MICROSCOPIA ELECTRNICA

CONCEPTO Y TIPOS
Un microscopio electrnico es aqul que utiliza electrones en lugar de fotones o luz visible para formar imgenes de objetos diminutos. Los microscopios electrnicos permiten alcanzar una capacidad de aumento muy superior a los microscopios convencionales (hasta 500.000 aumentos comparados con los 1000 de los mejores microscopios pticos) debido a que la longitud de onda de los electrones es mucho menor que la de los fotones.

Existen dos tipos principales de microscopios electrnicos: el microscopio electrnico de transmisin y el microscopio electrnico de barrido.

OPTICO MICROSCOPIOS ELECTRONICO

MICROSCOPIO ELECTRONICO
Haz Electrnico 0.0086nm (20kV) ~ 0.0025 nm (200 kV) Vaco Electromagnticos (bobinas) Punto a punto: 0.17 nm Lnea a lnea: 0.1 nm 100X 1500000X

Haz de luz
Haz de electrones
MICROSCOPIO OPTICO
Haz de Luz 750 nm (luz visible) ~ 200 nm (luz ultravioleta) Atmsfera Opticas (vidrio) Visible: 200 nm Ultravioleta: 100 nm 10X 2000X

DIFERENCIAS
Fuente de Iluminacin Longitud de Onda () Medio de Propagacin Lentes Resolucin Magnificaciones

Enfoque
Contraste

Electrnicamente
Absorcin y difraccin

Mecnicamente
Absorcin y reflexin

1933
Se desarrolla el primer Microscopio Electrnico de Transmisin.

1980 Se desarrolla el primer Microscopio Electrnico de Barrido.

Resolucin 200 nm

0.1 nm

0.5 nm

APLICACIONES EQUIPO PARA LA PREPARACION DE MUESTRAS MEB Y MET

Ultramicrotomos Reichert-Jung

Recubridor de muestras BALZERS

Secadora Punto Crtico BALZERS

Otros equipos: Ionizadora Evaporadora.

Sistema de fotografa digital Adelgazador inico

PREPARACION DE MUESTRAS
Normas Generales: No deben contener lquidos Su superficie debe ser conductora de corriente elctrica.
Tcnicas de Recubrimiento:

Con Oro

Con Carbono

Resolucin hasta 20 . Muestra debe ser montada en bloque de resina y teida.

Resolucin hasta 200 . La muestra debe ser cubierta en oro

Muestras delgadas.

MICROSCOPIO ELECTRONICO DE TRANSMISION

El microscopio electronico de transmision (MET) produce un haz de electrones que incide sobre una muestra, estos electrones atraviesan la muestra recopilando informacin acerca de la estructura interna del material.

MICROSCOPIO ELECTRONICO DE TRANSMISION

EL SISTEMA DE LENTES Y APERTURAS DE UN MICROSCOPIO ELECTRONICO ES:

1.- LENTES CONDENSADORAS 1 Y 2 2.- LENTE OBJETIVO 3.- LENTES DE DIFRACCION 4.- LENTES INTERMEDIAS 5.- LENTES PROYECTORAS

APERTURAS 1.- CONDENSADORA 2.- OBJETIVA 3.- AREA SELECTA

Partes principales del FEG TEM

1
1. 2. Can de Electrones. Columna (C1, C2, lente objetiva y rea selecta).
rea del espcimen del Compustage. Pantalla principal. Panel de control. Botones de control. Detector de RayosX. Detector del STEM. Detector del EELS.

2 3

7
3. 4. 5.

10 8

6. 7. 8. 9.

10. Dewar o trampa fra.

FEG TEM Philips Tecnai TF20

Can de Electrones
Es un dispositivo en donde se incorpora una fuente que acta como lente para enfocar los electrones.

El Condensador.
Formado por una o dos lentes magnticas dispuestas una a continuacin de la otra. Enfoca el haz electrnico de tal forma que permita iluminar debidamente la preparacin. Las dos principales caractersticas del condensador son la variabilidad del ngulo de apertura y la variabilidad de la intensidad del haz.

El Portaobjetos
Todos los componentes que se hallan cerca de las piezas polares de cualquier lente ( y por ende la preparacin) deben ser de materiales no magnticos a fin de evitar las distorsiones del campo magntico. El objeto a observar debe sostenerse por un substrato permeable a los electrones, formado comnmente por una pelcula muy delgada- de unos 150- de una sustancia como el colodin (el colodin es una solucin de diferentes nitratos de celulosa (algodn plvora celoidina etc) disuelta por ejemplo, en acetato de amilo)o el Formvar (polivinilo y formaldehdo), que tiene suficiente resistencia mecnica como para sostener el objeto y resistir el impacto electrnico. Como esta pelcula es extremadamente fina, debe estar bien sujeta y esto se consigue disponindola extendida sobre una rejilla de plancha de cobre, aluminio platino muy fina de 2.3 3 mm de dimetro, segn los casos.

Filamento (Ctodo) nodo

Tungsteno: 0.1 mm LaB6

Es un disco metlico perforado y situado en un plano perpendicular al eje ptico y a pocos centmetros del filamento. Est polarizado a un potencial (40-100kV) positivamente respecto a este. Esta carga positiva atrae a los electrones que son acelerados a lo largo del gradiente del campo electrosttico establecido entre nodo y ctodo

Cilindro de Wehnelt.
Es un disco perforado, situado entre ctodo y nodo. Se polariza con un potencial de unos 200 a 2000 Volts respecto al filamento. Canaliza y regula el haz electrnico. El campo electrosttico establecido entre nodo y Wehnelt es una lente elctrica que recoge la gran mayora de electrones desprendidos por el filamento, los canaliza y enfoca. Los electrones estn obligados a pasar por las perforaciones.de ambos electrodos, son fuertemente acelerados y salen del nodo siguiendo trayectorias casi paralelas.

Can de Electrones
Es un dispositivo en donde se incorpora una fuente que acta como lente para enfocar los electrones.

Filamento (Ctodo) nodo

Tungsteno: 0.1 mm LaB6

Es un disco metlico perforado y situado en un plano perpendicular al eje ptico y a pocos centmetros del filamento. Est polarizado a un potencial (40-100kV) positivamente respecto a este. Esta carga positiva atrae a los electrones que son acelerados a lo largo del gradiente del campo electrosttico establecido entre nodo y ctodo

Cilindro de Wehnelt.
Es un disco perforado, situado entre ctodo y nodo. Se polariza con un potencial de unos 200 a 2000 Volts respecto al filamento. Su misin es la de canalizar y regular el haz electrnico. El campo electrosttico establecido entre nodo y Wehnelt es una lente elctrica que recoge la gran mayora de electrones desprendidos por el filamento y los canaliza y enfoca . Por ello los electrones estn obligados a pasar por las perforaciones.de ambos electrodos, son fuertemente acelerados y salen del nodo siguiendo trayectorias casi paralelas.

El Condensador.
Formado por una o dos lentes magnticas dispuestas una a continuacin de la otra. Enfoca el haz electrnico de tal forma que permita iluminar debidamente la preparacin. Las dos principales caractersticas del condensador son la variabilidad del ngulo de apertura y la variabilidad de la intensidad del haz.

ALINEACIONES MAS USUALES PARA LA OPERACIN OPTIMA DEL TEM

1.- CENTRADO DE LAS APERTURAS - APERTURA CONDENSADORA - APERTURA OBJETIVA - APERTURA DE AREA SELECTA 2.- AJUSTE DE LA ALTURA AUCENTRICA
3.- CORRECCION DEL ASTIGMATISMO EN LAS LENTES.

CENTRADO DE APERTURAS
C1
APERTURA CONDENSADORA

AJUSTE

C2

CENTRADO DE APERTURAS
APERTURA OBJETIVA

AO

AJUSTE

APERTURA DE AREA SELECTA

AS

AJUSTE
PERMITE REALIZAR LOS PATRONES DE DIFRACCION SELECCIONANDO UN AREA DETERMINADA POR MEDIO DE UNA APERTURA O ILUMINANDO UNA AREA CON EL HAZ (DIFRACCION DE HAZ CONVERGENTE).

COLOCACION DE LA APERTURA

SISTEMA DE VACIO
4 3 2
PRINCIPALES COMPONENTES DEL SISTEMA DE VACIO:

1
1.- TANQUE DEL BUFFER 2.- CAMARA DE PROYECCION 3.- COLUMNA 4.- CAON

COMPUSTAGE
SE PRESENTA EN 3 DIMENSIONES LOS EJES EN LOS QUE SE PUEDE MOVER LA MUESTRA.

REPRESENTACION ESQUEMATICA DEL HAZ DE ELECTRONES Y LAS INTERACCIONES CON LA MUESTRA.

PRINCIPALES SEALES UTILIZADAS MICROSCOPIA ELECTRONICA DE TRANSMISION.

HAZ DE ELECTRONES
Rayos X (EDS)

EN

MUESTRA
Electrones Elsticamente Difractados Electrones Inelsticamente Difractados

Imgen por Contraste

Difraccin Electrnica

Imgen de HRTEM

Imgen por STEM

Espectroscopa Filtrado de por EELS Energa

DETECTORES
LOS PRINCIPALES DETECTORES SON:

1.- DETECTOR DE EDS

2.- DETECTOR DE STEM

PATRONES DE DIFRACCION
Propiedades cristalinas del especimen: Simetra. Distribucin de huecos. Morfologa Orientacin con respecto al haz electrnico. Orden de medida: Nanometros

CONVERGER EL HAZ EN EL ESPECIMEN

FORMAS
DIFRACTAR EN UN AREA SELECTA

PATRONES DE DIFRACCION

Sistema de imagen de un MET:

a) Proyeccin del patrn de difraccin vista desde la pantalla y b) proyeccin de la Imagen sobre la pantalla

CONTRASTE
Un haz de electrones, al atravesar una muestra experimenta un proceso de dispersin por los tomos que la forman.

DISPERSION ELASTICA ELECTRONES DEL HAZ INTERACCION NUCLEOS ATOMICOS DISPERSION INELASTICA CONTRASTE

Coloquio Material particulado y salud

21 de Octubre de 2004

CONTRASTE
TIPOS

Amplitud

M: muestra LO: lente objetiva PF: plano focal P: pantalla

Fase

DIFRACCION

CONTRASTE
MODOS DE FORMACION DE IMAGEN

Campo Claro: a) imagen formada con el haz transmitido y b) difraccin por Seleccin de rea.

Campo Obscuro: a) desplazamiento del diafragma, b) inclinacin del haz y c) Un Obstculo al haz de electrones..

Donde: M: muestra ,LO: lente objetiva, DLO: diafragma lente objetiva, DSA: diafragma de seleccin de rea, LI: lentes intermedias, LP: lente proyectora y P: pantalla

Coloquio Material particulado y salud

21 de Octubre de 2004

Coloquio Material particulado y salud

21 de Octubre de 2004

AJUSTE DE LA ALTURA EUCENTRICA

CORRECCION DE ASTIGMATISMO EN LA LENTE OBJETIVA

Muestras son tipicamente de 3mm de diametro y <80m de espesor.

La preparacin de la muestra debe ser cuidadosa y consume tiempo. Para una muestra metlica: Corte\ una seccin de material <1mm de espesor. Reduzca a 3mm de diametro por Punching, o erosion. Desbaste y pula hasta <80m de espesor y 0.25m como sea posible.

Ya sea que electropula o, si es un metal ligero use el molino de rayos

para hacer una perforacin en la regin alrededor del hoyo que contiene el material transparente a los electrones (area delgada).

Area delgada

Para todos las aleaciones base aluminio, debido a la formacin de capas de Al2O3 en presencia de aire, las muestras deben examinarse

inmediatamente despus de la preparacin (por ejemplo: se prepar en la

la maana y se examina en la tarde).

Para una muestra no metlica:Corte \una seccin de material <1mm de espesor. Rebaje con un soporte hasta <80m de espesor con a 0.25m o a un mejor acabado.

Mnte sobre un soporte, si es necesario.

Dimple to leave ~10 m of material remaining. Ion beam mill to perforation. Some samples require coating to prevent charging effects. For powders:Grind\mix the powder in chloroform or reagent grade methanol to create a suspension.

Pipette a drop of suspension onto a support grid with a Carbon film coating.
Solvent will evaporate leaving powder dispersed on the grid. Allow to dry and observe. Biological samples require fixing and embedding before being stained with heavy metals

Biological samples require fixing and embedding before being stained

with heavy metals (e.g. OsO4) for contrast prior to ultra microtome
sectioning. Very time consuming

Barrido (SEM): estructura 3D

Transmisin (TEM): Alta Resolucin

En la tcnica de microscopa electrnica, para que los electrones atraviesen la muestra sin ser destruida por calentamiento, debe seguirse un proceso previo que es similar al que se emplea para obtener cortes histolgicos para el microscopio de luz. Los cortes deben tener un grosor mximo de 100 nm (1000 XX), aproximadamente 50 veces mas finos que un corte histolgico observado al microscopio de luz que normalmente es de 500nm (0,5m). Adems los cortes deben contrastarse, lo que usualmente se llama tincin en microscopa de luz, aunque ese trmino, que se refiere a color, no se utiliza sino que se habla de contraste. Consiste en una impregnacin de tejido con sales de metales pesados, como acetato de uranilo y citrato de plomo que aumenta la electronodensidad en el sitio en que se produce la deposicin. Esto hace que algunas zonas aparezcan oscuras o negras en la pantalla, lo que contrasta con lo claro de las zonas no impregnadas con metales.

MET DE ALTA RESOLUCION Caractersticas

MET CONVENCIONAL Espesor de la muestra Apertura condensadora Apertura objetiva Foco Astigmatismo ~100 Mayor a 100 m Menor a 100 m Sin problema Sin problema MET DE ALTA RESOLUCION < 50 Menor a 100 m Mayor a 100 Menos de 2000 Es relevante

Coherencia
Imagen Voltaje

Sin problema
Por amplitud (absorcin) Menos de 100 kV

Ms de 2000
Por fase (interferencial) Mayor a 200 kV