base en MIL STD 105E, usan un AQL de 1.5%.
Conteste.
a) Suponiendo lotes de 12 000 piezas, y usando nivel de inspección normal (ll) encuentre los planes normal,
reducido y severo que se aplicarán.
b) De acuerdo a lo anterior, ¿este plan garantiza que no se acepten lotes con un porcentaje de defectuosos mayor
al 1.5%? Explique.
c) Si el tamaño de lote en lugar de 12 000, fuera de 32 000, compruebe que de acuerdo al MIL STD 105D el tamaño
de muestra y el número de aceptación serían los mismos. ¿ Por qué cree usted que ocurre esto?
15. Usando un MIL STD 105 D, un inspector general de servicios de administración necesita determinar los planes de
muestreo simple para la siguiente información.
16. Caso Nivel de inspección Inspección AQL Tamaño del

lote
a) ll Severa 1.5% 1 400

b) l Normal 0.65% 115
c) lll Reducida 0.40% 160 000
d) lll Normal 2.5% 27
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16. En una empresa se usa un método de muestreo de aceptación que consiste en lo siguiente: se toma una muestra de 10%
del lote, y si en la muestra se encuentra 1% o menos de piezas defectuosas entonces el lote es aceptado, en caso contrario el lote
es rechazado. Los tamaños de lote más frecuentes son de 1 000 y 2 000 piezas, por lo tanto ( n = 100, c = 1) ( n = 200, c =
2), respectivamente. De acuerdo a lo anterior conteste:
a) ¿En general cuál es su opinión sobre este método de muestreo?

b) Construya las curvas CO que correspondan.
c) ¿Cuál es la protección que cada plan proporciona al nivel de calidad aceptable que es de 1.0%? Comente los
resultados obtenidos.
17. Una manufacturera automovilista está usando un plan muestral de n = 200 y c = 0 para todos los tamaños del lote.
Construye las curvas CO y AOQ. Gráficamente determina el valor de AQL para  = .05 y el valor de AOQL.
18. Una de las principales firmas de computadoras usan un plan muestral de n= 50 y c= 0 sin tomar en cuenta el tamaño
del lote. Construye las curvas CO y AOQ . Gráficamente determina el valor de AQL para  = .05 y el valor de AOQL.
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MUESTREO DE ACEPTACIÓN POR VARIABLES
19. ¿Qué ventajas tiene el muestreo de aceptación para variables respecto al de atributos?
20. Un lote de 480 artículos es sometido a inspección con un nivel ll, y un NCA = 1.5%. De acuerdo a las tablas MIL STD 414
o Z1.9. ¿Cuál es el plan de muestreo apropiado n, M? Explique.
21. Suponiendo inspección normal, MIL STD 414 o Z1.9, el método de la desviación estándar y la variabilidad desconocida,
además de letra código D y AQL = 2.5%, y una especificación de inferior de 200g.
a) Con un tamaño de lote N= 40 encuentre el plan apropiado.

b) Determinar si un lote es aceptado o rechazado utilizando el método 2, dado que los resultados de la inspección
fueron los siguientes: 204, 211, 199, 209 y 208g.
22. Para aceptar embarques de 400 bultos que deben pesar 50kg cada uno, se establece como especificación inferior para el
peso 49.5 y como superior 50.5.
a) Si se establece un NCA = 1.0%, aplicando MIL STD 414 y nivel IV o nivel II de la Z1.4 de inspección encuentre el
plan apropiado (n, M).
b) De acuerdo al pan anterior, cuando se recibe un embarque, qué se hace y cómo se decide si se rechaza o acepta
el embarque.
c) Aplicando el plan se selecciona una muestra de bultos, se pesan y se muestra que Xmedia = 49.8, y S = 0.2, ¿se
acepta o se rechaza el embarque? Argumente.
23. Si en el problema anterior se hubiera utilizado un NCA = 4.0%.

a) Encuentre el plan de muestreo apropiado.
b) Explique en qué y por qué son diferentes los planes para NCA = 1.0% y NCA = 4.0%.
c) Utilizando x =49.8 y S =0.2, se rechaza o se acepta el lote con el plan NCA = 4.0%?
24. ¿Si usted es el vendedor, cuál de los dos planes anteriores preferiría? Argumente su respuesta.
MUESTREO POR ATRIBUTOS
10.1.
a) Usando Military Standars 105E, encuentre un proceso de muestreo con muestra sencilla, fracción defectuosa,
para los lotes de aproximadamente 15 000 y un AQL de 2.5% . Use el nivel ll de inspección.
b) Determine los procedimientos a los que cambiará bajo inspección más severa e inspección reducida. Trace las
curvas CO para los tres procesos en la misma gráfica.
10.2
a) Una agencia militar desea un proceso de inspección por muestreo con un AOL de 1.5%. Los lotes representan
aproximadamente a 8 000 piezas. Determine el proceso que adoptaría al seguir a Military Standard 105E, usando muestreo
sencillo. Use nivel de inspección ll.
b) Encuentre los procesos a los que cambiará bajo inspección severa y bajo inspección abreviada. Trace las curvas
CO para los tres procesos en la misma gráfica.
10.3 Repita el problema 10.1 para un producto que se juzga requiere el uso de un ...
a) nivel de inspección lll.

b) Nivel de inspección l.
10.4 Repita el problema 10.2 para un producto que se juzga requiere el uso de un...
a) nivel de inspección lll.

b) Nivel de inspección l.
10.5
a) Usando la Military Standard 105E, encuentre un proceso de muestreo con:

Muestra sencilla, defectos-por-unidad, para lotes de aproximadamente 450 y un AQL de 4 defectos por cada 100 unidades. Use
nivel ll de inspección.
b) Encuentre los procesos a los que cambiaria a inspección más severa e inspección abreviada. Trace las curvas
CO para los tres procesos en una misma gráfica.
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10.6
a) Usando la Military Standard 105E, encuentre un proceso de muestreo por:

Muestra sencilla, defectos-por-unidad, para lotes de aproximadamente 1 000 y un AQL de 1.5 defectos por cada 100 unidades. Use
nivel ll de inspección.
b) Encuentre los procesos a los que cambiaría a inspección más severa e inspección reducida. Trace las curvas CO
para los tres procesos en la misma gráfica.
10.7
a) Usando la Military Satndard 105D, encuentre un proceso de muestreo por :

b) Muestra sencilla, defectos-por-unidad, para lotes de aproximadamente 35 y un AQL de 15 defectos por cada cien
unidades. Use el nivel especial de inspección S-4.
c) Encuentre los procesos a los que cambiaría a inspección más severa e inspección abreviada. Trace las curvas
CO para los tres procesos en la misma gráfica.
10.8 Repita el problema 10.1 para:1) un proceso de muestreo doble, y 2) un proceso de muestreo sencillo, omitiendo el dibujo de
las curvas CO.
10.9 Repita el problema 10.2 para:1) un proceso de muestreo doble, y2) un proceso de muestreo múltiple, omitiendo el dibujo de
las curvas CO.
10.10 Repita el problema 10.3 para 1) un proceso de muestreo doble, y2) un proceso de muestreo múltiple, omitiendo el dibujo de
las curvas CO.
10.11 Repita el problema 10.4 para: 1) un proceso de muestreo doble, y2) un proceso de muestreo múltiple, omitiendo el dibujo de
las curvas CO.
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Tema 16.1 Muestreo Aceptacion David Gen

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MUESTREO DE ACEPTACIÓN ING.

DAVID SANGA / UASF

Elaborado por: Ing. David Andrés Sanga Tito

1. Muestreo de aceptación por atributos

1.1 Muestreo de aceptación por atributos

1.2 Muestreo simple por atributos

1.3 Muestreo doble, múltiple y secuencial

1.4 Tablas de muestreo MIL-STD-105E o Z1.4

2. Muestreo de aceptación por variables

2.2 Método de control de la fracción defectiva

2.3 Tablas ASQC Z1.9 de muestreo por variables

2.4 Uso de las tablas

2.5 Otros procedimientos de muestreo por variables

1.0 MÉTODOS ESTADÍSTICOS PARA LA MEJORA DE LA CALIDAD

LSC (UCL) = Límite superior de control

Fig. 1.1 Carta de control de Shewhart y sus límites de control

Fig. 1.2 Carta de control y patrones de anormalidad

Discutir sus hallazgos con el grupo.

Fig. 1.3 Proceso de producción, entradas y salidas

Tiene las siguientes ventajas:

Entre sus desventajas se encuentran:

A continuación se muestran diferentes esquemas de la aplicación del método.

a) INSPECCIÓN EN LINEA FINAL o EN PROCESO ENVIO

PROCESO INSPECCION CLIENTE

b) INSPECCION EN RECIBO DE MATERIALES COMPRADOS

Desperdicio Retrabajo Selección

Fig. 1.4 Variaciones del muestreo de aceptación

Fig. 1.5 Evolución de la aplicación deMUESTREO

1.1 MUESTREO DE ACEPTACIÓN POR ATRIBUTOS

Fig. 1.6 Proceso de inspección por muestreo

Hay 3 aspectos importantes del muestreo:

Existen 3 alternativas para calificar un lote:

La aceptación por muestreo es más útil en las situaciones siguientes:

1.1.1 VENTAJAS Y DESVENTAJAS DEL MUESTREO

Cuando se utiliza inspección por muestreo, se tienen las ventajas siguientes:

El muestreo de aceptación también presenta varias desventajas:

1.1.2 TIPOS DE PLANES DE MUESTREO

1.1.3 FORMACIÓN DE LOTES

Para inspección de lotes, estos deben cumplir las características siguientes:

1.1.4 GUIA DE APLICACIÓN DE PLANES DE MUESTREO

1. Asegurar niveles de calidad Plan específico Plan específico

2. Mantener la calidad en el Sistema de AQL Sistema de AQL

1.2 MUESTREO SIMPLE POR ATRIBUTOS

Muestra Defectuosas Lote aceptado (X) Lote rechazado (X)

Muestra Defectuosas Lote aceptado (X) Lote rechazado (Y)

Muestra Defectuosas Lote aceptado (X) Lote rechazado (X)

Por ejemplo si se tiene el plan:

Fig. 1.7 Curva característica de operación y plan de muestreo

Fracción defectiva en el Pa-Probabilidad de Pa-Probabilidad de Pa-Probabilidad de

1.2.2 CURVA CARACTERÍSTICA DE OPERACIÓN OC

Fig. 1.8 Cálculo de la Curva característica de operación OC p

Manteniendo n constante y variando c se tiene:

p n = 89, c=0 n = 89 c=1 n = 89, c =2

0.005 0.640109373 0.926389444 0.98968755

P (fracción defectiva en el lote)

Para el caso en que lo que se varíe sea n se tiene:

p n = 50, c=2 n = 100, c = 2 n = 200, c = 2

0.005 0.997944456 0.985897083 0.920160568

PUNTOS ESPECIFICOS EN LA CURVA OC

Fracción defectiva en el Pa-Distribución Pa-Distribución binomial Pa-Distribución de

1.2.3 INSPECCIÓN RECTIFICADORA

1. n artículos de la muestra no contienen defectivos.

Cuando N es grande respecto al tamaño de muestra n, se tiene,

La curva de AOQ versus p se muestra a continuación: