FLUORESCENCIA DE RAYOS-X

Integrantes:

FLUORESCENCIA DE RAYOS-X
RESEA HISTORICA FUNDAMENTOS INSTRUMENTACIN EJECUCIN ANALTICA EVALUACIN RESULTADOS APLICACIONES
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RESEA HISTORICA
1704 Isaac Newton describe el espectro visible. 1785 John Dalton descripcin comprensiva de las propiedades atmicas. 1859 Bunsen y Kirchhoff fundamentos de anlisis espectroscpico. 1895 Rntgen descubre los Rayos-X. 1913 Moseley establece las bases analticas de XRF. 1923 Efecto Compton. Reflexin Total. 1940 Primer espectrmetro XRF comercial. Separacin de rayos-X caractersticos, dispersin de (WDXRF).
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Continuacin...
1966 Desarrollo semiconductores Si(Li), discriminacin de rayos-X de E prximas, surgimiento ED-XRF. 1971 Yoneda y Horiuchi, aplican la RT al anlisis empleando superficies totalmente reflectoras. 1985 Disposicin comercial de mdulos de TXRF. (Extra II de Seifert, Model 3726 de Rigaku, Trex 600 de Technos y TXRF 8010 de Atomika). 1997 Instalacin del 1er mdulo de TXRF en BOLIVIA. (IBTEN/CIN-VIACHA, 06/11/97).
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FUNDAMENTOS
PRINCIPIO: Un haz bien colimado emitido por un tubo de rayos-X, se apunta con incidencia de roce en un plano ptico que sirve como portador para las muestras, las que son colocadas sobre la superficie en forma de una delgada pelcula. En resumen, las dos ramas de anlisis por TXRF aprovecha dos rasgos bastante distintos del fenmeno de la reflexin total: la reflectividad elevada del substrato para el anlisis de pelculas colocada en un plano ptico, y la profundidad de penetracin baja de la radiacin primaria para el anlisis de la superficie.
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TUBO DE RAYOS - X
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W A Rayos-X e-

XRF - CONVENCIONAL

DETECTOR

HAZ PRIMARIO

TUBO DE RAYOS-X

RADIACIN FLUORESCENTE

MUESTRA

FUNDAMENTOS
EL ANALISIS POR FLUORESCENCIA DE RAYOS-X CON REFLEXION TOTAL (TXRF), ES UNA VARIANTE DE LA ENERGIA DISPERSIVA (XRF), DIFERENCIANDOSE EN DOS ASPECTOS ESENCIALES: EL HAZ PRIMARIO INCIDE SOBRE EL ESPECIMEN A UN ANGULO MENOR O PROXIMO AL ANGULO CRITICO AL QUE SE PRODUCE LA REFLEXION TOTAL DE RAYOS - X. EL HAZ PRIMARIO INCIDE SOBRE UN PLANO, SUPERFICIE LISA, QUE SIRVE TANTO COMO SOPORTE DE LA MUESTRA (ANALISIS EN CAPA FINA) O SIENDO ELLA MISMA OBJETO DE ANALISIS (ANALISIS DE SUPERFICIES).

DESCRIPCIN DE LAS TCNICAS DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X

Equipos de XRF por dispersin de longitud de onda

Emplean siempre tubos como fuente de rayos X debido a las prdidas que se producen al dispersarse los rayos X. Pueden ser de dos tipos: 1. Secuenciales o monocanal. 2. Simultneos o multicanal.
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DESCRIPCIN DE LAS TCNICAS DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X

Secuenciales o monocanal. Estos equipos estn provistos de dos fuentes de rayos X. A longitudes de onda mayores de 2 es necesario purgar con helio o hacer vaco en el instrumento. Estn provistos de varios cristales intercambiables.

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DESCRIPCIN DE LAS TCNICAS DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X

Simultneos o multicanal. Cada canal consta de un cristal y un detector ordenados radialmente alrededor de la fuente de rayos X y el soporte de la muestra. Normalmente los cristales estn fijos y alguno se puede mover permitiendo el barrido espectral. Estos instrumentos son muy tiles en el anlisis industrial.
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DESCRIPCIN DE LAS TCNICAS DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X

Equipos de XRF por dispersin de energas - Instrumentos ms sencillos y baratos. - Se producen menos prdidas de energa por lo que se pueden emplear fuentes radioactivas. - Presentan una menor resolucin para longitudes de onda menores de un .
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Tipos de fluormetros de rayos X

Los anlisis cualitativo y cuantitativo pueden ser realizados usando la energa o la longitud de onda de los rayos X emitidos. - WDXRF - EDXRF

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Posibilidades del mtodo

Campo de aplicacin. Espectro de rayos X. Interferencias espectrales entre lneas. Efectos de absorcin y refuerzo Mtodo no destructivo. Variedad de muestras. Rango de concentraciones Sensibilidad
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COMPONENTES PRINCIPALES DE TXRF

SEGUNDO REFLECTOR PRIMER REFLECTOR FILTRO

HAZ REFLEJADO

SLIT TUBO DE RAYOS-X

RADIACION FLUORESCENTE

DETECTOR DE Si (Li)

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MATERIALES ANALIZADOS POR TXRF

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EJECUCIN ANALTICA
( II * CSI ) C= ( KI/SI * ISI )
Donde:
II = Intensidad del elemento de inters (cuentas/s) ISI= Intensidad del estndar interno (cuentas/s) KI/SI = Constante de sensitividad del elemento de inters respecto del SI C = Concentracin del elemento de inters en ppm
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BENEFICIOS Y LIMITACIONES DE TXRF APLICADOS AL ANALISIS ELEMENTAL

BENEFICIOS
CapacidadMicroanaltica nica Gran variedad de muestras y aplicaciones Determinacin simultnea multielemental Bajos lmites de deteccin Cuantificacin simple por estandarizacin interna Efectos de matriz o memoria nulos Rango dinmico amplio Anlisis de superficies y capa fina no destructivos Operaciones automatizadas simples Bajos costos de operacin y mantenimiento

Imposibilidad de anlisis no destructivo Limitacin para lquidos no voltiles

INCONVENIENTES O LIMITACIONES

Excepto para elementos de Z bajos Limitacin por contenidos altos de matriz Restriccin a superficies totalmente planas o muestras pulidas

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VENTAJAS Y PREREQUISITOS NECESARIOS PARA TXRF

VENTAJAS Capacidad para microanlisis Gran variedad de muestras Bajos limites de deteccin

Cualificacin confiable Anlisis en superficies planas y en capa fina Operacin simple Estabilizacin y automatizacin del equipamiento

PRERREQUISITOS mg Manipulacin de o ml Descomposicin de muestras Separacin de matriz trabajos en salas blancas Homogeneizacin cuidadosa control fino y exacto del ngulo

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Desventajas y limitaciones del mtodo

Necesidad de patrones. Problemtica de los elementos ligeros Penetracin baja Complejidad. Error y tedio. Coste

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PRODUCCIN DE RAYOS-X
Tubo cilndrico metal-vidrio, sellado al vaco.

Ctodo de W, nodo de Cr, Cu, Mo, W. Aplicacin de alta corriente. Emisin de e- del ctodo caliente Aceleracin de los e- por HV en direccin del nodo. El bombardeo de e- de alta energa sobre la tarjeta metlica, produce rayos-X. Salida de los rayos-X a travs de la ventana de Be.
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Aplicacin
La espectrometra de fluorescencia de rayos X es una tcnica ampliamente utilizada para la determinacin de una amplia gama de elementos de las aleaciones (por ejemplo en la fabricacin de aceros). La tcnica proporciona un anlisis rpido, exacto y preciso de mltiples elementos. Dentro de las reas en las que ha tenido ms aplicacin la fluorescencia de rayos X tenemos: arqueologa, ciencias forenses, medicina, geologa, recubrimientos, materiales, electrnica, farmacutica y medio ambiente, entre otros.
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