Centro universitrio Vila Velha - UVV Curso de Cincia da Computao Turma CC2M Laboratrio de Fsica I

Relatrio 23/09/2011 Resistividade em Fios Metlicos

Grupo: Antonio, Iago, Lorran, Pedro Malta e Raissa. Professor Tiago Pulce Bertelli

Vila Velha 2011

ndice
Introduo............................................................................................................1 Descrio dos procedimentos realizados............................................................2 Dados experimentais...........................................................................................3 Concluso............................................................................................................3 Referncias..........................................................................................................3

Introduo
A resistncia de um material depende do modo como o potencial eltrico distribudo atravs do material. Quando as linhas de corrente so diferentes, as resistncias sero diferentes. Entretanto, existe uma outra propriedade que no depende da distribuio das linhas de campo pelo dispositivo, chamada resistividade. Sua definio apresentada na equao abaixo:

P=E J
Onde E o campo eltrico aplicado sobre o material e J a sua densidade de corrente, que definida como sendo a quantidade de carga eltrica atravs de uma seo transversal de rea A, por unidade de tempo, sendo a sua unidade A/m. Como no era possvel realizar a medida das grandezas no laboratrio, a resistividade dos fios foi determinada atravs da medida direta e indireta da sua resistncia, a qual se relaciona com a resistividade pela equao:

R=PL A
Onde L o comprimento do fio e A a rea de sua seo transversal. Neste experimento, o comprimento do fio muito maior do que a regio onde as linhas de corrente, se deformam, prximo aos eletrodos, e por isto podemos desprezar estas deformaes. As deformaes do fio prximo aos eletrodos foram desprezadas, porque o comprimento do fio muito maior do que a regio onde as linhas de corrente se deformam. possvel ver a distribuio na figura abaixo:

Os fios metlicos utilizados no Painel DiasBlanco, so ligas com as caractersticas apresentadas na tabela abaixo:

Descrio dos procedimentos realizados

Medida da Resistncia por meio de um Ohmmetro
O objetivo deste experimento medir a resistncia com um Ohmimetro, em funo do comprimento do fio. Para isso, utilizamos o Ohmmetro, um Painel DiasBlanco para lei de Ohm e os fios propriamente ditos. O Ohmmetro foi utilizado para medir a resistncia, em Ohms, ao longo do comprimento do fio, nas posies 0,25m, 0,5m, 0,75m e 1m. Foram obtidos os seguintes dados: Resistncia (m) 0,5 0,75 8,5 12,5 3,8 5,4 2,0 2,8 3,0 4,2 0,4 0,4

1 2 3 4 5

0,25 4,6 2,3 1,3 1,1 0,4

1 16,6 7,1 3,5 5,5 0,4

O Painel DiasBlanco foi utilizado para obter os valores do dimetro dos fios, com os quais foram realizados os clculos da resistividade utilizando as frmulas especificadas na introduo. Concludos os clculos, foram obtidos os seguintes resultados: Fios 1 2 3 4 5 Dimetro (m) 0,00030 0,00048 0,00070 0,00052 0,00060 0,25 3536776,51 1381553,33 649612,01 1177181,53 884194,13 Resultado 0,5 0,75 7073553,03 10610329,54 2763106,65 4144659,98 1299224,03 1948836,04 2354363,06 3531544,60 1768388,26 2652582,38

1 14147106,05 5526213,30 2598448,05 4708726,13 3536776,51

Dados Experimentais
Resistividade dos fios medidos:

Fio 1

Fio 2

Fio 3

Fio 4

Fio 5

Concluso
possvel obter o valor da resistividade dos fios sem realizar a medida direta de suas grandezas, utilizando a frmula da resistividade. Com base nos experimentos realizados, foi possvel comprovar que a resistividade dos fios independe distribuio .

Referncias
Roteiro para Resistividade em Fios Metlicos em PDF, 2010-1.