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La espectrometra gamma consiste en la obtencin del espectro de las radiaciones gamma emitidas por los radionucleidos. La espectrometra gamma clsica est asociada con los detectores de centelleo slido, especialmente los de NaI(Tl). de semiconductores (Si, Ge, CdTe, Cd1-xZnxTe, HgI2, PbI2) cuya aplicacin ha revolucionado completamente esta tcnica debido a su elevado poder de resolucin. Recientemente han aparecido los detectores
Se basa en que la respuesta del detector es proporcional a la energa del rayo gamma detectado, lo que permite obtener su espectro de energas. Espectro diferencial: dN/dE vs. E Factores que determinan el espectro Tipo de detector Energa de la radiacin Tamao del detector Materiales que rodean el detector (especialmente blindaje) Otras radiaciones de la muestra
MCA: Clasifica los pulsos segn su amplitud o altura la cual es proporcional a la energa de la radiacin incidente. Al contar los pulsos de determinada altura y hacer con estos un histograma el MCA almacena el espectro tal como es visto por el detector.
Detectores de Semiconductores
Slidos cristalinos (ej Ge y Si) con pequeas cantidades de materiales llamados dopantes que permiten el control de la conduccin elctrica. Si alguna radiacin penetra, crea un par electrn-hueco, los electrones fluyen en una direccin y las vacantes en la otra. El nmero final de electrones recogidos pueden crear un pulso electrnico cuya amplitud es proporcional a la energa de la radiacin.
Procesos en el detector
efecto fotoelctrico, f efecto Compton, c efecto de produccin de pares, pp
Espectro de 137 Cs
Efecto fotoelctrico: Rayo X de 28 keV Fotn cede completamente su energa a los tomos del cristal y arranca electrones con energa: Ee- = E - El E Resultado del proceso: Ocurre una vacante en una capa electrnica de los tomos del cristal, emisin de rayos X (para detectores de NaI(Tl) rayo X de 28 keV correspondiente al yodo) Escapa fuera del cristal: Aparece PICO DE ESCAPE DE RAYOS X a 28 keV menos que fotopico
Pico de escape: Disminuye al incrementarse la energa del fotn No se observa cuando la energa incidente es superior a 160 keV.
La energa del fotn rechazado resultante de un efecto Compton viene dada por:
La energa comunicada al electrn ser el resto de la energa del fotn incidente o sea:
E =
E 1+ E (1 cos ) mc 2
Ee = E
E 1+ E mc 2
(1 cos )
La energa cedida por el fotn incidente al electrn depende del ngulo de rechazo
siendo: E = la energa del fotn incidente E = la energa del fotn rechazado Ee = la energa cedida al electrn = el ngulo formado por las direcciones del fotn incidente y del fotn rechazado (el ngulo de rechazo)
Diferencias entre espectro real y terico La nueva radiacin gamma puede dar: Nuevos efectos Compton + Efecto fotoelctrico Cede completamente su energa Efectos Compton Escapa del cristal Cede parcialmente su energa Forma gaussiana distorsin introducida por los procesos de deteccin, procesamiento y medida por el sistema de espectrometra. rea del fotopico amplificada: terico considera solo un efecto Compton:
Borde Compton: debido a la baja probabilidad de que radiacin de muy baja energa abandone el cristal. corresponde a la mxima energa que puede depositar un rayo gamma en una nica interaccin Compton dentro del centelleador. Se determina como:
Produccin de pares: e- y e+: El proceso puede ocurrir slo si la energa del fotn incidente es > 1.02 MeV.
Energa cintica de las partculas: Ec = (E - 1.02) MeV Se observa cuando la energa de la radiacin gamma es superior a los 3 Mev.
El electrn producido cede su energa a los electrones del cristal y por tanto su efecto se suma al Compton contnuo. El positrn colisiona con un electrn: PROCESO DE ANIQUILACION, dando lugar a 2 fotones gamma de 0.51 Mev c/u que salen en direcciones opuestas.
o
Si ambos fotones se absorben dentro del cristal su efecto se suma al FP. Si uno de ellos escapa del cristal: PICO DE ESCAPE SIMPLE, en 0.51 Mev menos que el FP. Si ambos escapan del cristal: PICO DE ESCAPE DOBLE, en 1.02 Mev menos que el FP.
Estos fenmenos dependen en gran medida del tamao y geometra del medio sensible, as como del lugar donde se produce la aniquilacin.
102
10
Efecto fotoelctrico
Total
Efecto Compton
Energa (MeV)
Produccin de rayos X en el blindaje Fotones gamma producen efecto fotoelctrico en el Pb del blindaje Rayo X caracterstico del Pb 72 keV Para evitarlo: Recubrimiento del blindaje con materiales de menor Z (Cd, Cu) Aumento de las dimensiones del blindaje
Radiacin de Aniquilacin
Formacin de Pares en el Blindaje si E>1.02 MeV Aparece fotopico a 510 keV Disminuye eliminando de las cercanas del detector los materiales de alto Z
Bremsstrahlung
Si la muestra es emisor beta, la radiacin beta es frenada por detector, ventana y blindaje y se emite radiacin X continua. Espectro contnuo de 0 a Emx de la radiacin beta
Presente en la mayora de las muestras pues casi todos los emisores gamma son emisores beta Para minimizarlo absorbente de bajo Z (poliestireno, berilio, aluminio) Cambio en la sima Compton a costa de la disminucin del fotopico
Efectos de Suma
Debidos al tiempo finito de respuesta del sistema aparece pico que es suma de las energas de las diferentes radiaciones gamma. Dos tipos de efectos suma:
o Suma o Suma
Suma por coincidencia Decaimiento beta seguido frecuentemente por la emisin de dos radiaciones gamma probabilidad finita que ambos sean detectados simultneamente
Suma por azar Para fuentes de alta intensidad probabilidad que dos radiaciones gamma cedan su energa en el mismo tiempo al detector Influencia de la velocidad de conteo del detector
Efecto fotoelctrico + Absorcin RX del Iodo Serie de efectos Compton + ef. fot. Final Creacin de pares + aniq. + absorcin de ambos por ef. fot. o Compton
de ambos gammas
Bremsstrahlung:
+,
continuo,
Fotopico suma de aniquilacin: emisores + (ambos gammas absorbidos) E = 1.02 MeV Sima de Compton: antes del fotopico salen del cristal pocos gammas de baja E. Picos suma: por coincidencia y por azar
poder de resolucin: es una medida de las posibilidades del detector de distinguir en el espectro la presencia de dos fotones gamma de energas muy prximas. Res (%) = X Y x 100
X= ancho del FP en la mitad de su altura mxima Y= energa del FP (en keV)
El ancho del FP es una consecuencia de las fluctuaciones estadsticas en cada etapa de la cadena de sucesos que siguen al efecto generador de la ionizacin de los tomos del detector.
Desventajas Baja resolucin Ejercicio: Dada una fuente sellada de 137Cs y 60Co, dibujar aprox. el espectro de radiacin gamma que esperara obtener en un detector de NaI(Tl) y compararlo con el realmente obtenido. Sealizar zonas de inters. Emplear tablas de radionucleidos y manuales del laboratorio.
Ge(Li)
Alta resolucin
Operacin a 77K, refrigeracin con N2 L > Relacin Compton/ fotoelctrico > Probabilidad de escape de secundarios