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Item 1 2 2.1 2.3 Assunto. Anlise estatstica C.E.P. Introduo. Controle estatstico do processo. Definio. Objetivo do C.E.P. Pg. 04 04 04 04 04
Tabelas.
1 2 3 Controle da produo. Dados estatsticos para clculo. 06 15 16
Grficos
Patrick Rodrigues Barbosa 1 Histograma. 2 Produo/dia, nmero de ocorrncias. 3 Curva normal. 4 Exemplo de variao fora dos limites. 5 Exemplo A de variao no grfico. 6 Exemplo B de variao no grfico. 7 Clculo do ZS e ZI 8 Exemplo com Cp > 1,33 9 Exemplo com Cp > 1,00 10 Anlise da rea da curva.
07 07 07 09 10 10 11 12 13 14
Figuras
2.1 2.2 2.3 Esquema geral do C.E.P. Carta de controle. Dirio de bordo. 14 17 19
INTRODUO A ESTATSTICA E C. E. P.
1 Introduo
O maior objetivo das empresas hoje produzir produtos com qualidade superior. Para isto necessria a melhoria contnua da qualidade e a baixo custo;
Patrick Rodrigues Barbosa no podemos mais pensar em controle da qualidade, mas em produzirmos com qualidade total. Uma das ferramentas mais difundidas e simples o controle estatstico do processo, mais conhecido como CEP, pois permite que todos os envolvidos no processo tenham deciso na qualidade final do produto ou servio.
b) No sistema responsabilidade do gerente, diretor. Resolues a curto, mdio e longo prazo, quando h necessidade de investimento e/ou mudanas na estrutura, O OPERADOR FAZ A QUALIDADE, PORTANTO, ELE QUE DEVE REALIZAR AS MEDIES NO PROCESSO. 2.6 Conceitos que ajudaro a entender o C.E.P. :
Patrick Rodrigues Barbosa a) Caracterstica da qualidade: so os traos caractersticos, qualidades ou propriedades dos produtos ou servios que so importantes para o cliente. b) Amostragem: so os elementos obtidos de um grande grupo, chamado populao. Esta pode ser individual ou subgrupos de elementos. A populao pode ser todos os elementos de uma partida ou elementos de uma populao diria. 2.7 Metodologia do C.E.P. Atravs do conhecimento das caractersticas da qualidade estabelecido um plano de amostragem, inicia-se uma retirada de amostras, registrando-se as variaes medidas na carta de controle que uma das ferramentas do C.E.P.
3.3 Vantagens do C.E.P. : Concentra-se na soluo de problemas, uma base racional para tomada de decises. Distingue as causas especiais (nvel operacional), das causas comuns (administrao). Ajuda as pessoas a melhor executar suas funes. Visa metas comuns para todos na organizao. uma base para o aperfeioamento contnuo.
Tabela 1 Controle da produo. No modo acima os dados no informam muita coisa, mas se fizermos um histograma obteremos uma melhor viso da produo realizada.
Produo 22 23 24 25 26 27 28 29 30
Total 1 2 5 5 7 4 3 2 1
Patrick Rodrigues Barbosa Em forma de coluna tambm podemos avaliar a variao do processo.
Ocorrncias 09 08 07 06 05 04 03 02 01 Produo
22
23
24
25
26
27
28
29
30
Grfico 2 Produo / dia, nmero de ocorrncias. 4.2 Distribuio normal: Partindo do histograma podemos observar a variao do processo. Se analisarmos vrios histogramas veremos que eles tem algo em comum (centro e disperso). Deste modo obtemos o que chamamos de distribuio normal ou forma de sino.
5 Carta de controle.
5.1 Definio: Ferramenta que permite verificar a centralizao e a disperso de um processo. Surgiu por volta de 1920, quando Walter Shewart desenvolveu um mtodo para anlise e ajuste da variao em funo do tempo. Mostra ao operador: Como esto as variaes do processo, quando o processo est fora de controle, se o processo capaz de atender as especificaes; e, quando no capaz indicar a porcentagem que est fora das especificaes. 5.2 Tipos de cartas de controle: so classificadas como cartas para variveis e por atributos.
Patrick Rodrigues Barbosa 5.3 Cartas por variveis: usada quando os dados podem ser mensurados, como por exemplo: comprimento, gramatura, viscosidade, dimetro. Encontradas na maioria dos processos. Fornecem mais informaes por pea do que na carta de atributos. Exigem inspeo de menor nmero de peas. Permitem rpida realimentao do processo. Na forma de carta de controle permitem a distino entre uma variao transitria e uma mudana de desempenho. Tipos de carta de controle por variveis: X,R - Mdia e amplitude. X, - Mdia e desvio padro. Medianas. Individuais. 5.4 Cartas por atributos: so os requisitos que classificam uma pea como defeituosa ou no, os defeitos so contados. Exemplos: sujeiras, testes com calibres passa no passa, teste ao rasgo. Podem contribuir para determinar os problemas prioritrios de uma rea. So de fcil compreenso. Tipos de carta para atributos: p - Carta para porcentagens de unidades no conformes, amostragem no necessariamente constante. np - Carta para o nmero de no conformidades numa amostra, amostragem constante. c - Carta para o nmero de no conformidades numa amostra de tamanho constante. u - Carta para nmero de no conformidades por unidade, amostra no necessariamente de tamanho constante.
Patrick Rodrigues Barbosa L.I.E. - Limite inferior de especificao. L.S.C. - Limite superior de controle. L.I.C. - Limite inferior de controle. 6.2 Clculo dos limites de controle: so calculados para mostrar o grau de variao das amplitudes e mdias das amostras quando ocorrem causas comuns de variao Para o grfico da mdias: L.S.C = X + A2 x R e L.I.C = X - A2 x R Para o grfico das amplitudes: L.S.C = D4 x R e L.I.C = no usado. OBS - A2 e D4 so fatores que variam conforme o tamanho da amostra (n) e so encontrados na tabela anexa. Ao preencher o grfico das mdias e da amplitude traar com linhas cheias, as linhas dos limites de controle devem ser linhas tracejadas.
7.2 Tendncias: indicam se o processo poder sair de controle: Seqncia de 7 pontos acima ou abaixo da linha central e Seqncia de 7 pontos ascendentes ou descendentes. Provveis causas: mau funcionamento do equipamento, lote de matria prima no uniforme, novo instrumento, etc.
Patrick Rodrigues Barbosa Grfico 5 Exemplo A de variao no grfico. 7.3 Pontos prximos da linha central ou dos limites: aproximadamente 2/3 dos pontos devem estar situados dentro do tero mdio e vice-versa.
Grfico 6 Exemplo B de variao no grfico. 7.4 Determinao e correo de causas especiais: devemos tomar as medidas preventivas para que elas no mais ocorram, de fundamental importncia o preenchimento correto do dirio de bordo para esta anlise. 7.5 Limites de controle e linha central corrigidos: dever ser revista para corrigir possveis mudanas nas causa comuns ocorridas no processo.
7.6 de fundamental importncia: acompanhar o processo para que ele tenha controle e melhoria contnua. O analista dever estar atento as variaes que ocorrem no dia a dia, e o operador deve inteirar-se cada vez mais a fim de dominar o C.E.P. j que ele facilita o seu trabalho.
Zi
Zs
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OBS: obtido o Zs e Zi utilizar a tabela (multiplicar o valor obtido por 100, e somar as porcentagens para obter o total). 8.2 Avaliao da capacidade do processo: Clculo do desvio padro estimado: R/D2 OBS: Para se obter D2 ver tabela. Clculo da capacidade de mquina: Cp = (LSE LIE) 6x Clculo do ndice de capacidade: Cpk = (Z mn.) 3 OBS: Z mnimo o menor valor de Zs e Zi O processo com Z mn. = 3 tem capacidade de 3 desvios padro ( ) ou seja o Cpk igual a 1,0 quando o Z mn. = 4 o processo tem capacidade de 4 ou seja, Cpk = 1,33
9 Desvio padro.
Clculo do sigma real do processo: o melhor indicador da variabilidade do processo, e fornece a mdia da disperso dos dados.
(xi X) n1
Onde: S = desvio padro X = valor mdio xi = valores individuais n = nmero de valores Quanto menor for o desvio padro maior ser a preciso do processo. 9.2 O clculo do nmero de sigmas: indica a preciso do processo. Nmero de sigmas = (LSE - mdia especificada) /
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Patrick Rodrigues Barbosa 9.3 Avaliao da capacidade do processo: s analisamos processos estveis, ou seja, tem uma curva normal de distribuio. Relao entre Cp e CPK: Cp a capacidade potencial do processo e Cpk a capacidade real, quer dizer o que o processo faz. Cp avalia quantas vezes a curva est contida dentro da tolerncia. 9.4 Clculo do coeficiente de variao. C.V.% =
x 100
X
LSE
Cpk avalia quantas vezes o desvio cabe no lado mais crtico da curva, tambm avalia a centralizao mdia do processo. LIE 4,5 X 3,0 LSE
Grfico 9 Exemplo com Cp >1,00 O nmero de determina o percentual de valores dentro das especificaes. Patrick Rodrigues Barbosa Anlise de fios
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COLETA DE DADOS
NO AO NO LOCAL
PROCESSO ESTVEL?
SIM
ANLISE DE CAPACIDADE
PROCESSO CAPAZ
No
AO NO
SISTEMA
Sim
Figura 1 Esquema geral do C.E.P.
A2
1,880 1,023 0,729 0,577 0,483 0,419 0,373 0,337 0,308
d2
1,128 1,693 2,059 2,326 2,534 2,704 2,847 2,970 3,078
D3
-------------------------0,076 0,136 0,184 0,223
D4
3,267 2,574 2,282 2,114 2,004 1,924 1,864 1,816 1,777
E2
2,660 1,772 1,457 1,290 1,184 1,109 1,054 1,010 0,975
d2
1,128 1,693 2,059 2,326 2,534 2,704 2,847 2,970 3,078
D3
-------------------------0,076 0,136 0,184 0,223
D4
3,267 2,574 2,282 2,114 2,004 1,924 1,864 1,816 1,777
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Ex: z i= 1,5
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Especificao: X =
LSE =
LIE =
LSC =
LIC =
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DIRIO DE BORDO
Anotar todas as ocorrncias ocorridas durante o processo. Ex: manuteno, reprova, troca de artigo, material, etc. Data e hora Ocorrncia Providncia tomada
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