Conceptos de

Metalografa
ING. JAIME GONZALEZ
VIVAS

Definicin de metalografa:
La metalografa o Microscopa, estudia las
caractersticas estructurales de un metal o de un
aleacin microscpicamente.
Es posible determinar el tamao del grano, as como
el tamao, forma y distribucin de fases e
inclusiones que tengan efecto sobre las propiedades
del metal o aleacin.
La Microestructura puede revelar el tratamiento
mecnico y trmico del metal.

 La metalografa puede ser dividida, segn el tamao de los

elementos estructurales que se desea analizar, en
metalografa macroscpica, microscpica y submicroscpica.
La metalografa macroscpica suele ser llamada macroscopa
y la microscpica, microscopa.

 Convencionalmente se considera que la divisin

entre metalografa macroscpica y microscpica est
dada por el uso de un aumento de 20x. La
metalografa macroscpica incluye la observacin a
simple vista y con lentes de hasta 20x. Con
aumentos mayores se est en el campo de la
metalografa microscpica.

 Las tcnicas de observacin macro y microscpica

son complementarias en el sentido de que las
primeras permiten obtener un conocimiento no muy
profundo de la estructura, pero vinculado a una zona
bastante grande de las muestras, mientras que con
las tcnicas microscpicas, si bien se facilita un
conocimiento ms profundo de la estructura, dicho
conocimiento est limitado a una zona muy pequea.
Los mtodos metalogrficos se clasifican en
destructivos y no destructivos, segn que la pieza
analizada pueda ser utilizada o no despus del
examen al que es sometida.
Los mtodos metalogrficos clsicos requieren casi
siempre la preparacin de una probeta extrada de la
pieza a analizar y son, por ello, destructivos.

MTODOS MACROSCPICOS DE OBSERVACIN DIRECTA

caractersticas
estructurales
de
tamao
Las
macroscpico pueden ser observadas sin preparacin
previa de la superficie en estudio, o requerir una
preparacin que siempre es menos elaborada que para la
observacin microscpica e incluye generalmente un
ataque qumico.
Tambin se utiliza la observacin a simple vista para el
anlisis de las causas de rotura de las piezas. Esta
observacin
puede
ser
complementada
con
la
observacin mediante lupas de poco aumento, quedando
por ello el mtodo dentro del campo de la macroscopa.
El uso de aumentos elevados no es apropiado para la
observacin de superficies de fractura, porque la
irregularidad de las mismas no permite obtener
imgenes ntidas.

MTODO DE PREPARACIN:
Se divide en varias etapas:
Seleccin y extraccin
Montaje (en caso de ser necesario)
Desbaste - Esmerilado grueso - fino
Pulido final.
SELECCIN Y EXTRACCIN:
Hay veces que una vez recibido el material es
necesario seccionarlo o cortarlo en una forma
determinada. Se trata de lograr superficies planas con
la menor deformacin posible. En general, los mejores
resultados se obtienen con corte por abrasivo hmedo
(disco abrasivo: de Al2O3 para metales ferrosos y SiC
para no ferrosos). En general, materiales blandos se
cortan con discos duros y viceversa.

 Un factor a tener en cuenta es la temperatura generada

por rozamiento en el corte, el cual debe realizarse con un
liquido lubrirefrigerante, de lo contrario se estara
modificando la estructura original.
En general de deben obtener por lo menos dos cortes:
uno longitudinal y otro transversal, para analizar las
estructuras y las propiedades en esas dos direcciones
(salvo en el caso de materiales directos de colada fundidos). Es decir, es necesario conocer de antemano el
proceso de fabricacin y/o tratamientos trmicos del
espcimen para determinar las zonas de extraccin y los
tipos de corte a realizar. Si se realiza un estudio de falla,
la muestra debe tomarse lo ms cerca posible de la falla
o en la iniciacin de esta.
El mtodo de preparacin de muestras metalogrficas se
encuentra normalizado en la norma ASTM E 3.

MONTAJE:
Cuando se considere necesario para una mejor
manipulacin de la muestra o para evitar la
conservacin de los bordes o alguna capa
constituyente, es necesario montar la muestra en lo
que llamamos "inclusin". La pieza debe estar libre de
grasa o contaminante que interfiera en la adherencia.
Montaje en caliente:
La muestra se coloca en una prensa generalmente
hidrulica (incluidota), se aade luego un polmetro o
baquelita. Los polmetros pueden ser de dos tipos:
termoendurecibles o termoplsticos. Luego se somete
el polmetro o baquelita a una presin y temperatura
determinada segn el caso y posteriormente se enfra.
Luego se saca la muestra de la prensa.

Montaje en fri: reaccin qumica

La muestra se coloca en un molde, y luego se
aaden las partes necesarias de las resinas
mezclndolas previamente y luego se vierten sobre
la muestra cubriendo a esta y todo el volumen entre
la muestra y el molde.
Hay tres tipos de resinas en fri: Epoxi (menor
contraccin, excelente adherencia tiempo largo de
solidificacin), Acrlicas (menor tiempo y buena
adherencia y son termoplsticos), de Poliester (idem
anterior pero duro plsticas).

DESBASTE - PREPARACIN MECNICA:

Para eliminar material de la superficie de la muestra,
se utilizan abrasivos cada vez con partculas mas
finas. Esto puede ser en forma manual o con pulidoras
mecnicas.
Esmerilado grueso:
Su objetivo es eliminar la superficie de la muestra que
fue deformada por el proceso anterior y lograr un solo
plano de pulido para las etapas posteriores. Se utilizan
abrasivos de grano grueso (80 - 320), discos o papeles
abrasivos al agua. El agua tiene por objeto refrigerar y
barrer de la superficie las partculas de material tanto
de la muestra como del abrasivo. Para pasar de un
papel a otro se debe obtener una superficie plana,
uniforme y las rayas deben estar en una misma
direccin. Una vez logrado esto, se gira la muestra 90
y se procede de la misma forma

Papeles para esmerilado manual

Papeles para esmerilado mecnico

Desbastadoras

Fotomicrografas luego de varias etapas de esmerilado

Esmerilado fino:
Es la etapa final del esmerilado. El procedimiento es igual al
anterior con papeles (400 a 1200) o diamante en pasta desde 3
a 0,25 micrones.

Mquina para esmerilado mecnico

PULIDO MECNICO:
ABRASIVOS PARA EL PULIDO METALOGRFICO
Fsicamente, un abrasivo metalogrfico ideal debe de
poseer una dureza relativamente alta; la forma
externa de las partculas debe ser tal que presenten
numerosas y agudas aristas y vrtices cortantes; las
partculas, si se rompen durante su uso, deben
hacerlo en forma de que se produzcan nuevas aristas
y vrtices cortantes

 Polvo de diamante. El abrasivo que ms se aproxima

al ideal es el polvo de diamante no adulterado y bien
clasificado. Se ha empleado mucho en el pasado para
preparar probetas de aleaciones muy duras, tales
como carburos sinterizados de volframio o boro y
recientemente se ha extendido su uso, con gran xito,
para el pulido de las aleaciones y metales ms
comunes.
Alndum. Para el pulido intermedio o preliminar de las
probetas metalogrficas, en aquellos casos en que tal
operacin se realiza, se emplea como abrasivo el
alndum (xido de aluminio fundido) y, a veces,
carborundo (carburo de silicio) o carburo de boro,
todos en un grado de finura de 500 a 600 mallas.

 Oxido de magnesio. Es el abrasivo que suele

recomendarse para el pulido final de los metales
blandos, tales como el aluminio, magnesio y otros, o
para sustituir a la almina en el pulido de las
fundiciones y otros materiales relativamente duros.
Almina. La almina (xido de aluminio) es,
probablemente, el abrasivo ms satisfactorio y
universal desde el punto de vista metalogrfico. El
comercio lo proporciona en forma de pastas o
suspensiones acuosas. La almina existe en tres
formas cristalogrficas distintas: alfa, beta y gamma.
De ellas, la alfa y la gamma son las ms empleadas
como abrasivos. Algunos tipos de polvo seco de
almina, aunque se adquieren como legivados, es
preciso volver a legivarlos para obtener la debida
finura y uniformidad de las partculas.

 Otros abrasivos. Adems de los abrasivos citados

anteriormente, tambin el xido de cromo y el xido
de hierro (rojo de joyeros) se han empleado con xito
en el pulido metalogrfico. El rojo de joyeros, sin
embargo, tiene propensin a hacer fluir el metal
superficial, y aunque proporciona una superficie
extraordinariamente pulimentada, tal superficie no es
la necesaria y caracterstica del pulido metalogrfico

PAOS PARA PULIR

En general, la textura superficial de los paos de pulir
vara desde la correspondiente a los que no tienen pelo,
como la seda natural y el tejido empleado para cubrir
las alas de aeroplanos, hasta aquellos con pelo
relativamente largo, como el terciopelo y la pana, que
son de aplicacin muy general. En el caso intermedio
se encuentran los paos de mesa de billar, los paos de
lana de distintas finuras y las lonas de diferentes pesos.
Cuando un pao no va a utilizarse durante algn
tiempo, se le quita del disco de la pulidora, se le
enjabona y se le lava cuidadosamente con agua
corriente. Despus se le puede secar o, mejor, se le
guarda sumergido en agua en un vaso. El lavado
elimina prcticamente todos los detritos adheridos al
pao, y el guardarlo en hmedo evita que lo evita que
los residuos de abrasivo que pudieran quedar formen
tortas sobre el.

 El objetivo es hacer desaparecer las rayas finas

producidas en la ltima operacin de desbaste. El
disco de la pulidora empleado en esta operacin se
cubre, generalmente, con pao de lana, pao de billar
o una lona de poco peso, y se le hace girar a unas 400
a 500 rpm. Como abrasivo se emplea alndum o
carborundo de 600 mallas, o productos equivalentes.
Para realizar un pulido preliminar se mantiene la
probeta desbastada, firmemente, sobre el disco que
gira, y durante la operacin se mueve continuamente
desde el centro al borde del disco, y a la inversa. Si es
necesario, se aade de cuando en cuando suspensin
del abrasivo, que contengan unos 15g por cada 100cc
de agua.

Insumos para pulido con xidos

Pulidora metalogrfica mecnica

Fotomicrografa luego de la etapa de pulido mecnico

PULIDO ELECTROLTICO
El pulido electroltico disminuye notablemente las
distorsiones superficiales producidas durante el pulido
mecnico. Evita la formacin de capas distorsionadas en
la superficie pulida de la muestra. Es ideal para metales
blandos, aleaciones monofsicas y aleaciones que
endurecen por deformacin. Como desventaja se
encuentra la destruccin parcial o total de las inclusiones
no metlicas por reacciones qumicas con los electrolitos
utilizados. Tambin algunos electrolitos actan sobre los
bordes de las microfisuras y hacen que las mismas se
agranden y a su vez produzcan un redondeo de sus
bordes.
De acuerdo a las circunstancias, los mtodos de pulido
electroltico ms utilizados son:
Pulido en celda electroltica.
Pulido por medio de equipos automticos.
Pulido local por medio del mtodo tampn.

Pulidoras electrolticas porttiles

DEFECTOS DE PREPARACIN:
- Rayas: son surcos producidos por las puntas de los
abrasivos.

Deformacin plstica: puede provocar defectos

superficiales despus del esmerilado o el pulido. Se
revela despus del ataque.

Aplastamiento: es la deformacin plstica de grandes

zonas de la muestra. Se pueden producir por una
eleccin incorrecta del abrasivo, lubricante o pao.

- Redondeo de bordes: se debe a la utilizacin de una

superficie de pulido muy elstica. Provoca una
eliminacin del material tanto en la superficie como en
los bordes.

Relieve: cuando se pule un material con varias fases

se puede dar lugar este fenmeno debido a la
diferente dureza o resistencia al desgaste de c/u.
Aparece durante el pulido. Hay que tener en cuenta
para evitarlo el tiempo adecuado de pulido y el tipo de
pao.

Arranques: son cavidades que quedan despus del

pulido debido a la prdida de material durante la
abrasin. Aparecen en materiales duros y quebradizos
o que tengan inclusiones. Son debidas a un exceso de
fuerza o mal a seleccin del pao (pelo largo).

Separaciones: son espacios que aparecen entre las

resinas y el material luego de ser incluido. Puede ser
debida a una mala eleccin de la resina, que la pieza
tenga grasitud o impurezas, contaminantes o mala
eleccin de los parmetros de inclusin.

- Grietas: Se producen por excesiva energa entregada

en el proceso de preparacin mayor a la que puede
soportar. Se dan en materiales frgiles o con varias
fases o estructura en capas. Se pueden provocar en el
corte o en la etapa de inclusin.

- Falsa porosidad: los materiales blandos que tienen

poros
se
pueden
llenar
con
material
por
aplastamiento, aprecindose un nmero menor de
poros que los reales. Caso contrario los frgiles.

- Colas de cometa: aparecen junto con las inclusiones

o los poros cuando el movimiento relativo de la
muestra y el disco es unidireccional. Se evita
realizando movimientos en todas las direcciones de
pulido.

- Contaminacin: material distinto al de la muestra

que se deposita en las etapas de esmerilado o pulido.
Pueden estar presentes en los discos, papeles o
paos. Por eso es de suma importancia el lavado
previo.

- Abrasivo incrustado: son partculas de abrasivos

sueltas incrustadas por presin en la muestra. Se
producen por una mala combinacin en la seleccin
del tamao de abrasivo, pao y lubricante.

- Huellas de lapeado: son indentaciones producidas por

las partculas del abrasivo. No forman una lnea
continua sino una lnea entrecortada. La partcula
salta sobre la superficie dejando ese aspecto. Se
pueden producir por mala seleccin de fuerza y
superficie de disco o pao.

Ataque Quimico
Permite observar la estructura del metal o aleacin. Existen
diversos mtodos de ataque pero el ms utilizado es el de
ataque qumico.
El ataque qumico puede hacerse sumergiendo la muestra con
cara pulida hacia arriba en un reactivo adecuado, o pasar
sobre la cara pulida un algodn embebido en dicho reactivo.
Luego se lava la probeta con agua, se enjuaga con alcohol o
ter y se seca en corriente de aire.
El fundamento se basa en que el constituyente metalogrfico
de mayor velocidad de reaccin se ataca ms rpido y se ver
mas oscuro al microscopio y el ms resistente permanecer
ms brillante, reflejar ms luz y se ver ms brillante en el
microscopio.

Microscopio Metalografico

Referencia
1.- Caja de iluminacin
2.- Diafragma de apertura
3.- Diafragma de campo
4.- Torreta porta objetivos
5.- Objetivos
6.- Platina
7.- Cabezal trinocular
8.- Salida trinocular
9.- Salida binocular
10.- Oculares
11.- Ajuste de foco
fino/grueso coaxial con
control de tensin
12.- Estativo

 En comparacin al microscopio biolgico el

microscopio metalrgico difiere en la manera en
que la luz es proyectada. Como una muestra
metalogrfica es opaca a la luz, la misma debe
ser iluminada por luz reflejada. Un haz de luz
horizontal de alguna fuente de luz es reflejado,
por medio de un reflector de vidrio plano, hacia
abajo a travs del objetivo del microscopio sobre
la superficie de la muestra. Un poco de esta luz
incidente reflejada desde la superficie de la
muestra se amplificar al pasar a travs del
sistema inferior de lentes, el objetivo, y
continuar hacia arriba a travs del reflector de
vidrio plano; luego, una vez ms lo amplificar el
sistema superior de lentes, el ocular.

a) AUMENTOS. Se denomina aumento del microscopio (Am) a la

relacin sobre el tamao de la imagen y el del objetivo.
Am = (D1/D2) M1M2
en donde:
Di = distancia entre el ocular y la pantalla de proteccin,
D2 = distancia entre el ocular y objetivo,
Mi = aumento propio del ocular,
M2 = aumento propio del objetivo,

b)PODER DE RESOLUCIN.
Se define como la capacidad de un objetivo para producir imgenes separadas y
distintas de dos detalles del objeto muy prximos.
Es funcin directa de la longitud de onda, X, de la luz incidente e inversa del ndice de
refraccin del medio, n, y del ngulo de semiabertura de la lente objetivo, u. Para el caso
de haz incidente ancho paralelo en el objeto, se cumple la expresin:

en donde las unidades de d son las mismas que las de X.

En la microscopa ptica suele emplearse tipos de iluminacin distintos de la luz blanca, y
aunque no aportan mayor resolucin si permiten facilitar la separacin de los incidentes
observables.
Citamos entre ellos:
Campo oscuro.
Luz polarizada.
Tcnica de Nomarsky.

c) PROFUNDIDAD DE CAMPO, e,
tambin denominada penetracin o resolucin vertical del objetivo, es la
capacidad de dar imgenes ntidamente enfocadas, cuando la superficie
del
objeto no es completamente plana. La profundidad de campo es
inversamente proporcional a los aumentos propios del objetivo, M2, al
ndice de refraccin, n, del medio y al ngulo de semiapertura del
objetivo, u, es decir:

 El poder de amplificacin inicial del objetivo y del

ocular est generalmente grabado en la base del
lente. Cuando es utilizada una combinacin
particular de objetivo y ocular y una longitud
adecuada de tubo, la amplificacin total es igual
al producto de las amplificaciones del objetivo y
ocular. La amplificacin mxima obtenida con el
microscopio ptico es de unos 2000 x. La
limitacin principal es la longitud de onda de la
luz visible, la cual limita la resolucin de los
detalles finos de la muestra metalogrfica. La
utilidad del microscopio metalrgico puede ser
ampliada debido a la incorporacin de diversos
aparatos auxiliares, como son los que permiten
observar aspectos estructurales que no son
visibles en condiciones normales.

Microfotograf
as:

TAMAO DE GRANO
El tamao de grano tiene un notable efecto en las
propiedades mecnicas del metal. Los efectos del
crecimiento de grano provocados por el tratamiento
trmico son fcilmente predecibles. La temperatura, los
elementos aleantes y el tiempo de impregnacin trmica
afectan el tamao del grano.
En metales, por lo general, es preferible un tamao de
grano pequeo que uno grande. Los metales de grano
pequeo tienen mayor resistencia a la traccin, mayor
dureza y se distorsionan menos durante el temple, as
como tambin son menos susceptibles al agrietamiento.
El grano fino es mejor para herramientas y dados. Sin
embargo, en los aceros el grano grueso incrementa la
endurecibilidad, la cual es deseable a menudo para la
carburizacin y tambin para el acero que se someter a
largos procesos de trabajo en fro

CLASIFICACIN DE LOS TAMAOS DE

GRANO.
Existen diversos mtodos para determinar el
tamao de grano, como se ven en un microscopio.
El mtodo que se explica aqu es el que utiliza con
frecuencia los fabricantes. El tamao de grano se
determina por medio de la cuenta de los granos en
cada pulgada cuadrada bajo un aumento de 100X.
La figura A es una carta que representa el tamao
real de los granos tal como aparece cuando se
aumenta su tamao 100X. El tamao de grano
especificado es por lo general, el tamao de grano
austentico.
Un
acero
que
se
temple
apropiadamente debe exhibir un grano fino

La determinacin del tamao de grano austentico o ferrtico,

puede hacerse por la norma ASTM o por comparacin de la
microfotografas de la probeta a 100X, con las retculas
patrn numeradas desde el 1 para el grano ms grueso
hasta el 8 para el grano ms fino.
En el sistema ASTM el grosor del grano austenitico se indica
con un nmero convencional n, de acuerdo con la formula:
logG=(n-1)log2
Donde G es el nmero de granos por pulgada cuadrada
sobre una imagen obtenida a 100 aumentos; este mtodo se
aplica a metales que han recristalizado completamente, n es
el nmero de tamao de grano de uno a ocho.