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3. materiales cristalinos
-Estructura cristalina: Conceptos
Fundamentales,
celda unidad,
- sistemas cristalinos,
- Polimorfismo y altropo
- Direcciones y planos cristalogrficos,
anisotropa,
- Determinacin de la estructura cristalina por
difraccin de rayos X.
captulo 3
La estructura de slido cristalino
Por qu estudiar la estructura de los slidos
cristalinos?
Las propiedades de algunos materiales estn directamente relacionadas con sus
estructuras cristalinas.
por ejemplo, magnesio y berilio tiene la misma estructura se deforman
mucho menos que el oro y la plata que tiene una estructura cristalina
diferente.
frontera
Cristal 2
Lmite entre dos cristales de TiO2. carbono amorfo.
Tenga en cuenta la organizacin geomtrica de Tenga
los tomos.
en cuenta la posicin de los tomos en el desord
Las imgenes de microscopa electrnica de transmisin (TEM).
nosotros Materiales no cristalinos y amorfos no hay ninguna orden de
largo alcance en disposicin de los tomos
clulas no unitario
Unidad celular
Ms pequeo "ladrillo" que
repite juega la red cristalina
celda unidad (CONT.)
(Unidad bsica repetitiva de la estructura tridimensional)
hierro
titanio
Carbono (grafito y Diamente)
SiC (20 alcanza modificaciones cristalinas tienen)
Etctera
altropo HIERRO
A temperatura ambiente, Hierro
ccc de 1394PF-C tiene estructura ccc, nmero de
coordinacin 8, factor de
embalaje de 0,68 y un radio
atmico de 1241.
CFC de 910-1394C el 910C, la hierro pasa
estructura cfc, nmero de
coordinacin 12, el factor de
0,74 y un radio atmico de
1.292 embalaje.
ccc para 910C
el 1394C hierro se remonta a
ccc.
Las estructuras cristalinas de los
metales
Como el enlace metlico no es direccional no hay
restricciones principales sobre el nmero y posicin de los
tomos vecinos. Por lo tanto, los metales tienen alta
apilamiento CN y compacto.
2 tomos / cu
NC = 8
FEA = 0,68
Cr, Fe (a) W
La red de CFC
La red cbica es una red cbica centrada en las caras en la cual
hay un tomo en cada vrtice y un tomo en el centro de cada
cara del cubo. Los tomos se tocan a lo largo de la diagonal de
las caras del cubo.
la
tomo de 1/8
R
tomo de media
Nmero de tomos en la celda unidad factor de empaquetamiento atmico
NA = 6x1 / 2 + 8 x (1/8) = 4 FEACFC = Volumen de tomos = 0,74
Relacin entre aer volumen celular
4 R = a2 => a = 2R2 NC = 12 La red de CFC es el ms compacto
estructura cristalina cbica centrada en las caras (CFC)
a = parmetro de red
radio R = Atmica
4 tomos / cu
NC = 12
FEA = 0,74
Al, Cu, Au, Pb, Ni, Pt, Ag
EST. HEXAGONAL COMPACT
a/2
30
d
la dcos30 = a / 2
c/2 d3/2 = a / 2
d = a /3
la d
la2 = a2/ 3 + c 2/ 4 c2 8a =2/ 3
la la Motivo w / el ideal
la2 d =2 + (W / 2)c2 / a = 8 /3 = 1,633
sin embargo, este valor vara en metales reale
La red hc (cont.)
Clculo del factor de empaquetamiento atmico
Vatomos
FEA
Vcelula
4
Vatomos 6 r 3 8r 3 vista desde arriba
3
Vcelula Abase Altura Ahexagono c 6 Atriang. c
3
b h a a
Atriang. 2 a2 3
2 2 4
2 3 2 3 8
Vcelula 6 a c 6 a a 3 2a 3 3 2 8r 3 h
4 4 3
60a
3
8r
FEA 0.74
3 2 8r 3
3 2 la
gran empaquetado
El factor de empaquetamiento 0,74, obtenido en HC y redes de
CFC, es el ms grande posible apilar esferas 3D.
la la la
B B
C C C
la la la la
B B B
CFC C C C C
la la la la la
B B B B
C C C
la la la la
B B B
C C
la la la
hc
Apilar los planes compactas de CFC y las estructuras de HC
cristalografa
Con el fin de describir la estructura cristalina es necesario
elegir una notacin para las posiciones, direcciones y planes.
posiciones
Ellos se definen dentro de un cubo de lado unitario.
direcciones cristalogrficas y puntos de retculos
vectores
descomposicin del vector
direccin cristalogrfica
Un vector se coloca de modo que pase por el origen de los sistemas de
coordenadas;
La proyeccin de la longitud del vector para cada uno de los tres ejes es
determinado;
Estos tres nmeros se reducen al nmero entero ms bajo;
Estn representados dentro de corchetes, [UVW]
El contenido de una direccin [120]
x y z
proyecciones a/2 b 0c
proyecciones 1/2 1 0
reducciones 1 2 0
representacin [120]
direcciones cristalogrficas
Las direcciones se definen a partir de la fuente.
Sus coordenadas son dadas por los puntos de cruce del cubo
unitario. Si estos puntos son multiplican fraccional para
enteros.
[0 0 1]
[1 1 1]
[1 -1 1]
1 1 1 [1 0 1/2] = [0 1 2]
[0 0 1]
[1/2 0 1] = [0 1 2]
[1 1 0]
[1 0 0]
direcciones cristalogrficas (cont.)
familias direcciones
Formado en posiciones similares dentro de la estructura
cristalina.
<111> = [111] [111] [111] [111] [111] [111] [111] [111]
ngulo entre las direcciones en el sistema cbico
Dado que el producto escalar entre las direcciones tratados
como vectores.
D vb = agua + wc
D '= u'a + + v'b w'c
Ex: [100] y [010]
D.D '= / A / L / R' / cos cos= 1,0 + 0,1 + 0,0 = 0
1
= 90
cos D.D = '/ / R / / R' / = uu '+ vv' + ww '/ u2+ v2+ w2 u '2+ V '2+ W '2
Ex: [111] y [210]
cos= 1,2 + 1,1 + 1,0 = 3
3.5 5
= 39,2
INSTRUCCIONES EN
CRISTALES
representado
= corchetes [uvw]
Cmo llegar Family:
<UVW>
Algunas de las direcciones
Cmo llegar Family <100>
INSTRUCCIONES EN
CRISTALES
Representado en
parntesis = [hkl]
Si el resta se vuelve
negativa, se coloca un
nmero de barra
ambas direcciones
Pertenecen a la misma
familia?
[101]
INSTRUCCIONES EN
CRISTALES
Representado en
parntesis = [hkl]
Cuando pasa por el
origen
INSTRUCCIONES EN
CRISTALES
Representado en
parntesis = [hkl]
<110>
<111>
<100>
INSTRUCCIONES PARA EL
SISTEMA CCC
Los tomos ccc sistema
tctil a lo largo del cubo
diagonal, correspondiente a
la familia de direcciones
<111>
A continuacin, la direccin
<111> es el ms alto de
cohesin atmica para el
sistema ccc
INSTRUCCIONES PARA EL
SISTEMA DE CFC
El sistema de tomos de
CFC se tocan a lo largo de
la diagonal de la cara, lo
que corresponde a la
familia de direcciones
<110>
A continuacin, la
direccin <110> es el ms
alto de cohesin atmica
para el sistema de CFC
PLANES cristalina
Por qu son importantes?
Para la determinacin de la estructura cristalinaLos mtodos de
difraccin medir directamente la distancia entre los planos paralelos
de los puntos de la red cristalina. Esta informacin se utiliza para
determinar la red de un parmetros de cristal.
Intersecciones: 1/2, 1
Inverse: 2, 0, 1
ndices de Miller: (201)
En el plano de sistema cbico (hkl)
es normal a la direccin [hkl]
1/2
planos cristalogrficos (cont.)
1 11 1/2 11, 1
0, 1, 0 1, 1, 0 0, 2, 0 1, 1, 1
(010) (110) (020) (111)
Donde las
intersecciones de los
ejes no son obvias,
debe ser plana o
mover el origen para
obtener las
intersecciones 1, -1 1, -1, 1
derecha. 1, -1, 0 1, -1, 1
(110) (111)
Planes de la red hexagonal
c
Los tres ejes, la1la2 y3 ejes estn
contenidos dentro de la base
plana;
La familia de planos
{110} sistema CCC es
de la ms alta densidad
atmica
PLANES DE MAYOR DENSIDAD
ATMICA SISTEMA CFC
La familia de planos
{111} en el sistema de
CFC es la ms alta
densidad atmica
ejemplo
Calcular la DAL las direcciones <100> Red de CFC
DEL = 2R / a = 2R / 2R2 = 1 /2
1/ 2 tomo
Planes y llegar compacto
Como hemos visto, la CFC y las redes son ms densas HC punto
de vista volumtrico.
Por otro lado, en cada red, hay planes y direcciones con
diferentes valores de DAP y DAL.
En cada red, hay una serie de planes y direcciones compactos
(mayor valor de DAP y DAL)
{110} 6x2 = 12
CCC {211} <111> 12 -Fc, Mo, W
{321} 24
Al, Cu,
CFC {111} <110> 4x3 = 12
-fe, Ni
{0001}
{1010} 3
Cd, Mg, -ti,
HC {1011} <1120> 3
Zn
6
La tabla muestra los sistemas de deslizamiento de tres redes bsicas. enrojo Al parecer, los principales
sistemas. engrisaparece lado. Por ejemplo: A medida que la red de CFC tiene cuatro veces ms sistemas
primarios que la HC, es mucho ms dctil.
Determinacin de la estructura
pregunta bsica
Cmo puede determinar experimentalmente la estructura
cristalina de un material?
Una buena respuesta
Para estudiar los efectos causados por el material en un haz de
radiacin.
La cual la radiacin sera ms sensible a la estructura?
La radiacin cuya longitud de onda es similar a la
distancia interplanar (del orden de 0,1 nm).
difraccin de rayos X.
El espectro electromagntico
la luz visible
De rayos X microonda
LA fenmeno de la difraccin:
Cuando un haz de rayos X se dirige a
un material cristalino, estos rayos son
difractados por los planos de tomos
o iones dentro del cristal
Difraccin (revisin?)
La difraccin es un fenmeno de interferencia
La interferencia constructiva
La interferencia destructiva
La ley de Bragg
De rayos X De rayos X
incidentes difractada
planes
atmico = distancia
interplanar
Film o detector
colimador 180 -2
Mono-cristal
fuente
De rayos X
policromo
DIFRACCIN TCNICA
Powder Tcnica:
Es bastante comn, el material a ser analizado es
en forma de polvo (partculas finas orientadas al
azar) que estn expuestas a la radiacin
monocromtica x. El gran nmero de partculas
con diferente orientacin asegura que la ley de
Bragg se satisface para algunos planos
cristalogrficos
El difractmetro
RADIOGRAFAS
T = X-ray fuente
S = Muestra
Detector = C
fuent = El eje largo de la cual la
e muestra y el detector giran
Los mtodos de difraccin de rayos X
Difractmetro (o mtodo de polvo)
una muestra poli-cristalinoSe expone a los rayos X
monocromticos. El ngulo de incidencia vara continuamente.
Para ciertos ngulos, la ley de Bragg se satisface para cualquier
plan de algunos de los mono-cristales en orientacin aleatoria.
colimador colimador
detector
fuente
De rayos X
monocromo
muestra
policristalino
(Polvo)
espectro de difraccin por ejemplo, para Al (difraccin)
= 0,1542 nm (CuK)
Intensidad (agua)
ngulo (2)
a
una nm = 0.2866,
d
h2 k 2 l 2 h = 2, k = 2 y l = 0, puesto que
Teniendo en cuenta los planes (2 2 0)
0 ,2866 nm
d 0 ,1013nm ( 1 ,013 A)
( 2 )2 ( 2 )2 ( 0 )2
a
d
n = 2 d pecado
h2 k 2 l 2
a
n 2 = [ ] sen
h2 k 2 l 2
0 ,3615 nm
(1)2 = [ ] sen 21 ,7 0 ,1543 nm
12 12 12
b) Los mismos rayos X se utilizan para analizar tungsteno (CCC). Qu ngulo 2Para las
lneas de segundo orden de difraccin (n = 2) d espaciamiento010 ?
RW= 0,1376 nm
(laccc) = 4R /3
2 = 58,4