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NILO CORNEJO G. Instituto de Cermica y Vidrio (ICV-CSIC) c/. Kelsen 5, Campus de Cantoblanco, Madrid
1. MATERIALES
Seal analtica
Convertidor
Anlisis elemental por WDS en el Microscopio electrnico de barrido (SEM) 1. 2. Generacin de la seal estmulo: Can de electrones Acondicionamiento de la seal estmulo: Afinar el haz de electrones (lentes electromagnticas)
3.
4. 5.
Iones (P,
Calor
Diagrama de Propst
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Tamao y forma de las partculas microscpicas que constituye un material slido. VLM, SEM, TEM
Fases cristalinas: Informacin de la distribucin de tomos de una muestra slida en el espacio de una forma repetitiva (cristalina), XRD, TEM, EBSD, FTIR, Raman, DTA. Estructuras moleculares: Determinacin de las estructuras de molculas aisladas, MS. Determinacin de grupos funcionales en molculas, FTIR, Raman con NMR. Informacin sobre niveles electrnicos moleculares, UV-Vis y la Luminiscencia. Coordinacin (de que otros tomos o iones est rodeado de manera ms cercana) y valencia (estados de oxidacin), FTIR, Raman y Absorcin de rayos X (EXAFS y Xanes), UV-Vis. - Textura: Informacin sobre la morfologa de la superficie de las diferentes partculas de la que est formada una muestra, huecos y poros. Tamao y forma, VLM, SEM y TEM. Superficie especfica y porosidad, Intrusin de Hg, Isotermas de Adsorcin de molculas (N2 o Ar) que no reaccionan con la superficie. - Superficie: Informacin de composicin y estructura, pero limitada a la superficie externa. Hidroxilos (OH) y centros cidos que condicionan su reactividad con otros compuestos. FTIR, Raman, NMR. Estructura y valencia, XPS Especies adsorbidas, Anlisis trmico (AT) acoplado con MS. Centros redox (oxidante o reductor), Reduccin trmica programada (TPR) u Oxidacin trmica programada (TPO).
Small-angle neutron scattering (SANS) Small-angle X-ray scattering (SAXS) Mercury porosimetry
Density homogeneity VLM SEM X-ray radiography/CT scan Ultrasound Die penetration Particle/grain size, distribution, morphology, and texture VLM and quantitative stereology SEM and quantitative stereology Electron backscattering spectroscopy (EBSD) TEM XRD Phase transitions: e.g., structural transformations DTA TMA DSC In situ XRD 7
3. ANALISIS TRMICO
Anlisis Trmico: es un grupo de tcnicas que estudian las relaciones entre una propiedad de una muestra y su temperatura
Calorimetras: son tcnicas en las que se mide calor
Termogravimetra, TG: es una tcnica en la que se mide la masa de una muestra en funcin de la temperatura Anlisis Trmico Diferencial, ATD: es una tcnica en la que se mide la diferencia de temperaturas entre una muestra y un material de referencia en funcin de la temperatura Calorimetra Diferencial de Barrido, DSC: es una tcnica en la que se mide la diferencia de velocidad de flujo de calor hacia una muestra y hacia un material de referencia
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Dolomita
Cambio de pendiente
Peso inicial de la muestra Velocidad de Calentamiento Flujo del gas de arrastre Naturaleza del gas de arrastre Utilizacin de presin o crisoles sellados
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Anlisis Trmico Diferencial y Calorimetra Diferencial de Barrido Resumiendo ATD: Medimos la diferencia de temperatura entre la referencia y la muestra. Medimos voltajes DSC: Medimos la energia suplementaria que hay que aportar a la referencia o a la muestra para que ambas estn a la misma temperatura. Medimos corrientes En principio, se puede medir cualquier proceso en el que haya evolucin de calor
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Procesos
Transformaciones polimrficas. Transiciones de fase Cristalizacin y desvitrificacin Fusin Solidificacin Evaporacin ?, ebullicin Sublimacin Eliminacin de agua o disolventes adsorbidos Prdida de agua de cristalizacion y zeoltica Descomposicin o disociacin, con y sin prdida de masa Reacciones en general oxidacin reduccin polimerizacon y curado hidratacin de combinacin o intercambio
Algunas Aplicaciones
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Ejemplo
b
c d e
Rombodrico
a
Ortorrmbico
b
Tetragonal
c
Cbico
d
Fusin
e
Descomposicin
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Recristalizacin de vidrio
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MUESTRA
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Dispersin elstica
El electrn incidente es desviado de su trayectoria, dispersada por el intenso campo culombiano del ncleo de los tomos de la muestra a) Imagen de electrones retrodispersados (BSE), (de contraste composicional) IBS / I0 Imagen BSE que muestra contrastes diferentes de fases diferentes en una reaccin MgO/In2O3
b) Difraccin de e- retrodispersados (EBSD). Algunos electrones difractan segn la ley de Bragg (Informacin de estructura y orientacin cristalogrfica
Imagen EBSD de soldadura de acero inoxidable, (a) Slo ferrita, (b) austenita
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Dispersin inelstica
Interaccin entre el e- incidente (e- primarios) y los e- de un determinado orbital provocando su expulsin (e- secundarios). El tomo excitado regresa a su nivel fundamental emitiendo rayos X y e- Auger.
a) Imagen de electrones secundarios (SE), Informacin morfolgica o topogrfica de la superficie de la muestra. Albita Vidrio Recristalizado Na 8,8% Al 10,1% Si 32,2%
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Estructura de celda hexagonal de la superficie del aluminio metlico en contacto con la pelcula andica, despus de la disolucin del recubrimiento por inmersin en mezcla cida fosfocrmica
Micrografa obtenida con MEB en las mismas condiciones de la figura 4, para una pelcula con sellado hidrotrmico de 60 min en agua desionizada a ebullicin
Contribution of electron microscopy to the study of sealing processes in oxalic anodised aluminium*
REV. METAL. MADRID, 43 (3), MAYO-JUNIO, 209-214, 2007, ISSN: 0034-8570
Vista en MEB de una seccin transversal obtenida por fractura del recubrimiento andico sin sellar mostrando la forma tubular de los poros 18
Vidrio fracturado
Las inclusiones de Sulfuro de Nquel en los vidrios templados trmicamente provocan roturas espontneas despus de transcurridos varios meses desde su fabricacin.
Transformacin
-NiS (de alta temperatura) Estructura de la niquelina (Hexagonal) V 2,8% -NiS (de baja temperatura) Estructura de la niquelina (Rombodrica)
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Imagen EBSD
Fase mayoritaria: Rombodrica (rojo).
Fase muy minoritaria: Hexagonal (azul) Zonas en blanco: no se generan lneas 20 de Kikuchi.
5. DIFRACCIN DE RAYOS X
Principio:
La DRX por los cristales se basa en la dispersin elstica. Es decir que el fotn incidente es desviado de su direccin original con igual energa, por colisin con un electrn. La condicin necesaria para que se produzca difraccin viene determinada por la ley de Bragg. 2dseno() = n con n = 1, 2, 3,...
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Difractmetro de rayos X
Fuente de radiacin: Tubo de rayos X que emite radiacin monocromtica de Cu, Cr, Co, Mo.
Difractmetro: Registra la radiacin difractada. La muestra se mantiene plana y gira a una velocidad angular mitad de la velocidad de giro del detector. El detector puede ser proporcional o de centelleo. Finalmente se obtiene un espectro: Intensidad (I) vs. angulo (2)
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Informacin obtenida:
Identificacin de estructuras cristalinas huella caracterstica Identificacin de componentes por comparacin con patrones. Anlisis cuantitativo (rea del pico de difraccin) Tamao de cristal. Frmula de Sherrer: D = K / ( cos ) Aplicacin a sustancias amorfas: la estructura se describe en trminos probabilsticos, encontrar un tomo a cierta distancia de otro funcin de correlacin.
Limitacin:
Muchos materiales son de tamao fe grano muy fino o amorfos haciendo inaplicable la DRX. Generalmente no es til para concentraciones < 5% en peso.
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Tratada a 450C: -Ni7S6 (Hexagonal) Tratada a 450C y templada, Fase con algo de fase Tratada a 450C y enfriada lentamente: Ni7S6 con algo de fase Millerita estable a temperatura ambiente: -NiS (Rombodrica)
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Difractograma de RX de una mezcla de CaO y Almina registrada mientras se calienta la muestra a diferentes temperaturas
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6. ESPECTROSCOPIA RAMAN
Fundamentos del mtodo
Tres tipos de radiacin emitida. Dispersin Stokes, anti-Stokes y Rayleigh. La dispersin Rayleigh es significativamente ms intensa. Modelos de desplazamiento idnticos a ambos lados. Lneas Stokes ms intensas que anti-Stokes. Se usa la parte Stokes del espectro.
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1 - Haz de lser incidente; laser (rojo, verde) 2 - Muestra; 3 - Monitor; 4 - Monocromador; 5 - Fotomultiplicador; 6 - Amplificador; 7 Tratamiento de datos.
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Cermica Huari
La cultura Huari o Wari, fue una civilizacin andina que floreci en el centro de los Andes aproximadamente desde el ao 600 hasta 1200 d. C., llegando a expandirse hasta los actuales departamentos peruanos de Lambayeque por el norte y Arequipa por el sur. La cermica fue policroma influenciada por la cermica Nazca.
Cinabrio, HgS Sist. Hexagonal
Laser rojo
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Polimorfos de CaCO3
Aragonito (ortorrombico)
Calcita (hexagonal)
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Espectros Raman de pelculas de TiO2 (preparada por sol-gel) recocida a diferentes temperaturas. R, rutilo; A, Anatasa
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MgK 1253,6 eV
Eb = hv - Ecin
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Informacin:
- Identificacin unvoca multielemental: Eb i - Reproduce la estructura de niveles electrnicos de los tomos: picos s, p, d
- Informacin del estado qumico del tomo ionizado (estado de oxidacin). - Anlisis cuantitativo: Intensidad del pico (Ni). Ni = Si cos i Si : seccin eficaz de ionizacin i : recorrido libre del electrn : ngulo slido del detector
Los picos 3d de la circona aparecen desplazados 4,4 eV hacia energas de enlace mayores con respecto al del Zr metal.
Resolucin espacial: usualmente 1-5 mm, mxima 3-1.5 micras Profundidad de anlisis: 3-10 nm Anlisis en profundidad: Si con ciertos lmites (perfiles de concentracin) Deteccin elemental: Z > 2 Todos los elementos de la tabla peridica excepto el H y el He
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