FLUORESCENCIA DE RAYOS “X”

INTRODUCCIÓN
En este trabajo se lleva a cabo un estudio sobre técnicas por fluorescencia de
rayos X no convencionales. Se estudia el análisis mediante la reflexión total de
rayos X, dadas sus ventajas respecto a las técnicas convencionales; para ello se
construye un dispositivo, denominado guía de haz, el cual asegura la irradiación
de la muestra en condiciones de reflexión total.

Como primera etapa, se caracterizó este dispositivo teniendo en cuenta distintas

configuraciones con el propósito de agilizar luego el trabajo en el laboratorio. Se
desarrolló un modelo matemático y en base a los resultados obtenidos, se
determinaron las configuraciones más convenientes para el análisis por reflexión
total.

La técnica de fluorescencia de rayos X se utiliza para determinar concentraciones

de elementos químicos en diversos tipos de muestras.

El análisis de la composición de la muestra mediante la medición de un espectro

de XRF se lleva a cabo en diversas áreas de investigación como biología,
medicina, control ambiental, geología.

OBJETIVO GENERAL:

Es llegar a conocer todo el proceso de la fluorescencia de los rayos “x” y su

utilidad en la geología para determinar la composición de los minerales y su
estructura.

OBJETIVOS ESPECÍFICOS:

 Comprender la espectrometría de fluorescencia de rayos X mediante la

emisión de energía.
 Conocer los porcentajes de los diferentes elementos que existen en una
muestra de mineral.
 Analizar los beneficios que tienen estos conocimientos para el estudio
geológico de diferentes muestras (rocas, minerales, fósiles, etc.)
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PARTE EXPERIMENTAL

La técnica de Fluorescencia de Rayos X se basa en el estudio de las emisiones

de fluorescencia generadas después de la excitación de una muestra mediante
una fuente de rayos X. La radiación incide sobre la muestra excitando los átomos
presentes en la misma, que emiten a su vez radiación característica denominada
fluorescencia de rayos X. Esta radiación, convenientemente colimada, incide
sobre un cristal analizador (con espaciado interatómico) que la difracta en un
ángulo (θ) dependiente de su longitud de onda (λ) por la ley de BRAGG

𝒏𝛌
𝒔𝒆𝒏𝜽 =
𝟐𝐝

Un detector que puede moverse sobre un determinado rango de dicho ángulo

mide el valor de la intensidad de radiación en un ángulo determinado y por tanto
para una longitud de onda específica, que es función lineal de la concentración del
elemento en la muestra que produce tal radiación de fluorescencia.

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PROCEDIMIENTO DE LA PRÁCTICA
La máquina de la práctica
Nombre: XCALIBUR XENEMETRIX
Modelo: S/N 118004

Para explicar el procedimiento de la práctica, se explicara en los siguientes pasos

 PASÓ 1- para la práctica las muestras fueron una moneda de 2Bs., un anillo oro y
una moneda extranjera.
 PASO 2- Para obtener los datos de las muestras se introdujo dentro de un
pequeño contenedor con una película trasparente a los rayos X, que fue colocada
dentro de uno de los compartimientos del equipo de análisis.
 PASO 3- antes de iniciar el proceso del ordenador se verifico los parámetros
establecidos como ser tiempo, energía (KeV).
 PASO 4- Durante el tiempo de medición (10s) se esperó que la maquina emita el
espectro resultante de la radiación de la muestra.
 PASO 5- Ya obtenida la gráfica, se ordenó al programa identificar los elementos
principales relacionados a los picos más altos de la gráfica.
 PASO 6- Finalmente se le ordenó mostrar los valores de área calculados para
cada pico

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FUNCIONAMIENTO DEL SERVICIO

Al exponer un material a rayos X de longitudes de onda cortas o a rayos gamma,

pueden ionizarse los átomos que constituyen el material. La ionización consiste
en eyección de uno o más electrones desde el átomo. Puede ocurrir si a éste se le
expone a radiación cuya energía exceda la del potencial de ionización.

Tanto los rayos X como los gamma pueden ser suficientemente energéticos para
desprender electrones fuertemente ligados en los orbitales internos del átomo. Tal
remoción electrónica deja en condición inestable a la estructura electrónica del
átomo, y los electrones de orbitales más elevados «caen» hacia el orbital más
bajo, que luego ocupan los huecos de los electrones internos desprendidos.

En esta caída, o transición, se genera energía mediante emisión de un fotón. El

valor de la energía de este corpúsculo es igual a la diferencia de energía entre los
dos orbitales involucrados. Por lo tanto el material emite radiación cuya energía es
característica de los átomos componentes del material. El término fluorescencia se
usa para denominar el fenómeno por el cual la absorción de radiación de una
energía específica genera reemisión de radiación de una energía diferente,
generalmente menor.

FIGURA 1. Típico espectro de energía dispersiva XRF.

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FIGURA 2. Espectro de un blanco de rodio operado a 60 kV, mostrando el
espectro continuo y las líneas K.

RADIACIÓN CARACTERÍSTICA

Cada elemento posee orbitales electrónicos de energías características. Al

producirse la remoción de un electrón de una capa interior por un fotón energético
proveniente de una fuente primaria de radiación, un electrón de una capa exterior
se desplaza y ocupa el hueco que se había formado.

Existe una cantidad finita de variantes de esta transición, tal como se muestra en
la figura 1. A las transiciones principales se les han asignado nombres:

 Transición L→K: Kα
 Transición M→K: Kβ
 Transición M→L: Lα, y así sucesivamente.

Cada una de estas transiciones produce un fotón fluorescente dotado de una

energía característica que es igual a la diferencia de energía entre los orbitales
inicial y final. La longitud de onda de esta radiación fluorescente se puede calcular
a partir del postulado de Planck:

La radiación fluorescente se puede clasificar mediante análisis de las energías de

los fotones (análisis dispersivo de energía) o por separación de las longitudes de
onda de la radiación (análisis dispersivo de longitud de onda).

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Una vez ordenadas, la intensidad de cada radiación característica se relaciona
directamente con la cantidad de cada elemento químico del material de la
muestra. Esto aporta la base de una poderosa técnica utilizada en química
analítica. En la figura 2 se muestra la forma típica de las agudas líneas espectrales
fluorescentes obtenidas mediante el método dispersivo de energía (véase ley de
Moseley).

RADIACIÓN PRIMARIA

Para excitar a los átomos es preciso disponer de una fuente de radiación de

energía suficiente para eyectar electrones de las capas interiores de los átomos.
Por lo general se utilizan generadores de rayos X convencionales, ya que es
posible «ajustar» su producto según la necesidad de cada análisis, y porque
generalmente su potencia es mayor que la de otros dispositivos o técnicas.

Sin embargo, se pueden utilizar fuentes de rayos gamma que no requieren

suministro eléctrico tan elaborado como el de los dispositivos de rayos X, lo cual
permite su uso en instrumentos portátiles pequeños. Cuando la fuente de energía
es un sincrotrón o los rayos X son enfocados mediante una óptica tal como la
de policapilaridad, el haz de rayos X puede ser muy pequeño y muy intenso.

DETECCIÓN

En análisis por dispersión en energía, la dispersión y la detección se realizan en

una sola operación. Se usan contadores proporcionales o varios tipos
de detectores de estado sólido: diodos PIN, Si(Li), Ge(Li) y detectores de deriva de
silicio (SDD). Comparten el mismo principio de detección: un fotón de rayos X
incidente ioniza cuantiosos átomos del detector. La cantidad de carga generada es
proporcional a la energía del fotón incidente.

Luego esta carga se colecta y el proceso se repite en el fotón siguiente.

Obviamente, la velocidad del detector es crítica. Como todos los portadores de
carga medidos, para cuantificar correctamente la energía del fotón debe provenir
del mismo fotón (se usa discriminación de longitud pico para eliminar posibles
eventos generados por dos fotones de rayos X de incidencia casi simultánea).
Luego se construye el espectro dividiendo su energía en compartimientos
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discretos y contando los pulsos registrados dentro de cada compartimiento de
energía.

Los tipos de detectores de espectroscopia de rayos X por dispersión en

energía varían en resolución, velocidad y medios de enfriamiento (en los
detectores de estado sólido es crítico un bajo número de portadores de carga): los
contadores proporcionales con resoluciones de varios cientos
de eV (electronvoltios) funcionan en el extremo bajo del desempeño del espectro.
Los detectores de diodos PIN operan en el rango intermedio. Los de Si (Li), Ge (Li)
y SDD ocupan el extremo alto de la escala de desempeño.

En análisis dispersivo de longitud de onda, la radiación de la sola longitud de onda

generada por el monocromador pasa al interior de un fotomultiplicador: detector
similar a un contador Geiger, que cuenta fotones individuales a medida que lo
atraviesan. El contador es una cámara que contiene un gas ionizado por fotones
de rayos X. Un electrodo central se carga a (típicamente) +1 700 V con respecto a
las paredes de la cámara conductora, y cada fotón provoca una cascada
semejante a pulsos de corriente a través del campo. La señal se amplifica y
transforma dentro de una cuenta digital acumulativa. Luego estas cuentas se
procesan para obtener datos analíticos.

INTENSIDAD DE RAYOS X

El proceso de fluorescencia es ineficiente, y la radiación secundaria es mucho más

débil que el haz primario. En elementos más ligeros la energía de esta radiación
es relativamente baja (longitud de onda larga), de escaso poder de penetración. Si
el haz atraviesa algo de aire se atenúa gravemente. Por estos motivos, para
análisis de alto desempeño, la trayectoria tubo–muestra–detector se mantiene
bajo alto vacío: a una presión residual aproximada de 10 Pa (pascales).

Esto implica que la mayoría de las partes operativas del instrumento se han de
ubicar en una cámara de vacío grande. Los problemas de mantener partes
móviles en vacío y de introducción y retiro rápidos de la muestra sin pérdida de
esa propiedad plantean grandes retos de diseño del dispositivo. Para aplicaciones
menos demandantes o cuando la muestra se daña por el vacío (p. ej. una

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muestra volátil), se puede substituir una cámara de rayos X de barrido de helio,
aunque con alguna pérdida de intensidades de Z bajo (Z = número atómico).

ESPECTROSCOPIA DE RAYOS X:

Los fotones de rayos X tienen energías en el rango de los kilo-electronvoltios,

entre 0.1 y 100 keV. La energía es directamente proporcional a la frecuencia e
inversamente proporcional a la longitud de onda de acuerdo con la ecuación

, Ec. 1

Donde h es la constante de Planck (h = 4.1357 x 10-18 keV· s; c = 2.9979 x

108 m/s). La conversión entre energía (keV) y longitud de onda (nm) puede
hacerse directamente mediante la relación

. Ec. 2

Los rayos X se producen, en una fuente convencional, mediante el impacto de

electrones acelerados sobre un material. Normalmente la radiación primaria es
obtenida mediante tubos de rayos X del tipo de Coolidge. En esencia, consiste en
un tubo de vidrio con un bloque metálico y un filamento, todo ello sellado a vacío.
El filamento, normalmente de W, actúa como cátodo caliente, y el bloque de metal
de alta pureza, de Cr, Cu, Mo o W, se utiliza como ánodo. Los electrones, que se
emiten desde el filamento caliente, son acelerados en la dirección del ánodo,
mediante la aplicación de un alto potencial eléctrico. El bombardeo de los
electrones acelerados, a velocidades del orden de 1/3 de la velocidad de la luz,
resultan frenados por la interacción electrón-núcleo con los átomos del metal que
constituye el ánodo (radiación de frenado), o mediante la excitación de los átomos
constituyentes a nivel electrónico, dando lugar a la emisión de fotones de rayos X
característicos (radiación característica). Estos fenómenos producen la emisión de
rayos X desde el bloque metálico anódico, que pasan a través de delgadas
ventanas, típicamente de berilio, por las que emerge un haz de rayos X intenso.

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Los elementos ligeros, hasta Z = 25, muestran principalmente el doblete Ka no
resuelto y, a mayor energía, el Kb. Los elementos más pesados, comprendidos
entre Z = 26 y Z = 56, presentan adicionalmente diversos picos L, más o menos
resueltos, agrupados en los grupos a, b, g y l siguiendo un orden descendente de
intensidad. Los elementos pesados, con Z > 57, no muestran
transiciones K debido a que su energía de excitación es superior a los 40 keV
máximos utilizados habitualmente en la XRF convencional. Pero esto no impide
que se sigan detectando sus transiciones L y, adicionalmente, se detecten también
sus transiciones M. En general, los picos más intensos (líneas K y/o L) son las que
comúnmente se utilizan en el análisis espectrométrico por rayos X. ilustra estos
hechos mostrando los picos de rayos X detectados en un espectro de
fluorescencia para los átomos de Ba (Z = 56) y Pb (Z = 82), detallando en cada
uno de los picos observados el conjunto de transiciones características que lo
generan.

DATOS OBTENIDOS

ANILLO DE ORO

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MONEDA DE 2 Bs

10
MONEDA EXTRANJERA

11
RESULzzzzzzzzzzzzzzzzzzzzeTADOS

ECUACION PARA EL PORCENTAJE

𝒑𝒂𝒓𝒄𝒊𝒂𝒍
%𝒆𝒍𝒆𝒎𝒆𝒏𝒕𝒐 = ∗ 𝟏𝟎𝟎 = 𝒑𝒐𝒓𝒄𝒆𝒏𝒕𝒂𝒋𝒆 𝒐𝒓𝒊𝒈𝒊𝒏𝒂𝒍
𝒕𝒐𝒕𝒂𝒍

Componentes Area de pico Porcentaje

Au ka1 41019 64,26%
Cu Ka1 22810 35,74%
Total 63829 100%

Componentes Area de pico Porcentaje

Fe Ka1 1035339 74,72%
Cr Ka1 278758 20,12%
Ni Ka1 8327 0,6%
Mn Ka1 58883 4,25%
V Ka1 4332 0,41%
Total 1385639 100%

12
componentes Area de pico Porcentaje
Cu ka1 5725539 72,5%
Ni Ka1 1070236 13,5%
Zn Ka1 1103379 14%
Total 7899154 100%

OBSERVACIONES

Como consecuencia del bombardeo electrónico en la cámara de ionización, las

moléculas se rompen en una serie de fragmentos, siempre que una misma
molécula se rompa en las mismas condiciones nos dará el mismo tipo y número
de fragmentos y constituyen la fragmentación patrón.
Gracias a esto se pueden determinar que es la muestra por comparación y por
otra parte, la intensidad relativa de los distintos picos, permite deducir la
proporción en que cada componente se encuentra en la muestra.

El pico mayor del espectrograma se llama pico base. Normalmente la altura de

este pico se toma como valor cien. Las intensidades de los demás picos se
expresan en porcentajes de la intensidad del pico base.

En la espectroscopia de fluorescencia, primero se excita la muestra mediante la

absorción de un fotón de luz, desde su estado electrónico basal a uno de los
distintos estados vibracionales del estado electrónico excitado. Las colisiones con
otras moléculas causan que la molécula excitada pierda energía vibracional hasta
que alcanza el estado vibracional más bajo del estado electrónico excitado.

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La molécula desciende luego a uno de los distintos niveles de vibración del estado
electrónico basal, emitiendo un fotón en el proceso. Como las moléculas pueden
caer a cualquiera de los diferentes niveles de vibración en el estado basal, los
fotones emitidos tendrán diferentes energías y, por lo tanto, frecuencias. Así pues,
mediante el análisis de las diferentes frecuencias de luz emitida
por espectrometría de fluorescencia, junto con sus intensidades relativas, se
puede determinar la estructura de los diferentes niveles de vibración.

En un experimento típico, se miden las diferentes frecuencias de luz fluorescente

emitida por una muestra, manteniendo la luz de excitación a una longitud de onda
constante. A esto se le llama espectro de emisión. Un espectro de excitación se
mide mediante el registro de una serie de espectros de emisión utilizando luz de
diferentes longitudes de onda.

CONCLUCION

Concluimos que en el procedimiento de fluorescencia de rayos “x” el equipo () no

proporciona una información el área en graficas de picos de cada elemento
componentes de la muestra que representa la concentración de cada elemento
presente en el compuesto, la deficiencia en la información es que no se puede
saber la cantidad exacta de los elementos. Solo podemos apreciar que tenemos
poco o mucho en porcentaje. Con la espectrometría de la fluorescencia de los
rayos x podemos determinar el tipo de elemento que se encuentra en los distintos
picos de la función que se da en el gráfico de las muestras en laboratorio.

BIBLIOGRAFÍA

https://es.wikipedia.org/wiki/Fluorescencia_de_rayos_X

http://www.geologia.uchile.cl/laboratorio-de-espectrometria-de-fluorescencia-de-
rayos-x-edx-xrf

http://laboratoriotecnicasinstrumentales.es/analisis-qumicos/espectrometra-de-
fluorescencia-de-rayos-x
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