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Nascimento
2005
1. Objetivo do Experimento
2. Fundamentao Terica
2.1. O interfermetro de Michelson
O interfermetro de Michelson o tipo mais fundamental de interfermetro de dois feixes. Ele pode ser utilizado para medir comprimentos de onda com grande preciso. Este aparelho foi originalmente construdo por A. Michelson em 1881 e visava comprovar a existncia do ter, o meio no qual se supunha na poca deveria se propagar a luz. O experimento, como se sabe, no foi bem sucedido e anos mais tarde, em 1905, A. Einstein publicou o seu famoso trabalho intitulado Sobre a eletrodinmica dos corpos em movimento rejeitando definitivamente a existncia do ter. A Fig. 1 a seguir mostra esquematicamente, a montagem do interfermetro.
M1
d1 F M
d2 M2
Espelho fixo
Fig. 1
Considere que a luz parte da fonte extensa F e incide no espelho semiprateado (M), de espessura desprezvel. A luz ento dividida em dois feixes que seguem respectivamente para os espelhos M1 e M2 onda so refletidos de volta para M onde eles so respectivamente transmitidos e refletidos indo interferir no ponto de observao O. Sejam
Y1 = a1 s en (t 1 )
(1)
e
Y2 = a2 sen (t 2 )
(2)
as duas ondas que interferem em O e produzem como resultado uma onda que pode ser descrita como
Y = Asen (t + )
(3)
onde
A = ( a1 + a2 + 2a1a2 cos )
(4)
= 1 + 2
(5)
Na pratica para se obter uma fonte extensa uma lente inserida entre a fonte de luz e o espelho semiprateado. Sendo os espelhos perpendiculares entre si podemos o sistema equivalente a uma luz proveniente de uma fonte extensa incidindo sobre uma camada de ar, de espessura
d = d1 d 2 , entre o espelho M 1 e a imagem virtual do espelho M 2 , como ilustra da figura 2.
M2 P
M1 P P
F d P 2d
2dcos
Fig. 2 Da figura 2 acima pode-se verificar que a diferena de fase entre os dois feixes
2d cos
(6)
onde o comprimento de onda da luz utilizada. A distribuio de intensidade no caso em que a1 = a2 = a pode ser dada por I A2 = 4a 2 cos 2 2 (7)
Portanto mximos ocorrero cada vez que for um mltiplo de 2 , o que na equao (6) significa que
2d cos = m , m = 1, 2,
e crculos concntricos so produzidos para cada valor de m, d e .
(8)
Se a posio do espelho mvel (M1) variada de modo que d por exemplo diminua ento, de acordo com a equao (8), o dimetro do circulo tambm diminuir. Portanto um circulo desaparecer cada vez que d seja diminuda (ou aumentada) de . 2
2.2.
inserido no caminho do feixe, em frente ao espelho fixo. Uma bomba de vcuo permite variar a presso no recipiente. O ndice de refrao de um gs linearmente dependente da presso p, tal que n ( p ) = n (0) + sendo que n ( 0 ) = 1 e
n n ( p + p ) n ( p ) = . p p
n p p
(9)
(10)
(11)
Se a presso no recipiente for variada de p , este caminho tico sofrer uma variao de
x = n ( p + p ) .s n ( p ) .s
(12)
Iniciando-se com a presso ambiente (po) e diminuindo-se at um valor p, observaremos que a configurao inicial do padro de interferncia (caracterizada por exemplo por um mnimo no centro do padro) se repetir N vezes. Cada mudana de mnimo para mnimo corresponde a uma variao de no caminho tico. Assim entre as presses p e p + p o caminho tico ser alterado por
x = { N ( p ) N ( p + p )} .
(13) 3
Considerando-se agora que o feixe de luz atravessa duas vezes o recipiente, pelas equaes (12) e (13) temos
n ( p + p ) n ( p ) = { N ( p ) N ( p + p )}
e em vista da equao (10) podemos escrever:
2s
(14)
n N = p p 2s
A quantidade N
p
(15)
de interferncia versus a presso. O ndice de refrao n ento determinado com o uso das equaes (15) e (9).
3. Medidas
O aparato experimental necessrio est mostrado na Fig.03. Ele consiste dos seguinte itens: 1. Interfermetro de Michelson 2. Laser, He-Ne 1.0 mW 3. Lente f+20mm 4. Suporte para a lente 5. Banco tico 6. Anteparo 7. Cubeta de vidro (comprimento s=10mm) 8. Bomba de vcuo manual com manmetro
3.1.
Ajustes iniciais
A fim de obter o maior nmero possvel de crculos de interferncia, os espelhos do
interfermetro precisam, antes de tudo, serem ajustados. Para fazer este ajuste remova a lente (L) que est entre o laser e o interfermetro. O feixe de laser incide sobre o espelho semi refletor sob um ngulo de 45, dividindo-se em dois que so refletidos pelos espelhos mvel (M1) e fixo (M2) e finalmente atingem o anteparo (A). Ajuste os parafusos fixados base do espelho fixo (M2) at que os pontos de luz proveniente dos dois espelhos coincidam. Coloque a seguir a lente (L) entre o laser e o interfermetro (exatamente no meio) e ajuste cuidadosamente at obter uma imagem de crculos concntricos.
Anteparo Lente (L) Laser He-Ne Cubeta Espelho semiprateado Espelho fixo (M2)
Fig. 03
3.2.
alguma posio inicial para a qual haja um mnimo de intensidade no centro do padro de interferncia. Anote a posio inicial do micrometro. Gire o parafuso micromtrico e conte o nmero de mnimos que chegam ao centro do padro de interferncia. Conte 100 perodos e anote a posio final do micrometro. Repita a medida contando 200 periodos. Lembre-se de avaliar os erros cometidos nas medidas A distncia que se deslocou o espelho mvel obtida pela diferena entre as duas posies do micrometro dividida por 10 (fator de reduo 1:10 DISCUTA A RAZO DESTE FATOR). A partir destas medidas determine o comprimento de onda da luz do laser utilizado.
3.3.
e a lente (L) para obter um padro de crculos concntricos.. Iniciando da presso ambiente (po=1004 mbar) diminua a presso usando a bomba de vcuo anotando o nmero de mnimos que chegam ao centro do padro de interferncia (nmero de perodos). Anote em uma tabela o nmero de perodos (N) em funo da presso (p). Note que o valor p que voc est medindo na verdade o decrscimo sofrido pela presso ambiente 5
dentro da cubeta. Faa medidas para N variando de 1 at 7. Avalie os erros cometidos nas medidas.