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Relatrio de estudo dos fios.

Controle Esttistico de Processo.

Indice
Item 1 2 2.1 2.3 Assunto. Anlise estatstica C.E.P. Introduo. Controle estatstico do processo. Definio. Objetivo do C.E.P. Pg. 04 04 04 04 04

Patrick Rodrigues Barbosa

Patrick Rodrigues Barbosa


2.4 2.5 2.6 2.7 3 3.1 3.2 3.3 4 4.1 4.2 5 5.1 5.2 5.3 5.4 6 6.1 6.2 7 7.1 7.2 7.3 7.4 7.5 7.6 8 8.1 8.2 9 9.1 9.2 9.3 9.4 Cartas de controle. Esquema de ao. Conceitos que ajudaro a entender o C.E.P. Metodologia do C.E.P. Variao do processo: causas comuns e causas especiais. Causa especial de variao. Causa comum de variao. Vantagens do C.E. P. Histograma e distribuio normal. Conceito de histograma. Distribuio normal Carta de controle. Definio. Tipos de caras de controle. Cartas por variveis. Cartas por atributos. Carta de controle Mdia e Amplitude. Estudo da carta de controle de variveis. Clculo dos limites de controle. Anlise da carta de controle. Pontos fora dos LIC e LSC Tendncias. Pontos prximos da linha central ou dos limites. Determinao e correo de causas especiais. Limites de controle e linha central corrigidos. de fundamental importncia. Interpretao da capacidade do processo. Determinao do percentual (Z) baseado na distribuio normal. Avaliao da capacidade do processo. Desvio padro. Frmula do desvio padro. O clculo do nmero de sigmas: indica a preciso do processo. Avaliao da capacidade do processo. Clculo do coeficiente de variao. 04 04 05 05 05 05 05 06 06 06 07 08 08 08 08 08 09 09 09 09 09 10 10 10 10 10 11 11 11 11 12 12 12 12

Tabelas.
1 2 3 Controle da produo. Dados estatsticos para clculo. 06 15 16

Dados estatsticos para clculo do Zs e Zi.

Grficos

Patrick Rodrigues Barbosa Anlise de fios

Patrick Rodrigues Barbosa 1 Histograma. 2 Produo/dia, nmero de ocorrncias. 3 Curva normal. 4 Exemplo de variao fora dos limites. 5 Exemplo A de variao no grfico. 6 Exemplo B de variao no grfico. 7 Clculo do ZS e ZI 8 Exemplo com Cp > 1,33 9 Exemplo com Cp > 1,00 10 Anlise da rea da curva.

07 07 07 09 10 10 11 12 13 14

Figuras
2.1 2.2 2.3 Esquema geral do C.E.P. Carta de controle. Dirio de bordo. 14 17 19

INTRODUO A ESTATSTICA E C. E. P.
1 Introduo
O maior objetivo das empresas hoje produzir produtos com qualidade superior. Para isto necessria a melhoria contnua da qualidade e a baixo custo;

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Patrick Rodrigues Barbosa no podemos mais pensar em controle da qualidade, mas em produzirmos com qualidade total. Uma das ferramentas mais difundidas e simples o controle estatstico do processo, mais conhecido como CEP, pois permite que todos os envolvidos no processo tenham deciso na qualidade final do produto ou servio.

2 Controle Estatstico do Processo (C.E.P.)


2.1 Definio: mtodo matemtico de determinar variaes no processo baseado em amostragens coletadas pelo prprio operador. 2.2 Metas - permitir ao operador analisar a qualidade do processo visando: reduzir as perdas, melhorar a produtividade, (maior produo com melhor qualidade) produzir produtos dentro das especificaes, estabelecer a melhoria contnua da qualidade. 2.3 Objetivo do CEP: mudar a poltica de deteco para preveno. A deteco a inspeo no incio e final do processo, avalia a matria prima e o produto acabado, no permite a correo imediata no processo. A preveno a inspeo durante o processo realizada pelo operador, avalia o produto no momento de sua produo, permite correo no processo. 2.4 Cartas de controle: Tem por objetivo monitorar o processo em todas a fases, emite sinais estatsticos mostrando problemas ocorridos atravs da variao do processo. 2.5 Esquema de ao: a) No local responsabilidade do operador, encarregado, supervisor. Visa aperfeioar de imediato para evitar que se repita o defeito, normaliza o processo, organiza o local de trabalho.

b) No sistema responsabilidade do gerente, diretor. Resolues a curto, mdio e longo prazo, quando h necessidade de investimento e/ou mudanas na estrutura, O OPERADOR FAZ A QUALIDADE, PORTANTO, ELE QUE DEVE REALIZAR AS MEDIES NO PROCESSO. 2.6 Conceitos que ajudaro a entender o C.E.P. :

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Patrick Rodrigues Barbosa a) Caracterstica da qualidade: so os traos caractersticos, qualidades ou propriedades dos produtos ou servios que so importantes para o cliente. b) Amostragem: so os elementos obtidos de um grande grupo, chamado populao. Esta pode ser individual ou subgrupos de elementos. A populao pode ser todos os elementos de uma partida ou elementos de uma populao diria. 2.7 Metodologia do C.E.P. Atravs do conhecimento das caractersticas da qualidade estabelecido um plano de amostragem, inicia-se uma retirada de amostras, registrando-se as variaes medidas na carta de controle que uma das ferramentas do C.E.P.

3 Variao do processo: causas comuns e causas especiais.


Assim como no existem dois seres humanos exatamente iguais, os processos apresentam variaes, e, a qualidade de um processo medida pela variabilidade do mesmo. 3.1 Causa especial de variao: o defeito aparece por motivos acidentais e localizados. possvel identificar e corrigir, mas no possvel controlar a causa especial. Exemplos: desregulagem da mquina, matria prima com propriedades diferentes, operador inexperiente, ferramenta gasta ou quebrada. 3.2 Causa comum de variao: so originados no sistema produtivo, difceis de serem identificadas e eliminadas. de responsabilidade da administrao a melhoria do sistema. Exemplos: aquisio sistemtica de matria prima de baixa qualidade, treinamento inadequado, manuteno deficiente, produo urgente, ambiente inadequado, falha de projeto, mquina incapaz.

3.3 Vantagens do C.E.P. : Concentra-se na soluo de problemas, uma base racional para tomada de decises. Distingue as causas especiais (nvel operacional), das causas comuns (administrao). Ajuda as pessoas a melhor executar suas funes. Visa metas comuns para todos na organizao. uma base para o aperfeioamento contnuo.

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Patrick Rodrigues Barbosa

CAUSA COMUM DE VARIAO:


RESPONSABILIDADE DA AO - ADMINISTRAO AGE SOBRE O SISTEMA. RESOLVE 85% DOS PROBLEMAS DO PROCESSO.

CAUSA ESPECIAL DE VARIAO:


RESPONSABILIDADE PELA AO - NVEL OPERACIONAL. AO NO LOCAL DE TRABALHO. RESOLVE 15% DOS PROBLEMAS DO PROCESSO.

4 Histograma e distribuio normal.


4.1 Conceito do histograma: diagrama de barras que representa uma distribuio de freqncias, uma forma de representar uma variao, Exemplo 1: Supondo que a produo diria de peas seja a do quadro a seguir: Dia 01 02 03 04 05 06 Peas Dia 26 07 28 08 24 09 25 10 25 11 29 12 Peas Dia 23 13 26 14 26 15 27 16 24 17 24 18 Peas Dia 26 19 27 20 27 21 25 22 28 23 26 24 Peas Dia 22 25 28 26 30 27 29 28 24 29 27 30 Peas 25 26 24 25 26 23

Tabela 1 Controle da produo. No modo acima os dados no informam muita coisa, mas se fizermos um histograma obteremos uma melhor viso da produo realizada.

Produo 22 23 24 25 26 27 28 29 30

n de vezes X XX XXXXX XXXXX XXXXXXX XXXX XXX XX X

Total 1 2 5 5 7 4 3 2 1

Grfico 1 Histograma. Patrick Rodrigues Barbosa Anlise de fios


6

Patrick Rodrigues Barbosa Em forma de coluna tambm podemos avaliar a variao do processo.
Ocorrncias 09 08 07 06 05 04 03 02 01 Produo

22

23

24

25

26

27

28

29

30

Grfico 2 Produo / dia, nmero de ocorrncias. 4.2 Distribuio normal: Partindo do histograma podemos observar a variao do processo. Se analisarmos vrios histogramas veremos que eles tem algo em comum (centro e disperso). Deste modo obtemos o que chamamos de distribuio normal ou forma de sino.

Grfico 3 Curva normal

5 Carta de controle.
5.1 Definio: Ferramenta que permite verificar a centralizao e a disperso de um processo. Surgiu por volta de 1920, quando Walter Shewart desenvolveu um mtodo para anlise e ajuste da variao em funo do tempo. Mostra ao operador: Como esto as variaes do processo, quando o processo est fora de controle, se o processo capaz de atender as especificaes; e, quando no capaz indicar a porcentagem que est fora das especificaes. 5.2 Tipos de cartas de controle: so classificadas como cartas para variveis e por atributos.

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Patrick Rodrigues Barbosa 5.3 Cartas por variveis: usada quando os dados podem ser mensurados, como por exemplo: comprimento, gramatura, viscosidade, dimetro. Encontradas na maioria dos processos. Fornecem mais informaes por pea do que na carta de atributos. Exigem inspeo de menor nmero de peas. Permitem rpida realimentao do processo. Na forma de carta de controle permitem a distino entre uma variao transitria e uma mudana de desempenho. Tipos de carta de controle por variveis: X,R - Mdia e amplitude. X, - Mdia e desvio padro. Medianas. Individuais. 5.4 Cartas por atributos: so os requisitos que classificam uma pea como defeituosa ou no, os defeitos so contados. Exemplos: sujeiras, testes com calibres passa no passa, teste ao rasgo. Podem contribuir para determinar os problemas prioritrios de uma rea. So de fcil compreenso. Tipos de carta para atributos: p - Carta para porcentagens de unidades no conformes, amostragem no necessariamente constante. np - Carta para o nmero de no conformidades numa amostra, amostragem constante. c - Carta para o nmero de no conformidades numa amostra de tamanho constante. u - Carta para nmero de no conformidades por unidade, amostra no necessariamente de tamanho constante.

6 Carta de controle Mdia e Amplitude.


6.1 Estudo da carta de controle de variveis: mdia e amplitude. OBS: ver a carta de controle em branco. xi - Valor da caracterstica avaliada para cada amostra. n - Tamanho da amostra, nmero de corpos de prova de cada amostra. k - Nmero de amostras coletadas x - Valor mdio dos valores da caracterstica = somatrio de x dividido por n X - Valor mdio das mdias = somatrio das mdias dividido por k r - Amplitude = xi mximo - xi mnimo. R - Valor mdio das amplitudes = somatrio das amplitudes dividido por k. L.S.E. - Limite superior de especificao.

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Patrick Rodrigues Barbosa L.I.E. - Limite inferior de especificao. L.S.C. - Limite superior de controle. L.I.C. - Limite inferior de controle. 6.2 Clculo dos limites de controle: so calculados para mostrar o grau de variao das amplitudes e mdias das amostras quando ocorrem causas comuns de variao Para o grfico da mdias: L.S.C = X + A2 x R e L.I.C = X - A2 x R Para o grfico das amplitudes: L.S.C = D4 x R e L.I.C = no usado. OBS - A2 e D4 so fatores que variam conforme o tamanho da amostra (n) e so encontrados na tabela anexa. Ao preencher o grfico das mdias e da amplitude traar com linhas cheias, as linhas dos limites de controle devem ser linhas tracejadas.

7 Anlise da carta de controle.


7.1 Pontos fora dos LIC e LSC: evidenciam uma provvel causa especial. Verificar se os registros esto corretos, se os procedimentos foram seguidos de acordo com as especificaes, analisar registro no dirio de bordo.

Grfico 4 Exemplo de variao fora dos limites

7.2 Tendncias: indicam se o processo poder sair de controle: Seqncia de 7 pontos acima ou abaixo da linha central e Seqncia de 7 pontos ascendentes ou descendentes. Provveis causas: mau funcionamento do equipamento, lote de matria prima no uniforme, novo instrumento, etc.

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Patrick Rodrigues Barbosa Grfico 5 Exemplo A de variao no grfico. 7.3 Pontos prximos da linha central ou dos limites: aproximadamente 2/3 dos pontos devem estar situados dentro do tero mdio e vice-versa.

Grfico 6 Exemplo B de variao no grfico. 7.4 Determinao e correo de causas especiais: devemos tomar as medidas preventivas para que elas no mais ocorram, de fundamental importncia o preenchimento correto do dirio de bordo para esta anlise. 7.5 Limites de controle e linha central corrigidos: dever ser revista para corrigir possveis mudanas nas causa comuns ocorridas no processo.

7.6 de fundamental importncia: acompanhar o processo para que ele tenha controle e melhoria contnua. O analista dever estar atento as variaes que ocorrem no dia a dia, e o operador deve inteirar-se cada vez mais a fim de dominar o C.E.P. j que ele facilita o seu trabalho.

8 Interpretao da capacidade do processo.


O processo s poder ser avaliado se estiver sob controle estatstico, ou seja, no pode ter causas especiais. 8.1 Determinar o percentual (Z) baseada na distribuio normal.

Zi

Zs

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Patrick Rodrigues Barbosa Grfico 7 Clculo do Zs e Zi Clculo: Zs = (LSE X) Zi = (X LIE)

OBS: obtido o Zs e Zi utilizar a tabela (multiplicar o valor obtido por 100, e somar as porcentagens para obter o total). 8.2 Avaliao da capacidade do processo: Clculo do desvio padro estimado: R/D2 OBS: Para se obter D2 ver tabela. Clculo da capacidade de mquina: Cp = (LSE LIE) 6x Clculo do ndice de capacidade: Cpk = (Z mn.) 3 OBS: Z mnimo o menor valor de Zs e Zi O processo com Z mn. = 3 tem capacidade de 3 desvios padro ( ) ou seja o Cpk igual a 1,0 quando o Z mn. = 4 o processo tem capacidade de 4 ou seja, Cpk = 1,33

9 Desvio padro.
Clculo do sigma real do processo: o melhor indicador da variabilidade do processo, e fornece a mdia da disperso dos dados.

9.1 Frmula do desvio padro:

(xi X) n1

Onde: S = desvio padro X = valor mdio xi = valores individuais n = nmero de valores Quanto menor for o desvio padro maior ser a preciso do processo. 9.2 O clculo do nmero de sigmas: indica a preciso do processo. Nmero de sigmas = (LSE - mdia especificada) /

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Patrick Rodrigues Barbosa 9.3 Avaliao da capacidade do processo: s analisamos processos estveis, ou seja, tem uma curva normal de distribuio. Relao entre Cp e CPK: Cp a capacidade potencial do processo e Cpk a capacidade real, quer dizer o que o processo faz. Cp avalia quantas vezes a curva est contida dentro da tolerncia. 9.4 Clculo do coeficiente de variao. C.V.% =

x 100
X

LIE 6 8 Grfico 8 Exemplo com Cp 1,33

LSE

Cpk avalia quantas vezes o desvio cabe no lado mais crtico da curva, tambm avalia a centralizao mdia do processo. LIE 4,5 X 3,0 LSE

Grfico 9 Exemplo com Cp >1,00 O nmero de determina o percentual de valores dentro das especificaes. Patrick Rodrigues Barbosa Anlise de fios
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Patrick Rodrigues Barbosa X

2 = 68,26% 4 = 95,44% 6 = 99,73 % Grfico 10 Anlise da rea da curva.

ESQUEMA GERAL DO CEP


NORMALIZAO DO PROCESSO

COLETA DE DADOS

CLCULO DOS LIMITES

ANLISE DE ESTABILIDADE Patrick Rodrigues Barbosa Anlise de fios


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Patrick Rodrigues Barbosa

NO AO NO LOCAL

PROCESSO ESTVEL?
SIM
ANLISE DE CAPACIDADE

PROCESSO CAPAZ

No

AO NO

SISTEMA

Sim
Figura 1 Esquema geral do C.E.P.

CONTROLE CONTNUO DO PROCESSO

Dados estatsticos para clculo.


A M O S T R A S 2 3 4 5 6 7 8 9 10 CARTA MDIA E AMPLITUDE FATORES DIVISORES FATORES PARA PARA PARA LIMITES LIMITES ESTIMATIVA DE DE DE CONTROLE CONTROLE DESVIO PADRO CARTA DE INDIVIDUAIS FATORES DIVISORES FATORES PARA PARA PARA LIMITES LIMITES ESTIMATIVA DE DE DE CONTROLE CONTROLE DESVIO PADRO

A2
1,880 1,023 0,729 0,577 0,483 0,419 0,373 0,337 0,308

d2
1,128 1,693 2,059 2,326 2,534 2,704 2,847 2,970 3,078

D3
-------------------------0,076 0,136 0,184 0,223

D4
3,267 2,574 2,282 2,114 2,004 1,924 1,864 1,816 1,777

E2
2,660 1,772 1,457 1,290 1,184 1,109 1,054 1,010 0,975

d2
1,128 1,693 2,059 2,326 2,534 2,704 2,847 2,970 3,078

D3
-------------------------0,076 0,136 0,184 0,223

D4
3,267 2,574 2,282 2,114 2,004 1,924 1,864 1,816 1,777

Patrick Rodrigues Barbosa Anlise de fios

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Patrick Rodrigues Barbosa


11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 0,285 0,266 0,249 0,235 0,223 0,212 0,203 0,194 0,187 0,180 0,173 0,167 0,162 0,157 0,135 3,173 3,258 3,336 3,407 3,472 3,532 3,588 3,640 3,689 3,735 3,778 3,819 3,858 3,895 3,931 0,256 0,283 0,307 0,328 0,347 0,363 0,378 0,391 0,403 0,415 0,425 0,434 0,443 0,451 0,459 1,741 1,717 1,693 LSCx 1,672 LICx 1,653 1,637 LSCr 1,622 1,608 DESVIO PADRO 1,597 1,585 1,575 1,566 1,557 1,548 1,541

X + E2(R). X - E2(R). D4(R) R / d2

LSCx LICx LSCr DESVIO PADRO

X + A2( R) X A2( R) D4(R) R / d2

Tabela 2 dados estatsticos para clculo.


DISTRIBUIO NORMAL PADRO
Z x.x0 x.x1 x.x2 x.x3 x.x4 x.x5 x.x6 x.x7 x.x8 x.x9 4,0 0,00003 3,9 0,00005 0,00005 0,00004 0,00004 0,00004 0,00004 0,00004 0,00004 0,00003 0,00003 3,8 0,00007 0,00007 0,00007 0,00006 0,00006 0,00006 0,00006 0,00005 0,00005 0,00005 3,7 0,00011 0,00010 0,00010 0,00010 0,00009 0,00009 0,00008 0,00008 0,00008 0,00008 3,6 0,00016 0,00015 0,00015 0,00014 0,00014 0,00013 0,00013 0,00012 0,00012 0,00011 3,5 0,00023 0,00022 0,00022 0,00021 0,00020 0,00019 0,00019 0,00018 0,00017 0,00017 3,4 0,00034 0,00032 0,00031 0,00030 0,00029 0,00028 0,00027 0,00260 0,00025 0,00024 3,3 0,00048 0,00047 0,00045 0,00043 0,00042 0,00040 0,00039 0,00038 0,00036 0,00035 3,2 0,00069 0,00066 0,00064 0,00062 0,0006 0,00058 0,00056 0,00054 0,00052 0,00059 3,1 0,00097 0,00094 0,00090 0,00087 0,00084 0,00082 0,00079 0,00076 0,00074 0,00071 3,0 0,00135 0,00131 0,00126 0,00122 0,00118 0,00114 0,00111 0,00107 0,00104 0,00100 2,9 0,0019 0,0018 0,0017 0,0017 0,0016 0,0016 0,0015 0,0015 0,0014 0,0014 2,8 0,0026 0,0025 0,0024 0,0023 0,0023 0,0022 0,0021 0,0021 0,0020 0,0019 2,7 0,0035 0,0034 0,0033 0,0032 0,0031 0,0030 0,0029 0,0028 0,0027 0,0026 2,6 0,0047 0,0045 0,0044 0,0043 0,0042 0,0041 0,0040 0,0039 0,0038 0,0037 2,5 0,0062 0,0060 0,0059 0,0057 0,0055 0,0054 0,0052 0,0051 0,0049 0,0048 2,4 0,0082 0,0080 0,0078 0,0075 0,0073 0,0071 0,0069 0,0068 0,0066 0,0064 2,3 0,0107 0,0104 0,0102 0,0099 0,0096 0,0094 0,0091 0,0089 0,0087 0,0084 2,2 0,0139 0,0136 0,0132 0,0129 0,0125 0,0122 0,0119 0,0116 0,0113 0,0110

Patrick Rodrigues Barbosa Anlise de fios

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Patrick Rodrigues Barbosa


2,1 2,0 1,9 1,8 1,7 1,6 1,5 1,4 1,3 1,2 1,1 1,0 0,9 0,8 0,7 0,6 0,5 0,4 0,3 0,2 0,1 0,0 0,0179 0,0228 0,0287 0,0359 0,0446 0,0548 0,0668 0,0808 0,0968 0,1151 0,1357 0,1587 0,1841 0,2119 0,2420 0,2743 0,3085 0,3446 0,3821 0,4207 0,4602 0,5000 0,0174 0,0222 0,0281 0,0351 0,0436 0,0537 0,0655 0,0793 0,0951 0,1131 0,1335 0,1562 0,1814 0,2090 0,2389 0,2709 0,3050 0,3409 0,3763 0,4168 0,4562 0,4960 0,017 0,0217 0,0274 0,0344 0,0427 0,0526 0,0643 0,0773 0,0934 0,1112 0,1314 0,1539 0,1798 0,2061 0,2358 0,2676 0,3015 0,3372 0,3745 0,4129 0,4522 0,4920 0,0668 0,0169 0,0212 0,0268 0,0336 0,0418 0,0516 0,6300 0,0764 0,0919 0,1093 0,1292 0,1515 0,1762 0,2033 0,2327 0,2643 0,2981 0,3336 0,3707 0,409 0,4483 0,4880 0,0162 0,0207 0,0262 0,0329 0,0409 0,0505 0,0618 0,0749 0,0901 0,1075 0,1271 0,1492 0,1736 0,2005 0,2297 0,2611 0,2946 0,3300 0,3669 0,4052 0,4443 0,4840 zs = 0,67 0,0158 0,0202 0,0256 0,0322 0,0401 0,0495 0,0606 0,0735 0,0885 0,1056 0,1251 0,1469 0,1711 0,1977 0,2269 0,2578 0,2912 0,3264 0,3632 0,4013 0,4404 0,4801 0,0154 0,0197 0,0250 0,0314 0,0392 0,0485 0,0594 0,0721 0,0869 0,1038 0,1230 0,1446 0,1685 0,1949 0,2236 0,2546 0,2877 0,3228 0,3594 0,3974 0,4364 0,4761 0,2514 0,0150 0,0192 0,0244 0,0307 0,0384 0,0475 0,0582 0,0708 0,0853 0,1020 0,1210 0,1423 0,1660 0,1922 0,2206 0,2514 0,2843 0,3192 0,3557 0,3936 0,4325 0,4721 Pz= 0,0146 0,0183 0,0239 0,0301 0,0375 0,0465 0,0571 0,0694 0,0838 0,1003 0,1190 0,1401 0,1635 0,1894 0,2177 0,2483 0,2810 0,3156 0,3520 0,3897 0,4286 0,4681 0,0143 0,0183 0,0233 0,0294 0,0367 0,0453 0,0559 0,0681 0,0823 0,0985 0,1170 0,1379 0,1611 0,1867 0,2148 0,2451 0,2776 0,3121 0,3403 0,3859 0,4247 0,4641 31,82%

Ex: z i= 1,5

Tabela 3 dados estatsticos para clculo do Zs e Zi.

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Processo Titulo tex data hora 1 2 3 4 X R


X=

Especificao: X =

LSE =

LIE =

LSC =

LIC =

LSE LSC X LIC LIE


R= LSC =

LSCR R Figura 2.3 Carta de controle.

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DIRIO DE BORDO
Anotar todas as ocorrncias ocorridas durante o processo. Ex: manuteno, reprova, troca de artigo, material, etc. Data e hora Ocorrncia Providncia tomada

Figura 2.3 dirio de bordo.

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