O MICROSCPIO PTICO POLARIZANTE DE LUZ REFLECTIDA E AS PROPRIEDADES PTICAS DOS MINERAIS OPACOS

... ore microscopy is a difficult art.

Craig and Vaughan, 1981

lvaro Pinto
Lisboa Junho de 2006

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ndice
1. Introduo 2. Os componentes do microscpio 2.1. Platina rotativa 2.2. Objectivas 2.3. Oculares 2.4. Sistemas de iluminao 2.5. Reflector 2.6. Polarizador e analisador 3. Identificao dos minerais por mtodos qualitativos 3.1. Propriedades pticas qualitativas 3.1.1. Cor 3.1.2. Reflectncia 3.1.3. Birreflectncia e Pleocrosmo 3.1.4. Anisotropismo 3.1.5. Reflexes internas 3.2. Propriedades fsicas qualitativas de dureza 3.2.1. Dureza de polimento 3.2.2. Arrancamentos 3.3. Propriedades fsicas de morfologia e estrutura 3.3.1. Hbito e Forma 3.3.2. Partio e Clivagem 3.3.3. Maclas 3.4. Paragnese Mineral, Associao Mineralgica e Equilbrio de Fases 21 4. Identificao dos minerais por mtodos quantitativos 22 17 17 18 19 19 20 20 11 12 13 13 15 15 17 3 4 5 5 7 8 9 10

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1. Introduo Num mtodo microscpico de formao de imagens planas uma determinada amostra iluminada por um de vrios tipos de radiaes incidentes que podem ser a luz visvel, electres, ies, etc.. Utilizam-se lentes de diferentes tipos, de acordo com as radiaes em utilizao, para focalizar a radiao primria (radiao incidente), ou em alternativa actuar sobre a radiao secundria (reflectida ou transmitida) emitida pela amostra. Em qualquer dos casos o objectivo da utilizao destas lentes visa a produo de uma imagem ampliada, na qual so evidenciados os contrastes devidos variao da composio qumica ao longo do espcime em anlise (Figura I.1.). Um diafragma localizado no plano da imagem permitir seleccionar a radiao associada a um pequeno volume no espcime. Com o auxlio de um espectrmetro apropriado colocado por trs deste diafragma, a radiao pode ser analisada e o espectro pode ser usado para fornecer informao da composio de uma pequena rea da amostra. O aparelho mais familiar que utiliza este modo de funcionamento o microscpio ptico de luz polarizada utilizado no estudo petrogrfico de lminas delgadas ou de superfcies polidas. A estrutura cristalina, o ndice de refraco, a birrefringncia, a cor, a reflectncia, a birreflectncia e as cores de interferncia so caractersticas que dependem da composio qumica e que servem para a identificao dos minerais.

Figura I.1. - Esquema de um microscpio com abertura para formao de imagens planas.

Recorrendo a tabelas de minrios, geralmente de propriedades pticas e microdurezas, possvel atribuir-lhes uma frmula qumica estequiomtrica geral. Por vezes inclusivamente possvel determinar a composio qumica dentro de uma soluo slida. O plano final da imagem o olho humano (do observador) e o papel de diafragma e espectrometria realizado pela retina e pelo crebro (James Long, 1995). Ao longo do tempo foram-se construindo tabelas que correlacionam a composio qumica com as propriedades pticas dos minerais, pelo que os

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petrlogos utilizaram os microscpios, ao longo de dcadas, como uma ferramenta microanaltica capaz de fornecer informao qualitativa e semi-quantitativa. As limitaes desta tcnica so as variaes composicionais que se verificam por vezes ao longo de solues slidas, ou devido incorporao de elementos menores ou trao que introduzem variaes no mensurveis das caractersticas pticas (James Long, 1995). Pode acontecer, tambm, que as variaes detectadas no sejam o resultado de uma variao em termos composicionais e por consequncia no possam ser interpretadas como tal. Os primeiros microscpios pticos polarizantes de luz reflectida surgiram nos anos 20 e 30. Nessa poca eram equipamentos muito rudimentares. Os princpios tericos que governam os estudos realizados por reflexo foram desenvolvidos na passagem do sculo, nomeadamente por Drude (1890), Koenigsberger (1914) e Wright (1919), entre outros. O primeiro grande trabalho de petrologia de minrios foi realizado por Lindgren em 1905 sobre os minrios de CliftonMorenci (Groves & Whittle, 1976). No entanto este tipo de trabalhos s ter expresso a partir dos anos 40, altura em que o microscpio atinge o desenvolvimento necessrio para possibilitar a realizao de trabalhos diagnsticos. 2. Os componentes do microscpio O microscpio ptico polarizante de luz reflectida um instrumento indispensvel no exame petrogrfico de um dos mais importantes grupos de minerais com interesse econmico. Referimo-nos aos minerais opacos que, na generalidade so minrios. comum usar estes dois termos como sinnimos, uma vez que nenhum dos dois define correctamente este importante grupo de minerais. Efectivamente um cristal de pirite sem dvida alguma um mineral opaco, contudo no um minrio; pelo contrrio a esfalerite ou a cassiterite constituem importantes minrios de zinco e estanho, respectivamente, mas nunca so completamente opacos (Craig e Vaughan, 1981). O sistema de lentes, polarizador, analisador e o conjunto de diafragmas empregues no microscpio ptico polarizante de luz reflectida em tudo semelhante a estes mesmos sistemas de um microscpio petrogrfico convencional. A principal diferena entre eles reside na fonte de iluminao. Enquanto que os microscpios convencionais possuem uma fonte luminosa colocada sob a platina possibilitando a transmisso da luz pela amostra em estudo, os microscpios de minerais opacos tm uma fonte de luz incidente sobre a amostra. esta caracterstica que possibilita o estudo de seces polidas de minerais opacos.

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O estudo sistemtico dos jazigos minerais e a tentativa de compreender os mecanismos de formao envolvidos, tem conduzido a uma maior preocupao com o estudo dos minerais de ganga que acompanham os minrios. Por outro lado a anlise textural das relaes existentes entre estes dois grupos de minerais e a informao textural facultada pelos minerais translcidos, quando estudados em luz transmitida, tm conduzido a um interesse crescente nos microscpios equipados com os dois sistemas de iluminao. A capacidade dos microscpios integrarem ambos os sistemas de iluminao, associado a tcnicas de preparao de amostras especficas (lminas delgadas polidas) possibilita a realizao de todos estes tipos de estudos. 2.1. Platina rotativa Designa-se por platina do microscpio a pea onde se colocam as amostras preparadas para o estudo mineralgico. A platina forma um ngulo de 90 com o eixo ptico e pode ser centrada em relao a esse mesmo eixo. No caso dos microscpios mineralgicos esta platina deve poder rodar livremente. A existncia de uma marcao angular permite a medio de ngulos nas amostras em estudo. A maior parte dos microscpios permite o acoplamento de uma sobre-platina com movimentos em duas direces ortogonais de forma a facilitar o estudo sistemtico ou a contagem de pontos sobre as seces em estudo (Craig e Vaughan, 1981).

2.2. Objectivas Normalmente as objectivas classificam-se de acordo com os seguintes critrios (Craig e Vaughan, 1981): tipo de lentes empregues na sua construo: acromticas, apocromticas e de fluorite; ampliao e abertura numrica; meio de utilizao (utilizao em ar ou emerso em meio lquido); distncia focal ou distncia de trabalho. As lentes acromticas so as mais comuns e ao mesmo tempo as mais baratas. A correco de aberrao esfrica feita apenas para uma cor, enquanto que a correco

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de aberrao cromtica feita para duas cores. As lentes apocromticas so francamente mais caras, mas so as melhores lentes existentes para microscopia de minrios. A correco de aberrao esfrica feita para duas cores e a correco de aberrao cromtica abrange as cores vermelho, verde e azul. Este tipo de objectiva sem margem para dvidas a que apresenta uma melhor definio de imagem e a mais bem adaptada para a realizao de microfotografia, assim como para a determinao das caractersticas dos minerais opacos por mtodos quantitativos. As lentes de fluorite, tambm conhecidas como semiapocromticas so um compromisso entre o preo e a qualidade apresentados pelos dois tipos de lentes anteriores. A ampliao da objectiva consiste no aumento de que uma imagem afectada quando a luz passa atravs da objectiva (Craig e Vaughan, 1981). A ampliao descrita pelo nmero de vezes que a imagem aumentada, 5, 10, 20, at um mximo, normalmente, de 125. A abertura numrica (N.A.) a medida da capacidade de distinguir detalhes e estruturas muito finas numa amostra, determinando a profundidade da focagem e a rea de ampliao (Craig e Vaughan, 1981). A abertura numrica (N.A.) dada pela seguinte expresso: N.A. = n sen onde n o ndice de refringncia do meio onde opera a objectiva (ar, gua ou leo) e metade do ngulo de abertura (A.A.) da objectiva. As objectivas apocromticas apresentam os valores de N.A. mais elevados. A abertura numrica normalmente apresenta valores que variam no intervalo 0,04 e 1,3, podendo atingir 1,4 para algumas objectivas especiais de imerso em leo. O valor mximo de N.A. para uma objectiva em meio seco (ar) de 0,95, que corresponde a um ngulo de abertura de 140. As objectivas mais utilizadas em baixas e mdias ampliaes so geralmente do tipo seco ou de ar, ou seja o meio que preenche o espao entre estas e a amostra apenas o ar. As objectivas de imerso so particularmente utilizadas em microscopia de minrios, principalmente quando se pretende maiores ampliaes e maior poder de resoluo ptica. Para se operar com uma objectiva deste tipo necessrio colocar um leo entre a amostra e a objectiva cujo ndice de refringncia deve ser de aproximadamente 1,515. Existem tambm objectivas de imerso cujo meio de trabalho a gua. A presena de um meio de imerso provoca uma reduo na refletncia dos minerais e na
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difuso da luz, permitindo ao mesmo tempo uma maior sensibilidade s pequenas variaes de cor. Estas caractersticas em conjunto possibilitam ao mineralogista detectar anisotropismos e birreflectncias muito fracos, que no so visveis com objectivas de meio seco. Todas as objectivas de imerso apresentam distncias de trabalho muito pequenas, o que requer um maior cuidado na sua utilizao, para que no ocorram danos, quer na amostra, quer na prpria objectiva. 2.3. Oculares O sistema de oculares tem por funo ampliar a imagem primria produzida pelas objectivas tornando-as visveis para o olho humano. Geralmente a ampliao produzida por este tipo de lentes varia de 5 a 12 vezes. A ampliao mxima que um microscpio pode alcanar o resultado do produto das ampliaes efectuadas pela objectiva e pela ocular. Por exemplo utilizando uma ocular 10 em associao com uma objectiva 50, obtemos uma ampliao total de 500, (10 50 = 500). Se o tubo utilizado no microscpio possui um prisma, por onde a luz passa, esta ampliao deve ser multiplicada por um factor, normalmente superior a 1, fornecido pelo fabricante (e.g. 10 50 1,1) = 550. Uma das oculares, normalmente, apresenta dois fios cruzados a 90 (fios do retculo), podendo um deles ser graduado. H situaes onde estes fios podem ser substitudos por um disco ou grelha de malha fixa conhecida que possibilita a estimao do tamanho de partculas observadas na amostra. 2.4. Sistemas de iluminao Existem dois tipos principais de lmpadas para microscopia de minrios: lmpadas de filamento incandescente e lmpadas de gs por descarga (geralmente xnon). Os microscpios de mineralogia de opacos podem ser equipados com um ou ambos os sistemas de iluminao. A maior parte do trabalho realizado por rotina num microscpio de opacos pode ser feito com lmpadas de filamento incandescente. A voltagem requerida por este tipo de lmpada varia de 6 a 12 V e potncia luminosa varia de 15 a 100 W. O tempo de vida destas lmpadas oscila entre as 100 e as 300 horas de utilizao.

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A temperatura de cor de uma lmpada com filamento de tungstnio de 15 W a 6 V de aproximadamente 2850 K. Uma mesma lmpada em gs de halogneo com 100 W e 12 V atinge os 3300 K. Estas temperaturas de cor so relativamente baixas, quando comparadas com os cerca de 6100 K que se atinge numa lmpada de Xnon por descarga. Para que se obtenha uma luz to prxima quanto possvel luz do dia convm que seja introduzido um filtro azul (C21 - referncia da Leica) entre a fonte luminosa e o polarizador do microscpio. As pequenas variaes de cor que se observam num mesmo mineral quando observado em microscpios diferentes devem-se fundamentalmente s pequenas diferenas da temperatura de cor das fontes de iluminao.

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2.5. Reflector Este o componente que estabelece a diferena e a singularidade dos microscpios de reflexo relativamente a qualquer outro microscpio ptico conhecido. ele que confere a possibilidade, ao microscpio, de produzir uma iluminao vertical ortogonal sobre as amostras em observao. Existem dois tipos de reflectores (Craig e Vaughan, 1981): reflector de vidro plano (Figura I.2.a) e reflector de prisma de meio campo (Figura I.2.b).

Figura I.2. Corte esquemtico de um microscpio, ilustrando os componentes principais e o percurso da luz atravs do sistema: a) reflector de vidro plano; b) reflector de prisma de meio campo. (Craig and Vaughan, 1981).

Em alguns microscpios possvel encontrar ambos os reflectores montados sobre um mecanismo de deslizamento horizontal que permite seleccionar um ou outro sistema.

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O reflector de vidro plano (Figura I.2.a) aplicado a 45 dentro do estativo do microscpio na intercepo da coluna ptica vertical com o tubo de iluminao horizontal. Uma parte da luz proveniente da lmpada em utilizao reflectida para baixo em direco amostra, e outra parte passa atravs do reflector e perde-se. A luz que passa em direco amostra reflectida pelos minerais presentes na superfcie polida e regressa pela objectiva em direco s oculares. No seu percurso ascendente parte da luz atravessa o reflector e finalmente alcana as oculares permitindo a anlise pelo observador. Outra parte dessa luz ascendente reflectida em direco fonte luminosa e perde-se. Idealmente a utilizao destes sistemas de vidro espelhado para modificao do percurso da luz deveriam conduzir a que 100 % da luminosidade proveniente da fonte luminosa alcanasse a amostra, e toda a luz reflectida pela amostra deveria passar pelo reflector e alcanaria as oculares. Na prtica, o que se verifica efectivamente que do total da luz que alcana o vidro espelhado pela primeira vez, apenas 25 % consegue atingir as oculares. A alternativa ao reflector de vidro espelhado plano o reflector de prisma de meio campo (Figura I.2.b). Neste caso no lugar do vidro espelhado encontra-se um prisma que ocupa apenas metade do espao existente na coluna do estativo do microscpio. A luz proveniente da fonte luminosa totalmente reflectida para baixo em direco amostra. No seu percurso ascendente a luz viaja pela metade livre da coluna do estativo. Este sistema apresenta a desvantagem de a luz incidente e reflectida ser ligeiramente oblqua, o que provoca alguma aberrao na imagem formada. Por outro lado tem a vantagem de aproveitar melhor a luz, pois permite a chegada ao nvel das oculares de cerca de 50 % da luz primria. A evoluo dos sistemas de iluminao no sentido de se alcanar elevadas potncias luminosas (lmpadas de xnon) diminui a importncia da utilizao dos reflectores de prisma de meio campo. 2.6. Polarizador e analisador O polarizador dos microscpios de reflexo pode localizar-se entre a fonte de iluminao e as lentes colectoras ou entre os diafragmas de abertura e de campo. A polarizao da luz feita com auxlio de um cristal de calcite ou mais frequentemente com um polaride. A luz polarizada consiste em permitir que apenas passe a luz cuja vibrao se d num s plano, normalmente o plano norte - Sul.

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O analisador um polarizador montado a 90 do polarizador e localizado antes das oculares, na coluna ptica do microscpio. Contudo no estudo dos minerais opacos frequentemente encontrar analisadores montados em suportes que possibilitam a sua rotao. Frequentemente utiliza-se a tcnica de descruzar ligeiramente o analisador, cerca de 3 a 5 graus, de forma a facilitar a deteco de suaves anisotropias. Isto particularmente importante quando se observa um mineral cujos efeitos de polarizao so muito suaves, estando ao mesmo tempo rodeado por minerais de forte anisotropia. 3. Identificao dos minerais por mtodos qualitativos O Objectivo primeiro quando se coloca uma seco polida na platina do microscpio sempre a identificao dos minerais constituintes dessa amostra. Atravs do estudo de um leque muito variado de propriedades fsicas e pticas dos minerais podemos frequentemente alcanar a identificao das diferentes fases constituintes de um minrio. Contudo, ao contrrio do que se passa com os estudos em luz transmitida, os estudos em luz reflectida fazem uso de propriedades essencialmente qualitativas. Daqui resulta que em alguns casos no possvel obter uma identificao inequvoca dos minerais. H situaes onde o melhor resultado augurado consiste em obter uma pequena listagem de (3 a 10) minerais possveis para uma determinada fase em estudo. Facilmente se compreende que a extenso e o alcance de um estudo de identificao de fases ao microscpio ptico polarizante de luz reflectida depende consideravelmente do conhecimento e experincia do mineralogista (Craig e Vaughan, 1981). As propriedades qualitativas utilizadas na identificao dos minerais podem ser divididas em trs categorias principais, (Craig e Vaughan, 1981): 1 - propriedades pticas; 2 - propriedades dependentes da dureza e 3 - propriedades dependentes da morfologia e estrutura.

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3.1. Propriedades pticas qualitativas O estudo destas propriedades pode ser efectuado em ar ou em leo, recorrendo, neste caso, a objectivas especiais para imerso. As condies de iluminao variam entre luz linearmente polarizada (polarizador introduzido) e luz analisada (polarizador + analisador (a 90) introduzidos). Em luz polarizada podem ser observadas as seguintes propriedades: cor, reflectncia, birreflectncia e pleocrosmo de reflexo. A luz analisada permite-nos estudar mais duas propriedades, o anisotropismo e as reflexes internas. 3.1.1. Cor A determinao da cor uma das etapas mais importantes para a utilizao de um sistema clssico de identificao por mtodos qualitativos. Contudo tambm uma das propriedades mais subjectiva e de maior dificuldade de determinao rigorosa, no s pelas diferentes sensibilidades visuais dos diferentes observadores, mas tambm porque a maioria dos minerais opacos no so distintamente coloridos. Efectivamente, o nmero de minerais inequivocamente coloridos muito reduzido (e.g. covelite, bornite, ouro). A grande maioria dos minerais opacos fracamente colorida, fazendo parecer, ao observador mais incauto, que ou so brancos ou so cinzentos em diferentes nveis. Acresce ainda que o crebro humano tem uma memria de cor muito limitada e esta bastante influenciada pela cor do meio envolvente. Por este motivo mais correcto e frequente descrever as cores dos minerais por comparao a outros minerais comuns facilmente observveis. A cor dos minerais opacos , ainda, influenciada pela intensidade e tipo de iluminao, assim como pelo uso ou no de filtros. 3.1.2. Reflectncia A reflectncia de um mineral define-se como a percentagem de luz incidente que reflectida, para o observador, quando esse mineral estudado em superfcie polida; ou seja, em termos formais:

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intensidade da luz reflectida Reflectncia (R%) = 100 intensidade da luz incidente A reflectncia uma das propriedades quantitativas que se utilizam em microscopia de minrios. Recorrendo a microrreflectmetros pticos possvel obter valores absolutos da reflectncia de cada mineral em particular. Esta uma das mais importantes tcnicas quantitativas da caracterizao e identificao dos minerais opacos. A reflectncia de um mineral pode variar devido a muitos factores: a orientao cristalogrfica, o comprimento de onda da luz reflectida e o ngulo de incidncia da luz (no caso do sistemas com reflector de prisma de meio campo). Na prtica, a forma de usar a reflectncia como critrio auxiliar da identificao dos minerais passa pela comparao com minerais de referncia que possuem reflectncias conhecidas e cujo escalonamento nos permite enquadrar o mineral em anlise. Normalmente utilizam-se minerais bem conhecidos e suficientemente ubquos, tais como por exemplo o quartzo (R% ~ 5), a magnetite (R% ~20), a galena (R% ~ 43), a pirite (R% ~55), entre outros. Convm sempre ter presente que a reflectncia exibida pela resina epoxdica (R% ~ 5), frequentemente utilizada na montagem das seces polidas, muito semelhante reflectncia dos minerais de gangas transparentes, tais como o quartzo. H vrios factores que afectam a reflectncia de um mineral. De entre outros destacam-se o polimento deficiente, a oxidao da superfcie de estudo e a maior tendncia de alguns minerais para, num curto intervalo de tempo, desenvolverem capas de oxidao (tarnishing). O polimento deficiente, quer pela apresentao de elevada quantidade de riscos, quer pelo cozimento dos minerais cuja origem a deficiente lubrificao durante as ltima etapas do processo de polimento, pode conduzir a erros importantes na identificao de um mineral. Este factor combinado com a oxidao da superfcie polida pode, por exemplo, fazer com que se confunda uma pequena partcula de calcopirite com ouro. Ainda assim, se houver o cuidado necessrio e profissionalismo a lidar come este tipo de problemas, a reflectncia pode ser estimada pelo mineralogista com rigor suficiente para auxiliar na identificao dos minerais por metodologias qualitativas.

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3.1.3. Birreflectncia e Pleocrosmo A variao da reflectncia uma propriedade designada por birreflectncia e a variao da cor (ou tonalidade) constitui outra propriedade designada por pleocrosmo de reflexo (Craig e Vaughan, 1981). A percepo da intensidade destas duas propriedades normalmente descrita de forma qualitativa como fraca, moderada ou forte. As caractersticas particulares destas propriedades em cada mineral variam com a sua estrutura e orientao cristalogrfica dos gros sob o microscpio. Assim, os minerais cbicos no exibem qualquer pleocrosmo ou birreflectncia. O mesmo se verifica com uma seco basal de cristais hexagonais ou tetragonais. Como ambas as propriedades so funo da orientao cristalogrfica dos gros, podendo um mesmo mineral no exibir qualquer efeito at apresentar o valor mximo de cada uma delas, importante, na avaliao qualitativa destas caractersticas, utilizar vrios gros da mesma espcie mineral. 3.1.4. Anisotropismo No estudo de um mineral de simetria cbica em luz analisada, (vulgarmente descrita como nicis cruzados), verifica-se que permanece sempre escuro (em extino), qualquer que seja a posio de rotao da platina e qualquer que seja a orientao cristalogrfica do gro observado. Quer isto dizer que a luz incidente linearmente polarizada reflectida com uma direco de vibrao paralela direco de vibrao dos raios incidentes. Os minerais com estas caractersticas so denominados minerais isotrpicos. Se o mineral em estudo apresentar uma simetria inferior, a luz incidente polarizada reflectida segundo duas direces de vibrao perpendiculares entre si, que dependem da cristalografia do mineral. Rodando a platina, com os nicis cruzados, verificamos que a posio de mxima iluminao faz um ngulo de 45 com s direces de extino. Os minerais com estas caractersticas designam-se anisotrpicos. Para classificar a intensidade da anisotropia de um mineral, tal como nas duas propriedades referidas anteriormente, utilizamos uma classificao qualitativa onde so comuns os seguintes termos: muito fraca, fraca, moderada, forte e muito forte.
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Tal como para o pleocrosmo e birreflectncia, as seces basais dos minerais com simetria hexagonal ou tetragonal no se distinguem dos minerais isotrpicos, permanecendo sempre em posio de extino. As seces no basais podem exibir anisotropia varivel, de mnima (quase imperceptvel) a mxima (eventualmente forte), sendo portanto recomendvel o estudo de vrios gros de um mesmo mineral para decidirmos sobre a presena e intensidade desta caracterstica. Para uma observao inequvoca deste fenmeno nos minerais opacos necessrio ter alguns cuidados com a intensidade luminosa e o tipo de iluminao empregue. Uma das tcnicas utilizadas para facilitar a deteco de anisotropias muito fracas ou para determinao das cores de interferncia consiste no descruzamento ligeiro do analisador, que dependendo dos autores pode ser de 3 a 5 ou de 5 a 10. A qualidade do polimento, nomeadamente no que se refere presena de arrancamentos ou riscos em quantidades significativas, influencia de forma significativa a determinao da anisotropia, (o mesmo se passando com a birreflectncia e o pleocrosmo), podendo conduzir a determinaes erradas. 3.1.5. Reflexes internas Os minerais opacos com coeficiente de absoro reduzido e os minerais transparentes deixam-se atravessar pelos raios luminosos da luz incidente. Nestes casos a luz frequentemente reflectida pelas fendas, incluses, descontinuidades e defeitos da rede cristalina existentes no seio desses minerais. A este fenmeno dado o nome de reflexes internas. O resultado desta luz no uniformemente reflectida melhor observado com uma objectiva de grande ampliao, com intensidades luminosas mais elevadas e sem filtro azul. Contudo, h casos em que a intensidade das reflexes internas pode ser to elevada que mascara a anisotropia de um mineral. A observao com imerso em leo tambm facilita a observao das reflexes internas. A cor das reflexes internas pode ser caracterstica do mineral ou de uma determinada variao na sua composio.

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3.2. Propriedades fsicas qualitativas de dureza 3.2.1. Dureza de polimento A dureza de polimento a resistncia abraso durante o processo de polimento de uma determinada amostra. O efeito produzido designa-se por relevo de polimento. A determinao desta caracterstica permite-nos apenas definir a dureza relativa entre dois minerais cujos contornos se tocam. Para isso realiza-se um teste muito simples, que recorre observao da linha de Kalb (Figura I.3.). Embora a natureza deste fenmeno seja completamente diferente, na prtica muito semelhante ao estudo da linha de Beck utilizado na microscopia de luz transmitida. O procedimento utilizado pode ser resumidamente descrito da seguinte forma: fecha-se o diafragma de abertura at que surja uma linha luminosa a separar os contornos dos minerais (linha de Kalb); desfoca-se a imagem deslocando a platina no sentido descendente; nesta operao a linha de Kalb desloca-se para o interior do mineral menos duro, que se encontra a um nvel ligeiramente inferior. As durezas de polimento podem ser referidas em termos qualitativos como mole, mdio, duro e muito duro. Normalmente estabelece-se uma relao com minerais bem conhecidos para que facilite a determinao desta caracterstica. O limite mole / mdio dado pela calcopirite ou galena, e o limite mdio / duro dado pela pirrotite ou esfalerite.

Figura I.3. - Corte esquemtico de uma superfcie polida exemplificando a origem da linha de Kalb no contacto entre dois minerais com durezas de polimento diferentes. (Craig and Vaughan, 1981).

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3.2.2. Arrancamentos Durante o processo de desgaste e polimento podem ocorrer arrancamentos no contacto entre dois minerais diferentes. Normalmente o mineral menos duro apresenta maior quantidade de arrancamentos, que nos permite definir a dureza relativa entre eles. Contudo alguns minerais duros, por serem mais friveis, podem sofrer arrancamentos profundos nas etapas mais agressivas do desgaste na preparao da amostra. Estes arrancamentos permanecem mesmo depois das etapas finais de polimento podendo inverter a situao normal; ou seja, o mineral mais duro passa a ser o que apresenta maior quantidade de arrancamentos ao longo do contacto com um mineral mais mole. Por este motivo este teste deve ser utilizado com cuidado. 3.3. Propriedades fsicas de morfologia e estrutura Estas propriedades caracterizam-se por serem as que dependem mais directamente da estrutura cristalina dos minerais. Por esse motivo, constituem um aspecto essencial a ter em considerao no estudo de texturas e principalmente na identificao dos seus minerais constituintes. 3.3.1. Hbito e Forma Normalmente os minerais constituintes dos minrios no apresentam formas cristalinas bem delineadas com muita frequncia. A imagem de uma superfcie polida uma representao a duas dimenses de um objecto que se desenvolve em trs dimenses, pelo que deve haver sempre algum cuidado na anlise das formas observadas. Por exemplo um cubo (objecto com trs dimenses) pode ser observado a duas dimenses como sendo um quadrado, um rectngulo ou um tringulo As formas e terminologias utilizadas nos estudos de microscopia por transmisso so as mesmas que podem ser observadas e descritas em estudos em luz reflectida. Para os minerais que apresentam formas perfeitas (contornos completamente limitados por formas cristalinas) utiliza-se a designao cristais eudricos (e.g. arsenopirite, pirite, magnetite); os minerais apenas parcialmente limitados por formas cristalinas so normalmente descritos como cristais sublvaro Pinto Pg 17 de 23

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dricos (e.g. pirite, arsenopirite, esfalerite); os minerais que no exibem qualquer limite regular so designados por cristais andricos (e.g. calcopirite, tetraedritetenantite, esfalerite, bornite). Em microscopia de minrios comum utilizar-se toda a terminologia mineralgica especfica para descrio de hbitos (e.g. cbico, octadrico, tabular, acicular, colomrfico, etc.).

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3.3.2. Partio e Clivagem Em microscopia de luz reflectida a partio e a clivagem detectam-se por um ou mais conjuntos de alinhamentos de arrancamentos do mineral. Se o mineral apresentar trs ou mais direces de clivagem, podem ser observados alinhamentos paralelos de arrancamentos triangulares. O mineral mais comum que apresenta este aspecto a galena. A facilidade de observao destas propriedades nos minerais em estudo varia com a orientao da superfcie polida, relativamente s direces de clivagem, e com a tcnica de polimento empregue. As margens dos minerais ou as regies com defeitos de polimento, ou ainda as reas onde se regista alguma alterao dos minerais, constituem as zonas onde estas duas propriedades so mais evidentes. 3.3.3. Maclas Nos minerais opacos descrevem-se trs tipos principais de maclas: de crescimento, de inverso e de deformao. A observao de maclas em minerais isotrpicos mais difcil. necessrio recorrer a algumas tcnicas especficas para que tal seja possvel. Assim devem-se observar estes minerais em luz analisada, nas etapas inicias do polimento ou aps ataque qumico da superfcie polida. Algumas maclas em determinados minerais so caractersticas, constituindo um importante factor para a sua identificao. De entre diversos exemplos destacamos dois casos observados ocasionalmente em Neves Corvo: I Maclas de deformao ou recristalizao (maclas lamelares) na esfalerite, (Estampa 12.6.), e II - Maclas de inverso na estanite.

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3.4. Paragnese Mineral, Associao Mineralgica e Equilbrio de Fases Foram vrios os autores - Romes de Lille em Frana; Severgin na Rssia; Vezrer na Alemanha e Jemson na Inglaterra, entre outros - que nos finais do sculo XIX, princpios do sculo XX chegaram individualmente a uma mesma concluso de que havia associaes mineralgicas que se observavam de uma forma constante em rochas e minrios (Craig, 1986). Posteriormente Breithaupt (1848) clarifica a concluso obtida por aqueles autores sugerindo a introduo do conceito de paragnese mineral, que ele definiu como sendo a maior ou menor tendncia que os minerais tm para uma ocorrncia comum (Ibidem). Ao longo do sculo este conceito foi evoluindo e diferentes autores defenderam diferentes definies, o que dificultou a interpretao dos estudos que se publicavam. Em resposta a este problema, em 1967, realizou-se em Freiberg, um Workshop internacional, mas onde no foi alcanada uma opinio comum. Contudo, desta reunio saiu o que se intitulou a definio recomendada e que ainda hoje aceite: a paragnese mineral uma associao originada no decurso de um processo limitado no espao e no tempo, e que tem lugar em determinadas condies fsico-qumicas (Shadlun, 1967; Rosler and Wolf, 1969; in: Craig, 1986). As associaes mineralgicas so importantes ferramentas auxiliares dos estudos ao microscpio ptico por nos permitir verificar, por um lado as fases que se encontram em equilbrio e por outro lado definir as caractersticas mais importantes de diferentes tipos de minrios. As associaes que registam desequilbrios, ou reajustamentos na associao mineralgica, podem estar expressas pela formao de novos minerais ou novas estruturas nos minerais pr-existentes. Por esse motivo o reconhecimento de um mineral atpico deve sempre conduzir o mineralogista procura de outros minerais atpicos nessa associao. O estudo do equilbrio de fases demonstra que muitos minerais reequilibram, por exemplo, no decurso de arrefecimento, modificando as associaes para outras mais estveis nas novas condies vigentes. Os diagramas de fases fornecem, desta forma, um importante conjunto de informaes e de pistas para o estabelecimento de uma possvel, mas no necessria, associao mineralgica. Tambm fornecem pistas para o entendimento de certas texturas, revelando a extenso e temperatura de que dependem determinadas solues slidas.

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4. Identificao dos minerais por mtodos quantitativos O estudo das propriedades como a reflectncia e dureza pode ser efectuado em termos quantitativos, recorrendo para isso utilizao de equipamento especfico. Com este equipamento possvel medir a resistncia, oferecida pelo mineral, penetrao de um dispositivo especial, em cuja extremidade se encontra uma ponta de diamante com um formato padro bem conhecido. Na figura I.4. apresentam-se os valores da micro-dureza de Vickers (VHN) para um conjunto de minerais opacos relativamente comuns.

Figura I.4. - Dados para determinao da micro-dureza de Vickers (VHN) para um conjunto de minerais opacos (segundo Bowie and Simpson Zuaaman, 1977; in: Meurig P. Jones, 1987).

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Figura I.5. - Dados sobre a reflectncia de um conjunto de minerais obtidos a 470 nm (A) e a 546 nm (B). (segundo Bowie and Simpson - Zussman, 1977; in: Meurig P. Jones, 1987).

No quadro da figura I.4., a maioria dos minerais no apresenta valor nico para a microdureza de Vickers. Um pequeno trao representa o intervalo de valores possveis de serem encontrados num determinado mineral. Isto resulta do facto de a maior parte destes minerais poderem apresentar variaes na composio qumica ou simplesmente apresentarem anisotropia nas estruturas cristalinas. O valor exacto de reflectncia de um mineral obtm-se realizando vrias medies com uma srie de feixes de luz monocromticos. Os resultados alcanados so comparados com os valores obtidos, em idnticas condies de anlise, para um conjunto de espcimes padro. A figura I.5. representa diferentes reflectncias obtidas para um conjunto de minerais, quando medidas em diferentes comprimentos de onda. Quando de utilizam os valores quantitativos de reflectncia e de microdureza para identificar minerais muito semelhantes podem ser encontradas algumas dificuldades, que podem mesmo impedir a sua distino. Isto acontece porque frequentemente os minerais (salvo raras excepes) apresentam mais do que um valor quer para a reflectncia, quer para a microdureza de Vickers, podendo existir uma sobreposio de valores para diferentes minerais. Este facto
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constitui a maior limitao da utilizao de meios quantitativos na identificao dos minerais opacos, uma vez que o rigor com que os valores que caracterizam estas propriedades so obtidos muito grande.

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