MEV

Microscpio Eletrnico de Varredura

CONTROLE DE QUALIDADE APLICADO
Metodologias analticas aplicadas ao controle de qualidade fsico-qumico e microbiolgico de matrias-primas, produtos intermedirios e produtos acabados.

ndice
1.

2.

Introduo Microscopia
Microscopia ptica Microscopia Eletrnica de Varredura
Breve Histrico MEV Conceito de Funcionamento

3.

4.
5.

Artigo Cientfico Concluso Bibliografia

Introduo
Durante a fase de produo ou anlise de materiais, quase sempre se torna necessrio analisar a sua microestrutura. Esta anlise microestrutural muito importante pois permite: Entender as correlaes microestrutura - defeitos - propriedades; Predizer as propriedades do material quando estas correlaes so estabelecidas.

As tcnicas mais utilizadas para este tipo de anlise so a Microscopia tica e Eletrnica.
Microscpio Eletrnico de Varredura Microscpio ptico

Introduo
No caso da microscopia tica, o contraste da imagem resultado da diferena de refletividade da luz nas diversas regies da microestrutura, uma vez que o sistema constitudo basicamente pela fonte de iluminao e do sistema de lentes. Para materiais que so opacos a luz visvel, como o caso dos metais, da maioria dos cermicos e polmeros, somente a superfcie pode ser observada e a mesma precisa ser cuidadosamente preparada de maneira a revelar os detalhes da microestrutura. No caso da microscopia eletrnica a rea ou o microvolume a ser analisado irradiado por um fino feixe de eltrons. Como resultado da interao do feixe de eltrons com a superfcie da amostra, uma srie de radiaes so emitidas tais como: eltrons secundrios, eltrons retroespalhados, raios-X caractersticos, eltrons Auger, ftons, etc. Estas radiaes quando captadas corretamente iro fornecer informaes caractersticas sobre a amostra (topografia da superfcie,

Microscpio tico
No microscpio tico explorada a interao que ocorre entre a luz e os objetos.

A microscopia eletrnica de varredura (MEV) uma tcnica de obteno de imagens de alta resoluo da superfcie de amostras. Na microscopia eletrnica de varredura a amostra irradiada por um feixe de eltrons altamente colimado. Como resultado da interao do feixe de eltrons com a superfcie, uma srie de radiaes emitida, i.e.: eltrons secundrios, eltrons retroespalhados, raio-X caracterstico, eltrons Auger, ftons etc. Os sinais de maior interesse para a tcnica SEM so provenientes dos eltrons secundrios e dos retroespalhados. Os eltrons secundrios possibilitam a obteno de imagens da morfologia e topografia da superfcie da amostra em 3D em alta resoluo, j os

Microscpio Eletrnico de Varredura

Breve Histrico
1935 M.Knoll/Literatura da Concepo do MEV) 1938 Von Ardenne/1 MEV amostras menos espessas (20 min./8000x/50nm) 1942 1 MEV amostras mais espessas (1m...) 1965 1MEV Comercial pela Cambridge

Microscpio Eletrnico de Varredura

MO < MEV < MET
MEV vs MO Resoluo: 2 a 5 nm (20 - 50 A) at 1 nm (10 A) vs 0,5 m

MEV vs MET Preparao da Amostra

A elevada profundidade de foco (imagem com aparncia tridimensional) e a possibilidade de combinar a anlise microestrutural com a microanlise qumica so fatores que em muito contribuem para o amplo uso desta tcnica.

Conceito de Funcionamento
Canho de Eltrons:
Filamento de Tungstnio: produo do feixe de eltrons e a sua acelerao para o interior da coluna. Cilindro de Wehnelt /nodo: funcionam como um sistema de lentes eletrostticas.

Tipo Triodo

Artigos
Avaliao da pectina fosfatada aplicada na formao de filmes isolados. Material candidato a novos sistemas para liberao modificada de frmacos Tela de polipropileno: estudo do efeito de esterilizao na estrutura em fragmentos de tela para reutilizao em cirurgia de hrnia Microscopia eletrnica de varredura de ovos de Haemagogus Leucocelaenus Caracterizao morfolgica dos imaturos de Hyponeuma taltula (Schaus) (Lepidoptera, Noctuidae, Herminiinae)

Concluso
O trabalho tem como objetivo melhor detalhar sobre a tcnica de microscopia eletrnica de varredura, comparando-na com as demais tcnicas conhecidas atualmente atravs de estudos realizados em artigos, apostilas e livros baseados alm de mostrar suas vantagens e aplicaes diversas, inclusive no setor de pesquisa farmacutico e biomdico. O MEV tem caractersticas vantajosas sobre seu antecessor o MO e seu sucessor MET, o que o torna uma tcnica vivel e relativamente barata se comparada custo beneficio com as demais tcnicas. Sendo elas: MEV VS MO: Maior resoluo de imagens obtidas atravs de radiao eletromagntica alm de maior potncia de amplificao, conseguindo atingir at 22.000X. MEV VS MET: Maior facilidade no preparo de amostras e menor custo de aquisio.

Bibliografia
http://hudsonzanin.blogspot.com.br/2012/06/microscopio-eletronico-de-varredura-mev.html https://www.google.com/search?hl=ptPT&q=microscopio+eletronico+de+transmiss%C3%A3o&bav=on.2,or.r_gc.r_pw.r_qf.&biw=1366&bih=643&pdl=30 0&um=1&ie=UTF-8&tbm=isch&source=og&sa=N&tab=wi&ei=0KtCUKC7Msjt0gGj6YHoCg Apostila: universidade federal de santa catarina ufsc , Departamento de engenharia mecnica emc/Laboratorio de materiais labmat /Laboratrio de caracterizao microestrutural e anlise de imagens lcmai Avaliao da pectina fosfatada aplicada na formao de filmes isolados. Material candidato a novos sistemas para liberao modificada de frmacos Tela de polipropileno: estudo do efeito de esterilizao na estrutura em fragmentos de tela para reutilizao em cirurgia de hrnia Microscopia eletrnica de varredura de ovos de Haemagogus Leucocelaenus Livro: Tcnicas de Caracterizao de Polmeros, Sebastio V. Canevarolo Jr, Ed. Artliber,2004

Obrigada!